JP2016125812A - 蛍光ガラス線量計読取装置 - Google Patents

Abstract

【課題】標準蛍光ガラス素子の確認および交換作業を容易にし、また標準蛍光ガラス素子の劣化を抑制することで、パルス光の出力変動測定を長期間にわたって安定して行うことができる蛍光ガラス線量計読取装置を提供する。【解決手段】放射線被ばくした蛍光ガラス線量計および標準蛍光ガラス素子に励起用のパルス光を照射する光源と、パルス光の一部を反射するハーフミラーと、ハーフミラーにより反射したパルス光が照射される標準蛍光ガラス素子と、パルス光の照射により標準蛍光ガラス素子で発生する蛍光を検出する検出手段とを備える線量読取装置であって、ハーフミラーを保持するユニットを取り外すことなく標準蛍光ガラス素子を内蔵するユニットが着脱可能である。【選択図】図１

Description

本発明は、蛍光ガラス線量計読取装置に関する。

放射線被ばく線量を測定する方法として蛍光ガラス線量計測定方法が知られている。蛍光ガラス線量計測定方法は、銀イオンを含有させたリン酸塩ガラス（銀活性リン酸塩ガラス）を用いて、放射線被ばく線量を測定する。リン酸塩ガラス（以下、蛍光ガラス線量計）に励起用の紫外線（例えば、３５５ｎｍ）を照射すると、放射線被ばく線量に比例したオレンジ色（６００ｎｍ〜７００ｎｍにピーク波長を有する光）のラジオフォトルミネッセンス（ＲＰＬ：Radio Photo Luminescence）を発生する性質を有している。つまり、蛍光ガラス線量計に紫外線を照射し、蛍光ガラス線量計から発生する蛍光を測定することで蛍光ガラス線量計の放射線被ばく線量を算出することができる。

ところで、固体レーザ装置などの紫外線励起光源の出力は、電源変動や経年変化などの要因によって変動し、それに伴って励起紫外線パルスが変動すると蛍光ガラス線量計から発生する蛍光の強度も変動する。そのため、従来、このような蛍光の強度の変動を補償する観点から、蛍光ガラス線量計に照射するパルス光の一部を標準蛍光ガラス素子に照射して標準蛍光ガラス素子から発生する蛍光の強度の変動量を求めた後、この変動量に基づいて蛍光ガラス線量計から発生する蛍光の強度を補正し、被ばく線量を測定している（特許文献１）。

特開平８−２２０２３５号公報

放射線被ばくした蛍光ガラス線量計および標準蛍光ガラス素子は、銀活性リン酸塩ガラスが用いられる。リン酸塩ガラスは空気中の水分によってガラス表面が劣化しやすい。具体的には、リン酸塩ガラスは、空気中の水分とガラス中の成分とが反応し、ガラス表面に反応生成物が析出する傾向がある。

しかしながら、標準蛍光ガラス素子の表面に反応生成物が析出すると、ガラスが発する蛍光がガラス表面で散乱もしくは遮蔽されることで蛍光の正確な測定を阻害し、蛍光ガラス線量計から発生する蛍光の強度を正しく補正できなくなるおそれがある。標準蛍光ガラス素子は、蛍光ガラス線量計と異なり、蛍光ガラス線量計読取装置内に載置されるものであり、継続して装置を運用する場合には、前述のガラス表面の劣化の影響が特に懸念される。

標準蛍光ガラス素子の劣化に対して、従来の蛍光ガラス線量計読取装置（図６に図示）では、標準蛍光ガラス素子を読取装置から取り出してガラス表面の劣化状態を一定期間ごとに確認し、必要に応じて交換しており、この作業に手間がかかっていた。また、装置の設置環境が高温多湿であると、想定より早く標準蛍光ガラス素子が劣化するおそれもある。

本発明は、上記問題点を解消するためになされたものであり、標準蛍光ガラス素子の確認および交換作業を容易にし、また標準蛍光ガラス素子の劣化を抑制することで、パルス光の出力変動測定を長期間にわたって安定して行うことができる蛍光ガラス線量計読取装置を提供することを目的とする。

