JP2017116340A - 測距装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】高反射率の近距離物標に対する測距を短時間で実現する技術を提供する。
【解決手段】発光部10はレーザ光を照射する。受光部20は、レーザ光を反射した物標からの反射光を受光する。距離演算部50は、発光部10でのレーザ光の照射タイミングから受光部での反射光の受光タイミングまでの時間を計測してレーザ光を反射した物標までの距離を求める。受光部20において、PD22は、反射光の強度に応じた受光電流を出力する。増幅器23は、PD22が出力する受光電流を電圧信号に変換し且つ増幅する。電流制限回路24は、受光電流が増幅器23を非飽和で動作させるのに必要な入力電流の上限値以下となるように、PD22への供給電流を制限する。
【選択図】図2
【解決手段】発光部10はレーザ光を照射する。受光部20は、レーザ光を反射した物標からの反射光を受光する。距離演算部50は、発光部10でのレーザ光の照射タイミングから受光部での反射光の受光タイミングまでの時間を計測してレーザ光を反射した物標までの距離を求める。受光部20において、PD22は、反射光の強度に応じた受光電流を出力する。増幅器23は、PD22が出力する受光電流を電圧信号に変換し且つ増幅する。電流制限回路24は、受光電流が増幅器23を非飽和で動作させるのに必要な入力電流の上限値以下となるように、PD22への供給電流を制限する。
【選択図】図2
Description
本発明は、レーザ光を用いて物標との距離を検出する技術に関する。
レーザ光を利用したレーダ、即ち測距装置では、パルス状のレーザ光を照射してから、そのレーザ光が物標で反射され戻ってくるまでの往復時間を計測し、その計測した往復時間を距離に換算する。このとき、受光信号のパルス波形のピークを受光タイミングとして抽出する。しかし、高反射率の物標が近距離に存在する等して、その物標からの反射光の強度が光電変換回路のダイナミックレンジを超えると、受光信号の波形に飽和が生じることでピークがつぶれてしまい、受光タイミングを正しく抽出することができない。その結果、レーザ光の往復時間、ひいてはレーザ光を反射した物標との距離を正しく求めることができないという問題があった。
これに対して、特許文献1には、近傍に高反射率の物標が存在する等して、反射光の強度が光電変換回路のダイナミックレンジを超えた場合に、レーザ光の出力を下げて計測を繰り返す技術が開示されている。
しかしながら、従来技術では、飽和が生じた場合に、飽和が解消されるまでレーザ光の照射を繰り返すことになるため、計測結果が得られるまでの時間に遅れが生じるという問題があった。
本発明は、こうした問題に鑑みてなされたものであり、高反射率の近距離物標に対する測距を短時間で実現する技術を提供することを目的とする。
本発明の測距装置(1)は、発光部(10)と、受光部(20)と、距離演算部(50)とを備える。発光部はレーザ光を照射する。受光部は、レーザ光を反射した物標からの反射光を受光する。距離演算部は、発光部でのレーザ光の照射タイミングから受光部での反射光の受光タイミングまでの時間を計測してレーザ光を反射した物標までの距離を求める。
ここで受光部は、光電変換素子(22)と、増幅器(23)と、電流制限回路(24)とを備える。光電変換素子は、反射光の強度に応じた受光電流を出力する。増幅器は、光電変換素子が出力する受光電流を電圧信号に変換し且つ増幅する。電流制限回路は、受光電流が増幅器を非飽和で動作させるのに必要な入力電流の上限値以下となるように、前記光電変換素子への供給電流を制限する。
このような構成によれば、反射光の強度がどれだけ大きくても、増幅器に、上限電流を超える受光電流が入力されることがなく、増幅器の出力が飽和することがない。このため、従来装置とは異なり、飽和が解消されるまで照射強度を変更して測定を繰り返す必要がなく、また、増幅器の出力の波形である受光波形の歪を抑制することができる。その結果、受光波形のピーク、ひいては受光タイミングを精度よく抽出することができ、飽和を引き起こすような高反射率の物標までの距離を正しく測定することができる。また、このような構成によれば、増幅器の増幅率を低く抑える必要がないため、低反射率の物標の検出能力を低下させることなく、上述の効果を得ることができる。
なお、この欄及び特許請求の範囲に記載した括弧内の符号は、一つの態様として後述する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を示すものであって、本発明の技術的範囲を限定するものではない。
以下、図面を参照しながら、発明を実施するための形態を説明する。
[1.構成]
