JP2016085170A - Automatic analyzer - Google Patents
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Abstract
Description
本発明の実施形態は、試料及び試薬を反応容器に分注し、反応容器に分注された試料及
び試薬の混合液を測定する自動分析装置に関する。
Embodiments described herein relate generally to an automatic analyzer that dispenses a sample and a reagent into a reaction container and measures a mixed solution of the sample and the reagent dispensed into the reaction container.
自動分析装置は生化学検査項目や免疫検査項目等を対象とし、被検体から採取された試
料と各検査項目の試薬との混合液の反応によって生ずる色調や濁りの変化を光学的に測定
する。これにより、試料に含まれる各検査項目成分の濃度や酵素の活性等で表される分析
データを生成する。
The automatic analyzer is intended for biochemical test items, immunological test items, and the like, and optically measures changes in color tone and turbidity caused by the reaction of a mixture of a sample collected from a specimen and a reagent for each test item. Thereby, the analysis data represented by the concentration of each test item component contained in the sample, the activity of the enzyme, and the like are generated.
この自動分析装置では、1つの分注プローブを用いて試料容器内の試料を、この試料に
設定された検査項目毎に1つのラインの反応容器に分注するランダムアクセス方式がある
。また、2つの分注プローブを用いて試料容器内の試料を、この試料に設定された2つの
検査項目毎に2つのラインの反応容器に同時に分注することができるセミランダムアクセ
ス方式がある。これらの試料分注プローブは、同一試料の分注終了毎に洗浄が行われる。
In this automatic analyzer, there is a random access method in which a sample in a sample container is dispensed into a reaction container of one line for each inspection item set in the sample using one dispensing probe. In addition, there is a semi-random access method in which a sample in a sample container can be simultaneously dispensed into two lines of reaction containers for each of two inspection items set in the sample using two dispensing probes. These sample dispensing probes are cleaned every time the same sample is dispensed.
しかしながら、セミランダムアクセス方式では処理速度の高速化が可能となるものの、
一方の試料分注プローが試料の分注を行わない場合でも2本の試料分注プローブが試料容
器内の試料と接触するため、次に分注される試料容器内の試料が汚染されやすい問題があ
る。
However, although the semi-random access method can increase the processing speed,
Even if one sample dispensing probe does not dispense the sample, the two sample dispensing probes come into contact with the sample in the sample container, so that the sample in the sample container to be dispensed next is likely to be contaminated. There is.
実施形態は、上記問題点を解決するためになされたもので、処理速度を低下させること
なく試料の汚染を低減することができる自動分析装置を提供することを目的とする。
Embodiments have been made to solve the above-described problems, and an object thereof is to provide an automatic analyzer that can reduce contamination of a sample without reducing the processing speed.
上記目的を達成するために、実施形態の自動分析装置は、試料容器内の試料を吸引して
第1の位置の反応容器に吐出する分注を行う第1の分注プローブと、前記試料容器内の試
料を吸引して第2の位置の反応容器に吐出する分注を行う第2の分注プローブと、前記第
1の分注プローブを前記試料容器と前記第1の位置の反応容器の間で移動可能に支持する
第1の移動機構と、前記第2の分注プローブを前記試料容器と前記第2の位置の反応容器
の間で移動可能に支持する第2の移動機構と、前記第1又は第2の分注プローブの移動距
離が長い何れか一方の分注プローブを移動距離が短い他方の分注プローブよりも高速で前
記試料容器内の試料上方の上停止位置から下降させる分析制御部とを備える。
In order to achieve the above object, an automatic analyzer according to an embodiment includes a first dispensing probe that performs dispensing to suck a sample in a sample container and discharge it to a reaction container at a first position, and the sample container. A second dispensing probe that dispenses the sample in the container and sucks it into the reaction container at the second position; and the first dispensing probe is connected to the sample container and the reaction container at the first position. A second moving mechanism that supports the second dispensing probe so as to be movable between the sample container and the reaction container at the second position; Analysis in which one of the first and second dispensing probes having a long moving distance is lowered from the upper stop position above the sample in the sample container at a higher speed than the other dispensing probe having a short moving distance. And a control unit.
以下、図面を参照して実施形態を説明する。 Hereinafter, embodiments will be described with reference to the drawings.
図1は、実施形態に係る自動分析装置の構成を示したブロック図である。この自動分析
装置100は、各検査項目の標準試料や被検試料等の各試料と各検査項目の分析に用いる
試薬とを分注し、試料及び試薬の混合液を測定して標準データや被検データを生成する分
析部10を備えている。また、分析部10の各種ユニットを駆動する駆動部31と、駆動
部31を制御して分析部10の各種ユニットを作動させる分析制御部32とを備えている
。
FIG. 1 is a block diagram illustrating a configuration of an automatic analyzer according to the embodiment. This automatic analyzer 100 dispenses each sample such as a standard sample or test sample for each test item and a reagent used for analysis of each test item, measures a mixed solution of the sample and the reagent, and compares the standard data and the test sample. An analysis unit 10 for generating inspection data is provided. Moreover, the
また、自動分析装置100は、分析部10で生成された標準データや被検データを処理
して検量データや分析データを生成するデータ処理部40と、データ処理部40で生成さ
れた検量データや分析データを出力する出力部50とを備えている。また、各検査項目の
分析に用いる試料の量、試薬の量等の分析パラメータの入力、各検査項目にAライン又は
Bラインを設定するための入力、被検試料毎にこの被検試料の検査対象となる検査項目を
設定するための入力等を行う操作部60を備えている。また、分析制御部32、データ処
理部40及び出力部50を統括して制御するシステム制御部70を備えている。
Further, the automatic analyzer 100 processes the standard data and test data generated by the analysis unit 10 to generate calibration data and analysis data, and the calibration data generated by the data processing unit 40. And an output unit 50 for outputting analysis data. In addition, input of analysis parameters such as amount of sample used for analysis of each inspection item, amount of reagent, input for setting A line or B line for each inspection item, inspection of this test sample for each test sample An
図2は、分析部10の構成を示した図である。この分析部10は、標準試料、管理用試
料、被検試料などの各試料を収容する試料容器11を備えている。また、標準試料や管理
用試料が収容された試料容器11を回動可能に保持するサンプラ12aと、被検試料等の
試料が収容された試料容器11を保持する試料ラック13とを備えている。また、複数の
試料ラック13を短手方向の矢印L1方向、L1方向に移動した引き込み位置で長手方向
における矢印L2方向及びこのL2方向とは反対方向の矢印L3に移動可能に保持するサ
ンプラ12bを備えている。
FIG. 2 is a diagram illustrating a configuration of the analysis unit 10. The analysis unit 10 includes a
また、各試料に含まれる検査項目の成分と反応する試薬である例えば1試薬系及び2試
薬系の第1試薬を収容する試薬容器13aと、試薬容器13a内の第1試薬と対をなす2
試薬系の第2試薬を収容する試薬容器13bとを備えている。また、試薬容器13aを移
動可能に保持する試薬ラック14aと、試薬容器13bを移動可能に保持する試薬ラック
14bとを備えている。
In addition, a
And a
また、試薬ラック14aに保持された試薬容器13a内の第1試薬を保冷する試薬庫1
5aと、試薬ラック14bに保持された試薬容器13b内の第2試薬を保冷する試薬庫1
5bとを備えている。また、円周上にAライン用とBライン用に交互に配置された複数の
反応容器16と、この反応容器16を回転移動可能に保持する反応ディスク17とを備え
ている。
In addition, the
5a and a
5b. In addition, a plurality of
また、Aラインが設定された検査項目(Aライン検査項目)の分析用として、各サンプ
ラ12a,12bに保持された試料容器11内の各試料を吸引してAライン用の反応容器
16内に吐出する分注を行う第1の試料分注プローブ18aを備えている。また、第1の
試料分注プローブ18aを移動可能に支持する第1の移動機構19aを備えている。
Further, for analysis of the inspection item (A line inspection item) in which the A line is set, each sample in the
また、Bラインが設定された検査項目(Bライン検査項目)の分析用として、各サンプ
ラ12a,12bに保持された試料容器11内の各試料を吸引してBライン用の反応容器
16内に吐出する分注を行う第2の試料分注プローブ18bを備えている。また、第2の
試料分注プローブ18bを移動可能に支持する第2の移動機構19bを備えている。
Further, for analysis of the inspection item (B line inspection item) in which the B line is set, each sample in the
また、試薬ラック14aに保持されたAライン検査項目の試薬容器13a内の第1試薬
を吸引して、第1の試料分注プローブ18aにより試料が分注された反応容器16に吐出
する分注を行う第1試薬分注プローブ20aを備えている。また、試薬ラック14aに保
持されたBライン検査項目の試薬容器13a内の第1試薬を吸引して、第2の試料分注プ
ローブ18bにより試料が分注された反応容器16に吐出する分注を行う第1試薬分注プ
ローブ20bを備えている。
In addition, the first reagent in the
また、第1試薬分注プローブ20a,20bを移動可能に支持する第1試薬分注アーム
21a,21bを備えている。また、反応容器16に分注された試料及び第1試薬の混合
液を撹拌する第1撹拌ユニット22を備えている。また、試薬ラック14bに保持された
Aライン検査項目の試薬容器13b内の第2試薬を吸引して、第1試薬分注プローブ20
aにより第1試薬が分注された反応容器16に吐出する分注を行う第2試薬分注プローブ
23aを備えている。
In addition, first
A second
また、試薬ラック14bに保持されたBライン検査項目の試薬容器13b内の第2試薬
を吸引して、第1試薬分注プローブ20bにより第1試薬が分注された反応容器16に吐
出する分注を行う第2試薬分注プローブ23bを備えている。また、第2試薬分注プロー
ブ23a,23bを移動可能に保持する第2試薬分注アーム24a,24bを備えている
。また、反応容器16に分注された各試料、第1試薬及び第2試薬の混合液を撹拌する第
2撹拌ユニット25を備えている。
In addition, the second reagent in the
また、第1撹拌ユニット22や第2撹拌ユニット25により撹拌が行われた混合液を収
容する反応容器16に光を照射し、反応容器16内の標準試料や被検試料を含む混合液を
透過した光を検出して標準データや被検データを生成する測定部26を備えている。また
、測定を終えた反応容器16内を洗浄する洗浄ノズル27を備えている。そして、洗浄ノ
ズル27により洗浄が行われた反応容器16は、再び測定に使用される。
In addition, the
図1に示した駆動部31は、分析部10の各種ユニットやこのユニットに設けた機構を
駆動するモータを備えている。そして、サンプラ12a、試薬ラック14a及び試薬ラッ
ク14bをそれぞれ回動駆動して、試料容器11及び試薬容器13a,13bを移動する
。また、サンプラ12b上の試料ラック13を移動する。また、反応ディスク17を回転
駆動して反応容器16を移動する。
The
また、駆動部31は、第1及び第2の移動機構19a,19b、第1試薬分注アーム2
1a,21b、第2試薬分注アーム24a,24bをそれぞれ上下及び回動駆動して第1
及び第2の試料分注プローブ18a,18b、第1試薬分注プローブ20a,20b、及
び第2試薬分注プローブ23a,23bを移動する。また、第1及び第2撹拌ユニット2
2,25及び洗浄ノズル27をそれぞれ上下移動する。
The
1a, 21b and second
The second
2 and 25 and the cleaning
データ処理部40は、演算部41及びデータ記憶部42を備えている。そして、演算部
41は、分析部10で生成された各検査項目の標準データから検量データを生成し、分析
部10で生成された被検データをこの検査項目の検量データを用いて分析データを生成す
る。また、データ記憶部42は、演算部41で生成された検量データを検査項目毎に保存
し、演算部41生成された各検査項目の分析データを被検試料毎に保存する。
The data processing unit 40 includes a
出力部50は、データ処理部40で生成された標準データや分析データを印刷出力する
印刷部51及び表示出力する表示部52を備えている。そして、印刷部51は、プリンタ
などを備え、検量データや分析データを予め設定されたフォーマットに従って、プリンタ
用紙などに印刷出力する。また、表示部52は、CRTや液晶パネルなどのモニタを備え
、検査項目毎にこの検査項目の分析パラメータを設定するための画面や、各検査項目にA
ライン又はBラインを設定するための画面、被検試料毎にこの被検試料の検査対象となる
検査項目を設定するための画面等を表示する。
The output unit 50 includes a
A screen for setting a line or a B line, a screen for setting an inspection item to be inspected for the test sample for each test sample, and the like are displayed.
