JP2015219091A - 光トランシーバ検査装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】複数の光トランシーバの並列測定を実現でき、検査時間をより短縮させることが可能な光トランシーバ検査装置を提供する。
【解決手段】検査制御部5は、複数の光トランシーバ3のそれぞれに対応するように設けられ、光トランシーバ3毎に予め設定された複数の測定項目を順次実行する複数の個別検査制御部7を備え、複数の個別検査制御部7は、制御実行権利が設定されているときのみ測定項目を実行するように構成され、かつ、測定項目の実行終了毎に制御実行権利を放棄し、次の測定項目の実行時に制御実行権利を要求するように構成され、検査制御部5は、任意の個別検査制御部7が制御実行権利を要求し、かつ、制御実行権利が他の個別検査制御部7に設定されていないとき、当該制御実行権利を要求している個別検査制御部7に制御実行権利を設定する周期タイマタスク制御部8を備えている。
【選択図】図1
【解決手段】検査制御部5は、複数の光トランシーバ3のそれぞれに対応するように設けられ、光トランシーバ3毎に予め設定された複数の測定項目を順次実行する複数の個別検査制御部7を備え、複数の個別検査制御部7は、制御実行権利が設定されているときのみ測定項目を実行するように構成され、かつ、測定項目の実行終了毎に制御実行権利を放棄し、次の測定項目の実行時に制御実行権利を要求するように構成され、検査制御部5は、任意の個別検査制御部7が制御実行権利を要求し、かつ、制御実行権利が他の個別検査制御部7に設定されていないとき、当該制御実行権利を要求している個別検査制御部7に制御実行権利を設定する周期タイマタスク制御部8を備えている。
【選択図】図1
Description
本発明は、光トランシーバ検査装置に関するものである。
光トランシーバの検査を行う際には、例えば、温度を低温、常温、高温と変更して調整や測定を行う。そのため、光トランシーバの検査を1個ずつ順次行ったのでは、温度を調整するための時間がその度に必要となり経済的ではない。そこで、従来より、複数の光トランシーバの検査を並行して検査することが行われている。
従来の光トランシーバ検査装置として、例えば、図3に示すものが知られている。
図3に示すように、従来の光トランシーバ検査装置31は、検査用の複数の検査機器32と、検査対象となる2個の光トランシーバ33(DUT(Device Under Test))のそれぞれを、任意の検査機器32に接続可能に構成された光スイッチ回路34と、検査機器32と光スイッチ回路34とを制御し、複数の光トランシーバ33の検査を実行する検査制御部35と、を備えている。
検査機器32としては、中心波長やSMSR(Side Mode Suppression Ratio)の測定に用いる光スペクトラムアナライザ、消光比等の測定に用いるDCA(Digital Communication Analyzer)、送信エラーカウントの測定に用いるマスターレシーバ、光出力の測定等に用いる光パワーメータ、受信OMA(Optical Modulation Amplitude)の測定に用いるマスタートランスミッタ等が用いられる。
光スイッチ回路34は、両光トランシーバ33のいずれかから入力された光を検査機器32のいずれかに出力する送信側光スイッチ34aと、マスタートランスミッタから入力された光を2つの光トランシーバ33のいずれかに出力する受信側光スイッチ34bとから構成されている。検査制御部35は、PC(パーソナルコンピュータ)等の演算装置を用いて実現される。
各光トランシーバ33には、温度コントローラ36がそれぞれ設けられ、検査制御部35は、この温度コントローラ36を制御することにより、測定時の温度を調整するように構成されている。
