JP7162539B2 - 眼科装置、及びその制御方法 - Google Patents

Description

この発明は、眼科装置、及びその制御方法に関する。

眼疾患のスクリーニングや治療などを行うための眼科装置には、簡便に広い視野で被検眼の眼底などの観察や撮影が可能なものが求められている。このような眼科装置として、走査型レーザー検眼鏡（Ｓｃａｎｎｉｎｇ Ｌａｓｅｒ Ｏｐｈｔｈａｌｍｏｓｃｏｐｅ：ＳＬＯ）が知られている。ＳＬＯは、光で眼底をスキャンし、その戻り光を受光デバイスで検出することにより眼底の画像を形成する装置である。

また、近年、レーザー光源等からの光ビームを用いて被測定物体の形態を測定したり画像化したりする光コヒーレンストモグラフィ（Ｏｐｔｉｃａｌ Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ：ＯＣＴ）が注目を集めている。ＯＣＴは、Ｘ線ＣＴ（Ｃｏｍｐｕｔｅｄ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）のような人体に対する侵襲性を持たないことから、特に医療分野や生物学分野における応用の展開が期待されている。このようなＯＣＴを用いた装置は、高精細な画像を取得できることから、様々な眼科疾患の診断に応用されている。

例えば、特許文献１には、ＳＬＯによる計測機能と、ＯＣＴによる計測機能とを実現する眼科装置が開示されている。特許文献１に開示された眼科装置では、ダイクロイックミラーにより合成されたＳＬＯ光学系とＯＣＴ光学系との合成光路の光がスリットミラーにより反射され、その反射光がガルバノミラーにより偏向されて楕円面鏡により反射されて被検眼に導かれる。ＳＬＯ及びＯＣＴのＸ方向の走査にガルバノミラーが共用される。

特開２０１８－６１６２２号公報

被検眼を広角で計測するための楕円面鏡を含む光学系には、高い加工精度が求められる。高い加工精度は加工コストの上昇を招き、計測精度と加工コストとのトレードオフを考慮しつつ所定の許容誤差範囲内で計測を行う必要がある。

また、ＳＬＯとＯＣＴでは互いに走査速度が異なる。従って、ＳＬＯとＯＣＴとで光スキャナーを単純に共用化する場合、高価な光スキャナーを採用する必要が生じたり、光スキャナー制御の複雑化を招いたりする。一方、ＳＬＯ用の光スキャナーとＯＣＴ用の光スキャナーとを設ける場合、少なくとも１つの光スキャナーが楕円面鏡の焦点から外れた位置に配置される。それにより、光の偏向角度によって光路長が変化し、計測精度の低下を招く。

上記のような事情は、楕円面鏡を用いた眼科装置に限定されたものではなく、凹面状の反射面を有する凹面鏡を用いた眼科装置も同様である。

本発明は、このような事情を鑑みてなされたものであり、その目的は、低コスト、且つ高精度で、凹面鏡を用いた広角の計測が可能な眼科装置、及びその制御方法を提供することにある。

いくつかの実施形態の第１態様は、凹面状の第１反射面を有する第１凹面鏡と、凹面状の第２反射面を有する第２凹面鏡と、前記第１凹面鏡及び前記第２凹面鏡を介してＳＬＯ光源からの光を被検眼に照射し、前記被検眼からの戻り光を検出するためのＳＬＯ光学系と、前記ＳＬＯ光源からの光を偏向して前記第１反射面に導く第１光スキャナーと、前記第１反射面により反射された光を偏向して前記第２反射面に導く第２光スキャナーと、第３光スキャナーを含み、ＯＣＴ光源からの光を測定光と参照光とに分割し、前記第３光スキャナーにより偏向された前記測定光を前記被検眼に照射し、前記被検眼からの戻り光と前記参照光との干渉光を検出するためのＯＣＴ光学系と、前記第１光スキャナーと前記第１凹面鏡との間に配置され、前記ＳＬＯ光学系の光路と前記ＯＣＴ光学系の光路とを結合する光路結合部材と、前記ＯＣＴ光学系により検出された前記干渉光の検出結果又は前記検出結果に基づく画像を補正する補正部と、を含む眼科装置である。

いくつかの実施形態の第２態様は、第１態様において、第１動作モードにおいて、前記ＳＬＯ光源からの光を第１方向に１次元的に偏向するように前記第１光スキャナーを制御し、前記第１光スキャナーにより偏向された光を前記第１方向に交差する第２方向に１次元的に偏向するように前記第２光スキャナーを制御し、第２動作モードにおいて、前記測定光を第３方向に１次元的に偏向するように前記第３光スキャナーを制御し、前記第３光スキャナーにより偏向された前記測定光を前記第３方向に交差する第４方向に１次元的に偏向するように前記第２光スキャナーを制御する制御部を含む。

いくつかの実施形態の第３態様は、第１態様において、第１動作モードにおいて、前記ＳＬＯ光源からの光を第１方向に１次元的に偏向するように前記第１光スキャナーを制御し、前記第１光スキャナーにより偏向された光を前記第１方向に交差する第２方向に１次元的に偏向するように前記第２光スキャナーを制御し、第２動作モードにおいて前記第２光スキャナーの偏向動作を停止させた状態で前記測定光を２次元的に偏向するように前記第３光スキャナーを制御する制御部を含む。

いくつかの実施形態の第４態様では、第３態様において、前記制御部は、前記第２動作モードにおいて、前記測定光を前記被検眼の計測部位に対応した計測方向に偏向するように前記第２光スキャナーを制御した後、前記測定光を２次元的に偏向するように前記第３光スキャナーを制御する。

いくつかの実施形態の第５態様では、第１態様～第４態様のいずれかにおいて、前記第１反射面は、楕円面であり、前記第１光スキャナーは、前記第１凹面鏡の第１焦点又はその近傍に配置され、前記第２光スキャナーは、前記第１凹面鏡の第２焦点又はその近傍に配置される。

いくつかの実施形態の第６態様では、第１態様～第５態様のいずれかにおいて、前記第２反射面は、楕円面であり、前記第２光スキャナーは、前記第２凹面鏡の第３焦点又はその近傍に配置され、前記被検眼は、前記第２凹面鏡の第４焦点又はその近傍に配置される。

いくつかの実施形態の第７態様は、第１態様～第６態様のいずれかにおいて、補正データをあらかじめ記憶する記憶部を含み、前記補正部は、前記記憶部に記憶された補正データに基づいて、前記測定光の進行方向に前記干渉光の検出結果又は前記検出結果に基づく画像の位置を補正する。

いくつかの実施形態の第８態様では、第７態様において、前記補正データは、前記第３光スキャナーによる前記測定光の偏向角度に対応して前記干渉光の検出結果又は前記検出結果に基づく画像を補正するためのデータである。

いくつかの実施形態の第９態様では、第１態様～第８態様のいずれかにおいて、前記第２光スキャナーは、前記第１光スキャナーの偏向速度より低速で前記ＳＬＯ光源からの光を偏向する。

いくつかの実施形態の第１０態様は、凹面状の第１反射面を有する第１凹面鏡と、凹面状の第２反射面を有する第２凹面鏡と、前記第１凹面鏡及び前記第２凹面鏡を介してＳＬＯ光源からの光を被検眼に照射し、前記被検眼からの戻り光を検出するためのＳＬＯ光学系と、前記ＳＬＯ光源からの光を偏向して前記第１反射面に導く第１光スキャナーと、前記第１反射面により反射された光を偏向して前記第２反射面に導く第２光スキャナーと、第３光スキャナーを含み、ＯＣＴ光源からの光を測定光と参照光とに分割し、前記第３光スキャナーにより偏向された前記測定光を前記被検眼に照射し、被検眼からの戻り光と前記参照光との干渉光を検出するためのＯＣＴ光学系と、前記第１光スキャナーと前記第１凹面鏡との間に配置され、前記ＳＬＯ光学系の光路と前記ＯＣＴ光学系の光路とを結合する光路結合部材と、を含む眼科装置の制御方法であって、前記ＯＣＴ光学系を用いて前記被検眼に対して光コヒーレンストモグラフィを実行することにより前記干渉光の検出結果を取得する取得ステップと、前記取得ステップにおいて取得された前記干渉光の検出結果又は前記検出結果に基づく画像を補正する補正ステップと、含む。

いくつかの実施形態の第１１態様は、第１０態様において、第１動作モードにおいて、前記ＳＬＯ光源からの光を第１方向に１次元的に偏向するように前記第１光スキャナーを制御し、前記第１光スキャナーにより偏向された光を前記第１方向に交差する第２方向に１次元的に偏向するように前記第２光スキャナーを制御する第１制御ステップと、第２動作モードにおいて、前記測定光を第３方向に１次元的に偏向するように前記第３光スキャナーを制御し、前記第３光スキャナーにより偏向された前記測定光を前記第３方向に交差する第４方向に１次元的に偏向するように前記第２光スキャナーを制御する第２制御ステップと、を含む。

いくつかの実施形態の第１２態様は、第１０態様において、第１動作モードにおいて、前記ＳＬＯ光源からの光を第１方向に１次元的に偏向するように前記第１光スキャナーを制御し、前記第１光スキャナーにより偏向された光を前記第１方向に交差する第２方向に１次元的に偏向するように前記第２光スキャナーを制御する第１制御ステップと、第２動作モードにおいて前記第２光スキャナーの偏向動作を停止させた状態で前記測定光を２次元的に偏向するように前記第３光スキャナーを制御する第２制御ステップと、を含む。

いくつかの実施形態の第１３態様では、第１２態様において、前記第２制御ステップは、前記測定光を前記被検眼の計測部位に対応した計測方向に偏向するように前記第２光スキャナーを制御した後、前記測定光を２次元的に偏向するように前記第３光スキャナーを制御する。

いくつかの実施形態の第１４態様では、第１０態様～第１３態様のいずれかにおいて、前記第１反射面は、楕円面であり、前記第１光スキャナーは、前記第１凹面鏡の第１焦点又はその近傍に配置され、前記第２光スキャナーは、前記第１凹面鏡の第２焦点又はその近傍に配置される。

いくつかの実施形態の第１５態様では、第１０態様～第１４態様のいずれかにおいて、前記第２反射面は、楕円面であり、前記第２光スキャナーは、前記第２凹面鏡の第３焦点又はその近傍に配置され、前記被検眼は、前記第２凹面鏡の第４焦点又はその近傍に配置される。

いくつかの実施形態の第１６態様では、第１０態様～第１５態様のいずれかにおいて、前記補正ステップは、前記第３光スキャナーによる前記測定光の偏向角度に対応した補正データに基づいて、前記測定光の進行方向に前記干渉光の検出結果又は前記検出結果に基づく画像の位置を補正する。

なお、上記した複数の態様に係る構成を任意に組み合わせることが可能である。

本発明によれば、低コスト、且つ高精度で、凹面鏡を用いた広角の計測が可能な眼科装置、及びその制御方法を提供することができる。

実施形態に係る眼科装置の構成の一例を表す概略図である。 実施形態に係る眼科装置の構成の一例を表す概略図である。 実施形態に係る眼科装置の構成の一例を表す概略ブロック図である。 実施形態に係る眼科装置の構成の一例を表す概略図である。 実施形態に係る眼科装置が実行する処理を説明するための概略図である。 実施形態に係る眼科装置の動作例を表すフローチャートである。

この発明に係る眼科装置、及び眼科装置の制御方法の実施形態の例について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、この明細書において引用された文献の記載内容や任意の公知技術を、以下の実施形態に援用することが可能である。

