JP2016528146A - ガラス表面を処理する方法 - Google Patents
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- 239000011521 glass Substances 0.000 title claims abstract description 200
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 78
- 239000002253 acid Substances 0.000 claims abstract description 41
- 229910052500 inorganic mineral Inorganic materials 0.000 claims abstract description 37
- 239000011707 mineral Substances 0.000 claims abstract description 37
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 74
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 53
- -1 fluoride ions Chemical class 0.000 claims description 26
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N Nitric acid Chemical compound O[N+]([O-])=O GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910017604 nitric acid Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 abstract description 107
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract description 6
- 239000010802 sludge Substances 0.000 description 72
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 65
- QPJSUIGXIBEQAC-UHFFFAOYSA-N n-(2,4-dichloro-5-propan-2-yloxyphenyl)acetamide Chemical compound CC(C)OC1=CC(NC(C)=O)=C(Cl)C=C1Cl QPJSUIGXIBEQAC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 34
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 24
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 24
- KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M Potassium hydroxide Chemical compound [OH-].[K+] KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 20
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 19
- 239000008367 deionised water Substances 0.000 description 17
- 229910021641 deionized water Inorganic materials 0.000 description 17
- 238000004090 dissolution Methods 0.000 description 15
- 239000011575 calcium Substances 0.000 description 12
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 10
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 9
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-M Fluoride anion Chemical compound [F-] KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 8
- 238000013019 agitation Methods 0.000 description 8
- 239000000356 contaminant Substances 0.000 description 8
- 150000007513 acids Chemical class 0.000 description 7
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 7
- 229910021645 metal ion Inorganic materials 0.000 description 7
- 238000004833 X-ray photoelectron spectroscopy Methods 0.000 description 6
- 239000004094 surface-active agent Substances 0.000 description 6
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 5
- 238000005011 time of flight secondary ion mass spectroscopy Methods 0.000 description 5
- 238000002042 time-of-flight secondary ion mass spectrometry Methods 0.000 description 5
- 230000001680 brushing effect Effects 0.000 description 4
- 239000003599 detergent Substances 0.000 description 4
- 238000010494 dissociation reaction Methods 0.000 description 4
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 description 4
- 229910052700 potassium Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000002244 precipitate Substances 0.000 description 4
- 238000004506 ultrasonic cleaning Methods 0.000 description 4
- PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N Fluorine Chemical compound FF PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N Potassium Chemical compound [K] ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M Sodium hydroxide Chemical compound [OH-].[Na+] HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000005593 dissociations Effects 0.000 description 3
