JP2017092344A - ウエーハの加工方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】デバイス領域が狭まることを回避し、生産性を向上すること。【解決手段】ウエーハ1の表面側を吸着テーブル100に保持し、デバイス領域1aに対応するウエーハ1の裏面を、粗研削ホイール13を用いてリング状補強部1bを残してウエーハ1を凹状に加工する粗研削ステップS1と、粗研削ステップS1を実施した後に、粗研削ステップS1における砥石位置よりも内周側の、余裕幅d2分ホイール基台23aの半径方向内側に仕上げ研削ホイール23を位置付け、仕上げ厚みt1までウエーハ1をさらに凹状に研削する仕上げ研削ステップS2と、仕上げ研削ステップS2を実施した後に、仕上げ研削ホイール23を仕上げ研削位置から余裕幅d2分ホイール基台23aの半径方向外側に水平移動し、リング状補強部1bに沿って上昇させ、余裕幅d2分の残存領域1cを除去する残存領域除去ステップS3と、を備える。【選択図】図1

Description

本発明は、ウエーハの加工方法に関する。
近年、電子機器は、小型化・薄型化が顕著である。これに伴って、半導体チップ(以下、単に「チップ」という)も小型化・薄型化したものが求められる。このため、半導体ウエーハ(以下、単に「ウエーハ」という)も薄型化する必要がある。しかし、ウエーハを薄型化すると、ウエーハを薄型化した後の工程において、ウエーハの取り扱いが困難になったり、ウエーハが割れやすくなったりする。
そこで、チップが形成された円形のデバイス領域のみを裏面側から研削して薄型化し、その周囲の外周余剰領域を肉厚のリング状補強部として残存させる技術が知られている(例えば、特許文献1参照)。この技術は、外周余剰領域をリング状補強部として残存させることにより、ウエーハを薄型化した後の工程においても、ウエーハの取り扱いを容易にし、ウエーハを割れにくくする。なお、本明細書において、このようにリング状補強部を残存させたウエーハを「たいこウエーハ」という。
このようなたいこウエーハについて、デバイス領域やチップに個片化した後に生じる破損などの問題の発生を回避し、生産性を向上するために、粗研削である程度研削した後に、細かい砥粒の砥石で仕上げ研削を行う技術が知られている(例えば、特許文献2参照)。この技術では、仕上げ研削時に、研削ホイールがリング状補強部に接触してリング状補強部を破損しないように、リング状補強部の内周から内側に余裕幅を持って研削ホイールの仕上げ砥石を位置付けて仕上げ研削を行う。
特開2004−281551号公報 特開2007−173487号公報
ところが、上記のように粗研削後に仕上げ研削を行うと、たいこウエーハには、リング状補強部の内周から内側に余裕幅分の残存領域が生じてしまう。たいこウエーハに生じた残存領域には研削ホイールの仕上げ砥石が接触せず研削されないため、たいこウエーハは、仕上げ厚みまで薄型化することができない。これにより、たいこウエーハの残存領域が生じた部分は、デバイスとして使用することができない。このため、たいこウエーハは、デバイス領域が狭まるおそれがある。
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、その目的は、デバイス領域が狭まることを回避し、生産性を向上したウエーハの加工方法を提供することにある。
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明のウエーハの加工方法は、表面に複数のデバイスが形成されたデバイス領域と、該デバイス領域を囲繞する外周余剰領域に対応する裏面にリング状のリング状補強部を形成するウエーハの加工方法であって、ウエーハの表面側を吸着テーブルに保持し、前記デバイス領域に対応するウエーハの裏面を、粗研削ホイールを用いて該リング状補強部を残してウエーハを凹状に加工する粗研削ステップと、該粗研削ステップを実施した後に、該粗研削ステップにおける砥石位置よりも内周側の、余裕幅分内側に仕上げ研削ホイールを位置付け、仕上げ厚みまでウエーハをさらに凹状に研削する仕上げ研削ステップと、該仕上げ研削ステップを実施した後に、該仕上げ研削ホイールを該仕上げ研削位置から該余裕幅分外周側に水平移動し、該リング状補強部に沿って上昇させ、該余裕幅分の残存領域を除去する残存領域除去ステップと、を備えることを特徴とする。
