JP2017064219A - 眼底撮影装置 - Google Patents

Abstract

【課題】眼底の広範囲において断層画像を良好に撮影できる眼底撮影装置を提供すること。【解決手段】眼底撮影装置１００は、光源２１からの測定光を眼底Ｅｒ上で走査する光スキャナ２７を有し、参照光と，眼底Ｅｒで反射された測定光と，の干渉を検出器３１で検出するＯＣＴ光学系２０と、被検眼Ｅと光スキャナ２７との間に配置されるミラー系を介して、被検眼Ｅの前眼部に光スキャナ２７の動作に伴って旋回される旋回点ｒ２を形成する対物ミラー系２と、を有する。また、検出器３１からの信号を処理することによって、眼底ＥｒのＯＣＴデータが、制御部７０によって得られる。更に、光スキャナ２７の各走査位置での光スキャナ２７から被検眼Ｅまでの測定光の距離による測定光と参照光との光路長差の変化が、制御部７０によって補正される。【選択図】 図１

Description

本発明は、眼底撮影装置に関する。

従来より、眼底撮影装置として、被検眼の眼底に対し、光スキャナを用いて光を走査することによって、眼底の画像を得る装置が知られている。例えば、眼底上で走査される測定光と参照光との光干渉の原理に基づいて眼底の断層画像を得る光断層干渉計（Optical Coherence Tomography:OCT）が知られている（特許文献１参照）。

また、眼底撮影装置の一種である走査型レーザー検眼鏡（ＳＬＯ：Ｓｃａｎｎｉｎｇ ｌａｓｅｒ ｏｐｈｔｈａｌｍｏｓｃｏｐｅ）は、眼底上での走査の結果として、眼底の正面画像を得る。走査型レーザー検眼鏡においては、眼底の広範囲を撮影することが試みられている（例えば、特許文献２参照）。

特開２０１４−０５７８９９号公報 特開２０１４−１３８９０４号公報

本件発明者は、光断層干渉計（Optical Coherence Tomography:OCT）によって、眼底の広範囲を撮影することを試みた。その結果、光断層干渉計で眼底の広範囲を撮影する場合、光スキャナの走査位置の変化に伴って、測定光と参照光との光路長差に変化が生じやすいことが発見された。

本開示は、従来技術の問題点の少なくとも一つに鑑み、眼底の広範囲においてＯＣＴデータを良好に得ることができる眼底撮影装置を提供することを技術課題とする。

本開示の第１態様に係る眼底撮影装置は、光源からの測定光を被検眼の眼底上で走査する光スキャナを有し、参照光と，前記眼底で反射された前記測定光と，の干渉を検出器で検出するＯＣＴ光学系と、前記被検眼と前記光スキャナとの間に配置されるミラー系を介して、被検眼の前眼部に前記光スキャナの動作に伴って旋回される旋回点を形成する対物ミラー系と、前記検出器からの信号を処理することによって、眼底のＯＣＴデータを得る取得手段と、前記光スキャナの各走査位置において前記測定光の反射位置が異なることによって生じる前記測定光と前記参照光との光路長差の変化を補正する補正手段と、を有する。

本開示によれば、眼底の広範囲においてＯＣＴデータを良好に得ることができる。

本実施形態の眼底撮影装置における光学系の概略構成を示す図である。 第１実施例に係る対物光学系を示した図である。 第１実施例に係る眼底撮影装置の電気的構成を示したブロック図である。 第２実施例に係る対物光学系を示した図である。 第３実施例に係る対物光学系を示した図である。

以下、本開示における典型的な実施形態を、図面を参照しつつ説明する。

まず、図１および図２を参照して、本開示に係る眼底撮影装置（以下、「撮影装置」と省略する）の概要を説明する。撮影装置１００は、被検眼の眼底上で光を走査することによって、眼底の画像を得る。眼底の画像は、正面画像であってもよいし、断層画像であってもよい。本開示の撮影装置１００では、眼底における光の走査範囲が広範囲であってもよい。例えば、全角１００°以上の範囲で光が走査され、その走査範囲内の画像が得られてもよい。まず、図１，図２，図４，図５を参照して、本実施形態に係る光学系の実施例を説明する。

＜第１実施例＞
図１を参照して、第１実施例における撮影装置１００を説明する。第１実施例における撮影装置１００は、図１に示す走査光学系１と、図２に示す対物光学系２と、を有する。走査光学系１は、ＳＬＯ光学系１０と、ＯＣＴ光学系２０と、ダイクロイックミラー４０（第１実施例における光路結合部材）と、を含む。

