JP5753277B2 - 光干渉断層撮影のための装置及び方法 - Google Patents

Description

本発明は、光干渉断層撮影の原理に従って、十分に透明な調査対象物、特に人間の目の前表面部の深さプロファイルを記録（測定）する装置および方法に関する。

光干渉断層撮影（ＯＣＴ）は、干渉計による調査方法であり、コヒーレンス長が比較的短い光が、干渉計を用いて距離、すなわち、（少なくとも部分的に）反射する物質の深さプロファイルを測定するために用いられる。競合する他の方法に対する光干渉断層撮影の利点は、光を散乱する生体組織内への浸入深さが比較的大きい（およそ１〜３ｍｍ）と共に、高測定周波数で（現在、およそ２０〜３００ｋＶｏｘｅｌ／ｓが得られる）軸方向の分解能が比較的高い（およそ１〜１５μｍ）ということである。

上記測定の目的に関連して、光干渉断層撮影に対応する音による方法として、超音波検査法（ｓｏｎｏｇｒａｐｈｙ）がある。光干渉断層撮影は、（２つの目を有したヒューマンビジョン装置にも用いられる）角度依存の３Ｄ測定方法とは、（角度範囲の代わりに）使用した波長のスペクトル範囲を用いて軸方向深さを純粋に測定することと、それに関連する測定装置の開口数には依存しないという点で異なる。

従来使用されている光干渉断層撮影測定装置は、８００ｎｍより大きい波長の、眼科学においては８００ｎｍから１３００ｎｍの範囲の波長を有する光を用いる。網膜の深さプロファイルを測定するためには、およそ８４０ｎｍの波長を有する光を用いることが好ましい。より用いられる波長としては、約１０６０ｎｍである。

軸方向分解能Δｚは、以下の数式１で計算することができ、中心波長λ_０を中心とした、帯域幅Δλのガウス分布（半値全幅（ＦＷＨＭ））を有する波長スペクトル用の光干渉断層撮影装置によって得られる。

数式１の前因子の定数は、波長スペクトルの形状（フォーム）に依存する。軸方向分解能Δｚが波長スペクトルに基本的に依存するということは、Δｚは動作波長、すなわち中心波長λ_０の２乗をスペクトル帯域幅Δλで割った比率に比例する、すなわち、Δｚ∝（λ_０）^２／Δλであるということでわかる。

図１は、波長に依存した、目の前表面部、特に人間の目の角膜の透過率を示し、特に４歳半の目と、５３歳の目について示している。図１に示すように、透過率は、約８００ｎｍから約１３００ｎｍの範囲の波長において特に高く、それを超える波長では大幅に低下する。この低下は水分子の吸収が起こることによって生じる（ＯＨ伸縮振動の吸収バンド）。上記波長範囲における特に高い透過率のため、高浸入深さが得られる。これが、眼科学における従来の光干渉断層撮影測定装置で８００ｎｍより大きい波長が用いられる理由である。

眼科学において従来用いられている、８００ｎｍより大きい長波長放射を利用した光干渉断層撮影測定装置の不利な点は、約１０μｍ以下の十分な軸方向分解能を達成するのに必要な帯域幅が、複雑な、すなわちコストの掛かる広帯域の光源によってのみ得られるということである。眼科学において、１０μｍ以下の軸方向分解能は、角膜内部の複数の層を解像して識別することを可能にするため、または切開表面を十分正確に定めることを可能にするために必要である。図２は、上記式１によって表される関係を示すものである。

図２は、光干渉断層撮影測定装置の軸方向分解能Δｚを、複数の異なるスペクトル帯域幅Δλを有する放射に関する中心波長λ_０の関数として示している。図２には、帯域幅Δλが５ｎｍ、３０ｎｍ、１００ｎｍ、３００ｎｍの放射に関する曲線が示されている。

