JP2017184431A - 回路装置、スイッチングレギュレーター、及び、電子機器 - Google Patents

回路装置、スイッチングレギュレーター、及び、電子機器 Download PDF

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Abstract

【課題】出力ノードと低電位側の電源ノードとの間に接続されるショットキーバリアダイオードの接続不良を所望の判定レベルで検出して、ショットキーバリアダイオードが接続不良になった場合にスイッチング動作を停止できる回路装置を提供する。【解決手段】この回路装置は、入力端子の電位が判定レベルよりも低いときに活性化される出力信号を出力するコンパレーターと、駆動信号に従って導通状態又は非導通状態となるスイッチング素子に接続された出力ノードとコンパレーターの入力端子との間に電気的に接続され、スイッチング素子が導通状態であるときに非導通状態となるスイッチ回路と、スイッチング素子が導通状態から非導通状態に遷移した後にコンパレーターの出力信号が活性化された期間又は回数に基づいて、スイッチング素子が再び導通状態とならないように駆動信号のレベルを制御する制御回路とを備える。【選択図】図1

Description

本発明は、直流電圧を異なる値の直流電圧に変換するスイッチングレギュレーター、及び、スイッチングレギュレーターの少なくとも一部を構成する回路装置に関する。さらに、本発明は、そのようなスイッチングレギュレーターを用いた電子機器等に関する。
直流電圧を降圧するスイッチングレギュレーターにおいて、出力回路のスイッチング素子をオン・オフ制御してインダクターに駆動電流を供給することが行われている。出力回路のスイッチング素子が半導体集積回路装置(IC)に内蔵される場合に、外付け部品として、ICの出力端子にインダクターの一端が接続され、インダクターの他端と低電位側の電源端子との間にキャパシターが接続される。
また、ICの出力端子及び低電位側の電源端子に、例えば、外付け部品のショットキーバリアダイオード(SBD)のカソード及びアノードがそれぞれ接続される。さらに、スイッチングレギュレーターから電源供給を受ける負荷回路として、例えば、SOC(System on Chip)等のICが、インダクターを介してICの出力端子に接続される。
そのようなスイッチングレギュレーターにおいては、出力回路のスイッチング素子がオン状態のときに流れる電流によって、インダクターに磁気エネルギーが蓄積される。出力回路のスイッチング素子がオフ状態になると、インダクターに蓄積された磁気エネルギーによって、SBDからインダクターを介して負荷回路に電流が流れる。
しかしながら、SBDを配線基板等に実装する工程等においてSBDが接続不良(オープン状態又は不完全接続)になった場合には、同じ出力端子に直列に接続されているインダクター及び負荷回路に流れる電流によって出力端子に大きな負の電圧が印加される。その結果、出力回路のスイッチング素子が破壊されることがある。
スイッチングレギュレーターを含む製品を製造する場合に、SBDの接続不良によってICが破壊されることは大きな問題となる。接続不良が発生した場合には製品が出荷されないように、実装後の検査を実施するにしても、検査においてICが破壊されてしまうと、SBDの実装をやり直すだけでは故障を修復できず、ICの交換が必要になってコストアップの要因となる。また、製品が出荷検査を通過して市場に出荷された後に接続不良が顕在化した場合には、修理への対応に、さらに多くの工数やコストが必要となる。
従来は、これを回避するために、IC内において出力端子と低電位側の電源端子との間に保護回路としてダイオード等を接続することにより、過電流を吸収して出力回路のスイッチング素子の破壊を防止するようにしていた。しかしながら、出力回路のスイッチング素子がオフ状態である期間における出力端子の電圧降下は、SBDに電流が流れる場合よりも保護回路に電流が流れる場合の方が大きいので、この状態が長く続くと、出力回路のスイッチング素子又は保護回路のダイオード等が破壊又は劣化するおそれがある。
関連する技術として、特許文献1には、フライホイールダイオードとしてのショットキーバリアダイオードが何らかの原因でオープン状態に陥ったときにスイッチングレギュレーターが劣化又は破壊されないように破壊防止機能を備えたスイッチングレギュレーターが開示されている。
特許文献1の図1A及び図1Bにおいて、集積回路部100aの出力端子120に接続されたフライホイールダイオードDsがオープン状態になると、検知トランジスターTcがオンしてノイズマスク回路150を作動させる。ノイズマスク回路150が作動すると、PWM回路160からロジック回路170及びレベルシフト回路180を介してスイッチングトランジスターTswにPWM駆動信号S1が供給されるのを停止する。
特開2011−83104号公報(要約書、図1A、図1B)
特許文献1によれば、出力端子120の電位が接地電位よりも閾値電圧以上低下したときに、検知トランジスターTcに電流が流れて、フライホイールダイオードDsのオープン状態が検出される。ただし、検知トランジスターTcの閾値電圧は、フライホイールダイオードDsの順方向電圧0.2V〜0.3Vよりも大きい0.7V程度であり、出力端子120の電位が接地電位よりも0.7V未満の範囲内で低下しているときには、フライホイールダイオードDsの接続不良を検出することができない。
そこで、上記の点に鑑み、本発明の第1の目的は、出力ノードと低電位側の電源ノードとの間に接続されるショットキーバリアダイオードの接続不良を所望の判定レベルで検出して、ショットキーバリアダイオードが接続不良になった場合にスイッチング動作を停止できる回路装置を提供することである。また、本発明の第2の目的は、そのような回路装置を用いたスイッチングレギュレーターを提供することである。さらに、本発明の第3の目的は、そのようなスイッチングレギュレーターを用いた電子機器等を提供することである。
