JP2017116311A - Electronic component conveyance device and electronic component inspection device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、電子部品搬送装置および電子部品検査装置に関する。 The present invention relates to an electronic component conveying device and an electronic component inspection device.
従来から、半導体素子等の電子部品を検査ソケットに挿入して、電子部品に対する電気的特性を検査する(試験する)電子部品検査装置が知られている(例えば、特許文献1参照)。この特許文献1に記載の電子部品検査装置では、前記検査を行なう際、プッシャーによって電子部品を検査ソケットに押し付けつつ、その検査を行なうことができる。また、プッシャーは、電子部品に対応して複数設置されており、当該電子部品を前記検査に適した温度にまで加熱するヒーターが内蔵されている。
2. Description of the Related Art Conventionally, there is known an electronic component inspection apparatus that inserts an electronic component such as a semiconductor element into an inspection socket and inspects (tests) the electrical characteristics of the electronic component (for example, see Patent Document 1). In the electronic component inspection apparatus described in
特許文献1に記載の電子部品検査装置では、プッシャーは、電子部品に対応して複数設置されているため、その設置数が増減する。このため、例えばプッシャーを増設しようとした場合、増設数によっては、ヒーターに電力を供給するためのコネクターが足りなくなることがある。
In the electronic component inspection apparatus described in
本発明は、上述の課題の少なくとも一部を解決するためになされたものであり、以下のものとして実現することが可能である。 SUMMARY An advantage of some aspects of the invention is to solve at least a part of the problems described above, and the invention can be implemented as follows.
本発明の電子部品を加熱する複数の加熱部が装着される基部と、
前記複数の加熱部のうちの一の群に属する加熱部に電力を供給可能な第1接続部と、
前記複数の加熱部のうち、前記一の群と異なる他の群に属する加熱部に電力を供給可能な第2接続部と、を有することを特徴とする。
A base on which a plurality of heating units for heating the electronic component of the present invention are mounted;
A first connection unit capable of supplying power to a heating unit belonging to one group of the plurality of heating units;
And a second connecting portion capable of supplying power to a heating portion belonging to another group different from the one group among the plurality of heating portions.
これにより、加熱部を増設した場合でも、当該増設された加熱部への電力の供給を行なうことができる。 Thereby, even when a heating part is added, electric power can be supplied to the added heating part.
本発明の電子部品搬送装置では、前記第1接続部と前記第2接続部とは、互いに異なる位置に配置されているのが好ましい。 In the electronic component transport device of the present invention, it is preferable that the first connection portion and the second connection portion are arranged at different positions.
これにより、第1接続部への接続作業と、第2接続部への接続作業とをそれぞれ正確に行なうことができ、従って、誤接続を低減することができる。 As a result, the connection work to the first connection part and the connection work to the second connection part can each be performed accurately, and therefore erroneous connection can be reduced.
本発明の電子部品搬送装置では、前記第1接続部と前記第2接続部とは、前記基部に配置されているのが好ましい。 In the electronic component transport device of the present invention, it is preferable that the first connection portion and the second connection portion are disposed on the base portion.
これにより、第1接続部および第2接続部の各接続部への接続作業を容易に行なうことができる。 Thereby, the connection work to each connection part of a 1st connection part and a 2nd connection part can be performed easily.
本発明の電子部品搬送装置では、前記第1接続部と前記第2接続部とは、前記基部を介して互いに反対側に配置されているのが好ましい。 In the electronic component transport device according to the aspect of the invention, it is preferable that the first connection portion and the second connection portion are arranged on opposite sides of the base portion.
これにより、第1接続部への接続作業と、第2接続部への接続作業とをそれぞれ正確に行なうことができ、従って、誤接続を低減することができる。 As a result, the connection work to the first connection part and the connection work to the second connection part can each be performed accurately, and therefore erroneous connection can be reduced.
本発明の電子部品搬送装置では、前記電子部品を前記加熱部に向かって供給する供給部と、
前記電子部品を前記加熱部から回収する回収部とを有し、
前記第1接続部は前記供給部側に配置され、前記第2接続部は前記回収部側に配置されているのが好ましい。
In the electronic component transport device of the present invention, a supply unit that supplies the electronic component toward the heating unit,
A recovery unit for recovering the electronic component from the heating unit;
It is preferable that the first connection part is disposed on the supply part side and the second connection part is disposed on the recovery part side.
これにより、第1接続部への接続作業と、第2接続部への接続作業とをそれぞれ正確に行なうことができ、従って、誤接続を低減することができる。 As a result, the connection work to the first connection part and the connection work to the second connection part can each be performed accurately, and therefore erroneous connection can be reduced.
本発明の電子部品搬送装置では、前記基部を最も近い位置で視認可能な窓部を有し、
前記窓部に向かって一方側に前記第1接続部が配置され、他方側に前記第2接続部が配置されているのが好ましい。
In the electronic component transport device of the present invention, the base has a window portion that can be seen at the nearest position,
It is preferable that the first connection portion is disposed on one side toward the window portion, and the second connection portion is disposed on the other side.
これにより、第1接続部への接続作業と、第2接続部への接続作業とをそれぞれ正確に行なうことができ、従って、誤接続を低減することができる。また、各接続作業を、窓部を介して確認しつつ、行なうことができる。 As a result, the connection work to the first connection part and the connection work to the second connection part can each be performed accurately, and therefore erroneous connection can be reduced. Moreover, each connection work can be performed while confirming through a window part.
本発明の電子部品搬送装置では、前記加熱部は、通電により発熱するヒーターと、前記加熱部の温度を検出する温度センサーとを有するのが好ましい。 In the electronic component conveying apparatus of the present invention, it is preferable that the heating unit includes a heater that generates heat when energized and a temperature sensor that detects the temperature of the heating unit.
これにより、加熱部は、電子部品を容易かつ迅速に加熱することができる。また、各加熱部の温度をできる限り正確に検出することができ、その検出結果に基づいて、電子部品を検査に適した温度に調整することができる。 Thereby, the heating part can heat an electronic component easily and rapidly. In addition, the temperature of each heating unit can be detected as accurately as possible, and the electronic component can be adjusted to a temperature suitable for inspection based on the detection result.
本発明の電子部品搬送装置では、前記第1接続部と前記第2接続部とは、それぞれ、前記ヒーターに接続される第1コネクターと、前記温度センサーに接続される複数の第2コネクターとを有するのが好ましい。 In the electronic component transport device according to the present invention, each of the first connection portion and the second connection portion includes a first connector connected to the heater and a plurality of second connectors connected to the temperature sensor. It is preferable to have.
これにより、第1接続部および第2の接続部は、機能が異なる第1コネクターと第2コネクターとを個別に有することとなり、よって、例えば第1コネクターで生じたノイズによる影響を、第2コネクターが受けるのを抑制することができる。 Accordingly, the first connection portion and the second connection portion individually have the first connector and the second connector having different functions. Therefore, for example, the influence of noise generated in the first connector is affected by the second connector. Can be suppressed.
