JP2015513110A - 最適化されたkクロックを有する多速度oct掃引光源 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (29)
- 掃引光信号を参照アームと試料アームとの間で分割し、前記参照アームと前記試料アームとから戻る光信号を合わせて干渉信号を生成する干渉計と、
前記掃引光信号を生成する光掃引源システムであって、少なくとも2種類の掃引速度で周波数走査を行うように制御される、光掃引源システムと、
前記掃引速度に応じて、異なる光周波数サンプリング間隔で、前記干渉信号を検出する検出システムとを備えた、光コヒーレンストモグラフィシステム。 - 請求項1に記載の光コヒーレンストモグラフィシステムにおいて、さらに、
前記掃引光信号の周波数走査を検出し、前記掃引光信号が光周波数の間隔で走査されると、kクロック信号を生成する、kクロックモジュールを備えた、光コヒーレンストモグラフィシステム。 - 請求項1に記載の光コヒーレンストモグラフィシステムにおいて、さらに、
前記掃引光信号の周波数走査を検出し、前記掃引光信号が一定の光周波数間隔で走査されると、kクロック信号を生成する、kクロックモジュールを備えた、光コヒーレンストモグラフィシステム。 - 請求項3に記載の光コヒーレンストモグラフィシステムにおいて、前記kクロックモジュールは、前記光掃引源システムからの前記掃引光信号をフィルタリングするエタロンと、前記エタロンによってフィルタリングされた前記掃引光信号を検出するkクロック検出器とを含む、光コヒーレンストモグラフィシステム。
- 請求項3に記載の光コヒーレンストモグラフィシステムにおいて、前記kクロックモジュールは、前記光掃引源システムからの前記掃引光信号をフィルタリングするkクロック干渉計と、前記kクロック干渉計によってフィルタリングされた前記掃引光信号を検出するkクロック検出器とを含む、光コヒーレンストモグラフィシステム。
- 請求項3に記載の光コヒーレンストモグラフィシステムにおいて、前記kクロックモジュールは、前記kクロック信号を生成するために、前記光掃引源システムに対して選択された掃引速度に応じて、複数の参照クロック信号の中からの選択を行うクロックセレクタを含む、光コヒーレンストモグラフィシステム。
- 請求項3に記載の光コヒーレンストモグラフィシステムにおいて、前記kクロックモジュールは、前記kクロック信号を生成するために、前記光掃引源システムに対して選択された掃引速度に応じて、複数の参照クロック信号の周波数を乗算する、kクロック乗算モジュールを含む、光コヒーレンストモグラフィシステム。
- 請求項7に記載の光コヒーレンストモグラフィシステムにおいて、前記kクロック乗算モジュールは、バンドパスフィルタによるフィルタリングの前に、前記kクロックモジュールからの前記複数の参照クロック信号を整流する整流器を含む、光コヒーレンストモグラフィシステム。
- 請求項6に記載の光コヒーレンストモグラフィシステムにおいて、前記kクロック乗算モジュールは、バンドパスフィルタによるフィルタリングの前に、前記kクロックモジュールからの前記複数のクロック信号を整流する全波整流器を含む、光コヒーレンストモグラフィシステム。
- 請求項1に記載の光コヒーレンストモグラフィシステムにおいて、前記光掃引源システムでは、高い走査速度の走査帯域が、低い走査速度の走査帯域よりも狭い、光コヒーレンストモグラフィシステム
- 請求項1に記載の光コヒーレンストモグラフィシステムにおいて、前記光掃引源システムでは、高い走査速度の走査帯域が、低い走査速度の走査帯域と実質的に同一である、光コヒーレンストモグラフィシステム。
- 請求項1に記載の光コヒーレンストモグラフィシステムにおいて、前記光掃引源システムが、異なる走査速度で動作する少なくとも2つのレーザ掃引源を含む、光コヒーレンストモグラフィシステム。
- 請求項1に記載の光コヒーレンストモグラフィシステムにおいて、前記光掃引源システムが、異なる走査速度で動作する少なくとも2つのASE掃引光源を含む、光コヒーレンストモグラフィシステム。
- 請求項1に記載の光コヒーレンストモグラフィシステムにおいて、前記検出システムは、前記干渉信号を検出する平衡検出器と、この平衡検出器の信号をアナログデジタル変換するデータ取得システムとを含む、光コヒーレンストモグラフィシステム。
- 掃引光信号を生成し、この掃引光信号を少なくとも2種類の掃引速度で周波数走査を行う工程と、
前記掃引光信号を干渉計の参照アームと試料アームとの間で分割し、前記参照アームと前記試料アームとから戻る光信号を合わせて干渉信号を生成する工程と、
前記掃引速度に応じて、異なる光周波数サンプリング間隔で、前記干渉信号を検出する工程とを備えた、光コヒーレンストモグラフィ方法。 - 請求項15に記載の光コヒーレンストモグラフィ方法において、さらに、
前記掃引光信号の周波数走査を検出し、前記干渉信号の検出を制御するのに用いられる光周波数の間隔で前記掃引光信号が走査されると、kクロック信号を生成する、周波数走査検出工程を備えた、光コヒーレンストモグラフィ方法。 - 請求項15に記載の光コヒーレンストモグラフィ方法において、さらに、
