JP2016032230A - 電磁波検出・発生装置、及びその製造方法 - Google Patents
電磁波検出・発生装置、及びその製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2016032230A JP2016032230A JP2014154354A JP2014154354A JP2016032230A JP 2016032230 A JP2016032230 A JP 2016032230A JP 2014154354 A JP2014154354 A JP 2014154354A JP 2014154354 A JP2014154354 A JP 2014154354A JP 2016032230 A JP2016032230 A JP 2016032230A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- dielectric layer
- receiving
- antenna
- dielectric
- radiating elements
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 39
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 63
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 42
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 27
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims abstract description 11
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 22
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 claims description 21
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 15
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 claims description 11
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 10
- 238000001459 lithography Methods 0.000 claims description 5
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 claims 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 abstract description 35
- 230000005855 radiation Effects 0.000 abstract description 27
- UMIVXZPTRXBADB-UHFFFAOYSA-N benzocyclobutene Chemical compound C1=CC=C2CCC2=C1 UMIVXZPTRXBADB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 6
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 6
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 6
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 5
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 5
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 5
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 4
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 4
- 238000001039 wet etching Methods 0.000 description 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 3
- 238000013461 design Methods 0.000 description 3
- 230000005672 electromagnetic field Effects 0.000 description 3
- 206010028980 Neoplasm Diseases 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 201000011510 cancer Diseases 0.000 description 2
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 description 2
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 239000002105 nanoparticle Substances 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 238000001686 rotational spectrum Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 1
- 238000007619 statistical method Methods 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01Q—ANTENNAS, i.e. RADIO AERIALS
- H01Q1/00—Details of, or arrangements associated with, antennas
- H01Q1/12—Supports; Mounting means
- H01Q1/22—Supports; Mounting means by structural association with other equipment or articles
- H01Q1/2283—Supports; Mounting means by structural association with other equipment or articles mounted in or on the surface of a semiconductor substrate as a chip-type antenna or integrated with other components into an IC package