また、ウエーハの加工方法において、該粗研削ホイール及び該仕上げ研削ホイールは、リング状のホイール基台と、該ホイール基台の自由端部に環状に固定された複数の研削砥石とから構成され、各研削砥石は、矩形形状のセグメント砥石であり、外周端面が半径方向内側から外側に、及び、該自由端部側から下方に向かって広がるように傾斜した形状に形成されている、ことが好ましい。
本願発明のウエーハの加工方法によれば、デバイス領域が狭まることを回避し、生産性を向上することができる。
図1は、実施形態に係るウエーハの加工方法のフロー図である。 図2は、実施形態に係るウエーハの加工方法の研削手段周りの構成例を示す斜視図である。 図3は、実施形態に係るウエーハの加工方法の粗研削ステップにおける研削手段周りの構成例を示す断面図である。 図4は、実施形態に係るウエーハの加工方法の仕上げ研削ステップにおける研削手段周りの構成例を示す断面図である。 図5は、実施形態に係るウエーハの加工方法の残存領域除去ステップにおける研削手段周りの構成例を示す断面図である。
以下、本発明に係る実施形態につき、図面を参照しつつ詳細に説明する。以下の実施形態に記載した内容により本発明が限定されるものではない。また、以下に記載した構成要素には、当業者が容易に想定できるもの、実質的に同一のものが含まれる。さらに、以下に記載した構成は適宜組み合わせることが可能である。また、本発明の要旨を逸脱しない範囲で構成の種々の省略、置換または変更を行うことができる。
図1は、実施形態に係るウエーハの加工方法のフロー図である。図2は、実施形態に係るウエーハの加工方法の研削手段周りの構成例を示す斜視図である。図3は、実施形態に係るウエーハの加工方法の粗研削ステップにおける研削手段周りの構成例を示す断面図である。図4は、実施形態に係るウエーハの加工方法の仕上げ研削ステップにおける研削手段周りの構成例を示す断面図である。図5は、実施形態に係るウエーハの加工方法の残存領域除去ステップにおける研削手段周りの構成例を示す断面図である。
本実施形態に係るウエーハの加工方法は、粗研削用の第1研削手段10と仕上げ研削用の第2研削手段20とによりウエーハ1を仕上げ厚みt1まで研削する。ウエーハの加工方法は、図1に示すように、粗研削ステップS1、仕上げ研削ステップS2、残存領域除去ステップS3、の順で処理を実行する。本実施形態では、ウエーハの加工方法は、粗研削ステップS1で、ウエーハ1の外周側にリング状補強部1bを残して仕上げ厚みt1より厚い粗研削厚みt2まで研削し、仕上げ研削ステップS2で、残存領域1cを残して仕上げ厚みt1まで研削し、残存領域除去ステップS3で、残存領域1cを除去する。
まず、粗研削ステップS1に先立って、半導体デバイスが形成されたウエーハ1の表面に保護テープ2を貼る。具体的に、保護テープ2は、例えば70〜200μm程度の厚みのポリオレフィンなどの基材フィルムの片面に、例えば5〜20μm程度の粘着材を塗布したものである。保護テープ2は、粘着材を塗布した面とウエーハ1の表面とが相対するように貼る。保護テープ2は、後工程によっては耐熱性のものとしてもよい。そして、保護テープ2を貼ったウエーハ1を、図示しない供給・回収カセットに収納する。そして、図示しない移送機構によって、供給・回収カセットから1枚のウエーハ1を取り出して表裏反転させる。そして、ウエーハ1を、裏面側を上に向けた状態で図示しない研削装置の吸着テーブル100上に載置する。そして、ウエーハ1が載置された吸着テーブル100の図示しない真空装置を作動させることで、裏面側を上向きとしてウエーハ1の表面を吸着テーブル100上に吸着保持する。
つぎに、粗研削ステップS1を実行する。粗研削ステップS1では、研削装置の粗研削用の第1研削手段10を使用する。
研削装置は、図2に示すように、ウエーハ1を吸着保持する吸着テーブル100を備える。吸着テーブル100は、板厚方向に貫通する多数の細かな吸引孔を有する多孔質の材料で形成されている。吸着テーブル100は、真空チャック方式でウエーハ1を吸着保持する。吸着テーブル100は、例えば円盤状で回転自在なターンテーブルに設けられて位置変位可能である。吸着テーブル100は、回転駆動機構によって、一方向または両方向に独自に回転可能に設けられている。本実施形態において、研削装置は、粗研削用の第1研削手段10と、仕上げ研削用の第2研削手段20とを備える。
