JP2016095255A - プローブ及びプローブカード - Google Patents

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Abstract

【目的】 本発明の目的は、電極との間の接続信頼性を向上させることができるプローブを提供することにある。【構成】 プローブ100は、プローブ本体110と、接続部120a、120bとを備えている。プローブ本体110は、第2端部120を有している。接続部120a、120bは、第2端部112に設けられている。接続部120a、120bは、第2端部112から延びており且つ先端121a1、121b1が第2端部112に間隙Gを有して対向するように湾曲したスプリングアーム121a、121bを有している。接続部120a、120bに対して荷重が加えられることにより、スプリングアーム121a、121bが第2端部112側に弾性変形し、先端121a1、121b1が121a、121bに当接するようになっている。【選択図】 図1B

Description

本発明は、プローブ及びプローブカードに関する。
本願の発明者は、本願発明を想到する過程で、図8A及び図8Bに示すプローブカードを開発した。このプローブカードは、直線状の複数のプローブ1と、第1、第2ガイド板2a、2bと、配線基板3とを備えている。プローブ1は、長さ方向の第1、第2端部を有している。プローブ1の第1端部は第1ガイド板2aのガイド孔を貫通している。プローブ1の第2端部は、第2ガイド板2bの貫通孔を貫通し、配線基板3の電極に間隙を有して対向配置されている。プローブ1の第1端部が半導体ウエハ又は半導体デバイスの電極に接触することによって、プローブ1の第2端部が配線基板3の電極に接触するようになっている。すなわち、プローブ1の第1端部が半導体ウエハ又は半導体デバイスの電極に接触していない状態で、プローブ1の第2端部が配線基板3の電極に接触していない。なお、図8A及び図8Bに示すプローブカードは、開発段階のものであり、本願出願時において未公知である。直線状のプローブを備えたプローブカードは下記特許文献1にも記載されている。
特開2014−1997号公報
上記プローブカードは、プローブ1の第1端部が半導体ウエハ又は半導体デバイスの電極に接触する毎に、プローブ1の第2端部の配線基板3の電極に対する接触箇所が変動するため、第2端部と電極部との接続信頼性が低かった。また、半導体ウエハ又は半導体デバイスの高集積化に伴って、プローブの微細化が要求されている。微細化されたプローブは、半導体ウエハ又は半導体デバイスの電極に対する所定の接触圧を確保することが難しく、この点でも第2端部と電極部との接続信頼性が低かった。
本発明は、上記事情に鑑みて創案されたものであって、その目的とするところは、電極との間の接続信頼性を向上させることができるプローブ及びプローブカードを提供することにある。
上記課題を解決するために、本発明のプローブは、プローブ本体と、接続部とを備えている。前記接続部はスプリングアームを有している。前記スプリングアームは、前記プローブ本体から延びており且つ当該スプリングアームの先端が前記プローブ本体に間隙を有して対向するように湾曲又は折り曲げられている。前記接続部に対して荷重が加えられることにより、当該接続部の前記スプリングアームが前記プローブ本体側に弾性変形し、当該スプリングアームの前記先端が前記プローブ本体に当接するようになっている。
このような態様のプローブによる場合、接続部が電極に押し付けられ、接続部に対して荷重が加えられると、接続部のスプリングアームがプローブ本体側に弾性変形し、当該スプリングアームの先端がプローブ本体に当接する。これにより、接続部が電極を付勢するので、接続部が、電極に対して接触圧(針圧)がかかった状態で電極に接続される。よって、接続部と電極との接続信頼性を向上させることができる。しかも、スプリングアームの先端がプローブ本体に接触することによって、スプリングアームの電気経路が下記の通り二つ形成される。一つは、スプリングアームの基端から電極に接触する部分までの経路である。もう一つは、スプリングアームの先端から前記電極に接触する部分までの経路である。このようにスプリングアームは、電極に対して並列接続されるので、スプリングアームのDC抵抗を低下させることができる。
