JP2017098517A - プリント回路基板及びその製造方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】プリント回路基板及びその製造方法を提供する。【解決手段】貫通ホールが形成された絶縁部110と、上記貫通ホール111内に配置された電子部品120と、上記絶縁部の上下面に形成された回路130と、上記絶縁部の上下面に形成された第1絶縁層140と、上記第1絶縁層上に形成される第2絶縁層150と、を含み、上記第1絶縁層の組成と上記第2絶縁層の組成とは互いに異なり、上記第1絶縁層の厚さは上記第2絶縁層の厚さより小さい。【選択図】図1
Description
本発明は、プリント回路基板及びその製造方法に関する。
近年、スマートフォン、タブレットPC、ウェアラブルデバイス(wearable device)等の発展に伴ってプリント回路基板における小型化及び薄型化が要求されている。これにより、薄型化された半導体ICを内蔵したプリント回路基板が開発されている。しかし、プリント回路基板の大きさに対するIC面積が大きすぎると、歪み(Warpage)の問題が発生してプリント回路基板のハンドリングが困難となる。
本発明の一側面によれば、貫通ホールが形成された絶縁部と、上記貫通ホール内に配置された電子部品と、上記絶縁部の上下面に形成された回路と、上記絶縁部の上下面に形成された第1絶縁層と、上記第1絶縁層上に形成された第2絶縁層と、を含み、上記第1絶縁層の組成と上記第2絶縁層の組成とは互いに異なり、上記第1絶縁層の厚さは、上記第2絶縁層の厚さより小さいプリント回路基板が提供される。
本発明によるプリント回路基板及びその製造方法の実施例を添付図面を参照して詳細に説明し、添付図面を参照して説明するに当たって、同一または対応する構成要素には同一の図面番号を付し、これに対する重複説明を省略する。
また、本明細書において、第1、第2などの用語は、同一または相応する構成要素を区別するための識別記号に過ぎず、同一または相応する構成要素が第1、第2などの用語により限定されない。
また、結合とは、各構成要素間の接触関係において、各構成要素の間に物理的に直接接触する場合のみを意味するものではなく、他の構成が各構成要素の間に介在され、その他の構成に構成要素がそれぞれ接触している場合まで包括する概念として使用する。
プリント回路基板
図1は、本発明の一実施例に係るプリント回路基板を示す図である。
図1は、本発明の一実施例に係るプリント回路基板を示す図である。
図1を参照すると、本発明の一実施例に係るプリント回路基板は、絶縁部110と、電子部品120と、回路130と、第1絶縁層140と、第2絶縁層150と、を含むことができる。
絶縁部110は、プリント回路基板の中心となり、絶縁材で形成される。絶縁部110を形成する絶縁材は、プリプレグ(PPG)またはビルドアップフィルム(build up film)であることができる。このプリプレグまたはビルドアップフィルムは、樹脂材である。
ここで、樹脂材の樹脂は、エポキシ樹脂等の熱硬化性樹脂、ポリイミド等の熱可塑性樹脂を含むことができる。
エポキシ樹脂は、例えば、ナフタレン系エポキシ樹脂、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ノボラック系エポキシ樹脂、クレゾールノボラック系エポキシ樹脂、ゴム変性型エポキシ樹脂、環型脂肪族系エポキシ樹脂、シリコン系エポキシ樹脂、窒素系エポキシ樹脂、リン系エポキシ樹脂等であってもよいが、これらに限定されない。
一方、プリプレグには、上記樹脂にガラス繊維(glass cloth)等の繊維補強材が含まれてもよい。ビルドアップフィルムには、上記樹脂にシリカ等の無機フィラー(filler)が充填されてもよい。このようなビルドアップフィルムとしては、ABF(Ajinomoto Build−up Film)等を用いることができる。
絶縁部110には、貫通ホール111が形成される。貫通ホール111は、CO2レーザ等のレーザドリルまたはビット等の機械的ドリルを用いて形成可能である。貫通ホール111は、六面体形状を有することができ、絶縁部110の一面から他面まで完全に貫通することができる。
電子部品120は、貫通ホール111内に配置される。電子部品120の大きさは、貫通ホール111の大きさよりも小さいか、同じであることができる。電子部品120の大きさが貫通ホール111の大きさより小さい場合は、電子部品120は、貫通ホール111から離隔して配置される。すなわち、電子部品120と貫通ホール111との間には空間が設けられる。
