JP2017150853A - 反射型エンコーダスケール、反射型エンコーダスケールの製造方法、及びエンコーダユニット - Google Patents
反射型エンコーダスケール、反射型エンコーダスケールの製造方法、及びエンコーダユニット Download PDFInfo
- Publication number
- JP2017150853A JP2017150853A JP2016031472A JP2016031472A JP2017150853A JP 2017150853 A JP2017150853 A JP 2017150853A JP 2016031472 A JP2016031472 A JP 2016031472A JP 2016031472 A JP2016031472 A JP 2016031472A JP 2017150853 A JP2017150853 A JP 2017150853A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- resist
- layer
- encoder scale
- reflective
- resin substrate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Optical Transform (AREA)
Abstract
Description
特許文献1は、表面から光を入射する透光性樹脂基板と、所定のパターンにて透光性樹脂基板の裏面に形成した光反射用金属膜と、光反射用金属膜で反射されない光を吸収する低反射層とを備えた反射型エンコーダスケールであり、光反射用金属膜を粘着層で覆うことで、光反射用金属膜が外面に露出することを防止し、光反射用金属膜が外面に露出することによる酸化劣化を抑制している。
請求項2記載の本発明は、請求項1に記載の反射型エンコーダスケールにおいて、前記低反射層を、粘着層によって前記レジスト又は前記透光性樹脂基板の前記裏面に貼り合わせたことを特徴とする。
請求項3記載の本発明は、請求項1に記載の反射型エンコーダスケールにおいて、前記低反射層を、前記レジスト及び前記透光性樹脂基板の前記裏面に形成したことを特徴とする。
請求項4記載の本発明は、請求項2又は請求項3に記載の反射型エンコーダスケールにおいて、前記低反射層に、更に樹脂層を積層したことを特徴とする。
請求項5記載の本発明は、請求項1から請求項4のいずれかに記載の反射型エンコーダスケールにおいて、前記光反射用金属膜を、アルミニウム蒸着膜としたことを特徴とする。
請求項6記載の本発明は、請求項1から請求項5のいずれかに記載の反射型エンコーダスケールにおいて、前記レジストを、ゴム系フォトレジスト又はエポキシ系フォトレジストとしたことを特徴とする。
請求項7記載の本発明は、請求項3に記載の反射型エンコーダスケールにおいて、前記低反射層を、黒色ソルダーレジスト、黒色塗料、黒色蒸着膜、又は黒色めっきとしたことを特徴とする。
請求項8記載の本発明は、請求項2に記載の反射型エンコーダスケールにおいて、前記粘着層として、透明粘着剤を用いたことを特徴とする。
請求項9記載の本発明は、請求項1に記載の反射型エンコーダスケールにおいて、前記低反射層として、黒色粘着剤を用いたことを特徴とする。
請求項10記載の本発明の反射型エンコーダスケールの製造方法は、アルミニウム層を一方の面に備えた透光性樹脂基板の、前記アルミニウム層にレジストを付着させるレジストコーティング工程と、前記レジストコーティング工程の後に、前記レジストを露光・現像し、一部の前記レジストを除去することで、所定のレジストパターンを形成する露光・現像工程と、前記露光・現像工程の後に、露出した前記アルミニウム層をエッチングするエッチング工程と、前記アルミニウム層に前記レジストを付着させた状態で、低反射層を透明粘着剤によって前記レジスト又は前記透光性樹脂基板に貼り合わせる低反射層形成工程とを有することを特徴とする。
請求項11記載の本発明の反射型エンコーダスケールの製造方法は、アルミニウム層を一方の面に備えた透光性樹脂基板の、前記アルミニウム層にレジストを付着させるレジストコーティング工程と、前記レジストコーティング工程の後に、前記レジストを露光・現像し、一部の前記レジストを除去することで、所定のレジストパターンを形成する露光・現像工程と、前記露光・現像工程の後に、露出した前記アルミニウム層をエッチングするエッチング工程と、前記アルミニウム層に前記レジストを付着させた状態で、低反射層を前記レジスト及び前記透光性樹脂基板の裏面に形成する低反射層形成工程とを有することを特徴とする。