前記プローブ本体は、第1端部と、前記第1端部の反対側の第2端部とを有する構成とすることが可能である。前記スプリングアームは前記プローブ本体の前記第2端部から延びており且つ前記先端が前記第2端部に間隙を有して対向するように湾曲又は折り曲げられた構成とすることが可能である。前記接続部に対して荷重が加えられることにより、前記当該接続部の前記スプリングアームが前記プローブ本体の前記第2端部側に弾性変形し、前記先端が前記第2端部に当接する構成とすることが可能である。
前記プローブ本体は、前記第1端部と前記第2端部との間に設けられた弾性変形部を更に有する構成とすることが可能である。
このような態様のプローブによる場合、接続部が電極に押し付けられ、接続部に対して荷重が加えられると、接続部のスプリングアームが第2端部側に弾性変形し、当該スプリングアームの先端が第2端部に当接する。この状態で、プローブ本体の第1端部に荷重が加えられると、弾性変形部が弾性変形するので、接続部と電極とに過剰な荷重がかかるのを抑止することが可能になる。
前記第2端部には係止凸部が設けられた構成とすることが可能である。このような態様のプローブによる場合、第2端部が挿入されるガイド板の貫通孔の縁部に、当該第2端部の係止凸部が係止可能である。よって、プローブのガイド板に対する取り付けが容易になる。
前記スプリングアームは頂部を有する構成とすることが可能である。前記接続部は当接部を更に有する構成とすることが可能である。前記当接部は、前記スプリングアームの前記頂部に設けられており且つ当該頂部よりも外形が大きい構成とすることが可能である。
このような態様のプローブによる場合、当接部が電極に対して接触し得るので、接続部の電極に対する接触面積が増大する。よって、接続部と電極との間の接触抵抗を低下させることができるので、両者の接続信頼性を更に向上させることが可能になる。
本発明のプローブカードは、上記した何れかの態様のプローブと、ガイド板と、電極を有する配線基板とを備えている。ガイド板は、前記プローブの前記第2端部が挿入されたガイド孔と、当該プローブの前記係止凸部を係止した前記ガイド孔の縁部とを有する構成とすることが可能である。前記配線基板と前記ガイド板との間の距離が、当該配線基板の前記電極に前記プローブの前記接続部が押し付けられ、当該接続部の前記スプリングアームが当該プローブの前記プローブ本体側に弾性変形し、前記先端が当該プローブ本体に当接する距離とすることが可能である。なお、係止凸部を省略し、プローブの第2端部をガイド板に固定させても良い。
このような態様のプローブカードによる場合、プローブの第2端部をガイド板のガイド孔に挿入し、当該第2端部の係止凸部をガイド孔の縁部に係止させた状態で、ガイド板と配線基板との間を前記距離とすることにより、配線基板の前記電極に前記プローブの前記接続部が押し付けられ、当該接続部の前記スプリングアームが弾性変形し、前記先端が前記プローブ本体に当接する。よって、プローブの接続部と配線基板の電極との接続を容易に行うことができる。
本発明の実施例に係るプローブの正面図である。 前記プローブの第2端部の拡大正面図である。 前記プローブの第2端部の拡大斜視図である。 前記プローブの第2端部の第1設計変更例を示す拡大斜視図である。 前記プローブの第2端部の第2設計変更例を示す拡大斜視図である。 前記プローブの第2端部の第3設計変更例を示す拡大斜視図である。 前記プローブの第2端部の第4設計変更例を示す拡大斜視図である。 前記プローブの第2端部の第5設計変更例を示す拡大斜視図である。 前記プローブの第2端部の第6設計変更例を示す拡大斜視図である。 前記プローブの第2端部の第7設計変更例を示す拡大斜視図である。 前記プローブの第2端部の第8設計変更例を示す拡大斜視図である。 本発明の実施例に係るプローブカードの概略的断面図である。 前記プローブカードの図5中のα部分の拡大図であって、前記プローブが半導体ウエハ又は半導体デバイスの電極に接触する前の状態を示す図である。 前記プローブカードの図5A中のβ部分の拡大図であって、前記プローブが半導体ウエハ又は半導体デバイスの電極に接触する前の状態を示す図である。 前記プローブカードの図5中のα部分の拡大図であって、前記プローブが半導体ウエハ又は半導体デバイスの電極に接触した状態を示す図である。 前記プローブカードの図5A中のβ部分の拡大図であって、前記プローブが半導体ウエハ又は半導体デバイスの電極に接触した状態を示す図である。 本発明の開発途上のプローブカードの概略的部分断面図である。 前記プローブカードの図8A中のγ部分の拡大図である。
