JP2020103425A - 眼科装置、及びその制御方法 - Google Patents

Abstract

【課題】凹面鏡を用いてより広角で高精度なＯＣＴ計測が可能な眼科装置、及びその制御方法を提供する。【解決手段】眼科装置は、取得部と、制御部とを含む。取得部は、凹面鏡と、測定光を偏向して凹面鏡の反射面に導く光スキャナーとを含む。取得部は、凹面鏡の反射面により反射された測定光による光コヒーレンストモグラフィを用いて被検眼位置又はその共役位置に配置された被検眼に対してＡスキャンを実行することにより被検眼のデータを取得する。制御部は、光スキャナーの偏向動作状態に応じて取得部にＡスキャンを実行させる。【選択図】図１

Description

この発明は、眼科装置、及びその制御方法に関する。

近年、レーザー光源等からの光ビームを用いて被測定物体の形態を測定したり画像化したりする光コヒーレンストモグラフィ（Ｏｐｔｉｃａｌ Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ：ＯＣＴ）が注目を集めている。ＯＣＴは、Ｘ線ＣＴ（Ｃｏｍｐｕｔｅｄ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）のような人体に対する侵襲性を持たないことから、特に医療分野や生物学分野における応用の展開が期待されている。例えば、眼科分野においては、眼底や角膜等の画像を形成する装置が実用化されている。このようなＯＣＴを用いた装置（ＯＣＴ装置）は被検眼の様々な部位（眼底や前眼部）の観察に適用可能である。また、高精細な画像を取得できることから、様々な眼科疾患の診断に応用されている。

ＯＣＴを用いた計測（撮影）では、より広角で、より高精細な計測結果を取得することが求められる。例えば、特許文献１及び特許文献２には、楕円面鏡を用いた眼科装置が開示されている。特許文献１及び特許文献２に開示された眼科装置は、光スキャナーにより偏向された測定光が楕円面鏡により反射されて被検眼に導かれるように構成されている。

特開２０１８−６１６２２号公報 特開２０１８−１６７０００号公報

楕円面鏡を用いた場合、光スキャナーによる測定光の偏向角度と被検眼が配置される被検眼位置における測定光の入射角度とが非線形な関係を有する。従って、光スキャナーを線形的に偏向し、略等しい時間間隔でＡスキャンを実行した場合、被検眼位置における測定光の入射角度の間隔が不均一となる。すなわち、光スキャナーに対して単純な偏向制御を行っても、所望の計測部位において高精度なＯＣＴ計測結果を取得することが困難になる。

このような測定光の不均一な入射角度間隔に起因したＯＣＴ計測結果の精度の低下は、楕円面鏡を用いた眼科装置だけではなく、反射面が凹面状に形成された凹面鏡（反射面が自由曲面で形成されたものを含む）を用いた眼科装置においても同様である。

本発明は、このような事情を鑑みてなされたものであり、その目的は、凹面鏡を用いてより広角で高精度なＯＣＴ計測が可能な眼科装置、及びその制御方法を提供することにある。

いくつかの実施形態の第１態様は、凹面鏡と、測定光を偏向して前記凹面鏡の反射面に導く光スキャナーとを含み、前記反射面により反射された測定光による光コヒーレンストモグラフィを用いて被検眼位置又はその共役位置に配置された被検眼に対してＡスキャンを実行することにより前記被検眼のデータを取得する取得部と、前記光スキャナーの偏向動作状態に応じて前記取得部に前記Ａスキャンを実行させる制御部と、を含む眼科装置である。

いくつかの実施形態の第２態様では、第１態様において、前記凹面鏡は、楕円面鏡であり、前記光スキャナーは、前記楕円面鏡の第１焦点若しくはその近傍、又は前記第１焦点の共役位置若しくはその近傍に配置され、前記被検眼位置は、前記楕円面鏡の第２焦点若しくはその近傍、又は前記第２焦点の共役位置若しくはその近傍に配置される。

いくつかの実施形態の第３態様は、第１態様又は第２態様において、前記Ａスキャンのタイミング情報をあらかじめ記憶する記憶部を含み、前記制御部は、前記タイミング情報に基づいて前記取得部に前記Ａスキャンを実行させる。

いくつかの実施形態の第４態様では、第３態様において、前記タイミング情報は、前記光スキャナーの偏向動作の基準タイミングを基準としたＡスキャンのタイミング情報を含み、前記制御部は、前記タイミング情報により特定されたタイミングで前記取得部に前記Ａスキャンを実行させる。

いくつかの実施形態の第５態様では、第１態様又は第２態様において、前記制御部は、前記光スキャナーの偏向角度に応じて前記取得部に前記Ａスキャンを実行させる。

いくつかの実施形態の第６態様では、第５態様において、前記制御部は、前記光スキャナーの偏向角度を表す動作情報を取得し、取得された動作情報に基づいて前記偏向角度が所定の偏向角度であるか否かを判定し、前記偏向角度が前記所定の偏向角度であると判定されたとき、前記取得部に前記Ａスキャンを実行させる。

いくつかの実施形態の第７態様では、第１態様〜第６態様のいずれかにおいて、前記制御部は、前記被検眼位置における前記測定光の入射角度の間隔が略等しくなるように前記取得部に前記Ａスキャンを実行させる。

いくつかの実施形態の第８態様では、第１態様〜第６態様のいずれかにおいて、前記制御部は、前記被検眼における前記測定光の投射位置の間隔が略等しくなるように前記取得部に前記Ａスキャンを実行させる。

いくつかの実施形態の第９態様は、凹面鏡と、測定光を偏向して前記凹面鏡の反射面に導く光スキャナーとを含む眼科装置の制御方法であって、前記反射面により反射された測定光による光コヒーレンストモグラフィを用いて被検眼位置又はその共役位置に配置された被検眼に対してＡスキャンを実行することにより前記被検眼のデータを取得する取得ステップと、前記光スキャナーの偏向動作状態に応じて前記Ａスキャンを実行させる制御ステップと、を含む眼科装置の制御方法である。

いくつかの実施形態の第１０態様では、第９態様において、前記凹面鏡は、楕円面鏡であり、前記光スキャナーは、前記楕円面鏡の第１焦点若しくはその近傍、又は前記第１焦点の共役位置若しくはその近傍に配置され、前記被検眼位置は、前記楕円面鏡の第２焦点若しくはその近傍、又は前記第２焦点の共役位置若しくはその近傍に配置される。

いくつかの実施形態の第１１態様では、第９態様又は第１０態様において、前記制御ステップは、あらかじめ記憶された前記Ａスキャンのタイミング情報に基づいて前記Ａスキャンを実行させる。

いくつかの実施形態の第１２態様では、第１１態様において、前記タイミング情報は、前記光スキャナーの偏向動作の基準タイミングを基準としたＡスキャンのタイミング情報を含み、前記制御ステップは、前記タイミング情報により特定されたタイミングで前記Ａスキャンを実行させる。

いくつかの実施形態の第１３態様では、第９態様又は第１０態様において、前記制御ステップは、前記光スキャナーの偏向角度に応じて前記Ａスキャンを実行させる。

いくつかの実施形態の第１４態様では、第１３態様において、前記制御ステップは、前記光スキャナーの偏向角度を表す動作情報を取得する動作情報取得ステップと、取得された動作情報に基づいて前記偏向角度が所定の偏向角度であるか否かを判定する判定ステップと、前記判定ステップにおいて前記偏向角度が前記所定の偏向角度であると判定されたとき、前記Ａスキャンを実行させる実行ステップと、を含む。

いくつかの実施形態の第１５態様では、第９態様〜第１４態様のいずれかにおいて、前記制御ステップは、前記被検眼位置における前記測定光の入射角度の間隔が略等しくなるように前記Ａスキャンを実行させる。

いくつかの実施形態の第１６態様では、第９態様〜第１４態様のいずれかにおいて、前記制御ステップは、前記被検眼における前記測定光の投射位置の間隔が略等しくなるように前記Ａスキャンを実行させる。

なお、上記した複数の態様に係る構成を任意に組み合わせることが可能である。

本発明によれば、凹面鏡を用いてより広角で高精度な計測が可能な眼科装置、及びその制御方法を提供することができる。

実施形態に係る眼科装置の構成の一例を表す概略図である。 実施形態に係る眼科装置の構成の一例を表す概略図である。 実施形態に係る眼科装置の構成の一例を表す概略ブロック図である。 実施形態の比較例に係る光スキャナーによる測定光の偏向角度と被検眼位置における測定光の入射角度との関係を説明するための概略図である。 実施形態に係る眼科装置が実行する処理を説明するための概略図である。 実施形態に係る眼科装置が実行する処理を説明するための概略図である。 実施形態に係る眼科装置が実行する処理を説明するための概略図である。 実施形態に係る眼科装置の動作例を表すフローチャートである。 実施形態に係る眼科装置が実行する処理を説明するための概略図である。 実施形態に係る眼科装置の動作例を表すフローチャートである。 実施形態に係る眼科装置の構成の一例を表す概略図である。

この発明に係る眼科装置、及び眼科装置の制御方法の実施形態の例について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、この明細書において引用された文献の記載内容や任意の公知技術を、以下の実施形態に援用することが可能である。

実施形態に係る眼科装置は、反射面が凹面状に形成された凹面鏡と、所定の偏向角度範囲で測定光を偏向して凹面鏡の反射面に導く光スキャナーとを含む。眼科装置は、反射面により反射された測定光による光コヒーレンストモグラフィを用いて被検眼位置又はその共役位置に配置された被検眼に対してＯＣＴを実行することが可能である。このとき、眼科装置は、光スキャナーの偏向動作状態に対応したタイミングでＯＣＴ計測（少なくともＡスキャン）を実行することにより被検眼のデータを取得する。光スキャナーの偏向動作状態の例として、測定光を偏向するミラー（偏向部材）の偏向角度（光スキャナーの偏向角度）、ミラーの偏向周波数（偏向速度、偏向周期）などがある。ミラーの偏向角度は、例えば、所定の偏向角度に設定されたミラーについて事前に設定された偏向周波数から特定可能である。

これにより、光スキャナーによる測定光の偏向角度の変化特性（偏向動作特性）及び凹面鏡の反射面の形状に起因した被検眼位置における測定光の入射角度の変化特性を考慮したＡスキャン方向のデータセット群を取得することが可能になる。例えば、光スキャナーの偏向動作特性及び凹面鏡の反射面の形状に影響されることなく、略等しい走査角度（偏向角度）又は略等しい走査間隔で走査された走査位置におけるデータセット群を取得することが可能になる。

以下、実施形態では、ＯＣＴを用いた計測又は撮影においてスウェプトソースタイプのＯＣＴの手法を用いる場合について特に詳しく説明する。しかしながら、他のタイプ（例えば、スペクトラルドメインタイプ）のＯＣＴを用いる眼科装置に対して、実施形態に係る構成を適用することも可能である。

以下では、光スキャナーがガルバノスキャナーを含む場合について説明する。しかしながら、光スキャナーがガルバノスキャナー以外の偏向部材を含む場合についても以下の実施形態を適用することが可能である。また、以下では、光スキャナーの動作特性として偏向角度対時間特性を例に説明するが、光スキャナーの他の動作特性についても以下の実施形態を適用することが可能である。

