JP2016090565A - 開閉装置、ケーブル特性試験システム及びケーブル特性試験方法 - Google Patents

Abstract

【課題】ケーブル特性試験における測定順序の制約を軽減し、測定作業の効率化を図ることが可能な開閉装置、ケーブル特性試験システム及びケーブル特性試験方法を提供する。
【解決手段】ケーブル特性試験システム１は、周期的に開閉を行う開閉装置２０と、ケーブル特性を計測する計測装置３０と、を備える。開閉装置２０は、２つの接続用端子２１ａ，２１ｂと、接続用端子２１ａ，２１ｂ間を短絡又は開放するリレースイッチ２１と、リレースイッチ２１を周期的にオンオフ制御する制御部２３と、制御部２３に電源を供給する電源部２４と、を備える。
【選択図】図１

Description

本発明は、開閉装置、ケーブル特性試験システム及びケーブル特性試験方法に関する。

複数の芯線を有する多芯ケーブルを試験或いは評価するために、ケーブルの様々な電気的特性を測定することが行われている。

例えば、特許文献１は、製造段階における多芯ケーブルの絶縁特性を求めるために、２本の芯線に対して充放電を行い、充放電電流に基づいて、芯線間の絶縁状態（混線状態）を評価する方法を開示する。

また、特許文献２は、多芯ケーブルの電気的特性を測定してケーブルの長さを算出するケーブル長測定方法を開示する。この方法は、２本の芯線の遠端同士が抵抗を介して接続された状態で、一方の芯線の一端からパルス信号を注入し、他方の芯線の一端でその信号を検出し、その長さを算出する。

上記以外にも、ケーブル内の芯線の断線、混線又は劣化等を調べるために、電気抵抗や配線間の容量（絶縁抵抗）などをマルチメータ等の計測装置により測定する方法が知られている。この方法によれば、ケーブルがトグロ状に巻かれている場合には、ケーブルの一端と他端が接近しているため、マルチメータ等の計測装置の測定コードをケーブルの芯線の一端と他端に接続して特性試験を行うことができる。

特許文献１に開示された方法は、自由にケーブルを移送できる状況（すなわち製造段階）にのみ実施可能な方法であり、既設のケーブルに実施することはできない。また、特許文献２に記載の測定方法は、ケーブル長さを算出することしかできず、ケーブルの特性、例えばケーブルの芯線の断線（導通）、混線又は劣化について調べることはできない。

また、既設のケーブルは、ケーブルの一端と他端（近端と遠端）が数十メートル以上も離れている場合が多い。この場合、ケーブルの芯線の一端と他端にマルチメータ等の測定コードを接続することは困難である。

このように上記方法では、既設のケーブルの芯線の断線（導通）、混線又は劣化について調べることはできない。既設のケーブルの断線、混線、劣化等を調べる手法として、２本の芯線でペアを組み、抵抗値や容量値などを測定する方法がある。この測定方法では、まず、ペアにした２本の芯線の遠端同士を短絡して、それらの近端にマルチメータを接続することにより、配線２本分の抵抗値を測定できる。次に、ケーブルの遠端同士を開放し、芯線間の容量値（絶縁抵抗値）を測定できる。

特開平７−２８０８７６号公報 特許第４７５７１６６号公報

この方法では、例えば、抵抗を測定してから容量を測定する場合、ケーブルの近端の場所から遠端の場所まで移動して、短絡状態にしていた２本の芯線の遠端同士を開放状態に変更する作業をしなければならない。先に容量測定を実施して抵抗測定を始める場合も同様である。そのため、測定作業の効率が悪くなる。

測定作業を効率化するため、例えば、先に、芯線の遠端同士を短絡して測定する項目だけを集めて測定し、後に遠端を開放して測定する項目だけを集めて測定するといったことも可能である。

しかし、この方法では、測定対象のペアの数によっては、遠端同士を短絡して測定した後、遠端を開放して測定するまでに時間がかかり、測定条件、例えば、温度・湿度等に変化が生じてしまい、正確な測定が困難である。

本発明は、上記実情に鑑みてなされたものであり、ケーブル特性試験における測定順序の制約を軽減し、測定作業の効率化を図ることを目的とする。

上記目的を達成するため、本発明に係る開閉装置は、
ケーブル特性の測定に使用される開閉装置であって、
測定対象ケーブル内の複数の配線の一端を接続するための複数の接続用端子と、
前記接続用端子間を短絡又は開放するスイッチと、
前記スイッチを周期的にオンオフ制御する制御部と、
を備える。

本発明によれば、ケーブル特性試験における測定順序の制約を軽減し、測定作業の効率化を図ることが可能となる。

本発明の第１実施形態に係るケーブル特性試験システムの構成図である。 本発明の第１実施形態の開閉装置の構成を示す回路図である。 本発明の第１実施形態の開閉装置の動作特性を示す図であり、（Ａ）はコンデンサＣ１の充電電圧、（Ｂ）は開閉信号の電圧、（Ｃ）はリレースイッチのコイル電流、（Ｄ）はリレースイッチの状態を示している。 本発明の第１実施形態のケーブル特性試験の手順を示すフローチャートである。 本発明の第１実施形態のケーブル特性試験の良品判定の一例を示す図である。 第１変形例にかかる開閉装置の構成を示す回路図である。 第２変形例にかかる開閉装置の構成を示す回路図である。 第３変形例にかかる開閉装置の構成を示す回路図である。 タイマ回路又はカウンタ回路を使用した開閉装置の動作の一例を示すタイミングチャート図であり、（Ａ）は測定項目、（Ｂ）はリレースイッチのコイル電流である。 第３変形例にかかる開閉装置の動作の一例を示すタイミングチャート図であり、（Ａ）は測定項目、（Ｂ）はリレースイッチのコイル電流である。 第４変形例にかかる開閉装置の構成を示す回路図である。 第５変形例にかかる開閉装置の構成を示す回路図である。 パルス生成回路の構成を示す回路図である。 第５変形例にかかる開閉装置の動作の一例を示すタイミングチャート図であり、（Ａ）はＯＵＴＰＵＴ出力、（Ｂ）はＩＮＶ出力、（Ｃ）はＡＮＤ出力、（Ｄ）はＮＯＲ出力、（Ｅ）は端子９１ｆ出力、（Ｆ）は端子９１ｅ出力、（Ｇ）はリレースイッチの状態である。 本発明の第２実施形態に係るケーブル特性試験システムの構成を示す回路図である。 本発明の第２実施形態に係る開閉装置の動作の一例を示すタイミングチャート図であり、（Ａ）は受信信号、（Ｂ）はnode1の信号、（Ｃ）はnode2の信号、（Ｄ）は開閉信号Pout、（Ｅ）はリレースイッチのコイル電流、（Ｆ）は開閉信号の状態である。 本発明の第３実施形態に係る開閉装置の構成を示す回路図である。 本発明の第３実施形態に係る開閉装置の動作の一例を示すタイミングチャート図であり、（Ａ）はＯＵＴＰＵＴ出力、（Ｂ）はスイッチ２１１を流れる電流、（Ｃ）はスイッチ２１２を流れる電流、（Ｄ）はスイッチ２１３を流れる電流、（Ｅ）はリレースイッチの状態である。