以下、本発明の実施例に係るプローブ100について図1A〜図1Cを参照しつつ説明する。図1Aに示すプローブ100は、プローブ本体110と、二つの接続部120aと、接続部120bとを備えている。以下、プローブPの各構成要件について詳しく説明する。なお、図1A中に示すD1がプローブ100及びプローブ本体110の長さ方向であり、D2がプローブ100及びプローブ本体110の幅方向である。
プローブ本体110は長さ方向D1に延びた導電を有する針である。プローブ本体110は、第1端部111と、第2端部112と、弾性変形部113とを有している。第1端部111は、長さ方向D1の一方側に突出した接触部111aを有している。接触部111aの外形は、第1端部111の外形よりも小さい。接触部111aが測定対象10(図5参照)の電極11に接触可能な部位である。
第2端部112は、プローブ本体110の第1端部111の反対側の端部である。第2端部112の幅方向D2の両端には、外側に凸の突起である一対の係止凸部112aが設けられている。弾性変形部113は、プローブ本体110の第1端部111と第2端部112との間に設けられている。弾性変形部113は、幅方向Dの一方側(長さ方向D1に直角に交差する方向)に略円弧状に湾曲している。
第2端部112の端面(上面)上には、図1B及び図1Cに示すように、接続部120aが間隔をあけて設けられている。接続部120aは、円弧状のスプリングアーム121aを有している。スプリングアーム121aは、基端121a1と、先端121a2と、頂部121a3とを有している。基端121a1は、第2端部112の端面の幅方向Dの一端部に連接されている。スプリングアーム121aは、第2端部112の端面から延びており且つ先端121a2が第2端部112の端面に間隙G(図1B参照)を有して対向するように円弧状に湾曲している。スプリングアーム121aの頂部121a3に対して荷重が加えられることによって、スプリングアーム121aが第2端部112側に弾性変形し、先端121a2が第2端部112の端面に当接するようになっている。
第2端部112の端面上には、図1Cに示すように、接続部120aの間に位置するように接続部120bが設けられている。接続部120bは接続部120aの対称形状である。接続部120bは、円弧状のスプリングアーム121bを有している。スプリングアーム121bは、基端121b1と、先端121b2と、頂部121b3とを有している。基端121b1は、第2端部112の端面の幅方向Dの他端部に連接されている。スプリングアーム121bは、第2端部112の端面から延びており且つ先端121b2が第2端部112の端面に間隙G(図1B参照)を有して対向するように円弧状に湾曲している。スプリングアーム121bの頂部121b3に対して荷重が加えられることによって、スプリングアーム121bが第2端部112側に弾性変形し、先端121b2が第2端部112の端面に当接する(面接触)ようになっている。
以上のようなプローブ100はMEMS技術を用いて次のように製造される。まず、基板上にレジストを塗布し、当該レジストにマスクを用いて露光・現像を行い、開口を形成する。この開口に電解めっきによりニッケル合金等の導電材料を充填する。その後、前記レジスト上にレジストを塗布し、当該レジストにマスクを用いて露光・現像を行い、開口を形成する。この開口に電解めっきによりニッケル合金等の導電材料を充填する。この工程を繰り返すことによって、プローブ本体110及び接続部120a、120bを作成する。その後、レジストを除去する。なお、上記開口は、寝かせたプローブ本体110及び接続部120a、120bの形状(すなわち、図1Aに示すプローブ100の形状)に対応している。
なお、プローブ100の接続部は次の通りに設計変更することが可能である。図2Aに示すように接続部120a及び接続部120bが第2端部112の端面上に一つずつ設けられた態様に設計変更することが可能である。図2Bに示すように接続部120aのみが第2端部112の端面上に設けられた態様に設計変更することが可能である。