この明細書では、ＯＣＴによって取得される画像をＯＣＴ画像と総称することがある。また、ＯＣＴ画像を形成するための計測動作をＯＣＴ計測と呼ぶことがある。

いくつかの実施形態に係る眼科装置は、眼科撮影装置と、眼科測定装置と、眼科治療装置とのうちのいずれか１つ以上を含む。いくつかの実施形態の眼科装置に含まれる眼科撮影装置は、例えば、眼底カメラ、走査型レーザー検眼鏡、スリットランプ検眼鏡、手術用顕微鏡等のうちのいずれか１つ以上である。また、いくつかの実施形態の眼科装置に含まれる眼科測定装置は、例えば、眼屈折検査装置、眼圧計、スペキュラーマイクロスコープ、ウェーブフロントアナライザ、視野計、マイクロペリメータ等のうちのいずれか１つ以上である。また、いくつかの実施形態の眼科装置に含まれる眼科治療装置は、例えば、レーザー治療装置、手術装置、手術用顕微鏡等のうちのいずれか１つ以上である。

以下の実施形態に係る眼科装置は、ＯＣＴ計測が可能なＯＣＴ装置を含む。以下では、被検眼の眼底に対するＯＣＴ計測が可能な眼科装置を例に説明するが、実施形態に係る眼科装置は、被検眼の前眼部に対してＯＣＴ計測が可能であってよい。いくつかの実施形態では、測定光の焦点位置を変更するレンズを移動することで、ＯＣＴ計測の範囲や計測部位を変更する。いくつかの実施形態では、１以上のアタッチメント（対物レンズ、前置レンズ等）を加えることで、眼底に対するＯＣＴ計測と、前眼部に対するＯＣＴ計測と、眼底及び前眼部を含む全眼球に対するＯＣＴ計測とが可能な構成である。いくつかの実施形態では、眼底計測用の眼科装置において、コリメータレンズユニット（後述）又は光スキャナーと被検眼との間に前置レンズを配置することで平行光束にされた測定光を被検眼に入射させることにより前眼部に対するＯＣＴ計測を行う。

［第１実施形態］
第１実施形態に係る眼科装置は、被検眼に対してフィードフォワード制御でＯＣＴ計測を実行する。

＜構成＞
図１に、実施形態に係る眼科装置の構成例を示す。

実施形態に係る眼科装置１は、光学系１０と、コリメータレンズユニット４０と、ＯＣＴユニット１００と、演算制御ユニット２００と、表示装置３００とを含む。いくつかの実施形態では、ＯＣＴユニット１００は、コリメータレンズユニット４０を含む。いくつかの実施形態では、光学系１０は、コリメータレンズユニット４０と、ＯＣＴユニット１００とを含む。

光学系１０は、楕円面鏡１１と、光スキャナー２０とを含む。楕円面鏡１１の反射面は、楕円面である。楕円面鏡１１は、凹面鏡の一例である。いくつかの実施形態では、光学系１０は、楕円面鏡１１に代えて、反射面が凹面状に形成された凹面鏡を含む。いくつかの実施形態では、凹面鏡の反射面は、自由曲面になるように形成される。

楕円面鏡１１は、光学的に共役な２つの焦点（第１焦点、第２焦点）を有する。光スキャナー２０（光スキャナー２０の偏向面）は、楕円面鏡１１の第１焦点若しくはその近傍、又は第１焦点と光学的に共役な位置（第１焦点の共役位置）若しくはその近傍に配置される。被検眼Ｅ（瞳孔）が配置される被検眼位置は、楕円面鏡１１の第２焦点若しくはその近傍、又は第２焦点と光学的に共役な位置（第２焦点の共役位置）若しくはその近傍に配置される。

光スキャナー２０は、被検眼Ｅの瞳孔と光学的に共役な位置又はその近傍に配置される。光スキャナー２０は、コリメータレンズユニット４０から出射した測定光（ＯＣＴ用光路を通過する測定光）を所定の偏向角度範囲で偏向する。光スキャナー２０は、測定光を１次元的又は２次元的に偏向することが可能である。

１次元的に偏向する場合、光スキャナー２０は、所定の偏向方向に所定の偏向角度範囲で測定光を偏向するガルバノスキャナーを含む。２次元的に偏向する場合、光スキャナー２０は、第１ガルバノスキャナーと、第２ガルバノスキャナーとを含む。第１ガルバノスキャナーは、測定光の光路（光軸）に直交する水平方向に撮影部位（眼底Ｅｆ又は前眼部）をスキャンするように測定光を偏向する。第２ガルバノスキャナーは、測定光の光路（光軸）に直交する垂直方向に撮影部位をスキャンするように、第１ガルバノスキャナーにより偏向された測定光を偏向する。光スキャナー２０による測定光の走査態様としては、例えば、水平スキャン、垂直スキャン、十字スキャン、放射スキャン、円スキャン、同心円スキャン、螺旋スキャンなどがある。

光スキャナー２０は、演算制御ユニット２００（後述の制御部２１０）により制御可能に構成される。いくつかの実施形態では、光スキャナー２０は、演算制御ユニット２００（制御部２１０）により偏向角度範囲及び偏向周波数（偏向速度、偏向周期）の少なくとも一方を設定可能に構成される。いくつかの実施形態では、光スキャナー２０は、演算制御ユニット２００（制御部２１０）により偏向動作を制御するための制御波形を規定する情報を設定可能に構成される。制御波形は、偏向角度範囲及び偏向周波数を規定する。光スキャナー２０は、設定された制御波形に従って偏向動作を行う。演算制御ユニット２００（制御部２１０）は、第１ガルバノスキャナー及び第２ガルバノスキャナーのそれぞれを、所望の偏向角度範囲又は所望の偏向周波数で動作させることが可能である。

いくつかの実施形態では、光スキャナー２０は、演算制御ユニット２００（制御部２１０）からの制御を受け、光スキャナー２０の動作状態を含む動作情報を出力する。動作情報は、偏向角度を表す情報（例えば、偏向角度に対応した電流値又は電圧値）を含む。いくつかの実施形態では、光スキャナー２０が測定光を偏向するミラーと、ミラーを駆動する駆動部とを含み、動作情報は、ミラーの偏向角度を表す情報を含む。演算制御ユニット２００（制御部２１０）は、第１ガルバノスキャナー及び第２ガルバノスキャナーのそれぞれの動作状態をモニタすることが可能である。

コリメータレンズユニット４０は、ＯＣＴユニット１００に含まれる干渉光学系の光軸に配置されたコリメータレンズを含む。コリメータレンズは、ＯＣＴユニット１００に接続され測定光を導光する光ファイバの端部から出射した測定光の光束を平行光束にする。当該光ファイバの端部は、例えば被検眼Ｅの眼底Ｅｆと光学的に共役な位置又はその近傍に配置される。

光学系１０には、図１に示す構成に加え、被検眼Ｅ（眼底Ｅｆ又は前眼部）を正面から撮影するための光学系（観察光学系、撮影光学系等）やアライメント光学系が設けられてもよい。

また、光学系１０は、検査に付随する機能を提供するための構成を備えていてよい。例えば、光学系１０には、被検眼Ｅを固視させるための視標（固視標）を被検眼Ｅの眼底Ｅｆに投影するための固視光学系が設けられていてよい。更に、ＯＣＴユニット１００に含まれる干渉光学系のフォーカシングを行うための構成などが設けられていてもよい。更に、光学系１０は、被検眼Ｅの前眼部を照明するための光源（前眼部照明光源）を備えてもよい。

後述するように、ＯＣＴユニット１００には、ＯＣＴを実行するための光学系（干渉光学系）や機構の一部が設けられている。

演算制御ユニット２００は、眼科装置１の各部を制御する。演算制御ユニット２００は、１以上のプロセッサを含み、あらかじめ記憶されたプログラムに対応した処理を実行することで、各種の演算や制御を実行する。

本明細書において「プロセッサ」は、例えば、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、ＧＰＵ（Ｇｒａｐｈｉｃｓ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、ＡＳＩＣ（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ Ｓｐｅｃｉｆｉｃ Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ）、プログラマブル論理デバイス（例えば、ＳＰＬＤ（Ｓｉｍｐｌｅ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｌｏｇｉｃ Ｄｅｖｉｃｅ）、ＣＰＬＤ（Ｃｏｍｐｌｅｘ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｌｏｇｉｃ Ｄｅｖｉｃｅ）、ＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｇａｔｅ Ａｒｒａｙ））等の回路を意味する。プロセッサは、例えば、記憶回路や記憶装置に格納されているプログラムを読み出し実行することで、実施形態に係る機能を実現する。

表示装置３００は、各種の情報を表示させる。表示装置３００は、液晶ディスプレイ等の表示デバイスを含み、演算制御ユニット２００からの制御を受け、上記の情報を表示する。表示装置３００に表示される情報には、演算制御ユニット２００による制御結果に対応した情報、演算制御ユニット２００による演算結果に対応した情報（画像）、図示しない光学系により取得された情報（画像）などがある。

眼科装置１には、これらに加え、被検者の顔を支持するための部材（顎受け、額当て等）や、ＯＣＴの対象部位を切り替えるためのレンズユニット（例えば、前眼部ＯＣＴ用アタッチメント）等の任意の要素やユニットが設けられてもよい。いくつかの実施形態では、レンズユニットが手動で被検眼Ｅと図示しない対物レンズ又はコリメータレンズユニット４０との間に挿脱されるように構成される。いくつかの実施形態では、後述の制御部２１０からの制御を受け、レンズユニットが被検眼Ｅと図示しない対物レンズ又はコリメータレンズユニット４０との間に自動で挿脱されるように構成される。

［ＯＣＴユニット１００］
図２に、ＯＣＴユニット１００の構成の一例を示す。ＯＣＴユニット１００には、被検眼ＥのＯＣＴ画像を取得するための光学系が設けられている。この光学系は、波長掃引型（波長走査型）光源からの光を測定光と参照光とに分割し、被検眼Ｅからの測定光の戻り光と参照光路を経由した参照光とを干渉させて干渉光を生成し、この干渉光を検出する干渉光学系である。干渉光学系による干渉光の検出結果（検出信号）は、干渉光のスペクトルを示す干渉信号であり、演算制御ユニット２００に送られる。

光源ユニット１０１は、一般的なスウェプトソースタイプの眼科装置と同様に、出射光の波長を掃引（走査）可能な波長掃引型（波長走査型）光源を含んで構成される。波長掃引型光源は、共振器を含むレーザー光源を含んで構成される。光源ユニット１０１は、人眼では視認できない近赤外の波長帯において、出力波長を時間的に変化させる。

光源ユニット１０１は、演算制御ユニット２００（制御部２１０）からの制御信号ＴＲＧを受け、上記の波長掃引動作を開始することが可能である。これにより、演算制御ユニット２００（制御部２１０）は、制御信号ＴＲＧを用いてＡスキャンの実行タイミングを制御することができる。