以下、本発明の実施形態に係る開閉装置、ケーブル特性試験システム及びケーブル特性試験方法について図面を参照して詳細に説明する。

（第１実施形態）
図１は、本発明の第１実施形態に係るケーブル特性試験システム１の構成図である。このケーブル特性試験システム１は、測定対象の芯線ペアの一端を開放（開）してケーブル特性（電気的特性）を測定する動作と、芯線ペアの一端を互いに接続（閉）してケーブル特性を測定する動作とを周期的に行う装置であり、開閉動作を行う開閉装置２０と、ケーブル特性を計測する計測装置３０と、を備える。

図示するように、特性試験の対象であるケーブル１０は、２本の芯線１１，１２を有する２芯ケーブルである。なお、特性試験の対象は、ケーブル１０のような２芯ケーブルに限らず、芯線が１本のシールドケーブル又は同軸ケーブルであってもよい。この場合、２本の芯線の代わりに１本の芯線（内部導体）とシールド線（外部導体）を使用する。すなわち、ケーブル内に２本の配線（芯線又は芯線以外の導体）があれば特性試験の対象となり得る。

開閉装置２０は、２つの接続用端子２１ａ，２１ｂと、接続用端子２１ａ，２１ｂ間を短絡又は開放するリレースイッチ２１と、リレースイッチ２１を周期的にオンオフ制御する制御部２３と、制御部２３に電源を供給する電源部２４と、を備える。なお、本実施形態のリレースイッチ２１はメカニカルリレーから構成される。

開閉装置２０の接続用端子２１ａ，２１ｂには、試験対象のケーブル１０内の芯線１１，１２の一端（以下、遠端）１１ａ，１２ａが接続される。なお、この接続を容易にするために、先端にクリップを有する接続用配線を接続用端子２１ａ，２１ｂに取り付けて、芯線の遠端１１ａ，１２ａにクリップ留めするようにしてもよい。

計測装置３０は、測定コード３１，３２を介してケーブル１０内の芯線１１，１２の他端（以下、近端）１１ｂ，１２ｂ間に接続される。計測装置３０は、例えば抵抗値や容量値等の測定機能を有するマルチメータやＴＤＲ（Time Domain Reflectometry：時間領域反射）測定装置から構成される。なお、ＴＤＲ測定とは、パルス信号やステップ信号を配線に注入し、その反射波形を観測する手法である。

図２に示すように、開閉装置２０の電源部２４は、電源ライン１２１に一端が接続された電源スイッチＳＷ１と、電源スイッチＳＷ１の他端に正極が接続され、負極がＧＮＤ（グランド）ライン１２２に接続された電池ＢＡと、を備える。電源部２４は、電源スイッチＳＷ１がオンすると、電池ＢＡのバッテリ電圧Ｖ_ＢＡＴＴを電源ライン１２１とＧＮＤライン１２２を介して制御部２３に供給する。なお、本実施形態では開閉装置２０を持ち運びしやすいように、電源部２４に電池を使用しているが、電池ではなくアダプタ等を介して交流電源から直流電圧を制御部２３に供給してもよい。

制御部２３は、オンオフ制御の周期を決定して開閉信号を生成するタイマ回路１００と、開閉信号によりリレースイッチ２１を駆動するドライバ回路１０１と、を備える。タイマ回路１００は、タイマＩＣ（Integrated Circuit)１１０と、可変抵抗ＶＲ１，ＶＲ２と、コンデンサＣ１と、リセット回路１１１と、を備え、バッテリ電圧Ｖ_ＢＡＴＴを周期的な開閉信号に変換する。

タイマＩＣ１１０は、例えば、汎用タイマＩＣ（５５５シリーズ）から構成される。なお、タイマＩＣ１１０内部を構成する素子をディスクリート品で構成してもよい。リセット回路１１１は、電源スイッチＳＷ１の投入時に、タイマＩＣ１１０にリセット信号を出力する。

タイマＩＣ１１０は、電源部２４のＧＮＤライン１２２に接続されるＧＮＤ端子（１）と、ＴＲＩＧＧＥＲ端子（２）と、ドライバ回路１０１に開閉信号を出力するＯＵＴＰＵＴ端子（３）と、リセット回路１１１からリセット信号が入力されるＲＥＳＥＴ端子（４）と、ＣＯＮＴＲＯＬＶＯＬＴＡＧＥ端子（５）と、ＴＨＲＥＳＨＯＬＤ端子（６）と、コンデンサＣ１の電荷を放電させるＤＩＳＣＨＡＲＧＥ端子（７）と、電源部２４の電源ライン１２１から電源入力されるＶＣＣ端子（８）とを備える。

可変抵抗ＶＲ１は、一端が電源ライン１２１に接続され、他端がタイマＩＣ１１０のＤＩＳＣＨＡＲＧＥ端子（７）に接続されている。可変抵抗ＶＲ２は、一端がタイマＩＣ１１０のＤＩＳＣＨＡＲＧＥ端子（７）に接続され、他端がタイマＩＣ１１０のＴＨＲＥＳＨＯＬＤ端子（６）及びコンデンサＣ１の一端に接続されている。

コンデンサＣ１の一端は、相互に接続されたタイマＩＣ１１０のＴＨＲＥＳＨＯＬＤ端子（６）とＴＲＩＧＧＥＲ端子（２）とに接続され、他端はＧＮＤライン１２２に接続されている。タイマＩＣ１１０は、コンデンサＣ１の端子間電圧が、予め設定されている閾値電圧に達すると、コンデンサＣ１の電荷をＤＩＳＣＨＡＲＧＥ端子（７）に放電させる。

