JP2007285957A - Automatic analyzer and its stop position setting method - Google Patents

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JP2007285957A JP2006115368A JP2006115368A JP2007285957A JP 2007285957 A JP2007285957 A JP 2007285957A JP 2006115368 A JP2006115368 A JP 2006115368A JP 2006115368 A JP2006115368 A JP 2006115368A JP 2007285957 A JP2007285957 A JP 2007285957A
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Kenji Yamazaki
健司 山崎
Mitsuo Sekine
光雄 関根
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Toshiba Corp
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an automatic analyzer capable of defining the stop position of a dispensation probe in short time, and its stop position setting method. <P>SOLUTION: A position setting part 35 sets up adjustment positions of p-th and (p+1)-th points above a tool 80 arranged to meet a center plane 83 below each stop position of each dispensation probe, downward moves each dispensation probe to p-th and (p+1)-th detection positions detected by each liquid level detector 18a, 18b, 18c after horizontally moving each dispensation probe to p-th and (p+1)-th adjustment positions, creates p-th and (p+1)-th downward move distance data corresponding to distances between adjustment positions of p-th and (p+1)-th points and the p-th and (p+1)-th detection positions, and determines the p-th and (p+1)-th detection positions based on the downward move distance data of the created p-th and (p+1)-th downward move distance data. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、被検試料の成分を分析する自動分析装置及び位置設定方法に係り、特に、ヒトの血清や尿などの体液を分注プローブを用いて一方の容器から他方の容器に分注して体液中に含まれる成分を分析する自動分析装置及びその停止位置設定方法に関する。   The present invention relates to an automatic analyzer and a position setting method for analyzing components of a test sample, and in particular, body fluid such as human serum and urine is dispensed from one container to another using a dispensing probe. The present invention relates to an automatic analyzer for analyzing components contained in a body fluid and a stop position setting method thereof.

自動分析装置としては、被検体から採取された被検試料と試薬とを試料容器と試薬ボトルから反応容器に分注して混合した混合液の反応によって生ずる色調の変化を、光の透過量を測定することにより、被検試料中の様々な成分(項目)の濃度や活性を測定する装置が知られている。   As an automatic analyzer, a change in color caused by the reaction of a mixed solution in which a test sample and a reagent collected from a sample are dispensed from a sample container and a reagent bottle into a reaction container and mixed, and the amount of transmitted light is measured. An apparatus for measuring the concentration and activity of various components (items) in a test sample by measurement is known.

この自動分析装置では、被検試料毎に分析条件の設定により測定可能になった多数の項目の中から検査に応じて選択された測定項目の測定が行われる。そして、被検試料はサンプル分注プローブを使用して試料容器から反応容器に分注され、項目に該当する試薬は試薬分注プローブを使用して試薬ボトルから反応容器に分注され、反応容器に分注された被検試料及び試薬は撹拌子を使用して混合され、混合された混合液は測定され、更に被検試料及び試薬に接触したサンプル分注プローブ及び試薬分注プローブ、混合液に接触した反応容器及び撹拌子は洗浄された後に繰り返して測定に使用される。   In this automatic analyzer, measurement of a measurement item selected according to an inspection is performed from among a large number of items that can be measured by setting analysis conditions for each test sample. The test sample is dispensed from the sample container to the reaction container using the sample dispensing probe, and the reagent corresponding to the item is dispensed from the reagent bottle to the reaction container using the reagent dispensing probe. The test sample and the reagent dispensed in the sample are mixed using a stirrer, the mixed solution is measured, and the sample dispensing probe, the reagent dispensing probe, and the mixed solution that are in contact with the test sample and the reagent are further measured. The reaction vessel and the stirring bar that are in contact with each other are repeatedly used after measurement after being washed.

最近の自動分析装置においては、微量のサンプル及び試薬での測定が可能なように反応容器は小型化されている。また、微量化に応じて微量のサンプルの吸引が可能なように小型化された試料容器や試薬ボトルが使用されている。これら小型化によりサンプルや試薬を吸引するための試料容器や試薬ボトルの開口部、及びサンプルや試薬を吐出するための反応容器の開口部は狭くなっており、サンプル分注及び試薬分注の各分注プローブをサンプル吸引位置及び試薬吸引位置、サンプル吐出位置及び試薬吐出位置などの各停止位置がずれると、分注精度が低下して分析データに悪影響を与えることになる。   In recent automatic analyzers, reaction vessels are miniaturized so that measurement with a very small amount of sample and reagent is possible. In addition, sample containers and reagent bottles that are miniaturized so that a small amount of sample can be aspirated in accordance with the miniaturization are used. Due to these miniaturization, the opening of the sample container and reagent bottle for aspirating the sample and reagent and the opening of the reaction container for discharging the sample and reagent are narrowed. If the stop positions of the dispensing probe such as the sample suction position, the reagent suction position, the sample discharge position, and the reagent discharge position are shifted, the dispensing accuracy is lowered and the analysis data is adversely affected.

各分注プローブは、分注プローブの加工のばらつきや取り付け部の公差などに起因する装着誤差を含んでいるので、装置の据付や点検で新たに分注プローブを装置に装着したままでは、必ずしも各停止位置に停止するとは限らない。従って各分注プローブの装着毎に、各分注プローブの位置を調整して各停止位置に定める必要がある。   Each dispensing probe contains mounting errors due to variations in processing of the dispensing probe and tolerances of the mounting part.Therefore, it is not always necessary to install a new dispensing probe on the device during installation or inspection of the device. It does not necessarily stop at each stop position. Therefore, it is necessary to adjust the position of each dispensing probe to each stop position every time the dispensing probe is mounted.

そこで、各分注プローブの移動軌道下に停止位置からの移動量が既知の突起を設け、基準位置からの水平方向の仮移動量を予め設定して、回転移動及び下降動作さらに調整量だけ仮移動量を増やしながら動作を繰り返し、衝突による異常下降検知で突起を検知した時の動作量に基づいて、各停止位置までの動作量を決定する方法が提案されている(例えば、特許参考文献1参照。)。
特開2001−91522号公報
Therefore, a protrusion with a known amount of movement from the stop position is provided under the movement trajectory of each dispensing probe, and a temporary movement amount in the horizontal direction from the reference position is set in advance. A method has been proposed in which the operation is repeated while increasing the amount of movement, and the amount of movement to each stop position is determined based on the amount of movement when the protrusion is detected by the abnormal lowering detection due to the collision (for example, Patent Reference 1). reference.).
JP 2001-91522 A

しかしながら、従来の方法では最初に設定する仮移動量のマージンを多く取り突起から離れた位置で分注プローブを下降動作させ、分注プローブの動作毎に移動量を増やして突起を検知するまで下降位置を一方向に移動させることになるため、停止位置を決定するのに時間がかかる問題がある。   However, in the conventional method, the margin of the temporary movement amount set first is increased and the dispensing probe is lowered at a position away from the projection, and the amount of movement is increased every time the dispensing probe is operated until the projection is detected. Since the position is moved in one direction, there is a problem that it takes time to determine the stop position.

本発明は、上記問題点を解決するためになされたもので、分注プローブの停止位置を短時間で定めることができる自動分析装置及びその停止位置設定方法を提供することを目的とする。   The present invention has been made to solve the above-described problems, and an object of the present invention is to provide an automatic analyzer that can determine a stop position of a dispensing probe in a short time and a stop position setting method thereof.

上記目的を達成するために、請求項1に係る本発明の自動分析装置は、サンプルと試薬とを容器に分注してその混合液を測定する自動分析装置において、前記サンプル又は前記試薬を吸引及び吐出する分注プローブと、前記分注プローブを水平移動及び上下移動させる分注プローブ移動手段と、前記分注プローブの前記サンプル又は前記試薬の吸引位置、吐出位置、及び前記分注プローブの洗浄位置の各停止位置を定める位置設定手段と、中心部に向かって下り勾配の傾斜面をなす上面を有し、前記停止位置の下方に前記中心部を合わせて配置された治具を、この治具と前記分注プローブとの接触により検出する検出手段とを備え、前記位置設定手段は、前記治具の上方に第p及び第(p+1)の調整位置(pは1以上の整数)を設定し、前記分注プローブ移動手段により前記分注プローブを前記第p及び第(p+1)の調整位置に水平移動させた後に、前記検出手段により検出される前記治具上面の第p及び第(p+1)の検出位置まで下移動させて、前記第p及び第(p+1)の調整位置と前記第p及び第(p+1)の検出位置の間の距離に対応する第p及び第(p+1)の移動距離データを生成し、生成した前記第p及び第(p+1)の移動距離データに基づいて、前記第p及び第(p+1)の検出位置を判断するようにしたことを特徴とする。   In order to achieve the above object, an automatic analyzer of the present invention according to claim 1 sucks the sample or the reagent in an automatic analyzer that dispenses a sample and a reagent into a container and measures a mixed solution thereof. A dispensing probe for discharging, a dispensing probe moving means for moving the dispensing probe horizontally and vertically, a suction position, a discharging position of the sample or the reagent of the dispensing probe, and a cleaning of the dispensing probe This jig includes a position setting means for determining each stop position of the position, and a jig that has an upper surface that forms an inclined surface with a downward slope toward the center, and is arranged so that the center is aligned below the stop position. Detecting means for detecting by contact between the tool and the dispensing probe, and the position setting means sets the p-th and (p + 1) -th adjustment positions (p is an integer of 1 or more) above the jig. And before Detection of the pth and (p + 1) th of the upper surface of the jig detected by the detection means after the dispensing probe is horizontally moved to the pth and (p + 1) th adjustment positions by the dispensing probe moving means. And move down to a position to generate pth and (p + 1) th movement distance data corresponding to the distance between the pth and (p + 1) th adjustment positions and the pth and (p + 1) th detection positions. The pth and (p + 1) th detection positions are determined based on the generated pth and (p + 1) th movement distance data.

また、請求項10に係る本発明の自動分析装置の停止位置設定方法は、サンプルと試薬を容器に分注してその混合液を測定する自動分析装置の停止位置設定方法において、前記サンプル又は前記試薬を吸引及び吐出する分注プローブの前記サンプル又は前記試薬の吸引位置、吐出位置、及び前記分注プローブの洗浄位置の各停止位置の下方に、中心部に向かって下り勾配の傾斜面をなす上面を有し、前記停止位置の下方に前記中心部を合わせて配置した治具の上方に第1の調整位置を設定する第1のステップと、前記分注プローブを前記第1の調整位置に水平移動させた後に、前記分注プローブと前記治具との接触により前記治具を検出手段により検出される第1の検出位置まで下移動させて、前記第1の調整位置と前記第1の検出位置の間の距離に対応する第1の移動距離データを生成する第2のステップと、前記第1の調整位置から所定距離離れた位置に第2の調整位置を設定する第3のステップと、前記分注プローブを前記第2の調整位置に水平移動させた後に、前記検出手段で検出される第2の検出位置まで下移動させて、前記第2の調整位置と前記第2の検出位置の間の距離に対応する第2の移動距離データを生成する第4のステップと、生成された前記第1及び第2の移動距離データに基づいて、前記第1及び第2の検出位置を判断する第5のステップとを有することを特徴とする。   The automatic analyzer stop position setting method of the present invention according to claim 10 is the automatic analyzer stop position setting method in which a sample and a reagent are dispensed into a container and the mixed solution is measured. The sample of the dispensing probe for aspirating and discharging the reagent or an aspirating surface having a downward slope toward the center is formed below each stop position of the suction position, the discharge position of the reagent, and the cleaning position of the dispensing probe. A first step of setting a first adjustment position above a jig having an upper surface and aligned with the central portion below the stop position; and the dispensing probe at the first adjustment position. After the horizontal movement, the jig is moved down to a first detection position detected by a detection means by contact between the dispensing probe and the jig, and the first adjustment position and the first adjustment position are detected. Between detection positions A second step of generating first movement distance data corresponding to the distance; a third step of setting a second adjustment position at a position away from the first adjustment position by a predetermined distance; and the dispensing probe. Is moved horizontally to the second adjustment position, and then moved downward to the second detection position detected by the detection means, so that the distance between the second adjustment position and the second detection position is reached. A fourth step of generating corresponding second movement distance data, and a fifth step of determining the first and second detection positions based on the generated first and second movement distance data. It is characterized by having.

更に、請求項11に係る本発明の自動分析装置は、サンプルと試薬とを容器に分注してその混合液を測定する自動分析装置において、前記サンプル又は前記試薬を吸引及び吐出する分注プローブと、前記分注プローブを水平移動及び上下移動させる分注プローブ移動手段と、前記分注プローブの前記サンプル又は前記試薬の吸引位置、吐出位置、及び前記分注プローブの洗浄位置の各停止位置を定める位置設定手段と、中心部に向かって下り勾配の傾斜面をなし、前記中心部を含む鉛直断面の前記傾斜面に対応する線が前記中心部を頂点とする二次関数で表される上面を有し、前記停止位置の下方に前記中心部を合わせて配置された治具を、この治具と前記分注プローブとの接触により検出する検出手段とを備え、前記位置設定手段は、前記治具の上方に少なくとも第1乃至第3の調整位置を設定し、前記分注プローブ移動手段により前記分注プローブを予め設定された基準位置から前記第1乃至第3の調整位置に水平移動させた後に、前記検出手段により検出される前記治具上面の第1乃至第3の検出位置まで下移動させて、前記基準位置と前記第1乃至第3の調整位置の間の距離に対応する第1乃至第3の水平移動距離データ、及び前記第1乃至第3の調整位置と前記第1乃至第3の検出位置の間の距離に対応する第1乃至第3の移動距離データを生成し、更に生成した前記第1乃至第3の水平移動距離データ及び第1乃至第3の移動距離データに基づいて前記基準位置を原点とした前記二次関数に対応する頂点の座標を求め、求めた前記頂点の座標に対応する水平移動距離データを前記停止位置として定めるようにしたことを特徴とする。   Furthermore, the automatic analyzer of the present invention according to claim 11 is a dispensing probe that sucks and discharges the sample or the reagent in the automatic analyzer that dispenses a sample and a reagent into a container and measures a mixed solution thereof. And a dispensing probe moving means for moving the dispensing probe horizontally and up and down, and each stop position of the sample or reagent aspirating position, the dispensing position, and the dispensing probe washing position of the dispensing probe. An upper surface represented by a quadratic function in which a line corresponding to the inclined surface of the vertical cross section including the center portion has a vertex as the vertex. And a detecting means for detecting a jig arranged with the central portion below the stop position by contact between the jig and the dispensing probe, the position setting means, At least first to third adjustment positions are set above the tool, and the dispensing probe moving means horizontally moves the dispensing probe from a preset reference position to the first to third adjustment positions. Later, the first upper surface corresponding to the distance between the reference position and the first to third adjustment positions is moved down to the first to third detection positions on the upper surface of the jig detected by the detection means. To third horizontal movement distance data, and first to third movement distance data corresponding to the distance between the first to third adjustment positions and the first to third detection positions, and Based on the generated first to third horizontal movement distance data and first to third movement distance data, the coordinates of the vertex corresponding to the quadratic function with the reference position as the origin are obtained, and the obtained vertex The horizontal movement distance corresponding to the coordinates of Characterized in that the data has been so defined as the stop position.

本発明によれば、調整位置を停止位置近傍に設定し、調整位置に応じて基準位置から移動させた分注プローブの位置がずれていても停止位置方向に調整位置を再設定して停止位置を定めることにより、少ない調整位置の設定回数で停止位置を定めることができる。従って、停止位置の設定を短時間で行うことができるので、作業者の負担を軽減することができる。   According to the present invention, the adjustment position is set in the vicinity of the stop position, and the adjustment position is reset in the stop position direction even if the position of the dispensing probe moved from the reference position is shifted according to the adjustment position. Therefore, the stop position can be determined with a small number of adjustment position settings. Therefore, since the stop position can be set in a short time, the burden on the operator can be reduced.

以下に、本発明による自動分析装置の実施例を、図1乃至図20を参照して説明する。   In the following, an embodiment of an automatic analyzer according to the present invention will be described with reference to FIGS.

以下に、本発明による自動分析装置の実施例を、図1乃至図17を参照して説明する。
図1は、本発明の実施例に係る自動分析装置の構成を示したブロック図である。この自動分析装置100は、被検体から得られた被検試料やキャリブレータなどのサンプルの測定を行う分析部19と、分析部19の測定動作の制御を行う分析制御部30と、分析部19の各ユニットを測定動作させるための位置を定める位置設定部35と、各ユニットの測定動作により分析部19から出力されたキャリブレータ信号や分析信号を処理して分析データを算出する分析データ処理部40と、分析データ処理部40からのキャリブレーションテーブルや分析データを出力する出力部50と、分析条件、各種コマンド信号などを入力する操作部60と、分析制御部30、位置設定部35、分析データ処理部40、及び出力部50を統括して制御するシステム制御部70とを備えている。
Hereinafter, an embodiment of an automatic analyzer according to the present invention will be described with reference to FIGS.
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an automatic analyzer according to an embodiment of the present invention. The automatic analyzer 100 includes an analysis unit 19 that measures a sample such as a test sample or a calibrator obtained from a subject, an analysis control unit 30 that controls a measurement operation of the analysis unit 19, and an analysis unit 19 A position setting unit 35 for determining a position for performing a measurement operation of each unit, an analysis data processing unit 40 for calculating analysis data by processing a calibrator signal and an analysis signal output from the analysis unit 19 by the measurement operation of each unit, and An output unit 50 for outputting a calibration table and analysis data from the analysis data processing unit 40, an operation unit 60 for inputting analysis conditions, various command signals, etc., an analysis control unit 30, a position setting unit 35, analysis data processing A system control unit 70 that controls the unit 40 and the output unit 50 in an integrated manner.

分析部19は、項目毎のキャリブレータや被検試料などのサンプルを取り扱うサンプル部20と、サンプルと化学反応させるための試薬を取り扱う試薬部21と、サンプルと試薬との混合液を取り扱う反応部22とを備えている。   The analysis unit 19 includes a sample unit 20 that handles a sample such as a calibrator or a test sample for each item, a reagent unit 21 that handles a reagent for causing a chemical reaction with the sample, and a reaction unit 22 that handles a mixed solution of the sample and the reagent. And.

分析制御部30は、分析部19のサンプル部20、試薬部21、及び反応部22を構成している各ユニットを駆動する各機構を備えた機構部31と、機構部31の各機構を制御する制御部32とを備えている。   The analysis control unit 30 controls the mechanism unit 31 including mechanisms that drive the units constituting the sample unit 20, the reagent unit 21, and the reaction unit 22 of the analysis unit 19, and each mechanism of the mechanism unit 31. And a control unit 32.

位置設定部35は、分析部19のサンプル部20及び試薬部21の各ユニットが測定動作して停止する停止位置を定めるために、調整位置を設定する調整位置設定部36と、調整位置設定部36から出力される各ユニットを調整位置に応じた位置に移動させるための調整情報や分析制御部30の制御部32から出力される各ユニットの移動情報に基づいて、調整位置に応じた位置に移動した各ユニットの位置データを生成する位置データ生成部37と、位置データ生成部37で生成された位置データが保存される位置データ記憶部38とを備えている。   The position setting unit 35 includes an adjustment position setting unit 36 that sets an adjustment position and an adjustment position setting unit in order to determine a stop position at which each unit of the sample unit 20 and the reagent unit 21 of the analysis unit 19 performs a measurement operation and stops. Based on the adjustment information for moving each unit output from 36 to a position corresponding to the adjustment position and the movement information for each unit output from the control unit 32 of the analysis control unit 30, the position is determined according to the adjustment position. A position data generation unit 37 that generates position data of each moved unit and a position data storage unit 38 that stores the position data generated by the position data generation unit 37 are provided.

分析データ処理部40は、分析部19から出力されたキャリブレータ信号、分析信号などからキャリブレーションテーブルの作成、分析データの算出などを行う演算部41と、演算部41で作成されたキャリブレーションテーブルや算出された分析データなどを保存する記憶部42とを備えている。   The analysis data processing unit 40 includes a calculation unit 41 that creates a calibration table, calculates analysis data, and the like from a calibrator signal output from the analysis unit 19 and an analysis signal, a calibration table created by the calculation unit 41, And a storage unit 42 for storing the calculated analysis data and the like.

演算部41は、分析部19から出力された各項目のキャリブレータ信号から各項目のキャリブレーショテーブルを作成して出力部50に出力すると共に記憶部42に保存する。また、演算部41は、分析部19から出力された各項目の分析信号に対して、その分析信号の項目に対応したキャリブレーションテーブルを記憶部42から読み出した後、このキャリブレーションテーブルを用いて分析データを算出して出力部50に出力すると共に記憶部42に保存する。   The calculation unit 41 creates a calibration table for each item from the calibrator signal for each item output from the analysis unit 19, outputs the calibration table to the output unit 50, and saves it in the storage unit 42. In addition, the calculation unit 41 reads out a calibration table corresponding to each analysis signal item output from the analysis unit 19 from the storage unit 42 and then uses the calibration table. The analysis data is calculated and output to the output unit 50 and stored in the storage unit 42.

記憶部42は、ハードディスクなどを備え、演算部41から出力されたキャリブレーションテーブル、分析データなどを被検試料毎に保存する。   The storage unit 42 includes a hard disk and stores a calibration table, analysis data, and the like output from the calculation unit 41 for each test sample.

