JP2011227092A - Automatic analyzing apparatus - Google Patents
Automatic analyzing apparatus Download PDFInfo
- Publication number
- JP2011227092A JP2011227092A JP2011149599A JP2011149599A JP2011227092A JP 2011227092 A JP2011227092 A JP 2011227092A JP 2011149599 A JP2011149599 A JP 2011149599A JP 2011149599 A JP2011149599 A JP 2011149599A JP 2011227092 A JP2011227092 A JP 2011227092A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- dispensing
- sample dispensing
- test sample
- reaction
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Abstract
Description
本発明は、液体中に含まれている成分を分析する自動分析装置及びその分注方法に係り
、特に、ヒトの血液や尿などの体液を分注して体液に含まれる成分を自動的に測定する自
動分析装置に関する。
The present invention relates to an automatic analyzer for analyzing components contained in a liquid and a method for dispensing the same, and in particular, dispenses bodily fluids such as human blood and urine to automatically remove the components contained in the body fluids. The present invention relates to an automatic analyzer for measuring.
自動分析装置は、反応容器に分注した被検試料と分析を行う生化学や免疫などの測定項
目に該当する試薬との混合液の反応によって生ずる色調などの変化を光の透過量を測定す
ることにより、被検試料中の様々な被測定物質の濃度や酵素の活性を測定する。
The automatic analyzer measures the amount of light transmitted through changes in the color tone caused by the reaction of the mixture of the test sample dispensed into the reaction container and the reagent corresponding to the measurement item such as biochemistry or immunity to be analyzed. Thus, the concentration of various substances to be measured in the test sample and the activity of the enzyme are measured.
この自動分析装置では、測定に使用される被検試料及び試薬の量、混合液の反応時間、
光の波長などの分析条件を測定項目毎に予め設定しておき、更に測定開始前に被検試料毎
に測定する測定項目を選択設定することにより、多数の被検試料毎に選択された測定項目
の測定を行うことができる。そして、被検体×測定項目の数に応じて、ランダムアクセス
方式で測定が行われる自動分析装置や、ランダムアクセス方式よりも高速処理が可能なセ
ミランダムアクセス方式の自動分析装置が知られている(例えば、特許文献1参照。)。
In this automatic analyzer, the amount of test sample and reagent used for measurement, the reaction time of the mixture,
Measurement conditions selected for each of a large number of test samples by setting analysis conditions such as the wavelength of light in advance for each measurement item and selecting and setting measurement items for each test sample before starting the measurement. Items can be measured. Then, an automatic analyzer that performs measurement by a random access method according to the number of subjects × measurement items and a semi-random access method automatic analyzer that can perform higher-speed processing than the random access method are known ( For example, see
ランダムアクセス方式では、分析サイクル毎に1つの測定ラインに対応した1つのサン
プル分注プローブを用いて1つの反応容器に被検試料が分注される。そして、測定ライン
に対応した第1の試薬分注プローブや第2の試薬分注プローブを用いて予め選択設定され
た測定項目に該当する第1試薬、又は第1及び第2試薬が、被検試料の分注された反応容
器に分注される。
In the random access method, a test sample is dispensed into one reaction vessel using one sample dispensing probe corresponding to one measurement line for each analysis cycle. Then, the first reagent or the first and second reagents corresponding to the measurement item selected and set in advance using the first reagent dispensing probe and the second reagent dispensing probe corresponding to the measurement line are detected. The sample is dispensed into a reaction vessel into which the sample has been dispensed.
セミランダムアクセスの方式では、複数の測定項目の測定が可能なように設けられた、
複数の測定ラインに対応した測定ラインの数よりも少ないサンプル分注プローブを用いて
複数の測定項目分の被検試料を一度に吸引して、測定ラインに対応した測定ラインと同数
の反応容器に複数回に分けて吐出するようにした複数項目分注方式がある。また、測定ラ
インと同数のサンプル分注プローブを用いて1測定項目分の被検試料を吸引して、測定ラ
インに対応した測定ラインと同数の反応容器に吐出する単項目分注方式がある。
In the semi-random access method, it was provided so that multiple measurement items could be measured.
Samples for multiple measurement items are aspirated at once using a sample dispensing probe that is smaller than the number of measurement lines corresponding to multiple measurement lines, and the same number of reaction vessels as the measurement lines corresponding to the measurement lines are collected. There is a multi-item dispensing method that discharges in multiple times. In addition, there is a single item dispensing method in which a test sample for one measurement item is sucked using the same number of sample dispensing probes as the measurement line and discharged to the same number of reaction containers as the measurement line corresponding to the measurement line.
そして、これら方式では、被検試料が分注された反応容器に、測定ラインに対応した測
定ラインと同数の第1試薬分注プローブや第2試薬分注プローブを用いて予め選択設定さ
れた測定ラインと同数の測定項目に該当する第1試薬、又は第1及び第2試薬が分注され
、測定が終わると反応容器は洗浄及び乾燥され、再び測定に使用される。また、サンプル
分注プローブは、同一被検試料の分注終了後毎に、洗浄が行われ、次の被検試料の分注に
使用される。
And in these methods, the measurement vessel selected and set in advance using the same number of first reagent dispensing probes and second reagent dispensing probes as the number of measurement lines corresponding to the measurement line in the reaction container into which the test sample is dispensed. The first reagent or the first and second reagents corresponding to the same number of measurement items as the line are dispensed, and when the measurement is completed, the reaction container is washed and dried and used again for the measurement. In addition, the sample dispensing probe is washed every time after the dispensing of the same test sample is completed, and is used for dispensing the next test sample.
ところで、自動分析装置では、吸引及び吐出動作を行うサンプル分注ポンプとサンプル
分注プローブ間のチューブ内に封入された水などの圧力伝達媒体を介してサンプル分注プ
ローブから被検試料が吸引及び吐出される。そして、吸引された被検試料は、サンプル分
注プローブ内の圧力伝達媒体の近傍の被検試料の先端部は圧力伝達媒体により希釈されて
しまうので、先端部は測定に使用されない被検試料がダミーとして扱われ、測定に使用さ
れる被検試料の希釈を防いでいる。
By the way, in the automatic analyzer, the test sample is aspirated and discharged from the sample dispensing probe via a pressure transmission medium such as water sealed in a tube between the sample dispensing pump and the sample dispensing probe that performs suction and discharge operations. Discharged. Then, since the tip of the test sample in the vicinity of the pressure transmission medium in the sample dispensing probe is diluted by the pressure transmission medium, the tip is not used for measurement. Treated as a dummy to prevent dilution of the test sample used for measurement.
しかしながら、単項目分注方式のセミランダムアクセス方式では、吸引するために試料
容器の被検試料に複数のサンプル分注プローブが入るので、複数のサンプル分注プローブ
を介して前に分注された被検試料が試料容器に持ち込まれることになり、例えば極低濃度
の免疫項目などが測定される被検試料は影響を受けやすくなる問題がある。また、被検試
料を分注するためのサンプル分注プローブ、サンプル分注ポンプ、及びサンプル分注ポン
プを駆動する機構などのサンプル分注系が、測定ラインと同数だけ必要になるので、装置
が複雑且つ高価になる問題がある。
However, in the semi-random access method of the single item dispensing method, since a plurality of sample dispensing probes enter the test sample in the sample container for aspiration, the samples are dispensed before through the plurality of sample dispensing probes. The test sample is brought into the sample container, and there is a problem that the test sample in which, for example, an extremely low concentration immunity item is measured is easily affected. In addition, the number of sample dispensing systems such as the sample dispensing probe, sample dispensing pump, and mechanism for driving the sample dispensing pump for dispensing the sample to be tested is the same as the number of measurement lines. There is a problem that becomes complicated and expensive.
一方、複数項目分注方式においては、一度に多くの被検試料がサンプル分注プローブ内
に吸引されるので、ダミー部分のみならずダミー近傍の被検試料も希釈されてサンプル分
注精度が低下して測定精度が低下する問題がある。
On the other hand, in the multi-item dispensing method, many test samples are sucked into the sample dispensing probe at a time, so that not only the dummy part but also the test sample near the dummy is diluted and the sample dispensing accuracy decreases. As a result, there is a problem that the measurement accuracy decreases.
本発明は、上記問題点を解決するためになされたもので、被検試料間の影響を低減し、
精度よく被検試料を分注することができる自動分析装置及びその分注方法を提供すること
を目的とする。
The present invention has been made to solve the above problems, and reduces the influence between test samples.
An object of the present invention is to provide an automatic analyzer capable of dispensing a test sample with high accuracy and a dispensing method thereof.
上記目的を達成するために、請求項1に係る本発明の自動分析装置は、 被検試料を当
該被検試料が含まれる試料容器から吸引し、反応容器内に吐出する分注手段と、前記分注
手段により前記被検試料を前記試料容器から第1の試料量分吸引する際に要する第1吸引
時間、前記反応容器内に前記被検試料を前記第1の試料量分吐出する際に要する第1吐出
時間、前記被検試料を前記試料容器から前記第1の試料量より少ない前記第2の試料量分
吸引する際に要する第2吸引時間および前記反応容器内に前記被検試料を前記第2の試料
量分吐出する際に要する第2吐出時間に基づいて、前記第1の試料量分の分注に要する時
間と前記第2の試料量分の分注に要する時間の差分である余剰時間を算出する算出手段と
、前記余剰時間に基づいて、前記分注手段の制御を可変する制御手段と、を備えることを
特徴とする。
In order to achieve the above object, the automatic analyzer of the present invention according to
以下に、本発明による自動分析装置の実施例を、図1乃至図12を参照して説明する。 Hereinafter, an embodiment of an automatic analyzer according to the present invention will be described with reference to FIGS.
図1は、本発明の実施例に係る自動分析装置の構成を示したブロック図である。この自
動分析装置100は、様々な測定項目のキャリブレータや被検試料毎に選択入力された測
定項目を測定する分析部19と、分析部19の測定動作の制御を行う分析制御部30と、
分析部19から出力された分析信号を処理して分析データを生成する分析データ処理部4
0と、分析データ処理部40からの分析データを出力する出力部50と、測定項目毎の分
析条件の設定や被検試料毎の測定項目の選択入力、各種コマンド信号を入力する操作部6
0と、上述したこれらのユニットを統括して制御するシステム制御部70とを備えている
。
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an automatic analyzer according to an embodiment of the present invention. The automatic analyzer 100 includes a calibrator for various measurement items and an analysis unit 19 for measuring measurement items selected and input for each test sample, an analysis control unit 30 for controlling measurement operations of the analysis unit 19,
Analysis
0, an output unit 50 for outputting analysis data from the analysis data processing unit 40, an
0 and a
分析部19は、測定項目毎のキャリブレータ、被検体から採取された被検試料などのサ
ンプルに係る分析ユニットなどを有するサンプル部20と、サンプルの測定項目の成分と
化学反応させるための試薬に係る分析ユニットなどを有する試薬部21と、サンプルと試
薬の混合液の測定に係る分析ユニットなどを有する反応部22とを備えている。そして、
キャリブレータや被検試料の測定により生成されたキャリブレータ信号や分析信号などは
、分析データ処理部40に出力される。
The analysis unit 19 relates to a calibrator for each measurement item, a
A calibrator signal, an analysis signal, and the like generated by measuring the calibrator and the test sample are output to the analysis data processing unit 40.
