JP2016189446A - 太陽電池及び太陽電池モジュール - Google Patents

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Abstract

【課題】電極と配線部材との間の優れた密着性及び優れた接続信頼性を有する太陽電池及び太陽電池モジュールを提供する。【解決手段】pn接合を有する半導体基板と、金属部及びガラス部を含む電極部、並びに樹脂部を含む導電層と、配線部材とがこの順に積層され、前記配線部材が延在する方向において、前記電極部は離間して設けられ、前記離間した領域に前記樹脂部を有してなる、太陽電池。【選択図】図1A

Description

本発明は、太陽電池及び太陽電池モジュールに関する。
一般にシリコン基板等の半導体基板を備えた太陽電池素子の受光面及び裏面には電極が形成されている。光の入射により太陽電池素子内で変換された電気エネルギーを効率よく外部に取出すためには、電極の体積抵抗率(以下、単に「抵抗率」ともいう)が十分に低いことと、電極が半導体基板と良好なオーミックコンタクトを形成することが必要である。
太陽電池素子に用いられる電極には、受光面集電用電極、受光面出力取出し電極、裏面集電用電極及び裏面出力取出し電極があり、通常次のように形成される。半導体基板の一種であるp型シリコン基板を用いて電極を形成する場合、p型シリコン基板の受光面側にテクスチャ(凹凸)形成を施し、次いでリン等を高温で熱的に拡散させることにより形成されたn型拡散層上に、電極形成用組成物(電極用ペースト組成物と称されることもある)をスクリーン印刷等により付与し、これを大気中800℃〜900℃で熱処理(焼成)することで電極が形成される。これらの電極を形成する電極形成用組成物は、導電性金属粒子、ガラス粒子、種々の添加剤等を含む。
電極のうち裏面集電用電極以外には、導電性金属粒子として、銀粒子が一般的に用いられている。銀粒子の使用には、銀粒子の抵抗率が1.6×10−6Ω・cmと低いこと、上記熱処理(焼成)条件において銀粒子が自己還元して焼結すること、半導体基板と良好なオーミックコンタクト(電気的な接続)を形成できること等の利点がある。
上記に示すように、銀粒子を含む電極形成用組成物から形成された電極は、太陽電池の電極として優れた特性を発現する。一方で、銀が貴金属であって地金自体が高価であり、また資源の問題からも、銀に代わる導電材料が望まれている。
銀に代わる有望な導電材料としては、半導体配線材料に適用されている銅が挙げられる。銅は資源的にも豊富で、地金の価格も銀の約100分の1と安価である。しかしながら、銅は大気中200℃以上の高温で容易に酸化される材料であり、上記工程で電極を形成することは困難である。
銅が有する上記課題を解決するために、種々の手法を用いて銅に耐酸化性を付与し、高温の熱処理(焼成)でも酸化され難い銅粒子が報告されている(例えば、特許文献1及び特許文献2参照)。また、熱処理(焼成)時の銅の酸化を抑制する方法として、銅含有粒子とガラス粒子とを含有する電極形成用ペースト組成物(電極形成用組成物)を用いた方法も報告されている(例えば、特許文献3参照)。
ここで、一般の太陽電池及び太陽電池モジュールの構造を説明する。一般の太陽電池素子は、例えば、125mm×125mm又は156mm×156mmの大きさであり、一つの太陽電池素子単独では発電量が小さい。そのため、実際には複数の太陽電池素子をまとめて太陽電池又は太陽電池モジュールとして使用する。太陽電池及び太陽電池モジュールは、多くの場合、複数の太陽電池素子が、その受光面及び裏面の出力取出し電極上に電気的に接続された配線部材を介して直列及び/又は並列に接続された構造を有している。
また、太陽電池モジュールは屋外環境で使用されることから、気温変化、風雨、積雪等に対する耐性を確保するため、太陽電池モジュールは、配線部材を介して接続された複数の太陽電池素子を封止材で封止して形成される。通常は、強化ガラス、エチレンビニルアセテート(EVA)シート、バックシート等を含む封止材を、配線部材を有する太陽電池に積層して挟んだ後、真空ラミネータによって封止が行われる。尚、ここで太陽電池素子とは、pn接合を有する半導体基板と、半導体基板上に形成された電極とを有するものを意味する。太陽電池とは、太陽電池素子上に配線部材が設けられ、必要に応じて複数の太陽電池素子が配線部材を介して接続された状態のものを意味する。太陽電池モジュールとは、配線部材を備えた太陽電池を、太陽電池における配線部材の一部が封止部分の外側に位置するように、封止材で封止したものを意味する。
太陽電池素子の電極と配線部材とを接続する際は、太陽電池素子内で変換された電気エネルギーを効率よく外部に取出すために、電極と配線部材との電気的な接触抵抗を小さくする必要がある。更に、太陽電池モジュールを作製する際、複数の太陽電池素子を配線部材で接続した状態の太陽電池を運搬する工程で、太陽電池素子が配線部材から脱落することを防止するために、太陽電池素子の電極と配線部材との密着力を強固に保持する必要がある。
一般に、太陽電池素子の電極と配線部材との接続には、はんだが使用される(例えば、特許文献4及び特許文献5参照)。はんだは、導電性、固着強度等の接続信頼性に優れ、安価で汎用性があることから広く用いられている。太陽電池素子の電極と配線部材との接続に用いるはんだとして、近年、環境面から鉛フリーはんだも普及しつつある。
一方、はんだを使用しない接続方法として、導電性ペーストを使用する接続方法が開示されている(例えば、特許文献6〜特許文献8参照)。
特開2005−314755号公報 特開2004−217952号公報 特開2011−171272号公報 特開2004−204256号公報 特開2005−050780号公報 特開2000−286436号公報 特開2001−357897号公報 特許第3448924号公報
しかしながら、鉛フリーはんだを用いる場合は、はんだの溶融温度が通常230℃〜260℃程度であることから、高温での曝露又ははんだの体積収縮が太陽電池素子の半導体構造に影響を与え、太陽電池素子の性能劣化を引き起こす場合がある。
更に、特許文献6〜特許文献8に記載のように、導電性ペーストを用いて太陽電池素子の電極と配線部材との接続を行う方法は、高温高湿の環境下で経時的な発電性能が大幅に劣化してしまうことがあり、必ずしも充分な接続信頼性が得られるものではなかった。
本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、電極と配線部材との間の優れた密着性及び優れた接続信頼性を有する太陽電池及び太陽電池モジュールを提供することを目的とする。
本発明は以下の通りである。
<1> pn接合を有する半導体基板と、金属部及びガラス部を含む電極部、並びに樹脂部を含む導電層と、配線部材とがこの順に積層され、
前記配線部材が延在する方向において、前記電極部は離間して設けられ、前記離間した領域に前記樹脂部を有してなる、太陽電池。
<2> 前記金属部が銅を含む、前記<1>に記載の太陽電池。
<3> 前記金属部がCu−Sn−Ni合金相を含み、前記ガラス部がSn−P−Oガラス相を含む、前記<1>又は<2>に記載の太陽電池。
<4> 前記Sn−P−Oガラス相の少なくとも一部は、前記Cu−Sn−Ni合金相と前記半導体基板との間に配置されている、前記<3>に記載の太陽電池。
<5> 前記電極部が、リン−錫含有銅合金粒子と、ガラス粒子とを含む電極形成用組成物の熱処理物を含む、前記<1>〜<4>のいずれか一項に記載の太陽電池。
<6> 前記電極形成用組成物が更にニッケル粒子を含む、前記<5>に記載の太陽電池。
<7> 前記リン−錫含有銅合金粒子が更にニッケルを含む、前記<5>又は<6>に記載の太陽電池。
<8> 前記電極形成用組成物が、更に分散媒を含む、前記<5>〜<7>のいずれか一項に記載の太陽電池。
<9> 前記樹脂部が接着剤の硬化物を含む、前記<1>〜<8>のいずれか一項に記載の太陽電池。
<10> 前記<1>〜<9>のいずれか一項に記載の、配線部材を有する太陽電池と、
前記太陽電池における前記配線部材の一部が封止部分の外側に位置するように、前記太陽電池を封止している封止材と、
を有する太陽電池モジュール。
本発明によれば、電極と配線部材との間の優れた密着性及び優れた接続信頼性を有する太陽電池及び太陽電池モジュールを提供することができる。
太陽電池の一例を示す平面概略図である。 太陽電池の一例のAA断面概略図である。 電極の配置の一例を模式的に示す平面図である。 電極の配置の別の一例を模式的に示す平面図である。 太陽電池に用いられる太陽電池素子の一例を示す概略断面図である。 太陽電池に用いられる太陽電池素子の受光面側電極構造の一例を示す概略平面図である。 太陽電池に用いられる太陽電池素子の受光面側電極構造の一例を示す概略平面図である。 太陽電池に用いられる太陽電池素子の裏面側電極構造の一例を示す概略平面図である。 太陽電池の受光面の一例を示す概略平面図である。 太陽電池の裏面の一例を示す概略平面図である。 太陽電池を2つ接続した構造の一例を示す概略断面図である。 太陽電池モジュールの製造方法の一例を説明するための図である。
本明細書において「工程」との語は、独立した工程だけではなく、他の工程と明確に区別できない場合であってもその工程の目的が達成されれば、本用語に含まれる。また本明細書において「〜」を用いて示された数値範囲は、「〜」の前後に記載される数値をそれぞれ最小値及び最大値として含む範囲を示す。また、本明細書において組成物中の各成分の含有量は、組成物中に各成分に該当する物質が複数種存在する場合、特に断らない限り、組成物中に存在する当該複数種の物質の合計量を意味する。また、本明細書において組成物中の各成分の粒子径は、組成物中に各成分に該当する粒子が複数種存在する場合、特に断らない限り、組成物中に存在する当該複数種の粒子の混合物についての値を意味する。また、本明細書において「層」との語は、平面図として観察したときに、全面に形成されている形状の構成に加え、一部に形成されている形状の構成も包含される。「積層」との語は、層を積み重ねることを示し、二以上の層が結合されていてもよく、二以上の層が着脱可能であってもよい。
<太陽電池>
本発明の太陽電池は、pn接合を有する半導体基板と、金属部及びガラス部を含む電極部、並びに樹脂部を含む導電層と、配線部材とがこの順に積層され、前記配線部材が延在する方向において、前記電極部は離間して設けられ、前記離間した領域に前記樹脂部を有してなる。
太陽電池が上記の条件を満たすことにより、半導体基板上に形成された電極と配線部材との密着性に優れ、かつ接続信頼性に優れる。
本明細書において「導電層」とは、金属部及びガラス部を含む電極部、並びに樹脂部を含み、半導体基板と配線部材との間に位置する部分を意味する。
太陽電池について、図1A及び図1Bを用いて説明する。図1Aは、太陽電池の配線接続の一例を示す平面概略図であり、図1Bは図1AにおけるAA断面図である。pn接合を有する半導体基板101の上に、導電層103と、配線部材104とがこの順に積層されている。配線部材104は導電層103に接触して配置される。導電層103は、金属部(図示せず)及びガラス部(図示せず)を含む電極部102と、樹脂部105とを含む。半導体基板101は、電極部102と樹脂部105との双方に接触する。
配線部材104が延在する方向において、電極部102は連続しておらず、不連続であり、1つの電極部102とこれに隣り合う電極部102とは離間して半導体基板101上に設けられている。この離間した領域には、樹脂部105を有する。配線部材104は、電極部102と樹脂部105との双方に接触する。配線部材104が電極部102と接触することで導電性が向上し、配線部材104が樹脂部105と接触することで密着性が向上する。
配線部材104と電極部102との接触面積は、金属の使用量を低減して原料コストを削減する観点からは小さい方が好ましく、一方で、発電効率の観点からは大きい方が好ましい。
図1Aに示す平面図として観察した際に、電極部102の形状は特に制限はなく、例えば、矩形、円形及び楕円形が挙げられる。
図2は、電極の配置の一例を模式的に示す平面図である。図2では、複数の矩形状の電極部102が互いに離間して配置され、配線部材の延在方向に、1つずつ並んで配置されている。図2において、L1及びL2はそれぞれ、矩形状の電極部102の一辺の長さを示す。図2において、矩形状の電極部102の一辺の長さであるL1及びL2はそれぞれ、例えば、1mm〜20mmであることが好ましく、1mm〜50mmであることがより好ましい。
図3は、電極の配置の別の一例を模式的に示す平面図である。図3では、複数の矩形状の電極部102が互いに離間して配置され、配線部材の幅方向に2つの矩形状の電極部102が互いに離間して配置され、そして配線部材の延在方向に、1つずつ並んで配置されている。図3において、L3及びL4はそれぞれ、矩形状の電極部102の一辺の長さを示す。図3において、矩形状の電極部102の一辺の長さであるL3及びL4はそれぞれ、例えば、1mm〜20mmであることが好ましく、1mm〜30mmであることがより好ましい。
