JP2005180931A - 分光処理装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】測定対象物に影響を与えることなく、測定対象物の各部位の高精度な分光情報及び画像情報を取得できる分光処理装置を提供する。
【解決手段】光源30から出力された励起光14をスリット部材34及び結像レンズ44を介して測定対象物12に照射してスリット像とし、測定対象物12から得られた測定光18を回折格子66によって分光し、CCDセンサ26により分光画像情報を取得する。この場合、スリット部材34と測定対象物12との間に配設した結像レンズ44を移動させることにより、スリット像を測定対象物12上で移動させ、測定対象物12の全体の分光画像情報を取得することができる。
【選択図】図1

Description

本発明は、測定対象物に照明光を照射して得られる測定光を分光し、前記測定対象物の分光情報を取得する分光処理装置に関する。
測定対象物からの測定光を分光器を用いて分光し、その分光情報に基づいて測定対象物の成分分析等を行う装置として、例えば、特許文献1に開示されたポリクロメータがある。このポリクロメータは、照明光が照射されることで測定対象物から得られた測定光を入射スリットを介して回折格子に導いて回折分散させ、その回折分散光をCCD(Charge Coupled Device)等の二次元光センサによって電気信号に変換するように構成されており、広い波長範囲の分光情報を一度に得ることができる。
一方、生化学分野では、例えば、癌細胞等の生体組織を蛍光色素で染色し、その蛍光色素を含む測定対象物に励起光を照射することで得られる蛍光を測定することにより、生体組織の状態を調べる蛍光測光法が知られている。この場合、異なる複数の蛍光色素を用いて生体組織を染め分けることにより、生体組織を色によって弁別して観察することができる。なお、異なる蛍光色素から得られる異なる波長の蛍光を分離して観察するためには、各波長に応じた透過特性を有する光学フィルタを切り替えて用いればよい。
特開平9−229849号公報(図1)
ところで、従来のポリクロメータは、測定対象物の特定部位の測定光を分光して分光情報を得るものであり、測定対象物の全体の分光情報を一度に得ることができるようには構成されていなかった。
一方、蛍光測光法では、測定対象物の全体に励起光を照射することで得られる蛍光を観察していたため、励起光による蛍光色素の退色が著しく、長時間に亘る観察には不適当であった。従って、測定対象物の全体の画像を観察することはできるが、生体組織等の測定対象物の経時的状態を観察することは事実上不可能であった。
本発明は、前記の不具合に鑑みなされたものであり、測定対象物の各部位の高精度な分光情報及び画像情報を取得できる分光処理装置を提供することを目的とする。
また、本発明は、測定対象物に影響を与えることなく、測定対象物の時分割画像情報を取得できる分光処理装置を提供することを目的とする。
本発明の分光処理装置は、照明光を出力する光源と、
前記照明光をスリット光に変換するスリット部材と、
前記スリット光を測定対象物に導く光学系と、
前記スリット部材に形成されたスリットの長手方向と直交する方向に前記スリット光を移動させて前記測定対象物を走査する走査手段と、
前記スリット光が照射されることで前記測定対象物から得られた測定光を分光する分光器と、
二次元状に配列された複数の光電変換部を有し、分光された前記測定光を受光して電気信号に変換する二次元光センサと、
前記電気信号に基づいて前記測定対象物の分光情報及び画像情報を処理する情報処理手段と、
を備えることを特徴とする(請求項1記載の発明)。
この場合、光源から出力された照明光は、スリット部材のスリットを通過した後、光学系を介して測定対象物にスリット光として導かれる。スリット光が照射されることで測定対象物から得られた測定光は、分光器によって分光され、二次元光センサに導かれて電気信号に変換される。情報処理手段は、二次元光センサ上での測定光の位置情報と電気信号とから、測定対象物のスリット光が照射される部位における分光情報を取得する。
また、測定対象物に沿ってスリット光を走査させることで得られた電気信号から、測定対象物の画像情報を取得する。さらに、所定の時間間隔でスリット光を複数回走査させることにより、測定対象物の経時的状態を表す時分割画像情報を取得することができる。この場合、測定対象物には、測定する部位にのみスリット光が照射されているため、例えば、測定対象物を蛍光色素によって染色して観察するような場合であっても、蛍光色素が退色しない良好な状態で測定対象物の経時的状態に係る画像情報を取得することができる。
なお、光学系を構成する結像レンズをその光軸と直交する方向に移動させることにより、測定対象物を移動させることなく、スリット光を測定対象物に沿って移動させることができるため、例えば、生体組織等の動的な測定対象物に影響を与えることなく、高精度な分光情報及び画像情報を取得することができる(請求項2記載の発明)。