本発明の電子部品搬送装置では、前記第1コネクターを介して前記各第2コネクターが配置されているのが好ましい。
これにより、配置バランスが比較的良い状態となり、例えば誤接続低減につながる。
In the electronic component transport device of the present invention, it is preferable that the second connectors are arranged via the first connectors.
As a result, the arrangement balance is relatively good, which leads to, for example, reduction of erroneous connections.
本発明の電子部品搬送装置では、前記第1コネクターと前記各第2コネクターとは、水平方向に並んでいるのが好ましい。 In the electronic component transport device of the present invention, it is preferable that the first connector and the second connectors are arranged in a horizontal direction.
ここで仮に、第1コネクターと各第2コネクターとが鉛直方向に並んでいる場合を想定してみると、最下位に位置するコネクターへの接続作業が、他のコネクターへの接続作業よりも行ないづらくなる傾向にあり、作業性が低下することが懸念される。そこで、第1コネクターと各第2コネクターとが水平方向に沿って並んでいることにより、各コネクターへの接続作業の作業性がほぼ同じとなる。 Here, assuming that the first connector and each second connector are aligned in the vertical direction, the connection work to the connector located at the lowest position is performed more than the connection work to other connectors. There is a concern that workability is likely to deteriorate. Therefore, since the first connector and each second connector are arranged in the horizontal direction, the workability of the connection work to each connector becomes substantially the same.
本発明の電子部品搬送装置では、前記第1接続部と前記第2接続部とは、それぞれ、接続方向が水平方向であるのが好ましい。 In the electronic component transport device of the present invention, it is preferable that the first connection portion and the second connection portion each have a horizontal connection direction.
これにより、第1接続部への接続作業と、第2接続部への接続作業とを例えば電子部品搬送装置の背面側からそれぞれ確認することができ、よって、各接続作業を容易かつ正確に行なうことができる。 Thereby, the connection work to the first connection part and the connection work to the second connection part can be confirmed, for example, from the back side of the electronic component transport device, and thus each connection work is easily and accurately performed. be able to.
本発明の電子部品搬送装置では、前記第1接続部と前記第2接続部とは、接続方向が互いに反対方向であるのが好ましい。 In the electronic component transport device of the present invention, it is preferable that the first connection portion and the second connection portion have connection directions opposite to each other.
これにより、第1接続部への接続作業と、第2接続部への接続作業とをそれぞれ正確に行なうことができ、従って、誤接続を低減することができる。 As a result, the connection work to the first connection part and the connection work to the second connection part can each be performed accurately, and therefore erroneous connection can be reduced.
本発明の電子部品搬送装置では、前記加熱部は、所定数設けられており、
前記第1の接続部は、前記所定数設けられた加熱部に電力を供給可能であるのが好ましい。
In the electronic component transport device of the present invention, the heating unit is provided in a predetermined number,
It is preferable that the first connecting portion can supply power to the predetermined number of heating portions.
これにより、加熱部の設置数が1個から8個までならば、第2接続部の使用を停止して、第1接続部のみで当該各加熱部への電力の供給を担うことができる。 Thereby, if the number of installed heating units is 1 to 8, the use of the second connection unit can be stopped, and the supply of electric power to the respective heating units can be performed only by the first connection unit.
本発明の電子部品搬送装置では、前記第2接続部は、前記所定数を超える加熱部に電力を供給可能であるのが好ましい。 In the electronic component transport device according to the aspect of the invention, it is preferable that the second connection unit can supply power to the heating unit exceeding the predetermined number.
これにより、加熱部が8個からさらに増設されたとして、当該増設分の加熱部への電力供給を第2接続部で担うことができる。 As a result, assuming that the number of heating units is further increased from eight, it is possible to supply power to the heating units corresponding to the additional number by the second connection unit.
本発明の電子部品搬送装置では、前記所定数は、8個であるのが好ましい。
これにより、標準的な電子部品搬送装置に対応した加熱部の設置数となる。
In the electronic component conveying apparatus of the present invention, it is preferable that the predetermined number is eight.
Thereby, it becomes the number of installation of the heating part corresponding to a standard electronic component conveyance apparatus.
本発明の電子部品搬送装置では、前記第1接続部および前記第2接続部のいずれかで接続がなされていないことを検出する検出部を有するのが好ましい。
これにより、第1接続部や第2接続部での接続し忘れを防止することができる。
In the electronic component transport device of the present invention, it is preferable to have a detection unit that detects that the connection is not made in either the first connection unit or the second connection unit.
Thereby, it is possible to prevent forgetting to connect at the first connection part or the second connection part.
本発明の電子部品搬送装置では、前記検出部は、シリアル配線で構成され、前記シリアル配線が切れている場合、前記第1接続部および前記第2接続部のいずれかで接続がなされていないことを検出するのが好ましい。 In the electronic component transport device of the present invention, the detection unit is configured by serial wiring, and when the serial wiring is disconnected, the connection is not made in either the first connection unit or the second connection unit. Is preferably detected.
これにより、シリアル配線を用いるという簡単な構造で、検出部を構成することができる。 Accordingly, the detection unit can be configured with a simple structure using serial wiring.
本発明の電子部品搬送装置では、前記第2接続部を使用するか否かを設定可能にし、表示可能な設定部を有するのが好ましい。 In the electronic component conveying apparatus of the present invention, it is preferable to have a setting unit that can set whether or not to use the second connection unit and can display it.
これにより、電子部品搬送装置を使用するユーザーは、第1接続部と第2接続部とを使用する態様と、第1接続部のみを使用し、第2接続部を使用しない態様とを必要に応じて適宜変更することができる。 Thereby, the user who uses an electronic component conveyance apparatus needs the aspect which uses a 1st connection part and a 2nd connection part, and the aspect which uses only a 1st connection part and does not use a 2nd connection part. It can be changed accordingly.
本発明の電子部品搬送装置では、前記第2接続部を使用しない場合は、前記第1接続部が使用されることを画面に表示可能であり、
前記第2接続部を使用する場合は、前記第1接続部および前記第2接続部が使用されることを画面に表示可能であるのが好ましい。
In the electronic component transport device of the present invention, when the second connection portion is not used, it is possible to display on the screen that the first connection portion is used,
When the second connection portion is used, it is preferable that the first connection portion and the second connection portion can be displayed on the screen.
これにより、加熱部の設置数の大小に関わらず、当該各加熱部の温度を個別に適宜設定することができる。 Thereby, the temperature of each heating unit can be appropriately set individually regardless of the number of heating units installed.
