JP2017129510A - 測定装置及び測定方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】測定可能な歪み量の上限値を大きくすることが可能な測定装置及び測定方法を提供する。【解決手段】被測定対象物Wの表面に設置され、被測定対象物Wの変形に伴い歪み及び応力を生じるとともに、光源2から射出された光を反射するマーカー3と、マーカー3により反射された光の光強度を検出する検出部4と、検出部4により検出された光強度に基づいて歪み量を算出する信号処理部5と、を備える。また、マーカー3は、屈折率の異なる第1の媒質及び第2の媒質を有する平板状に形成される。また、第2の媒質は、第1の媒質内に周期的に配列され、第2の媒質のマーカー3の受光面と平行な方向の少なくとも一方向の長さは、光源2から射出される光の波長よりも短くなるように形成される。また、第2の媒質は、マーカー3の変形方向と平行な方向において、少なくとも1つは存在するように配置される。【選択図】図1
Description
本発明は、測定装置及び測定方法に関する。
近年、歪み・応力を測定する分野において、微小領域の歪み・応力を測定可能なセンサーに対するニーズが高まっている。上記のニーズに対応するセンサーとして、プラズモン現象を利用した歪み・応力センサーが知られている。プラズモン現象を利用した歪み・応力センサーとは、具体的には、金属薄膜のマーカーにナノメータースケールの周期的な微細構造を設けるようにし、そのマーカーを被測定対象物に貼り付けることで歪み・応力を測定するセンサーである。
周期的な微細構造を設けた構成の一例として、外力による変形方向に対して媒質を周期的に配置することで、外力に対して高い耐久性を有する構成が開示されている(例えば、特許文献1参照)。
周期的な微細構造を設けた構成の一例として、外力による変形方向に対して媒質を周期的に配置することで、外力に対して高い耐久性を有する構成が開示されている(例えば、特許文献1参照)。
上記のように、歪み・応力センサーに用いるマーカーは、原理上、複数の媒質から構成される周期的な微細構造を備える必要がある。図11に、周期的な微細構造を備えるマーカーの一例として、矩形状に形成されたマーカー3Aを示す。マーカー3Aは、図11に示すように、第1の媒質31Aと、格子状に配列され、第1の媒質31Aよりも弾性係数が小さい材料により形成された第2の媒質32Aと、を備えて平板薄膜状に形成されている。
このようなマーカー3Aは、構造に周期性を有するが故に、マーカー3Aの変形方向(荷重方向)と平行な方向(図中X方向)における任意の断面を切り出した場合、断面毎に媒質(第1の媒質31A及び第2の媒質32A)の面積比率が異なるという性質を有する。例えば、図11中のC−C線の断面(C断面;図12参照)では第1の媒質31Aと第2の媒質32Aとが交互に配列されているのに対し、図11中のD−D線の断面(D断面;図13参照)では第1の媒質31Aのみが配列されており、C断面とD断面とでは媒質の面積比率が異なっている。このように、断面毎に媒質の面積比率が異なるということは、断面毎の見かけ上の弾性係数にバラツキが生じることを意味する。即ち、変形方向と第2の媒質32Aの周期方向とが平行である場合、マーカー3A内の断面(場所)毎に弾性係数が異なるため、マーカー3Aに歪み・応力が生じた際、塑性変形しやすい場所と塑性変形しにくい場所とが生じることとなる。ここで、マーカー3Aが外力により変形した際、外力を除荷することでマーカー3Aの変形量が0となる変形を「弾性変形」、外力を除荷してもマーカー3Aの変形量が0とならない変形を「塑性変形」と称する。
このようなマーカー3Aは、構造に周期性を有するが故に、マーカー3Aの変形方向(荷重方向)と平行な方向(図中X方向)における任意の断面を切り出した場合、断面毎に媒質(第1の媒質31A及び第2の媒質32A)の面積比率が異なるという性質を有する。例えば、図11中のC−C線の断面(C断面;図12参照)では第1の媒質31Aと第2の媒質32Aとが交互に配列されているのに対し、図11中のD−D線の断面(D断面;図13参照)では第1の媒質31Aのみが配列されており、C断面とD断面とでは媒質の面積比率が異なっている。このように、断面毎に媒質の面積比率が異なるということは、断面毎の見かけ上の弾性係数にバラツキが生じることを意味する。即ち、変形方向と第2の媒質32Aの周期方向とが平行である場合、マーカー3A内の断面(場所)毎に弾性係数が異なるため、マーカー3Aに歪み・応力が生じた際、塑性変形しやすい場所と塑性変形しにくい場所とが生じることとなる。ここで、マーカー3Aが外力により変形した際、外力を除荷することでマーカー3Aの変形量が0となる変形を「弾性変形」、外力を除荷してもマーカー3Aの変形量が0とならない変形を「塑性変形」と称する。
マーカー3Aを被測定対象物に貼り付けることで歪み・応力を測定するセンサーの場合、測定時にマーカー3Aが一部でも塑性変形してしまうと、歪み・応力を正確に測定することができない。そのため、マーカー3Aが測定可能な歪み量の上限値は、弾性変形が可能な範囲内の歪み量、即ち、塑性変形が発生しない範囲内の歪み量で決定される。図11に示すマーカー3Aのように、弾性係数のバラツキが大きいマーカー3Aでは、場所毎に塑性変形のしやすさが異なるため、測定可能な歪み量の上限値は、「塑性変形しやすい場所における許容可能な歪み量」に依存する。