操作部60は、キーボード、マウス、ボタン、タッチキーパネルなどの入力デバイスを
備え、検査項目毎に分析パラメータやA又はBラインを設定するための入力、被検試料毎
に検査項目を設定するための入力等を行う。
The
システム制御部70は、図示しないCPUと記憶回路を備えている。そして、操作部6
0から入力されるコマンド信号、分析パラメータ、検査項目の情報等の入力情報を記憶し
た後、これらの入力情報に基づいて、分析制御部32、データ処理部40及び出力部50
を統括して制御する。
The
After storing input information such as command signals, analysis parameters, and inspection item information input from 0, the
To control.
次に、図2及び図3を参照して、分析部10の第1及び第2の移動機構19a,19b
の構成の詳細を説明する。
Next, referring to FIG. 2 and FIG. 3, the first and second moving
Details of the configuration will be described.
図3は、第1及び第2の移動機構19a,19bの構成の一例を示した側面図である。
第1の移動機構19aは、第1の試料分注プローブ18aを支持する第1のプローブ支
持体191aと、この第1のプローブ支持体191aを上下移動可能に支持する第1の上
下動支持体192aとを備えている。また、この第1の上下動支持体192aを回動可能
に支持する第1の回動軸193aを備えている。そして、第1の回動軸193aの軸中心
19から距離r離れた位置に第1の試料分注プローブ18aが配置されている。
FIG. 3 is a side view showing an example of the configuration of the first and second moving
The
第1のプローブ支持体191aは、第1の上下動支持体192aに配置された駆動部3
1の例えばステッピングモータにより上下駆動される。これにより、第1の試料分注プロ
ーブ18aは下降及び上昇する。また、第1の上下動支持体192aは、駆動部31のモ
ータによる第1の回動軸193aのR1方向及びR2方向への駆動により回動される。こ
れにより、第1の試料分注プローブ18aは、軸中心19を中心とし、距離rを半径とす
る円の円弧の軌道を描いてR1方向及びR2方向に移動する。
The
It is driven up and down by one stepping motor, for example. Thereby, the first
第2の移動機構19bは、第2の試料分注プローブ18bを支持する第2のプローブ支
持体191bと、この第2のプローブ支持体191bを上下移動可能に支持する第2の上
下動支持体192bとを備えている。また、第1の移動機構19aの第1の回動軸193
aに貫設され、第2の上下動支持体192bを回動可能に支持する第1の回動軸193a
と同軸上に配置された第2の回動軸193bを備えている。そして、第2の回動軸193
bの第1の回動軸193aと共通する軸中心19から距離r離れた位置に第2の試料分注
プローブ18bが配置されている。
The
a
And a second
The second
このように、第1の試料分注プローブ18aを第1の移動機構19aに支持させると共
に第2の試料分注プローブ18bを第2の移動機構19bに支持させ、第1及び第2の移
動機構19a,19bをそれぞれ独立して駆動させることにより、第1の試料分注プロー
ブ18a及び第2の試料分注プローブ18bをそれぞれ高速で移動させることができる。
また、第1の移動機構19aの第1の回動軸193aと第2の移動機構19bの第2の回
動軸193bを同軸にすることにより、第1及び第2の移動機構19a,19bを小型化
することができる。
In this way, the first
Further, the first and second moving
第2のプローブ支持体191bは、第2の上下動支持体192bに配置された駆動部3
1のステッピングモータにより上下駆動される。これにより、第2の試料分注プローブ1
8bは下降及び上昇する。また、第2の上下動支持体192bは、駆動部31のモータに
よる第2の回動軸193bのR1方向及びR2方向への駆動により回動される。これによ
り、第2の試料分注プローブ18bは、軸中心19を中心とし、距離rを半径とする円の
円弧の軌道を描いてR1方向及びR2方向に移動する。
The
It is driven up and down by one stepping motor. Thereby, the second
8b descends and rises. The second
このように、第1の試料分注プローブ18aと第2の試料分注プローブ18bを、同一
円周上の円弧の軌道を描いて移動させることができるため、第1及び第2の試料分注プロ
ーブ18a,18bにより分注させる試料を収容する試料容器11を複数の位置に自由度
高く配置することができるため、分析部10の小型化を図ることができる。
Thus, since the first
次に、図2乃至図5を参照して、試料容器11内の試料の分注について説明する。
Next, dispensing of the sample in the
図4は、第1及び第2の試料分注プローブ18a,18b、第1及び第2の移動機構1
9a,19b、サンプラ12aに保持された試料容器11、サンプラ12b上の試料ラッ
ク13に保持された試料容器11、並びに反応ディスク17に保持された反応容器16の
配置を示した平面図である。
FIG. 4 shows the first and second
9A and 19B are plan views showing the arrangement of the
第1及び第2の試料分注プローブ18a,18b並びに第1及び第2の移動機構19a
,19bの周囲に、サンプラ12a、サンプラ12b及び反応ディスク17が配置されて
いる。また、サンプラ12bと反応ディスク17の間に、第1試料分注プローブ18aの
洗浄が行われる第1の洗浄槽28aが配置されている。また、サンプラ12aと反応ディ
スク17の間に、第2の試料分注プローブ18bの洗浄が行われる第2の洗浄槽28bが
配置されている。
First and second
, 19b, a
サンプラ12b上の試料ラック13は、駆動部31によりL1方向に移動された後、引
き込み位置でL2方向に移動される。そして、第1及び第2の試料分注プローブ18a,
18bにより、保持した試料容器11内の試料の吸引が可能となる第1の試料容器位置P
11で停止する。
The
The first sample container position P at which the sample in the held
Stop at 11.
サンプラ12aに保持された試料容器11は、第1及び第2の試料分注プローブ18a
,18bにより試料の吸引が可能となる第2の試料容器位置P31で停止する。また、洗
浄ノズル27で洗浄が行われたA及びBライン用の反応容器16は、分析サイクルタイム
毎に回転移動して移動前とは異なる、第1及び第2の試料分注プローブ18a,18bに
より試料の吐出が可能となる第1及び第2反応容器位置C21,C22で停止する。そし
て、第1及び第2反応容器位置C21,C22に反応容器16が停止している間に、第1
の試料分注プローブ18aにより第1の反応容器位置C21の反応容器16に試料を吐出
させると共に第2の試料分注プローブ18bにより第2の反応容器位置C22の反応容器
16に試料を吐出させることができる。
The
, 18b stops at the second sample container position P31 where the sample can be sucked. In addition, the
The sample is dispensed to the
第1の試料分注プローブ18aは、第2の試料分注プローブ18bとの衝突を回避する
ために第2の試料分注プローブ18bとは異なるタイミングで第1の試料容器位置P11
上方の上停止位置で停止する。また、第1の反応容器位置C21上方の上停止位置で停止
する。また、第1の試料容器位置P11の上停止位置と、第1の反応容器位置C21の上
停止位置の間が、第1の距離D11となる円弧状の第1の軌道T1に沿って、水平方向の
R1方向及びR2方向に移動する。
The first
Stop at the upper stop position. Moreover, it stops at the upper stop position above the first reaction vessel position C21. In addition, the distance between the upper stop position of the first sample container position P11 and the upper stop position of the first reaction container position C21 is horizontal along the arc-shaped first trajectory T1 having the first distance D11. It moves in the direction R1 and R2.