請求項12記載の本発明の反射型エンコーダスケールの製造方法は、アルミニウム層を一方の面に備えた透光性樹脂基板の、前記アルミニウム層にレジストを付着させるレジストコーティング工程と、前記レジストコーティング工程の後に、前記レジストを露光・現像し、一部の前記レジストを除去することで、所定のレジストパターンを形成する露光・現像工程と、前記露光・現像工程の後に、露出した前記アルミニウム層をエッチングするエッチング工程と、前記アルミニウム層に前記レジストを付着させた状態で、樹脂層を黒色粘着剤によって前記レジスト又は前記透光性樹脂基板に貼り合わせる低反射層形成工程とを有することを特徴とする。
請求項13記載の本発明のエンコーダユニットは、請求項1から請求項9のいずれかに記載された反射型エンコーダスケールと、光源と、光センサとを備え、前記光源から前記反射型エンコーダスケールに照射された前記光の内、前記光反射用金属膜で反射した反射光を前記光センサで検出することを特徴とする。
図1は本発明の実施例による反射型エンコーダスケールを示す要部断面図である。
図1(a)は、第1実施例による反射型エンコーダスケールであり、表面11から光を入射する透光性樹脂基板10と、所定のパターンにて透光性樹脂基板10の裏面12に形成した光反射用金属膜20と、光反射用金属膜20で反射されない光を吸収する低反射層30とを備え、光反射用金属膜20にレジスト40を付着させたものである。
低反射層30は、粘着層50によってレジスト40及び透光性樹脂基板10の裏面12に貼り合わせている。粘着層50には、透明粘着剤を用いている。
第1実施例によれば、光反射用金属膜20にレジスト40を付着させているので、高温高湿条件下でも十分な防湿性能を得ることができる。
また第1実施例によれば、レジスト40によって光反射用金属膜20を覆っているので、高い防湿性能を得ることができ、透明粘着剤50を用いて低反射層30を貼り合わせることができる。
低反射層30は、レジスト40及び透光性樹脂基板10の裏面12に形成している。低反射層30には、黒色ソルダーレジスト、黒色塗料(インク)、黒色蒸着膜、又は黒色めっきが適している。低反射層30として、黒色ソルダーレジスト、黒色塗料、黒色蒸着膜、又は黒色めっきを用いることで、粘着剤を用いずに積層することができる。
第2実施例によれば、光反射用金属膜20にレジスト40を付着させているので、高温高湿条件下でも十分な防湿性能を得ることができる。
また第2実施例によれば、レジスト40によって光反射用金属膜20を覆っているので、低反射層30として黒色ソルダーレジスト、黒色塗料、黒色蒸着膜、又は黒色めっきを透光性樹脂基板10の裏面12に直接形成することができ、光反射用金属膜20と低反射層30とにギャップがないためセンシング精度が高まる。
低反射層30は、レジスト40及び透光性樹脂基板10の裏面12に形成している。低反射層30には黒色粘着剤を用いる。
透明な樹脂層60は、低反射層30となる黒色粘着剤を用いて透光性樹脂基板10の裏面12に積層される。
第3実施例によれば、光反射用金属膜20にレジスト40を付着させているので、高温高湿条件下でも十分な防湿性能を得ることができる。
また第3実施例によれば、レジスト40によって光反射用金属膜20を覆っているので、低反射層30として黒色粘着剤を透光性樹脂基板10の裏面12に直接形成することができ、光反射用金属膜20と低反射層30とにギャップがないためセンシング精度が高まる。
また第3実施例によれば、低反射層30を樹脂層60で覆うことで、低反射層30を保護することができる。
光反射用金属膜20には、アルミニウム膜が適しており、透光性樹脂基板10に蒸着させて形成することが適している。アルミニウムを用いることで広い波長域で高い正反射率を得ることができ、蒸着膜とすることで微細パターンを精度よく形成できる。
レジスト40には、ゴム系フォトレジスト又はエポキシ系フォトレジストが適している。ゴム系フォトレジスト又はエポキシ系フォトレジストは、粘着性酸化防止膜よりも酸素透過性が低く酸化防止効果が高く、高温高湿条件下でも十分な防湿性能を得ることができる。更に、ゴム系フォトレジストを0.5〜2μmの薄膜で用いることで微細なパターン形成を得ることができる。
図2(a)は材料、図2(b)はレジストコーティング工程、図2(c)は露光・現像工程、図2(d)はエッチング工程、図2(e)は低反射層形成工程である。光反射用金属膜20には、アルミニウム層21を用いている。
図2(b)に示すレジストコーティング工程では、アルミニウム層21にレジスト40を付着させる。
図2(c)に示す露光・現像工程は、レジストコーティング工程の後に行う。