図14に、マーカー3Aにおける応力歪み曲線の一例を示す。図14中のL2は、C断面における応力歪み曲線であり、図14中のL3は、D断面における応力歪み曲線である。また、各応力歪み曲線L2、L3の傾きが、弾性係数を示している。また、各応力歪み曲線L2、L3において、弾性変形領域と塑性変形領域との境界となる応力Q1をそれぞれ降伏点P2、P3と称している。図14に示す例では、より弾性係数が大きいD断面における応力歪み曲線L3の方が、C断面における応力歪み曲線L2と比べてより早く降伏点P3に到達するため、この降伏点P3における歪み量R2がマーカー3Aにおける歪み量の上限値となり、測定可能な歪み量の範囲H2が決定される。図11に示すマーカー3Aのように弾性係数のバラツキが大きいマーカーの場合、結果として測定可能な歪み量の上限値が小さくなり、測定可能な歪み量の範囲が狭くなるという課題が生じる。
図14に、マーカー3Aにおける応力歪み曲線の一例を示す。図14中のL2は、C断面における応力歪み曲線であり、図14中のL3は、D断面における応力歪み曲線である。また、各応力歪み曲線L2、L3の傾きが、弾性係数を示している。また、各応力歪み曲線L2、L3において、弾性変形領域と塑性変形領域との境界となる応力Q1をそれぞれ降伏点P2、P3と称している。図14に示す例では、より弾性係数が大きいD断面における応力歪み曲線L3の方が、C断面における応力歪み曲線L2と比べてより早く降伏点P3に到達するため、この降伏点P3における歪み量R2がマーカー3Aにおける歪み量の上限値となり、測定可能な歪み量の範囲H2が決定される。図11に示すマーカー3Aのように弾性係数のバラツキが大きいマーカーの場合、結果として測定可能な歪み量の上限値が小さくなり、測定可能な歪み量の範囲が狭くなるという課題が生じる。
本発明は、測定可能な歪み量の上限値を大きくすることが可能な測定装置及び測定方法を提供することを目的とする。
請求項1に記載の発明は、上記目的を達成するためになされたものであり、
測定装置において、
光を射出する光源と、
外力に応じて変形する被測定対象物の表面に設置され、前記被測定対象物の変形に伴い歪み及び応力を生じるとともに、前記光源から射出された光を反射又は透過するマーカーと、
前記マーカーにより反射又は透過された光の光強度を検出する検出部と、
前記検出部により検出された光強度に基づいて歪み量を算出する信号処理部と、
を備え、
前記マーカーは、屈折率の異なる第1の媒質及び第2の媒質を有する平板状に形成され、
前記第2の媒質は、前記第1の媒質内に周期的に配列され、
前記第2の媒質の前記マーカーの受光面と平行な方向の少なくとも一方向の長さは、前記光源から射出される光の波長よりも短くなるように形成され、
前記第2の媒質は、前記マーカーの変形方向と平行な方向において、少なくとも1つは存在するように配置されることを特徴とする。
測定装置において、
光を射出する光源と、
外力に応じて変形する被測定対象物の表面に設置され、前記被測定対象物の変形に伴い歪み及び応力を生じるとともに、前記光源から射出された光を反射又は透過するマーカーと、
前記マーカーにより反射又は透過された光の光強度を検出する検出部と、
前記検出部により検出された光強度に基づいて歪み量を算出する信号処理部と、
を備え、
前記マーカーは、屈折率の異なる第1の媒質及び第2の媒質を有する平板状に形成され、
前記第2の媒質は、前記第1の媒質内に周期的に配列され、
前記第2の媒質の前記マーカーの受光面と平行な方向の少なくとも一方向の長さは、前記光源から射出される光の波長よりも短くなるように形成され、
前記第2の媒質は、前記マーカーの変形方向と平行な方向において、少なくとも1つは存在するように配置されることを特徴とする。
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の測定装置において、
前記第2の媒質は、周期方向が前記変形方向と平行にならないように配列され、
前記光源は、直線偏光の光束を射出し、
前記光束の偏光方向は、前記第2の媒質の周期方向と平行であることを特徴とする。
前記第2の媒質は、周期方向が前記変形方向と平行にならないように配列され、
前記光源は、直線偏光の光束を射出し、
前記光束の偏光方向は、前記第2の媒質の周期方向と平行であることを特徴とする。
請求項3に記載の発明は、請求項1又は2に記載の測定装置において、
前記第2の媒質は、前記マーカーの変形方向と垂直な方向において、少なくとも1つは存在するように配置されることを特徴とする。
前記第2の媒質は、前記マーカーの変形方向と垂直な方向において、少なくとも1つは存在するように配置されることを特徴とする。
請求項4に記載の発明は、請求項1に記載の測定装置において、
前記第2の媒質が収容される領域は、前記マーカーの変形方向と垂直な方向に延在するように形成されることを特徴とする。
前記第2の媒質が収容される領域は、前記マーカーの変形方向と垂直な方向に延在するように形成されることを特徴とする。
請求項5に記載の発明は、請求項1〜3のいずれか一項に記載の測定装置において、
前記第2の媒質が収容される領域は、平面視で前記マーカーの受光面と直交する方向を中心軸とする真円形状に形成されることを特徴とする。
前記第2の媒質が収容される領域は、平面視で前記マーカーの受光面と直交する方向を中心軸とする真円形状に形成されることを特徴とする。
請求項6に記載の発明は、請求項1〜5のいずれか一項に記載の測定装置において、
前記第2の媒質が収容される領域は、前記変形方向の幅が一定であることを特徴とする。
前記第2の媒質が収容される領域は、前記変形方向の幅が一定であることを特徴とする。
請求項7に記載の発明は、請求項1〜6のいずれか一項に記載の測定装置において、
前記第1の媒質は、金属であることを特徴とする。
前記第1の媒質は、金属であることを特徴とする。
請求項8に記載の発明は、請求項1〜7のいずれか一項に記載の測定装置において、
前記光源は、1μm以下の波長の光束を射出することを特徴とする。
前記光源は、1μm以下の波長の光束を射出することを特徴とする。
請求項9に記載の発明は、請求項1〜8のいずれか一項に記載の測定装置において、
前記第2の媒質が収容される領域に、気体が収容されることを特徴とする。