そして、第1の試料分注プローブ18aは、第1の試料容器位置P11の上停止位置か
ら下降して、第1の試料容器位置P11で停止する試料容器11内の試料を吸引してから
前記上停止位置まで上昇する。また、第1の反応容器位置C21の上停止位置から下降し
て、第1の反応容器位置C21の反応容器16内に試料を吐出してから前記上停止位置ま
で上昇する。
Then, the first
第2の試料分注プローブ18bは、第1の試料分注プローブ18aとの衝突を回避する
ために第1の試料分注プローブ18aとは異なるタイミングで第1の試料容器位置P11
の上停止位置で停止する。また、第2の反応容器位置C22上方の上停止位置で停止する
。また、第1の試料容器位置P11の上停止位置と第2の反応容器位置C22の上停止位
置の間が、第1の距離D11よりも長い第2の距離D12となる円弧状の第1の軌道T1
の延長線上にある第2の軌道T2に沿って、第1の試料分注プローブ18aが第1の軌道
T1に沿って移動するときと同じ速度でR1方向及びR2方向に移動する。
The second
Stop at the top stop position. Moreover, it stops at the upper stop position above the second reaction vessel position C22. In addition, the first arc-shaped first distance between the upper stop position of the first sample container position P11 and the upper stop position of the second reaction container position C22 is a second distance D12 that is longer than the first distance D11. Orbit T1
The first
そして、第2の試料分注プローブ18bは、第1の試料容器位置P11の上停止位置か
ら下降して、第1の試料容器位置P11で停止する試料容器11内の試料を吸引してから
前記上停止位置まで上昇する。また、第2の反応容器位置C22の上停止位置から下降し
て、第2の反応容器位置C22の反応容器16内に試料を吐出してから前記上停止位置ま
で上昇する。
Then, the second
図5は、第1及び第2の試料分注プローブ18a,18bが第2の試料容器位置P31
で停止する試料容器11内の試料を分注するときの動作を説明するための図である。
FIG. 5 shows that the first and second
It is a figure for demonstrating the operation | movement when dispensing the sample in the
第2の試料分注プローブ18bは、第1の試料分注プローブ18aとの衝突を回避する
ために第1の試料分注プローブ18aとは異なるタイミングで第2の試料容器位置P31
上方の上停止位置で停止する。また、第2の反応容器位置C22の上停止位置で停止する
。また、第2の試料容器位置P31の上停止位置と、第2の反応容器位置C22の上停止
位置の間が、第3の距離D13となる円弧状の第2の軌道T2に含まれる第3の軌道T3
に沿って、R1方向及びR2方向に移動する。
The second
Stop at the upper stop position. Moreover, it stops at the upper stop position of the second reaction vessel position C22. In addition, the third between the upper stop position of the second sample container position P31 and the upper stop position of the second reaction container position C22 is included in the arc-shaped second trajectory T2 having the third distance D13. Orbit T3
Along the R1 direction and the R2 direction.
そして、第2の試料分注プローブ18bは、第2の試料容器位置P31の上停止位置か
ら下降して、第2の試料容器位置P31で停止する試料容器11内の試料を吸引してから
前記上停止位置まで上昇する。また、第2の反応容器位置C22の上停止位置から下降し
て、第2の反応容器位置C22の反応容器16内に試料を吐出してから前記上停止位置ま
で上昇する。
The second
第1の試料分注プローブ18aは、第2の試料分注プローブ18bとの衝突を回避する
ために第2の試料分注プローブ18bとは異なるタイミングで第2の試料容器位置P31
の上停止位置で停止する。また、第1の反応容器位置C21の上停止位置で停止する。ま
た、第2の試料容器位置P31の上停止位置と、第1の反応容器位置C21の上停止位置
の間が、第3の距離D13よりも長い第4の距離D14となる円弧状の第3の軌道T3の
延長線上にある第4の軌道T4に沿って、第2の試料分注プローブ18bが第3の軌道T
3に沿って移動するときと同じ速度でR1方向及びR2方向に移動する。
The first
Stop at the top stop position. Moreover, it stops at the upper stop position of the first reaction vessel position C21. In addition, the third arc-shaped third distance between the upper stop position of the second sample container position P31 and the upper stop position of the first reaction container position C21 is a fourth distance D14 longer than the third distance D13. The second
3 move in the R1 direction and the R2 direction at the same speed as when moving along 3.
そして、第1の試料分注プローブ18aは、第2の試料容器位置P31の上停止位置か
ら下降して、第2の試料容器位置P31で停止する試料容器11内の試料を吸引してから
前記上停止位置まで上昇する。また、第1の反応容器位置C21の上停止位置から下降し
て、第1の反応容器位置C21の反応容器16内に試料を吐出してから前記上停止位置ま
で上昇する。
The first
分析制御部32は、試料容器11内の試料を反応容器16に分注させる場合、当該試料
と当該反応容器16の間における第1又は第2の試料分注プローブ18a,18bの移動
距離に基づいて、第1又は第2の試料分注プローブ18a,18bの移動距離が長い一方
の分注プローブを移動距離が短い他方の試料分注プローブよりも高速で前記試料容器11
上方の上停止位置から下降させる。
When the sample in the
Lower from the upper stop position.
以下、図1乃至図14を参照して、自動分析装置100の試料の分注における動作につ
いて説明する。
Hereinafter, with reference to FIG. 1 to FIG. 14, an operation in the dispensing of the sample of the automatic analyzer 100 will be described.
先ず、第1の試料容器位置P11で停止する試料容器11内の試料に複数のAライン検
査項目及びAライン検査項目と同数のBライン検査項目が設定されている場合の分注につ
いて説明する。
First, the dispensing when a plurality of A line inspection items and the same number of B line inspection items as the A line inspection items are set in the sample in the
分析制御部32は、Aライン検査項目とBライン検査項目が設定されている場合には移
動距離の短い第1の試料分注プローブ18aに同一試料の1回目の分注を行わせる。そし
て、第1の試料分注プローブ18aによる同一試料の(2n−1)回目(nは正の整数)
の分注と第2の試料分注プローブ18bによる2n回目の分注とを1分析サイクルタイム
の間に行わせる。
When the A line inspection item and the B line inspection item are set, the
And the 2n-th dispensing by the second
第1及び第2の試料分注プローブ18a,18bは、第1の試料容器位置P11上方の
上停止位置において、下端が同じ高さになるように調整されている。
The first and second
図6は、第1の試料容器位置P11で停止した試料容器11内の同一試料の1回目の分
注が行われるときの第1の試料分注プローブ18aの1回目の分注動作を示した図である
。この第1の試料分注プローブ18aは、第1の試料容器位置P11で停止する試料容器
11内の試料と接触することにより、当該試料の液面を検出する第1の液面検出器29a
に電気的に接続されている。
FIG. 6 shows the first dispensing operation of the first
Is electrically connected.
第1の試料分注プローブ18aは、第1の洗浄槽28aから第1の軌道T1に沿ってR
1方向に移動した後、図6(a)に示すように、第1の試料容器位置P11で停止した試
料容器11上方の上停止位置P12で停止する。次いで、図6(b)及び図6(c)に示
すように、上停止位置P12から第1の液面検出器29aにより試料容器11内の試料の
液面が1回目に検出される第1の検出位置P13まで第1の速度V1で下降する。
The first
After moving in one direction, as shown in FIG. 6 (a), it stops at the upper stop position P12 above the
分析制御部32は、第1の試料分注プローブ18aを上停止位置P12から第1の検出
位置P13まで下降させるために駆動部31の第1の移動機構19aを駆動するステッピ
ングモータに供給したパルス数に基づいて、第1の試料分注プローブ18aが下降した上
停止位置P12と第1の検出位置P13の間の距離D21を算出する。
The
第1の試料分注プローブ18aは、図6(d)に示すように、第1の検出位置P13か
ら距離D22下方の1回目の試料の吸引が可能な第1の吸引位置P14で停止した後、試
料容器11内の試料の吸引を行う。
As shown in FIG. 6D, the first
ここで、第1の試料分注プローブ18aを下降させるときの第1の速度V1は、試料容
器11内の試料の液面を検出してから第1の吸引位置P14で停止したときの衝撃による
、第1の試料分注プローブ18aの試料の分注精度を許容範囲内に維持することができる
速度に設定されている。
Here, the first speed V1 when the first
このように、第1の試料分注プローブ18aのみを試料容器11内に進入させて試料の
吸引を行うため、小児検体のように微量な試料を収容可能な開口面積の狭い試料容器11
の場合でも、第1の試料分注プローブ18aを進入させて試料の吸引を行うことができる
。
Thus, since only the first
Even in this case, the sample can be sucked by entering the first
第1の試料分注プローブ18aは試料を吸引した後、上停止位置P12まで上昇する。
次いで、上停止位置P12から第1の軌道T1に沿ってR2方向へ移動し、第1の反応容
器位置C21上方の上停止位置で停止する。そして、前記上停止位置から下降して、第1
の反応容器位置C21の反応容器16内に試料を吐出した後、当該上停止位置まで上昇す
る。その後、第1の軌道T1に沿って第1の洗浄槽28aまで移動する。
The first
Subsequently, it moves in the R2 direction along the first trajectory T1 from the upper stop position P12, and stops at the upper stop position above the first reaction vessel position C21. And it descends from the upper stop position and the first
After the sample is discharged into the
図7は、第1の試料容器位置P11で停止した試料容器11内の同一試料の2回目の分
注が行われるときの第2の試料分注プローブ18bの1回目の分注動作を示した図である
。この第2の試料分注プローブ18bは、第1の試料容器位置P11における試料容器1
1内の試料と接触することにより、当該試料の液面を検出する第2の液面検出器29bに
電気的に接続されている。
FIG. 7 shows the first dispensing operation of the second
By being in contact with the sample in 1, it is electrically connected to a second
第2の試料分注プローブ18bは、第2の洗浄槽28bから第2の軌道T2に沿ってR