図2及び図3は、矩形状の電極部102を示しているが、電極部102の形状は円形又は楕円形であってもよい。電極部102の形状が円形又は楕円形の場合、1つの電極部102の径は、1mm〜20mmであることが好ましく、2mm〜10mmであることがより好ましい。
また、配線部材の幅方向において、電極部102の個数は1つ又は2つに限られず、3つ以上が互いに離間して配置されていてもよい。
電極部102の厚みは特に制限はなく、原料コストの削減の観点からは薄い方が好ましく、発電特性の観点からは厚い方が好ましい。電極部102の厚みとしては、例えば、1μm〜50μmであることが好ましく、5μm〜30μmであることがより好ましい。
1つの電極部102において、少なくとも一部で配線部材104に接触していればよく、電極部102と配線部材104との間に、樹脂部105が介在していてもよい。電極部102が配線部材104と接触している部分を含むことにより、導電性が向上し、電極と配線部材との電気的な接触抵抗が減少する。
更に、電極部102と配線部材104とが接触している部分では、金属部と配線部材104とが少なくとも一部で接触していればよく、金属部と配線部材104との間にガラス部が介在している部分を含んでいてもよい。金属部と配線部材104とが接触することにより、電極部102及び配線部材104を構成する金属等の導電成分が、接触部から相互拡散することで接触部が合金化し、接触抵抗がいっそう低下することも、導電性が向上する一因として考えられる。
太陽電池は、例えば、金属部及びガラス部を含む電極部を形成しうる後述の電極形成用組成物と、樹脂部を形成しうる接続材料と、配線部材と、を用いて得ることができる。例えば、以下の工程を含む方法によって太陽電池を製造することができる。
(1)電極形成用組成物を半導体基板上に不連続状に付与して熱処理(焼成)し、配線部材104の延在方向に離間した複数の電極部102を形成する。
(2)複数の電極部102の上に架け渡すように、接続材料及び配線部材104をこの順に配置する。
(3)(2)の状態で加熱して、配線部材104側から加圧する。加熱及び加圧により、電極部102が設けられていない離間した領域の少なくとも一部に接続材料の少なくとも一部が入り込み、離間した領域の少なくとも一部が樹脂部105となる。これにより、電極部102と配線部材104とが接触し、また、半導体基板101と配線部材104とが樹脂部105を介して接着する。
複数の電極部102が離間して設けられていることで、その離間した領域に接続材料の一部が流動し、電極部102の表面の少なくとも一部は配線部材104と接触し、導通するようになる。
一方、電極と配線部材との接続を、接続材料に代えて、はんだ又は導電性ペーストで行なってもよい。はんだ又は導電性ペーストによる接続よりも、接続材料による接続の方が、電極と配線部材との密着性、及び半導体基板と配線部材との密着性に優れる。接続材料による接続では、電極内部に空隙が存在している場合に、この空隙にも接続材料が入り込んでアンカー効果が得られるためと考えられる。
アンカー効果を効果的に得る観点からは、電極部102の表面粗さ(表面凹凸)は粗い方が好ましい。表面粗さの粗い電極部102の上に接続材料及び配線部材をこの順に配置して加熱し、かつ配線部材104側から加圧すると、接続材料が電極部102の表面の凸部から凹部へと流動する。接続材料の一部が凹部に流動するため、電極部102と配線部材104との間に介在する接続材料に由来する樹脂部の量が相対的に少なくなる。よって、表面粗さの粗い電極部102では、表面粗さが粗くない電極部102に比べて、導電性がより向上し、電極と配線部材との電気的な接触抵抗が減少すると考えられる。
表面粗さの粗い電極の形成には、主に銅を含む金属粒子を含有する電極形成用組成物を用いることが好ましく、銅及び錫を含む金属粒子を含有する電極形成用組成物を用いることがより好ましく、銅、錫及びニッケルを含む金属粒子を含有する電極形成用組成物を用いることが更に好ましい。また、電極部102における金属部がCu−Sn−Ni合金相を含み、ガラス部がSn−P−Oガラス相を含むことが好ましく、Sn−P−Oガラス相の少なくとも一部がCu−Sn−Ni合金相と半導体基板101との間に配置されていることが好ましい。
一方で、電極自体の強度の観点からは、電極部102の表面粗さは、粗くない方が好ましい。電極部102の表面粗さが粗くない電極の形成には、金属粒子として主に銀を含む電極形成用組成物を用いることが好ましい。
図1Aのような平面図として観察した際に、電極部102は、接続材料によって全体が被覆されていても、部分的に被覆されていてもよく、接続材料で覆われる部分と、覆われない部分の割合に制限はない。また、電極部102は、配線部材104によって全体が被覆されていても、部分的に被覆されていてもよく、配線部材104で覆われる部分と、覆われない部分の割合に制限はない。
接続材料及び配線部材104の幅は、導電性を高め且つそれぞれの使用量を削減する観点から、電極部102の幅に対して、各々、例えば、0.05倍〜1倍とすることが好ましく、0.1倍〜1倍とすることがより好ましい。
<電極形成用組成物>
本発明の太陽電池の製造に使用可能な電極形成用組成物としては、金属粒子及びガラス粒子を含む電極形成用組成物を挙げることができる。電極形成用組成物を用いて電極を形成する場合、電極部102が、金属粒子とガラス粒子とを含む電極形成用組成物の熱処理物を含む。
(金属粒子)
金属粒子の種類は特に制限されず、熱処理(焼成)により内部に空隙を有する電極を形成しうるものであることがより好ましい。
金属粒子は、銅を含むことが好ましい。銅は導電性に優れ、金、銀等と比べて安価である。銅は200℃以上の高温で酸化されるため、耐酸化性を付与されたものであることが好ましい。耐酸化性を付与した銅粒子としては、リンを含む銅合金の粒子を挙げることができる。電極形成用組成物にリンを含む銅合金粒子を用いることで、リンの銅酸化物に対する還元性を利用し、耐酸化性に優れ、抵抗率の低い電極を形成することができる。更に電極の低温での熱処理(焼成)が可能となり、プロセスコストを削減できるという効果を得ることができる。リンを含む銅合金としては、リン銅ろう(リン含有率:7質量%程度以下)と呼ばれるろう付け材料が知られている。リン銅ろうは、銅と銅との接合剤としても用いられる。
金属粒子は、金属成分として、銅及びリンのほかに、錫を含むことが好ましい。金属成分として錫を含む場合、錫は、リン−錫含有銅合金粒子として含有してもよいし、リン含有銅合金粒子と錫含有粒子とを組み合わせることで含有してもよい。銅粒子に対してリンに加えて錫を更に含むことによって、内部に空隙を有する電極を形成することができる。本発明者らは、電極を形成するための金属粒子を含む電極形成用組成物において、金属粒子の金属成分として銅、錫及びリンを含む場合、熱処理(焼成)によってCu−Sn合金相等の銅と錫を含む金属部と、Sn−P−Oガラス相等の錫とリンと酸素を含むガラス部とがそれぞれ形成されるとともに、金属部及びガラス部のいずれも形成されていない空隙が生じることを見出している。
空隙が生じる理由は明らかではないが、Cu−Sn合金相が緻密なバルク状の金属部を形成する際の焼結が急激に進むためと考えられる。すなわち、電極形成用組成物に用いる金属粒子に含まれる金属等の焼結の際の挙動が、形成される電極の形状に影響を及ぼす要因の一つであると考えられる。従って、電極形成用組成物に用いる金属粒子の種類又は組成を選択することにより、内部に空隙が存在する電極を形成することができると考えられる。
更に、金属粒子の金属成分として、銅、錫及びリンを含む電極形成用組成物を用いることで、銅と半導体基板との反応物相の形成が抑制され、形成される電極と半導体基板とが良好なオーミックコンタクトを形成できる。これはシリコンを含む半導体基板(以下、単に「シリコン基板」ともいう)を例に以下のように考えることができる。
金属粒子の金属成分として銅、錫及びリンを含む電極形成用組成物を熱処理(焼成)すると、銅と錫との反応により、抵抗率を低く保ったままCu−Sn合金相とSn−P−Oガラス相とが形成される。そして例えば、Sn−P−Oガラス相が銅とシリコン基板に含まれるシリコンとの相互拡散を防止するためのバリア層として機能することで、銅を含む電極とシリコン基板とのオーミックコンタクトが良好になると考えることができる。すなわち、金属粒子が銅、錫及びリンを含む電極形成用組成物を用いることで、銅とシリコンとの反応を抑えて反応物相(CuSi)の形成を抑制し、銅を含む電極とシリコン基板との良好なオーミックコンタクトを発現することができると考えられる。
従来、銅を太陽電池素子の電極に適用するための課題として、シリコン基板とのオーミックコンタクト性が挙げられている。このCuSiの形成はシリコン基板の界面から数μmにまで及ぶことがあり、シリコン基板側に亀裂を生じ、太陽電池素子の性能劣化を引き起こす場合がある。また形成されたCuSiが銅を含む電極を持ち上げる等により、電極とシリコン基板との密着性を阻害し、電極の機械的強度低下をもたらす恐れがある。
一方で、Sn−P−Oガラス相が、Cu−Sn合金相とシリコン基板との間に形成される。これによりCu−Sn合金相のシリコン基板との界面に介在することで、電極とシリコン基板との密着性が向上すると考えることができる。
このような効果は、シリコンを含む基板上に本発明の電極形成用組成物を用いて電極を形成する場合であれば、一般的に発現するものであり、その他の半導体基板であっても同様の効果を期待することができ、半導体基板の種類は特に制限されるものではない。半導体基板としては、シリコン基板、リン化ガリウム基板、窒化ガリウム基板、ダイヤモンド基板、窒化アルミニウム基板、窒化インジウム基板、ヒ化ガリウム基板、ゲルマニウム基板、セレン化亜鉛基板、テルル化亜鉛基板、テルル化カドミウム基板、硫化カドミウム基板、リン化インジウム基板、炭化ケイ素基板、ケイ化ゲルマニウム基板、銅インジウムセレン基板等が挙げられる。中でも、シリコン基板に好適に用いることができる。尚、太陽電池形成用の半導体基板に限定されるものではなく、本発明の電極形成用組成物は太陽電池以外の半導体デバイスの製造に用いる半導体基板等にも用いることができる。
また、Cu−Sn合金相は、Cu−Sn合金相どうしで緻密なバルク状の金属部を形成する。このバルク状の金属部は電極内で形成され、導電層として機能することで、電極の低抵抗率化が図られる。
ここでいう緻密なバルク状とは、塊状のCu−Sn合金相が互いに密に接触し、三次元的に連続している構造が形成されていることを意味する。このような構造が形成されていることは、電極を形成した基板について、電極形成面と垂直方向の任意の断面を、走査型電子顕微鏡(例えば、(株)日立ハイテクノロジーズ、TM−1000型走査型電子顕微鏡)を用いて、100倍〜10000倍の倍率で観察することによって確認することができる。ここで、観察用の断面は、リファインテック(株)のRCO−961型ダイヤモンドカッター等により切断したときの断面とする。尚、切断後の観察用の断面は、切断機による切削傷等が残っていることがあるので、研磨紙等を用いて研磨し、観察断面の表面凹凸を除去することが好ましく、その後バフ等を用いて鏡面研磨することがより好ましい。
また、Cu−Sn合金相は、500℃程度の比較的低温で生成するため、電極の低温での熱処理(焼成)が可能となり、プロセスコストを削減できるという効果が期待できる。
金属粒子の金属成分として、ニッケルを更に含むことが更に好ましい。具体的には、金属粒子として、リン含有銅合金粒子と錫含有粒子とニッケル含有粒子とを組み合わせて用いる方法、リン−錫含有銅合金粒子とニッケル含有粒子とを組み合わせて用いる方法、リン−錫−ニッケル含有銅合金粒子等を用いる方法を挙げることができる。
金属粒子の金属成分として銅、リン、錫、及びニッケルを含むことにより、Cu−Sn合金相とニッケルとが更に反応し、Cu−Sn−Ni合金相を形成すると考えられる。このCu−Sn−Ni合金相は、500℃以上の高温(例えば、800℃)でも形成されることがある。結果として、高温での熱処理(焼成)工程でも耐酸化性を保ったまま低抵抗率の電極を形成できると考えられる。
また、金属粒子の金属成分として銅、リン、錫、及びニッケルを含む電極形成用組成物から形成される電極を用いることで、半導体基板に対する密着性を保ったまま、電極と半導体基板との良好なオーミックコンタクトを達成することができる。電極形成用組成物が銅、リン、錫、及びニッケルを含むことによって得られるCu−Sn−Ni合金相も、Cu−Sn合金相と同様にCu−Sn−Ni合金相どうしで、またCu−Sn合金相と共に緻密なバルク状の金属部を形成する。尚、Cu−Sn合金相とCu−Sn−Ni合金相は電極内に混在していても、電極としての機能(例えば、抵抗率)を低下させる虞は少ないと考えられる。