出力部50は、分析データ処理部40から出力されたキャリブレーションテーブル、分析データなどを印刷出力する印刷部51及び表示出力する表示部52を備えている。そして、印刷部51は、プリンタなどを備え、分析データ処理部40から出力されたキャリブレーションテーブル、分析データなどを予め設定されたフォーマットに基づいて、プリンタ用紙に印刷出力する。また、表示部52は、CRTや液晶パネルなどのモニタを備え、分析データ処理部40から出力されたキャリブレーションテーブル、分析データなどの表示や、システム制御部60からの指示により分析条件を設定するための画面などの表示を行う。   The output unit 50 includes a printing unit 51 that prints and outputs a calibration table, analysis data, and the like output from the analysis data processing unit 40 and a display unit 52 that displays and outputs the calibration table. The printing unit 51 includes a printer and prints out the calibration table, analysis data, and the like output from the analysis data processing unit 40 on a printer sheet based on a preset format. The display unit 52 includes a monitor such as a CRT or a liquid crystal panel, and sets analysis conditions according to display of a calibration table, analysis data, and the like output from the analysis data processing unit 40 and instructions from the system control unit 60. Display the screen for the purpose.

操作部60は、キーボード、マウス、ボタン、タッチキーパネルなどの入力デバイスを備え、分析条件の設定、被検体の被検体IDや被検体名などの被検体情報の入力、被検体の被検試料毎の測定項目の選択、各項目のキャリブレーション操作、被検試料分析操作などの様々な操作が行われる。   The operation unit 60 includes input devices such as a keyboard, a mouse, a button, and a touch key panel, and sets analysis conditions, inputs subject information such as a subject ID and subject name, and a subject specimen. Various operations such as selection of each measurement item, calibration operation of each item, test sample analysis operation, and the like are performed.

システム制御部70は、図示しないCPUと記憶回路を備え、操作部60から供給される操作者のコマンド信号、分析条件、被検体情報、被検試料毎の測定項目などの情報を記憶した後、これらの情報に基づいて、分析部19を構成する各ユニットを一定サイクルの所定のシーケンスで測定動作させる制御、キャリブレーションテーブルの作成、分析データの算出と出力に関する制御などシステム全体の制御を行う。   The system control unit 70 includes a CPU and a storage circuit (not shown) and stores information such as an operator command signal, analysis conditions, subject information, and measurement items for each test sample supplied from the operation unit 60. Based on these pieces of information, control of the entire system is performed such as control for causing each unit constituting the analysis unit 19 to perform measurement operation in a predetermined sequence of a fixed cycle, creation of a calibration table, control on calculation and output of analysis data, and the like.

次に、図2及び図3を参照して、分析部19、分析制御部30、及び位置設定部35の構成の詳細を説明する。
図2は、分析部19の構成の詳細を示した斜視図である。分析部19のサンプル部20は、キャリブレータ、被検試料などのサンプルが入った試料容器17と、この試料容器17を回動可能に保持するディスクサンプラ6と、ディスクサンプラ6の図示しないキャリブレータ吸引位置、被検試料吸引位置などのサンプル吸引位置の試料容器17からサンプルを吸引して、反応部22の図示しないサンプル吐出位置から吐出するサンプル分注プローブ16と、図示しないサンプル分注プローブ洗浄位置の下方に位置し、サンプル分注プローブ16を洗浄するプローブ洗浄槽16aとを備えている。
Next, with reference to FIG.2 and FIG.3, the detail of a structure of the analysis part 19, the analysis control part 30, and the position setting part 35 is demonstrated.
FIG. 2 is a perspective view showing details of the configuration of the analysis unit 19. The sample unit 20 of the analysis unit 19 includes a sample container 17 containing a sample such as a calibrator and a test sample, a disk sampler 6 that rotatably holds the sample container 17, and a calibrator suction position (not shown) of the disk sampler 6. A sample dispensing probe 16 that sucks a sample from a sample container 17 at a sample suction position such as a test sample suction position and discharges it from a sample discharge position (not shown) of the reaction unit 22 and a sample dispensing probe cleaning position (not shown). A probe cleaning tank 16a for cleaning the sample dispensing probe 16 is provided below.

また、サンプル部20は、サンプル吸引位置、サンプル吐出位置、及びサンプル分注プローブ洗浄位置の各停止位置へのサンプル分注プローブ16の水平移動と、各停止位置における上下移動とを可能に保持するサンプル分注アーム10と、試料容器17内のサンプルの液面を検出する液面検出器18aとを備えている。そして、液面検出器18aにより検出されたサンプルの検出信号は、分析制御部30の制御部32に出力される。   The sample unit 20 holds the sample dispensing probe 16 horizontally to each stop position of the sample suction position, the sample discharge position, and the sample dispensing probe cleaning position, and can move up and down at each stop position. A sample dispensing arm 10 and a liquid level detector 18a for detecting the liquid level of the sample in the sample container 17 are provided. Then, the sample detection signal detected by the liquid level detector 18 a is output to the control unit 32 of the analysis control unit 30.

なお、サンプルの液面は、例えば特公平8−33320号公報に報告されている原理を利用して検出される。液面検出器18aは、一端が導電性材料からなるサンプル分注プローブ16に電気的に接続されたブリッジ回路を備えている。そして、サンプル分注プローブ16とサンプルとの接触により、サンプルと接地電位間に生じる静電容量の変化を検出することによってサンプルの液面を検出している。   Note that the liquid level of the sample is detected using the principle reported in, for example, Japanese Patent Publication No. 8-33320. The liquid level detector 18a includes a bridge circuit having one end electrically connected to the sample dispensing probe 16 made of a conductive material. And the liquid level of a sample is detected by detecting the change of the electrostatic capacitance which arises between a sample and grounding potential by contact with the sample dispensing probe 16 and a sample.

試薬部21は、サンプルに対して選択的に反応する複数の第1試薬やこの第1試薬と対の複数の第2試薬が入った試薬ボトル7a,7bと、試薬ボトル7aを収納する試薬ラック1aと、試薬ボトル7aを収納した試薬ラック1aを回動可能に保持する試薬庫2と、試薬ボトル7bを収納した試薬ラック1bを回動可能に保持する試薬庫3と、試薬庫2,3の図示しない第1及び第2試薬吸引位置の試薬ボトル7a,7bから第1及び第2試薬を吸引して、反応部22の図示しない第1及び第2試薬吐出位置で吐出する第1及び第2試薬分注プローブ14,15とを備えている。   The reagent unit 21 includes reagent bottles 7a and 7b containing a plurality of first reagents that selectively react with a sample and a plurality of second reagents paired with the first reagents, and a reagent rack that stores the reagent bottles 7a. 1a, a reagent store 2 holding the reagent rack 1a containing the reagent bottle 7a so as to be rotatable, a reagent store 3 holding the reagent rack 1b containing the reagent bottle 7b so as to be rotatable, and reagent stores 2, 3 The first and second reagents are aspirated from the reagent bottles 7a and 7b at the first and second reagent aspirating positions (not shown), and discharged at the first and second reagent discharging positions (not shown) of the reaction unit 22. Two reagent dispensing probes 14 and 15 are provided.

また、試薬部21は、図示しない第1及び第2試薬分注プローブ洗浄位置の下方に位置し、第1及び第2試薬分注プローブ14,15を洗浄するプローブ洗浄槽14a,15aと、第1及び第2試薬吸引位置、第1及び第2試薬吐出位置、及び第1及び第2試薬分注プローブ洗浄位置の各停止位置への第1及び第2試薬分注プローブ14,15の水平移動と、各停止位置における上下移動とを可能に保持する第1及び第2試薬分注アーム8,9とを備えている。   The reagent unit 21 is located below the first and second reagent dispensing probe washing positions (not shown), and has probe washing tanks 14a and 15a for washing the first and second reagent dispensing probes 14 and 15, Horizontal movement of the first and second reagent dispensing probes 14 and 15 to the respective stop positions of the first and second reagent aspirating positions, the first and second reagent discharging positions, and the first and second reagent dispensing probe washing positions And first and second reagent dispensing arms 8 and 9 that can be moved up and down at each stop position.

更に、試薬部21は、試薬ボトル7a,7b内の第1及び第2試薬の液面を、サンプルと同様の原理で試薬の液面を検出する液面検出器18b,18cを備えている。そして、液面検出器18b,18cにより検出された第1及び第2試薬の検出信号は、制御部32に出力される。   Furthermore, the reagent unit 21 includes liquid level detectors 18b and 18c for detecting the liquid levels of the first and second reagents in the reagent bottles 7a and 7b on the same principle as the sample. Then, the detection signals of the first and second reagents detected by the liquid level detectors 18 b and 18 c are output to the control unit 32.

反応部22は、サンプル吐出位置のサンプル分注プローブ16から吐出されたサンプルと、第1試薬吐出位置の第1試薬分注プローブ14から吐出された第1試薬と、第2試薬吐出位置の第2試薬分注プローブ15から吐出された第2試薬とを受入れる反応容器4と、円周上に配置された複数の反応容器4を回転可能に保持する反応ディスク5と、反応部22の図示しない第1撹拌位置に停止した反応容器4内のサンプルと第1試薬との混合液を撹拌する撹拌子を上下移動可能に保持する撹拌ユニット11aと、反応部22の図示しない第2撹拌位置に停止した反応容器4内のサンプルと第1試薬と第2試薬との混合液を撹拌する撹拌子を上下移動可能に保持する撹拌ユニット11bとを備えている。   The reaction unit 22 includes a sample discharged from the sample dispensing probe 16 at the sample discharge position, a first reagent discharged from the first reagent dispensing probe 14 at the first reagent discharge position, and a first reagent discharged from the first reagent discharge position. A reaction container 4 that receives the second reagent discharged from the two-agent dispensing probe 15, a reaction disk 5 that rotatably holds a plurality of reaction containers 4 arranged on the circumference, and a reaction unit 22 (not shown) The stirring unit 11a that holds the stirring bar for stirring the liquid mixture of the sample and the first reagent in the reaction vessel 4 stopped at the first stirring position, and stopped at the second stirring position (not shown) of the reaction unit 22 And a stirring unit 11b for holding a stirrer for stirring the mixed solution of the sample, the first reagent, and the second reagent in the reaction container 4 so as to be movable up and down.

また、反応部22は、図示しない測光位置における撹拌後の混合液の入った反応容器4に光を照射して、透過した光から設定波長における吸光度を測定する測光ユニット13と、図示しない洗浄・乾燥位置に停止した反応容器4の測定を終えた混合液を吸引すると共に、反応容器4内を洗浄・乾燥する吸引ノズル、洗浄ノズル、及び乾燥ノズルを上下移動可能に保持する洗浄ユニット12とを備えている。   The reaction unit 22 irradiates light to the reaction vessel 4 containing the mixed liquid after stirring at a photometric position (not shown), and measures the absorbance at a set wavelength from the transmitted light; A suction nozzle for cleaning and drying the inside of the reaction container 4, a cleaning nozzle, and a cleaning unit 12 for holding the drying nozzle movably up and down, while sucking the mixed liquid after the measurement of the reaction container 4 stopped at the drying position I have.

そして、反応容器4は、混合液の測定終了毎に、洗浄ユニット12によりその内側が洗浄・乾燥され、再び測定に使用される。測光ユニット13は、吸光度測定により得た各項目のキャリブレータや被検試料のキャリブレータ信号や分析信号を分析データ処理部40に出力する。   Each time the measurement of the mixed solution is completed, the inside of the reaction container 4 is cleaned and dried by the cleaning unit 12 and used again for the measurement. The photometric unit 13 outputs the calibrator of each item obtained by the absorbance measurement, the calibrator signal of the test sample, and the analysis signal to the analysis data processing unit 40.

図3は、分析制御部30の構成の詳細を示した図である。分析制御部30の機構部31は、分析部19のサンプル分注アーム10、第1試薬分注アーム8、及び第2試薬分注アーム9を各回動及び上下移動する移動機構31s,31r1,31r2を備えている。   FIG. 3 is a diagram showing details of the configuration of the analysis control unit 30. The mechanism unit 31 of the analysis control unit 30 includes moving mechanisms 31s, 31r1, and 31r2 that rotate and move the sample dispensing arm 10, the first reagent dispensing arm 8, and the second reagent dispensing arm 9 of the analyzing unit 19 in respective directions. It has.

また、機構部31は、分析部19のディスクサンプラ6、試薬庫2、及び試薬庫3を各回動する機構、反応ディスク5を回転する機構、撹拌ユニット11a、撹拌ユニット11b、及び洗浄ユニット12を各上下移動する機構、サンプル分注プローブ16を介してサンプルの吸引及び吐出を行うサンプル分注ポンプを駆動する機構、第1及び第2試薬分注プローブ14,15を介して第1及び第2試薬の吸引及び吐出を行う試薬ポンプを各駆動する機構、各撹拌ユニット11a,11bの撹拌子を各駆動する機構、洗浄ユニット12の吸引ノズルを介して反応容器4内の混合液の吸引を行う吸引ポンプ、洗浄ユニット12の洗浄ノズルを介して反応容器4内の洗浄液による洗浄を行う洗浄ポンプを駆動する機構、洗浄ユニット12の乾燥ノズルを介して洗浄後の反応容器4内の乾燥を行う乾燥ポンプを駆動する機構など図示しない様々な機構を備えている。   The mechanism unit 31 includes a mechanism that rotates the disk sampler 6, the reagent store 2, and the reagent store 3 of the analysis unit 19, a mechanism that rotates the reaction disk 5, a stirring unit 11 a, a stirring unit 11 b, and a cleaning unit 12. A mechanism that moves up and down, a mechanism that drives a sample dispensing pump that sucks and discharges the sample through the sample dispensing probe 16, and a first and second through the first and second reagent dispensing probes 14 and 15. A mechanism for driving each reagent pump for sucking and discharging the reagent, a mechanism for driving each stirrer of each of the stirring units 11a and 11b, and a suction of the mixed liquid in the reaction vessel 4 through the suction nozzle of the washing unit 12 are performed. A suction pump, a mechanism for driving a cleaning pump for cleaning with the cleaning liquid in the reaction vessel 4 via a cleaning nozzle of the cleaning unit 12, and a drying nozzle for the cleaning unit 12. And a variety of mechanisms, not shown, such as mechanism for driving the drying pump to dry the reaction vessel 4 after washing through.

移動機構31sは、サンプル分注アーム10を回動する回動機構31srと、回動方向の基準位置を検出する検出器31saと、サンプル分注アーム10を上下移動する上下移動機構31suと、上下移動方向の基準位置である上停止点を検出する検出器31sbとを備えている。   The movement mechanism 31s includes a rotation mechanism 31sr for rotating the sample dispensing arm 10, a detector 31sa for detecting a reference position in the rotation direction, a vertical movement mechanism 31su for moving the sample dispensing arm 10 up and down, And a detector 31sb that detects an upper stop point that is a reference position in the movement direction.

回動機構31srは、サンプル分注アーム10を回動駆動する動力源としてのモータ31srmを備えている。上下移動機構31suは、サンプル分注アーム10を上下駆動する動力源としてのモータ31sumを備えている。   The rotation mechanism 31 sr includes a motor 31 srm as a power source that drives the sample dispensing arm 10 to rotate. The vertical movement mechanism 31su includes a motor 31sum as a power source that drives the sample dispensing arm 10 up and down.

移動機構31r1,31r2は、第1及び第2試薬分注アーム8,9を回動する回動機構31r1r,31r2rと、回動方向の基準位置を検出する検出器31r1a,31r2aと、第1及び第2試薬分注アーム8,9を上下移動する上下移動機構31r1u,31r2uと、上下移動方向の基準位置である上死点を検出する検出器31r1b,31r2bとを備えている。   The movement mechanisms 31r1 and 31r2 include rotation mechanisms 31r1r and 31r2r that rotate the first and second reagent dispensing arms 8 and 9, detectors 31r1a and 31r2a that detect a reference position in the rotation direction, Vertical movement mechanisms 31r1u and 31r2u that move the second reagent dispensing arms 8 and 9 up and down, and detectors 31r1b and 31r2b that detect a top dead center that is a reference position in the vertical movement direction are provided.

回動機構31r1r,31r2rは、第1及び第2試薬分注アーム8,9を回動駆動する動力源としてのモータ31r1rm,31r2rmを備えている。上下移動機構31r1u,31r2uは、第1及び第2試薬分注アーム8,9を上下駆動する動力源としてのモータ31r1um,31r2umを備えている。   The rotation mechanisms 31r1r and 31r2r include motors 31r1rm and 31r2rm as power sources for driving the first and second reagent dispensing arms 8 and 9 to rotate. The vertical movement mechanisms 31r1u and 31r2u include motors 31r1um and 31r2um as power sources for driving the first and second reagent dispensing arms 8 and 9 up and down.

各モータ31srm,31sum,31r1rm,31r1um,31r2rm,31r2umには、ステップモータが用いられ、制御部32から供給される駆動用のパルスにより制御される。サンプル分注プローブ16、第1試薬分注プローブ14、及び第2の試薬分注プローブ15の各分注プローブは、制御部32から供給される1パルスを最小の移動距離とし、パルスの数に応じた距離を水平移動及び上下移動する。   Step motors are used for the motors 31srm, 31sum, 31r1rm, 31r1um, 31r2rm, and 31r2um, and are controlled by driving pulses supplied from the control unit 32. Each dispensing probe of the sample dispensing probe 16, the first reagent dispensing probe 14, and the second reagent dispensing probe 15 has one pulse supplied from the control unit 32 as the minimum moving distance, and the number of pulses Move horizontally and move up and down according to the distance.

各検出器31sa,31sb,31r1a,31r1b,31r2a,31r2bにより検出された各基準位置の信号は、制御部32に出力される。   The signals at the reference positions detected by the detectors 31sa, 31sb, 31r1a, 31r1b, 31r2a, 31r2b are output to the control unit 32.

制御部32は、サンプル分注アーム10、第1試薬分注アーム8、及び第2試薬分注アーム9の各移動機構31s,31r1,31r2を制御する各制御部32s,32r1,32r2や、ディスクサンプラ6、試薬庫2、試薬庫3、反応ディスク5、撹拌ユニット11a,11b、洗浄ユニット12、サンプル分注ポンプ、試薬ポンプ、吸引ポンプ、洗浄ポンプ、乾燥ポンプなどの各機構を制御する図示しない制御部を備えている。   The control unit 32 includes control units 32s, 32r1, and 32r2 that control the moving mechanisms 31s, 31r1, and 31r2 of the sample dispensing arm 10, the first reagent dispensing arm 8, and the second reagent dispensing arm 9, and disks. Controls each mechanism such as sampler 6, reagent storage 2, reagent storage 3, reaction disk 5, stirring units 11a and 11b, cleaning unit 12, sample dispensing pump, reagent pump, suction pump, cleaning pump, and drying pump (not shown) A control unit is provided.

制御部32sは、各モータ31srm,31sumに各所定数のパルスを供給することにより、回動機構31sr及び上下移動機構31suを駆動してサンプル分注アーム10を回動及び上下移動させる。この回動及び上下移動により、サンプル分注プローブ16を水平移動及び上下移動させて各停止位置や各サンプル液面検出位置などに移動させる。   The control unit 32s supplies a predetermined number of pulses to the motors 31srm and 31sum, thereby driving the rotation mechanism 31sr and the vertical movement mechanism 31su to rotate and move the sample dispensing arm 10 up and down. By this rotation and vertical movement, the sample dispensing probe 16 is moved horizontally and up and down to move to each stop position, each sample liquid level detection position, and the like.

制御部32r1,32r2は、各モータ31r1rm,31r1um,31r2rm,31r2umに各所定数のパルスを供給することにより、回動機構31r1r,31r2r及び上下移動機構31r1u,31r2uを駆動させて第1及び第2試薬分注アーム8,9を回動及び上下移動させる。この回動及び上下移動により、第1及び第2試薬分注プローブ14,15を水平移動及び上下移動させて各停止位置や第1及び第2試薬の検出位置などに移動させる。   The control units 32r1 and 32r2 supply the predetermined number of pulses to the motors 31r1rm, 31r1um, 31r2rm, and 31r2um, thereby driving the rotation mechanisms 31r1r and 31r2r and the vertical movement mechanisms 31r1u and 31r2u, thereby supplying the first and second reagents. The dispensing arms 8 and 9 are rotated and moved up and down. By this rotation and vertical movement, the first and second reagent dispensing probes 14 and 15 are moved horizontally and moved up and down to the respective stop positions and detection positions of the first and second reagents.

また、各制御部32s,32r1,32r2は、位置設定部35の調整位置設定部36からの調整情報に基づいて、各分注プローブを調整位置設定部36により設定された各調整位置に水平移動させた後に、その調整位置から分析部19の各液面検出器18a,18b,18cにより検出される検出位置まで下移動させる。そして、調整位置から検出位置まで下移動させるために、各モータ31sum,31r1um,31r2umに供給した各下降パルスの情報を位置設定部35の位置データ生成部37に出力する。   Each control unit 32 s, 32 r 1, 32 r 2 horizontally moves each dispensing probe to each adjustment position set by the adjustment position setting unit 36 based on the adjustment information from the adjustment position setting unit 36 of the position setting unit 35. After that, it is moved downward from the adjustment position to a detection position detected by each liquid level detector 18a, 18b, 18c of the analysis unit 19. Then, in order to move downward from the adjustment position to the detection position, the information of each descending pulse supplied to each of the motors 31sum, 31r1um, 31r2um is output to the position data generation unit 37 of the position setting unit 35.