本発明の電子部品検査装置は、電子部品を加熱する複数の加熱部が装着される基部と、
前記複数の加熱部のうちの一の群に属する加熱部に電力を供給可能な第1接続部と、
前記複数の加熱部のうち、前記一の群と異なる他の群に属する加熱部に電力を供給可能な第2接続部と、
前記電子部品を検査する検査部と、を有することを特徴とする。
The electronic component inspection apparatus of the present invention includes a base on which a plurality of heating units for heating electronic components are mounted,
A first connection unit capable of supplying power to a heating unit belonging to one group of the plurality of heating units;
A second connecting part capable of supplying power to a heating part belonging to another group different from the one group among the plurality of heating parts;
And an inspection unit for inspecting the electronic component.
これにより、加熱部を増設した場合でも、当該増設された加熱部への電力の供給を行なうことができる。 Thereby, even when a heating part is added, electric power can be supplied to the added heating part.
以下、本発明の電子部品搬送装置および電子部品検査装置を添付図面に示す好適な実施形態に基づいて詳細に説明する。 DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, an electronic component conveying device and an electronic component inspection device according to the present invention will be described in detail based on preferred embodiments shown in the accompanying drawings.
<第1実施形態>
以下では、説明の便宜上、図1に示すように、互いに直交する3軸をX軸、Y軸およびZ軸とする。また、X軸とY軸を含むXY平面が水平となっており、Z軸が鉛直となっている。また、X軸に平行な方向を「X方向」とも言い、Y軸に平行な方向を「Y方向」とも言い、Z軸に平行な方向を「Z方向」とも言う。また、各方向の矢印が向いた方向を「正」、その反対方向を「負」と言う。また、図1、図3および図4(図10についても同様)中の上側を「上(または上方)」と言い、下側を「下(または下方)」と言うこともある。また、本願明細書で言う「水平」とは、完全な水平に限定されず、電子部品の搬送が阻害されない限り、水平に対して若干(例えば5°未満程度)傾いた状態も含む。
<First Embodiment>
In the following, for convenience of explanation, as shown in FIG. 1, three axes orthogonal to each other are defined as an X axis, a Y axis, and a Z axis. Further, the XY plane including the X axis and the Y axis is horizontal, and the Z axis is vertical. A direction parallel to the X axis is also referred to as “X direction”, a direction parallel to the Y axis is also referred to as “Y direction”, and a direction parallel to the Z axis is also referred to as “Z direction”. The direction in which the arrow in each direction is directed is called “positive”, and the opposite direction is called “negative”. 1, 3 and 4 (the same applies to FIG. 10), the upper side may be referred to as “upper (or upper)” and the lower side may be referred to as “lower (or lower)”. In addition, the term “horizontal” in the specification of the present application is not limited to complete horizontal, and includes a state slightly inclined (for example, less than about 5 °) with respect to the horizontal as long as transportation of electronic components is not hindered.
図1、図2に示す検査装置(電子部品検査装置)1は、例えば、BGA(Ball Grid Array)パッケージであるICデバイス等の電子部品を搬送し、その搬送過程で電気的特性を検査・試験(以下単に「検査」と言う)する装置である。なお、以下では、説明の便宜上、前記電子部品としてICデバイスを用いる場合について代表して説明し、これを「ICデバイス90」とする。
The inspection apparatus (electronic component inspection apparatus) 1 shown in FIG. 1 and FIG. 2 conveys electronic components such as an IC device that is a BGA (Ball Grid Array) package, and inspects and tests the electrical characteristics during the conveyance process. (Hereinafter simply referred to as “inspection”). In the following, for convenience of explanation, the case where an IC device is used as the electronic component will be described as a representative, and this will be referred to as “
図2に示すように、検査装置1は、トレイ供給領域A1と、デバイス供給領域(以下単に「供給領域」と言う)A2と、検査領域A3と、デバイス回収領域(以下単に「回収領域」と言う)A4と、トレイ除去領域A5とに分けられている。そして、ICデバイス90は、トレイ供給領域A1からトレイ除去領域A5まで前記各領域を順に経由し、途中の検査領域A3で検査が行われる。このように検査装置1は、各領域でICデバイス90を搬送する電子部品搬送装置(ハンドラー)と、検査領域A3内で検査を行なう検査部16と、制御部800を備えたものとなっている。また、その他、検査装置1は、モニター300と、シグナルランプ400と、操作パネル700とを備えている(図1参照)。
As shown in FIG. 2, the
なお、検査装置1は、トレイ供給領域A1、トレイ除去領域A5が配された方(図2中の下側)が正面側となり、その反対側、すなわち、検査領域A3が配された方(図2中の上側)が背面側として使用される。
In the
トレイ供給領域A1は、未検査状態の複数のICデバイス90が配列されたトレイ(載置部材)200が供給される給材部である。トレイ供給領域A1では、多数のトレイ200を積み重ねることができる。
The tray supply area A1 is a material supply unit to which a tray (mounting member) 200 in which a plurality of