図3に示す第1研削手段10は、吸着テーブル100に対向している。第1研削手段10は、図示しない支持機構によって上下方向に昇降自在に取り付けられている。第1の研削手段10は、研削装置の所定の粗研削位置において吸着テーブル100に対向して、図示しない支持機構によって上下方向に昇降自在に取り付けられ、ボールネジ、ボールナットおよびモータ等からなる図示しない第1の送り駆動機構によって昇降されることで研削送り可能とされている。第1研削手段10は、円筒状のスピンドル11の回転軸にホイールマウント12を介して、粗研削ホイール13が取り付けられている。粗研削ホイール13は、リング状のホイール基台13aと、ホイール基台13aの自由端部に環状に固定された複数のチップ状の研削砥石13bとを有する。粗研削ホイール13は、ホイール基台13aを介してホイールマウント12に取り付けられている。研削砥石13bは、ホイール基台13aを介してホイールマウント12の下面に固着されている。研削砥石13bは、スピンドル11の回転軸と平行な断面形状が矩形形状のセグメント砥石である。研削砥石13bは、例えば砥粒径#32〜600程度のレジンまたはビトリファイドボンド砥粒で構成された粗研削用の砥石である。研削砥石13bは、外周端面が、ホイール基台13aの半径方向内側から外側に、及び、ホイール基台13aの自由端部側から下方に向かって、傾斜した形状に形成されている。最もホイール基台13aの半径方向外側に配置された研削砥石13bは、外周端面が、ホイール基台13aの半径方向外側に突出している。ホイール基台13aに環状に固定された複数の研削砥石13bによって形成される外周端面が、ホイール基台13aの半径方向外側に、及び、ホイール基台13aの自由端部側から下方に向かって広がるように、各研削砥石13bは、配置されている。このため、研削砥石13bの回転直径は、下端において最大となる。研削砥石13bの回転直径は、デバイス領域1aに対応するウエーハ1の裏面を全面に亘って研削するために、ウエーハ1の直径のほぼ半分とされている。モータ14は、スピンドル11の回転軸を回転させる。
粗研削ステップS1は、ウエーハ1の表面側を吸着テーブル100に保持し、図3に示すように、デバイス領域1aに対応するウエーハ1の裏面を、粗研削ホイール13を用いてリング状補強部1bを残して凹状に研削するステップである。より詳しくは、研削砥石13bを、デバイス領域1aに対応するウエーハ1の裏面に位置付ける。このとき、最もホイール基台13aの半径方向外側に配置された研削砥石13bの砥石位置は、ウエーハ1の外周よりもd1(補強リング幅)だけ半径方向内側に位置付ける。そして、粗研削ホイール13を回転させながら第1送り駆動機構によって下方へ加工送りして、研削砥石13bをウエーハ1の裏面に押圧する。吸着テーブル100も回転駆動されることで、吸着保持されたウエーハ1も回転する。そして、デバイス領域1aに対応するウエーハ1の厚みが粗研削厚みt2となるまで、第1研削手段10を下方へ加工送りして、デバイス領域1aに対応するウエーハ1の裏面を粗研削する。デバイス領域1aに対応するウエーハ1の厚みが粗研削厚みt2となると、第1研削手段10の下方への加工送りを停止する。このようにして、粗研削ステップS1では、ウエーハ1が、デバイス領域1aを囲繞する外周余剰領域に対応する裏面にリング状のリング状補強部1bを残して粗研削される。
粗研削ステップS1を実行した後、仕上げ研削ステップS2を実行する。仕上げ研削ステップS2では、研削装置の仕上げ研削用の第2研削手段20を使用する。
図4、図5に示す第2研削手段20は、第1研削手段10と同様に構成されている。第2研削手段20の各構成要素には、第1研削手段10の各構成要素と対応する符号を付し詳細な説明を省略する。第2研削手段20は、円筒状のスピンドル21の回転軸にホイールマウント22を介して、仕上げ研削ホイール23が取り付けられている。仕上げ研削ホイール23は、リング状のホイール基台23aと、ホイール基台23aの自由端部に環状に固定された複数のチップ状の研削砥石23bとを有する。研削砥石23bは、研削砥石13bよりも砥粒径が小さい砥粒で構成された仕上げ研削用の砥石である。