例えば、中心波長８００ｎｍで約１０μｍの軸方向分解能を達成するためには、約３０ｎｍのスペクトル幅が必要である。約５μｍのΔｚを達成するためには、λ_０＝８００ｎｍの放射で約６０ｎｍのスペクトル幅Δλが必要であり、λ_０＝１１００ｎｍの放射で約１００ｎｍのスペクトル幅Δλが必要である。

本発明は、高い軸方向分解能を、複雑な構成を用いることなく得ることができる光干渉断層撮影測定装置を提供することを目的とする。

この目的は、請求項１の装置および請求項１２の方法によって達成される。

すなわち、光干渉断層撮影の原理に従って、生体組織、特に、人間の目の前表面部の深さプロファイルを記録する装置が提供される。この装置は、所定の波長範囲内の波長で、かつ動作波長を有する光線束を生成する光源と、干渉計装置と、参照ビームと測定ビームの光路長の差に関連する重畳ビームの情報を検出する検出装置とを具備し、干渉計装置は、光源により生成された光線束を、参照ビームおよび生体組織に向かう測定ビームに空間的に分離するビームスプリッター装置と、参照ビームを偏向する参照ビーム偏向装置と、偏向された参照ビームを生体組織によって偏向された測定ビーム上に空間的に重ね合わせて重畳ビームとするビーム重畳装置を有する。

本発明によれば、上記所定の波長範囲は、３００ｎｍより大きく５００ｎｍ以下の範囲である。

３００ｎｍより大きく５００ｎｍ以下の範囲内の波長を用いれば、従来の光干渉断層撮影測定装置で用いられる波長を用いた場合と比較して、同じ帯域幅でより高い軸方向分解能が得られると共に、非常に低い帯域幅の光源を用いても、同等の軸方向分解能が得られる。

本発明は、特に人間の目の角膜における組織の散乱特性により、比較的低い強度の入射光で用いられた波長に対して高い信号強度を得ることができるという発見に基づいている。本発明においては、スーパールミネセントダイオードを光源として用いることが好ましい。これにより、適度な価格で安定した信頼性の高い光源を有すると共に、全体的に簡素な測定装置の構成が可能となる。

上記所定の波長範囲は、３５０ｎｍから４５０ｎｍの範囲が好ましく、３９５ｎｍから４１５ｎｍの範囲がより好ましく、４０５ｎｍに近い範囲が特に好ましい。これらの波長範囲内で用いる光源として、半導体レーザーダイオード、特に、窒化ガリウム（ＧａＮｉ）半導体発光ダイオードが好ましい。

干渉計装置および検出装置は、上記所定の波長範囲内の波長を用いて動作するように設計されたものであることが好ましい。例えば、参照ビーム偏向装置の偏向層は、上記範囲内で用いる波長に対して特に高い反射性を有するように構成される。同様に、ビームスプリッター装置および／またはビーム重畳装置も、用いる波長に対して特に高い透過率を示すように構成されたものとすることができる。最後に、検出装置も、用いる波長に対して光の検出感度が特に高くなるように設計されたものとすることができる。

本発明の装置は、フーリエドメイン光干渉断層撮影の原理に従って動作するように設計されたものとすることができる。このために、参照ビームは、実質上、空間的に一定に進み、検出装置は、波長に応じて重畳ビームを異なる波長を有する複数の部分ビームに空間的に分離する分光計、特にプリズムまたは光学格子と、波長を選択するようにして部分光線の強度を測定する空間的分解検出器配列を有するものとすることができる。このように設計された装置は、移動する光学部品を有さず、すなわち、ビーム方向に影響を与える移動部材を有さず、時間的に安定した測定感度を得ることができる。

或いは、本発明の装置は、タイムドメイン光干渉断層撮影の原理に従って動作するように設計されたものとすることができる。このために、参照ビームの光路長は、時間的に、特に参照ビーム偏向装置の周期運動によって調整され、検出装置は、参照ビームの調整によって時間的に調整される重畳ビームの強度を測定する検出器を有するものとすることができる。これにより、検出装置のサンプリング速度が参照ビームの調整頻度よりも、好ましくは２倍、特には１０倍大きくなる。このように構成された装置は、空間的に制限された光線束を受け取る、より簡素に構成された検出装置を有するものとすることができ、すなわち、検出装置が、フーリエドメイン光干渉断層撮影装置の場合のような分光計を必要としない。