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01Q—ANTENNAS, i.e. RADIO AERIALS
- H01Q1/00—Details of, or arrangements associated with, antennas
- H01Q1/40—Radiating elements coated with or embedded in protective material
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01Q—ANTENNAS, i.e. RADIO AERIALS
- H01Q21/00—Antenna arrays or systems
- H01Q21/06—Arrays of individually energised antenna units similarly polarised and spaced apart
- H01Q21/061—Two dimensional planar arrays
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01Q—ANTENNAS, i.e. RADIO AERIALS
- H01Q7/00—Loop antennas with a substantially uniform current distribution around the loop and having a directional radiation pattern in a plane perpendicular to the plane of the loop
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J2005/0077—Imaging
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/10—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors
- G01J2005/106—Arrays
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/02—Constructional details
- G01J5/08—Optical arrangements
- G01J5/0837—Microantennas, e.g. bow-tie
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/10—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors
Abstract
【解決手段】電磁波検出・発生装置は、半導体基板などの基板100と、基板に設けられた複数の受信・放射要素110〜140と、を有する。複数の受信・放射要素はそれぞれ、アンテナ111〜141と電子素子112とを含む。少なくとも2つの受信・放射要素はそれぞれ、少なくとも一部において、アンテナの周波数応答特性を調整する機能を有する誘電体層124、134で被覆されている。複数の誘電体層は、厚さと材料物質と形状と被覆比率のうちの少なくとも1つで互いに異なる。
【選択図】図1
Description
(第1の実施形態)
第1の実施形態の電磁波検出・発生装置は、動作周波数がテラヘルツ波であり、複数の受信・放射要素は共鳴タイプのアンテナを有する。アンテナの共鳴周波数は主とし、アンテナの金属部における電流波の速度とアンテナの特性長さとの比率で規定される。アンテナの特性長さは、例えば、半波長ダイポールアンテナの場合、金属部の長さである。アンテナが真空で包囲される場合、電流波の速度は真空中の光速である。誘電体がアンテナの金属部に接する場合、電流波の速度が変化する。この変化の程度は、誘電体の誘電率(以下では真空の誘電率と比較するため比誘電率ともいう)、厚さ、形状パターンなどに関係する。結果として、誘電体がアンテナの金属部に接する構造では、アンテナの共鳴周波数が変化する。共鳴周波数のこの変化は、アンテナが或る誘電率の誘電体で一様に包囲されるときの共鳴周波数の変化と同様である。アンテナが誘電体に接触しているときの誘電率は、アンテナから見て実効誘電率と呼ぶことができる。比誘電率が1より小さい幾つかのメタマテリアルを除いて、一般に物質の比誘電率は1より大きい。メタマテリアルとは、電磁波に対して、自然界の物質には無い振る舞いをする人工物質のことである。電流波の速度は誘電率の平方根に反比例するので、アンテナの金属部が誘電体に接触している構造の共鳴周波数と速度は、真空で包囲されたアンテナのそれらと比較して常に小さい。従って、アンテナの共鳴周波数は、アンテナの金属部を誘電体に接触させることで小さくすることができる。
第2の実施形態を説明する。第2の実施形態では、種々の厚さの複数の誘電体物質の層が配置される。各層は、周波数補正に対応する実効誘電率を実現する層として用いられる。また、さらなる周波数補正に応じて、これらの層が組み合わせて用いられてもよい。図4は第1の例を示す。半導体基板100にはテラヘルツ領域のセンサのアレイが設けられている。各センサはアンテナ、電子素子、反射器を有する。センサ120は厚さt1の誘電体層124で被覆され、結果として第1の実効誘電率を実現している。センサ130は、厚さt2の誘電体層134で被覆され、結果として第2の実効誘電率を実現している。センサ140は、厚さt1の誘電体層144と厚さt2の誘電体層145で被覆され、結果としてt3=t1+t2の厚さの誘電体層で被覆され、これにより第3の実効誘電率を実現している。センサ110は誘電体層で被覆されず、共鳴周波数は元のままである。
第1及び第2の実施形態は、テラヘルツ領域のアンテナの周波数応答特性(共鳴周波数)が目標の値に調整されたイメージセンサを提供するが、複数の厚さまたは/及び複数の材料物質の複数種の誘電体層を用いる。よって、作製工程が煩瑣となりやすい。第3の実施形態はこの点を克服する。
上述の実施形態では、放射・受信パターンを主として半導体基板の外方向に向けるために、アンテナと距離を隔てて反射器が設けられていた。しかし、反射器を半導体基板に集積するのは、反射器を設けない場合と比較して、製造コストの増大を招く。反射器を設けないでアンテナを直接に半導体基板に設けると、放射・受信パターンは主として半導体基板の内方に向かうのは、上述した様に基板物質の誘電率が、基板を包囲する空気の誘電率より遥かに大きいからである。
第5の実施形態では、上記実施形態のイメージセンサの周波数応答特性を調整ないし補正する方法を説明する。第1の作製方法例はフィードバックタイプである。先ず、各センサの目標周波数を決める。その後、平板状の半導体基板にセンサアレイを作製する。製造工程におけるパラメータの違いは、各センサの目標周波数の違いに依る。各センサの周波数応答特性は、各センサに逐次に電磁波を照射することで測定される。既知の周波数特性を有する放射デバイスの発振周波数を所定の間隔で変化させて各センサの周波数応答特性を測定する。各センサの周波数オフセットは、測定された周波数と目標周波数との差として計算される。
Claims (20)
- 電磁波検出・発生装置であって、
