BE1014137A6 - Werkwijze en inrichting voor de verificatie en identificatie van een meetinrichting. - Google Patents

Werkwijze en inrichting voor de verificatie en identificatie van een meetinrichting. Download PDF

Info

Publication number
BE1014137A6
BE1014137A6 BE2001/0280A BE200100280A BE1014137A6 BE 1014137 A6 BE1014137 A6 BE 1014137A6 BE 2001/0280 A BE2001/0280 A BE 2001/0280A BE 200100280 A BE200100280 A BE 200100280A BE 1014137 A6 BE1014137 A6 BE 1014137A6
Authority
BE
Belgium
Prior art keywords
reference object
measuring device
points
measuring
determined
Prior art date
Application number
BE2001/0280A
Other languages
English (en)
Original Assignee
Krypton Electronic Eng Nv
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Krypton Electronic Eng Nv filed Critical Krypton Electronic Eng Nv
Priority to BE2001/0280A priority Critical patent/BE1014137A6/nl
Priority to JP2002585888A priority patent/JP4430308B2/ja
Priority to EP02727058.6A priority patent/EP1402229B1/en
Priority to CA002445432A priority patent/CA2445432C/en
Priority to PCT/BE2002/000061 priority patent/WO2002088630A1/en
Priority to US10/475,812 priority patent/US7268892B2/en
Application granted granted Critical
Publication of BE1014137A6 publication Critical patent/BE1014137A6/nl

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/002Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Abstract

De uitvinding heeft betrekking op een werkwijze en een referentieobjet voor de verificatie en identificatie van een meetinrichting voor het meten van de ruimtelijke positie van één of meerdere punten die zich in het meetvolume (9) van de meetinrichting bevinden, waarbij een kalibrering van de meetinrichting wordt uitgevoerd volgens dewelke een mathematisch model wordt berekend dat toelaat om de ruimtelijke positie van een door de meetinrichting waargenomend punt te bepalen, waarbij een referentieobject (1) met vooraf bepaalde afmetingen in het meetvolume (9) wordt gebracht en vervolgens de positie van meerdere punten van dit referentieobject (1) wordt bepaald met behulp van de meetinrichting, waarbij de onderlinge ligging van de aldus bepaalde positie van de punten van het referentieobject (1) wordt berekend en wordt vergeleken met de werkelijke afmetingen van het referentieobject (1) en op basis van de aldus vastgestelde afwijkingen tussen de gemeten onderlinge positie van de punten van het referentieobject (1) en de werkelijke afmetingen van het referentieobject (1) genoemd model wordt aangepast.

Description


   <Desc/Clms Page number 1> 
 



   WERKWIJZE EN INRICHTING VOOR DE VERIFICATIE EN IDENTIFICATIE
VAN EEN MEETINRICHTING 
De uitvinding heeft betrekking op een werkwijze voor de verificatie en d identificatie van een meetinrichting voor het meten van de ruimtelijke positie van   een   o meerdere punten die zich in het meetvolume van de meetinrichting bevinden, waarbij ee kalibreringvan de meetinrichting wordt uitgevoerd volgens dewelke een mathematisc model wordt berekend dat toelaat om de ruimtelijke positie van een door d meetinrichting waargenomen punt te bepalen. 



   De huidige meetinrichtingen dienen telkens wanneer d meetnauwkeurigheid van de inrichting onvoldoende is, bijvoorbeeld ingevolg thermische of mechanische schokken die zich voordoen bij het transport van d meetinrichting, opnieuw gekalibreerd te worden. Een dergelijke kalibrering is het omslachtig en kan meerdere dagen in beslag nemen. 



   Voor optische meetsystemen, die de positie van een punt bepalen   m (   behulp van een of meerdere camera's, worden bij de kalibrering van de meetinrichtin een grote hoeveelheid punten opgemeten die op een raster met gekende afmetinge gelegen zijn. Aan de hand van de aldus opgemeten punten wordt een mathematisc model gegenereerd dat toelaat om de driedimensionale coördinaten van een door d camera's waargenomen punt te berekenen. 



   Wanneer de onderlinge posities van de camera's van de meetinrichtin enigszins wijzigen, bijvoorbeeld ingevolge thermische of mechanische belastingen bij   h (   transport ervan, kan een meetfout van de grootteorde van 0, 5 mm optreden. Volgens d huidige stand van de techniek dient de meetinrichting dan volledig opnieuw gekalibreer te worden. 