前記第2の媒質が収容される領域に、気体が収容されることを特徴とする。
請求項10に記載の発明は、
請求項1〜9のいずれか一項に記載の測定装置を用いた測定方法であって、
前記検出部により検出された光強度に基づいて歪み量を算出する工程を有することを特徴とする測定方法である。
請求項1〜9のいずれか一項に記載の測定装置を用いた測定方法であって、
前記検出部により検出された光強度に基づいて歪み量を算出する工程を有することを特徴とする測定方法である。
本発明によれば、測定可能な歪み量の上限値を大きくすることができる。
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。なお、以下の説明において、図1における左右方向をX方向とし、上下方向をZ方向とし、X方向及びZ方向に直交する方向(前後方向)をY方向とする。
本実施形態に係る測定装置としての歪み・応力センサー(以下センサー)1は、光を利用して被測定対象物Wに生じた歪み・応力を測定可能なセンサーである。センサー1は、図1に示すように、光源2と、光源2のZ方向下方に配置された被測定対象物Wの上面に固定され、光源2から出射された光を反射するマーカー3と、被測定対象物WのZ方向上方に配置され、マーカー3により反射された光を検出する検出部4と、検出部4により検出された光に基づいて被測定対象物Wの歪み・応力を測定する信号処理部5と、を備えて構成されている。
光源2は、下方に固定されたマーカー3に向けて直線偏光の光束(入射光21)を射出する。光源2は、1μm以下の波長の光束を射出する。
マーカー3は、外力(例えば、荷重、重量、熱、磁力、圧力など)により発生する歪み量に応じて反射光の光強度が変動するナノメータースケールの均一な細孔が規則配列したナノホールアレイ構造を有している。マーカー3は、図2に示すように、第1の媒質31と、第2の媒質32と、を備えて平板薄膜状に形成され、光源2から射出された光束を反射する。なお、第1の媒質31及び第2の媒質32は、それぞれ屈折率が異なっている。
第1の媒質31は、アルミ、金、銀、チタン、酸化チタン等の金属、樹脂又は酸化物半導体等により形成された略正方形状の板状部材である。第1の媒質31には、第2の媒質32が収容される領域が、平面視でZ方向を中心軸とする真円形状に形成されている。
第2の媒質32は、アクリル樹脂等、第1の媒質31よりも弾性係数が小さい材料により形成され、平面視でZ方向を中心軸とする真円形状に形成されている。第2の媒質32は、第1の媒質31と同一の厚さを有するとともに、第1の媒質31内に周期的に配列されている。具体的には、第2の媒質32は、X方向に隣接する第2の媒質32とY方向にδyだけシフトするように配列されている。また、第2の媒質32の径X0が、光源2のピーク波長よりも短くなるように形成されている。また、第2の媒質32が収容される領域は、マーカー3の変形方向(図中X方向)の幅が一定である。
第2の媒質32は、アクリル樹脂等、第1の媒質31よりも弾性係数が小さい材料により形成され、平面視でZ方向を中心軸とする真円形状に形成されている。第2の媒質32は、第1の媒質31と同一の厚さを有するとともに、第1の媒質31内に周期的に配列されている。具体的には、第2の媒質32は、X方向に隣接する第2の媒質32とY方向にδyだけシフトするように配列されている。また、第2の媒質32の径X0が、光源2のピーク波長よりも短くなるように形成されている。また、第2の媒質32が収容される領域は、マーカー3の変形方向(図中X方向)の幅が一定である。
なお、第2の媒質32のY方向の周期をTyとしたとき、第2の媒質32のY方向のシフト量δyは、数式1で表すことができる(mは自然数とする)。
δy=Ty/m …(1)
ここで、第2の媒質32のY方向のシフト量δyは、製造誤差σよりも大きい必要があるので、第2の媒質32のY方向のシフト量δyと製造誤差σとの関係は、数式2で表すことができる。
δy>σ …(2)
上記の数式1及び数式2より、第2の媒質32のY方向の周期Tyが満たすべき条件は、数式3で表すことができる。
Ty/m>σ …(3)
従って、第2の媒質32は、Y方向の周期Tyが数式3を満たすように配列されることが好ましい。なお、mを自然数として説明しているが、m>1を満たす条件であれば自然数でなくてもよい。
δy=Ty/m …(1)
ここで、第2の媒質32のY方向のシフト量δyは、製造誤差σよりも大きい必要があるので、第2の媒質32のY方向のシフト量δyと製造誤差σとの関係は、数式2で表すことができる。
δy>σ …(2)
上記の数式1及び数式2より、第2の媒質32のY方向の周期Tyが満たすべき条件は、数式3で表すことができる。
Ty/m>σ …(3)
従って、第2の媒質32は、Y方向の周期Tyが数式3を満たすように配列されることが好ましい。なお、mを自然数として説明しているが、m>1を満たす条件であれば自然数でなくてもよい。
マーカー3は、第1の媒質31及び第2の媒質32が上記のように配列されることにより、変形方向(荷重方向)と第2の媒質32の周期方向とが平行ではなくなっている。従って、変形方向と平行な方向(図中X方向)における任意の断面を切り出した場合、断面毎の媒質(第1の媒質31及び第2の媒質32)の面積比率が略同一となるようになっている。例えば、図2〜図4に示すように、図2中のA−A線の断面(A断面;図3参照)とB−B線の断面(B断面;図4参照)とを比較した場合、媒質の面積比率が略同一となっている。このように、断面毎に媒質の面積比率が略同一であるということは、断面毎の見かけ上の弾性係数が略同一であることを意味する。
