JP2015506471A - 分光装置及びスペクトル分析の方法 - Google Patents

分光装置及びスペクトル分析の方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2015506471A
JP2015506471A JP2014549363A JP2014549363A JP2015506471A JP 2015506471 A JP2015506471 A JP 2015506471A JP 2014549363 A JP2014549363 A JP 2014549363A JP 2014549363 A JP2014549363 A JP 2014549363A JP 2015506471 A JP2015506471 A JP 2015506471A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
objective lens
light
optical component
spectroscopic device
optical
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2014549363A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6014166B2 (ja
JP2015506471A5 (ja
Inventor
クラウディア ゴルシュボス
クラウディア ゴルシュボス
トビアス イエクロルツ
トビアス イエクロルツ
オレ マッソウ
オレ マッソウ
ヘニング ヴィスヴェー
ヘニング ヴィスヴェー
クラウス フォーグラー
クラウス フォーグラー
Original Assignee
ウェイブライト ゲーエムベーハー
ウェイブライト ゲーエムベーハー
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ウェイブライト ゲーエムベーハー, ウェイブライト ゲーエムベーハー filed Critical ウェイブライト ゲーエムベーハー
Publication of JP2015506471A publication Critical patent/JP2015506471A/ja
Publication of JP2015506471A5 publication Critical patent/JP2015506471A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6014166B2 publication Critical patent/JP6014166B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/45Interferometric spectrometry
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/12Generating the spectrum; Monochromators
    • G01J3/14Generating the spectrum; Monochromators using refracting elements, e.g. prisms
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/02Interferometers
    • G01B9/0209Low-coherence interferometers
    • G01B9/02091Tomographic interferometers, e.g. based on optical coherence
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/0205Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
    • G01J3/0208Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows using focussing or collimating elements, e.g. lenses or mirrors; performing aberration correction
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/2803Investigating the spectrum using photoelectric array detector
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/12Generating the spectrum; Monochromators
    • G01J2003/1208Prism and grating

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)
  • Optical Head (AREA)

Abstract

分光装置38は、第1の光学部品48に入射する多色光のビーム46を空間的にスペクトル的に分離するための前記第1の光学部品48と、異なる空間領域52a、52b、52cに対して、分離した光のビーム46a、46b、46cの複数のスペクトル領域B1、B2、B3の経路を定める対物レンズ50と、前記分離した光のビーム46a、46b、46cの光路において前記対物レンズ50の下流に位置し、複数の感光センサー部品54a、54b、54cを有する、センサー54とを含む。前記感光センサー部品54a、54b、54cは、該感光センサー部品54a、54b、54cのそれぞれが、前記光のビーム46のスペクトル区分A1、A2、A3の強度を記録し、前記スペクトル区分A1、A2、A3の中央値Mk1、Mk2、Mk3が、kを波数としたとき、k空間において互いに等距離に離れて位置するようにして、前記分離した光のビーム46a、46b、46cの前記光路において配置される。【選択図】 図2