パラレルタイムドメイン光干渉断層撮影の原理に従って動作する装置が特に好ましい。このような装置は、幅が拡大された光の平行ビームを生成する、関連するコリメーターレンズを有する光源を有し、光のビームの幅は、例えば２ｍｍから１０ｍｍの範囲内、好ましくは、４ｍｍから８ｍｍ、より好ましくは５ｍｍから７ｍｍである。特に、ビーム幅は、調査する生体組織の領域全体（例えば、人間の目の角膜やカルス（ｃａｌｌｕｓ）の領域全体）が平行光で照射されるように選択されることができる。パラレルタイムドメイン光干渉断層撮影装置で用いられるのに適した検出装置は、結像レンズと２次元検出器配列を有し、結像レンズは、ビーム重畳装置から検出装置の光軸に対して直角に配置された検出面への平行光の結像（集光）を行うように、ビーム重畳装置と検出器配列の間の光路上に配置される。このような構成の利点は、調査される生体組織の比較的大きい、特に全体の領域が同時に捕捉されることである。これにより、測定時間の短縮を可能とし、調査される生体組織の表面（領域）に亘って測定ビームをスキャンさせる、すなわち、測定ビームの光軸に対して直角な方向にビームを偏向する必要をなくすことが可能となる。

光源の光生成部品の構成に応じて、光源は、例えば焦点ビームや平行光ビームなどの適切なビーム形状を有する光線束を生成する結像レンズを有しても良い。これに応じて、検出装置は、光検出器上で平行な拡大された重畳ビームの結像（集光）を行う結像部品を有しても良い。

本発明の装置は、検出装置での生体組織のコヒーレント結像のために、測定ビームに対する測定光学システムと、重畳ビームに対する第１の重畳ビーム光学システムを有することができる。

本発明の装置は、さらに測定ビームの生体組織内の部分における光学波長によって起こる、参照ビームと測定ビームとの間の位相変化を補正するための、参照ビームに対する参照ビーム光学システムを有することができる。

本発明の装置は、さらに測定ビーム内に設けられた目の前表面部のような生体組織の、基礎アーチ形状のような所定の基礎形状（フォーム）によって生じる結像誤差を補正するための、重畳ビームに対する第２の重畳ビーム光学システムを有することができる。

上記した装置は、人間の目の角膜下層を測定、透視するのに適している。本発明の装置は、１０μｍ、好ましくは５μｍ、より好ましくは２μｍの軸方向分解能を有することができる。

光干渉断層撮影の原理に従って、生体組織、特に人間の目の前表面部の深さプロファイルを測定する方法において、所定帯域幅を有する所定の波長範囲内の波長で、かつ動作波長を有する光が用いられる。

本発明の方法によれば、上記所定の波長範囲内は、３００ｎｍより大きく、５００ｎｍ以下の範囲である。

本発明の方法は、上記のような装置を用いることができる。

上記した本発明の装置および方法は、波面の測定やそこに含まれる位相情報の評価に用いることもできる。

上記した装置および方法は、治療によって変わる生体組織の深さプロファイルを測定し、望ましい深さプロファイルとなるように治療装置や治療方法を制御するために、生体組織の治療（手術）のための装置および方法と組み合わせて共に用いられても良い。

本発明の態様について、図を参照しながら以下により詳細に示す。

人間の目の角膜の透過率を示す図である。 光干渉断層撮影測定装置の軸方向分解能Δｚを、用いる放射の複数の異なるスペクトル帯域幅Δλに関する中心波長λ_０の関数として示す図である。 フーリエドメイン光干渉断層撮影の原理に従った光干渉断層撮影測定装置の基本構成を示す図である。 タイムドメイン光干渉断層撮影の原理に従った光干渉断層撮影測定装置の概略図である。

