JP2017063165A - Package for storing electronic component, electronic device, and electronic module - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a package etc. for storing an electronic component which reduces the possibility of short circuits occurring between wiring conductors having different electric potential with a brazing material or a joint material, such as solder, or a sealing material even if the size of the package is reduced.SOLUTION: A package 1 for storing an electronic component includes an insulation substrate 101 including an upper insulation layer 105 and a lower insulation layer 106 and having a first major surface 102 including a mounting part 104 for mounting an electronic component 110 and located at an upper insulation layer 105 side, and a second major surface 103 located at a lower insulation layer 106 side. A first cutout 108 is provided at an outer edge of the insulation substrate 101, and an embedded conductor 109 is provided in the first cutout 108 so as to be separated from the second major surface 103. At least part of the embedded conductor 109 is covered with an insulator film 114.SELECTED DRAWING: Figure 2

Description

本発明は、圧電振動子または半導体素子等の電子部品を気密に収容するための電子部品収納用パッケージ、電子装置および電子モジュールに関するものである。   The present invention relates to an electronic component storage package, an electronic device, and an electronic module for hermetically storing an electronic component such as a piezoelectric vibrator or a semiconductor element.

従来、圧電振動子または半導体素子等の電子部品を搭載するための電子部品収納用パッケージとして、一般に、セラミック焼結体等からなる絶縁基板に設けた電子部品の収容部を蓋体で塞いで気密封止するようにしたものが用いられている。このような電子部品収納用パッケージとなる配線基板は、上面に電子部品の搭載部を有する平板状の下部絶縁層、およびこの下部絶縁層の上面に搭載部を取り囲んで積層された枠状の上部絶縁層を有する絶縁基板と、絶縁基板(上部絶縁層)の上面に形成された、蓋体の接合面となる枠状のメタライズ層と、搭載部から下部絶縁層の下面等にかけて形成された配線導体とから基本的に構成されている。   2. Description of the Related Art Conventionally, as an electronic component storage package for mounting an electronic component such as a piezoelectric vibrator or a semiconductor element, generally, an electronic component storage portion provided on an insulating substrate made of a ceramic sintered body or the like is closed with a lid. The one that is hermetically sealed is used. A wiring board to be such an electronic component storage package has a flat lower insulating layer having an electronic component mounting portion on the upper surface, and a frame-shaped upper portion laminated around the mounting portion on the upper insulating layer. An insulating substrate having an insulating layer, a frame-like metallized layer that is a bonding surface of the lid, formed on the upper surface of the insulating substrate (upper insulating layer), and wiring formed from the mounting portion to the lower surface of the lower insulating layer, etc. It is basically composed of a conductor.

この電子部品収納用パッケージを用いて、搭載部に電子部品が搭載され、電子部品の各電極が配線導体に電気的に接続された後、枠状のメタライズ層の上面に金属製の蓋体等がろう材等を介して接合され、配線基板と蓋体とからなる容器の内部に電子部品が気密に封止されて電子装置が製作される。   Using this electronic component storage package, after the electronic component is mounted on the mounting portion and each electrode of the electronic component is electrically connected to the wiring conductor, a metal lid or the like is formed on the upper surface of the frame-like metallized layer. The electronic device is manufactured by sealing the electronic components in a container composed of a wiring board and a lid body and airtightly sealed through a brazing material or the like.

なお、配線導体には、酸化腐食するのを防止するとともに配線導体と電子部品の各電極との電気的接続性を良好なものとするために、その露出する表面にニッケルまたは金等からなるめっき膜が電気めっき法によって被着されている。   In order to prevent oxidative corrosion on the wiring conductor and to improve the electrical connection between the wiring conductor and each electrode of the electronic component, the exposed surface is plated with nickel or gold. The film is deposited by electroplating.

この電子部品収納用パッケージは、複数の配線基板領域が配列された多数個取りの母基板から製作されている。また、めっき膜の被着性を向上させるために、例えば母基板が上部絶縁層および下部絶縁層を有している。そして、配線基板領域の外周に跨って上部絶縁層から下層絶縁層にかけて連続した貫通孔を形成し、この貫通孔の内部に内面導体を形成することにより、それぞれの配線基板が連続して電気的につながるように形成する、いわゆるキャスタレーション構造が採用される場合がある(例えば、特許文献1参照)。   The electronic component storage package is manufactured from a multi-piece mother board in which a plurality of wiring board regions are arranged. Further, in order to improve the adherence of the plating film, for example, the mother substrate has an upper insulating layer and a lower insulating layer. Then, a continuous through hole is formed from the upper insulating layer to the lower insulating layer across the outer periphery of the wiring board region, and an inner conductor is formed inside the through hole so that each wiring board is electrically connected continuously. There is a case where a so-called castellation structure formed so as to be connected to the head is used (for example, see Patent Document 1).

このような構造により、それぞれの配線基板に形成された配線導体がこの貫通孔内の内面導体を介して一体化して接続されることになり、母基板全体の絶縁基板の配線導体にめっき膜を効率よく被着させることが可能となる。このような母基板が個片に分割されて、電子部品収納用パッケージ(配線基板)が製作される。このとき、貫通孔内の内面導体も分割されて、配線基板の側面またはコーナー部にキャスタレーションとなる切欠き、および側面導体(内面導体が分割されて配線基板の側面に露出したもの)が形成される。   With such a structure, the wiring conductors formed on the respective wiring boards are integrally connected via the inner conductors in the through holes, and the plating film is applied to the wiring conductors of the insulating board of the entire mother board. It becomes possible to deposit efficiently. Such a mother board is divided into individual pieces, and an electronic component storage package (wiring board) is manufactured. At this time, the inner surface conductor in the through hole is also divided to form a notch that becomes castellation on the side surface or corner portion of the wiring board and the side conductor (the inner surface conductor is divided and exposed on the side surface of the wiring board). Is done.

近年、電子部品収納用パッケージは、ますます小型化が図られてきている。これに伴い、以下のような問題が発生するようになってきた。すなわち、電子装置を外部回路基板に実装する場合に、外部回路基板上の配線導体と切欠きの内側面に形成された側面導体との間隔が小さいものとなり、例えばろう材または半田等の接合材が切欠きに這い上がったり、また、電子部品収納用パッケージを蓋体で封止するための例えばろう材等の封止材が切欠きに流れてしまい、電位の異なる配線導体同士が短絡する可能性があった。このような短絡を抑制するために、例えば、接合材が拡がることを抑制する目的で、セラミックス等からなる絶縁膜を配線導体の一部に形成していた。   In recent years, electronic component storage packages have been increasingly miniaturized. As a result, the following problems have arisen. That is, when the electronic device is mounted on the external circuit board, the distance between the wiring conductor on the external circuit board and the side conductor formed on the inner side surface of the notch is small. For example, a bonding material such as brazing material or solder May crawl up into the notch, or sealing material such as brazing filler metal for sealing the electronic component storage package with the lid may flow into the notch, causing short circuit between wiring conductors with different potentials was there. In order to suppress such a short circuit, for example, an insulating film made of ceramics or the like has been formed on a part of the wiring conductor in order to prevent the bonding material from spreading.

特開2003−198310号公報JP 2003-198310 A

しかしながら、電子部品収納用パッケージの小型化により、切欠きの大きさが非常に小さくなるため、例えば電子部品収納用パッケージをセラミック材料等からなる母基板から多数個得るようにした場合に、切欠きとなる小さな貫通孔が塞がったりその開口が狭くなったりしないようにセラミック等の絶縁膜を設けることが困難であった。   However, the size of the notch is very small due to the downsizing of the electronic component storage package. For example, when a large number of electronic component storage packages are obtained from a mother board made of a ceramic material or the like, the notch It is difficult to provide an insulating film such as a ceramic so that the small through-holes that are to be formed are not blocked or the openings are not narrowed.

また、貫通孔が塞がったりその開口が狭くなったりすると、例えばめっきを行なう場合に、貫通孔へのめっき液の循環が行なわれ難くなり、露出した側面導体へのめっき膜の被着性が悪化して、側面導体の半田濡れ性および耐腐食性が低下する可能性があった。   Also, if the through hole is blocked or the opening becomes narrow, for example, when plating is performed, it is difficult to circulate the plating solution to the through hole, and the adherence of the plating film to the exposed side conductor is deteriorated. As a result, the solder wettability and corrosion resistance of the side conductors may be reduced.

本発明の1つの態様の電子部品収納用パッケージは、上部絶縁層と下部絶縁層とを具備しており、電子部品を搭載するための搭載部を備えた前記上部絶縁層側の第1主面、および前記下部絶縁層側の第2主面を有する絶縁基板を含んでおり、該絶縁基板の外縁に第1切欠きが設けられ、該第1切欠きに前記第2主面から離して埋込導体が設けられており、該埋込導体の少なくとも一部が絶縁膜で覆われていることを特徴とする。   The electronic component storage package according to one aspect of the present invention includes an upper insulating layer and a lower insulating layer, and includes a first main surface on the upper insulating layer side including a mounting portion for mounting the electronic component. And an insulating substrate having a second main surface on the lower insulating layer side, wherein a first notch is provided at an outer edge of the insulating substrate, and the first notch is buried away from the second main surface. A buried conductor is provided, and at least a part of the buried conductor is covered with an insulating film.

