JP2015527863A - 光電変換モジュールをテストするための方法および装置 - Google Patents
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Abstract
Description
AC電圧が、光電変換モジュール上へ変調される、
光電変換モジュールがカメラを使用して走査される、そして、
カメラによって作られたカメラ信号が光電変換モジュールの蛍光画像を得るために評価される。
少なくとも一つの変調周波数を用いて光電変換モジュールから引き出されるかまたはそれから出力される電力を変調する工程、
カメラを用いて光電変換モジュールを走査する工程、および、
光電変換モジュールの蛍光画像を得るために、カメラからのカメラ信号を評価する工程。
カメラ信号から蛍光画像を計算するための評価装置とを有し、
光電変換モジュールは順方向においてのみ作動され、カメラ信号はフィルタを使用して評価される。
a) 光ルミネセンスPLは、無負荷LLでの蛍光信号と、短絡KSでの蛍光信号との差から得られる:PL=LL−KS。
PL+EL=VR−KS。
Claims (32)
- 光電変換モジュールをテストする方法であって、
少なくとも一つの変調周波数(fQ)を用いて光電変換モジュール(12)から引き出されるかまたはそれから出力される電力を変調する工程、
カメラ(26)を用いて光電変換モジュール(12)を走査する工程、および、
カメラ(26)からのカメラ信号を評価することによって、光電変換モジュール(12)の蛍光画像(32)を生成する工程を備え、
光電変換モジュール(12)はその順方向においてのみ作動され、カメラ信号はフィルタ(24)を使用して評価される方法。 - カメラ(26)はその入射側に接続されるフィルタシステム(24)を備え、該フィルタシステム(24)は、光電変換モジュール(12)からの蛍光信号を含む波長範囲、例えば結晶シリコンでできている光電変換モジュール(12)の場合、特に近赤外範囲(NIR)を透過する、請求項1に記載の方法。
- 試験は、好ましくは光電変換モジュール(12)の動作の間、昼光下においても実行される、請求項1または請求項2に記載の方法。
- カメラ信号は、デジタルフィルタにより評価される、請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の方法。
- カメラ信号は、ロックイン法を使用して評価される、請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の方法。
- 変調周波数(fQ)は、光電変換モジュール上へ適用され、そこにおいて、変調周波数は、少なくとも2つの動作点(KS、LL、MPP、VR)の間で周期的に変化する、請求項4または請求項5に記載の方法
- 使用される動作点は、短絡(KS)、無負荷(LL)、最大の電力(MPP)および順方向(VR)の任意の位置から成るグループから選択される最低2つの点である、請求項6に記載の方法。
- 異なる動作点(KS、LL、MPP、VR)での蛍光信号から得られる違いを抽出することによって情報を引き出す、請求項6または請求項7に記載の方法。
- 無負荷(LL)、短絡(KS)の下での蛍光信号を減算(LL−KS=PL)することによって、光ルミネセンス(PL)を抽出する、請求項6から請求項8のいずれか1項に記載の方法
- 順方向(VR)から無負荷(LL)の蛍光信号を減算(EL=VR−LL)することによって、電流により誘発されたエレクトロルミネセンス(EL)を抽出する、請求項6から請求項9のいずれか1項に記載の方法
- 蛍光信号(EL+PL)が順方向(VR)から短絡(KS)の下の蛍光信号を減算(EL+PL=VR−KS)して抽出される、請求項6から請求項10のいずれか1項に記載の方法。
- 試験は、接続負荷(20)を使用して、好ましくはインバータ(44)を使用して実行される、請求項1から請求項11のいずれか1項に記載の方法。
- 変調周波数(fQ)が、周期的なオン/オフ切換によって、好ましくは半導体スイッチ(14’)によって生成される、請求項1から請求項12のいずれか1項に記載の方法。
- インバータ(44)の振動数が、MPP検索のための変調周波数(fQ)として使われる、請求項12または請求項13に記載の方法。
- インバータ(44)は、変調周波数(fQ)を用いたインタフェース(46)を介して作動する、請求項12から請求項14のいずれか1項に記載の方法。