なお、マーカー3は、変形方向と平行な方向における断面毎の媒質の面積比率が同一であることが最も好ましいが、これに限定されるものではない。即ち、変形方向と平行な方向において、第2の媒質32を少なくとも1つは存在するように配置する構成であれば、断面毎の媒質の面積比率のバラツキを緩和することができるので、マーカー3の場所毎の見かけ上の弾性係数のバラツキを緩和することができる。
なお、マーカー3は、変形方向と平行な方向における断面毎の媒質の面積比率が同一であることが最も好ましいが、これに限定されるものではない。即ち、変形方向と平行な方向において、第2の媒質32を少なくとも1つは存在するように配置する構成であれば、断面毎の媒質の面積比率のバラツキを緩和することができるので、マーカー3の場所毎の見かけ上の弾性係数のバラツキを緩和することができる。
図5に、マーカー3における応力歪み曲線の一例を示す。図5中のL1は、A断面及びB断面における応力歪み曲線である。また、応力歪み曲線L1の傾きが、弾性係数を示している。また、応力歪み曲線L1において、弾性変形領域と塑性変形領域との境界となる応力Q1を降伏点P1と称している。図5に示す例では、応力歪み曲線L1の降伏点P1における歪み量R1がマーカー3における歪み量の上限値となり、測定可能な歪み量の範囲H1が決定される。
これにより、従来のマーカー3A(図11等参照)よりも測定可能な歪み量の上限値を大きくすることができるので、測定可能な歪み量の範囲を広くすることができる。
これにより、従来のマーカー3A(図11等参照)よりも測定可能な歪み量の上限値を大きくすることができるので、測定可能な歪み量の範囲を広くすることができる。
図6に、マーカー3の変形方向と第2の媒質32Aの周期方向との関係を示す。第2の媒質32Aは、図6に示すように、3つの周期方向J1〜J3がそれぞれマーカー3の変形方向(図中X方向)と平行にならないように配列されている。
ここで、光源2から射出される光束の偏光方向は、第2の媒質32Aの周期方向J1〜J3と平行であることが好ましい。特に、第2の媒質32Aの周期方向J1〜J3のうち、マーカー3の変形方向に最も近接する周期方向J1と平行であることが最も好ましい。
光源2から射出される光束の偏光方向を第2の媒質32Aの周期方向J1〜J3と平行にすることで、ノイズ等の影響を低減することができるので、感度良く歪み量を測定することが可能となる。特に、光束の偏光方向を周期方向J1と平行にすることで、ノイズ等の影響を最も低減することができるので、最も感度良く歪み量を測定することが可能となる。
ここで、光源2から射出される光束の偏光方向は、第2の媒質32Aの周期方向J1〜J3と平行であることが好ましい。特に、第2の媒質32Aの周期方向J1〜J3のうち、マーカー3の変形方向に最も近接する周期方向J1と平行であることが最も好ましい。
光源2から射出される光束の偏光方向を第2の媒質32Aの周期方向J1〜J3と平行にすることで、ノイズ等の影響を低減することができるので、感度良く歪み量を測定することが可能となる。特に、光束の偏光方向を周期方向J1と平行にすることで、ノイズ等の影響を最も低減することができるので、最も感度良く歪み量を測定することが可能となる。
また、マーカー3を構成する第1の媒質31及び第2の媒質32は、図7に示すように、マーカー3の固定面と平行な方向の荷重に対して変形する。
例えば、図7(A)及び図7(B)に示すように、マーカー3にX方向の水平変形(X変形711)が生じた場合、マーカー3はX方向に変位する。図7(C)に示すように、X変形711が負荷される前の第2の媒質を320、X変形711が負荷された後の第2の媒質を321とし、変形前の第2の媒質320の径をX0、変形後の第2の媒質321の径をX1とすると、X変形711によりマーカー3に発生した歪み量εは、数式4で算出することができる。
ε=(X1−X0)/X0 …(4)
例えば、図7(A)及び図7(B)に示すように、マーカー3にX方向の水平変形(X変形711)が生じた場合、マーカー3はX方向に変位する。図7(C)に示すように、X変形711が負荷される前の第2の媒質を320、X変形711が負荷された後の第2の媒質を321とし、変形前の第2の媒質320の径をX0、変形後の第2の媒質321の径をX1とすると、X変形711によりマーカー3に発生した歪み量εは、数式4で算出することができる。
ε=(X1−X0)/X0 …(4)
検出部4は、マーカー3で反射された光束(反射光22)の光強度を検出する。検出部4により検出された反射光22の光強度は、信号処理部5に出力される。
信号処理部5は、検出部4から出力された反射光22の光強度に基づいて被測定対象物Wの歪み量を算出する。具体的には、信号処理部5は、光強度と歪み量との対応関係を示すテーブルデータ(図8参照)に基づいて歪み量を算出する。
次に、本実施形態に係るセンサー1において、マーカー3に発生した歪み量を算出する方法について、図8を参照して説明する。なお、測定可能な変位量の範囲は、光源2の波長や第2の媒質32の径X0の長さに依存する。そのため、光源2の波長及び第2の媒質の径X0をナノメータースケールに規定することで、ナノメータースケールの変位による歪み量を測定することができる。勿論、光源2の波長や構造体の大きさ、材料等を適切に設定することで、マイクロメートル若しくはそれ以上の変位による歪み量を測定することも可能である。
実施例では、マーカー3として、第1の媒質31の厚さZ0が200nm、第2の媒質32の直径X0が200nm、第2の媒質32のX方向の周期Txが300nmのものを使用した。また、第1の媒質31としてアルミ(Al)を、第2の媒質32として二酸化ケイ素(SiO2)を使用した。また、光源2には、直線偏光であり且つピーク波長が約700nmのものを使用した。