＜ＳＬＯ光学系＞
まず、ＳＬＯ光学系１０について説明する。ＳＬＯ光学系１０は、主に、光源から発せられた光（照明光）を眼底上で二次元的に走査する光スキャナ１５と、検出器１８を含み，眼底Ｅｒの共焦点を通過する（照明光の）眼底反射光を検出器に受光させる受光光学系１０ａと、を持つ。また、第１実施例において、ＳＬＯ光学系１０は、ラインスキャンタイプであり、検出器１８にはラインセンサが利用される。この場合、ＳＬＯ光学系１０は、光スキャナ１５と検出器１８と、の他に、光源１１と、コリメートレンズ１２と、円柱レンズ１３と、穴開きミラー１４と、スキャンレンズ１６と、集光レンズ１７と、を有してもよい。このうち、光スキャナ１５と、スキャンレンズ１６と、集光レンズ１７と、ラインセンサ（検出器）１８とは、第１実施例におけるＳＬＯ光学系１０の受光光学系１０ａを構成する。

本実施形態において、光源１１は、例えば、赤外域の波長の光（例えば、レーザー光）を発する。光源１１としては、例えば、ＬＥＤ光源、およびＳＬＤ光源、等が用いられてもよい。光源１１からの光は、コリメートレンズ１２でコリメートされた後、円柱レンズ１３によって集光される。その後、穴開きミラー１４の開口を通過して光スキャナ１５に導かれる。なお、光源１１から出射される光は、必ずしも赤外光に限られるものではない。例えば、白色光であってもよいし、２色以上の光（例えば、赤、青、緑）などの光が合成された、合成光であってもよい。

第１実施例において、光スキャナ１５には、ガルバノミラーが用いられてもよい。但し、必ずしもこれに限られるものではなく、反射ミラーを動作させる他の光スキャナ（例えば、レゾナントミラー，ポリゴンミラー等）、および、音響光学素子等のいずれかに置き換えられてもよい。光スキャナ１５は、被検眼Ｅの瞳孔と共役な位置に配置される。

光スキャナ１５を経た光は、スキャンレンズ１６によって、走査光学系１の光軸Ｌ１に対して、平行な光線（つまり、テレセントリックな光線）にされる。つまり、第１実施例において、スキャンレンズ１６は、その焦点が光スキャナ１５（光スキャナ１５の旋回点ｒ３）と一致するようにして配置されている。これにより、本実施形態におけるＳＬＯ光学系１０は、物体側テレセントリックとなる。スキャンレンズ１６を通過した光は、ダイクロイックミラー４０を更に通過して、対物光学系２へ入射される。なお、第１実施例においてダイクロイックミラー４０は、ＳＬＯ光学系１０からの光を透過し、ＯＣＴ光学系２０からの光を反射する分光特性を持つ。なお、本実施形態における物体側テレセントリックは、光源１１，２２側から見て、被検眼Ｅ側にテレセントリックな状態を意味する。

ＳＬＯ光学系１０からの光は、対物光学系２によって眼底Ｅｒに導かれることによって、眼底Ｅｒで散乱・反射される。その結果として、眼底反射光として、瞳孔から出射され、投光時と逆の光路を辿る。そして、眼底反射光は、対物光学系２から走査光学系１へ向けて出射されることによって、ダイクロイックミラー４０を通過して、ＳＬＯ光学系１０の受光光学系１０ａへ入射する。受光光学系１０ａにおいて、眼底反射光は、スキャンレンズ１６を通過し、光スキャナ１５で反射されて、穴開きミラー１４へ向かう。その後、穴開きミラー１４で反射された眼底反射光が、集光レンズ１７で集光されて、検出器１８に受光される。本実施形態では、光スキャナ１５による１フレーム分の光走査に基づいて検出器１８から出力される信号に基づいて、眼底の正面画像が形成される。

＜ＯＣＴ光学系＞
次に、ＯＣＴ光学系２０について説明する。ＯＣＴ光学系２０は、例えば、光源２１と、光分割部（図１の例では、カップラ）２３と、光スキャナ２７と、検出器３１と、を有してもよい。ＯＣＴ光学系２０は、更に、スキャンレンズ２９と、参照光学系２５と、を有してもよい。

このようなＯＣＴ光学系２０としては、ＳＳ−ＯＣＴ（Swept Source-OCT）方式、ＳＤ−ＯＣＴ（Spectral domain-OCT）方式等のフーリエドメイン方式が用いられてもよい。ここでは、一例として、ＳＳ−ＯＣＴ（Swept Source-OCT）方式が用いられるものとして説明する。

光源２１は、出射波長を時間的に高速で変化させる波長可変光源（波長走査型光源）である。光源２１は、出射光の波長を変化させる。検出器３１は、例えば、受光素子からなる平衡検出器であってもよい。

ＯＣＴ光学系２０は、光源２１から出射された光をカップラ（スプリッタ）２３によって測定光と参照光に分割する。

ＯＣＴ光学系２０は、測定光を、光スキャナ２７を介して、対物光学系２へ導く。また、参照光を参照光学系２５に導く。光スキャナ２７は、眼底Ｅｒ上でＸＹ方向（横断方向）に測定光を走査させる。光スキャナ２７は、例えば、２つのガルバノミラーであり、その反射角度が図示無き駆動機構によって任意に調整されてもよい。また、ガルバノミラーに代えて、反射ミラーを動作させる他の光スキャナ（例えば、レゾナントミラー，ポリゴンミラー等）、および、音響光学素子等が用いられてもよい。