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 3
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 3
- 239000011591 potassium Substances 0.000 description 3
- 239000013074 reference sample Substances 0.000 description 3
- DDFHBQSCUXNBSA-UHFFFAOYSA-N 5-(5-carboxythiophen-2-yl)thiophene-2-carboxylic acid Chemical compound S1C(C(=O)O)=CC=C1C1=CC=C(C(O)=O)S1 DDFHBQSCUXNBSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N Calcium Chemical compound [Ca] OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 2
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 2
- OSGAYBCDTDRGGQ-UHFFFAOYSA-L calcium sulfate Chemical compound [Ca+2].[O-]S([O-])(=O)=O OSGAYBCDTDRGGQ-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000005400 gorilla glass Substances 0.000 description 2
- 230000000670 limiting effect Effects 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000000879 optical micrograph Methods 0.000 description 2
- 238000000053 physical method Methods 0.000 description 2
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 2
- 230000002829 reductive effect Effects 0.000 description 2
- 239000011550 stock solution Substances 0.000 description 2
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 2
- 229910016569 AlF 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- VHUUQVKOLVNVRT-UHFFFAOYSA-N Ammonium hydroxide Chemical compound [NH4+].[OH-] VHUUQVKOLVNVRT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M Chloride anion Chemical compound [Cl-] VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 241000282575 Gorilla Species 0.000 description 1
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BPQQTUXANYXVAA-UHFFFAOYSA-N Orthosilicate Chemical compound [O-][Si]([O-])([O-])[O-] BPQQTUXANYXVAA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DBMJMQXJHONAFJ-UHFFFAOYSA-M Sodium laurylsulphate Chemical compound [Na+].CCCCCCCCCCCCOS([O-])(=O)=O DBMJMQXJHONAFJ-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-L Sulfate Chemical compound [O-]S([O-])(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 239000005354 aluminosilicate glass Substances 0.000 description 1
- 239000000908 ammonium hydroxide Substances 0.000 description 1
- 239000003945 anionic surfactant Substances 0.000 description 1
- KVBCYCWRDBDGBG-UHFFFAOYSA-N azane;dihydrofluoride Chemical compound [NH4+].F.[F-] KVBCYCWRDBDGBG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005388 borosilicate glass Substances 0.000 description 1
- 230000005587 bubbling Effects 0.000 description 1
- 239000006227 byproduct Substances 0.000 description 1
- 150000001768 cations Chemical class 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 208000018459 dissociative disease Diseases 0.000 description 1
- 239000000383 hazardous chemical Substances 0.000 description 1
- IXCSERBJSXMMFS-UHFFFAOYSA-N hcl hcl Chemical compound Cl.Cl IXCSERBJSXMMFS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 238000010907 mechanical stirring Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002736 nonionic surfactant Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000000527 sonication Methods 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- GPRLSGONYQIRFK-MNYXATJNSA-N triton Chemical compound [3H+] GPRLSGONYQIRFK-MNYXATJNSA-N 0.000 description 1
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-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C15/00—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by etching
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C23/00—Other surface treatment of glass not in the form of fibres or filaments