位置設定部35は、分析部19の各分注プローブにおける各停止位置の設定や、一旦設定した各停止位置を校正するために設けられている。   The position setting unit 35 is provided to set each stop position in each dispensing probe of the analysis unit 19 and to calibrate each stop position once set.

調整位置設定部36は、分析部19の各分注プローブの各停止位置を定めるために、各調整位置を設定し、各分注プローブをその調整位置に応じた位置に移動させるための各調整情報を分析制御部30の制御部32の各制御部32s,32r1,32r2及び位置データ生成部37に出力する。   The adjustment position setting unit 36 sets each adjustment position in order to determine each stop position of each dispensing probe of the analysis unit 19, and each adjustment for moving each dispensing probe to a position corresponding to the adjustment position. The information is output to each control unit 32 s, 32 r 1, 32 r 2 and position data generation unit 37 of the control unit 32 of the analysis control unit 30.

位置データ生成部37は、調整位置設定部36から出力される各調整情報及び各制御部32s,32r1,32r232から出力される各下降パルスの情報に基づいて、分析制御部30の機構部31の各検出器31sa,31r1a,31r2aにより検出される基準位置と各調整位置の間の距離に対応する水平移動パルスを水平移動距離データとし、各調整位置と分析部19の各液面検出器18a,18b,18cで検出される検出位置の間の距離に対応する下降パルスを下移動距離データとして、各水平移動距離データと下移動距離データとにより構成される各検出位置の位置データを生成して位置データ記憶部38に保存する。   The position data generation unit 37 is based on the adjustment information output from the adjustment position setting unit 36 and the information on the descending pulses output from the control units 32s, 32r1, and 32r232. The horizontal movement pulse data corresponding to the distance between the reference position detected by each detector 31sa, 31r1a, 31r2a and each adjustment position is used as horizontal movement distance data, and each liquid level detector 18a, Position data of each detection position composed of the horizontal movement distance data and the lower movement distance data is generated by using the descending pulse corresponding to the distance between the detection positions detected by 18b and 18c as the lower movement distance data. The data is stored in the position data storage unit 38.

調整位置設定部36は、位置データ記憶部38に保存された各検出位置の位置データの内の最新及び前回の位置データを読み出して、読み出した最新及び前回の位置データの下移動距離データを比較する。そして、最新及び前回の位置データの下移動距離データが異なる場合、最新及び前回の下移動距離データの大きい方のデータの調整位置から小さい方のデータの調整位置とは反対側の方向に微調整距離又は粗調整距離離れた位置に新たに調整位置を設定する。   The adjustment position setting unit 36 reads the latest and previous position data of the position data of each detection position stored in the position data storage unit 38, and compares the lower moving distance data of the read latest and previous position data. To do. And if the latest movement data and the previous movement data are different, the fine adjustment in the direction opposite to the adjustment position of the smaller data from the adjustment position of the larger movement data of the latest and the previous movement data. A new adjustment position is set at a position away from the distance or the coarse adjustment distance.

次に、図2乃至図5を参照して、サンプル分注プローブ16、第1試薬分注プローブ14、及び第2試薬分注プローブ15の各停止位置への移動動作を説明する。   Next, the movement operation of the sample dispensing probe 16, the first reagent dispensing probe 14, and the second reagent dispensing probe 15 to each stop position will be described with reference to FIGS.

図4は、分析部19のサンプル部20と反応部22の構成の一部を上から見た図である。分析制御部30の制御部32における制御部32sは、システム制御部70からのキャリブレータ又は被検試料の測定指示や、システム制御部70からのサンプル分注プローブ16の位置設定指示により位置設定部35から出力されるサンプル分注プローブ16の調整情報に基づいて、分析制御部30の機構部31における移動機構31sの回動機構31srを制御して、サンプル分注プローブ16を図4の破線で示した円移動軌跡に沿って矢印R1及びR2方向に水平移動させる。   FIG. 4 is a view of a part of the configuration of the sample unit 20 and the reaction unit 22 of the analysis unit 19 as viewed from above. The control unit 32 s in the control unit 32 of the analysis control unit 30 receives a calibrator or test sample measurement instruction from the system control unit 70 and a position setting instruction for the sample dispensing probe 16 from the system control unit 70. 4, the rotation mechanism 31 sr of the moving mechanism 31 s in the mechanism unit 31 of the analysis control unit 30 is controlled based on the adjustment information of the sample dispensing probe 16 output from the sample dispensing probe 16. It moves horizontally in the directions of arrows R1 and R2 along the circular movement locus.

サンプル分注プローブ16の測定時に停止する円移動軌跡上の停止位置には、移動機構31sの検出器31saによって検出されるサンプル分注プローブ16の基準位置90からR1方向に円移動軌跡上の距離Ds1離れた位置にあるサンプル吐出位置A、基準位置90からR2方向に円移動軌跡上の所定距離離れた位置にある被検試料吸引位置B、被検試料吸引位置Bから更にR2方向に所定距離離れた位置にあるキャリブレータ吸引位置C、及びサンプル吐出位置Aと被検試料吸引位置Bとの間にあって基準位置90からR2方向に円移動軌跡上の所定距離離れた位置にあるサンプル分注プローブ洗浄位置Dがある。   The stop position on the circular movement locus that stops when measuring the sample dispensing probe 16 is the distance on the circular movement locus in the R1 direction from the reference position 90 of the sample dispensing probe 16 detected by the detector 31sa of the moving mechanism 31s. Ds1 away from the sample discharge position A, the reference sample 90 from the reference position 90 in the R2 direction at a predetermined distance away from the test sample suction position B on the circular movement locus, and from the test sample suction position B to the predetermined distance in the R2 direction. The calibrator suction position C at a distant position, and the sample dispensing probe cleaning between the sample discharge position A and the test sample suction position B and at a predetermined distance on the circular movement locus in the R2 direction from the reference position 90 There is a position D.

また、サンプル分注プローブ16は、サンプル吐出位置A、被検試料吸引位置B及びキャリブレータ吸引位置C、及びサンプル分注プローブ洗浄位置Dの各下方に配置された反応容器4内、試料容器17内、プローブ洗浄槽16a内との間を上下移動する。   In addition, the sample dispensing probe 16 is provided in the reaction container 4 and the sample container 17 disposed below the sample discharge position A, the sample suction position B and the calibrator suction position C, and the sample dispensing probe cleaning position D, respectively. Then, it moves up and down between the probe cleaning tank 16a.

なお、基準位置90は、サンプル分注プローブ16の加工のばらつきやサンプル分注アーム10の取り付け部の公差など装着の誤差要因が含まれないと仮定したときの位置であって、新たにサンプル分注プローブ16を装着する毎に装着誤差要因の範囲で変動する。   Note that the reference position 90 is a position when it is assumed that there are no mounting error factors such as variations in processing of the sample dispensing probe 16 and tolerances of the mounting portion of the sample dispensing arm 10. Each time the probe 16 is mounted, it varies within the range of the mounting error factor.

そして、測定時に実行される1サイクル毎のサンプル分注動作で、サンプル分注プローブ16は、例えばサンプル分注プローブ洗浄位置DからR2方向に水平移動しての被検試料吸引位置B又はキャリブレータ吸引位置Cで水平方向の移動を停止した後に、試料容器17内の被検試料又はキャリブレータの液面検出位置まで下移動する。被検試料又はキャリブレータを吸引した後に、上停止点まで移動する。その後、R1方向に水平移動してのサンプル吐出位置Aで水平方向の移動を停止した後に、反応容器4のサンプル吐出高さまで下移動する。サンプル吐出高さで被検試料又はキャリブレータを反応容器4に吐出した後に、上停止点まで移動する。その後、R2方向のサンプル分注プローブ洗浄位置Dまで水平移動する。そして、同一被検試料又はキャリブレータの分注動作終了毎に、プローブ洗浄槽16aに下移動して洗浄される。   Then, in the sample dispensing operation for each cycle executed at the time of measurement, the sample dispensing probe 16 is moved, for example, from the sample dispensing probe cleaning position D to the test sample suction position B or calibrator suction horizontally moved in the R2 direction. After stopping the horizontal movement at the position C, it moves down to the liquid level detection position of the test sample or the calibrator in the sample container 17. After aspirating the test sample or calibrator, it moves to the upper stop point. Thereafter, the horizontal movement is stopped at the sample discharge position A after the horizontal movement in the R1 direction, and then the sample is moved down to the sample discharge height of the reaction vessel 4. After the test sample or calibrator is discharged to the reaction container 4 at the sample discharge height, it moves to the upper stop point. Then, it moves horizontally to the sample dispensing probe cleaning position D in the R2 direction. Then, every time the dispensing operation of the same test sample or calibrator is completed, it moves down to the probe cleaning tank 16a and is cleaned.

図5は、分析部19の試薬部21と反応部22の一部を上から見た図である。制御部32の制御部32r2は、システム制御部70からのキャリブレータ又は被検試料の測定指示や、システム制御部70からの第2試薬分注プローブ15の位置設定指示により位置設定部35から出力される第2試薬分注プローブ15の調整情報に基づいて、機構部31の移動機構31r2の回動機構31r2rを制御して、図5の破線で示した円移動軌跡に沿って矢印R1及びR2方向に第2試薬分注プローブ15を水平移動させる。   FIG. 5 is a view of the reagent part 21 and the reaction part 22 of the analysis part 19 as seen from above. The control unit 32r2 of the control unit 32 is output from the position setting unit 35 in response to the measurement instruction of the calibrator or the test sample from the system control unit 70 or the position setting instruction of the second reagent dispensing probe 15 from the system control unit 70. Based on the adjustment information of the second reagent dispensing probe 15, the rotation mechanism 31 r 2 r of the movement mechanism 31 r 2 of the mechanism unit 31 is controlled, and the directions of the arrows R 1 and R 2 along the circular movement locus indicated by the broken line in FIG. The second reagent dispensing probe 15 is moved horizontally.

第2試薬分注プローブ15の測定時に停止する円移動軌跡上の停止位置には、移動機構31r2の検出器31r2aによって検出される第2試薬分注プローブ15の基準位置92からR2方向に円移動軌跡上の所定距離離れた位置にある第2試薬吐出位置E、基準位置92からR1方向に円移動軌跡上の所定距離離れた位置にある第2試薬吸引位置F、及び第2試薬吐出位置Eと第2試薬吸引位置Fの間にあって基準位置90からR1方向に円移動軌跡上の所定距離離れた位置にある第2試薬分注プローブ洗浄位置Gがある。   The circle moves in the R2 direction from the reference position 92 of the second reagent dispensing probe 15 detected by the detector 31r2a of the moving mechanism 31r2 to the stop position on the circular movement locus that stops when the second reagent dispensing probe 15 is measured. Second reagent discharge position E at a predetermined distance on the locus, second reagent suction position F at a predetermined distance on the circular movement locus in the R1 direction from reference position 92, and second reagent discharge position E And a second reagent aspirating position F, and there is a second reagent dispensing probe cleaning position G at a position away from the reference position 90 by a predetermined distance on the circular movement locus in the R1 direction.

また、第2試薬分注プローブ15は、第2試薬吐出位置E、第2試薬吸引位置F、及び第2試薬分注プローブ洗浄位置Gの下方に配置された反応容器4内、試薬ボトル7b内、プローブ洗浄槽15a内との間を上下移動する。   Further, the second reagent dispensing probe 15 is disposed in the reaction container 4 and the reagent bottle 7b disposed below the second reagent dispensing position E, the second reagent suction position F, and the second reagent dispensing probe washing position G. Then, it moves up and down between the probe cleaning tank 15a.

なお、基準位置92は、第2試薬分注プローブ15の加工のばらつきや第2試薬分注アーム9の取り付け部の公差など装着の誤差要因が含まれないと仮定したときの位置であって、新たに第2試薬分注プローブ15を装着する毎に装着誤差要因の範囲で変動する。   The reference position 92 is a position when it is assumed that there are no mounting error factors such as variations in processing of the second reagent dispensing probe 15 and tolerances of the mounting portion of the second reagent dispensing arm 9. Each time the second reagent dispensing probe 15 is newly mounted, it varies within the range of the mounting error factor.

そして、測定時に実行される1サイクル毎の第2試薬分注動作で、第2試薬分注プローブ15は、例えば第2試薬分注プローブ洗浄位置GからR1方向に水平移動して第2試薬吸引位置Fで水平方向の移動を停止した後に、試薬ボトル7b内の第2試薬の液面検出位置まで下移動する。第2試薬を吸引した後に、上停止点まで移動する。その後、R2方向に水平移動して第2試薬吐出位置Eで水平方向の移動を停止した後に、反応容器4に第2試薬を吐出する。第2試薬を反応容器4に吐出した後に、R1方向の第2試薬分注プローブ洗浄位置Gまで水平移動する。そして、プール洗浄槽15aに下移動して洗浄される。   In the second reagent dispensing operation for each cycle executed at the time of measurement, the second reagent dispensing probe 15 moves horizontally from the second reagent dispensing probe cleaning position G in the R1 direction, for example, and sucks the second reagent. After stopping the horizontal movement at the position F, it moves down to the liquid level detection position of the second reagent in the reagent bottle 7b. After aspirating the second reagent, it moves to the upper stop point. Then, after moving horizontally in the R2 direction and stopping the horizontal movement at the second reagent discharge position E, the second reagent is discharged into the reaction container 4. After the second reagent is discharged into the reaction container 4, it moves horizontally to the second reagent dispensing probe cleaning position G in the R1 direction. And it moves down to the pool washing tank 15a and is washed.

なお、第1試薬分注プローブ14は、第2試薬分注プローブ15と同様に水平移動して各停止位置で水平方向の移動を停止した後に各停止位置で上下移動し、また第1試薬分注動作では、第2試薬分注動作と同様のシーケンスで動作するので説明を省略する。   The first reagent dispensing probe 14 moves horizontally in the same manner as the second reagent dispensing probe 15 and stops moving in the horizontal direction at each stop position, and then moves up and down at each stop position. The dispensing operation is performed in the same sequence as the second reagent dispensing operation, and thus description thereof is omitted.

次に、図6を参照して、サンプル分注プローブ16、第1試薬分注プローブ14、及び第2試薬分注プローブ15の各分注プローブの各停止位置を定めるために使用される位置設定の治具を、サンプル分注プローブ16のサンプル吐出位置Aを定める場合を例に説明する。   Next, referring to FIG. 6, the position setting used to determine each stop position of each dispensing probe of the sample dispensing probe 16, the first reagent dispensing probe 14, and the second reagent dispensing probe 15. This jig will be described taking as an example the case where the sample discharge position A of the sample dispensing probe 16 is determined.

図6(b)に示した治具80の上面は、この上面の中央部に形成された円形の凹部81と、中央部の外周部に形成された上面の中心部に向かって下り勾配の傾斜面82aと、凹部81の底面に形成された底面の中心部に向かって下り勾配の傾斜面82bと、この傾斜面82bの中心部に形成された円形の中心面83とにより構成される。   The upper surface of the jig 80 shown in FIG. 6B has a circular recess 81 formed at the center of the upper surface, and a downward slope toward the center of the upper surface formed at the outer periphery of the center. A surface 82a, an inclined surface 82b that is inclined downward toward the center of the bottom surface formed on the bottom surface of the recess 81, and a circular center surface 83 formed at the center of the inclined surface 82b.

図6(a)は、治具80の中心面83を含む鉛直方向の断面を示した図である。治具80の上面の傾斜面82aよりも低い凹部81の底面に傾斜面82bが形成され、この傾斜面82bの最も低い位置に水平な中心面83が形成されている。   FIG. 6A is a view showing a vertical section including the center surface 83 of the jig 80. An inclined surface 82b is formed on the bottom surface of the concave portion 81 lower than the inclined surface 82a on the upper surface of the jig 80, and a horizontal center surface 83 is formed at the lowest position of the inclined surface 82b.

治具80は、サンプル吐出位置Aにおける反応容器4上面中央部の上方に治具80の中心面83が位置されるように取り付けられる。以下の説明では、配置された治具80の中心面83から図6に示した矢印R1方向の側を左側と呼び、矢印R2方向の側を右側と呼ぶことにする。   The jig 80 is attached so that the center surface 83 of the jig 80 is positioned above the center of the upper surface of the reaction container 4 at the sample discharge position A. In the following description, the side in the arrow R1 direction shown in FIG. 6 from the center plane 83 of the jig 80 arranged will be referred to as the left side, and the side in the arrow R2 direction will be referred to as the right side.

サンプル吐出位置Aに配置された治具80上面の上方を各分注プローブが水平移動して通過するのに要する距離を、治具80上面の幅と見なして各分注プローブ装着の誤差範囲よりも大きいΦ1とし、傾斜面82b上を各分注プローブが水平移動して通過するのに要する距離を傾斜面82bの幅と見なしてΦ2とし、中心面83上を各分注プローブが水平移動して通過するのに要する距離を中心面83の幅と見なしてΦ3とする。この距離Φ3は、各停止位置を定める時の許容誤差に当たる。また、凹部81の側面の高さhとする。   The distance required for each of the dispensing probes to move horizontally above the upper surface of the jig 80 arranged at the sample discharge position A is regarded as the width of the upper surface of the jig 80, and the error range of each dispensing probe is determined. Φ1, and the distance required for each dispensing probe to move horizontally on the inclined surface 82b is assumed to be Φ2 with the width of the inclined surface 82b taken as the width, and each dispensing probe horizontally moves on the center surface 83. The distance required to pass through is regarded as the width of the center plane 83 and is defined as Φ3. This distance Φ3 corresponds to an allowable error when determining each stop position. Further, the height h of the side surface of the recess 81 is set.

治具80は、金属材などの導電性材料で製作されている。サンプル分注プローブ16が治具80上方から下移動して治具80の上面と接触した時に、液面検出器18aで治具80を検出して分析制御部30の制御部32sに出力し、制御部32sは液面検出器18aからの治具の検出信号を受信した時点で、サンプル分注プローブ16の下移動動作を停止させる。   The jig 80 is made of a conductive material such as a metal material. When the sample dispensing probe 16 moves down from above the jig 80 and contacts the upper surface of the jig 80, the liquid level detector 18a detects the jig 80 and outputs it to the control unit 32s of the analysis control unit 30. The control unit 32s stops the downward movement operation of the sample dispensing probe 16 when receiving the jig detection signal from the liquid level detector 18a.

なお、サンプル吸引位置の試料容器17を保持するディスクサンプラ6上やプローブ洗浄槽16aの上に治具80を配置することにより、サンプル吸引位置やサンプル分注プローブ洗浄位置Dの設定に使用することができる。   It should be noted that the jig 80 is disposed on the disk sampler 6 holding the sample container 17 at the sample suction position or on the probe cleaning tank 16a to be used for setting the sample suction position or the sample dispensing probe cleaning position D. Can do.

また、第1試薬吐出位置の反応容器4、第1試薬吸引位置の試薬ボトル7a又は試薬ボトル7aが保持される試薬庫2、及び第1試薬分注プローブ洗浄位置のプローブ洗浄槽14a上に治具80を配置することにより、第1試薬分注プローブ14の第1試薬吐出位置、第1試薬吸引位置、及び第1試薬分注プローブ洗浄位置の設定に使用することができる。   In addition, the process is performed on the reaction container 4 at the first reagent discharge position, the reagent bottle 7a at the first reagent suction position or the reagent storage 2 in which the reagent bottle 7a is held, and the probe cleaning tank 14a at the first reagent dispensing probe cleaning position. By disposing the tool 80, the first reagent dispensing probe 14 can be used for setting the first reagent discharge position, the first reagent aspirating position, and the first reagent dispensing probe washing position.

更に、第2試薬吐出位置Eの反応容器4、第2試薬吸引位置Fの試薬ボトル7b又は試薬ボトル7bが保持される試薬庫3、及び第2試薬分注プローブ洗浄位置Gのプローブ洗浄槽15a上に治具80を配置することにより、第2試薬分注プローブ15の第2試薬吐出位置E、第2試薬吸引位置F、及び第2試薬分注プローブ洗浄位置Gの設定に使用することができる。   Furthermore, the reaction container 4 at the second reagent discharge position E, the reagent bottle 7b at the second reagent suction position F or the reagent storage 3 in which the reagent bottle 7b is held, and the probe cleaning tank 15a at the second reagent dispensing probe cleaning position G By arranging the jig 80 on the upper side, the second reagent dispensing probe 15 can be used for setting the second reagent discharge position E, the second reagent suction position F, and the second reagent dispensing probe cleaning position G. it can.

次に、図1乃至図17を参照して、各分注プローブの各停止位置を定める動作を説明する。   Next, with reference to FIG. 1 thru | or FIG. 17, the operation | movement which determines each stop position of each dispensing probe is demonstrated.