仕上げ研削ステップS2は、図4に示すように、粗研削ステップS1における砥石位置よりも内周側の、余裕幅d2分ホイール基台23aの半径方向内側に仕上げ研削ホイール23を位置付け、デバイス領域1aに対応するウエーハ1の裏面を、仕上げ厚みt1までさらに凹状に研削するステップである。より詳しくは、粗研削ステップS1が終了したウエーハ1を吸着保持した吸着テーブル100を、ターンテーブルの回転で第2研削手段20の直下に移動する。そして、最もホイール基台23aの半径方向外側に配置された研削砥石23bの砥石位置を、粗研削ステップS1の砥石位置よりも余裕幅d2分半径方向内側に位置付ける。そして、仕上げ研削ホイール23を回転させながら図示しない第2送り駆動機構によって下方へ加工送りして、研削砥石23bをウエーハ1の裏面に押圧する。吸着テーブル100も回転駆動されることで、吸着保持されたウエーハ1も回転する。そして、デバイス領域1aに対応するウエーハ1の厚みが仕上げ厚さt1となるまで、第2研削手段20を下方へ加工送りして、デバイス領域1aに対応するウエーハ1の裏面を仕上げ研削する。デバイス領域1aに対応するウエーハ1の厚みが仕上げ厚さt1となると、第2研削手段20の下方への加工送りを停止する。このようにして、仕上げ研削ステップS2では、ウエーハ1が、デバイス領域1aに対応するウエーハ1の厚みが仕上げ厚さt1となるまで、さらに凹状に仕上げ研削される。仕上げ研削ステップS2によって、ウエーハ1には、リング状補強部1bの下部に、余裕幅d2分ホイール基台23aの半径方向内側に残存領域1cが形成される。このように、仕上げ研削ステップS2を実行した後のウエーハ1は、粗研削ステップS1を実行した後のウエーハ1よりも、面粗さが小さく、より平坦になっている。
仕上げ研削ステップS2を実行した後、残存領域除去ステップS3を実行する。残存領域除去ステップS3では、引き続き仕上げ研削用の第2研削手段20を使用する。
残存領域除去ステップS3は、図5に示すように、仕上げ研削ステップS2における仕上げ研削位置から余裕幅d2分ホイール基台23aの半径方向外側に仕上げ研削ホイール23を水平移動した状態から、仕上げ研削ホイール23をリング状補強部1bに沿って上昇させ、余裕幅d2分の残存領域1cを除去するステップである。より詳しくは、最もホイール基台23aの半径方向外側に配置された研削砥石23bの砥石位置を、仕上げ研削ステップS2の砥石位置よりも余裕幅d2分ホイール基台23aの半径方向外側に位置付ける。そして、仕上げ研削ホイール23を回転させながら第2送り駆動機構によって上方へ加工送りして、研削砥石23bを残存領域1cの内周面に押圧する。吸着テーブル100も回転駆動されることで、吸着保持されたウエーハ1も回転する。そして、研削砥石23bの下端がウエーハ1の上端より上方に抜けるまで、第2研削手段20を上方へ加工送りして、残存領域1cを仕上げ研削して除去する。研削砥石23bの下端がウエーハ1の上端まで達したら、第2研削手段20の上方への加工送りを停止する。このようにして、残存領域除去ステップS3では、ウエーハ1が、仕上げ研削されて、残存領域1cが除去される。
このような粗研削ステップS1、仕上げ研削ステップS2、残存領域除去ステップS3を実行することにより、表面に複数のデバイスが形成されたデバイス領域1aと、このデバイス領域1aを囲繞する外周余剰領域に対応する裏面にリング状補強部1bとを備えるたいこウエーハが形成される。
以上のように、本実施形態に係るウエーハの加工方法によれば、仕上げ研削ステップS2において、リング状補強部1bの下部に、余裕幅d2分ホイール基台23aの半径方向内側に残存領域1cが形成される。残存領域除去ステップS3において、最もホイール基台23aの半径方向外側に配置された研削砥石23bの砥石位置を、仕上げ研削ステップS2の砥石位置よりも余裕幅d2分ホイール基台23aの半径方向外側に位置付けて、第2研削手段20を上方へ加工送りする。このようにして、残存領域除去ステップS3において、仕上げ研削ステップS2で形成された残存領域1cを除去することができる。このウエーハの加工方法によって加工されたウエーハ1は、デバイス領域1aに対応する部分の厚みが仕上げ厚さt1となり、デバイス領域1aを囲繞する外周余剰領域に対応する裏面にリング状補強部1bが形成される。つまり、ウエーハ1には、デバイス領域1aに対応する部分に仕上げ厚さt1より厚くなる部分が形成されない。このため、ウエーハ1は、デバイス領域1aの全面をデバイスとして使用することができる。このように、このウエーハの加工方法によれば、デバイス領域が狭まることを回避することができる。これにより、このウエーハの加工方法は、生産性を向上することができる。
