JP2017053833A - 補正装置、補正方法および測距装置 - Google Patents

Abstract

【課題】適切な補正を実行する補正装置の提供。【解決手段】受光部３から出力される出力信号ｓ１に基づいて光子数を計数する光子数計数部４と、光子数に対応する補正値Ｍｓを取得する補正値取得部６と、補正値Ｍｓに基づく補正を行う補正部７とを備える補正装置である。【選択図】図３

Description

本開示は、補正装置、補正方法および測距装置に関する。

従来、パルス光を測距対象物に対して投光し、対象物からの反射パルス光を受光し、パルス光を投光してから反射パルス光を受光するまでの時間（飛行時間（ＴＯＦ(Time Of Flight)）と称されることもある）を計測することにより、測定対象物までの距離を測定する測距装置が知られている（例えば、下記特許文献１参照のこと）。

特開２００７−１４７３２２号公報

このような測距装置の分野では、生じ得る誤差に対して適切な補正を行い、測距の精度を向上させることが望まれている。

したがって、本開示は、誤差に対して適切な補正を行うことができる補正装置、補正方法および測距装置を提供することを目的の一つとする。

上述の課題を解決するために、本開示は、例えば、
受光部から出力される出力信号に基づいて光子数に対応した情報を取得する取得部と、
情報に対応する補正値を取得する補正値取得部と、
補正値に基づく補正を行う補正部と
を備える補正装置である。

本開示は、例えば、
取得部が、受光部から出力される出力信号に基づいて光子数に対応した情報を取得し、
補正値取得部が、情報に対応する補正値を取得し、
補正部が、補正値に基づく補正を行う
補正方法である。

本開示は、例えば、
受光部から出力される出力信号に基づいて光子数に対応した情報を取得する取得部と、
情報に対応する補正値を取得する補正値取得部と、
補正値に基づく補正を行う補正部と、
補正の結果を使用して、測距対象物までの距離を算出する距離算出部と
を備える測距装置である。

本開示の少なくとも一の実施形態によれば、誤差に対して適切な補正を行うことができる。なお、ここに記載された効果は必ずしも限定されるものではなく、本開示中に記載されたいずれの効果であってもよい。また、例示された効果により本開示の内容が限定して解釈されるものではない。

図１は、ウォークエラーを説明するための図である。 図２は、受光素子によってウォークエラーの補正誤差が大きくなることを説明するための図である。 図３は、本開示の実施形態の概要を説明するためのブロック図である。 図４は、第１の実施形態における補正装置の構成例を示すブロック図である。 図５は、マルチピクセル型ＳＰＡＤの構成例を示す回路図である。 図６は、マルチピクセル型ＳＰＡＤ出力信号の波形例を示す図である。 図７は、マルチピクセル型ＳＰＡＤ出力信号のピーク電圧と遅延時間との関係を説明するための図である。 図８は、マルチピクセル型ＳＰＡＤ出力信号のパルス毎の積分値の度数分布の計測例を示す図である。 図９は、光子数とずれ量との関係を説明するための図である。 図１０は、第２の実施形態における測距装置の構成例を示すブロック図である。 図１１は、第３の実施形態における測距装置の構成例を示すブロック図である。 図１２は、異なる閾値で検出するタイミング間の時間差がパルス強度の強弱に応じて変化する様子を説明するための図である。 図１３は、異なる閾値で検出するタイミング間の検出時間差と検出光子数との関係が記述されたルックアップテーブルの例を示す図である。 図１４は、第４の実施形態における測距装置の構成例を示すブロック図である。 図１５は、第５の実施形態における補正装置の構成例を示すブロック図である。 図１６は、ピーク電圧検出回路の構成例を説明するためのブロック図である。 図１７は、ピーク電圧検出回路の詳細な構成例を説明するための図である。 図１８は、ピーク電圧検出回路に設定される閾値の一例を説明するための図である。 図１９は、ピーク電圧検出回路の動作例を説明するための図である。 図２０は、第５の実施形態の変形例を示すブロック図である。 図２１は、第５の実施形態の変形例を示すブロック図である。

以下、本開示の実施形態等について図面を参照しながら説明する。なお、説明は以下の順序で行う。
＜実施形態の概要＞
＜第１の実施形態＞
＜第２の実施形態＞
＜第３の実施形態＞
＜第４の実施形態＞
＜第５の実施形態＞
＜変形例＞
以下に説明する実施形態等は本開示の好適な具体例であり、本開示の内容がこれらの実施形態等に限定されるものではない。

「ウォークエラーについて」
本開示の理解を容易とするために、始めに、光学的方法で測距を行う測距装置において生じ得るウォークエラー（タイムウォークと称される場合もある）について説明する。なお、光学的方法で測距を行う測距装置とは、概略的に例示すれば、発光タイミングとその光が物体（測距対象物）により反射して戻った光の入力タイミングとの時間差を計測し、その時間差に光速を乗算した後、２で除算することにより測距対象物までの距離を求める装置である。

測距装置では、物体の距離や光反射率、光散乱特性等に応じて強度が大きく変わる反射光の受光タイミングを検出する必要がある。反射光が入力された受光素子およびその信号増幅回路から出力される信号波形は、一般的に有限（１００ｐｓ（ピコ秒）以上）のパルス立ち上がり時間を有するものであり、受光素子に入力される入力光の強度に応じて当該受光素子から出力される出力信号（適宜、受光信号と称する）の強度も変化する。

このような受光信号に対して、所定の検出閾値を持つ２値化回路（コンパレータ等）を使用して受光信号のレベル（信号強度）が閾値を越えたタイミングを受光したタイミングとして判別する処理がなされる。このような処理により受光したタイミングを検出する方式は、リーディングエッジ検出方式などと称されている。ここで、上述したように、受光信号の有限な立ち上がり時間のために、反射光の光強度の違いによりこのタイミング（信号立ち上がり開始から検出までの遅延時間）が異なってしまう。

図１を参照して具体的に説明する。図１において横軸は時間を示し、縦軸は受光信号の信号強度（電圧レベル）を示している。図１には２個の波形ＷＡ１、ＷＡ２が模式的に示されており、波形ＷＡ１が、光強度が強い反射光の波形を示しており、波形ＷＡ２が、光強度が弱い反射光の波形を示している。そして、受光タイミングを判別するための電圧の閾値Ｖｔｈが設定されている。

波形ＷＡ１、ＷＡ２を有するそれぞれの反射光が受光部により受光され、受光部から波形ＷＡ１、ＷＡ２のような信号波形の受光信号が出力されたとする。ここで、図１に示すように、波形ＷＡ１が閾値Ｖｔｈに達したタイミングであるタイミングｔｄ１と、波形ＷＡ２が閾値Ｖｔｈに達したタイミングであるタイミングｔｄ２との間には、誤差（ずれ）Δｔｄ（＝ｔｄ２−ｔｄ１）が生じる。このΔｔｄの分、光強度が弱い反射光の場合には、測距対象物までの距離が長く算出されてしまう。このように、反射光の光強度の違いにより生じ得る時間的な誤差（ずれ）がウォークエラーである。

例えば、測距分解能として１ｃｍ（センチメートル）を得るには光入力タイミング計測の分解能として６７ｐｓの高分解能を得る必要がある。また、光を拡散反射する物体に照射された光は空間的に広がり、離れた受光素子へ入射する光量は光源からの発光量のごく一部となるため、大面積で高感度の受光素子を用いる必要がある。このような高感度受光素子のパルス応答出力波形は典型的には１ｎｓ（ナノ秒）以上の立ち上がり時間を有し、その場合、ウォークエラーも最大で１ｎｓになる。測距分解能および精度１ｃｍを得るにはこのずれ量を６７ｐｓ程度以下の誤差に補正できることが望まれる。

ところで、上述した測距装置における受光部を構成する受光素子として、フォトダイオード（ＰＤ(Photo Diode)またはリニアモード（連続モードとも称される）のアバランシェフォトダイオード（ＡＰＤ(Avalanche Photo Diode)を使用することが考えられる。そして、そのような受光部を使用して、数十個以上の多数の光子検出受光強度に応じて連続的なピーク値および積分値を有する出力信号を扱う方式が考えられる。

フォトダイオードやアバランシェフォトダイオードは、連続的な入出力特性を示し、一般的に光入力強度に対して出力信号の強度がほぼ比例する。熱雑音等の電気回路で発生するノイズより大きな出力信号を得るためには、アバランシェフォトダイオードの場合は数十個以上、フォトダイオードの場合には数百個以上の光子の入力が必要である。熱雑音は、信号の周波数帯域の平方根に比例して大きくなる性質があるため、光子数十個以下の極微弱光をフォトダイオードやアバランシェフォトダイオードで受光した場合に１ｎｓ前後の時間領域で受光タイミングを検出することが困難となる。

さらに、リーディングエッジ検出方式でタイミングを検出する上で、信号の立ち上がりが直線的な場合、すなわち信号強度が時間に比例する場合、検出遅延時間（ウォークエラー）ｔｄと信号のピーク電圧（ピーク値）Ｖｐとの関係は、図２に示される曲線のように概ね反比例する関係にある。なお、図２では、ピーク値に載るノイズ量ΔＶｐ対応するウォークエラーの変化量Δｔｄも記載されている。図２に示すように、光強度が弱い場合にはパルス強度の変化に対するウォークエラーの変化量Δｔｄが大きいため、光強度が強い信号と同じノイズ量ΔＶｐでもウォークエラーの変化量Δｔｄは大きくなり必要なタイミング計測精度を得ることが困難となる。