サンプル分注プローブ16、第1試薬分注プローブ14、及び第2試薬分注プローブ15の各分注プローブの各停止位置は予め設定されており、各停止位置における位置データは、分析制御部30の各制御部32s,32r1,32r2内部の記憶回路に登録されている。   Each stop position of each dispensing probe of the sample dispensing probe 16, the first reagent dispensing probe 14, and the second reagent dispensing probe 15 is set in advance, and the position data at each stopping position is the analysis control unit 30. Are registered in a storage circuit inside each of the control units 32s, 32r1, and 32r2.

各分注プローブの各停止位置を定めるための動作はすべて同じであるので、以下ではサンプル分注プローブ16のサンプル吐出位置Aを定める場合の例を説明する。   Since the operation for determining each stop position of each dispensing probe is the same, an example in which the sample discharge position A of the sample dispensing probe 16 is determined will be described below.

図7乃至図9は、サンプル分注プローブ16のサンプル吐出位置Aを定める動作を示したフローチャートである。図7及び図8のフローチャートでは、サンプル分注プローブ16を治具80の上面に移動させて、液面検出器18aで検出された検出位置が治具80の凹部81内外のいずれかを判断し、更に検出位置が凹部81の外側の傾斜面82aである場合には凹部81内の傾斜面82bを検出するまでの動作を示している。また、図9のフローチャートでは、治具80の凹部81内の検出位置から中心面83を検出するまでの動作を示している。   7 to 9 are flowcharts showing the operation of determining the sample discharge position A of the sample dispensing probe 16. 7 and 8, the sample dispensing probe 16 is moved to the upper surface of the jig 80 to determine whether the detection position detected by the liquid level detector 18a is inside or outside the recess 81 of the jig 80. Furthermore, when the detection position is the inclined surface 82a outside the recess 81, the operation until the inclined surface 82b in the recess 81 is detected is shown. Further, the flowchart of FIG. 9 shows the operation from the detection position in the recess 81 of the jig 80 until the center plane 83 is detected.

図7では、検出位置が治具80の凹部81の左側の傾斜面82a又は凹部81内の左側の傾斜面82bである場合に、凹部81内の左側又は右側の傾斜面82bを検出するまでの動作の一例を示したフローチャートである。   In FIG. 7, when the detection position is the left inclined surface 82a of the concave portion 81 of the jig 80 or the left inclined surface 82b in the concave portion 81, the left or right inclined surface 82b in the concave portion 81 is detected. It is the flowchart which showed an example of operation | movement.

自動分析装置100の作業者による例えば据付や点検の時に、分析部19の反応部22のサンプル吐出位置Aの反応容器4上に治具80が配置されている。そして、新しいサンプル分注プローブ16がサンプル分注アーム10に装着され、図4に示した円移動軌跡上を水平移動可能なように予め調整される。   A jig 80 is disposed on the reaction container 4 at the sample discharge position A of the reaction unit 22 of the analysis unit 19 at the time of installation or inspection by an operator of the automatic analyzer 100, for example. Then, a new sample dispensing probe 16 is mounted on the sample dispensing arm 10 and adjusted in advance so as to be horizontally movable on the circular movement locus shown in FIG.

そして、操作部60からサンプル分注プローブ16のサンプル吐出位置Aを定める操作が行われると、自動分析装置100は、サンプル分注プローブ16のサンプル吐出位置設定動作を開始する(ステップS1)。   And if operation which determines the sample discharge position A of the sample dispensing probe 16 is performed from the operation part 60, the automatic analyzer 100 will start the sample discharge position setting operation | movement of the sample dispensing probe 16 (step S1).

システム制御部70は、位置設定部35にサンプル分注プローブ16のサンプル吐出位置Aの設定を指示する。位置設定部35の調整位置設定部36は、分析制御部30の制御部32に指示して図6(a)に示した基準位置90aにサンプル分注プローブ16を水平移動させる(ステップS2)。   The system control unit 70 instructs the position setting unit 35 to set the sample discharge position A of the sample dispensing probe 16. The adjustment position setting unit 36 of the position setting unit 35 instructs the control unit 32 of the analysis control unit 30 to horizontally move the sample dispensing probe 16 to the reference position 90a shown in FIG. 6A (step S2).

この基準位置90aは、分析制御部30の移動機構31sの検出器31saにより検出され、基準位置90に対してサンプル分注プローブ16の装着誤差が含まれている可能性がある位置である。この装着誤差は、装着の誤差範囲内で装着毎に基準位置90からR1方向及びR2方向に変動する。また、装着したときに装着誤差が生じないで基準位置90に設定されることもある。   The reference position 90 a is a position that is detected by the detector 31 sa of the moving mechanism 31 s of the analysis control unit 30, and may include a mounting error of the sample dispensing probe 16 with respect to the reference position 90. This mounting error varies in the R1 direction and the R2 direction from the reference position 90 for each mounting within the mounting error range. In addition, there is a case where the reference position 90 is set without causing a mounting error when mounted.

次いで、調整位置設定部36は、サンプル吐出位置Aへの移動を目指して、サンプル分注プローブ16を基準位置90aからR1方向にDs1の距離にある第1ポイントRの調整位置に設定するための第1の調整情報を、制御部32s及び位置データ生成部37に出力する。   Next, the adjustment position setting unit 36 sets the sample dispensing probe 16 to the adjustment position of the first point R at a distance of Ds1 from the reference position 90a in the R1 direction with the aim of moving to the sample discharge position A. The first adjustment information is output to the control unit 32 s and the position data generation unit 37.

制御部32sは、調整位置設定部36からの第1の調整情報に基づいて、基準位置90aから第1ポイントRの調整位置まで水平移動させるために機構部31の回動機構31srのモータ31srmに第1の調整情報である第1の水平移動パルスを供給して、サンプル分注プローブ16を第1ポイントRの調整位置に水平移動させた後に、第1ポイントRの調整位置から分析部19の液面検出器18aによって検出される治具80上面の第1の検出位置まで下移動させる(ステップS3)。   Based on the first adjustment information from the adjustment position setting unit 36, the control unit 32s causes the motor 31srm of the rotation mechanism 31sr of the mechanism unit 31 to move horizontally from the reference position 90a to the adjustment position of the first point R. After supplying the first horizontal movement pulse which is the first adjustment information and horizontally moving the sample dispensing probe 16 to the adjustment position of the first point R, the analysis unit 19 starts from the adjustment position of the first point R. The jig 80 is moved down to the first detection position on the upper surface of the jig 80 detected by the liquid level detector 18a (step S3).

なお、基準位置90aからDs1距離だけ水平移動した後のサンプル分注プローブ16は、装着の誤差範囲よりも大きい治具80の上方に位置している。   Note that the sample dispensing probe 16 after being horizontally moved by the distance Ds1 from the reference position 90a is located above the jig 80 that is larger than the mounting error range.

そして、制御部32sは、サンプル分注プローブ16を第1ポイントRの調整位置から第1の検出位置まで下移動させるために機構部31の上下移動機構31suのモータ31sumに供給した下降パルスの情報を位置設定部35の位置データ生成部37に出力する。その後、サンプル分注プローブ16を第1の検出位置から上停止点まで移動させる。   And the control part 32s is the information of the downward pulse supplied to the motor 31sum of the vertical movement mechanism 31su of the mechanism part 31 in order to move the sample dispensing probe 16 downward from the adjustment position of the 1st point R to the 1st detection position. Is output to the position data generation unit 37 of the position setting unit 35. Thereafter, the sample dispensing probe 16 is moved from the first detection position to the upper stop point.

位置データ生成部37は、調整位置設定部36から出力された第1の調整情報及び制御部32sから出力された下降パルスの情報に基づいて、基準位置90aと第1ポイントRの調整位置の間の距離に対応する第1の水平移動パルスを第1の水平移動距離データとし、第1ポイントRの調整位置と第1の検出位置の間の距離に対応する下降パルスを第1の下移動距離データとした第1の検出位置の位置データを生成して位置データ記憶部38に保存する(ステップS4)。   Based on the first adjustment information output from the adjustment position setting unit 36 and the information on the descending pulse output from the control unit 32 s, the position data generation unit 37 is located between the reference position 90 a and the adjustment position of the first point R. The first horizontal movement pulse corresponding to the distance is set as the first horizontal movement distance data, and the downward pulse corresponding to the distance between the adjustment position of the first point R and the first detection position is set as the first lower movement distance. Position data of the first detection position as data is generated and stored in the position data storage unit 38 (step S4).

調整位置設定部36は、サンプル吐出位置Aを目指した第1の検出位置が治具80の中心面83であるか否かを判断するために、第1ポイントRの調整位置をR2方向に微調整してサンプル分注プローブ16を第2ポイントRの調整位置に設定するための第2の調整情報を制御部32s及び位置データ生成部37に出力する。   The adjustment position setting unit 36 determines the adjustment position of the first point R in the R2 direction in order to determine whether or not the first detection position aimed at the sample discharge position A is the center plane 83 of the jig 80. The second adjustment information for adjusting and setting the sample dispensing probe 16 to the adjustment position of the second point R is output to the control unit 32 s and the position data generation unit 37.

制御部32sは、調整位置設定部36からの第2の調整情報に基づいて、モータ31srmにR2方向への微調整パルスを供給して、サンプル分注プローブ16を第1ポイントRの調整位置から微調整距離(Φ3)離れた位置、即ち基準位置90aからR1方向に(Ds1−Φ3)の距離にある第2ポイントRの調整位置に水平移動させた後に、第2ポイントRの調整位置から液面検出器18aによって検出される治具80上面の第2の検出位置まで下移動させる(ステップS5)。   Based on the second adjustment information from the adjustment position setting unit 36, the control unit 32s supplies a fine adjustment pulse in the R2 direction to the motor 31srm to move the sample dispensing probe 16 from the adjustment position of the first point R. After moving horizontally to the adjustment position of the second point R that is a distance of (Ds1-Φ3) from the reference position 90a in the R1 direction to the position away from the fine adjustment distance (Φ3), the liquid from the adjustment position of the second point R The jig 80 is moved down to the second detection position on the upper surface of the jig 80 detected by the surface detector 18a (step S5).

なお、モータ31srmに供給する微調整パルスを、サンプル分注プローブ16の水平移動可能な最小の距離に対応する1パルスに設定し、より細かく調整位置を設定するようにしてもよい。   The fine adjustment pulse supplied to the motor 31srm may be set to one pulse corresponding to the minimum distance that the sample dispensing probe 16 can move horizontally, and the adjustment position may be set more finely.

そして、制御部32sは、サンプル分注プローブ16を第2ポイントRの調整位置から第2の検出位置に下移動させるためにモータ31sumに供給した下降パルスの情報を位置データ生成部37に出力する。その後、サンプル分注プローブ16を第2の検出位置から上停止点まで移動させる。   Then, the control unit 32s outputs, to the position data generation unit 37, information on the descending pulse supplied to the motor 31sum in order to move the sample dispensing probe 16 downward from the adjustment position of the second point R to the second detection position. . Thereafter, the sample dispensing probe 16 is moved from the second detection position to the upper stop point.

位置データ生成部37は、調整位置設定部36から出力された第2の調整情報及び制御部32sから出力された下降パルスの情報に基づいて、第1の水平移動パルスから微調整パルスを差し引いた第2の水平移動パルスを算出した後に、基準位置90aと第1ポイントRの調整位置の間の距離に対応する第2の水平移動パルスを第2の水平移動距離データとし、第2ポイントRの調整位置と第2の検出位置の間の距離に対応する下降パルスを第2の下移動距離データとした第2の検出位置の位置データを生成して位置データ記憶部38に保存する(ステップS6)。   The position data generation unit 37 subtracts the fine adjustment pulse from the first horizontal movement pulse based on the second adjustment information output from the adjustment position setting unit 36 and the information on the descending pulse output from the control unit 32s. After calculating the second horizontal movement pulse, the second horizontal movement pulse corresponding to the distance between the reference position 90a and the adjustment position of the first point R is used as the second horizontal movement distance data, and the second point R Position data of the second detection position is generated using the descending pulse corresponding to the distance between the adjustment position and the second detection position as second downward movement distance data, and stored in the position data storage unit 38 (step S6). ).

調整位置設定部36は、位置データ記憶部38から第1及び第2の検出位置の位置データを読み出した後に、第1及び第2の検出位置の位置データの第1の下移動距離データと第2の下移動距離データを比較する。そして、第1及び第2の検出位置が、図11(a)に示した治具80の左側の傾斜面82a、又は左側の傾斜面82a及び傾斜面82b、又は左側の傾斜面82b、又は左側の傾斜面82b及び中心面83、又は中心面83、又は中心面83及び右側の傾斜面82b、又は右側の傾斜面82b、又は右側の傾斜面82b及び傾斜面82a、又は右側の傾斜面82aのいずれの位置であるかを判断する。   The adjustment position setting unit 36 reads the position data of the first and second detection positions from the position data storage unit 38, and then the first downward movement distance data and the first of the position data of the first and second detection positions. 2. Compare the two travel distance data. The first and second detection positions are the left inclined surface 82a, the left inclined surface 82a and the inclined surface 82b, or the left inclined surface 82b, or the left side of the jig 80 shown in FIG. Of the inclined surface 82b and the center surface 83, or the center surface 83, the center surface 83 and the right inclined surface 82b, the right inclined surface 82b, the right inclined surface 82b and the inclined surface 82a, or the right inclined surface 82a. The position is determined.

そして、第2の下移動距離データ(DR2)が第1の下移動距離データ(DR1)よりも大きい場合(ステップS7のはい)、図10(a)に示すように、第1及び第2の検出位置を左側の傾斜面82a、又は左側の傾斜面82a及び傾斜面82b、又は左側の傾斜面82b、又は左側の傾斜面82b及び中心面83であると判断してステップS8に移行する。   When the second downward movement distance data (DR2) is larger than the first downward movement distance data (DR1) (Yes in step S7), as shown in FIG. The detection position is determined to be the left inclined surface 82a, the left inclined surface 82a and the inclined surface 82b, or the left inclined surface 82b, or the left inclined surface 82b and the center surface 83, and the process proceeds to step S8.

また、第2の下移動距離データが第1の下移動距離データと同じであるか又は第1の下移動距離データよりも小さい場合(ステップS7のいいえ)、第1及び第2の検出位置を、図12(b)に示した中心面83、又は図12(c)に示すように、中心面83及び右側の傾斜面82b、又は右側の傾斜面82b、又は右側の傾斜面82b及び傾斜面82a、又は右側の傾斜面82aと判断して図8のステップS21に移行する。   If the second downward movement distance data is the same as the first downward movement distance data or smaller than the first downward movement distance data (No in step S7), the first and second detection positions are set. 12 (b), or as shown in FIG. 12 (c), the central plane 83 and the right inclined plane 82b, or the right inclined plane 82b, or the right inclined plane 82b and the inclined plane. 82a or the right inclined surface 82a is determined, and the process proceeds to step S21 in FIG.

次いで、第2の下移動距離データと第1の下移動距離データとの差と、治具80の凹部81における側面の高さhとを比較する。そして、第2の下移動距離データから第1の下移動距離データを差し引いた差のデータが側面の高さhよりも大きいか又はhと同じである場合(ステップS8のはい)、図10(b)に示すように、第1及び第2の検出位置を左側の傾斜面82a及び傾斜面82bであると判断して図9のステップS31に移行する。   Next, the difference between the second downward movement distance data and the first downward movement distance data is compared with the height h of the side surface of the concave portion 81 of the jig 80. If the difference data obtained by subtracting the first downward movement distance data from the second downward movement distance data is greater than or equal to the height h of the side surface (Yes in step S8), FIG. As shown in b), the first and second detection positions are determined to be the left inclined surface 82a and the inclined surface 82b, and the process proceeds to step S31 in FIG.

また、第2の下移動距離データから第1の下移動距離データを差し引いた差のデータが側面の高さhよりも小さい場合(ステップS8のいいえ)、第1及び第2の検出位置を左側の傾斜面82a、又は左側の傾斜面82b、又は左側の傾斜面82b及び中心面83と判断してステップS9に移行する。   If the difference data obtained by subtracting the first downward movement distance data from the second downward movement distance data is smaller than the height h of the side surface (No in step S8), the first and second detection positions are set to the left side. Are determined to be the inclined surface 82a, the left inclined surface 82b, or the left inclined surface 82b and the center surface 83, and the process proceeds to step S9.

調整位置設定部36は、治具80の左側の傾斜面82b又は中心面83への移動を目指して、第(m+1)ポイントRの調整位置(m=1)からR2方向に粗調整して、サンプル分注プローブ16を第(m+2)ポイントRの調整位置に設定するための第(m+2)の調整情報を、制御部32s及び位置データ生成部37に出力する。   The adjustment position setting unit 36 makes a rough adjustment in the R2 direction from the adjustment position (m = 1) of the (m + 1) -th point R in order to move the jig 80 to the left inclined surface 82b or the center plane 83, The (m + 2) th adjustment information for setting the sample dispensing probe 16 to the adjustment position of the (m + 2) th point R is output to the control unit 32s and the position data generation unit 37.

なお、第(m+2)ポイントRの調整位置は、モータ31srmに粗調整パルスを供給させることにより、微調整距離よりも大きくサンプル分注プローブ16が水平に円移動して治具80の凹部81上を通過するのに要する距離(即ち、凹部81の直径に近似した距離)の半分か又は半分よりも短い距離に相当する粗調整距離Φ4だけ水平移動させた位置であって、基準位置90aからR1方向にほぼ(Ds1−Φ3―m×Φ4)の距離にある。粗調整距離を、サンプル分注プローブ16が水平に円移動して治具80の凹部81上を通過するのに要する距離と同じか又はその距離の半分よりも長い距離としてもよい。   Note that the adjustment position of the (m + 2) -th point R is such that when the coarse adjustment pulse is supplied to the motor 31 srm, the sample dispensing probe 16 moves horizontally in a circle larger than the fine adjustment distance, and on the concave portion 81 of the jig 80. Is a position horizontally moved by a rough adjustment distance Φ4 corresponding to half or a distance shorter than half of the distance required to pass through (that is, the distance approximate to the diameter of the recess 81) from the reference position 90a to R1 The distance is approximately (Ds1-Φ3-m × Φ4) in the direction. The rough adjustment distance may be equal to or longer than half the distance required for the sample dispensing probe 16 to move horizontally and pass over the recess 81 of the jig 80.

制御部32sは、調整位置設定部36から出力された第(m+2)の調整情報に基づいて、モータ31srmにR2方向への粗調整パルスを供給してサンプル分注プローブ16を基準位置90aから第(m+2)ポイントRの調整位置に水平移動させた後に、第(m+2)ポイントRの調整位置から治具80上面の第(m+2)の検出位置まで下移動させる(ステップS9)。   Based on the (m + 2) th adjustment information output from the adjustment position setting unit 36, the control unit 32s supplies a rough adjustment pulse in the R2 direction to the motor 31srm to move the sample dispensing probe 16 from the reference position 90a. After moving horizontally to the (m + 2) point R adjustment position, it is moved down from the (m + 2) point R adjustment position to the (m + 2) detection position on the upper surface of the jig 80 (step S9).

そして、制御部32sは、サンプル分注プローブ16を第(m+2)ポイントRの調整位置から第(m+2)の検出位置に下移動させるためにモータ31sumに供給した下降パルスの情報を、位置設定部35の位置データ生成部37に出力する。そして、サンプル分注プローブ16を第(m+2)の検出位置から上停止点まで移動させる。   Then, the control unit 32s uses the position setting unit to send information about the descending pulse supplied to the motor 31sum in order to move the sample dispensing probe 16 downward from the adjustment position of the (m + 2) point R to the (m + 2) detection position. It outputs to 35 position data generation part 37. Then, the sample dispensing probe 16 is moved from the (m + 2) th detection position to the upper stop point.

位置データ生成部37は、調整位置設定部36から出力された第(m+2)の調整情報及び制御部32sから出力された下降パルスの情報に基づいて、第(m+1)の水平移動パルスから粗調整パルスを差し引いた第(m+2)の水平移動パルスを算出した後に、基準位置90aと第(m+2)ポイントRの調整位置の間の距離に対応する第(m+2)の水平移動パルスを第(m+2)の水平移動距離データとし、第(m+2)ポイントRの調整位置と第(m+2)の検出位置との間の距離に対応する下降パルスを第(m+2)の下移動距離データとした第(m+2)の検出位置の位置データを生成して位置データ記憶部38に保存する(ステップS10)。   The position data generation unit 37 performs rough adjustment from the (m + 1) th horizontal movement pulse based on the (m + 2) th adjustment information output from the adjustment position setting unit 36 and the information on the descending pulse output from the control unit 32s. After calculating the (m + 2) th horizontal movement pulse obtained by subtracting the pulse, the (m + 2) th horizontal movement pulse corresponding to the distance between the reference position 90a and the (m + 2) th point R adjustment position is the (m + 2) th. The (m + 2) th (m + 2) th moving distance data is the (m + 2) th moving distance data, and the falling pulse corresponding to the distance between the (m + 2) th point R adjustment position and the (m + 2) th detection position is the (m + 2) th lower movement distance data. Is generated and stored in the position data storage unit 38 (step S10).