図１は、人間の目の角膜の光が通過する度合い、すなわち透過率が、約３２５ｎｍより大きい波長範囲内で６０％を超え、それより小さい波長で（吸収バンドの発生により）大幅に減少していることを示している。そのため、約３００ｎｍ以下の波長の使用は制限される。３００ｎｍより大きく５００ｎｍ以下の範囲における角膜の散乱特性が特に好ましく、生体組織によって偏向（散乱）された測定ビームの高い信号強度が得られることが見出された。

図２は、光干渉断層撮影測定装置の軸方向分解能Δｚ、中心波長λ_０、および光放射の波長スペクトルのスペクトル幅Δλの間の数式１によって表される関係を示している。図２に示すように、従来の光干渉断層撮影測定装置で用いられている８００ｎｍより大きい範囲内の波長の場合と比べ、同等のスペクトル帯域幅で、３００ｎｍから５００ｎｍの範囲内の波長λ_０で、より高い軸方向分解能（軸方向分解能Δｚのより小さい値）が得られる。また図２は、３００ｎｍから５００ｎｍの範囲内の波長の場合、光源によって生成された波長スペクトルにおいてより小さいスペクトル幅Δλで、８００ｎｍより大きい波長の場合と同等の軸方向分解能が得られるということも示している。

図３に示す、フーリエドメイン光干渉断層撮影の原理に従った光干渉断層撮影測定装置１００は、光線束１０２を生成する光源１０１と、マイケルソン干渉計装置を有し、マイケルソン干渉計装置は、光線束のビームを、参照ビーム１０４および測定ビーム１０６に分離し、またそれぞれ逆方向に偏向された参照ビーム１０４および測定ビーム１０６を重畳ビーム１０８に重ね合わせる装置１２０、１５０と、参照ビーム偏向装置として機能し、ビームスプリッター装置１２０によって伝導された参照ビーム１０４を実質的に自身で反射し、ビームスプリッター装置１２０によって偏向された測定ビーム１０６を調査する生体組織、すなわち、人間の目の角膜１４０に向け、その生体組織が測定ビーム１０６を逆方向に自身に向けて反射する、空間的に固定されたミラー１３０を有する。光干渉断層撮影測定装置１００は、さらにプリズムとして構成される分光計１６０と、検出器配列を有し、分光計１６０は、図３の矢印１１２によって示される角度方向に重畳ビーム１０８を波長に応じて部分放射の束１１０に空間的に分離し、検出器配列は、波長に応じて選択的に偏向される部分光線１１０を受けることができ、それに応じた部分光線の束１１０の強度の空間的分布を検出できるような分解方向を有して配置される。

調査される生体組織１４０（角膜）は、装置１２０、１５０に対して測定ビーム１０６の光路長が参照ビーム１０４の光路長にほぼ等しくなるような距離の位置に配置される。生体組織１４０（角膜）上の測定ビーム１０６の入射位置における深さプロファイルは、入射領域に浸入する波長スペクトルが分光計１６０で波長を選択するようにして部分光線１１０に空間的に分離されるので、測定可能になる。これにより、測定ビーム１０６と参照ビーム１０４の光路差が丁度無くなる（ゼロになる）、またはそれぞれの波長の整数倍になる場合、全ての部分光線１１０全体の中のそのような部分光線に対してのみ、測定ビーム１０６と参照ビーム１０４の強め合う干渉によって最大強度が得られる。最大強度が起こる検出器配列１７０上の位置は、特定の波長に対応し、従って、測定光が進む光路が参照ビームの既知の一定の光路に一致する場合の参照ビーム１０４と測定ビーム１０６の光路長差、すなわち、軸方向分解能の精度内で検出器配列１７０上の最大強度の位置に関連するその浸入深さに対応する。