ドライバ回路１０１は、抵抗Ｒ１，Ｒ２と、ＮＰＮ型バイポーラトランジスタ（以下、単にトランジスタ）Ｑ１，Ｑ２と、可変抵抗ＶＲ３と、ダイオードＤ１を備えている。抵抗Ｒ１は、その一端がタイマＩＣ１１０のＯＵＴＰＵＴ端子（３）に接続され、他端がトランジスタＱ１のベース及び抵抗Ｒ２の一端に接続されている。抵抗Ｒ２の他端は、トランジスタＱ１のエミッタとＧＮＤライン１２２に接続されている。

トランジスタＱ１のコレクタは、可変抵抗ＶＲ３を介して電源ライン１２１に接続され、そのエミッタは、ＧＮＤライン１２２に接続されている。

トランジスタＱ２のベースは、トランジスタＱ１のコレクタに接続され、コレクタはダイオードＤ１のアノードとリレースイッチ２１のコイルＬの一端に接続され、エミッタは、ＧＮＤライン１２２に接続されている。ダイオードＤ１のカソードは、コイルＬの他端と電源ライン１２１に接続されている。

トランジスタＱ１，Ｑ２は、タイマ回路１００の出力する開閉信号の電流を増幅してリレースイッチ２１のコイルＬに供給し、可変抵抗ＶＲ３はその電流量を調整する役割を果たしている。ダイオードＤ１は、リレースイッチ２１のコイルＬに発生する逆起電力によって発生する電流を流すためのフライホイールダイオードである。

本実施形態では、タイマ回路１００の充電時間を「ＴＨＲＥＳＨＯＬＤ端子（６）の電圧（すなわちコンデンサＣ１の端子間電圧）が供給電圧ＶＣＣ（すなわちバッテリ電圧Ｖ_ＢＡＴＴ）の２／３に達するまでの時間」に設定している。なお、タイマ回路１００の充電時間は、可変抵抗ＶＲ１，ＶＲ２及びコンデンサＣ１の値によって決まり、充電時間をτｒとすれば、τｒ＝１．１×Ｃ１×(ＶＲ１＋ＶＲ２)で表せる。

タイマ回路１００の放電時間は、「ＴＨＲＥＳＨＯＬＤ端子（６）の電圧が供給電圧ＶＣＣの１／３に達するまでの時間」に設定している。タイマ回路１００の放電時間は、可変抵抗ＶＲ２及びコンデンサＣ１の値によって決まり、放電時間をτｆとすればτｆ＝１．１×Ｃ１×ＶＲ２で表せる。

以下、図２及び図３を参照しながら上記構成を有する開閉装置２０の動作特性について説明する。

まず、図３（Ａ）はタイマＩＣ１１０のＴＨＲＥＳＨＯＬＤ端子（６）の電圧の時間的推移を示している。図３（Ｂ）は、タイマＩＣ１１０のＯＵＴＰＵＴ端子（３）の電圧の時間的推移を示している。図３（Ｃ）は、リレースイッチ２１のコイルＬに流れる電流Ｉ_Ｌの時間的推移を示している。

まず、図２において、開閉装置２０の電源部２４の電源スイッチＳＷ１がオンされると、リセット回路１１１はタイマＩＣ１１０にリセット信号を出力し、タイマＩＣ１１０はＤＩＳＣＨＡＲＧＥ端子（７）を接地してコンデンサＣ１の残留電荷を放電させる。その後、可変抵抗ＶＲ１，ＶＲ２を介してコンデンサＣ１が充電され、ＴＨＲＥＳＨＯＬＤ端子（６）の電圧すなわちコンデンサＣ１の充電電圧が徐々に上昇していく。図３（Ａ）に示すように、この充電状態はＴＨＲＥＳＨＯＬＤ端子（６）の電圧が供給電圧ＶＣＣの２／３に達するまで継続する（0〜t1までの区間）。

図３（Ｂ）に示すように、この充電状態では、ＯＵＴＰＵＴ端子（３）の電圧は供給電圧ＶＣＣ（＝Ｖバッテリ電圧Ｖ_ＢＡＴＴ）になる。これにより、トランジスタＱ１がオンし、トランジスタＱ２のベース電圧が低下し、トランジスタＱ２はオフする。このため、リレースイッチ２１のコイルＬの端子間電圧はゼロとなり、図３（Ｃ）に示すように、リレースイッチ２１のコイルＬに流れる電流Ｉ_Ｌはゼロとなる。そのため、リレースイッチ２１は、オフ状態を維持する。この状態では、接続用端子２１ａと２１ｂとは絶縁された状態となる。

コンデンサＣ１の充電が進み、ＴＨＲＥＳＨＯＬＤ端子（６）の電圧が供給電圧（２／３）・ＶＣＣに達すると、タイマＩＣ１１０は、ＤＩＳＣＨＡＲＧＥ端子（７）を接地する。これにより、コンデンサＣ１の電荷が、可変抵抗ＶＲ２とＤＩＳＣＨＡＲＧＥ端子（７）とを介して放電されていく。図３（Ａ）に示すように、この放電状態は、ＴＨＲＥＳＨＯＬＤ端子（６）の電圧が供給電圧ＶＣＣの１／３に達するまで継続する（t1〜t2の区間）。

図３（Ｂ）に示すように、この充電状態では、ＯＵＴＰＵＴ端子（３）の電圧すなわち開閉信号はローレベルになる。ＯＵＴＰＵＴ端子（３）の電圧がローレベルだと、トランジスタＱ１がオフする。すると、トランジスタＱ２のベース電圧が上昇して、トランジスタＱ２がオンし、リレースイッチ２１のコイルＬに、図３（Ｃ）に示すように、電流Ｉ_opが流れる。そのため、リレースイッチ２１はオンし、接続用端子２１ａと２１ｂとは短絡される。

次に、ＴＨＲＥＳＨＯＬＤ端子（６）の電圧が供給電圧ＶＣＣの１／３に達すると、放電状態から再び充電状態に移行し、ＴＨＲＥＳＨＯＬＤ端子（６）の電圧が供給電圧ＶＣＣの２／３に達するまで継続する（t2〜t3の区間）。このような動作は、電源スイッチＳＷ１がオフにされるまで繰り返される（t3〜）。

このように、リレースイッチ２１は制御部２３のタイマ回路１００が出力する開閉信号によって周期的にオンオフ制御され、接続用端子２１ａ，２１ｂ間が短絡又は開放される。また、リレースイッチ２１のオン時間はタイマ回路１００の充電時間によって決まり、オフ時間はタイマ回路１００の放電時間によって決まる。そのため、コンデンサＣ１、可変抵抗ＶＲ１，ＶＲ２の値を調整すれば、リレースイッチ２１のオンオフ制御の周期も調整することができる。