分析制御部30は、分析部19の分析ユニットなどを駆動する各機構を有する機構部3
1と、機構部31の各機構を制御する制御部32とを備えている。
The analysis control unit 30 is a
1 and a
分析データ処理部40は、分析部19から出力されたキャリブレータ信号や分析信号な
どから各測定項目のキャリブレーションテーブルの作成、各被検試料の各測定項目の分析
データの算出などを行う演算部41と、演算部41で作成されたキャリブレーションテー
ブルや算出された分析データなどが保存される記憶部42とを備えている。
The analysis data processing unit 40 creates a calibration table for each measurement item from the calibrator signal and analysis signal output from the analysis unit 19, calculates analysis data for each measurement item of each test sample, and the like. And a
演算部41は、分析部19から出力された各測定項目のキャリブレータ信号から各測定
項目のキャリブレーショテーブルを作成して出力部50に出力すると共に記憶部42に保
存する。また、分析部19から出力された各被検試料の各測定項目の分析信号に対して、
記憶部42から測定項目のキャリブレーションテーブルを読み出した後、このキャリブレ
ーションテーブルを用いて分析データを算出して出力部50に出力すると共に記憶部42
に保存する。
The calculation unit 41 creates a calibration table for each measurement item from the calibrator signal for each measurement item output from the analysis unit 19, outputs the calibration table to the output unit 50, and saves it in the
After reading the calibration table of the measurement items from the
Save to.
記憶部42は、ハードディスクなどを備え、演算部41から出力されたキャリブレーシ
ョンテーブル、分析データなどが被検試料毎に保存される。
The
出力部50は、分析データ処理部40から出力されたキャリブレーションテーブル、分
析データなどを印刷出力する印刷部51及び表示出力する表示部52を備えている。
The output unit 50 includes a
印刷部51は、プリンタなどを備え、分析データ処理部40から出力されたキャリブレ
ーションテーブル、分析データなどを予め設定されたフォーマットに従って、プリンタ用
紙などに印刷出力する。
The
表示部52は、CRTや液晶パネルなどのモニタを備え、分析データ処理部40から出
力されたキャリブレーションテーブルや分析データ、被検体のID及び氏名などを入力す
る被検体情報入力画面、測定項目毎の分析条件を設定するための分析条件設定画面、被検
試料毎に測定項目を選択設定するための測定項目設定画面などの表示を行う。
The
操作部60は、キーボード、マウス、ボタン、タッチキーパネルなどの入力デバイスを
備え、測定項目毎の分析条件の設定、被検体の被検体IDや被検体名などの被検体情報の
入力、被検試料毎の測定項目の選択入力、各測定項目のキャリブレーションや被検試料測
定などの様々な操作が行われる。
The
システム制御部70は、図示しないCPUと記憶回路を備え、操作部60から供給され
る操作者のコマンド信号、測定項目の分析条件、被検体情報、被検試料毎の測定項目など
の情報を記憶した後、これらの情報に基づいて、分析部19を構成する各分析ユニットな
どを一定サイクルの所定のシーケンスで測定動作させる制御、キャリブレーションテーブ
ルの作成、分析データの算出と出力などシステム全体の制御を行う。
The
次に、分析部19及び分析制御部30の構成の詳細を図2乃至図3を参照して説明する
。
Next, details of the configurations of the analysis unit 19 and the analysis control unit 30 will be described with reference to FIGS.
図2は、分析部19のサンプル部20、試薬部21、及び反応部22の構成を説明する
ための斜視図である。
FIG. 2 is a perspective view for explaining the configuration of the
サンプル部20は、キャリブレータ、精度管理用試料、被検試料などのサンプルを収容
した試料容器17と、キャリブレータ設定位置に設定された試料容器17や精度管理用試
料設定位置に設定された通常の試料容器17を回動可能に保持するサンプラ6aと、被検
試料設定位置に設定された試料容器17や小児などから採取した微量の被検試料を吸引可
能に収容する微量対応の試料容器17bなどを保持するラック17aと、複数のラック1
7aを移動可能に保持するサンプラ6bとを備えている。
The
And a sampler 6b for holding 7a movably.
また、試料容器17からサンプルを吸引して反応部22の複数の測定項目の測定が可能
なように設けられたA,B測定ラインに対応するサンプル吐出位置A,Bの反応容器4A
,4Bに吐出し、同一サンプルの分注終了毎にサンプル分注プローブ洗浄位置で洗浄され
るサンプル分注プローブ16と、このサンプル分注プローブ16をキャリブレータ吸引位
置、精度管理用試料吸引位置、被検試料吸引位置、サンプル吐出位置A,B、及びサンプ
ル分注プローブ洗浄位置の各位置間の回動、及び各位置での上下移動を可能に保持するサ
ンプル分注アーム10とを備えている。
Further, the
, 4B, and a
なお、サンプル分注プローブ16は、被検試料を吸引するために被検試料の液面から例
えば2mm程度の所定の深さまで入って液面を検出するので、試料容器17,17bには
前記所定の深さの分よりも深くなるように被検試料を入れておく必要がある。そして、通
常の試料容器17は、多項目測定が可能な量の被検試料を収容することができるようにな
っている。しかしながら、小児から採取できる被検試料は微量であるので、微量の被検試
料の吸引が可能な試料容器17bでは、前記所定の深さの分よりも深く被検試料を収容で
きるように通常の試料容器17よりも開口部及び収容部の水平断面が細径になっている。
Note that the
図3は、分析部19のサンプル部20と反応部22の構成の一部を上から見た図である
。サンプル分注アーム10は、このサンプル分注アーム10の回動軸を軸として矢印R1
及びR2方向に回動して、サンプル分注プローブ16を図3に破線で示したサンプル分注
プローブ16の移動軌跡に沿って移動する。
FIG. 3 is a view of a part of the configuration of the
And the
このサンプル分注プローブ16の移動軌跡下には、サンプル吐出位置A,Bと、このサ
ンプル吐出位置A,Bの近傍に位置する被検試料吸引位置と、サンプル吐出位置A,Bと
被検試料吸引位置の間に位置するサンプル分注プローブ洗浄位置とがある。そして、サン
プル分注プローブ16がサンプル吐出位置A,Bと被検試料吸引位置間、サンプル吐出位
置A,Bとサンプル分注プローブ洗浄位置間、及びサンプル分注プローブ洗浄位置と被検
試料吸引位置間を短時間で移動できるようになっている。
Below the movement trajectory of the
サンプル分注プローブ16は、被検試料の入った試料容器17などを保持するラック1
7aが矢印L1方向に移動して、被検試料吸引位置に停止する例えば「1」乃至「5」の
試料容器17の被検試料を、サンプル吐出位置A,Bに停止した反応容器4A,4Bに分
注する。そして、試料容器17のサンプル分注終了毎にサンプル分注プローブ洗浄位置で
洗浄される。
The
7a moves in the direction of the arrow L1 and stops at the test sample suction position. For example, the test samples in the
図2の試薬部21は、サンプルに対して選択的に反応する第1試薬が入った試薬ボトル
7a及びこの第1試薬と対の第2試薬が入った試薬ボトル7bと、第1試薬が入った試薬
ボトル7aを収納する試薬ラック1aと、試薬ラック1aを回動可能に保持する試薬庫2
と、第2試薬が入った試薬ボトル7bを収納する試薬ラック1bと、試薬ラック1bを回
動可能に保持する試薬庫3とを備えている。
2 includes a reagent bottle 7a containing a first reagent that selectively reacts with a sample, a reagent bottle 7b containing a second reagent paired with the first reagent, and a first reagent. A reagent rack 1a for storing the reagent bottle 7a and a
And a reagent rack 1b for storing the reagent bottle 7b containing the second reagent, and a
また、試薬部21は、図示しない第1A,第1B試薬吸引位置の試薬ボトル7aから第
1試薬を吸引して、反応部22のA,B測定ラインに対応する図示しない第1A,第1B
試薬吐出位置から吐出し、第1試薬分注終了毎に図示しない第1A,第1B試薬分注プロ
ーブ洗浄位置で洗浄する第1試薬分注プローブ14a,14bと、図示しない第2A,第
2B試薬吸引位置の試薬ボトル7bから第2試薬を吸引して、A,B測定ラインに対応す
る図示しない第2A,第2B試薬吐出位置から吐出し、第2試薬分注終了毎に図示しない
第2A,第2B試薬洗浄位置で洗浄する第2試薬分注プローブ15a,15bとを備えて
いる。
Further, the
First reagent dispensing probes 14a and 14b that are ejected from the reagent ejection position and washed at the first A and 1B reagent dispensing probe washing positions (not shown) each time the first reagent dispensing is completed, and second A and 2B reagents (not shown) The second reagent is aspirated from the reagent bottle 7b at the aspiration position, discharged from the second A and second B reagent discharge positions (not shown) corresponding to the A and B measurement lines, and the second A (not shown) every time the second reagent dispensing ends. Second reagent dispensing probes 15a and 15b for cleaning at the second B reagent cleaning position are provided.
更に、試薬部21は、第1試薬分注プローブ14a,14bを第1A,第1B試薬吸引
位置、第1A,第1B試薬吐出位置、及び第1A,第1B試薬分注プローブ洗浄位置の各
位置間で回動、及び各位置で上下移動を可能に保持する第1試薬分注アーム8a,8bと
、第2試薬分注プローブ15a,15bを第2A,第2B試薬吸引位置、第2A,第2B
試薬吐出位置、及び第2A,第2B試薬分注プローブ洗浄位置の各位置間で回動、及び各
位置で上下移動を可能に保持する第2試薬分注アーム9a,9bを備えている。
Further, the
Second reagent dispensing arms 9a and 9b that hold the reagent discharge position and the second A and second B reagent dispensing probe cleaning positions so as to be rotatable and vertically movable at each position are provided.