さらに、連続的な入出力特性を示すため、限定されたデータ点から補間して連続値に対応する補正値を出力する補間回路も合わせて必要となる。このように、出力値が連続的なフォトダイオードやアバランシェフォトダイオードを用いると、検出可能な強度レベルであっても微弱光でのウォークエラー補正誤差が大きくなり結果的にタイミング計測精度も低下し、且つ、回路規模も大きくなってしまう。すなわち、受光部として微弱な光（光子数が少ない光）でも受光できる構成を採用しつつ、上述したウォークエラーを適切に補正できることが望まれる。以上の点に鑑みてなされた本開示の複数の実施形態等について説明する。

＜実施形態の概要＞
始めに、理解の容易のために本開示の実施形態（例えば、第１の実施形態）の概要について説明する。本開示は、一例として補正装置として構成することができる。図３に示す補正装置１は、例えば、パルス光源２と、受光部の一例である離散化出力型光検出器３と、計測部の一例であるタイミング計測回路４と、光子数に対応した情報を取得する取得部の一例である光子数計数回路５と、補正値取得部の一例であるずれ量算出回路６と、補正部の一例であるタイミング補正回路７とを備えている。

補正装置１の動作について、概略的に説明する。パルス光源２から例えば、パルス光が出射される。パルス光源２から出射されたパルス光が測距対象物により反射され、反射パルス光ＲＰとして離散化出力型光検出器３に入力される。反射パルス光ＲＰを受光するのに伴って離散化出力型光検出器３から信号ｓ１が出力される。信号ｓ１がタイミング計測回路４に入力される。タイミング計測回路４は、信号ｓ１の電圧レベルが閾値Ｖｔｈを上回るタイミングｔ１を計測し、タイミングｔ１を示すタイミング信号ｔ１ｓをタイミング補正回路７に出力する。

一方、離散化出力型光検出器３から出力された信号ｓ１は、光子数計数回路５にも入力される。光子数計数回路５は、信号ｓ１に基づいて離散化出力型光検出器３が受光した光子数（フォトン数）ＰＮを求め、光子数ＰＮを示す光子数信号ＰＮｓをずれ量算出回路６に出力する。ずれ量算出回路６は、光子数ＰＮに基づいて、基準となる反射パルス光のタイミングに対する時間的なずれ量Ｍを取得し、ずれ量Ｍを示す信号Ｍｓをタイミング補正回路７に出力する。タイミング補正回路７は、ずれ量Ｍに基づいてタイミングｔ１を補正することで補正後のタイミングｔ２を取得し、タイミングｔ２を示すタイミング信号ｔ２ｓを出力する。

なお、図示はしていないが、タイミング信号ｔ２ｓは、後段の処理における例えば距離算出処理で使用される。すなわち、パルス光源２から出射されたパルス光（基準光）を受光したタイミングとタイミングｔ２との差分に対し光速が乗算されることで測距対象物までの往復距離が算出され、当該往復距離を２で除算することで測距対象物までの距離が算出される。ずれ量Ｍは、算出された距離と物体までの実際の距離との誤差を予め測定等し、得られた誤差や各回路における処理の遅延等に応じて適切に設定されるものである。以下、各実施形態におけるより詳細な構成例等について説明する。

＜第１の実施形態＞
「補正装置の構成例」
図４は、第１の実施形態における補正装置１０の構成例を示すブロック図である。第１の実施形態における補正装置１０は、例えば、パルス光源１１と、マルチピクセル型ＳＰＡＤ(Single Photon Avalanche Diode)（以下、ＳＰＡＤと適宜、略称する）１２と、時間デジタル変換器（ＴＤＣ(Time-to-Digital Converter)）１３と、積分回路／変換器１４と、ルックアップテーブル参照回路１５と、タイミング補正回路１６とを備えている。

パルス光源１１は、光源として例えば半導体レーザと、半導体レーザを駆動するドライバ等を備えている。例えば、間欠的にドライバが動作することにより、半導体レーザからパルス光が所定の周期で出射される。なお、必ずしも一定の周期でパルス光が出射されなくてもよい（他の実施形態についても同様である）。

離散化出力型光検出器３の一例であるＳＰＡＤ１２は、受光部と駆動回路とを含む構成を備えている。ＳＰＡＤ１２は、パルス光源１１から出射されたパルス光が測距対象物に反射された光（以下適宜、反射パルス光ＲＰと称する）を受光するように構成されている。反射パルス光ＲＰの受光に伴ってＳＰＡＤ１２から信号（以下適宜、ＳＰＡＤ出力信号と称する）ｓ１１が出力される。ＳＰＡＤ出力信号ｓ１１が、時間デジタル変換器１３および積分回路／変換器１４のそれぞれに出力される。なお、ＳＰＡＤ１２の具体的な構成例については後述する。

タイミング計測回路４の一例である時間デジタル変換器１３は、ＳＰＡＤ出力信号ｓ１１のレベルが所定の閾値Ｖｔｈを上回るタイミングｔ１を計測する回路である。時間デジタル変換器１３は、タイミングｔ１を示すデジタル形式のタイミング信号ｔ１ｓを生成する。

光子数計数回路５の一例である積分回路／変換器１４は、アナログの積分回路と、当該積分回路の後段に接続されるＡＤ(Analog-to-Digital)変換器とを備えている。積分回路／変換器１４は、ＳＰＡＤ出力信号ｓ１１を積分回路で積分することにより積分値を取得し、積分値からＳＰＡＤ１２が受光した光子数ＰＮを取得（計数）する。

ずれ量算出回路６の一例であるルックアップテーブル参照回路１５は、光子数ＰＮと補正値の一例であるずれ量Ｍとが対応付けられたルックアップテーブルを記憶している。ルックアップテーブル参照回路１５は、積分回路／変換器１４から供給された光子数ＰＮに対応するずれ量Ｍを、ルックアップテーブルを参照して取得し、ずれ量Ｍを示す信号Ｍｓを生成する。

タイミング補正回路１６は、ずれ量Ｍに基づいてタイミングｔ１を補正する回路である。タイミング補正回路１６は、ずれ量Ｍに基づいてタイミングｔ１を補正してタイミングｔ２を取得し、当該タイミングｔ２を示すタイミング信号ｔ２ｓを生成する。

「ＳＰＡＤについて」
次に、ＳＰＡＤ１２の詳細について説明する。図５は、ＳＰＡＤ１２の構成例を示している。ＳＰＡＤ１２は、実際に光を受光する受光部１２１を備えている。受光部１２１は、複数の受光素子１２２を備えている。受光素子１２２は、アバランシェフォトダイオード１２２ａと、アバランシェフォトダイオード１２２ａに直列に接続されたクエンチング抵抗１２２ｂとを備えている。すなわち、受光部１２１は、１個の受光素子１２２を基本単位とし、複数の受光素子１２２が２次元に電気的に接続（例えば、並列接続）された構成を成している。

さらに、ＳＰＡＤ１２は、受光部１２１に所定の電圧を印加するための電源１２３と、電源電圧を安定化するための、抵抗１２４ａおよびコンデンサ１２４ｂを備える平滑回路１２４と、受光部１２１から出力される電流信号を電圧信号に変換するための抵抗１２５とを備えている。抵抗１２５は、受光部１２１の出力側に接続されており、受光部１２１と抵抗１２５との間の接続点ＡＡに対して後段の構成（時間デジタル変換器１３および積分回路／変換器１４）が接続される。この接続点ＡＡを介して、ＳＰＡＤ出力信号ｓ１１が後段の構成に出力される。

受光部１２１において生じるアバランシェ現象について説明する。なお、説明の便宜を考慮して、１個の受光素子１２２を例にして説明するが、他の受光素子についても同様の現象が生じる。アバランシェフォトダイオード１２２ａに対して降伏電圧以上の逆電圧を印加された状態で光子（フォトン）が入射すると、アバランシェフォトダイオード１２２ａは電子正孔対を生成し電子と正孔とが各々高電界で加速されて次々と雪崩のように新たな電子正孔対を生成する。この現象がアバランシェ現象と称される。

アバランシェフォトダイオード１２２ａに対する印加電圧を降伏電圧まで下げることによりアバランシェ現象を止めることができる。この機能は、アバランシェフォトダイオード１２２ａに直列に接続されたクエンチング抵抗１２２ｂにより実現することができ、アバランシェ電流によるクエンチング抵抗１２２ｂの端子間の電圧上昇によってバイアス電圧が降下してアバランシェ電流が止まる。

図６は、ＳＰＡＤ１２から出力されるＳＰＡＤ出力信号ｓ１１の理想的な波形を示している。図６において、横軸は時間を示しており、縦軸は電圧を示している。実際の波形は、この波形に熱的な要因等によるパルス状またはランダムなノイズ波形が載った状態になる。