装置１２０、１５０と調査する生体組織１４０（角膜）の間の光路上に、（図示しない）結像光学システムを設けることもできる。装置１２０、１５０と生体組織１４０（角膜）の間の光路上における結像光学システムの焦点長さ、および／または軸方向位置を変化させることによって、その生体組織１４０（角膜）はその深さに関してスキャンされる。結像光学システムの横方向の移動、または傾斜によって、測定ビーム１０６は生体組織１４０（角膜）全体に亘って横方向に導かれ（スキャンされ）、生体組織上で測定ビーム１０６の入射位置の２次元スキャンが行われる、すなわち、深さプロファイルの２次元スキャンが行われる。

図４に示す、タイムドメイン光干渉断層撮影の原理に従った光干渉断層撮影測定装置２００は、図３に示す装置１００と同様に、光線束１０２を生成する光源１０１と、光線束１０２を、参照ビーム２０４および測定ビーム１０６に分離する装置１２０、１５０と、調査する生体組織１４０（角膜）で構成される。

図３に示す装置１００とは逆に、光干渉断層撮影測定装置２００は、図４の矢印２３２で示す方向に定期的に軸方向（往復方向）に動かされる参照ビーム偏向装置としてのミラー２３０と、それぞれ逆方向に反射された測定ビーム１０６と参照ビーム２０４を重ね合わせることによって装置１２０、１５０で生成された重畳ビーム２０８を受け、重畳ビーム２０８の強度を時間的に分解するようにして測定する空間的に固定された検出装置２７０を有する。

ミラー２３０の移動によって、参照ビーム２０４が進む光路長はその長さに関して調整される。この調整によって得られた参照ビーム２０４のそれぞれの光路長は、測定ビーム１０６が進む特定の光路長に一致し、これにより参照ビーム２０４と測定ビーム１０６の重畳ビーム２０８への重ね合わせが強め合う干渉を生じ、（いずれ）最大強度が得られる。従って、重畳ビーム２０８の強度の測定中の特定のある時点は、測定ビーム１０６の特定の光路長と関連付けられ、よって生体組織１４０（角膜）から反射して戻る光の浸入深さと関連付けられることができる。図３に示す装置１００と同様に、図４に示す装置２００には、装置１２０、１５０と生体組織１４０（角膜）との間の光路上に（不図示の）光学結像装置を設けることができる。結像光学装置は、測定ビーム１０６を生体組織上で結像（集光）する。焦点長さを変化させることによって、および／または光学結像装置を測定ビーム１０６の方向に沿って移動させることによって、生体組織１４０（角膜）は測定ビーム１０６の浸入深さに関してスキャンされる。測定ビーム１０６の方向（光軸）に対して横方向に結像装置を移動させることによって、生体組織１４０（角膜）の表面全体に亘って２次元スキャンが行われる。

図３、図４にそれぞれ示される光干渉断層撮影測定装置１００、２００は、検出装置１７０、２７０での生体組織のコヒーレント結像のために、測定ビーム１０６に対して設けられた測定ビーム光学システム１０８、２０８と、重畳ビーム１０８、２０８に対して設けられた第１の参照ビーム光学システム１９０、２９０を有することができる。測定ビーム光学システム１８０、２８０および第１の重畳ビーム光学システム１９０、２９０は、調査する生体組織１４０を検出装置１７０、２７０上で空間的、コヒーレント結像する原理を実現するために有利である。

図３、図４にそれぞれ示される光干渉断層撮影測定装置１００、２００は、さらに測定ビームの生体組織１４０内の部分における測定ビームの光路長によって起こる、参照ビーム１０４、２０４と測定ビーム１０６、２０６との間の位相変化を補正するための、参照ビーム１０４、２０４に対する参照ビーム光学システム１８２、２８２を有することができる。参照ビーム光学システム１８２、２８２は、例えば、それぞれ横方向（ｘ、ｙ）寸法が変化する位相変化があるという利点を有する液晶ディスプレイ、板状ＬＣＤシステム、または位相変化を生じさせる他の装置として構成できる。簡単な構成では、参照ビーム光学システム１８２、２８２は、調査する生体組織１４０による所定の位相変化のある、ガラス板またはレンズのような光学部品として構成できる。

