JP2016051724A - 半導体装置及びその製造方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】積層ユニットの積層方向で加圧された状態を維持する機能を損なうことなく、半導体装置を小型化するための技術を提供する。
【解決手段】パワースタック1は、複数のパワーカードユニット4と、冷媒の流路Pを有する複数の冷却器5とを交互に積層して成る積層ユニット2と、複数の冷却器5に対して冷媒を供給し又は排出するパイプ23と、を備える。パイプ23は、積層ユニット2を積層方向で貫通するように設けられると共にその外周面30にはネジ山31が形成されている。パワースタック1は、ネジ山31にねじ込まれることで、積層ユニット2の積層方向で加圧された状態を維持するナット22を更に備えている。
【選択図】図2

Description

本発明は、半導体装置及びその製造方法に関する。
この種の技術として、特許文献1は、開口を有するフレーム内に、半導体モジュールと冷却器を積層してなる半導体積層ユニットと弾性部材を収容し、弾性部材が半導体積層ユニットを積層方向で加圧するようにフレームの開口に閉塞部材を固定した電力変換装置を開示している。
特開2012−205478号公報
上記特許文献1の構成によれば、半導体積層ユニットが積層方向で加圧されることで半導体モジュールと冷却器が密着し、これにより、発熱する半導体モジュールを効率よく冷却器で冷却できるようになっている。
しかしながら、上記特許文献1の構成では、半導体積層ユニットの積層方向で加圧された状態を維持するためにフレームや閉塞部材を欠くことができず、装置が大型にならざるを得なかった。
そこで、本発明の目的は、積層ユニットの積層方向で加圧された状態を維持する機能を損なうことなく、半導体装置を小型化するための技術を提供することにある。
本願発明の第1の観点によれば、複数の半導体モジュールと、冷媒の流路を有する複数の冷却器とを交互に積層して成る積層ユニットと、前記複数の冷却器に対して前記冷媒を供給し又は排出する冷媒給排管と、を備え、前記冷媒給排管は、前記積層ユニットを積層方向で貫通するように設けられると共にその外周面にはネジ山が形成されており、前記ネジ山にねじ込まれることで、前記積層ユニットの積層方向で加圧された状態を維持する締結部材を更に備えた、半導体装置が提供される。以上の構成によれば、前記積層ユニットの積層方向で加圧された状態を維持する機能を損なうことなく、上記特許文献1のフレームや閉塞部材を省略できるので、前記半導体装置を小型化することができる。
好ましくは、前記冷媒給排管は、前記積層ユニットが有する前記複数の冷却器を貫通しており、各冷却器は、前記流路を挟んで積層方向で対向する2つの区画板を有し、各区画板には、前記冷媒給排管が貫通可能な貫通孔が形成されており、前記2つの区画板のうち少なくとも何れか一方には、前記冷媒給排管を前記貫通孔に挿入する際に前記冷媒給排管を前記貫通孔に案内するガイドが設けられている。以上の構成によれば、前記冷媒給排管を前記貫通孔に挿入する際の作業性が向上する。
本願発明の第2の観点によれば、複数の半導体モジュールと、冷媒の流路を有する複数の冷却器とを交互に積層して積層ユニットを形成し、前記積層ユニットを積層方向で貫通するように設けられた冷媒給排管のネジ山に締結部材をねじ込むことで前記積層ユニットを積層方向で加圧する、半導体装置の製造方法が提供される。
本発明によれば、前記積層ユニットの積層方向で加圧された状態を維持する機能を損なうことなく、上記特許文献1のフレームや閉塞部材を省略できるので、前記半導体装置を小型化することができる。
パワースタックの斜視図である。 パワースタックの一部切り欠き正面図である。 冷却器の正面分解断面図である。 図3のA部拡大図である。 冷却器の正面断面図である。 パイプアッセンブリーの正面分解図である。 パワースタックの製造フローである。
以下、図1〜図7を参照して、パワースタック1を説明する。パワースタック1は、インバータやコンバータなどの電力変換装置として機能する半導体装置である。
図1にはパワースタック1の斜視図を示し、図2にはパワースタック1の一部切り欠き正面図を示している。図1及び図2に示すように、パワースタック1は、積層ユニット2と2つのパイプアッセンブリー3を備える。