実施形態に係る眼科装置は、ＳＬＯ光学系と、ＯＣＴ光学系とを含み、ＳＬＯ計測とＯＣＴ計測とを実行可能である。ＳＬＯ光学系は、ＳＬＯ光源からの光を被検眼に照射し、被検眼からの戻り光を検出するための光学系である。ＯＣＴ光学系は、ＯＣＴ光源からの光を測定光と参照光とに分割し、測定光を被検眼に照射し、被検眼からの戻り光と参照光との干渉光を生成し、生成された干渉光を検出するための光学系である。ＳＬＯ計測は、ＳＬＯ光学系を用いた計測（撮影）である。ＯＣＴ計測は、ＯＣＴ光学系を用いた計測（撮影）である。

眼科装置は、第１凹面鏡と、第２凹面鏡とを含み、第１凹面鏡及び第２凹面鏡を介して被検眼における広い計測範囲にＳＬＯ光源からの光又は測定光（ＯＣＴ光源からの光）を照射するように構成されている。具体的には、眼科装置は、ＳＬＯ計測に好適な位置に配置され互いに交差する方向に光を１次元的に偏向可能な第１光スキャナー及び第２光スキャナーを含み、ＳＬＯ光源からの光で広角に被検眼の眼底をスキャンすることが可能である。第１光スキャナー及び第２光スキャナーは、被検眼の瞳孔と光学的に略共役な位置（瞳孔共役位置）又はその近傍に配置される。

また、眼科装置は、第３光スキャナーと、光路結合部材とを含み、ＯＣＴ光学系の光路をＳＬＯ光学系の光路に結合して第１凹面鏡及び第２凹面鏡を介して第３光スキャナーにより偏向された測定光で被検眼をスキャンすることが可能である。第３光スキャナーは、測定光を１次元的に又は２次元的に偏向する。測定光を１次元的に偏向する場合、第３光スキャナーは、瞳孔共役位置又はその近傍に配置可能である。測定光を２次元的に偏向する場合、第３光スキャナーを構成する２つの光スキャナーの一方を瞳孔共役位置又はその近傍に配置することが可能である。眼科装置は、ＯＣＴ光学系により取得された被検眼のデータ（例えば、断層像）をあらかじめ記憶された補正データを用いて補正する。

このような構成により、光学系の公差により制限された計測精度の低下を補償し、より高精度な計測結果を取得することが可能になる。すなわち、光学系の公差にかかわらず、より高精度な計測結果を取得することが可能である。更に、測定光を２次元的に偏向する場合、第３光スキャナーの配置位置に起因して生じる光スキャナーの偏向角度の依存した不自然な深さ方向の歪みを補正し、従来のレンズ光学系と同様の断層像を取得することが可能になる。また、第３光スキャナーを配置するための被検眼の瞳孔の共役位置をリレーする必要がなくなるため、装置光学系の小型化が可能になる。

以下、実施形態では、ＯＣＴを用いた計測又は撮影においてスウェプトソースタイプのＯＣＴの手法を用いる場合について特に詳しく説明する。しかしながら、他のタイプ（例えば、スペクトラルドメインタイプ）のＯＣＴを用いる眼科装置に対して、実施形態に係る構成を適用することも可能である。

以下では、光スキャナーがガルバノスキャナーを含む場合について説明する。しかしながら、光スキャナーがガルバノスキャナー以外の偏向素子（例えば、レゾナントミラー、ポリゴンミラーなど）である場合についても以下の実施形態を適用することが可能である。

この明細書では、ＳＬＯによって取得される画像をＳＬＯ画像と総称し、ＯＣＴによって取得される画像をＯＣＴ画像と総称することがある。また、ＳＬＯ画像を形成するための計測動作をＳＬＯ計測と呼び、ＯＣＴ画像を形成するための計測動作をＯＣＴ計測と呼ぶことがある。

いくつかの実施形態に係る眼科装置は、眼科撮影装置と、眼科測定装置と、眼科治療装置とのうちのいずれか１つ以上を更に含む。いくつかの実施形態の眼科装置に含まれる眼科撮影装置は、例えば、眼底カメラ、スリットランプ検眼鏡、手術用顕微鏡等のうちのいずれか１つ以上である。また、いくつかの実施形態の眼科装置に含まれる眼科測定装置は、例えば、眼屈折検査装置、眼圧計、スペキュラーマイクロスコープ、ウェーブフロントアナライザ、視野計、マイクロペリメータ等のうちのいずれか１つ以上である。また、いくつかの実施形態の眼科装置に含まれる眼科治療装置は、例えば、レーザー治療装置、手術装置、手術用顕微鏡等のうちのいずれか１つ以上である。

以下では、被検眼の眼底に対するＯＣＴ計測が可能な眼科装置を例に説明するが、実施形態に係る眼科装置は、被検眼の前眼部に対してＯＣＴ計測が可能であってよい。いくつかの実施形態では、測定光の焦点位置を変更するレンズを移動することで、ＯＣＴ計測の範囲や計測部位を変更する。いくつかの実施形態では、１以上のアタッチメント（対物レンズ、前置レンズ等）を加えることで、眼底に対するＯＣＴ計測と、前眼部に対するＯＣＴ計測と、眼底及び前眼部を含む全眼球に対するＯＣＴ計測とが可能な構成である。いくつかの実施形態では、眼底計測用の眼科装置において、コリメータレンズユニット（後述）又は光スキャナーと被検眼との間に前置レンズを配置することで平行光束にされた測定光を被検眼に入射させることで前眼部に対するＯＣＴ計測を行う。

＜構成＞
図１に、実施形態に係る眼科装置の構成例を示す。

実施形態に係る眼科装置１は、光学系１０と、ＳＬＯユニット２０と、ＯＣＴユニット１００とを含む。光学系１０は、第１楕円面鏡１１Ａと、第２楕円面鏡１１Ｂと、光スキャナー３０Ａ、３０Ｂと、コリメータレンズユニット４０と、光スキャナー５０と、ダイクロイックミラーＤＭとを含む。光スキャナー３０Ａは、第１光スキャナーの一例である。光スキャナー３０Ｂは、第２光スキャナーの一例である。光スキャナー５０は、第３光スキャナーの一例である。いくつかの実施形態では、ＳＬＯユニット２０は、光スキャナー３０Ａ、３０Ｂを含む。いくつかの実施形態では、ＯＣＴユニット１００は、コリメータレンズユニット４０と、光スキャナー５０とを含む。

第１楕円面鏡１１Ａの反射面（第１反射面）は、楕円面である。第１楕円面鏡１１Ａは、凹面鏡の一例である。いくつかの実施形態では、光学系１０は、第１楕円面鏡１１Ａに代えて、反射面が凹面状に形成された凹面鏡を含む。いくつかの実施形態では、凹面鏡の反射面は、自由曲面になるように形成される。

第２楕円面鏡１１Ｂの反射面（第２反射面）は、楕円面である。第２楕円面鏡１１Ｂは、凹面鏡の一例である。いくつかの実施形態では、光学系１０は、第２楕円面鏡１１Ｂに代えて、反射面が凹面状に形成された凹面鏡を含む。いくつかの実施形態では、凹面鏡の反射面は、自由曲面になるように形成される。

第１楕円面鏡１１Ａは、光学的に共役な２つの焦点（第１焦点、第２焦点）を有する。光スキャナー３０Ａ（光スキャナー３０Ａの偏向面）は、第１楕円面鏡１１Ａの第１焦点若しくはその近傍、又は第１焦点と光学的に共役な位置（第１焦点の共役位置）若しくはその近傍に配置される。光スキャナー３０Ｂ（光スキャナー３０Ｂの偏向面）は、第１楕円面鏡１１Ａの第２焦点若しくはその近傍、又は第２焦点と光学的に共役な位置（第２焦点の共役位置）若しくはその近傍に配置される。

第２楕円面鏡１１Ｂは、光学的に共役な２つの焦点（第３焦点、第４焦点）を有する。第２楕円面鏡１１Ｂの第３焦点は、第１楕円面鏡１１Ａの第２焦点と一致するように配置される。光スキャナー３０Ｂ（光スキャナー３０Ｂの偏向面）は、第２楕円面鏡１１Ｂの第３焦点若しくはその近傍、又は第３焦点と光学的に共役な位置（第３焦点の共役位置）若しくはその近傍に配置される。被検眼Ｅ（瞳孔）が配置される被検眼位置は、第２楕円面鏡１１Ｂの第４焦点若しくはその近傍、又は第４焦点と光学的に共役な位置（第４焦点の共役位置）若しくはその近傍に配置される。

光スキャナー３０Ａ、３０Ｂのそれぞれは、一軸の光スキャナーである。光スキャナー３０Ａは、ＳＬＯ光源からの光を所定の偏向方向に偏向する。光スキャナー３０Ｂは、光スキャナー３０Ａにより偏向されたＳＬＯ光源からの光を上記の偏向方向に直交（交差）する方向に偏向する。光スキャナー３０Ａ、３０Ｂのそれぞれは、被検眼Ｅの瞳孔と光学的に略共役な位置（瞳孔共役位置）又はその近傍に配置される。すなわち、ＳＬＯ光源からの光を光スキャナー３０Ａ、３０Ｂにより２次元的に偏向することで、被検眼Ｅの眼底Ｅｆにおける所定の部位が２次元的にスキャンされる。

光スキャナー３０Ａ、３０Ｂのそれぞれは、その傾きが変更可能なミラーを含み、後述の制御部２００（主制御部２０１）からの制御を受け、反射面の傾きが制御される。光スキャナー３０Ａ、３０Ｂのそれぞれは、後述の制御部２００（主制御部２０１）からの制御を受け、ＳＬＯ計測において１次元的に光を偏向する。光スキャナー３０Ａは、例えば、眼底面内の水平方向（ｘ方向）の走査に用いられる。光スキャナー３０Ｂは、例えば、水平方向に直交する眼底面内の垂直方向（ｙ方向）の走査に用いられる。光スキャナー３０Ａ、３０Ｂのいずれか一方は、ガルバノミラーなどの低速スキャナーであり、他方は、レゾナントミラーやポリゴンミラー、或いはＭＥＭＳ（Ｍｉｃｒｏ Ｅｌｅｃｔｒｏ Ｍｅｃｈａｎｉｃａｌ Ｓｙｓｔｅｍｓ：以下、ＭＥＭＳ）ミラーなどの高速スキャナーであってよい。例えば、光スキャナー３０Ａは高速スキャナーであり、光スキャナー３０Ｂは低速スキャナーである。光スキャナー３０Ａ、３０ＢによるＳＬＯ光源からの光の走査態様としては、例えば、水平スキャン、垂直スキャン、十字スキャン、放射スキャン、円スキャン、同心円スキャン、螺旋スキャンなどがある。

光スキャナー３０Ａは、ＳＬＯ光源からの光を偏向して第１楕円面鏡１１Ａの第１反射面に導く。光スキャナー３０Ｂは、第１反射面により反射された光を偏向して第２楕円面鏡１１Ｂの第２反射面に導く。第２反射面により反射された光は被検眼位置に導かれる。

ダイクロイックミラーＤＭは、光スキャナー３０Ａと第１楕円面鏡１１Ａ（第１反射面）との間に配置されている。ＳＬＯユニット２０からの光はダイクロイックミラーＤＭを透過して被検眼Ｅに導かれる。被検眼Ｅからの戻り光は、ダイクロイックミラーＤＭを透過してＳＬＯユニット２０に導かれる。ＯＣＴユニット１００からの測定光は、ダイクロイックミラーＤＭにより被検眼Ｅに向けて反射される。被検眼Ｅからの測定光の戻り光は、ダイクロイックミラーＤＭによりＯＣＴユニット１００に向けて反射される。