図4に示すように、従来の光トランシーバ検査装置31では、測定時の温度を徐々に上昇させて低温(例えば15℃)、常温(例えば40℃)、高温(例えば65℃)でそれぞれ調整を行い、その後、高温、低温で測定(特性検査)を行うようになっている(高温、常温、低温で測定を行う場合もある)。ここで、調整とは、光出力パワーや消光比などが規定の範囲内となるようにする送信側の調整(つまりLDの設定)、受信側の調整、電源電圧モニタ、温度モニタ等の各種モニタの調整等が含まれる。
なお、この出願の発明に関連する先行技術文献情報としては、特許文献1がある。
しかしながら、従来の光トランシーバ検査装置31では、一方の光トランシーバ33の温度調整時に、他方の光トランシーバ33の調整や測定を行うことはできるものの、両光トランシーバ33で調整や測定を同時に実行することはできなかった。
つまり、従来の光トランシーバ検査装置31では、調整や測定を順次実行するシーケンシャルな制御を行っており、検査時間の短縮の効果が小さいという問題がある。図4の例では、2つの光トランシーバ33を並列測定するのにかかる時間が長く、さらなる検査時間の短縮が望まれる。
検査時間を短縮するためには、検査対象となる複数の光トランシーバ33で同時に調整や測定を行う並列測定を実現する必要がある。
そこで、本発明の目的は、上記課題を解決し、複数の光トランシーバの並列測定を実現でき、検査時間をより短縮させることが可能な光トランシーバ検査装置を提供することにある。
本発明は上記目的を達成するために創案されたものであり、検査用の複数の検査機器と、検査対象となる複数の光トランシーバのそれぞれを、任意の前記検査機器に接続可能に構成された光スイッチ回路と、前記検査機器と前記光スイッチ回路とを制御し、前記複数の光トランシーバの検査を実行する検査制御部と、を備え、前記検査制御部は、前記複数の光トランシーバのそれぞれに対応するように設けられ、前記光トランシーバ毎に予め設定された複数の測定項目を順次実行する複数の個別検査制御部を備え、前記複数の個別検査制御部は、制御実行権利が設定されているときのみ測定項目を実行するように構成され、かつ、前記測定項目の実行終了毎に制御実行権利を放棄し、次の前記測定項目の実行時に制御実行権利を要求するように構成され、前記検査制御部は、任意の前記個別検査制御部が制御実行権利を要求し、かつ、制御実行権利が他の前記個別検査制御部に設定されていないとき、当該制御実行権利を要求している前記個別検査制御部に制御実行権利を設定する周期タイマタスク制御部を備えている光トランシーバ検査装置である。
前記個別検査制御部は、特定の測定項目の実行時に、他の個別検査制御部の特定の測定項目が終了していないとき、当該他の個別検査制御部の特定の測定項目が終了するまで待機する測定制約制御を行うように構成されていてもよい。
前記測定項目は、安定化待ち時間が必要となる制御コマンド毎に区切って設定されていてもよい。
前記光スイッチ回路は、前記光トランシーバ毎に設けられる複数の第1の光スイッチと、前記検査機器毎に設けられる複数の第2の光スイッチと、を有し、前記第1の光スイッチと前記第2の光スイッチとを接続して構成されていてもよい。
本発明によれば、複数の光トランシーバの並列測定を実現でき、検査時間をより短縮させることが可能な光トランシーバ検査装置を提供できる。
以下、本発明の実施形態を添付図面にしたがって説明する。
図1は、本実施形態に係る光トランシーバ検査装置の概略構成図である。
図1に示すように、光トランシーバ検査装置1は、検査用の複数の検査機器2と、検査対象となる複数の光トランシーバ3のそれぞれを、任意の検査機器2に接続可能に構成された光スイッチ回路4と、検査機器2と光スイッチ回路4とを制御し、複数の光トランシーバ3の検査を実行する検査制御部5と、を備えている。
本実施形態では、2個の光トランシーバ3の並列測定を行う場合について説明するが、光トランシーバ3の数はこれに限定されるものではなく、3個以上の光トランシーバ3を並列測定するように構成しても構わない。以下、2個の光トランシーバ3のそれぞれを、第1光トランシーバ3a、第2光トランシーバ3bと呼称する。