次に、このような動作を行う開閉装置２０と計測装置３０とを使用して、ケーブル１０の特性を測定する手順について図４のフローチャートを参照しながら説明する。まず、計測実施者は、ケーブル１０内の芯線１１，１２の遠端１１ａ，１２ａを、開閉装置２０の接続用端子２１ａ，２１ｂにそれぞれ接続し、開閉装置２０の電源部２４の電源スイッチＳＷ１をオンにする（ステップＳ１０１）。これにより、開閉装置２０のリレースイッチ２１は、周期的にオンとオフを繰り返す状態になる。

次に計測実施者は、ケーブル１０の近端側に移動し、ケーブル１０内の芯線１１，１２の近端１１ｂ，１２ｂを計測装置３０の測定コード３１，３２に接続する（ステップＳ１０２）。続いて、計測実施者は、計測装置３０を、抵抗値を測定可能な状態（第１計測状態）に設定する（ステップＳ１０３）。この状態のまま、計測値の時間的推移を見て、第１の計測を行う（ステップＳ１０４）。

第１の計測が終わったら、計測実施者は、計測装置３０を、容量値（又は絶縁抵抗値）を測定可能な状態（第２計測状態）に設定する（ステップＳ１０５）。この状態のまま、計測値の時間的推移を見て、第２の計測を行う（ステップＳ１０６）。第２の計測が終わったら、計測終了となる。

ここで、第１の計測及び第２の計測の計測値の読み取り方について説明する。図５は、ケーブル特性試験の良品判定の一例を示す図である。図５に示すように、開閉装置２０の接続用端子２１ａ，２１ｂの周期的な短絡・開放により、測定された抵抗値も周期的に変動する。

そこで、第１の計測では、計測値（抵抗値）が小さくなったときに計測値１（２本分の芯線抵抗値）を読み取る。接続用端子２１ａと２１ｂとが短絡されているときに抵抗値は小さくなるからである。一方、第２の計測では、計測値（抵抗値）が大きくなったときに計測値２（芯線１１，１２間の絶縁抵抗値）を読み取る。接続用端子２１ａ，２１ｂ間が開放されているときに抵抗値は大きくなるからである。なお、第２の計測が絶縁抵抗値ではなく容量値の場合は、計測値（容量値）が最大になったときに計測値（芯線１１，１２間の容量値）を読み取る。

図５では、計測値１が基準値１を下回っているので、２本の芯線１１，１２が断線していないことが確認できる（基準値１を上回っている場合は２本の芯線１１，１２の途中で接続不良か断線が生じていることを確認できる）。また、図５では、計測値２が基準値２を上回っているので、芯線１１，１２間の絶縁が良好で混線が生じていないことが確認できる（基準値２を下回っている場合は、ケーブル１０の劣化や芯線１１，１２間の混線が生じていることが確認できる）。なお、計測値１，２と基準値１，２との比較による判断は、基準値１，２を設定された計測装置３０が行ってもよいし、計測実施者が行ってもよい。

なお、本実施形態では、計測装置３０によって抵抗値及び容量値（絶縁抵抗値）を計測する場合について説明したが、計測装置３０がＴＤＲ測定装置である場合でも同様に第１の計測及び第２の計測を行うことができる。

具体的には、接続用端子２１ａ，２１ｂの短絡時には、第１の計測として固定端反射波形を観測し、接続用端子２１ａ，２１ｂの開放時には、第２の計測として自由端反射波形を観測する。両者の波形を比較して、ケーブル１０の長さを測定することができる。また、両者の観測波形に差異が無く、固定端反射波形のままの場合には、芯線１１，１２間の混線が生じていることが確認でき、自由端反射波形のままの場合、芯線１１，１２の途中で接続不良か断線が生じていることを確認できる。

以上説明したように、本実施形態に係るケーブル特性試験システム１によれば、開閉装置２０が接続用端子２１ａ，２１ｂ間を周期的に短絡・開放させる。そのため、計測実施者は計測項目を変更するたびに、わざわざケーブルの近端の場所から遠端の場所（開閉装置２０が設置されている場所）まで移動して、短絡・開放の変更作業を行う必要がない。

上述のように第１の計測及び第２の計測の計測値は、時間的な推移から読み取るため、計測値を読み取れるまでの待ち時間（数秒程度）が生じる場合がある。しかし、この待ち時間は、ケーブルの近端の場所から遠端の場所までの計測実施者の移動時間と短絡・開放の変更作業に費やす時間（数十分〜数時間）に比べるとはるかに短いため、測定時間を短縮することができ、測定作業の効率化を図ることが可能となる。また、第１の計測及び第２の計測という異なる測定項目をまとめて行うことができるため、ケーブル特性試験における測定順序の制約を軽減することができる。なお、第１の計測及び第２の計測は、順序を逆にしてもよい。

なお、本発明は、上記実施形態に限定されず、本発明の要旨を逸脱しない範囲での種々の変更は勿論可能である。以下、図６〜図１４を参照しながら、第１〜第５変形例にかかる開閉装置４０，５０，６０，７０，８０について説明する。なお、これらの変形例にかかる開閉装置において、上記実施形態の開閉装置２０と共通する構成要素については、上記実施形態と同一の符号を付す。また、上記実施形態及び以下の変形例は、特に明示する場合を除き、任意に組み合わせ可能なものとする。

図６は、第１変形例にかかる開閉装置４０の構成を示す回路図である。この開閉装置４０は、制御部４３の電源ライン１２１ａとリレースイッチ２１の入力側の電源ライン１２１ｂとの間に昇圧回路４２を備えている。昇圧回路４２はリレースイッチ２１に供給される電圧を昇圧する。これにより、リレースイッチ２１の動作電圧がタイマＩＣ１１０の動作電圧よりも高い場合でも、昇圧回路４２によってリレースイッチ２１の入力電圧をタイマＩＣ１１０の入力電圧より昇圧させ、それぞれの入力電圧がそれぞれの動作電圧となるように調整することができる。なお、リレースイッチ２１の動作電圧がタイマＩＣ１１０の動作電圧よりも低い場合には、昇圧回路４２に代えて降圧回路を使用すればよい。

また、昇圧回路４２に代えて、レギュレータ回路（電圧安定化回路）を配置してもよい。この場合、バッテリ電圧Ｖ_ＢＡＴＴが長時間使用等により低下した場合でも、ある程度の期間、リレースイッチ２１の動作を担保することができる。また、昇圧回路４２或いは降圧回路にレギュレータを組み込んで、昇圧電圧或いは降圧電圧を安定化してもよい。また、これらに限らず、任意の電圧制御回路を配置し、リレースイッチ２１に印加する電圧を制御してもよい。