Description

本発明は、分光装置、特に、分光装置の画像処理システム、光干渉断層撮影のシステム、及び、スペクトル分析の方法に関する。
光干渉断層撮影(略してOCT)は、試料の二次元及び三次元(略して2D及び3D)構造検査として役に立つ。いわゆるスペクトル領域OCT(略してSD OCT)又はいわゆる周波数領域OCT(略してFD OCT)において、スペクトル的に広帯域の、すなわち多色光のビームをスペクトル的に分析するために、分光装置が使用される。光のビームは、分光装置に接続され、分光装置でスペクトル的に分離され、そしてスペクトル強度分布(スペクトル)Iは、いくつかのセンサー部品を有するセンサーにより記録される。このスペクトル強度分布Iから、検査される試料の空間構造を推定することができ、試料の一次元(略して1D)の断層写真(いわゆるAスキャン)を決定することができる。
Aスキャンを決定するために、スペクトル強度分布Iは、波数kにおける分布、すなわちI=I(k)でなければならないため、ここで現れる周期性(いわゆる変調周波数)は、試料の空間構造に関する情報を直接提供する。一定の波数範囲Δk(又はその倍数)だけ互いと異なる複数の波数kに対するその強度値が得られる場合、変調周波数は、スペクトル強度分布から容易に求めることができる。これは、波数k全体に亘って線形的なスペクトルの結像を考慮に入れている。
しかしながら、スペクトル強度分布を測定するための従来の分光装置において、スペクトルは、通常、強度値が一定の波長範囲Δλ(又はその倍数)の分だけ実質的に互いと異なる複数の波長λに対して記録されるようにして、センサーに結像される。すなわち、スペクトル強度分布は、波長λに亘って線形的にサンプリングされる。波長λ及び波数kが、k=2π/λを介して非線形的に互いに関係しているため、スペクトルは、kに関して非線形的に得られる。したがって、変調周波数を測定するために、kに関して線形的なスペクトルI(k)は、λに関して線形であるスペクトルI(λ)から、適切なデータ処理により求めなければならない。この手順は、リサンプリングと呼ばれる。このリサンプリングは、ある程度の演算時間を必要とし、特にスペクトル強度分布のために大量のデータを求める際に、OCT信号を迅速に表示することを困難にする。加えて、リサンプリングは、測定深度に関する感度の低下(すなわち、SNRの下落、SNRのトレードオフ、又は、感度の低下と呼ばれる、信号対雑音比における品質の損失)を通常伴う。
光干渉断層撮影、特に光干渉断層撮影と関連したスペクトル分析に関する、より広範囲な情報は、以下の刊行物から集めることができる。
W. Drexler, J.G. Fujimoto: Optical Coherence Tomography: Technology and Applications, Springer Verlag, Berlin Heidelberg New York 2010年
V.M. Gelikonov, G.V. Gelikonov, P.A. Shilyagin: Linear−Wavenumber Spectrometer for High−Speed Spectral−Domain Optical Coherence Tomography, Optics and Spectroscopy, 106, 459−465, 2009年
V.M. Gelikonov, G.V. Gelikonov, P.A. Shilyagin: Linear wave−number spectrometer for spectral domain optical coherence tomography, Proc. SPIE 6847, 68470N, 2008年
Z. Hu, A.M. Rollins: Fourier domain optical coherence tomography with a linear−in−wavenumber spectrometer, Optics Letters, 32, 3525−3527, 2007年
本発明の実施形態の目的は、高画質の断層写真を迅速に確認することを可能にする、分光装置、特に分光装置の画像処理システム、光干渉断層撮影のシステム、及びスペクトル分析の方法を具体的に記載することである。
有利な実施形態によれば、分光装置は、第1の光学部品に入射する多色光のビームを空間的にスペクトル的に分離するように構成される第1の光学部品と、異なる空間領域に対して、分離した光のビームの複数のスペクトル領域の経路を定めるように構成される対物レンズと、分離した光のビームの光路において対物レンズの下流に位置し、複数の感光センサー部品を有するセンサーとを含み、複数の感光センサー部品は、分離した光のビームの光路内に配置され、感光センサー部品のそれぞれは、光のビームのスペクトル区分の強度を記録するように構成され、スペクトル区分の中央値が、kを波数としたとき、k空間において各々等距離に離れて位置する。換言すれば、第1の光学部品及び対物レンズを通過した後に、多色光のビームのスペクトルは、波数kに亘って線形的にセンサーに結像される。
したがって、分光装置自体は、波数kに亘って線形的であるスペクトル強度分布を提供する。よって、分光装置から出力された生データを、後でリサンプリングする必要はない。ゆえに、提案された分光装置は、OCT断層写真を抽出するために必要な時間を減らすことができる。加えて、リサンプリングすることによる、測定の深度における感度の低下を、回避及び/又は軽減させることができる。
第1の光学部品は、回折部品の形をとることができる。特に、回折部品は、回折格子、透過格子、反射格子、体積格子、レリーフ格子、振幅格子、ホログラフィー格子、及び/又はフレネルゾーンプレートの形をとってもよい。回折部品の回折中心は、特に、切れ込み、溝、薄板、ランド、及び/又はフレネルゾーンにより構成される。第1の光学部品の回折中心は、互いから等距離でないように、特に、回折中心の相互間隔がわずかに可変であるように、配置されてもよい。特に、第1の光学部品に入る光のビームに関して第1の光学部品から出る光のビームの回折角θが、波数kに亘って線形的に依存する場合、第1の光学部品が角分散dθ/dkを示すことになるように、第1の光学部品の回折中心は、互いに対して配置され、及び/又は、前記のようにさせながら、第1の光学部品は、入射光のビームに応じて配置される。回折の問題に限り、以下においては、一次回折のみであると解釈される。回折中心は、わずかに可変的な格子定数を示すことができる。
第1の光学部品は、分散素子の形をとることができる。分散素子は、くさび形の構造及び/又はプリズム、特に分散プリズム及び/又は反射プリズムの形をとってもよい。第1の光学部品が角分散dθ/dkを示すようにさせながら、プリズムの幾何学的形状(例えば、屈折角α)、材質(例えば、ガラス)、及び/又は、材質の光学特性(例えば、屈折率n(k)及び/又は分散dn/dk)を選択してもよく、及び/又は、前記のようにさせながらプリズムを、入射光のビームに応じて配置してもよい。そして、その場合、第1の光学部品に入る光のビームに関して第1の光学部品から出る光のビームの偏角θは、波数kに線形的に依存する。
