JP2017151017A - 画像検査装置及び画像処理装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】対象物を撮影した画像の処理に要する時間を短縮すること。
【解決手段】画像検査装置11は、対象物としての検査対象を撮像装置12にて撮影した画像に基づいて検査対象を検査する。画像検査装置11は画像取込部21、画像処理部23A,23B、メモリ24A,24Bを有している。画像取込部21は、撮像装置12から画像を取り込み、検査対象に応じた検査画像を出力する。画像処理部23Aは、画像取込部21から出力される検査画像を入力し、その入力した画像を第1の検査画像としてメモリ24Aに格納し、入力した画像を出力し、第1の検査画像に基づいて検査対象を検査する。画像処理部23Bと、画像処理部23Aから出力される画像を入力し、その入力した画像を第2の検査画像としてメモリ24Bに格納し、第2の検査画像に基づいて検査対象を検査する。
【選択図】図3
【解決手段】画像検査装置11は、対象物としての検査対象を撮像装置12にて撮影した画像に基づいて検査対象を検査する。画像検査装置11は画像取込部21、画像処理部23A,23B、メモリ24A,24Bを有している。画像取込部21は、撮像装置12から画像を取り込み、検査対象に応じた検査画像を出力する。画像処理部23Aは、画像取込部21から出力される検査画像を入力し、その入力した画像を第1の検査画像としてメモリ24Aに格納し、入力した画像を出力し、第1の検査画像に基づいて検査対象を検査する。画像処理部23Bと、画像処理部23Aから出力される画像を入力し、その入力した画像を第2の検査画像としてメモリ24Bに格納し、第2の検査画像に基づいて検査対象を検査する。
【選択図】図3
Description
本発明は、画像検査装置及び画像処理装置に関するものである。
従来、被検査物の検出や検査するための装置が各種提案され、例えば画像処理装置が用いられている。例えば、欠陥の有無等を検査する検査装置は、撮像装置を用いて、シート(樹脂や紙等)などの平板状の被検査物を撮影した画像に基づいて被検査物を検査する(例えば、特許文献1参照)。
ところで、上記のような検査装置では、画像の取り込みや、取り込んだ画像に対する各種の画像処理、等が必要である。そして、検査装置では、被検査物の判定に要する時間の短縮が望まれている。
本発明は上記問題点を解決するためになされたものであって、その目的は、対象物を撮影した画像の処理に要する時間の短縮を可能とした画像検査装置及び画像処理装置を提供することにある。
上記課題を解決する画像検査装置は、対象物を撮像装置にて撮影した画像に基づいて前記対象物を検査する画像検査装置であって、前記撮像装置から前記画像を取り込み、前記対象物に応じた検査画像を出力する画像取込部と、前記画像取込部から出力される前記検査画像を入力し、その入力した画像を第1の検査画像として第1の記憶部に格納し、前記入力した画像を出力し、前記第1の検査画像に基づいて前記対象物を検査する第1の処理部と、前記第1の処理部から出力される画像を入力し、その入力した画像を第2の検査画像として第2の記憶部に格納し、前記第2の検査画像に基づいて前記対象物を検査する第2の処理部とを有する。
この構成によれば、第1の処理部と第2の処理部とによって、画像取込部にて取り込んだ対象物の検査画像に基づいて、対象物の検査が行われるため、1つの処理部にて検査を行う場合と比べ、検査の処理に要する時間が短くなる。画像取込部が第1の処理部に対して出力する検査画像が、第1の処理部から第2の処理部へと転送される。このため、画像取込部が第1の処理部と第2の処理部のそれぞれに検査画像を出力する場合と比べ、画像取込部における処理が少なくなり、その分処理に要する時間が短くなる。
上記の画像検査装置において、前記画像取込部は、前記検査画像を含むデータを前記第1の処理部に送信し、前記第1の処理部は、受信した前記データに含まれる前記検査画像を取り出した後に前記データを前記第2の処理部に転送し、前記データから取り出した前記検査画像を前記第1の記憶部に格納し、前記第2の処理部は、受信した前記データに含まれる前記検査画像を取り出し、その取り出した前記検査画像を前記第2の記憶部に格納することが好ましい。
この構成によれば、画像取込部は検査画像を含むデータを第1の処理部に送信し、第1の処理部は受け取ったデータを転送する。このようなデータ転送方式を利用して検査画像を第1の処理部と第2の処理部とに容易に供給することができる。
上記の画像検査装置は、前記画像取込部の温度を検出し、検出結果に基づいて、前記画像取込部の動作を制御する制御部を有することが好ましい。
この構成によれば、検出した温度に応じて画像取込部の動作を制御する。例えば温度が上昇した場合に、画像取込部を停止させることで、画像取込部を保護することができる。
この構成によれば、検出した温度に応じて画像取込部の動作を制御する。例えば温度が上昇した場合に、画像取込部を停止させることで、画像取込部を保護することができる。