本発明の1つの態様の電子装置は、上記の電子部品収納用パッケージと、該電子部品収納用パッケージに搭載された電子部品とを有していることを特徴とする。   An electronic device according to one aspect of the present invention includes the electronic component storage package described above and an electronic component mounted on the electronic component storage package.

本発明の1つの態様の電子モジュールは、上記の電子装置と、該電子装置が接続されたモジュール用基板とを有していることを特徴とする。   An electronic module according to one aspect of the present invention includes the electronic device described above and a module substrate to which the electronic device is connected.

本発明の1つの態様の電子部品収納用パッケージによれば、第1切欠きに第2主面から離して埋込導体が設けられており、埋込導体の少なくとも一部が、すなわち一部または全部が絶縁膜で覆われていることから、電子部品収納用パッケージが小型化されても、例えば電子部品収納用パッケージをセラミック材料等からなる母基板から多数個得るようにした場合に、切欠きとなる小さな貫通孔を塞がないように絶縁膜を設けられるものとなり、モジュール用基板に電子部品収納用パッケージを含む電子装置を実装する際に、ろう材または半田等の接合材が切欠きに這い上がったり、電子部品収納用パッケージを蓋体で封止するためのろう材等の封止材が切欠きに流れたりして、電位の異なる配線導体同士が短絡するのを抑制されたものとすることができる。   According to the electronic component storage package of one aspect of the present invention, the embedded conductor is provided in the first notch apart from the second main surface, and at least a part of the embedded conductor, that is, a part or Since all of them are covered with an insulating film, even if the electronic component storage package is reduced in size, for example, when a large number of electronic component storage packages are obtained from a mother substrate made of a ceramic material or the like, notches are provided. When mounting an electronic device including a package for storing electronic components on a module substrate, a bonding material such as brazing material or solder is notched. It is assumed that the wiring conductors having different potentials are prevented from being short-circuited due to creeping up or a sealing material such as a brazing material for sealing the electronic component storage package with a lid flowing into the notch. Door can be.

また、本発明の1つの態様の電子装置によれば、上記の電子部品収納用パッケージを用いることにより、搭載される電子部品と半田等の接合材との短絡が抑制された信頼性の高い電子装置を提供できる。   Moreover, according to the electronic device of one aspect of the present invention, by using the electronic component storage package, a highly reliable electronic device in which a short circuit between a mounted electronic component and a bonding material such as solder is suppressed. Equipment can be provided.

また、本発明の1つの態様の電子モジュールによれば、上記の電子装置を用いることにより、搭載部に収容された電子部品に対する接続信頼性、またはグランドの安定性が高められて動作信頼性に優れた電子モジュールを実現できる。   In addition, according to the electronic module of one aspect of the present invention, by using the above-described electronic device, the connection reliability to the electronic component accommodated in the mounting portion or the stability of the ground is improved, thereby improving the operation reliability. An excellent electronic module can be realized.

(a)は本発明の実施形態の電子部品収納用パッケージ等を示す上面図であり、(b)は(a)のX−X’線における断面図である。(A) is a top view which shows the electronic component storage package etc. of embodiment of this invention, (b) is sectional drawing in the X-X 'line | wire of (a). 図1における電子部品収納用パッケージのコーナー部を示す拡大斜視図である。It is an expansion perspective view which shows the corner part of the package for electronic component accommodation in FIG. 本発明の実施形態の電子部品収納用パッケージの他の例を示すコーナー部における拡大斜視図である。It is an expansion perspective view in the corner part which shows the other example of the electronic component storage package of embodiment of this invention.

本発明の電子部品収納用パッケージ等について、添付の図面を参照しつつ説明する。図1(a)は本発明の電子部品収納用パッケージ1の実施の形態の一例を示す上面図であり、図1(b)は図1(a)のX−X’線における断面図である。101は絶縁基板、102は第1主面、103は第2主面、104は搭載部、105は上部絶縁層、106は下部絶縁層、107は外部
接続導体、108は第1切欠き、109は埋込導体、110は電子部品、111は配線導体、112は枠
状メタライズ層、113は導電性樹脂等の接合材、114は絶縁膜、115は第2切欠きである。
An electronic component storage package and the like of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. FIG. 1A is a top view showing an example of an embodiment of an electronic component storage package 1 of the present invention, and FIG. 1B is a cross-sectional view taken along line XX ′ of FIG. . 101 is an insulating substrate, 102 is a first main surface, 103 is a second main surface, 104 is a mounting portion, 105 is an upper insulating layer, 106 is a lower insulating layer, 107 is an external connection conductor, 108 is a first notch, 109 Is an embedded conductor, 110 is an electronic component, 111 is a wiring conductor, 112 is a frame-like metallized layer, 113 is a bonding material such as a conductive resin, 114 is an insulating film, and 115 is a second notch.

電子部品収納用パッケージ(配線基板)1に含まれる絶縁基板101は矩形状であり、基
部となる下部絶縁層106と枠部となる上部絶縁層105とを含んでいる。上部絶縁層105の第
1主面102(上面)には搭載部104が設けられており、下部絶縁層106と上部絶縁層105の枠部とによって絶縁基板101に凹状の搭載部104が設けられている。枠部となる上部絶縁層105は中央部が開口しており、その第1主面102上に枠状メタライズ層112が形成されている
。そして、上部絶縁層105の各コーナー部にはそれぞれ第1切欠き108が形成されている。
The insulating substrate 101 included in the electronic component storage package (wiring substrate) 1 has a rectangular shape, and includes a lower insulating layer 106 serving as a base and an upper insulating layer 105 serving as a frame. A mounting portion 104 is provided on the first main surface 102 (upper surface) of the upper insulating layer 105, and a concave mounting portion 104 is provided on the insulating substrate 101 by the lower insulating layer 106 and the frame portion of the upper insulating layer 105. ing. The central portion of the upper insulating layer 105 serving as a frame portion is opened, and a frame-like metallized layer 112 is formed on the first main surface 102. A first notch 108 is formed at each corner of the upper insulating layer 105.

また、基部となる下部絶縁層106は、その上面に電子部品110が載置される搭載部104が
形成されている。そして、下部絶縁層106の各コーナー部にはそれぞれ第2切欠き115が形成されている。
In addition, the lower insulating layer 106 serving as a base is provided with a mounting portion 104 on which an electronic component 110 is placed. A second notch 115 is formed in each corner portion of the lower insulating layer 106.

絶縁基板101には、搭載部104に搭載される電子部品110と外部電気回路(図示せず)と
の導電路として、配線導体111、外部接続導体107等が設けられている。また、この例では、絶縁基板101の内層に導体層(図示せず)および貫通導体(図示せず)が設けられてお
り、他の配線導体と同じく導電路として機能する。なお、絶縁基板101は、多数個取りの
母基板(図示せず)から作製されており、この母基板が個片に分割されたものが個々の配線基板となって電子部品収納用パッケージ1となる。
The insulating substrate 101 is provided with a wiring conductor 111, an external connection conductor 107, and the like as conductive paths between the electronic component 110 mounted on the mounting portion 104 and an external electric circuit (not shown). In this example, a conductor layer (not shown) and a through conductor (not shown) are provided in the inner layer of the insulating substrate 101, and function as a conductive path like other wiring conductors. The insulating substrate 101 is made of a large number of mother boards (not shown), and the mother board divided into individual pieces becomes individual wiring boards and the electronic component housing package 1. Become.

電子部品収納用パッケージ1は、上面の中央部に電子部品110を搭載するための搭載部104を有する平板状の下部絶縁層106上に、枠状の上部絶縁層105が搭載部104を取り囲むよ
うに積層されてなる絶縁基板101を含んでいる。下部絶縁層106の上面と上部絶縁層105の
内側面とによって、電子部品110を気密封止するための凹状の搭載部104が絶縁基板101の
上面に形成されている。
The electronic component storage package 1 is configured such that a frame-like upper insulating layer 105 surrounds the mounting portion 104 on a flat lower insulating layer 106 having a mounting portion 104 for mounting the electronic component 110 at the center of the upper surface. Insulating substrate 101 is laminated. A concave mounting portion 104 for hermetically sealing the electronic component 110 is formed on the upper surface of the insulating substrate 101 by the upper surface of the lower insulating layer 106 and the inner surface of the upper insulating layer 105.

下部絶縁層106および上部絶縁層105は、例えば酸化アルミニウム質焼結体、窒化アルミニウム焼結体、ムライト質焼結体、またはガラス−セラミック焼結体等のセラミック材料からなる。例えば同様のセラミック材料からなる下部絶縁層106と上部絶縁層105とが同時焼成されて、電子部品収納用パッケージ1の絶縁基板101が製作されている。   The lower insulating layer 106 and the upper insulating layer 105 are made of a ceramic material such as an aluminum oxide sintered body, an aluminum nitride sintered body, a mullite sintered body, or a glass-ceramic sintered body. For example, the lower insulating layer 106 and the upper insulating layer 105 made of the same ceramic material are simultaneously fired to manufacture the insulating substrate 101 of the electronic component storage package 1.