供給領域A2は、トレイ供給領域A1からのトレイ200上に配置された複数のICデバイス90がそれぞれ検査領域A3まで供給される領域である。なお、トレイ供給領域A1と供給領域A2とをまたぐように、トレイ200を1枚ずつ水平方向に搬送するトレイ搬送機構11A、11Bが設けられている。トレイ搬送機構11Aは、トレイ200を、当該トレイ200に載置されたICデバイス90ごとY方向の正側に移動させることができる移動部である。これにより、ICデバイス90を安定して供給領域A2に送り込むことができる。また、トレイ搬送機構11Bは、空のトレイ200をY方向の負側に、すなわち、供給領域A2からトレイ供給領域A1に移動させることができる移動部である。
The supply area A2 is an area where a plurality of
供給領域A2には、温度調整部12と、デバイス搬送ヘッド13と、トレイ搬送機構15とが設けられている。
In the supply area A2, a
温度調整部12は、複数のICデバイス90を一括して冷却または加熱することができるものであり、「ソークプレート」と呼ばれることがある。このソークプレートにより、検査部16で検査される前のICデバイス90を予め冷却または加熱して、当該検査に適した温度に調整することができる。図2に示す構成では、温度調整部12は、Y方向に2つ配置、固定されている。そして、トレイ搬送機構11Aによってトレイ供給領域A1から搬入された(搬送されてきた)トレイ200上のICデバイス90は、いずれかの温度調整部12まで搬送される。
The
デバイス搬送ヘッド13は、供給領域A2内でX方向およびY方向、さらにZ方向にも移動可能に支持されている。これにより、デバイス搬送ヘッド13は、トレイ供給領域A1から搬入されたトレイ200と温度調整部12との間のICデバイス90の搬送と、温度調整部12と後述するデバイス供給部14との間のICデバイス90の搬送とを担うことができる。
The
トレイ搬送機構15は、全てのICデバイス90が除去された状態の空のトレイ200を供給領域A2内でX方向の正側に搬送させる機構である。そして、この搬送後、空のトレイ200は、トレイ搬送機構11Bによって供給領域A2からトレイ供給領域A1に戻される。
The
検査領域A3は、ICデバイス90を検査する領域である。この検査領域A3には、検査部16と、デバイス搬送ヘッド17とが設けられている。また、供給領域A2と検査領域A3とを跨ぐように移動するデバイス供給部14と、検査領域A3と回収領域A4とを跨ぐように移動するデバイス回収部18も設けられている。
The inspection area A3 is an area where the
デバイス供給部14は、温度調整部12で温度調整されたICデバイス90が載置され、当該ICデバイス90を検査部16近傍まで搬送する(移動させる)ことができる載置部であり、「供給用シャトルプレート」と呼ばれることがある。
The
また、デバイス供給部14は、供給領域A2と検査領域A3との間をX方向に沿って水平方向に移動可能に支持されている。図2に示す構成では、デバイス供給部14は、Y方向に2つ配置されており、温度調整部12上のICデバイス90は、いずれかのデバイス供給部14まで搬送される。また、デバイス供給部14は、前記温度調整されたICデバイス90に対して、その温度調整状態を維持することができるよう構成されている。これにより、ICデバイス90を冷却または加熱することができ、よって、当該ICデバイス90の温度調整状態を維持することができる。
The
検査部16は、ICデバイス90を載置して、当該ICデバイス90の電気的特性を検査・試験する載置部である。この検査部16には、ICデバイス90の端子部と電気的に接続される複数のプローブピンが設けられている。そして、ICデバイス90の端子部とプローブピンとが電気的に接続され(接触し)、プローブピンを介してICデバイス90の検査が行われる。ICデバイス90の検査は、検査部16に接続されるテスターが備える検査制御部に記憶されているプログラムに基づいて行われる。なお、検査部16では、温度調整部12と同様に、ICデバイス90を冷却または加熱して、当該ICデバイス90を検査に適した温度に調整することができる。
The
デバイス搬送ヘッド17は、検査領域A3内でY方向およびZ方向に移動可能に支持されている。これにより、デバイス搬送ヘッド17は、供給領域A2から搬入されたデバイス供給部14上のICデバイス90を検査部16上に搬送し、載置することができる。なお、デバイス搬送ヘッド17も、ICデバイス90を冷却または加熱して、当該ICデバイス90を検査に適した温度に調整することができる。
The
デバイス回収部18は、検査部16での検査が終了したICデバイス90が載置され、当該ICデバイス90を回収領域A4まで搬送する(移動させる)ことができる載置部であり、「回収用シャトルプレート」と呼ばれることがある。
The
また、デバイス回収部18は、検査領域A3と回収領域A4との間をX方向に沿って水平方向に移動可能に支持されている。また、図2に示す構成では、デバイス回収部18は、デバイス供給部14と同様に、Y方向に2つ配置されており、検査部16上のICデバイス90は、いずれかのデバイス回収部18に搬送され、載置される。この搬送は、デバイス搬送ヘッド17によって行なわれる。
The
回収領域A4は、検査が終了した複数のICデバイス90が回収される領域である。この回収領域A4には、回収用トレイ19と、デバイス搬送ヘッド20と、トレイ搬送機構21とが設けられている。また、回収領域A4には、空のトレイ200も用意されている。
The collection area A4 is an area in which a plurality of
回収用トレイ19は、検査部16で検査されたICデバイス90が載置される載置部であり、回収領域A4内で移動しないよう固定されている。これにより、デバイス搬送ヘッド20等の各種可動部が比較的多く配置された回収領域A4であっても、回収用トレイ19上では、検査済みのICデバイス90が安定して載置されることとなる。なお、図2に示す構成では、回収用トレイ19は、X方向に沿って3つ配置されている。
The
また、空のトレイ200も、X方向に沿って3つ配置されている。この空のトレイ200も、検査部16で検査されたICデバイス90が載置される載置部となる。そして、回収領域A4に移動してきたデバイス回収部18上のICデバイス90は、回収用トレイ19および空のトレイ200のうちのいずれかに搬送され、載置される。これにより、ICデバイス90は、検査結果ごとに分類されて、回収されることとなる。
Three
デバイス搬送ヘッド20は、回収領域A4内でX方向およびY方向、さらにZ方向にも移動可能に支持されている。これにより、デバイス搬送ヘッド20は、ICデバイス90をデバイス回収部18から回収用トレイ19や空のトレイ200に搬送することができる。
The
トレイ搬送機構21は、トレイ除去領域A5から搬入された空のトレイ200を回収領域A4内でX方向に搬送させる機構である。そして、この搬送後、空のトレイ200は、ICデバイス90が回収される位置に配されることとなる、すなわち、前記3つの空のトレイ200のうちのいずれかとなり得る。
The
トレイ除去領域A5は、検査済み状態の複数のICデバイス90が配列されたトレイ200が回収され、除去される除材部である。トレイ除去領域A5では、多数のトレイ200を積み重ねることができる。
The tray removal area A5 is a material removal unit from which the
また、回収領域A4とトレイ除去領域A5とをまたぐように、トレイ200を1枚ずつY方向に搬送するトレイ搬送機構22A、22Bが設けられている。トレイ搬送機構22Aは、トレイ200をY方向に移動させることができる移動部である。これにより、検査済みのICデバイス90を回収領域A4からトレイ除去領域A5に搬送することができる。また、トレイ搬送機構22Bは、ICデバイス90を回収するための空のトレイ200をトレイ除去領域A5から回収領域A4に移動させることができる移動部である。
Further,
制御部800は、例えば、駆動制御部を有している。駆動制御部は、例えば、トレイ搬送機構11A、11Bと、温度調整部12と、デバイス搬送ヘッド13と、デバイス供給部14と、トレイ搬送機構15と、検査部16と、デバイス搬送ヘッド17と、デバイス回収部18と、デバイス搬送ヘッド20と、トレイ搬送機構21と、トレイ搬送機構22A、22Bの各部の駆動を制御する。
The
なお、前記テスターの検査制御部は、例えば、図示しないメモリー内に記憶されたプログラムに基づいて、検査部16に配置されたICデバイス90の電気的特性の検査等を行なう。
The test control unit of the tester inspects the electrical characteristics of the
オペレーターは、モニター300を介して、検査装置1の動作条件等を設定したり、確認したりすることができる。このモニター300は、例えば液晶画面で構成された表示画面(表示部)301を有し、検査装置1の正面側上部に配置されている。図1に示すように、トレイ除去領域A5の図中の右側には、モニター300に表示された画面を操作する際に用いられるマウスを載置するマウス台600が設けられている。