上記の画像検査装置は、前記第1の処理部、前記第2の処理部の温度を検出し、検出結果に基づいて、前記第1の処理部、前記第2の処理部の動作を制御する制御部を有することが好ましい。
この構成によれば、検出した温度に応じて第1の処理部、第2の処理部の動作を制御する。例えば温度が上昇した場合に、第1の処理部、第2の処理部を停止させることで、第1の処理部、第2の処理部を保護することができる。
上記の画像検査装置は、前記第1の処理部、第2の処理部のそれぞれに対して配置された第1の冷却ファン、第2の冷却ファンの回転情報を検出し、検出結果に基づいて前記第1の処理部、前記第2の処理部の動作を制御する制御部を有することが好ましい。
この構成によれば、検出した冷却ファンの回転情報に基づいて、第1の処理部、第2の処理部の動作を制御する。例えば冷却ファンに異常が発生した場合に、第1の処理部、第2の処理部を停止することで、第1の処理部、第2の処理部を保護することができる。
上記の画像検査装置において、前記画像取込部は、前記撮像装置から取り込んだ画像をシェーディング補正し、補正後の画像は前記第1の処理部と前記第2の処理部とに供給されることが好ましい。
この構成によれば、撮像装置の撮像素子の特性、レンズ収差、対象物に照射される光の状態等の影響により生じる輝度のばらつきを補正し、輝度むらを抑えることができる。
上記の画像検査装置において、前記撮像装置は、前記対象物の搬送方向と直交する方向に配列された複数の撮像素子を含むラインカメラであり、前記画像取込部は、前記撮像装置から取り込んだ前記検査画像に基づいて、前記対象物に光を照射する照明装置における光量を制御する制御信号を出力することが好ましい。
上記の画像検査装置において、前記撮像装置は、前記対象物の搬送方向と直交する方向に配列された複数の撮像素子を含むラインカメラであり、前記画像取込部は、前記撮像装置から取り込んだ前記検査画像に基づいて、前記対象物に光を照射する照明装置における光量を制御する制御信号を出力することが好ましい。
この構成によれば、画像取込部が取り込んだ検査画像に基づいて照明装置の光量を制御することで、検査画像に応じた光量に調整することが可能となる。また、照明装置の光量を制御する他の装置が不要となる。
上記課題を解決する画像処理装置は、撮像装置から取り込んだ画像に対して画像処理を行う画像処理装置であって、前記撮像装置から前記画像を取り込み、前記撮像装置が撮影した対象物に応じた対象画像を含むデータを送信する画像取込部と、前記データを受信し、受信した前記データに含まれる前記対象画像を第1の記憶部に格納し、受信した前記データを転送し、前記第1の記憶部から前記対象画像を読み出し画像処理を行う第1の画像処理部と、前記第1の画像処理部から転送された前記データを受信し、受信した前記データに含まれる前記対象画像を第2の記憶部に格納し、前記第2の記憶部から前記対象画像を読み出し、その画像に対して画像処理を行う、第2の画像処理部とを有する。
この構成によれば、第1の処理部と第2の処理部とによって、画像取込部にて取り込んだ対象画像に対する画像処理が行われるため、1つの処理部にて画像処理を行う場合と比べ、処理に要する時間が短くなる。画像取込部が第1の処理部に対して出力する対象画像が、第1の処理部から第2の処理部へと転送される。このため、画像取込部が第1の処理部と第2の処理部のそれぞれに対象画像を出力する場合と比べ、画像取込部における処理が少なくなり、その分処理に要する時間が短くなる。
本発明の画像検査装置及び画像処理装置によれば、対象物を撮影した画像の処理に要する時間の短縮することができる。
以下、一実施形態を説明する。
図1に示すように、検査システムは、対象物として搬送される検査対象Sの欠陥を検査する。検査対象Sは、例えば生産ラインにおいて、矢印方向に連続的に搬送される印刷物や樹脂シート等である。
図1に示すように、検査システムは、対象物として搬送される検査対象Sの欠陥を検査する。検査対象Sは、例えば生産ラインにおいて、矢印方向に連続的に搬送される印刷物や樹脂シート等である。
検査システムは、画像検査装置11、撮像装置12、照明装置13、表示装置14を有している。
照明装置13は、搬送される検査対象Sに検査のための光を照射する。照明装置13は、例えば検査対象Sの幅方向(検査対象Sの搬送方向と直交する方向)に沿って延びるライン照明(バータイプの照明器)と、そのライン照明を駆動する照明電源を含む。
照明装置13は、搬送される検査対象Sに検査のための光を照射する。照明装置13は、例えば検査対象Sの幅方向(検査対象Sの搬送方向と直交する方向)に沿って延びるライン照明(バータイプの照明器)と、そのライン照明を駆動する照明電源を含む。
撮像装置12は、例えば、ラインカメラであり、画素数は例えば16,000画素である。撮像装置12は、受光部が検査対象Sの幅方向(検査対象Sの搬送方向と直交する方向)に沿って配置されている。撮像装置12は、照明装置13から出射され検査対象Sの表面で反射された光を受け、検査対象Sの幅方向に1列(1ライン)分のライン画像(一次元画像)を生成し、そのライン画像を画像検査装置11に出力する。