前記掃引光信号の周波数走査を検出し、前記干渉信号の検出を制御するのに用いられる一定の光周波数間隔で前記掃引光信号が走査されると、kクロック信号を生成する、周波数走査検出工程を備えた、光コヒーレンストモグラフィ方法。 - 請求項17に記載の光コヒーレンストモグラフィ方法において、前記周波数走査検出工程が、エタロンで前記掃引光信号をフィルタリングする工程を含む、光コヒーレンストモグラフィ方法。
- 請求項17に記載の光コヒーレンストモグラフィ方法において、前記周波数走査検出工程が、kクロック干渉計で前記掃引光信号をフィルタリングする工程を含む、光コヒーレンストモグラフィ方法。
- 請求項17に記載の光コヒーレンストモグラフィ方法において、さらに、
前記kクロック信号を生成するために、前記光掃引源システムに対して選択された掃引速度に応じて、複数の参照クロック信号の中からの選択を行う、工程を備えた、光コヒーレンストモグラフィ方法。 - 請求項15に記載の光コヒーレンストモグラフィ方法において、
前記掃引光信号の周波数走査を検出する工程と、
前記掃引光信号が一定の光周波数間隔で走査されると、複数の参照クロック信号を生成する、工程と、
kクロック信号を生成するために、前記光掃引源システムに対して選択された掃引速度に応じて、前記複数の参照クロック信号の周波数を乗算する、工程と、
前記干渉信号の検出を制御するために、前記kクロック信号を用いる、工程とを備えた光コヒーレンストモグラフィ方法。 - 請求項21に記載の光コヒーレンストモグラフィ方法において、前記複数の参照クロック信号の周波数を乗算する工程が、バンドパスフィルタリングの前に、前記複数の参照クロック信号を整流する工程を含む、光コヒーレンストモグラフィ方法。
- 請求項15に記載の光コヒーレンストモグラフィ方法において、高い走査速度の走査帯域が、低い走査速度の走査帯域よりも狭い、光コヒーレンストモグラフィ方法。
- 光掃引源システムからの前記掃引光信号の周波数走査を検出し、掃引光信号が光周波数の間隔で走査されると、kクロック信号を生成する光コヒーレンストモグラフィシステムについてのkクロックモジュールであって、
前記光掃引源システムからの前記掃引光信号をフィルタリングする少なくとも2つの光学フィルタと、
複数の参照クロック信号を生成するように、前記少なくとも2つの光学フィルタによってフィルタリングされた前記掃引光信号を検出する、kクロック検出器と、
前記kクロック信号を生成するように、前記光掃引源システムに対して選択された掃引速度に応じて、前記参照クロック信号の中からの選択を行うクロックセレクタとを備えた、kクロックモジュール。 - 請求項24に記載のシステムにおいて、前記光学フィルタはエタロンである、システム。
- 請求項24に記載のシステムにおいて、前記フィルタはkクロック干渉計である、システム。
- 光掃引源システムからの前記掃引光信号の周波数走査を検出し、掃引光信号が光周波数の間隔で走査されると、kクロック信号を生成する光コヒーレンストモグラフィシステムのkクロックモジュールであって、
前記光掃引源システムからの前記掃引光信号をフィルタリングする光学フィルタと、
参照クロック信号を生成するために、前記光学フィルタによってフィルタリングされた前記掃引光信号を検出する、kクロック検出器と、
kクロック信号を生成するために、前記光掃引源システムに対して選択された掃引速度に応じて、前記参照クロック信号の周波数を乗算するkクロック乗算モジュールとを備えた、光コヒーレンストモグラフィシステムのkクロックモジュール。 - 請求項27に記載の光コヒーレンストモグラフィシステムにおいて、前記kクロック乗算モジュールが、バンドパスフィルタによるフィルタリングの前に、前記kクロックモジュールからの前記参照クロック信号を整流する整流器を含む、光コヒーレンストモグラフィシステム。
- 請求項27に記載の光コヒーレンストモグラフィシステムにおいて、前記kクロック乗算モジュールが、バンドパスフィルタによるフィルタリングの前に、前記kクロックモジュールからの前記クロック信号を整流する全波整流器を含む、光コヒーレンストモグラフィシステム。
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---|---|---|---|
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US13/650,665 US9243885B2 (en) | 2012-04-12 | 2012-10-12 | Multi-speed OCT swept source with optimized k-clock |
PCT/US2013/035544 WO2013154953A1 (en) | 2012-04-12 | 2013-04-08 | Multi-speed oct swept source with optimized k-clock |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
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---|---|---|---|
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020505586A (ja) * | 2017-01-24 | 2020-02-20 | ノバルティス アーゲー | 多重モード眼科光コヒーレンストモグラフィの動的モード切り替え |