以上の課題の少なくとも一部を解決するために、本発明の第1の観点に係る回路装置は、入力端子と出力端子とを有し、入力端子の電位が判定レベルよりも低いときに活性化される出力信号を出力端子から出力するコンパレーターと、駆動信号に従って導通状態又は非導通状態となるスイッチング素子に接続された出力ノードとコンパレーターの入力端子との間に電気的に接続され、スイッチング素子が導通状態であるときに非導通状態となるスイッチ回路と、スイッチング素子が導通状態から非導通状態に遷移した後にコンパレーターの出力信号が活性化された期間又は回数に基づいて、スイッチング素子が再び導通状態とならないように駆動信号のレベルを制御する制御回路とを備える。
本発明の第1の観点によれば、出力ノードの電位が判定レベルよりも低いときに出力信号を活性化するコンパレーターと、コンパレーターの出力信号に基づいてスイッチング素子が再び導通状態とならないように制御する制御回路とを設けたので、出力ノードと低電位側の電源ノードとの間に接続されるショットキーバリアダイオードの接続不良を所望の判定レベルで検出して、ショットキーバリアダイオードが接続不良になった場合にスイッチング動作を停止することができる。その結果、出力回路のスイッチング素子又は保護回路の回路素子の破壊又は劣化を防止することができる。また、スイッチ回路によって、スイッチング素子が出力ノードに高電位側の電源電位を供給している間に出力ノードの電位がコンパレーターの入力端子に印加されないようにして、コンパレーターの破壊を防止することができる。
ここで、スイッチ回路が、高耐圧トランジスターを含むことが望ましい。スイッチング素子が導通状態のときにスイッチ回路には高電位側の電源電位が印加されるので、高耐圧トランジスターを用いることにより、スイッチ回路が破壊され難くなる。
また、回路装置が、コンパレーターの入力端子に一端が接続されると共に低電位側の電源ノードに他端が接続されて、コンパレーターの入力端子の電位が低電位側の電源電位よりも所定の値以上高くなったときにコンパレーターの入力端子の電位をクランプするクランプ回路をさらに備えるようにしても良い。
それにより、スイッチ回路の寄生容量成分の影響や、あるいは、スイッチング素子が導通状態又は非導通状態に移行するタイミングに対してスイッチ回路が非導通状態又は導通状態に移行するタイミングがずれる影響によってコンパレーターに過電圧が印加されないようにして、コンパレーターの破壊を防止することができる。
また、回路装置が、出力ノードに一端が接続されると共に低電位側の電源ノードに他端が接続された保護回路であって、トランジスターを含み、出力ノードの電位が低電位側の電源電位よりもトランジスターの寄生ダイオードの順方向電圧以上低くなったときに導通状態となる保護回路をさらに備えるようにしても良い。それにより、ショットキーバリアダイオードが接続不良になった場合においても、出力ノードの電位が一定の値よりも低下しないようにして、スイッチング素子の破壊を防止することができる。
その場合に、保護回路のトランジスターが、高耐圧トランジスターを含むことが望ましい。スイッチング素子が導通状態のときに保護回路には高電位側の電源電位が印加されるので、高耐圧トランジスターを用いることにより、保護回路が破壊され難くなる。
保護回路を設ける場合に、コンパレーターが、低電位側の電源電位が印加される第2の入力端子をさらに有し、入力端子と第2の入力端子との間に保護回路のトランジスターの寄生ダイオードの順方向電圧よりも小さいオフセット電圧が設定されており、出力ノードの電位を低電位側の電源電位よりもオフセット電圧だけ低い判定レベルと比較するようにしても良い。それにより、コンパレーターのオフセット電圧によって所望の判定レベルを設定することができる。
以上において、制御回路が、スイッチング素子が導通状態から非導通状態に遷移してから第1の期間が経過した後の第2の期間以上に亘ってコンパレーターの出力信号が連続的に活性化された回数が2回以上の所定の回数に達した場合に、スイッチング素子が再び導通状態とならないように駆動信号のレベルを制御するようにしても良い。それにより、ノイズ等の影響を排除して、ショットキーバリアダイオードが接続不良であるか否かを適切に判定することができる。
また、回路装置が、高電位側の電源ノードと出力ノードとの間に接続されて、駆動信号に従って導通状態となったときに出力ノードに高電位側の電源電位を供給するスイッチング素子をさらに含むようにしても良い。スイッチング素子がIC等の回路装置に内蔵される場合には、スイッチングレギュレーターを小型化することができる。
本発明の第2の観点に係るスイッチングレギュレーターは、上記いずれかの回路装置と、出力ノードにカソードが接続され、低電位側の電源ノードにアノードが接続されたショットキーバリアダイオードと、出力ノードに一端が接続されて、スイッチング素子から駆動電流が供給されるインダクターと、インダクターの他端と低電位側の電源ノードとの間に接続されて、インダクターから供給される電荷を蓄積するキャパシターとを備える。本発明の第2の観点によれば、ショットキーバリアダイオードが接続不良になった場合にスイッチング動作を停止する回路装置を用いて、ショットキーバリアダイオードの実装不良が発生しても破壊又は劣化し難いスイッチングレギュレーターを提供することができる。
本発明の第3の観点に係る電子機器は、本発明の第2の観点に係るスイッチングレギュレーターを備える。本発明の第3の観点によれば、ショットキーバリアダイオードの実装不良が発生しても破壊又は劣化し難いスイッチングレギュレーターを用いて、信頼性の高い電子機器を提供することができる。