図8は、歪み量εと反射光強度との対応関係を示すテーブルデータである。反射光強度は、「反射光22の光量÷入射光21の光量」で算出される。実施例では、図8に示すように、歪み量εの増大に伴い、反射光強度が単調に減少している。これは、マーカー3に変形が発生すると、マーカー3に含まれる第2の媒質32の形状が変形により歪み、マーカー3の表面に発生する表面プラズモンの特性が変化するためである。
信号処理部5で、図8に示すテーブルデータを予め用意しておくことで、検出部4により検出された反射光強度に基づいて、マーカー3に発生している歪み量εを算出することができる。例えば、検出部4が検出した反射光強度が0.60であった場合、図8に示すテーブルデータを参照することで、反射光強度0.60に対応する歪み量ε(≒0.10)を算出することができる。
なお、マーカー3が有する弾性係数と歪み量との積により、マーカー3に生じている応力を算出することも可能である。
信号処理部5で、図8に示すテーブルデータを予め用意しておくことで、検出部4により検出された反射光強度に基づいて、マーカー3に発生している歪み量εを算出することができる。例えば、検出部4が検出した反射光強度が0.60であった場合、図8に示すテーブルデータを参照することで、反射光強度0.60に対応する歪み量ε(≒0.10)を算出することができる。
なお、マーカー3が有する弾性係数と歪み量との積により、マーカー3に生じている応力を算出することも可能である。
以上のように、本実施形態に係る測定装置(センサー1)は、光を射出する光源2と、外力に応じて変形する被測定対象物Wの表面に設置され、被測定対象物Wの変形に伴い歪み及び応力を生じるとともに、光源2から射出された光を反射するマーカー3と、マーカー3により反射された光の光強度を検出する検出部4と、検出部4により検出された光強度に基づいて歪み量を算出する信号処理部5と、を備える。また、マーカー3は、屈折率の異なる第1の媒質31及び第2の媒質32を有する平板状に形成される。また、第2の媒質32は、第1の媒質31内に周期的に配列され、第2の媒質32のマーカー3の受光面と平行な方向の少なくとも一方向の長さは、光源2から射出される光の波長よりも短くなるように形成される。また、第2の媒質32は、マーカー3の変形方向と平行な方向において、少なくとも1つは存在するように配置される。
従って、本実施形態に係る測定装置によれば、マーカー3の変形方向と平行な方向における断面毎の媒質の面積比率のバラツキを緩和することができるので、マーカー3が測定可能な歪み量の上限値を大きくすることができる。
従って、本実施形態に係る測定装置によれば、マーカー3の変形方向と平行な方向における断面毎の媒質の面積比率のバラツキを緩和することができるので、マーカー3が測定可能な歪み量の上限値を大きくすることができる。
また、本実施形態に係る測定装置によれば、第2の媒質32は、周期方向が変形方向と平行にならないように配列される。また、光源2は、直線偏光の光束を射出し、光束の偏光方向は、第2の媒質32の周期方向と平行である。
従って、本実施形態に係る測定装置によれば、プラズモン共鳴を発生させ易くすることができるので、感度良く歪み量を測定することができる。
従って、本実施形態に係る測定装置によれば、プラズモン共鳴を発生させ易くすることができるので、感度良く歪み量を測定することができる。
また、本実施形態に係る測定装置によれば、第2の媒質32が収容される領域は、平面視でマーカー3の受光面と直交する方向を中心軸とする真円形状に形成される。
従って、本実施形態に係る測定装置によれば、マーカー3製造時に生じる製造誤差を最小限にすることができるので、断面毎の媒質の面積比率のバラツキを抑制することができ、マーカー3が測定可能な歪み量の上限値の低下を抑制することができる。
従って、本実施形態に係る測定装置によれば、マーカー3製造時に生じる製造誤差を最小限にすることができるので、断面毎の媒質の面積比率のバラツキを抑制することができ、マーカー3が測定可能な歪み量の上限値の低下を抑制することができる。
また、本実施形態に係る測定装置によれば、第2の媒質32が収容される領域は、変形方向の幅が一定である。
従って、本実施形態に係る測定装置によれば、マーカー3の変形方向と平行な方向における断面毎の媒質の面積比率のバラツキをより緩和することができるので、より確実にマーカー3が測定可能な歪み量の上限値を大きくすることができる。
従って、本実施形態に係る測定装置によれば、マーカー3の変形方向と平行な方向における断面毎の媒質の面積比率のバラツキをより緩和することができるので、より確実にマーカー3が測定可能な歪み量の上限値を大きくすることができる。
また、本実施形態に係る測定装置によれば、第1の媒質31は、金属である。
従って、本実施形態に係る測定装置によれば、粘性の特性が低い金属材料を用いることでマーカー3が長時間変形しても塑性変形を発生させにくくすることができるので、長時間歪みや応力を測定する場合であってもマーカー3が測定可能な歪み量の上限値の低下を抑制することができる。
従って、本実施形態に係る測定装置によれば、粘性の特性が低い金属材料を用いることでマーカー3が長時間変形しても塑性変形を発生させにくくすることができるので、長時間歪みや応力を測定する場合であってもマーカー3が測定可能な歪み量の上限値の低下を抑制することができる。
また、本実施形態に係る測定装置によれば、光源は、1μm以下の波長の光束を射出する。
従って、本実施形態に係る測定装置によれば、測定可能な変位量の範囲をナノメータースケールに規定することができるので、より精度良く歪み量を測定することができる。
従って、本実施形態に係る測定装置によれば、測定可能な変位量の範囲をナノメータースケールに規定することができるので、より精度良く歪み量を測定することができる。
以上、本発明に係る実施形態に基づいて具体的に説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で変更可能である。
(変形例1)