演算制御ユニット２００（制御部２１０）からの制御信号ＴＲＧを受けて光源ユニット１０１から出力された光Ｌ０は、光ファイバ１０２により偏波コントローラ１０３に導かれてその偏光状態が調整される。偏波コントローラ１０３は、例えばループ状にされた光ファイバ１０２に対して外部から応力を与えることで、光ファイバ１０２内を導かれる光Ｌ０の偏光状態を調整する。

偏波コントローラ１０３により偏光状態が調整された光Ｌ０は、光ファイバ１０４によりファイバカプラ１０５に導かれて測定光ＬＳと参照光ＬＲとに分割される。

参照光ＬＲは、光ファイバ１１０によりコリメータ１１１に導かれて平行光束に変換され、光路長補正部材１１２及び分散補償部材１１３を経由し、光路長変更部１１４に導かれる。光路長補正部材１１２は、参照光ＬＲの光路長と測定光ＬＳの光路長とを合わせるよう作用する。分散補償部材１１３は、参照光ＬＲと測定光ＬＳとの間の分散特性を合わせるよう作用する。

光路長変更部１１４は、図２に示す矢印の方向に移動可能とされ、参照光ＬＲの光路長を変更する。この移動により参照光ＬＲの光路の長さが変更される。この光路長の変更は、被検眼Ｅの眼軸長に応じた光路長の補正や、干渉状態の調整などに利用される。光路長変更部１１４は、例えばコーナーキューブと、これを移動する移動機構とを含んで構成される。この場合、光路長変更部１１４のコーナーキューブは、コリメータ１１１により平行光束とされた参照光ＬＲの進行方向を逆方向に折り返す。コーナーキューブに入射する参照光ＬＲの光路と、コーナーキューブから出射する参照光ＬＲの光路とは平行である。

光路長変更部１１４を経由した参照光ＬＲは、分散補償部材１１３及び光路長補正部材１１２を経由し、コリメータ１１６によって平行光束から集束光束に変換され、光ファイバ１１７に入射する。光ファイバ１１７に入射した参照光ＬＲは、偏波コントローラ１１８に導かれてその偏光状態が調整され、光ファイバ１１９によりアッテネータ１２０に導かれて光量が調整され、光ファイバ１２１によりファイバカプラ１２２に導かれる。

一方、ファイバカプラ１０５により生成された測定光ＬＳは、光ファイバ１２７によりに導かれ、コリメータレンズユニット４０により平行光束とされる。平行光束にされた測定光ＬＳは、光スキャナー２０により偏向され、楕円面鏡１１の反射面に導かれる。測定光ＬＳは、楕円面鏡１１の反射面により反射され、被検眼位置における被検眼Ｅの瞳孔を通じて眼内に入射する。測定光ＬＳは、被検眼Ｅの様々な深さ位置において散乱（反射を含む）される。このような後方散乱光を含む測定光ＬＳの戻り光は、往路と同じ経路を逆向きに進行してファイバカプラ１０５に導かれ、光ファイバ１２８を経由してファイバカプラ１２２に到達する。

ファイバカプラ１２２は、光ファイバ１２８を介して入射された測定光ＬＳと、光ファイバ１２１を介して入射された参照光ＬＲとを合成して（干渉させて）干渉光を生成する。ファイバカプラ１２２は、所定の分岐比（例えば１：１）で、測定光ＬＳと参照光ＬＲとの干渉光を分岐することにより、一対の干渉光ＬＣを生成する。ファイバカプラ１２２から出射した一対の干渉光ＬＣは、それぞれ光ファイバ１２３、１２４により検出器１２５に導かれる。

検出器１２５は、例えば一対の干渉光ＬＣをそれぞれ検出する一対のフォトディテクタを有し、これらによる検出結果の差分を出力するバランスドフォトダイオード（Ｂａｌａｎｃｅｄ Ｐｈｏｔｏ Ｄｉｏｄｅ）である。検出器１２５は、その検出結果（干渉信号）をＤＡＱ（Ｄａｔａ Ａｃｑｕｉｓｉｔｉｏｎ Ｓｙｓｔｅｍ）１３０に送る。ＤＡＱ１３０には、光源ユニット１０１からクロックＫＣが供給される。クロックＫＣは、光源ユニット１０１において、波長掃引型光源により所定の波長範囲内で掃引（走査）される各波長の出力タイミングに同期して生成される。光源ユニット１０１は、例えば、各出力波長の光Ｌ０を分岐することにより得られた２つの分岐光の一方を光学的に遅延させた後、これらの合成光を検出した結果に基づいてクロックＫＣを生成する。ＤＡＱ１３０は、クロックＫＣに基づき、検出器１２５の検出結果をサンプリングする。ＤＡＱ１３０は、サンプリングされた検出器１２５の検出結果を演算制御ユニット２００に送る。演算制御ユニット２００は、例えば一連の波長走査毎に（Ａライン毎に）、検出器１２５により得られた検出結果に基づくスペクトル分布にフーリエ変換等を施すことにより、各Ａラインにおける反射強度プロファイルを形成する。更に、演算制御ユニット２００は、各Ａラインの反射強度プロファイルを画像化することにより画像データを形成する。

［演算制御ユニット２００］
演算制御ユニット２００は、ＤＡＱ１３０から入力される検出信号を解析してＯＣＴ画像を形成する。そのための演算処理は、従来のスウェプトソースタイプのＯＣＴ装置と同様である。

また、演算制御ユニット２００は、光スキャナー２０、移動機構１５０、ＯＣＴユニット１００、及び表示装置３００の各部を制御する。

演算制御ユニット２００は、ＯＣＴユニット１００の制御を行う。ＯＣＴユニット１００の制御として、光源ユニット１０１の動作制御、光路長変更部１１４の移動制御、アッテネータ１２０の動作制御、偏波コントローラ１０３、１１８の動作制御、検出器１２５の動作制御、ＤＡＱ１３０の動作制御などがある。

演算制御ユニット２００は、表示装置３００の制御を行う。表示装置３００の制御として、被検眼ＥのＯＣＴ画像、ＯＣＴ計測の進行を検者又は被検者に促す情報などの表示制御がある。

演算制御ユニット２００は、例えば、従来のコンピュータと同様に、プロセッサ、ＲＡＭ、ＲＯＭ、ハードディスクドライブ、通信インターフェイスなどを含んで構成される。ハードディスクドライブ等の記憶装置には、眼科装置１を制御するためのコンピュータプログラムが記憶されている。演算制御ユニット２００は、各種の回路基板、例えばＯＣＴ画像を形成するための回路基板を備えていてもよい。また、演算制御ユニット２００は、キーボードやマウス等の操作デバイス（入力デバイス）や、ＬＣＤ等の表示デバイスを備えていてもよい。

〔制御系〕
演算制御ユニット２００は、図３に示すように、制御部２１０と、画像形成部２２０と、データ処理部２３０とを含む。演算制御ユニット２００の機能は、１以上のプロセッサにより実現される。いくつかの実施形態では、演算制御ユニット２００の機能は、制御部２１０の機能を実現する制御プロセッサと、画像形成部２２０の機能を実現する画像形成プロセッサと、データ処理部２３０の機能を実現するデータ処理プロセッサとにより実現される。

図３に、眼科装置１の制御系の構成例を示す。図３において、眼科装置１に含まれる構成要素の一部が省略されている。

（制御部）
制御部２１０は、各種の制御を実行する。制御部２１０は、主制御部２１１と記憶部２１２とを含む。

（主制御部）
主制御部２１１は、プロセッサを含み、眼科装置１の各部を制御する。例えば、主制御部２１１は、光スキャナー２０、及び光学系全体（移動機構１５０）などを制御する。さらに、主制御部２１１は、ＯＣＴユニット１００の光源ユニット１０１、光路長変更部１１４、アッテネータ１２０、偏波コントローラ１０３及び１１８、検出器１２５、ＤＡＱ１３０などを制御する。

また、主制御部２１１は、図示しない固視光学系を制御することにより、手動又は自動で設定された固視位置に固視を誘導するように被検眼Ｅに対して固視標を呈示することが可能である。

また、主制御部２１１は、図示しない合焦レンズを制御することにより、干渉光学系の光軸方向に合焦レンズを移動させ、測定光の合焦位置を変更することが可能である。例えば、合焦レンズを第１レンズ位置に移動させることにより、測定光ＬＳの合焦位置を眼底Ｅｆ又はその近傍に配置することができる。例えば、合焦レンズを第２レンズ位置に移動させることにより、測定光の合焦位置を遠点位置に配置して測定光ＬＳを平行光束にすることができる。測定光ＬＳの合焦位置は、測定光ＬＳのビームウェストの深さ位置（ｚ位置）に相当する。

移動機構１５０は、例えば、光学系１０の少なくとも一部（例えば、干渉光学系）を３次元的に移動する。典型的な例において、移動機構１５０は、少なくとも光学系１０をｘ方向（左右方向）に移動するための機構と、ｙ方向（上下方向）に移動するための機構と、ｚ方向（奥行き方向、前後方向）に移動するための機構とを含む。ｘ方向に移動するための機構は、例えば、ｘ方向に移動可能なｘステージと、ｘステージを移動するｘ移動機構とを含む。ｙ方向に移動するための機構は、例えば、例えば、ｙ方向に移動可能なｙステージと、ｙステージを移動するｙ移動機構とを含む。ｚ方向に移動するための機構は、例えば、ｚ方向に移動可能なｚステージと、ｚステージを移動するｚ移動機構とを含む。各移動機構は、パルスモータ等のアクチュエータを含み、主制御部２１１からの制御を受けて動作する。

移動機構１５０に対する制御は、アライメントやトラッキングにおいて用いられる。トラッキングとは、被検眼Ｅの眼球運動に合わせて装置光学系を移動させるものである。トラッキングを行う場合には、事前にアライメントとフォーカス調整が実行される。トラッキングは、装置光学系の位置を眼球運動に追従させることにより、アライメントとピントが合った好適な位置関係を維持する機能である。いくつかの実施形態では、参照光の光路長（よって、測定光の光路と参照光の光路との間の光路長差）を変更するために移動機構１５０の制御を行うように構成される。

マニュアルアライメントの場合、光学系に対する被検眼Ｅの変位がキャンセルされるようにユーザが後述のユーザインターフェイス２４０に対して操作することにより光学系と被検眼Ｅとを相対移動させる。例えば、主制御部２１１は、ユーザインターフェイス２４０に対する操作内容に対応した制御信号を移動機構１５０に出力することにより移動機構１５０を制御して光学系と被検眼Ｅとを相対移動させる。

オートアライメントの場合、光学系に対する被検眼Ｅの変位がキャンセルされるように主制御部２１１が移動機構１５０を制御することにより光学系と被検眼Ｅとを相対移動させる。例えば、図示しない撮影光学系により取得された被検眼Ｅの画像と光学系の基準位置との変位がキャンセルされるように移動機構１５０が制御される。いくつかの実施形態では、主制御部２１１は、光学系の光軸が被検眼Ｅの軸に略一致し、かつ、被検眼Ｅに対する光学系の距離が所定の作動距離になるように制御信号を移動機構１５０に出力することにより移動機構１５０を制御して光学系と被検眼Ｅとを相対移動させる。ここで、作動距離とは、図示しない対物レンズのワーキングディスタンスとも呼ばれる既定値であり、光学系を用いた測定時（撮影時）における被検眼Ｅと光学系との間の距離に相当する。