- 光電変換モジュール(12)が周期的に、好ましくは半導体スイッチ(14’’’)を介して短絡される、請求項1から請求項15のいずれか1項に記載の方法。
- 変調周波数(fQ)を使用して、太陽発電装置の一部への照射を周期的に変調することによって、光電変換モジュールは作動する、請求項1から請求項16のいずれか1項に記載の方法。
- モジュールによって引き出されるかまたは出力される電力の周期的な変調は光学的に生じ、特に補助照射を付加または減算することによって生じる、請求項1から請求湯項17のいずれか1項に記載の方法。
- モジュールによって引き出されるかまたは出力される電力の周期的な変調は機械的に生じ、特にモジュールを振ることによって、またはチョッパーで断続することによって生じる、請求項1から請求項18のいずれか1項に記載の方法。
- モジュールによって引き出されるかまたは出力される電力の周期的な変調は、電気的、熱的に、または、磁気的に、特に周期的な冷却または加熱によって生じる、請求項1から請求項19のいずれか1項に記載の方法。
- 少なくとも一つの変調周波数(fQ)は、1Hzから25Hzまで、好ましくは2Hzから10Hzまで、より好ましくは3Hzから7Hzの範囲にある、請求項1から請求項20のいずれか1項に記載の方法。
- 光電変換モジュール(12)をテストする装置であって、少なくとも一つの変調周波数(fQ)を用いて、光電変換モジュール(12)によって引き出されるかまたはそこから出力される電力上へAC電圧信号を変調するための装置(14)と、
光電変換モジュール(12)を走査してカメラ信号を出力するカメラ(26)と、
カメラ信号に基づいて蛍光画像を計算するための評価装置(28)とを有し、
光電変換モジュール(12)は順方向において作動され、カメラ信号はフィルタ(24)を使用して評価される装置。 - カメラはそれの入射側に接続されるフィルタシステム(24)を備え、光電変換モジュール(12)から蛍光信号を含む波長範囲を透過させ、例えば結晶シリコンでできている光電変換モジュールまたは薄いレイヤ・モジュール(CIS、CIGS、CdTe、a―Si)の特に近赤外範囲(NIR)を透過させる、請求項22に記載の装置。
- 評価装置は、特にロックイン法を用いて、カメラ信号を評価するためのデジタルフィルタ形の回路(30)を備える、請求項22または請求項23に記載の装置。
- 光電変換モジュール(12)は、変調周波数(fQ)を使用して、回路を周期的に中断するスイッチ(14’)、好ましくは半導体スイッチを含む、請求項22から請求項24のいずれか1項に記載の装置。
- 光電変換モジュール(12)は、少なくとも一つの変調周波数(fQ)を使用して光電変換モジュール(12)を周期的に短絡させるスイッチ(14’’ ’)、好ましくは半導体スイッチを含む、請求項22から請求項25のいずれか1項に記載の装置。
- 光電変換モジュール(12)は、少なくとも一つの変調周波数(fQ)を用いたインタフェース(46)を介して作動するインバータ(44)に接続されている、請求項22〜請求項26のいずれか1項に記載の装置。
- 光電変換モジュール(12)は、少なくとも一つの変調周波数(fQ)を使用して、存在する光を周期的に変調することによって作動する、請求項22から請求項27のいずれか1項に記載の装置。
- 光電変換モジュールから引き出されるもしくは出力される電力の、少なくとも一つの変調周波数(fQ)による変調は、光学的に行われ、特に補助照射を付加もしくは減算することによって行われる、請求項22から請求項28のいずれか1項に記載の装置。
- 光電変換モジュールから引き出されもしくは出力される電力の、少なくとも一つの変調周波数(fQ)による周期的な変調は、機械的に、特に光電変換モジュールを振ることによってまたはチョッパーを使うことによって行われる、請求項22から請求項29のいずれか1項に記載の装置。
- 少なくとも一つの変調周波数(fQ)によって光電変換モジュールから引き出されもしくは出力される電力の周期的な変調は、電気的に、熱的に、または、磁気的に、特に周期的な冷却または加熱によって行われる、請求項22から請求項30のいずれか1項に記載の装置。
- 変調周波数(fQ)は、1Hzから25Hzまで、好ましくは2Hzから10Hzまで、より好ましくは3Hzから7Hzの範囲にある、請求項22から請求項31のいずれか1項に記載の装置。
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