ＳＰＡＤ出力信号ｓ１１は、光子を受光すると急峻な立ち上がりを示し、レベルがピーク電圧（以下適宜、波高値とも称する）に達した後、指数関数的にレベルが減少する。ブレークダウン電圧以上の逆バイアス電圧が印加されたＳＰＡＤ１２では個々の受光素子１２２内のアバランシェフォトダイオード１２２ａが一度に１個の光子検出により決まった波形・ピーク電圧の電流パルスを出力し、全受光素子の合計電流が受光部１２１の出力端子から出力される。この信号を抵抗１２５に通すことでＳＰＡＤ出力信号ｓ１１を電圧信号として取り扱うことができる。

図６に示すように、受光部１２１が受光した光子数に応じて、波高値および波形を積分した積分値が離散化される。換言すれば、ＳＰＡＤ出力信号ｓ１１の波高値を得ることで受光部１２１が受光した光子数を得ることができる。

図７は、ＳＰＡＤ出力信号ｓ１１のピーク電圧Ｖｐと立ち上がり開始から閾値Ｖｔｈでの検出までの遅延時間ｔｄ（図１参照）との関係を模式的に示した図である。図７において、横軸は受光光子数に応じて離散化されたＳＰＡＤ出力信号ｓ１１のピーク電圧またはＳＰＡＤ出力信号ｓ１１の電圧を積分した積分値を示しており、縦軸は遅延時間ｔｄを示している。図７では、ＳＰＡＤ１２からの出力の離散化に伴って遅延時間ｔｄも離散化されることが示されている。また、ピーク電圧Ｖｐやその時間積分値の離散化間隔は検出光子数１個の増分に対応して一定であり、微弱信号ほど遅延時間ｔｄの離散化間隔が大きくなることが示されている。

具体例について説明する。ピーク電圧Ｖｐの離散化間隔は典型的には一光子あたり０．２〜０．３ｍＶ（ミリボルト）である。ＳＰＡＤ出力信号ｓ１１の立ち上り時間は典型的には０．６ｎｓである。例えば２．５光子相当を閾値（ノイズの誤検知を防ぐため２光子以下の信号は後段で検出しないようにする）とした場合、３光子検出時の遅延時間ｔｄと４光子検出する際の遅延時間はそれぞれ、０．５ｎｓ（＝０．６ｎｓ＊２．５／３）および０．３７５ｎｓ（＝０．６ｎｓ＊２．５／４）となり、遅延時間ｔｄの離散化間隔は０．１２５ｎｓとなり、その間に他の遅延時間ｔｄは生じないことになる。

実際にはＳＰＡＤ出力信号ｓ１１およびその増幅信号には熱雑音等のアナログ的なノイズが含まれるが、受光素子１２２内での電流増倍作用により高いＳ／Ｎ(Signal-to-Noise Ratio)を示す。このため、ノイズによる信号の変動幅よりも検出光子数毎の離散化間隔のほうが大きい値となり、ＳＰＡＤ出力信号ｓ１１のパルスピーク値や積分値の度数分布を計測すると、図８に示すように検出光子数に対応した値のところに極大値をもつヒストグラムが得られる。

すなわち、ＳＰＡＤ１２を用いることで、微弱な光を受光した場合でも高いＳ／Ｎの信号を得ることができる。さらに、ＳＰＡＤ１２から出力されるＳＰＡＤ出力信号ｓ１１をピーク電圧等に応じて離散化した信号として取り扱うことが可能となる。そして、ＳＰＡＤ出力信号ｓ１１のピーク電圧または積分値を検出する回路を用いその出力から整数単位の検出光子数を計数し、その検出光子数に応じたデジタル信号を出力することができる。

「補正装置の動作」
次に、第１の実施形態における補正装置１０の動作例について説明する。パルス光源１１から出射されたパルス光が測距対象物により反射され、反射パルス光ＲＰとしてＳＰＡＤ１２により入力される。反射パルス光ＲＰを受光するのに伴ってＳＰＡＤ１２からＳＰＡＤ出力信号ｓ１１が出力される。ＳＰＡＤ出力信号ｓ１１が時間デジタル変換器１３に入力される。時間デジタル変換器１３は、ＳＰＡＤ出力信号ｓ１１の電圧レベルが閾値Ｖｔｈを上回るタイミングｔ１を計測し、タイミングｔ１を示すタイミング信号ｔ１ｓをタイミング補正回路１６に出力する。

一方、ＳＰＡＤ１２から出力されたＳＰＡＤ出力信号ｓ１１は、積分回路／変換器１４にも入力される。積分回路／変換器１４は、ＳＰＡＤ出力信号ｓ１１を積分回路で積分して積分値を得、当該積分値に基づいて光子数ＰＮを求める。そして、積分回路／変換器１４は、ＡＤ変換器を使用して光子数ＰＮを示すデジタル形式の光子数信号ＰＮｓ生成し、ルックアップテーブル参照回路１５に出力する。

ルックアップテーブル参照回路１５は、ルックアップテーブルを参照して光子数ＰＮに対応するずれ量Ｍを取得する。参照対象のルックアップテーブルには、図９に模式的に示すように光子数ＰＮとずれ量Ｍとの対応関係が記述（格納）されていることから、ルックアップテーブル参照回路１５は、光子数ＰＮに対応するずれ量Ｍを取得することができる。ルックアップテーブル参照回路１５は、ずれ量Ｍを示す信号Ｍｓをタイミング補正回路１６に出力する。タイミング補正回路１６は、ずれ量Ｍに基づいてタイミングｔ１を補正することで補正後のタイミングｔ２を取得し、当該タイミングｔ２を示すタイミング信号ｔ２ｓを出力する。

以上のような第１の実施形態によれば、受光する光が微弱（例えば、光子数が数１０個以下）な場合でも光強度の違いに起因するウォークエラーを高精度に補正することができる。また、ＳＰＡＤ出力信号ｓ１１を積分した積分値から得られる光子数をデジタル値に変換するので、積分回路／変換器１４から後段の回路等によりノイズや誤差が重畳されることを防止できる。

なお、一の受光素子１２２が受光した際に起こる電子が増幅される過程において光が発生し、この光が他の受光素子１２２（例えば、隣接する受光素子１２２）に影響を与え、当該受光素子１２２が電流信号を出力する場合がある。この現象は、クロストークと称される。クロストークにより実際にＳＰＡＤ１２に入射した光の光子数と、ＳＰＡＤ１２から出力される信号に基づいて判断される光子数とか一致しない場合がある。実施形態では、ＳＰＡＤ１２から出力される信号に基づいて光子数が判断され、判断された光子数に応じた補正がなされるようにしている。すなわち、実施形態において、実際にＳＰＡＤ１２に入射した光の光子数と、ＳＰＡＤ１２から出力される信号に基づいて判断される光子数とが必ずしも一致している必要はない。

「第１の実施形態の変形例」
上述した第１の実施形態は、以下の変形が可能である。例えば、積分回路／変換器１４において、積分回路に代えてアナログのピークホールド回路を使用してもよい。また、積分回路／変換器１４において、ＡＤ変換器の量子化間隔を積分回路（またはピークホールド回路）の出力の離散化間隔と一致させることで、光子数の計数精度を保ったままＡＤ変換器の回路規模を小さくすることができる。

ＳＰＡＤ出力信号ｓ１１のピーク電圧が大きい（パルス高さの高い領域）では、遅延時間ｔｄの離散化間隔が小さくなるので、必要な補正精度に応じて検出光子数の間隔を間引いて粗くすることができる。これにより、補正用データのビット数（総出データ点数）をフォトダイオードやリニアモードのアバランシェフォトダイオードを用いた場合より少なくでき、低コスト且つ高精度にウォークエラーを補正することができる。

＜第２の実施形態＞
次に、第２の実施形態について説明する。なお、以下の説明において同一の名称、符号については、特に断らない限り同一もしくは同質の部材を示しており、重複する説明を適宜省略する。また、第１の実施形態で説明した事項は、特に断らない限り第２の実施形態に適用することができる。

「測距装置の構成例」
第２の実施形態は、本開示における補正装置を測距装置に適用した例である。図１０は、第２の実施形態における測距装置２０の構成例を示すブロック図である。測距装置２０は、例えば、パルス光源２１と、フォトダイオード２２と、第２の実施形態における補正装置２３と、距離算出回路２４とを備えている。

パルス光源２１は、例えば、半導体レーザ２１ａと、駆動回路２１ｂとを備えている。例えば、所定の周期でもって間欠的に駆動回路２１ｂが動作することにより、半導体レーザ２１ａからレーザパルス光が間欠的に出射される。なお、半導体レーザ２１ａから出射されたパルス光は、その一部がハーフミラーＨＭで分岐されて基準パルス光ＳＰとしてフォトダイオード２２に入力され、残りが測距対象物ＭＴに照射、反射された後、反射パルス光ＲＰとして補正装置２３に入力されるように構成されている。

フォトダイオード２２は、基準パルス光ＳＰの受光に伴って受光信号ｓ２２を出力する。受光信号ｓ２２は、図示しない増幅部により増幅された後、時間デジタル変換器２３ｂに入力されるように構成されている。

補正装置２３は、例えば、（マルチピクセル型）ＳＰＡＤ２３ａと、時間デジタル変換器２３ｂと、積分回路／変換器２３ｃと、ルックアップテーブル参照回路２３ｄと、タイミング補正回路２３ｅとを備えている。補正装置２３は、パルス光源１１を備えていない他は、構成等は第１の実施形態における補正装置１０と同様とされている。