図2に示すように、画像検査装置11は搬送装置15に接続されている。搬送装置15は、図1に示す検査対象Sを矢印方向に搬送する。搬送装置15は、検査対象Sを搬送するためのモータと、そのモータの回転に応じたエンコーダ信号を生成するエンコーダを有している。エンコーダ信号は画像検査装置11に出力される。
画像検査装置11は、エンコーダ信号に基づいて、撮像装置12から出力されるライン画像から、検査対象Sに応じた1フレームの二次元画像を生成する。1フレームの二次元画像は、検査対象Sに対する1回の検査に必要な画像を含む。例えば、印刷物の場合、1枚の画像(文字、絵を含む)が連続した用紙に繰り返し印刷される。このように、連続した用紙に繰り返し印刷される1枚の画像を撮影した二次元画像を1フレームの検査画像(対象画像)とする。
画像検査装置11のメモリ11aには、検査対象Sに応じた判定基準が記憶されている。判定基準は、基準画像や判定のための基準値(面積、長さ、等)を含む。画像検査装置11は、判定基準に基づいて検査画像を判定し、検査対象Sにおける欠陥等を検査する。例えば、画像検査装置11は、検査画像を基準画像と比較し、検査画像における欠陥の有無を判定する、つまり検査対象Sにおける欠陥の有無を検査する。
画像検査装置11は、検査項目に応じて、各種の画像処理を検査画像に対して施す。そして、画像検査装置11は、検査結果と検査画像を出力する。表示装置14は、検査結果と検査画像を表示する。また、画像検査装置11は、メモリ11aに記憶した検査画像に基づいて、検査対象Sを所望の明るさにて照明するように照明装置13を制御する。
表示装置14は、コンピュータ(例えばパーソナルコンピュータ(PC))等の汎用的な目的で使用される計算機上で実行されるコンピュータプログラム(ツール)により実現される。実行されるコンピュータプログラムは、上記の検査結果を表示する表示ツールを含む。
また、画像検査装置11は、検査支援装置16に接続されている。検査支援装置16は、コンピュータ(例えばパーソナルコンピュータ(PC))等の汎用的な目的で使用される計算機上で実行されるコンピュータプログラム(ツール)により実現される。実行されるコンピュータプログラムは、画像検査装置11における各種の設定や検査処理の設定・編集を行うための編集ツールを含む。つまり、検査支援装置16は、検査結果を表示する表示装置、各種の設定や検査処理の設定・編集を行うための装置として機能する。
各種のツールは、それぞれが独立したソフトウェア、または複数のツールが統合されたソフトウェアとして提供される。ソフトウェアは、例えば、カード型のメモリデバイス(メモリカード)等の各種の記録媒体や、ネットワークを介してダウンロードされるソフトウェアとして提供される。検査支援装置16は、各種のツールソフトをそれぞれ実行する複数の計算機や、複数のツールソフトを実行する計算機として構成される。
図3に示すように、画像検査装置11は、画像取込部21、メモリ22、処理部としての画像処理部23A,23B、記憶部としてのメモリ24A,24B、制御部25、入出力部26を有している。メモリ22,24A,24Bは、図1に示すメモリ11aに含まれる。
入出力部26は、エンコーダ17、照明装置13に接続されている。エンコーダ17は、図1に示す搬送装置15に含まれる。エンコーダ17から出力されるエンコーダ信号は、入出力部26を介して画像取込部21に供給される。
画像取込部21は、撮像装置12により検査対象Sを撮影した画像(一次元画像)を入力し、メモリ22に格納する。画像取込部21は、メモリ22に格納した画像を時系列で並べることにより、画素を二次元配列した検査画像(対象画像)を生成する。
画像取込部21は、設定に応じて、メモリ22に格納した検査画像を補正する。
画像取込部21は、補正処理としてたとえば伸縮補正を行う。撮像装置12で撮像された一次元画像を並べた二次元画像は、搬送装置15における搬送速度によって、画像の長さが変化する。画像取込部21は、エンコーダ信号(例えばパルス間隔)に応じて、時系列で並べるライン画像(一次元画像)の配列間隔を補正し、判定基準(例えば基準画像)に応じた長さの二次元画像(検査画像)を得る。
画像取込部21は、補正処理としてたとえば伸縮補正を行う。撮像装置12で撮像された一次元画像を並べた二次元画像は、搬送装置15における搬送速度によって、画像の長さが変化する。画像取込部21は、エンコーダ信号(例えばパルス間隔)に応じて、時系列で並べるライン画像(一次元画像)の配列間隔を補正し、判定基準(例えば基準画像)に応じた長さの二次元画像(検査画像)を得る。
また、画像取込部21は、補正処理としてたとえばシェーディング補正を行う。撮像装置12で撮像された画像には、撮像素子の特性、レンズ収差、照明装置13による光の照射状態等の影響により、長手方向において輝度にばらつきが生じることがある。シェーディング補正を施すことにより、この輝度のばらつきを補正し、輝度むらを抑えることができる。
検査画像を画像取込部21から画像処理部23A,23Bへ供給する方法の一例を説明する。