本発明の一実施形態に係るスイッチングレギュレーターを示す回路図。 図1に示すコンパレーターの構成例を示す回路図。 図1に示すスイッチング制御回路の一部の構成例を示すブロック図。 図1に示すスイッチングレギュレーターにおける各部の波形を示す波形図。 本発明の一実施形態に係る電子機器の構成例を示すブロック図。
以下に、本発明の実施形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、同一の構成要素には同一の参照番号を付して、重複する説明を省略する。
<スイッチングレギュレーターの構成>
図1は、本発明の一実施形態に係るスイッチングレギュレーターの構成例を示す回路図である。このスイッチングレギュレーターは、本発明の一実施形態に係る回路装置100を含んでいる。図1に示すように、回路装置100は、基準電圧生成回路10と、スイッチング制御回路20と、プリドライバー30と、出力回路40と、保護回路50と、電位判定回路60とを含んでも良い。
図1に示されている構成要素の内の少なくとも一部は、半導体集積回路装置(IC)に内蔵されても良い。ICは、例えば、シリコン基板に回路が形成されたICチップで構成され、又は、ICチップをパッケージに収納することによって構成される。その場合に、回路装置100のノードN1〜N5は、ICチップのパッド(端子)、又は、パッケージに設けられたピン(端子)に対応する。
また、スイッチングレギュレーターは、ショットキーバリアダイオードD1と、インダクターL1と、キャパシターC1と、分圧回路110とをさらに含んでも良い。それらの構成要素の内の少なくとも一部は、ICに内蔵せずに外付け部品としても良い。さらに、スイッチングレギュレーターから電源供給を受ける負荷回路120として、例えば、SOC(System on Chip)等のICが、インダクターL1を介して回路装置100に接続される。
回路装置100において、第1の電源電位(高電位側の電源電位)VDDが電源ノードN1に供給され、第1の電源電位VDDよりも低電位の第2の電源電位(低電位側の電源電位)VSSが電源ノードN2に供給され、第1の電源電位VDDよりも低電位で第2の電源電位VSSよりも高電位の内部回路電源電位VDAが電源ノードN3に供給される。以下においては、一例として、高電位側の電源電位VDDが42Vであり、低電位側の電源電位VSSが0V(基準電位)であり、内部回路電源電位VDAが5Vである場合について説明する。
回路装置100は、スイッチング動作を行うことによって出力信号SWを生成し、出力ノードN4に接続されたインダクターL1に駆動電流を供給する。それにより、高電位側の電源電位VDDが降圧されて、接続ノードN6において出力電源電位VOUTが生成される。出力電源電位VOUTは、接続ノードN6と電源ノードN2との間に接続された負荷回路120に供給される。
分圧回路110は、接続ノードN6と電源ノードN2との間に直列に接続された抵抗素子R1及びR2を含み、接続ノードN6と電源ノードN2との間の出力電圧(VOUT−VSS)を分圧して、フィードバック電圧VFBを生成する。フィードバック電圧VFBは、帰還ノードN5を介して回路装置100に供給される。
基準電圧生成回路10は、例えば、バンドギャップリファレンス回路等を含み、基準電圧VRFを生成する。スイッチング制御回路20は、基準電圧VRFとフィードバック電圧VFBとの差に基づいてPWM(Pulse Width Modulation:パルス幅変調)を行うことにより、パルス幅が変調された制御信号SCTを生成する。制御信号SCTは、プリドライバー30に供給される。
プリドライバー30は、例えば、インバーター及びレベルシフター等を含み、制御信号SCTを反転してレベルシフトすることによって駆動信号SHを生成する。それにより、制御信号SCTのハイレベルが内部回路電源電位VDA(5V)である場合に、制御信号SCTを反転及びレベルシフトして生成される駆動信号SHのハイレベルは、高電位側の電源電位VDD(42V)となる。
出力回路40は、スイッチング素子としてPチャネルMOSトランジスターQP1を含んでいる。トランジスターQP1がIC等の回路装置100に内蔵される場合には、スイッチングレギュレーターを小型化することができ、部品点数を削減できるため電子機器の製造コストを削減することができる。トランジスターQP1は、電源ノードN1と出力ノードN4との間に接続されて、駆動信号SHに従って導通状態(オン状態)となったときに、出力ノードN4の電位を電源ノードN1の電位に近付ける。
トランジスターQP1は、駆動信号SHが印加されるゲートと、電源ノードN1に接続されたソースと、出力ノードN4に接続されたドレインとを有している。トランジスターQP1は、駆動信号SHの電位が電源電位VDDよりもトランジスターQP1の閾値電圧以上低くなったときにオン状態となって、出力ノードN4を介してインダクターL1に駆動電流を供給する。
出力ノードN4には、ショットキーバリアダイオードD1及びインダクターL1が接続されている。ショットキーバリアダイオードは、通常のPN接合ダイオードに比べて順方向電圧が低くてスイッチング速度が速いという特徴を有している。ショットキーバリアダイオードD1は、出力ノードN4に接続されたカソードと、電源ノードN2に接続されたアノードとを有している。
インダクターL1は、出力ノードN4に接続された一端と、接続ノードN6に接続された他端とを有し、出力回路40のトランジスターQP1から駆動電流が供給される。キャパシターC1は、インダクターL1の他端(接続ノードN6)と電源ノードN2との間に接続されて、インダクターL1から供給される電荷を蓄積することにより、平滑された出力電圧(VOUT−VSS)を生成する。
