JP2016056422A - Member for terminal and method for manufacturing the same, and terminal for connector - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a member for a terminal capable of obtaining a terminal for a connector having wear resistance and having heat resistance more excellent than that of conventional ones, and to provide a terminal for a connector having wear resistance and having heat resistance more excellent than that of conventional ones.SOLUTION: A member 1 for a terminal includes a substrate 10 made of copper and a copper alloy, a first layer 11 made of Ni and a Ni alloy and formed on the substrate 10, a second layer 12 made of a Cu-Sn alloy and formed on the first layer 11, a third layer 13 made of an Ag-Sn alloy and formed on the second layer 12, and a fourth layer 14 made of Ag or an Ag alloy, formed on the third layer 13 and exposed on the uppermost surface. The member 1 for a terminal is obtained by heating a plating member including a first plating layer 21 comprising Ni plating and the like, a second plating layer 22 consisting of Cu-Sn alloy plating, a third plating layer 23 comprising Sn plating and the like, and a fourth plating layer 24 comprising Ag plating and the like on the substrate 10 in this order.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、端子用部材およびその製造方法ならびにコネクタ用端子に関する。   The present invention relates to a terminal member, a manufacturing method thereof, and a connector terminal.

近年、ハイブリッド自動車や電気自動車等の普及に伴い、コネクタ用端子に大電流が流れる機会が増加している。大電流用のコネクタ用端子は、通電による発熱量が大きいため、耐熱性が要求される。また、上記コネクタ用端子は、電流容量に合わせて端子サイズも大きくなる。そのため、上記コネクタ用端子は、相手方コネクタ用端子との嵌合力が大きくなりやすく、これにより端子表面に損傷が生じやすい。また、メンテナンス等による挿抜回数も多い。それ故、上記コネクタ用端子には、耐摩耗性が要求される。   In recent years, with the widespread use of hybrid vehicles and electric vehicles, opportunities for large currents to flow through connector terminals are increasing. High current connector terminals are required to have heat resistance because they generate a large amount of heat when energized. Moreover, the terminal size of the connector increases in accordance with the current capacity. For this reason, the connector terminal tends to have a large fitting force with the counterpart connector terminal, and thus the surface of the terminal is easily damaged. Moreover, there are many insertions / extractions by maintenance etc. Therefore, wear resistance is required for the connector terminal.

従来、コネクタ用端子に用いられる端子用部材としては、一般に、銅または銅合金からなる基材の表面にSnめっき層が形成された端子用部材が公知である。   Conventionally, as a terminal member used for a connector terminal, a terminal member in which an Sn plating layer is formed on the surface of a base material made of copper or a copper alloy is generally known.

他にも例えば、特許文献1には、銅または銅合金からなる基材と、基材の表面を覆うNiからなる下地層と、下地層の表面を覆うAg−Sn合金層と、Ag−Sn合金層の表面を覆い、最表面に露出するAg層とを有する端子用部材が開示されている。また、同文献には、上記基材上に、Agめっき層、Snめっき層、および、Agめっき層をこの順に形成して加熱することにより、上記端子用部材を形成する製法が開示されている。また、同文献には、上記端子用部材よりなるコネクタ用端子が開示されている。   In addition, for example, in Patent Document 1, a base material made of copper or a copper alloy, a base layer made of Ni covering the surface of the base material, an Ag—Sn alloy layer covering the surface of the base layer, and Ag—Sn A terminal member having an Ag layer covering the surface of the alloy layer and exposed on the outermost surface is disclosed. Further, the same document discloses a manufacturing method for forming the terminal member by forming an Ag plating layer, an Sn plating layer, and an Ag plating layer in this order on the substrate and heating them. . Further, the same document discloses a connector terminal made of the terminal member.

特許第5387742号公報Japanese Patent No. 5387742

しかしながら、従来技術は、以下の点で改良の余地がある。すなわち、上述した一般的な端子用部材は、最表層が比較的軟らかなSnめっき層からなる。そのため、この端子用部材を用いて形成されたコネクタ用端子は、耐摩耗性に劣る。   However, the conventional technology has room for improvement in the following points. That is, the general terminal member described above is composed of an Sn plating layer whose outermost layer is relatively soft. Therefore, the connector terminal formed using this terminal member is inferior in wear resistance.

これに対し、特許文献1の端子用部材は、Ag−Sn合金層と、Ag−Sn合金層の表面を覆うAg層とを有している。そのため、この端子用部材を用いて形成されたコネクタ用端子は、摩擦係数の低減による耐摩耗性を有している。しかし、特許文献1の端子用部材は、さらなる改良により基材に含まれる銅原子の最表面への拡散をより一層抑制し、コネクタ用端子に用いた場合に、優れた耐熱性を発揮させる余地が未だ残されている。   On the other hand, the member for terminals of patent documents 1 has an Ag-Sn alloy layer and an Ag layer which covers the surface of an Ag-Sn alloy layer. Therefore, the connector terminal formed using this terminal member has wear resistance due to the reduction of the friction coefficient. However, the terminal member of Patent Document 1 further suppresses diffusion of copper atoms contained in the base material to the outermost surface by further improvement, and when used for a connector terminal, there is room for exhibiting excellent heat resistance. Is still left.

本発明は、上記背景に鑑みてなされたものであり、耐摩耗性を有し、従来に比べ耐熱性に優れたコネクタ用端子を得ることが可能な端子用部材、また、耐摩耗性を有し、従来に比べ耐熱性に優れたコネクタ用端子を提供しようとするものである。   The present invention has been made in view of the above background, and has a wear resistance and a terminal member capable of obtaining a connector terminal superior in heat resistance as compared with the prior art, and also has wear resistance. In addition, the present invention intends to provide a connector terminal that is superior in heat resistance as compared with the prior art.

本発明の一態様は、銅または銅合金からなる基材と、
該基材上に形成されており、NiまたはNi合金からなる第1層と、
該第1層上に形成されており、Cu−Sn合金からなる第2層と、
該第2層上に形成されており、Ag−Sn合金からなる第3層と、
該第3層上に形成されているとともに最表面に露出しており、AgまたはAg合金からなる第4層と、を有することを特徴とする端子用部材にある。
One aspect of the present invention is a substrate made of copper or a copper alloy;
A first layer formed on the substrate and made of Ni or Ni alloy;
A second layer formed on the first layer and made of a Cu-Sn alloy;
A third layer formed on the second layer and made of an Ag-Sn alloy;
And a fourth layer made of Ag or an Ag alloy, which is formed on the third layer and exposed on the outermost surface.