第1の光学部品は、格子プリズム(いわゆるグリズム)の形をとることができる。格子プリズムは、分散素子(例えば、プリズム)及び回折部品(例えば、回折格子)からなるモジュラーユニットの形をとってもよい。モジュラーユニットは、分散素子及び回折部品が互いに関して調節不可能に配置されるように、設計されてもよい。この目的のために、(例えば、適切なコーティング、蒸着、エンボシング、スコーリング等により)複数の回折中心は、プリズムの表面に適用されていてもよい。回折格子プリズムが、回折格子プリズムの回折格子の回折格子角分散と回折格子プリズムのプリズムのプリズム角分散とを組み合わせた角分散dθ/dkに従って、光のビームを分離することになるように、プリズムの幾何学的形状(例えば、屈折角α)、材質(例えば、ガラス)、及び/又は、材質の光学特性(たとえば屈折率n(k)及び/又は分散dn/dk)は、選択されてもよく、及び/又は、前記のようになるように、プリズムに適用される回折格子の回折中心は、互いに対して配置されてもよく、及び/又は、格子プリズムは、入射光のビームに応じて配置されてもよい。そして、その場合、第1の光学部品に入る光のビームに関して第1の光学部品から出る光のビームの偏角θは、波数kに線形的に依存する。
対物レンズは、物体側の第1の光学部品から出る、分離した光のビームの平行な光束が、対物レンズを通過した後に、対物レンズの光軸からの焦点の横方向の間隔が、平行な光束が対物レンズに入射する際の対物レンズの光軸に対するその入射角の増加に伴って、その入射角とともに線形的に増加することとなるように、像側の焦点に焦点合わせされるような特性を示してもよい。
対物レンズは、回転対称であるように設計されてもよい。特に、対物レンズは、その光軸に関して円筒状に対称的に設計されてもよい。対物レンズは、特に、平坦な平面走査レンズ、fθ対物レンズ、又はテレセントリックfθ対物レンズ、特に像側のテレセントリックであるfθ対物レンズの形をとる。対物レンズは、対物レンズの外側に位置する入射瞳を示してもよい。対物レンズは、第1の光学部品だけでなく、特に分離した光のビームが第1の光学部品から出る際の第1の光学部品上の位置も、対物レンズの入射瞳の中心に位置するように、第1の光学部品に関して配置されてもよい。
あるいは、又は、加えて、対物レンズは、歪曲するように負荷をかけられた結像特性及び/又は横方向の色彩の結像特性を示す。対物レンズは、k空間において各々等距離に離れて位置する、多色光のビームの複数のスペクトル領域の中央値が、それぞれ異なる焦点に焦点を合わせるように、第1の光学部品により分離された光のビームの経路を定めることに適合されたものであってもよい。ここで、異なる焦点の中心は、構成空間において各々等距離に離れて位置する。
この目的のために、屈折素子のための対物レンズ内で使用されるレンズ、特にその材質及び/又は形状を適切に選択することにより、対物レンズは、非線形関数に従う軸外方向の間隔が、波長に応じて生じる結果となるような、歪曲するように負荷をかけられた結像特性及び/又は横方向の色彩の結像特性を示してもよい。特に、この効果は、k空間において、複数のスペクトル区分の、各々等距離に離れて位置する中央値が、異なる焦点に焦点合わせされることとなるように、分離した光のビームが、対物レンズにより経路を定められるようにして、第1の光学部品により分離した光のビームの光路に関して、対物レンズの位置及び/又は方位を調整することに利用することができる。ここで、異なる焦点の中心は、構成空間において各々等距離に離れて位置する。
「横方向の」とは、対物レンズの光軸と直角をなす軸に沿うことを意味する。「色彩の」とは、波長λに依存していることを意味する。「軸外方向」とは、光軸から0ではない間隔を有した横方向を意味する。
対物レンズは、分離した光のビームが、対物レンズの光軸が位置する平面の実質的に又は排他的に上方で、対物レンズを通過するように、第1の光学部品に対して配置されてもよい。あるいは、又は、加えて、対物レンズは、対物レンズの光軸が、k空間において多色光のビームのスペクトル全体の中央値を表す、分離した光のビームの波列の伝搬方向に対して傾くように、第1の光学部品に対して配置されてもよい。
分光装置は、分散素子及び/又は回折部品の形をとる第2の光学部品を含んでもよく、第2の光学部品は、対物レンズ及び第2の光学部品が互いに対して調整ができないように配置されることとなるように、モジュラーユニットを形成するために、対物レンズと組み合わされている。特に、第2の光学部品は、対物レンズの付属物の形をとってもよい。第2の光学部品は、光のビームの光路において対物レンズの上流に配置されていてもよい。あるいは、第2の光学部品は、光のビームの光路において対物レンズの下流に配置されていてもよい。
第1の光学部品、対物レンズ、センサー、センサー部品、上記のモジュラーユニットのうちの1つ、及び/又は分光装置のすべての更なる構成要素は、例えばレール、滑りテーブル、棒リンク機構、柱、移動ステージ、又は回動ステージなど、それらに設けられる調節手段を用いて、分光装置のベースプレートの上に位置調節可能であるように形成されていてもよい。特に、第1の光学部品、対物レンズ、センサー、センサー部品、及び/又は互いの間のモジュラーユニットの、相互の位置及び/又は方位は、特に手動で調節可能である。一方、モジュラーユニットの構成要素は、相関的な位置及び/又は方位が調整不可能であることとなるように、互いに固く接続されている。
センサーのセンサー部品の感光表面の中心は、各々等距離に離れて配置されてもよい。あるいは、センサーのセンサー部品の感光表面の中心は、対物レンズが、像側の多色光のビームの複数のスペクトル領域の、k空間において各々等距離に離れて位置する中央値を合わせた焦点の中心に従って、空間的に配置されていてもよい。特に、センサーは、センサー部品の感光表面の中心が直線上にあるCCDラインセンサー又はCMOSラインセンサーの形をとってもよい。センサー部品の感光表面は、等しいサイズで、又は、異なるサイズであるように設計されていてもよい。
分光装置用のための画像処理システムは、上記の第1の光学部品のうちの1つ、上記の対物レンズのうちの1つ、及び/又は上記のモジュラーユニットのうちの1つを含む。
光干渉断層撮影のシステムは、上記の分光装置のうちの1つを含む。システムは、可干渉多色光を利用可能にするための光源と、参照アームと試料アームとに可干渉多色光を接続し、多色光のビームを形成するように参照アームと試料アームとから後方散乱する光を重畳し、かつ、スペクトル分析の目的で分光装置に多色光のビームを接続するように設定されたビームスプリッタとを含む。
スペクトル分析の方法は、
第1の光学部品に入射する多色光のビームを空間的にスペクトル的に分離する工程と、
対物レンズにより異なる空間領域に対して、分離した光のビームの複数のスペクトル領域の経路を定める工程と、
複数の感光センサー部品を有する光のビームの光路において対物レンズの下流に配置されたセンサーにより分離した光のビームの強度を記録する工程とを含み、
それぞれの感光センサー部品で、光のビームのスペクトル区分の強度を記録し、kを波数としたとき、スペクトル区分の中央値をk空間において各々等距離に離れて位置させる。
スペクトル分析の方法又は方法の個々の工程が本願明細書に記載される範囲内で、方法又は個々の工程を、適切に構成された装置により実行することができる。同様の見解が、方法の工程を実行する装置の作動モードの説明に適用される。この点で、本願明細書の装置の特徴及び方法の特徴は、同等である。特に、本発明による適切なプログラムが実行されるコンピュータを用いた方法又は方法の個々の工程を実現することが可能である。
本発明は、添付の図面に基づいて、以下に更に詳細に説明される。