2方向に移動する。そして、同一試料の1回目の分注を行うために試料を吸引した第1の
試料分注プローブ18aが上停止位置P12からR2方向へ移動した後、図7(a)に示
すように、上停止位置P12で停止する。次いで、図7(b)に示すように、上停止位置
P12から第1の速度V1よりも高速の第2の速度V2で下降する。
The second
Move in two directions. Then, after the first
このように、第1の試料容器位置P11で停止した試料容器11内の試料の分注を行わ
せるために、移動距離が長い方の第2の試料分注プローブ18bを移動距離が短い方の第
1の試料分注プローブ18aよりも高速で下降させることにより、第1及び第2の試料分
注プローブ18a,18bを異なるタイミングで試料の吸引を行わせることによる試料の
分注時間の延長を防ぐことができる。
Thus, in order to cause the sample in the
分析制御部32は、図8に示すように、同一試料の1回目の液面の検出で算出した距離
D21から距離23を差し引くことにより、試料容器11内の試料と接触する前に第2の
試料分注プローブ18bを第2の速度V2から減速させる第1の減速位置P15となる距
離D24を算出する。
As shown in FIG. 8, the
このように、第1の検出位置P13に基づいて、第1の減速位置P15を求めることに
より、試料容器11内の試料に接触する前に高速で下降している第2の試料分注プローブ
18bを減速させることができる。
Thus, by obtaining the first deceleration position P15 based on the first detection position P13, the second
なお、試料の分注が行われる前に、第1の試料容器位置P11に試料容器11を配置し
、上停止位置P12から第1及び第2の液面検出器29a,29bにより試料容器11内
の試料の液面が検出される検出位置までに第1及び第2の試料分注プローブ18a,18
bを下降させる。そして、第1の試料分注プローブ18aを下降させて算出される上停止
位置P12と検出位置間の第1の検出距離と、第2の試料分注プローブ18bを下降させ
て算出される上停止位置P12と検出位置間の第2の検出距離とが異なる場合、上停止位
置P12における第1及び第2の試料分注プローブ18a,18bの下端の高さが異なる
ものと判断し、第1の検出距離と第2の検出距離の差に基づいて第1の減速位置P15を
補正するように実施してもよい。
Before the sample is dispensed, the
b is lowered. Then, the first detection distance between the upper stop position P12 calculated by lowering the first
第2の試料分注プローブ18bは、図7(c)に示すように、上停止位置P12から距
離D24下方の第1の減速位置P15まで第2の速度V2で下降する。次いで第1の減速
位置P15で減速してから、図7(d)及び図7(e)に示すように、第2の液面検出器
29bにより試料容器11内の試料の液面が2回目に検出される第2の検出位置P16ま
で第1の速度V1以下の速度VLで下降する。そして、図7(f)に示すように、第2の
検出位置P16から距離D22下方の2回目の試料の吸引が可能な第2の吸引位置P17
で停止した後、試料容器11内の試料の吸引を行う。
As shown in FIG. 7C, the second
Then, the sample in the
このように、第2の試料分注プローブ18bのみを試料容器11内に進入させて試料の
吸引を行うため、小児検体のように微量な試料を収容可能な開口面積の狭い試料容器11
の場合でも、第2の試料分注プローブ18bを進入させて試料の吸引を行うことができる
。
In this way, since only the second
Even in this case, the second
ここで、第2の試料分注プローブ18bを下降させるときの第2の速度V2は、この速
度で液面を検出すると、試料容器11内の試料の液面を検出してから第2の吸引位置P1
7で停止したときの衝撃による、第2の試料分注プローブ18bの試料の分注精度の低下
を招くほどの高速に設定されている。
Here, the second speed V2 when the second
7 is set at such a high speed as to cause a drop in the sample dispensing accuracy of the second
このように、高速で下降させている第2の試料分注プローブ18bを第1の減速位置P
15で減速させてから試料容器11内の試料の液面と接触させることにより、第2の吸引
位置P17で停止させたときの衝撃を低減することができる。これにより、停止したとき
の衝撃による第2の試料分注プローブ18bの試料の分注精度の低下を防ぐことができる
。
In this way, the second
By decelerating at 15 and then contacting with the liquid level of the sample in the
分析制御部32は、第2の試料分注プローブ18bを上停止位置P12から第2の検出
位置P16まで下降させるために駆動部31の第2の移動機構19bを駆動するステッピ
ングモータに供給したパルス数に基づいて、第2の試料分注プローブ18bが下降した上
停止位置P12と第2の検出位置P16の間の距離D25を算出する。
The
第2の試料分注プローブ18bは試料を吸引した後、上停止位置P12まで上昇する。
次いで、上停止位置P12から第2の軌道T2に沿ってR1方向へ移動し、第2の反応容
器位置C22の上停止位置で停止する。そして、前記上停止位置から下降して、第1の試
料分注プローブ18aにより同一試料の1回目の分注により試料が吐出された第1の反応
容器位置C21の反応容器16に隣接する第2の反応容器位置C22の反応容器16内に
試料を吐出する。
The second
Subsequently, it moves in the R1 direction along the second trajectory T2 from the upper stop position P12, and stops at the upper stop position of the second reaction vessel position C22. Then, the second sample descends from the upper stop position and is adjacent to the
第2の試料分注プローブ18bは試料を吐出した後、第2の反応容器位置C22の上停
止位置まで上昇する。次いで、前記上停止位置から第2の軌道T2に沿って第2の洗浄槽
28bまで移動する。
After discharging the sample, the second
なお、第1の試料容器位置P11で停止する試料容器11内の試料にBライン検査項目
が設定され、Aライン検査項目が設定されていない場合、第1の試料分注プローブ18a
は、図6(c)に示した上停止位置P12から第1の検出位置P13まで第1の速度V1
で下降する。そして、第1の検出位置P13まで下降した後、第1の吸引位置P14まで
下降することなく上昇して第1の洗浄槽28aまで移動して待機する。一方、第2の試料
分注プローブ18bは、図7に示した分注動作により、同一試料の1回目の分注を行う。
この第1の試料分注プローブ18aによる試料の液面検出動作及び第2の試料分注プロー
ブ18bによる試料の1回目の分注動作を1分析サイクルタイムの間に行う。そして、B
ライン検査項目が複数設定されている場合、第2の試料分注プローブ18bは、分析サイ
クルタイム毎に試料の分注を行う。一方、第1の試料分注プローブ18aは、第2の試料
分注プローブ18bによる同一試料の分注が終了するまでの間、第1の洗浄槽28aで洗
浄が行われる。
When the B line inspection item is set for the sample in the
Is the first speed V1 from the upper stop position P12 to the first detection position P13 shown in FIG.
To descend. Then, after descending to the first detection position P13, it rises without descending to the first suction position P14, moves to the
The liquid level detection operation of the sample by the first
When a plurality of line inspection items are set, the second
このように、第2の試料分注プローブ18bによる同一試料の分注が終了するまでの間
、第1の試料分注プローブ18aを第1の洗浄槽28aで洗浄することができる。これに
より、次に分注を行う試料容器11内の試料の汚染を低減することができる。
In this manner, the first
図9は、第1の試料容器位置P11で停止した試料容器11内の同一試料の3回目の分
注が行われるときの第1の試料分注プローブ18aの2回目の分注動作を示した図である
。
FIG. 9 shows the second dispensing operation of the first
第1の試料分注プローブ18aは、第1の洗浄槽28aから第1の軌道T1に沿ってR
1方向に移動する。そして、同一試料の2回目の分注を行うために試料を吸引した第2の
試料分注プローブ18bが上停止位置P12からR1方向へ移動した後、図9(a)に示
すように、上停止位置P12で停止する。次いで、図9(b)に示すように、上停止位置
P12から第2の速度V2で下降する。
The first
Move in one direction. Then, after the second
分析制御部32は、同一試料の2回目の液面の検出で算出した距離D25から距離23
を差し引いて、第1の試料分注プローブ18aを第2の速度V2から減速させる第2の減
速位置P18となる、上停止位置P12からの距離D26を算出する。
The
Is subtracted to calculate a distance D26 from the upper stop position P12, which is the second deceleration position P18 for decelerating the first
このように、第2の検出位置P16に基づいて、第2の減速位置P18を求めることに
より、試料容器11内の試料に接触する前に第1の試料分注プローブ18aを減速させる
ことができる。
Thus, by obtaining the second deceleration position P18 based on the second detection position P16, the first
第1の試料分注プローブ18aは、図9(c)に示すように、上停止位置P12から距
離D26下方の第2の減速位置P18まで第2の速度V2で下降する。次いで、第2の減
速位置P18で減速してから、図9(d)及び図9(e)に示すように、第1の液面検出
器29aにより試料容器11内の試料の液面が3回目に検出される第3の検出位置P19
まで速度VLで下降する。そして、図9(f)に示すように、第3の検出位置P19から
距離D22下方の3回目の試料の吸引が可能な第3の吸引位置P20で停止した後、試料
容器11内の試料の吸引を行う。
As shown in FIG. 9C, the first
Descends at a speed VL. Then, as shown in FIG. 9 (f), after stopping at the third suction position P20 where the sample can be sucked for the third time below the distance D22 from the third detection position P19, the sample in the
このように、高速で下降させている第1の試料分注プローブ18aを第2の減速位置P
18で減速させてから、試料容器11内の試料の液面と接触させることにより、第3の吸
引位置20で停止させたときの衝撃を低減することができる。これにより、停止したとき
の衝撃による第1の試料分注プローブ18aの試料の分注精度の低下を防ぐことができる
。
In this way, the first
After decelerating at 18, the impact when stopped at the third suction position 20 can be reduced by bringing the sample into contact with the liquid level of the sample in the
なお、同一試料の3回目の分注における移動距離が短い方の第1の試料分注プローブ1
8aを1回目の分注における速度よりも高速で下降させることにより、第3の検出位置P
19まで速度VLよりも更に低速で下降させて、試料の分注精度の向上を図るように実施
してもよい。
The first
By lowering 8a at a speed higher than the speed in the first dispensing, the third detection position P
The sample may be lowered to 19 at a lower speed than the speed VL so as to improve the sample dispensing accuracy.