光スキャナ２７を経た光は、スキャンレンズ２９によって、走査光学系１の光軸に対して、平行な光線（つまり、テレセントリックな光線）にされる。つまり、第１実施例において、スキャンレンズ２９は、その焦点が光スキャナ２７（例えば、Ｘ走査用の光スキャナとＹ走査用の光スキャナとの中間点ｒ４）と一致するようにして配置されている。これにより、本実施形態におけるＯＣＴ光学系２０は、物体側テレセントリックとなる。スキャンレンズ２９を通過した光は、ダイクロイックミラー４０によって反射されることにより、対物光学系２へ入射される。

ＳＬＯ光学系１０からの光と同様、ＯＣＴ光学系２０からの光は、対物光学系２によって眼底Ｅｒに導かれることによって、眼底で散乱・反射される。その結果として、測定光の眼底反射光が、対物光学系２を投光時とは逆に辿って、走査光学系１へ向けて出射される。その結果、測定光の眼底反射光は、ダイクロイックミラー４０で反射されて、ＯＣＴ光学系２０の検出光学系２０ａ（ＯＣＴ光学系２０の受光光学系）へ入射する。即ち、眼底反射光は、スキャンレンズ２９を通過し、光スキャナ２７を経て、カップラ（スプリッタ）２３へ入射される。その後、測定光の反射光は、光結合部（カップラ）２３によって参照光と合波されて干渉する。

参照光学系２５は、眼底Ｅｒでの測定光の反射によって取得される反射光と合成される参照光を生成する。参照光学系２５は、例えば、マイケルソンタイプであってもよいし、マッハツェンダタイプであっても良い。図１において、参照光学系２５は、例えば、反射光学系（例えば、参照ミラー）によって形成され、カップラ２３からの光を反射光学系により反射することにより、参照光を検出器３１へ導く。他の例としては、参照光学系２５は、透過光学系（例えば、光ファイバー）によって形成され、カップラ２３からの光を戻さず透過させることにより検出光学系３１へと導いてもよい。

撮影装置１００は、測定光と参照光との光路長差を調整するためにＯＣＴ光学系２０に配置された光学部材の少なくとも一部を光軸方向に移動させる。例えば、参照光学系２５は、参照光路中の光学部材（例えば、図示無き参照ミラー）を移動させることにより、測定光と参照光との光路長差を調整する構成を有する。例えば、駆動機構２５ａの駆動によって参照ミラーが光軸方向に移動される。光路長差を変更するための構成は、測定光の光路中に配置されてもよい。つまり、測定光の光路長を変更することによって、測定光と参照光との光路長差が調整されてもよい。

測定光と参照光とが合成された干渉信号光は、検出器３１によって受光される。検出器３１は、干渉信号光を検出する。ここで、光源２１により出射波長が変化されると、これに対応する干渉信号光が検出器３１によって受光され、結果的に、スペクトル干渉信号光として検出器３１に受光される。検出器３１から出力されたスペクトル干渉信号に基づいて、眼底上の一点における深さプロファイル（Ａスキャン，または，ＯＣＴデータともいう）が形成される。深さプロファイルは、眼底の深さ方向に関する測定光の反射強度分布である。この深さプロファイル（ＯＣＴデータ）が、並べられることによって、二次元ＯＣＴデータ（例えば、眼底の断層画像、およびＯＣＴアンジオグラフィー等）が形成される。

＜対物光学系＞
次に、図２を参照して、第１実施形態における対物光学系２を説明する。図２の例では、第２ミラー６０は、１枚の回転楕円鏡である。第２ミラー６０は、２つの焦点ｒ１，ｒ２を有する。被検眼Ｅは、このうち一方の焦点ｒ２に配置される。

第１実施例において、第１ミラー５０は、放物面鏡である。放物面鏡は、撮影画角を広角化するための非球面鏡の一例であり、これに限られるものではない。

また、第１実施例では、第１ミラー５０と、第２ミラー６０との他に、補正ミラー系７１，７２が対物光学系２に設けられている。第１実施例において、補正ミラー系７１，７２は、放物面鏡７１と平面鏡７２とによって構成される。つまり、第１ミラー５０である放物面鏡と第２ミラー６０である回転楕円鏡とによって眼底反射光が反射されることによって生じる像面の傾きが、補正ミラー系７１，７２によって補正される。