絶縁基板101は、例えばその外形が平面視で1辺の長さが1.6〜10mm程度の長方形状であり、厚みが0.3〜2mm程度の板状であり、上面に上記のような凹状の搭載部104を有している。なお、絶縁基板101を構成する下部絶縁層106および上部絶縁層105は、それぞれ
複数の絶縁層が積層されて構成されたものであってもよい。
The insulating substrate 101 is, for example, a rectangular shape with a side length of about 1.6 to 10 mm and a thickness of about 0.3 to 2 mm in plan view, and has a concave mounting portion as described above on the upper surface. 104. Note that the lower insulating layer 106 and the upper insulating layer 105 constituting the insulating substrate 101 may each be formed by stacking a plurality of insulating layers.

電子装置がTCXO(Temperature Compensated Crystal Oscillator:温度補償水晶発振器)等の複数の電子部品(図示せず)が搭載部104内に収容されるようなものである場
合は、複数の電子部品が搭載される段状の搭載部(図示せず)を形成するために、上部絶縁層105が2層以上の絶縁層で構成される場合もある。
When the electronic device is such that a plurality of electronic components (not shown) such as TCXO (Temperature Compensated Crystal Oscillator) are accommodated in the mounting unit 104, the plurality of electronic components are mounted. In order to form a stepped mounting portion (not shown), the upper insulating layer 105 may be composed of two or more insulating layers.

配線基板に含まれる絶縁基板101が配列された母基板は、下部絶縁層106および上部絶縁層105がいずれも酸化アルミニウム質焼結体からなる場合は、例えば次のようにして製作
される。まず、酸化アルミニウム、酸化珪素、酸化マグネシウムおよび酸化カルシウム等の原料粉末に適当な有機バインダおよび溶剤、可塑剤等を添加混合して泥漿状にするとともに、これを例えばドクターブレード法またはロールカレンダー法等のシート成形法によってシート状となすことにより、複数枚のセラミックグリーンシートを得る。次に、一部のセラミックグリーンシートに適当な打抜き加工を施して枠状に成形するとともに、平板状のセラミックグリーンシート(下部絶縁層106となるもの)の上に枠状のセラミックグ
リーンシート(上部絶縁層105となるもの)が位置するように上下に積層する。その後、
その積層体を高温で焼成することにより、このような母基板が製作される。
For example, when the lower insulating layer 106 and the upper insulating layer 105 are both made of an aluminum oxide sintered body, the mother substrate on which the insulating substrates 101 included in the wiring substrate are arranged is manufactured as follows. First, a suitable organic binder, a solvent, a plasticizer, etc. are added to and mixed with raw material powders such as aluminum oxide, silicon oxide, magnesium oxide and calcium oxide to form a slurry, which is, for example, a doctor blade method or a roll calender method. A plurality of ceramic green sheets are obtained by forming a sheet by the sheet forming method. Next, some ceramic green sheets are appropriately punched and formed into a frame shape, and a frame-shaped ceramic green sheet (upper part) is formed on a flat ceramic green sheet (which becomes the lower insulating layer 106). The layers are stacked so that the insulating layer 105 is located. after that,
By firing the laminated body at a high temperature, such a mother substrate is manufactured.

搭載部104は、例えば四角板状の電子部品110に合わせて四角形状である。図1に示す例では、搭載部104内の隣り合う2つのコーナー部の近傍に一対の配線導体111が形成されている。この配線導体111は、搭載部104に搭載される水晶振動素子等の電子部品110の電極
(図示せず)を接続するための接続導体として機能する。
The mounting portion 104 has a quadrangular shape in accordance with, for example, a square plate-shaped electronic component 110. In the example shown in FIG. 1, a pair of wiring conductors 111 are formed in the vicinity of two adjacent corner portions in the mounting portion 104. The wiring conductor 111 functions as a connection conductor for connecting an electrode (not shown) of the electronic component 110 such as a crystal resonator element mounted on the mounting portion 104.

配線導体111は、例えば搭載部104またはその周辺から絶縁基板101の外表面にかけて電
気的に導出されている。配線導体111は、搭載部104に搭載される電子部品110の各電極を
外部の電気回路(図示せず)に電気的に接続するための導電路の一部として機能する。図1に示す例においては、配線導体111は搭載部104から下部絶縁層106に形成される埋込導
体109または貫通導体(図示せず)を介して、絶縁基板101(下部絶縁層106)の下面に電
気的に導出され、この下面に形成された外部接続導体107に電気的に接続されている。配
線導体111と外部接続導体107との電気的な接続は、例えば貫通導体等に加えて他の導体(図示せず)を含む接続導体によって行なわれていてもよい。
For example, the wiring conductor 111 is electrically derived from the mounting portion 104 or its periphery to the outer surface of the insulating substrate 101. The wiring conductor 111 functions as a part of a conductive path for electrically connecting each electrode of the electronic component 110 mounted on the mounting unit 104 to an external electric circuit (not shown). In the example shown in FIG. 1, the wiring conductor 111 is formed on the insulating substrate 101 (lower insulating layer 106) via a buried conductor 109 or a through conductor (not shown) formed on the lower insulating layer 106 from the mounting portion 104. Electrically led to the lower surface and electrically connected to the external connection conductor 107 formed on the lower surface. The electrical connection between the wiring conductor 111 and the external connection conductor 107 may be performed by a connection conductor including other conductors (not shown) in addition to a through conductor or the like, for example.

また、絶縁基板101(上部絶縁層105)の上面には枠状メタライズ層112が形成されてい
る。枠状メタライズ層112は、搭載部104を取り囲んでおり、この枠状メタライズ層112に
蓋体118または金属枠体(図示せず)が接合される。そして、搭載部104に電子部品110を
搭載し、電子部品110の電極を導電性接着剤等の接合材113で配線導体111に接続した後、
枠状メタライズ層112の上面に蓋体118を接合することにより、蓋体118と絶縁基板101とからなる容器内に電子部品110が気密封止されて電子装置(水晶発振器等)となる。また、
予め枠状メタライズ層112に金属枠体をろう付けした後に、金属枠体上に蓋体118を接合してもよい。
A frame-like metallized layer 112 is formed on the upper surface of the insulating substrate 101 (upper insulating layer 105). The frame-shaped metallized layer 112 surrounds the mounting portion 104, and a lid 118 or a metal frame (not shown) is joined to the frame-shaped metallized layer 112. Then, after mounting the electronic component 110 on the mounting portion 104 and connecting the electrode of the electronic component 110 to the wiring conductor 111 with a bonding material 113 such as a conductive adhesive,
By bonding the lid 118 to the upper surface of the frame-like metallized layer 112, the electronic component 110 is hermetically sealed in a container composed of the lid 118 and the insulating substrate 101, thereby forming an electronic device (a crystal oscillator or the like). Also,
After the metal frame is brazed to the frame-shaped metallized layer 112 in advance, the lid 118 may be bonded onto the metal frame.

枠状メタライズ層112は、蓋体118を絶縁基板101にシーム溶接または電子ビーム溶接等
の方法で接合するための金属部材として機能する。蓋体118は例えば四角板状であり、鉄
−ニッケル合金または鉄−ニッケル−コバルト合金等の金属材料、あるいはセラミック材料からなる。そして、ろう付け法または溶接法等の接合法によって蓋体118の下面が枠状
メタライズ層112に接合される。なお、蓋体118がセラミック材料からなる場合は、ろう付け法または溶接法によって枠状メタライズ層112に接合できるようにするために、蓋体118の接合面となる領域に、メタライズ法またはめっき法等の方法によって接合用の金属層(図示せず)が形成される。
The frame-like metallized layer 112 functions as a metal member for joining the lid 118 to the insulating substrate 101 by a method such as seam welding or electron beam welding. The lid 118 has, for example, a square plate shape and is made of a metal material such as an iron-nickel alloy or an iron-nickel-cobalt alloy, or a ceramic material. Then, the lower surface of the lid 118 is joined to the frame-like metallized layer 112 by a joining method such as a brazing method or a welding method. In the case where the lid body 118 is made of a ceramic material, the metallization method or the plating method is applied to the region to be the joint surface of the lid body 118 so that the lid body 118 can be joined to the frame-like metallization layer 112 by a brazing method or a welding method. A metal layer (not shown) for bonding is formed by such a method.

なお、比較的低融点である鉛ガラス等の封止材を用いる場合は、セラミック材料とガラスとの濡れ性が良好であり、蓋体118の接合面の金属層および絶縁基板101の上面の枠状メタライズ層112が形成されない場合がある。   When a sealing material such as lead glass having a relatively low melting point is used, the wettability between the ceramic material and the glass is good, and the metal layer on the bonding surface of the lid 118 and the frame on the upper surface of the insulating substrate 101 are used. The metallized layer 112 may not be formed.