光スキャナー５０は、瞳孔共役位置又はその近傍に配置される。光スキャナー５０は、コリメータレンズユニット４０から出射した測定光（ＯＣＴ用光路を通過する測定光）を所定の偏向角度範囲で偏向する。光スキャナー５０は、測定光を１次元的又は２次元的に偏向することが可能である。

光スキャナー５０が測定光を１次元的に偏向する場合、光スキャナー５０及び光スキャナー３０Ｂを用いて測定光を２次元的に偏向することで、被検眼Ｅの眼底Ｅｆにおける所定の部位が２次元的にスキャンされる。

また、測定光を光スキャナー５０により２次元的に偏向することで、被検眼Ｅの眼底Ｅｆにおける所定の部位を２次元的にスキャンすることが可能である。この場合、光スキャナー５０は、第１ガルバノスキャナーと、第２ガルバノスキャナーとを含む。第１ガルバノスキャナーは、測定光の光路（光軸）に直交（交差）する水平方向に撮影部位（眼底Ｅｆ又は前眼部）をスキャンするように測定光を偏向する。第２ガルバノスキャナーは、測定光の光路（光軸）に直交（交差）する垂直方向に撮影部位をスキャンするように、第１ガルバノスキャナーにより偏向された測定光を偏向する。光スキャナー５０による測定光の走査態様としては、例えば、水平スキャン、垂直スキャン、十字スキャン、放射スキャン、円スキャン、同心円スキャン、螺旋スキャンなどがある。

光スキャナー５０は、後述の制御部２００（主制御部２０１）からの制御を受け、ＯＣＴ計測において第１ガルバノスキャナー及び第２ガルバノスキャナーの少なくとも一方によって１次元的又は２次元的に測定光を偏向することが可能である。すなわち、光スキャナー５０を単独で走査するように制御することにより、被検眼Ｅを１次元的に又は２次元的にスキャンすることができる。また、光スキャナー５０及び光スキャナー３０Ｂは、後述の制御部２００からの制御を受け、被検眼Ｅを２次元的にスキャンすることができる。

コリメータレンズユニット４０は、ＯＣＴユニット１００に含まれる干渉光学系の光軸に配置されたコリメータレンズを含む。コリメータレンズは、ＯＣＴユニット１００に接続され測定光を導光する光ファイバの端部から出射した測定光の光束を平行光束にする。当該光ファイバの端部は、例えば被検眼Ｅの眼底Ｅｆ（網膜）と光学的に略共役な位置（眼底共役位置）又はその近傍に配置される。

光学系１０には、図１に示す構成に加え、被検眼Ｅ（眼底Ｅｆ又は前眼部）を正面から撮影するための光学系（観察光学系、撮影光学系等）やアライメント光学系が設けられてもよい。

また、光学系１０は、検査に付随する機能を提供するための構成を備えていてよい。例えば、光学系１０には、被検眼Ｅを固視させるための視標（固視標）を被検眼Ｅの眼底Ｅｆに投影するための固視光学系が設けられていてよい。更に、ＯＣＴユニット１００に含まれる干渉光学系のフォーカシングを行うための構成などが設けられていてもよい。更に、光学系１０は、被検眼Ｅの前眼部を照明するための光源（前眼部照明光源）を備えてもよい。

ＳＬＯユニット２０には、ＳＬＯ計測を行うための光学系（ＳＬＯ光学系）が設けられている。ＯＣＴユニット１００には、ＯＣＴ計測を行うための光学系（干渉光学系、ＯＣＴ光学系）が設けられている。

眼科装置１には、これらに加え、被検者の顔を支持するための部材（顎受け、額当て等）や、ＯＣＴの対象部位を切り替えるためのレンズユニット（例えば、前眼部ＯＣＴ用アタッチメント）等の任意の要素やユニットが設けられてもよい。いくつかの実施形態では、レンズユニットが手動で被検眼Ｅと図示しない対物レンズとの間に挿脱されるように構成される。いくつかの実施形態では、後述の制御部２００からの制御を受け、レンズユニットが被検眼Ｅと対物レンズとの間に自動で挿脱されるように構成される。

［ＳＬＯユニット２０］
図２に、図１のＳＬＯユニット２０の構成例を示す。図２において、図１と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

ＳＬＯユニット２０は、ＳＬＯ光源２１と、コリメートレンズ２２と、ビームスプリッタ２３と、集光レンズ２４と、共焦点絞り２５と、検出器２６とを含む。ビームスプリッタ２３は、被検眼Ｅに投射されるＳＬＯ光源２１からの光（ＳＬＯ光）の光路に、その戻り光の光路を結合する光路結合部材である。

ＳＬＯ光源２１は、例えば中心波長が８４０ｎｍの光を発するものが用いられる。ＳＬＯ光源２１として、例えばレーザーダイオード（Ｌａｓｅｒ Ｄｉｏｄｅ：以下、ＬＤ）、スーパールミネッセントダイオード（Ｓｕｐｅｒ Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｔ Ｄｉｏｄｅ：ＳＬＤ）、レーザードリブンライトソース（Ｌａｓｅｒ Ｄｒｉｖｅｎ Ｌｉｇｈｔ Ｓｏｕｒｃｅ：ＬＤＬＳ）などが挙げられる。ＳＬＯ光源２１は、眼底共役位置又はその近傍に配置されている。

ＳＬＯ光源２１から発せられた光は、コリメートレンズ２２により平行光束とされる。平行光束とされた光は、ビームスプリッタ２３を透過する。ビームスプリッタ２３を透過した光は、光スキャナー３０Ａにより所定の偏向方向（例えば、ｘ方向）に偏向され、ダイクロイックミラーＤＭを透過して第１楕円面鏡１１Ａの第１反射面に導かれる。第１反射面により反射された光は、光スキャナー３０Ｂにより所定の偏向方向（例えば、ｙ方向）に偏向されて第２楕円面鏡１１Ｂの第２反射面に導かれる。第２反射面により反射された光は、被検眼位置における被検眼Ｅの瞳孔を通じて眼内に入射する。

被検眼Ｅの眼内に入射したＳＬＯ光源２１からの光は眼底Ｅｆにおいて反射され、その反射光である戻り光は、往路と同じ経路を逆向きに進行してビームスプリッタ２３により検出器２６に向けて反射される。ビームスプリッタ２３と検出器２６との間には、集光レンズ２４と共焦点絞り２５とが配置されている。集光レンズ２４は、ビームスプリッタ２３により反射された光を集光する。集光レンズ２４により集光された光は、共焦点絞り２５に形成された開口を通過し、検出器２６の検出面に入射する。共焦点絞り２５に形成された開口は、眼底共役位置又はその近傍に配置されている。検出器２６は、例えば、アバランシェフォトダイオード（Ａｖａｌａｎｃｈｅ ＰｈｏｔｏＤｉｏｄｅ：ＡＰＤ）又は光電子増倍管（ＰｈｏｔｏＭｕｌｔｉｐｌｉｅｒ Ｔｕｂｅ：ＰＭＴ）により構成されている。

［ＯＣＴユニット１００］
図３に、図１のＯＣＴユニット１００の構成例を示す。図３において、図１と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

ＯＣＴユニット１００には、被検眼ＥのＯＣＴ画像を取得するための光学系が設けられている。この光学系は、波長掃引型（波長走査型）光源からの光を測定光と参照光とに分割し、被検眼Ｅからの測定光の戻り光と参照光路を経由した参照光とを干渉させて干渉光を生成し、この干渉光を検出する干渉光学系である。干渉光学系による干渉光の検出結果（検出信号）は、干渉光のスペクトルを示す干渉信号であり、後述の画像形成部２１０、及びデータ処理部２２０等に送られる。

ＯＣＴ光源１０１は、一般的なスウェプトソースタイプの眼科装置と同様に、出射光の波長を掃引（走査）可能な波長掃引型（波長走査型）光源を含んで構成される。波長掃引型光源は、例えば、共振器を含み、中心波長が１０５０ｎｍの光を発するレーザー光源を含んで構成される。ＯＣＴ光源１０１は、人眼では視認できない近赤外の波長帯において、出力波長を時間的に変化させる。

ＯＣＴ光源１０１から出力された光Ｌ０は、光ファイバ１０２により偏波コントローラ１０３に導かれてその偏光状態が調整される。偏波コントローラ１０３は、例えばループ状にされた光ファイバ１０２に対して外部から応力を与えることで、光ファイバ１０２内を導かれる光Ｌ０の偏光状態を調整する。

偏波コントローラ１０３により偏光状態が調整された光Ｌ０は、光ファイバ１０４によりファイバカプラ１０５に導かれて測定光ＬＳと参照光ＬＲとに分割される。

参照光ＬＲは、光ファイバ１１０によりコリメータ１１１に導かれて平行光束に変換され、光路長補正部材１１２及び分散補償部材１１３を経由し、光路長変更部１１４に導かれる。光路長補正部材１１２は、参照光ＬＲの光路長と測定光ＬＳの光路長とを合わせるよう作用する。分散補償部材１１３は、参照光ＬＲと測定光ＬＳとの間の分散特性を合わせるよう作用する。

光路長変更部１１４は、図３に示す矢印の方向に移動可能とされ、参照光ＬＲの光路長を変更する。この移動により参照光ＬＲの光路の長さが変更される。この光路長の変更は、被検眼Ｅの眼軸長に応じた光路長の補正や、干渉状態の調整などに利用される。光路長変更部１１４は、例えばコーナーキューブと、これを移動する移動機構とを含んで構成される。この場合、光路長変更部１１４のコーナーキューブは、コリメータ１１１により平行光束とされた参照光ＬＲの進行方向を逆方向に折り返す。コーナーキューブに入射する参照光ＬＲの光路と、コーナーキューブから出射する参照光ＬＲの光路とは平行である。

光路長変更部１１４を経由した参照光ＬＲは、分散補償部材１１３及び光路長補正部材１１２を経由し、コリメータ１１６によって平行光束から集束光束に変換され、光ファイバ１１７に入射する。光ファイバ１１７に入射した参照光ＬＲは、偏波コントローラ１１８に導かれてその偏光状態が調整され、光ファイバ１１９によりアッテネータ１２０に導かれて光量が調整され、光ファイバ１２１によりファイバカプラ１２２に導かれる。

一方、ファイバカプラ１０５により生成された測定光ＬＳは、光ファイバ１２７によりに導かれ、コリメータレンズユニット４０により平行光束とされる。平行光束にされた測定光ＬＳは、光スキャナー５０により１次元的又は２次元的に偏向され、ダイクロイックミラーＤＭにより反射されて第１楕円面鏡１１Ａの第１反射面に導かれる。第１反射面により反射された測定光ＬＳは、偏向面が固定された状態の光スキャナー３０Ｂにより偏向されて第２楕円面鏡１１Ｂの第２反射面に導かれる。いくつかの実施形態では、被検眼Ｅ（眼底Ｅｆ）における計測部位に応じて光スキャナー３０Ｂの偏向面の向きが制御される。第２反射面により反射された測定光ＬＳは、被検眼位置における被検眼Ｅの瞳孔を通じて眼内に入射する。測定光ＬＳは、被検眼Ｅの様々な深さ位置において散乱（反射を含む）される。このような後方散乱光を含む測定光ＬＳの戻り光は、往路と同じ経路を逆向きに進行してファイバカプラ１０５に導かれ、光ファイバ１２８を経由してファイバカプラ１２２に到達する。

ファイバカプラ１２２は、光ファイバ１２８を介して入射された測定光ＬＳと、光ファイバ１２１を介して入射された参照光ＬＲとを合成して（干渉させて）干渉光を生成する。ファイバカプラ１２２は、所定の分岐比（例えば１：１）で、測定光ＬＳと参照光ＬＲとの干渉光を分岐することにより、一対の干渉光ＬＣを生成する。ファイバカプラ１２２から出射した一対の干渉光ＬＣは、それぞれ光ファイバ１２３、１２４により検出器１２５に導かれる。

