JP2017181427A - 測量装置及び測量装置の機械高取得方法 - Google Patents
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Description
h1+(h2−h1)×L1/(L1+L2)=(L2h1+L1h2)/(L1+L 2)
で求めることができる。
3 整準部
4 測量装置本体
5 鉛直軸心
6 托架部
7 望遠鏡部
8 器械点
10 求心点
14 水平回転駆動部
15 水平角測定部
16 鉛直回転駆動部
17 鉛直角測定部
19 測距部
22 制御装置
Claims (10)
- 設置面に設置された測量装置が整準部と該整準部に設けられた測量装置本体とを具備し、該測量装置本体は測定点を視準する望遠鏡部と、該望遠鏡部に設けられノンプリズム測距が可能な測距部と、前記望遠鏡部を所望の方向に回動させる回転駆動部と、前記測量装置本体の水平角を測定する水平角測定部と、前記望遠鏡部の鉛直角を測定する鉛直角測定部と、制御装置とを具備し、該制御装置は、前記測量装置本体を整準した状態で、前記測距部に前記設置面の少なくとも1点の測定点をノンプリズム測距させ、該測定点の測距結果と測距時の前記望遠鏡部の鉛直角を基に、前記測量装置本体の機械高を演算する測量装置。
- 前記制御装置は、前記測距部に前記設置面上の第1の測定点と、該第1の測定点と前記測量装置本体の機械中心に関して対称な第2の測定点とをノンプリズム測距させ、前記第1の測定点と前記第2の測定点の測距結果と測距時の前記望遠鏡部の鉛直角を基にそれぞれ求めた前記第1の測定点と前記第2の測定点の3次元座標から、前記測量装置本体の機械高を演算する請求項1に記載の測量装置。
- 前記設置面が水平又は水平と見做され、前記測量装置本体の整準は、前記制御装置が前記測距部に前記設置面の少なくとも3点の測定点をノンプリズム測距させ、該測定点の測距結果と測距時の前記望遠鏡部の鉛直角に基づき前記測量装置本体の傾斜角を演算し、該傾斜角を基に前記整準部に整準させることで得られる請求項1に記載の測量装置。
- 前記測定点により形成される面内に、前記測量装置本体の鉛直軸心と前記設置面との交点が存在する請求項3に記載の測量装置。
- 前記制御装置は、前記測量装置本体の鉛直軸心を中心とする回転と並行して前記測距部に前記設置面のノンプリズム測距を実行させ、各測定点の測定結果を基に該測定点が前記設置面上の点であるかを判断し、該設置面上の点であると判断された前記測定点のみを前記測量装置本体の機械高の演算に用いる様構成された請求項1に記載の測量装置。
- 前記制御装置は、前記設置面上の点であると判断された前記測定点の測距結果を平均化し、平均化した測距結果を基に前記測量装置本体の機械高を演算する請求項5に記載の測量装置。
- 前記制御装置は、前記望遠鏡部の鉛直角を変更し、異なる鉛直角でそれぞれ前記測距部に前記設置面のノンプリズム測距を実行させ、少なくとも2つの同心円状の測定点の軌跡を取得し、該測定点の軌跡を基に前記設置面の平面形状を演算する請求項6に記載の測量装置。
- ノンプリズム測定が可能な測量装置の機械高取得方法であって、該測量装置の傾斜角を検出する工程と、検出された傾斜角を基に前記測量装置を整準する工程と、該測量装置が設置面上の少なくとも1点の測定点のノンプリズム測距及び測角を行う工程と、前記測定点の測距結果及び測角結果に基づき前記測量装置の機械高を演算する工程とを有する測量装置の機械高取得方法。
- 前記設置面上の少なくとも3点の測定点のノンプリズム測距及び測角を行う工程と、前記測定点で形成された面を基に前記測量装置の傾斜角を演算する工程とを有する請求項8に記載の測量装置の機械高取得方法。
- 前記測量装置を鉛直軸心を中心に回転させる工程と、前記測量装置の回転と並行して測定点のノンプリズム測距を行う工程と、該測定点の測定結果を基に該測定点が前記設置面上の点であるかを判断する工程と、該設置面上の点であると判断された前記測定点の測距結果及び測角結果に基づき前記測量装置の機械高を演算する工程とを有する請求項8に記載の測量装置の機械高取得方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2016072622A JP6738634B2 (ja) | 2016-03-31 | 2016-03-31 | 測量装置及び測量装置の機械高取得方法 |
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