金属粒子の金属成分として銅、リン、錫、及びニッケルを含む電極形成用組成物を用いることで、まず、リン−錫−ニッケル含有銅合金粒子中のリン原子の銅酸化物に対する還元性を利用し、耐酸化性に優れ、抵抗率の低い電極が形成される。次いで、金属粒子の金属成分として錫及びニッケルを含むことで、得られる電極は抵抗率を低く保ったまま、Cu−Sn合金相、又はCu−Sn−Ni合金相とSn−P−Oガラス相とが電極中に形成される。そして、例えば、Sn−P−Oガラス相がCu−Sn合金相又はCu−Sn−Ni合金相の三次元連続構造中に形成されることで、電極自身を緻密な構造にし、結果として電極内の強度の向上が得られる。また、Sn−P−Oガラス相が銅とシリコンとの相互拡散を防止するためのバリア層として機能することで、銅を含む電極とシリコン基板との間に良好なオーミックコンタクトが形成される。このような特徴的な機構を、熱処理(焼成)工程で実現できると考えることができる。
これら金属粒子としては、内部に空隙を有する電極を形成し、且つ緻密なバルク状の金属部を形成する観点からは、例えば、リン−錫含有銅合金粒子、リン−錫−ニッケル含有銅合金粒子、及びリン−錫含有銅合金粒子とニッケル含有粒子との組み合わせ、が好ましい。
(リン−錫含有銅合金粒子)
リン−錫含有銅合金粒子を構成するリン−錫含有銅合金に含まれるリン含有率は特に制限されない。耐酸化性の向上(電極の低抵抗率化)とSn−P−Oガラス相の形成能の観点から、例えば、リン含有率が2質量%〜15質量%であることが好ましく、3質量%〜12質量%であることがより好ましく、4質量%〜10質量%であることが更に好ましい。リン−錫含有銅合金に含まれるリン含有率が15質量%以下であることで、低い抵抗率を有する電極を得ることが可能であり、また、リン−錫含有銅合金粒子の生産性に優れる傾向にある。また、リン−錫含有銅合金に含まれるリン含有率を2質量%以上とすることで、優れた耐酸化性を達成できる傾向にある。また、Sn−P−Oガラス相を効果的に形成することができ、シリコン基板に対する密着性とオーミックコンタクトに優れた電極を形成することができる。
また、リン−錫含有銅合金粒子を構成するリン−錫含有銅合金に含まれる錫含有率は特に制限されない。耐酸化性、熱処理(焼成)時の銅及びリンとの反応性、並びにSn−P−Oガラス相の形成能の観点から、リン−錫含有銅合金に含まれる錫含有率は、例えば、5質量%〜30質量%であることが好ましく、6質量%〜25質量%であることがより好ましく、7質量%〜20質量%であることが更に好ましい。リン−錫含有銅合に含まれる錫含有量が30質量%以下であることで、低抵抗率のCu−Sn合金相を形成することができる。また、リン−錫含有銅合金に含まれる錫含有率を5質量%以上とすることで、熱処理(焼成)時の銅及びリンとの反応性、並びにリンとの反応性が向上し、Cu−Sn合金相及びSn−P−Oガラス相を効果的に形成することができる傾向にある。
リン−錫含有銅合金粒子を構成するリン−錫含有銅合金に含まれるリン含有率及び錫含有率の組み合わせとしては、耐酸化性、得られる電極の抵抗率、熱処理(焼成)時の銅及びリンとの反応性、Sn−P−Oガラス相の形成能、並びに電極とシリコン基板との密着性の観点から、例えば、リン含有率が2質量%〜15質量%であって且つ錫含有率が5質量%〜30質量%であることが好ましく、リン含有率が3質量%〜12質量%であって且つ錫含有率が6質量%〜25質量%であることがより好ましく、リン含有率が4質量%〜10質量%であって且つ錫含有率が7質量%〜20質量%であることが更に好ましい。
リン−錫含有銅合金は、リン及び錫に加えて、銀、マンガン及びコバルトからなる群より選ばれる少なくとも1種である特定金属原子を更に含む銅合金であることもまた好ましい。特定金属原子を更に含むことで、低抵抗率な電極を形成することができる傾向にある。
リン、錫及び特定金属原子を含む銅合金における特定金属原子の含有率は、特定金属原子の種類、目的等に応じて適宜選択できる。特定金属原子の含有率は、例えば、0.05質量%〜20質量%とすることができ、0.1質量%〜15質量%であることが好ましく、1質量%〜10質量%であることがより好ましい。特定金属原子の含有率が0.05質量%以上であることで合金粒子の融点を更に低下させることができ、熱処理(焼成)工程における合金粒子の焼結反応が進む傾向にある。また、特定金属原子の含有率が20質量%以下であることで、耐酸化性が向上し、低抵抗率の電極が形成される傾向にある。
リン−錫含有銅合金は、銀、マンガン及びコバルト以外の不可避的に混入する他の原子を更に含んでいてもよい。不可避的に混入する他の原子としては、例えば、Sb、Si、K、Na、Li、Ba、Sr、Ca、Mg、Be、Zn、Pb、Cd、Tl、V、Al、Zr、W、Mo、Ti、Ni、Au、Bi等を挙げることができる。
リン−錫含有銅合金粒子に含まれる不可避的に混入する他の原子の含有率は、例えば、リン−錫含有銅合金粒子中に3質量%以下とすることができ、耐酸化性と電極の低抵抗率化の観点から、1質量%以下であることが好ましい。
尚、リン−錫含有銅合金粒子を構成するリン−錫含有銅合金における各元素の含有率は、誘導結合プラズマ質量分析(ICP−MS)法の定量分析によって測定することができる。
また、リン−錫含有銅合金粒子を構成するリン−錫含有銅合金における各元素の含有率は、エネルギー分散型X線分光(EDX)法の定量分析によって測定することもできる。具体的には、リン−錫含有銅合金粒子を樹脂に埋め込み、硬化させた後にダイヤモンドカッター等で切断し、必要に応じて耐水研磨紙、研磨液等を用いて研磨し、得られた断面にあるリン−錫含有銅合金粒子の断面を分析することが好ましい。この理由は、例えば、以下のように考えることができる。
リン−錫含有銅合金粒子はリンを含有しているため、取り扱う環境によっては、リン−錫含有銅合金粒子の吸湿が生じ、その結果として、粒子の表面が酸化される可能性がある。この酸化によって生じた皮膜はごく表面に形成され、リン−錫含有銅合金粒子の品質に影響をほとんど与えないと考えられるが、粒子表面における酸素の含有率の増加等によって、粒子表面と粒子内部とで各金属元素の含有率に差が生じてしまう可能性がある。従って、リン−錫含有銅合金粒子中の各元素の含有率を測定する際は、粒子表面ではなく、粒子断面を測定することが好ましいと考えられる。
リン−錫含有銅合金粒子は、1種単独で用いても、又は2種以上を組み合わせて用いてもよい。「リン−錫含有銅合金粒子の2種以上を組み合わせて用いる」とは、成分比率が異なるものの粒子径、粒度分布等の粒子形状が同じである2種以上のリン−錫含有銅合金粒子を組み合わせて用いる場合、成分比率は同じであるものの粒子形状の異なる2種以上のリン−錫含有銅合金粒子を組み合わせて用いる場合、成分比率及び粒子形状がともに異なる2種以上のリン−錫含有銅合金粒子を組み合わせて用いる場合などが挙げられる。
リン−錫含有銅合金粒子の粒子径としては特に制限はない。粒度分布において小径側から積算した体積が50%の場合における粒子径(以下、「D50%」と略記することがある)が、例えば、0.4μm〜10μmであることが好ましく、1μm〜7μmであることがより好ましい。リン−錫含有銅合金粒子のD50%を0.4μm以上とすることで、耐酸化性が効果的に向上する傾向にある。リン−錫含有銅合金粒子のD50%を10μm以下とすることで、電極中におけるリン−錫含有銅合金粒子同士の接触面積が大きくなり、電極の抵抗率が効果的に低下する傾向にある。
尚、リン−錫含有銅合金粒子の粒子径(D50%)は、レーザー回折式粒度分布計(例えば、ベックマン・コールター(株)、LS 13 320型レーザー散乱回折法粒度分布測定装置)によって測定される。具体的には、溶剤(テルピネオール)125gに、リン−錫含有銅合金粒子を0.01質量%〜0.3質量%の範囲内で添加し、分散液を調製する。この分散液の約100ml程度をセルに注入して25℃で測定する。粒度分布は溶媒の屈折率1.48として測定する。
リン−錫含有銅合金粒子の形状としては特に制限はなく、略球状、扁平状、ブロック状、板状、及び鱗片状等のいずれであってもよい。耐酸化性と電極の低抵抗率化の観点から、リン−錫含有銅合金粒子の形状は、略球状、扁平状、又は板状であることが好ましい。
電極形成用組成物が金属粒子としてリン−錫含有銅合金粒子を含む場合の、電極形成用組成物におけるリン−錫含有銅合金粒子の含有率は特に制限されない。耐酸化性及び電極の抵抗率の観点から、電極形成用組成物中のリン−錫含有銅合金粒子の含有率は、例えば、45質量%〜94質量%であることが好ましく、50質量%〜90質量%であることがより好ましい。
リン−錫含有銅合金は、通常用いられる方法で製造することができる。また、リン−錫含有銅合金粒子は、所望の銅含有率、リン含有率及び錫含有率となるように調製したリン−錫含有銅合金を用いて、金属粒子を調製する通常の方法を用いて調製することができる。例えば、リン−錫含有銅合金粒子は、水アトマイズ法を用いて定法によって製造することができる。尚、水アトマイズ法の詳細については金属便覧(丸善(株)出版事業部)等の記載を参照することができる。
具体的には、リン−錫含有銅合金を溶解し、これをノズル噴霧によって粒子化した後、得られた粒子を乾燥及び分級することで、所望のリン−錫含有銅合金粒子を製造することができる。また、分級条件を適宜選択することで所望の粒子径を有するリン−錫含有銅合金粒子を製造することができる。
(リン−錫−ニッケル含有銅合金粒子)
リン−錫−ニッケル含有銅合金粒子を構成するリン−錫−ニッケル含有銅合金に含まれるリン含有率は特に制限されない。耐酸化性の向上(電極の低抵抗率化)とSn−P−Oガラス相の形成能の観点から、例えば、リン含有率が2.0質量%〜15.0質量%であることが好ましく、2.5質量%〜12.0質量%であることがより好ましく、3.0質量%〜10.0質量%であることが更に好ましい。リン−錫−ニッケル含有銅合金に含まれるリン含有率が15.0質量%以下であることで、低い抵抗率を有する電極を得ることが可能であり、またリン−錫−ニッケル含有銅合金粒子の生産性に優れる傾向にある。また、リン−錫−ニッケル含有銅合金に含まれるリン含有率を2.0質量%以上とすることで、Sn−P−Oガラス相を効果的に形成することができ、半導体基板に対する密着性とオーミックコンタクトに優れる電極を形成することができる傾向にある。
リン−錫−ニッケル含有銅合金粒子を構成するリン−錫−ニッケル含有銅合金に含まれる錫含有率は特に制限されない。耐酸化性、熱処理(焼成)時の銅及びニッケルとの反応性並びにSn−P−Oガラス相の形成能の観点から、リン−錫−ニッケル含有銅合金に含まれる錫含有率は、例えば、3.0質量%〜30.0質量%であることが好ましく、4.0質量%〜25.0質量%であることがより好ましく、5.0質量%〜20.0質量%であることが更に好ましい。リン−錫−ニッケル含有銅合金に含まれる錫含有率が30.0質量%以下であることで、低抵抗率のCu−Sn−Ni合金相を形成することができる傾向にある。また、リン−錫−ニッケル含有銅合金に含まれる錫含有率を3.0質量%以上とすることで、熱処理(焼成)時の銅及びニッケルとの反応性、並びにリンとの反応性が向上し、Cu−Sn−Ni合金相及びSn−P−Oガラス相を効果的に形成することができる傾向にある。
リン−錫−ニッケル含有銅合金粒子を構成するリン−錫−ニッケル含有銅合金に含まれるニッケル含有率は特に制限されない。耐酸化性の観点から、リン−錫−ニッケル含有銅合金に含まれるニッケル含有率は、例えば、3.0質量%〜30.0質量%であることが好ましく、3.5質量%〜25.0質量%であることがより好ましく、4.0質量%〜20.0質量%であることが更に好ましい。リン−錫−ニッケル含有銅合金に含まれるニッケル含有率が30.0質量%以下であることで、低抵抗率のCu−Sn−Ni合金相を効果的に形成することができる傾向にある。また、リン−錫−ニッケル含有銅合金に含まれるニッケル含有率を3.0質量%以上とすることで、特に500℃以上の高温領域での耐酸化性を向上させることができる傾向にある。
リン−錫−ニッケル含有銅合金粒子を構成するリン−錫−ニッケル含有銅合金に含まれるリン含有率、錫含有率、及びニッケル含有率の組み合わせとしては、耐酸化性、得られる電極の抵抗率、熱処理(焼成)時の銅、リン、錫及びニッケルの反応性、Sn−P−Oガラス相の形成能、並びに電極とシリコン基板との密着性の観点から、例えば、リン含有率が2.0質量%〜15.0質量%であって、且つ錫含有率が3.0質量%〜30.0質量%であって、且つニッケル含有率が3.0質量%〜30.0質量%であることが好ましく、リン含有率が2.5質量%〜12.0質量%であって、且つ錫含有率が4.0質量%〜25.0質量%であって、且つニッケル含有率が3.5質量%〜25.0質量%であることがより好ましく、リン含有率が3.0質量%〜10.0質量%であって、且つ錫含有率が5.0質量%〜20.0質量%であって、且つニッケル含有率が4.0質量%〜20.0質量%であることが更に好ましい。