露光・現像工程では、レジスト40を露光・現像し、一部のレジスト40を除去することで、所定のレジストパターンを形成する。
図2(d)に示すエッチング工程は露光・現像工程の後に行う。
エッチング工程では、露出したアルミニウム層21をエッチングする。
図2(e)に示す低反射層形成工程はエッチング工程の後に行う。
低反射層形成工程は、アルミニウム層21にレジスト40を付着させた状態で、低反射層30を透明粘着剤50によってレジスト40及び透光性樹脂基板10に貼り合わせる。
図3(a)は材料、図3(b)はレジストコーティング工程、図3(c)は露光・現像工程、図3(d)はエッチング工程、図3(e)は低反射層形成工程である。光反射用金属膜20には、アルミニウム層21を用いている。
図3(a)から図3(d)は、図2(a)から図2(d)までと同一であるため説明を省略する。
図3(e)に示す低反射層形成工程は、アルミニウム層21にレジスト40を付着させた状態で、低反射層30をレジスト40及び透光性樹脂基板10の裏面12に形成する。
図4(a)は材料、図4(b)はレジストコーティング工程、図4(c)は露光・現像工程、図4(d)はエッチング工程、図4(e)は低反射層形成工程である。光反射用金属膜20には、アルミニウム層21を用いている。
図4(a)から図4(d)は、図2(a)から図2(d)までと同一であるため説明を省略する。
図4(e)に示す低反射層形成工程は、アルミニウム層21にレジスト40を付着させた状態で、樹脂層60を黒色粘着剤30によってレジスト40及び透光性樹脂基板10に貼り合わせる。
11 表面
12 裏面
20 光反射用金属膜
21 アルミニウム層
30 低反射層
40 レジスト
50 粘着層
60 樹脂層
71 光源
72 光センサ
特許文献1は、表面から光を入射する透光性樹脂基板と、所定のパターンにて透光性樹脂基板の裏面に形成した光反射用金属膜と、光反射用金属膜で反射されない光を吸収する低反射層とを備えた反射型エンコーダスケールであり、光反射用金属膜を粘着層で覆うことで、光反射用金属膜が外面に露出することを防止し、光反射用金属膜が外面に露出することによる酸化劣化を抑制している。
請求項2記載の本発明の反射型エンコーダスケールは、表面から光を入射する透光性樹脂基板と、所定のパターンにて前記透光性樹脂基板の裏面に形成した光反射用金属膜と、前記光反射用金属膜で反射されない前記光を吸収する低反射層とを備えた反射型エンコーダスケールであって、前記光反射用金属膜にレジストを付着させ、前記低反射層を、前記レジスト及び前記透光性樹脂基板の前記裏面に形成したことを特徴とする。
請求項3記載の本発明は、請求項1又は請求項2に記載の反射型エンコーダスケールにおいて、前記低反射層に、更に樹脂層を積層したことを特徴とする。
請求項4記載の本発明の反射型エンコーダスケールは、表面から光を入射する透光性樹脂基板と、所定のパターンにて前記透光性樹脂基板の裏面に形成した光反射用金属膜と、前記光反射用金属膜で反射されない前記光を吸収する低反射層とを備えた反射型エンコーダスケールであって、前記光反射用金属膜にレジストを付着させ、前記光反射用金属膜を、アルミニウム蒸着膜としたことを特徴とする。
請求項5記載の本発明は、請求項1から請求項3のいずれかに記載の反射型エンコーダスケールにおいて、前記光反射用金属膜を、アルミニウム蒸着膜としたことを特徴とする。
請求項6記載の本発明の反射型エンコーダスケールは、表面から光を入射する透光性樹脂基板と、所定のパターンにて前記透光性樹脂基板の裏面に形成した光反射用金属膜と、前記光反射用金属膜で反射されない前記光を吸収する低反射層とを備えた反射型エンコーダスケールであって、前記光反射用金属膜にレジストを付着させ、前記レジストを、ゴム系フォトレジスト又はエポキシ系フォトレジストとしたことを特徴とする。
請求項7記載の本発明は、請求項2に記載の反射型エンコーダスケールにおいて、前記低反射層を、黒色ソルダーレジスト、黒色塗料、黒色蒸着膜、又は黒色めっきとしたことを特徴とする。
請求項8記載の本発明は、請求項1に記載の反射型エンコーダスケールにおいて、前記粘着層として、透明粘着剤を用いたことを特徴とする。
請求項9記載の本発明の反射型エンコーダスケールは、表面から光を入射する透光性樹脂基板と、所定のパターンにて前記透光性樹脂基板の裏面に形成した光反射用金属膜と、前記光反射用金属膜で反射されない前記光を吸収する低反射層とを備えた反射型エンコーダスケールであって、前記光反射用金属膜にレジストを付着させ、前記低反射層として、黒色粘着剤を用いたことを特徴とする。
