JP2016532154A5 - - Google Patents

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Families Citing this family (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102013012609B4 (de) * 2013-07-26 2024-06-27 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Optoelektronischer Detektor, insbesondere für hochauflösende Lichtrastermikroskope und Lichtrastermikroskop
DE102013015933A1 (de) * 2013-09-19 2015-03-19 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Hochauflösende Scanning-Mikroskopie
DE102013015932A1 (de) * 2013-09-19 2015-03-19 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Hochauflösende Scanning-Mikroskopie
DE102014111167A1 (de) 2014-08-06 2016-02-11 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Hochauflösende Scanning-Mikroskopie mit der Unterscheidung mindestens zweier Wellenlängenbereiche
DE102015100695B4 (de) * 2015-01-19 2024-10-31 Carl Zeiss Ag Optische Anordnung für ein Laser-Scanner-System
DE102015111702A1 (de) 2015-07-20 2017-01-26 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Hochauflösende, spektral selektive Scanning-Mikroskopie einer Probe
DE102015116435A1 (de) * 2015-09-29 2017-03-30 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Hochauflösende Scanning-Mikroskopie mit der Unterscheidung mindestens zweier Spektralbereiche
WO2017090210A1 (ja) * 2015-11-27 2017-06-01 株式会社ニコン 顕微鏡、観察方法、及び画像処理プログラム
DE102016119262B4 (de) * 2016-10-10 2018-06-07 MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Verfahren zum räumlich hochauflösenden Bestimmen des Orts eines vereinzelten, mit Anregungslicht zur Emission von Lumineszenzlicht anregbaren Moleküls in einer Probe
JP6784603B2 (ja) * 2017-01-05 2020-11-11 東レエンジニアリング株式会社 分光測定方法および分光測定装置
DE102017101829A1 (de) * 2017-01-31 2018-08-02 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Anordnung zur Auflösungssteigerung eines Laser-Scanning-Mikroskops
DE102017203414A1 (de) 2017-03-02 2018-09-06 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Detektorbaugruppe und Mikroskop mit einer solchen Detektorbaugruppe
DE102017113683A1 (de) 2017-06-21 2018-12-27 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Hochauflösende Scanning-Mikroskopie mit der Unterscheidung mindestens zweier Wellenlängenbereiche
DE102017116982B4 (de) * 2017-07-27 2025-06-26 Coretronic Corporation Leuchteinrichtung zum abgeben von licht
CN111226136B (zh) * 2017-10-30 2023-07-18 深圳帧观德芯科技有限公司 辐射检测器中的暗噪声补偿
DE102017128773A1 (de) 2017-12-04 2019-06-06 Leica Microsystems Cms Gmbh Detektoranordnung für die Mikroskopie
WO2019133837A1 (en) * 2017-12-28 2019-07-04 University Of Notre Dame Du Lac Super-resolution fluorescence microscopy by stepwise optical saturation
EP3518017B1 (de) * 2018-01-24 2020-06-17 Technische Universität Dresden Verfahren und faseroptisches system zur beleuchtung und detektion eines objekts mit licht
DE102018127281A1 (de) * 2018-10-31 2020-04-30 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop und Verfahren zur Mikroskopie
US10545099B1 (en) * 2018-11-07 2020-01-28 Kla-Tencor Corporation Ultra-high sensitivity hybrid inspection with full wafer coverage capability
DE102018128590A1 (de) * 2018-11-14 2020-05-14 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Fluktuationsbasierte Fluoreszenzmikroskopie
DE102019100184A1 (de) * 2019-01-07 2020-07-09 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Hochauflösende Scanning-Mikroskopie
DE102020120114A1 (de) * 2020-07-30 2022-02-03 Abberior Instruments Gmbh Detektionseinrichtung für ein Laserscanning-Mikroskop
US20220299711A1 (en) * 2020-09-22 2022-09-22 Google Llc Waveguide with regional anti-reflection coating
WO2023114213A1 (en) * 2021-12-13 2023-06-22 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Apparatus and method for multiplexed one-photon and nonlinear microscopy and method for biological tissue alignment
DE102023100926A1 (de) * 2023-01-17 2024-07-18 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop
EP4657133A1 (en) * 2024-05-29 2025-12-03 Leica Microsystems CMS GmbH An optical system for a microscope and a method for operating the microscope