リン−錫−ニッケル含有銅合金粒子は、リンと錫とニッケルとを含む銅合金粒子であるが、不可避的に混入する他の原子を更に含んでいてもよい。不可避的に混入する他の原子としては、例えば、Ag、Mn、Sb、Si、K、Na、Li、Ba、Sr、Ca、Mg、Be、Zn、Pb、Cd、Tl、V、Al、Zr、W、Mo、Ti、Co、Au及びBiを挙げることができる。
リン−錫−ニッケル含有銅合金粒子に含まれる不可避的に混入する他の原子の含有率は、例えば、リン−錫−ニッケル含有銅合金粒子中に3質量%以下とすることができ、耐酸化性と電極の低抵抗率化の観点から、1質量%以下であることが好ましい。
リン−錫−ニッケル含有銅合金粒子を構成するリン−錫−ニッケル含有銅合金における各元素の含有率は、リン−錫含有銅合金粒子の場合と同様の方法で測定することができる。
リン−錫−ニッケル含有銅合金粒子は、1種単独で用いても、又は2種以上を組み合わせて用いてもよい。「リン−錫−ニッケル含有銅合金粒子の2種以上を組み合わせて用いる」とは、成分比率が異なるものの粒子径、粒度分布等の粒子形状が同じである2種以上のリン−錫−ニッケル含有銅合金粒子を組み合わせて用いる場合、成分比率は同じであるものの粒子形状の異なる2種以上のリン−錫−ニッケル含有銅合金粒子を組み合わせて用いる場合、成分比率及び粒子形状がともに異なる2種以上のリン−錫−ニッケル含有銅合金粒子を組み合わせて用いる場合などが挙げられる。
リン−錫−ニッケル含有銅合金粒子の粒子径としては特に制限はない。リン−錫−ニッケル含有銅合金粒子のD50%が、例えば、0.4μm〜10μmであることが好ましく、1μm〜7μmであることがより好ましい。リン−錫−ニッケル含有銅合金粒子のD50%を0.4μm以上とすることで、耐酸化性が効果的に向上する傾向がある。リン−錫−ニッケル含有銅合金粒子のD50%を10μm以下とすることで、電極中におけるリン−錫−ニッケル含有銅合金粒子同士の接触面積が大きくなり、電極の抵抗率が効果的に低下する傾向がある。
尚、リン−錫−ニッケル含有銅合金粒子の粒子径の測定方法は、リン−錫含有銅合金粒子の粒子径の測定方法と同様である。
リン−錫−ニッケル含有銅合金粒子の形状としては特に制限はなく、略球状、扁平状、ブロック状、板状、鱗片状等のいずれであってもよい。耐酸化性及び電極の低抵抗率化の観点から、リン−錫−ニッケル含有銅合金粒子の形状は、略球状、扁平状、又は板状であることが好ましい。
リン−錫−ニッケル含有銅合金は、通常用いられる方法で製造することができる、また、リン−錫−ニッケル含有銅合金粒子は、所望のリン含有率、錫含有率、及びニッケル含有率となるように調製したリン−錫−ニッケル含有銅合金を用いて、リン−錫含有銅合金粒子と同様に製造することができる。
(ニッケル含有粒子)
電極形成用組成物は、金属粒子としてニッケル含有粒子の少なくとも1種を更に含んでもよい。ニッケル含有粒子を含むことで、熱処理(焼成)工程において、高温での耐酸化性を発現させる傾向にある。
ニッケル含有粒子としては、ニッケルを含む粒子であれば特に制限はない。中でも、ニッケル粒子及びニッケル合金粒子からなる群より選択される少なくとも1種であることが好ましく、ニッケル粒子及びニッケル含有率が1質量%以上であるニッケル合金粒子からなる群より選択される少なくとも1種であることが好ましい。
ニッケル粒子におけるニッケルの純度は特に制限されない。例えば、ニッケル粒子の純度は、95質量%以上とすることができ、97質量%以上であることが好ましく、99質量%以上であることがより好ましい。
ニッケル合金粒子は、ニッケルを含む合金粒子であれば合金の種類は制限されない。中でも、ニッケル合金粒子の融点、及びCu−Sn合金相との反応性の観点から、例えば、ニッケルの含有率が1質量%以上であるニッケル合金粒子であることが好ましく、ニッケルの含有率が3質量%以上であるニッケル合金粒子であることがより好ましく、ニッケルの含有率が5質量%以上であるニッケル合金粒子であることが更に好ましく、ニッケルの含有率が10質量%以上であるニッケル合金粒子であることが特に好ましい。
ニッケル合金粒子を構成する合金としては、Ni−Fe合金、Ni−Cu合金、Ni−Cu−Zn合金、Ni−Cr合金、Ni−Cr−Ag合金等が挙げられる。
特に、Ni−58Fe、Ni−75Cu、Ni−6Cu−20Zn等で構成されるニッケル合金粒子は、熱処理(焼成)時にリン−錫含有銅合金粒子又はリン−錫−ニッケル含有銅合金粒子と均一的に反応することができるという点で、好適に用いることができる。尚、ニッケル合金における表記は、例えば、Ni−AX−BY−CZの場合は、ニッケル合金の中に、元素XがA質量%、元素YがB質量%、元素ZがC質量%含まれていることを示す。
電極形成用組成物において、これらのニッケル含有粒子は1種単独で用いても、又は2種以上を組み合わせて用いてもよい。「ニッケル含有粒子の2種以上を組み合わせて用いる」とは、成分比率が異なるものの粒子径、粒度分布等の粒子形状が同じである2種以上のニッケル含有粒子を組み合わせて用いる場合、成分比率は同じであるものの粒子形状の異なる2種以上のニッケル含有粒子を組み合わせて用いる場合、成分比率及び粒子形状がともに異なる2種以上のニッケル含有粒子を組み合わせて用いる場合などが挙げられる。
ニッケル含有粒子は、不可避的に混入する他の原子を更に含んでいてもよい。不可避的に混入する他の原子としては、Ag、Mn、Sb、Si、K、Na、Li、Ba、Sr、Ca、Mg、Be、Zn、Pb、Cd、Tl、V、Al、Zr、W、Mo、Ti、Co、Sn、Au、Bi等を挙げることができる。
また、ニッケル含有粒子に含まれる不可避的に混入する他の原子の含有率は、例えば、ニッケル含有粒子中に3質量%以下とすることができ、融点、及びリン−錫含有銅合金粒子又はリン−錫−ニッケル含有銅合金粒子との反応性の観点から、1質量%以下であることが好ましい。
ニッケル含有粒子の粒子径としては特に制限はない。ニッケル含有粒子のD50%は、例えば、0.5μm〜20μmであることが好ましく、1μm〜15μmであることがより好ましく、3μm〜15μmであることが更に好ましい。
ニッケル含有粒子のD50%を0.5μm以上とすることで、ニッケル含有粒子自身の耐酸化性が向上する傾向にある。また、ニッケル含有粒子のD50%を20μm以下とすることで電極中におけるリン−錫含有銅合金粒子又はリン−錫−ニッケル含有銅合金粒子との接触面積が大きくなり、リン−錫含有銅合金粒子又はリン−錫−ニッケル含有銅合金粒子との熱処理(焼成)時の反応が効果的に進む傾向にある。
尚、ニッケル含有粒子の粒子径(D50%)の測定方法は、リン−錫含有銅合金粒子の粒子径の測定方法と同様である。
ニッケル含有粒子の形状としては特に制限はなく、略球状、扁平状、ブロック状、板状、鱗片状等のいずれであってもよい。耐酸化性と電極の低抵抗率化の観点から、ニッケル含有粒子の形状は、略球状、扁平状、又は板状であることが好ましい。
電極形成用組成物が金属粒子としてニッケル含有粒子を含む場合、ニッケル含有粒子の含有率は特に制限されない。中でも、金属粒子の含有率を100質量%としたときのニッケル含有粒子の含有率が、例えば、10質量%〜60質量%であることが好ましく、12質量%〜55質量%であることがより好ましく、15質量%〜50質量%であることが更に好ましく、15質量%〜35質量%であることが特に好ましい。
ニッケル含有粒子の含有率を10質量%以上とすることで、Cu−Sn−Ni合金相の形成を均一に生じさせることができる傾向にある。ニッケル含有粒子の含有率を60質量%以下とすることで、充分な体積のCu−Sn−Ni合金相を形成することができ、電極の抵抗率が低下する傾向にある。
(銀粒子)
電極形成用組成物は、金属粒子として銀粒子の少なくとも1種を更に含んでもよい。銀粒子を含むことで、耐酸化性が向上し、電極の抵抗率が低下する傾向にある。また、金属成分として、銅、リン及び錫、更にはニッケルを含有する金属粒子の反応によって生成したSn−P−Oガラス相の中にAg粒子が析出することで、電極中のCu−Sn合金相又はCu−Sn−Ni合金相と半導体基板のオーミックコンタクト性が向上する傾向にある。更に、太陽電池モジュールとした場合のはんだ接続性が向上する傾向にある。
銀粒子を構成する銀は、不可避的に混入する他の原子を含んでいてもよい。不可避的に混入する他の原子としては、例えば、Mn、Sb、Si、K、Na、Li、Ba、Sr、Ca、Mg、Be、Zn、Pb、Cd、Tl、V、Sn、Al、Zr、W、Mo、Ti、Co、Ni、Au、及びBiを挙げることができる。
また、銀粒子に含まれる不可避的に混入する他の原子の含有率は、例えば、銀粒子中に3質量%以下とすることができ、融点及び電極の低抵抗率化の観点から、1質量%以下であることが好ましい。
銀粒子の粒子径としては特に制限はない。銀粒子のD50%は、例えば、0.4μm〜10μmであることが好ましく、1μm〜7μmであることがより好ましい。銀粒子のD50%を0.4μm以上とすることで、効果的に耐酸化性が向上する傾向にある。また、銀粒子のD50%を10μm以下とすることで、電極中における銀粒子と、リン−錫−ニッケル含有銅合金粒子、リン含有銅合金粒子、錫含有粒子、ニッケル含有粒子等との接触面積が大きくなり、電極の抵抗率が効果的に低下する傾向にある。
尚、銀粒子の粒子径(D50%)の測定方法は、リン−錫含有銅合金粒子の粒子径の測定方法と同様である。
また、銀粒子の形状としては特に制限はなく、略球状、扁平状、ブロック状、板状、鱗片状等のいずれであってもよい。耐酸化性と電極の低抵抗率化の観点から、銀粒子の形状は、略球状、扁平状又は板状であることが好ましい。
金属粒子として銀粒子を含む場合、銀粒子の含有率としては、金属粒子の含有率を100.0質量%としたときの銀粒子の含有率が、例えば、0.1質量%〜20.0質量%であることが好ましく、0.5質量%〜15.0質量%であることがより好ましい。
また、耐酸化性とSn−P−Oガラス相の形成能の観点から、金属粒子の含有率を100.0質量%としたときの銅含有率は、例えば、60.0質量%〜95.0質量%であることが好ましく、65.0質量%〜88.0質量%であることがより好ましく、70質量%〜85.0質量%であることが更に好ましい。
電極形成用組成物における、耐酸化性と電極の低抵抗率化の観点から、金属粒子の含有率は、60質量%〜94質量%であることが好ましく、64質量%〜88質量%であることがより好ましい。
(ガラス粒子)
本発明の太陽電池の製造に使用される電極形成用組成物は、ガラス粒子を含有する。電極形成用組成物がガラス粒子を含むことにより、熱処理(焼成)において形成した電極と半導体基板との密着性が向上する。特に、太陽電池受光面側の電極形成において、熱処理(焼成)時にいわゆるファイアースルーによって反射防止層を構成する窒化ケイ素が取り除かれ、電極と半導体基板とのオーミックコンタクトが形成される。
ガラス粒子は、電極と半導体基板との密着性の向上と形成される電極の低抵抗率化の観点から、軟化温度が650℃以下であり、結晶化開始温度が650℃を超えることが好ましい。尚、前記軟化温度及び前記結晶化開始温度は、示差熱−熱重量分析装置(TG−DTA)を用いて通常の方法によって測定される。
電極形成用組成物を太陽電池の受光面側の電極として使用する場合、ガラス粒子は、電極形成温度で軟化又は溶融し、窒化ケイ素で構成される反射防止層に接触して窒化ケイ素を酸化して二酸化ケイ素を生成し、この二酸化ケイ素を取り込むことで、反射防止層を除去可能なものであれば、当該技術分野において通常用いられるガラス粒子を特に制限なく用いることができる。
一般に電極形成用組成物に含まれるガラス粒子は、二酸化ケイ素を効率よく取り込み可能になるという観点から、鉛を含むことが好ましい。このような鉛を含むガラスとしては、特許第3050064号公報等に記載のものを挙げることができ、本発明においてもこれらを好適に使用することができる。また、環境に対する影響を考慮すると、鉛を実質的に含まない鉛フリーガラスを用いることが好ましい。鉛フリーガラスとしては、特開2006−313744号公報の段落番号0024〜0025に記載の鉛フリーガラス、特開2009−188281号公報に記載の鉛フリーガラス等を挙げることができ、これらの鉛フリーガラスから適宜選択して本発明で使用される電極形成用組成物に適用することもまた好ましい。