図4に示すように、画像取込部21は、インタフェース回路(「I/F」と表記)31を有している。このインタフェース回路31は、高速なシリアル通信を行う通信回路である。同様に、画像処理部23A,23Bは、インタフェース回路33A,33Bを有している。画像取込部21のインタフェース回路31は、画像処理部23Aのインタフェース回路33Aと、画像処理部23Bのインタフェース回路33Bとに接続されている。画像取込部21は、インタフェース回路31を介して画像処理部23Aに1フレームの検査画像を送信する(図4に示す矢印P1)。画像処理部23Aは、インタフェース回路33Aを介して1フレームの検査画像を受け取り、その検査画像をメモリ24Aに格納する。
図4に示すように、画像取込部21は、インタフェース回路(「I/F」と表記)31を有している。このインタフェース回路31は、高速なシリアル通信を行う通信回路である。同様に、画像処理部23A,23Bは、インタフェース回路33A,33Bを有している。画像取込部21のインタフェース回路31は、画像処理部23Aのインタフェース回路33Aと、画像処理部23Bのインタフェース回路33Bとに接続されている。画像取込部21は、インタフェース回路31を介して画像処理部23Aに1フレームの検査画像を送信する(図4に示す矢印P1)。画像処理部23Aは、インタフェース回路33Aを介して1フレームの検査画像を受け取り、その検査画像をメモリ24Aに格納する。
画像取込部21のインタフェース回路31は、画像処理部23Aのインタフェース回路33Aと画像処理部23Bのインタフェース回路33Bとを互いに接続する機能を有している。インタフェース回路33Aは、受け取った検査画像を折り返し送信する。このインタフェース回路33Aから送信される検査画像は、画像取込部21のインタフェース回路31を介して画像処理部23Bに供給される(図4に示す矢印P2)。画像処理部23Bは、インタフェース回路33Bを介して1フレームの検査画像を受け取り、その検査画像をメモリ24Bに格納する。
上記の検査画像は、データ転送方式として例えばパケット転送方式を利用して画像処理部23A,23Bへ供給される。詳述すると、各インタフェース回路31,33A,33Bは、データの要求、データの受け取り完了通知などを制御パケットにて行い、データの送受信をデータパケットにて行う。画像取込部21のインタフェース回路31は、検査画像を含むデータパケットを画像処理部23Aに送信する。画像処理部23Aは、受け取ったデータパケットから検査画像を取り出し、データパケットを転送する。そして、画像処理部23Aは、データパケットから取り出した検査画像をメモリ24Aに格納する。画像処理部23Bは、画像処理部23Aから受け取ったデータパケットから検査画像を取り出し、メモリ24Bに格納する。
例えば、検査画像(画像データ)のみを画像取込部21から画像処理部23A,23Bに供給する場合、画像取込部21は、各画像処理部23A,23Bやメモリ24A,24Bの詳細なアドレスやオフセット等の情報を管理し、画像処理部23A,23Bやメモリ24A,24Bのそれぞれに対するデータ転送を制御することが必要となる。
一方、本実施形態では、パケット転送方式を利用しているため、1つの画像処理部の情報管理、転送制御のみで済むため、データ転送の効率化、簡素化が図れる。このため、画像取込部21の処理負荷を軽減させることができ、その分、次のフレームの検査画像を取り込む処理や補正処理などを行うことができる。前述した検査画像(画像データ)のみを画像処理部等に供給するものでは、画像処理部において補正処理が行われることが多い。したがって、1フレームの検査画像の処理に要する時間の短縮を図ることが可能となる。言い換えれば、1フレームの検査画像の処理速度を速くすることができる。
画像処理部23Aは、メモリ24Aに格納した検査画像に対して、検査に必要とされる画像処理を実行するものである。画像処理部23Aは、例えばDSP(Digital Signal Processor)で構成される。検査は、例えば2値化やエッジ検出などである。メモリ24Aは、基準画像を記憶している。画像処理部23Aは、検査画像と基準画像とを比較し、検査画像における欠陥、つまり検査対象Sの欠陥を検出する。画像処理部23Aは、検査結果を出力する。検査結果は、例えば、検査画像と、その検査画像において検出した欠陥の位置を示す情報を含む。欠陥の位置は、例えば、検出した欠陥が含まれる領域の座標値(検査画像における縦方向の画素の位置と横方向の画素の位置)である。複数の欠陥を検出した場合、検査結果は、検出した欠陥の数、検出した各欠陥の位置を示す情報を含む。検査結果は、例えば画像取込部21と入出力部26を介して外部(図1に示す表示装置14)に出力される。