反応部22は、サンプル吐出位置A,Bに停止したサンプル分注プローブ16から分注
されたサンプルと、第1A,第1B試薬吐出位置に停止した第1試薬分注プローブ14a
,14bから分注された第1試薬と、第2A,第2B試薬吐出位置に停止した第2試薬分
注プローブ15a,15bから分注された第2試薬とを受入れるA,B測定ラインに対応
する反応容器4A,4Bから構成される反応容器群の反応容器4と、円周上に複数配置さ
れた反応容器4を回転可能に保持する反応ディスク5とを備えている。
The
Corresponding to A and B measurement lines for receiving the first reagent dispensed from 14b and the second reagent dispensed from second reagent dispensing probes 15a and 15b stopped at the 2A and 2B reagent discharge positions The
そして、反応ディスク5は、例えば4.5秒の分析サイクルで反時計回りに回転して停
止し、例えば4分析サイクルで1周と反応容器4A,4B分を加算した角度だけ回転する
。なお、時計回りに回転させるようにしてもよい。また、1周と反応容器4A,4B分を
減算した角度だけ回転させるようにしてもよい。
Then, the
また、反応部22は、A,B測定ラインに対応する図示しない第1A,第1B撹拌位置
に停止した反応容器4内のサンプルと第1試薬の混合液を撹拌し、この混合液の撹拌終了
毎に図示しない第1A,第1B撹拌洗浄位置で洗浄する図示しない第1A,第1B撹拌子
を、第1A,第1B撹拌位置と第1A,第1B撹拌子洗浄位置間を回動、及び各位置での
上下移動を可能に保持する第1撹拌ユニット11aを備えている。
In addition, the
また、A,B測定ラインに対応する図示しない第2A,第2B撹拌位置に停止した反応
容器4内のサンプル、第1試薬、及び第2試薬の混合液を撹拌し、この混合液の撹拌終了
毎に図示しない第2A,第2B撹拌子洗浄位置で洗浄する図示しない第2A,第2B撹拌
子を、第2A,第2B撹拌位置と第2A,第2B撹拌洗浄位置間を回動、及び各位置での
上下移動を可能に保持する第2撹拌ユニット11bとを備えている。
Further, the sample, the first reagent, and the second reagent in the
更に、反応部22は、第1或いは第2撹拌後の混合液の入った反応容器4が測光位置を
通過する時に光を照射して、透過した光から設定波長の吸光度を測定して分析信号を生成
する測光ユニット13と、洗浄及び乾燥位置に停止した反応容器4内の測定を終えた混合
液を吸引すると共に、反応容器4内を洗浄する洗浄ノズル及び乾燥する乾燥ノズルを上下
移動可能に保持する洗浄ユニット12とを備えている。そして、反応容器4は、洗浄ユニ
ット12で洗浄及び乾燥された後、再び測定に使用される。
Further, the
次に、分析制御部30の機構部31の構成を説明する。この機構部31は図示しないが
、分析部19のサンプラ6a、試薬庫2、及び試薬庫3を各回動する機構、ラック17a
を移動する機構、反応ディスク5を回転する機構、サンプル分注アーム10、第1試薬分
注アーム8a,8b、第2試薬分注アーム9a,9b、第1撹拌ユニット11a、及び第
2撹拌ユニット11bを各回動及び上下移動する機構、洗浄ユニット12の上下移動を行
う機構を備えている。
Next, the configuration of the
, Mechanism for rotating the
また、機構部31は、水などの圧力伝達媒体を介してサンプル分注プローブ16内への
サンプルの吸引やサンプル分注プローブ16からのサンプルの吐出を行わせるサンプル分
注ポンプ10aを駆動する機構、第1試薬分注プローブ14a,14bから第1試薬の吸
引及び吐出を行う試薬ポンプを各駆動する機構、第2試薬分注プローブ15a,15bか
ら第2試薬の吸引及び吐出を行う試薬ポンプを各駆動する機構、第1撹拌ユニット11a
の第1A,第1B撹拌子を別々に撹拌駆動する各機構、第2撹拌ユニット11bの第2A
,第2B撹拌子を別々に撹拌駆動する各機構、洗浄ユニット12の洗浄ノズルから洗浄液
の吐出及び吸引を行う洗浄ポンプを駆動する機構、洗浄ユニット12の乾燥ノズルから吸
引を行う乾燥ポンプを駆動する機構等を備えている。
The
1A, 1B of each mechanism for separately driving the stirrer, 2A of the second stirring unit 11b
, Each mechanism for separately stirring the 2B stirrer, a mechanism for driving a cleaning pump for discharging and sucking cleaning liquid from the cleaning nozzle of the
制御部32は、機構部31のサンプラ6a、ラック17a、試薬庫2、試薬庫3、反応
ディスク5、サンプル分注アーム10、第1試薬分注アーム8a,8b、第2試薬分注ア
ーム9a,9b、第1撹拌ユニット11a、第2撹拌ユニット11b、洗浄ユニット12
、サンプル分注ポンプ10a、試薬ポンプ、第1A,第1B撹拌子、第2A,第2B撹拌
子、洗浄ポンプ、乾燥ポンプなどの各機構を制御する制御回路を備えている。そして、分
析サイクル単位で、機構部31の各機構を動作させる。
The
And a control circuit for controlling each mechanism such as the sample dispensing pump 10a, the reagent pump, the 1A and 1B stirrers, the 2A and 2B stirrers, the washing pump, and the drying pump. And each mechanism of the
次に、図1乃至図5を参照して、被検試料を反応容器4に分注するサンプル分注動作の
詳細を説明する。
Next, with reference to FIG. 1 thru | or FIG. 5, the detail of sample dispensing operation | movement which dispenses a test sample to the
図4は、被検試料を反応容器4に分注するサンプル分注工程と、このサンプル分注工程
の後に行われるサンプル分注プローブ洗浄工程とを示したフローチャートである。
FIG. 4 is a flowchart showing a sample dispensing process for dispensing a test sample into the
このサンプル分注工程S50は、分析サイクル毎に実行され、被検試料吸引位置の試料
容器17に収容された被検試料を反応容器4Aに分注するサンプル分注A工程S60と、
前記被検試料を反応容器4Bに分注するサンプル分注B工程S70から構成される。そし
て、サンプル分注A工程S60及びサンプル分注B工程S70は、被検試料を反応容器4
A,4Bに分注するために実行されるサンプル分注プローブ16の試料容器17への移動
、サンプル分注プローブ16を介しての被検試料の吸引、サンプル分注プローブ16の反
応容器4A,4Bへの移動、及びサンプル分注プローブ16を介しての反応容器4A,4
Bへの吐出の動作からなる。
This sample dispensing step S50 is executed for each analysis cycle, and the sample dispensing A step S60 for dispensing the test sample stored in the
It comprises a sample dispensing B step S70 for dispensing the test sample into the reaction vessel 4B. In the sample dispensing A process S60 and the sample dispensing B process S70, the test sample is placed in the
A movement of the
The operation consists of discharging to B.
なお、1分析サイクルの間に、サンプル分注工程S50の他にサンプル分注A工程S6
0、又はサンプル分注B工程S70だけを実行することができる。
In addition, during one analysis cycle, in addition to the sample dispensing step S50, the sample dispensing A step S6
0 or only the sample dispensing B step S70 can be performed.
サンプル分注工程S50は、システム制御部70からの分析制御部30の制御部32へ
の測定の指示に基づいて、制御部32によって制御される反応ディスク5、サンプル分注
アーム10、サンプル分注ポンプ10aなどの各分析ユニットを駆動する機構部31の機
構により実行される。
The sample dispensing step S50 is based on a measurement instruction from the
サンプル分注工程S50のサンプル分注A工程S60は、ステップS61乃至S65か
ら構成される。
The sample dispensing step A60 in the sample dispensing step S50 includes steps S61 to S65.
まずサンプル分注アーム10は、反応ディスク5の回転中に、図3の矢印R1方向に回
動してサンプル分注プローブ洗浄位置から被検試料吸引位置にサンプル分注プローブ16
を移動し、更にサンプル分注プローブ16の先端が試料容器17内の被検試料の液面を検
出するまで下降して停止する(ステップS61)。
First, the
Is further lowered and stopped until the tip of the
サンプル分注ポンプ10aは、サンプル分注アーム10の下降動作後に、サンプル吐出
位置Aに停止する反応容器4Aに被検試料を分注するための吸引動作を行う。この吸引動
作により、被検試料が試料容器17からサンプル分注プローブ16内に吸引される(ステ
ップS62)。
The sample dispensing pump 10a performs a suction operation for dispensing the test sample into the
このように、1つのサンプル分注プローブ16を移動させて被検試料を吸引するので、
2つのサンプル分注プローブでは移動が困難な微量対応の試料容器17b内にも容易に移
動させて、被検試料を吸引することができる。
Thus, since one
It is possible to easily move the sample container 17b, which is difficult to move with the two sample dispensing probes, to suck the test sample.
サンプル分注アーム10は、サンプル分注ポンプ10aの被検試料吸引動作後に上昇し
、次いで図3の矢印R2方向に回動してサンプル分注分注プローブ16をサンプル吐出位
置Aに移動する。そして、反応ディスク5の回転が停止してからサンプル分注プローブ1
6の先端が反応容器4A内の吐出位置に達するまで下降して停止する(ステップS63)
。
The
6 is lowered and stopped until the tip of 6 reaches the discharge position in the
.
サンプル分注ポンプ10aは、サンプル分注アーム10の下降動作後に、サンプル吐出
位置Aに停止している反応容器4Aに被検試料を分注するための吐出動作を行う。この吐
出動作により、被検試料がサンプル分注プローブ16から反応容器4A内に吐出される(
ステップS64)。
The sample dispensing pump 10a performs a discharge operation for dispensing the test sample to the
Step S64).
サンプル分注アーム10は、サンプル分注ポンプ10aの被検試料吐出動作後に上昇し
、次いでR1方向に回動してサンプル分注プローブ16をサンプル分注プローブ洗浄位置
に移動する(ステップS65)。
The
サンプル分注B工程S70は、ステップS71乃至S75から構成される。サンプル分
注アーム10は、R1方向に回動してサンプル分注プローブ洗浄位置から被検試料吸引位
置にサンプル分注プローブ16を移動し、更にサンプル分注プローブ16の先端が試料容
器内17内の被検試料の液面を検出するまで下降して停止する(ステップS71)。
The sample dispensing B process S70 includes steps S71 to S75. The
サンプル分注ポンプ10aは、サンプル分注アーム10の下降動作後に、サンプル吐出
位置Bに停止している反応容器4Bに被検試料を分注するための吸引動作を行う。この吸
引動作により、被検試料が試料容器17からサンプル分注プローブ16内に吸引される(
ステップS72)。
The sample dispensing pump 10a performs a suction operation for dispensing the test sample to the reaction container 4B stopped at the sample discharge position B after the
Step S72).
サンプル分注アーム10は、サンプル分注ポンプ10aの被検試料吸引動作後に上昇し
、次いでR2方向に回動してサンプル分注プローブ16をサンプル吐出位置Bに移動し、
更にサンプル分注プローブ16が反応容器4B内の吐出位置に達するまで下降して停止す
る(ステップS73)。
The
Further, the
サンプル分注ポンプ10aは、サンプル分注アーム10の下降動作後に、反応容器4B
に被検試料を分注するための吐出動作を行う。この吐出動作により、被検試料がサンプル
分注プローブ16から反応容器4B内に吐出される(ステップS74)。
The sample dispensing pump 10a is operated after the
A discharge operation for dispensing the test sample is performed. By this discharge operation, the test sample is discharged from the
サンプル分注アーム10は、サンプル分注ポンプ10aの被検試料吐出動作後に上昇し
、次いでR2方向に回動してサンプル分注プローブ16をサンプル分注プローブ洗浄位置
に移動する(ステップS75)。
The
次に、同一被検試料の最後の測定項目のサンプル分注が終了した次の分析サイクルで、
サンプル分注プローブ16を洗浄するためのサンプル分注プローブ洗浄工程S80が実行
される。
Next, in the next analysis cycle when sample dispensing of the last measurement item of the same test sample is completed,
A sample dispensing probe washing step S80 for washing the
サンプル分注プローブ洗浄工程S80は、ステップS81乃至S83から構成される。
サンプル分注アーム10は、サンプル分注プローブ16の先端部がサンプル分注プローブ
洗浄位置に設けられた洗浄液吐出口に達するまで下降して停止する(ステップS81)。
The sample dispensing probe cleaning step S80 includes steps S81 to S83.