本発明に係る蛍光ガラス線量計読取装置は、放射線被ばくした蛍光ガラス線量計および標準蛍光ガラス素子に励起用のパルス光を照射する光源と、パルス光の一部を反射するハーフミラーと、ハーフミラーにより反射したパルス光が照射される標準蛍光ガラス素子と、パルス光の照射により標準蛍光ガラス素子で発生する蛍光を検出する検出手段とを備え、ハーフミラーを保持するユニットを取り外すことなく標準蛍光ガラス素子を内蔵するユニットが着脱可能であることを特徴とする。

本発明によれば、標準蛍光ガラス素子を内蔵するユニットをハーフミラーを外すことなく取り出しできるので、標準蛍光ガラス素子の確認および交換作業を容易に行うことができる。また、標準蛍光ガラス素子と大気との接触が抑制されるため、標準蛍光ガラス素子の劣化が抑制され、パルス光の出力変動測定を長期間にわたって安定して行うことができる。

第１の実施形態に係る蛍光ガラス線量計読取装置の構成図である。 標準蛍光ガラス素子が発する蛍光に対応する電気信号の波形図である。 蛍光ガラス線量計が発する蛍光に対応する電気信号の波形図である。 感度を決定するためのテーブルデータの一例である。 第２の実施形態に係る蛍光ガラス線量計読取装置のリファレンスブロックの構成図である。 従来の蛍光ガラス線量計読取装置の構成図である。

以下、図面を参照して、実施形態に係る蛍光ガラス線量計読取装置について説明する。

［第１の実施形態］
図１は、本発明の第１の実施形態に係る蛍光ガラス線量計読取装置１００の構成図である。蛍光ガラス線量計読取装置１００は、蛍光ガラス線量計Ｇに励起用のレーザ光（パルス光）を照射し、蛍光ガラス線量計Ｇの励起光を読み取る光学系２００と、光学系２００を制御する制御装置３００とを備える。

（光学系２００の構成）
光学系２００は、固体レーザ２１０（光源）と、紫外線透過フィルタ２２０と、リファレンスブロック２３０と、プレートホルダー２４０と、フィルタ系２５０と、光電子増倍管２６０（検出手段）とを備える。

固体レーザ２１０（ダイオード励起固体レーザ：Diode-Pump Solid-State Laser）は、励起用の紫外線Ｌ（例えば、中心波長３５５ｎｍ）をパルス状に照射する。なお、固体レーザ２１０の代わりに、紫外線（例えば、中心波長３５５ｎｍ）を照射する窒素ガスレーザ、フラッシュランプ、ＬＥＤ、レーザーダイオードを用いてもよい。紫外線透過フィルタ２２０は、固体レーザ２１０からの紫外線Ｌを透過し、他の波長の光を遮蔽する。

リファレンスブロック２３０は、開口板２３１とハーフミラー２３２と紫外線透過フィルタ２３３とを内蔵するユニットＡと、標準蛍光ガラス素子２３４と紫外線カットフィルタ２３５とフォトダイオード２３６とを内蔵するユニットＢとを備える。
開口板２３１には、固体レーザ２１０からの紫外線Ｌを通過させるためのスリット状の開口２３１ａが形成されている。

ハーフミラー２３２は、開口２３１ａを通過した紫外線Ｌの一部を透過し、一部を反射する。このため、紫外線Ｌは、ハーフミラー２３２により紫外線Ｌ１，Ｌ２に分離される。紫外線透過フィルタ２３３は、ハーフミラー２３２で分離された紫外線Ｌ１を透過し、他の波長の光を遮蔽する。

標準蛍光ガラス素子２３４は、放射線を所定量だけ暴露させた標準蛍光ガラスである。標準蛍光ガラス素子２３４に紫外線Ｌ１が照射されると、紫外線Ｌ１の強度及び放射線被ばく線量に比例する蛍光が発生する。標準蛍光ガラス素子２３４で発生する蛍光は、固体レーザ２１０の出力変動の補正に用いられる。