主制御部２１１は、ＯＣＴユニット１００等を制御することによりＯＣＴ計測を制御する。主制御部２１１は、ＯＣＴ計測を行う前に複数の予備的な動作を実行可能である。予備的な動作としては、アライメント、フォーカス調整、光路長差調整、偏波調整などがある。複数の予備的な動作は、所定の順序で実行される。いくつかの実施形態では、複数の予備的な動作は、上記の順序で実行される。

なお、予備的な動作の種別や順序はこれに限定されるものではなく、任意である。例えば、被検眼Ｅが小瞳孔眼であるか否か判定するための予備動作（小瞳孔判定）を予備的な動作に加えることができる。小瞳孔判定は、例えば、フォーカス粗調整と光路長差調整との間に実行される。いくつかの実施形態では、小瞳孔判定は、以下の一連の処理を含む：被検眼Ｅの正面画像（前眼部像）の取得する処理；瞳孔に相当する画像領域を特定する処理；特定された瞳孔領域のサイズ（径、周長など）を求める処理；求められたサイズに基づき小瞳孔眼か否か判定する処理（閾値処理）；小瞳孔眼であると判定された場合に図示しない絞りを制御する処理。いくつかの実施形態では、瞳孔サイズを求めるために瞳孔領域を円近似または楕円近似する処理を更に含む。

フォーカス調整は、例えば、ＯＣＴ計測の干渉感度に基づいて行われる。例えば、被検眼ＥのＯＣＴ計測により取得された干渉信号の干渉強度（干渉感度）をモニタすることにより、干渉強度が最大となるような合焦レンズの位置を求め、その位置に合焦レンズを移動させることにより、フォーカス調整を実行することができる。

光路長差調整においては、被検眼Ｅにおける所定の位置が深さ方向の計測範囲の基準位置になるように制御される。この制御は、光路長変更部１１４に対して行われる。それにより、測定光路と参照光路との間の光路長差が調整される。光路長差調整により基準位置を設定しておくことで、波長掃引速度の変更を行うだけで深さ方向の所望の計測範囲に対して精度よくＯＣＴ計測を行うことができるようになる。

偏波調整においては、測定光ＬＳと参照光ＬＲとの干渉効率を最適化するために参照光ＬＲの偏光状態が調整される。

（記憶部）
記憶部２１２は、各種のデータを記憶する。記憶部２１２に記憶されるデータとしては、例えば、ＯＣＴ画像の画像データ、眼底像の画像データ、前眼部像の画像データ、被検眼情報などがある。被検眼情報は、患者ＩＤや氏名などの被検者に関する情報や、左眼／右眼の識別情報などの被検眼に関する情報を含む。

また、記憶部２１２には、タイミング情報２１２Ａがあらかじめ記憶されている。タイミング情報２１２Ａは、Ａスキャンの実行タイミングを規定するタイミング情報を含む。実行タイミングを規定する情報は、Ａスキャンの実行タイミングの間隔を規定する情報であってもよいし、複数のＡスキャンのそれぞれの実行タイミングを規定する情報であってもよい。この実施形態では、タイミング情報２１２Ａは、被検眼に対する測定光ＬＳの入射角度の間隔が略等しくなるようにＡスキャンの実行タイミングを規定するタイミング情報である。主制御部２１１は、タイミング情報２１２Ａに基づいて被検眼Ｅに対するＡスキャンを実行させることが可能である。

いくつかの実施形態では、タイミング情報２１２Ａは、光スキャナー２０の偏向動作の基準タイミングを基準としたＡスキャンのタイミング情報を含む。基準タイミングは、光スキャナー２０が所定の偏向角度で測定光ＬＳを偏向する状態になるタイミングである。この場合、主制御部２１１は、タイミング情報２１２Ａにより特定されたタイミングで被検眼Ｅに対するＡスキャンを実行させることが可能である。

タイミング情報２１２Ａは、スキャンモードに対応して設けられる。すなわち、スキャンモードに対応付けられたタイミング情報２１２Ａがあらかじめ記憶部２１２に記憶されている。この場合、タイミング情報２１２Ａは、スキャンモード中のＡスキャンの実行タイミングを規定する情報を含む。

また、記憶部２１２には、眼科装置１を動作させるための各種プログラムやデータが記憶されている。

眼科装置１には、ユーザからの操作を受け付けたり、ユーザに情報を提示したりするためのユーザインターフェイス２４０が設けられている。制御部２１０は、ユーザインターフェイス２４０を制御することによりユーザとのインターフェイス処理を司ることができる。

（画像形成部）
画像形成部２２０は、検出器１２５からの検出信号をＤＡＱ１３０でサンプリングすることにより得られたサンプリングデータに基づいて、被検眼ＥのＯＣＴ画像（画像データ）を形成する。この処理には、従来のスウェプトソースタイプのＯＣＴと同様に、ノイズ除去（ノイズ低減）、フィルタ処理、分散補償、ＦＦＴ（Ｆａｓｔ Ｆｏｕｒｉｅｒ Ｔｒａｎｓｆｏｒｍ）などの処理が含まれている。他のタイプのＯＣＴ装置の場合、画像形成部２２０は、そのタイプに応じた公知の処理を実行する。

画像形成部２２０は、例えば、前述のプロセッサ、ＲＡＭ、ＲＯＭ、ハードディスクドライブ、回路基板等を含んで構成される。ハードディスクドライブ等の記憶装置には、上記機能をプロセッサに実行させるコンピュータプログラムがあらかじめ格納されている。いくつかの実施形態では、画像形成部２２０の機能は、画像形成プロセッサにより実現される。なお、この明細書では、「画像データ」と、それに基づく「画像」とを同一視することがある。

（データ処理部）
データ処理部２３０は、被検眼Ｅの撮影やＯＣＴ計測により取得されたデータを処理する。

データ処理部２３０は、画像形成部２２０により形成された画像に対して各種の画像処理や解析処理を施す。例えば、データ処理部２３０は、画像の輝度補正等の各種補正処理を実行する。また、データ処理部２３０は、図示しない撮影光学系により得られた画像（眼底像、前眼部像等）に対して各種の画像処理や解析処理を施すことが可能である。

例えば、データ処理部２３０は、断層像の間の画素を補間する補間処理などの公知の画像処理を実行して、眼底Ｅｆの３次元画像の画像データを形成する。なお、３次元画像の画像データとは、３次元座標系により画素の位置が定義された画像データを意味する。３次元画像の画像データとしては、３次元的に配列されたボクセルからなる画像データがある。この画像データは、ボリュームデータ或いはボクセルデータなどと呼ばれる。ボリュームデータに基づく画像を表示させる場合、データ処理部２３０は、このボリュームデータに対してレンダリング処理（ボリュームレンダリングやＭＩＰ（Ｍａｘｉｍｕｍ Ｉｎｔｅｎｓｉｔｙ Ｐｒｏｊｅｃｔｉｏｎ：最大値投影）など）を施して、特定の視線方向から見たときの擬似的な３次元画像の画像データを形成する。ユーザインターフェイス２４０（表示部２４０Ａ）には、この擬似的な３次元画像が表示される。

また、３次元画像の画像データとして、複数の断層像のスタックデータを形成することも可能である。スタックデータは、複数のスキャンラインに沿って得られた複数の断層像を、スキャンラインの位置関係に基づいて３次元的に配列させることで得られる画像データである。すなわち、スタックデータは、元々個別の２次元座標系により定義されていた複数の断層像を、１つの３次元座標系により表現する（つまり１つの３次元空間に埋め込む）ことにより得られる画像データである。

データ処理部２３０は、取得された３次元データセット（ボリュームデータ、スタックデータ等）に各種のレンダリングを施すことで、任意断面におけるＢモード画像（縦断面像、軸方向断面像）、任意断面におけるＣモード画像（横断面像、水平断面像）、プロジェクション画像、シャドウグラムなどを形成することができる。Ｂモード画像やＣモード画像のような任意断面の画像は、指定された断面上の画素（ピクセル、ボクセル）を３次元データセットから選択することにより形成される。プロジェクション画像は、３次元データセットを所定方向（ｚ方向、深さ方向、軸方向）に投影することによって形成される。シャドウグラムは、３次元データセットの一部（たとえば特定層に相当する部分データ）を所定方向に投影することによって形成される。Ｃモード画像、プロジェクション画像、シャドウグラムのような、被検眼の正面側を視点とする画像を正面画像（ｅｎ−ｆａｃｅ画像）と呼ぶ。

データ処理部２３０は、ＯＣＴにより時系列に収集されたデータ（例えば、Ｂスキャン画像データ）に基づいて、網膜血管や脈絡膜血管が強調されたＢモード画像や正面画像（血管強調画像、アンギオグラム）を構築することができる。例えば、被検眼Ｅの略同一部位を反復的にスキャンすることにより、時系列のＯＣＴデータを収集することができる。

いくつかの実施形態では、データ処理部２３０は、略同一部位に対するＢスキャンにより得られた時系列のＢスキャン画像を比較し、信号強度の変化部分の画素値を変化分に対応した画素値に変換することにより当該変化部分が強調された強調画像を構築する。更に、データ処理部２３０は、構築された複数の強調画像から所望の部位における所定の厚さ分の情報を抽出してｅｎ−ｆａｃｅ画像として構築することでＯＣＴＡ像を形成する。

データ処理部２３０により生成された画像（例えば、３次元画像、Ｂモード画像、Ｃモード画像、プロジェクション画像、シャドウグラム、ＯＣＴＡ像）もまたＯＣＴ画像に含まれる。

更に、データ処理部２３０は、ＯＣＴ計測により得られた干渉光の検出結果を解析してフォーカス調整制御における測定光ＬＳのフォーカス状態を判定する。例えば、主制御部２１１は、合焦レンズを駆動する合焦駆動部を所定のアルゴリズムにしたがって制御しつつ、反復的なＯＣＴ計測を行う。データ処理部２３０は、ＯＣＴ計測により繰り返し取得される干渉光ＬＣの検出結果を解析することで、ＯＣＴ画像の画質に関する所定の評価値を算出する。データ処理部２３０は、算出された評価値が閾値以下であるか否か判定する。いくつかの実施形態では、フォーカス調整は、算出される評価値が閾値以下になるまで継続される。すなわち、評価値が閾値以下であるとき測定光ＬＳのフォーカス状態が適正であると判断され、フォーカス調整は、測定光ＬＳのフォーカス状態が適正であると判断されるまで継続される。

いくつかの実施形態では、主制御部２１１は、上記のような反復的なＯＣＴ計測を行って干渉信号を取得しつつ、逐次に取得される干渉信号の強度（干渉強度、干渉感度）をモニタする。更に、このモニタ処理を行いながら、合焦レンズを移動させることにより、干渉強度が最大となるような合焦レンズの位置を探索する。このようなフォーカス調整によれば、干渉強度が最適化されるような位置に合焦レンズを導くことができる。