電子部品120と貫通ホール111との間に設けられる空間には絶縁材が形成されることができる。電子部品120は、上部に電極121を備えることができる。電極121の厚さは、第1回路131の厚さと同じであることができる。電子部品120の上面は、第1回路131の上面以下に位置することができる。
電子部品120の電極121が電子部品120の上部に形成された場合、電極121の上面が第1回路131の上面以下に位置することができる。
また、電子部品120の下面は、第2回路132の下面と同一平面上に位置することができる。
一方、電子部品120は、能動素子、受動素子であることができ、その種類は限定されない。
回路130は、絶縁部110の上下面に形成される。回路130は、電気伝導特性、エッチングの容易性等を考慮して、銅(Cu)、銀(Ag)、パラジウム(Pd)、アルミニウム(Al)、ニッケル(Ni)、チタン(Ti)、金(Au)、白金(Pt)で形成することができる。
回路130は、アディティブ(additive)法、サブトラックティブ(subtractive)法、セミアディティブ(Semi additive)法、テンティング(Tenting)法、MSAP(Modified Semi Additive Process)法等の方法により形成可能であるが、これらの方式に限定されない。
回路130がアディティブ法、セミアディティブ法等の方法により形成される場合、絶縁部110と回路130との間にシード層を介在させることができる。シード層は、パラジウム触媒を用いた無電解メッキにより形成してもよい。
絶縁部110の上面に形成された回路130を第1回路131、絶縁部110の下面に形成された回路130を第2回路132という。第1回路131と第2回路132との厚さは同じであってもよい。
第1絶縁層140は、絶縁部110の上下面に形成される絶縁層である。第1絶縁層140の厚さは、回路130の厚さ以下であってもよい。例えば、第1絶縁層140の厚さは、回路130の厚さと同じであることができる。
第1絶縁層140は、樹脂材であることができ、第1絶縁層140を形成する樹脂は、エポキシ樹脂等の熱硬化性樹脂、ポリイミド等の熱可塑性樹脂を含むことができる。
第1絶縁層140は、繊維補強材を含有しなくてもよい。繊維補強材を含有した絶縁層の場合、絶縁部110とデラミネーション(delamination)が起こることがある。よって、第1絶縁層140は、繊維補強材を含有していないABFまたはRCF(Resin Coated Film)であることができる。
または、上述した理由から、第1絶縁層140に含有された繊維補強材の含有率が低くてもよい。
また、上述したように、第1絶縁層140の厚さは、回路130の厚さと同じであることができる。この場合、具体的に、第1絶縁層140のうち絶縁部110の上面に形成された上部絶縁層141の厚さは、第1回路131の厚さと同じであり、絶縁部110の下面に形成された下部絶縁層142の厚さは、第2回路132の厚さと同じであることができる。
したがって、第1絶縁層140の高さは、回路130の高さを超えず、回路130の高さと同じであり、第1絶縁層140の表面と回路130の表面とは、同一平面上に位置することができる。
この場合、第1絶縁層140は、絶縁部110の上下面に対して同じ厚さ及び高さに形成されるので、プリント回路基板は上下対称をなすことになり、歪みの制御が容易となる。
但し、プリント回路基板が上下非対称であると、プリント回路基板は、上にまたは下に反りやすくなり、歪みの制御が困難となる。しかし、本発明によれば、プリント回路基板が上下対称をなすので、歪みの問題が緩和される。
一方、貫通ホール111と電子部品120との間に形成される絶縁材は、第1絶縁層140、特に上部絶縁層141であることができる。すなわち、上部絶縁層141の一部は貫通ホール111と電子部品120との間で流動することができる。この場合、貫通ホール111と電子部品120との間に形成される絶縁材は、上部絶縁層141と一体をなす構造となる。
第2絶縁層150は、第1絶縁層140上に形成される。第2絶縁層150は、絶縁部110を基準にして上下の全てに形成される。すなわち、第2絶縁層150は、絶縁部110の上面に形成された第1絶縁層140の上にも形成され、絶縁部110の下面に形成された第1絶縁層140の上にも形成される。
絶縁部110の上下に形成された第2絶縁層150の厚さは互いに同じである。絶縁部110の上下に形成された第2絶縁層150の厚さが同じであると、プリント回路基板が上下対称をなすので、歪みの問題が緩和される。
第2絶縁層150は、繊維補強材が含有された樹脂材であることができる。第2絶縁層150をなす樹脂材の樹脂は、エポキシ樹脂等の熱硬化性樹脂、ポリイミド等の熱可塑性樹脂を含むことができる。