例えば、図9に示す例では、実施形態のマーカー3と比べ、第2の媒質32のX方向の配列が異なっている。なお、説明の簡略化のため、実施形態と同様の構成については、同一の符号を付して、その詳細な説明を省略する。
具体的には、変形例1に係るマーカー103は、図9に示すように、第2の媒質32が、Y方向に隣接する第2の媒質32とX方向にδxだけシフトするように配列されている。
例えば、図9に示す例では、実施形態のマーカー3と比べ、第2の媒質32のX方向の配列が異なっている。なお、説明の簡略化のため、実施形態と同様の構成については、同一の符号を付して、その詳細な説明を省略する。
具体的には、変形例1に係るマーカー103は、図9に示すように、第2の媒質32が、Y方向に隣接する第2の媒質32とX方向にδxだけシフトするように配列されている。
なお、第2の媒質32のX方向の周期をTxとしたとき、第2の媒質32のX方向のシフト量δxは、数式5で表すことができる(nは自然数とする)。
δx=Tx/n …(5)
ここで、第2の媒質32のX方向のシフト量δxは、製造誤差σよりも大きい必要があるので、第2の媒質32のX方向のシフト量δxと製造誤差σとの関係は、数式6で表すことができる。
δx>σ …(6)
上記の数式5及び数式6より、第2の媒質32のX方向の周期Txが満たすべき条件は、数式7で表すことができる。
Tx/n>σ …(7)
従って、第2の媒質32は、X方向の周期Txが数式7を満たすように配列されることが好ましい。なお、nを自然数として説明しているが、n>1を満たす条件であれば自然数でなくてもよい。
δx=Tx/n …(5)
ここで、第2の媒質32のX方向のシフト量δxは、製造誤差σよりも大きい必要があるので、第2の媒質32のX方向のシフト量δxと製造誤差σとの関係は、数式6で表すことができる。
δx>σ …(6)
上記の数式5及び数式6より、第2の媒質32のX方向の周期Txが満たすべき条件は、数式7で表すことができる。
Tx/n>σ …(7)
従って、第2の媒質32は、X方向の周期Txが数式7を満たすように配列されることが好ましい。なお、nを自然数として説明しているが、n>1を満たす条件であれば自然数でなくてもよい。
マーカー103は、第1の媒質31及び第2の媒質32が上記のように配列されることにより、変形方向と平行な方向(図中X方向)における断面のみならず、変形方向と垂直な方向(図中Y方向)における断面においても、断面毎の媒質(第1の媒質31及び第2の媒質32)の面積比率が略同一となるようになっている。
なお、マーカー103は、変形方向と垂直な方向における断面毎の媒質の面積比率が同一であることが最も好ましいが、これに限定されるものではない。即ち、変形方向と垂直な方向において、第2の媒質32を少なくとも1つは存在するように配置する構成であれば、断面毎の媒質の面積比率のバラツキを緩和することができるので、マーカー3の場所毎の見かけ上の弾性係数のバラツキを緩和することができる。
なお、マーカー103は、変形方向と垂直な方向における断面毎の媒質の面積比率が同一であることが最も好ましいが、これに限定されるものではない。即ち、変形方向と垂直な方向において、第2の媒質32を少なくとも1つは存在するように配置する構成であれば、断面毎の媒質の面積比率のバラツキを緩和することができるので、マーカー3の場所毎の見かけ上の弾性係数のバラツキを緩和することができる。
以上のように、変形例1に係る測定装置によれば、第2の媒質32は、マーカー103の変形方向と垂直な方向において、少なくとも1つは存在するように配置される。
従って、変形例1に係る測定装置によれば、マーカー3の変形方向と平行な方向(X方向)のみならず、マーカー3の変形方向と垂直な方向(Y方向)における断面毎の媒質の面積比率のバラツキを緩和することができるので、X方向及びY方向の歪みや応力を測定する場合であっても、マーカー3が測定可能な歪み量の上限値を大きくすることができる。
従って、変形例1に係る測定装置によれば、マーカー3の変形方向と平行な方向(X方向)のみならず、マーカー3の変形方向と垂直な方向(Y方向)における断面毎の媒質の面積比率のバラツキを緩和することができるので、X方向及びY方向の歪みや応力を測定する場合であっても、マーカー3が測定可能な歪み量の上限値を大きくすることができる。
(変形例2)
また、図10に示す例では、実施形態のマーカー3と比べ、第2の媒質232が収容される領域の形状が異なっている。なお、説明の簡略化のため、実施形態と同様の構成については、同一の符号を付して、その詳細な説明を省略する。
具体的には、変形例2に係るマーカー203は、図10に示すように、第1の媒質31と、第2の媒質232と、を備えて平板薄膜状に形成されている。
また、図10に示す例では、実施形態のマーカー3と比べ、第2の媒質232が収容される領域の形状が異なっている。なお、説明の簡略化のため、実施形態と同様の構成については、同一の符号を付して、その詳細な説明を省略する。
具体的には、変形例2に係るマーカー203は、図10に示すように、第1の媒質31と、第2の媒質232と、を備えて平板薄膜状に形成されている。
第1の媒質31には、第2の媒質232が収容される領域が、マーカー203の変形方向と垂直な方向(図中Y方向)に延在するように形成されている。
第2の媒質232は、アクリル樹脂等、第1の媒質31よりも弾性係数が小さい材料により形成され、Y方向に延在するように形成されている。第2の媒質232は、第1の媒質31と同一の厚さを有するとともに、第1の媒質31内に周期的に配列されている。また、第2の媒質232の変形方向(図中X方向)の長さX2が、光源2のピーク波長よりも短くなるように形成されている。また、第2の媒質232が収容される領域は、マーカー3の変形方向の幅が一定である。