このように、出力回路40のトランジスターQP1がスイッチング動作を行うことによって回路装置100が出力信号SWを生成し、出力ノードN4に接続されたインダクターL1に駆動電流を供給する。それにより、インダクターL1とキャパシターC1との接続点である接続ノードN6において、電源電位VDDを降圧して得られる出力電源電位VOUTが生成される。スイッチング制御回路20は、制御信号SCTを生成することにより、出力回路40のトランジスターQP1のスイッチング動作を制御する。出力電源電位VOUTは、制御信号SCTのデューティーによって制御される。
例えば、制御信号SCTがハイレベルのときに、駆動信号SHがローレベルとなって、トランジスターQP1がオン状態になる。トランジスターQP1がオン状態である期間においては、出力ノードN4の電位が電源電位VDDに近付き、トランジスターQP1からインダクターL1に駆動電流が流れて、インダクターL1において電気エネルギーが磁気エネルギーに変換されて蓄積される。
一方、制御信号SCTがローレベルのときには、駆動信号SHがハイレベルとなって、トランジスターQP1が非導通状態(オフ状態)になる。トランジスターQP1がオフ状態である期間においては、インダクターL1に蓄積された磁気エネルギーが電気エネルギーとしてショットキーバリアダイオードD1及び負荷回路120等を介して放電される。それにより、出力ノードN4の電位は、基準電位VSS(0V)からショットキーバリアダイオードD1の順方向電圧(例えば、0.2V〜0.4V)だけ下がった電位となる。
しかしながら、ショットキーバリアダイオードD1を配線基板等に実装する工程等においてショットキーバリアダイオードD1が接続不良(オープン状態又は不完全接続)になった場合には、出力ノードN4に直列に接続されているインダクターL1に蓄積された電流を負荷回路120に流す電流経路がなくなるので、インダクターL1に発生する逆起電力の影響で出力ノードN4に大きな負の電圧が印加される。その結果、出力回路40のトランジスターQP1が破壊されることがある。
これを回避するために、保護回路50が設けられていることが望ましい。なお、保護回路50は、ICのESD(静電気放電)保護回路と兼用することもできる。保護回路50は、例えば、出力ノードN4に接続されたドレイン(又はソース)と、電源ノードN2に接続されたソース(又はドレイン)及びゲートとを有するNチャネルLD(Lateral Double-diffused)MOSトランジスターQN1を含んでいる。
トランジスターQN1は、出力ノードN4の電位が基準電位VSSよりもトランジスターQN1の寄生ダイオード(ドレイン端子がカソード、ソース端子がアノード)の順方向電圧以上低くなったときにオン状態となる。それにより、ショットキーバリアダイオードD1が接続不良になった場合においても、出力ノードN4の電位が一定の値(例えば、−0.7V)よりも低下しないようにして、出力回路40のトランジスターQP1の破壊を防止することができる。
LDMOSトランジスターは、通常のMOSトランジスターに比べて、耐圧が高くてオン抵抗が低いという特徴を有する。出力回路40のトランジスターQP1がオン状態のときに保護回路50には電源電位VDDが印加されるので、保護回路50の回路素子としてそのような高耐圧トランジスターを用いることにより、保護回路50が破壊され難くなる。あるいは、保護回路50の回路素子として、トランジスターQN1の替りに、出力ノードN4に接続されたカソードと、電源ノードN2に接続されたアノードとを有するダイオードを用いても良い。
しかしながら、出力回路40のトランジスターQP1がオフ状態である期間における出力ノードN4の電圧降下については、ショットキーバリアダイオードD1が正常に接続されてショットキーバリアダイオードD1に電流が流れる場合の電圧降下よりも、ショットキーバリアダイオードD1が接続不良の状態で保護回路50の寄生ダイオードに電流が流れる場合の電圧降下の方が大きいので、ショットキーバリアダイオードD1が接続不良の状態が長く続くと、出力回路40のトランジスターQP1又は保護回路50のトランジスター又はダイオード等が破壊又は劣化するおそれがある。そこで、本実施形態においては、出力ノードN4の電位を判定する電位判定回路60が設けられており、スイッチング制御回路20が、電位判定回路60の判定結果に基づいて、出力回路40のトランジスターQP1のスイッチング動作を制御する。
<電位判定回路>
図1に示すように、電位判定回路60は、コンパレーター61と、スイッチ回路62と、クランプ回路63と、インバーターINV1とを含んでも良い。コンパレーター61は、スイッチ回路62を介して出力ノードN4の電位が印加される入力端子T1を有し、出力ノードN4の電位が判定レベルよりも低いときに出力信号VDLをハイレベルに活性化する。一方、コンパレーター61は、出力ノードN4の電位が判定レベルよりも高いときに出力信号VDLをローレベルに非活性化する。
図2は、図1に示すコンパレーターの構成例を示す回路図である。図2に示すように、コンパレーター61は、PチャネルMOSトランジスターQP60〜QP63と、NチャネルMOSトランジスターQN61〜QN63と、インバーターINV2とを含み、出力ノードN4の電位が印加される入力端子T1と、基準電位VSSが印加される入力端子T2と、出力信号VDLを出力するための出力端子T3とを有している。
トランジスターQP60は、内部回路電源電位VDAの配線に接続されたソースと、バイアス電位VBIが印加されるゲートとを有している。トランジスターQP61は、トランジスターQP60のドレインに接続されたソースと、コンパレーター61の入力端子T1に接続されたゲートとを有している。トランジスターQP62は、トランジスターQP60のドレインに接続されたソースと、コンパレーター61の入力端子T2に接続されたゲートとを有している。