電極形成用組成物を太陽電池の受光面側の電極以外の電極、例えば、裏面出力取出し電極、バックコンタクト型太陽電池素子におけるスルーホール電極及び裏面電極の形成に用いる場合には、ガラス粒子は、軟化温度が650℃以下であって、結晶化開始温度が650℃を超えることが好ましい。このようなガラス粒子であれば、鉛のようなファイアースルーに必要な成分を含まないガラス粒子を用いることができる。
ガラス粒子を構成するガラス成分としては、例えば、二酸化ケイ素(SiO又はSiO)、酸化リン(P)、酸化アルミニウム(Al)、酸化ホウ素(B)、酸化バナジウム(V)、酸化カリウム(KO)、酸化ビスマス(Bi)、酸化ナトリウム(NaO)、酸化リチウム(LiO)、酸化バリウム(BaO)、酸化ストロンチウム(SrO)、酸化カルシウム(CaO)、酸化マグネシウム(MgO)、酸化ベリリウム(BeO)、酸化亜鉛(ZnO)、酸化鉛(PbO)、酸化カドミウム(CdO)、酸化スズ(SnO)、酸化ジルコニウム(ZrO)、酸化タングステン(WO)、酸化モリブデン(MoO)、酸化ランタン(La)、酸化ニオブ(Nb)、酸化タンタル(Ta)、酸化イットリウム(Y)、酸化チタン(TiO)、酸化ゲルマニウム(GeO)、酸化テルル(TeO)、酸化ルテチウム(Lu)、酸化アンチモン(Sb)、酸化銅(CuO)、酸化鉄(FeO、Fe又はFe)、酸化銀(AgO又はAgO)及び酸化マンガン(MnO)が挙げられる。
中でも、SiO、P、Al、B、V、Bi、ZnO及びPbOからなる群より選択される少なくとも1種を含むガラス粒子を用いることが好ましく、SiO、Al、B、Bi及びPbOからなる群より選択される少なくとも1種を含むガラス粒子を用いることがより好ましい。このようなガラス粒子の場合には、軟化温度がより効果的に低下する傾向にある。更にこのようなガラス粒子は、金属粒子との濡れ性が向上するため、熱処理(焼成)工程での金属粒子間の焼結が進み、抵抗率の低い電極を形成することができる傾向にある。
他方、電極の接触抵抗率を低下させる観点からは、例えば、酸化リンを含むガラス粒子(リン酸ガラス、P系ガラス粒子)であることが好ましく、酸化リンに加えて酸化バナジウムを更に含むガラス粒子(P−Vガラス粒子)であることがより好ましい。酸化バナジウムを更に含むことで、耐酸化性が向上し、電極の抵抗率が低下する傾向にある。これは、例えば、酸化バナジウムを更に含むことでガラスの軟化温度が低下することに起因すると考えることができる。酸化リン−酸化バナジウムガラス粒子(P−Vガラス粒子)を用いる場合、酸化バナジウムの含有率としては、例えば、ガラスの全質量中に1質量%以上であることが好ましく、1質量%〜70質量%であることがより好ましい。
ガラス粒子の粒子径としては特に制限はない。ガラス粒子のD50%は、例えば、0.5μm〜10μmであることが好ましく、0.8μm〜8μmであることがより好ましい。ガラス粒子のD50%を0.5μm以上とすることで、電極形成用組成物の調製における作業性が向上する傾向にある。ガラス粒子のD50%を10μm以下とすることで、電極形成用組成物中にガラス粒子が均一に分散し、熱処理(焼成)工程で効率よくファイアースルーを生じることができ、更に、形成される電極の半導体基板との密着性も向上する傾向にある。
尚、ガラス粒子の粒子径(D50%)の測定方法は、リン−錫含有銅合金粒子の粒子径の測定方法と同様である。
ガラス粒子の形状としては特に制限はなく、略球状、扁平状、ブロック状、板状、鱗片状等のいずれであってもよい。耐酸化性と電極の低抵抗率化の観点から、ガラス粒子の形状は、略球状、扁平状、又は板状であることが好ましい。
ガラス粒子の含有率としては電極形成用組成物の全質量中に、例えば、0.1質量%〜12質量%であることが好ましく、0.5質量%〜10質量%であることがより好ましく、1質量%〜9質量%であることが更に好ましい。かかる範囲の含有率でガラス粒子を含むことで、効果的に耐酸化性、電極の低抵抗率化、及び低接触抵抗率化が達成され、また金属粒子間の反応を促進させることができる傾向にある。
電極形成用組成物は、金属粒子の含有量に対するガラス粒子の含有量の質量比(ガラス粒子/金属粒子)が、例えば、0.01〜0.18であることが好ましく、0.03〜0.15であることがより好ましい。かかる範囲の含有率でガラス粒子を含むことで、効果的に耐酸化性、電極の低抵抗率化及び低接触抵抗率化が達成され、また金属粒子間の反応を促進させることができる傾向にある。
更に、金属粒子の粒子径(D50%)に対するガラス粒子の粒子径(D50%)の比(ガラス粒子/金属粒子)が、例えば、0.05〜100であることが好ましく、0.1〜20であることがより好ましい。かかる粒子径の比とすることで、効果的に耐酸化性、電極の低抵抗率化、及び低接触抵抗率化が達成される傾向にある。更に、金属粒子間の接触、及び反応を促進させることができる傾向にある。
(分散媒)
本発明の太陽電池の製造に使用される電極形成用組成物は、分散媒を含有してもよい。これにより電極形成用組成物の液物性(粘度、表面張力等)を、半導体基板等に付与する際の付与方法に適した範囲内に調整することができる。分散媒としては、溶剤及び樹脂の少なくとも1種が挙げられる。
溶剤としては特に制限はない。溶剤としては、ヘキサン、シクロヘキサン、トルエン等の炭化水素溶剤、ジクロロエチレン、ジクロロエタン、ジクロロベンゼン等のハロゲン化炭化水素溶剤、テトラヒドロフラン、フラン、テトラヒドロピラン、ピラン、ジオキサン、1,3−ジオキソラン、トリオキサン等の環状エーテル溶剤、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジメチルアセトアミド等のアミド溶剤、ジメチルスルホキシド、ジエチルスルホキシド等のスルホキシド溶剤、アセトン、メチルエチルケトン、ジエチルケトン、シクロヘキサノン等のケトン溶剤、エタノール、2−プロパノール、1−ブタノール、ジアセトンアルコール等のアルコール溶剤、2,2,4−トリメチル−1,3−ペンタンジオールモノアセテート、2,2,4−トリメチル−1,3−ペンタンジオールモノプロピオネート、2,2,4−トリメチル−1,3−ペンタンジオールモノブチレート、2,2,4−トリメチル−1,3−ペンタンジオールモノイソブチレート、2,2,4−トリエチル−1,3−ペンタンジオールモノアセテート、エチレングリコールモノブチルエーテルアセテート、ジエチレングリコールモノブチルエーテルアセテート等の多価アルコールのエステル溶剤、ブチルセロソルブ、ジエチレングリコールモノブチルエーテル、ジエチレングリコールジエチルエーテル等の多価アルコールのエーテル溶剤、α−テルピネン等のテルピネン、α−テルピネオール等のテルピネオール、α−ピネン、β−ピネン等のピネン、ミルセン、アロオシメン、リモネン、ジペンテン、カルボン、オシメン、フェランドレン等のテルペン溶剤などが挙げられる。
電極形成用組成物において、溶剤は1種単独で用いても、2種以上を組み合わせて用いてもよい。
溶剤としては、電極形成用組成物を半導体基板に付与する際の付与性(塗布性又は印刷性)の観点から、例えば、多価アルコールのエステル溶剤、テルペン溶剤及び多価アルコールのエーテル溶剤からなる群より選択される少なくとも1種であることが好ましく、多価アルコールのエステル溶剤及びテルペン溶剤からなる群より選択される少なくとも1種であることがより好ましい。
樹脂としては、熱処理(焼成)によって熱分解され得る樹脂であれば、当該技術分野において通常用いられる樹脂を特に制限なく用いることができ、天然高分子化合物であっても合成高分子化合物であってもよい。具体的には、樹脂としては、メチルセルロース、エチルセルロース、カルボキシメチルセルロース、ニトロセルロース等のセルロース樹脂、ポリビニルアルコール樹脂、ポリビニルピロリドン樹脂、ポリアクリル酸エチル等のアクリル樹脂、酢酸ビニル−アクリル酸エステル共重合体、ポリビニルブチラール等のブチラール樹脂、フェノール変性アルキド樹脂、ひまし油脂肪酸変性アルキド樹脂等のアルキド樹脂、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、ロジンエステル樹脂などを挙げることができる。樹脂は1種単独で用いても、2種以上を組み合わせて用いてもよい。
電極形成用組成物が樹脂を含有する場合、熱処理(焼成)における消失性の観点から、セルロース樹脂、及びアクリル樹脂からなる群より選択される少なくとも1種であることが好ましい。
樹脂の重量平均分子量は特に制限されない。中でも樹脂の重量平均分子量は、例えば、5000〜500000が好ましく、10000〜300000であることがより好ましい。樹脂の重量平均分子量が5000以上であると、電極形成用組成物の粘度の増加が抑制できる傾向にある。これは例えば、樹脂を金属粒子に吸着させたときの立体的な反発作用が充分となり、これら樹脂同士の凝集が抑制されるためと考えることができる。一方、樹脂の重量平均分子量が500000以下であると、樹脂同士が溶剤中で凝集することが抑制され、電極形成用組成物の粘度の増加が抑制できる傾向にある。また樹脂の重量平均分子量が500000以下であると、樹脂の燃焼温度が高くなることが抑制され、電極形成用組成物を熱処理(焼成)する際に樹脂が燃焼されずに異物として残存することが抑制され、低抵抗率な電極を形成することができる傾向にある。
重量平均分子量はGPC(ゲルパーミエーションクロマトグラフィー)を用いて測定される分子量分布から標準ポリスチレンの検量線を使用して換算して求められる。検量線は、標準ポリスチレンの5サンプルセット(PStQuick MP−H、PStQuick B、東ソー(株))を用いて3次元で近似する。GPCの測定条件は、以下の通りである。
・装置:(ポンプ:L−2130型[(株)日立ハイテクノロジーズ])、(検出器:L−2490型RI[(株)日立ハイテクノロジーズ])、(カラムオーブン:L−2350[(株)日立ハイテクノロジーズ])
・カラム:Gelpack GL−R440 + Gelpack GL−R450 + Gelpack GL−R400M(計3本)(日立化成(株))
・カラムサイズ:10.7mm×300mm(内径)
・溶離液:テトラヒドロフラン
・試料濃度:10mg/2mL
・注入量:200μL
・流量:2.05mL/分
・測定温度:25℃
電極形成用組成物中が分散媒を含有する場合、分散媒の含有率は、電極形成用組成物が所望の液物性となるように、使用する分散媒の種類に応じて適宜選択することができる。例えば、分散媒の含有率が、電極形成用組成物の全質量中に3質量%〜40質量%であることが好ましく、5質量%〜35質量%であることがより好ましく、7質量%〜30質量%であることが更に好ましい。
分散媒の含有率が上記範囲内であることにより、電極形成用組成物を半導体基板に付与する際の付与適性が良好になり、所望の幅及び高さを有する電極を容易に形成することができる傾向にある。
電極形成用組成物が溶剤及び樹脂を含む場合、溶剤及び樹脂の含有比は、電極形成用組成物が所望の液物性となるように、使用する溶剤及び樹脂の種類に応じて適宜選択できる。
(フラックス)
太陽電池の製造に使用される電極形成用組成物は、フラックスを含有してもよい。フラックスを含むことで、金属粒子の表面に酸化膜が形成された場合に該酸化膜を除去し、熱処理(焼成)中の金属粒子の反応を促進させることができる傾向にある。またフラックスを含むことで、電極と半導体基板との密着性が向上する傾向にある。
フラックスとしては、金属粒子の表面に形成される酸化膜を除去可能であれば特に制限はない。具体的には、例えば、脂肪酸、ホウ酸化合物、フッ化化合物、及びホウフッ化化合物を好ましいフラックスとして挙げることができる。フラックスは、1種単独で用いてもよく、又は2種以上を組み合わせて用いてもよい。
フラックスとしてより具体的には、ラウリン酸、ミリスチン酸、パルミチン酸、ステアリン酸、ソルビン酸、ステアロール酸、プロピオン酸、酸化ホウ素、ホウ酸カリウム、ホウ酸ナトリウム、ホウ酸リチウム、ホウフッ化カリウム、ホウフッ化ナトリウム、ホウフッ化リチウム、酸性フッ化カリウム、酸性フッ化ナトリウム、酸性フッ化リチウム、フッ化カリウム、フッ化ナトリウム、フッ化リチウム等が挙げられる。
中でも、熱処理(焼成)時の耐熱性(フラックスが熱処理(焼成)の低温時に揮発しない特性)及び金属粒子の耐酸化性の補完の観点から、ホウ酸カリウム及びホウフッ化カリウムがより好ましいフラックスとして挙げられる。
電極形成用組成物がフラックスを含有する場合、フラックスの含有率としては、金属粒子の耐酸化性を効果的に発現させる観点及び熱処理(焼成)完了時にフラックスが除去されることで形成される空隙率の低減の観点から、電極形成用組成物の全質量中、例えば、0.1質量%〜5.0質量%であることが好ましく、0.3質量%〜4.0質量%であることがより好ましく、0.5質量%〜3.5質量%であることが更に好ましく、0.7質量%〜3.0質量%であることが特に好ましく、1質量%〜2.5質量%であることが極めて好ましい。