第2の媒質232は、アクリル樹脂等、第1の媒質31よりも弾性係数が小さい材料により形成され、Y方向に延在するように形成されている。第2の媒質232は、第1の媒質31と同一の厚さを有するとともに、第1の媒質31内に周期的に配列されている。また、第2の媒質232の変形方向(図中X方向)の長さX2が、光源2のピーク波長よりも短くなるように形成されている。また、第2の媒質232が収容される領域は、マーカー3の変形方向の幅が一定である。
マーカー203は、第1の媒質31及び第2の媒質232が上記のように配列されることにより、変形方向と平行な方向(図中X方向)における任意の断面を切り出した場合、断面毎の媒質(第1の媒質31及び第2の媒質232)の面積比率が同一となるようになっている。このように、断面毎に媒質の面積比率が同一であるということは、断面毎の見かけ上の弾性係数が同一であることを意味する。従って、マーカー3の場所毎の見かけ上の弾性係数のバラツキを解消することができる。
以上のように、変形例2に係る測定装置によれば、第2の媒質232が収容される領域は、マーカー203の変形方向と垂直な方向に延在するように形成される。
従って、変形例2に係る測定装置によれば、マーカー3の変形方向と平行な方向における断面毎の媒質の面積比率のバラツキを解消することができるので、マーカー3が測定可能な歪み量の上限値を最も大きくすることができる。
従って、変形例2に係る測定装置によれば、マーカー3の変形方向と平行な方向における断面毎の媒質の面積比率のバラツキを解消することができるので、マーカー3が測定可能な歪み量の上限値を最も大きくすることができる。
なお、変形例2では、第2の媒質232が収容される領域を、マーカー203の変形方向と垂直な方向に延在するように形成するようにしているが、これに限定されるものではない。即ち、第2の媒質を第1の媒質31内に周期的に配列したものであり且つマーカー3の変形方向と平行な方向における断面毎の媒質の面積比率が一定となる構成であれば、いかなる構成であってもよい。
(その他の変形例)
また、上記実施形態では、第2の媒質32が収容される領域を、平面視でZ方向(マーカー3の受光面と直交する方向)を中心軸とする真円形状に形成するようにしているが、これに限定されるものではない。即ち、マーカー3の受光面と平行な方向の最大長さが光源2から射出される光の波長よりも短い形状であれば、いかなる形状であってもよく、例えば、楕円形状や矩形状等であってもよい。
また、上記実施形態では、第2の媒質32が収容される領域を、平面視でZ方向(マーカー3の受光面と直交する方向)を中心軸とする真円形状に形成するようにしているが、これに限定されるものではない。即ち、マーカー3の受光面と平行な方向の最大長さが光源2から射出される光の波長よりも短い形状であれば、いかなる形状であってもよく、例えば、楕円形状や矩形状等であってもよい。
また、上記実施形態では、第2の媒質32として、第1の媒質31よりも弾性係数が小さい材料を使用するようにしているが、これに限定されるものではない。即ち、第2の媒質32としては、第1の媒質31よりも弾性係数が小さい材料を使用することがより好ましいが、第1の媒質31と同等の弾性係数の材料や第1の媒質31よりも弾性係数が大きい材料を使用することも可能である。
また、上記実施形態では、第2の媒質32が、第1の媒質31と同一の厚さを有する構成を例示して説明しているが、これに限定されるものではない。即ち、第2の媒質32が、マーカー3の受光面と直交する方向(Z方向)において第1の媒質31と重なりを有するように配置されている構成であればよく、例えば、第2の媒質32の厚さが、第1の媒質31の厚さよりも薄い構成であってもよい。
また、上記実施形態では、第2の媒質32をアクリル樹脂等により形成するようにしているが、これに限定されるものではない。例えば、第2の媒質32が収容される領域に、気体を収容するようにしてもよい。この場合、任意の気体を密封するようにしてもよいし、第2の媒質32の領域を空間とすることで、空気を第2の媒質32とするようにしてもよい。
第2の媒質32が収容される領域に気体を収容することで、マーカー3が変位した際に第1の媒質31と第2の媒質32の間に隙間が発生せず、また、マーカー3の温度が上昇した場合でも、第1の媒質31と第2の媒質32の熱膨張の差により発生する応力を小さくすることができるので、歪み量の検出精度を更に向上させることができる。また、第2の媒質32において塑性変形が発生しなくなるので、マーカー3が測定可能な歪み量の上限値を大きくすることができる。
第2の媒質32が収容される領域に気体を収容することで、マーカー3が変位した際に第1の媒質31と第2の媒質32の間に隙間が発生せず、また、マーカー3の温度が上昇した場合でも、第1の媒質31と第2の媒質32の熱膨張の差により発生する応力を小さくすることができるので、歪み量の検出精度を更に向上させることができる。また、第2の媒質32において塑性変形が発生しなくなるので、マーカー3が測定可能な歪み量の上限値を大きくすることができる。
また、上記実施形態では、光強度と歪み量との対応関係を示すテーブルデータ(図8参照)に基づいて歪み量を算出するようにしているが、これに限定されるものではない。例えば、検出部4により検出された光強度に基づいて、所定の計算式により算出するようにしてもよい。
また、上記実施形態では、光源2から射出された光束をマーカー3により反射させる構成を例示して説明しているが、これに限定されるものではない。例えば、マーカー3及び被測定対象物Wを透明体とすることで、光源2から射出された光束がマーカー3及び被測定対象物Wを透過する構成としてもよい。この場合、検出部4は、光源2から射出された光束がマーカー3及び被測定対象物Wを透過した先に配置され、マーカー3により透過された光のスペクトル強度を検出する。