 <Desc/Clms Page number 2> 

 



   Bij klassieke coördinatenmeetmachines ("CMM") worden de punten van een voorwerp, waarvan de afmetingen of de positie dient bepaald te worden, aangeraakt met behulp van een meettaster die op een robotarm, meer bepaald op een zogenaamde manipulator, gemonteerd is. Wanneer zich een botsing voordoet tussen het te meten voorwerp en de manipulator of de meettaster, dient een nieuwe kalibrering uitgevoerd te worden. Bij een dergelijke kalibrering worden een of meerdere referentiestaven met een gecertificeerde lengte beurtelings volgens de drie orthogonale assen van het assenstelsel, dat gehanteerd wordt door de coördinatenmeetmachine, opgemeten en worden vervolgens de parameters van de coordinatenmeetmachine aangepast op basis van de metingen die uitgevoerd werden op de referentiestaaf. Dit is eveneens een heel omslachtige procedure. 



   De uitvinding wil aan deze nadelen verhelpen door een werkwijze voor te stellen welke toelaat om op een heel eenvoudige wijze de meetnauwkeurigheid van een meetinrichting te verbeteren wanneer deze onderhevig is geweest aan thermische of mechanische schokken, of aan andere decalibratiefenomenen, zonder dat deze opnieuw dient gekalibreerd te worden. 



   Tot dit doel wordt een referentieobject met vooraf bepaalde afmetingen in het meetvolume gebracht en wordt vervolgens de positie van meerdere punten van dit referentieobject bepaald met behulp van de meetinrichting, waarbij de onderlinge ligging van de aldus bepaalde positie van de punten van het referentieobject wordt berekend en wordt vergeleken met de werkelijke afmetingen van het referentieobject en, op basis van de aldus vastgestelde afwijkingen tussen de gemeten onderlinge positie van de punten van het referentieobject en de werkelijke afmetingen van het referentieobject, genoemd model wordt aangepast. 



   Doelmatig wordt voor verschillende oriëntaties van het referentieobject de positie van genoemde punten van het referentieobject bepaald. 



   Volgens een voorkeursuitvoeringsvorm voorziet men op genoemd referentieobject referentiepunten en meet men de positie van deze referentiepunten met behulp van genoemde meetinrichting zodanig dat de oriëntatie en/of de positie van het meetobject gedetermineerd zijn wanneer de positie van genoemde punten ervan bepaald wordt. 



   De uitvinding heeft eveneens betrekking op een referentieobject voor het toepassen van de werkwijze volgens de uitvinding. 

 <Desc/Clms Page number 3> 

 



   Dit referentieobject is gekenmerkt doordat dit minstens twee referentieorganen bevat waarvan de onderlinge positie bepaald is, waarbij deze referentieorganen met elkaar verbonden zijn via een verbindingsstuk dat een verwaarloosbare thermische uitzettingscoëfficiënt vertoont. 



   Volgens een voordelige uitvoeringsvorm van het referentieobject, volgens de uitvinding, vertoont dit referentiepunten die toelaten om de verplaatsing ervan te bepalen. Deze referentiepunten worden bijvoorbeeld gevormd door lichtemitterende diodes (LED's). 



   Andere bijzonderheden en voordelen van de uitvinding zullen blijken uit de hiema volgende beschrijving van enkele specifieke uitvoeringsvormen van de werkwijze en het referentieobject volgens de uitvinding ; deze beschrijving wordt enkel als voorbeeld gegeven en beperkt de draagwijdte niet van de gevorderde bescherming ; de hiema gebruikte verwijzingscijfers hebben betrekking op de hieraan toegevoegde figuren. 



   Figuur 1 is een schematisch zijaanzicht van een referentieobject volgens een eerste uitvoeringsvorm van de uitvinding. 



   Figuur 2 is een schematische voorstelling van een meetinrichting met een referentieobject, volgens de uitvinding. 



   Figuur 3 is een schematisch zijaanzicht van een referentieobject volgens een tweede uitvoeringsvorm van de uitvinding. 



   Figuur 4 is een schematisch zijaanzicht van een referentieobject, volgens een derde uitvoeringsvorm van de uitvinding. 



   In de verschillende figuren hebben dezelfde verwijzingscijfers betrekking op dezelfde of analoge elementen. 



   In figuur 1 is een eerste uitvoeringsvorm van het referentieobject volgens de uitvinding voorgesteld. Dit referentieobject 1 bevat twee sfeervormige referentieorganen 2 en 3 die onderling verbonden zijn door middel van een verbindingsstuk dat gevormd wordt door een langwerpige ronde staaf 4. Deze staaf 4 is bijvoorkeur vervaardigd uit koolstofvezels en vezels uit poly-paraphenylene terephthalamide die zich volgens de lengterichting van de staaf 4 uitstrekken of volgens een cilindrische schroeflijn in deze staaf 4 gewikkeld zijn. Genoemde vezels uit polyparaphenylene terephthalamide zijn bekend onder de merknaam   Kevlar9.   Eventueel kan de staaf 4 bestaan uit composietmaterialen op basis van deze vezels. 