トランジスターQN61は、トランジスターQP61のドレインに接続されたドレインと、トランジスターQP62のドレインに接続されたゲートと、電源電位VSSの配線に接続されたソースとを有している。トランジスターQN62は、トランジスターQP62のドレインに接続されたドレイン及びゲートと、電源電位VSSの配線に接続されたソースとを有している。
トランジスターQP63は、内部回路電源電位VDAの配線に接続されたソースと、バイアス電位VBIが印加されるゲートとを有している。トランジスターQN63は、トランジスターQP63のドレインに接続されたドレインと、トランジスターQP61のドレイン及びトランジスターQN61のドレインに接続されたゲートと、電源電位VSSの配線に接続されたソースとを有している。
インバーターINV2は、トランジスターQP63のドレイン及びトランジスターQN63のドレインに接続された入力端子と、コンパレーター61の出力端子T3に接続された出力端子とを有している。インバーターINV2は、入力端子に印加される信号のレベルを反転して、反転された信号を出力信号VDLとして出力端子から出力する。
コンパレーター61においては、差動対を構成するトランジスターQP61とトランジスターQP62との間で、チャネル幅Wとチャネル長Lとの比W/Lを変えることにより、入力端子T1と入力端子T2との間に、例えば、保護回路50のトランジスターQN1の寄生ダイオード(ドレイン端子がカソード、ソース端子がアノード)の順方向電圧よりも小さいオフセット電圧が設定されている。それにより、コンパレーター61のオフセット電圧によって所望の判定レベルを設定することができる。
例えば、トランジスターQP62のチャネル幅WをトランジスターQP61のチャネル幅Wよりも大きくすることにより、コンパレーター61は、出力ノードN4の電位を基準電位VSSよりもオフセット電圧だけ低い判定レベルと比較する。図1に示すショットキーバリアダイオードD1の順方向電圧が0.3Vで、保護回路50のトランジスターQN1の寄生ダイオード(ドレイン端子がカソード、ソース端子がアノード)の順方向電圧が0.7Vである場合に、判定レベルは、−0.3Vよりも低く、かつ、−0.7Vよりも高く設定される。
この判定レベルは、ICのプロセスばらつき等に対して合わせこむ必要がある。なお、コンパレーター61のオフセット電圧を、トランジスターQP61の閾値電圧とトランジスターQP62の閾値電圧とを変えることによって設定しても良いが、チャネル幅Wとチャネル長Lとの比W/Lを変えることによって設定する方が、プロセスばらつきの影響が小さい。
再び図1を参照すると、電位判定回路60において、スイッチ回路62は、出力ノードN4とコンパレーター61の入力端子T1との間に接続されて、出力回路40のトランジスターQP1がオン状態であるときにオフ状態となり、出力回路40のトランジスターQP1がオフ状態であるときにオン状態となる。それにより、出力回路40のトランジスターQP1が出力ノードN4に電源電位VDDを供給している間に電源電位VDDがコンパレーター61の入力端子T1に印加されないようにして、コンパレーター61の破壊を防止することができる。
スイッチ回路62は、例えば、出力ノードN4に接続された一端(ドレイン)と、コンパレーター61の入力端子T1に接続された他端(ソース)と、インバーターINV1の出力端子に接続されたゲートとを有するNチャネルMOSトランジスターQN2を含んでいる。インバーターINV1は、入力端子に印加される制御信号SCTを反転して、反転された制御信号SCTを出力端子から出力する。トランジスターQN2は、制御信号SCTがハイレベルであるときにオフ状態となり、制御信号SCTがローレベルであるときにオン状態となる。
トランジスターQN2は、LDMOSトランジスター等の高耐圧トランジスターであることが望ましい。具体的には、トランジスターQN2は、コンパレーター61を構成するトランジスターよりも耐圧が高く、トランジスターQN2、トランジスターQP1、及び、トランジスターQN1は、同程度の耐圧のトランジスターである。出力回路40のトランジスターQP1がオン状態のときにスイッチ回路62には電源電位VDDが印加されるので、そのような高耐圧トランジスターを用いることにより、スイッチ回路62が破壊され難くなる。
また、クランプ回路63は、コンパレーター61の入力端子T1に一端が接続されると共に電源ノードN2に他端が接続されて、コンパレーター61の入力端子T1の電位が基準電位VSSよりも所定の値以上高くなったときに、コンパレーター61の入力端子T1の電位をクランプする。
それにより、スイッチ回路62の寄生容量成分の影響や、あるいは、出力回路40のトランジスターQP1がオン状態又はオフ状態に移行するタイミングに対してスイッチ回路62がオフ状態又はオン状態に移行するタイミングがずれる影響によってコンパレーター61に過電圧が印加されないようにして、コンパレーター61の破壊を防止することができる。
クランプ回路63は、例えば、コンパレーター61の入力端子T1に接続されたカソードと、電源ノードN2に接続されたアノードとを有するツェナーダイオードD2を含んでいる。ツェナーダイオードD2は、コンパレーター61の入力端子T1の電位が基準電位VSSよりも降伏電圧以上高くなったときに降伏することにより、コンパレーター61の入力端子T1の電位をクランプする。ツェナーダイオードD2の降伏電圧は、コンパレーター61の入力端子T1に印加可能な定格電圧以下の電圧(例えば、3V〜5V程度)に設定される。
<スイッチング制御回路>
スイッチング制御回路20は、出力回路40のトランジスターQP1がオン状態からオフ状態に遷移した後にコンパレーター61の出力信号VDLが活性化された期間又は回数に基づいて、トランジスターQP1が再びオン状態とならないように駆動信号SHのレベルを制御する。