JP2021501882A (ja) * | 2017-11-02 | 2021-01-21 | アルコン インコーポレイティド | 光コヒーレンストモグラフィにおけるエイリアシングを回避するためのkクロックによるデュアルエッジサンプリング |
Families Citing this family (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2828613B1 (de) * | 2012-03-21 | 2019-05-15 | Ludwig-Maximilians-Universität München | Swept-source-oct-system und -verfahren mit phasengelockter detektion |
CA2895989A1 (en) * | 2012-12-20 | 2014-07-10 | Nathaniel J. Kemp | Optical coherence tomography system that is reconfigurable between different imaging modes |
US9279742B1 (en) * | 2013-03-15 | 2016-03-08 | Insight Photonic Solutions, Inc. | System and method of measurement frequency shifting to isolate external environmental conditions for interferometric dispersion measurements |
JP6125981B2 (ja) * | 2013-12-10 | 2017-05-10 | 株式会社トーメーコーポレーション | 光断層画像装置用サンプルクロック発生装置、および光断層画像装置 |
US9310182B2 (en) | 2013-12-30 | 2016-04-12 | Axsun Technologies Llc | Spectral filtering of k-clock signal in OCT system and method |
US10393502B2 (en) * | 2014-07-25 | 2019-08-27 | Axsun Technologies, Inc. | Real time FPGA resampling for swept source optical coherence tomography |
JP6181013B2 (ja) * | 2014-08-08 | 2017-08-16 | 株式会社吉田製作所 | 光干渉断層画像生成装置及び光干渉断層画像生成方法 |
US9267783B1 (en) * | 2014-09-10 | 2016-02-23 | Carl Zeiss Meditec, Inc. | Split integration mode acquisition for optimized OCT imaging at multiple speeds |
EP3200361B1 (en) * | 2014-09-25 | 2021-10-27 | Nec Corporation | Signal detection device and signal detection method |
US10119803B2 (en) | 2015-11-03 | 2018-11-06 | Amo Wavefront Sciences, Llc | Signal extraction systems and methods |
WO2017216242A1 (en) * | 2016-06-15 | 2017-12-21 | Carl Zeiss Meditec Ag | Efficient sampling of optical coherence tomography data for explicit ranging over extended depth |
JP6812693B2 (ja) * | 2016-07-27 | 2021-01-13 | 富士ゼロックス株式会社 | レーザ部品及びレーザ光発生装置 |
JP6812692B2 (ja) * | 2016-07-27 | 2021-01-13 | 富士ゼロックス株式会社 | レーザ部品、レーザ光発生装置及び光干渉断層計 |
JP7019700B2 (ja) | 2016-12-21 | 2022-02-15 | アキュセラ インコーポレイテッド | 網膜の厚さを測定するための光干渉断層撮影(oct)システム |
EP3809948A4 (en) | 2018-06-20 | 2022-03-16 | Acucela Inc. | MINIATURIZED MOBILE, LOW COST OPTICAL COHERENCE TOMOGRAPHY SYSTEM FOR HOME OPHTHALMIC APPLICATIONS |
WO2021134087A1 (en) | 2019-12-26 | 2021-07-01 | Acucela Inc. | Optical coherence tomography patient alignment system for home based ophthalmic applications |