検査機器2としては、中心波長やSMSRの測定に用いる光スペクトラムアナライザ2a、消光比等の測定に用いるDCA2b、送信エラーカウントの測定に用いるマスターレシーバ2c、光出力の測定等に用いる光パワーメータ2d、受信OMAの測定に用いるマスタートランスミッタ2eを用いる。ここでは、マスタートランスミッタ2eを2つ備え、受信側の測定を両光トランシーバ3a,3bで同時に行えるように構成したが、受信側の測定を順次行う場合にはマスタートランスミッタ2eは1つでもよい。なお、検査機器2はこれに限定されるものではなく、実行する検査の種類等に応じて適宜選択可能である。
光スイッチ回路4は、光トランシーバ3毎に設けられる複数(ここでは2つ)の第1の光スイッチ4aと、検査機器2毎に設けられる複数(ここでは6つ)の第2の光スイッチ4bと、を有し、第1の光スイッチ4aと第2の光スイッチ4bとを接続して構成されている。光スイッチ回路4では、多段の光スイッチ4a,4bを備えることで、両光トランシーバ3a,3bをそれぞれ別の検査機器2に同時に接続して、両光トランシーバ3a,3bの検査を同時進行できるように構成されている。
具体的には、第1の光スイッチ4aは、1入力4出力のスイッチで構成され、光スペクトラムアナライザ2a、DCA2b、およびマスターレシーバ2cに対応する第2の光スイッチ4bは2入力1出力、光パワーメータ2dに対応する第2の光スイッチ4bは4入力1出力、マスタートランスミッタ4eに対応する第2の光スイッチ4bは1入力2出力のスイッチで構成されている。
2つの第1の光スイッチ4aは、入力が光トランシーバ3の光出力に接続され、各出力が、送信側の測定に用いる検査機器2である光スペクトラムアナライザ2a、DCA2b、マスターレシーバ2c、光パワーメータ2dに出力が接続された第2の光スイッチ4bに接続されている。
マスタートランスミッタ4eの光出力に入力が接続された第2の光スイッチ4bは、その出力が、光パワーメータ2dに出力が接続された第2の光スイッチ4bと、光トランシーバ3の光入力に接続されている。
検査制御部5は、PC(パーソナルコンピュータ)等の演算装置を用いて実現される。両光トランシーバ3a,3bには、温度コントローラ6がそれぞれ設けられており、検査制御部5は、この温度コントローラ6を制御することにより、測定時の温度を調整するように構成されている。
さて、近年、検査制御部5として用いるPCの性能は大きく向上しており、測定経路切替、測定値読込等の処理指令時間(制御コマンドの実行時間)は、例えば数10μsと大きく短縮されている。そのため、調整や測定にかかる時間については、処理指令を行った後の安定化待ち時間(例えば、測定経路を切り替えた際や、測定対象のチャンネルを切り替えた際の待ち時間、あるいは測定値が安定するのを待つ時間)が大部分を占める状態になってきている。本発明者らは、この点に着目し、一方の光トランシーバ3の制御において安定化待ち時間となっているときに、他方の光トランシーバ3の制御コマンドを実行させることで、検査時間の短縮を図ろうと考え、本発明に至った。
本実施形態に係る光トランシーバ検査装置1では、検査制御部5は、複数(ここでは2個)の光トランシーバ3のそれぞれに対応するように設けられ、光トランシーバ3毎に予め設定された複数の測定項目を順次実行する複数(ここでは2つ)の個別検査制御部7を備えている。以下、第1光トランシーバ3aに対応した個別検査制御部7を第1個別検査制御部7a、第2光トランシーバ3bに対応した個別検査制御部7を第2個別検査制御部7bと呼称する。
本実施形態では、測定項目は、安定化待ち時間(例えば300μs以上の待ち時間)が必要となる制御コマンド毎に細かく区切って設定されている。従来技術では、一方の低温調整後に他方の低温調整を行うといったように、調整や測定ごとに両光トランシーバ3a,3bで検査を切り替えていたが、本実施形態では、調整や測定をさらに、複数の測定項目に細分化し、安定化待ち時間の有効利用を図っている。