調整位置設定部36は、位置データ記憶部38から最新の調整位置から生成された第(m+2)の位置データと前回の第(m+1)の位置データとを読み出した後に、第(m+2)の位置データの第(m+2)の下移動距離データと第(m+1)の位置データの第(m+1)の下移動距離データとを比較する。   The adjustment position setting unit 36 reads the (m + 2) th position data and the previous (m + 1) th position data generated from the latest adjustment position from the position data storage unit 38, and then reads the (m + 2) th position data. The (m + 2) th downward movement distance data of the data is compared with the (m + 1) th downward movement distance data of the (m + 1) th position data.

そして、第(m+2)の下移動距離データ{DR(m+2)}が第(m+1)の下移動距離データ{DR(m+1)}よりも大きい場合(ステップS11のはい)、第(m+1)及び第(m+2)の検出位置を、図12(a)に示した左側の傾斜面82a、又は左側の傾斜面82a及び傾斜面82b、又は左側の傾斜面82b、又は左側の傾斜面82b及び中心面83、又は図17(a)に示した左側及び右側の傾斜面82bであると判断してステップS12に移行する。   When the (m + 2) th downward movement distance data {DR (m + 2)} is larger than the (m + 1) th downward movement distance data {DR (m + 1)} (Yes in step S11), The detection position of (m + 2) is set to the left inclined surface 82a, the left inclined surface 82a and the inclined surface 82b, or the left inclined surface 82b, or the left inclined surface 82b and the center surface 83 shown in FIG. Alternatively, it is determined that the left and right inclined surfaces 82b shown in FIG. 17A are present, and the process proceeds to step S12.

また、第(m+2)の下移動距離データが第(m+1)の下移動距離データと同じであるか又は第(m+1)の下移動距離データよりも小さい場合(ステップS11のいいえ)、第(m+1)及び第(m+2)の検出位置を、図17(b)に示した左側及び右側の傾斜面82b、又は中心面83及び右側の傾斜面82b、又は右側の傾斜面82b、即ち第(m+2)の検出位置を右側の傾斜面82bであると判断して図9のステップS41に移行する。   If the (m + 2) th downward movement distance data is the same as the (m + 1) th downward movement distance data or smaller than the (m + 1) th downward movement distance data (No in step S11), the (m + 1) th ) And (m + 2) detection positions are the left and right inclined surfaces 82b shown in FIG. 17B, or the center surface 83 and the right inclined surface 82b, or the right inclined surface 82b, that is, the (m + 2) th. Is detected as the right inclined surface 82b, and the process proceeds to step S41 in FIG.

そして、第(m+2)の下移動距離データから第(m+1)の下移動距離データを差し引いた差のデータが側面の高さhよりも大きいか又はhと同じである場合(ステップS12のはい)、図11(b)に示すように、第(m+1)及び第(m+2)の検出位置を左側の傾斜面82a及び傾斜面82bであると判断して図9のステップS31に移行する。   If the difference data obtained by subtracting the (m + 1) th downward movement distance data from the (m + 2) th downward movement distance data is greater than or equal to the side height h (Yes in step S12). As shown in FIG. 11B, the (m + 1) th and (m + 2) detection positions are determined to be the left inclined surface 82a and the inclined surface 82b, and the process proceeds to step S31 in FIG.

また、第(m+2)の下移動距離データから第(m+1)の下移動距離データを差し引いた差のデータが側面の高さhよりも小さい場合(ステップS12のいいえ)、第(m+1)及び第(m+2)の検出位置を左側の傾斜面82a、又は左側の傾斜面82b、又は左側の傾斜面82b及び中心面83、又は左側及び右側の傾斜面82bであると判断してステップS9に戻る。   If the difference data obtained by subtracting the (m + 1) th downward movement distance data from the (m + 2) th downward movement distance data is smaller than the side surface height h (No in step S12), the (m + 1) th and The detection position of (m + 2) is determined to be the left inclined surface 82a, the left inclined surface 82b, the left inclined surface 82b and the central surface 83, or the left and right inclined surfaces 82b, and the process returns to step S9.

このように、第m及び第(m+1)の下移動距離データが異なる場合、第m及び第(m+1)の下移動距離データの大きい方のデータの調整位置から小さい方のデータの調整位置とは反対側の方向に次の調整位置を設定することにより、サンプル分注プローブ16を治具80の中心面83の方向に設定することができる。   In this way, when the m-th and (m + 1) th downward movement distance data are different, the adjustment position of the smaller data from the adjustment position of the larger data of the m-th and (m + 1) th downward movement distance data is the same. By setting the next adjustment position in the opposite direction, the sample dispensing probe 16 can be set in the direction of the center plane 83 of the jig 80.

また、第m及び第(m+1)の検出位置が治具80の左側の傾斜面82a、又は傾斜面82b、又は左側の傾斜面82b及び中心面83にある場合、R2方向に粗調整して第(m+2)ポイントの調整位置を設定することにより、微調整して設定するよりも少ない調整位置の設定回数で凹部81内の傾斜面82bを判断することができる。   Further, when the m-th and (m + 1) -th detection positions are on the left inclined surface 82a, the inclined surface 82b, or the left inclined surface 82b and the center surface 83 of the jig 80, a rough adjustment is performed in the R2 direction. By setting the adjustment position of the (m + 2) point, the inclined surface 82b in the recess 81 can be determined with a smaller number of adjustment position settings than fine adjustment.

図8は、検出位置が治具80の凹部81の右側の傾斜面82a又は凹部81内の右側の傾斜面82bである場合に、凹部81内の右側又は左側の傾斜面82bを検出するまでの動作の一例を示したフローチャートである。   FIG. 8 shows the process up to detecting the right or left inclined surface 82b in the recess 81 when the detection position is the right inclined surface 82a of the recess 81 of the jig 80 or the right inclined surface 82b in the recess 81. It is the flowchart which showed an example of operation | movement.

図7におけるステップS7の「いいえ」で第1及び第2の検出位置を中心面83、又は中心面83及び右側の傾斜面82b、又は右側の傾斜面82b、又は右側の傾斜面82b及び傾斜面82a、又は傾斜面82aであると判断した後に、第2の下移動距離データ(DR2)と第1の下移動距離データ(DR1)が同じである場合(ステップS21のはい)、調整位置設定部36は、図12(b)に示すように、第1及び第2の検出位置を治具80の中心面83であると判断し、図9のステップS51に移行する。   In step S7 of FIG. 7, the first and second detection positions are set to the center plane 83, the center plane 83 and the right inclined plane 82b, the right inclined plane 82b, or the right inclined plane 82b and the inclined plane. If the second downward movement distance data (DR2) and the first downward movement distance data (DR1) are the same (Yes in step S21) after determining that it is 82a or the inclined surface 82a, the adjustment position setting unit As shown in FIG. 12B, 36 determines that the first and second detection positions are the center plane 83 of the jig 80, and proceeds to step S51 of FIG.

このように、サンプル分注プローブ16の装着誤差が許容誤差範囲内である場合には、2つの調整位置を設定するだけで治具80の中心面83を検出することができる。   As described above, when the mounting error of the sample dispensing probe 16 is within the allowable error range, the center plane 83 of the jig 80 can be detected only by setting two adjustment positions.

また、第2の下移動距離データが第1の下移動距離データよりも小さい場合(ステップS21のいいえ)、図12(c)に示すように、第1及び第2の検出位置を中心面83及び右側の傾斜面82b、又は右側の傾斜面82b、又は右側の傾斜面82b及び傾斜面82a、又は右側の傾斜面82aであると判断してステップS22に移行する。   If the second downward movement distance data is smaller than the first downward movement distance data (No in step S21), the first and second detection positions are set to the center plane 83 as shown in FIG. Then, the right inclined surface 82b, the right inclined surface 82b, the right inclined surface 82b and the inclined surface 82a, or the right inclined surface 82a is determined, and the process proceeds to step S22.

次いで、第1の下移動距離データから第2の下移動距離データを差し引いた差のデータと、治具80の凹部81における側面の高さhとを比較する。そして、第1の下移動距離データから第2の下移動距離データを差し引いた差のデータが側面の高さhよりも大きいか又はhと同じである場合(ステップS22のはい)、図13(a)に示すように、第1及び第2の検出位置を右側の傾斜面82b及び傾斜面82aであると判断して図9のステップS41に移行する。   Next, the difference data obtained by subtracting the second lower movement distance data from the first lower movement distance data is compared with the height h of the side surface of the concave portion 81 of the jig 80. When the difference data obtained by subtracting the second downward movement distance data from the first downward movement distance data is larger than or equal to the height h of the side surface (Yes in step S22), FIG. As shown in a), the first and second detection positions are determined to be the right inclined surface 82b and the inclined surface 82a, and the process proceeds to step S41 in FIG.

また、第1の下移動距離データから第2の下移動距離データを差し引いた差のデータが側面の高さhよりも小さい場合(ステップS22のいいえ)、第1及び第2の検出位置を第1及び第2の検出位置を中心面83及び右側の傾斜面82b、又は右側の傾斜面82b、又は右側の傾斜面82aであると判断してステップS23に移行する。   If the difference data obtained by subtracting the second downward movement distance data from the first downward movement distance data is smaller than the height h of the side surface (No in step S22), the first and second detection positions are set to the first and second detection positions. The first and second detection positions are determined to be the center plane 83 and the right inclined surface 82b, or the right inclined surface 82b, or the right inclined surface 82a, and the process proceeds to step S23.

図8の以下の説明においては、ステップS22の「いいえ」の後の第2ポイントRの調整位置、第2の検出位置、及び第2の位置データを夫々第(n+1)ポイントLの調整位置(n=1)、第(n+1)の検出位置、及び第(n+1)の位置データに置き換えて説明する。   In the following description of FIG. 8, the adjustment position of the second point R, the second detection position, and the second position data after “No” in step S22 are respectively set to the adjustment positions of the (n + 1) th point L ( The description will be made with n = 1), (n + 1) th detection position, and (n + 1) th position data.

調整位置設定部36は、第(n+1)ポイントLの調整位置を粗調整して、右側の傾斜面82b又は中心面83の近傍への移動を目指して、サンプル分注プローブ16を第(n+2)ポイントLの調整位置のR1方向に設定するための第(n+2)の調整情報を制御部32s及び位置データ生成部37に出力する。   The adjustment position setting unit 36 roughly adjusts the adjustment position of the (n + 1) th point L, and moves the sample dispensing probe 16 to the (n + 2) th position in order to move to the vicinity of the right inclined surface 82b or the center surface 83. The (n + 2) th adjustment information for setting the adjustment position of the point L in the R1 direction is output to the control unit 32s and the position data generation unit 37.

制御部32sは、調整位置設定部36から出力された第(n+2)の調整情報に基づいて、モータ31srmにR1方向への粗調整パルスを供給してサンプル分注プローブ16を基準位置90aからR1方向に(Ds1―Φ3+n×Φ4)の距離にある第(n+2)ポイントLの調整位置に水平移動させた後に、第(n+2)ポイントLの調整位置から治具80上面の第(n+2)の検出位置まで下移動させる(ステップS23)。   Based on the (n + 2) th adjustment information output from the adjustment position setting unit 36, the control unit 32s supplies a rough adjustment pulse in the R1 direction to the motor 31srm to move the sample dispensing probe 16 from the reference position 90a to R1. (N + 2) detection of the upper surface of the jig 80 from the adjustment position of the (n + 2) point L after horizontal movement to the adjustment position of the (n + 2) point L that is a distance of (Ds1-Φ3 + n × Φ4) in the direction Move down to the position (step S23).

そして、制御部32sは、サンプル分注プローブ16を第(n+1)ポイントLの調整位置から第(n+2)Lの検出位置に下移動させるためにモータ31sumに供給した下降パルスの情報を、位置設定部35の位置データ生成部37に出力する。その後、サンプル分注プローブ16を第(n+2)の検出位置から上停止点まで移動させる。   Then, the control unit 32s sets the position of the information of the descending pulse supplied to the motor 31sum in order to move the sample dispensing probe 16 downward from the (n + 1) th point L adjustment position to the (n + 2) L detection position. The data is output to the position data generation unit 37 of the unit 35. Thereafter, the sample dispensing probe 16 is moved from the (n + 2) th detection position to the upper stop point.

位置データ生成部37は、調整位置設定部36から出力された第(n+2)の調整情報及び制御部32sから出力された下降パルスの情報に基づいて、第(n+1)の水平移動パルスから粗調整パルスを加算した第(n+2)の水平移動パルスを算出した後に、基準位置90aと第(n+2)ポイントLの調整位置の間の距離に対応する第(n+2)の水平移動パルスを第(n+2)の水平移動距離データとし、第(n+2)ポイントLの調整位置と第(n+2)の検出位置の間の距離に対応する下降パルスを第(n+2)の下移動距離データとした第(n+2)の検出位置の位置データを生成して位置データ記憶部38に保存する(ステップS24)。   The position data generation unit 37 performs rough adjustment from the (n + 1) th horizontal movement pulse based on the (n + 2) th adjustment information output from the adjustment position setting unit 36 and the information on the descending pulse output from the control unit 32s. After calculating the (n + 2) th horizontal movement pulse obtained by adding the pulses, the (n + 2) th horizontal movement pulse corresponding to the distance between the reference position 90a and the (n + 2) th point L adjustment position is the (n + 2) th. Horizontal movement distance data, and the (n + 2) th (n + 2) th lower movement distance data is a descending pulse corresponding to the distance between the (n + 2) th point L adjustment position and the (n + 2) th detection position. The position data of the detected position is generated and stored in the position data storage unit 38 (step S24).

調整位置設定部36は、位置データ記憶部38から最新の調整位置から生成された第(n+2)の位置データと第(n+1)の位置データとを読み出した後に、第(n+2)の下移動距離データと第(n+1)の下移動距離データとの差のデータと、治具80の凹部81における側面の高さhとを比較する。   The adjustment position setting unit 36 reads the (n + 2) th position data and the (n + 1) th position data generated from the latest adjustment position from the position data storage unit 38, and then moves the (n + 2) th downward movement distance. The difference data between the data and the (n + 1) th downward movement distance data is compared with the height h of the side surface of the recess 81 of the jig 80.

そして、第(n+2)の下移動距離データ{DL(n+2)}が第(n+1)の下移動距離データ{DL(n+1)}よりも大きい場合(ステップS25のはい)、第(n+1)及び第(n+2)の検出位置を図17(b)に示した左側及び右側の傾斜面82b、又は中心面83及び右側の傾斜面82b、又は右側の傾斜面82b及び傾斜面82a、又は図14(b)に示した右側の傾斜面82aであると判断してステップS26に移動する。   If the (n + 2) th downward movement distance data {DL (n + 2)} is larger than the (n + 1) th downward movement distance data {DL (n + 1)} (Yes in step S25), the (n + 1) th and The detection position of (n + 2) shown in FIG. 17B is the left and right inclined surfaces 82b, or the center surface 83 and the right inclined surface 82b, or the right inclined surfaces 82b and 82a, or FIG. ) And the process moves to step S26.

また、第(n+2)の下移動距離データが第(n+1)の下移動距離データと同じであるか又は第(n+1)の下移動距離データよりも小さい場合(ステップS25のいいえ)、第(n+1)及び第(n+2)の検出位置を左側の傾斜面82b及び中心面83、又は図17(a)に示した左側及び右側の傾斜面82b、即ち第(n+2)の検出位置を左側の傾斜面82bであると判断して図9のステップS31に移行する。   If the (n + 2) th downward movement distance data is the same as the (n + 1) th downward movement distance data or smaller than the (n + 1) th downward movement distance data (No in step S25), the (n + 1) th ) And (n + 2) detection positions on the left inclined surface 82b and the center plane 83, or the left and right inclined surfaces 82b shown in FIG. 17A, that is, the (n + 2) detection position on the left inclined surface. 82b is determined, and the process proceeds to step S31 in FIG.

そして、第(n+2)の下移動距離データから第(n+1)の下移動距離データを差し引いた差のデータが側面の高さhよりも大きいか又はhと同じである場合(ステップS26のはい)、図14(a)に示すように、第(n+1)及び第(n+2)の検出位置を右側の傾斜面82a及び傾斜面82bであると判断して図9のステップS41に移行する。   If the difference data obtained by subtracting the (n + 1) th downward movement distance data from the (n + 2) th downward movement distance data is greater than or equal to the side height h (Yes in step S26). As shown in FIG. 14A, the (n + 1) th and (n + 2) detection positions are determined to be the right inclined surface 82a and the inclined surface 82b, and the process proceeds to step S41 in FIG.

また、第(n+2)の下移動距離データから第(n+1)の下移動距離データを差し引いた差のデータが側面の高さhよりも小さい場合(ステップS26のいいえ)、第(n+1)及び(n+2)の検出位置を左側及び右側の傾斜面82b、又は中心面83及び右側の傾斜面82b、又は右側の傾斜面82aであると判断してステップS23に戻る。   If the difference data obtained by subtracting the (n + 1) th downward movement distance data from the (n + 2) th downward movement distance data is smaller than the side surface height h (No in step S26), the (n + 1) th and ( The n + 2) detection position is determined to be the left and right inclined surfaces 82b, or the center surface 83 and the right inclined surface 82b, or the right inclined surface 82a, and the process returns to step S23.

このように、第n及び第(n+1)の下移動距離データが異なる場合、第n及び第(n+1)の下移動距離データの大きい方のデータの調整位置から小さい方のデータの調整位置とは反対側の方向に次の調整位置を設定することにより、第(n+2)ポイントの調整位置をサンプル分注プローブ16を治具80の中心面83の方向に設定することができる。   Thus, when the nth and (n + 1) th downward movement distance data are different, the adjustment position of the smaller data from the adjustment position of the larger data of the nth and (n + 1) th downward movement distance data is the same. By setting the next adjustment position in the opposite direction, the adjustment position of the (n + 2) point can be set in the direction of the center plane 83 of the sample dispensing probe 16.

また、第n及び第(n+1)の検出位置が中心面83、又は中心面83及び右側の傾斜面82b、又は傾斜面82b、又は右側の傾斜面82aにある場合、R1方向に粗調整して第(n+2)ポイントの調整位置を設定することにより、微調整して設定するよりも少ない調整位置の設定回数で凹部81内の傾斜面82bを判断することができる。   Further, when the nth and (n + 1) th detection positions are on the center plane 83, or the center plane 83 and the right inclined plane 82b, the inclined plane 82b, or the right inclined plane 82a, coarse adjustment is performed in the R1 direction. By setting the adjustment position of the (n + 2) th point, the inclined surface 82b in the recess 81 can be determined with a smaller number of adjustment position settings than fine adjustment.

図9は、調整位置を治具80の凹部81内に設定した後に、凹部81内の中心面83を検出するまでの動作の一例を示したフローチャートである。   FIG. 9 is a flowchart showing an example of an operation until the center plane 83 in the recess 81 is detected after the adjustment position is set in the recess 81 of the jig 80.

まず、図7のステップS8又はステップS11の「はい」、又は図8のステップS26の「いいえ」の後に動作するステップS31乃至S33を説明する。以下ではステップS8の「はい」の後に動作する例を説明する。そして、ステップS8における第2ポイントRの調整位置、第2の検出位置、及び第2の位置データを夫々第(j+1)ポイントRの調整位置(j=1)、第(j+1)の検出位置、及び第(j+1)の位置データに置き換えて説明する。   First, Steps S31 to S33 that operate after “Yes” in Step S8 or Step S11 in FIG. 7 or “No” in Step S26 in FIG. 8 will be described. Hereinafter, an example in which the operation is performed after “Yes” in Step S8 will be described. Then, the adjustment position of the second point R, the second detection position, and the second position data in step S8 are respectively converted into the (j + 1) th point R adjustment position (j = 1), the (j + 1) th detection position, The description will be made by replacing it with the (j + 1) th position data.

調整位置設定部36は、第(j+1)ポイントRの調整位置を微調整して、治具80の中心面83への移動を目指して、サンプル分注プローブ16を第(j+1)ポイントRの調整位置のR2方向に設定するための第(j+2)の調整情報を制御部32s及び位置データ生成部37に出力する。   The adjustment position setting unit 36 finely adjusts the adjustment position of the (j + 1) th point R, and adjusts the sample dispensing probe 16 to the (j + 1) th point R with the aim of moving the jig 80 to the center plane 83. The (j + 2) th adjustment information for setting the position in the R2 direction is output to the control unit 32s and the position data generation unit 37.

制御部32sは、調整位置設定部36から出力された第(j+2)の調整情報に基づいて、モータ31srmにR2方向への微調整パルスを供給してサンプル分注プローブ16を基準位置90aからR1方向に{Ds1―(j+1)×Φ3}の距離にある第(j+2)ポイントRの調整位置に水平移動させた後に、第(j+2)ポイントRの調整位置から治具80上面の第(j+2)の検出位置まで下移動させる(ステップS31)。   Based on the (j + 2) th adjustment information output from the adjustment position setting unit 36, the control unit 32s supplies a fine adjustment pulse in the R2 direction to the motor 31srm to move the sample dispensing probe 16 from the reference position 90a to R1. After horizontally moving to the adjustment position of the (j + 2) point R, which is a distance of {Ds1- (j + 1) × Φ3} in the direction, the (j + 2) th of the upper surface of the jig 80 from the adjustment position of the (j + 2) point R Is moved down to the detection position (step S31).