測距装置1は、パルス状のレーザ光を照射し、その反射光を受光することで、照射タイミングから受光タイミングまでの時間からレーザ光を反射した物標までの距離を計測する装置である。測距装置1は、図1に示すように、車両の前進方向を中心とする所定角度範囲が探査範囲Aとなるように、車両の前面に搭載されている。なお、探査範囲Aや測距装置1の設置位置は、これに限るものではなく、車両の側方や後方を探査範囲に設定してもよく、また、測距装置1の設置位置も、設定された探査範囲Aに応じて適宜決定すればよい。
[1.構成]
測距装置1は、パルス状のレーザ光を照射し、その反射光を受光することで、照射タイミングから受光タイミングまでの時間からレーザ光を反射した物標までの距離を計測する装置である。測距装置1は、図1に示すように、車両の前進方向を中心とする所定角度範囲が探査範囲Aとなるように、車両の前面に搭載されている。なお、探査範囲Aや測距装置1の設置位置は、これに限るものではなく、車両の側方や後方を探査範囲に設定してもよく、また、測距装置1の設置位置も、設定された探査範囲Aに応じて適宜決定すればよい。
測距装置1は、図2に示すように、発光部10、受光部20、照射制御部30、AD変換器40、距離演算部50を備える。なお、測距装置1は、図示を省略するが、CPU,ROM,RAM等により構成された周知のマイクロコンピュータを備えており、照射制御部30および距離演算部50は、このマイクロコンピュータ(以下、マイコン)が実行する処理によって実現される。但し、照射制御部30および距離演算部50をソフトウェアによって実現することはあくまでも一例であり、その全体または一部を例えばロジック回路等のハードウェアによって実現してもよい。
発光部10は、レーザダイオード(以下、LD)11と、LD駆動回路12と、発光レンズ13と、スキャナ機構部14と、スキャナ駆動回路15とを備える。LD駆動回路12が、発光指令CLに従ってLD11を駆動することにより、パルス状のレーザ光を出力する。LD11から出力されたレーザ光は、発光レンズ13によってビーム幅が絞られ、スキャナ機構部14を構成するミラーで反射して探査範囲に向けて出射される。スキャナ駆動回路15は、スキャン制御指令CSに従ってミラーの角度を変化させることにより、レーザ光による探査範囲R内でのビームスキャンを実現する。
受光部20は、受光レンズ21と、フォトダイオード(以下、PD)22と、増幅器23と、電流制限回路24とを備える。受光レンズ21は、発光部10から照射され、物標で反射したレーザ光(反射光)を集光する。PD22は、受光レンズ21を介して反射光を受光し、その強度に応じた大きさの受光電流Ixを出力する。増幅器23は、受光電流Ixを電圧信号に変換し且つ増幅してAD変換器40に供給する。電流制限回路24は、PD22への供給電流、ひいては受光電流Ixが、予め設定された制限値を超えることがないように制限する。なお、制限値は、増幅器23を非飽和で動作させるのに必要な入力電流の上限値以下に設定される。
AD変換器40は、受光部20からの出力(受光信号)を、所定間隔でサンプリングしデジタル値に変換して距離演算部50に供給する。
照射制御部30は、予め設定されたスケジュールに従って、発光部10への発光指令CLおよびスキャン制御指令CSを生成すると共に、発光指令CLを生成したタイミングである照射タイミングTSを距離演算部50に供給する照射処理を実行する。なお、照射処理の内容は周知のものであるため、その詳細についての説明は省略する。
照射制御部30は、予め設定されたスケジュールに従って、発光部10への発光指令CLおよびスキャン制御指令CSを生成すると共に、発光指令CLを生成したタイミングである照射タイミングTSを距離演算部50に供給する照射処理を実行する。なお、照射処理の内容は周知のものであるため、その詳細についての説明は省略する。
距離演算部50は、AD変換された受光信号からパルス波形のピークを受光タイミングTRとして抽出し、図3に示すように、照射制御部30から供給される照射タイミングTSから受光タイミングTRまでの時間、即ち、レーザ光を反射した物標との間をレーザ光が往復するのに要する時間を求める。更に、その求めた往復時間から、レーダ波を反射した物標までの距離を求め、他の車載装置に物標情報として提供する。なお、距離演算部50が実行する処理は周知のものであるため、その詳細についての説明は省略する。
[2.電流制限回路]
次に、電流制限回路24の具体的な回路構成を、図4を用いて説明する。
なお、PD22は、アノードが抵抗Raを介して接地され、カソードが電流制限回路24を介して電源VDDに接続されている。
次に、電流制限回路24の具体的な回路構成を、図4を用いて説明する。
なお、PD22は、アノードが抵抗Raを介して接地され、カソードが電流制限回路24を介して電源VDDに接続されている。