第１実施例において、放物面鏡７１は、対称軸ｚ１を挟んで対称に形成された凹面を持つ。走査光学系１からの光は、対称軸ｚ１に対して平行に入射される。また、平面鏡７２は、放物面鏡７１の焦点位置ｒ５において、放物面鏡７１と正対して配置されている。このような補正ミラー系７１，７２に対し、走査光学系１からの光が入射すると、放物面鏡７１→平面鏡７２（つまり、放物面鏡の焦点ｒ５）→放物面鏡７１の順で反射され、対称軸ｚ１と平行に出射される。このため、補正ミラー系７１，７２の両側で、光束はテレセントリックになる。また、補正ミラー系７１，７２での反射によって、像面が傾斜される（図２の中間像Ｉｃ２を参照）。この傾斜は、第１ミラー５０と第２ミラー６０とによって生じる像面の傾斜を、打ち消す方向に行われる。なお、図２に示すように、第１ミラー５０と第２ミラー６０とによって生じる傾斜が、非線形なものである場合、補正ミラー系７１，７２は、少なくともこの傾斜の非線形成分を打ち消すことが望ましい。

第１実施例における第１ミラー５０は、放物面鏡７１、および第２ミラー６０に対して凸面を向ける凸面鏡である。つまり、第１ミラー５０は、マイナスのパワーを持つ。第１ミラー５０は、放物面鏡７１に対して偏心して（軸外しで）配置されている。つまり、第１ミラー５０の鏡面の対称軸（つまり、放物面の対象軸）である対称軸ｚ２は、放物面鏡７１の対称軸ｚ１に対し、間隔を開けて平行となっている。このため、第１ミラー５０には、対称軸ｚ２と平行な光線が、放物面鏡７１から照射される。また、第１ミラー５０は、回転楕円鏡である第２ミラー６０が有する２つの焦点ｒ１，ｒ２うち、一方の焦点ｒ１に、第１ミラー５０の焦点を一致させて配置されている。このため、放物面鏡７１から第１ミラー５０のある位置に光が照射された場合、その照射位置と、焦点ｒ１とを結ぶ直線上に光は反射される。つまり、第１ミラー５０から第２ミラー６０へ向かう光は、光スキャナ１５（或いは、光スキャナ２７）の駆動に伴って、第２ミラーである回転楕円鏡の焦点ｒ１を中心にして旋回する。換言すれば、第１ミラー５０によって、光スキャナ１５（或いは、光スキャナ２７）を経て第２ミラー６０に向かう光の旋回点が、焦点ｒ１に形成される。第１実施例では、第１ミラー５０の鏡面で光が反射されることによって、第１旋回点ｒ１から第２ミラーへ向かう光の振り角が、走査光学系１から第１ミラー５０に入射する光の振り角に対し、増大される。このため、第１実施例では、第１ミラー５０に対して入射する光の振り角が、第２ミラー６０へ入射する光の振り角よりも抑制される。一例として、図１に示すように、テレセントリックな光を入射することもできる。この場合の振り角＝０として考えるものとする。

また、第２ミラー６０である回転楕円鏡の一般的な特性により、焦点ｒ１を通過し、且つ、回転楕円鏡の鏡面で反射された光は、他方の焦点ｒ２に導かれる。このため、他方の焦点ｒ２（つまり、被検眼Ｅの前眼部の位置）に、第２ミラー６０で反射された光の旋回点（第２旋回点）が形成される。この旋回点（焦点ｒ２）における光の振り角は、焦点ｒ１での振り角と、第２ミラー６０における鏡面の形状と、によって定められる。第２ミラー６０は、焦点ｒ２での振り角を、焦点ｒ１での振り角に対して大きくさせる形状であってもよい。但し、必ずしもこれに限られるものではない。

このように、第１実施例では、走査光学系１から対物光学系２（より詳細には、放物面鏡７１）に対して、テレセントリック（振り角＝０）で光を入射させて、眼底Ｅｒの広範囲を撮影することが可能となる。第１実施例では、ＳＬＯ光学系１０とＯＣＴ光学系２０との光路を結合するための光結合部材４０（ダイクロイックミラー４０）が、ＳＬＯ光学系１０とＯＣＴ光学系２０とのそれぞれがテレセントリックとなっている箇所に配置されるので、広画角の正面画像と断層画像とを、良好に得ることができる。

ここで、第２ミラー６０は、回転楕円鏡であるので、眼底反射光に非対称な像面歪曲（例えば、台形歪み）を生じさせてしまう。これに対し、本実施例では、第１ミラー５０を第２ミラー６０に対して傾けて配置することによって、像面歪曲が抑制される。即ち、第１ミラー５０と第２ミラー６０との間における光路の中心を通過する光線に対して傾斜して第１ミラー５０が配置される。第１ミラー５０の傾斜量に応じて、像面歪曲の補正量が変化する。第１ミラー５０の傾斜量は、例えば、残存する像面歪曲が軸対称となるように設定されてもよい。

＜第２実施例＞
次に、図４を参照して、第２実施例を説明する。第２実施例において、第１実施例と同様の構成については、第１実施例と同一の符号を付して、詳細な説明を省略する。