さらに、本実施形態では、個別検査制御部7a,7bは、制御実行権利が設定されているときのみ測定項目を実行するように構成され、かつ、測定項目の実行終了毎に制御実行権利を放棄し、次の測定項目の実行時に制御実行権利を要求するように構成される。
つまり、個別検査制御部7a,7bは、制御コマンドの実行が終了し測定項目が終了すると制御実行権利を放棄し、その後、安定化待ち時間が経過すると制御実行権利を要求するように構成されている。
その上で、検査制御部5は、任意の個別検査制御部7が制御実行権利を要求し、かつ、制御実行権利が他の個別検査制御部7に設定されていないとき、当該制御実行権利を要求している個別検査制御部7に制御実行権利を設定する周期タイマタスク制御部8を備えている。
このように構成することで、例えば、第1個別検査制御部7aが安定化待ち時間に入り制御実行権利を放棄すると、その後、両個別検査制御部7a,7bのいずれかで制御実行権利の要求があれば、速やかに制御実行権利が設定され、制御実行権利の要求がなされた順番に両個別検査制御部7a,7bの制御(つまり光トランシーバ3a,3bの検査)が進んでいくことになる。なお、例えば、第2個別検査制御部7bが制御実行権利を要求したときに、第1個別検査制御部7aに制御実行権利が設定されているときは、第1個別検査制御部7aが制御実行権利を放棄するまで、第2個別検査制御部7bは待機状態となる。
つまり、個別検査制御部7a,7bと周期タイマタスク制御部8とを備えることにより、2つの光トランシーバ3a,3bの検査を、擬似的に、同時進行で実施することが可能になる。
また、本実施形態では、個別検査制御部7a,7bは、特定の測定項目の実行時に、他の個別検査制御部7b,7aの特定の測定項目が終了していないとき、当該他の個別検査制御部7b,7aの特定の測定項目が終了するまで待機する測定制約制御を行うように構成されている。
測定制約制御は、1台しかない検査機器2(検査の同時進行が行えない検査機器2)が重複して使用されることを避けるための制御であり、例えば、第2個別検査制御部7bでは、低温調整での消光比の調整は、第1個別検査制御部7aが低温調整で消光比の調整を行った後に行う、といったように調整や測定の順番が予め設定される。
なお、ここでは調整や測定の順番を予め設定しておく場合を説明したが、これに限らず、例えば、一方の個別検査制御部7で消光比の調整を実行する際に、他方の個別検査制御部7が消光比の調整を行っている場合には、他方の個別検査制御部7の消光比の調整が終了してから、一方の個別検査制御部7の消光比の調整を実行する、といった条件を設定することにより、測定制約制御を行うようにしてもよい。
図2に示すように、光トランシーバ検査装置1では、基本的に、測定時の温度を徐々に上昇させて低温(例えば15℃)、常温(例えば40℃)、高温(例えば65℃)でそれぞれ調整を行い、その後、高温、低温で測定(特性検査)を行うようになっている。
低温、常温、高温の各調整では、光パワーメータ2dを用いて光トランシーバ3の光出力パワーが規定の範囲内となるようにする調整や、DCA2bを用いて光トランシーバ3の出力光の消光比が規定の範囲内となるようにする調整、および、受信側の調整、電源電圧モニタや温度モニタ等の各種モニタの調整等を行う。
高温、低温の各測定では、光スペクトラムアナライザ2aを用いた中心波長とSMSRの測定、DCA2bを用いた消光比とマスクマージンの測定、マスターレシーバ2cを用いた送信エラーカウントの測定、光パワーメータ2dを用いた光出力パワーと送信OMAの測定、マスタートランスミッタ2eや光パワーメータ2dを用いた受信OMAの測定やアサート/デアサートレベルの測定等を行う。なお、測定事項はこれに限定されるものではなく、適宜変更可能である。