基板と、前記基板に設けられた複数の受信・放射要素と、を有し、
前記複数の受信・放射要素はそれぞれ、アンテナと電子素子とを含み、
少なくとも2つの前記受信・放射要素はそれぞれ、少なくとも一部において、当該受信・放射要素のアンテナの周波数応答特性を調整する機能を有する誘電体層で被覆され、
前記少なくとも2つの誘電体層は、厚さと材料物質と形状と被覆比率のうちの少なくとも1つで互いに異なることを特徴とする装置。 - 前記少なくとも2つの誘電体層は、厚さと材料物質のうちの少なくとも1つで互いに異なる第1の誘電体層と第2の誘電体層、及び前記第1の誘電体層と前記第2の誘電体層とが重ねられた第3の誘電体層を含むことを特徴とする請求項1に記載の装置。
- 前記少なくとも2つの誘電体層は、厚さが互いに異なるように調整された複数の誘電体層を含むことを特徴とする請求項1に記載の装置。
- 前記少なくとも2つの誘電体層は、材料物質が同じで、厚さと形状と被覆比率のうちの少なくとも1つで互いに異なる誘電体層を含むことを特徴とする請求項1に記載の装置。
- 前記少なくとも2つの誘電体層は、ストライプ形状の複数の誘電体物質からなり、互いに被覆比率が異なる誘電体層を含むことを特徴とする請求項1に記載の装置。
- 前記ストライプ形状の誘電体物質の幅と前記ストライプ形状の誘電体物質間の間隔は動作電磁波の波長の1/10以下であることを特徴とする請求項5に記載の装置。
- 前記受信・放射要素は、前記アンテナの下の前記基板に設けられた金属反射器を含むことを特徴とする請求項1から6の何れか1項に記載の装置。
- 前記誘電体層は、全面的に前記アンテナを覆うことを特徴とする請求項1から7の何れか1項に記載の装置。
- 電磁波検出・発生装置であって、
基板と、前記基板の一方の面側に設けられた複数の受信・放射要素と、を有し、
前記複数の受信・放射要素はそれぞれ、アンテナと電子素子とを含み、
少なくとも1つの前記受信・放射要素は、当該受信・放射要素のアンテナの周波数応答特性を調整する機能を有し前記一方の面とは反対側の前記基板の他方の面に形成された誘電体層を有することを特徴とする装置。 - 前記周波数応答特性は、共鳴周波数であることを特徴とする請求項1から9の何れか1項に記載の装置。
- 前記電磁波は、テラヘルツ波であることを特徴とする請求項1から10の何れか1項に記載の装置。
- それぞれ、アンテナを含み、基板に設けられた複数の受信・放射要素を有する電磁波検出・発生装置の製造方法であって、
各受信・放射要素の目標の周波数応答特性を決めるステップと、
複数の受信・放射要素を基板に作製するステップと、
各受信・放射要素の周波数応答特性を測定するステップと、
前記目標の周波数応答特性と、前記測定された周波数応答特性と、の間の周波数オフセットを取得するステップと、
前記周波数オフセットを低減するために必要とされる、少なくとも2つの受信・放射要素の少なくとも一部に対して設けられる誘電体層の厚さと材料物質と形状と被覆比率のうちの少なくとも1つを決定するステップと、
前記少なくとも2つの受信・放射要素に対して、前記決定された誘電体層を設けるステップと、
を含むことを特徴とする製造方法。 - それぞれ、アンテナを含み、基板に設けられた複数の受信・放射要素を有する電磁波検出・発生装置の製造方法であって、
各受信・放射要素の目標の周波数応答特性を決めるステップと、
それぞれ複数の受信・放射要素を備える複数のウエハを製造するステップと、
前記複数のウエハのうちの1つのウエハの各受信・放射要素の周波数応答特性を測定するステップと、
前記目標の周波数応答特性と、前記測定された周波数応答特性と、の間の周波数オフセットを取得するステップと、
前記1つのウエハの前記周波数オフセットを低減するために必要とされる、少なくとも2つの受信・放射要素の少なくとも一部に対して設けられる誘電体層の厚さと材料物質と形状と被覆比率のうちの少なくとも1つを決定するステップと、
前記複数のウエハ全ての少なくとも2つの受信・放射要素に対して、前記決定された誘電体層を設けるステップと、
を含むことを特徴とする製造方法。 - 前記決定された誘電体層は、前記受信・放射要素の少なくと一部に被覆されることを特徴とする請求項12または13に記載の製造方法。
- 前記決定された誘電体層は、前記複数の受信・放射要素が設けられた基板の一方の面とは反対側の前記基板の他方の面に形成されことを特徴とする請求項12または13に記載の製造方法。
- 前記決定された誘電体層を設けるステップは、複数の受信・放射要素に対して共通の誘電体層を形成するステップを有することを特徴とする請求項12から15の何れか1項に記載の製造方法。
- 前記決定された誘電体層を設けるステップは、前記共通の誘電体層を部分的にエッチングするステップを有することを特徴とする請求項16に記載の製造方法。
- 前記共通の誘電体層を形成するステップでは、複数の受信・放射要素の一部をマスクして前記共通の誘電体層を形成することを特徴とする請求項16または17に記載の製造方法。
- 前記決定された誘電体層は、グレイスケールリソグラフィを用いて形成されることを特徴とする請求項12から15の何れか1項に記載の製造方法。
- 前記誘電体層は、ディスペンサまたはインクジェットプリンタで形成されることを特徴とする請求項12から15の何れか1項に記載の製造方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014154354A JP2016032230A (ja) | 2014-07-29 | 2014-07-29 | 電磁波検出・発生装置、及びその製造方法 |
US14/811,105 US20160036122A1 (en) | 2014-07-29 | 2015-07-28 | Electromagnetic wave detection/generation device and method for manufacturing same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014154354A JP2016032230A (ja) | 2014-07-29 | 2014-07-29 | 電磁波検出・発生装置、及びその製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016032230A true JP2016032230A (ja) | 2016-03-07 |
Family
ID=55180967
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014154354A Pending JP2016032230A (ja) | 2014-07-29 | 2014-07-29 | 電磁波検出・発生装置、及びその製造方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20160036122A1 (ja) |
JP (1) | JP2016032230A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101882969B1 (ko) * | 2018-01-16 | 2018-07-27 | 엘아이지넥스원 주식회사 | 오프셋을 보정하는 장거리 레이더의 안테나 장치 및 이에 적용되는 장거리 레이더 안테나의 오프셋 보정 장치 |