この枠状メタライズ層112は、後述する埋込導体109等を介して配線導体111の一部(例
えば電子部品110のグランド用の電極が接続されるもの)に電気的に接続されていてもよ
い。この場合には、例えばグランド用の導体面積を広くして、電子部品110のグランド電
位をより安定させることができる。枠状メタライズ層112は、さらに外部接続導体107に電気的に接続されていてもよい。枠状メタライズ層112と外部接続導体107との電気的な接続は、例えば埋込導体109に加えて、水平導体(図示せず)および下部絶縁層106に形成された貫通導体(図示せず)を介して行なわれる。
The frame-like metallized layer 112 may be electrically connected to a part of the wiring conductor 111 (for example, one to which a ground electrode of the electronic component 110 is connected) via an embedded conductor 109 described later. . In this case, the ground potential of the electronic component 110 can be made more stable by increasing the ground conductor area, for example. The frame-like metallized layer 112 may be further electrically connected to the external connection conductor 107. The electrical connection between the frame-shaped metallized layer 112 and the external connection conductor 107 is, for example, in addition to the embedded conductor 109, a horizontal conductor (not shown) and a through conductor (not shown) formed in the lower insulating layer 106. Is done through.

埋込導体109、配線導体111、枠状メタライズ層112および外部接続導体107等の導体部分は、例えば、タングステン、モリブデン、マンガン、銅または銀等のメタライズ層からなる。このようなメタライズ層となる金属材料のペースト(金属ペースト)を、母基板となるセラミックグリーンシートに所定パターンで印刷しておき、各セラミックグリーンシートと同時焼成する方法で形成される。   Conductive portions such as the embedded conductor 109, the wiring conductor 111, the frame-like metallized layer 112, and the external connection conductor 107 are made of a metallized layer such as tungsten, molybdenum, manganese, copper, or silver. Such a metal material paste (metal paste) serving as a metallized layer is formed by printing in a predetermined pattern on a ceramic green sheet serving as a base substrate and simultaneously firing with each ceramic green sheet.

露出したこれらの導体部分には、酸化腐食を防止するとともに、配線導体111と電子部
品110の電極との接続、および外部接続導体107とモジュール用基板130との接続をより容
易で強固なものとするために、それらの露出した表面に1〜20μm程度の厚みのニッケルめっき層と0.1〜3μm程度の厚みの金めっき層とが順次被着されているのがよい。
These exposed conductor parts prevent oxidative corrosion, and make the connection between the wiring conductor 111 and the electrode of the electronic component 110 and the connection between the external connection conductor 107 and the module substrate 130 easier and stronger. For this purpose, a nickel plating layer having a thickness of about 1 to 20 μm and a gold plating layer having a thickness of about 0.1 to 3 μm are preferably sequentially deposited on the exposed surfaces.

上部絶縁層105の各コーナー部の内側面には第1切欠き108が設けられている。また、下部絶縁層106の各コーナー部の内側面には、第1切欠き108、および第1切欠き108よりも
深く切り欠いた第2切欠き115が設けられている。そして、この第2切欠き115から第1切欠き108の内側面にかけて前述した埋込導体109が設けられている。埋込導体109は、例え
ば配線導体111等と同様の金属材料からなり、同様の方法で形成されている。
A first notch 108 is provided on the inner surface of each corner portion of the upper insulating layer 105. A first notch 108 and a second notch 115 that is notched deeper than the first notch 108 are provided on the inner side surface of each corner portion of the lower insulating layer 106. The aforementioned embedded conductor 109 is provided from the second notch 115 to the inner surface of the first notch 108. The embedded conductor 109 is made of the same metal material as that of the wiring conductor 111, for example, and is formed by the same method.

また、埋込導体109は、例えば下部絶縁層106となるセラミックグリーンシートを、母基板における隣接した配線基板領域の各コーナー部に跨るように、第2切欠き115となる貫
通孔を打抜き加工により設けておくことによって形成することができる。このセラミックグリーンシートが積層された積層体を焼成し、母基板となった後に各配線基板領域における絶縁基板101の外周となる予定の部分で分割すれば、貫通孔が縦横方向に4分割されて
矩形状の絶縁基板101の各コーナー部に第1切欠き108および第2切欠き115が形成される
。第1切欠き108を形成するための打抜き加工の際に、第2切欠き115となる貫通孔内に埋込導体109となるメタライズペーストが予め充填されていれば、埋込導体109となるメタライズペーストが第2切欠き115に沿って形成された第1切欠き108が下部絶縁層106に設け
られる。なお、第1切欠き108、埋込導体109および第2切欠き115は、絶縁基板101の各コーナー部に設ける例を示したが、絶縁基板101の側面に設けてもよい。
In addition, the embedded conductor 109 is formed by punching a through-hole serving as the second notch 115 so that, for example, a ceramic green sheet serving as the lower insulating layer 106 extends over each corner portion of the adjacent wiring board region on the mother board. It can be formed by providing. If the laminated body in which the ceramic green sheets are laminated is fired to be a mother board and then divided at a portion to be the outer periphery of the insulating substrate 101 in each wiring board region, the through holes are divided into four in the vertical and horizontal directions. A first notch 108 and a second notch 115 are formed at each corner of the rectangular insulating substrate 101. If the metallized paste that becomes the embedded conductor 109 is previously filled in the through hole that becomes the second notch 115 during the punching process for forming the first notch 108, the metallization that becomes the embedded conductor 109 is obtained. A first notch 108 in which a paste is formed along the second notch 115 is provided in the lower insulating layer 106. Although the first cutout 108, the embedded conductor 109, and the second cutout 115 are provided at each corner of the insulating substrate 101, they may be provided on the side surface of the insulating substrate 101.

電子部品収納用パッケージ1は、上部絶縁層105と下部絶縁層106とを具備しており、電子部品110を搭載するための搭載部104を備えた上部絶縁層105側の第1主面102および下部絶縁層106側の第2主面103を有する絶縁基板101を含んでおり、絶縁基板101の外縁に第1切欠き108が設けられ、第1切欠き108に第2主面103から離して埋込導体109が設けられており、埋込導体109の少なくとも一部が、すなわち一部または全部が絶縁膜114で覆われている。   The electronic component storage package 1 includes an upper insulating layer 105 and a lower insulating layer 106, and includes a first main surface 102 on the upper insulating layer 105 side including a mounting portion 104 for mounting the electronic component 110, and An insulating substrate 101 having a second main surface 103 on the lower insulating layer 106 side is included, a first notch 108 is provided on the outer edge of the insulating substrate 101, and the first notch 108 is separated from the second main surface 103. An embedded conductor 109 is provided, and at least a part of the embedded conductor 109, that is, a part or all of it is covered with the insulating film 114.

このような構造により、電子部品収納用パッケージ1が小型化されても、例えば電子部品収納用パッケージ1をセラミック材料等からなる母基板から多数個得るようにした場合
に、切欠きとなる小さな貫通孔を塞がないように絶縁膜114を設けられるものとなり、モジュール用基板130に電子部品収納用パッケージ1を含む電子装置を実装する際に、ろう
材または半田等の接合材(図示せず)が第1切欠き108を這い上がったり、電子部品収納
用パッケージ1を蓋体118で封止するためのろう材等の封止材(図示せず)が第1切欠き108に流れたりして、電位の異なる配線導体同士が短絡するのを抑制されたものとすることができる。
With such a structure, even if the electronic component storage package 1 is reduced in size, for example, when a large number of electronic component storage packages 1 are obtained from a mother board made of a ceramic material or the like, small penetrations that become notches are formed. An insulating film 114 is provided so as not to block the hole, and when mounting the electronic device including the electronic component storage package 1 on the module substrate 130, a bonding material (not shown) such as a brazing material or solder. Scooping up the first cutout 108, or a sealing material (not shown) such as a brazing material for sealing the electronic component storage package 1 with the lid 118 flows into the first cutout 108, It is possible to suppress short circuit between wiring conductors having different potentials.

つまり、外部接続導体107等の配線導体と、近接するコーナー部等に形成された埋込導
体109との電位が異なっている場合に、ろう材または半田等の接合材が埋込導体109側に這い上がっても、埋込導体109の一部または全部が絶縁膜114で覆われていることから、埋込導体109と外部接続導体107等の配線導体との短絡の可能性が低減される。
That is, when the potentials of the wiring conductors such as the external connection conductor 107 and the embedded conductor 109 formed in the adjacent corner portion are different, the bonding material such as brazing material or solder is placed on the embedded conductor 109 side. Even if it rises, a part or all of the embedded conductor 109 is covered with the insulating film 114, so that the possibility of a short circuit between the embedded conductor 109 and the wiring conductor such as the external connection conductor 107 is reduced.