測定光を分光する分光器としては、所定の波長範囲の分光情報を一度に取得することができるポリクロメータを用いることができる(請求項3記載の発明)。
また、光学系としては、顕微鏡光学系を適用することができる(請求項4記載の発明)。
また、測定対象物を染色する蛍光色素を励起して蛍光を生成する励起光を照明光とすることにより、蛍光測光法を適用することのできる分光処理装置を提供することができる(請求項5記載の発明)。
本発明の分光処理装置では、測定対象物に沿ってスリット光を走査し、得られた測定光を分光して二次元光センサで検出することにより、測定対象物の各部位の高精度な分光情報及び画像情報を取得することができる。
また、測定対象物を移動させる代わりに、走査手段によりスリット光を測定対象物に沿って移動させることにより、分光情報及び画像情報を測定対象物に影響を与えることなく取得することができる。
さらに、照明光をスリット光として測定対象物の必要部分にのみ照射しているため、照明光により測定対象物が退色等の影響を受ける不具合を抑制することができる。従って、測定対象物に影響を与えることなく、スリット光により測定対象物を所定の時間間隔で繰り返し走査して複数の時分割画像を取得し、測定対象物の経時的な状態を分析することができる。
図1は、本実施形態の分光処理装置10の構成ブロック図である。また、図2は、分光処理装置10を構成する光学系における主要要素の配置関係説明図である。
分光処理装置10は、測定対象物12を照明する照明光である励起光14を出力する光源部16と、励起光14を測定対象物12に導き、拡大された測定対象物12に係る測定光18を得る顕微鏡光学系20と、測定光18を所望の波長範囲に分光するポリクロメータ22(分光器)と、励起光14を測定対象物12に導く一方、測定光18をポリクロメータ22に導く光学系24と、二次元状に配列された複数の光電変換部を有し、ポリクロメータ22により分光された測定光18を受光して電気信号に変換するCCDセンサ26(二次元光センサ)と、ポリクロメータ22及び光学系24を制御するとともに、CCDセンサ26からの電気信号に従って分光情報を処理する情報処理部28とを備える。
なお、測定対象物12は、例えば、生体組織等からなり、蛍光測光法による分析を行うために所定の蛍光色素によって染色されているものとする。また、光源部16から出力される励起光14は、前記蛍光色素を励起して蛍光を得ることのできる波長を含むものとする。
光源部16は、励起光14を出力するキセノンランプ等からなる光源30と、励起光14を反射集光する集光ミラー32と、集光ミラー32により反射された励起光14を整形してスリット光とするスリット部材34とを備える。なお、図2に示すように、スリット部材34のスリット36は、測定対象物12上に矢印Y方向に長尺となるスリット像38を形成するように設定されているものとする。
光学系24は、スリット部材34を介して光源部16から供給された励起光14を、測定対象物12の染色に用いた蛍光色素を励起する適切な波長範囲とするためのバンドパスフィルタ40と、バンドパスフィルタ40を透過した励起光14を反射して顕微鏡光学系20に導く一方、顕微鏡光学系20からの測定光18をポリクロメータ22に導くビームスプリッタ42と、ビームスプリッタ42により反射された励起光14をコリメートする結像レンズ44とを備える。なお、ビームスプリッタ42は、励起光14を反射する一方、測定光18を透過させるダイクロイックミラーを用いると好適である。
結像レンズ44(走査手段)は、移動ステージ46に載置されている。移動ステージ46は、モータ48によって回転するボールねじ等を介して矢印N方向に移動可能に構成される。なお、矢印N方向は、図2に示す測定対象物12の矢印Y方向と直交する方向に対応して設定されているものとする。
顕微鏡光学系20は、光学系24から導かれた励起光14を反射するプリズム50と、プリズム50により反射された励起光14を測定対象物12に集光する対物レンズ52と、プリズム50を図1に示す点線の位置に退避させた状態で、測定対象物12からの測定光18を観察者54に導く接眼レンズ56とを備える。
ポリクロメータ22は、光学系24から導かれた測定光18のスリット像38が結像されるスリット部材58と、スリット部材58のスリット60を通過した測定光18を反射する反射ミラー62と、反射ミラー62により反射された測定光18をコリメートする第1凹面鏡64と、第1凹面鏡64により反射された測定光18を多数の格子65により回折分散する回折格子66と、回折分散された測定光18をCCDセンサ26に集光させる第2凹面鏡68とを備える。なお、図2に示すように、スリット部材58のスリット60及び回折格子66の格子65は、スリット像38と同一方向に長尺となるように設定されているものとする。