同様に、画像処理部23Bは、メモリ24Bに格納した検査画像に対して、検査に必要とされる画像処理を実行するものである。画像処理部23Bは、例えばDSP(Digital Signal Processor)で構成される。検査は、例えば2値化やエッジ検出などである。メモリ24Bは、基準画像や判定条件(判定パラメータ)を記憶している。画像処理部23Bは、検査画像を基準画像や判定条件と比較し、検査画像における欠陥、つまり検査対象Sの欠陥を検出する。画像処理部23Bは、検査結果を出力する。検査結果は、例えば、検査画像と、その検査画像において検出した欠陥の位置を示す情報を含む。欠陥の位置は、例えば、検出した欠陥が含まれる領域の座標値(検査画像における縦方向の画素の位置と横方向の画素の位置)である。複数の欠陥を検出した場合、検査結果は、検出した欠陥の数、検出した各欠陥の位置を示す情報を含む。検査結果は、例えば画像取込部21と入出力部26を介して外部(図1に示す表示装置14)に出力される。
制御部25は、画像取込部21、画像処理部23A,23Bを制御する。例えば、制御部25は、画像取込部21、画像処理部23A,23Bの動作開始、動作停止、リセット、処理に必要なパラメータの設定、等を行う。画像取込部21に設定されるパラメータは、上記のシェーディング補正における補正値を含む。画像処理部23A,23Bに設定されるパラメータは、検査処理(2値化、エッジ検出、等)に必要なパラメータ(しきい値等)、処理する領域に関するパラメータを含む。
図6(a)に示すように、画像処理部23A,23Bは、検査対象Sの検査画像IP1を処理する。例えば、画像処理部23Aは、検査画像IP1に対して、設定されたパラメータに応じて2値化を行い、画像処理部23Bは、検査画像IP1に対して、設定されたパラメータに応じてエッジ検出を行う。2値化とエッジ検出とで検出される欠陥が異なる場合がある。このように、2つの画像処理部23A,23Bにおいて互いに異なる検査を行う、つまり検査画像に対して複数の検査処理を同時に行うことで、検査処理を順次行う場合と比べて処理に要する時間が短くなる。
図6(b)に示すように、画像処理部23A,23Bは、検査対象Sの検査画像IP1を処理する。画像処理部23Aは、設定されたパラメータに応じて検査画像の前半の領域の検査画像IPAに対して、例えば2値化を行う。画像処理部23Bは、設定されたパラメータに応じて検査画像の後半の領域の検査画像IPBに対して、例えば2値化を行う。このように、1つの検査画像を2つの領域に分割し、各領域の検査画像IPA,IPBの検査処理をそれぞれ画像処理部23A,23Bにより行うことで、1つの画像処理部において1つの検査画像の全てを検査処理する場合と比べ、検査処理に要する時間が短くなる。このため、高速に搬送される検査対象Sに対する検査処理を行うことができるようになる。
また、制御部25は、画像取込部21、画像処理部23A,23Bの温度を監視する。
図5に示すように、制御部25には、温度センサ41,43A,43Bが接続されている。温度センサ41は、画像取込部21、画像処理部23A,23Bに対応する温度センサを含む。画像取込部21に対応する温度センサ41は、画像取込部21に内蔵されたセンサ、又は画像取込部21の近傍に配置されたセンサである。画像処理部23A,23Bに対応する温度センサ43A、43Bは、画像処理部23A,23Bに内蔵されたセンサ、又は画像処理部23A,23Bの近傍に配置されたセンサである。制御部25には、冷却ファン45A,45Bが接続されている。冷却ファン45A、45Bは、画像処理部23A、23Bを冷却するように配置されている。
図5に示すように、制御部25には、温度センサ41,43A,43Bが接続されている。温度センサ41は、画像取込部21、画像処理部23A,23Bに対応する温度センサを含む。画像取込部21に対応する温度センサ41は、画像取込部21に内蔵されたセンサ、又は画像取込部21の近傍に配置されたセンサである。画像処理部23A,23Bに対応する温度センサ43A、43Bは、画像処理部23A,23Bに内蔵されたセンサ、又は画像処理部23A,23Bの近傍に配置されたセンサである。制御部25には、冷却ファン45A,45Bが接続されている。冷却ファン45A、45Bは、画像処理部23A、23Bを冷却するように配置されている。
制御部25は、温度センサ41により検出した画像取込部21の温度に基づいて、画像取込部21を制御する。例えば、制御部25は、画像取込部21の温度に基づいて、画像取込部21の動作を制御する。例えば、制御部25には、制御のための制限値が設定されている。制御部25は、画像取込部21の温度に基づいて、その温度が制限値を越えた場合、画像取込部21の動作を停止させ、画像取込部21の熱破壊を防止する。そして、制御部25は、その旨を示す信号(例えば、アラーム信号等)を、入出力部26を介して外部に出力する。
制御部25は、冷却ファン45Aの回転情報を検出し、制限値に基づいて冷却ファン45Aに異常が発生しているか否かを判定する。そして、制御部25は、冷却ファン45Aに異常が発生した場合、画像処理部23Aの動作を停止させ、画像処理部23Aの熱破壊を防止する。そして、制御部25は、その旨を示す信号(例えば、アラーム信号等)を、入出力部26を介して外部に出力する。更に、制御部25は、温度センサ43Aにより検出した画像処理部23Aの温度に基づいて、画像処理部23Aの動作を停止させ、その旨を示す信号を出力する。