The
サンプル分注ポンプ10aは、サンプル分注アーム10の下降動作後に、サンプル分注
ポンプ10aとサンプル分注プローブ16間の圧力伝達媒体の流路に設けられた切換弁を
介して供給される他の流路からの洗浄液を、サンプル分注プローブ16から吐出させて内
壁洗浄を行う。また、サンプル分注プローブ洗浄位置の洗浄液吐出口からの洗浄液の吐出
によりサンプル分注プローブ16の外壁が洗浄される(ステップS82)。
The sample dispensing pump 10a is supplied via a switching valve provided in the flow path of the pressure transmission medium between the sample dispensing pump 10a and the
サンプル分注アーム10は、サンプル分注プローブ16の洗浄後、上昇して次の被検試
料の分注に備えて待機する(ステップS83)。
After the
図5は、図4に示したサンプル分注工程S50及びサンプル分注プローブ洗浄工程80
の各ステップの動作のタイミングを示したタイミングチャートである。
FIG. 5 shows a sample dispensing step S50 and a sample dispensing probe cleaning step 80 shown in FIG.
It is a timing chart which showed the timing of the operation | movement of each of these steps.
このタイミングチャート80には、矢印T方向に実行されるサンプル分注A工程S60
のステップS61乃至S65、サンプル分注B工程S70のステップS71乃至S75、
及びサンプル分注プローブ洗浄工程80のステップS81乃至S83に対応した反応ディ
スク5、サンプル分注アーム10、及びサンプル分注ポンプ10aの動作開始タイミング
、動作時間、及び動作終了タイミングが表されている。
In the timing chart 80, the sample dispensing A process S60 executed in the arrow T direction is shown.
Steps S61 to S65, steps S71 to S75 of the sample dispensing B step S70,
In addition, the operation start timing, operation time, and operation end timing of the
まず、タイミングチャート80のサンプル分注工程S50に対応する各ステップの動作
のタイミングの詳細を説明する。
First, details of the operation timing of each step corresponding to the sample dispensing step S50 of the timing chart 80 will be described.
タイミングチャート80のサンプル分注工程S50におけるステップS62,S64,
S72,S74の凸部の「吸引」及び「吐出」は、サンプル分注ポンプ10aの吸引及び
吐出動作に対応し、凸部の巾はその動作時間に対応している。この動作時間には、各測定
項目の分析条件に最大サンプル量が設定されたときに、その最大量を吸引及び吐出するの
に要する時間が割り当てられている。従って、「吸引」及び「吐出」の動作開始タイミン
グは分析サイクル毎に不変なので、設定されたサンプル量が最大量よりも少ない場合、サ
ンプル分注アーム10及びサンプル分注ポンプ10aは、図5の破線で示した実際の動作
終了タイミングから割り当てられた動作終了タイミングまでの余剰時間中、同じ状態を維
持している。
Steps S62, S64 in the sample dispensing step S50 of the timing chart 80
The “suction” and “discharge” of the convex portions in S72 and S74 correspond to the suction and discharge operations of the sample dispensing pump 10a, and the width of the convex portion corresponds to the operation time. When the maximum sample amount is set as the analysis condition for each measurement item, the time required for sucking and discharging the maximum amount is assigned to the operation time. Therefore, since the operation start timing of “suction” and “discharge” does not change for each analysis cycle, when the set sample amount is smaller than the maximum amount, the
ステップS61,S63,S65,S71,S73,S75は、サンプル分注アーム1
0の回動、上昇、及び下降の動作によるサンプル分注プローブ16の移動に対応している
。
Steps S61, S63, S65, S71, S73, and S75 are the same as the
This corresponds to the movement of the
ステップS61,S71の凸部の「移動」は、サンプル分注アーム10の回動によるサ
ンプル分注プローブ洗浄位置から被検試料吸引位置への移動、及びサンプル分注アーム1
0の下降による被検試料吸引位置から被検試料の液面検出位置までの移動に対応している
。
The “movement” of the convex portions in steps S61 and S71 is the movement from the sample dispensing probe cleaning position to the test sample suction position by the rotation of the
This corresponds to the movement from the test sample suction position to the liquid level detection position of the test sample by descending 0.
ステップS63の「移動」は、サンプル分注アーム10の上昇による被検試料液面検出
位置から被検試料吸引位置への移動、サンプル分注アーム10の回動による被検試料吸引
位置からサンプル吐出位置Aへの移動、及びサンプル分注アーム10の下降によるサンプ
ル吐出位置Aから反応容器4A内の吐出位置への移動に対応している。
“Movement” in
なお、ステップS63では、サンプル分注プローブ16が回転中の反応ディスク5に衝
突するのを阻止するために、反応ディスク5の停止のタイミングに合わせて、サンプル吐
出位置Aから反応容器4A内の吐出位置にサンプル分注プローブ16を移動させている。
このため、ステップS63のタイミングに合わせてステップS62のタイミングを割り当
てることになり、延いてはステップS61とステップS62には多少の余裕時間が生じて
いる。従って、サンプル分注A工程S60は、サンプル分注B工程S70よりも長い時間
を要している。
In step S63, in order to prevent the
For this reason, the timing of step S62 is assigned in accordance with the timing of step S63, so that there is some margin time in steps S61 and S62. Therefore, the sample dispensing A process S60 requires a longer time than the sample dispensing B process S70.
ステップS65の「移動」は、サンプル分注アーム10の上昇による反応容器4Aの吐
出位置からサンプル吐出位置Aへの移動、及びサンプル分注アーム10の回動によるサン
プル吐出位置Aからサンプル分注プローブ洗浄位置への移動に対応している。
The “movement” in step S65 is a movement from the discharge position of the
ステップS71の「移動」は、サンプル分注アーム10の回動によるサンプル分注プロ
ーブ洗浄位置から被検試料吸引位置への移動、及びサンプル分注アーム10の下降による
被検試料吸引位置から被検試料の液面検出位置への移動に対応している。
The “movement” in step S71 is a movement from the sample dispensing probe cleaning position to the test sample suction position by the rotation of the
ステップS73の「移動」は、サンプル分注アーム10の上昇による被検試料の液面検
出位置から被検試料吸引位置への移動、サンプル分注アーム10の回動による被検試料吸
引位置からサンプル吐出位置Bへの移動、及びサンプル分注アーム10の下降によるサン
プル吐出位置Bから反応容器4B内の吐出位置への移動に対応している。
“Movement” in step S73 is the movement of the test sample from the liquid level detection position to the test sample suction position by raising the
ステップS75の「移動」は、サンプル分注アーム10の上昇による反応容器4Bの吐
出位置からサンプル吐出位置Bへの移動、及びサンプル分注アーム10の回動によるサン
プル吐出位置Bからサンプル分注プローブ洗浄位置への移動に対応している。
The “movement” in step S75 is a movement from the discharge position of the reaction container 4B to the sample discharge position B due to the ascent of the
そして、各ステップにおける各「移動」は、初期に加速して移動し、次いで一定の高速
で移動して、更に減速して一旦停止してから次のステップに移行する。なお、ステップS
65,S75に連続してステップS71,S61が実行される場合、サンプル分注プロー
ブ16は、ステップS65,S75の初期に加速され、ステップS71,S61の被検試
料吸引位置近傍で減速されるまで、一定の高速で移動する。
Each “movement” in each step is accelerated and moved in the initial stage, then moved at a constant high speed, further decelerated and temporarily stopped, and then proceeds to the next step. Step S
When steps S71 and S61 are executed in succession to 65 and S75, the
次に、サンプル分注プローブ洗浄工程80におけるステップS81の凸部の「移動」は
、サンプル分注アーム10の下降によるサンプル分注プローブ16のサンプル分注プロー
ブ洗浄位置からサンプル分注プローブ洗浄位置の洗浄液吐出口への移動に対応している。
Next, the “movement” of the convex portion of step S81 in the sample dispensing probe cleaning process 80 is performed from the sample dispensing probe cleaning position of the
ステップS82の凸部の「洗浄」は、サンプル分注ポンプ10aなどによるサンプル分
注プローブ16の被検試料に接する内外壁の洗浄に対応している。
The “cleaning” of the convex portion in step S82 corresponds to the cleaning of the inner and outer walls of the
ステップS83の凸部の「移動」は、サンプル分注アーム10の上昇によるサンプル分
注プローブ16のサンプル分注プローブ洗浄位置の洗浄液吐出口からサンプル分注プロー
ブ洗浄位置への移動に対応している。
The “movement” of the convex portion in step S83 corresponds to the movement of the
そして、各ステップの「移動」の凸部の巾は移動時間に対応し、「洗浄」の凸部の巾は
洗浄時間に対応している。
The width of the “moving” convex portion of each step corresponds to the moving time, and the width of the “cleaning” convex portion corresponds to the cleaning time.
次に、タイミングチャート80のサンプル分注工程S50の各ステップの動作のタイミ
ングと反応ディスク5の動作のタイミングの関係を説明する。
Next, the relationship between the operation timing of each step of the sample dispensing process S50 of the timing chart 80 and the operation timing of the
反応ディスク5は、測定開始から終了までの間、分析サイクル毎に回転及び停止する。
そして、分析サイクル毎の回転中に、ステップS61,62、及びステップS63の「移
動」の途中までが実行される。次いで、反応ディスク5の分析サイクル毎の停止中に、ス
テップS63における少なくともサンプル吐出位置Aから反応容器4A内の吐出位置への
「移動」、及びステップS64,S65,S71,S72,S73,S74,S75が実
行される。
The
Then, during the rotation for each analysis cycle, steps S61 and 62 and the middle of “movement” in step S63 are executed. Next, during the stop of each analysis cycle of the
そして、同一の被検試料の分注動作が終了した次の分析サイクルの反応ディスク5回転
中に、ステップS81,S82,S83が実行される。
Then, steps S81, S82, and S83 are executed during the rotation of the
なお、被検試料に他の被検試料からの影響を受けやすい例えば極低濃度の免疫項目が含
まれる場合、その測定項目を予め影響を受けやすい項目として設定しておくことにより、
影響を受けやすい項目が含まれる被検試料の前の被検試料の分注後の分析サイクル内で、
サンプル分注プローブ16がステップS82の通常の洗浄時間よりも長い時間をかけて洗
浄される。
In addition, if the test sample includes immunity items of extremely low concentration that are easily affected by other test samples, for example, by setting the measurement item as an easily affected item in advance,
Within the analysis cycle after dispensing the test sample before the test sample containing sensitive items,
The
このように、分析サイクル毎に回転して停止する反応ディスク5の回転中に反応容器4
Aに分注するための被検試料を吸引し、反応ディスク5の停止中に被検試料を反応容器4
Aに吐出し、更にサンプル分注プローブ16を被検試料吸引位置とサンプル吐出位置B間
を高速移動させて試料容器から被検試料を吸引して反応容器4Bに吐出させることにより
、サンプル分注プローブ16、サンプル分注アーム10、サンプル分注ポンプ10aなど
の1つのサンプル分注系だけで、分析サイクル毎に反応容器4A,4Bに被検試料を分注
することができる。
In this way, the
A test sample to be dispensed into A is aspirated, and the test sample is placed in the
The
次に、図1乃至図8を参照して、自動分析装置100の動作を説明する。図6は、自動
分析装置100の動作の一例を示したフローチャートである。
Next, the operation of the automatic analyzer 100 will be described with reference to FIGS. FIG. 6 is a flowchart showing an example of the operation of the automatic analyzer 100.