本発明の他の態様は、上記端子用部材の製造方法であって、
銅または銅合金からなる基材上に、NiめっきまたはNi合金めっきからなる第1めっき層、Cu−Sn合金めっきからなる第2めっき層、SnめっきまたはSn合金めっきからなる第3めっき層、および、AgめっきまたはAg合金めっきからなる第4めっき層をこの順に有するめっき部材を準備する準備工程と、
上記めっき部材を加熱することにより、上記第1めっき層からなる上記第1層と、上記第2めっき層からなる上記第2層と、上記第3めっき層と上記第4めっき層の一部とが合金化して形成されたAg−Sn合金からなる上記第3層と、上記第4めっき層の残部からなる上記第4層とを得る加熱工程と、を有することを特徴とする端子用部材の製造方法にある。
Another aspect of the present invention is a method for manufacturing the terminal member,
On a base material made of copper or copper alloy, a first plating layer made of Ni plating or Ni alloy plating, a second plating layer made of Cu-Sn alloy plating, a third plating layer made of Sn plating or Sn alloy plating, and A preparation step of preparing a plating member having a fourth plating layer made of Ag plating or Ag alloy plating in this order;
By heating the plating member, the first layer composed of the first plating layer, the second layer composed of the second plating layer, the third plating layer, and a part of the fourth plating layer, And a heating step for obtaining the third layer made of an Ag—Sn alloy formed by alloying and the fourth layer made of the remainder of the fourth plating layer. In the manufacturing method.

本発明のさらに他の態様は、上記端子用部材を用いて形成されていることを特徴とするコネクタ用端子にある。   Still another embodiment of the present invention lies in a connector terminal which is formed using the terminal member.

上記端子用部材は、Ag−Sn合金からなる第3層と、第3層上に形成されているとともに最表面に露出しており、AgまたはAg合金からなる第4層とを有している。上記端子用部材は、AgまたはAg合金に比べて硬いAg−Sn合金からなる第3層上に、AgまたはAg合金からなる第4層が形成されている。そのため、上記端子用部材は、コネクタ用端子に用いた場合に、第3層が第4層と同じ材質である場合に比べ、第4層表面の摩擦係数を低減させることができ、これにより耐摩耗性を確保することが可能となる。   The terminal member has a third layer made of an Ag—Sn alloy, and a fourth layer made of Ag or an Ag alloy, which is formed on the third layer and exposed on the outermost surface. . In the terminal member, a fourth layer made of Ag or Ag alloy is formed on a third layer made of Ag—Sn alloy which is harder than Ag or Ag alloy. Therefore, when the terminal member is used for a connector terminal, the friction coefficient on the surface of the fourth layer can be reduced as compared with the case where the third layer is made of the same material as the fourth layer. Abrasion can be ensured.

また、上記端子用部材は、基材と第4層との間に、NiまたはNi合金からなる第1層と、第1層上に形成されており、Cu−Sn合金からなる第2層とを有している。そのため、基材に含まれる銅原子の最表面への拡散が、先ず、第1層により抑制される。そして、第1層を通り越した銅原子がある場合、当該銅原子の最表面へのさらなる拡散は、第1層の上方に配置されている第2層により抑制される。そのため、上記端子用部材は、コネクタ用端子に用いた場合に、大電流による発熱等により基材の銅原子が最表面まで到達し難く、最表面に銅酸化物が形成され難い。したがって、上記端子用部材は、コネクタ用端子に用いた場合に、第1層および第2層の効果により優れた耐熱性を発揮することが可能となる。   The terminal member includes a first layer made of Ni or a Ni alloy between the base material and the fourth layer, a second layer made of the Cu—Sn alloy formed on the first layer, and have. Therefore, diffusion of copper atoms contained in the base material to the outermost surface is first suppressed by the first layer. And when there exists a copper atom which passed the 1st layer, the further spreading | diffusion to the outermost surface of the said copper atom is suppressed by the 2nd layer arrange | positioned above the 1st layer. Therefore, when the terminal member is used as a connector terminal, the copper atoms of the base material are unlikely to reach the outermost surface due to heat generated by a large current, and copper oxide is not easily formed on the outermost surface. Therefore, when the terminal member is used as a connector terminal, it is possible to exhibit excellent heat resistance due to the effects of the first layer and the second layer.

よって、上記端子用部材によれば、耐摩耗性を有し、従来に比べ耐熱性に優れたコネクタ用端子を得ることができる。   Therefore, according to the terminal member, it is possible to obtain a connector terminal having wear resistance and superior heat resistance as compared with the conventional one.

上記端子用部材の製造方法は、上述した準備工程と加熱工程とを有している。そのため、上記端子用部材の製造方法によれば、上記端子用部材が得られる。   The manufacturing method of the said member for terminals has the preparation process and heating process which were mentioned above. Therefore, according to the method for manufacturing the terminal member, the terminal member is obtained.

特に、上記端子用部材の製造方法によれば、層内にほとんどボイドのないAg−Sn合金からなる第3層を有する端子用部材が得られる。これは、上述した積層構造を有するめっき部材を加熱しているため、Ag−Sn合金からなる第3層が形成される際にボイドの原因となる巣が層内に発生し難いためであると推察される。Ag−Sn合金内にボイドが多数生じると、ボイドを起点に欠けや割れが発生してAg−Sn合金の剥離が生じ、摩耗が促進される。したがって、上記端子用部材の製造方法によれば、摩擦係数の低減により耐摩耗性が発揮されるだけではなく、ボイドに起因する摩耗促進を抑制することが可能な、耐摩耗性に優れた端子用部材が得られる。   In particular, according to the method for manufacturing a terminal member, a terminal member having a third layer made of an Ag—Sn alloy having almost no voids in the layer can be obtained. This is because the plating member having the above-described laminated structure is heated, so that when the third layer made of the Ag—Sn alloy is formed, a nest that causes voids is hardly generated in the layer. Inferred. When a large number of voids are generated in the Ag—Sn alloy, chipping or cracking occurs starting from the void, and the Ag—Sn alloy is peeled off to promote wear. Therefore, according to the method for manufacturing a terminal member, a terminal having excellent wear resistance that not only exhibits wear resistance by reducing a friction coefficient but also can suppress acceleration of wear caused by voids. A member for use is obtained.

上記コネクタ用端子は、上記端子用部材を用いて形成されているので、耐摩耗性を有し、従来に比べ耐熱性に優れる。   Since the connector terminal is formed by using the terminal member, the connector terminal has wear resistance and is excellent in heat resistance as compared with the conventional case.