図3Aに示すように、接続部120a及び接続部120bに代えて、二つの接続部120a’と接続部120b’とが第2端部112の端面上に設けられた態様に設計変更することが可能である。接続部120a’は、スプリングアーム121a’が略U字状である点で接続部120aと相違している。それ以外は、接続部120a’は接続部120aと略同じ構成である。接続部120b’は、接続部120a’の間に配置されている。接続部120b’は、スプリングアーム121b’が略U字状である点で接続部120bと相違している。それ以外は、接続部120b’は接続部120bと略同じ構成である。図3A中の121a1’、121b1’はスプリングアームの基端、121a2’、121b2’はスプリングアームの先端、121a3’、121b3’はスプリングアームの頂部である。なお、図3Bに示すように接続部120a’及び接続部120b’が第2端部112の端面上に一つずつ設けられた態様に設計変更することが可能である。図3Cに示すように接続部120a’のみが第2端部112の端面上に設けられた態様に設計変更することが可能である。
また、図4Aに示すように、接続部120a及び接続部120bに代えて、二つの接続部120a’’と接続部120b’’とが第2端部112の端面上に設けられた態様に設計変更することが可能である。接続部120a’’は、略V字状のスプリングアーム121a’’と、当接部122a’’とを有している。スプリングアーム121a’’は、基端121a1’’と、先端121a2’’と、頂部121a3’’とを有している。基端121a1’’は、第2端部112の端面の幅方向Dの一端部に連接されている。スプリングアーム121a’’は、第2端部112の端面から延びており且つ先端121a2’’が第2端部112の端面に間隙を有して対向するように略V字状に折り曲げられている。当接部122a’’は、スプリングアーム121a’’の頂部121a3’’に設けられており且つ幅方向D2の一方側に延びている。当接部122aは幅方向D2に並べられた複数の山部を有している。当接部122aの山部に対して荷重が加えられることによって、スプリングアーム121a’’が第2端部112側に弾性変形し、先端121a2’’が第2端部112の端面に当接するようになっている。
接続部120b’’は接続部120a’’の対称形状である。接続部120b’’は、略V字状のスプリングアーム121b’’と、当接部122b’’とを有している。スプリングアーム121b’’は、基端121b1’’と、先端121b2’’(図4Bを借りて参照)と、頂部121b3’’(図4Bを借りて参照)とを有している。基端121b1’’は、第2端部112の端面の幅方向Dの他端部に連接されている。スプリングアーム121b’’は、図4Bを借りて参照するように、第2端部112の端面から延びており且つ先端121b2’’が第2端部112の端面に間隙を有して対向するように略V字状に折り曲げられている。当接部122b’’は、スプリングアーム121b’’の頂部121b3’’に設けられており且つ幅方向D2の他方側に延びている。当接部122a’’の山部に対して荷重が加えられることによって、スプリングアーム121a’’が第2端部112側に弾性変形し、先端121a2’’が第2端部112の端面に当接するようになっている。
なお、図4Bに示すように接続部120a’’及び接続部120b’’が第2端部112の端面上に一つずつ設けられた態様に設計変更することが可能である。図4Cに示すように接続部120a’’のみが第2端部112の端面上に設けられた態様に設計変更することが可能である。
以下、本発明の実施例に係るプローブカードについて図5〜図7Bを参照しつつ説明する。図5に示すプローブカードは、複数のプローブ100と、ガイド板200a、200bと、スペーサ300a、300bと、配線基板400と、中間基板500と、複数のスプリングプローブ600と、メイン基板700と、補強板800と、補強部900とを備えている。以下、前記プローブカードの各構成要素について詳しく説明する。ただし、説明の便宜上、プローブ100の第2端部112に、図1A〜図1Cに示す接続部120a、120bが設けられているものを例に挙げて説明する。なお、図5においては、図面の簡略化のため、プローブ100を3つのみ図示している。
メイン基板700はプリント基板である。メイン基板700は、第1面と、前記第1面の裏側の第2面とを有している。メイン基板700の第1面には図示しない複数の電極が、メイン基板700の第2面の外縁部には複数のコネクタ710が設けられている。電極とコネクタ710とはメイン基板700の第1、第2面及び/又は内部に設けられた図示しない複数の導電ラインにより接続されている。
補強板800はメイン基板700よりも硬い板状の部材(例えばステンレス鋼等の板)である。この補強板800は、メイン基板700の第2面にネジ止めされている。この補強板800によりメイン基板700の撓みが抑止される。