積層ユニット2は、3つのパワーカードユニット4(半導体モジュール)と4つの冷却器5を交互に積層して構成されている。
図2に示すように、各パワーカードユニット4は、平型状のパワーカード6の上面及び下面に絶縁シート7を配置して構成されている。パワーカード6は、例えばMOSFETなどのパワー半導体素子を収容した半導体パッケージである。絶縁シート7には、図示しないグリースが適量塗布されている。
各冷却器5は、中空箱型に構成され、内部には例えば冷却水などの冷媒の流路Pが形成されている。図3に示すように、各冷却器5は、2つの分割体8によって構成されている。各分割体8は、筐体9と環状のシール部材10を備える。筐体9は、積層方向に対して直交する区画板11と、区画板11の周縁から積層方向に延びる周壁12と、を有する。区画板11には、上流側貫通孔13(貫通孔)と下流側貫通孔14(貫通孔)が形成されている。上流側貫通孔13及び下流側貫通孔14は、例えばバーリングによって形成される。図4には、図3のA部拡大図を示している。図4に示すように、上流側貫通孔13をバーリングによって形成する際に同時に形成された筒状の立ち上がり部15の先端は例えばプレス加工によって斜めに広げられており、斜めに傾斜したパイプガイド面16(ガイド)が形成されている。また、上流側貫通孔13をバーリングによって形成する際に、上流側貫通孔13には湾曲面17(ガイド)が形成される。下流側貫通孔14についても同様である。図3に戻り、シール部材10は、環状の周壁12の内周に沿って配置されている。そして、図5に示すように、2つの分割体8を結合すると、上流側貫通孔13と下流側貫通孔14の間に流路P、ひいては流路Pを有する冷却器5が完成する。なお、2つの分割体8を結合するには、各分割体8の周壁12同士を溶接すればよい。溶接は、例えばろう付けが好適である。また、溶接に代えてカシメにより、2つの分割体8を結合してもよく、接着剤で結合してもよい。
図6には、各パイプアッセンブリー3の正面分解図を示している。図6に示すように、各パイプアッセンブリー3は、パイプユニット20と、ネジ付きキャップ21(第1締結部材)と、ナット22(締結部材、第2締結部材)を有する。
パイプユニット20は、パイプ23(冷媒給排管)と、8つのOリング24を有する。パイプ23は、積層方向に延びる筒体である。パイプ23の周壁には、4つの開口25が積層方向に間隔をあけて形成されている。8つのOリング24は、パイプ23の外周面に配置されている。詳しくは、8つのOリング24は、2つのOリング24の間に1つの開口25が配置されるように、4つの開口25に対応して配置されている。パイプ23の下端部26の外周面27には、ネジ付きキャップ21をパイプ23の下端部26に取り付けるためのネジ山28が形成されている。パイプ23の上端部29の外周面30には、ナット22をパイプ23の上端部29に取り付けるためのネジ山31が形成されている。
ネジ付きキャップ21は、図示しないシール部材を内蔵したネジ付きのキャップである。パイプ23の下端部26にネジ付きキャップ21を取り付けることで、パイプ23の下端部26は密閉される。
次に、パワースタック1の組み立て方法について説明する。図7は、パワースタック1の製造フローを示している。
先ず、図6に示すように、パイプ23に8つのOリング24を取り付ける。次に、パイプ23の下端部26にネジ付きキャップ21を取り付ける。このようにパイプ23にネジ付きキャップ21を取り付けたパイプユニット20を2つ、用意する。
次に、2つのパイプユニット20を所定距離離して固定し、2つのパイプユニット20を用いて、4つの冷却器5と3つのパワーカードユニット4を積み重ねる(S100)。具体的には、図5に示すように、各冷却器5は、2つの上流側貫通孔13と、2つの下流側貫通孔14を有する。従って、一方のパイプユニット20に各冷却器5の2つの上流側貫通孔13を嵌め込み、他方のパイプユニット20に各冷却器5の2つの下流側貫通孔14を嵌め込む。
一方のパイプユニット20に各冷却器5の2つの上流側貫通孔13を嵌め込むに際しては、図4に示すパイプガイド面16によってパイプユニット20が上側の上流側貫通孔13へと適切に案内されると共に、湾曲面17によってパイプ23が下側の上流側貫通孔13へと適切に案内される。