分析制御部32は、第1の試料分注プローブ18aを上停止位置P12から第3の検出
位置P19まで下降させるために駆動部31の第1の移動機構19aを駆動するステッピ
ングモータに供給したパルス数に基づいて、第1の試料分注プローブ18aが下降した上
停止位置P12と第3の検出位置P19の間の距離D27を算出する。
The
第1の試料分注プローブ18aは試料を吸引した後、上停止位置P12まで上昇する。
次いで、上停止位置P12から第1の軌道T1に沿って第2の反応容器位置C22の上停
止位置まで移動した後に下降して、同一試料の1回目及び2回目の分注が行われた後に回
転移動して第1の反応容器位置C21で停止する反応容器16内に試料を吐出する。試料
を吐出した後、第1の反応容器位置C21の上停止位置まで上昇してから、第1の洗浄槽
28aまで移動する。
The first
Next, after moving from the upper stop position P12 along the first trajectory T1 to the upper stop position of the second reaction container position C22, it descends and after the first and second dispensing of the same sample has been performed The sample is discharged into the
図10は、第1の試料容器位置P11で停止した試料容器11内の同一試料の4回目の
分注が行われるときの第2の試料分注プローブ18bの2回目の分注動作を示した図であ
る。
FIG. 10 shows the second dispensing operation of the second
第2の試料分注プローブ18bは、第2の洗浄槽28bから第2の軌道T2に沿ってR
2方向に移動する。そして、同一試料の3回目の分注を行うために試料を吸引した第1の
試料分注プローブ18aが上停止位置P12からR2方向へ移動した後、図10(a)に
示すように、上停止位置P12で停止する。次いで、図10(b)に示すように、第2の
速度V2で下降する。
The second
Move in two directions. Then, after the first
このように、第1の試料容器位置P11で停止した試料容器11内の試料の分注を行わ
せるために、移動距離が長い方の第2の試料分注プローブ18bを移動距離が短い方の1
回目の分注における第1の試料分注プローブ18aよりも高速で下降させることにより、
第1及び第2の試料分注プローブ18a,18bを異なるタイミングで試料の吸引を行わ
せることによる試料の分注時間の延長を防ぐことができる。
Thus, in order to cause the sample in the
By descending at a higher speed than the first
It is possible to prevent the sample dispensing time from being extended by causing the first and second
分析制御部32は、同一試料の3回目の液面の検出で算出した距離D27から距離23
を差し引いて、第2の試料分注プローブ18bを第2の速度V2から減速させる第3の減
速位置P21となる、上停止位置P12からの距離D28を算出する。
The
Is subtracted to calculate the distance D28 from the upper stop position P12, which is the third deceleration position P21 for decelerating the second
このように、第3の検出位置P19に基づいて、第3の減速位置P21を求めることに
より、試料容器11内の試料に接触する前に第2の試料分注プローブ18bを減速させる
ことができる。
Thus, by obtaining the third deceleration position P21 based on the third detection position P19, the second
第2の試料分注プローブ18bは、図10(c)に示すように、上停止位置P12から
距離D28下方の第3の減速位置P21まで第2の速度V2で下降する。次いで、第3の
減速位置P21で減速してから、図10(d)及び図10(e)に示すように、第2の液
面検出器29bにより試料容器11内の試料の液面が4回目に検出される第4の検出位置
P22まで速度VLで下降する。そして、図10(f)に示すように、第4の検出位置P
22から距離D22下方の第4の吸引位置P23で停止した後、試料容器11内の試料の
吸引を行う。
As shown in FIG. 10C, the second
After stopping at the fourth suction position P23 below the distance D22 from 22, the sample in the
このように、高速で下降させている第2の試料分注プローブ18bを第3の減速位置P
21で減速させてから試料容器11内の試料の液面と接触させることにより、第4の吸引
位置23で停止させたときの衝撃を低減することができる。これにより、停止したときの
衝撃による第2の試料分注プローブ18bの試料の分注精度の低下を防ぐことができる。
In this way, the second
By decelerating at 21 and then contacting with the liquid level of the sample in the
分析制御部32は、第2の試料分注プローブ18bが下降した上停止位置P12から第
4の検出位置P22までの距離D29を算出する。
The
第2の試料分注プローブ18bは試料を吸引した後、上停止位置P12まで上昇する。
次いで、上停止位置P12から第2の反応容器位置C22の上停止位置まで移動した後に
下降して、同一試料の1回目及び2回目の分注が行われた後に回転移動して第2の反応容
器位置C22で停止する反応容器16内に試料を吐出する。試料を吐出した後、第2の反
応容器位置C22の上停止位置まで上昇してから、第2の洗浄槽28bまで移動する。
The second
Subsequently, after moving from the upper stop position P12 to the upper stop position of the second reaction container position C22, the second reaction is performed after the first and second dispensing of the same sample has been performed and the second reaction is performed. The sample is discharged into the
同一試料の4回目の分注が行われた後、同一試料の(2m−1)回目(mは3以上の整
数)の分注が行われる場合、第1の試料分注プローブ18aは第1の洗浄槽28aからR
1方向に移動する。そして、同一試料の2(m−1)回目の分注を行うために試料を吸引
した第2の試料分注プローブ18bが上停止位置P12からR1方向へ移動した後、上停
止位置P12で停止する。次いで、上停止位置P12から第2の速度V2で下降する。
After the fourth dispensing of the same sample is performed, when the (2m-1) th dispensing (m is an integer of 3 or more) of the same sample is performed, the first
Move in one direction. Then, after the second
分析制御部32は、同一試料の2(m−1)回目の液面の検出で算出した上停止位置P
12と第2(m−1)の検出位置間の距離から距離23を差し引いて、第1の試料分注プ
ローブ18aを第2の速度V2から減速させる第(m+1)の減速位置となる、上停止位
置P12からの距離を算出する。
The
Subtracting the distance 23 from the distance between the 12th and the second (m−1) detection positions, the upper is the (m + 1) th deceleration position for decelerating the first
第1の試料分注プローブ18aは、上停止位置P12から算出された距離下方の第(m
+1)の減速位置まで第2の速度V2で下降し、第(m+1)の減速位置で減速してから
、試料容器11内の試料の液面が(2m−1)回目に検出される第(2m−1)の検出位
置まで速度VLで下降する。そして、第(2m−1)の検出位置から距離D22下方の第
(2m−1)の吸引位置で試料容器11内の試料の吸引を行う。
The first
(2) The liquid level of the sample in the
第1の試料分注プローブ18aは上停止位置P12まで上昇して第2の反応容器位置C
22の上停止位置まで移動した後に下降して、同一試料の(2m−3)回目及び2(m−
1)回目の分注が行われた後に回転移動して第1の反応容器位置C21で停止する反応容
器16内に試料を吐出する。そして、試料を吐出してから、第1の反応容器位置C21の
上停止位置まで上昇した後、第1の洗浄槽28aまで移動する。
The first
After moving to the upper stop position of 22 and descending, (2m-3) th and 2 (m-
1) The sample is discharged into the
そして、第1の試料分注プローブ18aは、第1の試料容器位置P11で停止した試料
容器11内の試料の分注を引き続き行う場合、第1の洗浄槽28aから上停止位置P12
まで移動する。また、第1の試料容器位置P11で停止した試料容器11内の試料の分注
を終了する場合、第1の洗浄槽28aで洗浄が行われる。
When the first
Move up. In addition, when the dispensing of the sample in the
同一試料の2m回目の分注において、第2の試料分注プローブ18bは、第2の洗浄槽
28bからR2方向に移動する。そして、同一試料の(2m−1)回目の分注を行うため
に試料を吸引した第1の試料分注プローブ18aが上停止位置P12からR2方向へ移動
した後、上停止位置P12で停止する。次いで上停止位置P12から第2の速度V2で下
降する。
In the second dispensing of the same sample, the second
分析制御部32は、同一試料の(2m−1)回目の液面の検出で算出した上停止位置P
12と第(2m−1)の検出位置間の距離から距離23を差し引いて、第2の試料分注プ
ローブ18bを第2の速度V2から減速させる第(m+2)の減速位置となる距離を算出
する。
The
By subtracting the distance 23 from the distance between the 12th and (2m-1) detection positions, the distance to be the (m + 2) deceleration position for decelerating the second
第2の試料分注プローブ18bは、上停止位置P12から算出された距離下方の第(m
+2)の減速位置まで第2の速度V2で下降し、第(m+2)の減速位置で減速してから
、試料容器11内の試料の液面が2m回目に検出される第2mの検出位置まで速度VLで
下降する。そして、第2mの検出位置から距離D22下方の第2mの吸引位置で試料容器
11内の試料の吸引を行う。
The second
+2) Decrease at the second speed V2 to the deceleration position, decelerate at the (m + 2) deceleration position, and then to the 2m detection position where the liquid level of the sample in the
第2の試料分注プローブ18bは試料を吸引した後、上停止位置P12まで上昇して第
2の反応容器位置C22の上停止位置まで移動する。次いで、前記上停止位置から下降し
て、同一試料の(2m−3)回目及び2(m−1)回目の分注が行われた後に回転移動し
て第2の反応容器位置C22で停止する反応容器16内に試料を吐出する。そして、試料
を吐出してから、第2の反応容器位置C22上方の上停止位置まで上昇した後、第2の洗
浄槽28bまで移動する。
After sucking the sample, the second
そして、第2の試料分注プローブ18bは、第1の試料容器位置P11で停止した試料
容器11内の試料の分注を引き続き行う場合、第2の洗浄槽28bから上停止位置P12
まで移動する。また、第1の試料容器位置P11で停止した試料容器11内の試料の分注
を終了する場合、第2の洗浄槽28bで洗浄が行われる。
When the second
Move up. In addition, when the dispensing of the sample in the
次に、第1の試料容器位置P11で停止する試料容器11内の試料に複数のAライン検
査項目及びBライン検査項目が設定され、Aライン検査項目とBライン検査項目の数が異
なる場合における分注について説明する。
Next, when a plurality of A-line inspection items and B-line inspection items are set for the sample in the
分析制御部32はAライン検査項目又はBライン検査項目の設定された数が少ない一方
の検査項目の設定数がc(cは2以上の整数)であり、数が多い他方の検査項目の設定数
がd(dは3以上の整数)である場合、第1及び第2の試料分注プローブ18a,18b
による同一試料の分注をそれぞれc回に亘って交互に行わせる。その後、他方の検査項目
のラインに対応する第1又は第2の試料分注プローブ18a,18bの一方の試料分注プ
ローブによる(d−c)回の分注を分析サイクルタイム毎に行わせる。
The
The same sample is dispensed c times alternately by c times. Thereafter, (dc) times of dispensing by one sample dispensing probe of the first or second