検出器１２５は、例えば一対の干渉光ＬＣをそれぞれ検出する一対のフォトディテクタを有し、これらによる検出結果の差分を出力するバランスドフォトダイオード（Ｂａｌａｎｃｅｄ Ｐｈｏｔｏ Ｄｉｏｄｅ）である。検出器１２５は、その検出結果（干渉信号）をＤＡＱ（Ｄａｔａ Ａｃｑｕｉｓｉｔｉｏｎ Ｓｙｓｔｅｍ）１３０に送る。ＤＡＱ１３０には、ＯＣＴ光源１０１からクロックＫＣが供給される。クロックＫＣは、ＯＣＴ光源１０１において、波長掃引型光源により所定の波長範囲内で掃引（走査）される各波長の出力タイミングに同期して生成される。ＯＣＴ光源１０１は、例えば、各出力波長の光Ｌ０を分岐することにより得られた２つの分岐光の一方を光学的に遅延させた後、これらの合成光を検出した結果に基づいてクロックＫＣを生成する。ＤＡＱ１３０は、クロックＫＣに基づき、検出器１２５の検出結果をサンプリングする。ＤＡＱ１３０は、サンプリングされた検出器１２５の検出結果を後述の画像形成部２１０、及びデータ処理部２２０等に送る。後述の画像形成部２１０、及びデータ処理部２２０等は、例えば一連の波長走査毎に（Ａライン毎に）、検出器１２５により得られた検出結果に基づくスペクトル分布にフーリエ変換等を施すことにより、各Ａラインにおける反射強度プロファイルを形成する。更に、画像形成部２１０は、各Ａラインの反射強度プロファイルを画像化することにより画像データを形成する。

図４に、実施形態に係る眼科装置１の処理系の構成例を示す。図４において、図１～図３と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

眼科装置１の処理系は、制御部２００を中心に構成される。制御部２００は、眼科装置１の各部の制御を行う。制御部２００は、主制御部２０１と、記憶部２０２とを含む。主制御部２０１の機能は、例えばプロセッサにより実現される。記憶部２０２には、眼科装置１を制御するためのコンピュータプログラムがあらかじめ格納される。このコンピュータプログラムには、各種の光源制御用プログラム、光スキャナー制御用プログラム、各種の検出器制御用プログラム、画像形成用プログラム、データ処理用プログラム及びユーザインターフェイス用プログラムなどが含まれる。このようなコンピュータプログラムに従って主制御部２０１が動作することにより、制御部２００は制御処理を実行する。

本明細書において「プロセッサ」は、例えば、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、ＧＰＵ（Ｇｒａｐｈｉｃｓ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、ＡＳＩＣ（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ Ｓｐｅｃｉｆｉｃ Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ）、プログラマブル論理デバイス（例えば、ＳＰＬＤ（Ｓｉｍｐｌｅ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｌｏｇｉｃ Ｄｅｖｉｃｅ）、ＣＰＬＤ（Ｃｏｍｐｌｅｘ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｌｏｇｉｃ Ｄｅｖｉｃｅ）、ＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｇａｔｅ Ａｒｒａｙ））等の回路を意味する。プロセッサは、例えば、記憶回路や記憶装置に格納されているプログラムを読み出し実行することで、実施形態に係る機能を実現する。

（主制御部２０１）
主制御部２０１は、光学系１０、画像形成部２１０、データ処理部２２０、及びユーザインターフェイス（Ｕｓｅｒ Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ：ＵＩ）部２３０の各部を制御する

光学系１０に対する制御には、ＳＬＯ光学系に対する制御、ＯＣＴ光学系に対する制御などがある。

ＳＬＯ光学系に対する制御には、ＳＬＯユニット２０に対する制御、光スキャナー３０Ａ、３０Ｂに対する制御などがある。光スキャナー３０Ａ、３０Ｂに対する制御には、光スキャナー３０Ａによる走査位置や走査範囲や走査速度の制御、光スキャナー３０Ｂによる走査位置や走査範囲や走査速度の制御などがある。ＳＬＯユニット２０に対する制御には、ＳＬＯ光源２１に対する制御、検出器２６に対する制御などがある。ＳＬＯ光源２１に対する制御には、光源の点灯、消灯、光量調整、絞り調整などがある。検出器２６に対する制御には、検出素子の露光調整やゲイン調整や検出レート調整などがある。

ＯＣＴ光学系に対する制御には、ＯＣＴユニット１００に対する制御、光スキャナー５０に対する制御などがある。ＯＣＴユニット１００に対する制御には、ＯＣＴ光源１０１に対する制御、検出器１２５に対する制御、ＤＡＱ１３０に対する制御などが含まれる。ＯＣＴ光源１０１に対する制御には、光源の点灯、消灯、光量調整、絞り調整などがある。検出器１２５に対する制御には、検出素子の露光調整やゲイン調整や検出レート調整などがある。

光スキャナー５０に対する制御には、走査位置や走査範囲や走査速度や走査方向の制御などがある。光スキャナー５０が前述のように第１ガルバノスキャナーと第２ガルバノスキャナーとを含む場合、光スキャナー５０に対する制御には、前述の第１ガルバノスキャナーによる走査位置や走査範囲や走査速度の制御、前述の第２ガルバノスキャナーによる走査位置や走査範囲や走査速度の制御などがある。

第１制御例として、主制御部２０１（制御部２００）は、ＳＬＯ計測とＯＣＴ計測とで光スキャナー３０Ｂを共用するように制御する。具体的には、主制御部２０１は、ＳＬＯ計測モードにおいて、ＳＬＯ光源２１からの光をｘ方向（第１方向）に１次元的に偏向するように光スキャナー３０Ａを制御し、光スキャナー３０Ａにより偏向された光をｙ方向（第２方向）に１次元的に偏向するように光スキャナー３０Ｂを制御する。主制御部２０１は、ＯＣＴ計測モードにおいて、測定光ＬＳをｘ方向（第３方向）に１次元的に偏向するように光スキャナー５０を制御し、光スキャナー５０により偏向された測定光ＬＳをｙ方向（第４方向）に１次元的に偏向するように光スキャナー３０Ｂを制御する。

第２制御例として、主制御部２０１（制御部２００）は、ＯＣＴ計測時に光スキャナー３０Ｂの偏向動作を停止するように制御する。具体的には、主制御部２０１は、ＳＬＯ計測モードにおいて、ＳＬＯ光源２１からの光をｘ方向（第１方向）に１次元的に偏向するように光スキャナー３０Ａを制御し、光スキャナー３０Ａにより偏向された光をｙ方向（第２方向）に１次元的に偏向するように光スキャナー３０Ｂを制御する。主制御部２０１は、ＯＣＴ計測モードにおいて、計測部位に対応した範囲に測定光ＬＳが照射されるように光スキャナー３０Ｂの偏向面の向きを設定し、光スキャナー３０Ｂの偏向動作を停止させた状態で測定光ＬＳを２次元的に偏向するように光スキャナー５０を制御する。

更に、主制御部２０１は、ＯＣＴユニット１００に対する制御として、光路長変更部１１４の移動制御、アッテネータ１２０の動作制御、偏波コントローラ１０３、１１８の動作制御などを行うことが可能である。

また、主制御部２０１は、図示しない固視光学系を制御することにより、手動又は自動で設定された固視位置に固視を誘導するように被検眼Ｅに対して固視標を呈示することが可能である。

また、主制御部２０１は、図示しない合焦レンズを制御することにより、干渉光学系の光軸方向に合焦レンズを移動させ、測定光の合焦位置を変更することが可能である。例えば、合焦レンズを第１レンズ位置に移動させることにより、測定光ＬＳの合焦位置を眼底Ｅｆ又はその近傍に配置することができる。例えば、合焦レンズを第２レンズ位置に移動させることにより、測定光の合焦位置を遠点位置に配置して測定光ＬＳを平行光束にすることができる。測定光ＬＳの合焦位置は、測定光ＬＳのビームウェストの深さ位置（ｚ位置）に相当する。

主制御部２０１は、移動機構１０Ｄを制御することが可能である。移動機構１０Ｄは、例えば、光学系１０の少なくとも一部（例えば、干渉光学系）を３次元的に移動する。典型的な例において、移動機構１０Ｄは、少なくとも光学系１０をｘ方向（左右方向）に移動するための機構と、ｙ方向（上下方向）に移動するための機構と、ｚ方向（奥行き方向、前後方向）に移動するための機構とを含む。ｘ方向に移動するための機構は、例えば、ｘ方向に移動可能なｘステージと、ｘステージを移動するｘ移動機構とを含む。ｙ方向に移動するための機構は、例えば、ｙ方向に移動可能なｙステージと、ｙステージを移動するｙ移動機構とを含む。ｚ方向に移動するための機構は、例えば、ｚ方向に移動可能なｚステージと、ｚステージを移動するｚ移動機構とを含む。各移動機構は、パルスモータ等のアクチュエータを含み、主制御部２０１からの制御を受けて動作する。

移動機構１０Ｄに対する制御は、アライメントやトラッキングにおいて用いられる。トラッキングとは、被検眼Ｅの眼球運動に合わせて装置光学系を移動させるものである。トラッキングを行う場合には、事前にアライメントとフォーカス調整が実行される。トラッキングは、装置光学系の位置を眼球運動に追従させることにより、アライメントとピントが合った好適な位置関係を維持する機能である。いくつかの実施形態では、参照光の光路長（よって、測定光の光路と参照光の光路との間の光路長差）を変更するために移動機構１０Ｄの制御を行うように構成される。

マニュアルアライメントの場合、光学系に対する被検眼Ｅの変位がキャンセルされるようにユーザが後述のユーザインターフェイス部２３０に対して操作することにより光学系と被検眼Ｅとを相対移動させる。例えば、主制御部２０１は、ユーザインターフェイス部２３０に対する操作内容に対応した制御信号を移動機構１０Ｄに出力することにより移動機構１０Ｄを制御して光学系と被検眼Ｅとを相対移動させる。

オートアライメントの場合、光学系に対する被検眼Ｅの変位がキャンセルされるように主制御部２０１が移動機構１０Ｄを制御することにより光学系と被検眼Ｅとを相対移動させる。例えば、図示しない撮影光学系により取得された被検眼Ｅの画像と光学系の基準位置との変位がキャンセルされるように移動機構１０Ｄが制御される。いくつかの実施形態では、主制御部２０１は、光学系の光軸が被検眼Ｅの軸に略一致し、かつ、被検眼Ｅに対する光学系の距離が所定の作動距離になるように制御信号を移動機構１０Ｄに出力することにより移動機構１０Ｄを制御して光学系と被検眼Ｅとを相対移動させる。ここで、作動距離とは、図示しない対物レンズのワーキングディスタンスとも呼ばれる既定値であり、光学系を用いた測定時（撮影時）における被検眼Ｅと光学系との間の距離に相当する。

主制御部２０１は、指定された動作モードに従って、上記の各部を制御することが可能である。主制御部２０１は、ＳＬＯ計測モードにおいて、ＳＬＯユニット２０等を制御することによりＳＬＯ計測を制御する。主制御部２０１は、ＯＣＴ計測モードにおいて、ＯＣＴユニット１００等を制御することによりＯＣＴ計測を制御する。

例えば、主制御部２０１は、ＯＣＴ計測を行う前に複数の予備的な動作を実行可能である。予備的な動作としては、アライメント、フォーカス調整、光路長差調整、偏波調整などがある。複数の予備的な動作は、所定の順序で実行される。いくつかの実施形態では、複数の予備的な動作は、上記の順序で実行される。