また、データ処理部２３０は、ＯＣＴ計測により得られた干渉光の検出結果を解析して、測定光ＬＳ及び参照光ＬＲの少なくとも一方の偏波状態を判定する。例えば、主制御部２１１は、偏波コントローラ１０３、１１８の少なくとも一方を所定のアルゴリズムにしたがって制御しつつ、反復的なＯＣＴ計測を行う。いくつかの実施形態では、主制御部２１１は、アッテネータ１２０を制御して、参照光ＬＲの減衰量を変更する。データ処理部２３０は、ＯＣＴ計測により繰り返し取得される干渉光ＬＣの検出結果を解析することで、ＯＣＴ画像の画質に関する所定の評価値を算出する。データ処理部２３０は、算出された評価値が閾値以下であるか否か判定する。この閾値はあらかじめ設定される。偏波調整は、算出される評価値が閾値以下になるまで継続される。すなわち、評価値が閾値以下であるとき測定光ＬＳの偏波状態が適正であると判断され、偏波調整は、測定光ＬＳの偏波状態が適正であると判断されるまで継続される。

いくつかの実施形態では、主制御部２１１は、偏波調整においても干渉強度をモニタすることが可能である。

更に、データ処理部２３０は、ＯＣＴ計測により得られた干渉光の検出結果、又は当該検出結果に基づいて形成されたＯＣＴ画像に対して所定の解析処理を行う。所定の解析処理には、被検眼Ｅにおける所定の部位（組織、病変部）の特定；指定された部位間の距離（層間距離）、面積、角度、比率、密度の算出；指定された計算式による演算；所定の部位の形状の特定；これらの統計値の算出；計測値、統計値の分布の算出；これら解析処理結果に基づく画像処理などがある。所定の組織には、血管、視神経乳頭、中心窩、黄斑などがある。所定の病変部には、白斑、出血などがある。

以上のように機能するデータ処理部２３０は、例えば、前述のプロセッサ、ＲＡＭ、ＲＯＭ、ハードディスクドライブ、回路基板等を含んで構成される。ハードディスクドライブ等の記憶装置には、上記機能をプロセッサに実行させるコンピュータプログラムがあらかじめ格納されている。いくつかの実施形態では、データ処理部２３０の機能は、データ処理プロセッサにより実現される。

（ユーザインターフェイス）
ユーザインターフェイス２４０には、表示部２４０Ａと操作部２４０Ｂとが含まれる。表示部２４０Ａは、前述した演算制御ユニット２００の表示デバイスや表示装置３００を含んで構成される。操作部２４０Ｂは、前述した演算制御ユニット２００の操作デバイスを含んで構成される。操作部２４０Ｂには、眼科装置１の筐体や外部に設けられた各種のボタンやキーが含まれていてもよい。例えば眼科装置１が従来の眼底カメラと同様の筺体を有する場合、操作部２４０Ｂは、この筺体に設けられたジョイスティックや操作パネル等を含んでいてもよい。また、表示部２４０Ａは、眼科装置１の筺体に設けられたタッチパネルなどの各種表示デバイスを含んでいてもよい。

なお、表示部２４０Ａと操作部２４０Ｂは、それぞれ個別のデバイスとして構成される必要はない。例えばタッチパネルのように、表示機能と操作機能とが一体化されたデバイスを用いることも可能である。その場合、操作部２４０Ｂは、このタッチパネルとコンピュータプログラムとを含んで構成される。操作部２４０Ｂに対する操作内容は、電気信号として制御部２１０に入力される。また、表示部２４０Ａに表示されたグラフィカルユーザインターフェイス（ＧＵＩ）と、操作部２４０Ｂとを用いて、操作や情報入力を行うようにしてもよい。

図４に、実施形態の比較例に係る光スキャナーの測定光の偏向角度と被検眼位置における測定光の入射角度との関係を説明するための図を示す。

光スキャナーＳＣは、光源からの光ＬＬを偏向して、楕円面鏡ＥＬの反射面に導く。光スキャナーＳＣにより偏向された光ＬＬは、楕円面鏡ＥＬの反射面により反射され、被検眼Ｅに導かれる。図４に示すように、光ＬＬを略等しい間隔の偏向角度で偏向した場合であっても、第１偏向角度で偏向された光Ｌ１の入射角度と第２偏向角度で偏向された光Ｌ２の入射角度との間隔と、第２偏向角度で偏向された光Ｌ２の入射角度と第３偏向角度で偏向された光Ｌ３の入射角度との間隔とが不均一となる。すなわち、光スキャナーによる偏向角度（の間隔）と被検眼位置における入射角度（の間隔）とは非線形な関係にある。

実施形態では、このような非線形な関係に基づく入射角度（の間隔）の歪みを補正することにより、走査位置の偏位に基づく計測精度の低下を防ぐことが可能である。

図５〜図７に、第１実施形態に係る眼科装置１の動作説明図を示す。図５は、第１実施形態に係る眼科装置１の構成の要部を説明するための図である。図５において、図２又は図３と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。図６は、第１実施形態に係る制御部２１０の動作説明図を示す。図６において、横軸はＡスキャンの実行タイミング（データセットの取得タイミング）に対応する時間を表し、縦軸は被検眼位置における測定光ＬＳの入射角度を表す。図６において、図４と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。図７は、被検眼Ｅの眼底Ｅｆの断層像を模式的に表す。なお、図７において、断層像ＩＭＧ０、ＩＭＧ１におけるＡスキャンの数は例示的なものであり、その数に限定されるものではない。

光スキャナー２０は、例えば、測定光ＬＳを反射するミラーを含み、ミラーを所定の偏向方向に対応する揺動方向に往復的に揺動することにより所定の偏向角度範囲で測定光ＬＳを偏向する。例えば、入射角度範囲は、図６に示すように、入射開始角度ｒｓ（第１入射角度）と入射終了角度ｒｅ（第２入射角度）との間の範囲である。すなわち、光スキャナー２０により偏向された測定光ＬＳの被検眼位置における入射角度範囲には、図６に示すように、データセットの取得タイミングの変化（時間変化）に対して入射角度の変化が略線形的に動作する線形動作範囲と、データセットの取得タイミングの変化に対して入射角度の変化が線形的に動作しない非線形動作範囲とが含まれる。非線形動作範囲は、入射開始角度ｒｓと入射終了角度ｒｅとを含む。

図６に示す入射角度範囲で被検眼Ｅに入射した測定光ＬＳにより得られたＡスキャン方向のデータセット群から図７に示すような断層像ＩＭＧ０が得られる。図７に示す断層像ＩＭＧ０では、被検眼に入射する測定光に基づく各Ａスキャンの間隔が不均一となる。従って、実用上、取得されたデータセット群を用いて形成された断層像には上記の非線形性に起因した歪みが生じる。

これに対して、主制御部２１１は、図５に示すように、光スキャナー２０の偏向動作の基準タイミングを基準に、タイミング情報２１２Ａにより特定される実行タイミングで光源ユニット１０１に対して制御信号ＴＲＧを出力することにより、Ａスキャンの実行タイミングを制御する。いくつかの実施形態では、主制御部２１１は、光スキャナー２０に対して制御信号ＣＯＭを出力することにより光スキャナー２０の偏向動作の基準タイミングを特定する。

これにより、主制御部２１１が光源ユニット１０１に対して制御信号ＴＲＧを出力することにより制御信号ＴＲＧの出力タイミングに同期して波長掃引動作開始され、クロックＫＣに同期してＤＡＱ１３０において干渉光ＬＣの検出結果が取得される。すなわち、主制御部２１１は、制御信号ＴＲＧによりＡスキャンの実行タイミングを制御することにより、略等しい走査角度で走査された走査位置における被検眼Ｅのデータを取得することができる。

例えば、図６に示すように、タイミング情報２１２Ａは、入射角度の全角度範囲で被検眼位置における測定光ＬＳの入射角度の間隔が略等しくなるように、Ａスキャンの実行タイミングｔ１、ｔ２、ｔ３、・・・、ｔＮ（Ｎは２以上の整数）を規定するタイミング情報２１２Ａが記憶部２１２にあらかじめ記憶される。

いくつかの実施形態では、タイミング情報２１２Ａは、事前に光スキャナー２０の動作特性と既知の楕円面鏡１１の反射面の形状とから特定され、記憶部２１２に保存される。例えば、タイミング情報２１２Ａの保存は、出荷工程、検査工程、又はＯＣＴ計測前に行われる。例えば、主制御部２１１は、光スキャナー２０に対して、測定光ＬＳを偏向するミラーの偏向動作を規定する制御波形を表す情報を含む制御信号を出力することにより光スキャナー２０の偏向動作を制御する。また、主制御部２１１は、光スキャナー２０に対して制御信号ＣＯＭを出力して光スキャナー２０の偏向角度等の動作状態を含む応答信号ＲＥＳを受信し、受信された応答信号ＲＥＳから光スキャナー２０の偏向動作状態をモニタリングしてタイミング情報２１２Ａを特定する。主制御部２１１は、特定されたタイミング情報２１２Ａを記憶部２１２に格納する。

以上のように、第１実施形態によれば、光スキャナー２０により全偏向角度範囲において略等間隔の偏向角度で偏向された測定光ＬＳに基づいてＡスキャンのデータを取得することができるため、図７に示すような眼底Ｅｆの断層像ＩＭＧ１が得られる。図７に示す断層像ＩＭＧ１は、上記の光スキャナー２０の非線形動作にかかわらず、偏向角度範囲において略等間隔の入射角度で被検眼Ｅに入射した測定光ＬＳにより取得されたデータセット群から形成される。従って、形成された断層像には上記の非線形性に起因した歪みが生じることなく、計測精度を向上させることが可能になる。

ＯＣＴユニット１００に含まれる干渉光学系から楕円面鏡１１に至る経路における光学系、又はこれら光学系と画像形成部２２０は、実施形態に係る「取得部」の一例である。

［動作］
第１実施形態に係る眼科装置１の動作について説明する。

図８に、第１実施形態に係る眼科装置１の動作例を示す。図８は、第１実施形態に係る眼科装置１の動作例のフローチャートを表す。記憶部２１２には、図８に示す処理を実現するためのコンピュータプログラムが記憶されている。主制御部２１１は、このコンピュータプログラムに従って動作することにより、図８に示す処理を実行する。

（Ｓ１：スキャンモードを指定）
主制御部２１１は、ユーザによるスキャンモードの指定を受け付ける。

ユーザは、操作部２４０Ｂに対する操作によりスキャンモード又は動作モードを指定することが可能である。ユーザによって操作部２４０Ｂに対する操作によりスキャンモードが指定されたとき、主制御部２１１は、操作部２４０Ｂからの操作情報を解析して、指定されたスキャンモードを特定する。ユーザによって操作部２４０Ｂに対する操作により動作モードが指定されたとき、主制御部２１１は、操作情報を解析して、指定された動作モードにおいてあらかじめ指定されたスキャンモードを特定する。

（Ｓ２：タイミング情報を設定）
主制御部２１１は、ステップＳ１において指定されたスキャンモードに対応して記憶部２１２に記憶されたタイミング情報２１２Ａを特定し、当該スキャン中に参照すべきタイミング情報として設定する。