距離算出回路２４は、測距対象物ＭＴまでの距離を演算により算出する回路である。距離算出回路２４は、例えば、タイミング補正回路２３ｅから供給される時間差信号ｔ４ｓに光速を乗算することで往復距離を得、往復距離を２で除算することにより測距対象物ＭＴまでの距離を算出する。

「測距装置の動作例」
次に、測距装置２０の動作例について説明する。パルス光源２１からパルス光が出射され、ハーフミラーＨＭで分岐された光が基準パルス光ＳＰとしてフォトダイオード２２に入力される。フォトダイオード２２が基準パルス光ＳＰを受光すると、フォトダイオード２２から受光信号ｓ２２が出力される。受光信号ｓ２２は図示しない増幅部により増幅等の処理がなされた後、時間デジタル変換器２３ｂに入力される。時間デジタル変換器２３ｂは、リーディングエッジ検出方式によりフォトダイオード２２が基準パルス光ＳＰを受光したタイミングｔ２２を取得する。

一方、測距対象物ＭＴにより反射された光が反射パルス光ＲＰとして補正装置２３のＳＰＡＤ２３ａに入力される。ＳＰＡＤ２３ａが反射パルス光ＲＰを受光すると、ＳＰＡＤ２３ａからＳＰＡＤ出力信号ｓ２３が出力される。ＳＰＡＤ出力信号ｓ２３が時間デジタル変換器２３ｂに入力される。時間デジタル変換器２３ｂは、リーディングエッジ検出方式によりＳＰＡＤ２３ａが反射パルス光ＲＰを受光したタイミングｔ２３を取得する。そして、時間デジタル変換器２３ｂは、タイミングｔ２２、ｔ２３の時間差である時間差信号ｔ３ｓ（＝ｔ２３−ｔ２２）を取得する。この時間差信号ｔ３ｓは、半導体レーザ２１ａから出射されたパルス光の飛行時間（但し、補正前の飛行時間）に対応する。

一方、ＳＰＡＤ２３ａから出力されたＳＰＡＤ出力信号ｓ２３は、積分回路／変換器２３ｃにも入力される。積分回路／変換器２３ｃは、ＳＰＡＤ出力信号ｓ２３を積分回路で積分して積分値を得、当該積分値に基づいて光子数ＰＮを求める。そして、積分回路／変換器２３ｃは、ＡＤ変換器を使用して光子数ＰＮを示すデジタル形式の光子数信号ＰＮｓ生成し、ルックアップテーブル参照回路２３ｄに出力する。

ルックアップテーブル参照回路２３ｄは、ルックアップテーブルを参照して光子数ＰＮに対応するずれ量Ｍを取得する。ルックアップテーブル参照回路２３ｄは、ずれ量Ｍを示す信号Ｍｓをタイミング補正回路２３ｅに出力する。タイミング補正回路２３ｅは、ずれ量Ｍに基づいて時間差信号ｔ３ｓを補正する。例えば、タイミング補正回路２３ｅは、時間差信号ｔ３ｓからずれ量Ｍの分を減算することにより補正を行い、パルス光の正確な飛行時間に対応する時間差信号ｔ４ｓを取得する。そして、タイミング補正回路２３ｅは、時間差信号ｔ４ｓを距離算出回路２４に出力する。

距離算出回路２４は、時間差信号ｔ４ｓに光速を乗算し、その結果を２で除算することで測距対象物ＭＴまでの距離を算出する。以上、説明したように、本開示の補正装置は、測距装置に適用することも可能である。

「第２の実施形態の変形例」
上述した第２の実施形態は、以下の変形が可能である。フォトダイオード２２により受光される基準パルス光ＳＰの光強度は一般的に大きい（例えば、光子数１００個以上）。このため特定の受光素子を用いる必要性は低いものの、フォトダイオード２２に代えて、連続モードのアバランシェフォトダイオードや、ＳＰＡＤを使用してもよい。より感度の高い素子を使用することで、ハーフミラーＨＭで分岐する光量をより小さくして測距対象物に照射する光量を大きくすることができる。また、第１の実施形態で説明した変形例を第２の実施形態に適用することも可能である。

＜第３の実施形態＞
次に、第３の実施形態について説明する。なお、以下の説明において同一の名称、符号については、特に断らない限り同一もしくは同質の部材を示しており、重複する説明を適宜省略する。また、第１、第２の実施形態で説明した事項は、特に断らない限り第３の実施形態に適用することができる。

「測距装置の構成例」
第３の実施形態は、第２の実施形態と同様、本開示における補正装置を測距装置に適用した例である。図１１は、第２の実施形態における測距装置３０の構成例を示すブロック図である。測距装置３０は、例えば、パルス光源３１と、第３の実施形態における補正装置３３と、距離算出回路３４とを備えている。

パルス光源３１は、例えば、半導体レーザ３１ａと、駆動回路３１ｂとを備えている。例えば、所定の周期でもって駆動回路３１ｂが動作することにより、半導体レーザ３１ａからレーザパルス光が間欠的に出射される。なお、半導体レーザ３１ａから出射されたパルス光は、測距対象物ＭＴに照射、反射された後、反射パルス光ＲＰとして補正装置３３に入力されるように構成されている。

補正装置３３は、例えば、（マルチピクセル型）ＳＰＡＤ３３ａと、時間デジタル変換器３３ｂと、積分回路／変換器３３ｃと、ルックアップテーブル参照回路３３ｄと、タイミング補正回路３３ｅとを備えている。補正装置３３の構成等は第２の実施形態における補正装置２３と同様とされている。

距離算出回路３４は、距離算出回路２４と同様に測距対象物ＭＴまでの距離を演算により算出する回路である。距離算出回路３４は、例えば、タイミング補正回路３３ｅから供給される時間差信号ｔ６ｓに光速を乗算することで往復距離を得、往復距離を２で除算することにより測距対象物ＭＴまでの距離を算出する。

「測距装置の動作例」
測距装置３０は、第２の実施形態におけるフォトダイオード２２の代わりに、駆動回路３１ｂから駆動タイミングに同期したパルス信号を取り出して、このパルス信号を発光タイミング検出のための参照信号（以下適宜、参照パルスと称する）とする。以下、測距装置３０の具体的な動作例について説明する。

駆動回路３１ｂの動作に伴ってパルス光源３１からパルス光が出射される。また、駆動回路３１ｂの駆動タイミングに同期して参照パルスが出力され、当該参照パルスが駆動回路３１ｂから補正装置３３の時間デジタル変換器３３ｂに入力される。時間デジタル変換器３３ｂは、参照パルスが入力されたタイミングｔ３１を記憶する。

パルス光源３１から出射されたパルス光が測距対象物ＭＴにより反射され、反射パルス光ＲＰとして補正装置３３のＳＰＡＤ３３ａに入力される。ＳＰＡＤ３３ａが反射パルス光ＲＰを受光すると、ＳＰＡＤ３３ａからＳＰＡＤ出力信号ｓ３３が出力される。ＳＰＡＤ出力信号ｓ３３が時間デジタル変換器３３ｂに入力される。時間デジタル変換器３３ｂは、リーディングエッジ検出方式によりＳＰＡＤ３３ａが反射パルス光ＲＰを受光したタイミングｔ３３を取得する。そして、時間デジタル変換器３３ｂは、記憶しているタイミングｔ３１とタイミングｔ３３の時間差である時間差信号ｔ５ｓ（＝ｔ３３−ｔ３１）を取得する。なお、時間差信号ｔ５ｓは、半導体レーザ３１ａから出射されたパルス光の飛行時間（但し、補正前の飛行時間）に対応する。

一方、ＳＰＡＤ３３ａから出力されたＳＰＡＤ出力信号ｓ３３は、積分回路／変換器３３ｃにも入力される。積分回路／変換器３３ｃは、ＳＰＡＤ出力信号ｓ３３を積分回路で積分して積分値を得、当該積分値に基づいて光子数ＰＮを求める。そして、積分回路／変換器３３ｃは、ＡＤ変換器を使用して光子数ＰＮを示すデジタル形式の光子数信号ＰＮｓ生成し、ルックアップテーブル参照回路３３ｄに出力する。

ルックアップテーブル参照回路３３ｄは、ルックアップテーブルを参照して光子数ＰＮに対応するずれ量Ｍを取得する。ルックアップテーブル参照回路３３ｄは、ずれ量Ｍを示す信号Ｍｓをタイミング補正回路３３ｅに出力する。タイミング補正回路３３ｅは、ずれ量Ｍに基づいて時間差信号ｔ５ｓを補正する。例えば、タイミング補正回路３３ｅは、時間差信号ｔ５ｓからずれ量Ｍの分を減算することにより補正を行い、パルス光の正確な飛行時間に対応する時間差信号ｔ６ｓを取得する。そして、タイミング補正回路３３ｅは、時間差信号ｔ６ｓを距離算出回路３４に出力する。

距離算出回路３４は、時間差信号ｔ６ｓに光速を乗算し、その結果を２で除算することで測距対象物ＭＴまでの距離を算出する。以上、説明したように、本開示の補正装置は、測距装置に適用することも可能である。さらに、第３の実施形態によれば、フォトダイオードおよび光分岐用のハーフミラーを省略できるので光学系を簡素化でき、測距装置を小型化することができる。なお、第１、第２の実施形態で説明した変形例は、第３の実施形態に適用することも可能である。