なお、予備的な動作の種別や順序はこれに限定されるものではなく、任意である。例えば、被検眼Ｅが小瞳孔眼であるか否か判定するための予備動作（小瞳孔判定）を予備的な動作に加えることができる。小瞳孔判定は、例えば、フォーカス粗調整と光路長差調整との間に実行される。いくつかの実施形態では、小瞳孔判定は、以下の一連の処理を含む：被検眼Ｅの正面画像（前眼部像）の取得する処理；瞳孔に相当する画像領域を特定する処理；特定された瞳孔領域のサイズ（径、周長など）を求める処理；求められたサイズに基づき小瞳孔眼か否か判定する処理（閾値処理）；小瞳孔眼であると判定された場合に図示しない絞りを制御する処理。いくつかの実施形態では、瞳孔サイズを求めるために瞳孔領域を円近似または楕円近似する処理を更に含む。

フォーカス調整は、例えば、ＯＣＴ計測の干渉感度に基づいて行われる。例えば、被検眼ＥのＯＣＴ計測により取得された干渉信号の干渉強度（干渉感度）をモニタすることにより、干渉強度が最大となるような合焦レンズの位置を求め、その位置に合焦レンズを移動させることにより、フォーカス調整を実行することができる。

光路長差調整においては、被検眼Ｅにおける所定の位置が深さ方向の計測範囲の基準位置になるように制御される。この制御は、光路長変更部１１４に対して行われる。それにより、測定光路と参照光路との間の光路長差が調整される。光路長差調整により基準位置を設定しておくことで、波長掃引速度の変更を行うだけで深さ方向の所望の計測範囲に対して精度よくＯＣＴ計測を行うことができるようになる。

偏波調整においては、測定光ＬＳと参照光ＬＲとの干渉効率を最適化するために参照光ＬＲの偏光状態が調整される。

（記憶部２０２）
記憶部２０２は、各種のデータを記憶する。記憶部２０２に記憶されるデータとしては、例えば、ＳＬＯ画像の画像データ、ＯＣＴ画像の画像データ、眼底像の画像データ、前眼部像の画像データ、被検眼情報などがある。被検眼情報は、患者ＩＤや氏名などの被検者に関する情報や、左眼／右眼の識別情報などの被検眼に関する情報を含む。

また、記憶部２０２には、補正データ２０２Ａが記憶されている。補正データ２０２Ａは、光スキャナー５０（第１ガルバノスキャナー及び第２ガルバノスキャナーの少なくとも１つ）による測定光ＬＳの偏向角度に応じて、干渉光ＬＣの検出結果又は当該検出結果に基づいて形成される断層像を深さ方向（ｚ方向）に補正するためのデータである。いくつかの実施形態では、補正データ２０２Ａは、光スキャナー５０による測定光ＬＳの偏向角度に対応して、光学系１０における光学的な誤差をキャンセルするためのデータである。いくつかの実施形態では、補正データ２０２Ａは、光スキャナー５０による測定光ＬＳの偏向角度に対応して、瞳孔共役位置に対する光スキャナー５０の偏向面の変位に起因した光路長の変化をキャンセルするためのデータである。いくつかの実施形態では、補正データ２０２Ａは、光スキャナー５０による測定光ＬＳの偏向角度に対応して、光学系１０における光学的な誤差と瞳孔共役位置に対する光スキャナー５０の偏光面の変位に起因した光路長の変化とをキャンセルするためのデータである

例えば、補正データ２０２Ａは、光スキャナー５０による測定光ＬＳの偏向角度に対応して、光学系１０に対して公知の光線追跡処理を行うことにより生成される。例えば、補正データ２０２Ａは、校正用の被測定物体（例えば、模型眼等の形状が既知である物体）に対して測定光ＬＳを照射し、光スキャナー５０による測定光ＬＳの偏向角度に対応して取得された干渉光ＬＣの検出結果又は当該検出結果に基づいて形成される断層像を解析することにより生成される。このような補正データ２０２Ａの生成は、設計工程、出荷工程、又は複数のＯＣＴ計測の間に行われる。

いくつかの実施形態では、記憶部２０２は、測定光ＬＳの複数のスキャンモードに対応した複数の補正データ２０２Ａを記憶する。

また、記憶部２０２には、眼科装置１を動作させるための各種プログラムやデータが記憶されている。

（画像形成部２１０）
画像形成部２１０は、ＳＬＯ画像形成部２１０Ａと、ＯＣＴ画像形成部２１０Ｂとを含む。ＳＬＯ画像形成部２１０Ａは、検出器２６から入力される検出信号と、制御部２００から入力される画素位置信号とに基づいて、ＳＬＯ画像の画像データを形成する。ＯＣＴ画像形成部２１０Ｂは、検出器１２５からの検出信号をＤＡＱ１３０でサンプリングすることにより得られたサンプリングデータに基づいて、被検眼ＥのＯＣＴ画像（画像データ）を形成する。ＯＣＴ画像形成部２１０Ｂは、ＤＡＱ１３０（検出器１２５）から入力される検出信号と、制御部２００から入力される画素位置信号とに基づいて、ＯＣＴ画像の画像データを形成する。ＯＣＴ画像形成部２１０Ｂにより形成されるＯＣＴ画像には、Ａスキャン画像、Ｂスキャン画像（断層像）、Ｃスキャン画像などがある。この処理には、従来のスウェプトソースタイプのＯＣＴと同様に、ノイズ除去（ノイズ低減）、フィルタ処理、分散補償、ＦＦＴ（Ｆａｓｔ Ｆｏｕｒｉｅｒ Ｔｒａｎｓｆｏｒｍ）などの処理が含まれている。他のタイプのＯＣＴ装置の場合、画像形成部２１０は、そのタイプに応じた公知の処理を実行する。画像形成部２１０により形成された各種の画像（画像データ）は、例えば記憶部２０２に保存される。

例えば、画像形成部２１０の機能は、画像形成部２１０の機能を実現する画像形成プロセッサにより実現される。

（データ処理部２２０）
データ処理部２２０は、被検眼Ｅに対するＳＬＯ計測又はＯＣＴ計測により取得されたデータを処理する。データ処理部２２０は、画像形成部２１０により形成された画像に対して各種の画像処理や解析処理を施す。例えば、データ処理部２２０は、画像の輝度補正等の各種補正処理を実行する。また、データ処理部２２０は、図示しない撮影光学系により得られた画像（眼底像、前眼部像等）に対して各種の画像処理や解析処理を施すことが可能である。

データ処理部２２０は、断層像の間の画素を補間する補間処理などの公知の画像処理を実行して、眼底Ｅｆの３次元画像の画像データを形成する。なお、３次元画像の画像データとは、３次元座標系により画素の位置が定義された画像データを意味する。３次元画像の画像データとしては、３次元的に配列されたボクセルからなる画像データがある。この画像データは、ボリュームデータ或いはボクセルデータなどと呼ばれる。ボリュームデータに基づく画像を表示させる場合、データ処理部２２０は、このボリュームデータに対してレンダリング処理（ボリュームレンダリングやＭＩＰ（Ｍａｘｉｍｕｍ Ｉｎｔｅｎｓｉｔｙ Ｐｒｏｊｅｃｔｉｏｎ：最大値投影）など）を施して、特定の視線方向から見たときの擬似的な３次元画像の画像データを形成する。ユーザインターフェイス部２３０に含まれる表示デバイスには、この擬似的な３次元画像が表示される。

また、３次元画像の画像データとして、複数の断層像のスタックデータを形成することも可能である。スタックデータは、複数のスキャンラインに沿って得られた複数の断層像を、スキャンラインの位置関係に基づいて３次元的に配列させることで得られる画像データである。すなわち、スタックデータは、元々個別の２次元座標系により定義されていた複数の断層像を、１つの３次元座標系により表現する（つまり１つの３次元空間に埋め込む）ことにより得られる画像データである。

データ処理部２２０は、取得された３次元データセット（ボリュームデータ、スタックデータ等）に各種のレンダリングを施すことで、任意断面におけるＢモード画像（縦断面像、軸方向断面像）、任意断面におけるＣモード画像（横断面像、水平断面像）、プロジェクション画像、シャドウグラムなどを形成することができる。Ｂモード画像やＣモード画像のような任意断面の画像は、指定された断面上の画素（ピクセル、ボクセル）を３次元データセットから選択することにより形成される。プロジェクション画像は、３次元データセットを所定方向（ｚ方向、深さ方向、軸方向）に投影することによって形成される。シャドウグラムは、３次元データセットの一部（たとえば特定層に相当する部分データ）を所定方向に投影することによって形成される。Ｃモード画像、プロジェクション画像、シャドウグラムのような、被検眼の正面側を視点とする画像を正面画像（ｅｎ－ｆａｃｅ画像）と呼ぶ。

データ処理部２２０は、ＯＣＴにより時系列に収集されたデータ（例えば、Ｂスキャン画像データ）に基づいて、網膜血管や脈絡膜血管が強調されたＢモード画像や正面画像（血管強調画像、アンギオグラム）を構築することができる。例えば、被検眼Ｅの略同一部位を反復的にスキャンすることにより、時系列のＯＣＴデータを収集することができる。

いくつかの実施形態では、データ処理部２２０は、略同一部位に対するＢスキャンにより得られた時系列のＢスキャン画像を比較し、信号強度の変化部分の画素値を変化分に対応した画素値に変換することにより当該変化部分が強調された強調画像を構築する。更に、データ処理部２２０は、構築された複数の強調画像から所望の部位における所定の厚さ分の情報を抽出してｅｎ－ｆａｃｅ画像として構築することでＯＣＴＡ像を形成する。

データ処理部２２０により生成された画像（例えば、３次元画像、Ｂモード画像、Ｃモード画像、プロジェクション画像、シャドウグラム、ＯＣＴＡ像）もまたＯＣＴ画像に含まれる。

更に、データ処理部２２０は、ＯＣＴ計測により得られた干渉光の検出結果を解析してフォーカス調整制御における測定光ＬＳのフォーカス状態を判定する。例えば、主制御部２０１は、合焦レンズを駆動する合焦駆動部を所定のアルゴリズムにしたがって制御しつつ、反復的なＯＣＴ計測を行う。データ処理部２２０は、ＯＣＴ計測により繰り返し取得される干渉光ＬＣの検出結果を解析することで、ＯＣＴ画像の画質に関する所定の評価値を算出する。データ処理部２２０は、算出された評価値が閾値以下であるか否か判定する。いくつかの実施形態では、フォーカス調整は、算出される評価値が閾値以下になるまで継続される。すなわち、評価値が閾値以下であるとき測定光ＬＳのフォーカス状態が適正であると判断され、フォーカス調整は、測定光ＬＳのフォーカス状態が適正であると判断されるまで継続される。

いくつかの実施形態では、主制御部２０１は、上記のような反復的なＯＣＴ計測を行って干渉信号を取得しつつ、逐次に取得される干渉信号の強度（干渉強度、干渉感度）をモニタする。更に、このモニタ処理を行いながら、合焦レンズを移動させることにより、干渉強度が最大となるような合焦レンズの位置を探索する。このようなフォーカス調整によれば、干渉強度が最適化されるような位置に合焦レンズを導くことができる。

また、データ処理部２２０は、ＯＣＴ計測により得られた干渉光の検出結果を解析して、測定光ＬＳ及び参照光ＬＲの少なくとも一方の偏波状態を判定する。例えば、主制御部２０１は、偏波コントローラ１０３、１１８の少なくとも一方を所定のアルゴリズムにしたがって制御しつつ、反復的なＯＣＴ計測を行う。いくつかの実施形態では、主制御部２０１は、アッテネータ１２０を制御して、参照光ＬＲの減衰量を変更する。データ処理部２２０は、ＯＣＴ計測により繰り返し取得される干渉光ＬＣの検出結果を解析することで、ＯＣＴ画像の画質に関する所定の評価値を算出する。データ処理部２２０は、算出された評価値が閾値以下であるか否か判定する。この閾値はあらかじめ設定される。偏波調整は、算出される評価値が閾値以下になるまで継続される。すなわち、評価値が閾値以下であるとき測定光ＬＳの偏波状態が適正であると判断され、偏波調整は、測定光ＬＳの偏波状態が適正であると判断されるまで継続される。