JP7363614B2 (ja) * | 2020-03-13 | 2023-10-18 | オムロン株式会社 | 光干渉計測装置 |
US10959613B1 (en) | 2020-08-04 | 2021-03-30 | Acucela Inc. | Scan pattern and signal processing for optical coherence tomography |
CA3188255A1 (en) | 2020-08-14 | 2022-02-17 | Ryo Kubota | System and method for optical coherence tomography a-scan decurving |
US11393094B2 (en) | 2020-09-11 | 2022-07-19 | Acucela Inc. | Artificial intelligence for evaluation of optical coherence tomography images |
EP4221565A1 (en) | 2020-09-30 | 2023-08-09 | Acucela Inc. | Myopia prediction, diagnosis, planning, and monitoring device |
US11497396B2 (en) | 2021-03-24 | 2022-11-15 | Acucela Inc. | Axial length measurement monitor |
CN117110249B (zh) * | 2023-10-23 | 2024-02-13 | 深圳湾实验室 | 大焦深的焦点可调的oct成像装置及其成像方法 |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007101266A (ja) * | 2005-09-30 | 2007-04-19 | Fujifilm Corp | 光断層画像化装置 |
JP2007117723A (ja) * | 2005-09-30 | 2007-05-17 | Fujifilm Corp | 光断層画像化装置 |
JP2008128708A (ja) * | 2006-11-17 | 2008-06-05 | Fujifilm Corp | 光断層画像化装置 |
JP2008256602A (ja) * | 2007-04-06 | 2008-10-23 | Fujifilm Corp | 断層画像処理方法および装置ならびにプログラム |
US20100110376A1 (en) * | 2008-11-06 | 2010-05-06 | Carl Zeiss Meditec, Inc. | Variable resolution optical coherence tomography scanner and method for using same |
JP2010515919A (ja) * | 2007-01-10 | 2010-05-13 | ライトラボ・イメージング・インコーポレーテッド | 波長可変光源を利用した光干渉断層撮影法の方法及び装置 |
JP2010223670A (ja) * | 2009-03-23 | 2010-10-07 | Toyama Univ | 光断層画像表示システム |
US20110080591A1 (en) * | 2009-10-02 | 2011-04-07 | Axsun Technologies, Inc. | Integrated Dual Swept Source for OCT Medical Imaging |
JP2011523460A (ja) * | 2008-05-15 | 2011-08-11 | アクサン・テクノロジーズ・インコーポレーテッド | Octの結合プローブおよび一体化システム |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7061618B2 (en) | 2003-10-17 | 2006-06-13 | Axsun Technologies, Inc. | Integrated spectroscopy system |
US7415049B2 (en) | 2005-03-28 | 2008-08-19 | Axsun Technologies, Inc. | Laser with tilted multi spatial mode resonator tuning element |
US7936462B2 (en) | 2007-01-19 | 2011-05-03 | Thorlabs, Inc. | Optical coherence tomography imaging system and method |
GB2448162A (en) | 2007-04-03 | 2008-10-08 | Bookham Technology Plc | Tunable semiconductor laser |
