JP2017167011A - 物性測定方法 - Google Patents
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Abstract
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例えば、特許文献1に記載の物性測定装置は、図3に示すように、帯電装置1と非接触式の表面電位センサ2とを組み合わせたものである。帯電装置1は、放電電極3と多孔電極板4とを備え、表面電位センサ2は、検出電極板5、計測回路6、及び演算部7を備え、それぞれ電源8に接続されている。
この測定装置では、上記測定対象9の表面の照射領域aに、上記帯電装置1の放電電極3を対向させるとともに、この照射領域aから所定の距離離れた測定領域bに上記表面電位センサ2の検出電極板5を対向させている。この検出電極板5には、対向する測定領域bの表面電位に応じて電荷が誘導される。この検出電極板5に誘導された電荷を計測回路6が計測し、その電荷量から演算部7が測定対象9の表面電位を算出する。
なぜなら、ベースが導電性でしかも測定対象9の電気抵抗が小さい場合には、上記帯電装置1から測定対象9に照射されたイオンが上記照射領域aから金属製のベースへ流れてしまい、測定領域bまで到達しないからである。このような場合に、上記従来の物性測定装置では、測定領域bの表面電位の変化が測定できないため、測定対象9の物性を測定することもできなかった。
したがって、表面電位センサの検出値に基づいて、測定対象の体積抵抗や、体積抵抗に関連する物性を測定することができる。
この実施形態では、金属製のベース10上に塗布された塗膜を測定対象9とし、その硬化度を測定する。なお、上記測定対象9は塗布直後の塗膜で、その体積抵抗値は低いことが想定される。
また、図1において測定対象9の厚みとベース10の厚みとを同等に表しているが、塗膜である測定対象9の厚みは数十〔μm〕程度であり、ベース10よりも薄い場合が多い。
イオン照射機構11には、高電圧電源に接続された針状の放電電極13が設けられ、この放電電極13に高電圧を印加すると、先端に生成されたイオンが、測定対象9上のイオン照射領域Aに照射される。
つまり、ケーシング内に、図示しない検出窓を介して上記測定対象9と対向する位置に検出電極板14を保持している。この検出電極板14に誘導される電荷量に基づいて表面電位を検出する。
ただし、この実施形態において上記検出電極板14は、上記測定対象9上の上記イオン照射領域Aに対向して設けられている。つまり、このイオン照射領域Aが、この発明の特定の部位であり、この部位の表面電位を表面電位センサ12で測定することになる。
第2の表面電位センサ16と上記第1の表面電位センサ12とは、同じ検出原理を利用したものである。
上記放電電極13に高電圧を印加してイオン照射領域Aにイオンを照射する。このとき、2つの表面電位センサ12,16はどちらも作動させておく。
上記放電電極13からイオン照射領域Aにイオンが照射されると、そのイオンは測定対象9の厚み方向に移動してアースへ流れる。
上記イオン照射領域Aにイオンを照射し続けると、図2に示すように測定対象9の厚み方向に電流Iが流れることになる。この電流Iは、放電電極13の放電条件に応じて飽和する電流である。なお、図2では、導電性のベース10を省略し、測定対象9の厚みを厚く表わしている。
したがって、表面電位センサ12で測定された表面電位Vから、測定対象9の体積抵抗Rを検出することができる。また、体積抵抗Rから塗膜の硬化度を検出することもできる。
上記のように、測定対象9の表面における特定のイオン照射領域Aにイオンを照射しながらその部位である上記イオン照射領域Aの表面電位を測定することによって、塗布直後の塗膜のように従来の物性測定装置では測定できなかった測定対象9の物性を測定することができる。
なお、塗膜の硬化度を測定するためには、塗膜の体積抵抗Rと硬化度との対応テーブルを、塗料の種類ごとにあらかじめ作成しておく必要がある。このテーブルを用いて、測定された体積抵抗Rから塗膜の硬化度を特定することができる。そして、上記表面電位センサ12に、対応テーブルを記憶させた演算部を備えれば、この測定装置から演算部が特定した硬化度を出力することができる。
もし、測定対象9の表面が、先のイオン照射によって帯電した状態を放置したままにしておくと、イオン照射前の放電電極13とイオン照射領域Aとの間の電位差が、先の測定時から変化してしまう。上記放電電極13とイオン照射領域Aとの間の電位差が異なれば、それが原因で放電状態が変化してしまう可能性もある。例えば、イオン照射領域Aの表面電位が高くなって、放電電極13との間の電位差が通常よりも小さくなっていた場合には、放電が起こりにくくなり、放電が不安定になってしまう。放電状態が変化すれば、上記電流Iも変わって、体積抵抗Rの測定値にも誤差が生じてしまうが、上記のようにイオン照射前に除電を実施すれば、測定精度が上がる。
このように、塗膜の硬化度が高くなったときには第2の表面電位センサ16を用いるようにしたのは、塗膜の測定対象9の体積抵抗Rが大きくなると、上記表面電位センサ12を用いた上記の方法では、測定できないことがあるためである。
ところが、塗膜が硬化して測定対象9が絶縁体となった場合には、照射領域Aに照射されたイオンは測定対象9の表面に沿って広がり、上記測定領域Bに達して測定領域Bの表面電位を変化させる。この表面電位の変化を、第2の表面電位センサ16で測定すれば、測定対象9の表面抵抗が測定でき、塗膜の硬化度も測定できることになる。
また、シールド電極15の構成も、上記丸棒状のものに限らず、例えば板状のものでもよい。ただし、尖端部があると、その部分で放電しやすくなるため、シールド電極15としては丸棒のように尖端部を持たない形状が好ましい。
さらに、放電電極13の構成も針状に限らず、特定のイオン照射領域Aにイオン照射ができればどのようなものでもかまわない。
11 イオン照射機構
12 表面電位センサ
13 放電電極
14 検出電極板
15 シールド電極
A (特定の部位)イオン照射領域
Claims (5)
- 測定対象にイオンを照射する放電電極と、上記測定対象の表面電位を測定する表面電位センサとを備え、
上記測定対象の特定の部位に、上記放電電極によって生成されるイオンを照射しながら、上記特定の部位の表面電位を上記表面電位センサで測定する物性測定方法。 - 上記表面電位センサで上記特定の部位の表面電位を繰り返し測定する請求項1に記載の物性測定方法。
- 上記特定の部位にイオンを照射する前に、上記測定対象を除電する請求項1又は2に記載の物性測定方法
- 上記測定対象が塗膜である請求項1〜3のいずれか1に記載の物性測定方法。
- 上記表面電位センサと上記放電電極との間であって、上記放電電極が形成する電界が上記表面電位センサに直接影響を及ぼさないよう、上記放電電極からの電界を遮断し得る位置に、シールド電極を設けた請求項1〜4のいずれか1に記載の物性測定方法。
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