例えば、スイッチング制御回路20は、トランジスターQP1がオン状態からオフ状態に遷移してから第1の期間が経過した後の第2の期間以上に亘ってコンパレーター61の出力信号VDLが連続的に活性化された回数が所定の回数に達した場合に、トランジスターQP1が再びオン状態とならないように駆動信号SHのレベルを制御する。
その際に、スイッチング制御回路20は、制御信号SCTをローレベルに維持する。それにより、プリドライバー30が駆動信号SHをハイレベルに維持するので、トランジスターQP1は、オフ状態のままに保たれる。ここで、所定の回数は、2回以上であることが望ましい。それにより、ノイズ等の影響を排除して、ショットキーバリアダイオードD1が接続不良であるか否かを適切に判定することができる。
図3は、図1に示すスイッチング制御回路の一部の構成例を示すブロック図である。図3に示すように、スイッチング制御回路20は、カウンター21〜23と、NAND回路24と、D型フリップフロップ25と、AND回路26と、パラメーター設定レジスター27とを含んでいる。
カウンター21のリセット端子Rには制御信号SCTが供給されており、カウンター21は、制御信号SCTによってリセットされる。制御信号SCTがハイレベルである期間においては、出力回路40のトランジスターQP1がオン状態になると共に、カウンター21がリセットされている。制御信号SCTがローレベルになると、出力回路40のトランジスターQP1がオン状態からオフ状態に遷移し、カウンター21のリセットが解除される。
カウンター21は、制御信号SCTの周波数よりも高い所定の周波数を有するクロック信号CKに同期してカウント動作を行うことにより、第1のカウント値をインクリメントする。クロック信号CKは、回路装置100において生成されても良いし、外部の回路から供給されても良い。第1のカウント値が、第1の期間を規定する第1の値に達すると、カウンター21は、出力信号SC1をハイレベルに活性化する。
NAND回路24は、カウンター21の出力信号SC1とコンパレーター61の出力信号VDLとの論理積を求め、論理積を表す信号を反転して出力する。カウンター21の出力信号SC1がローレベルであるか、又は、コンパレーター61の出力信号VDLがローレベルであるときには、NAND回路24の出力信号がハイレベルとなるので、カウンター22がリセットされている。
カウンター21の出力信号SC1がハイレベルに活性化されると共に、コンパレーター61の出力信号VDLがハイレベルに活性化されると、カウンター22は、クロック信号CKに同期してカウント動作を行うことにより、第2のカウント値をインクリメントする。第2のカウント値が、第2の期間を規定する第2の値に達すると、カウンター22は、出力信号SC2をハイレベルに活性化する。
ここで、第2のカウント値が第2の値に達する前に制御信号SCTがハイレベルになるか又はコンパレーター61の出力信号VDLがローレベルになると、カウンター22はリセットされる。従って、第1の期間と第2の期間との和が、制御信号SCTがローレベルになっている期間を超えないように設定する必要がある。
D型フリップフロップ25は、クロック信号CKに同期して、カウンター22の出力信号SC2をラッチする。AND回路26は、カウンター22の出力信号SC2とD型フリップフロップ25の反転出力信号Qバーとの論理積を求めることにより、カウンター22の出力信号SC2がハイレベルに活性化されると、クロック信号CKの1周期の期間においてハイレベルとなる検出パルスDETPLSを出力する。
カウンター23は、AND回路26から検出パルスDETPLSが出力される回数をカウントし、カウントされた回数が所定の回数に達すると、検出信号DETOUTをハイレベルに活性化する。ただし、制御信号SCTがローレベルに遷移してからハイレベルに遷移するまでの期間にカウントされた回数が所定の回数に達しなかった場合には、カウンター23がリセットされる。
それにより、出力回路40のトランジスターQP1がオン状態からオフ状態に遷移してから第1の期間が経過した後の第2の期間以上に亘ってコンパレーター61の出力信号VDLが連続的に活性化された回数が所定の回数に達した場合に、検出信号DETOUTが活性化される。なお、カウンター23は、電源投入時において又は強制リセット操作によって、リセット信号RSTに従ってリセットされる。
パラメーター設定レジスター27は、カウンター21〜23において用いられる第1の期間を規定する第1の値、第2の期間を規定する第2の値、及び、所定の回数を表すデータを格納している。パラメーター設定レジスター27に格納されるデータを変更することにより、電位判定回路60の判定結果を取り込むタイミングや期間等を調整することができる。
<動作例>
次に、図1に示すスイッチングレギュレーターの動作例について、図1及び図4を参照しながら詳しく説明する。図4は、図1に示すスイッチングレギュレーターにおける各部の波形を示す波形図である。
制御信号SCTがハイレベルである期間において、駆動信号SHがローレベルになって、出力回路40のトランジスターQP1がオン状態になる。それにより、出力信号SWの電位が電源電位VDD付近まで上昇する。制御信号SCTがローレベルになると、駆動信号SHがハイレベルになって、トランジスターQP1がオフする。
正常状態においては、ショットキーバリアダイオードD1、インダクターL1、及び、負荷回路120に電流が流れることにより、破線で示すように、出力信号SWの電位が、例えば、−0.3V程度に低下する。その後、時間の経過に伴ってショットキーバリアダイオードD1に流れる電流が徐々に減少すると、出力信号SWの電位は、基準電位VSSに向けて徐々に上昇する。