実施例1の端子用部材の積層構造を模式的に示した説明図である。FIG. 3 is an explanatory diagram schematically showing a laminated structure of a terminal member in Example 1. 実施例1の端子用部材の製造方法にて準備されるめっき部材の積層構造を模式的に示した説明図である。It is explanatory drawing which showed typically the laminated structure of the plating member prepared with the manufacturing method of the member for terminals of Example 1. FIG. 実験例における試料1の端子用部材の走査型電子顕微鏡写真である。It is a scanning electron micrograph of the member for terminals of sample 1 in an example of an experiment. 実験例における比較試料1の端子用部材の走査型電子顕微鏡写真である。It is a scanning electron micrograph of the member for terminals of comparative sample 1 in an experimental example. 実験例において、ボイドに起因する摩耗の促進について説明するための走査型電子顕微鏡写真である。In an experimental example, it is a scanning electron micrograph for demonstrating acceleration | stimulation of the abrasion resulting from a void. 実験例において、ボイドに起因する摩耗の促進について説明するための他の走査型電子顕微鏡写真である。In an experiment example, it is another scanning electron micrograph for explaining promotion of wear resulting from a void.

上記端子用部材について説明する。   The terminal member will be described.

上記端子用部材は、具体的には、例えば、板状等の形状を呈することができる。この場合、上記端子用部材は、片面または両面に各層を有することができる。各層は、端子用部材の表面の一部に部分的に形成されていてもよいし、端子用部材の表面の全面に形成されていてもよい。   Specifically, the terminal member can have a plate shape or the like, for example. In this case, the terminal member may have each layer on one side or both sides. Each layer may be partially formed on a part of the surface of the terminal member, or may be formed on the entire surface of the terminal member.

上記端子用部材において、第1層の厚みは、基材からの銅原子の拡散を抑制する効果を確実なものとする等の観点から、好ましくは、0.2μm以上、より好ましくは、0.5μm以上とすることができる。また、第1層の厚みは、曲げ加工性(割れ防止)等の観点から、好ましくは、3μm以下、より好ましくは、2.5μm以下とすることができる。   In the terminal member, the thickness of the first layer is preferably 0.2 μm or more, more preferably, from the viewpoint of ensuring the effect of suppressing the diffusion of copper atoms from the substrate. It can be 5 μm or more. In addition, the thickness of the first layer is preferably 3 μm or less, more preferably 2.5 μm or less, from the viewpoint of bending workability (cracking prevention) and the like.

第2層の厚みは、基材からの銅原子の拡散、さらに第1層からのNi原子の拡散を抑制する効果を確実なものとする等の観点から、好ましくは、0.1μm以上、より好ましくは、0.2μm以上とすることができる。また、第2層の厚みは、曲げ加工性(割れ防止)等の観点から、好ましくは、1μm以下、より好ましくは、0.5μm以下とすることができる。   The thickness of the second layer is preferably 0.1 μm or more from the viewpoint of ensuring the effect of suppressing the diffusion of copper atoms from the base material and further the diffusion of Ni atoms from the first layer. Preferably, it can be 0.2 μm or more. The thickness of the second layer is preferably 1 μm or less, more preferably 0.5 μm or less, from the viewpoint of bending workability (cracking prevention) and the like.

第3層の厚みは、第4層表面の摩擦係数の低減による耐摩耗性の向上を図りやすくなる等の観点から、好ましくは、1μm以上、より好ましくは、2μm以上とすることができる。なお、第3層の厚みは、生産性、製造コストの低減等の観点から、例えば、45μm以下とすることができる。   The thickness of the third layer is preferably 1 μm or more, more preferably 2 μm or more, from the viewpoint of easily improving the wear resistance by reducing the friction coefficient on the surface of the fourth layer. The thickness of the third layer can be set to 45 μm or less, for example, from the viewpoint of productivity, reduction of manufacturing cost, and the like.

第4層の厚みは、第3層の厚みよりも薄くなるように構成することができる。この場合には、第4層が、下層にある比較的硬い第3層の影響を受けやすくなり、第4層表面の摩擦係数の低減による耐摩耗性の向上を図りやすくなる。また、第4層の熱による軟化も少なくなるので、その分、耐熱性が向上する。なお、第4層の厚みは、具体的には、例えば、良好な導電性の確保等の観点から、好ましくは、0.5μm以上、より好ましくは、0.8μm以上、さらに好ましくは、1μm以上とすることができる。   The thickness of the fourth layer can be configured to be thinner than the thickness of the third layer. In this case, the fourth layer is easily affected by the relatively hard third layer in the lower layer, and it becomes easy to improve the wear resistance by reducing the friction coefficient on the surface of the fourth layer. Further, since the fourth layer is less softened by heat, the heat resistance is improved accordingly. The thickness of the fourth layer is specifically preferably 0.5 μm or more, more preferably 0.8 μm or more, and further preferably 1 μm or more, from the viewpoint of ensuring good conductivity, for example. It can be.

上記端子用部材において、第4層は、Agからなることが好ましい。この場合には、コネクタ用端子に用いられた場合に、コネクタ用端子が有する電気接点部の接触抵抗を低減させやすくなる。また、低摩擦性も確保しやすいなどの利点もある。   In the terminal member, the fourth layer is preferably made of Ag. In this case, when used as a connector terminal, the contact resistance of the electrical contact portion of the connector terminal can be easily reduced. In addition, there is an advantage that it is easy to ensure low friction.

上記端子用部材において、第3層は、層内にボイドを有していないことが好ましい。この場合には、コネクタ用端子に用いられた場合に、ボイドを起点に欠けや割れが発生してAg−Sn合金の剥離が生じ難くなるため、優れた耐摩耗性が得られる。なお、上記にいうボイドとは、コネクタ用端子の使用時に、Ag−Sn合金の欠けや割れの起点となってAg−Sn合金の剥離を生じさせ、摩耗の促進につながるような空洞部分を意味する。したがって、第3層の内部において、上記摩耗の促進につながらないような微小な空洞は許容される。層内におけるボイドの有無は、走査型電子顕微鏡による断面観察等により判断することができる。   In the terminal member, the third layer preferably has no voids in the layer. In this case, when used as a connector terminal, chipping or cracking occurs starting from the void, and the Ag—Sn alloy does not easily peel off, so that excellent wear resistance can be obtained. In addition, the above-mentioned void means a hollow portion that causes peeling of the Ag-Sn alloy as a starting point of chipping or cracking of the Ag-Sn alloy when the connector terminal is used, leading to accelerated wear. To do. Accordingly, a minute cavity that does not lead to the above-described wear promotion is allowed inside the third layer. The presence or absence of voids in the layer can be determined by cross-sectional observation using a scanning electron microscope.

次に、上記端子用部材の製造方法について説明する。   Next, a method for manufacturing the terminal member will be described.

上記端子用部材の製造方法において、めっき部材における第3めっき層は、Snからなり、第4めっき層は、Agからなることが好ましい。この場合には、加熱工程において、Ag−Sn合金からなる第3層とAgからなる第4層とを得やすくなる利点がある。   In the method for manufacturing a terminal member, the third plating layer in the plating member is preferably made of Sn, and the fourth plating layer is preferably made of Ag. In this case, there is an advantage that it is easy to obtain the third layer made of Ag—Sn alloy and the fourth layer made of Ag in the heating step.