最後に、図３、図４にそれぞれ示される光干渉断層撮影測定装置１００、２００は、さらに、可能性のある基礎形状（フォーム）を補償するための、特に、調査のために測定ビーム１０６内に配置された目の前表面部のような生体組織１４０の例えば基礎アーチ形状のような基礎形状によって生じる結像誤差を補正するための、重畳ビーム１０８、２０８に対する第２の重畳ビーム光学システム１９２、２９２を有することができる。

上記した本発明の全ての態様において、３００ｎｍより大きく５００ｎｍ以下の波長範囲内の波長を有する放射を用いることによって、従来の光干渉断層撮影測定装置で用いられている８００ｎｍ以上の波長の場合と比べ、（従来の光干渉断層撮影測定装置と比べて）同等の分解能を得るためにより低い帯域幅の光源を用いることができ、または、同等の帯域幅でより高い分解能（分解能Δｚの低い数値）を達成できる。

１００ フーリエドメイン光干渉断層撮影装置
１０１ 光源
１０２ 光線束
１０４ 参照ビーム
１０６ 測定ビーム
１０８ 重畳ビーム
１１０ 波長に応じて選択的に分離された測定ビーム
１１２ 波長を選択するようにして分離した角度方向
１２０ ビームスプリッター装置
１３０ 参照ビーム偏向装置
１４０ 組織、目の前表面部
１５０ ビーム重畳装置
１６０ 分光計
１７０ 波長に応じて選択的に測定する検出器配列
１８０ 測定ビーム光学システム
１８２ 参照ビーム光学システム
１９０ 第１の重畳ビーム光学システム
１９２ 第２の重畳ビーム光学システム
２００ タイムドメイン光干渉断層撮影装置
２０２ 光線束
２０４ 光路長に関して調整された参照ビーム
２０６ 測定ビーム
２０８ 調整された重畳ビーム
２３０ 定期的に動かされる参照ビーム偏向装置
２３２ 移動方向
２７０ 検出装置
２８０ 測定ビーム光学システム
２８２ 参照ビーム光学システム
２９０ 第１の重畳ビーム光学システム
２９２ 第２の重畳ビーム光学システム

Claims (17)