US8564783B2 (en) * | 2008-05-15 | 2013-10-22 | Axsun Technologies, Inc. | Optical coherence tomography laser with integrated clock |
US8139226B2 (en) * | 2009-04-28 | 2012-03-20 | Axsun Technologies, Inc. | Soft clock delay for OCT system and method therefor |
US8670129B2 (en) | 2009-09-03 | 2014-03-11 | Axsun Technologies, Inc. | Filtered ASE swept source for OCT medical imaging |
US8526472B2 (en) | 2009-09-03 | 2013-09-03 | Axsun Technologies, Inc. | ASE swept source with self-tracking filter for OCT medical imaging |
US8687666B2 (en) | 2010-12-28 | 2014-04-01 | Axsun Technologies, Inc. | Integrated dual swept source for OCT medical imaging |
WO2012098194A1 (en) | 2011-01-21 | 2012-07-26 | Carl Zeiss Meditec Ag | Methods, systems and applications of variable imaging depth in fourier domain optical coherence tomography |
-
2012
- 2012-10-12 US US13/650,665 patent/US9243885B2/en active Active
-
2013
- 2013-04-08 DK DK13716715.1T patent/DK2836787T3/da active
- 2013-04-08 CA CA2869750A patent/CA2869750C/en active Active
- 2013-04-08 EP EP13716715.1A patent/EP2836787B1/en active Active
- 2013-04-08 WO PCT/US2013/035544 patent/WO2013154953A1/en active Application Filing
- 2013-04-08 JP JP2015505818A patent/JP6389455B2/ja active Active
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007101266A (ja) * | 2005-09-30 | 2007-04-19 | Fujifilm Corp | 光断層画像化装置 |
JP2007117723A (ja) * | 2005-09-30 | 2007-05-17 | Fujifilm Corp | 光断層画像化装置 |
JP2008128708A (ja) * | 2006-11-17 | 2008-06-05 | Fujifilm Corp | 光断層画像化装置 |
JP2010515919A (ja) * | 2007-01-10 | 2010-05-13 | ライトラボ・イメージング・インコーポレーテッド | 波長可変光源を利用した光干渉断層撮影法の方法及び装置 |
JP2008256602A (ja) * | 2007-04-06 | 2008-10-23 | Fujifilm Corp | 断層画像処理方法および装置ならびにプログラム |
JP2011523460A (ja) * | 2008-05-15 | 2011-08-11 | アクサン・テクノロジーズ・インコーポレーテッド | Octの結合プローブおよび一体化システム |
US20100110376A1 (en) * | 2008-11-06 | 2010-05-06 | Carl Zeiss Meditec, Inc. | Variable resolution optical coherence tomography scanner and method for using same |
JP2010223670A (ja) * | 2009-03-23 | 2010-10-07 | Toyama Univ | 光断層画像表示システム |
US20110080591A1 (en) * | 2009-10-02 | 2011-04-07 | Axsun Technologies, Inc. | Integrated Dual Swept Source for OCT Medical Imaging |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020505586A (ja) * | 2017-01-24 | 2020-02-20 | ノバルティス アーゲー | 多重モード眼科光コヒーレンストモグラフィの動的モード切り替え |
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