(その他の成分)
本発明の太陽電池の製造に使用される電極形成用組成物は、上述の成分に加え、必要に応じて、当該技術分野で通常用いられるその他の成分を更に含有することができる。その他の成分としては、可塑剤、分散剤、界面活性剤、無機結合剤、金属酸化物、セラミック、有機金属化合物等を挙げることができる。
<電極形成用組成物の製造方法>
本発明の太陽電池の製造に使用される電極形成用組成物の製造方法としては、特に制限はない。金属粒子、ガラス粒子、及び必要に応じて添加される分散媒その他の成分を、通常用いられる分散方法又は混合方法を用いて、分散又は混合することで製造することができる。
分散方法及び混合方法は特に制限されず、通常用いられる分散方法及び混合方法から適宜選択して適用することができる。
<接続材料>
本発明の太陽電池の製造に使用される接続材料は、接着剤を含む。
接続材料は、太陽電池の製造工程において、電極形成用組成物により形成される電極と、後述する配線部材とを接続可能な接着剤を含むものであれば、形状、材質、含有成分等について特に制限されない。接続材料の状態としては、フィルム状、ペースト状、溶液状等を挙げることができる。接続材料の状態については、接続材料に含まれる成分の種類及び含有率によって適宜調整可能である。太陽電池の製造効率、取扱性、発電性能の安定性等の観点から、接続材料はフィルム状であることが好ましい。
フィルム状の接続材料を形成する場合、接続材料は、接着剤と、硬化剤と、フィルム形成材と、を含むことが好ましい。接続材料が接着剤と硬化剤とを含む場合、樹脂部は接着剤の硬化物を含む。このような接続材料としては、例えば、特開2007−214533号公報に記載の導電性接着フィルムを挙げることができ、本発明においてもこれらを好適に使用することができる。このような接続材料を用いることで、安定した発電性能を示す太陽電池及び太陽電池モジュールを提供することができる。これは、例えば以下のように考えることができる。
フィルム状の接続材料を用いて太陽電池素子の電極と配線部材との接続を行う場合は、200℃付近の低温領域での接続が可能となるため、厚さの薄い太陽電池素子を用いた場合でも、配線部材との接続の際の反り又は割れが発生するのを抑えることができる。また、はんだ接続の際に生じるはんだの染み出しが発生しないため、太陽電池素子の受光面積を広げることができ、結果として発電性能の向上も期待できる。
尚、特開2007−214533号公報等に記載の導電性接着フィルムは、導電性粒子を含んでおり、加熱圧着時に導電性粒子を介して基板間の導電性を発現することができる。接続材料はこの組成に限定されるものではなく、導電性粒子を含んでいなくてもよい。すなわち、接続材料に導電性粒子を含んでいない場合は、銅含有電極と配線部材は、加圧で接続材料が流動排除された部分にて直接接触することで導電性を得ることができる。
接続材料は、配線部材の加熱圧着の条件下で、例えば、40000Pa・s以下の粘度を有することが好ましい。40000Pa・s以下の粘度であれば、配線部材の加熱圧着時に、電極間の離間した領域、電極の表面の凹部及び電極内の空隙へ接続材料が容易に侵入可能となる傾向にある。接続材料の粘度は20000Pa・s以下であることが好ましく、15000Pa・s以下であることがより好ましい。尚、接続材料の粘度は、太陽電池の製造工程における取り扱いの点で、5000Pa・s以上であることが好ましい。
接続材料の粘度は、ずり粘弾測定装置(ARES、ティー・エイ・インスツルメント・ジャパン(株))を用いて、25℃で周波数10Hzの条件により確認することができる。
(接着剤)
接着剤としては、絶縁性を示すものであることが好ましい。絶縁性を示す接着剤としては、特に制限はないが、接着信頼性の観点から、熱硬化性樹脂を使用することが好ましい。熱硬化性樹脂としては公知のものを使用でき、例えば、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、メラミン樹脂及びアルキド樹脂が挙げられる。中でも充分な接続信頼性を得る観点から、エポキシ樹脂が好ましい。
接着剤の含有率は特に制限されない。硬化前のフィルム形成性又は硬化後の接着力の観点から、接続材料中に、例えば、20質量%〜70質量%であることが好ましく、30質量%〜60質量%であることがより好ましく、40質量%〜50質量%であることが更に好ましい。
(硬化剤)
接続材料に含有可能な硬化剤としては、アニオン重合性の触媒型硬化剤、カチオン重合性の触媒型硬化剤、重付加型の硬化剤等が挙げられる。これらは1種単独で用いても、2種以上を併用してもよい。これらのうち、速硬化性において優れ、化学当量的な考慮が不要である点から、アニオン又はカチオン重合性の触媒型硬化剤が好ましい。
アニオン又はカチオン重合性の触媒型硬化剤としては、例えば、第3級アミン誘導体、イミダゾール誘導体、ヒドラジド化合物、三フッ化ホウ素−アミン錯体、オニウム塩(スルホニウム塩、アンモニウム塩等)アミンイミド、ジアミノマレオニトリル、メラミン及びその誘導体、ポリアミンの塩、並びにジシアンジアミドが挙げられ、これらの変成物も用いることが可能である。重付加型の硬化剤としては、ポリアミン化合物、ポリメルカプタン、ポリフェノール、酸無水物等が挙げられる。
アニオン又はカチオン重合性の触媒型硬化剤としては、接着力の点では第3級アミン誘導体又はイミダゾール誘導体を用いることが好ましく、イミダゾール誘導体を用いることがより好ましい。
硬化剤としては、加熱圧着による反応開始の活性点が比較的明瞭であり、加熱圧着工程を伴う接続方法に好適であるとの理由から、潜在性硬化剤が好ましい。ここで潜在性硬化剤とは、ある特定の条件下(温度等)で硬化機能が発現されるものである。潜在性硬化剤としては、通常の硬化剤をマイクロカプセル等で保護したもの、硬化剤と各種化合物とが塩を形成した構造のものなどが挙げられる。
このような潜在性硬化剤は、例えば、特定の温度を超えるとマイクロカプセル又は塩から硬化剤が系中に放出され、硬化機能を発現する。
潜在性硬化剤の例としては、アミン化合物とエポキシ化合物の反応生成物(アミンーエポキシアダクト系)、アミン化合物とイソシアネート化合物又は尿素化合物との反応生成物(尿素型アダクト系)等が挙げられる。潜在性硬化剤の市販品としては、アミキュア(味の素(株)、登録商標)、マイクロカプセル化されたアミンをフェノール樹脂に分散させたノバキュア(旭化成イーマテリアルズ(株)、登録商標)等が挙げられる。
接続材料における硬化剤の含有率は特に制限されない。接着力の観点から、接着剤と硬化剤との総含有率を100質量%としたときの硬化剤の含有率が、例えば、10質量%〜50質量%であることが好ましく、20質量%〜40質量%であることがより好ましい。
(フィルム形成材)
フィルム形成材としては、フェノキシ樹脂、アクリル樹脂、ポリカーボネート樹脂、アクリルゴム、ポリイミド樹脂、ポリアミド樹脂、ポリウレタン樹脂、ポリエステル樹脂、ポリエステルウレタン樹脂、ポリビニルブチラール樹脂等が挙げられ、フェノキシ樹脂又はアクリル樹脂であることが好ましい。
フィルム形成材の重量平均分子量としては、例えば、5000〜2000000が好ましく、8000〜1500000がより好ましく、10000〜1000000が更に好ましい。フィルム形成材の重量平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー法(GPC)を用いて定法に従い測定する。
フィルム形成材の含有率は特に制限されない。作製された接続材料の硬さ、後述の剥離フィルムからの剥がし易さ等の観点から、接着剤、硬化剤及びフィルム形成材との総含有率を100質量%としたときのフィルム形成材の含有率が、例えば、20質量%〜80質量%であることが好ましく、30質量%〜70質量%であることがより好ましい。
(導電性粒子)
接続材料は、導電性粒子を更に含有することができる。導電性粒子を含有することで、太陽電池モジュールの発電性能を向上することができる。
導電性粒子としては、特に限定されるものではない。導電性粒子としては、例えば、金粒子、銀粒子、銅粒子、ニッケル粒子、金めっきニッケル粒子、金/ニッケルめっきプラスチック粒子、銅めっき粒子、及びニッケル粒子が挙げられる。また導電性粒子を含有する場合は、導電性粒子の粒子径(D50%)は、例えば、1μm〜50μmであることが好ましく、1μm〜30μmであることがより好ましく,1μm〜25μmであることが更に好ましい。尚、導電性粒子の粒子径(D50%)の測定方法は、リン−錫含有銅合金粒子の粒子径の測定方法と同様である。
また、接続材料中の導電性粒子の含有率は、導電性の観点から、接続材料の全体積を100体積%として、例えば、1体積%〜15体積%であることが好ましく、2体積%〜12体積%であることがより好ましく、3体積%〜10体積%であることが更に好ましい。
(その他の成分)
接続材料は、上述した成分に加え、接着性又は濡れ性を改善するために、シランカップリング剤、チタネートカップリング剤、アルミネートカップリング剤等の改質材料を含有させることができる。また、導電性粒子を加える場合は、その分散性を向上させるために、リン酸カルシウム、炭酸カルシウム等の分散剤、銀又は銅マイグレーション等を抑制するためのキレート材料などを含有させることができる。
接続材料は、例えば、上述の各種材料を溶剤に溶解又は分散させてなる塗布液をポリエチレンテレフタレートフィルム等の剥離フィルム上に塗布し、溶剤を除去することにより作製することができる。
<配線部材>
本発明の太陽電池の製造に使用される配線部材は特に制限されない。配線部材としては、例えば、太陽電池用のはんだ被覆された銅線(タブ線)を好適に用いることができる。はんだの組成は、Sn−Pb系、Sn−Pb−Ag系、Sn−Ag−Cu系等を挙げることができる。環境に対する影響を考慮すると、実質的に鉛を含まないSn−Ag−Cu系はんだを用いることが好ましい。
タブ線の銅線の厚さについては特に制限されない。銅線の厚さは、加熱加圧処理時の太陽電池素子との熱膨脹係数差又は接続信頼性及びタブ線自身の抵抗率の観点から、例えば、0.05mm〜0.5mmとすることができ、0.1mm〜0.5mmとすることが好ましい。
タブ線の断面形状は特に制限されない。タブ線の断面形状が長方形のもの(平タブ)及び楕円形のもの(丸タブ)のいずれも適用でき、加熱圧着の際の、電極間の離間した領域、電極の表面の凹部及び電極内の空隙への接続材料の入り込み性、加熱圧着時の圧力の均一性等の観点から、断面形状が長方形のタブ線(平タブ)を用いることが好ましい。
タブ線の総厚みは特に制限されない。加熱圧着時の圧力の均一性などの観点から、タブ線の総厚みは、例えば、0.1mm〜0.7mmとすることが好ましく、0.15mm〜0.5mmとすることがより好ましい。
[太陽電池の製造方法]
本発明の太陽電池の製造方法は、本発明の条件を満たす太陽電池を製造可能であれば特に制限されない。例えば、電極形成用組成物をpn接合を有する半導体基板上に付与する工程(電極形成用組成物付与工程という)と、電極形成用組成物が付与された半導体基板を熱処理(焼成)して電極を形成する工程(電極形成工程という)とを含む太陽電池素子の製造工程と、太陽電池素子の電極上に接続材料及び配線部材をこの順に積層し、積層体を得る工程(積層工程という)と、前記積層体を加熱加圧処理する工程(加熱加圧処理工程という)と、を含む太陽電池の製造工程と、を有する方法によって製造することができる。
以下、本発明の太陽電池の製造方法の一例について説明する。
(太陽電池素子の製造工程)
電極形成用組成物付与工程と電極形成工程により、太陽電池素子が得られる。
電極形成用組成物付与工程では、半導体基板上の電極を形成する領域に、電極形成用組成物を付与する。電極形成用組成物を付与する方法としては、例えば、スクリーン印刷法、インクジェット法、及びディスペンサー法を挙げることができる。生産性の観点からは、スクリーン印刷法による付与であることが好ましい。
電極形成用組成物をスクリーン印刷法によって半導体基板等に付与する場合、電極形成用組成物は、ペースト状であることが好ましい。ペースト状の電極形成用組成物は、20Pa・s〜1000Pa・sの範囲の粘度を有することが好ましい。尚、電極形成用組成物の粘度は、ブルックフィールドHBT粘度計を用いて25℃の温度及び回転数5.0rpmの条件で測定される。
電極形成用組成物の半導体基板への付与量は、形成する電極の大きさ等に応じて適宜選択することができる。例えば、電極形成用組成物の付与量としては、例えば、2g/m〜10g/mとすることができ、4g/m〜8g/mであることが好ましい。
電極形成工程では、電極形成用組成物を付与した後の半導体基板を、乾燥後に熱処理(焼成)する。これにより、電極形成用組成物の熱処理(焼成)が行われて、半導体基板上の所望の領域に電極が形成され、太陽電池素子を得ることができる。電極形成用組成物としてリン及び銅を少なくとも含む金属粒子を含む組成物を用いることで、酸素の存在下(例えば、大気中)で熱処理(焼成)を行っても、抵抗率の低い銅含有電極を形成することができる。