回折格子66は、モータ70によって回転する回転ステージ72に載置されており、測定光18の回折格子66に対する入射角を調整することで、CCDセンサ26に0次回折光(正反射光)又はn次回折光(n:1以上の整数)を導くことができるように構成されている。
情報処理部28は、制御部74によって分光処理装置10の制御を行うもので、例えば、パーソナルコンピュータにより構成することができる。制御部74は、測定対象物12から得られた測定光18に基づき、測定対象物12の分光情報及び画像情報を取得する情報処理手段として機能する。
制御部74には、測定のための設定条件の入力や測定結果を表示するための指示を行う入力部76と、設定画面を表示するとともに測定対象物12の分光情報及び画像情報を表示する表示部78と、光学系24を構成する結像レンズ44を移動させるための結像レンズ駆動部80と、ポリクロメータ22を構成する回折格子66を回転させるための回折格子駆動部82と、CCDセンサ26から供給された電気信号の処理を行う信号処理部84と、測定対象物12の分光情報及び画像情報を記憶する分光画像情報記憶部86とが接続される。
本実施形態の分光処理装置10は、基本的には以上のように構成されるものであり、次に、分光処理装置10を用いた測定対象物12の分光処理方法について説明する。
先ず、図3に示すフローチャートに従って準備処理を説明する。
所定の蛍光色素により染色された生体組織等からなる測定対象物12を、顕微鏡光学系20を構成する対物レンズ52の焦点位置に配置する。次いで、観察者54は、プリズム50を図1の点線で示す位置に移動させた後、接眼レンズ56を介して測定対象物12を観察しながら、顕微鏡光学系20の位置を調整して測定対象物12の位置合わせを行う(ステップS1)。
次に、プリズム50を実線で示す位置に移動させ、光源部16のスリット部材34及びポリクロメータ22のスリット部材58を全開状態に設定するとともに(ステップS2)、回折格子駆動部82によりモータ70を駆動して回転ステージ72を回転させ、回折格子66が測定光18の0次回折光をCCDセンサ26に導く状態に設定する(ステップS3)。なお、スリット部材34及び58を全開状態に設定する代わりに、これらを取り外してもよい。
分光処理装置10を以上のように設定した後、光源30を駆動して励起光14を出力する。光源30から出力された励起光14は、全開状態のスリット部材34を通過し、集光ミラー32によって集光された後、バンドパスフィルタ40により蛍光色素に応じた波長成分が選択されてビームスプリッタ42に導かれる。ビームスプリッタ42によって反射された励起光14は、結像レンズ44、プリズム50及び対物レンズ52を介して測定対象物12に照射される(ステップS4)。
励起光14が照射された測定対象物12の蛍光色素は、励起光14によって励起されることで、蛍光としての測定光18を出力する。この測定光18は、対物レンズ52、プリズム50、結像レンズ44及びビームスプリッタ42を介してポリクロメータ22に導かれる。測定光18は、全開状態のスリット部材58を通過した後、反射ミラー62、第1凹面鏡64、回折格子66及び第2凹面鏡68を介してCCDセンサ26に集光される。この場合、回折格子66は、測定光18を全反射する状態に設定されているため、CCDセンサ26には、測定光18からなる測定対象物12の蛍光画像が結像される。
そこで、制御部74は、CCDセンサ26に導かれた測定光18を信号処理部84により電気信号に変換した後、測定対象物12の蛍光画像を表示部78に表示する(ステップS5)。オペレータは、表示部78に表示された測定対象物12の蛍光画像を確認しながら顕微鏡光学系20を調整し、CCDセンサ26に対する測定対象物12の焦点合わせを行う(ステップS6)。
ここで、焦点合わせを行う間、測定対象物12の全体に励起光14が照射されているが、焦点合わせに要する時間が短時間であるため、励起光14によって蛍光色素が退色することは殆ど問題にならない。なお、光源30から出力される励起光14を焦点合わせに必要な必要最小限の光量に調整するとさらに好適である。
焦点合わせが完了した後、光源部16のスリット部材34及びポリクロメータ22のスリット部材58を所定のスリット幅に設定する(ステップS7)。このとき、光源30から出力された励起光14は、スリット部材34のスリット36によって絞られ、測定対象物12上に励起光14からなるスリット像38が形成される(図2参照)。
スリット像38の形成位置に対応して測定対象物12から得られた測定光18の蛍光画像は、ポリクロメータ22の入口に設けられたスリット部材58のスリット60の位置に結像される。次いで、スリット部材58を通過した測定光18は、反射ミラー62、第1凹面鏡64、回折格子66及び第2凹面鏡68を介してCCDセンサ26に結像する。制御部74は、このスリット状の測定光18からなる蛍光画像(スリット画像)を表示部78に表示する(ステップS8)。