操作部60からのキャリブレーション操作により、分析データ処理部40の記憶部42
には予め各測定項目のキャリブレーションテーブルが保存されている。また、操作部60
からの測定項目選択入力により、システム制御部70の内部記憶回路には、被検試料毎に
選択入力された測定項目が保存されている。
A
Stores a calibration table for each measurement item in advance. Further, the
The measurement item selected and input for each test sample is stored in the internal storage circuit of the
図7は、表示部52に表示される選択入力された測定項目設定画面の一例を示した図で
ある。この測定項目設定画面53は、被検体情報入力画面で入力された被検体のIDを表
示する「ID」の欄と、項目名を略称で表示する「項目」の欄と、「ID」の欄に表示さ
れた被検体のID毎に「項目」の欄に表示された項目名の測定項目を設定するための測定
項目設定エリア53aから構成される。
FIG. 7 is a diagram illustrating an example of a measurement item setting screen that is selectively input and displayed on the
「ID」の欄には、予め入力された例えば「1」乃至「3」の被検体のIDが表示され
ている。また、「項目」の欄には、例えば予め測定ラインAの分析条件の設定により反応
容器4Aで測定されることになる「GOT」及び「Ca」や、測定ラインBの分析条件の
設定により反応容器4Bで測定されることになる「GPT」及び「TP」などの項目名が
表示されている。
In the “ID” column, for example, IDs of subjects “1” to “3” input in advance are displayed. In the “item” column, for example, “GOT” and “Ca” to be measured in the
測定項目設定エリア53aには、「ID」の欄の各被検体のIDに対応した「項目」の
欄の項目名が設定された場合には「○」が表示され、設定されない場合には「・」が表示
される。そして、操作部60から例えば「ID」の欄に表示された「1」に対して、「G
OT」、「GPT」、「Ca」、及び「TP」が設定されると、測定項目設定エリア53
aに1乃至4テストの「○」が表示される。
In the measurement item setting area 53a, “◯” is displayed when the item name in the “item” column corresponding to the ID of each subject in the “ID” column is set, and “0” is displayed when the item name is not set.・ ”Is displayed. Then, for example, “G” displayed in the “ID” column from the
When “OT”, “GPT”, “Ca”, and “TP” are set, the measurement item setting area 53
“a” of 1 to 4 tests is displayed in a.
また、「ID」の欄に表示された「2」に対して「TP」が設定されると、測定項目設
定エリア53aに5テストの「○」が表示され、「ID」の欄に表示された「3」に対し
て「Ca」が設定されると、測定項目設定エリア53aに6テストの「○」が表示される
。
When “TP” is set for “2” displayed in the “ID” column, “○” of 5 tests is displayed in the measurement item setting area 53a and displayed in the “ID” column. When “Ca” is set for “3”, “◯” for 6 tests is displayed in the measurement item setting area 53a.
そして、測定項目設定画面53から設定入力された測定項目設定情報は、システム制御
部70の内部記憶回路に保存される。
The measurement item setting information set and input from the measurement item setting screen 53 is stored in the internal storage circuit of the
なお、被検試料の測定は、測定項目設定画面53から選択入力された測定項目の情報に
基づいて行われる。「ID」の最上段の「1」に対応した被検試料から順に、各被検体の
IDの左の設定された測定項目(測定項目)から順に測定されることになる。
The measurement of the test sample is performed based on the measurement item information selected and input from the measurement item setting screen 53. The measurement is performed in order from the measurement item (measurement item) set to the left of the ID of each subject in order from the test sample corresponding to “1” in the top row of “ID”.
まず、操作部60からの測定開始操作により、自動分析装置100は、動作を開始する
(図6のステップS1)。
First, by the measurement start operation from the
システム制御部70は、分析制御部30、分析データ処理部40、及び出力部50に指
示して、内部記憶回路に保存されている被検試料毎の測定項目の測定を指示する。分析制
御部30の制御部32は、分析部19の各分析ユニットを一旦ホームポジションに移動さ
せてから測定動作を開始させる(図6のステップS2)。
The
分析部19は、各分析ユニットが測定動作を開始してから図8に示す1分析サイクルの
時に、測定項目設定画面53で選択入力された被検体ID「1」の「GOT」を測定する
ための被検試料を分注するサンプル分注A工程S60と、「GPT」を測定するためのサ
ンプル分注B工程S70とを実行する(図6のステップS3)。
The analysis unit 19 measures “GOT” of the subject ID “1” selected and input on the measurement item setting screen 53 during one analysis cycle shown in FIG. 8 after each analysis unit starts the measurement operation. A sample dispensing A step S60 for dispensing the test sample and a sample dispensing B step S70 for measuring “GPT” are executed (step S3 in FIG. 6).
被検体ID「1」の「GOT」の被検試料を分注するためのサンプル分注A工程S60
では、サンプル分注アーム10は、反応ディスク5の回転中に、R1方向に回動してサン
プル分注プローブ16をサンプル分注プローブ洗浄位置から被検試料吸引位置に移動する
。そして、被検試料吸引位置に停止した例えば図3のラック17aの位置「1」の試料容
器17に収容された被検体ID「1」の被検試料の液面検出位置まで下降して停止する。
Sample Dispensing A Process S60 for dispensing the test sample of “GOT” with the subject ID “1”
Then, the
サンプル分注ポンプ10aは、サンプル分注プローブ16内に「GOT」(図7の1テ
スト)の被検試料を吸引する動作を行う。
The sample dispensing pump 10 a performs an operation of sucking a test sample “GOT” (one test in FIG. 7) into the
なお、被検試料は、サンプル分注ポンプ10aとサンプル分注プローブ16間の流路に
封入された水などの圧力伝達媒体を介してサンプル分注プローブ16から吸引及び吐出さ
れる。サンプル分注プローブ16内に吸引された1測定項目の設定サンプル量の被検試料
と圧力伝達媒体の間には、測定に使用されない被検試料によるダミー層が設けられている
。このダミー層が圧力伝達媒体による測定項目の被検試料の希釈を防いでいる。
The test sample is sucked and discharged from the
そして、被検試料毎の最初の測定項目の被検試料吸引時に、先ずダミー用の被検試料が
吸引され続いてその測定項目の設定サンプル量の被検試料が吸引されて、被検試料吐出時
にダミー用の被検試料はサンプル分注プローブ16内に保持される。2回目以降の測定項
目からは、測定項目の設定サンプル量の被検試料が吸引されてサンプル分注プローブ16
内に保持されたダミーは、その被検試料の全ての測定項目の分注が終わるまでサンプル分
注プローブ16内で使い回される。
Then, when the test sample of the first measurement item for each test sample is sucked, the dummy test sample is first sucked, and then the test sample of the set sample amount of the measurement item is sucked, and the test sample is discharged. Sometimes the dummy test sample is held in the
The dummy held inside is reused in the
このように、1つのサンプル分注プローブ16を用いて被検試料が吸引されるので、ダ
ミー用の被検試料の使用量を低減することができる。また、サンプル分注プローブ16内
に1測定項目分だけの被検試料が吸引されるので、サンプル分注プローブ16内でその測
定項目の被検試料が希釈されるのを防ぐことができる。
Thus, since the test sample is sucked using one
サンプル分注アーム10は、サンプル分注ポンプ10aの被検試料吸引動作後に、上昇
してR2方向に回動する。そして、反応ディスク5の停止中に、下降してサンプル分注プ
ローブ16をサンプル吐出位置Aに停止した反応容器4Aの吐出位置に移動する。
The
サンプル分注ポンプ10aは、サンプル分注アーム10の移動動作後に、サンプル分注
プローブ16を介して「GOT」の被検試料を反応容器4Aに吐出する。
The sample dispensing pump 10 a discharges the “GOT” test sample to the
サンプル分注アーム10は、サンプル分注ポンプ10aの被検試料吐出動作後に、上昇
及びR1方向に回動してサンプル分注プローブ16をサンプル分注プローブ洗浄位置に移
動する。
The
被検体ID「1」の「GPT」の被検試料を分注するためのサンプル分注B工程S70
は、サンプル分注A工程S60から連続して実行される。
Sample Dispensing B Step S70 for dispensing the test sample of “GPT” with the subject ID “1”
Is executed continuously from the sample dispensing A step S60.
サンプル分注アーム10は、R1方向に回動してサンプル分注プローブ16をサンプル
分注プローブ洗浄位置から被検試料吸引位置に移動する。そして、ラック17aの位置「
1」の被検試料の液面検出位置まで下降して停止する。
The
1 ”is lowered to the liquid level detection position of the test sample and stopped.
サンプル分注ポンプ10aは、サンプル分注プローブ16内に「GPT」(図7の2テ
スト)の被検試料を吸引する動作を行う。
The sample dispensing pump 10 a performs an operation of sucking a test sample “GPT” (2 test in FIG. 7) into the
サンプル分注アーム10は、サンプル分注ポンプ10aの被検試料吸引動作後に、上昇
、R2方向への回動、及び下降してサンプル分注プローブ16をサンプル吐出位置Bに停
止している反応容器4Bの吐出位置に移動する。
The
サンプル分注ポンプ10aは、サンプル分注アーム10の移動動作後に、サンプル分注
プローブ16を介して「GPT」の被検試料を反応容器4Bに吐出する。
The sample dispensing pump 10 a discharges the test sample “GPT” to the
サンプル分注アーム10は、サンプル分注ポンプ10aの被検試料吐出動作後に、上昇
及びR1方向に回動してサンプル分注プローブ16をサンプル分注プローブ洗浄位置に移
動する。
The
次に、分析部19は、図8の2分析サイクルの時に、1分析サイクル時の動作と同様に
して、被検体ID「1」の「Ca」と「TP」の被検試料を分注するためのサンプル分注
工程S50を実行する(図6のステップS4)。
Next, the analysis unit 19 dispenses the test samples “Ca” and “TP” of the subject ID “1” in the same manner as the operation in the first analysis cycle in the second analysis cycle of FIG. The sample dispensing step S50 is executed (step S4 in FIG. 6).
次に、分析部19は、図8に示した3分析サイクルの時に、サンプル分注プローブ16
に付着した被検体ID「1」の被検試料を洗い落とすためのサンプル分注プローブ洗浄工
程S80を実行する(図6のステップS5)。
Next, the analysis unit 19 performs the
A sample dispensing probe cleaning step S80 is performed to wash off the test sample with the test subject ID “1” attached to (step S5 in FIG. 6).
サンプル分注アーム10は、サンプル分注プローブ16の先端部がサンプル分注プロー
ブ洗浄位置に設けられた洗浄液吐出口に達するまで下降して停止する。
The
サンプル分注ポンプ10aは、サンプル分注アーム10の下降動作後に、サンプル分注
プローブ16の内壁洗浄を行う。また、サンプル分注プローブ洗浄位置の洗浄液吐出口か
らの洗浄液によりサンプル分注プローブ16の外壁が洗浄される。
The sample dispensing pump 10a cleans the inner wall of the
このように、被検体ID「1」の被検試料分注動作終了後に、被検試料に接したサンプ
ル分注プローブ16の内外壁が洗浄されるので、サンプル分注プローブ16を介して被検
体ID「1」からの被検体ID「2」へ持ち込まれる被検試料量を低減することができる
。
As described above, since the inner and outer walls of the
サンプル分注アーム10は、サンプル分注プローブ16の洗浄後、上昇して被検体ID
「2」の被検試料の分注に備えて待機する。
The
Wait for the dispensing of the test sample of “2”.
