JP2017120208A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2017120208A5
JP2017120208A5 JP2015256335A JP2015256335A JP2017120208A5 JP 2017120208 A5 JP2017120208 A5 JP 2017120208A5 JP 2015256335 A JP2015256335 A JP 2015256335A JP 2015256335 A JP2015256335 A JP 2015256335A JP 2017120208 A5 JP2017120208 A5 JP 2017120208A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
floor slab
time series
value
attenuation coefficient
predetermined period
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2015256335A
Other languages
English (en)
Japanese (ja)
Other versions
JP6627501B2 (ja
JP2017120208A (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2015256335A priority Critical patent/JP6627501B2/ja
Priority claimed from JP2015256335A external-priority patent/JP6627501B2/ja
Priority to US15/381,547 priority patent/US10768145B2/en
Publication of JP2017120208A publication Critical patent/JP2017120208A/ja
Publication of JP2017120208A5 publication Critical patent/JP2017120208A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6627501B2 publication Critical patent/JP6627501B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

JP2015256335A 2015-12-28 2015-12-28 計測装置、減衰特性算出方法、プログラム、および計測システム Active JP6627501B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015256335A JP6627501B2 (ja) 2015-12-28 2015-12-28 計測装置、減衰特性算出方法、プログラム、および計測システム
US15/381,547 US10768145B2 (en) 2015-12-28 2016-12-16 Measurement apparatus, attenuation characteristic calculation method, program, and measurement system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015256335A JP6627501B2 (ja) 2015-12-28 2015-12-28 計測装置、減衰特性算出方法、プログラム、および計測システム

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2017120208A JP2017120208A (ja) 2017-07-06
JP2017120208A5 true JP2017120208A5 (enExample) 2019-01-24
JP6627501B2 JP6627501B2 (ja) 2020-01-08

Family

ID=59087154

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015256335A Active JP6627501B2 (ja) 2015-12-28 2015-12-28 計測装置、減衰特性算出方法、プログラム、および計測システム

Country Status (2)

Country Link
US (1) US10768145B2 (enExample)
JP (1) JP6627501B2 (enExample)

Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2533817A (en) 2015-01-05 2016-07-06 Bae Systems Plc Mobile bridge module
GB2533818B (en) * 2015-01-05 2021-03-03 Bae Systems Plc Mobile bridge apparatus
JP6604200B2 (ja) 2015-12-28 2019-11-13 セイコーエプソン株式会社 加速度センサー、計測システム、および計測装置
JP6587194B2 (ja) 2016-02-15 2019-10-09 パナソニックIpマネジメント株式会社 応力分布測定方法及び応力分布測定システム
JP2019215203A (ja) * 2018-06-12 2019-12-19 セイコーエプソン株式会社 表示装置、表示方法、プログラム、記録媒体、および構造物監視システム
CN109357822B (zh) * 2018-08-13 2021-06-01 东南大学 一种基于车桥耦合系统时变动力特征改变的桥梁快速测试与评估方法
JP7375637B2 (ja) 2020-03-18 2023-11-08 セイコーエプソン株式会社 計測方法、計測装置、計測システム及び計測プログラム
JP7447586B2 (ja) * 2020-03-18 2024-03-12 セイコーエプソン株式会社 計測方法、計測装置、計測システム及び計測プログラム
JP7400566B2 (ja) 2020-03-18 2023-12-19 セイコーエプソン株式会社 計測方法、計測装置、計測システム及び計測プログラム
JP2021147819A (ja) 2020-03-18 2021-09-27 セイコーエプソン株式会社 計測方法、計測装置、計測システム及び計測プログラム
JP7396139B2 (ja) 2020-03-18 2023-12-12 セイコーエプソン株式会社 計測方法、計測装置、計測システム及び計測プログラム
JP2021148537A (ja) 2020-03-18 2021-09-27 セイコーエプソン株式会社 計測方法、計測装置、計測システム及び計測プログラム
FR3115177B1 (fr) * 2020-10-12 2023-02-24 Sercel Rech Const Elect Système et procédé de génération et de collecte de données vibratoires en vue de la surveillance d’une structure
AT524382B1 (de) * 2020-10-16 2022-07-15 Plasser & Theurer Export Von Bahnbaumaschinen Gmbh Verfahren und System zur Ermittlung einer Erschütterungsübertragung im Bereich eines Gleises
JP7643210B2 (ja) * 2021-06-30 2025-03-11 セイコーエプソン株式会社 導出方法、導出装置、導出システム、プログラム
JP7635654B2 (ja) * 2021-06-30 2025-02-26 セイコーエプソン株式会社 計測方法、計測装置、計測システム及び計測プログラム
JP7647396B2 (ja) * 2021-06-30 2025-03-18 セイコーエプソン株式会社 計測方法、計測装置、計測システム及び計測プログラム
JP7600901B2 (ja) * 2021-06-30 2024-12-17 セイコーエプソン株式会社 計測方法、計測装置、計測システム及び計測プログラム
JP7647395B2 (ja) * 2021-06-30 2025-03-18 セイコーエプソン株式会社 計測方法、計測装置、計測システム及び計測プログラム
CN121473478A (zh) * 2026-01-09 2026-02-06 江苏东南特种技术工程有限公司 一种楼面板的共振可调式抑制方法