中間基板500及び配線基板400は、メイン基板700及び補強板800にネジ止めされている。中間基板500及び配線基板400は、この順でメイン基板700の第1面側に配置されている。すなわち、中間基板500はメイン基板700と配線基板400との間に配置されている。中間基板500には、当該中間基板500を厚み方向に貫通した複数の貫通孔510が設けられている。この貫通孔510は、メイン基板700の電極の位置に対応した位置に配置されている。
配線基板400はST(スペーストランスフォーマ)基板である。配線基板400は、第1面と、この第1面の裏側の第2面とを有している。配線基板400の第1面上には、図6A〜図7Bに示すように、複数の電極410が間隔をあけて設けられている。配線基板400の第2面には、図5に示すように、複数の電極420が間隔をあけて配設されている。電極420は、メイン基板700の電極の鉛直線上に配置されている。電極410と電極420とは配線基板400の第1、第2面及び/又は内部に設けられた図示しない複数の導電ラインにより接続されている。
各スプリングプローブ600は、中間基板500の貫通孔510に収容され、メイン基板700の電極と配線基板400の電極420との間に圧縮状態で介在している。これにより、スプリングプローブ600がメイン基板700の電極と配線基板400の電極420との間を電気的に接続している。
補強部900は、プレート910と、取付部920とを有している。プレート910は、配線基板400の第1面側に、当該配線基板400に対して略平行に配置されている。取付部920は、配線基板400とプレート910の端部との間に介在している。プレート910及び取付部920は、配線基板400にネジ止めされている。プレート910には、当該プレート910を貫通した貫通孔911が設けられている。なお、プレート910と取付部920は一体化することが可能である。
ガイド板200bは、取付部920の内側で配線基板400の第1面側に配置されている。ガイド板200bには、当該ガイド板200bを貫通した複数のガイド孔210bが設けられている。ガイド孔210bは、配線基板400の電極410の位置に対応するように配置されている。ガイド孔210bには、プローブ100の第2端部112が挿通されている。第2端部112の係止凸部112aが、ガイド板200bのガイド孔210bの縁部に係止されている。このようにガイド板200bは特許請求の範囲のガイド板に相当する。
ガイド板200bの端部と配線基板400との間にはスペーサ300bが介在している。スペーサ300bによってガイド板200bと配線基板400との間に間隙が形成されている。スペーサ300bの厚み寸法(ガイド板200bと配線基板400との間の上記間隙(距離L))は、図6Aに示すように、プローブ100の接続部120a、120bのスプリングアーム121a、121bの頂部121a3、121b3が配線基板400の電極410に押し付けられ、当該スプリングアーム121a、121bが第2端部112側に弾性変形し、先端121a2、121b2が第2端部112に当接する寸法(距離)に設定されている。よって、接続部120a、120bは、電極410に当接した状態で、配線基板400の電極410を付勢している。換言すると、接続部120a、120bは電極410に対して所定の接触圧で接触し、接続されている。また、接続部120aのスプリングアーム121aの先端121a2が第2端部112に当接しているため、接続部120aの電極410に対する電気経路はR1、R2の二つとなる。R1は、接続部120aのスプリングアーム121aの基端121a1から頂部121a3(電極410に接触する部分)までの経路である。R2は、接続部120aのスプリングアーム121aの先端121a2から頂部121a3(電極410に接触する部分)までの経路である。なお、接続部120bも接続部120aと同様に電気経路R1、R2を有する。
ガイド板200bの端部とプレート910との間には、スペーサ300aが介在している。プレート910、スペーサ300a、300b及びガイド板200bが、配線基板400、メイン基板700及び補強板800にネジ止めされている。プレート910の図示下側には、ガイド板200aが配置されている。ガイド板200aは樹脂でプレート910に固着されている。ガイド板200aには、当該ガイド板200aを貫通した複数のガイド孔210aが設けられている。ガイド孔210aは、ガイド孔210bの鉛直線上に各々位置しており且つプレート910の貫通孔911に連通している。ガイド板200aのガイド孔210aには、プローブ100の第1端部111が挿通されている。第1端部111がガイド孔210aを貫通し、当該第1端部111の接触部111aが測定対象10の電極11に接触可能となっている。