また、図1に示すように、繊維補強材は、ガラス繊維151であることができる。この繊維補強材は、プリント回路基板の剛性を高める。
上記第1絶縁層140の組成と上記第2絶縁層150の組成とは互いに異なってもよい。ここで、「組成が異なる」とは、絶縁層をなす樹脂の種類が異なるか、樹脂に含有された補強材の種類が異なるか、または上記補強材の含有率が異なることを意味する。
ここで、「含有率」とは、絶縁層の単位体積当たりに含有されている補強材の量を意味することができ、絶縁層の断面上で見える補強材の面積として理解してもよい。
例えば、第1絶縁層140は繊維補強材を含有せず、無機フィラー補強材を含有する一方、第2絶縁層150は繊維補強材を含有することができる。
また、上記第2絶縁層150の熱膨脹係数は、上記第1絶縁層140の熱膨脹係数より小さいことができる。特に、第1絶縁層140は繊維補強材を含有せず、第2絶縁層150は繊維補強材を含有した場合、繊維補強材がガラス繊維であるとガラス繊維の熱膨脹係数が樹脂の熱膨脹係数より小さいので、ガラス繊維の含有率により絶縁層の熱膨脹係数が決定できる。
第2絶縁層150の厚さは、上記第1絶縁層140の厚さよりも大きいことができる。また、第1絶縁層140及び第2絶縁層150は、絶縁部110を基準にして上下対称に形成されることにより、歪みを制御することができる。
一方、第2絶縁層150上には、金属パターンを形成することができる。金属パターンは、第1回路131または第2回路132に電気的に接続することができる。金属パターンと回路130とを接続させるビアが第2絶縁層150を貫通して形成されることができる。
プリント回路基板の製造方法
図2から図6は、本発明の一実施例に係るプリント回路基板の製造方法を示す図である。
図2から図6は、本発明の一実施例に係るプリント回路基板の製造方法を示す図である。
図2から図6を参照すると、本発明の一実施例に係るプリント回路基板の製造方法は、絶縁部110の上下面に回路130を形成するステップと、上記絶縁部110に貫通ホール111を形成するステップと、上記貫通ホール111内に電子部品120を配置するステップと、上記絶縁部110の上下面に第1絶縁層140を形成するステップと、上記第1絶縁層140上に第2絶縁層150を形成するステップと、を含むことができる。
絶縁部110の上下面に回路130を形成するステップは、絶縁部110の上面に第1回路131を、絶縁部110の下面に第2回路132を形成するステップである。第1回路131と第2回路132との厚さは、互いに同じであることができる。
第1回路131と第2回路132とは、銅(Cu)、銀(Ag)、パラジウム(Pd)、アルミニウム(Al)、ニッケル(Ni)、チタン(Ti)、金(Au)、白金(Pt)で形成することができる。
また、第1回路131と第2回路132とは、アディティブ(additive)法、サブトラックティブ(subtractive)法、セミアディティブ(Semi additive)法、テンティング(Tenting)法、MSAP(Modified Semi Additive Process)等の方法により形成できるが、これらに限定されない。
絶縁部110に貫通ホール111を形成するステップは、CO2レーザ等のレーザドリルまたはビット等の機械的ドリルを用いて絶縁部110に貫通ホール111を形成するステップである。貫通ホール111は、六面体形状を有することができ、絶縁部110の一面から他面まで完全に貫通することができる。
図2及び図3を参照すると、貫通ホール111内に電子部品120を配置するステップは、上記絶縁部110の下部に接着部材Tを付着するステップと、上記貫通ホール111から露出した上記接着部材T上に上記電子部品120を付着するステップと、を含むことができる。
図2を参照すると、テープのような接着部材Tは、絶縁部110の下部に付着される。接着部材Tを絶縁部110の下面に付着させることができ、第2回路132の屈曲に沿って付着させることができる。
接着部材Tは、貫通ホール111により露出される。
図3を参照すると、電子部品120は、露出された接着部材Tに付着される。接着部材Tは、電子部品120を一時的に固定する役割を担う。すなわち、電子部品120は、接着部材Tにより貫通ホール111内に安定的に位置することができる。
絶縁部110の上下面に第1絶縁層140を形成するステップは、絶縁部110の上面に上部絶縁層141を形成し、絶縁部110の下面に下部絶縁層142を形成するステップである。
図4を参照すると、第1絶縁層140の上部絶縁層141は、絶縁部110の上面に形成され、上部絶縁層141の厚さは、第1回路131の厚さと同じであることができる。よって、上部絶縁層141の上面は、第1回路131の上面と同一平面上に位置することができる。