そして、最後に、各パイプユニット20のパイプ23の上端部29にナット22を取り付け、ナット22を所定トルクで締め付ける(S110)。これにより、積層ユニット2は、積層方向で加圧されることになる。具体的には、2つのナット22を締め付けると、一番上の冷却器5が下向きに押し下げられる。一番上の冷却器5が押し下げられることで、パワーカード6が絶縁シート7を介して冷却器5に対して密着し、これにより、冷却器5とパワーカード6の間における熱抵抗が小さくなる。
図2には、組み立てられたパワースタック1が示されている。図2に示すように、組み立てられたパワースタック1においては、各パイプアッセンブリー3の各開口25が、各冷却器5の流路P内に位置している。また、各パイプアッセンブリー3の各Oリング24が、各冷却器5の各上流側貫通孔13の内周面及び各下流側貫通孔14の内周面に対して密着している。
次に、パワースタック1の使用方法を説明する。
図2に示すように、左側のパイプユニット20に冷媒を供給すると、左側のパイプユニット20は、供給された冷媒を4つの冷却器5に供給する。各冷却器5に供給された冷媒は、流路P内を流動することで加熱され、右側のパイプユニット20に排出される。そして、加熱された冷媒は、右側のパイプユニット20から外部へと排出される。これにより、各パワーカード6で発生した動作熱が冷媒によって回収され、各パワーカード6が適切な温度下で動作することが可能となる。
以上に、本願発明の実施形態を説明したが、上記実施形態は以下の特長を有する。
(1)パワースタック1(半導体装置)は、複数のパワーカードユニット4(半導体モジュール)と、冷媒の流路Pを有する複数の冷却器5とを交互に積層して成る積層ユニット2と、複数の冷却器5に対して冷媒を供給し又は排出するパイプ23(冷媒給排管)と、を備える。パイプ23は、積層ユニット2を積層方向で貫通するように設けられると共にその外周面30にはネジ山31が形成されている。パワースタック1は、ネジ山31にねじ込まれることで、積層ユニット2の積層方向で加圧された状態を維持するナット22(締結部材)を更に備えている。以上の構成によれば、積層ユニット2の積層方向で加圧された状態を維持する機能を損なうことなく、上記特許文献1のフレームや閉塞部材を省略できるので、パワースタック1を小型化することができる。
(2)パイプ23は、積層ユニット2が有する複数の冷却器5を貫通している。各冷却器5は、流路Pを挟んで積層方向で対向する2つの区画板11を有する。各区画板11には、パイプ23が貫通可能な上流側貫通孔13及び下流側貫通孔14が形成されている。2つの区画板11には、パイプ23を上流側貫通孔13及び下流側貫通孔14に挿入する際にパイプ23を上流側貫通孔13及び下流側貫通孔14に案内するパイプガイド面16(ガイド)及び湾曲面17(ガイド)が設けられている。以上の構成によれば、パイプ23を上流側貫通孔13及び下流側貫通孔14に挿入する際の作業性が向上する。
(3)パワースタック1の製造は、複数のパワーカードユニット4と、冷媒の流路Pを有する複数の冷却器5とを交互に積層して積層ユニット2を形成し(S100)、積層ユニット2を積層方向で貫通するように設けられたパイプ23のネジ山31にナット22をねじ込むことで積層ユニット2を積層方向で加圧して(S110)、行われる。
以上に、本願発明の好適な実施形態を説明したが、上記実施形態は、以下のように変更できる。
上記実施形態では、各パイプ23の下端部26の外周面27にネジ山28を形成することで、各パイプ23の下端部26にネジ付きキャップ21を取り付け可能に構成した。しかし、これに代えて、各パイプ23の下端部26にネジ付きキャップ21を取り付ける方法としては、接着や溶接、圧入など、他の方法を採用することもできる。
また、各冷却器5の区画板11には、流路P側に突出する放熱フィンを設けてもよい。これによれば、区画板11と冷媒との熱交換が効果的に促進される。
1 パワースタック
2 積層ユニット
3 パイプアッセンブリー
4 パワーカードユニット
5 冷却器
6 パワーカード
7 絶縁シート
11 区画板
13 上流側貫通孔
14 下流側貫通孔
16 パイプガイド面
17 湾曲面
20 パイプユニット
21 ネジ付きキャップ
22 ナット
23 パイプ
29 上端部
30 外周面
31 ネジ山
P 流路