これにより、マーカー3及び被測定対象物Wを透過した光を用いて歪み量を測定することができるので、反射光を用いた測定と比べ、測定精度をより向上させることができる。
これにより、マーカー3及び被測定対象物Wを透過した光を用いて歪み量を測定することができるので、反射光を用いた測定と比べ、測定精度をより向上させることができる。
また、マーカー3及び被測定対象物Wの温度を測定する温度測定部を備えるようにし、信号処理部5が、温度測定部により測定された温度に基づいて、マーカー3及び被測定対象物Wのヤング率を算出するようにしてもよい。
これにより、算出されたヤング率に基づいて測定値を補正することができるので、歪み量の測定精度をより向上させることができる。
これにより、算出されたヤング率に基づいて測定値を補正することができるので、歪み量の測定精度をより向上させることができる。
また、上記実施形態では、図1に示すように、光源2と検出部4とを離して配置するようにしているが、これに限定されるものではない。即ち、光源2及び検出部4を隣接して配置するとともに、光源2からマーカー3の固定面と略垂直な方向に光を射出するようにしてもよい。
これにより、マーカー3に対して略垂直に光束を入射することができるので、光束の入射角度による分光強度のバラツキを極力抑えることができ、歪み量の測定精度の安定性を確保することができる。
これにより、マーカー3に対して略垂直に光束を入射することができるので、光束の入射角度による分光強度のバラツキを極力抑えることができ、歪み量の測定精度の安定性を確保することができる。
また、上記実施形態では、マーカー3を被測定対象物Wの表面に固定するようにしているが、これに限定されるものではない。即ち、マーカー3が被測定対象物Wの表面に設置されていればよく、マーカー3を被測定対象物Wの表面に接着等により固定する構成がより好ましいが、例えば、マーカー3を被測定対象物Wの表面に載置する構成であってもよい。
その他、測定装置を構成する各装置の細部構成及び各装置の細部動作に関しても、本発明の趣旨を逸脱することのない範囲で適宜変更可能である。
1 センサー(測定装置)
2 光源
21 入射光
22 反射光
3 マーカー
31 第1の媒質
32 第2の媒質
4 検出部
5 信号処理部
W 被測定対象物
2 光源
21 入射光
22 反射光
3 マーカー
31 第1の媒質
32 第2の媒質
4 検出部
5 信号処理部
W 被測定対象物
Claims (10)
- 光を射出する光源と、
外力に応じて変形する被測定対象物の表面に設置され、前記被測定対象物の変形に伴い歪み及び応力を生じるとともに、前記光源から射出された光を反射又は透過するマーカーと、
前記マーカーにより反射又は透過された光の光強度を検出する検出部と、
前記検出部により検出された光強度に基づいて歪み量を算出する信号処理部と、
を備え、
前記マーカーは、屈折率の異なる第1の媒質及び第2の媒質を有する平板状に形成され、
前記第2の媒質は、前記第1の媒質内に周期的に配列され、
前記第2の媒質の前記マーカーの受光面と平行な方向の少なくとも一方向の長さは、前記光源から射出される光の波長よりも短くなるように形成され、
前記第2の媒質は、前記マーカーの変形方向と平行な方向において、少なくとも1つは存在するように配置されることを特徴とする測定装置。 - 前記第2の媒質は、周期方向が前記変形方向と平行にならないように配列され、
前記光源は、直線偏光の光束を射出し、
前記光束の偏光方向は、前記第2の媒質の周期方向と平行であることを特徴とする請求項1に記載の測定装置。 - 前記第2の媒質は、前記マーカーの変形方向と垂直な方向において、少なくとも1つは存在するように配置されることを特徴とする請求項1又は2に記載の測定装置。
- 前記第2の媒質が収容される領域は、前記マーカーの変形方向と垂直な方向に延在するように形成されることを特徴とする請求項1に記載の測定装置。
- 前記第2の媒質が収容される領域は、平面視で前記マーカーの受光面と直交する方向を中心軸とする真円形状に形成されることを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載の測定装置。
- 前記第2の媒質が収容される領域は、前記変形方向の幅が一定であることを特徴とする請求項1〜5のいずれか一項に記載の測定装置。
- 前記第1の媒質は、金属であることを特徴とする請求項1〜6のいずれか一項に記載の測定装置。
- 前記光源は、1μm以下の波長の光束を射出することを特徴とする請求項1〜7のいずれか一項に記載の測定装置。
- 前記第2の媒質が収容される領域に、気体が収容されることを特徴とする請求項1〜8のいずれか一項に記載の測定装置。
- 請求項1〜9のいずれか一項に記載の測定装置を用いた測定方法であって、
前記検出部により検出された光強度に基づいて歪み量を算出する工程を有することを特徴とする測定方法。
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CN109708785A (zh) * | 2018-12-26 | 2019-05-03 | 中国科学院半导体研究所 | 柔性电容型触觉传感器、电子皮肤、可穿戴设备及方法 |
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KR20200088123A (ko) * | 2019-01-14 | 2020-07-22 | (주)유디엔에스 | 응력 측정 시스템 및 이를 이용한 응력 측정 방법 |
-
2016
- 2016-01-22 JP JP2016010349A patent/JP2017129510A/ja active Pending
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