1. 光干渉断層撮影（ＯＣＴ）の原理に従って、人間の目の前表面部の生体組織（１４０）の深さプロファイルを記録する装置（１００、２００）であって、
   所定のスペクトル帯域幅（Δλ）および中心波長（λ _０ ）の波長スペクトルを有する光線束（１０２）を生成する光源（１０１）と、
   前記光源（１０１）により生成された前記光線束を、参照ビーム（１０４、２０４）および前記生体組織（１４０）に向かう測定ビーム（１０６）に空間的に分離するビームスプリッター装置（１２０）と、前記参照ビーム（１０４、２０４）を偏向する参照ビーム偏向装置（１３０、２３０）と、前記偏向された参照ビーム（１０４、２０４）を前記生体組織（１４０）によって偏向された前記測定ビーム（１０６）上に空間的に重ね合わせて重畳ビーム（１０８、２０８）とするビーム重畳装置（１５０）を有する干渉計装置と、
   前記参照ビーム（１０４、２０４）と前記測定ビーム（１０６）の光路長の差に関連する前記重畳ビーム（１０８、２０８）の情報を検出する検出装置（１６０、１７０、２７０）とを具備し、
   前記中心波長（λ _０ ）は、３００ｎｍから５００ｎｍの間の所定の波長範囲内であることを特徴とする装置。
2. 前記中心波長（λ _０ ）は、３５０ｎｍから４５０ｎｍの間の所定の波長範囲内であることを特徴とする請求項１に記載の装置。
3. 前記中心波長（λ _０ ）は、３９５ｎｍから４１５ｎｍの間の所定の波長範囲内であることを特徴とする請求項２に記載の装置。
4. 前記光源（１０１）は、窒化ガリウム（ＧａＮｉ）半導体発光ダイオードであり、前記所定の波長範囲は、前記窒化ガリウム半導体発光ダイオードの発光波長の範囲に応じた４０５ｎｍに最も近い範囲であることを特徴とする請求項１に記載の装置。
5. 前記干渉計装置および前記検出装置は、前記所定の波長範囲内の波長を用いて動作するように設計されたものであることを特徴とする請求項１に記載の装置。
6. 前記装置（１００）は、フーリエドメイン光干渉断層撮影の原理に従って動作することを特徴とする請求項１に記載の装置。
7. 前記装置（１００）は、パラレルフーリエドメイン光干渉断層撮影の原理に従って動作することを特徴とする請求項６に記載の装置。
8. 前記参照ビーム（１０４）は、実質上、空間的に一定に進み、前記検出装置は、波長に応じて前記重畳ビーム（１０８）を異なる波長を有する複数の部分ビーム（１１０）に空間的に分離する分光計（１６０）と、波長を選択するようにして前記部分ビーム（１１０）の強度を測定する空間的分解検出器配列（１７０）を有するものであることを特徴とする請求項６に記載の装置。
9. 前記分光計（１６０）は、プリズムまたは光学格子であることを特徴とする請求項８に記載の装置。
10. 前記装置（２００）は、タイムドメイン光干渉断層撮影の原理に従って動作することを特徴とする請求項１に記載の装置。
11. 前記装置（２００）は、パラレルタイムドメイン光干渉断層撮影の原理に従って動作することを特徴とする請求項１０に記載の装置。
12. 前記参照ビーム（２０４）の光路長は、時間的に調整され、前記検出装置は、前記参照ビーム（２０４）の調整によって時間的に調整される前記重畳ビーム（２０８）の強度を時間的に分解するようにして測定する検出器（２７０）を有するものであることを特徴とする請求項１０に記載の装置。
13. 前記参照ビーム（２０４）の光路長は、前記参照ビーム偏向装置（２３０）の周期運動（２３２）によって時間的に調整されるものであることを特徴とする請求項１２に記載の装置。
14. 前記検出装置（１７０、２７０）での前記生体組織のコヒーレント結像のために、前記測定ビーム（１０６）に対する測定ビーム光学システム（１８０、２８０）と、前記重畳ビーム（１０８、２０８）に対する第１の重畳ビーム光学システム（１９０、２９０）が設けられたものであることを特徴とする請求項１に記載の装置。
15. 前記測定ビーム（１０６）の前記生体組織（１４０）内の部分における光路長によって起こる、前記参照ビーム（１０４、２０４）と前記測定ビーム（１０６）との間の位相変化を補正するための参照ビーム光学システム（１８２、２８２）が、前記参照ビーム（１０４、２０４）に対して設けられたものであることを特徴とする請求項１に記載の装置。
16. 前記測定ビーム（１０６）内に配置された前記目の前表面部のような前記生体組織（１４０）の所定の基礎形状の中の、基礎アーチ形状によって生じる結像誤差を補正するための第２の重畳ビーム光学システム（１９２、２９２）が、前記重畳ビーム（１０８、２０８）に対して設けられたものであることを特徴とする請求項１に記載の装置。
17. 光干渉断層撮影（ＯＣＴ）の原理に従って、人間の目の前表面部の生体組織（１４０）の深さプロファイルを測定する方法であって、
    所定のスペクトル帯域幅（Δλ）および中心波長（λ _０ ）の波長スペクトルを有する光を用い、
    前記中心波長（λ _０ ）を、３００ｎｍから５００ｎｍの間の所定の波長範囲内とすることを特徴とする方法。

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