第２実施例は、走査光学系１および対物光学系２の一部が、第１実施例に対して相違している。例えば、第１実施例において、ＳＬＯ光学系１０およびＯＣＴ光学系２０のそれぞれは、物体側にテレセントリックであったが、第２実施例では、走査光学系１（より詳細には、ＳＬＯ光学系１０およびＯＣＴ光学系２０）から、対物光学系２へ入射する光が、対物光学系２から有限遠の旋回点を中心として、旋回されている。第２実施例では、説明の便宜上、対物光学系２へ入射するときのＳＬＯ光学系１０からの光は、旋回点ｒ３を中心として旋回されており、対物光学系２へ入射するときのＯＣＴ光学系２０からの光は、旋回点ｒ４を中心として旋回されているものとする。

第２実施例の対物光学系２は、第１ミラー５０と光スキャナ１５，２７との間に、放物面鏡１７１を有する。放物面鏡１７１は、その焦点が、旋回点ｒ３，ｒ４と一致するように配置された凹面鏡である。このため、放物面鏡１７１の物体側では、光束はテレセントリックになる。さらに、第２実施例では、放物面鏡１７１における鏡面の対象軸（つまり、放物面の対称軸、図示せず）が、第１ミラー５０における鏡面の対称軸ｚ２と平行になるように配置されている。このため、第１実施例と同様、第１ミラー５０には、対称軸ｚ２と平行な光線が、光スキャナ１５，２７側から（つまり、放物面鏡１７１）から照射される。結果、第１ミラー５０の焦点と第２ミラー６０との焦点とが重なる位置である第１旋回点ｒ１を中心として、第１ミラー５０から第２ミラー６０へ向かう光が旋回される。そして、更に、第２ミラー６０で光が反射されることによって、その光が、回転楕円鏡のもう１つの焦点ｒ２を旋回点として旋回される。このようにして、第２実施例においても、走査光学系１から対物光学系２（より詳細には、放物面鏡１７１）に対して入射する光の振り角を抑制しつつ、眼底Ｅｒの広範囲において、光を良好に走査することが可能となる。結果、光結合部材４０（ダイクロイックミラー４０）の入射角依存性によって、眼底の画像の画質が部分的に悪くなってしまうことが抑制される。

なお、本件の発明者によれば、第１実施例の光学系と、第２実施例の光学系とを、それぞれある条件で設計した場合において、第２実施例のほうが、より高い結像性能を奏することが確認された。

ところで、第１実施例の補正光学系７１，７２の代わりに設けられている放物面鏡１７１は、像面の傾斜を補正しない。これに対し、第２実施例では、少なくともＳＬＯ光学系１０における像面の傾斜を抑制するために、少なくとも、受光光学系１０ａの光軸に対して傾斜配置される検出器１８が設けられていてもよい。なお、併せて、ＳＬＯ光学系１０におけるレンズ１２又はレンズ１３のいずれかが光軸に対して傾斜配置されていてもよい。このような第２実施例において、検出器１８の傾斜量は、眼底Ｅｒおよび対物光学系２と、シャインプルーフの関係となるように調整される。結果、像面の傾きによって（つまり、フォーカスが、走査位置によって異なることによって）画質が悪くなってしまうことが抑制される。

＜第３実施例＞
次に、図５を参照して、第３実施例を説明する。第３実施例において、第１実施例と同様の構成については、第１実施例と同一の符号を付して、詳細な説明を省略する。第３実施例では、第１ミラー５０と、走査光学系１との間に、ミラー系を含まない構成の一例を示す。第３実施例において、走査光学系１および対物光学系２の一部が、第１実施例に対して相違している。例えば、第１実施例において、ＳＬＯ光学系１０およびＯＣＴ光学系２０のそれぞれは、物体側にテレセントリックであったが、第３実施例では、第２実施例と同様、走査光学系１（より詳細には、ＳＬＯ光学系１０およびＯＣＴ光学系２０）から対物光学系２へ入射する光が、対物光学系２から有限遠の旋回点を中心として、旋回される。

第３実施例において、第１ミラー５０は、１つの双曲面鏡（１対の双曲面の一方）である。双曲面鏡は、第３実施例において、広角化に寄与する非球面鏡である。第２ミラー６０は、第１実施例と同様に、回転楕円鏡であってもよい。第１ミラー５０である双曲面鏡は、虚像側の焦点（凸面側にある焦点）が旋回点ｒ３，ｒ４と一致するように配置される。また、第１ミラー５０は、実像側の焦点（凹面側にある焦点）が、第２ミラー６０の一方の焦点と一致するように配置される。つまり、第１ミラー５０には、虚像側（第１ミラー５０と対になる双曲面側）の焦点から出射される光が照射される。その結果、双曲面鏡の一般的な特性により、第１ミラー５０で反射された反射光は、光スキャナ１５（或いは、光スキャナ２７）の駆動に伴って、第１ミラー５０の実像側の焦点ｒ１を中心として旋回する。ここで、焦点ｒ１は、回転楕円鏡である第２ミラー６０の焦点でもあるので、第１ミラー５０の配置によって、第１ミラー５０で反射される光の旋回点が、回転楕円鏡の焦点ｒ１に形成される。第３実施例では、第１ミラー５０の鏡面で光が反射されることによって、第１旋回点ｒ１から第２ミラー６０へ向かう光の振り角は、走査光学系１から第１ミラー５０に入射する光の振り角に対し、増大される。そして、第２ミラー６０で反射された光が、第２ミラー６０が持つもう１つの焦点ｒ２を旋回点として旋回される。このようにして、第３実施例においても、走査光学系１から対物光学系２（より詳細には、第１ミラー５０）に対して入射する光の振り角を抑制しつつ、眼底Ｅｒの広範囲において、光を良好に走査することが可能となる。