また、枠状メタライズ層112、または枠状メタライズ層112にろう付けされた金属枠体(図示せず)が設けられる形態の電子部品収納用パッケージ1において、枠状メタライズ層112に近接するコーナー部に形成された埋込導体109との電位が異なっている場合に、ろう材等の封止材が第1切欠き108に流れても、埋込導体109の一部または全部が絶縁膜114で
覆われていることから、埋込導体109と枠状メタライズ層112との短絡の可能性が低減される。
Further, in the electronic component storage package 1 in which the frame-shaped metallized layer 112 or a metal frame (not shown) brazed to the frame-shaped metallized layer 112 is provided, a corner portion adjacent to the frame-shaped metallized layer 112 Even if a sealing material such as a brazing material flows into the first notch 108 when the potential of the embedded conductor 109 formed on the first electrode is different from that of the embedded conductor 109, a part or all of the embedded conductor 109 is covered with the insulating film 114. Since it is covered, the possibility of a short circuit between the buried conductor 109 and the frame-like metallized layer 112 is reduced.

例えば、絶縁基板101の第2主面103(下面)の各コーナー部に4つの外部接続導体107
が形成されており、この4つの外部接続導体107のうち2つが電子部品110用のシグナル電位であり、他の2つがグランド電位であって、それぞれ絶縁基板101の対角線上に配置さ
れる場合には、電子部品110が接続される配線導体111の1つとその近傍の外部接続導体107とが異なる電位になる場合がある。このような状態であっても、下部絶縁層106の最下層の第1切欠き108に導体層が形成されない領域があれば、基本的には短絡は生じない。
For example, four external connection conductors 107 are provided at each corner portion of the second main surface 103 (lower surface) of the insulating substrate 101.
Are formed, and two of the four external connection conductors 107 are signal potentials for the electronic component 110, and the other two are ground potentials, which are arranged on diagonal lines of the insulating substrate 101, respectively. In some cases, one of the wiring conductors 111 to which the electronic component 110 is connected and the external connection conductor 107 in the vicinity thereof have different potentials. Even in such a state, if there is a region where the conductor layer is not formed in the first notch 108 in the lowermost layer of the lower insulating layer 106, a short circuit basically does not occur.

一方で、近年の電子部品収納用パッケージ1の小型化により、下部絶縁層106等を構成
する絶縁層の厚みは非常に薄いものとなってきており、ろう材または半田等の接合材が第1切欠き108に這い上がる場合があった。しかし、このように埋込導体109の一部が絶縁膜114で覆われていれば、第1切欠き108の内面において埋込導体109の露出部と外部接続導
体107との間隔を大きくできる。さらに、第1切欠き108の内面において、埋込導体109の
全体が絶縁膜114で覆われていると、第1切欠き108の内面において埋込導体109の露出部
が存在しない。よって、埋込導体109と外部接続導体107の間または埋込導体109と枠状メ
タライズ層112との間に発生する接合材のブリッジ等に起因する短絡の可能性をさらに効
果的に低減できる。
On the other hand, due to the recent downsizing of the electronic component storage package 1, the thickness of the insulating layer constituting the lower insulating layer 106 and the like has become very thin, and the bonding material such as brazing material or solder is the first. There was a case where it crawls into the notch 108. However, if a part of the embedded conductor 109 is covered with the insulating film 114 in this way, the distance between the exposed portion of the embedded conductor 109 and the external connection conductor 107 can be increased on the inner surface of the first notch 108. Furthermore, if the entire embedded conductor 109 is covered with the insulating film 114 on the inner surface of the first notch 108, the exposed portion of the embedded conductor 109 does not exist on the inner surface of the first notch 108. Therefore, it is possible to further effectively reduce the possibility of a short circuit due to a bonding material bridge or the like generated between the embedded conductor 109 and the external connection conductor 107 or between the embedded conductor 109 and the frame-like metallized layer 112.

また、電子部品収納用パッケージ1において、埋込導体109は、第2主面103側から第1主面102側にかけて、漸次厚みが大きくなるように設けられており、絶縁膜114は、(第2主面103側に接する)下部絶縁層106の一部が埋込導体109の第2主面103側の一部または全部に延在している。   In the electronic component storage package 1, the embedded conductor 109 is provided so that its thickness gradually increases from the second main surface 103 side to the first main surface 102 side. A part of the lower insulating layer 106 (in contact with the second principal surface 103 side) extends to a part or the whole of the buried conductor 109 on the second principal surface 103 side.

このような構造により、電子部品収納用パッケージ1が小型化されても、例えば電子部品収納用パッケージ1をセラミック材料等からなる母基板から多数個得るようにした場合に、第1切欠き108となる小さな貫通孔を塞がないように絶縁膜114を設けられるものとなる。   With such a structure, even when the electronic component storage package 1 is reduced in size, for example, when a large number of electronic component storage packages 1 are obtained from a mother substrate made of a ceramic material or the like, the first notch 108 and The insulating film 114 can be provided so as not to block the small through hole.

つまり、電子部品収納用パッケージ1が小型化されても、確実に第1切欠き108となる
小さな貫通孔を形成できると同時に、埋込導体109の表面の一部または全部を覆って絶縁
膜114を形成できる。絶縁膜114となるセラミックペーストを埋込導体109の表面に塗布す
る工程を新たに設ける必要が無いため、製造工程を簡略化できる。
That is, even if the electronic component storage package 1 is reduced in size, it is possible to reliably form a small through-hole that becomes the first notch 108, and at the same time, covers the part of or the entire surface of the embedded conductor 109 and the insulating film 114. Can be formed. Since it is not necessary to newly provide a process for applying the ceramic paste to be the insulating film 114 to the surface of the embedded conductor 109, the manufacturing process can be simplified.

このような絶縁膜114を形成する方法としては、例えば、下部絶縁層106となる第1セラミックシートに第2切欠き115となる貫通孔を形成しておき、この貫通孔に埋込導体109となるメタライズペーストを充填しておく。そして、下部絶縁層106を2層構成として、第
2主面103側の第2セラミックシートと上部絶縁層105となる第3セラミックシートとの間に第1セラミックシートを挟んで積層する。さらに、バインダーを多く含んだ接着シート
(図示せず)を第1セラミックシートと第2セラミックシートとの間に配置しておき、第2主面103側から第1切欠き108となる貫通孔を金型等によって打ち抜くことにより、第1切欠き108および絶縁膜114を形成することができる。
As a method of forming such an insulating film 114, for example, a through hole that becomes the second notch 115 is formed in the first ceramic sheet that becomes the lower insulating layer 106, and the embedded conductor 109 and the through hole 109 are formed in the through hole. Fill with a metallized paste. Then, the lower insulating layer 106 has a two-layer structure, and is laminated with the first ceramic sheet sandwiched between the second ceramic sheet on the second main surface 103 side and the third ceramic sheet that becomes the upper insulating layer 105. Further, an adhesive sheet (not shown) containing a large amount of a binder is disposed between the first ceramic sheet and the second ceramic sheet, and a through hole that becomes the first notch 108 is formed from the second main surface 103 side. By punching with a mold or the like, the first notch 108 and the insulating film 114 can be formed.

この打抜き工程の際に、接着シートの一部が伸びて埋込導体109に延在するように形成
されることにより、絶縁膜114を形成することができる。これにより、別途絶縁膜114を吸引法等によって塗布する工程を設ける必要が無く、効率的に短絡が抑制された電子部品収納用パッケージ1を製造できる。
In this punching step, the insulating film 114 can be formed by forming a part of the adhesive sheet so as to extend to the embedded conductor 109. Accordingly, it is not necessary to separately provide a step of applying the insulating film 114 by a suction method or the like, and the electronic component housing package 1 in which short-circuiting is efficiently suppressed can be manufactured.

ここで、絶縁膜114上に伸びて形成される絶縁膜114は、例えば、その先端が波状に突出するように形成される。絶縁基板101となる積層体における第1切欠き108の打抜きは、第1セラミックシート、第2セラミックシートおよび第3セラミックシートの全部が一括して打抜き加工されてもよい。これにより、上部絶縁層105と下部絶縁層106との上下方向における位置ずれが発生しない。よって、外形寸法精度に優れた電子部品収納用パッケージ1を実現できる。   Here, the insulating film 114 formed to extend on the insulating film 114 is formed, for example, such that the tip thereof protrudes in a wave shape. For punching the first notch 108 in the laminated body to be the insulating substrate 101, all of the first ceramic sheet, the second ceramic sheet, and the third ceramic sheet may be punched all at once. As a result, the vertical displacement between the upper insulating layer 105 and the lower insulating layer 106 does not occur. Therefore, it is possible to realize the electronic component storage package 1 having excellent external dimension accuracy.