 <Desc/Clms Page number 4> 

 



   De afmetingen van de sfeervormige referentieorganen 2 en 3 en hun onderlinge afstand en positie wordten nauwkeurig bepaald en eventueel gecertificeerd door een bevoegde instelling. 



   Teneinde ervoor te zorgen dat de lengte van de staaf 4 temperatuursonafhankelijk is, is deze in het bijzonder samengesteld uit vezels met een negatieve thermische uitzettingscoëfficiënt, zoals bijvoorbeeld vezels uit polyparaphenylene terephthalamide, en vezels met een positieve thermische uitzettingscoëfficiënt, zoals bijvoorbeeld koolstofvezels. De hoeveelheid van vezels met een positieve uitzettingscoëfficiënt en van deze met een negatieve uitzettingscoëfficiënt wordt zodanig gekozen dat de totale uitzettingscoëfficiënt van de staaf nagenoeg gelijk is aan nul, of minstens verwaarloosbaar is. 



   Aldus wordt het percentage van de respectievelijke vezels zodanig gekozen dat dit omgekeerd evenredig is met de respectievelijke uitzettingscoëfficiënt ervan. 



   Om een eventuele beinvloeding van de eigenschappen van de staaf 4 door de luchtvochtigheid te vermijden, wordt deze laatste bijvoorkeur bekleed met een waterdichte deklaag. 



   Elk van de sfeervormige referentieorganen 2 en 3 bestaat bijvoorbeeld uit een keramische, stalen ofkunstrobijnen bolvormige kogel. 



   In de werkwijze volgens de uitvinding, wordt een dergelijk referentieobject aangewend voor de verificatie en de identificatie van een meetinrichting. Bij deze verificatie wordt nagegaan of de meetinrichting een correcte meting en een positiebepaling met de vereiste nauwkeurigheid toelaat. Deze nauwkeurigheid is 
 EMI4.1 
 3 bijvoorbeeld van de grootteorde van 0, mm voor een meetvolume van 10m3. 



   Bij de identificatie wordt het model van de meetinrichting dat bepaald werd bij de kalibrering ervan enigszins aangepast op basis van het resultaat van genoemde verificatie teneinde de vereiste meetnauwkeurigheid te bereiken. Dit gebeurt bijvoorbeeld door de waarde van parameters van genoemd model en de invloed ervan op de vastgestelde meetfout te berekenen en deze parameters vervolgens in het model aan te passen. Bij een optisch meetsysteem kunnen dergelijke parameters bijvoorbeeld de onderlinge positie van, en de hoeken tussen, de verschillende camera's ervan zijn, of de lenskarakteristieken van de camera's, enz. 

 <Desc/Clms Page number 5> 

 



   In figuur 2 is, bij wijze van voorbeeld, schematisch een meetinrichting voorgesteld. Deze meetinrichting bestaat uit een optisch meetsysteem met drie camera's 5,6 en 7 die samenwerken met een rekeneenheid of een computer 8. De ruimte die zich binnen het gezichtsveld van de camera's 5,6 en 7 bevindt en waarin de positie van punten kan worden gemeten met de meetinrichting, vormt een zogenaamd meetvolume 9. 



   Bij het meten van de ruimtelijke positie van punten die zich in het meetvolume 9 bevinden, wordt gebruik gemaakt van een houder 11 waarop meerdere referentiepunten 12,13 en 14, die elk gevormd worden door een lichtemitterende diode, voorzien zijn. De houder 11 bevat een meettaster 20 waarmee deze tegen een te meten punt van een voorwerp wordt geplaatst. De positie van de referentiepunten 12,13 en 14 van de houder 11 wordt vervolgens gemeten teneinde de positie en oriëntatie van deze laatste te bepalen en bijgevolg de positie van het gemeten punt te kennen. Een dergelijke houder 11 is op zich bekend en wordt bijvoorbeeld beschreven in het octrooidocument WO 98/48241. 



   Zoals in de inleiding van de beschrijving werd uiteengezet, wordt een dergelijke meetinrichting gekalibreerd door de positie van een grote hoeveelheid punten op te meten die op een orthogonaal raster met gekende afmetingen gelegen zijn. Aan de hand van de aldus opgemeten punten wordt een mathematisch model gegenereerd dat toelaat om de driedimensionale coördinaten van een willekeurig punt dat zieh in genoemd meetvolume 9 bevindt te bepalen. 



   Nadat de meetinrichting getransporteerd werd, of onderhevig is geweest aan thermische schokken, dient een verificatie en een identificatie van het meetsysteem uitgevoerd te worden. Hierbij wordt een referentieobject 1 in het meetvolume 9 gebracht en worden de gekende afmetingen ervan opgemeten met het meetsysteem. Het   referentieobject l,   dat voorgesteld wordt in figuur 2, werd hierboven reeds beschreven. 