なお、図５に示すように、第１ミラー５０は、第２ミラー６０に対して傾斜して配置されてもよい。この場合に生じる像面の傾きを補正するために、例えば、ＳＬＯ光学系１０の検出器１８等が、光軸に対して傾けて配置されてもよい。

＜制御系＞
次に、図３を参照して、撮影装置１００の制御系について説明する。制御部７０は、撮影装置１００の装置全体の制御を行うプロセッサ（例えば、ＣＰＵ）である。

第１実施例において、制御部７０には、メモリ７２、モニタ７５、等が電気的に接続される。また、制御部７０には、光源１１，２１，光スキャナ１５，２７，検出器１８，３１，駆動機構２５ａ等が電気的に接続される。

メモリ７２は、各種の制御プログラムおよび固定データを格納する。また、メモリ７２には、撮影装置１００によって撮影された画像、一時データ等が記憶されてもよい。

本実施形態では、制御部７０が画像処理部を兼用する。例えば、検出器１８および検出器３１からの受光信号は、それぞれ制御部７０に入力される。制御部７０は、検出器１８からの信号に基づいて眼底Ｅｒの正面画像を形成する。また、制御部７０は、検出器３１からの信号に基づいて、眼底Ｅｒの断層画像を形成する。このとき、制御部７０は、光源１１からの光と光源２１からの光とを、光スキャナ１５と光スキャナ２７とを同時に、且つ、独立して駆動することにより、正面画像と、断層画像とを、並行して取得してもよい。同時に得た正面画像と断層画像とを、モニタ７５に対して、同時に動画として表示させてもよい。第１実施例では、ＳＬＯ光学系１０の光スキャナ１５と、ＯＣＴ光学系２０の光スキャナ２７とが独立に設けられているので、制御部７０は、正面画像と、断層画像とを、互いに異なるフレームレートで取得してもよい。

＜断層画像取得時における装置の動作＞
上記各実施例の対物光学系２は、被検眼Ｅと光スキャナ２７との間に配置されるミラー系（例えば、第１ミラー５０および第２ミラー６０等）を介して、被検眼Ｅの前眼部（例えば、瞳孔位置）に光スキャナ２７の動作に伴って旋回される旋回点（上記各実施例においては、旋回点ｒ２）を形成する対物ミラー系である。対物光学系２は、例えば、上記各実施例では、被検眼Ｅの直前の第２ミラー６０は、回転楕円鏡であり、この回転楕円鏡が持つ２つの焦点ｒ１，ｒ２のうち１つに、旋回点ｒ２は形成される。回転楕円鏡における２つの焦点のうち、一方から鏡面に向けて入射して、他方の焦点に導かれる光は、２つの焦点の間における光路長が常に一定となる。しかし、上記各実施例では、光スキャナ２７と第２ミラー６０との間に、第１ミラー５０等のミラーが配置されていることによって、光スキャナ２７から第２旋回点ｒ２までの測定光の距離が、光スキャナ２７の走査位置に応じて異なりうる。

また、上記各実施例において、第２旋回点ｒ２（瞳孔位置）から眼底Ｅｒの表面までの測定光の光路長も走査位置毎に異なっている。つまり、眼底の湾曲によって、第２旋回点ｒ２から眼底Ｅｒまでの測定光の距離が、光スキャナ２７の走査位 置に応じて異なりうる。

このように、光スキャナ２７から被検眼Ｅまでの測定光の距離が、光スキャナ２７の各走査位置で異なることが考えられる。つまり、前記光スキャナ２７の各走査位置での光スキャナ２７から被検眼Ｅまでの測定光の距離による測定光と参照光との光路長差に変化が生じることが考えられる。

この状態で、検出器３１からの信号に基づいて深さプロファイル（ＯＣＴデータ）を得る場合、被検眼Ｅにおいて深さプロファイル（ＯＣＴデータ）が取得される領域の深さ位置が、光スキャナ２７の走査位置毎に異なってしまうことが考えられる。また、走査位置によっては、光路長差が大きいことによって、検出器３１の感度が高い範囲と、測定光と参照光との干渉が生じる範囲とが、比較的大きくずれてしまう場合が考えられる。

これに対し、制御部７０は、光スキャナ２７の各走査位置での光スキャナ２７から被検眼Ｅまでの測定光の距離による測定光と参照光との光路長差の変化を補正する。

ここで、測定光と参照光との光路長差の変化は、データ上（ＯＣＴデータの処理によって）で補正されてもよい。例えば、制御部３０は、検出器３１からの信号に基づいて制御部３０がＯＣＴデータを取得する際に、そのＯＣＴデータの深さ方向の位置情報を補正してもよい。