さらに、上記の工程を用いれば、第1切欠き108の表面において埋込導体109と絶縁膜114との境界における段差が極めて小さくなる。よって、第1切欠き108となる貫通孔の大きさが小さくなっても段差がなく、例えばめっきを行なう場合に貫通孔へのめっき液の循環が良好に行なわれる。よって、露出した埋込導体109へのめっき膜の被着性が良好となり
、耐腐食性に優れた電子部品収納用パッケージ1を実現できる。なお、絶縁膜114が埋込
導体109の全部を覆っている場合には、埋込導体109が露出せず耐腐食性が向上されたものとなる。
Further, if the above process is used, the step at the boundary between the buried conductor 109 and the insulating film 114 on the surface of the first notch 108 becomes extremely small. Therefore, there is no step even when the size of the through hole that becomes the first notch 108 is reduced, and for example, when plating is performed, the plating solution is circulated well to the through hole. Therefore, the plating film adherence to the exposed embedded conductor 109 is improved, and the electronic component storage package 1 having excellent corrosion resistance can be realized. When the insulating film 114 covers the entire buried conductor 109, the buried conductor 109 is not exposed and the corrosion resistance is improved.

また、電子部品収納用パッケージ1において、絶縁基板101は、第1側面116および第1側面116と第1切欠き108を介して連なる第2側面117を有しており、埋込導体109は、平面透視において第1切欠き108よりも深く切り欠いた第2切欠き115に沿って設けられており、絶縁基板101の第1側面116から第2側面117にかけて延在している。   In the electronic component storage package 1, the insulating substrate 101 has a first side surface 116 and a second side surface 117 connected to the first side surface 116 via the first notch 108. It is provided along a second notch 115 that is notched deeper than the first notch 108 in a plan view, and extends from the first side surface 116 to the second side surface 117 of the insulating substrate 101.

このような構造により、埋込導体109を第1切欠き108の奥側に埋め込んで下部絶縁層106に形成できることから、埋込導体109を絶縁基板101のコーナー部に強固に形成すること
ができる。つまり、導電路となる埋込導体109の一部または全部を絶縁膜114が覆っていることにより、埋込導体109と下部絶縁層106との接合強度が強固になり、埋込導体109の剥
がれ等が抑制される。
With such a structure, the embedded conductor 109 can be embedded in the back side of the first notch 108 and formed in the lower insulating layer 106. Therefore, the embedded conductor 109 can be firmly formed in the corner portion of the insulating substrate 101. . That is, the insulating film 114 covers a part or all of the embedded conductor 109 serving as a conductive path, so that the bonding strength between the embedded conductor 109 and the lower insulating layer 106 is strengthened, and the embedded conductor 109 is peeled off. Etc. are suppressed.

このような絶縁膜114を形成する方法としては、例えば、下部絶縁層106となる第1セラミックシートに第2切欠き115となる貫通孔を形成しておき、この貫通孔に埋込導体109となるメタライズペーストを充填しておく。そして、下部絶縁層106を2層構成として、第
2主面103側の第2セラミックシートと上部絶縁層105となる第3セラミックシートとの間に第1セラミックシートを挟んで積層する。さらに、バインダーを多く含んだ接着シートを第1セラミックシートと第2セラミックシートとの間に配置しておき、第2主面側から第1切欠き108となる貫通孔を金型等によって打ち抜くことにより、図2および図3に示
すような絶縁膜114を形成すればよい。図2が埋込導体109の一部に絶縁膜114が設けられ
た状態を示すものであり、図3が埋込導体109の全部に絶縁膜114が設けられた状態を示すものである。
As a method of forming such an insulating film 114, for example, a through hole that becomes the second notch 115 is formed in the first ceramic sheet that becomes the lower insulating layer 106, and the embedded conductor 109 and the through hole 109 are formed in the through hole. Fill with a metallized paste. Then, the lower insulating layer 106 has a two-layer structure, and is laminated with the first ceramic sheet sandwiched between the second ceramic sheet on the second main surface 103 side and the third ceramic sheet that becomes the upper insulating layer 105. Furthermore, an adhesive sheet containing a large amount of a binder is disposed between the first ceramic sheet and the second ceramic sheet, and a through hole that becomes the first notch 108 is punched out from the second main surface side by a mold or the like. Thus, the insulating film 114 as shown in FIGS. 2 and 3 may be formed. FIG. 2 shows a state in which the insulating film 114 is provided on a part of the embedded conductor 109, and FIG. 3 shows a state in which the insulating film 114 is provided on the entire embedded conductor 109.

なお、上述したように、埋込導体109は、下部絶縁層106において絶縁基板101の第1側
面116から第2側面117にかけて延在して形成されており、第1側面116から第1切欠き108を介して第2側面117にかけて幅広く形成されているため、埋込導体109の金属層としての下部絶縁層106との接合強度がより強固になり、埋込導体109の剥がれ等がより効果的に抑
制される。
As described above, the buried conductor 109 is formed in the lower insulating layer 106 so as to extend from the first side surface 116 to the second side surface 117 of the insulating substrate 101, and from the first side surface 116 to the first notch. Since it is widely formed through the second side surface 117 via 108, the bonding strength between the buried conductor 109 and the lower insulating layer 106 as a metal layer becomes stronger, and peeling of the buried conductor 109 is more effective. To be suppressed.

この打抜き工程の際に、接着シートの一部が伸びて埋込導体109の一部に延在するよう
に設けられていることにより、絶縁膜114が形成される。これにより、別途絶縁膜を吸引
法等によって塗布する工程を設ける必要が無く、効率的に短絡が抑制された電子部品収納用パッケージ1を製造できる。
In the punching process, the insulating film 114 is formed by providing a part of the adhesive sheet so as to extend to a part of the embedded conductor 109. Thereby, it is not necessary to provide a separate step of applying an insulating film by a suction method or the like, and the electronic component housing package 1 in which short-circuiting is efficiently suppressed can be manufactured.

なお、埋込導体109への絶縁膜114の形成方法は上記に限定されない。例えば、接着シートを用いずに、第2セラミックシートの上面(密着面側)にセラミックシートを軟化させるバインダー等を塗布してから各セラミックシートを積層し、この母基板となる積層体を第2主面103側から金型等によって打ち抜いて第1切欠き108となる貫通孔を形成してもよい。これにより、軟化した第2セラミックシートの一部が、打抜き工程の際に延出して埋込導体109の一部に延在するように、または埋込導体109の全部に延在するようにして、図2に示すような絶縁膜114を形成することができる。   Note that the method of forming the insulating film 114 on the buried conductor 109 is not limited to the above. For example, without using an adhesive sheet, the ceramic sheet is laminated after applying a binder or the like that softens the ceramic sheet to the upper surface (adhesion surface side) of the second ceramic sheet, and the laminate that becomes the mother substrate is the second one. A through hole that becomes the first notch 108 may be formed by punching from the main surface 103 side with a mold or the like. Thereby, a part of the softened second ceramic sheet extends so as to extend to a part of the embedded conductor 109 during the punching process or to extend to the entire embedded conductor 109. An insulating film 114 as shown in FIG. 2 can be formed.

また、電子部品収納用パッケージ1において、絶縁膜114は、第1主面102側から第2主面103側にかけて、厚みが漸次大きくなるように設けられている。   In the electronic component storage package 1, the insulating film 114 is provided so that the thickness gradually increases from the first main surface 102 side to the second main surface 103 side.

このような構造により、埋込導体109を第1切欠き108の奥側に埋め込んで下部絶縁層106に形成し、埋込導体109を絶縁基板101のコーナー部にさらに強固に形成することができ
る。つまり、埋込導体109の第2主面103側(実装面側)を厚い絶縁層で覆い、埋込導体109と絶縁膜114との境界で段差が形成され難い構造とすることができる。よって、絶縁膜114の強度を確保してめっき液の循環がさらに良くなり、めっき膜の被着性が良好となる。
With such a structure, the embedded conductor 109 can be embedded in the back side of the first notch 108 and formed in the lower insulating layer 106, and the embedded conductor 109 can be formed more firmly in the corner portion of the insulating substrate 101. . That is, the second main surface 103 side (mounting surface side) of the embedded conductor 109 is covered with a thick insulating layer, and a structure in which a step is hardly formed at the boundary between the embedded conductor 109 and the insulating film 114 can be obtained. Therefore, the strength of the insulating film 114 is ensured, the circulation of the plating solution is further improved, and the adherence of the plating film is improved.

絶縁膜114を第1主面102側から第2主面103側にかけて厚みが漸次大きくなるように形
成するためには、例えば、上述したような打抜き工程において、接着シートの一部が延出して埋込導体109の一部に延在するように形成される際に、埋込導体109となるメタライズペーストの第2主面103側が外周に押し拡げられるように、絶縁膜114となる接着シートを変形させることによって形成することができる。この際に、埋込導体109となるメタライ
ズペーストの第2主面103側が第2切欠き115の外側に拡がることになる。よって、絶縁基板101の内側に、より深く埋込導体109が形成されるため、埋込導体109の金属層としての
下部絶縁層106との接合強度がより強固になり、埋込導体109の剥がれ等がより効果的に抑制される。
In order to form the insulating film 114 so that the thickness gradually increases from the first main surface 102 side to the second main surface 103 side, for example, in the punching process as described above, a part of the adhesive sheet extends. When forming so as to extend to a part of the embedded conductor 109, an adhesive sheet to be the insulating film 114 is formed so that the second main surface 103 side of the metallized paste to be the embedded conductor 109 is spread to the outer periphery. It can be formed by deforming. At this time, the second main surface 103 side of the metallized paste that becomes the embedded conductor 109 spreads outside the second notch 115. Therefore, since the buried conductor 109 is formed deeper inside the insulating substrate 101, the bonding strength between the buried conductor 109 and the lower insulating layer 106 as a metal layer becomes stronger, and the buried conductor 109 is peeled off. Etc. are more effectively suppressed.