この状態において、制御部74が結像レンズ駆動部80によりモータ48を駆動し、移動ステージ46を介して結像レンズ44を矢印N方向に移動させると、測定対象物12上に形成されたスリット像38が矢印N方向に移動するため、表示部78に表示されているスリット画像も移動する。
そこで、オペレータは、表示部78に表示されているスリット画像の位置を確認しながら、測定対象物12の矢印N方向に対する計測範囲を設定する(ステップS9)。なお、ステップS5で焦点合わせのために表示した測定対象物12の全体の蛍光画像と、ステップS8のスリット画像とを重ねて表示すれば、計測範囲の設定を一層容易に行うことができる。
以上の準備処理が終了した後、測定対象物12の分光計測処理を開始する。その処理について、図4に示すフローチャートに従って説明する。
先ず、回折格子駆動部82によりモータ70を駆動して回転ステージ72を回転させ、回折格子66が入射した測定光18を分光してその1次回折光を第2凹面鏡68に導く状態に設定する(ステップS11)。
次いで、結像レンズ駆動部80によりモータ48を駆動して移動ステージ46を移動させ、結像レンズ44をステップS9で設定した計測範囲の初期位置に位置決めする(ステップS12)。
前記の状態において、光源30から出力された励起光14をスリット部材34を介して測定対象物12に導くことにより、結像レンズ44の初期位置に対応した測定対象物12の部位に励起光14からなるスリット像38が形成される。この励起光14によって励起された測定対象物12からの蛍光である測定光18は、顕微鏡光学系20及び光学系24を介してポリクロメータ22に導かれ、回折格子66によって分光された後、第2凹面鏡68を介してCCDセンサ26に分光画像として結像する(ステップS13)。なお、この分光画像は、図2に示す矢印X方向に対しては、測定対象物12のスリット像38から得られる蛍光の波長情報を表し、矢印Y方向に対しては、スリット像38から得られる蛍光の画像情報を表す。
波長情報及び画像情報を含む分光された測定光18は、CCDセンサ26を構成する各光電変換部によって電気信号に変換され、信号処理部84で信号処理された後、分光画像情報として分光画像情報記憶部86に記憶される(ステップS14)。
次に、結像レンズ駆動部80によりモータ48を駆動して移動ステージ46を矢印N方向に微小距離だけ移動させる(ステップS15)。そして、結像レンズ44の位置がステップS9で設定した計測範囲の終端位置に到達するまで、ステップS13及びS14の処理を繰り返す(ステップS16)。これにより、測定対象物12の全体の分光画像情報が取得されて分光画像情報記憶部86に記憶される。
さらに、測定対象物12の経時的状態を計測する必要があり、次の分光画像情報を取得する場合(ステップS17)、ステップS12からの処理を繰り返す。すなわち、結像レンズ44を再び初期位置まで戻した後、矢印N方向に微小距離移動させながら各スリット像38の分光画像情報を取得して分光画像情報記憶部86に記憶させる。
以上のようにして、分光画像情報記憶部86には、測定対象物12の全体の分光画像情報が所定の計測時間毎に記憶される。
ここで、測定対象物12の全体の分光画像情報を取得する際、測定対象物12の全体に励起光14を照射するのではなく、スリット像38としての励起光14を測定対象物12に照射して測定光18を得るようにしているため、測定に関与しない部位に励起光14が照射されることがなく、その分、蛍光色素の励起光14による退色が抑制される。従って、所定の計測時間毎に励起光14を測定対象物12に照射して分光情報を得る場合であっても、蛍光色素の退色が大幅に軽減されるため、分光画像情報を極めて高精度に取得することができる。
また、測定対象物12にスリット像38としての励起光14を照射するために、測定対象物12を移動させるのではなく、結像レンズ44を移動させているため、例えば、外力が付与されることで状態が変化するおそれのある生体組織のような測定対象物12であっても、その状態に影響を与えることなく分光画像情報を取得することができる。
この場合、例えば、時刻Tにおいて、励起光14が測定対象物12の矢印N方向の位置Nを照射しているとき、CCDセンサ26のX列、Y行目の光電変換部によって取得した分光画像情報をP(X,Y,N,T)とすると(図5参照)、この分光画像情報Pは、時刻Tにおける測定対象物12の座標(N,Y)での座標Xに対応する波長の蛍光出力値を表している。従って、この分光画像情報Pに基づき、表示部78に対して、測定対象物12の任意の座標(N,Y)の任意の時刻Tにおける分光情報を表示させ、また、測定対象物12の任意の時刻Tにおける全体の画像情報を表示させることができる。
本実施形態の分光処理装置の構成ブロック図である。 図1に示す分光処理装置を構成する光学系における主要要素の配置関係説明図である。 図1に示す分光処理装置における準備処理のフローチャートである。 図1に示す分光処理装置における分光計測処理のフローチャートである。 図1に示す分光処理装置によって取得した分光画像情報の説明図である。