＜第４の実施形態＞
次に、第４の実施形態について説明する。なお、以下の説明において同一の名称、符号については、特に断らない限り同一もしくは同質の部材を示しており、重複する説明を適宜省略する。また、第１−３の実施形態で説明した事項は、特に断らない限り第４の実施形態に適用することができる。

第４の実施形態では、パルス光に対して複数の異なる閾値を設定して光子数を検出するようにしている。この点について図１２および図１３を参照して説明する。図１２において、横軸は時間を示し、縦軸はパルス光（例えば、反射パルス光ＲＰ）の信号強度（電圧レベル）を示している。図１２では、２つのパルス光の波形ＷＡ３、ＷＡ４が示されており、それぞれのパルス光のピーク電圧Ｖｐ１、Ｖｐ２（但し、Ｖｐ１＞Ｖｐ２）である。すなわち、波形ＷＡ３により示されるパルス光の光強度が波形ＷＡ４により示されるパルス光の光強度より大きいことになる。

図１２に示すように、電圧の閾値として２個の閾値Ｖｔｈ１、Ｖｔｈ２（但し、Ｖｔｈ２＞Ｖｔｈ１）が設定されている。ここで、波形ＷＡ３の電圧レベルが閾値Ｖｔｈ１を上回るタイミングをタイミングｔ１ａとし、閾値Ｖｔｈ２を上回るタイミングをタイミングｔ２ａとし、両者の差（ｔ２ａ−ｔ１ａ）をΔｔ１とする。一方、波形ＷＡ４の電圧レベルが閾値Ｖｔｈ１を上回るタイミングをタイミングｔ１ｂとし、閾値Ｖｔｈ２を上回るタイミングをタイミングｔ２ｂとし、両者の差（ｔ２ｂ−ｔ１ｂ）をΔｔ２とする。なお、Δｔ１やΔｔ２を以下の説明において適宜、検出時間差と称する。パルス光の光強度が小さい場合には閾値Ｖｔｈ１、Ｖｔｈ２のそれぞれに達したタイミングの差が大きくなる。例えば、Δｔ２がΔｔ１より大きくなる。

この特徴を利用して、検出時間差に対応する検出光子数が記述されたルックアップテーブルを用意することで、検出時間差に応じてパルス光に含まれる光子数を取得することが可能となる。図１３は、検出時間差に対応した光子数が記述されたルックアップテーブルの例を示している。図１３に示されるように、ルックアップテーブルには、検出時間差が大きくなるほど、対応する光子数が小さくなる関係が記述されている。なお、実際の回路ではタイミングの計測値ノイズがのることもあるが、最近傍の理論値に丸めることにより整数単位の光子数を求めることができる。

「測距装置の構成例」
次に、第４の実施形態における、本開示における補正装置を適用した測距装置について説明する。図１４は、第４の実施形態における測距装置４０の構成例を示すブロック図である。測距装置４０は、例えば、パルス光源４１と、第４の実施形態における補正装置４３と、距離算出回路４４とを備えている。

パルス光源４１は、例えば、半導体レーザ４１ａと、駆動回路４１ｂとを備えている。例えば、所定の周期でもって駆動回路４１ｂが動作することにより、半導体レーザ４１ａからレーザパルス光が間欠的に出射される。なお、半導体レーザ４１ａから出射されたパルス光は、測距対象物ＭＴに照射、反射された後、反射パルス光ＲＰとして補正装置４３に入力されるように構成されている。

補正装置４３は、例えば、（マルチピクセル型）ＳＰＡＤ４３ａと、第１の時間デジタル変換器４３ｂと、第２の時間デジタル変換器４３ｃと、ルックアップテーブル参照回路４３ｄと、タイミング補正回路４３ｅと、閾値設定回路４３ｆとを備えている。

距離算出回路４４は、測距対象物ＭＴまでの距離を演算により算出する回路である。距離算出回路４４は、例えば、タイミング補正回路４３ｅから供給される時間差信号ｔ８ｓに光速を乗算することで往復距離を得、往復距離を２で除算することにより測距対象物ＭＴまでの距離を算出する。

補正装置４３の構成例について説明する。ＳＰＡＤ４３ａは、測距対象物ＭＴにより反射された反射パルス光ＲＰを受光するように構成されている。反射パルス光ＲＰの受光に伴ってＳＰＡＤ４３ａからはＳＰＡＤ出力信号ｓ４３が出力され、ＳＰＡＤ出力信号ｓ４３が時間デジタル変換器４３ｂ，４３ｃのそれぞれに入力される。

時間デジタル変換器４３ｂは、ＳＰＡＤ出力信号ｓ４３のレベルが閾値Ｖｔｈ１を上回るタイミングｔ４３ａを計測する。この時間デジタル変換器４３ｂには、駆動回路４１ｂの駆動タイミングに同期した参照パルスが入力される。

時間デジタル変換器４３ｃは、ＳＰＡＤ出力信号ｓ４３のレベルが閾値Ｖｔｈ２を上回るタイミングｔ４３ｂを計測する。

ルックアップテーブル参照回路４３ｄは、ルックアップテーブルを参照し、タイミングｔ４３ａとタイミングｔ４３ｂとの差分に基づいて光子数を得る回路である。ルックアップテーブル参照回路４３ｄにより参照されるルックアップテーブルには、検出時間差に対応する光子数が記述されている。また、ルックアップテーブル参照回路４３ｄは、光子数とずれ量が記述されたルックアップテーブルも記憶している。

タイミング補正回路４３ｅは、光子数に基づいてタイミングを補正した後、補正後の時間差信号ｔ８ｓを距離算出回路４４に出力する回路である。

「測距装置の動作例」
次に、測距装置４０の動作例について説明する。駆動回路４１ｂの動作に伴ってパルス光源４１からパルス光が出射される。駆動回路４１ｂの駆動タイミングに同期して参照パルスが出力され、当該参照パルスが駆動回路４１ｂから補正装置４３の時間デジタル変換器４３ｂに入力される。時間デジタル変換器４３ｂは、参照パルスが入力されたタイミングｔ４１を記憶する。

パルス光源４１から出射されたパルス光が測距対象物ＭＴにより反射され、反射パルス光ＲＰとして補正装置４３のＳＰＡＤ４３ａに入力される。ＳＰＡＤ４３ａが反射パルス光ＲＰを受光すると、ＳＰＡＤ４３ａからＳＰＡＤ出力信号ｓ４３が出力される。ＳＰＡＤ出力信号ｓ４３が時間デジタル変換器４３ｂ，４３ｃのそれぞれに入力される。なお、時間デジタル変換器４３ｂ，４３ｃには、閾値設定回路４３ｆから閾値Ｖｔｈ１、Ｖｔｈ２がそれぞれ入力される。

時間デジタル変換器４３ｂは、ＳＰＡＤ出力信号ｓ４３が閾値Ｖｔｈ１を上回るタイミングｔ４３ａを取得する。そして、時間デジタル変換器４３ｂは、タイミングｔ４３ａを示すデジタル形式のタイミング信号を生成し、当該タイミング信号をルックアップテーブル参照回路４３ｄに出力する。さらに、時間デジタル変換器４３ｂは、記憶しているタイミングｔ４１とタイミングｔ４３の時間差である時間差信号ｔ７ｓ（＝ｔ４３−ｔ４１）を取得し、この時間差信号ｔ７ｓをタイミング補正回路４３ｅに供給する。

時間デジタル変換器４３ｃは、ＳＰＡＤ出力信号ｓ４３が閾値Ｖｔｈ２を上回るタイミングｔ４３ｂを取得する。そして、時間デジタル変換器４３ｂは、タイミングｔ４３ｂを示すデジタル形式のタイミング信号を生成し、当該タイミング信号をルックアップテーブル参照回路４３ｄに出力する。

ルックアップテーブル参照回路４３ｄは、タイミングｔ４３ａとタイミングｔ４３ｂとの差分（ｔ４３ｂ−ｔ４３ａ）である検出時間差を求め、ルックアップテーブルを参照して、検出時間差に対応する光子数ＰＮを取得する。そして、ルックアップテーブル参照回路４３ｄは、同一または異なるルックアップテーブルを参照して、第２の実施形態等と同様にして光子数ＰＮに対応するずれ量Ｍを取得する。ルックアップテーブル参照回路４３ｄは、ずれ量Ｍを示す信号Ｍｓをタイミング補正回路４３ｅに出力する。タイミング補正回路４３ｅは、ずれ量Ｍに基づいて時間差信号ｔ７ｓを補正する。例えば、タイミング補正回路４３ｅは、時間差信号ｔ７ｓからずれ量Ｍの分を減算することにより補正を行い、パルス光の正確な飛行時間に対応する時間差信号ｔ８ｓを取得する。そして、タイミング補正回路４３ｅは、時間差信号ｔ８ｓを距離算出回路４４に出力する。

距離算出回路４４は、時間差信号ｔ８ｓに光速を乗算し、その結果を２で除算することで測距対象物ＭＴまでの距離を算出する。第４の実施形態によれば、積分回路やピークホールド回路を使用することなくパルス光の光子数を取得することができる。