上記プローブカードの組立時において、プローブ100の第2端部112をガイド板200bのガイド孔210bに挿通させ、当該第2端部112の係止凸部112aをガイド孔210bの縁部に係止させる。このガイド板200bを、スペーサ300bを介して配線基板400に積層させる。このとき、図6A及び図6Bに示すように、プローブ100の接続部120a、120bの頂部121a3、121b3が配線基板400の電極410に押し付けられる。すなわち、プローブ100の接続部120a、120bに対して図示上側から荷重が加えられる。これにより、接続部120a、120bのスプリングアーム121a、121bが第2端部112側に弾性変形し、スプリングアーム121a、121bの先端121a2、121b2が第2端部112の端面に当接する。このようにして接続部120a、120bが配線基板400の電極410に所定の接触圧で接触し、接続される。
上記プローブカードは、テスターのプローバに取り付けられ、測定対象10の電気的諸特性を測定するのに使用される。具体的には、プローバが、プローブカードと測定対象10とを対向配置し、この状態で同プローブカードと測定対象10とを相対的に接近させる。すると、図7Aに示すように、同プローブカードのプローブ100の第1端部111の接触部111aが測定対象10の電極11に接触する。その後、プローバが、プローブカードと測定対象10とを相対的に更に接近させる。これにより、プローブ100の第1端部111の接触部111aが測定対象10の電極11に押圧される(すなわち、第1端部111に荷重(オーバードライブ)が加えられる)。すると、プローブ100の弾性変形部113が屈曲するように弾性変形する。これにより、図7Bに示すようにプローブ100の接続部120a、120bと配線基板400の電極410とに過剰な荷重が加わるのを抑止することができる。この状態で、測定対象10の電気的諸特性が前記テスターにより測定される。
以上のようなプローブカードによる場合、プローブ100の接続部120a、120bが配線基板400の電極410に押し付けられ、接続部120a、120bのスプリングアーム121a、121bがプローブ本体110側に弾性変形し、スプリングアーム121a、121bの先端121a2、121b2がプローブ本体110に当接している。これにより、接続部120a、120bが所定の接触圧で配線基板400の電極410に接触するので、接続部120a、120bと電極410との接続信頼性を向上させることができる。しかも、接続部120a、120bは、電気経路R1、R2を有している。すなわち、接続部120aが電極410に対して電気経路R1、R2で並列接続され、接続部120bが電極410に対して電気経路R1、R2で並列接続されているので、接続部120a、120bのDC抵抗を低下させることができる。
なお、図3A〜図3Bに示す接続部120a’、120b’を配線基板400の電極410に押し付けた場合、スプリングアーム121a’、121b’がプローブ本体110の第2端部112側に弾性変形し、スプリングアーム121a’、121b’の先端121a1’、121b1’が第2端部112に当接する。この設計変更例の場合、上記した接続部120a、120bを有するプローブ100と同様の技術的効果を奏する。図4A〜図4Bに示す接続部120a’’、120b’’の当接部122a’’、122b’’を配線基板400の電極410に押し付けた場合、スプリングアーム121a’’、121b’’が第2端部112側に弾性変形し、スプリングアーム121a’’、121b’’の先端121a2’’、121b2’’が第2端部112に当接する。この設計変更例の場合も、上記した接続部120a、120bを有するプローブ100と同様の技術的効果を奏する。加えて、当接部122a’’、122b’’の電極410に対する接触面積は、接続部120a、120bの頂部121a3、121b3の電極410に対する接触面積よりも大きいので、当接部122a’’、122b’’の電極410に対する接触抵抗を低減させることができる。図2A、図2B、図3C及び図4Cに示した例は、接続部の数が相違するだけであるので、上記した技術的効果を奏する。
なお、上記したプローブ100及びプローブカードは、上記実施例に限定されるものではなく、特許請求の範囲の記載範囲において任意に設計変更することが可能である。以下、詳しく述べる。
