JP2016134538A - Multilayer substrate - Google Patents

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剛次 浅野
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拓也 三木
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a structure capable of suppressing rotation of a multilayer substrate, produced by dividing a substrate, even upon occurrence of cracking or chipping in a cut-out portion.SOLUTION: A multilayer substrate 100 constituted by laminating a plurality of layers 130 is partially recessed in the side faces 121, 122 facing a direction parallel with the detection axis of a sensor chip 200, and has a cut-out 140 penetrating the plurality of layers 130 in a direction perpendicular to a surface 110. The cut-out 140 has a pair of first protrusion 141 and second protrusion 142 where one layer 131 out of the plurality of layers 130 protrudes from other layer 132 in a direction parallel with the detection axis out of the surface directions parallel with the surface 110. Furthermore, the ends 145, 146 on the side of the side faces 121, 122 are located away from the side faces 121, 122, when the protrusion 141, 142 are viewed from a direction perpendicular to the surface 110.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、複数の層が積層されて構成された積層基板に関するものである。   The present invention relates to a laminated substrate configured by laminating a plurality of layers.

従来より、複数の層が積層されて構成された積層基板が、例えば特許文献1で提案されている。積層基板は、当該積層基板の厚み方向に延びる切り欠き部を有している。言い換えると、切り欠き部は積層基板の側面が凹んだ部分である。   Conventionally, for example, Patent Document 1 proposes a multilayer substrate configured by laminating a plurality of layers. The multilayer substrate has a notch extending in the thickness direction of the multilayer substrate. In other words, the notch is a portion where the side surface of the laminated substrate is recessed.

通常、積層基板は、複数の層が積層されて構成された一枚の基板が積層基板毎に分割されることで製造される。このため、切り欠き部は隣同士の積層基板に共通の貫通孔として基板に予め形成されている。これにより、基板が分割されたときに貫通孔が各積層基板の切り欠き部となる。   Usually, a multilayer substrate is manufactured by dividing a single substrate configured by laminating a plurality of layers into each multilayer substrate. For this reason, the notch part is previously formed in the board | substrate as a through-hole common to adjacent laminated substrates. Thereby, when a board | substrate is divided | segmented, a through-hole becomes a notch part of each laminated substrate.

そして、積層基板は、切り欠き部が実装用装置に設けられた凸部に嵌め込まれることで実装用装置に位置決め固定される。   Then, the laminated substrate is positioned and fixed to the mounting apparatus by fitting the notch portion into a convex portion provided in the mounting apparatus.

特開2014−157864号公報JP 2014-157864 A

ここで、加速度センサ等の慣性センサが積層基板に実装されるものでは、慣性センサが特定の方向に対して検出軸が傾いた状態にならないように上述の切り欠き部によって実装用装置に対する積層基板の位置決めが行われる。   Here, when an inertial sensor such as an acceleration sensor is mounted on a multilayer substrate, the multilayer substrate with respect to the mounting apparatus is provided by the above-described notch so that the inertial sensor is not inclined with respect to a specific direction. Positioning is performed.

しかし、基板が分割された際の衝撃で切り欠き部の角部に応力が集中し、当該角部に割れや欠けが発生してしまうという問題がある。これにより、切り欠き部に対する凸部の接触範囲が小さくなるので、凸部に対して積層基板が回転しやすくなる。したがって、慣性センサの他軸感度の精度が低下してしまう。   However, there is a problem that stress is concentrated on the corner of the notch due to the impact when the substrate is divided, and the corner is cracked or chipped. Thereby, since the contact range of the convex part with respect to a notch part becomes small, a laminated substrate becomes easy to rotate with respect to a convex part. Accordingly, the accuracy of the other axis sensitivity of the inertial sensor is lowered.

本発明は上記点に鑑み、基板が分割されたことで製造された積層基板において、切り欠き部の割れや欠けが発生しても積層基板の回転を抑制することができる構造を提供することを目的とする。   In view of the above points, the present invention provides a structure capable of suppressing the rotation of the laminated substrate even if the cutout portion is cracked or chipped in the laminated substrate manufactured by dividing the substrate. Objective.

上記目的を達成するため、請求項1に記載の発明では、複数の層(130)が積層された基板(160)が複数に分割されたことにより構成されていると共に、表面(110)及び側面(120)を有する板状であり、特定の方向に物理量を検出する検出軸が設定されたセンサチップ(200)が表面(110)に実装される積層基板であって、以下の点を特徴としている。   In order to achieve the above object, according to the first aspect of the present invention, the substrate (160) on which the plurality of layers (130) are stacked is divided into a plurality of parts, and the surface (110) and the side surface are formed. (120) is a laminated substrate on which a sensor chip (200) on which a detection axis for detecting a physical quantity in a specific direction is set is mounted on a surface (110), and is characterized by the following points Yes.

すなわち、側面(120)の一部が凹んでいると共に、表面(110)に垂直な方向に複数の層(130)を貫通した切り欠き部(140)を有している。   That is, a part of the side surface (120) is recessed and has a notch (140) penetrating a plurality of layers (130) in a direction perpendicular to the surface (110).

そして、切り欠き部(140)は、側面(120)に一対として設けられており、さらに、複数の層(130)のうちの少なくとも一つの層(131)が他の層(132)から表面(110)に平行な面方向のうち検出軸に対して平行な方向に突出した一対の第1突出部(141)及び第2突出部(142)を有し、各突出部(141、142)それぞれに接触するようにリブ(340)が嵌め込まれるようになっている。   The notches (140) are provided as a pair on the side surface (120), and at least one layer (131) of the plurality of layers (130) extends from the other layer (132) to the surface ( 110) and a pair of first protrusions (141) and second protrusions (142) that protrude in a direction parallel to the detection axis, and each of the protrusions (141, 142). The ribs (340) are fitted so as to come into contact with each other.