標準蛍光ガラス素子２３４は、自然被ばくにより時間経過とともに放射線被ばく線量が増加するが、標準蛍光ガラス素子２３４は、事前に十分な量の放射線に被ばくされており、放射線に起因する蛍光量が非常に大きくなる。このため、自然被ばくによる蛍光量の増加はほとんど無視することができる。また、プレドーズ及び汚れに起因する蛍光についてもほとんど無視することができる。なお、標準蛍光ガラス素子２３４は、本実施形態においては円柱状であるがいずれの形状であってもかなわない。

紫外線カットフィルタ２３５は、標準蛍光ガラス素子２３４で発生した蛍光を透過させ、紫外線Ｌ１を遮蔽する。

フォトダイオード２３６は、紫外線カットフィルタ２３５を透過した標準蛍光ガラス素子２３４からの蛍光を受光する。フォトダイオード２３６は、受光した光を電気信号（電流信号）に変換して出力する。フォトダイオード２３６から出力される電子信号（電流信号）の大きさは、受光した蛍光の強度に比例する。

ハーフミラー２３２および開口板２３１および紫外線透過フィルタ２３３は、蛍光ガラス線量計読取装置１００に固定されたユニットＡに保持されている。ハーフミラー２３２は、紫外線Ｌの光軸の変動に応じて角度や位置を調整する必要があるため、ユニットＡ内に可動自在に保持されている。開口板２３１は、ユニットＡに固定されている。

標準蛍光ガラス素子２３４、紫外線カットフィルタ２３５およびフォトダイオード２３６は、ユニットＢに内蔵されている。ユニットＢは、ユニットＡに着脱自在と固定されている。

標準蛍光ガラス素子２３４は、蛍光ガラス線量計Ｇと同一のガラス組成のリン酸塩ガラスである。リン酸塩ガラスは、空気中の水分によりガラス表面が劣化する傾向がある。標準蛍光ガラス素子２３４は、常時蛍光ガラス線量計読取装置１００の内部に載置されるため、定期的にガラス表面の劣化状態を確認する必要がある。
ハーフミラー２３２は、前述のとおり、紫外線Ｌの光軸に合わせて位置調整されているため、一旦取り外すと取り付け時毎に紫外線Ｌ１が確実に標準蛍光ガラス素子２３４に照射されるよう光軸調整を行う必要があり、この作業は非常に手間がかかる。

ユニットＢは、ユニットＡと着脱自在に固定されていることで、ユニットＢのみを取り外しユニットＡに保持されたハーフミラー２３２を取り外すことなく、標準蛍光ガラス素子２３４の確認作業を行うことができる。これにより、ハーフミラー２３２の光軸調整作業を行う手間を省くことができる。

プレートホルダー２４０は、放射線被ばく線量の測定対象である蛍光ガラス線量計Ｇを保持する。蛍光ガラス線量計Ｇにハーフミラー２３２で分離された紫外線Ｌ２が照射されると、紫外線Ｌ２の強度及び放射線被ばく線量に比例する蛍光が発生する。なお、該蛍光には、放射線被ばくに起因する蛍光以外に、プレドーズ及び汚れに起因する蛍光が含まれている。

フィルタ系２５０は、ダイアフラム２５１と、紫外線カットフィルタ２５２と、集光レンズ２５３と、バンドパスフィルタ２５４とを備える。ダイアフラム２５１には、ハーフミラー２３２で分離された紫外線Ｌ２を通過させるためのスリット状の開口２５１ａが形成されている。紫外線カットフィルタ２５２は、紫外線Ｌ２を遮蔽し、蛍光ガラス線量計Ｇで発生した蛍光を透過する。

集光レンズ２５３は、紫外線カットフィルタ２５２を透過した蛍光を集光する。集光された蛍光は、バンドパスフィルタ２５４へ入射する。バンドパスフィルタ２５４は、入射する蛍光のうち波長が６１５ｎｍ〜７１５ｎｍの蛍光を主に透過する。