なお、第1側面116および第2側面117に露出する埋込導体109は、例えば母基板で製作
される時点では露出しておらず、母基板の分割後に露出するため、めっき膜が被着されていない。よって、ろう材または半田等の接合材が第1側面116および第2側面117に露出する埋込導体109側に這い上がっても接合材が濡れにくいことから、電位の異なる配線導体
同士が短絡するのを抑制されたものとすることができる。
The buried conductor 109 exposed on the first side surface 116 and the second side surface 117 is not exposed at the time of manufacturing the mother substrate, for example, and is exposed after the mother substrate is divided. Not. Therefore, even if a bonding material such as a brazing material or solder crawls up to the embedded conductor 109 side exposed on the first side surface 116 and the second side surface 117, the bonding material is difficult to wet, so that the wiring conductors having different potentials are short-circuited. Can be suppressed.

電子装置は、上記の電子部品収納用パッケージ1と、電子部品収納用パッケージ1に搭載された電子部品110とを有していることから、搭載される電子部品110と半田等の接合材との短絡が抑制された信頼性の高いものを提供できる。   Since the electronic device includes the electronic component storage package 1 and the electronic component 110 mounted on the electronic component storage package 1, the electronic device 110 and the bonding material such as solder are mounted on the electronic device. A highly reliable one in which short-circuiting is suppressed can be provided.

つまり、外部接続導体107等の配線導体と、近接するコーナー部等に形成された埋込導
体109との電位が異なっている場合に、ろう材または半田等の接合材が埋込導体109側に這い上がっても、埋込導体109の一部または全部が絶縁膜114で覆われていることから、埋込導体109と外部接続導体107等の配線導体との短絡の可能性が低減された信頼性の高い電子装置120を提供できる。
That is, when the potentials of the wiring conductors such as the external connection conductor 107 and the embedded conductor 109 formed in the adjacent corner portion are different, the bonding material such as brazing material or solder is placed on the embedded conductor 109 side. Even if it crawls up, since part or all of the embedded conductor 109 is covered with the insulating film 114, the possibility of short circuit between the embedded conductor 109 and the wiring conductor such as the external connection conductor 107 is reduced. A highly electronic device 120 can be provided.

搭載部104に搭載される電子部品110は、水晶振動素子等であり、これらの電子部品110
の電極(図示せず)が配線導体111に接続される。電子部品110は、通常その外形が四角形状で、その主面のコーナー部に接続用の一対の電極(図示せず)が形成されている。そのような電極の接続を容易かつ確実に行なえるようにするため、配線導体111は搭載部104のコーナー部に形成されている。
The electronic component 110 mounted on the mounting unit 104 is a crystal vibrating element or the like, and these electronic components 110
These electrodes (not shown) are connected to the wiring conductor 111. The electronic component 110 has a generally rectangular outer shape, and a pair of electrodes (not shown) for connection are formed at the corners of the main surface. The wiring conductor 111 is formed at the corner portion of the mounting portion 104 so that the electrodes can be connected easily and reliably.

電子部品110の各電極と配線導体111との接続は、例えば導電性接着剤等の接合材113を
介して行なわれる。すなわち、電子部品110の主面のコーナー部に形成された電極が配線
導体111に対向するように電子部品110を搭載部104に位置決めして、予め配線導体111に塗布した接合材113を加熱して硬化させれば、電子部品110の電極と配線導体111とが接続さ
れる。
Each electrode of the electronic component 110 and the wiring conductor 111 are connected to each other through a bonding material 113 such as a conductive adhesive. That is, the electronic component 110 is positioned on the mounting portion 104 so that the electrode formed at the corner portion of the main surface of the electronic component 110 faces the wiring conductor 111, and the bonding material 113 previously applied to the wiring conductor 111 is heated. Then, the electrode of the electronic component 110 and the wiring conductor 111 are connected.

なお、配線導体111は、この実施の形態の例では電子部品110として水晶振動素子を用いた例を説明しているので上記のような位置に形成されているが、その他の電子部品を搭載する場合、またはその他の電子部品を複数搭載する場合であれば、その電子部品の電極の配置に応じて配線導体111の位置および形状を変えて形成してもよい。このような電子部
品としては、例えば、セラミック圧電素子または弾性表面波素子等の圧電素子、半導体素子、容量素子、抵抗器等を挙げることができる。
Note that the wiring conductor 111 is formed at the position as described above because the example of this embodiment describes an example in which a crystal resonator element is used as the electronic component 110, but other electronic components are mounted. In the case of mounting a plurality of other electronic components, the position and shape of the wiring conductor 111 may be changed according to the arrangement of the electrodes of the electronic component. Examples of such electronic components include a piezoelectric element such as a ceramic piezoelectric element or a surface acoustic wave element, a semiconductor element, a capacitive element, a resistor, and the like.

電子モジュールは、上記の電子装置120を用いることにより、搭載部104に収容された電子部品110に対する接続信頼性、またはグランドの安定性が高められた動作信頼性に優れ
たものを実現できる。
By using the electronic device 120 described above, the electronic module can realize a connection reliability with respect to the electronic component 110 accommodated in the mounting unit 104 or an operation reliability with improved ground stability.

つまり、外部接続導体107等の配線導体と、近接するコーナー部等に形成された埋込導
体109との電位が異なっている場合に、ろう材または半田等の接合材が埋込導体109側に這い上がっても、埋込導体109の一部または全部が絶縁膜114で覆われていることから、埋込導体109と外部接続導体107等の配線導体との短絡の可能性が低減された信頼性の高い電子装置120を用いて、搭載部104に収容された電子部品110に対する接続信頼性およびグラン
ドの安定性が高められた、動作信頼性に優れた電子モジュールを実現できる。
That is, when the potentials of the wiring conductors such as the external connection conductor 107 and the embedded conductor 109 formed in the adjacent corner portion are different, the bonding material such as brazing material or solder is placed on the embedded conductor 109 side. Even if it crawls up, since part or all of the embedded conductor 109 is covered with the insulating film 114, the possibility of short circuit between the embedded conductor 109 and the wiring conductor such as the external connection conductor 107 is reduced. By using the highly functional electronic device 120, it is possible to realize an electronic module excellent in operation reliability in which connection reliability to the electronic component 110 accommodated in the mounting portion 104 and ground stability are improved.

このような電子モジュールが電子機器(図示せず)に搭載される場合は、枠状メタライズ層112および蓋体118をグランド電位と同電位にすることで、搭載部104内が外部ノイズ
から遮蔽される構造となる。つまり、外部からの電磁波が搭載部104に収容された電子部
品110に到達する量を抑えることができる。言い換えると、このような電子モジュールは
、電子機器からの電磁波が到達する量を抑えることができ、電子機器からの電磁波の影響を抑えることができる構造となっている。
When such an electronic module is mounted on an electronic device (not shown), the inside of the mounting portion 104 is shielded from external noise by setting the frame-like metallized layer 112 and the lid body 118 to the same potential as the ground potential. It becomes a structure. That is, the amount of electromagnetic waves from the outside reaching the electronic component 110 accommodated in the mounting portion 104 can be suppressed. In other words, such an electronic module has a structure in which the amount of electromagnetic waves from the electronic device can be suppressed and the influence of the electromagnetic waves from the electronic device can be suppressed.

また、電子装置120に含まれる絶縁基板101の各コーナー部には第1切欠き108が形成さ
れている。また、第1切欠き108には埋込導体109が形成され、その表面の全部または一部が絶縁膜114で覆われており、第1切欠き108には半田等のフィレットが形成され難い。つまり、電子装置120は絶縁基板101の第2主面103側に形成される外部接続導体107とモジュール用基板130上の接続導体との間のみで接続されることから、平面視において電子装置120の外周を超えて半田フィレット等の突出部位が存在しない接合構造が可能となる。よって、電子装置120に隣接する他の電子装置との実装時の間隔を小さくできるため、モジュ
ール用基板130への電子装置120の高密度実装が可能となり、電子機器の小型化を実現できる。
A first notch 108 is formed in each corner portion of the insulating substrate 101 included in the electronic device 120. Further, the embedded conductor 109 is formed in the first notch 108, and the whole or part of the surface is covered with the insulating film 114, and a fillet such as solder is hardly formed in the first notch 108. That is, since the electronic device 120 is connected only between the external connection conductor 107 formed on the second main surface 103 side of the insulating substrate 101 and the connection conductor on the module substrate 130, the electronic device 120 in a plan view. A joining structure in which there is no protruding portion such as a solder fillet beyond the outer periphery of the solder becomes possible. Therefore, since the interval at the time of mounting with another electronic device adjacent to the electronic device 120 can be reduced, the electronic device 120 can be mounted on the module substrate 130 with high density, and the electronic device can be downsized.