- C03C23/0075—Cleaning of glass
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- Surface Treatment Of Glass (AREA)
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Abstract
Description
式1:Mn++nF−→MFn
式2は、式1の逆反応であり、解離反応と呼ばれる場合もある。式2に示されている反応により、ガラス沈殿物(MFn)を溶解させることができる。
式2:MFn→Mn++nF−
しかし、ガラス沈殿物(MFn)の解離は弱い場合がある。従って、ガラス沈殿物の解離を促進するために、(強酸からの)陽子を加えて、式3に示されているように、遊離フッ化物イオンを捕捉してもよい。
式3:H++F−→HF
式2からのフッ化物イオンは、式3(即ち、少なくとも1つの鉱酸の存在)によって消費され続けるので、式2の反応は、左から右へと移行して、ガラス沈殿物が溶解され得る。
EagleXGスラッジを、15重量%の水酸化カリウム(KOH)、6MのHCl、および10重量%のHFという3つの異なる溶液中に溶解させた。4g/LのEagleXGスラッジを各溶液に加えた(即ち、0.2gのEagleXGスラッジを50mLの各溶液に加えた)。6MのHCl中では、10分以内にEagleXGスラッジが完全に溶解し、透明な溶液を生じた。他の2つの溶液中では、数日間を超えてもスラッジは溶解せず、視認可能な濁りを有する溶液を生じた。
12%HF(即ち、24体積%のHF50体積%原液)を用いてEagleXGガラスをエッチングし、エッチングされたシートをそれぞれ異なるクリーニング方法を用いてクリーニングした。HClを用いたクリーニングは、表面から効率的にフッ化物残渣を除去することがわかり、かつエッチングされたサンプルの表面強度を低下させなかった。
(1)機械的撹拌を伴う、脱イオン水を用いた5分間のすすぎ。
(2)4%のセミクリーン(登録商標)KG(KOH)洗剤を用いた超音波(40Khz)洗浄。
(3)3MのHClを用いた5分間のすすぎ。
(4)6MのHClを用いた5分間のすすぎ。
(5)NH4OH、H2O2、およびH2Oを用いたSC1メガソニッククリーニング。
(6)4%のセミクリーンKG(KOH)洗剤を用いた水平方向のBentlerブラシクリーニング。
(7)4%のセミクリーンKG(KOH)洗剤を用いた水平方向および垂直方向のBentlerブラシクリーニング。
また、以下の3通りのガラスの参照サンプルを用いた。
(1)薄化され、脱イオン水中で10分間すすいだ10インチ(25.4センチメートル)×14インチ(35.56センチメートル)のシート。
(2)2インチ(5.08センチメートル)×2インチの薄化されていない(延伸されたままの)1.1mmのシート。
(3)ブラシクリーニングされたもの。
4インチ(10.16センチメートル)×4インチのサイズのEagleXGシートを、10%HF(即ち、20体積%のHF50体積%原液)を用いて、500マイクロメートル厚から300マイクロメートル厚に薄化した。ブラシクリーニング、HClでのすすぎ、および超音波クリーニングを用いて、これらのサンプルをクリーニングした。上記のサンプルを、エッチングされたままの参照サンプルおよび延伸されたままのEagleXGガラスのサンプルと共に、表面強度について試験した。図6に示されているように、ブラシクリーニングされたサンプルは、超音波クリーニング法を用いてクリーニングされたサンプルおよびエッチングされたままの参照サンプルと比較して、最も強度が低かった。HClでクリーニングされたサンプルは、検査されたクリーニング方法の中で最も強度が高かった。図6を参照されたい。
以下の表2は、EagleXGスラッジを溶解させるのにかかった時間および用いられたクリーニング溶液を示す。試験のために、4g/LのEagleXGスラッジを各溶液中に懸濁させた。
Claims (10)
- フッ化物イオンを含むエッチング液を用いてエッチングされたガラス表面を処理する方法であって、
前記エッチングされたガラス表面に、少なくとも1つの鉱酸を含む溶液を適用する工程を含むことを特徴とする方法。 - 前記少なくとも1つの鉱酸が、塩酸、硝酸、および硫酸から選択される、請求項1記載の方法。
- 前記溶液が、前記エッチングされたガラス表面に適用される前には、フッ化水素酸を実質的に含まない、請求項1または2記載の方法。
- 前記少なくとも1つの鉱酸が、少なくとも約3Mの濃度を有する、請求項1から3のいずれか一項記載の方法。
- 前記溶液が、約5分〜約80分の範囲内の時間にわたって前記エッチングされたガラス表面に適用される、請求項1から4のいずれか一項記載の方法。
- 処理されたエッチングされたガラス表面であって、該ガラス表面が、フッ化物イオンを含むエッチング液を用いてエッチングされたものであり、エッチングされたガラス表面に、少なくとも1つの鉱酸を含む溶液を適用する工程を含む処理によって調製されたことを特徴とする、処理されたエッチングされたガラス表面。
- 前記少なくとも1つの鉱酸が、塩酸、硝酸、および硫酸から選択される、請求項6記載の処理されたエッチングされたガラス表面。
- 前記溶液が、前記エッチングされたガラス表面に適用される前には、フッ化水素酸を実質的に含まない、請求項6または7記載の処理されたエッチングされたガラス表面。
- 前記少なくとも1つの鉱酸が、少なくとも約3Mの濃度を有する、請求項6から8のいずれか一項記載の処理されたエッチングされたガラス表面。
- フッ化物イオンを含むエッチング液を用いてエッチングされたガラス表面を処理する方法であって、
少なくとも約3Mの濃度を有する塩酸を含む溶液を前記ガラス表面に適用する工程を含み、前記溶液が、前記エッチングされたガラス表面に適用される前には、フッ化水素酸を実質的に含まないことを特徴とする方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US201361858292P | 2013-07-25 | 2013-07-25 | |
US61/858,292 | 2013-07-25 | ||
PCT/US2014/047734 WO2015013360A1 (en) | 2013-07-25 | 2014-07-23 | Methods of treating glass surfaces |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016528146A true JP2016528146A (ja) | 2016-09-15 |
Family
ID=51302785
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016529851A Ceased JP2016528146A (ja) | 2013-07-25 | 2014-07-23 | ガラス表面を処理する方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2016528146A (ja) |
KR (1) | KR20160037952A (ja) |
CN (1) | CN105593182A (ja) |
TW (1) | TW201504177A (ja) |
WO (1) | WO2015013360A1 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9488857B2 (en) | 2014-01-10 | 2016-11-08 | Corning Incorporated | Method of strengthening an edge of a glass substrate |
CN105016629B (zh) * | 2015-08-05 | 2018-01-23 | 福耀玻璃工业集团股份有限公司 | 一种洗涤硅酸盐玻璃板的酸洗液及方法 |
CN106348613A (zh) * | 2016-08-24 | 2017-01-25 | 赣州帝晶光电科技有限公司 | 一种液晶玻璃基板薄化预处理方法 |