   Dit referentieobject 1 wordt op een staander 10 gemonteerd zodanig dat het een vaste positie kan innemen in genoemd meetvolume 9. Vervolgens worden de posities van een aantal punten op het oppervlak van de sfeervormige referentieorganen 2 en 3 gemeten met behulp van genoemde houder 11. 



   Bij voorkeur wordt de positie van minstens vier punten van elk referentieorgaan 2 en 3 gemeten zodanig dat, met behulp van genoemde computer, het 

 <Desc/Clms Page number 6> 

 exacte oppervlak en eventueel het middelpunt ervan kan berekend worden, evenals de afstand tussen deze referentieorganen 2 en 3 en de respectievelijke diameter ervan. 



   Deze aldus door de meetinrichting bepaalde afmetingen van het referentieobject 1 worden vervolgens vergeleken met de exacte afmetingen ervan. Meer bepaald, wordt de door de meetinrichting gemeten afstand tussen de referentieorganen 2 en 3 vergeleken met de vooraf bepaalde werkelijke afstand ertussen. 



   Deze meting van het referentieobject 1 en de vergelijking met de werkelijke afmetingen ervan wordt, bij voorkeur, voor verschillende oriëntaties of posities van het referentieobject 1 in genoemd meetvolume 9 uitgevoerd. Aldus dient het referentieobject 1 zich hierbij niet volgens de door de meetinrichting gehanteerde orthogonale assen uit te strekken en kan het referentieobject 1 bijvoorbeeld volgens enkele willekeurige oriëntaties opgemeten worden. 



   Op basis van de aldus vastgestelde afwijkingen van de meetresultaten ten opzichte van de werkelijke afmetingen van het referentieobject 1 wordt tenslotte genoemd mathematisch model enigszins aangepast, bijvoorbeeld door voor bepaalde parameters ervan een correctiefactor toe te passen, teneinde de nauwkeurigheid van de meetinrichting te verbeteren zodat deze evenwaardig is aan de meetnauwkeurigheid die wordt bereikt na een kalibrering van de meetinrichting. Wanneer bijvoorbeeld   een   van de camera's van het meetsysteem zich ingevolge een mechanische schok over een bepaalde hoek verplaatst heeft ten opzichte van de overige camera's ervan, wordt de invloed hiervan gecorrigeerd door, met behulp van de vastgestelde afwijkingen, genoemd model te corrigeren zonder dat een volledig nieuwe kalibrering van de inrichting vereist is. 



   Eventueel kan bovenstaande werkwijze meerder malen herhaald worden zodanig dat een iteratief proces wordt verkregen voor het aanpassen van genoemd mathematisch model. 



   In bepaalde gevallen is het slechts vereist om een identificatie toe te passen op bepaalde parameters van de meetinrichting, met name op de parameters die bijvoorbeeld de grootste invloed hebben op de juistheid van de positiemetingen zoals de onderlinge hoeken van de camera's bij een optische meetinrichting. In een dergelijk geval worden alleen deze parameters aangepast in genoemd mathematisch model bij de identificatie. 

 <Desc/Clms Page number 7> 

 



   Door gebruik te maken van genoemde houder 11 voor het bepalen van de afmetingen en de onderlinge positie van de referentieorganen 2 en 3 van het referentieobject 1 worden meetfouten die optreden ingevolge het gebruik van deze houder 11 bij het meten van de positie van punten in genoemd meetvolume 9, en waarmee eventueel geen rekening gehouden werd bij het kaliberen van de meetinrichting, eveneens gecorrigeerd. 



   Genoemd referentieobject kan in zeer uiteenlopende vormen of afmetingen vervaardigd worden. In figuur 3 is een tweede uitvoeringsvorm van het referentieobject   1,   volgens de uitvinding, weergegeven. Dit referentieobject 1 is verschillend van de vorige uitvoeringsvorm doordat elk van genoemde referentieorganen 2 en 3 gevormd wordt door een plaatje waarin een uitsparing 15, respectievelijk 16, bijvoorbeeld in de vorm van een cilindrische boring, voorzien is. De afmetingen van deze uitsparingen 15 en 16 zijn zodanig gekozen dat een meettaster, die voorzien is aan genoemde houder 11, nagenoeg passend in deze uitsparingen 15 en 16 aangebracht kan worden. 



   Aldus wordt, bij de werkwijze volgens de uitvinding, de afstand tussen deze twee uitsparingen 15 en 16 opgemeten met behulp van genoemde houder 11 door de meettaster opeenvolgend in elk van deze uitsparingen te plaatsen en aldus de positie ervan te bepalen. 