しかも、残存領域除去ステップS3では、仕上げ研削ステップS2に引き続き仕上げ研削用の第2研削手段20を使用することができる。このため、仕上げ研削ステップS2と残存領域除去ステップS3との間で、例えば吸着テーブル100を、ターンテーブルの回転で第2研削手段20と異なる残存領域除去ステップS3用の研削手段の直下に移動するといった工程が不要になる。さらにまた、残存領域除去ステップS3は、仕上げ研削ステップS2後に、仕上げ研削ステップS2における仕上げ研削位置から仕上げ研削ホイール23を水平移動した状態から、仕上げ研削ホイール23をリング状補強部1bに沿って上昇させることで、実行することができる。このため、残存領域除去ステップS3は、他の加工装置を必要とせずに、既存の研削装置で実行することができる。このように、ウエーハの加工方法は、仕上げ研削ステップS2後に残存領域除去ステップS3を追加することを、生産性を大きく損なわずに実現可能である。
なお、本発明は、上記実施形態に限定されるものではない。すなわち、本発明の骨子を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。例えば、研削砥石13b及び研削砥石23bは、外周端面が、ホイール基台13aまたはホイール基台23aの半径方向内側から外側に、及び、ホイール基台13aまたはホイール基台23aの自由端部側から下方に向かって、傾斜した形状に形成されているものとして説明したが、この形状に限定されない。例えば、研削砥石13b及び研削砥石23bは、外周端面が、ホイール基台13aまたはホイール基台23aの自由端部側から下方に向かって、スピンドル11またはスピンドル21の回転軸と平行に延びて形成されていてもよい。例えば、研削砥石13bは、外周端面が、ホイール基台13aの自由端部側から下方に向かって、スピンドル11の回転軸と平行に延びて形成され、研削砥石23bは、外周端面が、ホイール基台23aの半径方向内側から外側に、及び、ホイール基台23aの自由端部側から下方に向かって、傾斜した形状に形成されていてもよい。
1 ウエーハ
1a デバイス領域
1b リング状補強部
1c 残存領域
10 第1研削手段
13 粗研削ホイール
13a ホイール基台
13b 研削砥石
20 第2研削手段
23 仕上げ研削ホイール
23a ホイール基台
23b 研削砥石
100 吸着テーブル
d1 仕上げ幅
d2 余裕幅
t1 仕上げ厚み
t2 粗研削厚み

Claims (2)

  1. 表面に複数のデバイスが形成されたデバイス領域と、該デバイス領域を囲繞する外周余剰領域に対応する裏面にリング状のリング状補強部を形成するウエーハの加工方法であって、
    ウエーハの表面側を吸着テーブルに保持し、前記デバイス領域に対応するウエーハの裏面を、粗研削ホイールを用いて該リング状補強部を残してウエーハを凹状に加工する粗研削ステップと、
    該粗研削ステップを実施した後に、該粗研削ステップにおける砥石位置よりも内周側の、余裕幅分内側に仕上げ研削ホイールを位置付け、仕上げ厚みまでウエーハをさらに凹状に研削する仕上げ研削ステップと、
    該仕上げ研削ステップを実施した後に、該仕上げ研削ホイールを該仕上げ研削位置から該余裕幅分外周側に水平移動し、該リング状補強部に沿って上昇させ、該余裕幅分の残存領域を除去する残存領域除去ステップと、
    を備えることを特徴とするウエーハの加工方法。
  2. 該粗研削ホイール及び該仕上げ研削ホイールは、リング状のホイール基台と、該ホイール基台の自由端部に環状に固定された複数の研削砥石とから構成され、
    各研削砥石は、矩形形状のセグメント砥石であり、外周端面が半径方向内側から外側に、及び、該自由端部側から下方に向かって広がるように傾斜した形状に形成されている、
    請求項1に記載のウエーハの加工方法。
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