同様に、制御部は、冷却ファン45Aの回転情報、温度センサ43Bによる画像処理部23Bの温度を検出し、異常の発生時に画像処理部23Bの動作を停止させ、画像処理部23Bの熱破壊を防止する。
以上記述したように、本実施の形態によれば、以下の効果を奏する。
(1)画像検査装置11は、検査対象Sを撮像装置12にて撮影した画像に基づいて検査対象Sを検査する。画像検査装置11は画像取込部21、画像処理部23A,23B、メモリ24A,24Bを有している。画像取込部21は、撮像装置12から画像を取り込み、検査対象Sに応じた検査画像を出力する。画像処理部23Aは、画像取込部21から出力される検査画像を入力し、その入力した画像を第1の検査画像としてメモリ24Aに格納し、入力した画像を出力し、第1の検査画像に基づいて検査対象Sを検査する。画像処理部23Bと、画像処理部23Aから出力される画像を入力し、その入力した画像を第2の検査画像としてメモリ24Bに格納し、第2の検査画像に基づいて検査対象Sを検査する。
(1)画像検査装置11は、検査対象Sを撮像装置12にて撮影した画像に基づいて検査対象Sを検査する。画像検査装置11は画像取込部21、画像処理部23A,23B、メモリ24A,24Bを有している。画像取込部21は、撮像装置12から画像を取り込み、検査対象Sに応じた検査画像を出力する。画像処理部23Aは、画像取込部21から出力される検査画像を入力し、その入力した画像を第1の検査画像としてメモリ24Aに格納し、入力した画像を出力し、第1の検査画像に基づいて検査対象Sを検査する。画像処理部23Bと、画像処理部23Aから出力される画像を入力し、その入力した画像を第2の検査画像としてメモリ24Bに格納し、第2の検査画像に基づいて検査対象Sを検査する。
このように、画像処理部23Aと画像処理部23Bとによって、画像取込部21にて取り込んだ検査対象Sの検査画像に基づいて、検査対象Sの検査が行われるため、1つの処理部にて検査を行う場合と比べ、検査の処理に要する時間を短くすることができる。画像取込部21が画像処理部23Aに対して出力する検査画像が、画像処理部23Aから画像処理部23Bへと転送される。このため、画像取込部21が画像処理部23Aと画像処理部23Bのそれぞれに検査画像を出力する場合と比べ、画像取込部21における処理が少なくなり、その分処理に要する時間を短くすることができる。
(2)画像取込部21は、検査画像を含むデータパケットを画像処理部23Aに送信する。画像処理部23Aは、受信したデータパケットに含まれる検査画像を取り出した後にデータパケットを画像処理部23Bに転送し、データパケットから取り出した検査画像をメモリ24Aに格納する。そして、画像処理部23Bは、受信したデータパケットに含まれる検査画像を取り出し、その取り出した検査画像をメモリ24Bに格納する。
したがって、画像取込部21は検査画像を含むデータパケットを画像処理部23Aに送信し、画像処理部23Aは受け取ったデータパケットを転送する。このように、データパケットを利用して検査画像を画像処理部23Aと画像処理部23Bとに容易に供給することができる。
(3)制御部25は、画像取込部21の温度を検出し、検出結果に基づいて、画像取込部21の動作を制御する。したがって、例えば温度が上昇した場合に、画像取込部21を停止させることで、画像取込部21を保護することができる。
(4)制御部25は、画像処理部23A、画像処理部23Bの温度を検出し、検出結果に基づいて、画像処理部23A、画像処理部23Bの動作を制御する。したがって、例えば温度が上昇した場合に、画像処理部23A,23Bの動作を停止することで、画像処理部23A、画像処理部23Bを保護することができる。
(5)制御部25は、冷却ファン45A,45Bの回転情報を検出し、検出結果に基づいて、画像処理部23A、画像処理部23Bの動作を制御する。したがって、例えば冷却ファン45A,45Bに異常が発生した場合、画像処理部23A,23Bの動作を停止することで、画像処理部23A,23Bを保護することができる。
(6)画像取込部21は、撮像装置12から取り込んだ画像をシェーディング補正し、補正後の画像は画像処理部23Aと画像処理部23Bとに供給される。このため、撮像装置12の撮像素子の特性、レンズ収差、検査対象Sに照射される光の状態等の影響により生じる輝度のばらつきを補正し、輝度むらを抑えることができる。
(7)撮像装置12は、検査対象Sの搬送方向と直交する方向に配列された複数の撮像素子を含むラインカメラである。画像取込部21は、撮像装置12から取り込んだ検査画像に基づいて、検査対象Sに光を照射する照明装置13における光量を制御する制御信号を出力する。したがって、画像取込部21が取り込んだ検査画像に基づいて照明装置13の光量を制御することで、検査画像に応じた光量に調整することが可能となる。また、照明装置13の光量を制御する他の装置が不要となり、容易に画像検査システムを構築することができる。
尚、上記各実施の形態は、以下の態様で実施してもよい。