電流制限回路24は、トランジスタTと、演算増幅器OPと、抵抗R1〜R3とを備える。トランジスタTは、Pチャネル型の電解効果トランジスタからなり、ドレインがPD22のカソードに、ソースが抵抗R1を介して電源VDDに、ゲートが演算増幅器OPの出力に接続されている。演算増幅器OPは、非反転入力には、電源電圧を抵抗R2,R3で分圧した基準電圧Vrefが印加され、反転入力には、トランジスタTのソース電位が印加されている。つまり、演算増幅器OPは、ソース電位が基準電圧Vrefと一致するようにゲート電位を調整する。その際に電流制限回路24は定電流回路として動作し、(VDD−Vref)/R1となる一定電流を流す。この一定電流の大きさを制限値ともよぶ。但し、ソース電位が基準電位Vrefより大きい場合、トランジスタTはオン状態に保持される。
このように構成された電流制限回路24では、PD22が未受光の場合、PD22は電流を流さないため、ソース電位は電源電圧となる。その結果、トランジスタTはオン状態ではあるが、電流が流れていない状態となる。PD22が受光している場合、その受光量に応じた受光電流IxがPD22に流れる。その受光電流Ixは、抵抗R1での電圧降下を引き起こし、受光電流Ixが大きいほどソース電位が低下する。そして、ソース電位が基準電圧Vrefに達すると、PD22がより大きな受光電流Ixを流そうとしても、演算増幅器OPがソース電位を基準電圧Vrefに保持するように動作するため、受光強度に関わらず、受光電流Ixは制限値に制限される。
例えば、PD22への入射光量を6nW〜0.01W、PD22の光電変換感度を0.5A/W、増幅器23による電流−電圧変換感度を35kV/A、増幅器23の電源電圧を5Vとする。
電流制限回路24が存在しない場合、PD22には、上記入射光量に対して3nA〜0.005Aの受光電流が流れる。そして、増幅器23の出力は、0.000105V〜175Vとなる。但し、実際には、増幅器23の出力は電源電圧以上では飽和する。このとき、非飽和となる増幅器23の入力電流(即ち、受光電流Ix)の上限値は、5V/35kVで求められ、約141μAとなる。つまり、電流制限回路24の制限値を、この上限値以下に設定すれば、増幅器23を飽和させることなく動作させることができる。この場合、例えば、R1=704Ω、R2=1000Ω、R3=49000Ωに設定することで実現することができる。なお、Vref=R3/(R2+R3)=4.9V、定電流動作時に加わるR1の両端電圧は0.1Vである。
[3.作用]
ここで、受光部20が出力する電圧信号の波形を受光波形として、電流制限回路24を備えていない従来装置における受光波形、および電流制限回路24を備えた本実施形態の測距装置1における受光波形を、図5および図6に示す。
ここで、受光部20が出力する電圧信号の波形を受光波形として、電流制限回路24を備えていない従来装置における受光波形、および電流制限回路24を備えた本実施形態の測距装置1における受光波形を、図5および図6に示す。
従来装置では、受光強度の大きさに関わらず、PD22は常に受光強度に応じた大きさの受光電流を流す。これにより、増幅器23の出力は、図5に示すように、受光強度がある程度大きくなると飽和する。増幅器23の出力が飽和すると、増幅器23は、その飽和電圧に応じた大きさ以上の電流を流すことができないのに対して、PD22は受光強度に応じた電流を増幅器23に供給し続ける。このため、飽和時には、増幅器23の入力に余分な電荷が蓄積される。これにより、その後、受光強度が低下しても、飽和時に蓄積された余分な電荷によって、飽和したままの状態がしばらく継続し、この余分な電荷の放出が終了すると増幅器23の出力も低下する。その結果、受光波形は、実際のパルス幅より大きなものとなり、本来のピークを正確に抽出することができない。
これに対して、本実施形態の測距装置1では、PD22は、電流制限回路24の作用により、制限値以上の電流を流すことができない。制限値は増幅器23の出力が飽和しない大きさに設定されているため、受光強度がどれだけ大きくても、増幅器23の入力に余分な電荷が蓄積されることがない。このため、受光強度が低下して、PD22が流そうとする電流が上限電流以下になったときには、それに応じて、直ちに増幅器23の出力も低下を始める。その結果、受光波形は、実際のパルス幅に応じたものとなり、ピークを精度よく抽出することができる。
[4.効果]
以上詳述した測距装置1によれば、以下の効果が得られる。
測距装置1では、反射光の強度がどれだけ大きくても、増幅器23に、制限値を超える受光電流Ixが入力されることがなく、増幅器23の出力が飽和することがない。このため、従来装置とは異なり、飽和が解消されるまで照射強度を変更して測定を繰り返す必要がなく、また、増幅器23の出力の波形である受光波形の歪を抑制することができる。その結果、受光波形のピーク、ひいては受光タイミングを精度よく抽出することができ、飽和を引き起こすような高反射率の物標までの距離を、速やかに測定することができる。また、測距装置1では、増幅器23の増幅率を低く抑える必要がないため、低反射率の物標の検出能力を低下させることなく、上述の効果を得ることができる。