JP2020036197A (ja) * | 2018-08-30 | 2020-03-05 | キヤノン株式会社 | 素子、素子の製造方法 |
JP2020036311A (ja) * | 2018-08-27 | 2020-03-05 | キヤノン株式会社 | 受信器、画像形成装置 |
JP2021520734A (ja) * | 2018-04-06 | 2021-08-19 | スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー | レーダー定在波減衰構成要素及びシステム |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016143971A (ja) * | 2015-01-30 | 2016-08-08 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 表示装置 |
CN108336501B (zh) * | 2018-01-23 | 2020-10-30 | 中国计量大学 | 一种反射太赫兹波方向控制器 |
US10897073B2 (en) * | 2018-08-27 | 2021-01-19 | Canon Kabushiki Kaisha | Receiver for detecting a terahertz wave and image forming apparatus |
US10649585B1 (en) * | 2019-01-08 | 2020-05-12 | Nxp B.V. | Electric field sensor |
JP7340391B2 (ja) * | 2019-09-02 | 2023-09-07 | ローム株式会社 | テラヘルツ装置 |
JP2022055561A (ja) * | 2020-09-29 | 2022-04-08 | キヤノン株式会社 | 検出器および画像形成装置 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10276034A (ja) * | 1997-02-03 | 1998-10-13 | Tdk Corp | プリントアンテナおよびその共振周波数調整方法 |
JP2007067596A (ja) * | 2005-08-30 | 2007-03-15 | Otsuka Chemical Co Ltd | 平面アンテナ |
JP2007180704A (ja) * | 2005-12-27 | 2007-07-12 | Fujikura Ltd | アンテナ素子とその製造方法 |
JP2013214961A (ja) * | 2012-03-07 | 2013-10-17 | Sumitomo Electric Printed Circuit Inc | アンテナ部材 |
JP2013214939A (ja) * | 2012-03-08 | 2013-10-17 | Canon Inc | 電磁波を放射または受信する装置 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5471221A (en) * | 1994-06-27 | 1995-11-28 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Dual-frequency microstrip antenna with inserted strips |
US6384785B1 (en) * | 1995-05-29 | 2002-05-07 | Nippon Telegraph And Telephone Corporation | Heterogeneous multi-lamination microstrip antenna |
SE511911C2 (sv) * | 1997-10-01 | 1999-12-13 | Ericsson Telefon Ab L M | Antennenhet med en flerskiktstruktur |
US6593891B2 (en) * | 2001-10-19 | 2003-07-15 | Hitachi Cable, Ltd. | Antenna apparatus having cross-shaped slot |
US7807972B2 (en) * | 2005-01-26 | 2010-10-05 | Analog Devices, Inc. | Radiation sensor with cap and optical elements |
JP5109169B2 (ja) * | 2007-03-27 | 2012-12-26 | 日本電気株式会社 | ボロメータ型THz波検出器 |
JP2010157862A (ja) * | 2008-12-26 | 2010-07-15 | Fujifilm Corp | 通信アンテナ、rfidタグ、非接触通信装置、及び非接触通信方法 |
US8658976B2 (en) * | 2011-12-01 | 2014-02-25 | California Institute Of Technology | Integrated terahertz imaging systems |
JP6214201B2 (ja) * | 2013-05-02 | 2017-10-18 | キヤノン株式会社 | 画像取得装置 |
-
2014
- 2014-07-29 JP JP2014154354A patent/JP2016032230A/ja active Pending
-
2015
- 2015-07-28 US US14/811,105 patent/US20160036122A1/en not_active Abandoned
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10276034A (ja) * | 1997-02-03 | 1998-10-13 | Tdk Corp | プリントアンテナおよびその共振周波数調整方法 |
JP2007067596A (ja) * | 2005-08-30 | 2007-03-15 | Otsuka Chemical Co Ltd | 平面アンテナ |
JP2007180704A (ja) * | 2005-12-27 | 2007-07-12 | Fujikura Ltd | アンテナ素子とその製造方法 |
JP2013214961A (ja) * | 2012-03-07 | 2013-10-17 | Sumitomo Electric Printed Circuit Inc | アンテナ部材 |
JP2013214939A (ja) * | 2012-03-08 | 2013-10-17 | Canon Inc | 電磁波を放射または受信する装置 |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101882969B1 (ko) * | 2018-01-16 | 2018-07-27 | 엘아이지넥스원 주식회사 | 오프셋을 보정하는 장거리 레이더의 안테나 장치 및 이에 적용되는 장거리 레이더 안테나의 오프셋 보정 장치 |