次に、分析部19は、図8の4分析サイクルの時に、被検体ID「2」の「TP」を測
定するための被検試料を分注するサンプル分注B工程S70を実行する(図6のステップ
S6)。
Next, the analysis unit 19 executes a sample dispensing B step S70 for dispensing a test sample for measuring “TP” of the subject ID “2” in the four analysis cycles of FIG. 8 (FIG. 8). 6 step S6).
そして、図8の5分析サイクルの時に、サンプル分注プローブ16に付着した被検体I
D「2」の被検試料を洗い落とすためのサンプル分注プローブ洗浄工程S80を実行する
(図6のステップS7)。
Then, the subject I attached to the
A sample dispensing probe washing step S80 for washing off the test sample of D “2” is executed (step S7 in FIG. 6).
次に、分析部19は、図8の6分析サイクルの時に、被検体ID「3」の「Ca」を測
定するための被検試料を分注するサンプル分注A工程S60を実行する(図6のステップ
S8)。
Next, the analysis unit 19 executes the sample dispensing A step S60 for dispensing the test sample for measuring “Ca” of the subject ID “3” during the six analysis cycles of FIG. 8 (FIG. 8). 6 step S8).
そして、図8の7分析サイクルの時に、サンプル分注プローブ16に付着した被検体I
D「3」の被検試料を洗い落とすためのサンプル分注プローブ洗浄工程S80を実行する
(図6のステップS9)。
Then, the subject I attached to the
A sample dispensing probe washing step S80 for washing off the test sample of D “3” is executed (step S9 in FIG. 6).
被検試料分注後、被検体ID「1」乃至「3」の被検試料が分注された反応容器4A,
4Bが第1試薬吐出位置A,Bに停止した時に、第1試薬分注プローブ14a,14bを
介して各反応容器4A,4Bの測定項目に該当する第1試薬が分注される(図6のステッ
プS10)。
After dispensing the test sample, the
When 4B stops at the first reagent discharge positions A and B, the first reagent corresponding to the measurement item of each
第1試薬分注後に、被検体ID「1」乃至「3」の被検試料と第1試薬の混合液が入っ
た反応容器4A,4Bが第1撹拌位置A,Bに停止した時に、第1撹拌ユニット11aの
第1A,第1B撹拌子によって各反応容器4A,4B内の混合液が撹拌される(図6のス
テップS11)。
After the first reagent is dispensed, when the
第1の撹拌後に、被検体ID「1」及び「3」の被検試料と第1試薬の混合液が入った
反応容器4A,4Bが第2A,第2B試薬吐出位置に停止した時に、第2試薬分注プロー
ブ15a,15bを介して各反応容器4A,4Bに「GOT」、「GPT」、「Ca」の
2試薬系の測定項目に該当する第2試薬が分注される(図6のステップS12)。
After the first stirring, when the
第2試薬分注後に、被検体ID「1」及び「3」の被検試料、第1試薬、及び第2試薬
の混合液が入った反応容器4A,4Bが第2撹拌位置A,Bに停止した時に、第2撹拌ユ
ニット11bの第2A,第2B撹拌子によって反応容器4A,4B内の混合液が撹拌され
る(図6のステップS13)。
After dispensing the second reagent, the
第2の撹拌後に、被検試料、第1試薬、及び第2試薬の混合液や、被検試料及び第1試
薬の混合液が入った反応容器4A,4Bが測光位置を通過した時に、測光ユニット13は
、反応容器4A,4Bに光を照射して、透過した光から設定波長の吸光度を測定する。そ
して、被検体ID「1」乃至「3」の被検試料の各測定項目の分析信号を生成して分析デ
ータ処理部40に出力する(図6のステップS14)。
After the second agitation, photometry is performed when the mixture of the test sample, the first reagent, and the second reagent, or the
測定後に、被検体ID「1」乃至「3」の被検試料の混合液が入った反応容器4A,4
Bが洗浄及び乾燥位置に停止した時に、洗浄ユニット12は、反応容器4A,4B内の測
定を終えた混合液を吸引すると共に、反応容器4内を洗浄及び乾燥する(図6のステップ
S15)。そして、洗浄及び乾燥を終えた反応容器4A,4Bは、再び測定に使用される
。
After the measurement, the
When B stops at the cleaning and drying position, the
分析データ処理部40の演算部41は、測光ユニット13から出力された分析信号から
各被検試料の各測定項目の分析データを生成して記憶部42に保存すると共に、出力部5
0に出力する(図6のステップS16)。
The calculation unit 41 of the analysis data processing unit 40 generates analysis data of each measurement item of each test sample from the analysis signal output from the
It outputs to 0 (step S16 in FIG. 6).
そして、全ての反応容器4の洗浄及び乾燥が終了し、被検体ID「1」乃至「3」の全
ての測定項目の分析データが出力された時点で、自動分析装置100は、測定動作を終了
する(図6のステップS17)。
When the cleaning and drying of all the
次に、図1乃至図10を参照してタイミングチャート80の他の実施例を説明する。 Next, another embodiment of the timing chart 80 will be described with reference to FIGS.
図9は、図5に示したタイミングチャート80の他の実施例を示したタイミングチャー
トである。このタイミングチャート81がタイミングチャート80と異なる点は、サンプ
ル分注動作の時間が制約される反応ディスク5停止中の「吸引」と「吐出」の動作開始及
び動作終了タイミングを可変にした点である。
FIG. 9 is a timing chart showing another embodiment of the timing chart 80 shown in FIG. The timing chart 81 differs from the timing chart 80 in that the operation start and operation end timings of “suction” and “discharge” while the
このタイミングチャート81には、反応容器4Aへの被検試料の分注を行うためのステ
ップS61,S62,S63,S64a,S65aと、反応容器4Bへの被検試料の分注
を行うためのステップS71,S72a,S73,S74a,S75における「吸引」、
「吐出」、及び「移動」のタイミングが表されている。そして、タイミングチャート81
のステップS64a,S72a,S74aは、タイミングチャート80のステップS64
,S72,S74の動作タイミングの範囲内で、各ステップの動作開始及び終了タイミン
グを可変にしたものである。
The timing chart 81 includes steps S61, S62, S63, S64a, and S65a for dispensing the test sample to the
The timing of “discharge” and “movement” is shown. The timing chart 81
Steps S64a, S72a, and S74a are the same as Step S64 of the timing chart 80.
, S72 and S74, the operation start and end timings of each step are made variable.
ところで、測定項目の分析条件に最大サンプル量が設定される可能性があるのは特定の
数測定項目であり、しかもその測定項目が選択されなければ、サンプル分注工程S50で
被検試料が最大量で分注されることはない。例えば、最大サンプル量が15μLとすると
、通常、各測定項目の分析条件の設定サンプル量の平均は、3μL〜4μLである。
By the way, there is a possibility that the maximum sample amount may be set as the analysis condition of the measurement item, and if the measurement item is not selected, the sample to be tested is the maximum in the sample dispensing step S50. It is not dispensed in large quantities. For example, if the maximum sample amount is 15 μL, the average of the set sample amounts of the analysis conditions for each measurement item is usually 3 μL to 4 μL.
従って、分注精度が低下しやすい例えば1.5〜4.0μLの微量のサンプル量が設定
された測定項目の分注が行われる時に、図5で説明した「吸引」及び「吐出」の余剰時間
を後述する分注精度の誤差となる要因に割り振るようにする。
Accordingly, when dispensing measurement items in which a small sample amount of, for example, 1.5 to 4.0 μL is likely to be deteriorated, excessive “suction” and “discharge” described in FIG. 5 is performed. The time is allocated to a factor that causes an error in dispensing accuracy, which will be described later.
システム制御部70は、サンプル分注工程S50を実行させる前に、サンプル分注工程
S50で反応容器4A,4Bに分注される測定項目の設定サンプル量を内部記憶回路から
読み出して、ステップS64aにおける反応容器4Aへの吐出に要する吐出時間TAd、
ステップS72における反応容器4Bに分注するための被検試料の吸引に要する吸引時間
TBa、ステップS74における反応容器4Bへの吐出に要する吐出時間TBdを算出す
る。
Before executing the sample dispensing step S50, the
A suction time TBa required for sucking the sample to be dispensed into the reaction container 4B in step S72 and a discharge time TBd required for discharge to the reaction container 4B in step S74 are calculated.
そして、最大サンプル量の吸引に要する時間を最大サンプル吸引時間Tma、最大サン
プル量の吐出に要する時間を最大サンプル吐出時間Tmdとすると、ステップS64a,
S72a,S74aでは、夫々(Tmd−TAd)、(Tma?TBa)、(Tmd−T
Bd)で表される余剰時間が生まれることになる。この余剰時間を、以下に述べる分注精
度誤差要因に割り振る。
Then, assuming that the time required for suctioning the maximum sample amount is the maximum sample suction time Tma and the time required for discharging the maximum sample amount is the maximum sample discharge time Tmd, step S64a,
In S72a and S74a, (Tmd-TAd), (Tma? TBa), and (Tmd-T), respectively.
The surplus time represented by Bd) is born. This surplus time is allocated to the dispensing accuracy error factor described below.
ステップS64a,S72a,S74aにおける余剰時間を前側のTw1,Tw3,T
w5と後側のTw2,Tw4,Tw6とに分ける。
The surplus time in steps S64a, S72a, and S74a is set to Tw1, Tw3, T on the front
It is divided into w5 and rear Tw2, Tw4, Tw6.
そして、ステップS64a,S74aにおける「吐出」の余剰時間の前側Tw1,Tw
5を、例えばサンプル分注アーム10の下降時の下降速度の調整、サンプル分注アーム1
0の下降動作後にサンプル分注ポンプ10aが被検試料の吐出動作を開始するまでの待ち
時間の調整などに割り振る。
Then, the front side Tw1, Tw of the “ejection” surplus time in steps S64a, S74a
5 for example, adjusting the descending speed when the
It is assigned to adjust the waiting time until the sample dispensing pump 10a starts the discharge operation of the test sample after the descent operation of 0.