めっき部材における第1めっき層の厚みは、基材からの銅原子の拡散を抑制する効果を確実なものとする等の観点から、好ましくは、0.2μm以上、より好ましくは、0.5μm以上、さらに好ましくは、0.8μm以上とすることができる。また、第1めっき層の厚みは、曲げ加工性(割れ防止)等の観点から、好ましくは、3μm以下、より好ましくは、2.5μm以下、さらに好ましくは、2μm以下とすることができる。   The thickness of the first plating layer in the plating member is preferably 0.2 μm or more, more preferably 0.5 μm or more from the viewpoint of ensuring the effect of suppressing the diffusion of copper atoms from the substrate. More preferably, it can be 0.8 μm or more. The thickness of the first plating layer is preferably 3 μm or less, more preferably 2.5 μm or less, and even more preferably 2 μm or less, from the viewpoint of bending workability (cracking prevention) and the like.

第2めっき層の厚みは、基材からの銅原子の拡散、さらに第1めっき層からのNi原子の拡散を抑制する効果を確実なものとする等の観点から、好ましくは、0.1μm以上、より好ましくは、0.2μm以上とすることができる。また、第2めっき層の厚みは、曲げ加工性(割れ防止)等の観点から、好ましくは、1μm以下、より好ましくは、0.5μm以下とすることができる。   The thickness of the second plating layer is preferably 0.1 μm or more from the viewpoint of ensuring the effect of suppressing the diffusion of copper atoms from the substrate and the diffusion of Ni atoms from the first plating layer. More preferably, it can be 0.2 μm or more. In addition, the thickness of the second plating layer is preferably 1 μm or less, more preferably 0.5 μm or less, from the viewpoint of bending workability (cracking prevention) and the like.

なお、第3めっき層および第4めっき層の厚みは、めっき部材の加熱によって上述した第3層と第4層とが形成されるように、最適な厚み比率に調節することができる。具体的には、SnとAgとの質量数及び密度等を考慮し、上記合金化によってSnが残らず、かつ、上記合金化によりAgが消費された後にも第4めっき層中のAgが残るように第3めっき層および第4めっき層の厚みの比率を設定することができる。より具体的には、Snの膜厚を1としたとき、膜厚1.9のAgが過不足なく反応する点を利用し、各層の厚みを設定することができる。   In addition, the thickness of a 3rd plating layer and a 4th plating layer can be adjusted to an optimal thickness ratio so that the 3rd layer and the 4th layer which were mentioned above may be formed by the heating of a plating member. Specifically, considering the mass number and density of Sn and Ag, Sn does not remain by the alloying, and Ag in the fourth plating layer remains even after the Ag is consumed by the alloying. Thus, the ratio of the thicknesses of the third plating layer and the fourth plating layer can be set. More specifically, when the Sn film thickness is 1, the thickness of each layer can be set using the point that Ag with a film thickness of 1.9 reacts without excess or deficiency.

第3めっき層の厚みは、第3層の形成を確実なものとする等の観点から、好ましくは0.5〜15μm、より好ましくは0.5〜3μmの範囲内とすることができる。   The thickness of the third plating layer is preferably in the range of 0.5 to 15 μm, more preferably in the range of 0.5 to 3 μm, from the viewpoint of ensuring the formation of the third layer.

第4めっき層の厚みは、第4層の形成を確実なものとする等の観点から、好ましくは1〜30μm、より好ましくは1〜4μmの範囲内とすることができる。   The thickness of the fourth plating layer is preferably 1 to 30 μm, more preferably 1 to 4 μm from the viewpoint of ensuring the formation of the fourth layer.

上記端子用部材の製造方法において、めっき部材を加熱する際の加熱雰囲気は、例えば、大気雰囲気とすることができる。また、加熱温度は、Ag−Sn合金の合金化を促進するなどの観点から、Snの融点以上の温度とすることができる。より具体的には、加熱温度は、好ましくは、240℃以上、より好ましくは、250℃以上、さらに好ましくは、260℃以上とすることができる。加熱温度は、Snの酸化防止等の観点から、好ましくは、300℃以下とすることができる。また、加熱時間は、Ag−Sn合金の合金化を促進するなどの観点から、好ましくは、0.1分以上、より好ましくは、0.2分以上、さらに好ましくは、0.5分以上とすることができる。加熱時間は、Snの酸化防止等の観点から、好ましくは、3分以下、より好ましくは、2分以下、さらに好ましくは、1.5分以下とすることができる。   In the method for manufacturing the terminal member, the heating atmosphere when the plating member is heated can be, for example, an air atmosphere. The heating temperature can be set to a temperature equal to or higher than the melting point of Sn from the viewpoint of promoting alloying of the Ag—Sn alloy. More specifically, the heating temperature is preferably 240 ° C. or higher, more preferably 250 ° C. or higher, and still more preferably 260 ° C. or higher. The heating temperature can be preferably 300 ° C. or less from the viewpoint of preventing oxidation of Sn and the like. The heating time is preferably 0.1 minutes or more, more preferably 0.2 minutes or more, and further preferably 0.5 minutes or more from the viewpoint of promoting alloying of the Ag—Sn alloy. can do. The heating time is preferably 3 minutes or less, more preferably 2 minutes or less, and even more preferably 1.5 minutes or less from the viewpoint of preventing oxidation of Sn or the like.

なお、めっき部材の加熱方法としては、例えば、リフロー炉、通電加熱、高周波誘導加熱などを利用することができる。   In addition, as a heating method of a plating member, for example, a reflow furnace, energization heating, high frequency induction heating, or the like can be used.

上記端子用部材の製造方法において、めっき部材は、基材上に、第1めっき層、第2めっき層、および、第3めっき層をこの順に有するプレめっき部材を準備し、このプレめっき部材の第3めっき層上に第4めっき層が形成されることによって準備することができる。   In the method for manufacturing a terminal member, a plating member is prepared by preparing a pre-plating member having a first plating layer, a second plating layer, and a third plating layer in this order on a substrate. It can be prepared by forming a fourth plating layer on the third plating layer.

この場合には、別に準備されたプレめっき部材が用いられるため、第3めっき層上に第4めっき層を形成するだけで済む。そのため、めっき部材の準備に必要なめっき工程が複雑にならずに済み、端子用部材の製造性を向上させることができる。   In this case, since a pre-plated member prepared separately is used, it is only necessary to form the fourth plating layer on the third plating layer. Therefore, the plating process necessary for preparing the plating member is not complicated, and the productivity of the terminal member can be improved.

次に、上記コネクタ用端子について説明する。   Next, the connector terminal will be described.