図７は、第２変形例にかかる開閉装置５０の構成を示す回路図である。この開閉装置５０の制御部５３は、上記実施形態のタイマ回路１００の代わりに、カウンタ回路１５１と、発振回路１５２と、リセット回路１５３と、を備えている。

発振回路１５２はカウンタ回路１５１にクロック信号を供給し、カウンタ回路１５１は、そのクロック信号を分周した開閉信号を生成する。この開閉装置５０では、リレースイッチ２１のオンオフ制御の周期はカウンタ回路１５１の出力する開閉信号の周期によって決定される。

上記実施形態の開閉装置２０の場合、タイマ回路１００のコンデンサＣ１と可変抵抗ＶＲ１，ＶＲ２によってリレースイッチ２１のオンオフ制御の周期が決まっていた。しかし、これらの素子の値はバラつきが大きいため、オンオフ制御の周期もバラついてしまう。また、図３に示すように、オン時間（t１〜ｔ2）とオフ時間（t2〜ｔ3）は同じ時間にならない場合がある。

これに対し、第２変形例にかかる開閉装置５０によれば、タイマ回路１００を使用した開閉装置２０に比べて、オンオフ制御の周期のバラつきを軽減可能である。また、オン時間とオフ時間を等しくすることが可能である。

図８は、第３変形例にかかる開閉装置６０の構成を示す回路図である。この開閉装置６０の制御部６３は、第２変形例のカウンタ回路１５１の代わりに、プロセッサ１６１を備えている。この第３変形例にかかる開閉装置６０では、プロセッサ１６１の出力信号の周期（又はオン時間とオフ時間）はプログラミング可能であり、制御部６３は、オンオフ制御をプロセッサ１６１の出力信号に基づいて制御する。そのため、オンオフ制御のオン時間とオフ時間を任意に設定することが可能となる。

例えば、図９（Ａ），（Ｂ）は、タイマ回路１００又はカウンタ回路１５１を使用した開閉装置２０，４０，５０の動作の一例を示すタイミングチャート図である。開閉装置２０，４０，５０のようにタイマ回路１００やカウンタ回路１５１を使用した場合、図９（Ｂ）に示すように、オンオフ制御のオン時間とオフ時間は一定（例えばオフ時間が１０秒で、オン時間が１２秒）に固定されてしまう。そのため、測定時間が異なる測定項目がある場合、その中の最大時間に合わせなければならない。

例えば、オフ時間は、測定項目Ａ（測定時間５秒）と測定項目Ｃ（測定時間１０秒）のうち、測定時間の長い測定項目Ｃに合わせて１０秒としなければならない。オン時間は、測定項目Ｂ（測定時間６秒）と測定項目Ｄ（測定時間１２秒）のうち、測定時間の長い測定項目Ｄに合わせて１２秒としなければならない。その結果、図９に示すように、測定時間の短い測定項目Ａ及び測定項目Ｂのときに無駄なデッドタイムが発生する。

これに対して、第３変形例にかかる開閉装置６０の動作特性は、図１０（Ａ），（Ｂ）に示すように、プロセッサ１６１をプログラミングして測定項目Ａではオフ時間を５秒にする一方で、測定項目Ｃではオフ時間を１０秒にすることができる。このように測定項目ごとのオン時間とオフ時間を設定できるため、図９（Ａ）に示すデットタイムの発生を防止することができる。

図１１は、第４変形例にかかる開閉装置７０の構成を示す回路図である。開閉装置７０は、リレースイッチ２１としてメカニカルリレーではなく、半導体リレーであるリレースイッチＳＳＲ（Solid State Relay）を備えている。メカニカルリレーに比べて、リレースイッチＳＳＲは、開閉に伴う接点の摩耗がないため、かかる開閉装置７０によれば、高速・高頻度の開閉にも対応可能となる。

図１２は、第５変形例にかかる開閉装置８０の構成を示す回路図である。この開閉装置８０の制御部７３は、オンオフ制御の周期を決定して開閉信号を生成するタイマ回路１００と、開閉信号に基づいてリレースイッチ９１を駆動するドライバ回路１９１と、を備える。

ドライバ回路１９１は、パルス信号を生成するパルス生成回路１９２と、電流量を調整するための抵抗Ｒ１〜Ｒ６、トランジスタＱ１，Ｑ２、及びダイオードＤ２，Ｄ３とを備える。以下、パルス生成回路１９２の詳細な構成を説明した上で、かかるパルス生成回路１９２を含むドライバ回路１９１の詳細な構成を説明する。

図１３に示すように、パルス生成回路１９２は、バッファ４０１と、コンデンサＣ２と、可変抵抗ＶＲ４と、インバータ回路４０２と、ＡＮＤ回路４０３と、ＮＯＲ回路４０４とから構成される。また、パルス生成回路１９２は、入力端子Ｐ１と、ＧＮＤ端子Ｐ２と、ＡＮＤ回路４０３の出力端子Ｐ３と、ＮＯＲ回路４０４の出力端子Ｐ４とを備える。

バッファ４０１の入力端は入力端子Ｐ１に接続され、バッファ４０１の出力端は可変抵抗ＶＲ４の一端に接続される。可変抵抗ＶＲ４の他端は、コンデンサＣ２の一端と、インバータ回路４０２の入力端とに接続される。コンデンサＣ２の他端は、ＧＮＤ端子Ｐ２に接続される。

インバータ回路４０２の出力端は、ＡＮＤ回路４０３の一方の入力端と、ＮＯＲ回路４０４の一方の入力端とに接続される。ＡＮＤ回路４０３の他方の入力端と、ＮＯＲ回路４０４の他方の入力端とは、それぞれ入力端子Ｐ１に接続される。ＡＮＤ回路４０３の出力端は出力端子Ｐ３に接続され、ＮＯＲ回路４０４の出力端は出力端子Ｐ４に接続される。

パルス生成回路１９２の入力端子Ｐ１は、タイマ回路１００のタイマＩＣ１１０のＯＵＴＰＵＴ端子（３）に接続される。パルス生成回路１９２のＧＮＤ端子Ｐ２は、ＧＮＤライン１９４に接続される。パルス生成回路１９２の出力端子Ｐ３は、抵抗Ｒ３の一端に接続され、パルス生成回路１９２の出力端子Ｐ４は抵抗Ｒ１の一端に接続される。