同一試料の(2c+1)の分注において、一方の試料分注プローブは一方の試料分注プ
ローブの洗浄が行われる第1又は第2の洗浄槽28a,28bの一方の洗浄槽から移動し
、上停止位置P12で停止する。次いで、上停止位置P12から第2の速度V2で下降す
る。
In (2c + 1) dispensing of the same sample, one sample dispensing probe moves from one of the first or
分析制御部32は、同一試料の2c回目の液面の検出で算出した上停止位置P12と第
2cの検出位置間の距離から距離23を差し引いて、一方の試料分注プローブを第2の速
度V2から減速させる第2cの減速位置となる、上停止位置P12からの距離を算出する
。
The
一方の試料分注プローブは、上停止位置P12から算出された距離下方の第2cの減速
位置まで第2の速度V2で下降し、第2cの減速位置で減速してから、試料容器11内の
試料の液面が(2c+1)回目に検出される第(2c+1)の検出位置まで速度VLで下
降する。そして、第(2c+1)の検出位置から距離D22下方の第(2c+1)の吸引
位置で試料容器11内の試料の吸引を行う。
One sample dispensing probe descends at the second speed V2 to the 2c decelerating position below the calculated distance from the upper stop position P12, decelerates at the 2c decelerating position, and then in the
一方の試料分注プローブは上停止位置P12まで上昇して、一方の試料分注プローブに
対応する第1又は第2の反応容器位置C21,C22の一方の反応容器位置上方の上停止
位置まで移動した後に下降して、同一試料の(2c−1)回目及び2c回目の分注が行わ
れた後に回転移動して一方の反応容器位置で停止する反応容器16内に試料を吐出する。
そして、試料を吐出してから、一方の反応容器位置上方の上停止位置まで上昇した後、一
方の洗浄槽まで移動する。
One sample dispensing probe moves up to the upper stop position P12 and moves to the upper stop position above one of the reaction container positions C21 and C22 corresponding to the one sample dispensing probe. After the second sample is dispensed, the sample is discharged into the
And after discharging a sample, after raising to the upper stop position above one reaction container position, it moves to one washing tank.
そして、一方の試料分注プローブは、第1の試料容器位置P11で停止した試料容器1
1内の試料の分注を引き続き行う場合、一方の洗浄槽から上停止位置P12まで移動する
。また、第1の試料容器位置P11で停止した試料容器11内の試料の分注を終了する場
合、一方の洗浄槽で洗浄が行われる。
And one sample dispensing probe is the
When the dispensing of the sample in 1 is continued, the sample moves from one washing tank to the upper stop position P12. When the dispensing of the sample in the
他方の試料分注プローブは、一方の試料分注プローブによる同一試料の分注が終了する
まで他方の洗浄槽で停止して洗浄が行われる。
The other sample dispensing probe is cleaned by stopping in the other washing tank until the dispensing of the same sample by one sample dispensing probe is completed.
このように、一方の試料分注プローブによる同一試料の分注が終了するまでの間、他方
の試料分注プローブを試料容器11内の試料と接触させることなく、他方の洗浄槽で洗浄
することができる。これにより、次に分注を行う試料容器11内の試料の汚染を低減する
ことができる。
In this way, until the dispensing of the same sample by one sample dispensing probe is completed, the other sample dispensing probe is washed in the other washing tank without contacting the sample in the
次に、第2の試料容器位置P31で停止する試料容器11内の試料に複数のAライン検
査項目及びAライン検査項目と同数のBライン検査項目が設定されている場合の分注につ
いて説明する。
Next, dispensing when a plurality of A line inspection items and the same number of B line inspection items as the A line inspection items are set in the sample in the
分析制御部32は、Aライン検査項目とBライン検査項目が設定されている場合には移
動距離の短い第2の試料分注プローブ18bから試料の分注を行わせる。そして、第1の
試料分注プローブ18aによる同一試料の(2n−1)回目(nは正の整数)の分注と第
2の試料分注プローブ18bによる2n回目の分注とを1分析サイクルタイムの間に行わ
せる。
When the A line inspection item and the B line inspection item are set, the
第1及び第2の試料分注プローブ18a,18bは、第2の試料容器位置P31上方の
上停止位置において、下端が同じ高さになるように調整されている。
The first and second
図11は、第2の試料容器位置P31で停止した試料容器11内の同一試料の1回目の
分注が行われるときの第2の試料分注プローブ18bの1回目の分注動作を示した図であ
る。
FIG. 11 shows the first dispensing operation of the second
第2の試料分注プローブ18bは、第2の洗浄槽28bから第3の軌道T3に沿ってR
2方向に移動した後、第2の試料容器位置P31における試料容器11上方の上停止位置
P32で停止する。次いで、上停止位置P32から第2の液面検出器29bにより試料容
器11内の試料の液面が1回目に検出される第1の検出位置P33まで第1の速度V3で
下降する。分析制御部32は、第2の試料分注プローブ18bが下降した上停止位置P3
2と第1の検出位置P33の間の距離D31を算出する。
The second
After moving in two directions, it stops at the upper stop position P32 above the
A distance D31 between 2 and the first detection position P33 is calculated.
第2の試料分注プローブ18bは、第1の検出位置P33から距離D22下方の1回目
の試料の吸引が可能な第1の吸引位置P34で停止した後、試料容器11内の試料の吸引
を行う。
The second
ここで、第2の試料分注プローブ18bを下降させるときの第3の速度V3は、試料容
器11内の試料の液面を検出してから第1の吸引位置P34で停止したときの衝撃による
、第2の試料分注プローブ18bの試料の分注精度の低下を招かない速度に設定されてい
る。
Here, the third speed V3 when lowering the second
第2の試料分注プローブ18bは試料を吸引した後、上停止位置P32まで上昇する。
次いで、上停止位置P32から移動して第2の反応容器位置C22の上停止位置で停止す
る。そして、前記上停止位置から下降して、第2の反応容器位置C22の反応容器16内
に試料を吐出した後、当該上停止位置まで上昇する。その後、第2の洗浄槽28bまで移
動する。
The second
Subsequently, it moves from the upper stop position P32 and stops at the upper stop position of the second reaction vessel position C22. Then, the sample descends from the upper stop position, discharges the sample into the
図12は、第2の試料容器位置P31で停止した試料容器11内の同一試料の2回目の
分注が行われる場合の第1の試料分注プローブ18aの1回目の分注動作を示した図であ
る。
FIG. 12 shows the first dispensing operation of the first
第1の試料分注プローブ18aは、第1の洗浄槽28aから第4の軌道T4に沿ってR
1方向に移動する。そして、同一試料の1回目の分注を行うために試料を吸引した第2の
試料分注プローブ18bが上停止位置P32からR1方向へ移動した後、上停止位置P3
2で停止する。次いで、上停止位置P32から第1の速度V3よりも高速の第2の速度V
4で下降する。
The first
Move in one direction. Then, after the second
Stop at 2. Next, a second speed V that is higher than the first speed V3 from the upper stop position P32.
Move down at 4.
このように、第2の試料容器位置P31で停止した試料容器11内の試料の分注を行わ
せるために、移動距離が長い方の第1の試料分注プローブ18aを移動距離が短い方の第
2の試料分注プローブ18bよりも高速で下降させることにより、第1及び第2の試料分
注プローブ18a,18bを異なるタイミングで試料の吸引を行わせることによる試料の
分注時間の延長を防ぐことができる。
Thus, in order to cause the sample in the
分析制御部32は、同一試料の1回目の液面の検出で算出した距離D31から距離23
を差し引いて、第1の試料分注プローブ18aを第2の速度V4から減速させる第1の減
速位置P35となる、上停止位置P12からの距離D34を算出する。
The
Is subtracted to calculate a distance D34 from the upper stop position P12, which is the first deceleration position P35 for decelerating the first
このように、第1の検出位置P33に基づいて、第1の減速位置P35を求めることに
より、試料容器11内の試料に接触する前に第1の試料分注プローブ18aを減速させる
ことができる。
Thus, by obtaining the first deceleration position P35 based on the first detection position P33, the first
第1の試料分注プローブ18aは、上停止位置P32から距離D34下方の第1の減速
位置P35まで第2の速度V4で下降する。次いで、第1の減速位置P35で減速してか
ら、第1の液面検出器29aにより試料容器11内の試料の液面が2回目に検出される第
2の検出位置P36まで第2の速度V3以下の速度VLで下降する。そして、第2の検出
位置P36から距離D22下方の2回目の試料の吸引が可能な第2の吸引位置P37で停
止した後、試料容器11内の試料の吸引を行う。
The first
ここで、第1の試料分注プローブ18aを下降させるときの第4の速度V4は、この速
度で液面を検出すると、試料容器11内の試料の液面を検出してから第2の吸引位置P3
7で停止したときの衝撃による、第1の試料分注プローブ18aの試料の分注精度の低下
を招くほどの高速に設定されている。
Here, the fourth speed V4 when the first
7 is set at such a high speed as to cause a drop in the dispensing accuracy of the sample of the first
このように、高速で下降させている第1の試料分注プローブ18aを第1の減速位置P
35で減速させてから試料容器11内の試料の液面と接触させることにより、第2の吸引
位置37で停止させたときの衝撃を低減することができる。これにより、停止したときの
衝撃による第1の試料分注プローブ18aの試料の分注精度の低下を防ぐことができる。
In this way, the first
By decelerating at 35 and then contacting with the liquid level of the sample in the
分析制御部32は、第1の試料分注プローブ18aを上停止位置P32から第2の検出
位置P36まで下降させるために駆動部31の第1の移動機構19aを駆動するステッピ
ングモータに供給したパルス数に基づいて、上停止位置P32と第2の検出位置P36間
の距離D35を算出する。
The
第1の試料分注プローブ18aは試料を吸引した後、上停止位置P32まで上昇する。
次いで、上停止位置P32から第4の軌道T4に沿って移動し、第1の反応容器位置C2
1の上停止位置で停止する。そして、前記上停止位置から下降して、第2の試料分注プロ
ーブ18bにより同一試料の1回目の分注により試料が吐出された第2の反応容器位置C
22の反応容器16に隣接する第1の反応容器位置C21の反応容器16内に試料を吐出
する。試料を吐出した後、第1の反応容器位置C21の上停止位置まで上昇してから第1
の洗浄槽28aまで移動する。
The first
Next, the first reaction container position C2 moves from the upper stop position P32 along the fourth trajectory T4.