ステップS64a,S74aにおける「吐出」の余剰時間の後側Tw2,Tw6を、例
えばサンプル分注ポンプ10aの被検試料吐出動作後にサンプル分注アーム16が上昇動
作を開始するまでの待ち時間の調整、サンプル分注アーム10の上昇時の上昇速度の調整
などに割り振る。
Adjustment of the waiting time until the
ステップS72aにおける「吸引」の余剰時間の前側Tw3を、例えばサンプル分注ア
ーム10の下降時の下降速度の調整、サンプル分注アーム10の下降動作後にサンプル分
注ポンプ10aが被検試料の吸引動作を開始するまでの待ち時間の調整などに割り振る。
The front side Tw3 of the “suction” surplus time in step S72a is adjusted, for example, by adjusting the descending speed when the
ステップS72aにおける「吸引」の余剰時間の後側Tw4を、例えばサンプル分注ポ
ンプ10aの被検試料吸引動作後にサンプル分注アーム16が上昇動作を開始するまでの
待ち時間の調整、サンプル分注アーム10の上昇時の上昇速度の調整などに割り振る。
For example, adjustment of the waiting time until the
このように、反応ディスク5の停止中におけるタイミングチャートの「吸引」及び「吐
出」の動作タイミングを、分析条件の設定サンプル量に基づいて可変にして、微量サンプ
ルのサンプル分注により生じる余剰時間を分注精度の誤差要因となる動作に割り振ること
により、微量サンプルのサンプル分注精度を向上させることができる。
As described above, the operation timing of “suction” and “discharge” in the timing chart during the stop of the
図10は、図8に示したタイミングチャート80の他の実施例を示したタイミングチャ
ートである。このタイミングチャート82がタイミングチャート80と異なる点は、サン
プル分注動作が制約される反応ディスク5停止中の「移動」の動作開始タイミングと、「
吸引」と「吐出」の動作開始及び終了タイミングとを可変にした点である。
FIG. 10 is a timing chart showing another embodiment of the timing chart 80 shown in FIG. The
The operation start and end timings of “suction” and “discharge” are made variable.
このタイミングチャート82には、反応容器4Aへの被検試料の分注を行うためのステ
ップS61,S62,S63,S64b,S65bと、反応容器4Bへの被検試料の分注
を行うためのステップS71b,S72b,S73b,S74b,S75bにおける「吸
引」、「吐出」、「移動」のタイミングが表されている。
The
そして、タイミングチャート82のステップS64bの動作終了タイミングと、ステッ
プS72b,74bの動作開始及び終了タイミングと、ステップS65b,S73b,S
75bの動作開始タイミングとが可変になっており、ステップS64b,S72b,S7
4bで生じた余剰時間を除いて、ステップS64b,S65b及びステップSS71b乃
至S75bの動作が連続して行われるようになっている。
Then, the operation end timing in step S64b of the
The operation start timing of 75b is variable, and steps S64b, S72b, S7
The operations of steps S64b and S65b and steps SS71b to S75b are continuously performed except for the surplus time generated in 4b.
反応ディスク5停止中に実行されるステップS64bの反応容器4Aへの被検試料の吐
出開始のタイミングは、反応ディスク5回転動作開始のタイミングから一定時間t1後と
し、ステップS64bの吐出開始のタイミングから反応ディスク5の次の回転開始タイミ
ングまでの時間を一定の最大時間Tmaxとする。
The timing of starting the discharge of the test sample into the
また、(ステップS65b+ステップS71b)及びステップS73bにおけるサンプ
ル分注プローブ16の反応容器4A内の吐出位置と試料容器17の被検試料間の移動時間
、ステップS73bにおけるサンプル分注プローブ16の反応容器4B内の吐出位置と試
料容器17の被検試料間の移動時間、ステップS75bにおけるサンプル分注プローブ1
6の反応容器4B内の吐出位置とサンプル分注プローブ洗浄位置間の移動時間を、夫々一
定のTAt、TBt、Th1とする。また、ステップS64b,S72b,S74bの「
吐出」及び「吸引」の動作時間は、サンプル分析工程50の実行毎に、予めシステム制御
部70により算出され、測定項目毎に可変のTAd、TBa、TBdとする。
In addition, in (Step S65b + Step S71b) and Step S73b, the movement time between the discharge position of the
The moving time between the discharge position in the reaction container 4B and the sample dispensing probe cleaning position is set to constant TAt, TBt, and Th1, respectively. In addition, “Steps S64b, S72b, S74b”
The operation time of “discharge” and “suction” is calculated in advance by the
そして、最大時間Tmaxは、Tmax≧(TAd+TAt+TBa+TBt+TBd
+TBt1)の関係式で表され、最大時間Tmaxが(TAd+TAt+TBa+TBt
+TBd+TBt1)に等しい時に、タイミングチャート80と一致する。
The maximum time Tmax is Tmax ≧ (TAd + TAt + TBa + TBt + TBd
+ TBt1), and the maximum time Tmax is (TAd + TAt + TBa + TBt).
Coincides with the timing chart 80 when equal to + TBd + TBt1).
図11は、図10の反応容器4A,4Bへの被検試料の分注が行われるタイミングチャ
ート82を、分析サイクルで反応容器4Bへの被検試料の分注だけが行われる場合に適用
したタイミングチャートである。
FIG. 11 applies the
このタイミングチャート82aには、反応容器4Bへの被検試料の分注を行うステップ
S71c,S72c,S73c,S74c,S75cにおける「移動」、「吸引」、「吐
出」のタイミングが表され、図10の夫々ステップS61,S62,S63,S64b,
S65bのタイミングにほぼ一致する。
This timing chart 82a shows the timing of “movement”, “suction”, and “discharge” in steps S71c, S72c, S73c, S74c, and S75c for dispensing the test sample into the reaction vessel 4B. Steps S61, S62, S63, S64b,
It almost coincides with the timing of S65b.
図12は、図10の反応容器4A,4Bへの被検試料の分注動作の後に行われる「洗浄
」のタイミングを示したタイミングチャートである。
FIG. 12 is a timing chart showing the timing of “cleaning” performed after the dispensing operation of the test sample to the
このタイミングチャート82bには、反応容器4A又は4Bへの被検試料の分注の後に
連続して行われる可変のステップS81bの「移動」、ステップS82bの「洗浄」、及
びステップS83bの「移動」のタイミングが表され、サンプル分注プローブ洗浄工程S
80のステップS81,S82,S83に対応している。
In this timing chart 82b, variable “movement” of step S81b, “washing” of step S82b, and “movement” of step S83b, which are continuously performed after dispensing the test sample into the
This corresponds to 80 steps S81, S82, and S83.
ステップS81b,S82b,S83bの動作時間を夫々一定のTh2、Tw、Th3
とすると、Tmax≧(TAd+TAt+TBa+TBt+TBd+Th1+Th2+T
w+Th3)のときに、反応ディスク5の停止中に「洗浄」を行うことができるのでタイ
ミングチャート82bが実行される。Tmax<(TAd+TAt+TBa+TBt+T
Bd+Th1+Th2+Tw+Th3)のときには、タイミングチャート80のステップ
S81,S82,S83が実行される。
The operating times of steps S81b, S82b, and S83b are set to constant Th2, Tw, and Th3, respectively.
Then, Tmax ≧ (TAd + TAt + TBa + TBt + TBd + Th1 + Th2 + T
At the time of w + Th3), since “cleaning” can be performed while the
Bd + Th1 + Th2 + Tw + Th3), Steps S81, S82, and S83 of the timing chart 80 are executed.
このように、タイミングチャートの「吸引」と「吐出」の動作開始及び終了タイミング
と、「移動」の動作開始タイミングと、「洗浄」の動作開始タイミングとを可変にして、
微量サンプルの分注により生じる余剰時間を除いて、反応ディスク5の停止中に「移動」
、「吐出」、「吸引」、及び「洗浄」を連続して実行させることにより、分析サイクル内
で反応容器4A,4Bへの被検試料の分注と、サンプル分注プローブ16の洗浄とを行う
ことができるので、N個の被検試料を測定するときに、測定時間を最大(N−1)分析サ
イクルの測定時間を短縮することができる。
In this way, the operation start and end timings of “suction” and “discharge” in the timing chart, the operation start timing of “movement”, and the operation start timing of “cleaning” are made variable,
“Move” while the
, “Discharge”, “Suction”, and “Washing” are successively executed to dispense the test sample into the
以上述べた本発明の実施例によれば、2つの測定項目の測定が可能なように設けられた
A,B測定ラインを有するセミランダムアクセス方式において、サンプル分注プローブ1
6、サンプル分注アーム10、サンプル分注ポンプ10aなどの1つのサンプル分注系を
用いて、分析サイクル毎に回転して停止する反応ディスク5の回転中に反応容器4Aに分
注するための被検試料を吸引させ、前記分析サイクル中の反応ディスク5の停止中に被検
試料を反応容器4Aに吐出させ、更に前記被検試料を吸引して反応容器4Bに吐出させる
ことができる。これにより、サンプル分注プローブ16を介しての被検試料間の影響を低
減することができるので、精度よく測定することができる。また、1つのサンプル分注系
にすることにより、装置の構成を簡素化でき低廉化を図ることができる。
According to the embodiment of the present invention described above, the
6. Using one sample dispensing system such as the
また、1つのサンプル分注プローブ16を用いて被検試料を吸引させることにより、2
つのサンプル分注プローブでは移動が困難な微量対応の試料容器17b内にも容易に移動
させて、被検試料を吸引することができる。また、ダミーの使用量を低減することができ
るので、微量の被検試料で測定することができる。
Further, by aspirating the test sample using one
The sample to be tested can be sucked easily by moving the sample container 17b, which is difficult to move with one sample dispensing probe. Moreover, since the usage-amount of a dummy can be reduced, it can measure with a trace amount test sample.
また、サンプル分注プローブ16内に1測定項目分だけの被検試料が吸引させることに
より、サンプル分注プローブ16内での測定項目の被検試料の希釈を防ぎ、精度よく被検
試料を分注することができるので精度よく測定することができる。
Further, by aspirating the test sample for one measurement item into the
また、反応ディスク5の停止中における「吸引」及び「吐出」の動作タイミングを、分
析条件の設定サンプル量に基づいて可変にして、微量サンプルの分注により生じる余剰時
間をサンプル分注精度の誤差要因の動作に割り振ることにより、更に微量サンプルのサン
プル分注精度を向上させることができる。
Further, the operation timings of “suction” and “discharge” while the
また、反応ディスク5の停止中における「吸引」と「吐出」の動作開始及び終了タイミ
ングと、「移動」の動作開始タイミングと、「洗浄」の動作開始タイミングとを可変にし
て、微量サンプルの分注により生じる余剰時間を除いて、反応ディスク5の停止中に「移
動」、「吐出」、「吸引」、及び「洗浄」を連続して動作させることにより、分析サイク
ル内で反応容器4A,4Bへの被検試料の分注と、サンプル分注プローブ16の洗浄とを
行うことができるので、測定時間を短縮することができる。
In addition, the start and end timings of “suction” and “discharge” while the
なお、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、例えばA,B測定ラインに加え
てC測定ラインを設け、1つのサンプル分注系と、C測定ラインに対応する反応容器4C
、試薬分注プローブ、試薬分注アーム、試薬分注ポンプなどの試薬分注系、及び撹拌ユニ
ットなどを設けたセミランダム方式にして実施するようにしてもよい。
In addition, this invention is not limited to the said Example, For example, in addition to A and B measurement line, C measurement line is provided, One sample dispensing system, and reaction container 4C corresponding to C measurement line
In addition, it may be carried out by a semi-random system provided with a reagent dispensing system such as a reagent dispensing probe, a reagent dispensing arm, a reagent dispensing pump, and a stirring unit.