そして、制御部32sは、サンプル分注プローブ16を第(j+2)ポイントRの調整位置から第(j+2)の検出位置に下移動させるためにモータ31sumに供給した下降パルスの情報を、位置設定部35の位置データ生成部37に出力する。その後、サンプル分注プローブ16を第(j+2)の検出位置から上停止点まで移動させる。   Then, the control unit 32 s uses the position setting unit to send information about the descending pulse supplied to the motor 31 sum in order to move the sample dispensing probe 16 downward from the adjustment position of the (j + 2) point R to the (j + 2) detection position. It outputs to 35 position data generation part 37. Thereafter, the sample dispensing probe 16 is moved from the (j + 2) th detection position to the upper stop point.

位置データ生成部37は、調整位置設定部36から出力された第(j+2)の調整情報及び制御部32sから出力された下降パルスの情報に基づいて、第(j+1)の水平移動パルスから微調整パルスを差し引いた第(j+2)の水平移動パルスを算出した後に、第(j+2)の検出位置の位置データを生成して位置データ記憶部38に保存する(ステップS32)。   The position data generation unit 37 finely adjusts from the (j + 1) th horizontal movement pulse based on the (j + 2) th adjustment information output from the adjustment position setting unit 36 and the information on the descending pulse output from the control unit 32s. After calculating the (j + 2) th horizontal movement pulse obtained by subtracting the pulse, position data of the (j + 2) th detection position is generated and stored in the position data storage unit 38 (step S32).

調整位置設定部36は、位置データ記憶部38から最新の第(j+2)の検出位置の位置データと前回の第(j+1)の検出位置の位置データとを読み出した後に、第(j+1)及び第(j+2)の下移動距離データを比較する。   The adjustment position setting unit 36 reads the latest position data of the (j + 2) th detection position and the position data of the previous (j + 1) th detection position from the position data storage unit 38, and then reads the (j + 1) th and The downward movement distance data of (j + 2) is compared.

そして、第(j+2)の下移動距離データ{DR(j+2)}が第(j+1)の下移動距離データ{DR(j+1)}よりも大きい場合(ステップS33のはい)、図15(a)及び(b)に示すように、第(j+1)及び第(j+2)の検出位置を左側の傾斜面82b、又は左側の傾斜面82b及び中心面83であると判断してステップS31に戻る。   When the (j + 2) th downward movement distance data {DR (j + 2)} is larger than the (j + 1) th downward movement distance data {DR (j + 1)} (Yes in step S33), FIG. As shown in (b), it is determined that the (j + 1) th and (j + 2) th detection positions are the left inclined surface 82b, or the left inclined surface 82b and the central surface 83, and the process returns to step S31.

また、第(j+2)の下移動距離データが第(j+1)の下移動距離データと同じである場合(ステップS33のいいえ)、図12(b)に示した検出位置と同様に、第(j+1)及び第(j+2)の検出位置を治具80の中心面83であると判断してステップS51に移行する。   If the (j + 2) th downward movement distance data is the same as the (j + 1) th downward movement distance data (No in step S33), the (j + 1) th (j + 1) th similar to the detection position shown in FIG. 12B. ) And (j + 2) detection positions are determined to be the center plane 83 of the jig 80, and the process proceeds to step S51.

更に、第(j+2)の下移動距離データが第(j+1)の下移動距離データよりも小さい場合(ステップS33のいいえ)、図15(c)に示すように、第(j+1)の検出位置を中心面83であると判断してステップS51に移行する。   Further, when the (j + 2) th downward movement distance data is smaller than the (j + 1) th downward movement distance data (No in step S33), the (j + 1) th detection position is set as shown in FIG. The center plane 83 is determined and the process proceeds to step S51.

このように、第j及び第(j+1)の下移動距離データが異なる場合、第j及び第(j+1)の下移動距離データの大きい方のデータの調整位置から小さい方のデータの調整位置とは反対側の方向に次の調整位置を設定することにより、第(j+2)ポイントの調整位置をサンプル分注プローブ16を治具80の中心面83の方向に設定することができる。   Thus, when the j and (j + 1) th downward movement distance data are different, the adjustment position of the smaller data from the adjustment position of the larger data of the jth and (j + 1) th downward movement distance data is the same. By setting the next adjustment position in the opposite direction, the adjustment position of the (j + 2) point can be set in the direction of the center plane 83 of the sample dispensing probe 16.

また、第(j+1)の検出位置が左側の傾斜面82bにある場合、R2方向に微調整して第(j+2)ポイントの調整位置を設定することにより、サンプル分注プローブ16を中心面83に近づけることができる。   When the (j + 1) th detection position is on the left inclined surface 82b, the sample dispensing probe 16 is placed on the center plane 83 by finely adjusting in the R2 direction and setting the adjustment position of the (j + 2) point. You can get closer.

そして、第(j+1)及び第(j+2)の下移動距離データが同じである場合、第(j+1)及び第(j+2)の検出位置を治具80の中心面83であると判断することができる。また、第(j+2)の下移動距離データが第(j+1)の下移動距離データよりも小さい場合、第(j+1)の検出位置を中心面83であると判断することができる。   If the (j + 1) th and (j + 2) downward movement distance data are the same, the (j + 1) th and (j + 2) detection positions can be determined to be the center plane 83 of the jig 80. . When the (j + 2) th downward movement distance data is smaller than the (j + 1) th downward movement distance data, the (j + 1) th detection position can be determined to be the center plane 83.

次に、図7のステップS11の「いいえ」、又は図8のステップS22又はS26の「はい」の後に動作するステップS41乃至S43を説明する。以下ではステップS22の「はい」の後に動作する例を説明する。そして、ステップS11における第(m+2)ポイントRの調整位置、第(m+2)の検出位置、及び第(m+2)の位置データを夫々第(k+2)ポイントLの調整位置(k=1)、第(k+2)の検出位置、及び第(k+2)の位置データに置き換えて説明する。   Next, Steps S41 to S43 that operate after “No” in Step S11 in FIG. 7 or “Yes” in Step S22 or S26 in FIG. 8 will be described. Hereinafter, an example in which the operation is performed after “Yes” in Step S22 will be described. Then, the adjustment position of the (m + 2) -th point R, the detection position of the (m + 2) -th position, and the (m + 2) -th position data in step S11 are respectively adjusted to the adjustment position (k = 1) and (( The description will be made by replacing the detected position with (k + 2) and the (k + 2) th position data.

調整位置設定部36は、治具80の中心面83への移動を目指して、第(k+2)ポイントLの調整位置を微調整してサンプル分注プローブ16を第(k+3)ポイントLの調整位置のR1方向に設定するための第(k+3)の調整情報を制御部32s及び位置データ生成部37に出力する。   The adjustment position setting unit 36 finely adjusts the adjustment position of the (k + 2) point L with the aim of moving the jig 80 toward the center plane 83, and adjusts the sample dispensing probe 16 to the adjustment position of the (k + 3) point L. The (k + 3) th adjustment information for setting in the R1 direction is output to the control unit 32s and the position data generation unit 37.

制御部32sは、調整位置設定部36から出力された第(k+3)の調整情報に基づいて、モータ31srmにR1方向への微調整パルスを供給してサンプル分注プローブ16を基準位置90aからR1方向に{Ds1―k×Φ4+(k−1)×Φ3}の距離にある第(k+3)ポイントLの調整位置に水平移動させた後に、第(k+3)ポイントLの調整位置から治具80上面の第(k+3)の検出位置まで下移動させる(ステップS41)。   Based on the (k + 3) th adjustment information output from the adjustment position setting unit 36, the control unit 32s supplies a fine adjustment pulse in the R1 direction to the motor 31srm to move the sample dispensing probe 16 from the reference position 90a to R1. After the horizontal movement to the adjustment position of the (k + 3) point L that is a distance of {Ds1-k × Φ4 + (k−1) × Φ3} in the direction, the upper surface of the jig 80 from the adjustment position of the (k + 3) point L Is moved down to the (k + 3) th detection position (step S41).

そして、制御部32sは、サンプル分注プローブ16を第(k+3)ポイントLの調整位置から第(k+3)の検出位置に下移動させるためにモータ31sumに供給した下降パルスの情報を、位置設定部35の位置データ生成部37に出力する。そして、サンプル分注プローブ16を第(k+3)の検出位置から上停止点まで移動させる。   Then, the control unit 32s uses the position setting unit to transmit the information of the descending pulse supplied to the motor 31sum in order to move the sample dispensing probe 16 downward from the adjustment position of the (k + 3) point L to the (k + 3) detection position. It outputs to 35 position data generation part 37. Then, the sample dispensing probe 16 is moved from the (k + 3) th detection position to the upper stop point.

位置データ生成部37は、調整位置設定部36から出力された第(k+3)の調整情報及び制御部32sから出力された下降パルスの情報に基づいて、第(k+2)の水平移動パルスから微調整パルスを加算した第(k+3)の水平移動パルスを算出した後に、第(k+3)の検出位置の位置データを生成して位置データ記憶部38に保存する(ステップS42)。   The position data generation unit 37 finely adjusts from the (k + 2) th horizontal movement pulse based on the (k + 3) th adjustment information output from the adjustment position setting unit 36 and the descending pulse information output from the control unit 32s. After calculating the (k + 3) th horizontal movement pulse to which the pulses are added, position data of the (k + 3) th detection position is generated and stored in the position data storage unit 38 (step S42).

調整位置設定部36は、位置データ記憶部38から最新の第(k+3)の位置データと前回の第(k+2)の位置データとを読み出した後に、第(k+3)の下移動距離データと第(k+2)の下移動距離データを比較する。   The adjustment position setting unit 36 reads the latest (k + 3) th position data and the previous (k + 2) th position data from the position data storage unit 38, and then reads the (k + 3) th downward movement distance data and the ( k + 2) The downward movement distance data is compared.

そして、第(k+3)の下移動距離データ{DL(k+3)}が第(k+2)の下移動距離データ{DL(k+2)}よりも大きい場合(ステップS43のはい)、図16(a)及び(b)に示すように、第(k+2)及び第(k+3)の検出位置を治具80の右側の傾斜面82b、又は中心面83及び右側の傾斜面82bであると判断してステップS41に戻る。   When the (k + 3) th downward movement distance data {DL (k + 3)} is larger than the (k + 2) th downward movement distance data {DL (k + 2)} (Yes in step S43), FIG. As shown in (b), it is determined that the (k + 2) and (k + 3) detection positions are the right inclined surface 82b of the jig 80, or the central surface 83 and the right inclined surface 82b, and the process proceeds to step S41. Return.

また、第(k+3)の下移動距離データが第(k+2)の下移動距離データと同じである場合(ステップS43のいいえ)、図12(b)に示した検出位置と同様に、第(k+2)及び第(k+3)の検出位置を治具80の中心面83であると判断してステップS51に移行する。   If the (k + 3) th downward movement distance data is the same as the (k + 2) th downward movement distance data (No in step S43), the (k + 2) th (k + 2) is the same as the detection position shown in FIG. ) And (k + 3) detection positions are determined to be the center plane 83 of the jig 80, and the process proceeds to step S51.

更に、第(k+3)の下移動距離データが第(k+2)の下移動距離データよりも小さい場合(ステップS43のいいえ)、図16(c)に示すように、第(k+3)の検出位置を治具80の中心面83であると判断してステップS51に移行する。   Further, when the (k + 3) down movement distance data is smaller than the (k + 2) down movement distance data (No in step S43), the (k + 3) detection position is set as shown in FIG. It judges that it is the center plane 83 of the jig | tool 80, and transfers to step S51.

このように、第(k+1)及び第(k+2)の下移動距離データが異なる場合、第(k+1)及び第(k+2)の下移動距離データの大きい方のデータの調整位置から小さい方のデータの調整位置とは反対側の方向に次の調整位置を設定することにより、第(k+3)ポイントの調整位置をサンプル分注プローブ16を治具80の中心面83の方向に設定することができる。   Thus, when the (k + 1) th and (k + 2) downward movement distance data are different, the smaller data from the adjustment position of the larger data of the (k + 1) th and (k + 2) downward movement distance data. By setting the next adjustment position in the direction opposite to the adjustment position, the adjustment position of the (k + 3) th point can be set in the direction of the center plane 83 of the sample dispensing probe 16.

また、第(k+2)の検出位置が左側の傾斜面82bにある場合、R1方向に微調整して第(k+3)ポイントの調整位置を設定することにより、サンプル分注プローブ16を中心面83に近づけることができる。   When the (k + 2) th detection position is on the left inclined surface 82b, the sample dispensing probe 16 is placed on the center plane 83 by fine adjustment in the R1 direction and setting the adjustment position of the (k + 3) point. You can get closer.

そして、第(k+2)及び第(k+3)の下移動距離データが同じである場合、第(k+2)及び第(k+3)の検出位置を治具80の中心面83であると判断することができる。また、第(k+3)の下移動距離データが第(k+2)の下移動距離データよりも小さい場合、第(k+2)の検出位置を中心面83であると判断することができる。   If the (k + 2) th and (k + 3) downward movement distance data are the same, the (k + 2) th and (k + 3) detection positions can be determined to be the center plane 83 of the jig 80. . Further, when the (k + 3) th downward movement distance data is smaller than the (k + 2) th downward movement distance data, the (k + 2) th detection position can be determined to be the center plane 83.

次に、図8のステップS21の「はい」、又はステップS33の「いいえ」、又はステップS43の「いいえ」の後に、調整位置設定部36は、治具80の中心面83であると判断した検出位置の位置データの水平移動距離データを、基準位置90aからサンプル吐出位置Aまでサンプル分注プローブ16を水平移動させるために必要なパルス数として、制御部32sの内部記憶回路に登録する(ステップS51)。   Next, after “Yes” in Step S21 in FIG. 8, “No” in Step S33, or “No” in Step S43, the adjustment position setting unit 36 determines that it is the center plane 83 of the jig 80. The horizontal movement distance data of the position data of the detection position is registered in the internal storage circuit of the control unit 32s as the number of pulses necessary for horizontally moving the sample dispensing probe 16 from the reference position 90a to the sample discharge position A (step) S51).

そして、制御部32sに指示してサンプル分注プローブ16を基準位置90aに移動させる(ステップS52)。   Then, the controller 32s is instructed to move the sample dispensing probe 16 to the reference position 90a (step S52).

そして、サンプル分注プローブ16が基準位置90aに到達した時点で、自動分析装置100は、サンプル分注プローブ16の位置調整動作を終了する(ステップS53)。   Then, when the sample dispensing probe 16 reaches the reference position 90a, the automatic analyzer 100 ends the position adjustment operation of the sample dispensing probe 16 (step S53).

図7乃至図9で説明した実施例によれば、サンプル吐出位置Aの下方に中心面83を合わせて治具80を配置し、サンプル吐出位置Aへの移動を目指して設定された第1ポイントの調整位置、及びこの第1ポイントの調整位置から微調整距離離れた第2ポイントの調整位置に応じた第1及び第2の検出位置までサンプル分注プローブ16を移動させて、第1及び第2の検出位置の位置データを生成し、生成した第1及び第2の検出位置の第1及び第2の下移動距離データが同じである場合、第1及び第2の検出位置を治具80の中心面83として判断することができる。   According to the embodiment described with reference to FIGS. 7 to 9, the jig 80 is arranged with the center surface 83 aligned below the sample discharge position A, and the first point is set to move to the sample discharge position A. The sample dispensing probe 16 is moved to the first and second detection positions corresponding to the adjustment position of the first point and the adjustment position of the second point that is a fine adjustment distance away from the adjustment position of the first point. When the position data of the two detection positions is generated, and the first and second downward movement distance data of the generated first and second detection positions are the same, the first and second detection positions are set as the jig 80. It can be determined as the center plane 83 of.

また、第p及び第(p+1)の下移動距離データ(pは1以上の整数)が異なる場合、第p及び第(p+1)の下移動距離データの大きい方のデータの調整位置から小さい方のデータの調整位置とは反対側の方向に第(p+2)ポイントの調整位置を設定することにより、治具80の左側及び右側のいずれの側からでも第(p+2)ポイントの調整位置を中心面83の方向に設定することができる。   Further, when the p-th and (p + 1) th downward movement distance data (p is an integer of 1 or more) are different, the smaller one from the adjustment position of the larger data of the p-th and (p + 1) th downward movement distance data. By setting the adjustment position of the (p + 2) point in the direction opposite to the data adjustment position, the adjustment position of the (p + 2) point is set to the center plane 83 from either the left side or the right side of the jig 80. The direction can be set.

そして、第p及び第(p+1)の下移動距離データが異なり、前記大きい方のデータから前記小さい方のデータを差し引いた差のデータが治具80の側面の高さhよりも小さい場合、前記大きい方のデータの調整位置から前記小さい方のデータの調整位置とは反対側の方向に粗調整して第(p+2)ポイントの調整位置を設定することにより、微調整して設定するよりも少ない調整位置の設定回数で治具80の凹部81内の傾斜面82bを判断することができる。   When the p-th and (p + 1) -th downward movement distance data are different and the difference data obtained by subtracting the smaller data from the larger data is smaller than the height h of the side surface of the jig 80, By coarsely adjusting the adjustment position of the larger data from the adjustment position of the smaller data to the direction opposite to the adjustment position of the smaller data, and setting the adjustment position of the (p + 2) point, it is less than the fine adjustment. The inclined surface 82b in the recess 81 of the jig 80 can be determined based on the number of adjustment positions set.

また、第p及び第(p+1)の下移動距離データが異なり、前記差のデータが前記側面の高さhよりも大きいか又はhと同じである場合、前記大きい方の検出位置を凹部81内の傾斜面82bであると判断することができる。   Further, when the p-th and (p + 1) -th downward movement distance data are different and the difference data is greater than or equal to the height h of the side surface, the larger detection position is set in the recess 81. It can be determined that it is the inclined surface 82b.

次いで、凹部81内の傾斜面82bであると判断したときの前記大きい方の調整位置から前記小さい方のデータの調整位置とは反対側の方向に微調整して第(p+q)ポイントの調整位置(qは2以上の整数)を設定し、この設定位置に応じた第(p+q)の下移動距離データを生成する。   Next, the adjustment position of the (p + q) point is finely adjusted in the direction opposite to the adjustment position of the smaller data from the larger adjustment position when it is determined that the inclined surface 82b is in the recess 81. (Q is an integer equal to or greater than 2) is set, and (p + q) th downward movement distance data corresponding to the set position is generated.

そして、生成した第(p+q)の下移動距離データが第(p+q−1)の下移動距離データよりも小さい場合、第(p+q−1)の検出位置を治具80の中心面83であると判断することができる。   When the generated (p + q) downward movement distance data is smaller than the (p + q-1) downward movement distance data, the (p + q-1) th detection position is the center plane 83 of the jig 80. Judgment can be made.

また、第(p+q)の下移動距離データが第(p+q−1)の下移動距離データと同じである場合、第(p+q−1)及び第(p+q)の検出位置を治具80の中心面83であると判断することができる。   Further, when the (p + q) down movement distance data is the same as the (p + q-1) down movement distance data, the (p + q-1) and (p + q) detection positions are set to the center plane of the jig 80. 83.

以上において、治具80の中心面83であると判断した検出位置の位置データにおける水平移動距離データを登録することにより、サンプル吐出位置Aを定めることができる。   In the above, the sample discharge position A can be determined by registering the horizontal movement distance data in the position data of the detection position determined to be the center plane 83 of the jig 80.

なお、治具は上記実施例に限定されるものではなく、治具80における凹部81の底面を、この底面の中心点に向かって下り勾配の傾斜面を形成するようにしてもよい。   Note that the jig is not limited to the above embodiment, and the bottom surface of the recess 81 in the jig 80 may be formed with an inclined surface having a downward slope toward the center point of the bottom surface.

次に、図18乃至図20を参照して、治具の他の実施例を説明する。   Next, another embodiment of the jig will be described with reference to FIGS.

図18は、他の治具を用いた実施例を示すもので、この治具80aが図6の治具80と異なる点は、治具80の上面には2つの傾斜面82a,82bが設けられているのに対して、治具80aの上面には1つの傾斜面82cだけが設けられている点である。   FIG. 18 shows an embodiment using other jigs. The difference between the jig 80a and the jig 80 shown in FIG. 6 is that the upper surface of the jig 80 is provided with two inclined surfaces 82a and 82b. In contrast, only one inclined surface 82c is provided on the upper surface of the jig 80a.

図18(b)に示した治具80aの上面は、この上面の中心部に治具80と同様に形成された中心面83と、この中心面83に向かって下り勾配の傾斜面82cとにより構成される。   The upper surface of the jig 80 a shown in FIG. 18B is formed by a central surface 83 formed in the center of the upper surface in the same manner as the jig 80, and an inclined surface 82 c inclined downward toward the central surface 83. Composed.

図18(a)は、治具80aの中心面83を含む鉛直方向の断面を示した図である。治具80aの上面の最も低い位置に水平な中心面83が形成され、中心面83よりも高い位置に傾斜面82が形成されている。そして、治具80aは、治具80と同じ外形寸法及び材質を有する。そして、治具80aは、サンプル分注プローブ16、第1試薬分注プローブ14、及び第2試薬分注プローブ15の各分注プローブの各停止位置を定める場合に使用される。   FIG. 18A is a diagram showing a vertical cross section including the center surface 83 of the jig 80a. A horizontal center surface 83 is formed at the lowest position on the upper surface of the jig 80 a, and an inclined surface 82 is formed at a position higher than the center surface 83. The jig 80 a has the same outer dimensions and material as the jig 80. The jig 80a is used when determining the stop positions of the dispensing probes of the sample dispensing probe 16, the first reagent dispensing probe 14, and the second reagent dispensing probe 15.