請求項10記載の本発明の反射型エンコーダスケールの製造方法は、アルミニウム層を一方の面に備えた透光性樹脂基板の、前記アルミニウム層にレジストを付着させるレジストコーティング工程と、前記レジストコーティング工程の後に、前記レジストを露光・現像し、一部の前記レジストを除去することで、所定のレジストパターンを形成する露光・現像工程と、前記露光・現像工程の後に、露出した前記アルミニウム層をエッチングするエッチング工程と、前記アルミニウム層に前記レジストを付着させた状態で、低反射層を透明粘着剤によって前記レジスト又は前記透光性樹脂基板に貼り合わせる低反射層形成工程とを有することを特徴とする。
請求項11記載の本発明の反射型エンコーダスケールの製造方法は、アルミニウム層を一方の面に備えた透光性樹脂基板の、前記アルミニウム層にレジストを付着させるレジストコーティング工程と、前記レジストコーティング工程の後に、前記レジストを露光・現像し、一部の前記レジストを除去することで、所定のレジストパターンを形成する露光・現像工程と、前記露光・現像工程の後に、露出した前記アルミニウム層をエッチングするエッチング工程と、前記アルミニウム層に前記レジストを付着させた状態で、低反射層を前記レジスト及び前記透光性樹脂基板の裏面に形成する低反射層形成工程とを有することを特徴とする。
請求項12記載の本発明の反射型エンコーダスケールの製造方法は、アルミニウム層を一方の面に備えた透光性樹脂基板の、前記アルミニウム層にレジストを付着させるレジストコーティング工程と、前記レジストコーティング工程の後に、前記レジストを露光・現像し、一部の前記レジストを除去することで、所定のレジストパターンを形成する露光・現像工程と、前記露光・現像工程の後に、露出した前記アルミニウム層をエッチングするエッチング工程と、前記アルミニウム層に前記レジストを付着させた状態で、樹脂層を黒色粘着剤によって前記レジスト又は前記透光性樹脂基板に貼り合わせる低反射層形成工程とを有することを特徴とする。
請求項13記載の本発明のエンコーダユニットは、請求項1から請求項9のいずれかに記載された反射型エンコーダスケールと、光源と、光センサとを備え、前記光源から前記反射型エンコーダスケールに照射された前記光の内、前記光反射用金属膜で反射した反射光を前記光センサで検出することを特徴とする。
図1は本発明の実施例による反射型エンコーダスケールを示す要部断面図である。
図1(a)は、第1実施例による反射型エンコーダスケールであり、表面11から光を入射する透光性樹脂基板10と、所定のパターンにて透光性樹脂基板10の裏面12に形成した光反射用金属膜20と、光反射用金属膜20で反射されない光を吸収する低反射層30とを備え、光反射用金属膜20にレジスト40を付着させたものである。
低反射層30は、粘着層50によってレジスト40及び透光性樹脂基板10の裏面12に貼り合わせている。粘着層50には、透明粘着剤を用いている。
第1実施例によれば、光反射用金属膜20にレジスト40を付着させているので、高温高湿条件下でも十分な防湿性能を得ることができる。
また第1実施例によれば、レジスト40によって光反射用金属膜20を覆っているので、高い防湿性能を得ることができ、透明粘着剤50を用いて低反射層30を貼り合わせることができる。
低反射層30は、レジスト40及び透光性樹脂基板10の裏面12に形成している。低反射層30には、黒色ソルダーレジスト、黒色塗料(インク)、黒色蒸着膜、又は黒色めっきが適している。低反射層30として、黒色ソルダーレジスト、黒色塗料、黒色蒸着膜、又は黒色めっきを用いることで、粘着剤を用いずに積層することができる。
第2実施例によれば、光反射用金属膜20にレジスト40を付着させているので、高温高湿条件下でも十分な防湿性能を得ることができる。
また第2実施例によれば、レジスト40によって光反射用金属膜20を覆っているので、低反射層30として黒色ソルダーレジスト、黒色塗料、黒色蒸着膜、又は黒色めっきを透光性樹脂基板10の裏面12に直接形成することができ、光反射用金属膜20と低反射層30とにギャップがないためセンシング精度が高まる。
低反射層30は、レジスト40及び透光性樹脂基板10の裏面12に形成している。低反射層30には黒色粘着剤を用いる。
透明な樹脂層60は、低反射層30となる黒色粘着剤を用いて透光性樹脂基板10の裏面12に積層される。
第3実施例によれば、光反射用金属膜20にレジスト40を付着させているので、高温高湿条件下でも十分な防湿性能を得ることができる。
また第3実施例によれば、レジスト40によって光反射用金属膜20を覆っているので、低反射層30として黒色粘着剤を透光性樹脂基板10の裏面12に直接形成することができ、光反射用金属膜20と低反射層30とにギャップがないためセンシング精度が高まる。