一実施形態における光干渉断層撮影システムの一般的な模式図である。 分光装置の模式図である。 複数のスペクトル領域の中央値の分布の模式図である。 複数のスペクトル領域の中央値の分布の模式図である。 複数のスペクトル領域の中央値の分布の模式図である。 複数のスペクトル領域の中央値の分布の模式図である。 複数のスペクトル領域の中央値の分布の模式図である。 波長λに関して線形であり、波数kに関して非線形であるスペクトルのグラフである。 波長λに関して線形であり、波数kに関して非線形であるスペクトルのグラフである。 波数kに関して線形であり、波長λに関して非線形であるスペクトルのグラフである。 波数kに関して線形であり、波長λに関して非線形であるスペクトルのグラフである。 第1の実施形態における分光装置の模式図である。 第2の実施形態における分光装置の模式図である。 第3の実施形態における分光装置の模式図である。 第4の実施形態における分光装置の模式図である。 第5の実施形態における分光装置の模式図である。 第6の実施形態における分光装置の模式図である。 第7の実施形態における分光装置の模式図である。
光干渉断層撮影のシステムは、図1において全体として10で示される。システム10は、例示の場合において、人間の眼球の形で示される物体12を検査に用いられる。光干渉断層撮影は、SD OCT、又は、FD OCTに基づく。
システム10は、可干渉多色光のビーム16を発するための光源14を含む。光源14は、周波数空間で広帯域である可干渉光のスペクトルを発する。光源14から放たれる光のビームは、ビームスプリッタ18に向かう。ビームスプリッタ18は、干渉計20の構成要素の一部であり、所定の分離比、例えば50:50の比に従って、光のビーム16の入射光のアウトプットを分離する。1つの光束22は、参照アーム24内を進み、他の光束26は、試料アーム28内を進む。
参照アーム24に分岐した光束22は、光束22をビームスプリッタ18へ同一線上で戻すように反射させるミラー30に入射する。集束光学トレイン32及び制御可能な走査部品34は、試料アーム28内に設けられている。制御可能な走査部品34は、ビームスプリッタ18から集束光学トレイン32を通して物体12上に入ってくる光束26の経路を定めるように設定されている。この点について、ビームスプリッタ18からきた光束26が集束光学トレイン32に入る際の入射角は、走査部品34を用いて調節可能である。図1に示される実施例において、走査部品34は、回転可能に支持されるミラーとしてこの目的のために設計されている。ミラーの回転軸は、互いに対して垂直でもよい。ミラーの回転角は、例えば、検流計の原理に従って作動する素子を用いて調整される。集束光学トレイン32は、物体12内に、あるいは、物体12上に、光束26を焦束させる。
試料アーム28内で物体12から後方散乱する光束26は、多色光のビーム36を形成するために、参照アーム24におけるミラー30から反射される光束22と同一直線上に存在するように、ビームスプリッタ18で重畳される。参照アーム24及び試料アーム28内の光路長は、実質的に等しい長さであるため、光のビーム36は、参照アーム24及び試料アーム28から後方散乱した光束22と光束26との干渉を表す。分光装置又は分光計38は、多色光のビーム36のスペクトル強度分布を記録する。
図1において表される自由な空間配置の代わりに、光ファイバ部品を用いて、干渉計20を、部分的に、又は、全体的に、実現することもできる。特に、ビームスプリッタ18は、光ファイバ・ビームスプリッタという形をとることができ、光線16、22、26、36を、光ファイバを用いて導くことができる。
分光装置38は、図2において更に詳細に示される。図2から分かるように、ビームスプリッタ18からきた光のビーム36は、光ファイバ40を用いて、分光装置38に接続される。この光ファイバは、ファイバ接続42を介して、コリメーター44で終端している。コリメーター44は、いくつかのレンズから成ることができ、光ファイバ40から分岐して出てくる光のビーム36を集め、それを平行な多色光のビーム46に形成し、第1の光学部品48へ平行な多色光のビーム46を導くように設置されている。コリメーター44と第1の光学部品48との間で構造上小型な設計となるように、光のビーム46の光路内で、平行な光のビーム46の経路を第1の光学部品48に定めるために追加として設置される(図示されていない)偏向ミラーが配置されていてもよい。
第1の光学部品48は、第1の光学部品48に入射する多色光のビーム46を、そのスペクトル成分に空間的に分離するように設置されている。例として、分離された多色光のビーム46の異なるスペクトル領域の3つの平行な光のビーム46a、46b、46cの進路を示す。対物レンズ50は、光のビーム46a、46b、46cを集め、それらを異なる空間領域52a、52b、52cに導く。対物レンズ50は、いくつかのレンズから構成されることができる。対物レンズ50は、分離した光のビーム46a、46b、46cの光路内の、対物レンズ50のすべての屈折表面の上流に配置される(図示されていない)入射瞳を示す。対物レンズ50は、分離した光のビーム46a、46b、46cが第1の光学部品48から出てくる際の第1の光学部品48上の位置が、対物レンズ50の入射瞳の中央にあるように、第1の光学部品48に対して配置されてもよい。
分離した光のビーム46a、46b、46cの光路において対物レンズ50の下流に位置するのは、複数の感光センサー部品54a、54b、54cを有するセンサー54である。ここで示される例において、センサー54は、複数のピクセル、例えば4096ピクセルを表示するCMOSカメラ又はCCDカメラ(又はラインカメラ)の形をとる。その結果、センサー部品54a、54b、54cは、カメラ54の個々のピクセルを表す。センサー部品54a、54b、54cは、各センサー部品54a、54b、54cが光のビーム46のスペクトルの異なるスペクトル区分A、A、Aの強度を記録するように、分離した光のビーム46a、46b、46cの光路内に配置される。センサー部品54a、54b、54cにより記録された強度値全体から、出力信号56の形でスペクトル強度分布が得られる。
分光装置38により生成される出力信号56は、制御装置60に転送される。図1を参照のこと。制御装置60は、記録されたスペクトル強度分布に基づいて、物体12の断層写真を求める。制御装置60は、1D、2D、及び/又は3Dの断層写真の抽出を可能とするように、走査部品34を制御する。求められた断層写真を、ディスプレイ装置62に表示し、メモリ64に保存することができる。
平行な多色光のビーム46は、実質的に平行に伝播する多数の波列から成る。波列の場合、簡易化するために、調和平面波を想定してもよい。光のビーム46の各波列は、ちょうど1つの波数ベクトルkにより特徴付けられる。波数ベクトルkの方向/方位は、波列の伝播方向を表す。波数kと呼ばれる、ベクトルkの大きさkは、波列内の2つの波面の空間的な間隔の基準の尺度である。波列の空間的な周期性は、波長λに反映される。ここで、λ=(2π)/kである。
光のビーム46のスペクトル66は、図3aに概略的に示される。例として、k空間のスペクトル66は、3つのスペクトル領域B、B、Bから成る。「k空間」により、直線又は軸において、波数kを大きさにより線形的に順序付けると理解されたい。各領域B、B、Bは、中央値Mk、Mk、Mkにより特徴付けられる。しかしながら、その代わりに、(例えば4096ピクセルを使用しているような)以下の実施形態において、例えば、中央値の番号に対応する番号の異なるスペクトル領域を、定めてもよい。以下では、中央値Mkは、同時に、k空間におけるスペクトル66全体の中央値を表す。
