JP2015517659A - 空ビンを検査するための方法及び設備 - Google Patents
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Abstract
Description
2 照明装置
3 画像記録装置
5 ビン、容器
6 入口、第1検査装置
7 出口、第2検査装置
8 ベルトドライブ、回転モジュール
9 空ビン検査装置、空容器検査装置
10 通過方向
11 第2検出モジュール
13 角度
14 例画像
15 ビン
16 マスク
17 対象物又は識別マーク
18 例画像
Z 中心、中心点、交点
X 制御装置
Claims (15)
- 少なくとも1つの空容器、特にガラス、ポリエチレンテレフタレート又はその他の透明な材料から成るビンの表面上に配置された、例えば、浮出、装飾シーム等のような少なくとも1つの識別マークの位置の検出の下で当該空容器の欠陥を検査するための方法において、
前記容器が、少なくとも1つの検査モジュールによってその欠陥を検査する前に検出モジュールを通過し、この検出モジュール内では、当該検出すべき識別マークの所定の位置が、この識別マークの実際の位置を検出するために光学式及び/又はセンサ式に走査され、当該実際の位置が特定され、
少なくとも1つの検査装置でのその後の第1検査時に、第1マスクが、前記識別マークの当該特定された位置に対して生成される結果、前記第1検査の実行時に、欠陥検出が、この第1マスクの領域内で実行されず、
前記第1検査の実行後に、前記空容器が、所定の角度だけ回転され、
第2検査が実行され、当該別の検査時に、別のマスクが、前記識別マークの当該記憶された新しい位置に対して生成される結果、前記第2検査の実行時に、欠陥検出が、当該第2マスクの領域内で実行されず、
前記空容器が、不正確に回転したならば、前記識別マークが、前記第2マスクの領域内に存在せず、欠陥として検出され、この識別マークの位置と、この識別マークの2次元の寸法とが、当該回転を通じて生成されたオフセットによって計算され、当該それぞれのマスクの新しい位置及び寸法として使用される当該方法。 - 前記所定の角度は、90°の角度として選択される請求項1に記載の方法。
- 前記検出すべき識別マークの所定の位置は、この識別マークの実際の位置を検出するために360°の範囲で光学式及び/又はセンサ式に走査される請求項1又は2に記載の方法。
- 前記第1検査は、空容器検査装置の入口内の側壁検査である請求項1〜3のいずれか1項に記載の方法。
- 前記第2検査は、空容器検査装置の出口内の側壁検査である請求項1〜4のいずれか1項に記載の方法。
- 前記空容器の通過時に、この空容器の回転は、空容器検出器のベルトドライブによって実行される請求項1〜5のいずれか1項に記載の方法。
- 前記空容器が、所定の角度だけ回転された後に、この容器が、前記第2検査前に第2検出モジュールを通過し、この第2検出モジュール内では、前記検出すべき識別マークの新しい位置が、この識別マークの実際の新しい位置を検出するために光学式及び/又はセンサ式に走査され、当該実際の新しい位置が特定され、後続する前記第2検査時に、前記第2マスクが、当該識別マークの特定された実際の新しい位置に対して生成される結果、前記第2検査の実行時に、欠陥検出が、前記第2マスクの領域内で実行されない請求項1〜6のいずれか1項に記載の方法。
- 前記第1検査前に特定された実際の位置と、前記第2検査前に特定された実際の新しい位置とが互いに計算され、実際の回転角度が、当該計算から算定される請求項7に記載の方法。
- 前記算定された実際の回転角度は、回転角度の監視のために使用され、所定の角度及びこの角度の公差と比較され、当該公差から外れる偏差が、誤差として検出される請求項8に記載の方法。
- 位置が、角度位置と高さ位置とを出力することによって示される請求項1〜9のいずれか1項に記載の方法。
- 異なる複数の照明装置が、前記検出モジュール内に設けられていて、これらの照明装置は、前記検出すべき識別マークの種類に応じて選択される請求項1〜10のいずれか1項に記載の方法。
- 少なくとも1つの空容器の表面上に配置された少なくとも1つの識別マークの位置の検出の下で当該空容器の欠陥を検査するための設備において、
前記設備は、少なくとも1つの第1検出モジュール(1)と少なくとも1つの第1検査装置(6)と少なくとも1つの回転モジュール(8)とを有し、
前記第1検出モジュール(1)が、前記空容器が、この第1検出モジュール(1)を通過するときに、前記検出すべき識別マークの所定の位置を、前記識別マークの実際の位置を検出するために光学式及び/又はセンサ式に走査し、当該実際の位置を特定し、データセットとして記憶するように構成されていて、
前記第1検査装置(6)が、前記空容器の検査の実行前に、マスクを、前記識別マークの記憶された位置に対して生成する結果、検査の実行時に、欠陥検出を、このマスクの領域内で実行しないように構成されていて、
前記回転モジュール(8)が、第1検査の実行後に、前記空容器を、所定の角度だけ回転するように構成されていて、
前記識別マークの位置が、当該回転を通じて生成されたオフセットによって計算することができ、第2検査を実行するための新しい位置として記憶することができ、
少なくとも1つの制御装置(X)が、前記検査装置(6)に対する移動に応じた前記識別マークの位置と前記識別マークの寸法とを転送するために、及び前記マスクをその検査領域内で動的に適合させるために設けられている当該設備。 - 前記回転モジュール(8)及び前記第1検査装置(6)は、空容器検査装置(9)内に組み込まれている請求項12に記載の設備。
- 前記設備は、第2検査装置(7)を有し、前記第1検出モジュール(1)と前記第1検査装置(6)と前記回転モジュール(8)と前記第2検査装置(7)とが、前後して直列に配置されている結果、前記第1検査が、前記第1検査装置(6)内で実行することができ、前記第2検査が、前記第2検査装置(7)内で実行することができる請求項12又は13に記載の設備。
- 前記設備は、回転モジュール(8)と第2検査装置(7)との間に配置されている第2検出モジュール(11)を有する請求項14に記載の設備。
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