また第3実施例によれば、低反射層30を樹脂層60で覆うことで、低反射層30を保護することができる。
光反射用金属膜20には、アルミニウム膜が適しており、透光性樹脂基板10に蒸着させて形成することが適している。アルミニウムを用いることで広い波長域で高い正反射率を得ることができ、蒸着膜とすることで微細パターンを精度よく形成できる。
レジスト40には、ゴム系フォトレジスト又はエポキシ系フォトレジストが適している。ゴム系フォトレジスト又はエポキシ系フォトレジストは、粘着性酸化防止膜よりも酸素透過性が低く酸化防止効果が高く、高温高湿条件下でも十分な防湿性能を得ることができる。更に、ゴム系フォトレジストを0.5〜2μmの薄膜で用いることで微細なパターン形成を得ることができる。
図2(a)は材料、図2(b)はレジストコーティング工程、図2(c)は露光・現像工程、図2(d)はエッチング工程、図2(e)は低反射層形成工程である。光反射用金属膜20には、アルミニウム層21を用いている。
図2(b)に示すレジストコーティング工程では、アルミニウム層21にレジスト40を付着させる。
図2(c)に示す露光・現像工程は、レジストコーティング工程の後に行う。
露光・現像工程では、レジスト40を露光・現像し、一部のレジスト40を除去することで、所定のレジストパターンを形成する。
図2(d)に示すエッチング工程は露光・現像工程の後に行う。
エッチング工程では、露出したアルミニウム層21をエッチングする。
図2(e)に示す低反射層形成工程はエッチング工程の後に行う。
低反射層形成工程は、アルミニウム層21にレジスト40を付着させた状態で、低反射層30を透明粘着剤50によってレジスト40及び透光性樹脂基板10に貼り合わせる。
図3(a)は材料、図3(b)はレジストコーティング工程、図3(c)は露光・現像工程、図3(d)はエッチング工程、図3(e)は低反射層形成工程である。光反射用金属膜20には、アルミニウム層21を用いている。
図3(a)から図3(d)は、図2(a)から図2(d)までと同一であるため説明を省略する。
図3(e)に示す低反射層形成工程は、アルミニウム層21にレジスト40を付着させた状態で、低反射層30をレジスト40及び透光性樹脂基板10の裏面12に形成する。
図4(a)は材料、図4(b)はレジストコーティング工程、図4(c)は露光・現像工程、図4(d)はエッチング工程、図4(e)は低反射層形成工程である。光反射用金属膜20には、アルミニウム層21を用いている。
図4(a)から図4(d)は、図2(a)から図2(d)までと同一であるため説明を省略する。
図4(e)に示す低反射層形成工程は、アルミニウム層21にレジスト40を付着させた状態で、樹脂層60を黒色粘着剤30によってレジスト40及び透光性樹脂基板10に貼り合わせる。
11 表面
12 裏面
20 光反射用金属膜
21 アルミニウム層
30 低反射層
40 レジスト
50 粘着層
60 樹脂層
71 光源
72 光センサ
Claims (13)
- 表面から光を入射する透光性樹脂基板と、
所定のパターンにて前記透光性樹脂基板の裏面に形成した光反射用金属膜と、
前記光反射用金属膜で反射されない前記光を吸収する低反射層と
を備えた反射型エンコーダスケールであって、
前記光反射用金属膜にレジストを付着させたことを特徴とする反射型エンコーダスケール。 - 前記低反射層を、粘着層によって前記レジスト又は前記透光性樹脂基板の前記裏面に貼り合わせたことを特徴とする請求項1に記載の反射型エンコーダスケール。
- 前記低反射層を、前記レジスト及び前記透光性樹脂基板の前記裏面に形成したことを特徴とする請求項1に記載の反射型エンコーダスケール。
- 前記低反射層に、更に樹脂層を積層したことを特徴とする請求項2又は請求項3に記載の反射型エンコーダスケール。
- 前記光反射用金属膜を、アルミニウム蒸着膜としたことを特徴とする請求項1から請求項4のいずれかに記載の反射型エンコーダスケール。
- 前記レジストを、ゴム系フォトレジスト又はエポキシ系フォトレジストとしたことを特徴とする請求項1から請求項5のいずれかに記載の反射型エンコーダスケール。
- 前記低反射層を、黒色ソルダーレジスト、黒色塗料、黒色蒸着膜、又は黒色めっきとしたことを特徴とする請求項3に記載の反射型エンコーダスケール。
- 前記粘着層として、透明粘着剤を用いたことを特徴とする請求項2に記載の反射型エンコーダスケール。
- 前記低反射層として、黒色粘着剤を用いたことを特徴とする請求項1に記載の反射型エンコーダスケール。
- アルミニウム層を一方の面に備えた透光性樹脂基板の、前記アルミニウム層にレジストを付着させるレジストコーティング工程と、