上記コネクタ用端子は、具体的には、オス型端子、メス型端子、中継端子等として構成することができる。コネクタ用端子は、より具体的には、例えば、相手方コネクタ用端子と接触する電気接点部を有しており、少なくとも当該電気接点部における基材上に上述した各層が積層された構成とすることができる。電気接点部は、相手方コネクタ用端子との接触により、摩耗が問題となりやすく、耐摩耗性が要求される。また、電気接点部は、基材の銅原子の熱拡散に起因する銅酸化物による接触抵抗の増加が問題となりやすく、耐熱性が要求される。そのため、この場合には、上述した効果を十分に発揮することができる。   Specifically, the connector terminal can be configured as a male terminal, a female terminal, a relay terminal, or the like. More specifically, the connector terminal has, for example, an electrical contact portion that comes into contact with the mating connector terminal, and at least the above-described layers are laminated on the base material in the electrical contact portion. Can do. The electrical contact portion is likely to be a problem of wear due to contact with the mating connector terminal, and wear resistance is required. Moreover, the electrical contact portion is likely to have a problem of an increase in contact resistance due to copper oxide caused by thermal diffusion of copper atoms of the base material, and is required to have heat resistance. Therefore, in this case, the above-described effects can be sufficiently exerted.

もっとも、上記コネクタ用端子は、例えば、打抜きによる破面部分を除いた全ての基材上に、上述した各層が積層された構成を有していてもよいし、打ち抜きによる破面部分を含む全ての基材上に、上述した各層が積層された構成を有していてもよい。   However, the connector terminal may have, for example, a structure in which each of the above-described layers is laminated on all base materials except for a fractured surface portion by punching, or all including a fractured surface portion by punching. You may have the structure by which each layer mentioned above was laminated | stacked on this base material.

なお、上述した各構成は、上述した各作用効果等を得るなどのために必要に応じて任意に組み合わせることができる。   In addition, each structure mentioned above can be arbitrarily combined as needed, in order to acquire each effect etc. which were mentioned above.

以下、実施例の端子用部材およびその製造方法ならびにコネクタ用端子について、図面を用いて説明する。なお、同一部材については同一の符号を用いて説明する。   Hereinafter, the member for terminals of the example, its manufacturing method, and the connector terminal will be described with reference to the drawings. In addition, about the same member, it demonstrates using the same code | symbol.

(実施例1)
実施例1の端子用部材およびその製造方法ならびにコネクタ用端子について、図1および図2を用いて説明する。図1に示すように、本例の端子用部材1は、基材10と、基材10上に形成されている第1層11と、第1層11上に形成されている第2層12と、第2層12上に形成されている第3層13と、第3層13上に形成されている第4層14と、を有している。第4層14は、最表面に露出している。なお、基材10と第1層11、第1層11と第2層12、第2層12と第3層13、第3層13と第4層14とは互いに接している。
(Example 1)
A terminal member, a manufacturing method thereof, and a connector terminal of Example 1 will be described with reference to FIGS. As shown in FIG. 1, the terminal member 1 of this example includes a base material 10, a first layer 11 formed on the base material 10, and a second layer 12 formed on the first layer 11. And a third layer 13 formed on the second layer 12 and a fourth layer 14 formed on the third layer 13. The fourth layer 14 is exposed on the outermost surface. The substrate 10 and the first layer 11, the first layer 11 and the second layer 12, the second layer 12 and the third layer 13, and the third layer 13 and the fourth layer 14 are in contact with each other.

基材10は、銅または銅合金からなる。第1層11は、NiまたはNi合金からなる。第2層12は、Cu−Sn合金からなる。第3層13は、Ag−Sn合金からなる。第4層14は、AgまたはAg合金からなる。本例では、具体的には、第1層11は、Niからなり、第4層14は、Agからなる。   The substrate 10 is made of copper or a copper alloy. The first layer 11 is made of Ni or Ni alloy. The second layer 12 is made of a Cu—Sn alloy. The third layer 13 is made of an Ag—Sn alloy. The fourth layer 14 is made of Ag or an Ag alloy. Specifically, in this example, the first layer 11 is made of Ni, and the fourth layer 14 is made of Ag.

本例において、第1層11の厚みは、0.5μmである。第2層12の厚みは、0.6μmである。第3層13の厚みは、1.1μmである。第4層14の厚みは、1.0μmである。また、端子用部材1は、第3層13の層内(第2層12および第4層14の界面は除かれる)にボイドを有していない。   In this example, the thickness of the first layer 11 is 0.5 μm. The thickness of the second layer 12 is 0.6 μm. The thickness of the third layer 13 is 1.1 μm. The thickness of the fourth layer 14 is 1.0 μm. Further, the terminal member 1 does not have voids in the third layer 13 (except for the interface between the second layer 12 and the fourth layer 14).

本例の端子用部材の製造方法は、準備工程と、加熱工程とを有している。   The manufacturing method of the member for terminals of this example has a preparation process and a heating process.

上記準備工程では、めっき部材2が準備される。めっき部材2は、基材10上に、第1めっき層21、第2めっき層22、第3めっき層23、および、第4めっき層24をこの順に有している。基材10は、銅または銅合金からなる。第1めっき層21は、NiめっきまたはNi合金めっきからなる。第2めっき層22は、Cu−Sn合金めっきからなる。第3めっき層23は、SnめっきまたはSn合金めっきからなる。第4めっき層24は、AgまたはAg合金からなる。本例では、具体的には、第3めっき層23は、Snめっきからなり、第4めっき層24は、Agめっきからなる。   In the preparation step, the plating member 2 is prepared. The plating member 2 has a first plating layer 21, a second plating layer 22, a third plating layer 23, and a fourth plating layer 24 in this order on the substrate 10. The substrate 10 is made of copper or a copper alloy. The first plating layer 21 is made of Ni plating or Ni alloy plating. The second plating layer 22 is made of Cu—Sn alloy plating. The third plating layer 23 is made of Sn plating or Sn alloy plating. The fourth plating layer 24 is made of Ag or an Ag alloy. In this example, specifically, the 3rd plating layer 23 consists of Sn plating, and the 4th plating layer 24 consists of Ag plating.

本例において、第1めっき層21の厚みは、0.5μmである。第2めっき層22の厚みは、0.6μmである。第3めっき層23の厚みは、0.5μmである。第4めっき層の厚みは、2.0μmである。   In the present example, the thickness of the first plating layer 21 is 0.5 μm. The thickness of the second plating layer 22 is 0.6 μm. The thickness of the third plating layer 23 is 0.5 μm. The thickness of the fourth plating layer is 2.0 μm.

本例において、めっき部材2は、基材10上に、第1めっき層21、第2めっき層22、および、第3めっき層23をこの順に有するプレめっき部材(不図示)を予め準備し、このプレめっき部材の第3めっき層23上に第4めっき層24が形成されることによって準備されたものである。   In this example, the plating member 2 prepares in advance a pre-plating member (not shown) having the first plating layer 21, the second plating layer 22, and the third plating layer 23 in this order on the substrate 10. This is prepared by forming the fourth plating layer 24 on the third plating layer 23 of the pre-plating member.