   Aan de hand van de afwijkingen die worden vastgesteld tussen de gemeten afstand tussen deze uitsparingen 15 en 16 en de werkelijke waarde van deze afstand, wordt vervolgens genoemd mathematisch model aangepast. 



   In figuur 4 is een derde uitvoeringsvorm van het referentieobject 1, volgens de uitvinding, weergegeven. Dit referentieobject 1 stemt overeen met het referentieobject dat in figuur 1 werd voorgesteld, doch is verder voorzien van referentiepunten 17,18 en 19 die waameembaar zijn door genoemde camera's. Bij voorkeur wordt elk van deze referentiepunten 17,18 en 19 gevormd door een lichtemitterende diode (LED). 



   Het gebruik van een dergelijk referentieobject 1 heeft als voordeel dat, bij het toepassen van de werkwijze, volgens de uitvinding, het niet vereist is om dit referentieobject op een vaste positie te houden in de meetruimte 9 wanneer met behulp van de meetinrichting de afstand tussen de referentieorganen 2 en 3 ervan wordt bepaald. 

 <Desc/Clms Page number 8> 

 



   Het referentieobject 1 wordt aldus, bijvoorbeeld op een niet-starre manier gemonteerd in genoemd meetvolume 9, of door een persoon dit meetvolume 9 vastgehouden, terwijl met behulp van de meetinrichting de positie van de referentieorganen 2 en 3 wordt bepaald. Hierbij worden eveneens de positie van de referentiepunten 17,18 en 19 van het referentieobject 1 door genoemde camera's van de meetinrichting waargenomen en wordt aldus de positie van deze referentiepunten 17,18 en 19 gemeten. Aldus is voor elke meting van de positie van een punt van een referentieorgaan 2 of 3 die uitgevoerd wordt, de overeenkomstige positie en oriëntatie van het referentiebject 1 bepaald. 



   Dit laat toe dat genoemde persoon, die het referentieobject 1 vasthoudt, dit laatste, bijvoorbeeld na het meten van de positie van het eerste referentieorgaan 2, in een andere positie houdt voor het bepalen van de positie van het tweede referentieorgaan 3. 



   De afstand tussen de twee referentieorganen 2 en 3 wordt dan door de meetinrichting berekend rekening houdend met de overeenkomstige gemeten relatieve posities en oriëntaties van het referentieobject 1. 



   Vervolgens wordt, zoals hierboven beschreven, de aldus berekende afstand tussen de referentieorganen 2 en 3 vergeleken met de werkelijke afstand ervan en wordt genoemd mathematisch model aangepast. 



   Niettegenstaande de uitvoeringsvorm van het referentieobject, die voorgesteld werd in figuur 4, drie referentiepunten vertoont, kunnen eventueel meer dan drie referentiepunten voorzien zijn. Ook is het mogelijk dat het referentieobject 1 slechts   een   of twee referentiepunten heeft wanneer de positie van de staaf 4 tijdens het opmeten over geringe afstanden, bijvoorbeeld van de grootteorde van 1 mm, verplaatst wordt. 



   Het is duidelijk dat de onderlinge positie van de referentiepunten 17,18 en 19 op het referentieobject niet relevant is aangezien enkel de relatieve positie van elk referentiepunt wordt gemeten. Deze dienen enkel op een voldoende afstand van elkaar gelegen te zijn teneinde een nauwkeurige positiebepaling van het referentieobject 1 mogelijk te maken. 



   Bij de metingen die uitgevoerd worden met de meetinrichting bij de werkwijze volgens de uitvinding, worden de referentiepunten 12,13, 14,17, 18 en 19 bijvoorkeur beurtelings opgemeten. 

 <Desc/Clms Page number 9> 

 



   Wanneer bij deze metingen deze referentiepunten gelijktijdig worden opgemeten, worden de verschillende referentiepunten bijvoorbeeld door tijdsmultiplexing onderscheiden. Deze techniek is reeds bekend. 



   Niettegenstaande bovenstaande beschrijving betrekking heeft op een optisch meetsysteem, kan de werkwijze en het referentieobject toegepast worden in allerhande meetinrichtingen voor het bepalen van de ruimtelijke positie van punten van een voorwerp. In het bijzonder is de werkwijze en het referentieobject, volgens de uitvinding, niet alleen geschikt om in optische meetsystemen toegepast te worden, maar bijvoorbeeld ook in coördinaten meetmachines. 



   De werkwijze en het referentieobject, volgens de uitvinding, zijn zeer interessant om aangewend te worden in optische meetinrichtingen waarbij gebruik gemaakt wordt van bijvoorbeeld twee of meer vlakke camera's of drie of meer lineaire camera's, of van een combinatie van deze. 