The operator can set or confirm the operating conditions of the
また、モニター300に対して図1の右下方には、操作パネル700が配置されている。操作パネル700は、モニター300とは別に、検査装置1に所望の動作を命令するものである。
In addition, an
また、シグナルランプ400は、発光する色の組み合わせにより、検査装置1の作動状態等を報知することができる。シグナルランプ400は、検査装置1の上部に配置されている。なお、検査装置1には、スピーカー500が内蔵されており、このスピーカー500によっても検査装置1の作動状態等を報知することもできる。
Further, the
図2に示すように、検査装置1は、トレイ供給領域A1と供給領域A2との間が第1隔壁61によって区切られて(仕切られて)おり、供給領域A2と検査領域A3との間が第2隔壁62によって区切られており、検査領域A3と回収領域A4との間が第3隔壁63によって区切られており、回収領域A4とトレイ除去領域A5との間が第4隔壁64によって区切られている。また、供給領域A2と回収領域A4との間も、第5隔壁65によって区切られている。
As shown in FIG. 2, in the
検査装置1は、最外装がカバーで覆われており、当該カバーには、例えばフロントカバー70、サイドカバー71、サイドカバー72、リアカバー73、トップカバー74がある。
The outermost exterior of the
ところで、検査装置1では、例えばICデバイス90の種類等の諸条件に応じた複数種の検査部16があり、これらが交換して用いられる。本実施形態では、一例として、検査部16は、ICデバイス90をX方向に6個、Y方向に2個ずつ配置することができるものとなっている。そして、デバイス搬送ヘッド17は、この検査部16に対応した押圧ユニット23を装着して用いられる(図3、図4参照)。
By the way, in the
図4に示すように、押圧ユニット23は、X方向に6個、Y方向に2個ずつ配置された加熱部231と、これらの加熱部231を一括して支持する支持部232とを備えている。
As shown in FIG. 4, the
各加熱部231には、ヒーター233と温度センサー234とが内蔵されている。ヒーター233は、例えば通電により発熱する棒ヒーターで構成されている。これにより、各加熱部231は、ICデバイス90を1つずつ個別に加熱することができる。また、温度センサー234は、例えばPtセンサーで構成されている。これにより、当該温度センサー234が内蔵されている加熱部231の温度をできる限り正確に検出することができ、その検出結果に基づいて、ICデバイス90を検査に適した温度に調整することができる。
Each
なお、各加熱部231は、ICデバイス90を加熱する機能を有することの他、ICデバイス90を吸着する機能も有している。これにより、デバイス供給部14上のICデバイス90を、検査部16に供給する(移す)ことができる。また、検査部16上のICデバイス90を、デバイス回収部18に回収する(移す)こともできる。
Each
また、各加熱部231は、検査部16上のICデバイス90を当該検査部16に押し付ける機能も有している。これにより、ICデバイス90と検査部16との電気的な接続が図られ、よって、当該ICデバイス90に対する検査を正確に行なうことができる。
Each
また、各加熱部231には、番号が「1」から「12」まで順に付されている。以下、番号が「1」の加熱部231を「第1加熱部231a」と言い、番号が「2」の加熱部231を「第2加熱部231b」と言い、番号が「3」の加熱部231を「第3加熱部231c」と言い、番号が「4」の加熱部231を「第4加熱部231d」と言い、番号が「5」の加熱部231を「第5加熱部231e」と言い、番号が「6」の加熱部231を「第6加熱部231f」と言い、番号が「7」の加熱部231を「第7加熱部231g」と言い、番号が「8」の加熱部231を「第8加熱部231h」と言い、番号が「9」の加熱部231を「第9加熱部231i」と言い、番号が「10」の加熱部231を「第10加熱部231j」と言い、番号が「11」の加熱部231を「第11加熱部231k」と言い、番号が「12」の加熱部231を「第12加熱部231L」と言う。なお、本実施形態では、12個の加熱部231のうち、最も正面側(Y方向負側)で、かつ、最も供給領域A2側(X方向負側)に位置している、すなわち、検査装置1の原点側に最も近い加熱部231を、番号が「1」である第1加熱部231aとしている。
Each
また、図5に示すように、第1加熱部231a〜第12加熱部231Lのうち、第1加熱部231a〜第8加熱部231hが第1群G1を構成している。そして、第1加熱部231a〜第8加熱部231hは、加熱部側第1接続部24と電気的に接続されている。一方、第9加熱部231i〜第12加熱部231Lは、第1群G1と異なる第2群G2を構成しており、加熱部側第2接続部25と電気的に接続されている。
Moreover, as shown in FIG. 5, among the
このような加熱部231は、支持部232を介してデバイス搬送ヘッド17に装着される。支持部232は、その下側で加熱部231を支持するものである。図4に示すように、押圧ユニット23(支持部232)は、デバイス搬送ヘッド17に対してX方向正側から負側に向かってスライドさせる(差し込む)ことにより、その移動限界位置でデバイス搬送ヘッド17に装着された状態となる。なお、支持部232は、デバイス搬送ヘッド17への差し込み方向を規制する、すなわち、デバイス搬送ヘッド17に対する逆差しを防止するよう構成されているのが好ましい。これにより、押圧ユニット23をデバイス搬送ヘッド17に正確に装着することができる。
Such a
なお、押圧ユニット23は、前述した温度調整部12や検査部16と同様に、ICデバイス90を冷却する機能を有していてもよい。
Note that the
図3、図4に示すように、デバイス搬送ヘッド17は、基部171と、第1接続部3と、第2接続部4とを有している。
As illustrated in FIGS. 3 and 4, the
基部171は、ベース172と、支柱173と、支持部材174と、支持部材175とを備えている。
The
ベース172は、押圧ユニット23が装着される部分であり、支柱173を介して上方から懸垂状態で支持されている。
The
支持部材174は、ベース172上の供給領域A2側で第1接続部3を支持するものであり、支持部材175は、ベース172上の回収領域A4側で第2接続部4を支持するものである。
The
また、図3に示すように、リアカバー73には、基部171を最も近い位置で視認可能な窓部731が設けられている。この窓部731を介して、例えば押圧ユニット23のデバイス搬送ヘッド17に対する装着具合等を確認することができる。なお、窓部731は、開閉可能であるのが好ましい。
As shown in FIG. 3, the
図5に示すように、第1接続部3は、押圧ユニット23の加熱部側第1接続部24と接続される。この接続状態で、12個の加熱部231のうちの「1」から「8」までの番号が付された加熱部231、すなわち、第1群G1に属する第1加熱部231a〜第8加熱部231hに、外部電源900からの電力を供給することができる。これにより、第1加熱部231a〜第8加熱部231hでの加熱を個別に行なうことができる。
As shown in FIG. 5, the
第2接続部4は、押圧ユニット23の加熱部側第2接続部25と接続される。この接続状態で、「9」から「12」までの番号が付された加熱部231、すなわち、第2群G2に属する第9加熱部231i〜第12加熱部231Lに、外部電源900からの電力を供給することができる。これにより、第9加熱部231i〜第12加熱部231Lでの加熱を個別に行なうことができる。
The
前述したように、検査装置1では、例えばICデバイス90の種類等の諸条件に応じた複数種の検査部16がある。そして、各種の検査部16に対応して、押圧ユニット23も存在する。従って、押圧ユニット23は、本実施形態では12個の加熱部231を有するものを一例としているが、加熱部231の設置数は、これに限定されない。この加熱部231の設置数は、通常1〜16個が可能である。そして、加熱部231の設置数が1〜8個までの場合、第1接続部3で各加熱部231への電力供給を担うことができる。また、加熱部231の設置数が9を超えた、すなわち、10以上場合、加熱部231が8個(所定数)からさらに増設されたとして、当該増設分の加熱部231への電力供給を第2接続部4で担うことができる。
As described above, in the