本例の端子用部材の製造方法において、加熱工程では、めっき部材2が加熱される。加熱条件は、具体的には、大気雰囲気、290℃で1分間とされる。加熱工程における加熱は、リフロー炉を用いて行われる。   In the manufacturing method of the member for terminals of this example, the plating member 2 is heated in the heating step. Specifically, the heating condition is an air atmosphere at 290 ° C. for 1 minute. Heating in the heating step is performed using a reflow furnace.

本例のコネクタ用端子(不図示)は、本例の端子用部材1を用いて形成されている。コネクタ用端子は、具体的には、相手方コネクタ用端子(不図示)と接触する電気接点部を有しており、この電気接点部における基材10上に各層11〜14が積層されている。電気接点部以外の部分は、基材10上に、Ni層、Sn層がこの順に積層されている。なお、本例のコネクタ用端子は、板上の端子用部材1が端子形状に打ち抜かれ、折り曲げ形成を経ることにより形成されている。なお、本例では、上記打ち抜きによる破面は、基材10が露出している。   The connector terminal (not shown) of this example is formed using the terminal member 1 of this example. Specifically, the connector terminal has an electrical contact portion that comes into contact with a counterpart connector terminal (not shown), and the layers 11 to 14 are laminated on the base material 10 in the electrical contact portion. In a portion other than the electrical contact portion, a Ni layer and a Sn layer are laminated in this order on the base material 10. The connector terminal of this example is formed by punching the terminal member 1 on the plate into a terminal shape and bending it. In this example, the base material 10 is exposed at the fracture surface due to the punching.

<実験例>
以下、実験例を用いてより具体的に説明する。
<Experimental example>
Hereinafter, it demonstrates more concretely using an experiment example.

(試料1)
銅合金板からなる基材上に、Niめっきからなる第1めっき層(厚み0.5μm)、Cu−Sn合金めっきからなる第2めっき層(厚み0.6μm)、および、Snめっきからなる第3めっき層(厚み0.5μm)をこの順に有するプレめっき部材を準備した。
(Sample 1)
On a base material made of a copper alloy plate, a first plating layer made of Ni plating (thickness 0.5 μm), a second plating layer made of Cu—Sn alloy plating (thickness 0.6 μm), and a first plating layer made of Sn plating. A pre-plated member having three plating layers (thickness 0.5 μm) in this order was prepared.

プレめっき部材は、清浄な銅合金板からなる基材の表面に、以下の条件にて、Niめっき層、Cuめっき層、および、Snめっき層をこの順に形成した後、290℃にて60秒間加熱するリフロー処理を施すことにより作製した。
<Niめっき層>
・NiSO・6HO 240g/L、NiCl・6HO 30g/L、HBO 30g/Lを含むめっき浴を使用
・操作温度45℃
・電流密度:5ASD
<Cuめっき層>
・CuSO 250g/L、HSO 80g/L、光沢剤 10g/Lを含むめっき浴を使用
・操作温度45℃
・電流密度:5ASD
<Snめっき層>
・SnSO 50g/L、HSO 80g/L、クレゾールスルホン酸:30g/L、光沢剤 10g/Lを含むめっき浴を使用
・操作温度15℃
・電流密度:3ASD
The pre-plated member is formed with a Ni plated layer, a Cu plated layer, and a Sn plated layer in this order on the surface of a substrate made of a clean copper alloy plate in the following conditions, and then at 290 ° C. for 60 seconds. It produced by giving the reflow process which heats.
<Ni plating layer>
Uses a plating bath containing NiSO 4 · 6H 2 O 240 g / L, NiCl 2 · 6H 2 O 30 g / L, H 3 BO 3 30 g / L
・ Current density: 5ASD
<Cu plating layer>
Uses a plating bath containing CuSO 4 250 g / L, H 2 SO 4 80 g / L, and brightener 10 g / L. Operating temperature 45 ° C.
・ Current density: 5ASD
<Sn plating layer>
Use of a plating bath containing SnSO 4 50 g / L, H 2 SO 4 80 g / L, cresolsulfonic acid: 30 g / L, brightener 10 g / L
・ Current density: 3ASD

次いで、このプレめっき部材の第3めっき層上に、以下の条件にて電気めっき処理を施し、Agめっきからなる第4めっき層を形成した。これにより、めっき部材Aを準備した。
<第4めっき層>
・Ag濃度 45g/Lのめっき浴を使用
・操作温度:30℃
・電流密度:5ASD
・厚み:2μm
Next, electroplating was performed on the third plating layer of the pre-plated member under the following conditions to form a fourth plating layer made of Ag plating. Thereby, the plating member A was prepared.
<4th plating layer>
・ A plating bath with an Ag concentration of 45 g / L is used. ・ Operating temperature: 30 ° C.
・ Current density: 5ASD
・ Thickness: 2μm

次いで、めっき部材Aを、大気中において290℃で1分間加熱した。これにより、試料1の端子用部材を得た。得られた試料1の端子用部材の断面SEM写真を図3に示す。図3に示されるように、上記加熱処理が施されることにより、銅合金からなる基材10上に、第1めっき層21からなる第1層11(厚み0.5μm)と、第2めっき層22からなる第2層12(厚み0.6μm)と、第3めっき層23と第4めっき層24の一部とが合金化して形成されたAg−Sn合金からなる第3層13(厚み1.1μm)と、第4めっき層24の残部からなる第4層14(厚み1μm)とがこの順に形成されていることがわかる。なお、各層の化学組成は、AgとSnのピーク強度をオージェ電子放出断面積で規格化することによって、全存在元素中に占めるこれらの元素の存在量を算出することにより測定した。その結果、第2層は、具体的には、CuSnの組成を有していた。第3層は、具体的には、AgSnの組成を有していた。また、図3に示されるように、第3層13は、層内にほとんどボイドが見られなかった。 Next, the plated member A was heated in the atmosphere at 290 ° C. for 1 minute. Thereby, the member for terminals of sample 1 was obtained. A cross-sectional SEM photograph of the obtained terminal member of Sample 1 is shown in FIG. As shown in FIG. 3, by performing the heat treatment, the first layer 11 (thickness 0.5 μm) made of the first plating layer 21 and the second plating are formed on the base material 10 made of copper alloy. The third layer 13 (thickness) made of an Ag—Sn alloy formed by alloying the second layer 12 (thickness 0.6 μm) made of the layer 22 and the third plating layer 23 and a part of the fourth plating layer 24. 1.1 μm) and the fourth layer 14 (thickness 1 μm) made of the remainder of the fourth plating layer 24 are formed in this order. The chemical composition of each layer was measured by calculating the abundance of these elements in all the existing elements by normalizing the peak intensities of Ag and Sn with the Auger electron emission cross section. As a result, the second layer specifically had a composition of Cu 6 Sn 5 . Specifically, the third layer had a composition of Ag 4 Sn 1 . Further, as shown in FIG. 3, the third layer 13 had almost no voids in the layer.