光電子増倍管２６０は、バンドパスフィルタ２５４を透過した蛍光を検出する。光電子増倍管２６０は、検出した光を電気信号（電流信号）に変換して出力する。光電子増倍管２６０は、波長３００ｎｍ〜９００ｎｍの蛍光を主に検出する。光電子増倍管２６０から出力される電子信号（電流信号）の大きさは検出される蛍光の強度に比例する。

また、光電子増倍管２６０は、印加電圧を変化させることにより感度（測定レンジ）を変更できるよう構成されている。具体的には、光電子増倍管２６０への印加電圧を大きくすると感度が高くなり、光電子増倍管２６０への印加電圧を小さくすると感度が低くなる。

（制御装置３００の構成）
制御装置３００は、駆動回路３１０と、プリアンプ３２０と、プリアンプ３３０と、タイミング回路３４０と、積分回路３５０（積算手段）と、ＡＤコンバータ３６０と、制御回路３７０（感度決定手段、感度設定手段、被ばく線量算出手段）とを備える。

駆動回路３１０は、制御回路３７０からの指示に基づいて、固体レーザ２１０の紫外線の照射を制御する。具体的には、駆動回路３１０は、紫外線をパルス状（例えば、数ｎｓ（ナノ秒））に照射するように固体レーザ２１０を制御する。固体レーザ２１０は、トリガ信号が入力されると、数ｎｓ発光する。

プリアンプ３２０は、フォトダイオード２３６から出力される電気信号（電流信号）を電圧信号に変換する。プリアンプ３２０で電圧に変換された電気信号は、後段のタイミング回路３４０及び積分回路３５０に入力される。プリアンプ３３０は、光電子増倍管２６０から出力される電気信号（電流信号）を電圧信号に変換する。プリアンプ３３０で電圧に変換された電気信号は、後段の積分回路３５０に入力される。

タイミング回路３４０は、積分回路３５０へ積分開始の合図となるトリガ信号を生成して出力する。プリアンプ３２０からの入力と制御回路３７０からの入力の論理積（ＡＮＤ）をトリガ（合図）として、積分回路３５０における積分開示のタイミングを示すトリガ信号を出力する。

積分回路３５０は、タイミング回路３４０からのトリガ信号が入力されるとプリアンプ３２０及びプリアンプ３３０から出力される電圧信号を積分する。

（プリアンプ３２０から出力される電圧信号の積分）
図２は、プリアンプ３２０から積分回路３５０に入力される電圧信号の波形図である。すでに述べたように、標準蛍光ガラス素子２３４は、プレドーズ及び汚れに起因する蛍光が相対的に無視できる程度に放射線に被ばくされている。

このため、図２に示すように、プレドーズ及び汚れに起因する蛍光は、プリアンプ３２０から積分回路３５０に入力される電圧信号の波形にはほとんど表れない。タイミング回路３４０は、プリアンプ３２０及び制御回路３７０から信号が入力されると時間Ｔ１にトリガ信号を出力する（なお、実際には、後述の時間Ｔ３にもトリガ信号が出力されるが、ここでは、説明を省略する）。積分回路３５０は、トリガ信号が入力されると電圧信号の積分を開始し、時間Ｔ２に積分を終了する。

つまり、積分回路３５０は、図２に示すＴ１からＴ２間の電気信号を積分する。これは、図２に示す斜線部の面積（以下、ＲＥＦと記載）を求めることに等しい。積分回路３５０は、算出したＲＥＦを出力する。なお、Ｔ１，Ｔ２の値は蛍光ガラス線量計Ｇのガラス組成により決定されるものである。また、積分回路３５０から出力されたＲＥＦは、固体レーザ２１０の出力変動の補正に用いられる。