例えば、主制御部２１１は、ステップＳ２から後述のステップＳ７の間の任意のタイミングで、光スキャナー２０に対して、測定光ＬＳを偏向するミラーの偏向動作を規定する制御波形を表す情報を含む制御信号を出力する。主制御部２１１は、ステップＳ４からステップＳ７の各ステップで、あらかじめ決められた互いに異なる制御波形を表す情報を含む制御信号を出力してもよいし、あらかじめ決められた同じ制御波形を表す情報を含む制御信号を出力してもよい。

（Ｓ３：アライメント）
次に、主制御部２１１は、アライメントを実行する。

すなわち、主制御部２１１は、図示しないアライメント光学系を制御して、被検眼Ｅにアライメント指標を投影させる。このとき、被検眼Ｅには、固視標も投影される。主制御部２１１は、例えば図示しない撮影光学系を用いて取得された受光像に基づいて特定された光学系の移動量に基づいて移動機構１５０を制御し、被検眼Ｅに対して光学系を当該移動量だけ相対的に移動させる。主制御部２１１は、この処理を繰り返し実行させる。

（Ｓ４：調整用断層像を取得）
主制御部２１１は、例えば、所定位置にＯＣＴ計測用の固視標を表示させる。

続いて、主制御部２１１は、ＯＣＴユニット１００を制御してＯＣＴ仮計測を実行させ、深さ方向の計測範囲の基準位置を調整するための調整用断層像を取得させる。具体的には、主制御部２１１は、光スキャナー２０を制御することにより、光源ユニット１０１から出射された光Ｌ０に基づいて生成された測定光ＬＳを偏向し、偏向された測定光ＬＳで被検眼Ｅの所定部位（例えば眼底）をスキャンさせる。測定光ＬＳのスキャンにより得られた干渉光の検出結果は、クロックＫＣに同期してサンプリングされた後、画像形成部２２０に送られる。画像形成部２２０は、得られた干渉信号から被検眼Ｅの断層像（ＯＣＴ画像）を形成する。

（Ｓ５：深さ方向の基準位置を調整）
続いて、主制御部２１１は、深さ方向（ｚ方向）の計測範囲の基準位置を調整する。

例えば、主制御部２１１は、ステップＳ４において得られた断層像における所定の部位（例えば、強膜）をデータ処理部２３０に特定させ、特定された所定の部位の位置に対して深さ方向に所定の距離だけ離れた位置を計測範囲の基準位置として設定する。また、測定光ＬＳと参照光ＬＲの光路長が略一致するようにあらかじめ決められた所定の位置が計測範囲の基準位置として設定されてもよい。

（Ｓ６：フォーカス調整、偏波調整）
次に、主制御部２１１は、フォーカス調整制御及び偏波調整制御を実行する。

例えば、主制御部２１１は、図示しない合焦駆動部を制御して合焦レンズを所定の距離だけ移動させた後、ＯＣＴユニット１００を制御してＯＣＴ計測を実行させる。主制御部２１１は、上記のように、ＯＣＴ計測により得られた干渉光の検出結果に基づいて測定光ＬＳのフォーカス状態をデータ処理部２３０に判定させる。データ処理部２３０による判定結果に基づいて測定光ＬＳのフォーカス状態が適正ではないと判断されたとき、主制御部２１１は、再び合焦駆動部の制御を行い、フォーカス状態が適正であると判断されるまで繰り返す。

また、例えば、主制御部２１１は、偏波コントローラ１０３、１１８の少なくとも一方を制御して光Ｌ０及び測定光ＬＳの少なくとも一方の偏波状態を所定の量だけ変更した後、ＯＣＴユニット１００を制御してＯＣＴ計測を実行させ、取得された干渉光の検出結果に基づくＯＣＴ画像を画像形成部２２０に形成させる。主制御部２１１は、上記のように、ＯＣＴ計測により得られたＯＣＴ画像の画質をデータ処理部２３０に判定させる。データ処理部２３０による判定結果に基づいて測定光ＬＳの偏波状態が適正ではないと判断されたとき、主制御部２１１は、再び偏波コントローラ１０３、１１８の制御を行い、偏波状態が適正であると判断されるまで繰り返す。

（Ｓ７：干渉信号を取得）
続いて、主制御部２１１は、光スキャナー２０の偏向動作の基準タイミングを基準に、ステップＳ２において設定されたタイミング情報に基づいて特定された実行タイミングで制御信号ＴＲＧを光源ユニット１０１に出力して眼底Ｅｆに対してＯＣＴ計測（少なくともＡスキャン）を実行させる。当該ＯＣＴ計測により取得された干渉光の検出結果は、ＤＡＱ１３０においてサンプリングされ、干渉信号として記憶部２１２等に保存される。

（Ｓ８：断層像を形成）
次に、主制御部２１１は、ステップＳ７において取得された干渉信号に基づいて眼底ＥｆのＡスキャン画像データのデータセット群を画像形成部２２０に形成させる。主制御部２１１は、生成されたＡスキャン画像データのデータセット群に基づいてＢスキャン画像（図７の断層像ＩＭＧ１）を表示部２４０Ａに表示させることが可能である。

以上で、眼科装置１の動作は終了である（エンド）。

［第２実施形態］
第１実施形態では、眼科装置１が被検眼Ｅに対してフィードフォワード制御でＯＣＴ計測を実行する場合について説明したが、実施形態に係る眼科装置の構成はこれに限定されるものではない。第２実施形態に係る眼科装置１は、被検眼Ｅに対してフィードバック制御でＯＣＴ計測を実行する。

以下、第２実施形態に係る眼科装置１について第１実施形態との相違点を中心に説明する。

第２実施形態に係る眼科装置１の構成は、第１実施形態に係る眼科装置１の構成とほぼ同様である。第２実施形態に係る眼科装置１が第１実施形態に係る眼科装置１と異なる点は、タイミング情報２１２Ａを参照することなく、光スキャナー２０の偏向動作状態に応じてＯＣＴ計測を実行する点である。

図９に、第２実施形態に係る制御部２１０の動作説明図を示す。図９において、図５と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

第２実施形態では、眼科装置１は、光スキャナー２０の偏向角度に応じてＯＣＴ計測（少なくともＡスキャン）を実行する。具体的には、主制御部２１１は、光スキャナー２０から偏向角度を表す動作情報を取得し、取得された動作情報に基づいてミラーの偏向角度が所定の偏向角度であるか否かを判定し、偏向角度が所定の偏向角度であると判定されたとき、ＯＣＴユニット１００を制御することによりＡスキャンを実行させる。所定の偏向角度は、あらかじめ決められている。

すなわち、主制御部２１１は、光スキャナー２０に対して制御信号ＣＯＭを出力することにより動作情報を含む応答信号ＲＥＳを受信し、受信された応答信号ＲＥＳに含まれる動作情報からミラーの偏向角度を特定する。主制御部２１１は、取得された動作情報に基づいてミラーの偏向角度が所定の偏向角度であるか否かを判定し、偏向角度が所定の偏向角度であると判定されたとき、光源ユニット１０１に対して制御信号ＴＲＧを出力することによりＡスキャンを実行させる。

主制御部２１１が光源ユニット１０１に対して制御信号ＴＲＧを出力することにより制御信号ＴＲＧの出力タイミングに同期して波長掃引動作開始され、クロックＫＣに同期してＤＡＱ１３０において干渉光ＬＣの検出結果が取得される。

［動作］
第２実施形態に係る眼科装置１の動作について説明する。

図１０に、実施形態に係る眼科装置１の動作例を示す。図１０は、第２実施形態に係る眼科装置１の動作例のフローチャートを表す。記憶部２１２には、図１０に示す処理を実現するためのコンピュータプログラムが記憶されている。主制御部２１１は、このコンピュータプログラムに従って動作することにより、図１０に示す処理を実行する。

（Ｓ１１：スキャンモードを指定）
主制御部２１１は、ステップＳ１と同様に、ユーザによるスキャンモードの指定を受け付ける。

（Ｓ１２：アライメント）
次に、主制御部２１１は、ステップＳ３と同様に、アライメントを実行する。

（Ｓ１３：調整用断層像を取得）
主制御部２１１は、ステップＳ４と同様に、ＬＣＤ３９の所定位置にＯＣＴ計測用の固視標を表示させる。続いて、主制御部２１１は、ＯＣＴユニット１００を制御してＯＣＴ仮計測を実行させ、深さ方向の計測範囲の基準位置を調整するための調整用断層像を取得させる。

（Ｓ１４：深さ方向の基準位置を調整）
続いて、主制御部２１１は、ステップＳ５と同様に、深さ方向（ｚ方向）の計測範囲の基準位置を調整する。

（Ｓ１５：フォーカス調整、偏波調整）
次に、主制御部２１１は、ステップＳ６と同様に、フォーカス調整制御及び偏波調整制御を実行する。

（Ｓ１６：干渉信号を取得）
続いて、主制御部２１１は、光スキャナー２０の偏向角度に応じて光源ユニット１０１に対して制御信号ＴＲＧを出力することにより、当該偏向角度に応じた実行タイミングでＯＣＴユニット１００を制御して被検眼Ｅの眼底Ｅｆに対してＯＣＴ計測（少なくともＡスキャン）を実行させる。

具体的には、主制御部２１１は、光スキャナー２０から周期的に受信された応答信号ＲＥＳに含まれる動作情報から光スキャナー２０の偏向角度を取得する。偏向角度が取得されるたびに、主制御部２１１は、ミラーの偏向角度が所定の偏向角度であるか否かを判定し、偏向角度が所定の偏向角度であると判定されたとき、光源ユニット１０１に対して制御信号ＴＲＧを出力することによりＡスキャンを実行させる。このような制御信号ＴＲＧによるＡスキャンの実行制御は、所定のスキャン範囲内で繰り返される。

当該ＯＣＴ計測により取得された干渉光の検出結果は、ＤＡＱ１３０においてサンプリングされ、干渉信号として記憶部２１２等に保存される。

（Ｓ１７：断層像を形成）
次に、主制御部２１１は、ステップＳ８と同様に、ステップＳ１６において取得された干渉信号に基づいて眼底ＥｆのＡスキャン画像データのデータセット群を画像形成部２２０に形成させる。

以上で、眼科装置１の動作は終了である（エンド）。

［第３実施形態］
第１実施形態又は第２実施形態では、主に眼底Ｅｆに対して略等間隔の偏向角度で走査されるようにＡスキャンを実行する場合について説明したが、実施形態に係る眼科装置の構成はこれに限定されるものではない。

第３実施形態に係る眼科装置１は、主に前眼部Ｅａに対して略等しい走査間隔で走査されるように（前眼部Ｅａにおける測定光ＬＳの投射位置の間隔が略等しくなるように）Ａスキャンを実行する。

例えば、第３実施形態に係る眼科装置１の構成は、第１実施形態又は第２実施形態に係る眼科装置１の構成とほぼ同様である。この場合、第３実施形態では、第１実施形態又は第２実施形態に係る眼科装置１において、被検眼Ｅとコリメータレンズユニット４０との間に前置レンズが配置される。それにより、被検眼Ｅの前眼部Ｅａに対して、平行光束にされた測定光ＬＳが照射される。