・上記実施形態において、図3に示す画像検査装置11の構成を適宜変更してもよい。例えば、画像取込部21、画像処理部23A,23B、制御部25、メモリ22,24A,24Bは、1つの画像処理ユニットとして構成される。この画像処理ユニットは、画像検査装置の筐体に固定されたマザーボードに接続される。マザーボードは複数のスロット(コネクタ)を有し、各スロットにより画像処理ユニットがマザーボードに接続される。たとえば、接続された複数の画像処理ユニットのそれぞれに撮像装置が接続される。この構成の場合、複数の撮像装置によって、幅の広い検査対象に対する検査処理を行うことができる。また、複数の画像処理ユニットに対して1つの撮像装置が接続される。この構成の場合、複数の画像処理ユニットによって検査対象を分割した領域毎に検査処理を行うことで、処理時間の短縮を図ることができ、高速にて搬送される検査対象に対する検査処理を行うことが可能となる。
・上記実施形態において、図3に示す画像検査装置11の構成を適宜変更してもよい。例えば、画像取込部21、画像処理部23A,23B、制御部25、メモリ22,24A,24Bは、1つの画像処理ユニットとして構成される。この画像処理ユニットは、画像検査装置の筐体に固定されたマザーボードに接続される。マザーボードは複数のスロット(コネクタ)を有し、各スロットにより画像処理ユニットがマザーボードに接続される。たとえば、接続された複数の画像処理ユニットのそれぞれに撮像装置が接続される。この構成の場合、複数の撮像装置によって、幅の広い検査対象に対する検査処理を行うことができる。また、複数の画像処理ユニットに対して1つの撮像装置が接続される。この構成の場合、複数の画像処理ユニットによって検査対象を分割した領域毎に検査処理を行うことで、処理時間の短縮を図ることができ、高速にて搬送される検査対象に対する検査処理を行うことが可能となる。
・上記実施形態に対し、画像検査装置に3つ以上の画像処理部を備えるようにしてもよい。
・上記実施形態に対し、複数の撮像装置を接続し、各撮像装置により撮影した検査対象の画像データに基づいて検査対象の欠陥検査を行うようにしてもよい。
・上記実施形態に対し、複数の撮像装置を接続し、各撮像装置により撮影した検査対象の画像データに基づいて検査対象の欠陥検査を行うようにしてもよい。
・上記実施形態に対し、複数の照明装置を接続し、検査対象に光を照射するようにしてもよい。
・上記実施形態では、撮像装置12として、撮像素子が一次元配列されたラインカメラを用いたが、撮像素子が二次元配列されたエリアセンサを用いてもよい。
・上記実施形態では、撮像装置12として、撮像素子が一次元配列されたラインカメラを用いたが、撮像素子が二次元配列されたエリアセンサを用いてもよい。
・上記実施形態では、撮像装置12と照明装置13が検査対象Sの一方の面(上面)側に配置されている。撮像装置12は、検査対象Sからの反射光を受光して画像データを生成するように示している。これに対し、撮像装置12と照明装置13とを検査対象Sを挟んで対向するように配置してもよい。この場合、撮像装置12は、検査対象Sを透過した光を受光して画像データを生成する。
・上記実施形態では、検査対象Sを連続的に搬送される印刷物や樹脂シート等としたが、枚葉状の印刷物、樹脂シート等としてもよい。また、連続した金属板やガラス板等、枚葉状の金属板やガラス板等としてもよい。
・上記実施形態において、撮像装置12に含まれる撮像素子の配列方向と直交する方向に沿って検査対象Sを撮影することができればよく、検査対象Sを固定して撮像装置12を移動させるようにしてもよい。
・上記実施形態では、制御部25により画像取込部21と画像処理部23A,23Bの動作を制御したが、画像取込部21の動作制御と画像処理部23A,23Bの動作制御とを別々の制御部により行うようにしてもよい。また、画像処理部23Aの動作制御と画像処理部23Bの動作制御を別々の制御部により行うようにしてもよい。
・上記実施形態では、制御部25により画像処理部23A,23Bの温度と冷却ファン45A,45Bの回転情報を検知して画像処理部23A,23Bの動作を制御したが、温度検知による動作制御と冷却ファンの回転情報の検知による動作制御とを別々の制御部により行うようにしてもよい。また、画像処理部23Aの動作制御と画像処理部23Bの動作制御を別々の制御部により行うようにしてもよい。
11…画像検査装置、12…撮像装置、13…照明装置、21…画像取込部、23A…画像処理部(第1の処理部)、23B…画像処理部(第2の処理部)、24A,24B…メモリ、25…制御部、41,43A,43B…温度センサ、45A…冷却ファン(第1の冷却ファン)、45B…冷却ファン(第2の冷却ファン)、S…検査対象(対象物)。
Claims (8)
- 対象物を撮像装置にて撮影した画像に基づいて前記対象物を検査する画像検査装置であって、
前記撮像装置から前記画像を取り込み、前記対象物に応じた検査画像を出力する画像取込部と、