上部絶縁層141は、絶縁部110の上面に形成されながら、上部絶縁層141の一部が貫通ホール111と電子部品120との間に移動し、貫通ホール111と電子部品120との間の空間を充填することになる。これにより、電子部品120は、貫通ホール111内に完全に固定されることができる。
図5を参照すると、接着部材Tは、プリント回路基板から除去される。接着部材Tが除去された後に、第1絶縁層140の下部絶縁層142が絶縁部110の下面に形成される。下部絶縁層142の厚さは、第2回路132の厚さと同じであることができる。
接着部材Tが除去されても、電子部品120は上部絶縁層141により貫通ホール111内に固定できるので、下部絶縁層142を安定的に絶縁部110の下面に形成することができる。
一方、第1絶縁層140は、繊維補強材を含まない樹脂材であってもよい。但し、第1絶縁層140は、無機フィラー補強材を含むことができる。
図6を参照すると、第2絶縁層150は、第1絶縁層140の上に形成される。第2絶縁層150は、ガラス繊維151等の繊維補強材を含有する樹脂材であることができる。この場合、第2絶縁層150に含有された繊維補強材の含有率は、第1絶縁層140に含有された繊維補強材の含有率より大きいことができる。
上記第1絶縁層140の組成と上記第2絶縁層150の組成とは互いに異なってもよい。例えば、第1絶縁層140は繊維補強材を含有せず、無機フィラー補強材を含有する一方、第2絶縁層150は繊維補強材を含有することができる。
また、上記第2絶縁層150の熱膨脹係数は、上記第1絶縁層140の熱膨脹係数より小さいことができる。特に、第1絶縁層140は繊維補強材を含有せず、第2絶縁層150は繊維補強材を含有する場合、繊維補強材がガラス繊維であると、ガラス繊維の熱膨脹係数が樹脂の熱膨脹係数より小さいので、ガラス繊維の含有率により絶縁層の熱膨脹係数が決定できる。
一方、図面には図示されていないが、第2絶縁層150を形成するステップの後に、第2絶縁層150の上に金属パターンを形成するステップと、第2絶縁層150を貫通するビアを形成するステップとをさらに含むことができる。
以上、本発明の一実施例について説明したが、当該技術分野で通常の知識を有する者であれば特許請求の範囲に記載した本発明の思想から逸脱しない範囲内で、構成要素の付加、変更、削除または追加等により本発明を多様に修正及び変更することができ、これも本発明の範囲内に含まれるといえよう。
110 絶縁部
111 貫通ホール
120 電子部品
121 電極
130 回路
131 第1回路
132 第2回路
140 第1絶縁層
141 上部絶縁層
142 下部絶縁層
150 第2絶縁層
151 ガラス繊維
T 接着部材
111 貫通ホール
120 電子部品
121 電極
130 回路
131 第1回路
132 第2回路
140 第1絶縁層
141 上部絶縁層
142 下部絶縁層
150 第2絶縁層
151 ガラス繊維
T 接着部材
Claims (10)
- 貫通ホールが形成された絶縁部と、
前記貫通ホール内に配置された電子部品と、
前記絶縁部上に形成された回路と、
前記絶縁部上に形成された第1絶縁層と、
前記第1絶縁層上に形成される第2絶縁層と、を含み、
前記第1絶縁層の組成と前記第2絶縁層の組成とは互いに異なり、
前記第1絶縁層の厚さは、前記第2絶縁層の厚さより小さいプリント回路基板。 - 前記第1絶縁層の熱膨脹係数は、前記第2絶縁層の熱膨脹係数より大きい請求項1に記載のプリント回路基板。
- 前記電子部品は、前記貫通ホールの内壁から離隔して配置される請求項1または請求項2に記載のプリント回路基板。
- 前記電子部品と前記貫通ホールとの間には絶縁材が介在され、
前記絶縁材は、前記第1絶縁層と一体に形成される請求項3に記載のプリント回路基板。 - 前記第2絶縁層は、繊維補強材が含まれた樹脂材である請求項1から請求項4のいずれか1項に記載のプリント回路基板。
- 前記第2絶縁層の繊維補強材の含有率は、前記第1絶縁層の繊維補強材の含有率より大きい請求項5に記載のプリント回路基板。
- 前記繊維補強材は、ガラス繊維である請求項5または請求項6に記載のプリント回路基板。
- 前記第1絶縁層及び前記第2絶縁層は、前記絶縁部を基準にして上下対称に形成される請求項1から請求項7のいずれか1項に記載のプリント回路基板。
- 前記第1絶縁層の厚さは、前記回路の厚さ以下である請求項1から請求項8のいずれか1項に記載のプリント回路基板。
- 前記電子部品の上面は、前記回路の上面以下に位置する請求項1から請求項9のいずれか1項に記載のプリント回路基板。
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