（プリアンプ３３０から出力される電圧信号の積分）
図３は、プリアンプ３３０から積分回路３５０に入力される電圧信号の波形図である。タイミング回路３４０は、プリアンプ３２０及び制御回路３７０から信号が入力されると時間Ｔ１及びＴ３にトリガ信号を出力する。積分回路３５０は、トリガ信号が入力されると、所定の時間分プリアンプ３３０から入力される電圧信号を積分する。具体的には、積分回路３５０は、時間Ｔ１に電圧信号の積分を開始し、時間Ｔ２に積分を終了する。さらに、積分回路３５０は、時間Ｔ３に電圧信号の積分を開始し、時間Ｔ４に積分を終了する。

つまり、積分回路３５０は、図３に示すＴ１からＴ２間と、Ｔ３からＴ４間の電気信号を積分する。これは、図３に示すＴ１からＴ２の斜線部（以下、ＲＰＬと記載）及びＴ３からＴ４の斜線部（以下、ＬＤと記載）の面積を求めることに等しい。積分回路３５０は、算出したＲＰＬ及びＬＤを出力する。なお、Ｔ３，Ｔ４の値は蛍光ガラス線量計Ｇのガラス組成により決定されるものである。

ＡＤコンバータ３６０は、積分回路３５０から出力されるＲＥＦ，ＲＰＬ，ＬＤをアナログ信号からデジタル信号に変換して出力する。

制御回路３７０は、例えば、マイコン（micro computer）である。制御回路３７０は、駆動回路３１０と、タイミング回路３４０とを制御する。具体的には、制御回路３７０は、駆動回路３１０に固体レーザ２１０から紫外線を照射するように指示する。また、制御回路３７０は、タイミング回路３４０に、トリガ信号を出力するよう指示する。また、制御回路３７０は、ＡＤコンバータ３６０から出力されるデジタル化されたＲＥＦ，ＲＰＬ，ＬＤの値を記憶する。さらに、制御回路３７０は、光電子増倍管２６０の感度を決定し、放射線被ばく線量を算出する。

（感度の決定）
ここで、制御回路３７０による感度の決定について図４を参照して説明する。図４は、制御回路３７０に記憶されているテーブルデータの一例を示す図である。図４に示すように、制御回路３７０には、感度（測定レンジ）、ＲＰＬをＲＥＦで除算した値Ｒ１（Ｒ１＝ＲＰＬ／ＲＥＦ）の範囲（但し、ｎ２＜ｎ１）、印加電圧（Ｖ）が対応付けて記憶されている。制御回路３７０は、ＡＤコンバータからＲＥＦ，ＲＰＬ，ＬＤが出力されると、ＲＰＬをＲＥＦで除算した値Ｒ１を算出する。

制御回路３７０は、算出したＲ１の値が、図４に示すテーブルデータのどの範囲に含まれるかを判定し、光電子増倍管２６０の感度を決定する。なお、制御回路３７０は、最も感度の低い感度（レベル７）で測定し、レベル７では感度が低すぎる場合は、感度を上げてさらに測定を行う。なお、図４では、感度（測定レンジ）の範囲を５つとしたが、感度（測定レンジ）の範囲をさらに細分化するようにしてもよい。

（放射線被ばく線量の算出）
次に、制御回路３７０による放射線被ばく線量の算出について図２，図３を参照して説明する。すでに述べたように、ＡＤコンバータから出力されるＲＥＦ，ＲＰＬ，ＬＤのうち、ＲＰＬには、プレドーズに起因する蛍光のうち約１ｍｓ（ミリ秒）まで減衰が継続する成分の蛍光分（ＬＤ’と記載する）と、放射線被ばくに起因する蛍光分（ＳＡＭＰと記載する）とが含まれている。このため、ＳＡＭＰを求めるには、ＲＰＬからプレドーズに起因する蛍光分（ＬＤ’）を除去する必要がある。

ここで、図３に示すＲＰＬのうちプレドーズに起因する蛍光分ＬＤ’は、以下の（１）式で表すことができる。
ＬＤ’＝ｆｐｓ×ＬＤ・・・（１）
なお、ｆｐｓは、蛍光ガラス線量計読取装置１００に固有の定数である。