k空間の中央値Mk(i=1、2、3)は、以下の通りに決定される。nがスペクトル領域B(スペクトル区分A)内の波数の数を表すとき、領域B(又は区分A)内に現れる波数kから波数kniが、数学的順序において大きさにより順序付けられる場合、nが奇数のとき、中央値Mkは(n+1/2)番目の場所の値を意味し、nが偶数のとき、中央値Mkはn/2番目と(n/2+1)番目の場所における値の平均値を意味する。その代わりとして、スペクトル領域B(区分A)内の波数kから波数kniの連続的な、あるいは、準連続的な分布において、スペクトル領域B(区分A)内に現れる波数のうち、kが最小の波数を表し、kniが最大の波数を表すとき、中央値は、kとkniの平均値により設定されてもよい。これと対応する見解が、λ空間における中央値の決定にも適用される。
光のビーム46が第1の光学部品48に入射する前に、中央値Mk、Mk、Mkに対応する波数k、k、kにより特徴付けられる波列は、図2に破線として示される同じ経路67に実質的に沿って移動する。経路67の方向は、波数ベクトルk、k、kの方向から決定される。したがって、全3つの波列は、図2に引かれた直線xを通過する。直線xは、同じ位置x=x=xで、光のビーム46を横切る。図3bを参照のこと。
第1の光学部品48を通過した後には、スペクトル66は、(例えば、特定の角分散に従って)空間的に分離されている。第1の光学部品48は、波数kに応じて、波数ベクトルk、k、kの方位を変えるが、その大きさ、すなわち波数k、k、k自体は変わらない。これは、中央値Mk、Mk、Mkに対応する波列が、破線として図2に同様に示される異なる経路68a、68b、68cに実質的に沿って移動することを意味する。経路68a、68b、68cの方向は、波数ベクトルk、k、kのそれぞれの方向から決定される。したがって、3つの波列は、図2に引かれた直線yを通過し、直線yは、異なる位置y1、y2、y3で、経路68a、68b、68cを横切る。図3cを参照のこと。
経路68a、68b、68cを、対物レンズ50により更なる進路に、動かす/経路を決める、特に、曲折させることができるため、中央値Mk、Mk、Mkに対応する波列は、図2に引かれた直線zを通過し、直線zは、異なる位置z、z、zで、対物レンズ50により定められた経路68a、68b、68cを横切る。図3dも参照のこと。
波列の経路を、センサー部品54a、54b、54c上の経路68a、68b、68cに沿うように定めることにより、スペクトル66は、センサー54で結像される。センサー部品54a、54b、54cは、図3eの通りに、スペクトル領域B、B、Bの1つ、あるいは、(さらに一般的にいえば)スペクトル領域B、B、Bの区分A、A、Aを、それぞれ記録する。なお、スペクトル領域B、B、Bの中央値Mk、Mk、Mkは、スペクトル区分A、A、Aの中央値Mk、Mk、Mkと一致してもよいが、必ずしも一致する必要はない。
従来の分光装置38において、センサー54の個々のセンサー部品54a、54b、54cは、センサー部品54a、54b、54cがスペクトル区分A、A、Aを記録するように、分離された光のビーム46、46a、46b、46cの光路に配置され、中央値Mλ、Mλ、Mλは、λ空間において各々等距離に離れて位置する、あるいは、k空間において少なくとも非線形的に位置するものである。
この状態は、図4a及び図4bのグラフにおいて、より正確に示される。縦軸は、センサー部品54a、54b、54cの連続的な番号付与を示し、ここに示される実施例においては、例えば、1から始まり、4096で終わる。図4aの横軸は、センサー部品54a、54b、54cによりμm単位で記録される、異なるスペクトル区分A、A、Aの中央値Mλ、Mλ、Mλの波長λを示す。図4aにおいて表される曲線70は、波長λに亘ってほぼ線形的に延びていることを示す(比較のために、追加して直線71が引かれている)。したがって、スペクトル66は、λに関してほぼ線形的にセンサー54上で結像される。
一方では、従来の分光装置38の場合、これは、波数kと波長λとの間の非線形関係k=2π/λのために、多色光のビーム46のスペクトル66が、波数kに関して非線形的にセンサー54上で結像されることを示す。これは図4bのグラフにより明白にされる。図4bのグラフは、図4aからのグラフのデータから上述の式により算出され、横軸は、センサー部品54a、54b、54cにより1/μm単位で記録される、異なるスペクトル区分A、A、Aの中央値Mk、Mk、Mkの波数kを示している(比較のために、追加して直線71が引かれている)。
本発明における分光装置38の場合、センサー54のセンサー部品54a、54b、54cは、センサー部品54a、54b、54cにより記録される光のビーム46のスペクトル66のスペクトル区分A、A、Aの中央値Mk、Mk、Mkが、k空間において各々等距離に離れて位置することになるように、分離した光のビーム46a、46b、46cの光路に配置される。
この状態は、図5bにおいて再び示される。縦軸は、同様に1から4096まで、センサー部品54a、54b、54cの連続的な番号付与を示す。横軸は、センサー部品54a、54b、54cにより1/μm単位で記録される、異なるスペクトル区分A、A、Aの中央値Mk、Mk、Mkの波数kを示す。例示として示される6.9/μmから9.3/μmへの範囲の中で、曲線72は、波数kに亘って線形的に延びていることを示している。したがって、多色光のビーム46のスペクトル66は、波数kに関して線形的にセンサー54上で結像される。図5aは、図5bから算出して得られたもので、波長λに亘って非線形に延びていることを示している(比較のために、追加して直線71が引かれている)。
図6から図11に、本発明による分光装置38の様々な実施形態を示す。より明確にするという目的のためだけに、これらの場合において、光46a及び光46cの2つの光だけを表したが、例示の第3の光のビーム46bは表されていない。光のビーム46a(46b又は46c)は、スペクトル領域B(B又はB)の中央値Mk(Mk又はMk)に対応する波数k(k又はk)により特徴付けられる波列を表す。ここで、Mk<Mk<Mkである。
図6に示される第1の実施形態において、第1の光学部品48は、回折格子の形をとる。第1の光学部品48に入る光のビーム46に関して第1の光学部品48から出る光のビーム46a、46cの回折角θが、線形的に波数kに依存する、すなわちdθ/dk=定数である場合、第1の光学部品48が角分散dθ/dkを示すことになるように、回折格子48の回折中心は、互いに対して配置され、回折格子48は、入射光のビーム46に対する方位が定められる。したがって、θが光のビーム46aが偏光する回折角であり、θが光のビーム46cが偏光する回折角であるとき、θ/k=θ/kである。
図7に示される第2の実施形態において、第1の光学部品48は、格子プリズムの形をとり、プリズム74と複数の回折中心を有し、プリズム74の入射面77aに置かれる回折格子76を有する。あるいは、回折格子76は、プリズム74の出射面77bに置かれてもよい。格子プリズム48に入る光のビーム46に関して格子プリズム48から出る光のビーム46a、46cの回折角θが、線形的に波数kに依存する、すなわちdθ/dk=定数である場合、プリズム76のプリズム角分散及び格子74の格子角分散を組み合わせた角分散dθ/dkに従って、格子プリズム48が、光のビーム46を分離することになるように、プリズム74の屈折角α、材料、及び材料の屈折率n(k)は選択され、また、前記のようになるように、回折格子76の回折中心は互いに対して配置され、また、前記のようになるように、格子プリズム48は入射光のビーム46に対する方位が定められる。したがって、θが光のビーム46aが偏光する回折角であり、θが光のビーム46cが偏光する回折角であるとき、ここにおいても、θ/k=θ/kである。