以上詳述した測距装置1によれば、以下の効果が得られる。
測距装置1では、反射光の強度がどれだけ大きくても、増幅器23に、制限値を超える受光電流Ixが入力されることがなく、増幅器23の出力が飽和することがない。このため、従来装置とは異なり、飽和が解消されるまで照射強度を変更して測定を繰り返す必要がなく、また、増幅器23の出力の波形である受光波形の歪を抑制することができる。その結果、受光波形のピーク、ひいては受光タイミングを精度よく抽出することができ、飽和を引き起こすような高反射率の物標までの距離を、速やかに測定することができる。また、測距装置1では、増幅器23の増幅率を低く抑える必要がないため、低反射率の物標の検出能力を低下させることなく、上述の効果を得ることができる。
[5.他の実施形態]
以上、本発明を実施するための形態について説明したが、本発明は上述の実施形態に限定されることなく、種々変形して実施することができる。
以上、本発明を実施するための形態について説明したが、本発明は上述の実施形態に限定されることなく、種々変形して実施することができる。
(3a)上記実施形態では、電流制限回路24として、トランジスタTと演算増幅器OPを用いた定電流回路を例示したが、これに限定されるものではない。上限電流を制限できる公知の回路や素子であれば、いずれを用いてもよい。
(3b)上記実施形態における1つの構成要素が有する複数の機能を、複数の構成要素によって実現したり、1つの構成要素が有する1つの機能を、複数の構成要素によって実現したりしてもよい。また、複数の構成要素が有する複数の機能を、1つの構成要素によって実現したり、複数の構成要素によって実現される1つの機能を、1つの構成要素によって実現したりしてもよい。また、上記実施形態の構成の一部を省略してもよい。また、上記実施形態の構成の少なくとも一部を、他の上記実施形態の構成に対して付加又は置換してもよい。なお、特許請求の範囲に記載した文言のみによって特定される技術思想に含まれるあらゆる態様が本発明の実施形態である。
(3c)上述した測距装置の他、当該測距装置を構成要素とするシステムなど、種々の形態で本発明を実現することもできる。
1…測距装置、10…発光部、11…レーザダイオード、12…駆動回路、13…発光レンズ、14…スキャナ機構部、15…スキャナ駆動回路、20…受光部、21…受光レンズ、22…フォトダイオード、23…増幅器、24…電流制限回路、30…照射制御部、40…AD変換器、50…距離演算部、OP…演算増幅器、R1〜R3,Ra…抵抗、T…トランジスタ。
Claims (2)
- 車両に搭載され、レーザ光を送受信することによって、予め設定された探査範囲内に存在する物標との距離を測定する測距装置(2)において、
前記レーザ光を照射する発光部(10)と、
前記レーザ光を反射した物標からの反射光を受光する受光部(20)と、
前記発光部での前記レーザ光の照射タイミングから前記受光部での前記反射光の受光タイミングまでの時間を計測して前記レーザ光を反射した物標までの距離を求める距離演算部(50)と、
を備え、
前記受光部は、
前記反射光の強度に応じた受光電流を出力する光電変換素子(22)と、
前記光電変換素子が出力する受光電流を電圧信号に変換し且つ増幅する増幅器(23)と、
前記受光電流が前記増幅器を非飽和で動作させるのに必要な入力電流の上限値以下となるように、前記光電変換素子への供給電流を制限する電流制限回路(24)と、
を備える測距装置。 - 請求項1に記載の測距装置において、
前記電流制限回路は、定電流回路である
測距装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015250222A JP2017116340A (ja) | 2015-12-22 | 2015-12-22 | 測距装置 |
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Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JPS63144737U (ja) * | 1987-03-13 | 1988-09-22 | ||
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JP2014062767A (ja) * | 2012-09-20 | 2014-04-10 | Omron Automotive Electronics Co Ltd | 受光回路、レーザレーダ |
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- 2015-12-22 JP JP2015250222A patent/JP2017116340A/ja active Pending
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