この場合、反応ディスク停止中の「吸引」と「吐出」の動作開始及び終了タイミングと
、「移動」の動作開始タイミングとを可変にして、分析サイクル毎に、反応ディスク5の
回転中に反応容器4Aに分注するための「吸引」をさせ、反応ディスク5の停止中に反応
容器4Aへの「吐出」と、反応容器4B,4Cへ被検試料を分注するための「移動」、「
吐出」、「吸引」を連続して動作させることにより、上記の1つのサンプル分注系と同様
の効果が得られる他に更に被検試料を高速に処理することができる。
In this case, the operation start and end timings of “suction” and “discharge” while the reaction disk is stopped and the operation start timing of “movement” are made variable so that the reaction container is rotated during the rotation of the
By continuously operating “discharge” and “suction”, the same effect as the one sample dispensing system can be obtained, and the test sample can be further processed at high speed.
また、例えば4つのA1,B1,A2,B2測定ラインと、A1,A2測定ラインに対
応した反応容器4A1,4A2及びAサンプル分注プローブと、B1,B2測定ラインに
対応した反応容器4B1,4B2及びBサンプル分注プローブと、A,Bサンプル分注プ
ローブを移動するサンプル分注アームと、A,Bサンプル分注プローブを介して夫々被検
試料の吸引及び吐出を行うA,Bサンプル分注ポンプと、A1,B1,A2,B2測定ラ
インに対応した4つの第1及び第2試薬分注系(試薬分注プローブ、試薬分注アーム、及
び試薬分注ポンプ)、及び4つの撹拌子を有する第1及び第2の撹拌ユニットとを設ける
。
Also, for example, four A1, B1, A2, and B2 measurement lines, reaction vessels 4A1, 4A2 and A sample dispensing probes corresponding to the A1, A2 measurement lines, and reaction vessels 4B1, 4B2 corresponding to the B1, B2 measurement lines A and B sample dispensing probes, a sample dispensing arm that moves the A and B sample dispensing probes, and A and B sample dispensing that perform suction and discharge of the test sample through the A and B sample dispensing probes, respectively. A pump, four first and second reagent dispensing systems (reagent dispensing probe, reagent dispensing arm, and reagent dispensing pump) corresponding to the A1, B1, A2, and B2 measurement lines, and four stirring bars A first stirring unit and a second stirring unit.
そして、反応ディスクの回転中に、A,Bサンプル分注プローブ及びA,Bサンプル分
注ポンプを用いて反応容器4A1,4B1に分注するための被検試料を吸引し、反応ディ
スクの停止中に、Aサンプル分注プローブ及びAサンプル分注ポンプを用いて反応容器4
A1に被検試料を吐出させると共に、Bサンプル分注プローブ及びBサンプル分注ポンプ
を用いて反応容器4B1に被検試料を吐出させる。
While the reaction disk is rotating, the test sample to be dispensed into the reaction vessels 4A1 and 4B1 is sucked using the A and B sample dispensing probes and the A and B sample dispensing pumps, and the reaction disk is stopped. In addition, the
The test sample is discharged into A1, and the test sample is discharged into the reaction vessel 4B1 using the B sample dispensing probe and the B sample dispensing pump.
更に、サンプル分注アームを移動してAサンプル分注プローブ及びAサンプル分注ポン
プを用いて反応容器4A2に被検試料を分注させると共に、Bサンプル分注プローブ及び
Bサンプル分注ポンプを用いて反応容器4B2に被検試料を分注させる。
Furthermore, the sample dispensing arm is moved to cause the test sample to be dispensed into the reaction vessel 4A2 using the A sample dispensing probe and the A sample dispensing pump, and at the same time, using the B sample dispensing probe and the B sample dispensing pump. Then, the test sample is dispensed into the reaction vessel 4B2.
これにより、測定ラインと同数のサンプル分注プローブを用いた場合よりも、サンプル
分注プローブを介しての被検試料間の影響を低減することができるので、精度よく測定す
ることができる。また、装置の構成を簡素化でき低廉化を図ることができる。また、ダミ
ーの使用量を低減することができるので、微量の被検試料で測定することができる。また
、各サンプル分注プローブ内に1測定項目分だけの被検試料が吸引させることにより、サ
ンプル分注プローブ内での測定項目の被検試料の希釈を防ぎ、精度よく被検試料を分注す
ることができるので精度よく測定することができる。
Thereby, since the influence between test samples via a sample dispensing probe can be reduced rather than the case where the same number of sample dispensing probes as a measurement line is used, it can measure accurately. Further, the configuration of the apparatus can be simplified and the cost can be reduced. Moreover, since the usage-amount of a dummy can be reduced, it can measure with a trace amount test sample. In addition, by aspirating the test sample for one measurement item into each sample dispensing probe, dilution of the test sample of the measurement item in the sample dispensing probe is prevented, and the test sample is accurately dispensed. Can be measured with high accuracy.
4,4A,4B 反応容器
5 反応ディスク
10 サンプル分注アーム
16 サンプル分注プローブ
17 試料容器
17a ラック
19 分析部
20 サンプル部
21 試薬部
22 反応部
30 分析制御部
31 機構部
32 制御部
40 分析データ処理部
50 出力部
60 操作部
70 システム制御部
100 自動分析装置
4, 4A,
Claims (2)
段と、
前記分注手段により前記被検試料を前記試料容器から第1の試料量分吸引する際に要す
る第1吸引時間、前記反応容器内に前記被検試料を前記第1の試料量分吐出する際に要す
る第1吐出時間、前記被検試料を前記試料容器から前記第1の試料量より少ない前記第2
の試料量分吸引する際に要する第2吸引時間および前記反応容器内に前記被検試料を前記
第2の試料量分吐出する際に要する第2吐出時間に基づいて、前記第1の試料量分の分注
に要する時間と前記第2の試料量分の分注に要する時間の差分である余剰時間を算出する
算出手段と、
前記余剰時間に基づいて、前記分注手段の制御を可変する制御手段と、
を備えることを特徴とする自動分析装置。 A dispensing means for sucking the test sample from the sample container containing the test sample and discharging it into the reaction container;
When the test sample is discharged into the reaction container by the first sample amount, the first suction time required to suck the test sample from the sample container by the dispensing means by the dispensing means. The first discharge time required for the second sample is less than the first sample amount from the sample container.
The first sample amount is based on the second suction time required for sucking the sample amount of the second sample and the second discharge time required for discharging the test sample by the second sample amount into the reaction container. A calculating means for calculating a surplus time which is a difference between a time required for dispensing a minute and a time required for dispensing the second sample amount;
Control means for varying the control of the dispensing means based on the surplus time;
An automatic analyzer characterized by comprising.
有するプローブの前記試料容器への下降動作、前記プローブの下降動作停止後の前記試料
の吸引動作、前記吸引動作終了後の前記プローブの前記試料容器からの上昇動作、前記分
注手段による前記被検試料の吐出動作のうちの当該分注手段が有するプローブの前記試料
容器への下降動作、前記プローブの下降動作停止後の前記試料の吐出動作、前記吐出動作
終了後の前記プローブの前記試料容器からの上昇動作の少なくともいずれか一つの動作に
ついての制御を可変することを特徴とする請求項1記載の自動分析装置。 The control means is a lowering action of the probe of the dispensing means to the sample container in the suctioning action of the test sample by the dispensing means, an aspiration action of the sample after stopping the lowering action of the probe, The ascending operation of the probe from the sample container after completion of the aspirating operation, the descending operation of the probe of the dispensing means to the sample container among the discharging operations of the sample to be tested by the dispensing means, the probe 2. The control of at least one of the discharge operation of the sample after stopping the lowering operation and the rising operation of the probe from the sample container after the discharge operation ends is varied. Automatic analyzer.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011149599A JP2011227092A (en) | 2011-07-05 | 2011-07-05 | Automatic analyzing apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011149599A JP2011227092A (en) | 2011-07-05 | 2011-07-05 | Automatic analyzing apparatus |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005210845A Division JP4812352B2 (en) | 2005-07-21 | 2005-07-21 | Automatic analyzer and its dispensing method |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011227092A true JP2011227092A (en) | 2011-11-10 |
Family
ID=45042546
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011149599A Pending JP2011227092A (en) | 2011-07-05 | 2011-07-05 | Automatic analyzing apparatus |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2011227092A (en) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016085086A (en) * | 2014-10-24 | 2016-05-19 | 株式会社東芝 | Dispensing device and clinical examination device |
JPWO2014017275A1 (en) * | 2012-07-25 | 2016-07-07 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | Automatic analyzer |
WO2020039679A1 (en) * | 2018-08-22 | 2020-02-27 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | Automatic analysis device and automatic analysis system |
JPWO2020235163A1 (en) * | 2019-05-17 | 2020-11-26 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01141357A (en) * | 1987-11-27 | 1989-06-02 | Hitachi Ltd | Sample partial injection method for automatic analyzing device |
JP2002040032A (en) * | 2000-07-25 | 2002-02-06 | Toshiba Corp | Automatic chemical analyzer |
-
2011
- 2011-07-05 JP JP2011149599A patent/JP2011227092A/en active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01141357A (en) * | 1987-11-27 | 1989-06-02 | Hitachi Ltd | Sample partial injection method for automatic analyzing device |
JP2002040032A (en) * | 2000-07-25 | 2002-02-06 | Toshiba Corp | Automatic chemical analyzer |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPWO2014017275A1 (en) * | 2012-07-25 | 2016-07-07 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | Automatic analyzer |
JP2016085086A (en) * | 2014-10-24 | 2016-05-19 | 株式会社東芝 | Dispensing device and clinical examination device |
WO2020039679A1 (en) * | 2018-08-22 | 2020-02-27 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | Automatic analysis device and automatic analysis system |
JPWO2020039679A1 (en) * | 2018-08-22 | 2021-08-10 | 株式会社日立ハイテク | Automatic analyzer and automatic analysis system |
JPWO2020235163A1 (en) * | 2019-05-17 | 2020-11-26 | ||
JP7292384B2 (en) | 2019-05-17 | 2023-06-16 | 株式会社日立ハイテク | automatic analyzer |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4812352B2 (en) | Automatic analyzer and its dispensing method | |
JP5221779B2 (en) | Automatic analyzer | |
JP4891749B2 (en) | Automatic analyzer | |
JP2011232249A (en) | Automatic analyzing apparatus | |
JP2011227092A (en) | Automatic analyzing apparatus | |
JP5996350B2 (en) | Automatic analyzer | |
JP5161592B2 (en) | Automatic analyzer and maintenance method thereof | |
JP2008175731A (en) | Automatic analysis apparatus and its maintenance method | |
JP5739236B2 (en) | Automatic analyzer | |
JP6656902B2 (en) | Automatic analyzer | |
JP2009288052A (en) | Automatic analyzer | |
JP5606843B2 (en) | Automatic analyzer | |
JP2014066730A (en) | Automatic analyzing apparatus | |
JP6928712B2 (en) | Automatic analyzer | |
JP5571982B2 (en) | Automatic analyzer | |
JP6537895B2 (en) | Automatic analyzer | |
JP5808473B2 (en) | Automatic analyzer | |
JP6071384B2 (en) | Automatic analyzer | |
JP2011257248A (en) | Automatic analyzer | |
JP2010127868A (en) | Analyzer and its reaction vessel cleaning method | |
JP6058277B2 (en) | Automatic analyzer | |
JP5453375B2 (en) | Automatic analyzer | |
JP5180710B2 (en) | Automatic analyzer | |
JP2016085170A (en) | Automatic analyzer | |
JP2016223967A (en) | Automatic analyzer |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20111128 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20111206 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20121130 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20130405 |