図6及び図7に図示した第1及び第2の実施形態の対物レンズ50は、光束46a、46cが対物レンズ50に入射する際の光軸80に対する入射角δ、δが増加するにつれ、対物レンズ50の光軸80からの焦点78a、78cの横方向の間隔D、Dが、その入射角δ、δとともに線形的に増加するようにして、物体側の第1の光学部品48から出る分離した光のビーム46の実質的に平行な光束46a又は46cを、対物レンズ50を通過した後に、像側の焦点78a、78cに焦点合わせさせるというような特性を有する。この目的のために、対物レンズは、例えば、fθ対物レンズの形をとる。
図8、図9、図10a、図10b、及び図11において、第3の、第4の、第5の、第6の、及び第7の実施形態を示す。これらの実施形態において、第1の光学部品48は、例えば、空間的に各々等距離に離れて配置された回折中心を有する従来の回折格子、あるいは、従来の分散プリズムの形をとる。第1の光学部品48は角分散dθ/dkを示し、そこでは光学部品48に入る光のビーム46に関して第1の光学部品48から出る光のビーム46a、46cの回折角θが、非線形的に波数kに依存する、すなわちdθ/dk≠定数である。
第3、第4、第5、及び第6の実施形態において、対物レンズ50は、k空間において、複数のスペクトル領域B、B、Bの、各々等距離に離れて位置する中央値Mk、Mk、Mkが、異なる焦点78a、78b、78cに焦点合わせされることとなるように、第1の光学部品48により分離された光のビーム46a、46b、46cが、対物レンズ50により経路を定められるような結像特性を示す。そして、例えば、図9、図10a、及び図10bの通りに、異なる焦点の中心は、構成空間において各々等距離に離れて位置する。ゆえに、対物レンズ50は、図2に示される直線zに沿った位置z、z、zに光のビーム46a、46b、46cの経路を定め、直線zは、対物レンズ50により経路を定められた分離した光のビーム46a、46b、46cの光路と交差し、空間的に各々等距離に離れて位置する。図3dを参照のこと。この目的のために、対物レンズ50は、光のビーム46a、46b、46cの経路がその波数kに依存するというような特性を示す。
図8及び図9において、第3及び第4の実施形態を表す。これらの場合、対物レンズ50は、屈折素子のために対物レンズ50内で用いられるレンズを適切に選択することにより、横方向の色彩の結像特性を示す。これらの横方向の色彩の結像特性は、波長に応じて、非線形関数に従う軸外方向の間隔が生じる結果になるようなものである。この効果は、k空間において、複数のスペクトル領域B、B、Bの各々等距離に離れて位置する中央値Mk、Mk、Mkが、異なる焦点78a、78b、78cに焦点合わせされることとなるように、分離した光のビーム46a、46b、46cが、対物レンズ50により経路を定めるようにして、分離した光のビーム46a、46b、46cの光路に関して、対物レンズ50の方位及び/又は位置を調整することに利用される。ここで、異なる焦点78a、78b、78cの中心は、構成空間において各々等距離に離れて位置する。この調整は、対物レンズ50を偏心する及び/又は傾けることにより成される。
第3の実施形態において、図8で対物レンズ50の偏心を見ることができる。対物レンズ50は、分離した光のビーム46a、46cが、対物レンズ50の光軸80がある平面82より実質的に上方で対物レンズ50を通過するように、第1の光学部品48に関して配置される。
第4の実施形態において、図9で対物レンズ50の傾きを見ることができる。対物レンズ50は、対物レンズ50の光軸80が、k空間の多色光のビーム46のスペクトル66の中央値Mkを表す分離した光のビーム46bの波列の伝播方向kに関して傾くように、第1の光学部品48に関して配置される。その結果、図9の光軸80と伝播方向kとの間の角度εは、0ではない。
図10a及び図10bに、第5及び第6の実施形態をそれぞれ示す。これらの場合、分光装置38は、プリズムという形をとっている第2の光学部品82’を含み、この第2の光学部品は、対物レンズ50及び第2の光学部品82’が、互いに対して調節不可能に配置されるように、モジュラーユニット84を形成するために対物レンズ50と結合している。あるいは、第2の光学部品82’は、くさび形の光学素子の形をとることができる。第2の光学部品82’及び対物レンズの組み合わせは、分離した光のビーム46a、46b、46cがモジュラーユニット84を通る時、光のビーム46のスペクトル66の複数のスペクトル領域B、B、Bの、k空間において各々等距離に離れて位置する中央値Mk、Mk、Mkが、中心が構成空間において各々等距離に離れて位置している異なる焦点78a、78b、78cに焦点合わせされることとなるように経路が定められるような特性を示す。
図10aにおいて、第2の光学部品82’は、光のビーム46a、46b、46cの光路の対物レンズ50の上流に配置される。この場合、第2の光学部品82’は、対物レンズの付属物という形をとる。一方では、図10bにおいて、第2の光学部品82’は、光のビーム46a、46b、46cの光路の対物レンズ50の下流に配置される。
第1の光学部品48、対物レンズ50、センサー54、センサー部品54a、54b、54c、84によって示されるモジュラーユニット、及び/又は分光装置38のすべての更なる構成要素40、42、44は、例えばレール、滑りテーブル、棒リンク機構、鏡柱、移動ステージ又は回動ステージなど、それらに設けられる調節手段86を用いて、分光装置38のベースプレート88の上に位置調節可能であるように形成されていてもよい。特に、第1の光学部品48、対物レンズ50、センサー54、センサー部品54a、54b、54c、及び/又はモジュラーユニット84の、相互の位置及び/又は方位は、特に手動で調節可能である。一方、モジュラーユニット48及び84のそれぞれの構成要素74及び76あるいは50及び82’は、その相関的な位置及び/又は方位が調整不可能であるように、事前に互いに固く接続されている。
図6から図10bに示される第1から第6の実施形態において、センサー54のセンサー部品54a、54b、54cの感光表面は、等しい大きさに設計されている。さらに、感光表面の中心は、構成空間において各々等距離に離れて配置される。
図11に、分光装置38の第7の実施形態を示す。この場合、対物レンズ50は、従来の対物レンズの形をとる。対物レンズ50は、複数のスペクトル領域B、B、Bの、k空間において各々等距離に離れて位置する中央値Mk、Mk、Mkが、異なる焦点78a、78b、78cに合わせられることとなるように、第1の光学部品48により分離した光のビーム46a、46b、46cが、対物レンズ50により経路を定められるような結像特性を示す。ここで異なる焦点78a、78b、78cの中心は、構成空間において互いに関して等距離でないように位置する。一方、本実施形態において、センサー54の感光素子54a、54b、54cの感光表面の中心は、対物レンズ50が、像側の複数のスペクトル領域B、B、Bの、k空間において各々等距離に離れて位置する中央値Mk、Mk、Mkに合わせた焦点78a、78b、78cに従って、配置される。この点について、センサー部品54a、54b、54cの感光表面の中心は、構成空間において互いに関して等距離でないように位置する。センサー部品54a、54b、54cの感光表面は、可変的に拡大できる。