一方、ショットキーバリアダイオードD1が接続不良(オープン状態又は不完全接続)になった場合には、保護回路50が設けられていなければ、出力ノードN4に直列に接続されているインダクターL1に蓄積された電流を負荷回路120に流す電流経路がなくなるので、インダクターL1に発生する逆起電力の影響で出力ノードN4に大きな負の電圧が印加されて、出力回路40のトランジスターQP1が破壊されることがある。
保護回路50が設けられていれば、保護回路50のトランジスターQN1、インダクターL1、及び、負荷回路120に電流が流れることにより、実線で示すように、出力信号SWの電位が、例えば、−0.7V程度に低下する。その後、時間の経過に伴ってトランジスターQN1に流れる電流が徐々に減少すると、出力信号SWの電位は、基準電位VSSに向けて徐々に上昇する。
その際に、トランジスターQN1の寄生ダイオード(ドレイン端子がカソード、ソース端子がアノード)の順方向電圧はショットキーバリアダイオードD1の順方向電圧よりも大きいので、出力信号SWの電位は、正常状態におけるよりも低下する。そのような状態が長く続くと、出力回路40のトランジスターQP1又は保護回路50のトランジスターQN1が経時劣化によって破壊又は劣化するおそれがある。
そこで、コンパレーター61が、出力信号SWの電位と判定レベル(例えば、−0.4V程度)とを比較することにより、出力信号SWの電位が判定レベルよりも低いときに出力信号VDLを活性化する。スイッチングノイズ等のノイズの影響を避けるために、スイッチング制御回路20は、トランジスターQP1がオン状態からオフ状態に遷移してから第1の期間T1が経過した後の第2の期間T2以上に亘ってコンパレーター61の出力信号が連続的に活性化されたときに、検出パルスDETPLSを生成する。
また、スイッチング制御回路20は、検出パルスDETPLSが生成された回数が所定の回数(図4に示す例においては2回)に達した場合に、検出信号DETOUTをハイレベルに活性化する。所定の回数を複数回とする場合に、スイッチング制御回路20は、ノイズ等の影響によって1回の誤判定が生じても、複数回の判定において判定結果が同一であった場合に正しい判定と認識して、スイッチング動作を停止させる動作停止モードに入る。従って、1回の誤判定によってスイッチング動作を停止させるおそれがなくなる。
スイッチング制御回路20は、検出信号DETOUTがハイレベルに活性化されると、制御信号SCTをローレベルに維持する。それにより、プリドライバー30が、駆動信号SHをハイレベルに維持するので、トランジスターQP1は、オフ状態を維持して、再びオン状態とはならない。
本実施形態によれば、出力ノードN4の電位が判定レベルよりも低いときに出力信号VDLを活性化するコンパレーター61と、コンパレーター61の出力信号VDLに基づいて出力回路40のトランジスターQP1が再びオン状態とならないように制御するスイッチング制御回路20とを設けたので、出力ノードN4と電源ノードN2との間に接続されるショットキーバリアダイオードD1の接続不良を所望の判定レベルで検出して、ショットキーバリアダイオードD1が接続不良になった場合にスイッチング動作を停止することができる。その結果、出力回路40のトランジスターQP1又は保護回路50のトランジスターQN1の破壊又は劣化を防止することができる。
さらに、本実施形態によれば、ショットキーバリアダイオードD1が接続不良になった場合にスイッチング動作を停止する回路装置100を用いて、ショットキーバリアダイオードD1の実装不良が発生しても破壊又は劣化し難いスイッチングレギュレーターを提供することができる。
<電子機器>
次に、本発明の一実施形態に係るスイッチングレギュレーターを用いた電子機器について説明する。以下においては、一例として、電子機器がプリンターである場合について説明する。
図5は、本発明の一実施形態に係る電子機器の構成例を示すブロック図である。図5に示すように、この電子機器は、本発明の一実施形態に係るスイッチングレギュレーター200と、印字媒体搬送部211と、ヘッド駆動回路212と、プリントヘッド213と、制御部220と、操作部230と、ROM(リードオンリー・メモリー)240と、RAM(ランダムアクセス・メモリー)250と、通信部260と、表示部270とを含んでいる。なお、図5に示す構成要素の一部を省略又は変更しても良いし、あるいは、図5に示す構成要素に他の構成要素を付加しても良い。
印字媒体搬送部211において、例えば、ステッピングモーターがベルトを介してプラテンローラーを駆動することにより、印字媒体である用紙が搬送される。ヘッド駆動回路212がプリントヘッド213を駆動することにより、プリントヘッド213が、印字媒体搬送部211によって搬送された用紙に印字を行う。
制御部220は、例えば、CPU(中央演算装置)等を含み、ROM240等に記憶されているプログラムに従って各種の制御処理を行う。例えば、制御部220は、操作部230から供給される操作信号に応じて印字媒体搬送部211及びヘッド駆動回路212を制御したり、外部との間でデータ通信を行うために通信部260を制御したり、表示部270に各種の情報を表示させるための表示信号を生成したりする。
操作部230は、例えば、操作キーやボタンスイッチ等を含む入力装置であり、ユーザーによる操作に応じた操作信号を制御部220に出力する。ROM240は、制御部220が各種の制御処理を行うためのプログラムやデータ等を記憶している。また、RAM250は、制御部220の作業領域として用いられ、ROM240から読み出されたプログラムやデータ、又は、操作部230を用いて入力されたデータ等を一時的に記憶する。
通信部260は、例えば、アナログ回路及びデジタル回路で構成され、制御部220と外部装置との間のデータ通信を行う。従って、図5に示すプリンターは、外部のホストコンピューター等から供給される印字データに基づいて印字動作を行うことができる。表示部270は、例えば、LCD(液晶表示装置)等を含み、制御部220から供給される表示信号に基づいて各種の情報を表示する。