電極形成用組成物を用いて半導体基板上に電極を形成する際の熱処理(焼成)条件としては、当該技術分野で通常用いられる熱処理(焼成)条件を適用することができる。
一般に、熱処理(焼成)温度としては800℃〜900℃であるが、リン及び銅を少なくとも含む金属粒子を含有する電極形成用組成物を用いる場合には、低温の熱処理(焼成)条件から一般的な熱処理(焼成)条件までの広範な範囲に適用することができる。例えば、450℃〜900℃の広範な熱処理(焼成)温度で良好な特性を有する電極を形成することができる。
また熱処理(焼成)時間は、熱処理(焼成)温度等に応じて選択することができ、例えば、1秒〜20秒とすることができる。
熱処理装置としては、上記温度に加熱できるものであれば特に制限されない。熱処理装置としては、例えば、赤外線加熱炉、トンネル炉等を挙げることができる。赤外線加熱炉は、電気エネルギーを電磁波の形で加熱材料に投入し、熱エネルギーに変換されるため高効率であり、かつ短時間での急速加熱が可能である。更に、燃焼による生成物が少なく、かつ非接触加熱であるため、形成される電極の汚染を抑えることが可能である。トンネル炉は、試料を自動で連続的に入り口から出口へ搬送し、熱処理(焼成)するため、炉体の区分けと搬送スピードの制御によって、均一に熱処理(焼成)することが可能である。太陽電池素子の発電性能の観点からは、トンネル炉により熱処理(焼成)することが好適である。
以下、太陽電池素子の具体例及びその製造方法を、図面を参照しながら説明するが、本発明はこれに限定されるものではない。また、各図における部材の大きさは概念的なものであり、部材間の大きさの相対的な関係はこれに限定されない。
代表的な太陽電池素子の一例を示す断面図、受光面及び裏面の概要を図4〜図7に示す。
図4の概略断面図に示されるように、半導体基板1の一方の面の表面付近にはn型拡散層2が形成され、n型拡散層2上に受光面出力取出し電極4及び反射防止層3が形成されている。また他方の面の表面付近にはp型拡散層7が形成され、p型拡散層7上に裏面出力取出し電極6及び裏面集電用電極5が形成されている。通常、太陽電池素子の半導体基板1には、単結晶又は多結晶シリコン基板が使用される。この半導体基板1には、ホウ素等が含有され、p型半導体を構成している。受光面側には太陽光の反射を抑制するために、NaOHとIPA(イソプロピルアルコール)とを含有するエッチング溶液を用いて、凹凸(テクスチャともいう、図示せず)が形成されている。その受光面側にはリン等が拡散(ドーピング)され、n型拡散層2がサブミクロンオーダーの厚さで形成され、p型バルク部分との境界にpn接合部が形成されている。更に受光面側には、n型拡散層2上に窒化ケイ素等の反射防止層3が、プラズマ励起化学気相成長(plasma−enhanced chemical vapor deposition、PECVD)等によって厚み90nm前後で設けられている。
次に、図5に概略を示す受光面側に設けられた受光面出力取出し電極4及び受光面集電用電極8並びに図7に概略を示す裏面に形成される裏面集電用電極5及び裏面出力取出し電極6の形成方法について説明する。
受光面出力取出し電極4、受光面集電用電極8及び裏面出力取出し電極6は、前記電極形成用組成物から形成される。また裏面集電用電極5はガラス粒子を含むアルミニウム電極形成用組成物から形成されている。受光面出力取出し電極4、受光面集電用電極8、裏面集電用電極5及び裏面出力取出し電極6を形成する第一の方法として、電極形成用組成物及びアルミニウム電極形成用組成物をスクリーン印刷等にて所望のパターンに付与した後、大気中750℃〜900℃程度で一括して熱処理(焼成)する方法が挙げられる。
熱処理(焼成)の際に、受光面側では、受光面出力取出し電極4と受光面集電用電極8を形成する電極形成用組成物に含まれるガラス粒子と、反射防止層3とが反応(ファイアースルー)して、受光面出力取出し電極4及び受光面集電用電極8とn型拡散層2とが電気的に接続(オーミックコンタクト)される。
金属粒子の金属成分としてリン及び銅を少なくとも含む電極形成用組成物を用いて受光面出力取出し電極4と受光面集電用電極8が形成する場合は、導電性金属として銅を含みながら、銅の酸化が抑制され、抵抗率の低い銅含有電極が良好な生産性で形成される。
更に、銅含有電極がCu−Sn合金相(銅と錫とを含有する合金相)及び/又はCu−Sn−Ni合金相(銅と錫とニッケルとを含有する合金相)とSn−P−Oガラス相(錫とリンと酸素とを含有するガラス相)とを含んで構成されることが好ましく、Sn−P−Oガラス相(不図示)が受光面出力取出し電極4、受光面集電用電極8、又は裏面出力取出し電極6と半導体基板1との間に配置されることがより好ましい。これにより銅と半導体基板との反応が抑制され、抵抗率が低く密着性に優れる電極を形成することができる。
また、裏面側では、熱処理(焼成)の際に、裏面集電用電極5を形成するアルミニウム電極形成用組成物中のアルミニウムが半導体基板1の裏面に拡散して、p型拡散層7を形成することによって、半導体基板1と裏面集電用電極5及び裏面出力取出し電極6との間にオーミックコンタクトを得ることができる。
受光面出力取出し電極4及び受光面集電用電極8と、裏面集電用電極5及び裏面出力取出し電極6とを形成する第二の方法として、裏面集電用電極5を形成するアルミニウム電極形成用組成物を先に印刷し、乾燥後に大気中750℃〜900℃程度で熱処理(焼成)して裏面集電用電極5を形成した後に、電極形成用組成物を受光面側及び裏面側に付与し、乾燥後に大気中450℃〜650℃程度で熱処理(焼成)して、受光面出力取出し電極4、受光面集電用電極8及び裏面出力取出し電極6を形成する方法が挙げられる。
この方法は、例えば以下の場合に有効である。すなわち、裏面集電用電極5を形成するアルミニウム電極形成用組成物を熱処理(焼成)する際に、650℃以下の熱処理(焼成)温度では、アルミニウム電極形成用組成物の組成によっては、アルミニウム粒子の焼結及び半導体基板1へのアルミニウム拡散量が不足して、p型拡散層7を充分に形成できない場合がある。この状態では裏面における半導体基板1と裏面集電用電極5及び裏面出力取出し電極6との間にオーミックコンタクトが充分に形成できなくなり、太陽電池素子としての発電性能が低下する場合がある。そこで、アルミニウム電極形成用組成物に最適な熱処理(焼成)温度(例えば、750℃〜900℃)で裏面集電用電極5を形成した後、電極形成用組成物を付与し、乾燥後に比較的低温(例えば、450℃〜650℃)で熱処理(焼成)して、受光面出力取出し電極4、受光面集電用電極8及び裏面出力取出し電極6を形成することが好ましい。
いずれの方法を選択した場合であっても、熱処理(焼成)後に得られる受光面集電用電極8及び裏面出力取出し電極6の厚みは、例えば、3μm〜50μm、好ましくは5μm〜30μmとすることができる。尚、本発明における層又は積層体の厚みは、対象となる層又は積層体の5点の厚みを測定し、その算術平均値として与えられる値とする。層又は積層体の厚みは、マイクロメータを用いて測定したものとする。
太陽電池素子は、図6の平面図で示すように、受光面出力取出し電極4を形成しない形態をとることも可能である。図6に示された太陽電池素子は、図5及び図7に示す構造を有する太陽電池素子と同様にして製造することができる。これは、例えば以下のように考えることができる。
本発明においては、接続材料を用いるため、前述したように配線部材を接続する対象は、はんだの濡れ性を必要としない。本発明では接続材料を用いることで、半導体基板1に形成された反射防止層3と、配線部材を強固に密着させることができる。また、電極間の離間した領域、電極の表面の凹部及び電極内の空隙の少なくとも一部に接続材料が入り込んでいるために、配線部材を強固に密着させることができる。更に、電極部と配線部材とが接触している部分を有しているか、接続材料が導電性粒子を含んでいる場合には、受光面集電用電極8と配線部材との電気的な接続が向上する。
(太陽電池の製造工程)
上述のようにして得られた太陽電池素子を用いて、積層工程と加熱加圧処理工程を経ることにより、太陽電池素子を含む太陽電池が得られる。
本発明の太陽電池は、金属部及びガラス部を含む電極部と、樹脂部とを含む導電層が半導体基板と配線部材との間に介在している構造を有する。導電層では、電極間の離間した領域、電極の表面の凹部及び電極内の空隙の少なくとも一部に接続材料の少なくとも一部が入り込んで樹脂部を形成していることで、電極部と配線部材との密着性に優れている。
次に、本発明の太陽電池の具体例及びその製造方法を、図8〜図10を参照しながら説明するが、本発明はこれに限定されるものではない。また、各図における部材の大きさは概念的なものであり、部材間の大きさの相対的な関係はこれに限定されない。
図8〜図10に示すように、受光面出力取出し電極4及び裏面出力取出し電極6に、接続材料10と配線部材9とをこの順に配して積層体を得て(積層工程)、得られた積層体を加熱加圧処理(加熱圧着処理)することで、受光面出力取出し電極4と配線部材9とが圧着され、裏面出力取出し電極6と配線部材9とが圧着されて太陽電池が形成される。太陽電池を複数接続する際は、配線部材9は、その一端が太陽電池素子の受光面出力取出し電極4と、他端が、別の太陽電池素子の裏面出力取出し電極6と、それぞれ配線部材9を介して接続されるように配列すればよい。尚、太陽電池を製造する場合においては、図6に示すように、受光面出力取出し電極4を形成しない太陽電池素子を用いることもできる。
太陽電池を製造する際、電極と配線部材とを加熱圧着させる条件としては、当該技術分野で通常用いられる加熱加圧処理条件を適用することができる。
一般に、加熱温度としては、例えば、150℃〜200℃であることが好ましく、150℃〜190℃であることがより好ましい。また圧着時の圧力は、例えば、0.1MPa〜4.0MPaであることが好ましく、0.5MPa〜3.5MPaであることがより好ましい。加熱加圧の時間は、例えば、3秒〜30秒であることが好ましく、4秒〜20秒であることがより好ましい。上記の条件で加熱加圧処理することによって、接続材料が電極間の離間した領域、電極の表面の凹部及び電極内の空隙に入り込み易くなり、電極と配線部材との接着力が向上し、また、接続材料が電極の表面から効率よく流動して排除されることで、電極と配線部材とが直接接触し易くなり、結果として電極と配線部材の電気的な接触抵抗を減少させることができる。
加圧の方向としては、少なくとも電極と配線部材との積層方向に加圧されて電極と配線部材とが接着されれば、いずれの方向であってもよい。
加熱圧着装置としては、上記温度と圧力を付与できるものであれば適宜採用することができ、例えば、加熱機構を有する圧着ヘッドを備える熱圧着機等を好適に用いることができる。この場合、目標圧力と接着面積から、圧着ヘッドの加圧力((目標圧力)×(接着面積))を適宜設定できるものが特に好ましい。
[太陽電池モジュール]
太陽電池モジュールは、太陽電池と、太陽電池における配線部材の一部が封止部分の外側に位置するように太陽電池を封止している封止材と、を有する。太陽電池モジュールには、例えば、太陽電池を、必要に応じて複数直列及び/又は並列に接続し、環境耐性のために強化ガラス等で挟み込み、間隙を透明性のある樹脂によって埋められ、封止部分の外側に位置した配線部材を外部端子として備えたものを包含する。
太陽電池モジュールの製造方法としては、例えば図11に示すように、ガラス板11と、封止材12と、配線部材9を備える太陽電池14と、封止材12と、バックシート13とをこの順に配し、真空ラミネータ等によって封止する封止工程を備える、一般的な方法を好適に用いることができる。ラミネート条件としては、封止材の種類によって決定されるが、例えば、130℃〜160℃で3分以上保持することが好ましく、135℃〜150℃で3分以上保持することがより好ましい。
ガラス板11としては、太陽電池用ディンプル付き白板強化ガラス等が挙げられる。封止材12としては、エチレンビニルアセテート(EVA)を含むEVAシートが挙げられる。バックシート13としては、ポリエチレンテレフタレート(PET)又はテドラー−PET積層材料、金属箔−PET積層材料等が挙げられる。
以下、本発明を実施例により具体的に説明するが、本発明はこれらの実施形態に限定されるものではない。
<実施例1>
(a)電極形成用組成物の調製
6質量%のリン及び15質量%の錫を含むリン−錫含有銅合金を常法により調製し、これを溶解して水アトマイズ法により粒子化した後、乾燥し、分級した。分級には、強制渦式分級機(ターボクラシファイア;TC−15、日清エンジニアリング(株))を用いた。分級した粒子を不活性ガスと混合して、脱酸素及び脱水処理を行い、6質量%のリン及び15質量%の錫を含むリン−錫含有銅合金粒子を作製した。尚、リン−錫含有銅合金粒子の粒子径(D50%)は5.0μmであり、その形状は略球状であった。