例えば、第３実施形態において、略等しい走査間隔でＡスキャンが実行されるようにタイミング情報２１２Ａが記憶される。所定の位置に前置レンズが配置されたとき、主制御部２１１は、タイミング情報２１２Ａに基づいて前眼部Ｅａに対するＯＣＴ計測を実行させることにより、前眼部Ｅａに対して略等しい走査間隔でＡスキャンを実行することができる。

例えば、第３実施形態において、所定の位置に前置レンズが配置されたとき、主制御部２１１は、光スキャナー２０の偏向角度が、略等しい走査間隔になるようにあらかじめ決められた所定の偏向角度であるか否かを判定する。主制御部２１１は、当該偏向角度が所定の偏向角度であると判定されたとき前眼部Ｅａに対するＯＣＴ計測を実行させる。それにより、前眼部Ｅａに対して略等しい走査間隔でＡスキャンを実行することができる。

いくつかの実施形態では、眼科装置１の動作モードは眼底計測モードと前眼部計測モードとを含む。例えば、第１実施形態に係る眼科装置１において、タイミング情報２１２Ａは、眼底計測モード用のタイミング情報と、前眼部計測モード用のタイミング情報とを含む。眼底計測モードでは、眼底計測モード用のタイミング情報に基づいて、略等しい走査角度（偏向角度）で走査するようにＡスキャンが実行され、前眼部計測モードでは、前眼部計測モード用のタイミング情報に基づいて、略等しい走査間隔で走査するようにＡスキャンが実行される。

例えば、第２実施形態に係る眼科装置１において、光スキャナー２０の偏向角度が眼底計測モード用の所定の偏向角度であるか否かを判定可能に構成される。眼底計測モード用の所定の偏向角度は、略等しい走査角度（偏向角度）で走査するように設定された偏向角度である。それにより、眼底計測モードでは、光スキャナー２０の偏向角度が眼底計測モード用の所定の偏向角度であると判定されたとき、略等しい走査角度（偏向角度）で走査するようにＡスキャンが実行される。また、第２実施形態に係る眼科装置１において、光スキャナー２０の偏向角度が前眼部計測モード用の所定の偏向角度であるか否かを判定可能に構成される。前眼部計測モード用の所定の偏向角度は、略等しい走査間隔で走査するように設定された偏向角度である。それにより、前眼部計測モードでは、光スキャナー２０の偏向角度が前眼部計測モード用の所定の偏向角度であると判定されたとき、略等しい走査間隔で走査するようにＡスキャンが実行される。

［第４実施形態］
上記の第１実施形態〜第３実施形態では、光学系１０が、光スキャナー２０と楕円面鏡１１とを含む場合について説明したが、実施形態に係る眼科装置の構成はこれに限定されるものではない。実施形態に係る眼科装置において、光学系は、複数の楕円面鏡（凹面鏡）を含んでいてもよい。以下では、第４実施形態に係る眼科装置の構成について、第１実施形態に係る眼科装置１の構成との相違点を中心に説明する。

図１１に、第３実施形態に係る眼科装置の構成例を示す。図１１において、図１と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

第４実施形態に係る眼科装置１ａの構成が、図１に示す第１実施形態に係る眼科装置１の構成と異なる点は、光学系１０に代えて光学系１０ａが設けられている点である。光学系１０ａは、光スキャナー２０Ａ、２０Ｂと、楕円面鏡１１Ａ、１１Ｂとを含む。光スキャナー２０Ａは、例えば、測定光ＬＳの光路（光軸）に直交する垂直方向に撮影部位をスキャンするように測定光ＬＳを偏向する。光スキャナー２０Ｂは、例えば、測定光ＬＳの光路（光軸）に直交する垂直方向に撮影部位をスキャンするように、光スキャナー２０Ａにより偏向された測定光ＬＳを偏向する。いくつかの実施形態では、光学系１０ａは、楕円面鏡１１Ａ、１１Ｂの少なくとも一方に代えて、反射面が凹面状に形成された凹面鏡を含む。いくつかの実施形態では、凹面鏡の反射面は、自由曲面になるように形成される。

楕円面鏡１１Ａは、楕円面鏡１１と同様に、光学的に共役な２つの焦点（第３焦点、第４焦点）を有する。楕円面鏡１１Ｂは、楕円面鏡１１と同様に、光学的に共役な２つの焦点（第５焦点、第６焦点）を有する。光スキャナー２０Ａ（光スキャナー２０Ａの偏向面）は、楕円面鏡１１Ａの第３焦点若しくはその近傍、又は第３焦点と光学的に共役な位置（第３焦点の共役位置）若しくはその近傍に配置される。光スキャナー２０Ｂ（光スキャナー２０Ｂの偏向面）は、楕円面鏡１１Ａの第４焦点若しくはその近傍、又は第４焦点と光学的に共役な位置（第４焦点の共役位置）若しくはその近傍に配置される。また、光スキャナー２０Ｂ（光スキャナー２０Ｂの偏向面）は、楕円面鏡１１Ｂの第５焦点若しくはその近傍、又は第５焦点と光学的に共役な位置（第５焦点の共役位置）若しくはその近傍に配置される。被検眼Ｅ（瞳孔）が配置される被検眼位置は、楕円面鏡１１Ｂの第６焦点若しくはその近傍、又は第６焦点と光学的に共役な位置（第６焦点の共役位置）若しくはその近傍に配置される。

このような構成を有する眼科装置１ａは、第１実施形態と同様に、図８又は図１０に示すフローに従って被検眼ＥのＯＣＴ画像を形成することができる。

なお、上記の実施形態では、光スキャナー２０は、ガルバノスキャナーにより構成される場合について説明したが、実施形態に係る構成はこれに限定されるものではない。例えば、光スキャナー２０は、レゾナントミラー又はポリゴンミラーにより構成されていてもよい。

［効果］
実施形態に係る眼科装置、及びその制御方法について説明する。

いくつかの実施形態に係る眼科装置（１、１ａ）は、取得部（ＯＣＴユニット１００に含まれる干渉光学系から楕円面鏡１１に至る経路における光学系、又はこれら光学系と画像形成部２２０）と、制御部（２１０、主制御部２１１）と、を含む。取得部は、凹面鏡（楕円面鏡１１、１１Ａ、１１Ｂ）と、測定光（ＬＳ）を偏向して凹面鏡の反射面に導く光スキャナー（２０、２０Ａ、２０Ｂ）とを含み、反射面により反射された測定光による光コヒーレンストモグラフィを用いて被検眼位置又はその共役位置に配置された被検眼（Ｅ）に対してＡスキャンを実行することにより被検眼のデータ（ＯＣＴデータ）を取得する。制御部は、光スキャナーの偏向動作状態に応じて取得部にＡスキャンを実行させる。

このような構成によれば、光スキャナーの偏向動作状態が所望の状態であるときにＡスキャンを実行させることができるので、光スキャナーによる測定光の偏向角度の変化特性（偏向動作特性）及び凹面鏡の反射面の形状に起因した被検眼位置における測定光の入射角度の変化特性を考慮して、計測部位における所望の走査位置におけるデータを取得することが可能になる。それにより、凹面鏡を用いてより広角で高精度な計測が可能な眼科装置を提供することができる。

いくつかの実施形態では、凹面鏡は、楕円面鏡（１１、１１Ａ、１１Ｂ）であり、光スキャナーは、楕円面鏡の第１焦点（第３焦点、第５焦点）若しくはその近傍、又は第１焦点の共役位置若しくはその近傍に配置され、被検眼位置は、楕円面鏡の第２焦点（第４焦点、第６焦点）若しくはその近傍、又は第２焦点の共役位置若しくはその近傍に配置される。

このような構成によれば、楕円面鏡の反射面からの反射を考慮して計測部位における所望の走査位置におけるデータを取得することが可能になるため、楕円面鏡を用いてより広角で高精度な計測が可能になる。

いくつかの実施形態は、Ａスキャンのタイミング情報（２１２Ａ）をあらかじめ記憶する記憶部（２１２）を含み、制御部は、タイミング情報に基づいて取得部にＡスキャンを実行させる。

このような構成によれば、光スキャナーによる測定光の偏向角度の変化特性及び被検眼位置における測定光の入射角度の変化特性に応じて、簡素なフィードフォワード制御で、所望のタイミングでＡスキャンを実行させることが可能になる。

いくつかの実施形態では、タイミング情報は、光スキャナーの偏向動作の基準タイミングを基準としたＡスキャンのタイミング情報を含み、制御部は、タイミング情報により特定されたタイミングで取得部にＡスキャンを実行させる。

このような構成によれば、光スキャナーの偏向動作の基準タイミングを基準に、簡素なフィードフォワード制御で、所望のタイミングでＡスキャンを実行させることが可能になる。

いくつかの実施形態では、制御部は、光スキャナーの偏向角度に応じて取得部にＡスキャンを実行させる。

このような構成によれば、光スキャナーの偏向角度に応じてＡスキャンを実行させるようにしたので、簡素なフィードバック制御でＡスキャンを実行させることが可能になる。

いくつかの実施形態では、制御部は、光スキャナーの偏向角度を表す動作情報を取得し、取得された動作情報に基づいて偏向角度が所定の偏向角度であるか否かを判定し、偏向角度が所定の偏向角度であると判定されたとき、取得部にＡスキャンを実行させる。

このような構成によれば、光スキャナーの偏向角度が所望の偏向角度のときにＡスキャンを実行させるようにしたので、所望の走査位置におけるデータを取得することが可能になる。

いくつかの実施形態では、制御部は、被検眼位置における測定光の入射角度の間隔が略等しくなるように取得部にＡスキャンを実行させる。

このような構成によれば、略等しい入射角度間隔で走査された走査位置におけるデータを取得することが可能になるので、眼底のような湾曲した形状の部位において略均一な位置のデータを取得することができるようになる。

いくつかの実施形態では、制御部は、被検眼における測定光の投射位置の間隔が略等しくなるように取得部にＡスキャンを実行させる。

このような構成によれば、略等しい走査間隔で走査された走査位置におけるデータを取得することが可能になるので、前眼部のような平行光束でスキャンされる部位において略均一な位置のデータを取得することができるようになる。

いくつかの実施形態は、凹面鏡（楕円面鏡１１、１１Ａ、１１Ｂ）と、測定光（ＬＳ）を偏向して凹面鏡の反射面に導く光スキャナー（２０、２０Ａ、２０Ｂ）とを含む眼科装置（１、１ａ）の制御方法である。眼科装置の制御方法は、反射面により反射された測定光による光コヒーレンストモグラフィを用いて被検眼位置又はその共役位置に配置された被検眼（Ｅ）に対してＡスキャンを実行することにより被検眼のデータ（ＯＣＴデータ）を取得する取得ステップと、光スキャナーの偏向動作状態に応じてＡスキャンを実行させる制御ステップと、を含む。

このような方法によれば、光スキャナーの偏向動作状態が所望の状態であるときにＡスキャンを実行させることができるので、光スキャナーによる測定光の偏向角度の変化特性（偏向動作特性）及び凹面鏡の反射面の形状に起因した被検眼位置における測定光の入射角度の変化特性を考慮して、計測部位における所望の走査位置におけるデータを取得することが可能になる。それにより、凹面鏡を用いてより広角で高精度な計測が可能になる。