さらに、各突出部(141、142)は、当該突出部(141、142)を表面(110)に垂直な方向に見たときの側面(120)側の端部(145、146)が当該側面(120)から離れて位置していることを特徴とする。   Furthermore, each protrusion (141, 142) has an end (145, 146) on the side surface (120) side when the protrusion (141, 142) is viewed in a direction perpendicular to the surface (110). It is characterized by being located away from (120).

これによると、切り欠き部(140)における一対の各突出部(141、142)が側面(120)から離れて位置しているので、基板(160)が分割されたときの応力が一対の各突出部(141、142)に印加されないようにすることができる。このため、基板(160)が分割されたときに側面(120)と切り欠き部(140)の壁面とで構成される角部に割れや欠けが発生しても、一対の突出部(141、142)には割れや欠けが発生しない。したがって、一対の突出部(141、142)がリブ(340)に確実に接触するので、リブ(340)に対して積層基板の回転を抑制することができる。   According to this, since the pair of protrusions (141, 142) in the notch (140) is located away from the side surface (120), the stress when the substrate (160) is divided is a pair of each of the protrusions (141, 142). It can be prevented from being applied to the protrusions (141, 142). For this reason, even when a crack or a chip occurs in a corner formed by the side surface (120) and the wall surface of the notch (140) when the substrate (160) is divided, the pair of protrusions (141, 142) is not cracked or chipped. Therefore, since the pair of projecting portions (141, 142) is in reliable contact with the rib (340), the rotation of the multilayer substrate can be suppressed with respect to the rib (340).

なお、この欄及び特許請求の範囲で記載した各手段の括弧内の符号は、後述する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を示すものである。   In addition, the code | symbol in the bracket | parenthesis of each means described in this column and the claim shows the correspondence with the specific means as described in embodiment mentioned later.

本発明の第1実施形態に係る積層基板の平面図及び側面図である。It is the top view and side view of a laminated substrate which concern on 1st Embodiment of this invention. 積層基板の一部斜視図である。It is a partial perspective view of a multilayer substrate. 積層基板の一製造工程を示した図であり、基板に形成された貫通孔を示した平面図である。It is the figure which showed one manufacturing process of the laminated substrate, and is the top view which showed the through-hole formed in the board | substrate. ケースの穴部に積層基板が配置された部分示した平面図である。It is the top view which showed the part by which the multilayer substrate was arrange | positioned in the hole of the case. 本発明の第2実施形態に係る切り欠き部の平面図である。It is a top view of the notch which concerns on 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第3実施形態に係る切り欠き部の平面図である。It is a top view of the notch which concerns on 3rd Embodiment of this invention. 本発明の第4実施形態に係る切り欠き部の平面図である。It is a top view of the notch which concerns on 4th Embodiment of this invention. 本発明の第5実施形態に係る積層基板の平面図である。It is a top view of the laminated substrate which concerns on 5th Embodiment of this invention. 図8に対して検出軸方向を回転させてリブに固定した積層基板を示した平面図である。It is the top view which showed the laminated substrate fixed to the rib by rotating the detection-axis direction with respect to FIG.

以下、本発明の実施形態について図に基づいて説明する。なお、以下の各実施形態相互において、互いに同一もしくは均等である部分には、図中、同一符号を付してある。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In the following embodiments, the same or equivalent parts are denoted by the same reference numerals in the drawings.

(第1実施形態)
以下、本発明の第1実施形態について図を参照して説明する。本実施形態に係る積層基板は、加速度や角速度等のように検出軸が設定された物理量を検出する慣性センサのセンサチップが実装されるものであり、慣性センサの一部品として用いられるものである。
(First embodiment)
Hereinafter, a first embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. The multilayer substrate according to the present embodiment is mounted with a sensor chip of an inertial sensor that detects a physical quantity with a detection axis set such as acceleration and angular velocity, and is used as a component of the inertial sensor. .

図1に示されるように、積層基板100は、表面110及び側面120を有する板状のものである。本実施形態では、積層基板100は表面110の平面形状が四角形状をなしている。また、積層基板100は、センサチップ200や図示しない回路チップ及びパッド等が表面110に実装されている。なお、図1の側面図ではセンサチップ200を省略している。   As shown in FIG. 1, the laminated substrate 100 has a plate shape having a surface 110 and side surfaces 120. In the present embodiment, the planar shape of the surface 110 of the multilayer substrate 100 is a square shape. In the multilayer substrate 100, the sensor chip 200, a circuit chip (not shown), a pad, and the like are mounted on the surface 110. In the side view of FIG. 1, the sensor chip 200 is omitted.

センサチップ200は、特定の方向に物理量を検出する検出軸が設定されたセンシング部を有するセンサデバイスである。本実施形態では、図1のx方向を特定の方向とする。センシング部は、例えば櫛歯状の可動電極と固定電極とを有して構成されている。このような構成により、可動電極に加速度等の物理量が印加されることで可動電極と固定電極との間の静電容量が変化する。これにより、当該静電容量の変化に応じた加速度等の物理量が検出されるようになっている。   The sensor chip 200 is a sensor device having a sensing unit in which a detection axis for detecting a physical quantity in a specific direction is set. In the present embodiment, the x direction in FIG. 1 is a specific direction. The sensing unit includes, for example, a comb-like movable electrode and a fixed electrode. With such a configuration, the capacitance between the movable electrode and the fixed electrode changes when a physical quantity such as acceleration is applied to the movable electrode. As a result, a physical quantity such as acceleration corresponding to the change in the capacitance is detected.

そして、図1及び図2に示されるように、積層基板100は、複数の層130が積層されて構成されている。各層130は例えばセラミック基板である。すなわち、積層基板100は、積層セラミック基板である。積層基板100は、各層130の貼り合わせ部に図示しない配線パターンを有している。配線パターンは積層基板100の表面110に設けられた図示しないパッドに電気的に接続されている。   As shown in FIGS. 1 and 2, the multilayer substrate 100 is configured by laminating a plurality of layers 130. Each layer 130 is, for example, a ceramic substrate. That is, the multilayer substrate 100 is a multilayer ceramic substrate. The multilayer substrate 100 has a wiring pattern (not shown) at the bonding portion of each layer 130. The wiring pattern is electrically connected to a pad (not shown) provided on the surface 110 of the multilayer substrate 100.

また、積層基板100は外縁部の一部が切り取られた切り欠き部140を有している。言い換えると、切り欠き部140は積層基板100の外縁部のうちの一部が内側に凹んだ凹部であり、いわゆるキャスタレーションである。   In addition, the laminated substrate 100 has a notch 140 in which a part of the outer edge is cut off. In other words, the notch 140 is a recess in which a part of the outer edge of the multilayer substrate 100 is recessed inward, and is a so-called castellation.

具体的には、切り欠き部140は、積層基板100の側面120のうち検出軸に対して平行な方向(x方向)に面する側面121、122の一部が凹んでいると共に、積層基板100の表面110に垂直な方向(z方向)に複数の層130を貫通する部分である。つまり、切り欠き部140は積層基板100の厚み方向に貫通しており、スリット状になっている。   Specifically, the notch 140 has a part of the side surfaces 121 and 122 facing the direction parallel to the detection axis (x direction) of the side surface 120 of the multilayer substrate 100, and the multilayer substrate 100. This is a portion that penetrates the plurality of layers 130 in a direction (z direction) perpendicular to the surface 110 of the substrate. That is, the notch 140 penetrates in the thickness direction of the laminated substrate 100 and has a slit shape.

ここで、切り欠き部140は、側面120のうち検出軸に対して平行な方向に面する一対の側面121、122に対応して一対として設けられている。なお、面方向はx−y平面に平行な方向である。本実施形態では、1つの側面121に2個の切り欠き部140が設けられている。この側面121に対して反対側の側面122には、側面121に設けられた切り欠き部140に対して対となる切り欠き部140が2個設けられている。つまり、「一対」とは、側面121に形成された1個の切り欠き部140と、側面122に形成された1個の切り欠き部140と、を指している。   Here, the notch portions 140 are provided as a pair corresponding to the pair of side surfaces 121 and 122 facing the direction parallel to the detection axis among the side surfaces 120. The plane direction is a direction parallel to the xy plane. In the present embodiment, two notches 140 are provided on one side surface 121. The side surface 122 opposite to the side surface 121 is provided with two notch portions 140 that are paired with the notch portion 140 provided on the side surface 121. That is, “a pair” refers to one notch portion 140 formed on the side surface 121 and one notch portion 140 formed on the side surface 122.

さらに、本実施形態では、切り欠き部140は、側面120のうち一対の側面121、122に隣接する他の一対の側面123、124にも対応して一対として設けられている。各側面123、124には1個の切り欠き部140がそれぞれ形成されている。したがって、本実施形態では、積層基板100は4つの側面121〜124の全てに切り欠き部140を有している。   Furthermore, in this embodiment, the notch 140 is provided as a pair corresponding to the other pair of side surfaces 123 and 124 adjacent to the pair of side surfaces 121 and 122 of the side surface 120. One cutout 140 is formed on each of the side surfaces 123 and 124. Therefore, in the present embodiment, the multilayer substrate 100 has the cutout portions 140 on all of the four side surfaces 121 to 124.

そして、切り欠き部140は、複数の層130のうちの一つの層131に形成されたサイズが他の層132に形成されたサイズよりも小さくなっている。本実施形態では、複数の基板160のうち積層基板100の裏面150を構成する層131の切り欠き部140のサイズが小さくなっている。これにより、積層基板100の表面110に垂直な方向に切り欠き部140を見たとき、切り欠き部140において他の層132から一つの層131の一部が突出している。   In the notch 140, the size formed in one layer 131 of the plurality of layers 130 is smaller than the size formed in the other layer 132. In the present embodiment, the size of the notch 140 of the layer 131 constituting the back surface 150 of the multilayer substrate 100 among the plurality of substrates 160 is reduced. Thereby, when the cutout portion 140 is viewed in a direction perpendicular to the surface 110 of the multilayer substrate 100, a part of one layer 131 protrudes from the other layer 132 in the cutout portion 140.

具体的には、切り欠き部140は、複数の層130のうちの少なくとも一つの層131が他の層132から表面110に平行な面方向のうち検出軸に対して平行な方向に突出した一対の第1突出部141及び第2突出部142を有している。また、切り欠き部140は、表面110に平行な面方向のうち切り欠き部140の深さ方向の底部143において、複数の層130のうちの少なくとも一つの層131が他の層132から深さ方向に沿って第3突出部144を有している。本実施形態では、第3突出部144は、第1突出部141及び第2突出部142に繋がっており、各突出部141、142、144が一体化されている。各突出部141、142、144の幅は同じになっている。   Specifically, the notch 140 is a pair in which at least one layer 131 of the plurality of layers 130 protrudes from the other layer 132 in a direction parallel to the detection axis in a plane direction parallel to the surface 110. The first protrusion 141 and the second protrusion 142 are provided. Further, the notch 140 has a depth at the bottom 143 in the depth direction of the notch 140 in the plane direction parallel to the surface 110, so that at least one layer 131 of the plurality of layers 130 has a depth from the other layer 132. It has the 3rd protrusion part 144 along the direction. In the present embodiment, the third protrusion 144 is connected to the first protrusion 141 and the second protrusion 142, and the protrusions 141, 142, and 144 are integrated. The protrusions 141, 142, and 144 have the same width.

さらに、第1突出部141及び第2突出部142は、当該突出部141、142を表面110に垂直な方向に見たときの側面121〜124側の各端部145、146が各側面121〜124から離れて位置している。すなわち、第1突出部141の端部145及び第2突出部142の端部146は、各側面121〜124に接続されておらず、一定の間隔を持って切り欠き部140の内部に位置している。   Further, the first projecting portion 141 and the second projecting portion 142 are configured such that the end portions 145 and 146 on the side surfaces 121 to 124 side when the projecting portions 141 and 142 are viewed in the direction perpendicular to the surface 110 are the respective side surfaces 121 to 121. Located away from 124. That is, the end portion 145 of the first projecting portion 141 and the end portion 146 of the second projecting portion 142 are not connected to the side surfaces 121 to 124 and are located inside the notch portion 140 with a certain interval. ing.

このような第1突出部141及び第2突出部142の各端部145、146は、当該端部145、146を表面110に垂直な方向に見たときに、テーパ形状になっている。具体的には、各端部145、146は、検出軸に対して平行な方向の幅が各側面121〜124側に向かって小さくなるように、当該端部145、146の全部がテーパ形状になっている。以上が、本実施形態に係る積層基板100の全体構成である。   The end portions 145 and 146 of the first projecting portion 141 and the second projecting portion 142 have a tapered shape when the end portions 145 and 146 are viewed in a direction perpendicular to the surface 110. Specifically, the end portions 145 and 146 are all tapered so that the width in the direction parallel to the detection axis becomes smaller toward the side surfaces 121 to 124. It has become. The above is the overall configuration of the multilayer substrate 100 according to the present embodiment.

次に、積層基板100の製造方法について説明する。まず、配線パターンが形成された焼成前の生のセラミック板を複数用意して積層し、1つの大きな基板を構成する。一枚のセラミック基板が一つの層130に対応している。また、基板には積層基板100となる部分が複数含まれている。   Next, a method for manufacturing the multilayer substrate 100 will be described. First, a plurality of raw ceramic plates before firing on which a wiring pattern is formed are prepared and laminated to constitute one large substrate. One ceramic substrate corresponds to one layer 130. Further, the substrate includes a plurality of portions to be the laminated substrate 100.

続いて、図3に示されるように、基板160において、隣り合う積層基板100の切り欠き部140に対応する部分に貫通孔161をプレス機によって形成する。このプレスの際に、最下層の層131だけ切り欠き部140のサイズが小さくなるように貫通孔161を形成する。すなわち、当該層131に各突出部141、142、144が残されるように基板160をプレスする。このとき、隣り合う積層基板100の境界部に基板160を割りやすくするライン等を入れても良い。   Subsequently, as shown in FIG. 3, in the substrate 160, a through-hole 161 is formed in a portion corresponding to the notch portion 140 of the adjacent laminated substrate 100 by a press machine. During this pressing, the through-hole 161 is formed so that the size of the notch 140 is reduced only by the lowermost layer 131. That is, the substrate 160 is pressed so that the protrusions 141, 142, and 144 are left on the layer 131. At this time, a line or the like that makes it easy to split the substrate 160 may be provided at the boundary between adjacent laminated substrates 100.

なお、上記では生のセラミック基板を複数積層して基板160を形成した後に貫通孔161を設けていたが、他の方法で基板160を形成しても良い。例えば、予め貫通孔161が設けられた生のセラミック基板を複数用意しておき、各セラミック基板の貫通孔161が連通するように複数のセラミック基板を積層して基板160を形成しても良い。   In the above description, the through-hole 161 is provided after a plurality of raw ceramic substrates are stacked to form the substrate 160. However, the substrate 160 may be formed by other methods. For example, a plurality of raw ceramic substrates provided with through holes 161 in advance may be prepared, and a plurality of ceramic substrates may be stacked to form the substrate 160 so that the through holes 161 of each ceramic substrate communicate with each other.

上述のように、第1突出部141及び第2突出部142の各端部145、146が各側面121〜124から離間しているので、一方の切り欠き部140の第1突出部141の端部145と他方の切り欠き部140の第2突出部142の端部146との間に隙間がある。同様に、一方の切り欠き部140の第2突出部142の端部146と他方の切り欠き部140の第1突出部141の端部145との間に隙間がある。そして、生の状態の基板160を焼成する。この後、図3に示された破線に沿って基板160を積層基板100毎に分割する。こうして、積層基板100が完成する。   As described above, since the end portions 145 and 146 of the first protrusion portion 141 and the second protrusion portion 142 are separated from the side surfaces 121 to 124, the end of the first protrusion portion 141 of the one notch portion 140 is provided. There is a gap between the portion 145 and the end 146 of the second protruding portion 142 of the other notch 140. Similarly, there is a gap between the end 146 of the second protrusion 142 of the one notch 140 and the end 145 of the first protrusion 141 of the other notch 140. Then, the raw substrate 160 is fired. Thereafter, the substrate 160 is divided for each laminated substrate 100 along the broken line shown in FIG. Thus, the laminated substrate 100 is completed.

次に、慣性センサのケースへの積層基板100の固定について説明する。まず、図4に示されるように、ケース300は、穴部310を有しており、例えば樹脂材料が成形されたものである。穴部310は、ケース300の外壁面の一部が凹んだ部分であり、壁部320及び底部330で構成されている。   Next, fixation of the multilayer substrate 100 to the case of the inertial sensor will be described. First, as shown in FIG. 4, the case 300 has a hole 310, for example, a resin material is molded. The hole portion 310 is a portion in which a part of the outer wall surface of the case 300 is recessed, and includes a wall portion 320 and a bottom portion 330.

また、ケース300はリブ340を有している。リブ340は、穴部310の壁部320の一部が積層基板100の表面110に平行な面方向のうちセンサチップ200の検出軸(X方向)に対して垂直な方向(Y方向)に突出した半円柱状の部分である。このリブ340が、積層基板100の切り欠き部140に嵌め込まれることで、ケース300の底部330において積層基板100の位置が固定される。   The case 300 has a rib 340. The rib 340 protrudes in a direction (Y direction) perpendicular to the detection axis (X direction) of the sensor chip 200 in a plane direction in which a part of the wall 320 of the hole 310 is parallel to the surface 110 of the multilayer substrate 100. This is a semi-cylindrical part. The rib 340 is fitted into the notch 140 of the multilayer substrate 100, so that the position of the multilayer substrate 100 is fixed at the bottom 330 of the case 300.

リブ340は、一対の切り欠き部140に対応して一対としてケース300に設けられている。また、一対のリブ340は、積層基板100の側面121、122に設けられた一対の切り欠き部140に嵌め込まれている。また、一対の切り欠き部140において一つの層131に形成された部分のうちセンサチップ200の検出軸に対して平行な方向に接触している。すなわち、リブ340は切り欠き部140の第1突出部141及び第2突出部142に接触している。これにより、第1突出部141及び第2突出部142は、センサチップ200の検出軸に対して平行な方向にリブ340の相対的な動きを規制することができる。つまり、第1突出部141から第2突出部142までのサイズは、リブ340のうちセンサチップ200の検出軸に対して平行な方向のサイズと同じになっている。   The ribs 340 are provided in the case 300 as a pair corresponding to the pair of cutout portions 140. Further, the pair of ribs 340 are fitted into the pair of cutout portions 140 provided on the side surfaces 121 and 122 of the multilayer substrate 100. The pair of cutout portions 140 are in contact with a direction parallel to the detection axis of the sensor chip 200 among the portions formed in one layer 131. That is, the rib 340 is in contact with the first protrusion 141 and the second protrusion 142 of the notch 140. Thereby, the first protrusion 141 and the second protrusion 142 can regulate the relative movement of the rib 340 in a direction parallel to the detection axis of the sensor chip 200. In other words, the size from the first protrusion 141 to the second protrusion 142 is the same as the size of the rib 340 in the direction parallel to the detection axis of the sensor chip 200.

さらに、リブ340の先端は、切り欠き部140の第3突出部144に接触している。これにより、第3突出部144は、センサチップ200の検出軸に対して垂直な方向にリブ340の相対的な動きを規制することができる。   Further, the tip of the rib 340 is in contact with the third protrusion 144 of the notch 140. Accordingly, the third protrusion 144 can restrict the relative movement of the rib 340 in the direction perpendicular to the detection axis of the sensor chip 200.

以上説明したように、本実施形態では、積層基板100の切り欠き部140において、他の層132よりもサイズが小さい層131による第1突出部141、第2突出部142、及び第3突出部144が設けられた構成が特徴となっている。そして、切り欠き部140における一対の各突出部141、142が側面121、122から一定の距離を持って離れて位置していることが特徴となっている。これにより、基板160が分割されたときの応力や、積層基板100の搬送、ケース300への組み付け時等の応力が各突出部141、142には印加されない。つまり、各突出部141、142の端部145、146は外部からの応力に強い構造になっているので、各突出部141、142に割れや欠けが発生しないようにすることができる。したがって、切り欠き部140の各突出部141、142にリブ340を確実に接触させることができ、ひいてはリブ340に対して積層基板100の回転を抑制することができる。   As described above, in the present embodiment, in the cutout portion 140 of the multilayer substrate 100, the first protrusion 141, the second protrusion 142, and the third protrusion due to the layer 131 having a smaller size than the other layers 132. The structure provided with 144 is a feature. The pair of protrusions 141 and 142 in the notch 140 is characterized by being spaced apart from the side surfaces 121 and 122 by a certain distance. As a result, stress when the substrate 160 is divided, stress during conveyance of the laminated substrate 100, assembly to the case 300, and the like are not applied to the protrusions 141 and 142. That is, since the end portions 145 and 146 of the protrusions 141 and 142 have a structure that is resistant to external stress, it is possible to prevent the protrusions 141 and 142 from being cracked or chipped. Therefore, the rib 340 can be reliably brought into contact with the projecting portions 141 and 142 of the notch 140, and consequently, the rotation of the multilayer substrate 100 can be suppressed with respect to the rib 340.

特に、切り欠き部140の割れや欠けを許容して切り欠き部140のサイズを大きくすることが考えられるが、積層基板100のサイズの小型化が要求される状況においては切り欠き部140のサイズを大きくすることはできない。しかしながら、本実施形態のように、各突出部141、142を設けると共にその端部145、146を側面121〜124から離間させることで、各突出部141、142に対してリブ340が接触する長さを確保できると共に、切り欠き部140のサイズを大きくする必要もないというメリットがある。   In particular, it is conceivable to increase the size of the cutout portion 140 by allowing cracks and cutouts in the cutout portion 140. However, the size of the cutout portion 140 is required in a situation where a reduction in the size of the laminated substrate 100 is required. Cannot be increased. However, as in the present embodiment, the protrusions 141 and 142 are provided and the end portions 145 and 146 are separated from the side surfaces 121 to 124 so that the rib 340 contacts the protrusions 141 and 142. There is an advantage that it is possible to secure the thickness and it is not necessary to increase the size of the notch 140.

さらに、本実施形態では、切り欠き部140の深さ方向に第3突出部144が設けられているので、切り欠き部140の深さ方向における積層基板100の移動を制限することもできる。   Furthermore, in this embodiment, since the 3rd protrusion part 144 is provided in the depth direction of the notch part 140, the movement of the laminated substrate 100 in the depth direction of the notch part 140 can also be restrict | limited.

なお、本実施形態では、各側面121、122に2つの切り欠き部140が設けられているので、両方の切り欠き部140にリブ340が嵌め込むこともできる。これにより、一方の切り欠き部140やリブ340に何かしらの問題が発生しても他方の切り欠き部140及びリブ340によって積層基板100の固定を維持することができる。したがって、切り欠き部140が側面121、122に複数設けられていることにより、冗長性を向上させることができる。   In the present embodiment, since the two notches 140 are provided on the side surfaces 121 and 122, the rib 340 can be fitted into both the notches 140. As a result, even if any problem occurs in one of the cutout portions 140 and the ribs 340, the laminated substrate 100 can be kept fixed by the other cutout portions 140 and the ribs 340. Therefore, by providing a plurality of notches 140 on the side surfaces 121 and 122, redundancy can be improved.

(第2実施形態)
本実施形態では、第1実施形態と異なる部分について説明する。図5に示されるように、第1突出部141及び第2突出部142の各端部145、146は、当該端部145、146を表面110に垂直な方向に見たときに、当該端部145、146の一部がテーパ形状になっている。各端部145、146はこのような形状になっていても良い。
(Second Embodiment)
In the present embodiment, parts different from the first embodiment will be described. As shown in FIG. 5, the end portions 145 and 146 of the first protrusion portion 141 and the second protrusion portion 142 correspond to the end portions when the end portions 145 and 146 are viewed in a direction perpendicular to the surface 110. Part of 145, 146 is tapered. Each end 145, 146 may have such a shape.

(第3実施形態)
本実施形態では、第1、第2実施形態と異なる部分について説明する。図6に示されるように、第1突出部141及び第2突出部142の各端部145、146は、円弧形状になっている。すなわち、各端部145、146を表面110に垂直な方向に見たときに、検出軸に対して平行な方向の幅が各側面121、122側に向かって小さくなるように、各端部145、146が円弧形状になっている。各端部145、146はこのような形状になっていても良い。
(Third embodiment)
In the present embodiment, parts different from the first and second embodiments will be described. As shown in FIG. 6, the end portions 145 and 146 of the first projecting portion 141 and the second projecting portion 142 have an arc shape. That is, when the end portions 145 and 146 are viewed in the direction perpendicular to the surface 110, the end portions 145 are arranged such that the width in the direction parallel to the detection axis decreases toward the side surfaces 121 and 122. 146 has an arc shape. Each end 145, 146 may have such a shape.

(第4実施形態)
本実施形態では、第1〜第3実施形態と異なる部分について説明する。図7に示されるように、第1突出部141及び第2突出部142の各端部145、146は、直角の形状になっている。すなわち、各端部145、146を表面110に垂直な方向に見たときに、互いに対向する部分がそれぞれ直角の形状になっている。言い換えると、各端部145、146は各側面121〜124に沿った壁面と切り欠き部140の深さ方向に沿った壁面とが直角に接続されて構成されている。各端部145、146はこのような形状になっていても良い。
(Fourth embodiment)
In the present embodiment, parts different from the first to third embodiments will be described. As shown in FIG. 7, the end portions 145 and 146 of the first projecting portion 141 and the second projecting portion 142 have a right-angled shape. That is, when the end portions 145 and 146 are viewed in the direction perpendicular to the surface 110, the portions facing each other have a right-angled shape. In other words, each of the end portions 145 and 146 is configured by connecting a wall surface along each of the side surfaces 121 to 124 and a wall surface along the depth direction of the cutout portion 140 at a right angle. Each end 145, 146 may have such a shape.

(第5実施形態)
本実施形態では、上記各実施形態と異なる部分について説明する。図8に示されるように、積層基板100の表面110が八角形になっている。また、切り欠き部140は、八角形状の各辺に対応した側面121〜128に1個ずつ設けられている。これにより、各切り欠き部140は対になっている。そして、積層基板100は一対のリブ340に嵌め込まれることでケース300に固定される。
(Fifth embodiment)
In the present embodiment, parts different from the above embodiments will be described. As shown in FIG. 8, the surface 110 of the laminated substrate 100 is octagonal. Further, one notch portion 140 is provided on each of the side surfaces 121 to 128 corresponding to the octagonal sides. Thereby, each notch part 140 is paired. The laminated substrate 100 is fixed to the case 300 by being fitted into the pair of ribs 340.

ここで、図9に示されるように、センサチップ200の検出軸の方向を回転させて積層基板100をリブ340に固定することができる。このように、積層基板100の各側面121〜128に切り欠き部140を設けることでケース300に対して検出軸の方向を自由に変更することができる。なお、積層基板100を回転させたことにより積層基板100がケース300に干渉することを防止するため、積層基板100の表面110は正八角形であることが好ましい。   Here, as shown in FIG. 9, the direction of the detection axis of the sensor chip 200 can be rotated to fix the multilayer substrate 100 to the rib 340. Thus, the direction of the detection axis can be freely changed with respect to the case 300 by providing the notches 140 on the respective side surfaces 121 to 128 of the multilayer substrate 100. In order to prevent the multilayer substrate 100 from interfering with the case 300 by rotating the multilayer substrate 100, the surface 110 of the multilayer substrate 100 is preferably a regular octagon.

(他の実施形態)
上記各実施形態で示された積層基板100の構成は一例であり、上記で示した構成に限定されることなく、本発明を実現できる他の構成とすることもできる。例えば、第1突出部141、第2突出部142、及び第3突出部144は全て同じ層131に形成されている必要はなく、全て別々の層130に形成されていても良い。また、第3突出部144は、第1突出部141及び第2突出部142に繋がっていなくても良い。さらには、少なくとも第1突出部141及び第2突出部142が設けられていれば良く、第3突出部144が設けられていなくても良い。
(Other embodiments)
The configuration of the multilayer substrate 100 shown in each of the above embodiments is an example, and the present invention is not limited to the configuration shown above, and other configurations that can realize the present invention can be used. For example, the first projecting portion 141, the second projecting portion 142, and the third projecting portion 144 do not have to be formed on the same layer 131, and may be formed on different layers 130. Further, the third protrusion 144 may not be connected to the first protrusion 141 and the second protrusion 142. Furthermore, at least the first protrusion 141 and the second protrusion 142 may be provided, and the third protrusion 144 may not be provided.

そして、上記各実施形態では各突出部141、142、144は、複数の層130のうちの一つの層に形成されていたが、複数の層130に形成されていても構わない。例えば各突出部141、142、144は、複数の層130のうちの二つの層130に形成されていても良い。   In each of the above embodiments, each of the protrusions 141, 142, and 144 is formed in one of the plurality of layers 130, but may be formed in the plurality of layers 130. For example, each protrusion 141, 142, 144 may be formed in two layers 130 of the plurality of layers 130.

上記各実施形態では、切り欠き部140は側面120のうち検出軸に対して平行な方向に面する側面121、122に設けられていたが、これは一例である。したがって、切り欠き部140は検出軸に対して平行な方向に面する側面121、122には設けられておらず、側面123、124に設けられていても良い。   In each of the above embodiments, the notch 140 is provided on the side surfaces 121 and 122 facing the direction parallel to the detection axis among the side surfaces 120, but this is an example. Therefore, the notch 140 is not provided on the side surfaces 121 and 122 facing in the direction parallel to the detection axis, but may be provided on the side surfaces 123 and 124.

上記各実施形態では、積層基板100の表面110の平面形状として四角形や八角形のものが示されているが、表面110の平面形状はこれらに限られない。例えば、三角形や五角形、六角形でも構わない。そして、切り欠き部140は、多角形状の各辺に対応した側面121〜128に少なくとも1つ設けられていれば良い。一方、積層基板100の表面110の平面形状は円形や楕円形でも良い。この場合でも、切り欠き部140は側面120に一対として設けられるので、積層基板100の回転の抑制は可能である。   In each of the above embodiments, a square or octagonal shape is shown as the planar shape of the surface 110 of the multilayer substrate 100, but the planar shape of the surface 110 is not limited to these. For example, a triangle, pentagon, or hexagon may be used. And the cutout part 140 should just be provided in the side surfaces 121-128 corresponding to each side of a polygonal shape. On the other hand, the planar shape of the surface 110 of the multilayer substrate 100 may be circular or elliptical. Even in this case, since the notches 140 are provided as a pair on the side surface 120, the rotation of the laminated substrate 100 can be suppressed.

第1実施形態では、リブ340に対応した側面121、122には切り欠き部140が2個設けられていたが、1個でも良い。また、側面123、124に一対の切り欠き部140が設けられていなくても良い。すなわち、切り欠き部140は側面120の全てに設けられていなくても良い。第5実施形態についても、切り欠き部140は八角形の各辺に対応した側面121〜128に1つずつ設けられていたが、八角形の1つの辺に複数の切り欠き部140が設けられていても良い。もちろん、八角形以外の他の多角形についても同様である。   In the first embodiment, two notches 140 are provided on the side surfaces 121 and 122 corresponding to the ribs 340, but one may be used. Further, the pair of notches 140 may not be provided on the side surfaces 123 and 124. That is, the notch 140 may not be provided on all of the side surfaces 120. Also in the fifth embodiment, one notch 140 is provided on each of the side surfaces 121 to 128 corresponding to each side of the octagon, but a plurality of notches 140 are provided on one side of the octagon. May be. Of course, the same applies to polygons other than octagons.

120〜128 側面
130、131、132 層
140 切り欠き部
141、142、144 突出部
143 底部
145、146 端部
160 基板
200 センサチップ
120-128 Side surface 130, 131, 132 Layer 140 Notch part 141, 142, 144 Protrusion part 143 Bottom part 145, 146 End part 160 Substrate 200 Sensor chip

Claims (7)

複数の層(130)が積層された基板(160)が複数に分割されたことにより構成されていると共に、表面(110)及び側面(120)を有する板状であり、特定の方向に物理量を検出する検出軸が設定されたセンサチップ(200)が前記表面(110)に実装される積層基板であって、
前記側面(120)の一部が凹んでいると共に、前記表面(110)に垂直な方向に前記複数の層(130)を貫通した切り欠き部(140)を有し、
前記切り欠き部(140)は、前記側面(120)に一対として設けられており、さらに、前記複数の層(130)のうちの少なくとも一つの層(131)が他の層(132)から前記表面(110)に平行な面方向のうち前記検出軸に対して平行な方向に突出した一対の第1突出部(141)及び第2突出部(142)を有し、前記各突出部(141、142)それぞれに接触するようにリブ(340)が嵌め込まれるようになっており、
さらに、前記各突出部(141、142)は、当該突出部(141、142)を前記表面(110)に垂直な方向に見たときの前記側面(120)側の端部(145、146)が当該側面(120)から離れて位置していることを特徴とする積層基板。
A substrate (160) on which a plurality of layers (130) are laminated is divided into a plurality of plates, and is a plate having a front surface (110) and a side surface (120). A sensor chip (200) on which a detection axis to be detected is set is a laminated substrate mounted on the surface (110),
A portion of the side surface (120) is recessed and has a notch (140) penetrating the plurality of layers (130) in a direction perpendicular to the surface (110);
The notch (140) is provided as a pair on the side surface (120), and at least one layer (131) of the plurality of layers (130) is separated from the other layer (132). It has a pair of first protrusions (141) and second protrusions (142) protruding in a direction parallel to the detection axis among the surface directions parallel to the surface (110), and each of the protrusions (141 142) the ribs (340) are fitted so as to be in contact with each other,
Further, the protrusions (141, 142) are end portions (145, 146) on the side surface (120) side when the protrusions (141, 142) are viewed in a direction perpendicular to the surface (110). Is located away from the side surface (120).
前記端部(145、146)は、当該端部(145、146)を前記表面(110)に垂直な方向に見たときに、前記検出軸に対して平行な方向の幅が前記側面(120)側に向かって小さくなるように、当該端部(145、146)の一部または全部がテーパ形状になっていることを特徴とする請求項1に記載の積層基板。   The end (145, 146) has a width in a direction parallel to the detection axis when the end (145, 146) is viewed in a direction perpendicular to the surface (110). 2. The multilayer substrate according to claim 1, wherein a part or all of the end portions (145, 146) are tapered so as to become smaller toward the) side. 前記端部(145、146)は、当該端部(145、146)を前記表面(110)に垂直な方向に見たときに、前記検出軸に対して平行な方向の幅が前記側面(120)側に向かって小さくなるように、当該端部(145、146)が円弧形状になっていることを特徴とする請求項1に記載の積層基板。   The end (145, 146) has a width in a direction parallel to the detection axis when the end (145, 146) is viewed in a direction perpendicular to the surface (110). The laminated substrate according to claim 1, wherein the end portions (145, 146) have an arc shape so as to become smaller toward the side. 前記端部(145、146)は、当該端部(145、146)を前記表面(110)に垂直な方向に見たときに、互いに対向する部分がそれぞれ直角の形状になっていることを特徴とする請求項1に記載の積層基板。   The end portions (145, 146) are formed such that, when the end portions (145, 146) are viewed in a direction perpendicular to the surface (110), the portions facing each other have a right-angled shape. The multilayer substrate according to claim 1. 前記切り欠き部(140)は、前記表面(110)に平行な面方向のうち当該切り欠き部(140)の深さ方向の底部(143)において、前記複数の層(130)のうちの少なくとも一つの層(131)が他の層(132)から前記深さ方向に沿って第3突出部(144)を有し、前記第3突出部(144)に接触するように前記リブ(340)が嵌め込まれるようになっていることを特徴とする請求項1ないし4のいずれか1つに記載の積層基板。   The notch (140) includes at least one of the plurality of layers (130) at the bottom (143) in the depth direction of the notch (140) in the plane direction parallel to the surface (110). One layer (131) has a third protrusion (144) along the depth direction from the other layer (132), and the rib (340) is in contact with the third protrusion (144). The laminated substrate according to claim 1, wherein the laminated substrate is fitted. 前記表面(110)は、平面形状が多角形状であり、
前記切り欠き部(140)は、前記多角形状の各辺に対応した側面(121〜128)に少なくとも1個設けられていることを特徴とする請求項1ないし5のいずれか1つに記載の積層基板。
The surface (110) has a polygonal shape in plan view.
The said notch (140) is provided in the side surface (121-128) corresponding to each side of the said polygonal shape at least 1 piece, The one of Claim 1 thru | or 5 characterized by the above-mentioned. Laminated substrate.
前記表面(110)は、平面形状が多角形状であり、
前記切り欠き部(140)は、前記多角形状の各辺に対応した側面(121〜128)に複数設けられていることを特徴とする請求項1ないし6のいずれか1つに記載の積層基板。
The surface (110) has a polygonal shape in plan view.
The multilayer substrate according to any one of claims 1 to 6, wherein a plurality of the notches (140) are provided on side surfaces (121 to 128) corresponding to the sides of the polygonal shape. .
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