Claims (15)

  1. 分光装置であって、
    第1の光学部品に入射する多色光のビームを空間的にスペクトル的に分離するように構成される前記第1の光学部品と、
    異なる空間領域に対して、前記分離した光のビームの複数のスペクトル領域の経路を定めるように構成される対物レンズと、
    前記分離した光のビームの光路において前記対物レンズの下流に位置し、複数の感光センサー部品を有するセンサーとを含み、
    前記複数の感光センサー部品は、前記分離した光のビームの前記光路内に配置され、
    該感光センサー部品のそれぞれは、前記光のビームのスペクトル区分の強度を記録するように構成され、前記スペクトル区分の中央値が、kを波数としたとき、k空間において各々等距離に離れて位置するものであることを特徴とする分光装置。
  2. 前記対物レンズは、k空間において各々等距離に離れて位置する複数のスペクトル領域の中央値が、それぞれ異なる焦点に焦点を合わせるように、前記第1の光学部品により前記分離された光のビームの経路を定めるように構成され、前記異なる焦点の中心は、構成空間において各々等距離に離れて位置するものであることを特徴とする請求項1に記載の分光装置。
  3. 前記対物レンズは、回転対称である及び/又は横方向の色彩の結像特性を示すものであることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の分光装置。
  4. 前記対物レンズは、前記分離した光のビームが、前記対物レンズの光軸が位置する平面の実質的に上方で、前記対物レンズを通過するように、第1の光学部品に対して配置されるものであることを特徴とする請求項2又は請求項3に記載の分光装置。
  5. 前記対物レンズは、前記対物レンズの光軸が、k空間において前記光のビームのスペクトル全体の中央値を表す前記分離した光のビームの波列の伝搬方向に対して傾くように、前記第1の光学部品に対して配置されるものであることを特徴とする請求項2から請求項4のいずれか1項に記載の分光装置。
  6. 前記分光装置は、プリズム又は回折部品を有する第2の光学部品を含み、前記第2の光学部品は、前記対物レンズ及び第2の光学部品が互いに対して調整ができないように配置されるモジュラーユニットを形成するために対物レンズと組み合わされたものであることを特徴とする請求項2から請求項5のいずれか1項に記載の分光装置。
  7. 前記第2の光学部品は、前記光のビームの光路において前記対物レンズの上流に配置されるものであることを特徴とする請求項6に記載の分光装置。
  8. 前記第2の光学部品は、前記光のビームの光路において前記対物レンズの下流に配置されるものであることを特徴とする請求項6に記載の分光装置。
  9. 前記第1の光学部品は、回折部品の形をなし、前記回折部品の回折の中心は、偏角が波数kに線形的に依存する場合に、前記第1の光学部品が前記光のビームを角分散に従って分離することになるように、各々に対して等距離でないようにして配置されるものであることを特徴とする請求項1から請求項8のいずれか1項に記載の分光装置。
  10. 前記第1の光学部品は、回折格子プリズムの形をなし、前記回折格子プリズムは、偏角が波数kに線形的に依存する場合に、前記回折格子プリズムの前記回折格子の回折格子角分散と前記回折格子プリズムの前記プリズムのプリズム角分散とを組み合わせた角分散に従って、前記光のビームを分離するものであることを特徴とする請求項1から請求項8のいずれか1項に記載の分光装置。
  11. 前記対物レンズは、前記第1の光学部品の物体側から出る前記分離した光のビームの実質的に平行な光束を、前記対物レンズを通過した後、像側の焦点に焦点を合わせ、前記対物レンズの光軸からの前記焦点の横方向の間隔が、前記光束が前記対物レンズに入射する際の前記対物レンズの前記光軸に対する入射角の角度の増加に伴って、該入射角の角度とともに線形的に増加するように構成されたものであることを特徴とする請求項1から請求項10のいずれか1項に記載の分光装置。
  12. 前記センサーの前記感光センサー部品の感光表面の中心は、各々等距離に離れて位置することを特徴とする請求項1から請求項11のいずれか1項に記載の分光装置。
  13. 前記センサーの前記感光センサー部品の前記感光表面の中心は、前記対物レンズが、前記像側の複数のスペクトル領域のk空間において各々等距離に離れて位置する中央値を合わせた焦点の中心に従って、空間的に配置されるものであることを特徴とする請求項1から請求項12のいずれか1項に記載の分光装置。
  14. 光干渉断層撮影(OCT)のためのシステムであって、
    請求項1から請求項13のいずれか1項に記載の分光装置と、
    可干渉多色光を提供するように構成された光源と、
    参照アームと試料アームとに前記可干渉多色光を接続し、多色光のビームを形成するように前記参照アームと前記試料アームとから後方散乱する光を重畳し、かつ、スペクトル分析の目的で前記分光装置に前記多色光のビームを接続するように構成されたビームスプリッタとを含むものであることを特徴とするシステム。
  15. スペクトル分析の方法であって、
    第1の光学部品に入射する多色光のビームを空間的にスペクトル的に分離する工程と、
    対物レンズにより複数の異なる空間領域に対して、前記分離した光のビームの複数のスペクトル領域の経路を定める工程と、
    複数の感光センサー部品を有する前記光のビームの前記光路において前記対物レンズの下流に配置されたセンサーにより前記分離した光のビームの1つ以上の強度を記録する工程とを含み、
    それぞれの前記感光センサー部品で、前記光のビームのスペクトル区分の強度を記録し、kを波数としたとき、前記スペクトル区分の前記中央値をk空間において各々等距離に離れて位置させることを特徴とする方法。
JP2014549363A 2011-12-28 2011-12-28 分光装置及びスペクトル分析の方法 Active JP6014166B2 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/EP2011/006588 WO2013097874A1 (en) 2011-12-28 2011-12-28 Spectroscopic instrument and process for spectral analysis