前記レジストコーティング工程の後に、前記レジストを露光・現像し、一部の前記レジストを除去することで、所定のレジストパターンを形成する露光・現像工程と、
前記露光・現像工程の後に、露出した前記アルミニウム層をエッチングするエッチング工程と、
前記アルミニウム層に前記レジストを付着させた状態で、低反射層を透明粘着剤によって前記レジスト又は前記透光性樹脂基板に貼り合わせる低反射層形成工程と
を有することを特徴とする反射型エンコーダスケールの製造方法。 - アルミニウム層を一方の面に備えた透光性樹脂基板の、前記アルミニウム層にレジストを付着させるレジストコーティング工程と、
前記レジストコーティング工程の後に、前記レジストを露光・現像し、一部の前記レジストを除去することで、所定のレジストパターンを形成する露光・現像工程と、
前記露光・現像工程の後に、露出した前記アルミニウム層をエッチングするエッチング工程と、
前記アルミニウム層に前記レジストを付着させた状態で、低反射層を前記レジスト及び前記透光性樹脂基板の裏面に形成する低反射層形成工程と
を有することを特徴とする反射型エンコーダスケールの製造方法。 - アルミニウム層を一方の面に備えた透光性樹脂基板の、前記アルミニウム層にレジストを付着させるレジストコーティング工程と、
前記レジストコーティング工程の後に、前記レジストを露光・現像し、一部の前記レジストを除去することで、所定のレジストパターンを形成する露光・現像工程と、
前記露光・現像工程の後に、露出した前記アルミニウム層をエッチングするエッチング工程と、
前記アルミニウム層に前記レジストを付着させた状態で、樹脂層を黒色粘着剤によって前記レジスト又は前記透光性樹脂基板に貼り合わせる低反射層形成工程と
を有することを特徴とする反射型エンコーダスケールの製造方法。 - 請求項1から請求項9のいずれかに記載された反射型エンコーダスケールと、光源と、光センサとを備え、
前記光源から前記反射型エンコーダスケールに照射された前記光の内、前記光反射用金属膜で反射した反射光を前記光センサで検出することを特徴とするエンコーダユニット。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016031472A JP5971882B1 (ja) | 2016-02-22 | 2016-02-22 | 反射型エンコーダスケール、反射型エンコーダスケールの製造方法、及びエンコーダユニット |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016031472A JP5971882B1 (ja) | 2016-02-22 | 2016-02-22 | 反射型エンコーダスケール、反射型エンコーダスケールの製造方法、及びエンコーダユニット |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016136495A Division JP6797582B2 (ja) | 2016-07-11 | 2016-07-11 | 反射型エンコーダスケール |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP5971882B1 JP5971882B1 (ja) | 2016-08-17 |
JP2017150853A true JP2017150853A (ja) | 2017-08-31 |
Family
ID=56701687
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016031472A Active JP5971882B1 (ja) | 2016-02-22 | 2016-02-22 | 反射型エンコーダスケール、反射型エンコーダスケールの製造方法、及びエンコーダユニット |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5971882B1 (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015001412A (ja) * | 2013-06-14 | 2015-01-05 | 株式会社ミツトヨ | 光電式測定器用スケール、エンコーダ及びスケールの形成方法 |
JP2015004597A (ja) * | 2013-06-21 | 2015-01-08 | 株式会社ミツトヨ | 光電式測定器用スケール、エンコーダ及びスケールの形成方法 |
-
2016
- 2016-02-22 JP JP2016031472A patent/JP5971882B1/ja active Active