このように検査装置1では、加熱部231の設置数の多少に関わらず、当該各加熱部231への電力の供給を、第1接続部3と第2接続部4とで割り振ることができる。これにより、各加熱部231での加熱を個別に行なうことができ、よって、加熱検査時の各ICデバイス90に対する温度調整を正確に行なうことができる。
As described above, in the
図3、図4に示すように、第1接続部3は、基部171のベース172上に支持部材174を介して支持、固定されている。同様に、第2接続部4も、基部171のベース172上に支持部材175を介して支持、固定されている。第1接続部3と第2接続部4とが共通のベース172上に配置されていることにより、当該各接続部への接続作業を容易に行なうことができる。
As shown in FIGS. 3 and 4, the
また、第1接続部3と第2接続部4とは、ベース172上で互いに異なる位置に配置されており、本実施形態では、基部171の支柱173を介して互いに反対側に配置されている。特に、図3に示すように、第1接続部3は、供給領域A2側、すなわち、窓部731に向かって右側(一方側)に配置され、第2接続部4は、回収領域A4側、すなわち、窓部731に向かって左側(他方側)に配置されている。このような配置により、押圧ユニット23の加熱部側第1接続部24に対する接続作業と、加熱部側第2接続部25に対する接続作業とをそれぞれ行なう際、加熱部側第1接続部24を誤って第2接続部4に接続したり、加熱部側第2接続部25を誤って第1接続部3に接続したりする誤接続を低減することができる。また、各接続作業を窓部731を介して確認することができるため、当該各接続作業を容易に行なうことができる。
Moreover, the
図4に示すように、第1接続部3と加熱部側第1接続部24との接続作業を行なう際、加熱部側第1接続部24の第1接続部3への接続方向AR1’を、第1接続部3に向かう接続方向AR1に揃えて、その接続作業を行なう。また、第2接続部4と加熱部側第2接続部25との接続作業を行なう際、加熱部側第2接続部25の第2接続部4への接続方向AR2’を、第2接続部4に向かう接続方向AR2に揃えて、その接続作業を行なう。そして、接続方向AR1と接続方向AR2とは、いずれも水平方向を向いているが、互いに外側に向かって反対方向を向いている。これと反対に、接続方向AR1と接続方向AR2とが内側に向かっている場合、支柱173が各接続作業の邪魔となる場合がある。しかしながら、接続方向AR1と接続方向AR2とが前記のように外側に向かっているため、支柱173が各接続作業の邪魔となるのを防止することができる。
As shown in FIG. 4, when connecting the
図3、図4に示すように、第1接続部3は、1つの第1コネクター31と、2つの第2コネクター32とを有している。これに対応して、加熱部側第1接続部24も、1つの加熱部側第1コネクター241と、2つの加熱部側第2コネクター242とを有している。第1コネクター31は、加熱部側第1コネクター241を介して、第1加熱部231a〜第8加熱部231hの各ヒーター233に接続される。各第2コネクター32は、加熱部側第2コネクター242を介して、第1加熱部231a〜第8加熱部231hの温度センサー234に接続される。このように第1接続部3が、機能が異なる第1コネクター31と第2コネクター32とを個別に有することにより、例えば配線が容易となる。
As shown in FIGS. 3 and 4, the first connecting
また、第2接続部4は、1つの第1コネクター41と、2つの第2コネクター42とを有している。これに対応して、加熱部側第2接続部25も、1つの加熱部側第1コネクター251と、2つの加熱部側第2コネクター252とを有している。第1コネクター41は、加熱部側第1コネクター251を介して、第9加熱部231i〜第12加熱部231Lの各ヒーター233に接続される。各第2コネクター42は、加熱部側第2コネクター252を介して、第9加熱部231i〜第12加熱部231Lの温度センサー234に接続される。そして、第1接続部3と同様に、第2接続部4でも、機能が異なる第1コネクター41と第2コネクター42とを個別に有することにより、例えば配線が容易となる。
Further, the
図3、図4に示すように、第1接続部3での第1コネクター31と第2コネクター32との配置と、第2接続部4での第1コネクター41と第2コネクター42との配置とは、同じ配置であるため、以下、第1接続部3での配置について代表的に説明する。
As shown in FIGS. 3 and 4, the arrangement of the
各第2コネクター32は、第1コネクター31を介して配置されている。これにより、配置バランスが比較的良い状態となり、例えば誤接続低減につながる。
Each
また、第1コネクター31と各第2コネクター32とは、Y方向に沿って(水平方向に)並んでいる。ここで仮に、第1コネクター31と各第2コネクター32とがZ方向に沿って(鉛直方向に)並んでいる場合を想定してみると、最下位に位置するコネクターへの接続作業が、他のコネクターへの接続作業よりも行ないづらくなる傾向にあり、作業性が低下することが懸念される。しかしながら、第1コネクター31と各第2コネクター32とがY方向に沿って並んでいることにより、各コネクターへの接続作業の作業性がほぼ同じとなる。
The
図6に示すように、押圧ユニット23が装着されたデバイス搬送ヘッド17では、第1接続部3および第2接続部4のいずれかで接続がなされていないことを検出する検出部として、シリアル配線26がその機能を果たすよう構成されている。
As shown in FIG. 6, in the
シリアル配線26は、第1接続部3および第2接続部4のいずれかで接続がなされていないことを判断する信号がとおることができる。例えば、図6に示すように、第1接続部3および第2接続部4のいずれでも接続が行なわれている場合、制御部800から発せられた信号は、第1接続部3および第2接続部4を順に経由して、再度制御部800に戻る、すなわち、当該信号は、制御部800で受け取られる。一方、第1接続部3および第2接続部4のいずれかで接続がなされていない場合、制御部800で信号が受け取られることはない。この場合、シリアル配線26が途中で切れているとして、第1接続部3および第2接続部4のいずれかで接続がなされていないと判断され、その旨が例えばモニター300やスピーカー500で報知される。
The
なお、「シリアル配線26が切れている」には、第1接続部3や第2接続部4接続で接続が行なわれていない状態の他、シリアル配線26自体が断線した状態も含まれる。
Note that “the
このように検査装置1では、シリアル配線26を用いるという簡単な構成で、第1接続部3や第2接続部4での接続し忘れを防止することができる。
As described above, the
次に、第1接続部3と第2接続部4とを使用する場合の画面について、図7〜図9を参照しつつ説明する。
Next, a screen when using the
第1接続部3と第2接続部4とを使用する場合、まずモニター300(表示画面301)には、図7に示す第1フォーム51が表示される。第1フォーム51には、第1メニュー511としての「Handling Mode」と、第2メニュー512としての「Shuttle Mode」と、第3メニュー513としての「Compliance Unit」と、第4メニュー514としての「Test Site Assign」とが含まれている。そして、第3メニュー513内で、「40mm Square(1unit/1device)」か、または、「40mm Square(1unit/2devices)」を選択することができる。第1接続部3と第2接続部4とを使用する場合は、「40mm Square(1unit/1device)」を選択する。なお、第1接続部3のみを使用し、第2接続部4を使用しない場合は、「40mm Square(1unit/2devices)」を選択することとなる。このように、第3メニュー513は、第2接続部4まで使用するか否かを設定可能にし、表示可能な設定部となっている。これにより、検査装置1を使用するユーザーは、第1接続部3と第2接続部4とを使用する第1使用態様と、第1接続部3のみを使用し、第2接続部4を使用しない第2使用態様とを必要に応じて適宜変更することができる。
When using the
第3メニュー513内で「40mm Square(1unit/1device)」を選択した後には、モニター300には、第2フォーム52が表示される。第2フォーム52には、第1メニュー521としての「Setup Files」と、第2メニュー522としての「Test Site」と、第3メニュー523としての「User Select」と、第4メニュー524としての「Temperature」と、第5メニュー525としての「Tester」と、第6メニュー526としての「Run Mode」と、第7メニュー527としての「Start mode」と、第8メニュー528としての「Bin Setting」と、第9メニュー529としての「Input Shuttle」と、第10メニュー530としての「Hotplate」と、第11メニュー531としての「Arm2」と、第12メニュー532としての「Arm1」と、第13メニュー533としての「Socket Heat」と、第14メニュー534としての「Socket Air」とが含まれている。そして、第12メニュー532内で、番号が「1」から「8」までの加熱部231の温度を入力設定することができ、第11メニュー531内で、番号が「9」以降の加熱部231の温度を入力設定することができる。このように、第11メニュー531と第12メニュー532とは、第1接続部3および第2接続部4を使用する状態に対応した画面となっている。これにより、各加熱部231の温度を個別に設定することができる。