Claims (3)

  1. 複数の半導体モジュールと、冷媒の流路を有する複数の冷却器とを交互に積層して成る積層ユニットと、
    前記複数の冷却器に対して前記冷媒を供給し又は排出する冷媒給排管と、
    を備え、
    前記冷媒給排管は、前記積層ユニットを積層方向で貫通するように設けられると共にその外周面にはネジ山が形成されており、
    前記ネジ山にねじ込まれることで、前記積層ユニットの積層方向で加圧された状態を維持する締結部材を更に備えた、
    半導体装置。
  2. 前記冷媒給排管は、前記積層ユニットが有する前記複数の冷却器を貫通しており、
    各冷却器は、前記流路を挟んで積層方向で対向する2つの区画板を有し、
    各区画板には、前記冷媒給排管が貫通可能な貫通孔が形成されており、
    前記2つの区画板のうち少なくとも何れか一方には、前記冷媒給排管を前記貫通孔に挿入する際に前記冷媒給排管を前記貫通孔に案内するガイドが設けられている、
    請求項1に記載の半導体装置。
  3. 複数の半導体モジュールと、冷媒の流路を有する複数の冷却器とを交互に積層して積層ユニットを形成し、
    前記積層ユニットを積層方向で貫通するように設けられた冷媒給排管のネジ山に締結部材をねじ込むことで前記積層ユニットを積層方向で加圧する、
    半導体装置の製造方法。
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CN201510531399.0A CN105390459B (zh) 2014-08-28 2015-08-26 半导体装置及制造半导体装置的方法
DE102015114178.7A DE102015114178A1 (de) 2014-08-28 2015-08-26 Halbleitervorrichtung und Verfahren zum Herstellen derselben

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20190012610A (ko) * 2017-07-28 2019-02-11 현대모비스 주식회사 전력반도체용 냉각장치
JP2019186430A (ja) * 2018-04-12 2019-10-24 トヨタ自動車株式会社 半導体装置

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
USD837623S1 (en) * 2015-10-20 2019-01-08 LWE, Inc. Load beam for press pack clamp
KR102413829B1 (ko) * 2015-12-30 2022-06-29 한온시스템 주식회사 전기소자 냉각용 열교환기
EP3206468B1 (de) * 2016-02-15 2018-12-26 Siemens Aktiengesellschaft Umrichter mit gleichspannungszwischenkreis
JP6596398B2 (ja) * 2016-08-29 2019-10-23 本田技研工業株式会社 電力変換装置
KR102512004B1 (ko) * 2018-02-01 2023-03-21 한온시스템 주식회사 전장부품 냉각기 및 그 제조 방법
EP3653982B1 (en) 2018-11-14 2021-06-16 Hydro Extruded Solutions AS Arrangement for thermal management of thermally condintioned objects and a method for assembling same
KR102651940B1 (ko) * 2018-11-22 2024-03-27 현대자동차주식회사 수냉각 장치 및 이를 포함하는 수냉각식 파워 모듈 어셈블리
GB2614045A (en) * 2021-12-14 2023-06-28 Zhuzhou Crrc Times Electric Co Ltd Power semiconductor apparatus

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009212137A (ja) * 2008-02-29 2009-09-17 Nissan Motor Co Ltd 発熱素子の冷却装置

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3573574A (en) * 1969-08-12 1971-04-06 Gen Motors Corp Controlled rectifier mounting assembly
US8125781B2 (en) * 2004-11-11 2012-02-28 Denso Corporation Semiconductor device
US20060219396A1 (en) * 2005-04-04 2006-10-05 Denso Corporation Lamination-type cooler
CN101507379A (zh) * 2005-09-06 2009-08-12 超刀片公司 三维多层模块化计算机体系结构
US7965508B2 (en) 2007-03-27 2011-06-21 Denso Corporation Cooling device for electronic component and power converter equipped with the same
JP4345862B2 (ja) 2007-03-27 2009-10-14 株式会社デンソー 冷却器及びこれを備えた電力変換装置
JP5531999B2 (ja) 2011-03-28 2014-06-25 株式会社デンソー 電力変換装置
JP5488565B2 (ja) * 2011-03-29 2014-05-14 株式会社デンソー 電力変換装置
JP5991345B2 (ja) * 2013-12-26 2016-09-14 株式会社デンソー 電力変換装置
US9437523B2 (en) * 2014-05-30 2016-09-06 Toyota Motor Engineering & Manufacturing North America, Inc. Two-sided jet impingement assemblies and power electronics modules comprising the same

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009212137A (ja) * 2008-02-29 2009-09-17 Nissan Motor Co Ltd 発熱素子の冷却装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20190012610A (ko) * 2017-07-28 2019-02-11 현대모비스 주식회사 전력반도체용 냉각장치
KR102298138B1 (ko) * 2017-07-28 2021-09-06 현대모비스 주식회사 전력반도체용 냉각장치
JP2019186430A (ja) * 2018-04-12 2019-10-24 トヨタ自動車株式会社 半導体装置

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