二酸化ケイ素(SiO)3質量部、酸化鉛(PbO)60質量部、酸化ホウ素(B)18質量部、酸化ビスマス(Bi)5質量部、酸化アルミニウム(Al)5質量部、及び酸化亜鉛(ZnO)9質量部からなるガラス(以下、「G01」と略記することがある)を調製した。得られたガラスG01の軟化温度は420℃、結晶化開始温度は650℃を超えていた。得られたガラスG01を用いて、粒子径(D50%)が2.5μmであるガラスG01粒子を得た。またその形状は略球状であった。
尚、リン−錫含有銅合金粒子及びガラス粒子の形状は、走査型電子顕微鏡(TM−1000型、(株)日立ハイテクノロジーズ)を用いて観察して判定した。リン−錫含有銅合金粒子及びガラス粒子の粒子径は、レーザー散乱回折法粒度分布測定装置(LS 13 320型、ベックマン・コールター(株)、測定波長:630nm)を用いて算出した。ガラス粒子の軟化温度及び結晶化開始温度は、示差熱−熱重量同時測定装置((株)島津製作所、DTG−60H型)を用いて、示差熱(DTA)曲線により求めた。具体的には、DTA曲線において、吸熱部から軟化点を、発熱部から結晶化開始温度を見積もることができる。
上記で得られたリン−錫含有銅合金粒子を72.0質量部、ガラスG01粒子を8.0質量部、ジエチレングリコールモノブチルエーテル(BC)を20.0質量部、及びポリアクリル酸エチル(EPA、藤倉化成(株)、重量平均分子量:155000)を5.0質量部、混ぜ合わせ、自動乳鉢混練装置を用いて混合してペースト化し、電極形成用組成物1を調製した。
得られた電極形成用組成物1の粘度を、ブルックフィールドHBT粘度計を用いて25℃の温度及び回転数5.0rpmの条件で測定したところ、31Pa・sであった。
(b)接続材料の調製
ブチルアクリレート40質量部と、エチルアクリレート30質量部と、アクリロニトリル30質量部と、グリシジルメタクリレート3質量部とを共重合してなるアクリルゴム(製品名:KS8200H、日立化成(株)、重量平均分子量:850,000)125gと、フェノキシ樹脂(製品名:PKHC、ユニオンカーバイド社、重量平均分子量45,000)50gとを、酢酸エチル400gに溶解し、30質量%溶液を得た。次いで、この溶液に、マイクロカプセル型潜在性硬化剤を含有する液状エポキシ樹脂(ノバキュアHX−3941HP、旭化成イーマテリアルズ(株)、エポキシ当量185g/eq)325gを加えて攪拌し、接着剤組成物を得た。更に、この接着剤組成物に、直径10μm程度のNi粒子を56g加え攪拌した。
上記で得られた接着剤組成物を、ポリエチレンテレフタレートフィルム上にアプリケータ(YOSHIMITSU SEIKI、(株)入江商会)を用いて塗布し、ホットプレート上で70℃の温度で10分間乾燥し、接続材料としての厚みが25μmの接続材料1を作製した。尚、接続材料の厚みは、マイクロメータ(ID−C112、(株)ミツトヨ)を用いて測定した。接続材料1の粘度は、ずり粘弾測定装置(ARES、ティー・エイ・インスツルメント・ジャパン(株))を用いて、25℃、周波数10Hzの条件で測定したところ、9800Pa・sであった。
(c)電極と配線部材の接続
上記(a)及び(b)で得られた電極形成用組成物1及び接続材料1を電極接続セットとして用意した。
また、前記電極接続セットに加えて、配線部材として太陽電池用はんだめっき平角線(製品名:SSA−TPS L 0.2×1.5(10)、厚さ0.2mm×幅1.5mmの銅線に、Sn−Ag−Cu系鉛フリーはんだを片面に10μmの厚さでめっきした仕様のもの、日立金属(株))を用意した。
これらを用いて以下のように、電極と配線部材を接続した。
まず、受光面にn型拡散層、テクスチャ及び反射防止層(窒化ケイ素層)が形成された厚み190μmのp型シリコン基板を用意し、125mm×125mmの大きさに切り出した。その受光面上に、上記で得られた電極形成用組成物1を図1に示すような受光面出力取出し電極となるようにスクリーン印刷法を用いて印刷した。スクリーン印刷では、熱処理(焼成)後の受光面出力取出し電極が、幅4mm×長さ6mmで、厚みが12μmとなるよう、印刷条件(スクリーン版のメッシュ、印刷速度、印圧等)を調整した。受光面出力取出し電極同士の間は、配線部材が延在する方向において10mmの間隔で離間するよう、印刷した。これを150℃に加熱したオーブンの中に5分間入れ、溶剤を蒸散により取り除いた。
続いて、トンネル炉(1列搬送W/Bトンネル炉、(株)ノリタケカンパニーリミテド)を用いて大気雰囲気下、最高温度800℃で保持時間10秒の熱処理(焼成)を行って、所望の電極を形成した。
接続材料1を、1.5mm幅に裁断し、用意した配線部材と電極又は半導体基板との間に、裁断後の接続材料1を配置した。次いで、熱圧着機(装置名:MB−200WH、日立化成(株))を用いて、180℃、2MPa、10秒の条件で加熱圧着し、電極及び半導体基板と配線部材とを接続材料1を介して接続した。
<実施例2〜5>
実施例1において、銅合金粒子のリン含有率、錫含有率及びニッケル含有率、粒子径(D50%)並びにその含有量、ニッケル含有粒子の組成、粒子径(D50%)及びその含有量、ガラス粒子の種類、粒子径(D50%)及びその含有量、溶剤の種類及びその含有量、並びに樹脂の種類及びその含有量を表1に示したように変更したこと以外は、電極形成用組成物1と同様にして電極形成用組成物2〜5をそれぞれ調製した。
尚、ガラスG02を用いる際は、まず、酸化バナジウム(V)45質量部、酸化リン(P)24.2質量部、酸化バリウム(BaO)20.8質量部、酸化アンチモン(Sb)5質量部、及び酸化タングステン(WO)5質量部からなるように調製し、これを粉砕して、粒子径(D50%)が2.5μmであるガラスG02粒子を得た。尚、ガラスG02の軟化温度は492℃であり、結晶化開始温度は650℃を超えていた。更にガラスG02粒子の形状は略球状であった。
次いで、電極形成用組成物2〜5をそれぞれ用いたこと以外は実施例1と同様にして、電極を形成した。更に、実施例1と同様に配線部材を接続した。
<実施例6>
実施例1において、接続材料を接続材料1から接続材料2に変更したこと以外は、実施例1と同様にして、電極及び半導体基板と配線部材を接続した。尚、接続材料2は、導電性粒子としてNi粒子を含まないこと以外は、接続材料1と同様にして作製した。接続材料2の粘度は、接続材料1と同様に測定したところ、9500Pa・sであった。
<実施例7>
実施例1において、下記に示す電極形成用組成物6を適用したこと以外は、実施例1と同様にして、電極及び半導体基板と配線部材を接続した。
電極形成用組成物6は、ガラス粒子の組成をガラスG01から、以下に示すガラスG03に変更したこと以外は、電極形成用組成物5と同様にして調製した。
ガラスG03を用いる際は、まず、二酸化ケイ素(SiO)10質量部、酸化ホウ素(B)44質量部、酸化亜鉛(ZnO)28質量部、酸化アルミニウム(Al)9質量部、及び酸化バリウム(BaO)9質量部からなるように調製し、これを粉砕して、粒子径(D50%)が2.5μmであるガラスG03粒子を得た。尚、ガラスG03の軟化温度は583℃であり、結晶化開始温度は650℃を超えていた。更にガラスG03粒子の形状は略球状であった。
<実施例8>
実施例7において、下記に示す電極形成用組成物7を適用したこと以外は、実施例7と同様にして、電極及び半導体基板と配線部材を接続した。
電極形成用組成物7は、ガラス粒子の組成をガラスG01から、以下に示すガラスG04に変更したこと以外は、電極形成用組成物5と同様にして調製した。
ガラスG04を用いる際は、まず、酸化ホウ素を12.8質量部、二酸化ケイ素を8.7質量部、及び酸化ビスマスを78.5質量部からなるように調製し、これを粉砕して、粒子径(D50%)が2.5μmであるガラスG04粒子を得た。尚、ガラスG04の軟化温度は451℃であり、結晶化開始温度は650℃を超えていた。更にガラスG04粒子の形状は略球状であった。
<実施例9>
実施例1において、電極形成用組成物1の溶剤及び樹脂を表1に示したように変更したこと以外は、実施例1と同様にして、電極形成用組成物8を調整した。次いで、電極及び半導体基板と配線部材を実施例1と同様接続した。
また表中における溶剤「Ter」はテルピネオールを、樹脂「EC」はエチルセルロース(ダウ・ケミカル日本(株)、重量平均分子量:190000)を、それぞれ示す。
<比較例1>
接続材料を介在させずに、電極及び半導体基板と配線部材を250℃で加熱圧着する以外は、実施例1と同様に接続した。
<比較例2>
接続材料を介在させずに、電極及び半導体基板と配線部材を250℃で加熱圧着する以外は、実施例2と同様に接続した。
<比較例3>
接続材料を介在させずに、電極及び半導体基板と配線部材を250℃で加熱圧着する以外は、実施例3と同様に接続した。
<比較例4>
接続材料を介在させずに、電極及び半導体基板と配線部材を250℃で加熱圧着する以外は、実施例4と同様に接続した。
<比較例5>
接続材料を介在させずに、電極及び半導体基板と配線部材を250℃で加熱圧着する以外は、実施例5と同様に接続した。
<比較例6>
接続材料を介在させずに、電極及び半導体基板と配線部材を250℃で加熱圧着する以外は、実施例6と同様に接続した。
<比較例7>
接続材料を介在させずに、電極及び半導体基板と配線部材を250℃で加熱圧着する以m外は、実施例7と同様に接続した。
<比較例8>
接続材料を介在させずに、電極及び半導体基板と配線部材を250℃で加熱圧着する以外は、実施例8と同様に接続した。
<比較例9>
接続材料を介在させずに、電極及び半導体基板と配線部材を250℃で加熱圧着する以外は、実施例9と同様に接続した。
<評価>
(ピール強度)
接続した配線部材のピール強度を測定した。尚、配線部材のピール強度は、卓上ピール試験機(装置名:EZ−S、(株)島津製作所)を用い、配線部材の90°剥離接着強さを測定した。また測定は、JIS K 6854−1:1999;接着剤−剥離接着強さ試験方法に準拠して行い、配線部材の引張り速度を50mm/min、配線部材の引張り距離を100mmとした。各試験について、配線部材引張り距離−試験力曲線をプロットし、引張り距離の10mm、20mm、30mm、40mm、及び50mmにおける試験力の平均値をピール強度とした。得られた値を、表2に示す。
実施例1〜9で接続した配線部材のピール強度は0.8N〜1.2Nで高強度であった。一方、比較例1〜9で接続した配線部材のピール強度は0.1N未満であり、低強度であった。
1 半導体基板
2 n型拡散層
3 反射防止層
4 受光面出力取出し電極
5 裏面集電用電極
6 裏面出力取出し電極
7 p型拡散層
8 受光面集電用電極
9 配線部材
10 接続材料
11 ガラス板
12 封止材
13 バックシート
14 太陽電池
101 半導体基板
102 電極部
103 導電層
104 配線部材
105 樹脂部

Claims (10)

  1. pn接合を有する半導体基板と、金属部及びガラス部を含む電極部、並びに樹脂部を含む導電層と、配線部材とがこの順に積層され、
    前記配線部材が延在する方向において、前記電極部は離間して設けられ、前記離間した領域に前記樹脂部を有してなる、太陽電池。
  2. 前記金属部が銅を含む、請求項1に記載の太陽電池。
  3. 前記金属部がCu−Sn−Ni合金相を含み、前記ガラス部がSn−P−Oガラス相を含む、請求項1又は請求項2に記載の太陽電池。
  4. 前記Sn−P−Oガラス相の少なくとも一部は、前記Cu−Sn−Ni合金相と前記半導体基板との間に配置されている、請求項3に記載の太陽電池。
  5. 前記電極部が、リン−錫含有銅合金粒子と、ガラス粒子とを含む電極形成用組成物の熱処理物を含む、請求項1〜請求項4のいずれか一項に記載の太陽電池。
  6. 前記電極形成用組成物が更にニッケル粒子を含む、請求項5に記載の太陽電池。
  7. 前記リン−錫含有銅合金粒子が更にニッケルを含む、請求項5又は請求項6に記載の太陽電池。
  8. 前記電極形成用組成物が、更に分散媒を含む、請求項5〜請求項7のいずれか一項に記載の太陽電池。
  9. 前記樹脂部が接着剤の硬化物を含む、請求項1〜請求項8のいずれか一項に記載の太陽電池。
  10. 請求項1〜請求項9のいずれか一項に記載の、配線部材を有する太陽電池と、
    前記太陽電池における前記配線部材の一部が封止部分の外側に位置するように、前記太陽電池を封止している封止材と、
    を有する太陽電池モジュール。
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