   De uitvinding is natuurlijk niet beperkt tot de hierboven beschreven en in bijgaande figuren voorgestelde uitvoeringsvormen van het referentieobject en van de werkwijze volgens de uitvinding. Zo kan het referentieobject bijvoorbeeld eenvoudigweg gevormd worden door een staaf met een gekende lengte en worden de referentieorganen gevormd door de uiteinden van deze staaf. 



   Genoemde referentiepunten kunnen niet alleen bestaan uit lichtemitterende diodes (LED's), zoals bijvoorbeeld infrarood   LED's,   maar kunnen eveneens gevormd worden door reflectoren of door gekleurde markeringen. 



   Verder kan het referentieobject voorzien zijn van meer dan twee referentieorganen en kunnen deze alle mogelijke vormen vertonen, zoals bijvoorbeeld de vorm van een kubus, een tetraëder, een kegel, een halve sfeer, etc.

Claims (13)

  1. CONCLUSIES 1. Werkwijze voor de verificatie en identificatie van een meetinrichting voor het meten van de ruimtelijke positie van een of meerdere punten die zich in het meetvolume (9) van de meetinrichting bevinden, waarbij een kalibrering van de meetinrichting wordt uitgevoerd volgens dewelke een mathematisch model wordt berekend dat toelaat om de ruimtelijke positie van een door de meetinrichting EMI10.1 waargenomen punt te bepalen, daardoor gekenmerkt dat een referentieobject (1) met vooraf bepaalde afmetingen in het meetvolume (9) wordt gebracht en vervolgens de positie van meerdere punten van dit referentieobject (1) wordt bepaald met behulp van de meetinrichting, waarbij de onderlinge ligging van de aldus bepaalde positie van de punten van het referentieobject (1)
    wordt berekend en wordt vergeleken met de werkelijke afmetingen van het referentieobject (1) en op basis van de aldus vastgestelde afwijkingen EMI10.2 tussen de gemeten onderlinge positie van de punten van het referentieobject (1) en de werkelijke afmetingen van het referentieobject (1) genoemd model wordt aangepast.
  2. 2. Werkwijze volgens conclusie 1, daardoor gekenmerkt dat de positie van genoemde punten van het referentieobject (1) voor verschillende posities enlof oriëntaties van het referentieobject (1) wordt bepaald.
  3. 3. Werkwijze volgens conclusie 1 of2, daardoor gekenmerkt dat men op genoemd referentieobject (1) referentiepunten (17, 18, 19) voorziet en de positie van deze referentiepunten (17, 18, 19) bepaalt met behulp van genoemde meetinrichting zodanig dat de oriëntatie en de positie van het referentieobject (1) bepaald zijn wanneer de positie van genoemde punten ervan wordt gemeten.
  4. 4. Werkwijze volgens conclusie 3, daardoor gekenmerkt dat de relatieve verplaatsing van de referentiepunten (17, 18, 19) wordt bepaald.
  5. 5. Werkwijze volgens een van de conclusies 1 tot 4, daardoor gekenmerkt dat gebruik gemaakt wordt van een optische meetinrichting met twee of meer vlakke camera's of met drie of meer lineaire camera's, of met een combinatie van deze.
  6. 6. Werkwijze volgens een van de conclusies 1 tot 5, daardoor gekenmerkt dat genoemd mathematisch model slechts wordt aangepast voor de <Desc/Clms Page number 11> parameters van de meetinrichting die de grootste bijdrage leveren aan genoemde afwijkingen, waarbij deze parameters bijvoorbeeld de onderlinge hoeken van de camera's bij een optische meetinrichting zijn.
  7. 7. Referentieobject voor de verificatie en de identificatie van een meetinrichting voor het meten van de ruimtelijke positie van een of meerdere punten die zich in het meetvolume (9) van de meetinrichting bevinden, daardoor gekenmerkt dat dit minstens twee referentieorganen (2, 3) bevat waarvan de onderlinge positie bepaald is, waarbij deze referentieorganen (2, 3) met elkaar verbonden zijn door middel van een verbindingsstuk (4).
  8. 8. Referentieobject volgens conclusie 7, daardoor gekenmerkt dat genoemd verbindingsstuk gevormd wordt door een staaf (4).
  9. 9. Referentieobject volgens conclusie 7 of 8, daardoor gekenmerkt dat genoemde referentieorganen (2, 3) minstens gedeeltelijk sfeervormig, kubusvormig of conisch zijn of door een boring worden gevormd.
  10. 10. Referentieobject volgens een van de conclusies 7 tot 9, daardoor gekenmerkt dat genoemd verbindingsstuk (4) hoofdzakelijk vervaardigd is uit, enerzijds, koolstofvezels met een negatieve thermische uitzettingscoëfficiënt en, anderzijds, koolstofvezels met een positieve thermische uitzettingscoëfficiënt in een zodanige verhouding dat de totale uitzettingscoëfficiënt ervan verwaarloosbaar is, waarbij deze vezels zich bij voorkeur hoofdzakelijk nagenoeg evenwijdig aan een denkbeeldige verbindingslijn tussen genoemde referentieorganen uitstrekken.
  11. 11. Referentieobject volgens een van de conclusies 7 tot 10, daardoor gekenmerkt dat dit referentiepunten (17, 18, 19) vertoont die toelaten om de verplaatsing ervan te bepalen.
  12. 12. Referentieobject volgens conclusie 11, daardoor gekenmerkt dat elk van genoemde referentiepunten (17, 18, 19) gevormd wordt door een LED, in het bijzonder door een lichtbron.
  13. 13. Referentieobject volgens een van de conclusies 7 tot 12, daardoor gekenmerkt dat genoemd verbindingsstuk (4) een verwaarloosbare thermische uitzettingscoëfficiënt vertoont.
BE2001/0280A 2001-04-24 2001-04-24 Werkwijze en inrichting voor de verificatie en identificatie van een meetinrichting. BE1014137A6 (nl)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
BE2001/0280A BE1014137A6 (nl) 2001-04-24 2001-04-24 Werkwijze en inrichting voor de verificatie en identificatie van een meetinrichting.
JP2002585888A JP4430308B2 (ja) 2001-04-24 2002-04-24 測定装置を検証および確認するための方法と装置
EP02727058.6A EP1402229B1 (en) 2001-04-24 2002-04-24 Method for the verification and identification of a measuring device
CA002445432A CA2445432C (en) 2001-04-24 2002-04-24 Method and device for the verification and identification of a measuring device
PCT/BE2002/000061 WO2002088630A1 (en) 2001-04-24 2002-04-24 Method and device for the verification and identification of a measuring device
US10/475,812 US7268892B2 (en) 2001-04-24 2002-04-24 Method and device for the verification and identification of a measuring device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
BE2001/0280A BE1014137A6 (nl) 2001-04-24 2001-04-24 Werkwijze en inrichting voor de verificatie en identificatie van een meetinrichting.