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2015506471A true JP2015506471A (ja) 2015-03-02
JP2015506471A5 JP2015506471A5 (ja) 2015-11-19
JP6014166B2 JP6014166B2 (ja) 2016-10-25

Family

ID=45491526

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014549363A Active JP6014166B2 (ja) 2011-12-28 2011-12-28 分光装置及びスペクトル分析の方法

Country Status (13)

Country Link
US (1) US20140362384A1 (ja)
EP (1) EP2798321B1 (ja)
JP (1) JP6014166B2 (ja)
KR (2) KR101768050B1 (ja)
CN (1) CN104040308B (ja)
AU (1) AU2011384697B2 (ja)
CA (1) CA2856570A1 (ja)
DK (1) DK2798321T3 (ja)
ES (1) ES2613256T3 (ja)
IN (1) IN2014KN01350A (ja)
PL (1) PL2798321T3 (ja)
PT (1) PT2798321T (ja)
WO (1) WO2013097874A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107421640A (zh) * 2017-08-29 2017-12-01 南京大学 基于色差扩大原理的多光谱光场成像系统及方法

Families Citing this family (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9335604B2 (en) 2013-12-11 2016-05-10 Milan Momcilo Popovich Holographic waveguide display
US11726332B2 (en) 2009-04-27 2023-08-15 Digilens Inc. Diffractive projection apparatus
EP2995986B1 (en) 2011-08-24 2017-04-12 Rockwell Collins, Inc. Data display
WO2016020630A2 (en) 2014-08-08 2016-02-11 Milan Momcilo Popovich Waveguide laser illuminator incorporating a despeckler
US9933684B2 (en) 2012-11-16 2018-04-03 Rockwell Collins, Inc. Transparent waveguide display providing upper and lower fields of view having a specific light output aperture configuration
US20150369587A1 (en) * 2014-06-18 2015-12-24 Canon Kabushiki Kaisha SD-OCT Flatten Coherence Length by Controlling Spatial Dispersion
WO2016042283A1 (en) 2014-09-19 2016-03-24 Milan Momcilo Popovich Method and apparatus for generating input images for holographic waveguide displays
CN104457987B (zh) * 2014-11-25 2016-08-24 西安应用光学研究所 棱镜分光多路复用多光谱成像装置
CN111323867A (zh) 2015-01-12 2020-06-23 迪吉伦斯公司 环境隔离的波导显示器
US9632226B2 (en) 2015-02-12 2017-04-25 Digilens Inc. Waveguide grating device
EP3359999A1 (en) 2015-10-05 2018-08-15 Popovich, Milan Momcilo Waveguide display
JP6895451B2 (ja) 2016-03-24 2021-06-30 ディジレンズ インコーポレイテッド 偏光選択ホログラフィー導波管デバイスを提供するための方法および装置
CN106333650B (zh) * 2016-09-26 2019-05-07 华南师范大学 一种多尺度光声显微成像装置及其方法
EP3548939A4 (en) 2016-12-02 2020-11-25 DigiLens Inc. UNIFORM OUTPUT LIGHTING WAVEGUIDE DEVICE
US10545346B2 (en) 2017-01-05 2020-01-28 Digilens Inc. Wearable heads up displays
EP3511697B1 (de) * 2018-01-12 2023-07-12 Drägerwerk AG & Co. KGaA Anordnung und verfahren zur analyse eines fluids
KR102220889B1 (ko) * 2018-03-16 2021-03-02 한국전자통신연구원 테라헤르츠파를 이용한 영상 획득 장치
JP7009654B2 (ja) * 2018-12-04 2022-01-25 オリンパス株式会社 光源装置、及び光量調整方法
WO2020168348A1 (en) 2019-02-15 2020-08-20 Digilens Inc. Methods and apparatuses for providing a holographic waveguide display using integrated gratings
KR20220016990A (ko) 2019-06-07 2022-02-10 디지렌즈 인코포레이티드. 투과 및 반사 격자를 통합하는 도파관 및 관련 제조 방법
WO2021041949A1 (en) 2019-08-29 2021-03-04 Digilens Inc. Evacuating bragg gratings and methods of manufacturing
CN111947779A (zh) * 2020-07-28 2020-11-17 武汉光迅科技股份有限公司 一种光信号检测系统

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009015014A (ja) * 2007-07-04 2009-01-22 Institute Of Physical & Chemical Research 分散光学システム
JP2010002829A (ja) * 2008-06-23 2010-01-07 Institute Of Physical & Chemical Research 分散プリズム
US20110102802A1 (en) * 2009-10-23 2011-05-05 Izatt Joseph A Systems for Comprehensive Fourier Domain Optical Coherence Tomography (FDOCT) and Related Methods

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4810092A (en) * 1986-02-21 1989-03-07 Midac Corporation Economical spectrometer unit having simplified structure
WO2004036145A1 (de) * 2002-10-12 2004-04-29 Leica Geosystems Ag Elektronische anzeige- und steuervorrichtung für ein messgerät
US6977727B2 (en) * 2003-10-06 2005-12-20 The Regents Of The University Of California Compact imaging spectrometer utilizing immersed gratings
JP2005180931A (ja) * 2003-12-16 2005-07-07 Nippon Roper:Kk 分光処理装置
TWI260427B (en) * 2004-07-09 2006-08-21 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Grating spectrograph
WO2010022745A1 (de) * 2008-08-25 2010-03-04 Wavelight Ag Ankopplung eines auges an eine lasereinrichtung

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009015014A (ja) * 2007-07-04 2009-01-22 Institute Of Physical & Chemical Research 分散光学システム
JP2010002829A (ja) * 2008-06-23 2010-01-07 Institute Of Physical & Chemical Research 分散プリズム
US20110102802A1 (en) * 2009-10-23 2011-05-05 Izatt Joseph A Systems for Comprehensive Fourier Domain Optical Coherence Tomography (FDOCT) and Related Methods

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
JPN6015026134; Zhilin Hu: '"Fourier domain optical coherence tomographywith a linear-in-wavenumber spectrometer"' OPTICS LETTERS Vol. 32, No. 24, 20071215, pp.3525-3527 *
JPN6015026136; V.M.Gelikonov: '"Linear-Wavenumber Spectrometer for High-Speed Spectral-Domain Optical Coherence Tomography"' Optics Spectroscopy Vol.106 No.3, 200903, pp.459-465 *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107421640A (zh) * 2017-08-29 2017-12-01 南京大学 基于色差扩大原理的多光谱光场成像系统及方法
CN107421640B (zh) * 2017-08-29 2019-01-25 南京大学 基于色差扩大原理的多光谱光场成像系统及方法

Also Published As

Publication number Publication date
EP2798321B1 (en) 2016-12-28
JP6014166B2 (ja) 2016-10-25
AU2011384697A1 (en) 2014-07-17
WO2013097874A1 (en) 2013-07-04
KR20160086990A (ko) 2016-07-20
KR20140108668A (ko) 2014-09-12
EP2798321A1 (en) 2014-11-05
KR101768050B1 (ko) 2017-08-14
CA2856570A1 (en) 2013-07-04
PT2798321T (pt) 2017-02-03
CN104040308A (zh) 2014-09-10
CN104040308B (zh) 2017-02-15
AU2011384697B2 (en) 2015-03-12
PL2798321T3 (pl) 2017-04-28
US20140362384A1 (en) 2014-12-11
IN2014KN01350A (ja) 2015-10-16
ES2613256T3 (es) 2017-05-23
DK2798321T3 (en) 2017-02-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6014166B2 (ja) 分光装置及びスペクトル分析の方法
US11872015B2 (en) Apparatus and method for confocal microscopy using dispersed structured illumination
JP5274843B2 (ja) スペクトル領域光コヒーレンス断層放射線写真システムにおける交差分散分光計
JP4286667B2 (ja) 物体の光学走査のための低コヒーレンス干渉装置
US9243888B2 (en) Image mapped optical coherence tomography
US20170045722A1 (en) Apparatus and method for optical beam scanning microscopy
JP2015506471A5 (ja)
JP2007512541A (ja) 三次元分光的符号化撮像のための方法と装置
JP5610063B2 (ja) 観察装置および観察方法
JP2013517465A (ja) 小型干渉分光計
JP5753277B2 (ja) 光干渉断層撮影のための装置及び方法
KR20130039005A (ko) 3차원 형상 및 두께 측정 장치
CN107949776A (zh) 静态式傅立叶变换光谱仪
TWI418762B (zh) 低同調干涉光學成像裝置
JP2006275908A (ja) 信号光パルス多重化ユニット及びそれを用いた時間分解計測装置
JP2007093288A (ja) 光計測装置及び光計測方法
RU2655472C1 (ru) Способ и устройство регистрации пространственного распределения оптических характеристик труднодоступных объектов
RU2673784C1 (ru) Двухкомпонентный интерферометр общего пути
TWI494540B (zh) 低同調干涉光學成像裝置
Widjanarko Hyperspectral interferometry for single-shot profilometry and depth-resolved displacement field measurement
JP2021028644A (ja) 共焦点顕微鏡及び画像化システム

Legal Events

Date Code Title Description
RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20141204

RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423

Effective date: 20141204

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20141208

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20150630

A524 Written submission of copy of amendment under article 19 pct

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A524

Effective date: 20150930

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20160301

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20160630

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20160707

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20160823

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20160923

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6014166

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250