＜第５の実施形態＞
次に、第５の実施形態について説明する。なお、以下の説明において同一の名称、符号については、特に断らない限り同一もしくは同質の部材を示しており、重複する説明を適宜省略する。また、第１−４の実施形態で説明した事項は、特に断らない限り第５の実施形態に適用することができる。

上述した各実施形態では、光子数そのものを光子数に対応する情報の一例として説明した。第５の実施形態では、光子数に対応する情報の他の例として、ＳＰＡＤ１２等の離散化出力型光検出器３から出力される信号のピーク電圧（ピーク値）を挙げて説明する。

「補正装置の構成例」
図１５は、第５の実施形態における補正装置５０の構成例を示すブロック図である。図４を用いて説明した補正装置１０と異なる点は、補正装置５０が、積分回路／変換器１４に代えてピーク電圧検出回路５１およびリセットパルス供給回路５２を備えている点である。ピーク電圧検出回路５１は、ＳＰＡＤ１２から出力されるＳＰＡＤ出力信号ｓ１１のピーク電圧を検出する回路であり、リセットパルス供給回路５２は、ピーク電圧検出回路５１に対するリセットパルスを与えるための回路である。リセットパルス供給回路５２は、内蔵または外部のクロック発生器（図示を省略している）から供給される一定周期のクロックパルスに基づいてリセットパルスを出力する。なお、第５の実施形態におけるルックアップテーブル参照回路１５が有するルックアップテーブルには、ＳＰＡＤ出力信号ｓ１１のピーク値に対応するずれ量が記述されているものとする。

「ピーク電圧検出回路の構成例」
図１６、図１７を参照して、ピーク電圧検出回路５１の構成例について説明する。図１６は、ピーク電圧検出回路５１の構成例を説明するためのブロック図であり、図１７は、ピーク電圧検出回路５１のより詳細な構成例を説明するための図である。なお、図１７では、説明に必要な箇所のみを図示している。

ピーク電圧検出回路５１は、複数の比較器５１１₁、５１１₂・・５１１_nと、複数のラッチ回路５１２₁、５１２₂・・５１２_nと、エンコーダ５１３とを備えている。なお、ｎは任意の整数であり、個々の比較器を区別する必要がない場合は、単に比較器５１１と称し、個々のラッチ回路を区別する必要がない場合は、単にラッチ回路５１２と称する。なお、以下の説明では比較器５１１およびラッチ回路５１２の個数を５個として説明するが、エンコーダ５１３からｎビットのデジタル信号が出力される場合には（２ⁿ−１）個の比較器５１１およびラッチ回路５１２が使用される。

比較器５１１のそれぞれに、異なる閾値が設定されている。例えば、図１８に示すように、ＳＰＡＤ出力信号ｓ１１に対して閾値Ｖｔｈ１０、Ｖｔｈ２０・・Ｖｔｈ５０（但し、Ｖｔｈ１０＜Ｖｔｈ２０＜・・＜Ｖｔｈ５０）が設定されている。これらの閾値は、図１７に示すように、例えば基準電圧Ｖｃｃを６個の抵抗Ｒ１０、Ｒ２０・・Ｒ６０で分圧することにより得られる。なお、エンコーダ５１３からｎビットのデジタル信号が出力される場合には２ⁿ個の抵抗が使用される。

抵抗分圧により得られた閾値が比較器５１１の一方の入力端子に入力され、他方の入力端子にＳＰＡＤ出力信号ｓ１１が入力される。比較器５１１は、ＳＰＡＤ出力信号ｓ１１の電圧（レベル）と閾値とを比較し、比較結果を出力する。例えば、比較器５１１₁は、ＳＰＡＤ出力信号ｓ１１の電圧が閾値Ｖｔｈ１０以下の場合にはＬ(Low)レベルの信号を出力し、ＳＰＡＤ出力信号ｓ１１の電圧が閾値Ｖｔｈ１０より大きい場合にはＨ(High)レベルの信号を出力する。他の比較器５１１についても同様である。比較器５１１による比較処理は、並列的に且つ高速に行われる。

ラッチ回路５１２は、比較器５１１による比較結果を保持するとともに比較結果をエンコーダ５１３に出力する。ラッチ回路５１２は、例えば、ＲＳフリップフロップ回路により構成することができる。ラッチ回路５１２に対して、リセットパルス供給回路５２からリセットパルスが供給されるように構成されている。

エンコーダ５１３は、各ラッチ回路５１２の出力に基づいてＳＰＡＤ出力信号ｓ１１のピーク電圧ＰＶを判断し、ピーク電圧ＰＶ示すデジタル形式のピーク電圧信号ＰＶｓを生成し、出力する。

「ピーク電圧検出回路等の動作例」
ピーク電圧検出回路５１およびリセットパルス供給回路５２の動作例について図１９を参照して説明する。図１９には、サンプリング周期と、ラッチ回路５１２がリセットするタイミングとが示されている。また、図１９には、サンプリング周期等に対応するグラフが示されている。グラフの横軸は時間の経過を示し、縦軸はＳＰＡＤ出力信号ｓ１１の信号強度（電圧）を示している。グラフの縦軸には比較器５１１の閾値が示されており、比較器５１１の出力が各閾値に対応付けられて示されている。さらに、グラフには、光強度の大きい反射光を受光した場合のＳＰＡＤ１２の出力信号（以下、ＳＰＡＤ出力信号ｓ１１ａと称する）と、光強度の小さい反射光を受光した場合のＳＰＡＤ１２の出力信号（以下、ＳＰＡＤ出力信号ｓ１１ｂと称する）とが対比的に示されている。

例えば、所定の周期で発生するクロックパルスに応じてリセットパルス供給回路５２がリセットパルスを出力する。例えば、クロックパルスＣＰＬ１に応じて、リセットパルス供給回路５２がリセットパルスＲＰＬ１を出力する。このリセットパルスＲＰＬ１が各ラッチ回路５１２に供給され、ラッチ回路５１２がリセットされる（ラッチ回路５１２の出力がＬレベルとなる）。

そして、ＳＰＡＤ出力信号ｓ１１ａが各比較器５１１に入力され、比較処理が行われる。この例では、ＳＰＡＤ出力信号ｓ１１ａの電圧が閾値Ｖｔｈ４０より大きく閾値Ｖｔｈ５０より小さいものとして説明する。ＳＰＡＤ出力信号ｓ１１ａの電圧が閾値より大きい比較結果が得られた比較器５１１（この場合は、比較器５１１₁、５１１₂、５１１₃、５１１₄）は、Ｈレベルの信号を出力する。ラッチ回路５１２₁、５１２₂、５１２₃、５１２₄は、Ｈレベルを保持するとともにそのレベルの信号をエンコーダ５１３に出力する。ＳＰＡＤ出力信号ｓ１１ａの電圧が閾値以下の比較結果が得られた比較器５１１（この場合は、比較器５１１₅）は、信号のレベルが変わらないＬレベルの信号を出力する。ラッチ回路５１２₅は、Ｌレベルを保持するとともにそのレベルの信号をエンコーダ５１３に出力する。

エンコーダ５１３は、ラッチ回路５１２の出力に基づいて、ＳＰＡＤ出力信号ｓ１１ａのピーク電圧ＰＶを判断する。この例では、ラッチ回路５１２₄までの出力がＨレベルであることから、エンコーダ５１３は、ＳＰＡＤ出力信号ｓ１１ａのピーク電圧ＰＶが閾値Ｖｔｈ４０であると判断する。そして、エンコーダ５１３は、ピーク電圧ＰＶを示すデジタル形式のピーク電圧信号ＰＶｓを出力する。

次のクロックパルスＣＰＬ２に応じて、リセットパルス供給回路５２がリセットパルスＲＰＬ２を出力する。このリセットパルスＲＰＬ２が各ラッチ回路５１２に供給され、ラッチ回路５１２がリセットされる（全てのラッチ回路５１２の出力がＬレベルとなる）。

そして、ＳＰＡＤ出力信号ｓ１１ｂが各比較器５１１に入力され、比較処理が行われる。この例では、ＳＰＡＤ出力信号ｓ１１ｂの電圧が閾値Ｖｔｈ２０より大きく閾値Ｖｔｈ３０より小さいものとして説明する。ＳＰＡＤ出力信号ｓ１１ｂの電圧が閾値より大きい比較結果が得られた比較器５１１（この場合は、比較器５１１₁、５１１₂）は、Ｈレベルの信号を出力する。ラッチ回路５１２₁、５１２₂は、Ｈレベルを保持するとともにそのレベルの信号をエンコーダ５１３に出力する。ＳＰＡＤ出力信号ｓ１１ｂの電圧が閾値以下の比較結果が得られた比較器５１１（この場合は、比較器５１１₃、５１１₄、５１１₅）は、信号のレベルが変わらないＬレベルの信号を出力する。ラッチ回路５１２₃、５１２₄、５１２₅は、Ｌレベルを保持するとともにそのレベルの信号をエンコーダ５１３に出力する。