Family Cites Families (33)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59214818A (ja) * 1983-05-21 1984-12-04 Fuji Photo Film Co Ltd 撮像装置
JPS62218823A (ja) * 1986-03-20 1987-09-26 Fujitsu Ltd 赤外線撮像装置
DE19908883A1 (de) 1999-03-02 2000-09-07 Rainer Heintzmann Verfahren zur Erhöhung der Auflösung optischer Abbildung
DE19951482C2 (de) 1999-10-26 2003-01-09 Zeiss Carl Jena Gmbh Fluoreszenzmikroskop
US7616986B2 (en) * 2001-05-07 2009-11-10 University Of Washington Optical fiber scanner for performing multimodal optical imaging
US7298461B2 (en) * 2001-10-09 2007-11-20 Ruprecht-Karls-Universitat Far field light microscopical method, system and computer program product for analysing at least one object having a subwavelength size
JP2003283906A (ja) * 2002-03-20 2003-10-03 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 高解像度撮像装置
US6953927B2 (en) * 2002-08-09 2005-10-11 California Institute Of Technology Method and system for scanning apertureless fluorescence microscope
DE102004034970A1 (de) * 2004-07-16 2006-02-02 Carl Zeiss Jena Gmbh Lichtrastermikroskop und Verwendung
EP2453239B1 (en) 2005-05-23 2017-04-26 Harald F. Hess Optical microscopy with transformable optical labels
US20070057211A1 (en) * 2005-05-25 2007-03-15 Karsten Bahlman Multifocal imaging systems and method
US7247842B1 (en) * 2005-07-12 2007-07-24 California Institute Of Technology Method and system for scanning apertureless fluorescence mircroscope
US7298476B2 (en) * 2005-10-14 2007-11-20 Laser Microtech, L.L.C. Method and system for far-field microscopy to exceeding diffraction-limit resolution
JP2009516568A (ja) * 2005-11-23 2009-04-23 ユニヴァーシティ オブ ワシントン 中断される走査共振を使用する可変順次フレーミングを用いたビームの走査
DE102006021317B3 (de) 2006-05-06 2007-10-11 MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Verfahren und Fluoreszenzlichtmikroskop zum räumlich hochauflösenden Abbilden einer Struktur einer Probe
CN101210969A (zh) * 2006-12-31 2008-07-02 中国科学院西安光学精密机械研究所 凝视型高分辨率三维成像探测器
US8275226B2 (en) * 2008-12-09 2012-09-25 Spectral Applied Research Ltd. Multi-mode fiber optically coupling a radiation source module to a multi-focal confocal microscope
JP5340799B2 (ja) * 2009-05-08 2013-11-13 オリンパス株式会社 レーザ走査型顕微鏡
JP5852305B2 (ja) * 2009-10-28 2016-02-03 カール ツァイス マイクロスコピー ゲーエムベーハーＣａｒｌ Ｚｅｉｓｓ Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｙ Ｇｍｂｈ 分解能の向上した顕微鏡法および顕微鏡
US20130126756A1 (en) * 2010-01-22 2013-05-23 Cornell University Fluorescence imaging apparatus and method
FR2959305B1 (fr) * 2010-04-26 2014-09-05 Nanotec Solution Dispositif optique et procede d'inspection d'objets structures.
TWI414817B (zh) * 2010-07-23 2013-11-11 Univ Nat Taipei Technology 線型彩色共焦顯微系統
CN202102170U (zh) * 2010-10-20 2012-01-04 中国科学院西安光学精密机械研究所 使用同心双锥面镜实现全内反射荧光显微的系统
DE102010060121C5 (de) * 2010-10-22 2023-09-28 Leica Microsystems Cms Gmbh SPIM-Mikroskop mit sequenziellem Lightsheet
CA2824447C (en) * 2010-12-24 2018-03-20 Huron Technologies International Inc. Pathology slide scanner
JP2012237647A (ja) * 2011-05-11 2012-12-06 Univ Of Tokyo 多焦点共焦点ラマン分光顕微鏡
JP2012242141A (ja) * 2011-05-16 2012-12-10 Olympus Corp 共焦点顕微鏡又は多光子顕微鏡の光学系を用いた光分析装置及び光分析方法
TWI434022B (zh) * 2011-11-29 2014-04-11 Univ Nat Taipei Technology 彩色共焦顯微系統及其訊號處理方法
DE102012204128B4 (de) * 2012-03-15 2023-11-16 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Hochauflösende Scanning-Mikroskopie
CN202563160U (zh) * 2012-04-11 2012-11-28 上海理工大学 一种同轴光路实现多路频分复用荧光共焦显微成像系统
US9575304B2 (en) * 2012-06-25 2017-02-21 Huron Technologies International Inc. Pathology slide scanners for fluorescence and brightfield imaging and method of operation
DE102013019347A1 (de) * 2013-08-15 2015-02-19 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Hochauflösende Scanning-Mikroskopie
DE102013218795A1 (de) * 2013-09-19 2015-03-19 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Laserscanningmikroskop und Verfahren zur Korrektur von Abbildungsfehlern insbesondere in der hochauflösenden Scanning-Mikroskopie

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