また、制御部３０は、複数のＯＣＴデータを並べて二次元ＯＣＴデータを形成する際に，各走査位置のＯＣＴデータ間における相対的な深さ位置を補正してもよい。

このような処理が行われた結果として、ＯＣＴデータ（或いは、二次元ＯＣＴデータ）を良好に得ることができる。

また、参照光と測定光との光路長差の変化は、光学的に補正されてもよい。例えば、補正は、光スキャナ２７の走査位置に応じて光路長調整機構２５ａ（駆動機構）を駆動制御することによって行われてもよい。駆動機構２５ａは、前述したように、参照光の光路（又は、測定光の光路）上に配置された光学部材（例えば、ミラー）を変位させることによって、測定光と参照光との光路長差を調整してもよい。例えば、本実施例では、光スキャナ２７の動作に伴う測定光の光路長の変化に合わせて、参照光の光路長が駆動機構２５ａによって変化される。その結果、検出器３１の感度が高い範囲において測定光と参照光との干渉に基づく信号が検出されやすくなり、ＯＣＴデータ（或いは、二次元ＯＣＴデータ）を良好に得ることができる。なお、この場合、走査位置によらずに、測定光と参照光との干渉に基づく信号が検出器３１の感度が比較的高い範囲において検出されるように、光路長差が変化する範囲を抑制できればよく、必ずしも、測定光と参照光との光路長差が各走査位置において一定（例えば、ゼロ）となるように駆動機構２５ａが駆動制御される必要はない。

ここで、制御部７０は、少なくとも光スキャナ２７から第２旋回点ｒ２までの測定光の距離(光路長)の変化を考慮して、測定光と参照光との光路長差の変化を補正する。また、制御部７０は、眼底の湾曲による各走査位置での測定光の光路長の変化（つまり、第２旋回点ｒ２から眼底Ｅｒまでの測定光の光路長の変化）を更に考慮して、補正を行ってもよい。ここで、光スキャナ２７から第２旋回点ｒ２までの測定光の光路長と、光スキャナ２７の各走査位置と、の対応関係は、光学系の設計によって定まっている。また、第２旋回点から眼底Ｅｒまで，の測定光の光路長と、光スキャナ２７の各走査位置と、の対応関係も光学系の設計（主に第２旋回点での振り角）によっておおよそ定まる。

そこで、例えば、光路長差の変化を補正するための補正量（例えば、光路長の変化量，或いは，ＯＣＴデータにおける深さ方向の位置情報の補正量）が光スキャナ２７の各走査位置と対応づけられた補正テーブルが、メモリ７２に予め用意されていてもよい。そして、制御部７０は、この補正テーブルを用いて、光路長差の変化の補正処理を行ってもよい。このようなテーブルにおける補正量は、少なくとも光スキャナ２７から第２旋回点ｒ２まで，の測定光の光路長の変化が考慮された値である。さらに、第２旋回点ｒ２から眼底Ｅ２までの光路長の変化が考慮された値であってもよい。このような光路長差と補正量との対応関係（換言すれば、走査位置と補正量との対応関係）は、例えば、シミュレーションおよびキャリブレーション等によって予め求められてもよい。

なお、上記実施例では、光スキャナ２７は、２つの光スキャナを含んでいる。つまり、測定光の主走査を行う第１光スキャナ（例えば、Ｘガルバノスキャナ）と、主走査の方向とは交差する方向に測定光の副走査を行う第２光スキャナ（例えば、）と、が含まれている。主走査が、各図の紙面奥行き方向に行われ、副走査が、紙面奥行き方向に対し、交差する方向に行われる場合、副走査の位置のみに応じて、測定光における光路長の変化（より詳細には、光スキャナ２７から第２旋回点ｒ２までの光路長の変化）が生じるような、対物光学系２を採用することが可能である。例えば、本実施形態のように、回転楕円鏡および回転放物面鏡等の回転曲面から形成される凹面鏡および凸面鏡を用いることで、上記のような対物光学系２を実現し得る。

このような対物光学系２に対し、制御部３０は、測定光をラスタースキャンすることで、複数のスキャンラインにおける二次元ＯＣＴデータを取得してもよい。つまり、制御部３０は、光スキャナ２７を駆動制御することで、主走査によって取得される二次元ＯＣＴデータを，副走査の方向の異なるスキャンラインにおいて複数取得する。そして、第２スキャナの走査位置に応じて駆動機構２５ａを駆動制御してもよい。つまり、第２スキャナの走査位置に応じて駆動機構２を駆動することで、参照光と測定光との光路長差の変化を補正してもよい。