抵抗Ｒ３の他端は、トランジスタＱ２のベースと、抵抗Ｒ４の一端とに接続される。抵抗Ｒ４の他端は、トランジスタＱ２のエミッタとＧＮＤライン１９４に接続される。トランジスタＱ２のコレクタは、抵抗Ｒ６の一端と、ダイオードＤ３のアノードとに接続される。抵抗Ｒ６の他端と、ダイオードＤ３のカソードとは電源ライン１９３に接続される。

抵抗Ｒ１の他端は、トランジスタＱ１のベースと、抵抗Ｒ２の一端とに接続される。抵抗Ｒ２の他端は、トランジスタＱ１のエミッタとＧＮＤライン１９４に接続される。トランジスタＱ１のコレクタは、抵抗Ｒ５の一端と、ダイオードＤ２のアノードとに接続される。抵抗Ｒ５の他端と、ダイオードＤ２のカソードとは電源ライン１９３に接続される。

次に、以上説明したドライバ回路１９１によって駆動されるリレースイッチ９１について説明する。

リレースイッチ９１は、ラッチ型リレーから構成される。ラッチ型リレーは、セット用コイルＳ及びリセット用コイルＲ等から構成される。リレースイッチ９１は、短絡又は開放される接続用端子９１ａ，９１ｂに加えて、さらに４つの端子９１ｃ〜９１ｆを備える。

セット用コイルＳは一端が端子９１ｃに接続され、他端が端子９１ｅに接続される。リセット用コイルＲは、一端が端子９１ｄに接続され、他端が端子９１ｆに接続される。セット用コイルＳは、セット信号を生成し、その磁力によって接続用端子９１ａ，９１ｂ間を短絡させる。リセット用コイルＲは、リセット信号を生成し、その磁力によって接続用端子９１ａ，９１ｂ間を開放させる。

リレースイッチ９１の端子９１ｃ，９１ｄは、それぞれ電源ライン１９３に接続される。リレースイッチ９１の端子９１ｅは、ドライバ回路１９１のトランジスタＱ１のコレクタに接続され、リレースイッチ９１の端子９１ｆは、ドライバ回路１９１のトランジスタＱ２のコレクタに接続される。

次に、以上説明した開閉装置８０の動作の一例について説明する。図１４（Ａ）〜（Ｆ）は、図１３のパルス生成回路１９２又は図１２のリレースイッチ９１の各部の対地電位を示し、図１４（Ｇ）はそれに対応するリレースイッチ９１のオンオフ状態を示している。

図１４（Ａ）〜（Ｇ）のタイムチャートは、リセット回路１１１のリセット信号によってリセットされた直後の状態から開始している。以下、図１４（Ａ）〜（Ｇ）との対応関係について説明する。

まず、図１４（Ｂ）のＩＮＶ出力（インバータ回路４０２の出力）は、図１４（Ａ）のＯＵＴＰＵＴ出力の信号が可変抵抗ＶＲ４とコンデンサＣ２によって遅延され、かつインバータ回路４０２によって反転された波形である。

図１４（Ｃ）のＡＮＤ出力（ＡＮＤ回路４０３の出力）は、図１４（Ａ）のＯＵＴＰＵＴ出力と図１４（Ｂ）のＩＮＶ出力との論理積であり、デューティ比が小さいパルス波形である。図１４（Ｄ）のＮＯＲ出力（ＮＯＲ回路４０４の出力）は、図１４（Ａ）のＯＵＴＰＵＴ出力と図１４（Ｂ）のＩＮＶ出力との否定論理和であり、デューティ比が小さいパルス波形である。なお、図１４（Ｃ）と図１４（Ｄ）は、重ならない期間でＨｉｇｈとなっている。

図１４（Ｅ）の端子９１ｆの対地電位は、図１４（Ｃ）のＡＮＤ出力が、トランジスタＱ２によって、振幅調整及び反転された波形となっている。図１４（Ｆ）の端子９１ｅの対地電位は、図１４（Ｄ）のＮＯＲ出力が、トランジスタＱ１によって、振幅調整及び反転された波形となっている。なお、図１２において端子９１ｃ，９１ｄは、バッテリ電圧Ｖ_ＢＡＴＴの対地電位になっている。

したがって、セット用コイルＳには、図１４（Ｅ）の端子９１ｆ出力がＬの期間だけ動作電圧が印加されて電流が流れる。リセット用コイルＲには、図１４（Ｆ）の端子９１ｅ出力がＬの期間だけ動作電圧が印加されて電流が流れる。すなわち、セット用コイルＳとリセット用コイルＲに電流が流れる期間は短い。

図１４（Ｇ）において、リレースイッチ９１は、セット用コイルＳに電流が流れるとＯＦＦからＯＮに切り替わり、リセット用コイルＲに電流が流れるとＯＮからＯＦＦに切り替わる。セット用コイルＳ及びリセット用コイルＲのいずれにも電流が流れていない期間では、リレースイッチ９１の状態は保持される。換言すると、セット用コイルＳ又はリセット用コイルＲに電流が流れるのは、リレースイッチ９１の状態が切り替わる短い期間（瞬間）だけである。

図３（Ｃ）、図９（Ｂ）及び図１０（Ｂ）に示したコイル電流は、リレースイッチがオン状態の期間に常にコイル電流が流れ続けることを示している。この場合、リレースイッチがオン状態の期間が長くなったり短くなったりするバラツキによって種々の問題が生じる。例えば、毎回異なる過渡現象となるために、開閉装置の部品構成によってはリレースイッチがオンとなる短絡時における導通抵抗が変動する虞がある。その結果、計測される抵抗値（数Ω以下）にも影響が出てしまう。また、リレースイッチがオン状態の期間が長いと、コイル電流による電力消費も長時間継続するため、バッテリの消耗が大きくなる。

この点、上述の開閉装置８０によれば、図１４（Ａ）〜（Ｇ）で説明したように、セット用コイルＳ又はリセット用コイルＲに電流が流れる期間は一定かつ短時間であるため、毎回同様な過渡現象となり、安定した導通抵抗を確保することができる。また、リレースイッチがオン状態の期間が長くてもセット用コイルＳ又はリセット用コイルＲに流れる電流による電力消費は短時間しか継続しないため、バッテリの消耗を小さくすることができる。

また、第５変形例の開閉装置８０において、第１変形例のように昇圧回路４２や降圧回路を設けて異なる動作電圧を充足するように電圧を調整することも可能である。第５変形例の開閉装置８０において、タイマ回路１００を第２変形例のようにカウンタ回路１５１及び発振回路１５２に置き換えるとともに、カウンタ回路１５１とパルス生成回路１９２を一体化して構成を簡略化することも可能である。第５変形例の開閉装置８０において、タイマ回路１００を第３変形例のようにプロセッサ１６１及び発振回路１５２に置き換えて構成することも可能である。