次に、図1乃至図19を参照して、治具80aを用いてサンプル分注プローブ16のサンプル吐出位置Aを定める動作の一例を説明する。   Next, an example of an operation for determining the sample discharge position A of the sample dispensing probe 16 using the jig 80a will be described with reference to FIGS.

図19は、サンプル分注プローブ16のサンプル吐出位置Aの設定動作を示したフローチャートである。図19のフローチャートが図7乃至図9のフローチャートと異なる点は、図19のフローチャートでは治具80の傾斜面82a,82bのいずれであるかの判断をするためのステップが除かれている点である。   FIG. 19 is a flowchart showing the setting operation of the sample discharge position A of the sample dispensing probe 16. The flowchart of FIG. 19 differs from the flowcharts of FIGS. 7 to 9 in that the step of determining which of the inclined surfaces 82a and 82b of the jig 80 is in the flowchart of FIG. 19 is excluded. is there.

図19のフローチャートは、図7のステップS1乃至S7と、図8のステップS21と、ステップS7の「はい」及びステップS21の「はい」及びステップS21の「いいえ」の後に実行される図9の全ステップとにより構成される。そして、ステップS7の「はい」から図9のステップS31に移行し、ステップS21の「はい」から図9のステップS51に移行し、ステップS21の「いいえ」から図9のステップS41に移行する。   19 is executed after steps S1 to S7 in FIG. 7, step S21 in FIG. 8, “yes” in step S7, “yes” in step S21, and “no” in step S21. It consists of all steps. Then, the process moves from “Yes” in Step S7 to Step S31 in FIG. 9, from “Yes” in Step S21 to Step S51 in FIG. 9, and from “No” in Step S21 to Step S41 in FIG.

そして、図19のフローチャートを構成している図7乃至図9の各ステップの治具80の傾斜面82a及び傾斜面82bを治具80aの傾斜面82cに置き換えることにより、図7乃至図9の各ステップと同様に動作するので、図19の各ステップの動作の説明を省略する。   Then, by replacing the inclined surface 82a and the inclined surface 82b of the jig 80 in each step of FIGS. 7 to 9 constituting the flowchart of FIG. 19 with the inclined surface 82c of the jig 80a, FIG. 7 to FIG. Since the operation is similar to each step, description of the operation of each step in FIG. 19 is omitted.

図19で説明した治具80aを用いた実施例によれば、サンプル吐出位置Aの下方に中心面83を合わせて治具80aを配置し、サンプル吐出位置Aへの移動を目指して設定された第pポイントの調整位置(pは1以上の整数)、及びこの第pポイントの調整位置から微調整距離離れた第(p+1)ポイントの調整位置に応じた第p及び第(p+1)の検出位置までサンプル分注プローブ16を移動させて、第p及び第(p+1)の検出位置の位置データを生成し、生成した第p及び第(p+1)の検出位置の第p及び第(p+1)の下移動距離データが同じである場合、第p及び第(p+1)の検出位置を治具80aの中心面83として判断することができる。   According to the embodiment using the jig 80 a described in FIG. 19, the jig 80 a is arranged with the center surface 83 aligned below the sample discharge position A, and is set to move to the sample discharge position A. The adjustment position of the p-th point (p is an integer equal to or greater than 1) and the detection positions of the p-th and (p + 1) -th positions corresponding to the adjustment position of the (p + 1) -th point that is finely adjusted away from the adjustment position of the p-th point The sample dispensing probe 16 is moved to generate position data of the pth and (p + 1) th detection positions, and below the generated pth and (p + 1) th detection positions of the pth and (p + 1) th detection positions. When the movement distance data is the same, the p-th and (p + 1) -th detection positions can be determined as the center plane 83 of the jig 80a.

また、第p及び第(p+1)の下移動距離データが異なる場合、第p及び第(p+1)の下移動距離データの大きい方のデータの調整位置から小さい方のデータの調整位置とは反対側の方向に微調整して第(p+2)ポイントの調整位置を設定することにより、治具80aの左側及び右側のいずれの側からでも第(p+2)ポイントの調整位置を中心面83の方向に設定することができる。   Further, when the p-th and (p + 1) th downward movement distance data are different, the adjustment position of the larger data from the adjustment position of the larger data of the p-th and (p + 1) th downward movement distance data is opposite to the adjustment position of the smaller data. The adjustment position of the (p + 2) point is set in the direction of the center plane 83 from either the left side or the right side of the jig 80a by finely adjusting in the direction of. can do.

そして、第(p+2)ポイントの調整位置を設定し、この設定位置に応じた第(p+2)の下移動距離データを生成し、生成した第(p+2)の下移動距離データが第(p+1)の下移動距離データよりも小さい場合、第(p+1)の検出位置を治具80aの中心面83であると判断することができる。   Then, an adjustment position of the (p + 2) th point is set, (p + 2) th downward movement distance data corresponding to the set position is generated, and the generated (p + 2) th downward movement distance data is the (p + 1) th. If it is smaller than the downward movement distance data, it can be determined that the (p + 1) th detection position is the center plane 83 of the jig 80a.

また、生成した第(p+2)の下移動距離データが第(p+1)の下移動距離データと同じである場合、第(p+1)及び第(p+2)の検出位置を治具80aの中心面83であると判断することができる。   Further, when the generated (p + 2) downward movement distance data is the same as the (p + 1) downward movement distance data, the (p + 1) th and (p + 2) detection positions are set on the center plane 83 of the jig 80a. It can be judged that there is.

以上において、治具80aの中心面83であると判断した検出位置の位置データにおける水平移動距離データを登録することにより、サンプル吐出位置Aを定めることができる。   In the above, the sample discharge position A can be determined by registering the horizontal movement distance data in the position data of the detection position determined to be the center plane 83 of the jig 80a.

図20は、他の治具を用いた実施例を示すもので、この治具80cが図18の治具80aと異なる点は、治具80cの上面が曲面を形成する傾斜面82cだけで構成されている点である。   FIG. 20 shows an embodiment using other jigs. This jig 80c is different from the jig 80a of FIG. 18 only in that the upper surface of the jig 80c is an inclined surface 82c forming a curved surface. It is a point that has been.

図20(b)に示した治具80cの上面は、この上面の中心点83cに向かって下り勾配の傾斜面82cにより構成される。治具80cの上面の形状及び大きさ及び材質は、治具80aと同じである。   The upper surface of the jig 80c shown in FIG. 20B is configured by an inclined surface 82c having a downward slope toward the center point 83c of the upper surface. The shape, size, and material of the upper surface of the jig 80c are the same as those of the jig 80a.

図20(a)は、治具80cの中心点83cを含む鉛直方向の断面を示した図である。治具80c上面の最も低い位置に中心点83cがあり、この中心点83cよりも高い位置に傾斜面82cが形成されている。傾斜面82cは曲面を形成し、傾斜面82cの鉛直断面としての傾斜した曲線は、中心点83cを頂点とする二次関数で表される。   FIG. 20A is a view showing a vertical section including the center point 83c of the jig 80c. A center point 83c is at the lowest position on the upper surface of the jig 80c, and an inclined surface 82c is formed at a position higher than the center point 83c. The inclined surface 82c forms a curved surface, and an inclined curve as a vertical cross section of the inclined surface 82c is represented by a quadratic function having the center point 83c as a vertex.

治具80cは、治具80aと同様に、サンプル分注プローブ16、第1試薬分注プローブ14、及び第2試薬分注プローブ15の各分注プローブの各停止位置を定める場合に使用される。   Similar to the jig 80a, the jig 80c is used to determine each stop position of each of the sample dispensing probes 16, the first reagent dispensing probe 14, and the second reagent dispensing probe 15. .

次に、治具80cを使用したときの各分注プローブの各停止位置を定める動作を、サンプル分注プローブ16のサンプル吐出位置Aを定める動作を例に説明する。   Next, the operation for determining each stop position of each dispensing probe when the jig 80c is used will be described by taking the operation for determining the sample discharge position A of the sample dispensing probe 16 as an example.

治具80cは、サンプル吐出位置Aの反応容器4底面の中央部の上方に治具80cの中心点83cが位置するように取り付けられる。   The jig 80c is attached so that the center point 83c of the jig 80c is positioned above the center of the bottom surface of the reaction container 4 at the sample discharge position A.

サンプル分注プローブ16の治具80c上における水平移動を直線移動と見做し、サンプル分注プローブ16の先端部を基準位置90aを原点とした二次元の座標で表す。基準位置90aから水平移動及び上下移動した後の治具80cの上面における検出位置は、この位置データの水平移動距離データ及び下移動距離データを夫々x座標及びy座標とした二次元座標で表される。   The horizontal movement of the sample dispensing probe 16 on the jig 80c is regarded as a linear movement, and the tip of the sample dispensing probe 16 is represented by two-dimensional coordinates with the reference position 90a as the origin. The detection position on the upper surface of the jig 80c after horizontal movement and vertical movement from the reference position 90a is represented by two-dimensional coordinates using the horizontal movement distance data and the lower movement distance data of the position data as the x coordinate and the y coordinate, respectively. The

そして、治具80cの上方に少なくとも3つの第1乃至第3ポイントの調整位置を設定して、サンプル分注プローブ16を第1乃至第3ポイントの調整位置に応じて検出される第1乃至第3の検出位置まで移動させることにより、第1乃至第3の検出位置の位置データが生成される。生成した第1乃至第3の検出位置の位置データから二次関数f(x)の各係数を求めて二次式を作成する。この二次式から頂点のx座標、即ち中心点83cのx座標を求めた後、x座標の水平移動距離データを、基準位置90aからサンプル吐出位置Aまでサンプル分注プローブ16を水平移動させるために必要なパルス数として制御部32sの内部記憶回路に登録することにより、サンプル分注プローブ16のサンプル吐出位置Aが定められる。   Then, at least three first to third point adjustment positions are set above the jig 80c, and the sample dispensing probe 16 is detected according to the first to third point adjustment positions. By moving to the third detection position, position data of the first to third detection positions is generated. Each coefficient of the quadratic function f (x) is obtained from the generated position data of the first to third detection positions, and a quadratic expression is created. After obtaining the x-coordinate of the apex, that is, the x-coordinate of the center point 83c from this quadratic expression, the horizontal movement distance data of the x-coordinate is used to horizontally move the sample dispensing probe 16 from the reference position 90a to the sample discharge position A. The sample discharge position A of the sample dispensing probe 16 is determined by registering it in the internal storage circuit of the control unit 32s as the number of pulses necessary for this.

図20で説明した治具80cを用いた実施例によれば、サンプル吐出位置Aの下方に中心点83cを合わせて治具80cを配置し、少なくとも第1乃至第3ポイントの調整位置に応じた第1乃至第3の検出位置までサンプル分注プローブ16を移動させて第1乃至第3の検出位置の位置データを生成し、生成した位置データから二次関数の係数を求める。更に、その二次関数の頂点の座標を求めることにより、中心点83cの位置データを得ることができる。そして、得た位置データの水平移動距離データを登録することにより、サンプル吐出位置Aを定めることができる。   According to the embodiment using the jig 80c described in FIG. 20, the jig 80c is arranged with the center point 83c below the sample discharge position A, and at least according to the adjustment positions of the first to third points. The sample dispensing probe 16 is moved to the first to third detection positions to generate position data of the first to third detection positions, and a coefficient of a quadratic function is obtained from the generated position data. Further, the position data of the center point 83c can be obtained by obtaining the coordinates of the vertex of the quadratic function. Then, the sample discharge position A can be determined by registering the horizontal movement distance data of the obtained position data.

以上述べた本発明の実施例によれば、各分注プローブの各停止位置の下方に中心面83を合わせて治具80を配置し、各停止位置への移動を目指して設定された第1ポイントの調整位置、及びこの第1ポイントの調整位置から微調整距離離れた第2ポイントの調整位置に応じた第1及び第2の検出位置まで各分注プローブを移動させて、第1及び第2の検出位置の位置データを生成し、生成した第1及び第2の検出位置の第1及び第2の下移動距離データが同じである場合、第1及び第2の検出位置を治具80の中心面83として判断することができる。   According to the embodiment of the present invention described above, the jig 80 is arranged with the center plane 83 aligned below each stop position of each dispensing probe, and the first set for the purpose of moving to each stop position. Each dispensing probe is moved to the first and second detection positions corresponding to the adjustment position of the point and the adjustment position of the second point that is a fine adjustment distance away from the adjustment position of the first point. When the position data of the two detection positions is generated, and the first and second downward movement distance data of the generated first and second detection positions are the same, the first and second detection positions are set as the jig 80. It can be determined as the center plane 83 of.

また、第p及び第(p+1)の下移動距離データ(pは1以上の整数)が異なる場合、第p及び第(p+1)の下移動距離データの大きい方のデータの調整位置から小さい方のデータの調整位置とは反対側の方向に第(p+2)ポイントの調整位置を設定することにより、治具80の左側及び右側のいずれの側からでも第(p+2)ポイントの調整位置を中心面83の方向に設定することができる。   Further, when the p-th and (p + 1) th downward movement distance data (p is an integer of 1 or more) are different, the smaller one from the adjustment position of the larger data of the p-th and (p + 1) th downward movement distance data. By setting the adjustment position of the (p + 2) point in the direction opposite to the data adjustment position, the adjustment position of the (p + 2) point is set to the center plane 83 from either the left side or the right side of the jig 80. The direction can be set.

そして、第p及び第(p+1)の下移動距離データが異なり、前記大きい方のデータから前記小さい方のデータを差し引いた差のデータが治具80の側面の高さhよりも小さい場合、前記大きい方のデータの調整位置から前記小さい方のデータの調整位置とは反対側の方向に粗調整して第(p+2)ポイントの調整位置を設定することにより、微調整して設定するよりも少ない調整位置の設定回数で治具80の凹部81内の傾斜面82bを判断することができる。   When the p-th and (p + 1) -th downward movement distance data are different and the difference data obtained by subtracting the smaller data from the larger data is smaller than the height h of the side surface of the jig 80, By coarsely adjusting the adjustment position of the larger data from the adjustment position of the smaller data to the direction opposite to the adjustment position of the smaller data, and setting the adjustment position of the (p + 2) point, it is less than the fine adjustment. The inclined surface 82b in the recess 81 of the jig 80 can be determined based on the number of adjustment positions set.

また、第p及び第(p+1)の下移動距離データが異なり、前記差のデータが前記側面の高さhよりも大きいか又はhと同じである場合、前記大きい方の検出位置を凹部81内の傾斜面82bであると判断することができる。   Further, when the p-th and (p + 1) -th downward movement distance data are different and the difference data is greater than or equal to the height h of the side surface, the larger detection position is set in the recess 81. It can be determined that it is the inclined surface 82b.

次いで、凹部81内の傾斜面82bであると判断したときの前記大きい方の調整位置から前記小さい方のデータの調整位置とは反対側の方向に微調整して第(p+q)ポイントの調整位置(qは2以上の整数)を設定し、この設定位置に応じた第(p+q)の下移動距離データを生成する。   Next, the adjustment position of the (p + q) point is finely adjusted in the direction opposite to the adjustment position of the smaller data from the larger adjustment position when it is determined that the inclined surface 82b is in the recess 81. (Q is an integer equal to or greater than 2) is set, and (p + q) th downward movement distance data corresponding to the set position is generated.

そして、生成した第(p+q)の下移動距離データが第(p+q−1)の下移動距離データよりも小さい場合、第(p+q−1)の検出位置を治具80の中心面83であると判断することができる。   When the generated (p + q) downward movement distance data is smaller than the (p + q-1) downward movement distance data, the (p + q-1) th detection position is the center plane 83 of the jig 80. Judgment can be made.

また、第(p+q)の下移動距離データが第(p+q−1)の下移動距離データと同じである場合、第(p+q−1)及び第(p+q)の検出位置を治具80の中心面83であると判断することができる。   Further, when the (p + q) down movement distance data is the same as the (p + q-1) down movement distance data, the (p + q-1) and (p + q) detection positions are set to the center plane of the jig 80. 83.

このようにして、治具80の中心面83であると判断した検出位置の位置データにおける水平移動距離データを登録することにより、各停止位置を定めることができる。   Thus, by registering the horizontal movement distance data in the position data of the detected position determined to be the center plane 83 of the jig 80, each stop position can be determined.

また、他の実施例によれば、各分注プローブの各停止位置の下方に中心面83を合わせて治具80aを配置し、各停止位置への移動を目指して設定された第pポイントの調整位置(pは1以上の整数)、及びこの第pポイントの調整位置から微調整距離離れた第(p+1)ポイントの調整位置に応じた第p及び第(p+1)の検出位置までサンプル分注プローブ16を移動させて、第p及び第(p+1)の検出位置の位置データを生成し、生成した第p及び第(p+1)の検出位置の第p及び第(p+1)の下移動距離データが同じである場合、第p及び第(p+1)の検出位置を治具80aの中心面83として判断することができる。   In addition, according to another embodiment, the jig 80a is arranged with the center plane 83 below each stop position of each dispensing probe, and the p-th point set for moving to each stop position is set. Dispensing samples to the adjustment position (p is an integer equal to or greater than 1) and the p-th and (p + 1) -th detection positions corresponding to the adjustment position of the (p + 1) -th point that is a fine adjustment distance away from the adjustment position of this p-th point The probe 16 is moved to generate position data of the pth and (p + 1) th detection positions, and the generated pth and (p + 1) th downward movement distance data of the pth and (p + 1) th detection positions are generated. If they are the same, the p-th and (p + 1) -th detection positions can be determined as the center plane 83 of the jig 80a.

また、第p及び第(p+1)の下移動距離データが異なる場合、第p及び第(p+1)の下移動距離データの大きい方のデータの調整位置から小さい方のデータの調整位置とは反対側の方向に微調整して第(p+2)ポイントの調整位置を設定することにより、治具80aの左側及び右側のいずれの側からでも第(p+2)ポイントの調整位置を中心面83の方向に設定することができる。   Further, when the p-th and (p + 1) th downward movement distance data are different, the adjustment position of the larger data from the adjustment position of the larger data of the p-th and (p + 1) th downward movement distance data is opposite to the adjustment position of the smaller data. The adjustment position of the (p + 2) point is set in the direction of the center plane 83 from either the left side or the right side of the jig 80a by finely adjusting in the direction of. can do.

そして、第(p+2)ポイントの調整位置を設定し、この設定位置に応じた第(p+2)の下移動距離データを生成し、生成した第(p+2)の下移動距離データが第(p+1)の下移動距離データよりも小さい場合、第(p+1)の検出位置を治具80aの中心面83であると判断することができる。   Then, an adjustment position of the (p + 2) th point is set, (p + 2) th downward movement distance data corresponding to the set position is generated, and the generated (p + 2) th downward movement distance data is the (p + 1) th. If it is smaller than the downward movement distance data, it can be determined that the (p + 1) th detection position is the center plane 83 of the jig 80a.

また、生成した第(p+2)の下移動距離データが第(p+1)の下移動距離データと同じである場合、第(p+1)及び第(p+2)の検出位置を治具80aの中心面83であると判断することができる。   Further, when the generated (p + 2) downward movement distance data is the same as the (p + 1) downward movement distance data, the (p + 1) th and (p + 2) detection positions are set on the center plane 83 of the jig 80a. It can be judged that there is.

このようにして、治具80aの中心面83であると判断した検出位置の位置データにおける水平移動距離データを登録することにより、各停止位置を定めることができる。   Thus, by registering the horizontal movement distance data in the position data of the detected position determined to be the center plane 83 of the jig 80a, each stop position can be determined.

更に、他の実施例によれば、各分注プローブの各停止位置の下方に中心点83cを合わせて治具80cを配置し、少なくとも第1乃至第3ポイントの調整位置に応じた第1乃至第3の検出位置までサンプル分注プローブ16を移動させて第1乃至第3の検出位置における位置データを生成し、生成した第1乃至第3の位置データから二次関数の係数を求める。更に、その二次関数の頂点の座標を求めることにより、中心点83cの位置データを得ることができる。そして、得た位置データの水平移動距離データを登録することにより、各停止位置を定めることができる。   Furthermore, according to another embodiment, the jig 80c is arranged below the stop position of each dispensing probe so that the center point 83c is aligned, and at least the first to third points corresponding to the adjustment positions of the first to third points. The sample dispensing probe 16 is moved to the third detection position to generate position data at the first to third detection positions, and a coefficient of a quadratic function is obtained from the generated first to third position data. Further, the position data of the center point 83c can be obtained by obtaining the coordinates of the vertex of the quadratic function. Each stop position can be determined by registering the horizontal movement distance data of the obtained position data.

以上のことから、少ない調整位置の設定回数で各停止位置を定めることができ、各停止位置の設定を短時間で行うことが可能となり、作業者の負担を軽減することができる。   As described above, each stop position can be determined with a small number of adjustment position settings, and each stop position can be set in a short time, thereby reducing the burden on the operator.