After selecting “40 mm Square (1 unit / 1 device)” in the
また、モニター300上で所定の別の操作を行なうと、モニター300には、図9に示す第3フォーム54が表示される。第3フォーム54には、第1メニュー541としての「Temperature Mode」と、第2メニュー542としての「Priority Mode」と、第3メニュー543としての「Ambient Mode Setting」と、第4メニュー544としての「High/Cold/Ambient Control/Dehumidification Mode Setting」と、第5メニュー545としての「Base-points」と、第6メニュー546としての「Extra Offset」と、第7メニュー547としての「Temperature offset testing」と、第8メニュー548としての「Socket Heater」と、第9メニュー549としての「Temperature Offset Setting」と、第10メニュー550としての「Arm2」と、第11メニュー551としての「Plate/Shattle/SocketHeater/AirBlow」と、第12メニュー552としての「Arm1」とを含んでいる。そして、第10メニュー550内で、番号が「9」以降の加熱部231の温度の補正値、すなわち、オフセット値を入力設定することができ、第12メニュー552内で、番号が「1」から「8」までの加熱部231の温度の補正値を入力設定することができる。
Further, when another predetermined operation is performed on the
<第2実施形態>
以下、図10、図11を参照して本発明の電子部品搬送装置および電子部品検査装置の第2実施形態について説明するが、前述した実施形態との相違点を中心に説明し、同様の事項はその説明を省略する。
Second Embodiment
Hereinafter, the second embodiment of the electronic component transport apparatus and the electronic component inspection apparatus according to the present invention will be described with reference to FIGS. 10 and 11. However, the differences from the above-described embodiment will be mainly described and the same matters will be described. Will not be described.
本実施形態は、押圧ユニットにおける加熱部の設置数が異なること以外は前記第1実施形態と同様である。 This embodiment is the same as the first embodiment except that the number of heating units in the pressing unit is different.
図10に示すように、本実施形態では、押圧ユニット23は、X方向に4個、Y方向に2個ずつ配置された加熱部231を備えている。これら8個の加熱部231は、それぞれ、第1加熱部231a〜第8加熱部231hとなっている。このような押圧ユニット23をデバイス搬送ヘッド17に装着した場合には、第1接続部3が使用され、第2接続部4は使用されない。
As shown in FIG. 10, in this embodiment, the
この場合、第1フォーム51の第3メニュー513内で「40mm Square(1unit/2devices)」を選択する。その後、モニター300には、図11に示す第2フォーム52’が表示される。この第2フォーム52’は、前記第1実施形態で述べた第2フォーム52と異なり、第11メニュー531’としての「Arm2」と、第12メニュー532’としての「Arm1」とを含んでいる。そして、第12メニュー532’としての「Arm1」内で、番号が「1」から「4」までの加熱部231の温度を入力設定することができ、第11メニュー531’としての「Arm2」内で、番号が「5」以降の加熱部231の温度を入力設定することができる。このように、第11メニュー531’と第12メニュー532’とは、第1接続部3のみを使用する状態に対応した画面となっている。これにより、8個の加熱部231の温度を個別に設定することができる。
In this case, “40 mm Square (1 unit / 2 devices)” is selected in the
以上、本発明の電子部品搬送装置および電子部品検査装置を図示の実施形態について説明したが、本発明は、これに限定されるものではなく、電子部品搬送装置および電子部品検査装置を構成する各部は、同様の機能を発揮し得る任意の構成のものと置換することができる。また、任意の構成物が付加されていてもよい。 As mentioned above, although the electronic component conveyance apparatus and electronic component inspection apparatus of this invention were demonstrated about embodiment of illustration, this invention is not limited to this, Each part which comprises an electronic component conveyance apparatus and an electronic component inspection apparatus Can be replaced with any structure capable of performing the same function. Moreover, arbitrary components may be added.
また、本発明の電子部品搬送装置および電子部品検査装置は、前記各実施形態のうちの、任意の2以上の構成(特徴)を組み合わせたものであってもよい。 Moreover, the electronic component conveying apparatus and the electronic component inspection apparatus of the present invention may be a combination of any two or more configurations (features) of the above embodiments.
また、第1接続部への接続方向と、第2接続部への接続方向とは、いずれも、前記各実施形態では水平方向であるが、少なくとも一方の接続方向が鉛直方向とすることもできる。 In addition, the connection direction to the first connection portion and the connection direction to the second connection portion are both horizontal in the above-described embodiments, but at least one of the connection directions may be a vertical direction. .
また、第1接続部および第2接続部が有する第2コネクターの設置数は、前記各実施形態では2つであるが、これに限定されず、例えば、3つ以上であってもよい。 In addition, the number of second connectors provided in the first connection portion and the second connection portion is two in each of the embodiments described above, but is not limited thereto, and may be three or more, for example.