（第２実施形態）
第１実施形態においては、開閉装置２０，４０，５０，６０，７０，８０は、計測装置３０とは独立して、ケーブル１０の芯線１１，１２の遠端１１ａ，１２ａを開閉動作している。本発明は、これに限定されず、計測装置３０の指示に応答して、開閉装置２０，４０，５０，６０，７０，８０が、開閉動作を行うようにしてもよい。

以下、図１５を参照して、計測装置２３０の指示に基づいて、開閉動作を行う第２実施形態に係るケーブル特性試験システム２について説明する。なお、上記第１実施形態と共通する構成要素については同一の符号を付する。

図１５に示すように、ケーブル特性試験システム２は、周期的に開閉を行う開閉装置２２０と、ケーブル特性を計測する計測装置２３０と、を備える。計測装置２３０は無線通信部２４０を備える。開閉装置２２０は、リレースイッチ２１と、リレースイッチ２１を周期的にオンオフ制御する制御部２２３と、制御部２２３に電源を供給する電源部２４と、無線通信部２１０と、を備える。開閉装置２２０の無線通信部２１０は、計測装置２３０の無線通信部２４０と無線通信を行い、計測装置２３０から受信した受信信号に基づいて２つの出力信号node1及びnode2を制御部２２３に出力する。

開閉装置２２０の制御部２２３は、発振回路１５２と、リセット回路１１４と、オンオフ制御の周期を決定するプロセッサ１６１と、プロセッサ１６１の開閉信号をリレースイッチ２１に供給してリレースイッチ２１を駆動するドライバ回路１０１と、２つの３ステートバッファ５０１，５０２（3state-buff1及び3state-buff2）と、を備える。

３ステートバッファ５０２は、プロセッサ１６１の出力側端子と、無線通信部２１０のnode2の出力端子と、ドライバ回路１０１の抵抗Ｒ１とに接続されている。３ステートバッファ５０１は、無線通信部２１０のnode1の出力端子と、無線通信部２１０のnode2の出力端子と、３ステートバッファ５０２と、に接続されている。

図１６は、開閉装置２２０の動作の一例を示す図である。図１６に示すように、開閉装置２２０が計測装置２３０から受信した受信信号には、コマンド１（node1及びnode2をハイレベル（H）にする）と、コマンド２（node1をローレベル（L）にし、node2をHにする）と、コマンド３（node1及びnode2をLにする）の３種類の通信コマンドがある。

通常時（node2がLの状態）では、開閉装置２２０は、プロセッサ１６１によって生成した開閉信号Poutを、そのままリレースイッチ２１に供給する。しかし、計測装置２３０からの受信信号によってnode2がHの状態に切り替わると、開閉装置２２０は計測装置２３０からの受信信号から生成される開閉信号（node1の信号）をリレースイッチ２１に供給する。そのため、図１６に示すように、リレースイッチ２１に流れる電流Ｉ_Ｌは、プロセッサ１６１によって生成した開閉信号Pout又はnode1の信号に基づく。

本実施形態によれば、計測装置２３０を操作して開閉装置２２０と無線通信を行うことにより、開閉装置２２０のオンオフ制御をコントロールすることができる。そのため、例えば、計測装置２３０側で開閉装置２２０のオンオフ動作の開始時間を調整したり、変則的な周期・デューティを行ったりすることが可能となる。また、無線通信は、周期・デューティ設定を行う場合のみ使用するようにすれば、常時無線通信を行うよりも電力消費を抑えることができる。なお、開閉装置２２０が計測装置２３０から受信する受信信号は、リレースイッチ２１のオンオフを制御するための情報であればよく、上記コマンド１〜３のような指令信号ではなくパラメータ情報であってもよい。

（第３実施形態）
第１、第２実施形態に係るケーブル特性試験システム１，２は、２本の芯線１１，１２のケーブル１０のケーブル特性を一度に測定することができるのみであるが、より多くの芯線を有するケーブルのケーブル特性を測定することも可能である。以下、複数対の芯線を有するケーブルのケーブル特性を測定することができる第３実施形態に係るケーブル特性試験システムを図１７を参照して説明する。

図１７は、本発明の第３実施形態に係る開閉装置３２０の構成を示す回路図である。以下、開閉装置３２０の構成について説明する。なお、上記第１実施形態と共通する構成要素については同一の符号を付す。

図１７に示すように、開閉装置３２０は、３つのリレースイッチ２１１，２１２，２１３と、リレースイッチ２１１，２１２，２１３を周期的にオンオフ制御する制御部３２３と、制御部３２３に電源を供給する電源部２４と、３つの接続用端子３３１，３３２，３３３と、を備える。制御部３２３は、タイマ回路１００と、リレースイッチ２１１，２１２，２１３をそれぞれ駆動する３つのドライバ回路１７１，１７２，１７３と、タイマ回路１００の出力信号に基づいてドライバ回路１７１，１７２，１７３にそれぞれ異なる出力信号を供給するデコード回路３２４とを備える。

図１８は、開閉装置３２０の動作の一例を示す図である。図１８に示すように、デコード回路３２４は、タイマ回路１００の出力信号であるＯＵＴＰＵＴ出力に基づいて、それぞれ異なるタイミングで３つのリレースイッチ２１１，２１２，２１３に電流が流れるように、ドライバ回路１７１，１７２，１７３に出力信号を供給する。これにより、３つのリレースイッチ２１１，２１２，２１３は１つずつ順次オン状態となり、他のリレースイッチはオフ状態となる。

この場合、例えば、接続用端子３３１，３３２，３３３にそれぞれ３芯ケーブルの３本の芯線の遠端を接続すれば、すべての線間ペアが一つずつ順次短絡し、他の線間ペアは開放状態となる。したがって、開閉装置３２０によれば、３芯ケーブルなどの３本の芯線又は配線を有するケーブルの特性試験に使用することができる。また、例えば、２本の芯線を接続用端子３３１，３３２に接続すれば、リレースイッチ２１１がＯＮ状態のときだけ２本の芯線間が短絡状態となり、その他の状態では開放状態になる。そのため、２芯ケーブルなどの２本の芯線又は配線を有するケーブルの特性試験にも使用することができる。