エンコーダ５１３は、ラッチ回路５１２の出力に基づいて、ＳＰＡＤ出力信号ｓ１１ｂのピーク電圧ＰＶを判断する。この例では、ラッチ回路５１２₂までの出力がＨレベルであることから、エンコーダ５１３は、ＳＰＡＤ出力信号ｓ１１ｂのピーク電圧ＰＶが閾値Ｖｔｈ２０であると判断する。そして、エンコーダ５１３は、ピーク電圧ＰＶを示すデジタル形式のピーク電圧信号ＰＶｓを出力する。以上のようにして、ピーク電圧検出回路５１からＳＰＡＤ出力信号ｓ１１のピーク電圧ＰＶを判断し、ピーク電圧ＰＶを示すピーク電圧信号ＰＶｓを出力することができる。

「補正装置の動作例」
第５の実施形態における補正装置５０の動作例について説明する。パルス光源１１から出射されたパルス光が測距対象物により反射され、反射パルス光ＲＰとしてＳＰＡＤ１２により入力される。反射パルス光ＲＰを受光するのに伴ってＳＰＡＤ１２からＳＰＡＤ出力信号ｓ１１が出力される。ＳＰＡＤ１２から出力されたＳＰＡＤ出力信号ｓ１１は分岐され、その一方がピーク電圧検出回路５１に入力される。

ピーク電圧検出回路５１は、リセットパルス供給回路５２から供給されるリセットパルスに応じた動作をし、ＳＰＡＤ出力信号ｓ１１のピーク電圧ＰＶを検出する。そして、ピーク電圧検出回路５１は、ピーク電圧ＰＶを示すデジタル形式のピーク電圧信号ＰＶｓをルックアップテーブル参照回路１５に出力する。

ルックアップテーブル参照回路１５は、ルックアップテーブルを参照してピーク電圧ＰＶに対応するずれ量Ｍを取得する。なお冒頭で説明したように、反射光の光強度が大きい場合にはＳＰＡＤ出力信号ｓ１１のレベルが一定以上になるまでの時間（遅延）が少ないため、ピーク電圧ＰＶが大きい場合には、対応するずれ量Ｍは小さいものとなる。反対に反射光の光強度が小さい場合にはＳＰＡＤ出力信号ｓ１１のレベルが一定以上になるまでの時間（遅延）が大きいため、ピーク電圧ＰＶが小さい場合には、対応するずれ量Ｍは大きいのとなる。

ルックアップテーブル参照回路１５は、ずれ量Ｍを示す信号Ｍｓをタイミング補正回路１６に出力する。タイミング補正回路１６は、ずれ量Ｍに基づいてタイミングｔ１を補正することで補正後のタイミングｔ２を取得し、当該タイミングｔ２を示すタイミング信号ｔ２ｓを出力する。なお、時間デジタル変換器１３の動作については、第１の実施形態と同様であるので重複した説明を省略する。

「第５の実施形態の変形例」
第５の実施形態にかかる構成は、測距装置に対しても適用することができる。図２０は、第２の実施形態で説明した測距装置２０に第５の実施形態にかかる構成を適用した測距装置（測距装置６０）の構成例を示すブロック図である。測距装置６０は、積分回路／変換器２３ｃに代えてピーク電圧検出回路５１を備え、また、リセットパルス供給回路５２を備えている。リセットパルス供給回路５２は、パルス光源２１における駆動回路２１ｂの動作タイミングに同期してリセットパルスを出力する。すなわち、リセットパルス供給回路５２は、パルス光源２１の発光タイミングに同期するリセットパルスを出力する。このリセットパルスがピーク電圧検出回路５１のラッチ回路５１２に供給され、ラッチ回路５１２がリセットされる。

その他の点については、第２、第５の実施形態で説明した内容と同様であるので、概略的な説明に留める。パルス光源２１からパルス光が出射され、測距対象物ＭＴにより反射された光が反射パルス光ＲＰとして補正装置２３のＳＰＡＤ２３ａに入力される。ＳＰＡＤ２３ａが反射パルス光ＲＰを受光すると、ＳＰＡＤ２３ａからＳＰＡＤ出力信号ｓ２３が出力される。ＳＰＡＤ出力信号ｓ２３がピーク電圧検出回路５１に入力される。ピーク電圧検出回路５１は、リセットパルス供給回路５２から供給されるリセットパルスに基づいて動作し、ＳＰＡＤ出力信号ｓ１１のピーク電圧ＰＶを検出する。そして、ピーク電圧検出回路５１は、ピーク電圧ＰＶを示すデジタル形式のピーク電圧信号ＰＶｓをルックアップテーブル参照回路２３ｄに出力する。ルックアップテーブル参照回路２３ｄは、ルックアップテーブルを参照してピーク電圧ＰＶに対応するずれ量Ｍを取得する。そして、タイミング補正回路２３ｅによりずれ量Ｍに応じた補正がなされた後、補正結果を使用して距離算出回路２４により測距対象物ＭＴまでの距離が算出される。

図２１は、第３の実施形態で説明した測距装置３０に第５の実施形態にかかる構成を適用した測距装置（測距装置７０）の構成例を示すブロック図である。上述した変形例と同様に、測距装置７０は、積分回路／変換器３３ｃに代えてピーク電圧検出回路５１を備え、また、リセットパルス供給回路５２を備えている。動作等については上述した変形例と同様であるので、重複した説明は省略する。

なお、第５の実施形態において、ピーク電圧検出回路５１が光子数を計数する機能を有していてもよく、ピーク電圧検出回路５１がピーク値に対応する光子数ＰＮを得るようにしてもよい。そして、第１の実施形態等で説明した動作と同様にして、得られた光子数ＰＮに応じたずれ量Ｍを使用した補正がなされ、測距対象物までの距離が算出されるようにしてもよい。

＜変形例＞
以上、本開示の複数の実施形態について具体的に説明したが、本開示の内容は上述した実施形態に限定されるものではなく、本開示の技術的思想に基づく各種の変形が可能である。以下、変形例について説明する。

上述した実施形態では、離散化出力型光検出器３の一例としてＳＰＡＤを使用したが、これに限定されるものではない。例えば、出力を離散化して把握できる他の素子を使用してもよいし、フォトダイオード等の連続的な出力特性を持つ素子を使用してもよい。このような素子を使用したシステムに本技術を適用することにより、高速パルス（短パルス幅）の信号のピーク値を簡便且つ高精度に計測することができ、高い補正精度を得ることができる。

なお、例えば第５の実施形態では、離散化出力型光検出器３としてフォトダイオード等の連続的な出力特性を持つ素子で構成してもよいものの、ピーク電圧を検出する精度を向上させるために比較器５１１の数を多く設ける必要がある。離散化出力型光検出器３として出力特性が離散化して把握できるＳＰＡＤ等の素子を使用することにより、離散的な出力に合わせて閾値を設定すればよく、比較器５１１等の数を少なくすることができるという利点が得られる。

ＳＰＡＤの構成（受光素子１２２の接続態様や接続数等）は適宜、変更できる。クエンチング抵抗１２２ｂは、抵抗に限らずトランジスタ等の他の回路素子でもよい。

タイミング計測回路４は、時間デジタル変換器に限定されることはない。例えば、所定の波形の減衰波形と、当該所定の波形を遅延反転させた波形とを足し合わせてゼロクロス点を検出するＣＦＤ(Constant Fraction Discriminator)等を使用してもよい。

ずれ量算出回路６は、ルックアップテーブル参照回路に限定されることはなく、所定の演算処理により光子数からずれ量を求める回路等であってもよい。

上述した補正装置または測距装置は、説明した全ての構成を備える必要はなく、任意の構成を追加、削除してもよいし、ある構成要素の機能を他の構成要素の機能に統合することも可能である。例えば、補正装置は、パルス光源やＳＰＡＤを備えない構成でもよく、距離算出回路を含む構成であってもよい。また、測距装置は、パルス光源やＳＰＡＤを備えない構成でもよい。さらに、補正装置や測距装置がＳＰＡＤ出力信号を増幅する増幅回路等を追加的に備える構成でもよい。

上述した第２の実施形態等では、ずれ量Ｍに基づいて反射パルス光ＲＰの飛行時間を補正したが、ずれ量Ｍに基づいてＳＰＡＤ１２が反射パルス光ＲＰを受光したタイミング（反射パルス光ＲＰのレベルが閾値を上回るタイミング）を補正してもよい。そして、補正後のタイミングと発光タイミングとの差分を求めることにより反射パルス光ＲＰの飛行時間を求めてもよい。

上述した第４の実施形態において、時間デジタル変換器４３ｂ、４３ｃのそれぞれに閾値Ｖｔｈ１、Ｖｔｈ２が予め設定されていれば、閾値設定回路４３ｆはなくてもよい。また、補正装置４３は、必ずしも測距装置４０に組み込まれて使用される必要はない。

上述した各実施形態において、構成間の電気的な接続関係は、ケーブル等を使用した有線による接続でもよく、所定の通信規格に基づく無線通信でもよい。

本開示の補正装置は、測距装置の他にも測距装置が組み込まれる機器（例えば、プロジェクタ装置、ゲーム機器、撮像装置等の各種の電子機器や、歩行者や障害物等までの距離を検知し、距離に応じてブレーキを作動させる安全装置、このような安全装置が使用され得る自動車、電車、飛行機、ヘリコプター、小型飛行体等の移動体、ロボット、防犯装置等）にも適用可能である。また、測距装置に限らず、正確な光子数の検出が必要とされる機器に対しても適用可能である。