スイッチングレギュレーター200は、スイッチング動作を行うことにより、電源回路等から供給される電源電位VDD(42V)を降圧して、出力電源電位VOUTを生成する。制御部220等は、スイッチングレギュレーター200から出力電源電位VOUTが供給されて動作する。
電子機器としては、プリンター以外にも、例えば、携帯電話機等の移動端末、スマートカード、電卓、電子辞書、電子ゲーム機器、デジタルスチルカメラ、デジタルムービー、テレビ、テレビ電話、防犯用テレビモニター、ヘッドマウント・ディスプレイ、パーソナルコンピューター、ネットワーク機器、カーナビゲーション装置、ロボット、測定機器、及び、医療機器(例えば、電子体温計、血圧計、血糖計、心電図計測装置、超音波診断装置、及び、電子内視鏡)等が該当する。
本実施形態によれば、ショットキーバリアダイオードの実装不良が発生しても破壊又は劣化し難いスイッチングレギュレーター200を用いて、信頼性の高い電子機器を提供することができる。なお、本発明は、以上説明した実施形態に限定されるものではなく、当該技術分野において通常の知識を有する者によって、本発明の技術的思想内で多くの変形が可能である。
10…基準電圧生成回路、20…スイッチング制御回路、21〜23…カウンター、24…NAND回路、25…D型フリップフロップ、26…AND回路、27…パラメーター設定レジスター、30…プリドライバー、40…出力回路、50…保護回路、60…電位判定回路、61…コンパレーター、62…スイッチ回路、63…クランプ回路、100…回路装置、110…分圧回路、120…負荷回路、200…スイッチングレギュレーター、211…印字媒体搬送部、212…ヘッド駆動回路、213…プリントヘッド、220…制御部、230…操作部、240…ROM、250…RAM、260…通信部、270…表示部、N1〜N3…電源ノード、N4…出力ノード、N5…帰還ノード、N6…接続ノード、T1、T2…入力端子、T3…出力端子、QP1、QP60〜QP63…PチャネルMOSトランジスター、QN1…NチャネルLDMOSトランジスター、QN2、QN61〜QN63…NチャネルMOSトランジスター、INV1、INV2…インバーター、D1…ショットキーバリアダイオード、D2…ツェナーダイオード、L1…インダクター、C1…キャパシター、R1、R2…抵抗素子

Claims (10)

  1. 入力端子と出力端子とを有し、前記入力端子の電位が判定レベルよりも低いときに活性化される出力信号を前記出力端子から出力するコンパレーターと、
    駆動信号に従って導通状態又は非導通状態となるスイッチング素子に接続された出力ノードと前記コンパレーターの前記入力端子との間に電気的に接続され、前記スイッチング素子が導通状態であるときに非導通状態となるスイッチ回路と、
    前記スイッチング素子が導通状態から非導通状態に遷移した後に前記コンパレーターの出力信号が活性化された期間又は回数に基づいて、前記スイッチング素子が再び導通状態とならないように前記駆動信号のレベルを制御する制御回路と、
    を備える回路装置。
  2. 前記スイッチ回路が、高耐圧トランジスターを含む、請求項1記載の回路装置。
  3. 前記コンパレーターの前記入力端子に一端が接続されると共に低電位側の電源ノードに他端が接続されて、前記コンパレーターの前記入力端子の電位が低電位側の電源電位よりも所定の値以上高くなったときに前記コンパレーターの前記入力端子の電位をクランプするクランプ回路をさらに備える、請求項1又は2記載の回路装置。
  4. 前記出力ノードに一端が接続されると共に低電位側の電源ノードに他端が接続された保護回路であって、トランジスターを含み、前記出力ノードの電位が低電位側の電源電位よりも前記トランジスターの寄生ダイオードの順方向電圧以上低くなったときに導通状態となる保護回路をさらに備える、請求項1〜3のいずれか1項記載の回路装置。
  5. 前記保護回路の前記トランジスターが、高耐圧トランジスターを含む、請求項4記載の回路装置。
  6. 前記コンパレーターが、低電位側の電源電位が印加される第2の入力端子をさらに有し、前記入力端子と前記第2の入力端子との間に前記保護回路の前記トランジスターの寄生ダイオードの順方向電圧よりも小さいオフセット電圧が設定されており、前記出力ノードの電位を前記低電位側の電源電位よりも前記オフセット電圧だけ低い判定レベルと比較する、請求項4又は5記載の回路装置。
  7. 前記制御回路が、前記スイッチング素子が導通状態から非導通状態に遷移してから第1の期間が経過した後の第2の期間以上に亘って前記コンパレーターの出力信号が連続的に活性化された回数が2回以上の所定の回数に達した場合に、前記スイッチング素子が再び導通状態とならないように前記駆動信号のレベルを制御する、請求項1〜6のいずれか1項記載の回路装置。
  8. 高電位側の電源ノードと前記出力ノードとの間に接続されて、前記駆動信号に従って導通状態となったときに前記出力ノードに高電位側の電源電位を供給する前記スイッチング素子をさらに含む、請求項1〜7のいずれか1項記載の回路装置。
  9. 請求項1〜8のいずれか1項記載の回路装置と、
    前記出力ノードにカソードが接続され、低電位側の電源ノードにアノードが接続されたショットキーバリアダイオードと、
    前記出力ノードに一端が接続されて、前記スイッチング素子から駆動電流が供給されるインダクターと、
    前記インダクターの他端と前記低電位側の電源ノードとの間に接続されて、前記インダクターから供給される電荷を蓄積するキャパシターと、
    を備えるスイッチングレギュレーター。
  10. 請求項9記載のスイッチングレギュレーターを備える電子機器。
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