なお、本実施形態では、３つのリレースイッチ２１１，２１２，２１３をデルタ結線しているため、制御部３２３は３つのリレースイッチ２１１，２１２，２１３を１つずつ順次オン状態となる（すなわち同時に２つのリレースイッチがオン状態になることがない）ように制御する必要があった。しかし、本発明はこれに限らず、例えば、３つのリレースイッチ２１１，２１２，２１３をスター結線して３つのリレースイッチ２１１，２１２，２１３のうち２つをペアにすれば、制御部３２３が各ペア（すなわち２つのリレースイッチずつ）を順次オン状態とするように制御してもよい。すなわち、接続用端子３３１，３３２，３３３に接続されたケーブル内の配線（又は芯線）のすべての線間が、それぞれ短絡・開放されるようにすれば制御部３２３の回路構成及び制御方法は適宜変更可能である。

なお、本発明のケーブル特性試験システムは、上記２芯又は３芯ケーブルだけでなく、さらに４芯以上のケーブルも計測できるように拡張することができる。４芯以上のケーブルも計測可能な開閉装置は、４つ以上のリレースイッチを備える必要があり、接続されたすべての芯線ペア（配線ペア）が、それぞれ異なるタイミングで短絡又は開放させるように構成する必要がある。４芯以上のケーブルも計測可能な開閉装置は、より芯数が少ないケーブルでも計測可能となる。そのため、試験対象となるケーブルの種類が広くなり、汎用性を高くすることができる。これは、上述の開閉装置３２０が３芯ケーブルでも２芯ケーブルでも計測可能となることと同じ理由である。

この発明は上記実施形態に限定されず、種々の変形及び応用が可能である。
例えば、上記実施形態においては、リレースイッチのドライバ回路を２段構成のＮＰＮ型バイポーラトランジスタＱ１とＱ２で構成したが、ドライバ回路の構成は任意である。例えば、３段以上の構成としてもよい。また、ＰＮＰ型バイポーラトランジスタから構成してもよい。さらに、ＦＥＴ（Field Effect Transistor)等の他のスイッチング素子から構成してもよい。カウンタ回路、プロセッサ等の出力する開閉信号でリレーを直接駆動できる場合には、ドライバ回路を設けなくても良い。

また、測定対象の芯線のペアの遠端を短絡・開放するためのスイッチとしてリレーを使用したが、他の素子を使用することも可能である。例えば、接続用端子２１ａと２１ｂに電流路の一端（例えば、コレクタ、ソース）と他端（例えば、エミッタ、ドレイン）が接続されたバイポーラトランジスタやＦＥＴをスイッチとして使用してもよい。

また、上記実施形態では、各種配線を互いに接続するための端子を含む構成になっている。しかし、本発明はこのような構成に限られず、上記実施形態の端子は発明に影響しない範囲内において適宜省略可能である。例えば、パルス生成回路１９２の入力端子Ｐ１、ＧＮＤ端子Ｐ２、出力端子Ｐ３，Ｐ４や、リレースイッチ９１の端子９１ｃ〜９１ｆ等は省略可能である。

１，２，３２０ ケーブル特性試験システム、２０，４０，５０，６０，７０，８０，２２０，３２０ 開閉装置、２１ａ，２１ｂ，９１ａ，９１ｂ 接続用端子、３０，２３０ 計測装置、２１，９１，２１１，２１２，２１３ リレースイッチ、２３，４３，５３，６３，７３，２２３，３２３ 制御部、２４ 電源部、１９２ パルス生成回路

Claims (12)

1. ケーブル特性の測定に使用される開閉装置であって、
   測定対象ケーブル内の複数の配線の一端を接続するための複数の接続用端子と、
   前記接続用端子間を短絡又は開放するスイッチと、
   前記スイッチを周期的にオンオフ制御する制御部と、
   を備える開閉装置。
2. 前記制御部がタイマ回路を備え、
   前記オンオフ制御の周期は前記タイマ回路によって決定される、
   請求項１に記載の開閉装置。
3. 前記制御部は、発振回路及びカウンタ回路を備え、
   前記発振回路は前記カウンタ回路にクロック信号を供給し、
   前記カウンタ回路は、前記クロック信号を分周した開閉信号を生成し、
   前記制御部は、前記カウンタ回路の出力信号に基づいて前記オンオフ制御する、
   請求項１に記載の開閉装置。
4. 前記制御部は、プロセッサを備え、
   前記プロセッサの出力信号の周期はプログラミング可能であり、
   前記制御部は、前記プロセッサの出力信号に基づいて前記オンオフ制御する、
   請求項１に記載の開閉装置。
5. 前記制御部の電源ラインと前記スイッチの入力側の電源ラインの間に電圧制御回路を備え、
   前記電圧制御回路は、前記スイッチの入力側の電源ラインに印加される電圧を制御する、
   請求項１から４のいずれか１項に記載の開閉装置。
6. 前記スイッチは、メカニカルスイッチ又は半導体スイッチから構成される、
   請求項１から５のいずれか１項に記載の開閉装置。
7. 前記スイッチは、ラッチ型リレーから構成される、
   請求項１から５のいずれか１項に記載の開閉装置。
8. 前記制御部は、
   前記ラッチ型リレーを駆動するためのパルス信号を論理演算によって生成するパルス生成回路をさらに備え、前記パルス信号に基づいて前記オンオフ制御する、
   請求項７に記載の開閉装置。
9. 前記スイッチと前記接続用端子とをそれぞれ３つ以上備え、
   前記３つ以上のスイッチは、前記３つ以上の接続用端子の間を、それぞれ異なるタイミングで短絡又は開放させる、
   請求項１から８のいずれか１項に記載の開閉装置。
10. 請求項１から９のいずれか１項に記載の開閉装置と、
    前記測定対象ケーブル内の複数の配線の他端間に接続してケーブル特性を計測する計測装置と、
    を備えるケーブル特性試験システム。
11. 前記開閉装置及び前記計測装置がさらに無線通信部を備え、
    前記計測装置は、前記無線通信部を介して、前記開閉装置の前記スイッチのオンオフを制御するための情報を送信し、
    前記開閉装置は、前記計測装置から送信された前記情報を前記無線通信部を介して受信し、前記制御部は、受信した前記情報に基づいて、前記スイッチのオンオフを制御する、
    請求項１０に記載のケーブル特性試験システム。
12. 評価対象のケーブル内の複数の配線の一端を、開閉装置の複数の接続用端子にそれぞれ接続し、
    前記複数の配線の他端を、計測装置にそれぞれ接続し、
    前記開閉装置によって周期的に前記接続用端子間を短絡又は開放させ、
    前記開閉装置が前記接続用端子間を短絡したときに、前記計測装置により第１の計測を行い、
    前記開閉装置が前記接続用端子間を開放したときに、前記計測装置により第２の計測を行う、
    ケーブル特性試験方法。

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