Stop at the top stop position. Then, the second reaction container position C is lowered from the upper stop position and the second
The sample is discharged into the
It moves to the
図13は、第2の試料容器位置P31で停止した試料容器11内の同一試料の3回目の
分注が行われる場合の第2の試料分注プローブ18bの2回目の分注動作を示した図であ
る。
FIG. 13 shows the second dispensing operation of the second
第2の試料分注プローブ18bは、第2の洗浄槽28bからR2方向へ移動する。そし
て、同一試料の2回目の分注を行うために試料を吸引した第1の試料分注プローブ18a
が上停止位置P32からR2方向へ移動した後、上停止位置P32で停止する。次いで、
上停止位置P32から第2の速度V4で下降する。
The second
Moves in the R2 direction from the upper stop position P32, and then stops at the upper stop position P32. Then
The vehicle descends at the second speed V4 from the upper stop position P32.
分析制御部32は、同一試料の2回目の液面の検出で算出した距離D35から距離23
を差し引いて、第2の試料分注プローブ18bを第2の速度V4から減速させる第2の減
速位置P38となる、上停止位置P32からの距離D36を算出する。
The
Is subtracted to calculate the distance D36 from the upper stop position P32, which is the second deceleration position P38 for decelerating the second
第1の試料分注プローブ18aは、上停止位置P32から距離D36下方の第2の減速
位置P38まで第2の速度V4で下降する。次いで、第2の減速位置P38で減速してか
ら、第2の液面検出器29bにより試料容器11内の試料の液面が3回目に検出される第
3の検出位置P39まで速度VLで下降する。そして、第3の検出位置P39から距離D
22下方の3回目の試料の吸引が可能な第3の吸引位置P40で停止した後、試料容器1
1内の試料の吸引を行う。
The first
22 After stopping at the third suction position P40 where the sample can be sucked for the third time, the
The sample in 1 is aspirated.
このように、高速で下降させている第2の試料分注プローブ18bを第2の減速位置P
38で減速させてから試料容器11内の試料の液面と接触させることにより、第3の吸引
位置40で停止させたときの衝撃を低減することができる。これにより、停止したときの
衝撃による第2の試料分注プローブ18bの試料の分注精度の低下を防ぐことができる。
In this way, the second
By decelerating at 38 and then bringing into contact with the liquid level of the sample in the
分析制御部32は、第2の試料分注プローブ18bを上停止位置P32から第3の検出
位置P39まで下降させるために駆動部31の第2の移動機構19bを駆動するステッピ
ングモータに供給したパルス数に基づいて、上停止位置P32と第3の検出位置P39間
の距離D37を算出する。
The
このように、第2の検出位置P36に基づいて、第2の減速位置P38を求めることに
より、試料容器11内の試料に接触する前に第2の試料分注プローブ18bを減速させる
ことができる。
Thus, by obtaining the second deceleration position P38 based on the second detection position P36, the second
第2の試料分注プローブ18bは試料を吸引した後、上停止位置P32まで上昇する。
次いで、上停止位置P32から第2の反応容器位置C22の上停止位置まで移動した後に
下降して、同一試料の1回目及び2回目の分注が行われた後に回転移動して第2の反応容
器位置C22で停止する反応容器16内に試料を吐出する。
The second
Subsequently, after moving from the upper stop position P32 to the upper stop position of the second reaction vessel position C22, the second reaction is performed after the first and second dispensing of the same sample is performed and the second reaction is performed. The sample is discharged into the
第2の試料分注プローブ18bは試料を吐出してから、第2の反応容器位置C22の上
停止位置まで上昇した後、第2の洗浄槽28bまで移動する。そして、第2の試料容器位
置P31で停止した試料容器11内の試料の分注を引き続き行う場合、第2の洗浄槽28
bから上停止位置P32まで移動する。また、第2の試料容器位置P31で停止した試料
容器11内の試料の分注を終了する場合、第2の洗浄槽28bで洗浄が行われる。
The second
It moves from b to the upper stop position P32. Further, when the dispensing of the sample in the
図14は、第2の試料容器位置P31で停止した試料容器11内の同一試料の4回目の
分注が行われる場合の第1の試料分注プローブ18aの2回目の分注動作を示した図であ
る。
FIG. 14 shows the second dispensing operation of the first
第1の試料分注プローブ18aは、第1の洗浄槽28aからR1方向に移動する。そし
て、同一試料の3回目の分注を行うために試料を吸引した第2の試料分注プローブ18b
が上停止位置P32からR1方向へ移動した後、上停止位置P32で停止してから第2の
速度V4で下降する。
The first
Moves from the upper stop position P32 in the R1 direction, then stops at the upper stop position P32 and then descends at the second speed V4.
このように、第2の試料容器位置P31で停止した試料容器11内の試料の分注を行わ
せるために、移動距離が長い方の第1の試料分注プローブ18aを移動距離が短い方の1
回目の分注における第2の試料分注プローブ18bよりも高速で下降させることにより、
第1及び第2の試料分注プローブ18a,18bを異なるタイミングで試料の吸引を行わ
せることによる試料の分注時間の延長を防ぐことができる。
Thus, in order to cause the sample in the
By lowering at a higher speed than the second
It is possible to prevent the sample dispensing time from being extended by causing the first and second
分析制御部32は、同一試料の3回目の液面の検出で算出した距離D37から距離23
を差し引いて、第1の試料分注プローブ18aを第2の速度V4から減速させる第3の減
速位置P41となる、上停止位置P32からの距離D38を算出する。
The
Is calculated, and a distance D38 from the upper stop position P32, which is a third deceleration position P41 for decelerating the first
このように、第3の検出位置P39に基づいて、第3の減速位置P41を求めることに
より、試料容器11内の試料に接触する前に第1の試料分注プローブ18aを減速させる
ことができる。
Thus, by obtaining the third deceleration position P41 based on the third detection position P39, the first
第1の試料分注プローブ18aは、上停止位置P32から距離D38下方の第3の減速
位置P41まで第2の速度V4で下降する。次いで、第3の減速位置P41で減速してか
ら、第1の液面検出器29aにより試料容器11内の試料の液面が4回目に検出される第
4の検出位置P42まで速度VLで下降する。そして、第4の検出位置P42から距離D
22下方の第4の吸引位置P43で停止した後、試料容器11内の試料の吸引を行う。
The first
After stopping at the fourth suction position P43 below 22, the sample in the
このように、高速で下降させている第1の試料分注プローブ18aを第3の減速位置P
41で減速させてから試料容器11内の試料の液面と接触させることにより、第4の吸引
位置43で停止させたときの衝撃を低減することができる。これにより、停止したときの
衝撃による第1の試料分注プローブ18aの試料の分注精度の低下を防ぐことができる。
In this way, the first
By decelerating at 41 and bringing it into contact with the liquid level of the sample in the
分析制御部32は、第1の試料分注プローブ18aを上停止位置P32から第4の検出
位置P42まで下降させるために駆動部31の第1の移動機構19aを駆動するステッピ
ングモータに供給したパルス数に基づいて、上停止位置P32と第4の検出位置P42間
の距離D39を算出する。
The
第1の試料分注プローブ18aは試料を吸引した後、上停止位置P32まで上昇する。
次いで、上停止位置P32から第1の反応容器位置C21の上停止位置まで移動した後に
下降して、同一試料の1回目及び2回目の分注が行われた後に回転移動して第1の反応容
器位置C21で停止する反応容器16内に試料を吐出する。
The first
Next, after moving from the upper stop position P32 to the upper stop position of the first reaction container position C21, the first reaction is performed after the first and second dispensing of the same sample is performed and the first reaction is performed. The sample is discharged into the
第1の試料分注プローブ18aは試料を吐出した後、第1の反応容器位置C21の上停
止位置まで上昇した後、第1の洗浄槽28aまで移動する。そして、第2の試料容器位置
P31で停止した試料容器11内の試料の分注を引き続き行う場合、第1の洗浄槽28a
から上停止位置P32まで移動する。また、第2の試料容器位置P31で停止した試料容
器11内の試料の分注を終了する場合、第1の洗浄槽28aで洗浄が行われる。
After discharging the sample, the first
To the upper stop position P32. When the dispensing of the sample in the
以上述べた実施形態によれば、第1及び第2の試料分注プローブ18a,18bをそれ
ぞれ独立して移動可能に支持する第1及び第2の移動機構19a,19bを設け、第1又
は第2の試料分注プローブ18a,18bの移動距離が長い一方の試料分注プローブを移
動距離が短い1回目の分注における他方の試料分注プローブよりも高速で下降させること
により、第1及び第2の試料分注プローブ18a,18bを異なるタイミングで試料の吸
引を行わせることによる試料の分注時間の延長を防ぐことができる。
According to the embodiment described above, the first and second moving
そして、高速で下降させている一方の試料分注プローブを減速させてから試料容器11
内の試料の液面と接触させることにより、試料容器11内の試料を吸引可能な位置で停止
させたときの衝撃を低減することができる。これにより、停止したときの衝撃による一方
の試料分注プローブの試料の分注精度の低下を防ぐことができる。
Then, the
By bringing the sample in the
また、第1又は第2の試料分注プローブ18a,18bの一方の試料分注プローブが試
料の分注を行い、他方の試料分注プローブが待機しているとき、一方の試料分注プローブ
が試料の分注を行っている間、他方の試料分注プローブの洗浄を行うことができる。
When one sample dispensing probe of the first or second
以上により、処理速度を低下させることなく試料の汚染を低減することができる。 As described above, contamination of the sample can be reduced without reducing the processing speed.