この場合において、副走査に伴って、測定光と参照光との光路長差に変化が生じ得るが、主走査と比べて、副走査のスピードは遅い。このため、光路長差の時間的な変化を抑制できる。よって、参照光と測定光との光路長差の変化がより確実に補正されるように、駆動機構２５ａを駆動させることができる。結果、複数の二次元ＯＣＴデータを良好に取得することができる。

以上、実施形態に基づいて説明を行ったが、本開示は、上記実施形態に限定されるものではなく、種々の変更が行われてもよい。

例えば、上記実施形態において、走査光学系１は、それぞれに光スキャナを持つ，２つの撮影光学系（上記実施形態では、ＳＬＯ光学系１０と、ＯＣＴ光学系２０）の光路が、光路結合部４０によって結合される場合を説明した。しかし、かならずしもこれに限られるものではなく、走査光学系１は、撮影光学系と、治療用または刺激用の光を発する照射光学系と、の光路が、光路結合部４０によって結合されてもよい。ここでいう、撮影光学系は、撮影用の第１光源からの光を第１光スキャナを駆動することで、眼底上で走査させると共に、第１光源からの光の眼底反射光を受光する検出器と、を備えていてもよい。この場合、例えば、上記実施形態におけるＳＬＯ光学系１０およびＯＣＴ光学系２０のいずれかが撮影光学系として利用されてもよい。一方、照射光学系によって、被検眼Ｅに対して照射される光は、例えば、眼底で光凝固を行うための治療用レーザであってもよい。また、視野検査用の刺激光であってもよい。勿論、治療用または刺激用の光としては、これに限定されるものではない。このような照射光学系は、治療用又は刺激用の光を出射する第２光源からの光を偏向することで、眼底上における前記光の照射位置を定める第２光スキャナを少なくとも有してもよい。このような照射光学系は、上記実施形態におけるＳＬＯ光学系１０およびＯＣＴ光学系２０のいずれと置き換えられてよく、第２光スキャナは、上記実施形態における何れかの光スキャナ１５，２７に置き換えられて、配置されてもよい。

２ 対物光学系
２０ ＯＣＴ光学系
２１ 光源
２５ａ 光路長調整機構
２７ 光スキャナ
３１ 検出器
７０ 制御部
７２ メモリ
１００ 眼底撮影装置
ｒ２ 第２旋回点
Ｅ 被検眼
Ｅｒ 眼底

Claims (8)

1. 光源からの測定光を被検眼の眼底上で走査する光スキャナを有し、参照光と，前記眼底で反射された前記測定光と，の干渉を検出器で検出するＯＣＴ光学系と、
   前記被検眼と前記光スキャナとの間に配置されるミラー系を介して、被検眼の前眼部に前記光スキャナの動作に伴って旋回される旋回点を形成する対物ミラー系と、
   前記検出器からの信号を処理することによって、眼底のＯＣＴデータを得る取得手段と、
   前記光スキャナの各走査位置での前記光スキャナから前記被検眼までの前記測定光の距離による前記測定光と前記参照光との光路長差の変化を補正する補正手段と、を有する眼底撮影装置。
2. 前記補正手段は、前記光スキャナの各走査位置における前記光路長差を考慮して前記補正を行う請求項１記載の眼底撮影装置。
3. 前記補正手段は、更に、眼底の湾曲による前記光路長差の変化を考慮して前記補正を行う請求項１から６のいずれかに記載の眼底撮影装置。
4. 前記補正手段は、メモリに予め記憶されている補正テーブルであって、前記光路長差の変化を補正するための補正量が前記光スキャナの各走査位置と対応づけられた補正テーブルを用いて前記補正を行う請求項２または３記載の眼底撮影装置。
5. 前記補正手段は、前記取得手段によって前記ＯＣＴデータが取得される際に、取得されるＯＣＴデータの深さ方向の位置情報を補正する請求項１から４のいずれかに記載の眼底撮影装置。
6. 前記補正手段は、複数の前記ＯＣＴデータを並べて二次元ＯＣＴデータを形成する際に，各走査位置のＯＣＴデータ間における相対的な深さ位置を補正する請求項１から４のいずれかに記載の眼底撮影装置。
7. 前記光路長差を調整するための駆動機構を有し、
   前記補正手段は、前記走査位置に応じて前記駆動機構を制御することで、前記光路長差の変化を補正する請求項１から４のいずれかに記載の眼底撮影装置。
8. 前記光スキャナは、前記測定光の主走査を行う第１光スキャナと，主走査の方向とは交差する方向に前記測定光の副走査を行う第２光スキャナと，を含み、
   前記対物光学系は、前記第１光スキャナの走査位置に拘わらず、前記第２光スキャナの走査位置に応じて前記光路長差を生じさせ、
   前記取得手段は、前記光スキャナを駆動制御することで、前記主走査によって取得される二次元ＯＣＴデータを，前記副走査の方向の異なるスキャンラインにおいて複数取得し、
   前記補正手段は、前記二次元ＯＣＴデータを，前記第２光スキャナによる副走査位置に基づいて前記駆動機構を制御する請求項７記載の眼底撮影装置。