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015001412A (ja) * | 2013-06-14 | 2015-01-05 | 株式会社ミツトヨ | 光電式測定器用スケール、エンコーダ及びスケールの形成方法 |
JP2015004597A (ja) * | 2013-06-21 | 2015-01-08 | 株式会社ミツトヨ | 光電式測定器用スケール、エンコーダ及びスケールの形成方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5971882B1 (ja) | 2016-08-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7129475B2 (en) | Photoelectric encoder and method of manufacturing scales | |
US8816269B2 (en) | Reflective optical scale for encoder and reflective optical encoder | |
WO2019024444A1 (zh) | 压力传感器及其制作方法 | |
JP6683732B2 (ja) | フォトリフレクタ | |
JP2012021936A (ja) | 光導波路型センサチップおよび光導波路型センサ | |
JP5971882B1 (ja) | 反射型エンコーダスケール、反射型エンコーダスケールの製造方法、及びエンコーダユニット | |
JP2009281990A (ja) | 光学式エンコーダのスケール及びその製造方法 | |
JP5443452B2 (ja) | 光学スケール、および、これを備える光学ユニット | |
EP2000782A2 (en) | Photoelectric encoder | |
JP6797582B2 (ja) | 反射型エンコーダスケール | |
JP2011247600A (ja) | エンコーダスケール及びその製造方法 | |
JP2010181181A (ja) | スケール、それを有する変位検出装置、及びそれを有する撮像装置 | |
JP2011508441A5 (ja) | ||
WO2015100742A1 (zh) | 一种保护片、保护片的制作方法及电子设备 | |
CN207623629U (zh) | 一种分划板 | |
JP6355012B2 (ja) | フィルムセンサ、フィルムセンサの製造方法、タッチ位置検出機能付き表示装置、およびフィルムセンサを作製するための積層体 | |
JP6442395B2 (ja) | 反射型光学式エンコーダのコード板 | |
US11888009B2 (en) | Sensing apparatus having light-transmitting adhesive layer | |
US11644683B2 (en) | Optical element including at least two diffractive layers | |
JP2012063199A (ja) | 光学式エンコーダ用反射板、エンコーダ及び光学式エンコーダ用反射板の製造方法 | |
JP7167455B2 (ja) | エンコーダー用光学式スケールおよび光学式エンコーダー | |
JP5052391B2 (ja) | 光学式エンコーダ | |
JP2015102978A (ja) | フィルムセンサ、フィルムセンサの製造方法、タッチ位置検出機能付き表示装置、およびフィルムセンサを作製するための積層体 | |
JP2004037341A (ja) | 光電式エンコーダ及びスケールの製造方法 | |
JP2020134233A (ja) | エンコーダスケール、エンコーダスケールユニットおよびエンコーダスケールの製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20160517 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20160614 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20160711 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5971882 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |