JP2016133325A - セパレータ用導電性異物検査装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】セパレータに含まれる導電性異物を検出するための検査装置において、検査後に異物が損傷し、異物の解析が困難になることを防ぐセパレータ用導電性異物検査装置を提供する。【解決手段】セパレータ3を挟み込む2個の電極1,2と、電極に接続された直流電源7と、直流電源7と電極1,2との間に設けられた電流検出手段4とを有するセパレータ用導電性異物検査装置であって、直流電源7と電流検出手段4との間にコンデンサ5が設けられ、かつ直流電源7とコンデンサ5との間に電流制限手段6が設けられていることを特徴とする。【選択図】図1
Description
本発明は、セパレータ用導電性異物検査装置に関する。
電池、コンデンサ等の電気化学素子には、正極と負極を化学的に接続しつつ、電気的に隔離するため、多孔質のセパレータが用いられている。特に、リチウムイオン電池、電気二重層コンデンサ、電解コンデンサ等の素子には、厚さ30μmを下回るような薄いセパレータが用いられている。
セパレータに金属片等の導電性異物が混入した場合、正極と負極を電気的に隔離すると言うセパレータの本質的機能が果たせなくなる。そのため、セパレータに導電性異物が混入することは禁忌であり、セパレータに導電性異物が含まれていないことを検査する手段が要望されている。
導電性異物の検査装置としては、電流検出手段を介して電源に接続された2個の電極の間にセパレータを通過させ、電流を観測する装置が提案されている。2個の電極としては、例えば少なくとも一方が弾性ロールである2個のロール電極(例えば、特許文献1参照)、片方が金属ローラであり、他方が金属板である2個の電極(例えば、非特許文献1参照)等が提案されている。しかし、従来提案されている態様の装置を用いた場合、以下のような問題があった。
すなわち、導電性異物の検出においては、その有無を検査するのみならず、検出された導電性異物について形状の観察、組成の分析等の解析を行うことで、その発生源を特定し、導電性異物の発生又は混入を抑制する対処を採ることが、品質の高いセパレータを製造する上で必要である。薄いセパレータにおいては、極めて微小な導電性異物であっても短絡を生じさせる可能性があり、検査の対象にする必要がある。しかし、このような微小な導電性異物に対し、従来提案されている態様の装置を用いた場合には、検査に用いる電流によって生じたジュール熱により、導電性異物が変性又は焼損し、異物の解析が不可能になることがあった。
このような問題を避けるため、抵抗器等の電流制限手段を接続する技術が提案されている(例えば、非特許文献1参照)。しかし、この技術を用いる場合には、抵抗値の高い導電性異物を検出することが困難になる問題があった。その一例として、全回路の抵抗を50kΩ以上と規定している非特許文献1には、「この方法は、抵抗が60kΩを超える導電性微粒子を計測できない」と記載されている。
日本工業規格JIS C2300−2:2010の26.2
本発明は、上記事情を鑑みたものであって、導電性異物の変性や焼損を生じさせない導電性異物の検査装置を提供しようとするものである。
(1)セパレータを挟み込む2個の電極と、電極に接続された直流電源と、直流電源と電極との間に設けられた電流検出手段とを有するセパレータ用導電性異物検査装置であって、直流電源と電流検出手段との間にコンデンサが設けられ、かつ直流電源とコンデンサとの間に電流制限手段が設けられていることを特徴とするセパレータ用導電性異物検査装置。
(2)コンデンサに蓄積されるエネルギー量が100nJ以上1mJ以下である上記(1)記載のセパレータ用導電性異物検査装置。
本発明により、変性や焼損を生じさせることなく、セパレータ中の導電性異物を検出できる。よって、検出された導電性異物の解析が可能になり、導電性異物の発生源を特定して対処をすることで、セパレータの品質を向上させることができる。
本発明のセパレータ用導電性異物検査装置は、セパレータを挟み込む2個の電極と、電極に接続された直流電源と、直流電源と電極との間に設けられた電流検出手段とを有する。図1は、本発明のセパレータ用導電性異物検査装置の一例を示す概略図である。2個の電極のうち、一方の電極は導電性ローラ1であり、他方の電極は平板状電極2である。そして、2個の電極がセパレータ3を挟み込んでいる。2個の電極は、直流電源7に接続されていて、直流電源7と2個の電極との間に、電流検出手段4である電流計が設けられている。そして、直流電源7と電流計4との間にコンデンサ5が設けられ、かつ直流電源7とコンデンサ5との間に電流制限手段6である電流制限抵抗が設けられている。
すなわち、2個の電極のうちの一方の電極である導電性ローラ1は、電流検出手段4である電流計を通じて、コンデンサ5の一方の電極に接続されている。2個の電極のうちの他方の電極である平板状電極2は、コンデンサ5の他方の電極に接続されている。また、コンデンサ5は、電流制限手段6である電流制限抵抗を通じて、直流電源7に接続されている。各接続には、導線が使用される。
セパレータ3に導電性異物が含まれており、導電性ローラ1がこの導電性異物の上を通過した時、コンデンサ5に蓄えられていた電荷が、電流検出手段4、導電性ローラ1、導電性異物及び平板状電極2を通じて放電される。この放電は、電流検出手段4によって検出される。コンデンサ5には、直流電源7から、電流制限手段6を通じて、再度電荷が蓄えられる。
コンデンサ5に蓄積されるエネルギーは、100nJ以上1mJ以下であることが好ましい。コンデンサ5に蓄積されるエネルギーが小さすぎる場合、電流検出手段4による電流の検出が困難になる場合がある。コンデンサ5に蓄積されるエネルギーが大きすぎる場合、導電性異物の変性や焼失を招く場合がある。なお、コンデンサ5に蓄積されるエネルギーは、コンデンサ5の静電容量をC(F)、電圧をV(V)とした場合、1/2CV2で表される。例えば、コンデンサ5の静電容量が0.1μF、電圧が10Vの場合、コンデンサ5に蓄積されるエネルギーは、1/2×0.1μF×(10V)2=5μJである。
電流制限手段6の抵抗値は、コンデンサ5の静電容量との積(時定数)が10ms〜1sになる抵抗値であることが好ましい。電流制限手段6の抵抗値が高すぎる場合、コンデンサ5に再度電荷が蓄えられるのに時間が掛かり、この間は導電性異物の検出感度が低下するため、導電性異物の検出漏れが生じる場合がある。電流制限手段6の抵抗値が低すぎる場合、導電性異物の変性や焼失を招く場合がある。例えば、コンデンサ5の静電容量が0.1μFの場合、電流制限手段6の好ましい抵抗値は、100kΩ(コンデンサ5の静電容量との積10ms)〜10MΩ(コンデンサ5の静電容量との積1s)である。
直流電源7が供給する電圧は、1〜50Vであることが好ましい。2〜25Vであることが特に好ましい。直流電源7の供給する電圧が低すぎる場合、導電性異物と導電性ローラ1との接触点又は平板状電極2と導電性異物との接触点にショットキー障壁等の非線形抵抗が存在する場合に、導電性異物を検出できない場合がある。直流電源7の供給する電圧が高すぎる場合、上記のコンデンサ5に蓄積されるエネルギーを好ましい範囲を満たすためには、コンデンサ5に蓄積される電荷量を非常に小さくしなければならず、導電性異物によって流れる電流の検出が困難になる場合がある。
本発明において、2個の電極の形態は、図1の例に挙げた導電性ローラ1と平板状電極2の組合せに限定されない。小さい枚葉のセパレータについて検査する場合には、2枚の平板状電極2の間にセパレータ3を挟み込んで検査することもできる。長尺のウェブ状のセパレータについて検査する場合には、2本の導電性ローラ1の間にセパレータ3を挟み込んで検査することもできる。
以下、本発明を実施例によりさらに詳細に説明するが、本発明は本実施例に限定されるものではない。
[導電性異物]
アルミニウム棒を、細目のヤスリで切削して得た切削屑から、長辺方向40〜60μm、短片方向20〜40μmの切削屑を選別し、導電性異物として用いた。
アルミニウム棒を、細目のヤスリで切削して得た切削屑から、長辺方向40〜60μm、短片方向20〜40μmの切削屑を選別し、導電性異物として用いた。
[実施例1]
図1で示される概略を有するセパレータ用導電性異物検査装置を構成した。2個の電極のうちの一方の電極である導電性ローラ1としては、直径40mm、幅90mmのステンレス製ローラ(ハンドル部を含む質量760g)を使用した。2個の電極のうちの他方の電極である平板状電極2としては、厚さ18μmのアルミニウム箔を使用した。セパレータ3として、溶剤紡糸再生セルロースからなる、厚み30μm、坪量18g/m2の不織布に、前記の導電性異物1個を載置したものを準備した。また、電流検出手段4としては、電流検出用抵抗器の両端に、フルスケールを10Vに調整したオシロスコープを接続したものを使用した。コンデンサ5としては、静電容量0.1μF(100nF)のポリエステルフィルムコンデンサを使用した。電流制限手段6である電流制限抵抗としては、1MΩの抵抗器を使用した。直流電源7としては、10Vの直流電源を使用した。なお、電流検出用抵抗器は、最大電流が流れた際に、その両端に発生する電圧が0.1〜1Vになると見込まれる抵抗値の抵抗器を、予備実験を行って選択した。実施例1においては、予備実験によって、最大電流が10〜100mAになると見込まれたため、抵抗値10Ωの電流検出用抵抗器を使用した。
図1で示される概略を有するセパレータ用導電性異物検査装置を構成した。2個の電極のうちの一方の電極である導電性ローラ1としては、直径40mm、幅90mmのステンレス製ローラ(ハンドル部を含む質量760g)を使用した。2個の電極のうちの他方の電極である平板状電極2としては、厚さ18μmのアルミニウム箔を使用した。セパレータ3として、溶剤紡糸再生セルロースからなる、厚み30μm、坪量18g/m2の不織布に、前記の導電性異物1個を載置したものを準備した。また、電流検出手段4としては、電流検出用抵抗器の両端に、フルスケールを10Vに調整したオシロスコープを接続したものを使用した。コンデンサ5としては、静電容量0.1μF(100nF)のポリエステルフィルムコンデンサを使用した。電流制限手段6である電流制限抵抗としては、1MΩの抵抗器を使用した。直流電源7としては、10Vの直流電源を使用した。なお、電流検出用抵抗器は、最大電流が流れた際に、その両端に発生する電圧が0.1〜1Vになると見込まれる抵抗値の抵抗器を、予備実験を行って選択した。実施例1においては、予備実験によって、最大電流が10〜100mAになると見込まれたため、抵抗値10Ωの電流検出用抵抗器を使用した。
[実施例2〜5]
コンデンサ5の静電容量、電流制限手段6の抵抗値、直流電源7の電圧を表1に示した値に変更した以外は、実施例1と同様にして導電性異物の検査を行った。
コンデンサ5の静電容量、電流制限手段6の抵抗値、直流電源7の電圧を表1に示した値に変更した以外は、実施例1と同様にして導電性異物の検査を行った。
[比較例1]
図2で示される概略を有するセパレータ用導電性異物検査装置を構成した。図2で示される検査装置は、図1で示される装置と異なり、直流電源7と電流検出手段4との間にコンデンサ5が設けられておらず、直流電源7と電流検出手段4との間に電流制限手段6が設けられている。導電性ローラ1、平板状電極2、セパレータ3、電流検出手段4には、実施例1と同じものを使用した。電流制限手段6としては、50kΩの抵抗器を使用し、直流電源7としては、100Vの直流電源を使用した。なお、比較例1の基本構成、電流制限手段6の抵抗値及び直流電源7の電圧は、非特許文献1(日本工業規格JIS C2300−2:2010の26.2)の記載に準じたものである。
図2で示される概略を有するセパレータ用導電性異物検査装置を構成した。図2で示される検査装置は、図1で示される装置と異なり、直流電源7と電流検出手段4との間にコンデンサ5が設けられておらず、直流電源7と電流検出手段4との間に電流制限手段6が設けられている。導電性ローラ1、平板状電極2、セパレータ3、電流検出手段4には、実施例1と同じものを使用した。電流制限手段6としては、50kΩの抵抗器を使用し、直流電源7としては、100Vの直流電源を使用した。なお、比較例1の基本構成、電流制限手段6の抵抗値及び直流電源7の電圧は、非特許文献1(日本工業規格JIS C2300−2:2010の26.2)の記載に準じたものである。
[比較例2]
電流制限手段6として、5kΩの抵抗器を用い、直流電源7として、10Vの直流電源を用いた以外には、比較例1と同様にした。
電流制限手段6として、5kΩの抵抗器を用い、直流電源7として、10Vの直流電源を用いた以外には、比較例1と同様にした。
[比較例3]
電流制限手段6として、500Ωの抵抗器を用い、直流電源7として、10Vの直流電源を用いた以外には、比較例1と同様にした。
電流制限手段6として、500Ωの抵抗器を用い、直流電源7として、10Vの直流電源を用いた以外には、比較例1と同様にした。
[評価(最大電流)]
平板状電極2の上に載置されたセパレータ3の上において、導電性ローラ1を、90cmあたり3秒の速度で移動させた。このとき、ロールの自重以外の荷重は、できる限り掛からないようにした。セパレータ3の導電性異物を載置した位置を通過した際に、電流検出用抵抗器の両端間に生じた最大電圧(最大検出電圧)を、オシロスコープにより測定し、最大電流(mA)=最大検出電圧(mV)/10(Ω)の式によって、電流検出手段4における最大電流を求め、表1に示した。10Ωは電流検出用抵抗器の抵抗値である。例えば、最大検出電圧が120mVである場合、最大電流は12mAである。最大電流は大きい程好ましい。なぜなら、検出漏れが発生しにくくなり、抵抗が大きい導電性異物も検出することが可能になり、電磁的雑音の影響も受け難くなるからである。実際の検査工程において、電磁的雑音の影響を受けずに抵抗値の高い導電性異物を検出するという観点からは、本実施例においては、少なくとも5mAの最大電流が流れることが望まれる。
平板状電極2の上に載置されたセパレータ3の上において、導電性ローラ1を、90cmあたり3秒の速度で移動させた。このとき、ロールの自重以外の荷重は、できる限り掛からないようにした。セパレータ3の導電性異物を載置した位置を通過した際に、電流検出用抵抗器の両端間に生じた最大電圧(最大検出電圧)を、オシロスコープにより測定し、最大電流(mA)=最大検出電圧(mV)/10(Ω)の式によって、電流検出手段4における最大電流を求め、表1に示した。10Ωは電流検出用抵抗器の抵抗値である。例えば、最大検出電圧が120mVである場合、最大電流は12mAである。最大電流は大きい程好ましい。なぜなら、検出漏れが発生しにくくなり、抵抗が大きい導電性異物も検出することが可能になり、電磁的雑音の影響も受け難くなるからである。実際の検査工程において、電磁的雑音の影響を受けずに抵抗値の高い導電性異物を検出するという観点からは、本実施例においては、少なくとも5mAの最大電流が流れることが望まれる。
[評価(検査後の導電性異物の状態)]
導電性ローラ1が通過した後の導電性異物を、倍率500倍の顕微鏡で観察した際の形状を、以下の3段階に区分して示す。
導電性ローラ1が通過した後の導電性異物を、倍率500倍の顕微鏡で観察した際の形状を、以下の3段階に区分して示す。
A:概ね当初の形態を維持していた。この場合、異物の解析に影響は無く、好ましい。
B:異物の形態に変化が見られる。しかし、光沢が見られることから、金属片(アルミニウム片)であることが判別できた。この場合、異物の解析から得られる情報の量・有益性がAよりも低下する場合があるが、異物の解析に著しい支障は無い。
C:異物の痕跡は認められるものの、光沢が見られず、金属片(アルミニウム片)であることは判別できない。この場合、異物の解析から得られる情報の量・有益性が著しく低下し、異物の解析に支障が出る場合がある。
D:異物の痕跡を発見できなかった。この場合、異物の解析が不可能になる場合がある。
B:異物の形態に変化が見られる。しかし、光沢が見られることから、金属片(アルミニウム片)であることが判別できた。この場合、異物の解析から得られる情報の量・有益性がAよりも低下する場合があるが、異物の解析に著しい支障は無い。
C:異物の痕跡は認められるものの、光沢が見られず、金属片(アルミニウム片)であることは判別できない。この場合、異物の解析から得られる情報の量・有益性が著しく低下し、異物の解析に支障が出る場合がある。
D:異物の痕跡を発見できなかった。この場合、異物の解析が不可能になる場合がある。
本発明のセパレータ用導電性異物検査装置に相当する実施例1〜5では、最大電流が5mA以上と大きかった。そのため、検出漏れが発生し難く、抵抗が大きい導電性異物も検出し易く、電磁的雑音の影響も受け難い。実施例1〜5の中でも、本発明の好適な態様(コンデンサ5に蓄積されるエネルギー量が100nJ以上1mJ以下)に相当する実施例1〜3では、最大電流が10mA以上と特に大きかった。したがって、検出漏れが発生し難く、抵抗が大きい導電性異物も検出し易く、電磁的雑音の影響も受け難い効果が良好に得られた。また、導電性ローラが通過した後の導電性異物が、概ね当初の形態を維持しており、異物の解析に影響が無かった。これに対し、コンデンサ5に蓄積されるエネルギー量が50nJである実施例4では、最大電流が5mAとやや小さかった。また、コンデンサ5に蓄積されるエネルギー量が1.65mJである実施例5では、導電性ローラ1が通過した後の導電性異物に、金属片であることが判別できる程度ではあるものの、形態に変化が見られ、異物を解析するという観点で、実施例1〜4よりもやや劣るものであった。
実施例に対し、直流電源7と電流検出手段4との間にコンデンサ5が設けられておらず、直流電源7と電流検出手段4との間に電流制限手段6が設けられているセパレータ用導電性異物検査装置を用いている比較例1では、最大電流が5mA未満であった。したがって、本発明のセパレータ用導電性異物検査装置による場合と比較して、検出漏れが発生し易く、抵抗が大きい導電性異物が検出し難く、電磁的雑音の影響も受け易い。
直流電源7の電圧が、実施例1、3〜5と同等の電圧であり、電流制限手段6の抵抗値が5kΩである比較例2でも、最大電流が5mA未満であった。したがって、実施例1〜5と比較して、検出漏れが発生し易く、抵抗が大きい導電性異物は検出し難く、電磁的雑音の影響も受け易い。
また、比較例2の最大電流を大きくするために、電流制限手段6の抵抗値を500Ωにまで小さくした比較例3では、最大電流が10mAになった。しかしながら、導電性ローラ1が通過した後の導電性異物が、痕跡を発見できない程にまで損傷していた。
本発明の利用用途としては、セパレータの生産・開発における欠点の検出が例示される。
1 導電性ローラ
2 平板状電極
3 セパレータ
4 電流検出手段
5 コンデンサ
6 電流制限手段
7 直流電源
2 平板状電極
3 セパレータ
4 電流検出手段
5 コンデンサ
6 電流制限手段
7 直流電源
Claims (2)
- セパレータを挟み込む2個の電極と、電極に接続された直流電源と、直流電源と電極との間に設けられた電流検出手段とを有するセパレータ用導電性異物検査装置であって、直流電源と電流検出手段との間にコンデンサが設けられ、かつ直流電源とコンデンサとの間に電流制限手段が設けられていることを特徴とするセパレータ用導電性異物検査装置。
- コンデンサに蓄積されるエネルギー量が100nJ以上1mJ以下である請求項1記載のセパレータ用導電性異物検査装置。
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---|---|---|---|
JP2015006425A JP2016133325A (ja) | 2015-01-16 | 2015-01-16 | セパレータ用導電性異物検査装置 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111855758A (zh) * | 2019-04-25 | 2020-10-30 | 住友化学株式会社 | 分切隔膜的制造方法和分切隔膜的制造装置 |
KR20200125513A (ko) | 2019-04-25 | 2020-11-04 | 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 | 세퍼레이터의 제조 방법 및 세퍼레이터의 제조 장치 |
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KR20200125513A (ko) | 2019-04-25 | 2020-11-04 | 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 | 세퍼레이터의 제조 방법 및 세퍼레이터의 제조 장치 |
KR20200125512A (ko) | 2019-04-25 | 2020-11-04 | 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 | 슬릿 세퍼레이터의 제조 방법 및 슬릿 세퍼레이터의 제조 장치 |
KR20200125511A (ko) | 2019-04-25 | 2020-11-04 | 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 | 세퍼레이터의 제조 방법 및 세퍼레이터의 제조 장치 |
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JP7277244B2 (ja) | 2019-04-25 | 2023-05-18 | 住友化学株式会社 | スリットセパレータの製造方法およびスリットセパレータの製造装置 |
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