前記画像取込部から出力される前記検査画像を入力し、その入力した画像を第1の検査画像として第1の記憶部に格納し、前記入力した画像を出力し、前記第1の検査画像に基づいて前記対象物を検査する第1の処理部と、
前記第1の処理部から出力される画像を入力し、その入力した画像を第2の検査画像として第2の記憶部に格納し、前記第2の検査画像に基づいて前記対象物を検査する第2の処理部と、
を有することを特徴とする画像検査装置。 - 前記画像取込部は、前記検査画像を含むデータを前記第1の処理部に送信し、
前記第1の処理部は、受信した前記データに含まれる前記検査画像を取り出した後に前記データを前記第2の処理部に転送し、前記データから取り出した前記検査画像を前記第1の記憶部に格納し、
前記第2の処理部は、受信した前記データに含まれる前記検査画像を取り出し、その取り出した前記検査画像を前記第2の記憶部に格納すること、
を特徴とする請求項1に記載の画像検査装置。 - 前記画像取込部の温度を検出し、検出結果に基づいて、前記画像取込部の動作を制御する制御部を有すること、
を特徴とする請求項1又は2に記載の画像検査装置。 - 前記第1の処理部、前記第2の処理部の温度を検出し、検出結果に基づいて、前記第1の処理部、前記第2の処理部の動作を制御する制御部を有すること、
を特徴とする請求項1〜3の何れか一項に記載の画像検査装置。 - 前記第1の処理部、第2の処理部のそれぞれに対して配置された第1の冷却ファン、第2の冷却ファンの回転情報を検出し、検出結果に基づいて前記第1の処理部、前記第2の処理部の動作を制御する制御部を有すること、
を特徴とする請求項1〜4の何れか一項に記載の画像検査装置。 - 前記画像取込部は、前記撮像装置から取り込んだ画像をシェーディング補正し、補正後の画像は前記第1の処理部と前記第2の処理部とに供給されること、
を特徴とする請求項1〜5の何れか一項に記載の画像検査装置。 - 前記撮像装置は、前記対象物の搬送方向と直交する方向に配列された複数の撮像素子を含むラインカメラであり、
前記画像取込部は、前記撮像装置から取り込んだ前記検査画像に基づいて、前記対象物に光を照射する照明装置における光量を制御する制御信号を出力すること、
を特徴とする請求項1〜6の何れか一項に記載の画像検査装置。 - 撮像装置から取り込んだ画像に対して画像処理を行う画像処理装置であって、
前記撮像装置から前記画像を取り込み、前記撮像装置が撮影した対象物に応じた対象画像を含むデータを送信する画像取込部と、
前記データを受信し、受信した前記データに含まれる前記対象画像を第1の記憶部に格納し、受信した前記データを転送し、前記第1の記憶部から前記対象画像を読み出し画像処理を行う第1の画像処理部と、
前記第1の画像処理部から転送された前記データを受信し、受信した前記データに含まれる前記対象画像を第2の記憶部に格納し、前記第2の記憶部から前記対象画像を読み出し、その画像に対して画像処理を行う、第2の画像処理部と、
を有することを特徴とする画像処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016035473A JP2017151017A (ja) | 2016-02-26 | 2016-02-26 | 画像検査装置及び画像処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016035473A JP2017151017A (ja) | 2016-02-26 | 2016-02-26 | 画像検査装置及び画像処理装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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JP2017151017A true JP2017151017A (ja) | 2017-08-31 |
Family
ID=59740613
Family Applications (1)
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JP2016035473A Pending JP2017151017A (ja) | 2016-02-26 | 2016-02-26 | 画像検査装置及び画像処理装置 |
Country Status (1)
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JP (1) | JP2017151017A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102228081B1 (ko) * | 2019-10-23 | 2021-03-16 | 휴멘 주식회사 | 인쇄물 검사 시스템 및 인쇄물 검사 방법 |
-
2016
- 2016-02-26 JP JP2016035473A patent/JP2017151017A/ja active Pending
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