Publications (1)

Publication Number Publication Date
BE1014137A6 true BE1014137A6 (nl) 2003-05-06

Family

ID=3896955

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
BE2001/0280A BE1014137A6 (nl) 2001-04-24 2001-04-24 Werkwijze en inrichting voor de verificatie en identificatie van een meetinrichting.

Country Status (6)

Country Link
US (1) US7268892B2 (nl)
EP (1) EP1402229B1 (nl)
JP (1) JP4430308B2 (nl)
BE (1) BE1014137A6 (nl)
CA (1) CA2445432C (nl)
WO (1) WO2002088630A1 (nl)

Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10350861A1 (de) * 2003-10-31 2005-06-02 Steinbichler Optotechnik Gmbh Verfahren zur Kalibrierung eines 3D-Meßgerätes
FI119483B (fi) * 2006-03-07 2008-11-28 Saides Oy Menetelmä, järjestelmä ja tietokoneohjelmatuote mittauslaitteen paikantamiseksi ja suurten kappaleiden mittaamiseksi
DE102006026265B4 (de) * 2006-06-02 2016-03-10 Benteler Automobiltechnik Gmbh Vorrichtung zur optischen Vermessung und/oder Überprüfung von Schweißbaugruppen
US20080243416A1 (en) * 2007-03-30 2008-10-02 Mitutoyo Corporation Global calibration for stereo vision probe
JP5192794B2 (ja) * 2007-12-01 2013-05-08 株式会社浅沼技研 Nc加工機用寸法標準器
US7908757B2 (en) 2008-10-16 2011-03-22 Hexagon Metrology, Inc. Articulating measuring arm with laser scanner
US8138938B2 (en) * 2008-10-28 2012-03-20 The Boeing Company Hand-held positioning interface for spatial query
EP2191788A1 (en) * 2008-11-29 2010-06-02 Braun Gmbh Method and device for three-dimensional measurement of a dental model
DE102008062043A1 (de) * 2008-12-12 2010-06-17 Kuka Roboter Gmbh Verfahren und System zur Prüfung der Genauigkeit eines Sensors
US8112896B2 (en) 2009-11-06 2012-02-14 Hexagon Metrology Ab Articulated arm
CN101975588B (zh) * 2010-08-20 2012-07-11 北京航空航天大学 一种多传感器视觉测量系统的刚性杆全局校准方法及装置
CN102589432A (zh) * 2012-02-17 2012-07-18 华北水利水电学院 高温锻件结构光摄影测量系统的现场标定装置
US8937725B2 (en) 2012-06-14 2015-01-20 Nikon Corporation Measurement assembly including a metrology system and a pointer that directs the metrology system
EP2789960B1 (de) * 2013-04-12 2018-12-19 Refractory Intellectual Property GmbH & Co. KG Verfahren zur Bestimmung des Zustandes einer feuerfesten Auskleidung eines metallurgischen Schmelzgefässes
US10935320B2 (en) 2013-04-12 2021-03-02 Refractory Intellectual Property Gmbh & Co. Kg Method for determining the state of a refractory lining of a metallurgical vessel for molten metal in particular
US10036627B2 (en) 2014-09-19 2018-07-31 Hexagon Metrology, Inc. Multi-mode portable coordinate measuring machine
US10928193B2 (en) * 2016-05-24 2021-02-23 Illinois Tool Works Inc. Three-dimensional calibration tools and methods
JP6818339B2 (ja) * 2016-08-17 2021-01-20 株式会社シーピーアイテクノロジーズ 測定用器具
JP7180783B2 (ja) * 2019-07-26 2022-11-30 オムロン株式会社 コンピュータビジョンシステムのキャリブレーション方法及びこれに用いる基準立体物
CN112729039A (zh) * 2020-10-27 2021-04-30 天津市计量监督检测科学研究院 一种螺纹规用计量校准方法