(比較試料1)
清浄な銅合金板からなる基材の表面に、以下の条件にて電気めっき処理を施し、Niめっき層、Agめっき層(1)、Snめっき層、および、Agめっき層(2)をこの順に形成した。これにより、めっき部材Bを準備した。
<Niめっき層>
・Ni濃度 100g/Lのめっき浴を使用
・操作温度:30℃
・電流密度:6ASD
・厚み:2.4μm
<Agめっき層(1)>
・Ag濃度 45g/Lのめっき浴を使用
・操作温度:30℃
・電流密度:5ASD
・厚み:2.7μm
<Snめっき層>
・Sn濃度 60g/Lのめっき浴を使用
・添加剤:40mL/L
・操作温度:40℃
・電流密度:5ASD
・厚み:1.2μm
<Agめっき層(2)>
・Ag濃度 45g/Lのめっき浴を使用
・操作温度:30℃
・電流密度:5ASD
・厚み:3.8μm
(Comparative sample 1)
The surface of the substrate made of a clean copper alloy plate is subjected to electroplating treatment under the following conditions, and the Ni plating layer, the Ag plating layer (1), the Sn plating layer, and the Ag plating layer (2) are arranged in this order. Formed. Thereby, the plating member B was prepared.
<Ni plating layer>
・ Uses plating bath with Ni concentration of 100g / L ・ Operating temperature: 30 ℃
・ Current density: 6ASD
・ Thickness: 2.4 μm
<Ag plating layer (1)>
・ A plating bath with an Ag concentration of 45 g / L is used. ・ Operating temperature: 30 ° C.
・ Current density: 5ASD
・ Thickness: 2.7μm
<Sn plating layer>
・ Uses plating bath with Sn concentration of 60 g / L ・ Additive: 40 mL / L
・ Operating temperature: 40 ℃
・ Current density: 5ASD
・ Thickness: 1.2μm
<Ag plating layer (2)>
・ A plating bath with an Ag concentration of 45 g / L is used. ・ Operating temperature: 30 ° C.
・ Current density: 5ASD
・ Thickness: 3.8 μm

次いで、めっき部材Bを、大気中において290℃で1分間加熱した。これにより、比較試料1の端子用部材を得た。得られた比較試料1の端子用部材について、試料1と同様の観察、測定を実施した。比較試料1の端子用部材の断面SEM写真を図4に示す。図4に示されるように、比較試料1の端子用部材は、銅合金からなる基材10上に、Niめっき層91(厚み2.4μm)と、Ag層92(厚み1.6μm)と、Ag−Sn合金層93(厚み3.0μm)と、Ag層94(厚み2.7μm)とをこの順に有していることがわかる。また、比較試料1の端子用部材は、Ag−Sn合金層93の層内に多数のボイドBが見られた。   Next, the plated member B was heated at 290 ° C. for 1 minute in the air. This obtained the terminal member of the comparative sample 1. The terminal member of Comparative Sample 1 obtained was observed and measured in the same manner as Sample 1. A cross-sectional SEM photograph of the terminal member of Comparative Sample 1 is shown in FIG. As shown in FIG. 4, the terminal member of Comparative Sample 1 has a Ni plating layer 91 (thickness 2.4 μm), an Ag layer 92 (thickness 1.6 μm) on a base material 10 made of a copper alloy, It can be seen that an Ag—Sn alloy layer 93 (thickness: 3.0 μm) and an Ag layer 94 (thickness: 2.7 μm) are provided in this order. In the terminal member of Comparative Sample 1, many voids B were observed in the Ag—Sn alloy layer 93.

試料1の端子用部材は、Ag−Sn合金からなる第3層と、第3層上に形成されているとともに最表面に露出しており、Agからなる第4層とを有している。上記端子用部材は、Agに比べて硬いAg−Sn合金からなる第3層上に、Agからなる第4層が形成されている。そのため、上記端子用部材は、コネクタ用端子に用いた場合に、第3層が第4層と同じ材質である場合に比べ、第4層表面の摩擦係数を低減させることができ、これにより耐摩耗性を確保することができるといえる。   The terminal member of Sample 1 has a third layer made of an Ag—Sn alloy and a fourth layer made of Ag that is formed on the third layer and exposed on the outermost surface. In the terminal member, a fourth layer made of Ag is formed on a third layer made of an Ag—Sn alloy that is harder than Ag. Therefore, when the terminal member is used for a connector terminal, the friction coefficient on the surface of the fourth layer can be reduced as compared with the case where the third layer is made of the same material as the fourth layer. It can be said that wearability can be ensured.

また、上記端子用部材は、基材と第4層との間に、Niからなる第1層と、第1層上に形成されており、Cu−Sn合金からなる第2層とを有している。そのため、基材に含まれる銅原子の最表面への拡散が、先ず、第1層により抑制される。そして、第1層を通り越した銅原子がある場合、当該銅原子の最表面へのさらなる拡散は、第1層の上方に配置されている第2層により抑制される。そのため、上記端子用部材は、コネクタ用端子に用いた場合に、大電流による発熱等により基材の銅原子が最表面まで到達し難く、最表面に銅酸化物が形成され難い。したがって、上記端子用部材は、コネクタ用端子に用いた場合に、第1層および第2層の効果により優れた耐熱性を発揮することができるといえる。   The terminal member has a first layer made of Ni and a second layer made of a Cu-Sn alloy formed on the first layer between the base material and the fourth layer. ing. Therefore, diffusion of copper atoms contained in the base material to the outermost surface is first suppressed by the first layer. And when there exists a copper atom which passed the 1st layer, the further spreading | diffusion to the outermost surface of the said copper atom is suppressed by the 2nd layer arrange | positioned above the 1st layer. Therefore, when the terminal member is used as a connector terminal, the copper atoms of the base material are unlikely to reach the outermost surface due to heat generated by a large current, and copper oxide is not easily formed on the outermost surface. Therefore, it can be said that the terminal member can exhibit excellent heat resistance due to the effects of the first layer and the second layer when used as a connector terminal.