CN106365459A (zh) * | 2016-08-24 | 2017-02-01 | 赣州帝晶光电科技有限公司 | 一种液晶玻璃基板化学薄化方法 |
US11208344B2 (en) * | 2017-03-28 | 2021-12-28 | Corning Incorporated | Textured glass articles and methods of making the same |
CN107640907A (zh) * | 2017-10-27 | 2018-01-30 | 惠州市清洋实业有限公司 | 一种玻璃减薄的预处理方法 |
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JP2008056544A (ja) * | 2006-09-01 | 2008-03-13 | Nishiyama Stainless Chem Kk | 微細な直線溝を有するガラス板の製造方法及びガラス板 |
JP2010168270A (ja) * | 2008-12-26 | 2010-08-05 | Hoya Corp | ガラス基材及びその製造方法 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103107086B (zh) * | 2013-01-29 | 2015-03-11 | 淄博晨启电子有限公司 | 一种低压芯片的生产工艺及其低压芯片 |
-
2014
- 2014-07-23 WO PCT/US2014/047734 patent/WO2015013360A1/en active Application Filing
- 2014-07-23 JP JP2016529851A patent/JP2016528146A/ja not_active Ceased
- 2014-07-23 CN CN201480053148.XA patent/CN105593182A/zh active Pending
- 2014-07-23 KR KR1020167004472A patent/KR20160037952A/ko not_active Application Discontinuation
- 2014-07-25 TW TW103125570A patent/TW201504177A/zh unknown
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007505509A (ja) * | 2003-05-30 | 2007-03-08 | ラム リサーチ コーポレーション | 石英ガラス面の仕上げ方法及びその方法により製造された部品 |
JP2008056544A (ja) * | 2006-09-01 | 2008-03-13 | Nishiyama Stainless Chem Kk | 微細な直線溝を有するガラス板の製造方法及びガラス板 |
JP2010168270A (ja) * | 2008-12-26 | 2010-08-05 | Hoya Corp | ガラス基材及びその製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN105593182A (zh) | 2016-05-18 |
TW201504177A (zh) | 2015-02-01 |
WO2015013360A1 (en) | 2015-01-29 |
KR20160037952A (ko) | 2016-04-06 |
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Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20180328 |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Request for written amendment filed |
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A02 | Decision of refusal |
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A521 | Request for written amendment filed |
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C60 | Trial request (containing other claim documents, opposition documents) |
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|
C11 | Written invitation by the commissioner to file amendments |
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|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20190514 |
|
C21 | Notice of transfer of a case for reconsideration by examiners before appeal proceedings |
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|
A912 | Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board |
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|
C211 | Notice of termination of reconsideration by examiners before appeal proceedings |
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|
C22 | Notice of designation (change) of administrative judge |
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|
C22 | Notice of designation (change) of administrative judge |
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|
C13 | Notice of reasons for refusal |
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A521 | Request for written amendment filed |
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|
C23 | Notice of termination of proceedings |
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|
C03 | Trial/appeal decision taken |
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|
C30A | Notification sent |
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A045 | Written measure of dismissal of application [lapsed due to lack of payment] |
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