いくつかの実施形態では、主制御部２０１は、偏波調整においても干渉強度をモニタすることが可能である。

更に、データ処理部２２０は、ＳＬＯ計測により得られたＳＬＯ画像、ＯＣＴ計測により得られた干渉光の検出結果、又は当該検出結果に基づいて形成されたＯＣＴ画像に対して所定の解析処理を行う。所定の解析処理には、被検眼Ｅにおける所定の部位（組織、病変部）の特定；指定された部位間の距離（層間距離）、面積、角度、比率、密度の算出；指定された計算式による演算；所定の部位の形状の特定；これらの統計値の算出；計測値、統計値の分布の算出；これら解析処理結果に基づく画像処理などがある。所定の組織には、血管、視神経乳頭、中心窩、黄斑などがある。所定の病変部には、白斑、出血などがある。

（補正部２２１）
データ処理部２２０は、補正部２２１を含む。補正部２２１は、画像形成部２１０（ＯＣＴ画像形成部２１０Ｂ）により形成されたＡスキャン画像（断層像）の深さ方向（ｚ方向）の位置を記憶部２０２に記憶された補正データ２０２Ａに基づいて補正する。いくつかの実施形態では、補正部２２１は、ＤＡＱ１３０によりサンプリングされた干渉光ＬＣの検出結果の深さ方向の位置を補正データ２０２Ａに基づいて補正する。それにより、光スキャナー５０による測定光ＬＳの偏向角度に対応して、光学系１０における光学的な誤差がキャンセルされる。また、光スキャナー５０による測定光ＬＳの偏向角度に対応して、瞳孔共役位置に対する光スキャナー５０の偏向面の変位に起因した光路長の変化がキャンセルされる。

図５に、実施形態に係る眼科装置１の動作説明図を示す。図５は、光スキャナー５０の偏向角度に対応した光路長の変化を説明するための図を表す。

上記のように、光スキャナー５０が２次元的に測定光ＬＳを偏向する場合、瞳孔共役位置に対して光スキャナー５０の偏向面が変位する。それにより、光スキャナー５０により偏向された測定光ＬＳで眼底Ｅｆをスキャンした場合、偏向角度に応じて光路長差が変化する。このような光路長差が変化した干渉光ＬＣの検出結果に基づいて形成されるＡスキャン画像において、光路長差の変化に伴い深さ位置も変化する。その結果、図５の断層像ＩＭＧ０に示すように、光スキャナー５０の偏向角度に依存した不自然な深さ方向の歪みが生じる。

これに対して、上記のように補正部２２１が、補正データに基づいてＡスキャン画像（又は干渉光ＬＣの検出結果）を深さ方向に補正することができる。それにより、図５の断層像ＩＭＧ１に示すように、光スキャナー５０の偏向角度に依存することなく、他のレンズ光学系を用いたＯＣＴ計測により取得された断層像と同様の不自然な歪みのない断層像を取得することができる。従って、不自然な歪みに起因して計測精度を低下させることなく、より広角で取得されたＯＣＴ計測の計測精度も向上させることができる。

以上のように機能するデータ処理部２２０は、例えば、前述のプロセッサ、ＲＡＭ、ＲＯＭ、ハードディスクドライブ、回路基板等を含んで構成される。ハードディスクドライブ等の記憶装置には、上記機能をプロセッサに実行させるコンピュータプログラムがあらかじめ格納されている。

（ユーザインターフェイス部２３０）
ユーザインターフェイス部２３０は、ユーザと眼科装置１との間で情報のやりとりを行うための機能を備える。ユーザインターフェイス部２３０は、表示デバイスと操作デバイス（入力デバイス）とを含む。表示デバイスは、表示部を含んでよく、それ以外の表示デバイスを含んでもよい。表示デバイスは、各種の情報を表示させる。表示デバイスは、例えば液晶ディスプレイを含み、主制御部２０１からの制御を受け、上記の情報を表示する。表示デバイスに表示される情報には、制御部２００による制御結果に対応した情報、画像形成部２１０又はデータ処理部２２０による演算結果に対応した情報（画像）、光学系１０により取得された情報（画像）などがある。操作デバイスは、各種のハードウェアキー及び／又はソフトウェアキーを含む。主制御部２０１は、操作デバイスに対する操作内容を受け、操作内容に対応した制御信号を各部に出力することが可能である。操作デバイスの少なくとも一部と表示デバイスの少なくとも一部とを一体的に構成することが可能である。タッチパネルディスプレイはその一例である。

第１楕円面鏡１１Ａは、実施形態に係る「第１凹面鏡」の一例である。第２楕円面鏡１１Ｂは、実施形態に係る「第２凹面鏡」の一例である。ＳＬＯユニット２０に含まれる光学系は、実施形態に係る「ＳＬＯ光学系」の一例である。ＯＣＴユニット１００に含まれる光学系、コリメータレンズユニット４０、及び光スキャナー５０は、実施形態に係る「ＯＣＴ光学系」の一例である。光スキャナー３０Ａは、実施形態に係る「第１光スキャナー」の一例である。光スキャナー３０Ｂは、実施形態に係る「第２光スキャナー」の一例である。光スキャナー５０は、実施形態に係る「第３光スキャナー」の一例である。ダイクロイックミラーＤＭは、実施形態に係る「光路結合部材」の一例である。

［動作］
実施形態に係る眼科装置１の動作例について説明する。

図６に、実施形態に係る眼科装置１の動作例を示す。図６は、眼科装置１がＯＣＴ計測を行う場合の動作例を表す。図６は、実施形態に係る眼科装置１の動作例のフローチャートを表す。記憶部２０２には、図６に示す処理を実現するためのコンピュータプログラムが記憶されている。主制御部２０１は、このコンピュータプログラムに従って動作することにより、図６に示す処理を実行する。

（Ｓ１：スキャンモードを指定）
主制御部２０１は、ユーザによるスキャンモードの指定を受け付ける。

ユーザは、ユーザインターフェイス部２３０における操作デバイスに対する操作によりスキャンモード又は動作モードを指定することが可能である。ユーザによって操作デバイスに対する操作によりスキャンモード（例えば、水平スキャン、垂直スキャン）が指定されたとき、主制御部２０１は、操作デバイスからの操作情報を解析して、指定されたスキャンモードを特定する。ユーザによって操作デバイスに対する操作により動作モードが指定されたとき、主制御部２０１は、操作情報を解析して、指定された動作モード（ＯＣＴ計測モード）においてあらかじめ指定されたスキャンモード（例えば、水平スキャン、垂直スキャン）を特定する。

（Ｓ２：アライメント）
次に、主制御部２０１は、アライメントを実行する。

すなわち、主制御部２０１は、図示しないアライメント光学系を制御して、被検眼Ｅにアライメント指標を投影させる。このとき、被検眼Ｅには、固視標も投影される。主制御部２０１は、例えばＳＬＯ光学系又は図示しない撮影光学系を用いて取得された受光像に基づいて特定された光学系の移動量に基づいて移動機構１０Ｄを制御し、被検眼Ｅに対して光学系を当該移動量だけ相対的に移動させる。主制御部２０１は、この処理を繰り返し実行させる。

（Ｓ３：調整用断層像を取得）
主制御部２０１は、例えば、所定位置にＯＣＴ計測用の固視標を表示させる。

続いて、主制御部２０１は、ＯＣＴユニット１００を制御してＯＣＴ仮計測を実行させ、深さ方向の計測範囲の基準位置を調整するための調整用断層像を取得させる。具体的には、主制御部２０１は、光スキャナー３０Ｂを制御して測定光ＬＳが眼底Ｅｆの所定部位（例えば、眼底Ｅｆ）を照射するように偏向させた状態で、光スキャナー５０を制御することによりＯＣＴ光源１０１から出射された光Ｌ０に基づいて生成された測定光ＬＳを偏向し、偏向された測定光ＬＳで被検眼Ｅの所定部位をスキャンさせる。測定光ＬＳのスキャンにより得られた干渉光の検出結果は、クロックＫＣに同期してサンプリングされた後、画像形成部２１０に送られる。画像形成部２１０は、得られた干渉信号から被検眼Ｅの断層像（ＯＣＴ画像）を形成する。

（Ｓ４：深さ方向の基準位置を調整）
続いて、主制御部２０１は、深さ方向（ｚ方向）の計測範囲の基準位置を調整する。

例えば、主制御部２０１は、ステップＳ３において得られた断層像における所定の部位（例えば、強膜）をデータ処理部２２０に特定させ、特定された所定の部位の位置に対して深さ方向に所定の距離だけ離れた位置を計測範囲の基準位置として設定する。また、測定光ＬＳと参照光ＬＲの光路長が略一致するようにあらかじめ決められた所定の位置が計測範囲の基準位置として設定されてもよい。

（Ｓ５：フォーカス調整、偏波調整）
次に、主制御部２０１は、フォーカス調整制御及び偏波調整制御を実行する。

例えば、主制御部２０１は、図示しない合焦駆動部を制御して合焦レンズを所定の距離だけ移動させた後、ＯＣＴユニット１００を制御してＯＣＴ計測を実行させる。主制御部２０１は、上記のように、ＯＣＴ計測により得られた干渉光の検出結果に基づいて測定光ＬＳのフォーカス状態をデータ処理部２２０に判定させる。データ処理部２２０による判定結果に基づいて測定光ＬＳのフォーカス状態が適正ではないと判断されたとき、主制御部２０１は、再び合焦駆動部の制御を行い、フォーカス状態が適正であると判断されるまで繰り返す。

また、例えば、主制御部２０１は、偏波コントローラ１０３、１１８の少なくとも一方を制御して光Ｌ０及び測定光ＬＳの少なくとも一方の偏波状態を所定の量だけ変更した後、ＯＣＴユニット１００を制御してＯＣＴ計測を実行させ、取得された干渉光の検出結果に基づくＯＣＴ画像を画像形成部２１０に形成させる。主制御部２０１は、上記のように、ＯＣＴ計測により得られたＯＣＴ画像の画質をデータ処理部２２０に判定させる。データ処理部２２０による判定結果に基づいて測定光ＬＳの偏波状態が適正ではないと判断されたとき、主制御部２０１は、再び偏波コントローラ１０３、１１８の制御を行い、偏波状態が適正であると判断されるまで繰り返す。

（Ｓ６：干渉信号を取得）
続いて、主制御部２０１は、光スキャナー３０Ｂを制御して測定光ＬＳが所望の計測部位を含む計測範囲を照射するように偏光面の向きを設定する。主制御部２０１は、光スキャナー３０Ｂの偏光面の向きを固定した状態で、光スキャナー５０を制御することによりＯＣＴ光源１０１から出射された光Ｌ０に基づいて生成された測定光ＬＳを偏向し、偏向された測定光ＬＳで被検眼Ｅの所定部位をスキャンさせる。当該ＯＣＴ計測により取得された干渉光の検出結果は、ＤＡＱ１３０においてサンプリングされ、干渉信号として記憶部２０２等に保存される。

（Ｓ７：断層像を形成）
次に、主制御部２０１は、ステップＳ６において取得された干渉信号に基づいてＢスキャン方向に沿って眼底Ｅｆの複数のＡスキャン画像を画像形成部２１０に形成させる。