なお、本発明は上述の実施の形態の一例に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲であれば種々の変更は可能である。例えば、上述の実施の形態の一例では、上部絶縁層105に枠状メタライズ層112が形成され、下部絶縁層106の一部が絶縁膜114とし
て埋込導体109の第2主面103側の一部または全部にかけて延在して形成された絶縁基板101を示したが、ガラスまたは接着剤等の封止材を用いる場合は、絶縁基板101の上面に枠状メタライズ層112が形成されないため、第1主面102から打抜き加工等により、上部絶縁層105の一部が絶縁膜114として埋込導体109の第1主面102側の一部または全部にかけて延在して形成された絶縁基板101として製作してもよい。
Note that the present invention is not limited to the above-described embodiment, and various modifications can be made without departing from the gist of the present invention. For example, in the example of the above-described embodiment, the frame-like metallized layer 112 is formed on the upper insulating layer 105, and a part of the lower insulating layer 106 serves as the insulating film 114 on the second main surface 103 side of the embedded conductor 109. Although the insulating substrate 101 formed extending partly or entirely is shown, the frame-like metallized layer 112 is not formed on the upper surface of the insulating substrate 101 when a sealing material such as glass or adhesive is used. As an insulating substrate 101 formed by extending a part of the upper insulating layer 105 from one main surface 102 to the first main surface 102 side of the embedded conductor 109 as an insulating film 114 by punching or the like. May be produced.

また、枠状メタライズ層112が形成されていても、第1切欠き108の近傍を除いて枠状メタライズ層112を形成しておき、この枠状メタライズ層112が形成されていない部分から打抜き加工することにより、接着シートの一部を伸ばして埋込導体109に延在するように絶
縁膜114を形成してもよい。この場合には、蓋体118を接合するための銀ろう等の接合材が第1切欠き108内の埋込導体109側に流れ出すことに起因する短絡に対して有効である。
Further, even if the frame-shaped metallized layer 112 is formed, the frame-shaped metallized layer 112 is formed except for the vicinity of the first notch 108, and punching is performed from a portion where the frame-shaped metallized layer 112 is not formed. By doing so, the insulating film 114 may be formed so as to extend part of the adhesive sheet and extend to the embedded conductor 109. In this case, it is effective against a short circuit caused by a joining material such as silver solder for joining the lid 118 flowing out to the embedded conductor 109 side in the first notch 108.

また、電子部品110を圧電振動素子として、搭載部104に形成される一対の配線導体111
に収容される構造を示したが、異なる配置の複数の配線導体にその他の電子部品を複数収容するための絶縁基板101として製作してもよい。
Further, a pair of wiring conductors 111 formed on the mounting portion 104 using the electronic component 110 as a piezoelectric vibration element.
However, the insulating substrate 101 may be manufactured to accommodate a plurality of other electronic components in a plurality of wiring conductors having different arrangements.

1・・・電子部品収納用パッケージ(配線基板)
101・・・絶縁基板
102・・・第1主面
103・・・第2主面
104・・・搭載部
105・・・上部絶縁層
106・・・下部絶縁層
107・・・外部接続導体
108・・・第1切欠き
109・・・埋込導体
110・・・電子部品
111・・・配線導体
112・・・枠状メタライズ層
113・・・接合材
114・・・絶縁膜
115・・・第2切欠き
116・・・第1側面
117・・・第2側面
118・・・蓋体
120・・・電子装置
130・・・モジュール用基板
1 ... Electronic component storage package (wiring board)
101 ・ ・ ・ Insulating substrate
102 ... 1st main surface
103 ... 2nd main surface
104 ・ ・ ・ Mounting part
105 ... Upper insulating layer
106 ・ ・ ・ Lower insulation layer
107 ... External connection conductor
108 ... 1st notch
109 ... Built-in conductor
110 ・ ・ ・ Electronic components
111 ・ ・ ・ Wiring conductor
112 ・ ・ ・ Frame metallization layer
113 ・ ・ ・ Bonding material
114 ・ ・ ・ Insulating film
115 ... 2nd notch
116 ... 1st side
117 ・ ・ ・ Second side
118 ・ ・ ・ lid
120 ・ ・ ・ Electronic device
130 ... Module substrate

Claims (6)

上部絶縁層と下部絶縁層とを具備しており、電子部品を搭載するための搭載部を備えた前記上部絶縁層側の第1主面、および前記下部絶縁層側の第2主面を有する絶縁基板を含んでおり、該絶縁基板の外縁に第1切欠きが設けられ、該第1切欠きに前記第2主面から離して埋込導体が設けられており、該埋込導体の少なくとも一部が絶縁膜で覆われていることを特徴とする電子部品収納用パッケージ。 An upper insulating layer and a lower insulating layer are provided, and includes a first main surface on the upper insulating layer side and a second main surface on the lower insulating layer side provided with a mounting portion for mounting an electronic component. A first notch is provided at an outer edge of the insulating substrate, an embedded conductor is provided in the first notch away from the second main surface, and at least the embedded conductor A package for storing electronic parts, characterized in that a part thereof is covered with an insulating film. 前記埋込導体は、前記第2主面側から前記第1主面側にかけて、漸次厚みが大きくなるように設けられており、前記絶縁膜は、前記埋込導体の前記第2主面側の少なくとも一部に延在していることを特徴とする請求項1に記載の電子部品収納用パッケージ。 The embedded conductor is provided so as to gradually increase in thickness from the second main surface side to the first main surface side, and the insulating film is formed on the second main surface side of the embedded conductor. The electronic component storage package according to claim 1, wherein the electronic component storage package extends at least partially. 前記絶縁基板は、第1側面および該第1側面に前記第1切欠きを介して連なる第2側面を有しており、前記埋込導体は、平面透視において前記第1切欠きよりも深く切り欠かれた第2切欠きに沿って設けられており、前記絶縁基板の前記第1側面から前記第2側面にかけて延在していることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の電子部品収納用パッケージ。 The insulating substrate has a first side surface and a second side surface connected to the first side surface through the first notch, and the embedded conductor is cut deeper than the first notch in a plan view. 3. The electron according to claim 1, wherein the electron is provided along the notched second notch and extends from the first side surface to the second side surface of the insulating substrate. Parts storage package. 前記絶縁膜は、前記第1主面側から前記第2主面側にかけて、厚みが漸次大きくなるように設けられていることを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれかに記載の電子部品収納用パッケージ。 4. The electron according to claim 1, wherein the insulating film is provided so as to gradually increase in thickness from the first main surface side to the second main surface side. 5. Parts storage package. 請求項1乃至請求項4のいずれかに記載の電子部品収納用パッケージと、該電子部品収納用パッケージに搭載された電子部品とを有していることを特徴とする電子装置。 5. An electronic apparatus comprising: the electronic component storage package according to claim 1; and an electronic component mounted on the electronic component storage package. 請求項5に記載の電子装置と、該電子装置が接続されたモジュール用基板とを有していることを特徴とする電子モジュール。 6. An electronic module comprising: the electronic device according to claim 5; and a module substrate to which the electronic device is connected.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2020262472A1 (en) * 2019-06-27 2020-12-30 京セラ株式会社 Electronic component housing package, electronic device, and electronic module

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000068414A (en) * 1998-08-24 2000-03-03 Ngk Spark Plug Co Ltd Manufacture of lead-less package
JP2002289746A (en) * 2001-03-28 2002-10-04 Kyocera Corp Substrate for mounting batch-process electronic component and electronic device
JP2005268350A (en) * 2004-03-17 2005-09-29 Sumitomo Metal Electronics Devices Inc Package for storing electronic component
JP2009010671A (en) * 2007-06-28 2009-01-15 Daishinku Corp Piezoelectric vibrating device
JP2013065602A (en) * 2011-09-15 2013-04-11 Kyocera Corp Package for housing electronic component

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000068414A (en) * 1998-08-24 2000-03-03 Ngk Spark Plug Co Ltd Manufacture of lead-less package
JP2002289746A (en) * 2001-03-28 2002-10-04 Kyocera Corp Substrate for mounting batch-process electronic component and electronic device
JP2005268350A (en) * 2004-03-17 2005-09-29 Sumitomo Metal Electronics Devices Inc Package for storing electronic component
JP2009010671A (en) * 2007-06-28 2009-01-15 Daishinku Corp Piezoelectric vibrating device
JP2013065602A (en) * 2011-09-15 2013-04-11 Kyocera Corp Package for housing electronic component

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2020262472A1 (en) * 2019-06-27 2020-12-30 京セラ株式会社 Electronic component housing package, electronic device, and electronic module
JPWO2020262472A1 (en) * 2019-06-27 2020-12-30
JP7182712B2 (en) 2019-06-27 2022-12-02 京セラ株式会社 Electronic component storage packages, electronic devices, and electronic modules

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