また、ＲＰＬのうち放射線被ばくに起因する蛍光分ＳＡＭＰは、上記（１）式を用いると、以下の（２）で表すことができる。
ＳＡＭＰ＝ＲＰＬ−ｆｐｓ×ＬＤ・・・（２）

制御回路３７０は、上述した（１）式、（２）式を用いて、ＲＰＬからプレドーズに起因する蛍光分（ＬＤ’）を減算して、ＳＡＭＰを算出する。次に、制御回路３７０は、算出したＳＡＭＰをＲＥＦで除算した値Ｒ２を算出し、所定の係数（定数）を乗算して蛍光ガラス線量計Ｇの放射線被ばく線量を算出する。

［第２の実施形態］
本発明の第２の実施形態に係る蛍光ガラス線量計読取装置について、図５を用いて説明する。図５は、蛍光ガラス線量計読取装置のリファレンスブロックの構成図である。なお、本実施形態は、第１の実施形態の変形例であってリファレンスブロックの構成のみ相違する。そのため、、第１の実施形態と同一部分または類似部分には、同一符号を付して、重複説明を省略する。

ハーフミラー２３２および開口板２３１および紫外線透過フィルタ２３３は、蛍光ガラス線量計読取装置に固定されたユニットＡに保持されている。ハーフミラー２３２は、紫外線Ｌの光軸の変動に応じて角度や位置を調整する必要があるため、ユニットＡ内に可動自在に保持されている。開口板２３１は、ユニットＡに固定されている。

標準蛍光ガラス素子２３４および気密部材２３８は、ユニットＣに内蔵されている。ユニットＣは、ユニットＡに着脱自在に固定されている。ユニットＣは、紫外線Ｌ１の入射面側および標準蛍光ガラス素子２３４の発する蛍光の射出面側に開口部を備えた筒状構造物を含む。

気密部材２３８は、ユニットＣの２つの開口部を塞ぐように配置され、標準蛍光ガラス素子２３４の大気との接触を抑制するように開口部に気密封着されている。
紫外線カットフィルタ２３５およびフォトダイオード２３６は、ユニットＤに内蔵されている。ユニットＤは、ユニットＡおよびユニットＣと着脱自在に固定されている。

標準蛍光ガラス素子２３４は、蛍光ガラス線量計Ｇと同一のガラス組成のリン酸塩ガラスである。リン酸塩ガラスは、空気中の水分によりガラス表面が劣化する傾向がある。標準蛍光ガラス素子２３４は、常時蛍光ガラス線量計読取装置の内部に載置されるため、定期的にガラス表面の劣化状態を確認する必要がある。
ハーフミラー２３２は、前述のとおり、紫外線Ｌの光軸に合わせて位置調整されているため、一旦取り外すと取り付け時毎に紫外線Ｌが確実に標準蛍光ガラス素子２３４に照射されるよう光軸調整を行う必要があり、この作業は非常に手間がかかる。

ユニットＣは、ユニットＡと着脱自在に固定されていることで、ユニットＣのみを取り外しユニットＡに保持されたハーフミラー２３２を取り外すことなく、標準蛍光ガラス素子２３４の確認作業を行うことができる。これにより、ハーフミラー２３２の光軸調整作業を行う手間を省くことができる。
さらに、ユニットＣは、開口部に気密部材２３８が気密封着されているため、ユニットＣの内部にある標準蛍光ガラス素子２３４は、大気との接触が抑制され、ガラス表面の劣化を大幅に抑制することができる。これにより、標準蛍光ガラス素子２３４の定期的なガラス表面の劣化状態の確認作業の頻度を従来よりも少なくすることができる。