本開示は、例えば、上述の実施形態において挙げた構成、方法、工程、形状、材料および数値などはあくまでも例に過ぎず、必要に応じてこれと異なる構成、方法、工程、形状、材料および数値などを用いてもよい。また、本開示は、装置、方法、複数の装置からなるシステム等により実現することができ、複数の実施形態および変形例で説明した事項は、技術的な矛盾が生じない限り相互に組み合わせることができる。

なお、本開示は、以下のような構成も取ることができる。
（１）
受光部から出力される出力信号に基づいて光子数に対応した情報を取得する取得部と、
前記情報に対応する補正値を取得する補正値取得部と、
前記補正値に基づく補正を行う補正部と
を備える補正装置。
（２）
前記取得部は、前記出力信号に基づいて光子数を計数する光子数計数部であり、
前記補正値取得部は、前記光子数に対応する補正値を取得する
（１）に記載の補正装置。
（３）
前記光子数計数部は、前記出力信号を積分する積分回路を備え、
前記積分回路による積分値に応じて前記光子数を計数するように構成された
（２）に記載の補正装置。
（４）
前記光子数計数部は、前記出力信号のレベルが第１の閾値を上回る第１のタイミングと前記出力信号のレベルが第２の閾値を上回る第２のタイミングとの時間差に応じて前記光子数を計数するように構成された
（２）に記載の補正装置。
（５）
前記光子数計数部は、前記光子数を示すデジタル形式の光子数信号を前記補正値取得部に出力するように構成された
（２）乃至（４）のいずれかに記載の補正装置。
（６）
前記補正値取得部は、前記光子数に対応した補正値が記述されたルックアップテーブルを備え、前記ルックアップテーブルを参照して前記光子数に対応した補正値を取得するように構成された
（２）乃至（５）のいずれかに記載の補正装置。
（７）
前記取得部は、前記出力信号のピーク電圧を検出し、検出したピーク電圧を出力するピーク電圧検出部である
（１）に記載の補正装置。
（８）
前記ピーク電圧検出部は、前記出力信号を複数の閾値と比較することにより前記ピーク電圧を検出する
（７）に記載の補正装置。
（９）
前記ピーク電圧検出部は、前記出力信号と所定の閾値とを比較する比較器と、比較結果を保持する保持部とをそれぞれ複数、備える
（８）に記載の補正装置。
（１０）
発光部の発光タイミングに同期するリセットパルスを前記複数の保持部のそれぞれに供給するリセットパルス供給部を備える
（９）に記載の補正装置。
（１１）
前記ピーク電圧検出部は、前記ピーク電圧に対応する光子数を取得し、
前記補正値取得部は、前記光子数に対応する補正値を取得する
（７）乃至（１０）のいずれかに記載の補正装置。
（１２）
前記補正部は、前記補正値に基づいて、前記受光部が光を受光したタイミングまたは前記光の飛行時間を補正するように構成された
（１）乃至（１１）のいずれかに記載の補正装置。
（１３）
前記出力信号のレベルが所定の閾値を上回るタイミングを計測する計測部を備える
（１）乃至（１２）のいずれかに記載の補正装置。
（１４）
前記受光部が受光する光の出力タイミングが入力される計測部を備え、
前記計測部は、前記出力タイミングと前記出力信号のレベルが所定の閾値を上回るタイミングとの差を計測するように構成された
（１）乃至（１２）のいずれかに記載の補正装置。
（１５）
前記受光部は、光を受けて出力する前記出力信号のピーク値または積分値の度数分布が光子数に対応して複数の極大値を持つものである
（１）乃至（１４）のいずれかに記載の補正装置。
（１６）
前記受光部は、アバランシェフォトダイオードと前記アバランシェフォトダイオードに直列に接続される抵抗とを備える受光素子が複数接続されて成る
（１５）に記載の補正装置。
（１７）
前記受光部を備える
（１）乃至（１６）のいずれかに記載の補正装置。
（１８）
取得部が、受光部から出力される出力信号に基づいて光子数に対応した情報を取得し、
補正値取得部が、前記情報に対応する補正値を取得し、
補正部が、前記補正値に基づく補正を行う
補正方法。
（１９）
受光部から出力される出力信号に基づいて光子数に対応した情報を取得する取得部と、
前記情報に対応する補正値を取得する補正値取得部と、
前記補正値に基づく補正を行う補正部と、
前記補正の結果を使用して、測距対象物までの距離を算出する距離算出部と
を備える測距装置。
（２０）
前記補正部は、前記補正値に基づいて、前記受光部が光を受光したタイミングまたは前記光の飛行時間を補正するように構成された
（１９）に記載の測距装置。

１，１０，２３，３３，５０・・・補正装置
３・・・離散化出力型光検出器
４・・・タイミング計測回路
５・・・光子数計数回路
６・・・ずれ量算出回路
７，１６，２３ｅ，３３ｅ，４３ｅ・・・タイミング補正回路
１２，２３ａ，３３ａ，４３ａ・・・マルチピクセル型ＳＰＡＤ
１３，２３ｂ，３３ｂ，４３ｂ，４３ｃ・・・時間デジタル変換器
１４，２３ｃ，３３ｃ・・・積分回路／変換器
１５，２３ｄ，３３ｄ，４３ｄ・・・ルックアップテーブル参照回路
２０，３０，４０，６０，７０・・・測距装置
５１・・・ピーク電圧検出回路
５２・・・リセットパルス供給回路
ＲＰ・・・反射パルス光
ＭＴ・・・測距対象物

Claims (20)

1. 受光部から出力される出力信号に基づいて光子数に対応した情報を取得する取得部と、
   前記情報に対応する補正値を取得する補正値取得部と、
   前記補正値に基づく補正を行う補正部と
   を備える補正装置。
2. 前記取得部は、前記出力信号に基づいて光子数を計数する光子数計数部であり、
   前記補正値取得部は、前記光子数に対応する補正値を取得する
   請求項１に記載の補正装置。
3. 前記光子数計数部は、前記出力信号を積分する積分回路を備え、
   前記積分回路による積分値に応じて前記光子数を計数するように構成された
   請求項２に記載の補正装置。
4. 前記光子数計数部は、前記出力信号のレベルが第１の閾値を上回る第１のタイミングと前記出力信号のレベルが第２の閾値を上回る第２のタイミングとの時間差に応じて前記光子数を計数するように構成された
   請求項２に記載の補正装置。
5. 前記光子数計数部は、前記光子数を示すデジタル形式の光子数信号を前記補正値取得部に出力するように構成された
   請求項２に記載の補正装置。
6. 前記補正値取得部は、前記光子数に対応した補正値が記述されたルックアップテーブルを備え、前記ルックアップテーブルを参照して前記光子数に対応した補正値を取得するように構成された
   請求項２に記載の補正装置。
7. 前記取得部は、前記出力信号のピーク電圧を検出し、検出したピーク電圧を出力するピーク電圧検出部である
   請求項１に記載の補正装置。
8. 前記ピーク電圧検出部は、前記出力信号を複数の閾値と比較することにより前記ピーク電圧を検出する
   請求項７に記載の補正装置。
9. 前記ピーク電圧検出部は、前記出力信号と所定の閾値とを比較する比較器と、比較結果を保持する保持部とをそれぞれ複数、備える
   請求項８に記載の補正装置。
10. 発光部の発光タイミングに同期するリセットパルスを前記複数の保持部のそれぞれに供給するリセットパルス供給部を備える
    請求項９に記載の補正装置。
11. 前記ピーク電圧検出部は、前記ピーク電圧に対応する光子数を取得し、
    前記補正値取得部は、前記光子数に対応する補正値を取得する
    請求項７に記載の補正装置。
12. 前記補正部は、前記補正値に基づいて、前記受光部が光を受光したタイミングまたは前記光の飛行時間を補正するように構成された
    請求項１に記載の補正装置。
13. 前記出力信号のレベルが所定の閾値を上回るタイミングを計測する計測部を備える
    請求項１に記載の補正装置。
14. 前記受光部が受光する光の出力タイミングが入力される計測部を備え、
    前記計測部は、前記出力タイミングと前記出力信号のレベルが所定の閾値を上回るタイミングとの差を計測するように構成された
    請求項１に記載の補正装置。
15. 前記受光部は、光を受けて出力する前記出力信号のピーク値または積分値の度数分布が光子数に対応して複数の極大値を持つものである
    請求項１に記載の補正装置。
16. 前記受光部は、アバランシェフォトダイオードと前記アバランシェフォトダイオードに直列に接続される抵抗とを備える受光素子が複数接続されて成る
    請求項１５に記載の補正装置。
17. 前記受光部を備える
    請求項１に記載の補正装置。
18. 取得部が、受光部から出力される出力信号に基づいて光子数に対応した情報を取得し、
    補正値取得部が、前記情報に対応する補正値を取得し、
    補正部が、前記補正値に基づく補正を行う
    補正方法。
19. 受光部から出力される出力信号に基づいて光子数に対応した情報を取得する取得部と、
    前記情報に対応する補正値を取得する補正値取得部と、
    前記補正値に基づく補正を行う補正部と、
    前記補正の結果を使用して、測距対象物までの距離を算出する距離算出部と
    を備える測距装置。
20. 前記補正部は、前記補正値に基づいて、前記受光部が光を受光したタイミングまたは前記光の飛行時間を補正するように構成された
    請求項１９に記載の測距装置。

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