（Ｓ８：断層像を補正）
主制御部２０１は、記憶部２０２に記憶された補正データ２０２Ａに基づいて、ステップＳ７において形成された複数のＡスキャン画像の少なくとも一部を光スキャナー５０の偏向角度に応じた深さ方向の位置を調整する補正処理を補正部２２１に実行させる。それにより、新たな複数のＡスキャン画像が得られる。主制御部２０１は、新たに生成された複数のＡスキャン画像に基づいてＢスキャン画像（図５の断層像ＩＭＧ１）を表示デバイスに表示させることが可能である。

以上で、眼科装置１の動作は終了である（エンド）。

なお、上記の実施形態では、光スキャナー３０Ａ、３０Ｂ、５０は、ガルバノスキャナーにより構成される場合について説明したが、実施形態に係る構成はこれに限定されるものではない。例えば、光スキャナー３０Ａ、３０Ｂ、５０の少なくとも１つは、レゾナントミラー又はポリゴンミラー等により構成されていてもよい。

［効果］
実施形態に係る眼科装置、及びその制御方法について説明する。

いくつかの実施形態に係る眼科装置（１）は、第１凹面鏡（第１楕円面鏡１１Ａ）と、第２凹面鏡（第２楕円面鏡１１Ｂ）と、ＳＬＯ光学系（ＳＬＯユニット２０に含まれる光学系）と、第１光スキャナー（光スキャナー３０Ａ）と、第２光スキャナー（光スキャナー３０Ｂ）と、ＯＣＴ光学系（ＯＣＴユニット１００に含まれる光学系、コリメータレンズユニット４０、光スキャナー５０）と、光路結合部材（ダイクロイックミラーＤＭ）と、補正部（２２１）とを含む。第１凹面鏡は、凹面状の第１反射面を有する。第２凹面鏡は、凹面状の第２反射面を有する。ＳＬＯ光学系は、第１凹面鏡及び第２凹面鏡を介してＳＬＯ光源（２１）からの光を被検眼（Ｅ）に照射し、被検眼からの戻り光を検出するために用いられる。第１光スキャナーは、ＳＬＯ光源からの光を偏向して第１反射面に導く。第２光スキャナーは、第１反射面により反射された光を偏向して第２反射面に導く。ＯＣＴ光学系は、第３光スキャナー（光スキャナー５０）を含み、ＯＣＴ光源（１０１）からの光（Ｌ０）を測定光（ＬＳ）と参照光（ＬＲ）とに分割し、第３光スキャナーにより偏向された測定光を被検眼に照射し、被検眼からの戻り光と参照光との干渉光（ＬＣ）を検出するために用いられる。光路結合部材は、第１光スキャナーと第１凹面鏡との間に配置され、ＳＬＯ光学系の光路とＯＣＴ光学系の光路とを結合する。補正部は、ＯＣＴ光学系により検出された干渉光の検出結果又は検出結果に基づく画像（断層像、ＯＣＴ画像）を補正する。

このような構成によれば、第３光スキャナーによる測定光の偏向角度に対応して、第１凹面鏡、第２凹面鏡、及び第２光スキャナーを含む光学的な誤差をキャンセルすることができる。それにより、光学系の公差に制限されることなく、より広角で高精度な計測結果を取得することが可能になる。また、第３光スキャナーによる測定光の偏向角度に対応して、瞳孔共役位置に対する第３光スキャナーの偏向面の変位に起因した光路長の変化をキャンセルすることができる。それにより、第３光スキャナーの偏向角度に依存することなく、他のレンズ光学系を用いたＯＣＴ計測により取得された画像と同様の不自然な歪みのない画像を取得することができる。従って、不自然な歪みに起因して計測精度を低下させることなく、低コスト、且つ高精度で、凹面鏡を用いた広角の計測が可能になる。

いくつかの実施形態に係る眼科装置は、第１動作モード（ＳＬＯ計測モード）において、ＳＬＯ光源からの光を第１方向（ｘ方向）に１次元的に偏向するように第１光スキャナーを制御し、第１光スキャナーにより偏向された光を第１方向に交差する第２方向（ｙ方向）に１次元的に偏向するように第２光スキャナーを制御し、第２動作モード（ＯＣＴ計測モード）において、測定光を第３方向（ｘ方向）に１次元的に偏向するように第３光スキャナーを制御し、第３光スキャナーにより偏向された測定光を第３方向に交差する第４方向（ｙ方向）に１次元的に偏向するように第２光スキャナーを制御する制御部（２００、主制御部２０１）を含む。

このような構成によれば、ＳＬＯ計測とＯＣＴ計測とで第２光スキャナーを共用しつつ、より広角で取得されたＯＣＴ計測の計測精度も向上させることができる。

いくつかの実施形態に係る眼科装置は、第１動作モード（ＳＬＯ計測モード）において、ＳＬＯ光源からの光を第１方向（ｘ方向）に１次元的に偏向するように第１光スキャナーを制御し、第１光スキャナーにより偏向された光を第１方向に交差する第２方向（ｙ方向）に１次元的に偏向するように第２光スキャナーを制御し、第２動作モード（ＯＣＴ計測モード）において第２光スキャナーの偏向動作を停止させた状態で測定光を２次元的に偏向するように第３光スキャナーを制御する制御部（２００、主制御部２０１）を含む。

このような構成によれば、低コスト、且つ高精度で、凹面鏡を用いた広角の計測が可能になる。

いくつかの実施形態に係る眼科装置では、制御部は、第２動作モードにおいて、測定光を被検眼の計測部位に対応した計測方向に偏向するように第２光スキャナーを制御した後、測定光を２次元的に偏向するように第３光スキャナーを制御する。

このような構成によれば、被検眼の計測部位を含む広角の範囲を、凹面鏡を用いて低コスト且つ高精度で計測を行うことが可能になる。

いくつかの実施形態に係る眼科装置では、第１反射面は、楕円面であり、第１光スキャナーは、第１凹面鏡の第１焦点又はその近傍に配置され、第２光スキャナーは、第１凹面鏡の第２焦点又はその近傍に配置される。

このような構成によれば、低コスト、且つ高精度で、楕円面鏡を用いた広角の計測が可能になる。

いくつかの実施形態に係る眼科装置では、第２反射面は、楕円面であり、第２光スキャナーは、第２凹面鏡の第３焦点又はその近傍に配置され、被検眼は、第２凹面鏡の第４焦点又はその近傍に配置される。

このような構成によれば、低コスト、且つ高精度で、楕円面鏡を用いた広角の計測が可能になる。

いくつかの実施形態に係る眼科装置は、補正データ（２０２Ａ）をあらかじめ記憶する記憶部（２０２）を含み、補正部は、記憶部に記憶された補正データに基づいて、測定光の進行方向（ｚ方向、深さ方向）に干渉光の検出結果又は検出結果に基づく画像の位置を補正する。

このような構成によれば、簡素な構成で、第３光スキャナーの偏向角度に依存することなく、不自然な歪みのない画像を取得することができる。従って、不自然な歪みに起因して計測精度を低下させることなく、低コスト、且つ高精度で、凹面鏡を用いた広角の計測が可能になる。

いくつかの実施形態に係る眼科装置では、補正データは、第３光スキャナーによる測定光の偏向角度に対応して干渉光の検出結果又は検出結果に基づく画像を補正するためのデータである。

このような構成によれば、第３光スキャナーの偏向角度に依存することなく、不自然な歪みのない画像を取得することができる。

いくつかの実施形態に係る眼科装置では、第２光スキャナーは、第１光スキャナーの偏向速度より低速でＳＬＯ光源からの光を偏向する。

このような構成によれば、第１光スキャナーにより高速で偏向し、第２光スキャナーにより低速で偏向する公知のＳＬＯ計測を行うことが可能になる。

いくつかの実施形態は、第１凹面鏡（第１楕円面鏡１１Ａ）と、第２凹面鏡（第２楕円面鏡１１Ｂ）と、ＳＬＯ光学系（ＳＬＯユニット２０に含まれる光学系）と、第１光スキャナー（光スキャナー３０Ａ）と、第２光スキャナー（光スキャナー３０Ｂ）と、ＯＣＴ光学系（ＯＣＴユニット１００に含まれる光学系、コリメータレンズユニット４０、光スキャナー５０）と、光路結合部材（ダイクロイックミラーＤＭ）とを含む眼科装置（１）の制御方法である。第１凹面鏡は、凹面状の第１反射面を有する。第２凹面鏡は、凹面状の第２反射面を有する。ＳＬＯ光学系は、第１凹面鏡及び第２凹面鏡を介してＳＬＯ光源（２１）からの光を被検眼（Ｅ）に照射し、被検眼からの戻り光を検出するために用いられる。第１光スキャナーは、ＳＬＯ光源からの光を偏向して第１反射面に導く。第２光スキャナーは、第１反射面により反射された光を偏向して第２反射面に導く。ＯＣＴ光学系は、第３光スキャナー（光スキャナー５０）を含み、ＯＣＴ光源（１０１）からの光（Ｌ０）を測定光（ＬＳ）と参照光（ＬＲ）とに分割し、第３光スキャナーにより偏向された測定光を被検眼に照射し、被検眼からの戻り光と参照光との干渉光（ＬＣ）を検出するために用いられる。光路結合部材は、第１光スキャナーと第１凹面鏡との間に配置され、ＳＬＯ光学系の光路とＯＣＴ光学系の光路とを結合する。眼科装置の制御方法は、ＯＣＴ光学系を用いて被検眼に対して光コヒーレンストモグラフィを実行することにより干渉光の検出結果を取得する取得ステップと、取得ステップにおいて取得された干渉光の検出結果又は検出結果に基づく画像（断層像、ＯＣＴ画像）を補正する補正ステップと、を含む。

このような方法によれば、第３光スキャナーによる測定光の偏向角度に対応して、第１凹面鏡、第２凹面鏡、及び第２光スキャナーを含む光学的な誤差をキャンセルすることができる。それにより、光学系の公差に制限されることなく、より広角で高精度な計測結果を取得することが可能になる。また、第３光スキャナーによる測定光の偏向角度に対応して、瞳孔共役位置に対する第３光スキャナーの偏向面の変位に起因した光路長の変化をキャンセルすることができる。それにより、第３光スキャナーの偏向角度に依存することなく、他のレンズ光学系を用いたＯＣＴ計測により取得された画像と同様の不自然な歪みのない画像を取得することができる。従って、不自然な歪みに起因して計測精度を低下させることなく、低コスト、且つ高精度で、凹面鏡を用いた広角の計測が可能になる。

いくつかの実施形態に係る眼科装置の制御方法は、第１動作モード（ＳＬＯ計測モード）において、ＳＬＯ光源からの光を第１方向（ｘ方向）に１次元的に偏向するように第１光スキャナーを制御し、第１光スキャナーにより偏向された光を第１方向に交差する第２方向（ｙ方向）に１次元的に偏向するように第２光スキャナーを制御する第１制御ステップと、第２動作モード（ＯＣＴ計測モード）において、測定光を第３方向（ｘ方向）に１次元的に偏向するように第３光スキャナーを制御し、第３光スキャナーにより偏向された測定光を第３方向に交差する第４方向（ｙ方向）に１次元的に偏向するように第２光スキャナーを制御する第２制御ステップと、を含む。

このような方法によれば、ＳＬＯ計測とＯＣＴ計測とで第２光スキャナーを共用しつつ、より広角で取得されたＯＣＴ計測の計測精度も向上させることができる。

いくつかの実施形態に係る眼科装置の制御方法は、第１動作モード（ＳＬＯ計測モード）において、ＳＬＯ光源からの光を第１方向（ｘ方向）に１次元的に偏向するように第１光スキャナーを制御し、第１光スキャナーにより偏向された光を第１方向に交差する第２方向（ｙ方向）に１次元的に偏向するように第２光スキャナーを制御する第１制御ステップと、第２動作モード（ＯＣＴ計測モード）において第２光スキャナーの偏向動作を停止させた状態で測定光を２次元的に偏向するように第３光スキャナーを制御する第２制御ステップと、を含む。