気密部材２３８は、紫外線Ｌ１の照射により蛍光を発しない材料からなることが好ましい。気密部材２３８は、紫外線Ｌ１の照射により蛍光を発すると、標準蛍光ガラス素子２３４が紫外線Ｌ１の照射により発する蛍光量と積算されてフォトダイオード２３６で測定されることになり、正確な固体レーザの出力変動測定に支障をきたすことになるためである。なお、紫外線Ｌ１の照射により蛍光を発しない材料とは、正確な固体レーザの出力変動測定に支障をきたすレベルの蛍光を発しない材料をいうものであり、極微量で出力変動測定に影響が無視できる程度であれば蛍光を発する材料を気密部材２３８に用いてもよい。
気密部材２３８は、石英ガラスからなる基材により構成されることが好ましい。石英ガラスは、紫外線の照射により蛍光をほとんど発しないため、気密部材として用いたとしても正確な固体レーザの出力変動測定を行うことができる。。

［他の実施形態］
上記の各実施形態に係る蛍光ガラス線量計読取装置は、代表的な例示であって、本発明はこれらに限定されるものではない。例えば、標準蛍光ガラス素子が内蔵されるユニットは、蛍光の射出面側の開口部が紫外線Ｌ１の光軸方向と直交する方向に設けられていてもよい。また、気密部材２３８を用いることなく、各ユニット間の接合部分にシール材を用いることで、標準蛍光ガラス素子２３４が気密状態となるように構成してもよい。なお、各ユニットの接合は、ボルト締め等の公知の方法で固定される。

本発明は、標準蛍光ガラス素子の確認および交換作業を容易にし、また標準蛍光ガラス素子の劣化を抑制することで、パルス光の出力変動測定を長期間にわたって安定して行うことができる。

１００…蛍光ガラス線量計読取装置、２００…光学系、２１０…固体レーザ（光源）、２２０…紫外線透過フィルタ、２３０…リファレンスブロック、２３１…開口板、２３１ａ…開口、２３２…ハーフミラー、２３３…紫外線透過フィルタ、２３４…リファレンスガラス、２３５…紫外線カットフィルタ、２３６…フォトダイオード、２３８…気密部材、２４０…プレートホルダー、２５０…フィルタ系、２５１…ダイアフラム、２５１ａ…開口、２５２…紫外線カットフィルタ、２５３…集光レンズ、２５４…バンドパスフィルタ、２６０…光電子増倍管（検出手段）、３００…制御装置、３１０…駆動回路、３２０，３３０…プリアンプ、３４０…タイミング回路、３５０…積分回路（積算手段）、３６０…コンバータ、３７０…制御回路（感度決定手段、感度設定手段、被ばく線量算出手段）、Ｇ…蛍光ガラス線量計、Ｌ，Ｌ１，Ｌ２…紫外線。

Claims (5)

1. 放射線被ばくした蛍光ガラス線量計および標準蛍光ガラス素子に励起用のパルス光を照射する光源と、
   前記パルス光の一部を反射するハーフミラーと、
   前記ハーフミラーにより反射したパルス光が照射される前記標準蛍光ガラス素子と、
   前記パルス光の照射により前記標準蛍光ガラス素子で発生する蛍光を検出する検出手段とを備える線量読取装置であって、
   前記ハーフミラーを保持するユニットを取り外すことなく前記標準蛍光ガラス素子を内蔵するユニットが着脱可能であることを特徴とする蛍光ガラス線量計読取装置。
2. 前記標準蛍光ガラス素子を内蔵するユニットは、少なくともパルス光の入射面側および蛍光の射出面側に開口部を備える筒状構造物であることを特徴とする請求項１に記載の蛍光ガラス線量計読取装置。
3. 前記標準蛍光ガラス素子を内蔵するユニットは、前記開口部を気密部材により封止したことを特徴とする請求項２に記載の蛍光ガラス線量計読取装置。
4. 前記気密部材は、前記パルス光により蛍光を発しない材料により構成されることを特徴とする請求項３に記載の蛍光ガラス線量計読取装置。
5. 前記気密部材は、石英ガラスからなる基材により構成されることを特徴とする請求項３または請求項４に記載の蛍光ガラス線量計読取装置。