上記実施例及び上記設計変更例では、プローブ100のプローブ本体110は、第1端部111と、第2端部112と、弾性変形部113を有するとした。しかし、本発明のプローブのプローブ本体は、任意に設計変更することが可能である。例えば、プローブ本体は、第1端部と、この第1端部の反対側の第2端部とを有する構成とすることが可能である。
上記実施例及び上記設計変更例では、プローブ100のプローブ本体110の弾性変形部113は、幅方向D2に円弧状に湾曲しているとした。しかし、本発明のプローブのプローブ本体の弾性変形部は、第1端部と第2端部との間に設けられており且つ第1端部に荷重が加えられることによって弾性変形可能である限り任意に設計変更することが可能である。例えば、弾性変形部は、略く字状に折り曲げられた構成とすることが可能である。また、プローブが片持ち梁状である場合には、弾性変形部は第1端部から第2端部にかけて斜めに傾斜する構成とすることが可能である。
上記実施例及び上記設計変更例では、プローブ100のプローブ本体110の第1端部111は、接触部111aを有するとした。しかし、本発明のプローブのプローブ本体の第1端部は、測定対象の電極に接触可能である限り任意に設計変更することが可能である。よって、接触部は省略可能である。
上記実施例及び上記設計変更例では、プローブ100のプローブ本体110の第2端部112は、係止凸部112aを有しているとした。しかし、本発明のプローブのプローブ本体の第2端部は、これに限定されるものではない。例えば、第2端部がガイド板に固定される場合には、係止凸部は省略可能である。この場合も、ガイド板と配線基板との間の距離が、当該配線基板の電極に上記した何れかの態様のプローブの接続部が押し付けられ、当該接続部のスプリングアームが当該プローブのプローブ本体側に弾性変形し、スプリングアームの先端が当該プローブ本体に当接する距離とすると良い。
上記実施例及び上記設計変更例では、プローブの接続部は、プローブ本体の第2端部に設けられた円弧状、略U字状又は略V字状のスプリングアームを有しているとした。しかし、本発明のプローブの接続部のスプリングアームは、プローブ本体から延び、先端が前記プローブ本体に間隙を有して対向するように湾曲又は折り曲げられており且つ当該接続部に対して荷重が加えられることにより、前記スプリングアームが前記プローブ本体側に弾性変形し、前記先端が前記プローブ本体に当接し得る限り任意に設計変更することが可能である。すなわち、プローブの接続部は、プローブ本体の第2端部に設けられているものに限定されるものはなく、プローブ本体の任意の箇所に設けることが可能である。また、本発明のプローブの接続部は、前記スプリングアームの先端が前記プローブ本体に当接することによって、二つの電気経路が形成される。一つは、スプリングアームの基端から電極に接触する部分までの経路である。もう一つは、スプリングアームの先端から前記電極に接触する部分までの経路である。
上記設計変更例では、プローブの接続部の当接部122a’’は、スプリングアーム121a’’の頂部121a3’’に設けられ、幅方向D2の一方側に延びており且つ幅方向D2に並べられた複数の山部を有しているとした。しかし、本発明のプローブの接続部の当接部は、省略可能である。よって、当接部122a’’は、スプリングアーム121a’’のみを有する構成とすることが可能である。また、本発明のプローブの接続部の当接部は、スプリングアームの前記頂部に設けられており且つ当該頂部よりも外形が大きい限り任意に設計変更することが可能である。上記したようにスプリングアームが円弧状又は略U字状に湾曲している場合も、当該スプリングアームの頂部に当接部を設けることが可能である。当接部に山部を設けるか否かについては任意に設定することができる。
上記実施例及び上記設計変更例では、プローブカードは、複数のプローブ100と、ガイド板200a、200bと、スペーサ300a、300bと、配線基板400と、中間基板500と、複数のスプリングプローブ600と、メイン基板700と、補強板800と、補強部900とを備えているとした。しかし、本発明のプローブカードは、上記した何れかの態様のプローブと、電極を有する配線基板とを備えており、前記プローブの接続部が前記電極に押し付けられ、当該接続部のスプリングアームが当該プローブのプローブ本体側に弾性変形し、当該スプリングアームの先端が当該プローブ本体に当接し得る限り任意に設計変更することが可能である。プローブカードの中間基板500、スプリングプローブ600、メイン基板700及び補強板800は、省略可能である。また、配線基板を他の基板(メイン基板を含む。)に接続するか否かについては適宜設計変更することが可能である。配線基板自体をメイン基板として用いることが可能である。配線基板と他の基板との電気的な接続は、スプリングプローブ600に限定されることはなく、一般的なプローブやケーブル等の周知の接続部材を用いることが可能である。