1…検査装置(電子部品検査装置)、11A…トレイ搬送機構、11B…トレイ搬送機構、12…温度調整部、13…デバイス搬送ヘッド、14…デバイス供給部、15…トレイ搬送機構、16…検査部、17…デバイス搬送ヘッド、171…基部、172…ベース、173…支柱、174…支持部材、175…支持部材、18…デバイス回収部、19…回収用トレイ、20…デバイス搬送ヘッド、21…トレイ搬送機構、22A…トレイ搬送機構、22B…トレイ搬送機構、23…押圧ユニット、231…加熱部、231a…第1加熱部、231b…第2加熱部、231c…第3加熱部、231d…第4加熱部、231e…第5加熱部、231f…第6加熱部、231g…第7加熱部、231h…第8加熱部、231i…第9加熱部、231j…第10加熱部、231k…第11加熱部、231L…第12加熱部、232…支持部、233…ヒーター、234…温度センサー、24…加熱部側第1接続部、241…加熱部側第1コネクター、242…加熱部側第2コネクター、25…加熱部側第2接続部、251…加熱部側第1コネクター、252…加熱部側第2コネクター、26…シリアル配線、3…第1接続部、31…第1コネクター、32…第2コネクター、4…第2接続部、41…第1コネクター、42…第2コネクター、51…第1フォーム、511…第1メニュー、512…第2メニュー、513…第3メニュー、514…第4メニュー、52…第2フォーム、52’…第2フォーム、521…第1メニュー、522…第2メニュー、523…第3メニュー、524…第4メニュー、525…第5メニュー、526…第6メニュー、527…第7メニュー、528…第8メニュー、529…第9メニュー、530…第10メニュー、531…第11メニュー、531’…第11メニュー、532…第12メニュー、532’…第12メニュー、533…第13メニュー、534…第14メニュー、54…第3フォーム、541…第1メニュー、542…第2メニュー、543…第3メニュー、544…第4メニュー、545…第5メニュー、546…第6メニュー、547…第7メニュー、548…第8メニュー、549…第9メニュー、550…第10メニュー、551…第11メニュー、552…第12メニュー、61…第1隔壁、62…第2隔壁、63…第3隔壁、64…第4隔壁、65…第5隔壁、70…フロントカバー、71…サイドカバー、72…サイドカバー、73…リアカバー、731…窓部、74…トップカバー、90…ICデバイス、200…トレイ(載置部材)、300…モニター、301…表示画面、400…シグナルランプ、500…スピーカー、600…マウス台、700…操作パネル、800…制御部、900…外部電源、A1…トレイ供給領域、A2…デバイス供給領域(供給領域)、A3…検査領域、A4…デバイス回収領域(回収領域)、A5…トレイ除去領域、AR1…接続方向、AR1’…接続方向、AR2…接続方向、AR2’…接続方向、G1…第1群、G2…第2群
DESCRIPTION OF
Claims (20)
前記複数の加熱部のうちの一の群に属する加熱部に電力を供給可能な第1接続部と、
前記複数の加熱部のうち、前記一の群と異なる他の群に属する加熱部に電力を供給可能な第2接続部と、を有することを特徴とする電子部品搬送装置。 A base on which a plurality of heating units for heating electronic components are mounted;
A first connection unit capable of supplying power to a heating unit belonging to one group of the plurality of heating units;
An electronic component transport apparatus comprising: a second connection portion capable of supplying power to a heating portion belonging to another group different from the one group among the plurality of heating portions.
前記電子部品を前記加熱部から回収する回収部とを有し、
前記第1接続部は前記供給部側に配置され、前記第2接続部は前記回収部側に配置されている請求項1ないし4のいずれか1項に記載の電子部品搬送装置。 A supply unit for supplying the electronic component toward the heating unit;
A recovery unit for recovering the electronic component from the heating unit;
5. The electronic component conveying apparatus according to claim 1, wherein the first connection portion is disposed on the supply portion side, and the second connection portion is disposed on the collection portion side.
前記窓部に向かって一方側に前記第1接続部が配置され、他方側に前記第2接続部が配置されている請求項1ないし5のいずれか1項に記載の電子部品搬送装置。 Having a window portion that is visible at the closest position to the base,
6. The electronic component carrying device according to claim 1, wherein the first connection portion is disposed on one side toward the window portion, and the second connection portion is disposed on the other side.
前記第1の接続部は、前記所定数設けられた加熱部に電力を供給可能である請求項1ないし12のいずれか1項に記載の電子部品搬送装置。 A predetermined number of the heating units are provided,
The electronic component transport apparatus according to claim 1, wherein the first connection unit is capable of supplying electric power to the predetermined number of heating units.
前記第2接続部を使用する場合は、前記第1接続部および前記第2接続部が使用されることを画面に表示可能である請求項1ないし17のいずれか1項に記載の電子部品搬送装置。 When the second connection part is not used, the fact that the first connection part is used can be displayed on the screen,
The electronic component conveyance according to any one of claims 1 to 17, wherein when the second connection portion is used, the fact that the first connection portion and the second connection portion are used can be displayed on a screen. apparatus.
前記複数の加熱部のうちの一の群に属する加熱部に電力を供給可能な第1接続部と、
前記複数の加熱部のうち、前記一の群と異なる他の群に属する加熱部に電力を供給可能な第2接続部と、
前記電子部品を検査する検査部と、を有することを特徴とする電子部品検査装置。 A base on which a plurality of heating units for heating electronic components are mounted;
A first connection unit capable of supplying power to a heating unit belonging to one group of the plurality of heating units;
A second connecting part capable of supplying power to a heating part belonging to another group different from the one group among the plurality of heating parts;
An electronic component inspection apparatus comprising: an inspection unit that inspects the electronic component.
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2015249405A JP2017116311A (en) | 2015-12-22 | 2015-12-22 | Electronic component conveyance device and electronic component inspection device |
TW107116618A TW201830042A (en) | 2015-08-31 | 2016-08-26 | Electronic component transporting apparatus and electronic component inspection apparatus capable of controlling an electronic part to a target temperature with high accuracy |
TW107116616A TW201830041A (en) | 2015-08-31 | 2016-08-26 | Electronic component transporting apparatus and electronic component inspection apparatus capable of controlling an electronic part to a target temperature with high accuracy |
TW105127543A TWI632383B (en) | 2015-08-31 | 2016-08-26 | Electronic component transfer device and electronic component inspection device |
CN201610756301.6A CN106483446A (en) | 2015-08-31 | 2016-08-29 | Electronic component conveying device and electronic component inspection device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015249405A JP2017116311A (en) | 2015-12-22 | 2015-12-22 | Electronic component conveyance device and electronic component inspection device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017116311A true JP2017116311A (en) | 2017-06-29 |
Family
ID=59234318
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015249405A Pending JP2017116311A (en) | 2015-08-31 | 2015-12-22 | Electronic component conveyance device and electronic component inspection device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2017116311A (en) |
-
2015
- 2015-12-22 JP JP2015249405A patent/JP2017116311A/en active Pending
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