JP2015521727A - 測定アセンブリ、表面上の特徴を測定する方法、構造を製造する方法、及びポインター - Google Patents
測定アセンブリ、表面上の特徴を測定する方法、構造を製造する方法、及びポインター Download PDFInfo
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Abstract
Description
上記の実施形態では、測定される物体はポインター22によって測定システム18に指し示されているがこれには限定されない。例えば、測定者(測定を行う人物)が接触位置において物体に接触して又は触れて、測定システム18がこの接触位置を認識し、測定光の方向が当該接触位置に向けられるか又は当該接触位置を指し示すような構成とすることも可能である。
上記の実施形態において、ポインター22によるポインター光22Aの照射位置と測定システム18により照射される測定光26の照射方向との違いは、(カメラなどの)フィードバック装置20によって得られたポインタースポット像36Aから計算され、測定システム18の測定光26の方向がポインター22のポインター光22Aの照射位置に向けられる。しかしながら、測定システム18の測定光26の照射方向を制御する方法はこれには限られない。
18 測定システム
19 移動アセンブリ
22 ポインター
22A ポインター光(ポインター光線)
24 制御システム
26 測定光(測定光線)
36 ポインタースポット
Claims (26)
- 表面上の特徴を測定する測定アセンブリであって、
測定光を生成する測定システムと、
測定システムの少なくとも一部を選択的に移動して測定光の方向を移動する移動アセンブリと、
前記特徴におけるポインター光のポインタースポットの位置を特定する検出器と、
前記検出器によって特定された位置に基づいて移動アセンブリを制御して測定光の方向を移動する制御システムとを有する測定アセンブリ。 - 前記制御システムは指示信号に基づいて前記移動アセンブリの制御を開始して前記測定光の方向を移動する請求項1に記載の測定アセンブリ。
- 前記制御システムは、ポインタースポットの位置の変化に基づいて前記移動アセンブリを制御して前記測定光の方向を移動する請求項1に記載の測定アセンブリ。
- 前記制御システムは指示信号に基づいて前記移動アセンブリの制御を開始して前記測定光の方向を移動する請求項3に記載の測定アセンブリ。
- 前記表面に向けられた前記ポインター光は前記表面にポインタースポットを形成し、前記制御システムは前記移動アセンブリを制御して前記測定光の方向を前記測定光がほぼ前記ポインタースポットに向けられるまで移動する請求項1に記載の測定アセンブリ。
- 前記特徴にポインター光を生成するポインターをさらに有し、前記ポインターは、ポインタースポットがほぼ測定対象の前記表面上の前記特徴に向けられた状態で、前記測定システムに選択的に指示するように制御される指示器を有する請求項5に記載の測定アセンブリ。
- 前記ポインタースポットに関するフィードバック情報を前記制御システムに提供するフィードバック装置を更に備える請求項5に記載の測定アセンブリ。
- 前記フィードバック装置は検出可能領域を有し、前記制御システムは前記フィードバック装置の前記検出可能領域内の前記ポインタースポットの方向を測定する請求項7に記載の測定アセンブリ。
- 前記制御システムは前記フィードバック装置から前記フィードバック情報を受け取り、前記測定光を前記ポインタースポットに向けるためにどの程度の移動が必要であるかを決定する請求項7に記載の測定アセンブリ。
- 前記ポインター光は前記表面上の前記ポインタースポットが、前記フィードバック情報から、前記制御システムによって特定されるようにパルス化されている前記請求項9に記載の測定アセンブリ。
- 前記移動アセンブリは前記測定システムを2回転自由度で移動する請求項1に記載の測定アセンブリ。
- 前記ポインター光を前記特徴に形成し、手持ち装置であるポインターを更に有する請求項1に記載の測定アセンブリ。
- 表面上の特徴を測定する測定アセンブリであって、
測定光を生成する測定システムと、
前記測定システムの少なくとも一部を選択的に移動して前記測定光の方向を移動する移動アセンブリと、
視野を有し、前記特徴におけるポインター光のポインタースポットの位置を特定し且つ前記視野に関するフィードバック情報を提供するカメラと、
前記カメラからの前記フィードバック情報を受け取り、前記ポインタースポットが前記カメラの前記視野内か否かを判定し、前記制御システムが前記ポインタースポットが前記カメラの前記視野内であると判定したときに前記測定光を前記ポインタースポットに向けるために必要な前記測定光の移動量を判定し、前記カメラによって特定された位置に基づいて前記移動アセンブリを制御して前記測定光の方向を移動する制御システムとを有する測定アセンブリ。 - 前記制御システムは、前記移動アセンブリを制御して、前記測定光が前記表面上でほぼ前記ポインタースポットに追従するように前記測定光の方向を移動する請求項13に記載の測定アセンブリ。
- 前記ポインター光を前記特徴に生成するポインターを更に有し、前記ポインターは前記ポインタースポットが測定対象の前記表面の前記特徴にほぼ向けられた状態で前記測定システムに選択的に指示するよう制御される指示器を有する請求項14に記載の測定アセンブリ。
- 前記ポインター光は、前記ポインタースポットが、前記フィードバック情報から、前記制御システムによって特定されるようにパルス化されている請求項13に記載の測定アセンブリ。
- 表面上の特徴を測定する方法であって、
測定システムにより測定光を生成する工程と、
移動アセンブリによって前記測定光の方向を選択的に移動する工程と、
ポインターからのポインター光を前記特徴を特定するために前記特徴に向ける工程と、
前記測定光の向きを、前記測定光がほぼ前記特定された特徴を向くまで移動させるために制御システムによって前記移動アセンブリを制御する工程とを有する方法。 - 前記ポインター光を向ける工程はポインタースポットを前記表面上に形成し、前記制御する工程は、前記測定光が前記ポインタースポットにほぼ向かうまで前記測定光の方向を移動することを含む請求項17に記載の方法。
- 前記制御する工程は、前記移動アセンブリを制御して、前記測定光が前記表面上の前記ポインタースポットにほぼ追従するように前記測定光の方向を移動することを含む請求項18に記載の方法。
- フィードバック装置によって前記ポインタースポットに関するフィードバック情報を生成する工程を更に含み、前記フィードバック情報は前記制御システムに提供される請求項18に記載の方法。
- 前記制御する工程は前記測定光を前記ポインタースポットに向けるために必要な前記測定光の移動量を決定する工程を含む請求項18に記載の方法。
- 前記ポインター光を向ける工程は、前記特徴を指し示すために、所定の経路上を前記ポインター光を移動することを含む請求項17に記載の方法。
- 設計情報に基づいて構造を製造する工程と、請求項17に記載の方法を用いて構造の形状情報を求める工程と、求められた形状情報を前記設計情報と比較する工程とを含む構造を設計する方法。
- 前記比較の結果に基づいて前記構造を再処理する工程を更に含む請求項23に記載の構造を製造する方法。
- 前記構造を再処理する工程は、前記構造をもう一度製造することを含む請求項23に記載の構造を製造する方法。
- 測定システムを使用して測定される表面上の特徴を特定するために選択的に位置づけられるポインター光を生成するポインターであって、
ポインタースポットが前記測定対象の表面上の特徴にほぼ向けられた状態で前記測定システムに選択的に指示するために制御される指示器であって、前記測定システムに電気的に接続された指示器を有し、
前記測定システムは測定光を生成し、前記測定システムは、前記測定光の方向を移動するために前記測定システムの少なくとも一部を選択的に移動する移動アセンブリと、前記移動アセンブリを制御して前記測定光がほぼ前記特定された特徴を向くまで前記測定光の方向を移動する制御システムとを含むポインター。
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