本発明の実施例に係る自動分析装置の構成を示すブロック図。The block diagram which shows the structure of the automatic analyzer which concerns on the Example of this invention. 本発明の実施例に係る分析部の構成の詳細を示す図。The figure which shows the detail of a structure of the analysis part which concerns on the Example of this invention. 本発明の実施例に係る分析制御部の構成の詳細を示す図。The figure which shows the detail of a structure of the analysis control part which concerns on the Example of this invention. 本発明の実施例に係る分析部のサンプル部と反応部の構成の一部を示す図。The figure which shows a part of structure of the sample part and reaction part of the analysis part which concern on the Example of this invention. 本発明の実施例に係る分析部の試薬部と反応部の構成の一部を示す図。The figure which shows a part of structure of the reagent part of the analysis part which concerns on the Example of this invention, and the reaction part. 本発明の実施例に係る治具の構造及びサンプル分注プローブの移動動作の一例を示す図。The figure which shows an example of the structure of the jig | tool which concerns on the Example of this invention, and the movement operation | movement of a sample dispensing probe. 本発明の実施例に係るサンプル吐出位置を定める動作の一例を示すフローチャート。The flowchart which shows an example of the operation | movement which determines the sample discharge position which concerns on the Example of this invention. 本発明の実施例に係るサンプル吐出位置を定める動作を示すフローチャート。The flowchart which shows the operation | movement which determines the sample discharge position which concerns on the Example of this invention. 本発明の実施例に係るサンプル吐出位置を定める動作を示すフローチャート。The flowchart which shows the operation | movement which determines the sample discharge position which concerns on the Example of this invention. 本発明の実施例に係る調整位置に応じた検出位置の一例を示す図。The figure which shows an example of the detection position according to the adjustment position which concerns on the Example of this invention. 本発明の実施例に係る調整位置に応じた検出位置の一例を示す図。The figure which shows an example of the detection position according to the adjustment position which concerns on the Example of this invention. 本発明の実施例に係る調整位置に応じた検出位置の一例を示す図。The figure which shows an example of the detection position according to the adjustment position which concerns on the Example of this invention. 本発明の実施例に係る調整位置に応じた検出位置の一例を示す図。The figure which shows an example of the detection position according to the adjustment position which concerns on the Example of this invention. 本発明の実施例に係る調整位置に応じた検出位置の一例を示す図。The figure which shows an example of the detection position according to the adjustment position which concerns on the Example of this invention. 本発明の実施例に係る調整位置に応じた検出位置の一例を示す図。The figure which shows an example of the detection position according to the adjustment position which concerns on the Example of this invention. 本発明の実施例に係る調整位置に応じた検出位置の一例を示す図。The figure which shows an example of the detection position according to the adjustment position which concerns on the Example of this invention. 本発明の実施例に係る調整位置に応じた検出位置の一例を示す図。The figure which shows an example of the detection position according to the adjustment position which concerns on the Example of this invention. 本発明の他の実施例に係る治具の構造及びサンプル分注プローブの移動動作の一例を示す図。The figure which shows an example of the structure of the jig | tool which concerns on the other Example of this invention, and the movement operation | movement of a sample dispensing probe. 本発明の他の実施例に係るサンプル吐出位置を定める動作の一例を示すフローチャート。The flowchart which shows an example of the operation | movement which determines the sample discharge position which concerns on the other Example of this invention. 本発明の他の実施例に係る治具の構造及びサンプル分注プローブの移動動作の一例を示す図。The figure which shows an example of the structure of the jig | tool which concerns on the other Example of this invention, and the movement operation | movement of a sample dispensing probe.

符号の説明Explanation of symbols

19 分析部
20 サンプル部
21 試薬部
22 反応部
30 分析制御部
31 機構部
32 制御部
35 位置設定部
36 調整位置設定部
37 位置データ生成部
38 位置データ記憶部
40 分析データ処理部
41 演算部
42 記憶部
50 出力部
51 印刷部
52 表示部
60 操作部
70 システム制御部
100 自動分析装置
DESCRIPTION OF SYMBOLS 19 Analysis part 20 Sample part 21 Reagent part 22 Reaction part 30 Analysis control part 31 Mechanism part 32 Control part 35 Position setting part 36 Adjustment position setting part 37 Position data generation part 38 Position data storage part 40 Analysis data processing part 41 Calculation part 42 Storage unit 50 Output unit 51 Printing unit 52 Display unit 60 Operation unit 70 System control unit 100 Automatic analyzer

Claims (13)

サンプルと試薬とを容器に分注してその混合液を測定する自動分析装置において、
前記サンプル又は前記試薬を吸引及び吐出する分注プローブと、
前記分注プローブを水平移動及び上下移動させる分注プローブ移動手段と、
前記分注プローブの前記サンプル又は前記試薬の吸引位置、吐出位置、及び前記分注プローブの洗浄位置の各停止位置を定める位置設定手段と、
中心部に向かって下り勾配の傾斜面をなす上面を有し、前記停止位置の下方に前記中心部を合わせて配置された治具を、この治具と前記分注プローブとの接触により検出する検出手段とを備え、
前記位置設定手段は、前記治具の上方に第p及び第(p+1)の調整位置(pは1以上の整数)を設定し、前記分注プローブ移動手段により前記分注プローブを前記第p及び第(p+1)の調整位置に水平移動させた後に、前記検出手段により検出される前記治具上面の第p及び第(p+1)の検出位置まで下移動させて、前記第p及び第(p+1)の調整位置と前記第p及び第(p+1)の検出位置の間の距離に対応する第p及び第(p+1)の移動距離データを生成し、生成した前記第p及び第(p+1)の移動距離データに基づいて、前記第p及び第(p+1)の検出位置を判断するようにしたことを特徴とする自動分析装置。
In an automatic analyzer that dispenses samples and reagents into containers and measures the mixture,
A dispensing probe for aspirating and discharging the sample or the reagent;
Dispensing probe moving means for moving the dispensing probe horizontally and vertically, and
Position setting means for determining the stop position of the sample probe or reagent aspiration position, discharge position, and washing position of the dispensing probe;
A jig having an upper surface that forms an inclined surface with a downward slope toward the center, and is arranged with the center located below the stop position is detected by contact between the jig and the dispensing probe. Detecting means,
The position setting means sets p-th and (p + 1) -th adjustment positions (p is an integer equal to or greater than 1) above the jig, and the dispensing probe moving means moves the dispensing probe to the p-th and p-th positions. After the horizontal movement to the (p + 1) th adjustment position, the jig is moved down to the pth and (p + 1) th detection positions on the upper surface of the jig detected by the detection means, and the pth and (p + 1) th are detected. And (p + 1) th movement distance data corresponding to the distance between the adjustment position and the pth and (p + 1) th detection positions, and the generated pth and (p + 1) th movement distances are generated. An automatic analyzer characterized by determining the p-th and (p + 1) -th detection positions based on data.
前記位置設定手段は、前記第pの調整位置から微調整距離離れた位置に前記第(p+1)の調整位置を設定したときに前記第p及び第(p+1)の移動距離データが同じである場合、前記第p及び第(p+1)の検出位置を前記治具の中心部であると判断するようにしたことを特徴とする請求項1に記載の自動分析装置。   When the position setting means sets the (p + 1) th adjustment position at a position that is a fine adjustment distance away from the pth adjustment position, the pth and (p + 1) th movement distance data are the same. 2. The automatic analyzer according to claim 1, wherein the p-th and (p + 1) -th detection positions are determined to be a central portion of the jig. 前記位置設定手段は、前記第p及び第(p+1)の移動距離データが異なる場合、前記第p及び第(p+1)の移動距離データの大きい方のデータの調整位置から小さい方のデータの調整位置とは反対側の方向に第(p+2)の調整位置を設定するようにしたことを特徴とする請求項1に記載の自動分析装置。   When the p-th and (p + 1) th movement distance data are different, the position setting means adjusts the smaller data from the adjustment position of the larger data of the p-th and (p + 1) th movement distance data. 2. The automatic analyzer according to claim 1, wherein the (p + 2) adjustment position is set in a direction opposite to the first direction. 前記位置設定手段は、前記第p及び第(p+1)の移動距離データが異なる場合、前記第p及び第(p+1)の移動距離データの大きい方のデータの調整位置から小さい方のデータの調整位置とは反対側の方向の微調整距離離れた位置に第(p+2)の調整位置を設定し、前記分注プローブ移動手段により前記分注プローブを前記第(p+2)の調整位置に水平移動させた後に、前記検出手段により検出される第(p+2)の検出位置まで下移動させて、前記第(p+2)の調整位置と前記第(p+2)の検出位置の間の距離に対応する第(p+2)の移動距離データを生成し、
生成した前記第(p+2)の移動距離データが前記第(p+1)の移動距離データよりも小さい場合、前記第(p+1)の検出位置を前記治具の中心部であると判断するようにしたことを特徴とする請求項1に記載の自動分析装置。
When the p-th and (p + 1) th movement distance data are different, the position setting means adjusts the smaller data from the adjustment position of the larger data of the p-th and (p + 1) th movement distance data. The (p + 2) adjustment position is set at a position away from the fine adjustment distance in the opposite direction, and the dispensing probe is moved horizontally to the (p + 2) adjustment position by the dispensing probe moving means. Later, it is moved down to the (p + 2) detection position detected by the detection means, and the (p + 2) th corresponding to the distance between the (p + 2) adjustment position and the (p + 2) detection position. Generate travel distance data for
When the generated (p + 2) movement distance data is smaller than the (p + 1) movement distance data, the (p + 1) detection position is determined to be the center of the jig. The automatic analyzer according to claim 1.
前記治具上面の傾斜面は、外周部に形成された第1の傾斜面と、前記外周部の内側であって前記第1の傾斜面よりも所定の高さ低い位置に形成された第2の傾斜面とにより構成され、
前記位置設定手段は、前記大きい方のデータから前記小さい方のデータを差し引いた差のデータが前記所定の高さよりも小さい場合、前記大きい方のデータの調整位置から前記小さい方のデータの調整位置とは反対側の方向の粗調整距離離れた位置に前記第(p+2)の調整位置を設定するようにしたことを特徴とする請求項3に記載の自動分析装置。
The inclined surface of the upper surface of the jig has a first inclined surface formed on the outer peripheral portion and a second inner surface formed on the inner side of the outer peripheral portion and at a predetermined height lower than the first inclined surface. And is composed of an inclined surface
The position setting means, when the difference data obtained by subtracting the smaller data from the larger data is smaller than the predetermined height, the adjustment position of the smaller data from the adjustment position of the larger data 4. The automatic analyzer according to claim 3, wherein the (p + 2) adjustment position is set at a position away from a coarse adjustment distance in a direction opposite to the direction.
前記治具上面の傾斜面は、外周部に形成された第1の傾斜面と、前記外周部の内側であって前記第1の傾斜面よりも所定の高さ低い位置に形成された第2の傾斜面とにより構成され、
前記位置設定手段は、前記差のデータが前記所定の高さよりも大きいか又は前記所定の高さと同じである場合、前記大きい方のデータの調整位置から前記小さい方のデータの調整位置とは反対側の方向の微調整距離離れた位置に前記第(p+2)の調整位置を設定するようにしたことを特徴とする請求項3に記載の自動分析装置。
The inclined surface of the upper surface of the jig has a first inclined surface formed on the outer peripheral portion and a second inner surface formed on the inner side of the outer peripheral portion and at a predetermined height lower than the first inclined surface. And is composed of an inclined surface
When the difference data is greater than or equal to the predetermined height, the position setting means is opposite to the adjustment position of the smaller data from the adjustment position of the larger data. 4. The automatic analyzer according to claim 3, wherein the (p + 2) adjustment position is set at a position away from the fine adjustment distance in the side direction.
前記微調整距離は、前記分注プローブが水平移動可能な最小の距離であることを特徴とする請求項2又は請求項4又は請求項6に記載の自動分析装置。   The automatic analyzer according to claim 2, 4 or 6, wherein the fine adjustment distance is a minimum distance in which the dispensing probe can move horizontally. 前記粗調整距離は、前記前記分注プローブが水平移動して前記第2の傾斜面上方を通過するのに要する距離よりも短いことを特徴とする請求項5に記載の自動分析装置。   6. The automatic analyzer according to claim 5, wherein the rough adjustment distance is shorter than a distance required for the dispensing probe to move horizontally and pass above the second inclined surface. 前記位置設定手段は、前記治具の中心部であると判断した移動距離データに対応する調整位置と、予め設定された前記分注プローブの水平移動の基点となる基準位置の間の距離に対応する水平移動距離データを生成し、生成した前記水平移動距離データを前記停止位置として定めるようにしたことを特徴とする請求項1に記載の自動分析装置。   The position setting means corresponds to a distance between an adjustment position corresponding to the movement distance data determined to be the center of the jig and a reference position serving as a base point for the horizontal movement of the dispensing probe set in advance. 2. The automatic analyzer according to claim 1, wherein horizontal movement distance data to be generated is generated, and the generated horizontal movement distance data is determined as the stop position. サンプルと試薬を容器に分注してその混合液を測定する自動分析装置の停止位置設定方法において、
前記サンプル又は前記試薬を吸引及び吐出する分注プローブの前記サンプル又は前記試薬の吸引位置、吐出位置、及び前記分注プローブの洗浄位置の各停止位置の下方に、中心部に向かって下り勾配の傾斜面をなす上面を有し、前記停止位置の下方に前記中心部を合わせて配置した治具の上方に第1の調整位置を設定する第1のステップと、
前記分注プローブを前記第1の調整位置に水平移動させた後に、前記分注プローブと前記治具との接触により前記治具を検出手段により検出される第1の検出位置まで下移動させて、前記第1の調整位置と前記第1の検出位置の間の距離に対応する第1の移動距離データを生成する第2のステップと、
前記第1の調整位置から所定距離離れた位置に第2の調整位置を設定する第3のステップと、
前記分注プローブを前記第2の調整位置に水平移動させた後に、前記検出手段で検出される第2の検出位置まで下移動させて、前記第2の調整位置と前記第2の検出位置の間の距離に対応する第2の移動距離データを生成する第4のステップと、
生成された前記第1及び第2の移動距離データに基づいて、前記第1及び第2の検出位置を判断する第5のステップとを
有することを特徴とする自動分析装置の停止位置設定方法。
In the automatic analyzer stop position setting method that dispenses sample and reagent into a container and measures the mixture,
The dispensing probe for aspirating and discharging the sample or the reagent has a descending slope toward the center below the aspiration position, the ejection position of the sample or the reagent, and the stop position of the washing position of the dispensing probe. A first step of setting a first adjustment position above a jig that has an upper surface that forms an inclined surface and is arranged with the central portion below the stop position;
After the dispensing probe is horizontally moved to the first adjustment position, the jig is moved down to a first detection position detected by a detecting means by contact between the dispensing probe and the jig. A second step of generating first movement distance data corresponding to a distance between the first adjustment position and the first detection position;
A third step of setting a second adjustment position at a position away from the first adjustment position by a predetermined distance;
After the dispensing probe is horizontally moved to the second adjustment position, the dispensing probe is moved down to the second detection position detected by the detection means, and the second adjustment position and the second detection position are A fourth step of generating second movement distance data corresponding to the distance between,
And a fifth step of determining the first and second detection positions based on the generated first and second movement distance data, and a stop position setting method for an automatic analyzer.
サンプルと試薬とを容器に分注してその混合液を測定する自動分析装置において、
前記サンプル又は前記試薬を吸引及び吐出する分注プローブと、
前記分注プローブを水平移動及び上下移動させる分注プローブ移動手段と、
前記分注プローブの前記サンプル又は前記試薬の吸引位置、吐出位置、及び前記分注プローブの洗浄位置の各停止位置を定める位置設定手段と、
中心部に向かって下り勾配の傾斜面をなし、前記中心部を含む鉛直断面の前記傾斜面に対応する線が前記中心部を頂点とする二次関数で表される上面を有し、前記停止位置の下方に前記中心部を合わせて配置された治具を、この治具と前記分注プローブとの接触により検出する検出手段とを備え、
前記位置設定手段は、前記治具の上方に少なくとも第1乃至第3の調整位置を設定し、前記分注プローブ移動手段により前記分注プローブを予め設定された基準位置から前記第1乃至第3の調整位置に水平移動させた後に、前記検出手段により検出される前記治具上面の第1乃至第3の検出位置まで下移動させて、前記基準位置と前記第1乃至第3の調整位置の間の距離に対応する第1乃至第3の水平移動距離データ、及び前記第1乃至第3の調整位置と前記第1乃至第3の検出位置の間の距離に対応する第1乃至第3の移動距離データを生成し、更に生成した前記第1乃至第3の水平移動距離データ及び第1乃至第3の移動距離データに基づいて前記基準位置を原点とした前記二次関数に対応する頂点の座標を求め、求めた前記頂点の座標に対応する水平移動距離データを前記停止位置として定めるようにしたことを特徴とする自動分析装置。
In an automatic analyzer that dispenses samples and reagents into containers and measures the mixture,
A dispensing probe for aspirating and discharging the sample or the reagent;
Dispensing probe moving means for moving the dispensing probe horizontally and vertically, and
Position setting means for determining the stop position of the sample probe or reagent aspiration position, discharge position, and washing position of the dispensing probe;
The stop has an inclined surface with a downward slope toward the center, and a line corresponding to the inclined surface of the vertical section including the center has an upper surface represented by a quadratic function having the center as an apex, and the stop A detecting means for detecting a jig arranged with the central portion below the position by contact between the jig and the dispensing probe;
The position setting means sets at least first to third adjustment positions above the jig, and the dispensing probe moving means moves the dispensing probe from the reference position set in advance to the first to third. Are moved horizontally to the first adjustment position, then moved downward to the first to third detection positions on the upper surface of the jig detected by the detection means, and the reference position and the first to third adjustment positions are adjusted. First to third horizontal movement distance data corresponding to the distance between them, and first to third corresponding to the distances between the first to third adjustment positions and the first to third detection positions. The moving distance data is generated, and further, the vertex corresponding to the quadratic function with the reference position as the origin based on the generated first to third horizontal moving distance data and the first to third moving distance data. The coordinates are obtained, and the coordinates of the obtained vertex are obtained. Automatic analyzer, wherein a corresponding horizontal movement distance data so as to determine as the stop position.
サンプルと試薬とを容器に分注してその混合液を測定する自動分析装置において、
前記サンプル又は前記試薬を吸引及び吐出する分注プローブと、
前記分注プローブを移動させる分注プローブ移動手段と、
前記分注プローブの吸引位置又は吐出位置の停止位置に向かって高さの変化する傾斜面をなす上面を有し、前記停止位置が最上位置又は最下位置である治具と、
前記分注プローブ移動手段により前記分注プローブを移動させて前記治具の上面を検出し、その検出結果に基づいて前記停止位置を定める位置設定手段とを備え、
前記位置設定手段は、前記治具の最下位置又は最上位置を求めて前記停止位置を定めるものであり、前記治具の上面の異なる位置の検出結果に基づいて、次の検出位置を決定するようにしたことを特徴とする自動分析装置。
In an automatic analyzer that dispenses samples and reagents into containers and measures the mixture,
A dispensing probe for aspirating and discharging the sample or the reagent;
A dispensing probe moving means for moving the dispensing probe;
A jig having an upper surface that forms an inclined surface whose height changes toward the suction position or the discharge position of the dispensing probe, and the stop position is an uppermost position or a lowermost position;
A position setting means for detecting the upper surface of the jig by moving the dispensing probe by the dispensing probe moving means, and determining the stop position based on the detection result;
The position setting means determines the lowest position or the highest position of the jig to determine the stop position, and determines the next detection position based on the detection results of different positions on the upper surface of the jig. An automatic analyzer characterized by doing so.
サンプルと試薬とを容器に分注してその混合液を測定する自動分析装置において、
前記サンプル又は前記試薬を吸引及び吐出する分注プローブと、
前記分注プローブを移動させる分注プローブ移動手段と、
前記分注プローブの吸引位置又は吐出位置の停止位置に向かって高さが変化し、その傾きが二次関数で表される傾斜面をなす上面を有し、前記停止位置が最上位置又は最下位置である治具と、
前記分注プローブ移動手段により前記分注プローブを移動させて前記治具の上面を検出し、その検出結果に基づいて前記停止位置を定める位置設定手段とを備え、
前記位置設定手段は、前記治具の上面の少なくとも3点の位置における検出結果に基づいて、前記二次関数を用いて前記最下位置又は最上位置を求めて前記停止位置を定めるようにしたことを特徴とする自動分析装置。
In an automatic analyzer that dispenses samples and reagents into containers and measures the mixture,
A dispensing probe for aspirating and discharging the sample or the reagent;
A dispensing probe moving means for moving the dispensing probe;
The dispensing probe has a top surface that changes in height toward the suction position or the discharge position of the dispensing probe and has an inclined surface whose inclination is represented by a quadratic function, and the stop position is the highest position or the lowest position. A jig that is a position,
A position setting means for detecting the upper surface of the jig by moving the dispensing probe by the dispensing probe moving means, and determining the stop position based on the detection result;
The position setting means determines the stop position by obtaining the lowest position or the highest position using the quadratic function based on detection results at positions of at least three points on the upper surface of the jig. Automatic analyzer characterized by
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