JP2021520734A (ja) * | 2018-04-06 | 2021-08-19 | スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー | レーダー定在波減衰構成要素及びシステム |
JP7442457B2 (ja) | 2018-04-06 | 2024-03-04 | スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー | レーダー定在波減衰構成要素及びシステム |
JP2020036311A (ja) * | 2018-08-27 | 2020-03-05 | キヤノン株式会社 | 受信器、画像形成装置 |
JP7282621B2 (ja) | 2018-08-27 | 2023-05-29 | キヤノン株式会社 | 受信器、画像形成装置 |
JP2020036197A (ja) * | 2018-08-30 | 2020-03-05 | キヤノン株式会社 | 素子、素子の製造方法 |
JP7118813B2 (ja) | 2018-08-30 | 2022-08-16 | キヤノン株式会社 | 素子、素子の製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20160036122A1 (en) | 2016-02-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2016032230A (ja) | 電磁波検出・発生装置、及びその製造方法 | |
CN104160555B (zh) | 用于辐射或接收电磁波的装置 | |
US7623071B2 (en) | Sub-millimeter and infrared reflectarray | |
Syed et al. | Design, fabrication, and measurements of a 0.3 THz on-chip double slot antenna enhanced by artificial dielectrics | |
KR102040149B1 (ko) | 적외선 검출기 | |
CN110121656A (zh) | 高分辨率3d雷达波成像设备 | |
US9893423B2 (en) | Electromagnetic wave sensor and/or emitter | |
US20170098894A1 (en) | Artificial Magnet Conductor, Antenna Reflector, and Method for Calculating Thickness of Dielectric Medium | |
Sushko et al. | Comparative study of sub-THz FSS filters fabricated by inkjet printing, microprecision material printing, and photolithography | |
JP2021513751A (ja) | テラヘルツ反射撮像システム | |
Tamošiūnaitė et al. | Focusing of terahertz radiation with laser-ablated antireflective structures | |
WO2016106083A1 (en) | Optical frequency-selective absorber-based infrared detector, methods, and applications | |
Park et al. | Wafer-level integration of micro-lens for THz focal plane array application | |
Hokmabadi et al. | Terahertz metamaterial absorbers | |
US20160169739A1 (en) | Electromagnetic wave detecting/generating device | |
US11495887B2 (en) | Broadband wire antenna | |
CN110095185B (zh) | 一种集成亚波长金属环吸收结构的太赫兹波探测微桥结构及其制备方法 | |
JP2021519417A (ja) | 近接場テラヘルツ撮像デバイス | |
Dupré et al. | Exploiting spatiotemporal degrees of freedom for far-field subwavelength focusing using time reversal in fractals | |
Kuznetsov et al. | Ultra-thin metasurface absorbers for subterahertz band: Theoretical aspects and detector applications | |
Rao et al. | Designing the parameters of an FSS antenna for communication systems using an enhanced UTC-PSO approach | |
KR101196727B1 (ko) | 습식공정으로 제작된 그리드 구조를 포함한 광결정 공진기 및 그 제조방법 | |
Li et al. | Performance evaluation of a passive millimeter-wave imager | |
Kuznetsov et al. | Narrowband Ultra-Thin Metasurface Absorbers for subTHz Band and Their Application in Spectrometric Pyroelectric Detectors | |
Korolyov et al. | 3D printed horn antenna for millimeter-wave focal-plane array imaging systems |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20170728 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20180626 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20180628 |
|
RD01 | Notification of change of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421 Effective date: 20181204 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20181225 |