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2987411B2 (ja) * 1989-11-29 1999-12-06 清水建設株式会社 伝導・伝播現象計測解析法及びシステム
EP1197726A1 (en) * 2000-10-04 2002-04-17 Eidgenössische Technische Hochschule Zürich Multipurpose Sensor and cantilever for it
JP3837099B2 (ja) * 2002-08-08 2006-10-25 ヤマト設計株式会社 構造物の損傷推定システムおよびプログラム
JP2005030786A (ja) 2003-07-07 2005-02-03 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 橋梁通過車両の車軸荷重及び重量計測方法並びにその装置
US7802475B2 (en) * 2006-10-13 2010-09-28 Seiko Epson Corporation Acceleration sensor
JP5375624B2 (ja) * 2010-01-18 2013-12-25 セイコーエプソン株式会社 加速度センサー、及び加速度検出装置
WO2012040043A1 (en) * 2010-09-20 2012-03-29 Sand9, Inc. Resonant sensing using extensional modes of a plate
US8990032B2 (en) * 2010-12-30 2015-03-24 Sensys Networks, Inc. In-pavement wireless vibration sensor nodes, networks and systems
JP5678741B2 (ja) * 2011-03-11 2015-03-04 セイコーエプソン株式会社 加速度検出器、加速度検出デバイス及び電子機器
JP5824876B2 (ja) * 2011-05-30 2015-12-02 セイコーエプソン株式会社 物理量検出器の製造方法
JP2013050321A (ja) * 2011-08-30 2013-03-14 Seiko Epson Corp 物理量検出器及び電子機器
JP5896114B2 (ja) * 2011-10-31 2016-03-30 セイコーエプソン株式会社 物理量検出デバイス、物理量検出器、および電子機器
JP2013122375A (ja) * 2011-11-07 2013-06-20 Seiko Epson Corp 物理量検出デバイス、物理量検出器、および電子機器
US9285281B1 (en) * 2012-07-10 2016-03-15 The United States Of America, As Represented By The Secretary Of The Army Deflection plate for mobile dynamometer
JP2015098686A (ja) * 2013-11-18 2015-05-28 彬 小林 構造物の予防保全モニタリングシステム
JP6432308B2 (ja) * 2014-11-25 2018-12-05 日本電気株式会社 計測装置及び計測レンジ切換方法
JP6604200B2 (ja) 2015-12-28 2019-11-13 セイコーエプソン株式会社 加速度センサー、計測システム、および計測装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2017120208A5 (enExample)
GB2545086B (en) Soot load estimation during idle or low load
Tan et al. Wn+-and Wn-module structures on U (hn)
PL3302210T3 (pl) Urządzenie i sposób określania ładunku zabrudzeń w roztworze płuczącym lub myjącym
Li et al. Finite 2-arc-transitive abelian Cayley graphs
WO2015166492A3 (en) Microbiome response to agents
GB2595815B (en) Distributed industrial performance monitoring and analytics platform
JP2014026273A5 (enExample)
JP2013188229A5 (enExample)
GB201620944D0 (en) Surfactant containing cleansing agents with at least three different preservatives
WO2014078668A3 (en) Evaluating electronic network devices in view of cost and service level considerations
GB201701294D0 (en) Fault detection based on brake torque and temperature
Mi et al. On backward shift algorithm for estimating poles of systems
GB201910581D0 (en) Task management in retail enviroment
Targino et al. Sequential Monte Carlo Samplers for capital allocation under copula-dependent risk models
JP2016540360A5 (ja) 基板処理システム及び基板処理方法
EP3264994A4 (en) SYSTEMS AND METHOD FOR IMPROVING MESH AND PREVENTING INCISION HERNIA
SI3559008T1 (sl) Spojine na osnovi elementa bora in njihova uporaba v elektrolitskih sestavah
GB2568964B (en) Estimating fatigue damage in a structure
Dutkay et al. Orthonormal bases generated by Cuntz algebras
GB201513519D0 (en) Estimating processor load
Crnković et al. On some transitive combinatorial structures constructed from the unitary group U (3, 3)
EP3114197C0 (en) DETERGENT COMPOSITION WITH CLEANING AND RINSEING FUNCTIONS
WO2014109776A8 (en) Monitoring load operation
Hecht et al. An approximation of anisotropic metrics from higher order interpolation error for triangular mesh adaptation