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3975581A (en) * 1973-09-24 1976-08-17 Herman Lowenhar Transmission lines using tubular extendible structures
FR2642833B1 (fr) * 1989-02-06 1991-05-17 Vision 3D Procede d'etalonnage d'un systeme d'acquisition tridimensionnelle de forme et systeme d'acquisition pour la mise en oeuvre dudit procede
NO301999B1 (no) * 1995-10-12 1998-01-05 Metronor As Kombinasjon av laser tracker og kamerabasert koordinatmåling
US5748505A (en) * 1996-02-06 1998-05-05 Perceptron, Inc. Method and apparatus for calibrating a noncontact gauging sensor with respect to an external coordinate system
US5973770A (en) * 1998-05-06 1999-10-26 Quantum Imaging, Inc. Method for measuring the relative proximity of and interacting with a plurality of media/molecular structures
JP2001264062A (ja) * 1999-10-05 2001-09-26 Perceptron Inc 外部座標系に対して非接触ゲージングセンサを較正する方法および装置
AU2002320631A1 (en) * 2001-07-18 2003-03-03 The Regents Of The University Of California Measurement head for atomic force microscopy and other applications

Also Published As

Publication number Publication date
WO2002088630A1 (en) 2002-11-07
CA2445432C (en) 2009-09-22
JP4430308B2 (ja) 2010-03-10
US7268892B2 (en) 2007-09-11
US20040179205A1 (en) 2004-09-16
EP1402229B1 (en) 2014-06-25
EP1402229A1 (en) 2004-03-31
JP2004524543A (ja) 2004-08-12
WO2002088630A9 (en) 2004-03-25
CA2445432A1 (en) 2002-11-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
BE1014137A6 (nl) Werkwijze en inrichting voor de verificatie en identificatie van een meetinrichting.
US20050154548A1 (en) Method for calibration of a 3D measuring device
ES2663494T3 (es) Dispositivo auxiliar y procedimiento para colocar a medida una disposición de medición óptica que se puede montar en un manipulador
JP6615165B2 (ja) 物体の空間構造を求める方法及びシステム
US5805287A (en) Method and system for geometry measurements
US10648792B2 (en) Measuring system and measuring method
ES2356434T3 (es) Procedimiento y dispositivo para determinar las coordenadas espaciales de un artículo.
US7519501B2 (en) Optical projection system
CN108592953B (zh) 立体标定靶及将其应用于视觉测量中定位被测物的方法
JP2003533685A (ja) 物体の3次元形状測定方法及び装置
CN1880950A (zh) 红外照相机
US20040036867A1 (en) One-dimensional calibration standard
CN102818523B (zh) 小工件视觉测量方法及测量系统
US10319142B2 (en) Method for visualizing three dimensional data
US20070269098A1 (en) Combination laser and photogrammetry target
Turgalieva et al. Research of autocollimating angular deformation measurement system for large-size objects control
CN114577448A (zh) 一种新型便携式光轴校靶适配装置的双光轴标定方法
CN102374859B (zh) 用于校准用于车辆测量的测量站的方法和测量站
AU2003227098A1 (en) Optical testing method and apparatus
CN110470239B (zh) 一种基于交叉点的激光轮廓传感器标定系统及方法
JP2005125478A5 (nl)
ES2236882T3 (es) Dispositivo que permite determinar la posicion de un conjunto movil de sondas de medicion.
ES2638862T3 (es) Método y sistema para determinar las propiedades de una superficie de revolución
JP6093625B2 (ja) 三次元測定システム
Tutsch et al. Optical 3D measurement of scattering and specular reflecting surfaces

Legal Events

Date Code Title Description
RE Patent lapsed

Effective date: 20060430