符号の説明
10…分光処理装置 12…測定対象物
14…励起光 16…光源部
18…測定光 20…顕微鏡光学系
22…ポリクロメータ 24…光学系
26…CCDセンサ 28…情報処理部
30…光源 34、58…スリット部材
44…結像レンズ 46…移動ステージ
66…回折格子 72…回転ステージ
74…制御部 76…入力部
78…表示部 80…結像レンズ駆動部
82…回折格子駆動部 84…信号処理部
86…分光画像情報記憶部

Claims (5)

  1. 照明光を出力する光源と、
    前記照明光をスリット光に変換するスリット部材と、
    前記スリット光を測定対象物に導く光学系と、
    前記スリット部材に形成されたスリットの長手方向と直交する方向に前記スリット光を移動させて前記測定対象物を走査する走査手段と、
    前記スリット光が照射されることで前記測定対象物から得られた測定光を分光する分光器と、
    二次元状に配列された複数の光電変換部を有し、分光された前記測定光を受光して電気信号に変換する二次元光センサと、
    前記電気信号に基づいて前記測定対象物の分光情報及び画像情報を処理する情報処理手段と、
    を備えることを特徴とする分光処理装置。
  2. 請求項1記載の装置において、
    前記走査手段は、光軸と直交する方向に移動することで前記スリット光を前記測定対象物に沿って移動させる結像レンズからなることを特徴とする分光処理装置。
  3. 請求項1記載の装置において、
    前記分光器は、ポリクロメータからなることを特徴とする分光処理装置。
  4. 請求項1記載の装置において、
    前記光学系は、顕微鏡光学系からなることを特徴とする分光処理装置。
  5. 請求項1記載の装置において、
    前記照明光は、前記測定対象物を染色する蛍光色素を励起して蛍光を生成する励起光からなることを特徴とする分光処理装置。

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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009058274A (ja) * 2007-08-30 2009-03-19 Kobe Steel Ltd シリコン半導体薄膜の結晶性評価装置及び方法
JP2010060548A (ja) * 2008-09-03 2010-03-18 National Central Univ ハイパースペクトル走査装置およびその方法
CN101806622A (zh) * 2010-03-22 2010-08-18 中国科学院遥感应用研究所 一种地面成像光谱测量系统
CN104040308A (zh) * 2011-12-28 2014-09-10 威孚莱有限公司 用于光谱分析的光谱仪器和方法
JP6918395B1 (ja) * 2021-04-19 2021-08-11 のりこ 安間 撮像装置
WO2022224917A1 (ja) * 2021-04-19 2022-10-27 のりこ 安間 3次元撮像装置

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009058274A (ja) * 2007-08-30 2009-03-19 Kobe Steel Ltd シリコン半導体薄膜の結晶性評価装置及び方法
JP2010060548A (ja) * 2008-09-03 2010-03-18 National Central Univ ハイパースペクトル走査装置およびその方法
US8144324B2 (en) 2008-09-03 2012-03-27 National Central University Method and apparatus for scanning hyper-spectral image
TWI425203B (zh) * 2008-09-03 2014-02-01 Univ Nat Central 高頻譜掃描裝置及其方法
CN101806622A (zh) * 2010-03-22 2010-08-18 中国科学院遥感应用研究所 一种地面成像光谱测量系统
CN104040308A (zh) * 2011-12-28 2014-09-10 威孚莱有限公司 用于光谱分析的光谱仪器和方法
JP6918395B1 (ja) * 2021-04-19 2021-08-11 のりこ 安間 撮像装置
WO2022224917A1 (ja) * 2021-04-19 2022-10-27 のりこ 安間 3次元撮像装置
JP2022165355A (ja) * 2021-04-19 2022-10-31 のりこ 安間 撮像装置

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