ここで、試料1の端子用部材、比較試料1Cの端子用部材について摩耗試験を行った。なお、摩耗試験は、各試料から作製した平板型の端子用部材と半径3mmのエンボス形の端子用部材とを鉛直方向に接触させて保持し、ピエゾアクチュエータを用いて鉛直方向に5Nの荷重を印加しながら、10mm/min.の速度でエンボス形の端子用部材を水平方向に引張り、ロードセルを使用して接点部に働く摩擦力を測定することにより行った。また、摩擦力を荷重で割った値を摩擦係数とした。なお、試料1の端子用部材の摩擦係数は、0.4、比較試料1Cの端子用部材の摩擦係数は、0.6であった。図5および図6に、比較試料1の端子用部材の摩耗試験結果を示す。なお、図5は、摩耗の初期段階における断面SEM写真であり、図6は、摩擦の途中における断面SEM写真である。   Here, a wear test was performed on the terminal member of Sample 1 and the terminal member of Comparative Sample 1C. In the wear test, a flat terminal member made from each sample and an embossed terminal member having a radius of 3 mm are held in contact in the vertical direction, and a 5 N load is applied in the vertical direction using a piezoelectric actuator. While applying, 10 mm / min. The embossed terminal member was pulled in the horizontal direction at a speed of 5 mm and the frictional force acting on the contact portion was measured using a load cell. A value obtained by dividing the frictional force by the load was defined as a friction coefficient. The friction coefficient of the terminal member of Sample 1 was 0.4, and the friction coefficient of the terminal member of Comparative Sample 1C was 0.6. 5 and 6 show the results of wear tests on the terminal member of Comparative Sample 1. FIG. FIG. 5 is a cross-sectional SEM photograph in the initial stage of wear, and FIG. 6 is a cross-sectional SEM photograph in the middle of friction.

図5、図6に示されるように、比較試料1は、Ag−Sn合金内にボイドBが多数生じていたため、摩耗試験時に、ボイドBを起点に欠けや割れCが発生してAg−Sn合金の剥離が生じ、摩耗が促進された。これに対し、試料1の端子用部材は、層内にほとんどボイドのないAg−Sn合金からなる第3層を有していたため、上記摩耗試験によっても上述したメカニズムによる摩耗の促進は見られなかった。   As shown in FIG. 5 and FIG. 6, the comparative sample 1 had many voids B in the Ag—Sn alloy. Therefore, during the wear test, cracks and cracks C occurred starting from the voids B, and Ag—Sn. The exfoliation of the alloy occurred and the wear was accelerated. On the other hand, since the terminal member of Sample 1 had the third layer made of an Ag—Sn alloy having almost no voids in the layer, the above-described mechanism did not promote the wear by the above-described mechanism. It was.

これらの結果より、上記端子用部材およびその製造方法によれば、摩擦係数の低減により耐摩耗性が発揮されるだけではなく、ボイドに起因する摩耗促進を抑制することが可能な、耐摩耗性に優れた端子用部材が得られることが確認された。   From these results, according to the terminal member and the manufacturing method thereof, the wear resistance not only exhibits wear resistance by reducing the friction coefficient, but also can suppress the acceleration of wear caused by voids. It was confirmed that an excellent terminal member was obtained.

以上、本発明の実施例について詳細に説明したが、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、本発明の趣旨を損なわない範囲内で種々の変更が可能である。   As mentioned above, although the Example of this invention was described in detail, this invention is not limited to the said Example, A various change is possible within the range which does not impair the meaning of this invention.

1 端子用部材
10 基材
11 第1層
12 第2層
13 第3層
14 第4層
2 めっき部材
21 第1めっき層
22 第2めっき層
23 第3めっき層
24 第4めっき層
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Terminal member 10 Base material 11 1st layer 12 2nd layer 13 3rd layer 14 4th layer 2 Plating member 21 1st plating layer 22 2nd plating layer 23 3rd plating layer 24 4th plating layer

Claims (6)

銅または銅合金からなる基材と、
該基材上に形成されており、NiまたはNi合金からなる第1層と、
該第1層上に形成されており、Cu−Sn合金からなる第2層と、
該第2層上に形成されており、Ag−Sn合金からなる第3層と、
該第3層上に形成されているとともに最表面に露出しており、AgまたはAg合金からなる第4層と、を有することを特徴とする端子用部材。
A base material made of copper or a copper alloy;
A first layer formed on the substrate and made of Ni or Ni alloy;
A second layer formed on the first layer and made of a Cu-Sn alloy;
A third layer formed on the second layer and made of an Ag-Sn alloy;
And a fourth layer formed on the third layer and exposed on the outermost surface and made of Ag or an Ag alloy.
上記第4層は、Agからなることを特徴とする請求項1に記載の端子用部材。   The terminal member according to claim 1, wherein the fourth layer is made of Ag. 上記第3層は、層内にボイドを有していないことを特徴とする請求項1または2に記載の端子用部材。   The terminal member according to claim 1, wherein the third layer has no void in the layer. 請求項1〜3のいずれか1項に記載の端子用部材の製造方法であって、
銅または銅合金からなる基材上に、NiめっきまたはNi合金めっきからなる第1めっき層、Cu−Sn合金めっきからなる第2めっき層、SnめっきまたはSn合金めっきからなる第3めっき層、および、AgめっきまたはAg合金めっきからなる第4めっき層をこの順に有するめっき部材を準備する準備工程と、
上記めっき部材を加熱することにより、上記第1めっき層からなる上記第1層と、上記第2めっき層からなる上記第2層と、上記第3めっき層と上記第4めっき層の一部とが合金化して形成されたAg−Sn合金からなる上記第3層と、上記第4めっき層の残部からなる上記第4層とを得る加熱工程と、を有することを特徴とする端子用部材の製造方法。
It is a manufacturing method of the member for terminals given in any 1 paragraph of Claims 1-3,
On a base material made of copper or copper alloy, a first plating layer made of Ni plating or Ni alloy plating, a second plating layer made of Cu-Sn alloy plating, a third plating layer made of Sn plating or Sn alloy plating, and A preparation step of preparing a plating member having a fourth plating layer made of Ag plating or Ag alloy plating in this order;
By heating the plating member, the first layer composed of the first plating layer, the second layer composed of the second plating layer, the third plating layer, and a part of the fourth plating layer, And a heating step for obtaining the third layer made of an Ag—Sn alloy formed by alloying and the fourth layer made of the remainder of the fourth plating layer. Production method.
上記基材上に、上記第1めっき層、上記第2めっき層、および、上記第3めっき層をこの順に有するプレめっき部材を準備し、該プレめっき部材の上記第3めっき層上に上記第4めっき層が形成されることにより、上記めっき部材が準備されることを特徴とする請求項4に記載の端子用部材の製造方法。   On the base material, a pre-plated member having the first plated layer, the second plated layer, and the third plated layer in this order is prepared, and the pre-plated member is disposed on the third plated layer of the pre-plated member. The said plating member is prepared by forming 4 plating layers, The manufacturing method of the member for terminals of Claim 4 characterized by the above-mentioned. 請求項1〜3のいずれか1項に記載の端子用部材を用いて形成されていることを特徴とするコネクタ用端子。   A connector terminal, comprising: the terminal member according to claim 1.
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