いくつかの実施形態では、凹面鏡は、楕円面鏡（１１、１１Ａ、１１Ｂ）であり、光スキャナーは、楕円面鏡の第１焦点（第３焦点、第５焦点）若しくはその近傍、又は第１焦点の共役位置若しくはその近傍に配置され、被検眼位置は、楕円面鏡の第２焦点（第４焦点、第６焦点）若しくはその近傍、又は第２焦点の共役位置若しくはその近傍に配置される。

このような方法によれば、楕円面鏡の反射面からの反射を考慮して計測部位における所望の走査位置におけるデータを取得することが可能になるため、楕円面鏡を用いてより広角で高精度な計測が可能になる。

いくつかの実施形態では、制御ステップは、あらかじめ記憶されたＡスキャンのタイミング情報（２１２Ａ）に基づいてＡスキャンを実行させる。

このような方法によれば、光スキャナーによる測定光の偏向角度の変化特性及び被検眼位置における測定光の入射角度の変化特性に応じて、簡素なフィードフォワード制御で、所望のタイミングでＡスキャンを実行させることが可能になる。

いくつかの実施形態では、タイミング情報は、光スキャナーの偏向動作の基準タイミングを基準としたＡスキャンのタイミング情報を含み、制御ステップは、タイミング情報により特定されたタイミングでＡスキャンを実行させる。

このような方法によれば、光スキャナーの偏向動作の基準タイミングを基準に、簡素なフィードフォワード制御で、所望のタイミングでＡスキャンを実行させることが可能になる。

いくつかの実施形態では、制御ステップは、光スキャナーの偏向角度に応じてＡスキャンを実行させる。

このような方法によれば、光スキャナーの偏向角度に応じてＡスキャンを実行させるようにしたので、簡素なフィードバック制御でＡスキャンを実行させることが可能になる。

いくつかの実施形態では、制御ステップは、光スキャナーの偏向角度を表す動作情報を取得する動作情報取得ステップと、取得された動作情報に基づいて偏向角度が所定の偏向角度であるか否かを判定する判定ステップと、判定ステップにおいて偏向角度が所定の偏向角度であると判定されたとき、Ａスキャンを実行させる実行ステップと、を含む。

このような方法によれば、光スキャナーの偏向角度が所望の偏向角度のときにＡスキャンを実行させるようにしたので、所望の走査位置におけるデータを取得することが可能になる。

いくつかの実施形態では、制御ステップは、被検眼位置における測定光の入射角度の間隔が略等しくなるようにＡスキャンを実行させる。

このような方法によれば、略等しい入射角度間隔で走査された走査位置におけるデータを取得することが可能になるので、眼底のような湾曲した形状の部位において略均一な位置のデータを取得することができるようになる。

いくつかの実施形態では、制御ステップは、被検眼における測定光の投射位置の間隔が略等しくなるようにＡスキャンを実行させる。

このような方法によれば、略等しい走査間隔で走査された走査位置におけるデータを取得することが可能になるので、前眼部のような平行光束でスキャンされる部位において略均一な位置のデータを取得することができるようになる。

＜その他＞
上記の実施形態では、スウェプトソースタイプのＯＣＴを用いる場合について説明したが、スペクトラルドメインタイプのＯＣＴを用いてもよい。この場合、光源ユニット１０１において波長掃引光源に代えて低コヒーレンス光源（例えば、ＳＬＤ光源など）が用いられ、干渉光学系において検出器１２５に代えて分光器及び撮像素子（例えば、ＣＣＤなど）が用いられる。

以上に示された実施形態は、この発明を実施するための一例に過ぎない。この発明を実施しようとする者は、この発明の要旨の範囲内において任意の変形、省略、追加等を施すことが可能である。

上記の実施形態では、ＯＣＴを実行可能な眼科装置について説明したが、上記の実施形態に係る構成はこれに限定されるものではない。上記の実施形態は、楕円面鏡又は凹面鏡を用いた走査型レーザー検眼鏡（Ｓｃａｎｎｉｎｇ Ｌａｓｅｒ Ｏｐｈｔｈａｌｍｏｓｃｏｐｅ：以下、ＳＬＯ）を含む眼科装置にも適用可能である。ここで、ＳＬＯは、光源からの光で被検眼（例えば、眼底）をスキャンし、その戻り光を受光デバイスで検出することにより画像を形成する。すなわち、眼科装置は、取得部と、制御部とを含む。取得部は、凹面鏡と、所定の偏向角度範囲で光源からの光を偏向して凹面鏡の反射面に導く光スキャナーとを含み、反射面により反射された光を被検眼位置又はその共役位置に配置された被検眼に照射し、その戻り光に基づいて被検眼のデータを取得する。制御部は、光スキャナーの偏向動作状態に応じて取得部に光源からの光を照射させることにより被検眼のデータを取得させる。

いくつかの実施形態では、上記の眼科装置の制御方法をコンピュータに実行させるためのプログラムが提供される。このようなプログラムを、コンピュータによって読み取り可能な任意の記録媒体に記憶させることができる。この記録媒体としては、たとえば、半導体メモリ、光ディスク、光磁気ディスク（ＣＤ−ＲＯＭ／ＤＶＤ−ＲＡＭ／ＤＶＤ−ＲＯＭ／ＭＯ等）、磁気記憶媒体（ハードディスク／フロッピー（登録商標）ディスク／ＺＩＰ等）などを用いることが可能である。また、インターネットやＬＡＮ等のネットワークを通じてこのプログラムを送受信することも可能である。

１、１ａ 眼科装置
１０、１０ａ 光学系
１１、１１Ａ、１１Ｂ 楕円面鏡
２０、２０Ａ、２０Ｂ 光スキャナー
４０ コリメータレンズユニット
１００ ＯＣＴユニット
１０１ 光源ユニット
１３０ ＤＡＱ
２００ 演算制御ユニット
２１０ 制御部
２１１ 主制御部
２１２ 記憶部
２１２Ａ タイミング情報
２２０ 画像形成部
２３０ データ処理部
３００ 表示装置
Ｅ 被検眼
ＬＳ 測定光

Claims (16)

1. 凹面鏡と、測定光を偏向して前記凹面鏡の反射面に導く光スキャナーとを含み、前記反射面により反射された測定光による光コヒーレンストモグラフィを用いて被検眼位置又はその共役位置に配置された被検眼に対してＡスキャンを実行することにより前記被検眼のデータを取得する取得部と、
   前記光スキャナーの偏向動作状態に応じて前記取得部に前記Ａスキャンを実行させる制御部と、
   を含む眼科装置。
2. 前記凹面鏡は、楕円面鏡であり、
   前記光スキャナーは、前記楕円面鏡の第１焦点若しくはその近傍、又は前記第１焦点の共役位置若しくはその近傍に配置され、
   前記被検眼位置は、前記楕円面鏡の第２焦点若しくはその近傍、又は前記第２焦点の共役位置若しくはその近傍に配置される
   ことを特徴とする請求項１に記載の眼科装置。
3. 前記Ａスキャンのタイミング情報をあらかじめ記憶する記憶部を含み、
   前記制御部は、前記タイミング情報に基づいて前記取得部に前記Ａスキャンを実行させる
   ことを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の眼科装置。
4. 前記タイミング情報は、前記光スキャナーの偏向動作の基準タイミングを基準としたＡスキャンのタイミング情報を含み、
   前記制御部は、前記タイミング情報により特定されたタイミングで前記取得部に前記Ａスキャンを実行させる
   ことを特徴とする請求項３に記載の眼科装置。
5. 前記制御部は、前記光スキャナーの偏向角度に応じて前記取得部に前記Ａスキャンを実行させる
   ことを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の眼科装置。
6. 前記制御部は、前記光スキャナーの偏向角度を表す動作情報を取得し、取得された動作情報に基づいて前記偏向角度が所定の偏向角度であるか否かを判定し、前記偏向角度が前記所定の偏向角度であると判定されたとき、前記取得部に前記Ａスキャンを実行させる
   ことを特徴とする請求項５に記載の眼科装置。
7. 前記制御部は、前記被検眼位置における前記測定光の入射角度の間隔が略等しくなるように前記取得部に前記Ａスキャンを実行させる
   ことを特徴とする請求項１〜請求項６のいずれか一項に記載の眼科装置。
8. 前記制御部は、前記被検眼における前記測定光の投射位置の間隔が略等しくなるように前記取得部に前記Ａスキャンを実行させる
   ことを特徴とする請求項１〜請求項６のいずれか一項に記載の眼科装置。
9. 凹面鏡と、測定光を偏向して前記凹面鏡の反射面に導く光スキャナーとを含む眼科装置の制御方法であって、
   前記反射面により反射された測定光による光コヒーレンストモグラフィを用いて被検眼位置又はその共役位置に配置された被検眼に対してＡスキャンを実行することにより前記被検眼のデータを取得する取得ステップと、
   前記光スキャナーの偏向動作状態に応じて前記Ａスキャンを実行させる制御ステップと、
   を含む眼科装置の制御方法。
10. 前記凹面鏡は、楕円面鏡であり、
    前記光スキャナーは、前記楕円面鏡の第１焦点若しくはその近傍、又は前記第１焦点の共役位置若しくはその近傍に配置され、
    前記被検眼位置は、前記楕円面鏡の第２焦点若しくはその近傍、又は前記第２焦点の共役位置若しくはその近傍に配置される
    ことを特徴とする請求項９に記載の眼科装置の制御方法。
11. 前記制御ステップは、あらかじめ記憶された前記Ａスキャンのタイミング情報に基づいて前記Ａスキャンを実行させる
    ことを特徴とする請求項９又は請求項１０に記載の眼科装置の制御方法。
12. 前記タイミング情報は、前記光スキャナーの偏向動作の基準タイミングを基準としたＡスキャンのタイミング情報を含み、
    前記制御ステップは、前記タイミング情報により特定されたタイミングで前記Ａスキャンを実行させる
    ことを特徴とする請求項１１に記載の眼科装置の制御方法。
13. 前記制御ステップは、前記光スキャナーの偏向角度に応じて前記Ａスキャンを実行させる
    ことを特徴とする請求項９又は請求項１０に記載の眼科装置の制御方法。
14. 前記制御ステップは、
    前記光スキャナーの偏向角度を表す動作情報を取得する動作情報取得ステップと、
    取得された動作情報に基づいて前記偏向角度が所定の偏向角度であるか否かを判定する判定ステップと、
    前記判定ステップにおいて前記偏向角度が前記所定の偏向角度であると判定されたとき、前記Ａスキャンを実行させる実行ステップと、
    を含む
    ことを特徴とする請求項１３に記載の眼科装置の制御方法。
15. 前記制御ステップは、前記被検眼位置における前記測定光の入射角度の間隔が略等しくなるように前記Ａスキャンを実行させる
    ことを特徴とする請求項９〜請求項１４のいずれか一項に記載の眼科装置の制御方法。
16. 前記制御ステップは、前記被検眼における前記測定光の投射位置の間隔が略等しくなるように前記Ａスキャンを実行させる
    ことを特徴とする請求項９〜請求項１４のいずれか一項に記載の眼科装置の制御方法。

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