なお、上記実施例におけるプローブ及びプローブカードの各部を構成する素材、形状、寸法、数及び配置等はその一例を説明したものであって、同様の機能を実現し得る限り任意に設計変更することが可能である。なお、上記実施例及び上記した設計変更例のプローブは、基板間を接続するためのプローブとして使用可能である。上記実施例及び上記した設計変更例のプローブの接続部は、半導体ウエハ又は半導体デバイスの電極に対する接続部としても用いることが可能である。
100・・・・プローブ
110・・・プローブ本体
111・・第1端部
112・・第2端部
120a・・接続部
121a・スプリングアーム
121a1・基端
121a2・先端
121a3・頂部
120b・・接続部
121b・スプリングアーム
121b1・基端
121b2・先端
121b3・頂部
200a・・・ガイド板
210a・・ガイド孔
200b・・・ガイド板
210b・・ガイド孔
300a・・・スペーサ
300b・・・スペーサ
400・・・・配線基板
410・・・電極
500・・・・中間基板
600・・・・スプリングプローブ
700・・・・メイン基板
800・・・・補強板
900・・・・補強部

Claims (7)

  1. プローブ本体と、
    接続部とを備えており、
    前記接続部は、前記プローブ本体から延びており且つ先端が前記プローブ本体に間隙を有して対向するように湾曲又は折り曲げられたスプリングアームを有しており、
    前記接続部に対して荷重が加えられることにより、当該接続部の前記スプリングアームが前記プローブ本体側に弾性変形し、当該スプリングアームの前記先端が前記プローブ本体に当接するプローブ。
  2. 請求項1記載のプローブにおいて、
    前記プローブ本体は、第1端部と、
    前記第1端部の反対側の第2端部とを有しており、
    前記スプリングアームは前記プローブ本体の前記第2端部から延びており且つ前記先端が前記第2端部に間隙を有して対向するように湾曲又は折り曲げられており、
    前記接続部に対して荷重が加えられることにより、前記当該接続部の前記スプリングアームが前記プローブ本体の前記第2端部側に弾性変形し、前記先端が前記第2端部に当接するプローブ。
  3. 請求項2記載のプローブにおいて、
    前記プローブ本体は、前記第1端部と前記第2端部との間に設けられた弾性変形部を更に有しているプローブ。
  4. 請求項2〜3の何れか一つに記載のプローブにおいて、
    前記第2端部には係止凸部が設けられているプローブ。
  5. 請求項1〜4の何れか一つに記載のプローブにおいて、
    前記スプリングアームは頂部を有しており、
    前記接続部は、前記スプリングアームの前記頂部に設けられており且つ当該頂部よりも外形が大きい当接部を更に有しているプローブ。
  6. 請求項4記載のプローブと、
    前記プローブの前記第2端部が挿入されたガイド孔及び当該プローブの前記係止凸部を係止した前記ガイド孔の縁部を有するガイド板と、
    電極を有する配線基板とを備えており、
    前記配線基板と前記ガイド板との間の距離が、当該配線基板の前記電極に前記プローブの前記接続部が押し付けられ、当該接続部の前記スプリングアームが当該プローブの前記プローブ本体側に弾性変形し、前記先端が当該プローブ本体に当接する距離であるプローブカード。
  7. 請求項2〜3の何れか一つに記載のプローブと、
    前記プローブの前記第2端部が挿入されたガイド孔を有しており且つ前記第2端部が固定されたガイド板と、
    電極を有する配線基板とを備えており、
    前記配線基板と前記ガイド板との間の距離が、当該配線基板の前記電極に前記プローブの前記接続部が押し付けられ、当該接続部の前記スプリングアームが当該プローブの前記プローブ本体側に弾性変形し、前記先端が当該プローブ本体に当接する距離であるプローブカード。
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