このような方法によれば、低コスト、且つ高精度で、凹面鏡を用いた広角の計測が可能になる。

いくつかの実施形態に係る眼科装置の制御方法では、第２制御ステップは、測定光を被検眼の計測部位に対応した計測方向に偏向するように第２光スキャナーを制御した後、測定光を２次元的に偏向するように第３光スキャナーを制御する。

このような方法によれば、被検眼の計測部位を含む広角の範囲を、凹面鏡を用いて低コスト且つ高精度で計測を行うことが可能になる。

いくつかの実施形態に係る眼科装置の制御方法では、第１反射面は、楕円面であり、第１光スキャナーは、第１凹面鏡の第１焦点又はその近傍に配置され、第２光スキャナーは、第１凹面鏡の第２焦点又はその近傍に配置される。

このような方法によれば、低コスト、且つ高精度で、楕円面鏡を用いた広角の計測が可能になる。

いくつかの実施形態に係る眼科装置の制御方法では、第２反射面は、楕円面であり、第２光スキャナーは、第２凹面鏡の第３焦点又はその近傍に配置され、被検眼は、第２凹面鏡の第４焦点又はその近傍に配置される。

このような方法によれば、低コスト、且つ高精度で、楕円面鏡を用いた広角の計測が可能になる。

いくつかの実施形態に係る眼科装置の制御方法では、補正ステップは、第３光スキャナーによる測定光の偏向角度に対応した補正データに基づいて、測定光の進行方向（ｚ方向、深さ方向）に干渉光の検出結果又は検出結果に基づく画像の位置を補正する。

このような方法によれば、簡素な方法で、第３光スキャナーの偏向角度に依存することなく、不自然な歪みのない画像を取得することができる。従って、不自然な歪みに起因して計測精度を低下させることなく、低コスト、且つ高精度で、凹面鏡を用いた広角の計測が可能になる。

＜その他＞
以上に示された実施形態は、この発明を実施するための一例に過ぎない。この発明を実施しようとする者は、この発明の要旨の範囲内において任意の変形、省略、追加等を施すことが可能である。

いくつかの実施形態では、上記の眼科装置の制御方法をコンピュータに実行させるためのプログラムが提供される。このようなプログラムを、コンピュータによって読み取り可能な任意の記録媒体に記憶させることができる。この記録媒体としては、たとえば、半導体メモリ、光ディスク、光磁気ディスク（ＣＤ－ＲＯＭ／ＤＶＤ－ＲＡＭ／ＤＶＤ－ＲＯＭ／ＭＯ等）、磁気記憶媒体（ハードディスク／フロッピー（登録商標）ディスク／ＺＩＰ等）などを用いることが可能である。また、インターネットやＬＡＮ等のネットワークを通じてこのプログラムを送受信することも可能である。

１ 眼科装置
１０ 光学系
１１Ａ 第１楕円面鏡
１１Ｂ 第２楕円面鏡
２０ ＳＬＯユニット
３０Ａ、３０Ｂ、５０ 光スキャナー
４０ コリメータレンズユニット
１００ ＯＣＴユニット
２００ 制御部
２０１ 主制御部
２０２ 記憶部
２０２Ａ 補正データ
２２０ データ処理部
２２１ 補正部
Ｅ 被検眼
ＬＳ 測定光

Claims (14)

1. 凹面状の第１反射面を有する第１凹面鏡と、
   凹面状の第２反射面を有する第２凹面鏡と、
   前記第１凹面鏡及び前記第２凹面鏡を介してＳＬＯ光源からの光を被検眼に照射し、前記被検眼からの戻り光を検出するためのＳＬＯ光学系と、
   前記ＳＬＯ光源からの光を偏向して前記第１反射面に導く第１光スキャナーと、
   前記第１反射面により反射された光を偏向して前記第２反射面に導く第２光スキャナーと、
   前記被検眼の瞳孔と光学的に略共役な瞳孔共役位置又はその近傍に配置された第３光スキャナーを含み、ＯＣＴ光源からの光を測定光と参照光とに分割し、前記第３光スキャナーにより偏向された前記測定光を前記被検眼に照射し、前記被検眼からの戻り光と前記参照光との干渉光を検出するためのＯＣＴ光学系と、
   前記第１光スキャナーと前記第１凹面鏡との間に配置され、前記ＳＬＯ光学系の光路と前記ＯＣＴ光学系の光路とを結合する光路結合部材と、
   前記第３光スキャナーによる前記測定光の偏向角度に対応して前記瞳孔共役位置に対する前記第３光スキャナーの偏向面の変位に起因した光路長の変化をキャンセルするように、前記測定光の進行方向に沿って、前記ＯＣＴ光学系により検出された前記干渉光の検出結果又は前記検出結果に基づく画像の位置を補正する補正部と、
   を含む眼科装置。
2. 第１動作モードにおいて、前記ＳＬＯ光源からの光を第１方向に１次元的に偏向するように前記第１光スキャナーを制御し、前記第１光スキャナーにより偏向された光を前記第１方向に交差する第２方向に１次元的に偏向するように前記第２光スキャナーを制御し、第２動作モードにおいて、前記測定光を第３方向に１次元的に偏向するように前記第３光スキャナーを制御し、前記第３光スキャナーにより偏向された前記測定光を前記第３方向に交差する第４方向に１次元的に偏向するように前記第２光スキャナーを制御する制御部を含む
   ことを特徴とする請求項１に記載の眼科装置。
3. 第１動作モードにおいて、前記ＳＬＯ光源からの光を第１方向に１次元的に偏向するように前記第１光スキャナーを制御し、前記第１光スキャナーにより偏向された光を前記第１方向に交差する第２方向に１次元的に偏向するように前記第２光スキャナーを制御し、第２動作モードにおいて前記第２光スキャナーの偏向動作を停止させた状態で前記測定光を２次元的に偏向するように前記第３光スキャナーを制御する制御部を含む
   ことを特徴とする請求項１に記載の眼科装置。
4. 前記制御部は、前記第２動作モードにおいて、前記測定光を前記被検眼の計測部位に対応した計測方向に偏向するように前記第２光スキャナーを制御した後、前記測定光を２次元的に偏向するように前記第３光スキャナーを制御する
   ことを特徴とする請求項３に記載の眼科装置。
5. 前記第１反射面は、楕円面であり、
   前記第１光スキャナーは、前記第１凹面鏡の第１焦点又はその近傍に配置され、
   前記第２光スキャナーは、前記第１凹面鏡の第２焦点又はその近傍に配置される
   ことを特徴とする請求項１～請求項４のいずれか一項に記載の眼科装置。
6. 前記第２反射面は、楕円面であり、
   前記第２光スキャナーは、前記第２凹面鏡の第３焦点又はその近傍に配置され、
   前記被検眼は、前記第２凹面鏡の第４焦点又はその近傍に配置される
   ことを特徴とする請求項１～請求項５のいずれか一項に記載の眼科装置。
7. 補正データをあらかじめ記憶する記憶部を含み、
   前記補正部は、前記記憶部に記憶された補正データに基づいて、前記測定光の進行方向に前記干渉光の検出結果又は前記検出結果に基づく画像の位置を補正する
   ことを特徴とする請求項１～請求項６のいずれか一項に記載の眼科装置。
8. 前記第２光スキャナーは、前記第１光スキャナーの偏向速度より低速で前記ＳＬＯ光源からの光を偏向する
   ことを特徴とする請求項１～請求項７のいずれか一項に記載の眼科装置。
9. 凹面状の第１反射面を有する第１凹面鏡と、
   凹面状の第２反射面を有する第２凹面鏡と、
   前記第１凹面鏡及び前記第２凹面鏡を介してＳＬＯ光源からの光を被検眼に照射し、前記被検眼からの戻り光を検出するためのＳＬＯ光学系と、
   前記ＳＬＯ光源からの光を偏向して前記第１反射面に導く第１光スキャナーと、
   前記第１反射面により反射された光を偏向して前記第２反射面に導く第２光スキャナーと、
   前記被検眼の瞳孔と光学的に略共役な瞳孔共役位置又はその近傍に配置された第３光スキャナーを含み、ＯＣＴ光源からの光を測定光と参照光とに分割し、前記第３光スキャナーにより偏向された前記測定光を前記被検眼に照射し、被検眼からの戻り光と前記参照光との干渉光を検出するためのＯＣＴ光学系と、
   前記第１光スキャナーと前記第１凹面鏡との間に配置され、前記ＳＬＯ光学系の光路と前記ＯＣＴ光学系の光路とを結合する光路結合部材と、を含む眼科装置の制御方法であって、
   前記ＯＣＴ光学系を用いて前記被検眼に対して光コヒーレンストモグラフィを実行することにより前記干渉光の検出結果を取得する取得ステップと、
   前記第３光スキャナーによる前記測定光の偏向角度に対応して前記瞳孔共役位置に対する前記第３光スキャナーの偏向面の変位に起因した光路長の変化をキャンセルするように、前記測定光の進行方向に沿って、前記取得ステップにおいて取得された前記干渉光の検出結果又は前記検出結果に基づく画像を位置を補正する補正ステップと、
   を含む眼科装置の制御方法。
10. 第１動作モードにおいて、前記ＳＬＯ光源からの光を第１方向に１次元的に偏向するように前記第１光スキャナーを制御し、前記第１光スキャナーにより偏向された光を前記第１方向に交差する第２方向に１次元的に偏向するように前記第２光スキャナーを制御する第１制御ステップと、
    第２動作モードにおいて、前記測定光を第３方向に１次元的に偏向するように前記第３光スキャナーを制御し、前記第３光スキャナーにより偏向された前記測定光を前記第３方向に交差する第４方向に１次元的に偏向するように前記第２光スキャナーを制御する第２制御ステップと、
    を含む
    ことを特徴とする請求項９に記載の眼科装置の制御方法。
11. 第１動作モードにおいて、前記ＳＬＯ光源からの光を第１方向に１次元的に偏向するように前記第１光スキャナーを制御し、前記第１光スキャナーにより偏向された光を前記第１方向に交差する第２方向に１次元的に偏向するように前記第２光スキャナーを制御する第１制御ステップと、
    第２動作モードにおいて前記第２光スキャナーの偏向動作を停止させた状態で前記測定光を２次元的に偏向するように前記第３光スキャナーを制御する第２制御ステップと、
    を含む
    ことを特徴とする請求項９に記載の眼科装置の制御方法。
12. 前記第２制御ステップは、前記測定光を前記被検眼の計測部位に対応した計測方向に偏向するように前記第２光スキャナーを制御した後、前記測定光を２次元的に偏向するように前記第３光スキャナーを制御する
    ことを特徴とする請求項１１に記載の眼科装置の制御方法。
13. 前記第１反射面は、楕円面であり、
    前記第１光スキャナーは、前記第１凹面鏡の第１焦点又はその近傍に配置され、
    前記第２光スキャナーは、前記第１凹面鏡の第２焦点又はその近傍に配置される
    ことを特徴とする請求項９～請求項１２のいずれか一項に記載の眼科装置の制御方法。
14. 前記第２反射面は、楕円面であり、
    前記第２光スキャナーは、前記第２凹面鏡の第３焦点又はその近傍に配置され、
    前記被検眼は、前記第２凹面鏡の第４焦点又はその近傍に配置される
    ことを特徴とする請求項９～請求項１３のいずれか一項に記載の眼科装置の制御方法。

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