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したも
のであり、発明の範囲を限定することを意図していない。これら新規な実施形態は、その
他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の
省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や
要旨に含まれると共に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
Although several embodiments of the present invention have been described, these embodiments are presented by way of example and are not intended to limit the scope of the invention. These novel embodiments can be implemented in various other forms, and various omissions, replacements, and changes can be made without departing from the scope of the invention. These embodiments and modifications thereof are included in the scope and gist of the invention, and are included in the invention described in the claims and the equivalents thereof.
D11 第1の距離
D12 第2の距離
D13 第3の距離
D14 第4の距離
P11 第1の試料容器位置
C21 第1の反応容器位置
C22 第2の反応容器位置
P31 第2の試料容器位置
T1 第1の軌道
T2 第2の軌道
T3 第3の軌道
T4 第4の軌道
11 試料容器
16 反応容器
18a 第1の試料分注プローブ
18b 第2の試料分注プローブ
19a 第1の移動機構
19b 第2の移動機構
32 分析制御部
D11 1st distance D12 2nd distance D13 3rd distance D14 4th distance P11 1st sample container position C21 1st reaction container position C22 2nd reaction container position P31 2nd sample container
Claims (9)
ローブと、
前記試料容器内の試料を吸引して第2の位置の反応容器に吐出する分注を行う第2の分注
プローブと、
前記第1の分注プローブを前記試料容器と前記第1の位置の反応容器の間で移動可能に支
持する第1の移動機構と、
前記第2の分注プローブを前記試料容器と前記第2の位置の反応容器の間で移動可能に支
持する第2の移動機構と、
前記第1又は第2の分注プローブの移動距離が長い何れか一方の分注プローブを移動距離
が短い他方の分注プローブよりも高速で前記試料容器内の試料上方の上停止位置から下降
させる分析制御部とを
備える自動分析装置。 A first dispensing probe for performing dispensing to suck the sample in the sample container and discharge it to the reaction container at the first position;
A second dispensing probe for performing dispensing to suck the sample in the sample container and discharge it to the reaction container at the second position;
A first moving mechanism for movably supporting the first dispensing probe between the sample container and the reaction container at the first position;
A second moving mechanism for supporting the second dispensing probe movably between the sample container and the reaction container at the second position;
Either one of the dispensing probes having a long moving distance of the first or second dispensing probe is lowered from the upper stop position above the sample in the sample container at a higher speed than the other dispensing probe having a short moving distance. An automatic analyzer comprising an analysis control unit.
面を検出する液面検出器を有し、
前記分析制御部は、
前記他方の分注プローブを前記上停止位置から前記液面検出器により前記試料の液面が検
出される第1の検出位置まで第1の速度で下降させ、
前記一方の分注プローブを前記上停止位置から、前記他方の分注プローブが下降した前記
上停止位置と前記第1の検出位置の間の距離から所定の距離を差し引いた距離下方の減速
位置まで前記第1の速度よりも高速の第2の速度で下降させることを特徴とする請求項1
に記載の自動分析装置。 A liquid level detector for detecting the liquid level of the sample by contacting the other dispensing probe with the sample in the sample container;
The analysis control unit
Lowering the other dispensing probe from the upper stop position to a first detection position where the liquid level of the sample is detected by the liquid level detector at a first speed;
From the upper stop position of the one dispensing probe to a deceleration position below a distance obtained by subtracting a predetermined distance from the distance between the upper stop position where the other dispensing probe is lowered and the first detection position 2. The vehicle is lowered at a second speed higher than the first speed.
Automatic analyzer described in 1.
面を検出する液面検出器を有し、
前記分析制御部は、
前記試料の1回目の分注では、前記他方の分注プローブを前記上停止位置から前記第1の
検出位置まで前記第1の速度で下降させ、
前記試料の2回目の分注では、前記一方の分注プローブを前記上停止位置から前記減速位
置まで前記第2の速度で下降させ、当該減速位置で減速させてから前記一方の分注プロー
ブとの接触により前記試料の液面が検出される第2の検出位置まで前記第1の速度以下の
速度で下降させることを特徴とする請求項2に記載の自動分析装置。 A liquid level detector that detects the liquid level of the sample by contacting the one dispensing probe with the sample in the sample container;
The analysis control unit
In the first dispensing of the sample, the other dispensing probe is lowered from the upper stop position to the first detection position at the first speed,
In the second dispensing of the sample, the one dispensing probe is lowered from the upper stop position to the deceleration position at the second speed, decelerated at the deceleration position, and then the one dispensing probe and The automatic analyzer according to claim 2, wherein the automatic analyzer is lowered to a second detection position where the liquid level of the sample is detected by the contact at a speed equal to or lower than the first speed.
止位置から、前記一方の分注プローブが下降した前記上停止位置と前記第2の検出位置の
間の距離から所定の距離を差し引いた距離下方の減速位置まで前記第2の速度で下降させ
、当該減速位置で減速させてから前記他方の分注プローブとの接触により前記試料の液面
が検出される第3の検出位置まで前記第1の速度以下の速度で下降させることを特徴とす
る請求項3に記載の自動分析装置。 In the third dispensing of the sample, the analysis control unit moves the other dispensing probe between the upper stop position where the one dispensing probe is lowered from the upper stop position and the second detection position. The liquid level of the sample is detected by contact with the other dispensing probe after being lowered at the second speed to a deceleration position below a distance obtained by subtracting a predetermined distance from the distance between the two, and decelerating at the deceleration position. 4. The automatic analyzer according to claim 3, wherein the automatic analyzer is moved down to a third detection position at a speed equal to or lower than the first speed.
液面検出器を有し、
前記分析制御部は、前記試料の1回目の分注では、前記一方の分注プローブを前記上停止
位置から前記減速位置まで前記第2の速度で下降させ、当該減速位置で減速させてから前
記一方の分注プローブとの接触により前記試料の液面が検出される第2の検出位置まで前
記第1の速度以下の速度で下降させることを特徴とする請求項2に記載の自動分析装置。 A liquid level detector for detecting the liquid level of the sample by contacting the one dispensing probe with the sample;
In the first dispensing of the sample, the analysis control unit lowers the one dispensing probe from the upper stop position to the deceleration position at the second speed, decelerates at the deceleration position, and then The automatic analyzer according to claim 2, wherein the automatic analyzer is lowered at a speed equal to or lower than the first speed to a second detection position where the liquid level of the sample is detected by contact with one of the dispensing probes.
の第1のプローブ支持体を上下移動可能に支持する第1の上下動支持体、及びこの第1の
上下動支持体を回動可能に支持する第1の回動軸を有し、
前記第2の移動機構は、前記第2の分注プローブを支持する第2のプローブ支持体、この
第2のプローブ支持体を上下移動可能に支持する第2の上下動支持体、及びこの第2の上
下動支持体を回動可能に支持する前記第1の回動軸と同軸上に配置された第2の回動軸を
有することを特徴とする請求項1乃至請求項5のいずれかに記載の自動分析装置。 The first moving mechanism includes a first probe support that supports the first dispensing probe, a first vertical movement support that supports the first probe support so as to move up and down, and a first A first rotation shaft that rotatably supports one vertical movement support;
The second moving mechanism includes a second probe support that supports the second dispensing probe, a second vertical movement support that supports the second probe support so as to move up and down, and a second 6. A second rotating shaft arranged coaxially with the first rotating shaft for rotatably supporting two vertical movement supports. Automatic analyzer described in 1.
ローブと前記第2の回動軸の前記第1の回動軸と共通する当該軸中心の間の距離は同じで
あることを特徴とする請求項6に記載の自動分析装置。 The distance between the first dispensing probe and the center of the first rotating shaft, and the first rotating shaft of the second dispensing probe and the second rotating shaft are common. The automatic analyzer according to claim 6, wherein the distance between the axis centers is the same.
ングで前記上停止位置に停止させることを特徴とする請求項1乃至請求7のいずれかに記
載の自動分析装置。 8. The automatic according to claim 1, wherein the analysis control unit stops the first dispensing probe and the second dispensing probe at the upper stop position at different timings. Analysis equipment.
の分注プローブにより前記第1の位置の反応容器に前記試料を吐出させると共に前記第2
の分注プローブにより前記第2の位置の反応容器に前記試料を吐出させることを特徴とす
る請求項1乃至請求項3のいずれかに記載の自動分析装置。 While the reaction vessel is stopped at the first and second positions, the analysis control unit
The sample is discharged into the reaction container at the first position by the dispensing probe, and the second
The automatic analyzer according to any one of claims 1 to 3, wherein the sample is discharged into the reaction container at the second position by the dispensing probe.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2014219531A JP6691732B2 (en) | 2014-10-28 | 2014-10-28 | Automatic analyzer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016085170A true JP2016085170A (en) | 2016-05-19 |
JP6691732B2 JP6691732B2 (en) | 2020-05-13 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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Country Status (1)
Country | Link |
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Cited By (1)
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