なお、図2では図示していないが、各調整や各測定は測定項目に細分化されており、測定項目ごとに制御実行権利の放棄と要求が繰り返され、両光トランシーバ3a,3bの検査が並行して行われることになる。また、同じ検査機器2を用いる検査については測定制約制御が行われるが、例えば、一方で光出力パワーの調整をしているときは、他方で消光比の調整を行うことが可能であり、調整や測定は同時に並行して実行される。
図2の例では、両光トランシーバ3a,3bの検査に係る時間は、従来の装置で同じ内容の検査を行った図4の場合と比較して約30%の時間短縮が可能となり、検査時間を大幅に短縮することが可能になる。
以上説明したように、本実施形態に係る光トランシーバ検査装置1では、検査制御部5は、複数の光トランシーバ3のそれぞれに対応するように設けられ、光トランシーバ3毎に予め設定された複数の測定項目を順次実行する複数の個別検査制御部7を備え、複数の個別検査制御部7は、制御実行権利が設定されているときのみ測定項目を実行するように構成され、かつ、測定項目の実行終了毎に制御実行権利を放棄し、次の測定項目の実行時に制御実行権利を要求するように構成され、検査制御部5は、任意の個別検査制御部7が制御実行権利を要求し、かつ、制御実行権利が他の個別検査制御部7に設定されていないとき、当該制御実行権利を要求している個別検査制御部7に制御実行権利を設定する周期タイマタスク制御部8を備えている。
このように構成することで、複数の光トランシーバ3で調整や測定を並行して実行することが可能となる。よって、所望の特性が得られなかったときの再測定等により測定時間が変動したとしても、トータルの検査時間を短縮することが可能になる。
つまり、本実施形態によれば、複数の光トランシーバ3の並列測定を低コストで実現でき、検査時間をより短縮させることが可能になる。
本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々の変更を加え得ることは勿論である。
1 光トランシーバ検査装置
2 検査機器
3 光トランシーバ
4 光スイッチ回路
5 検査制御部
7 個別検査制御部
8 周期タイマタスク制御部
2 検査機器
3 光トランシーバ
4 光スイッチ回路
5 検査制御部
7 個別検査制御部
8 周期タイマタスク制御部
Claims (4)
- 検査用の複数の検査機器と、
検査対象となる複数の光トランシーバのそれぞれを、任意の前記検査機器に接続可能に構成された光スイッチ回路と、
前記検査機器と前記光スイッチ回路とを制御し、前記複数の光トランシーバの検査を実行する検査制御部と、を備え、
前記検査制御部は、前記複数の光トランシーバのそれぞれに対応するように設けられ、前記光トランシーバ毎に予め設定された複数の測定項目を順次実行する複数の個別検査制御部を備え、
前記複数の個別検査制御部は、制御実行権利が設定されているときのみ測定項目を実行するように構成され、かつ、前記測定項目の実行終了毎に制御実行権利を放棄し、次の前記測定項目の実行時に制御実行権利を要求するように構成され、
前記検査制御部は、任意の前記個別検査制御部が制御実行権利を要求し、かつ、制御実行権利が他の前記個別検査制御部に設定されていないとき、当該制御実行権利を要求している前記個別検査制御部に制御実行権利を設定する周期タイマタスク制御部を備えている
ことを特徴とする光トランシーバ検査装置。 - 前記個別検査制御部は、特定の測定項目の実行時に、他の個別検査制御部の特定の測定項目が終了していないとき、当該他の個別検査制御部の特定の測定項目が終了するまで待機する測定制約制御を行うように構成されている
請求項1記載の光トランシーバ検査装置。 - 前記測定項目は、安定化待ち時間が必要となる制御コマンド毎に区切って設定されている
請求項1または2記載の光トランシーバ検査装置。 - 前記光スイッチ回路は、前記光トランシーバ毎に設けられる複数の第1の光スイッチと、前記検査機器毎に設けられる複数の第2の光スイッチと、を有し、前記第1の光スイッチと前記第2の光スイッチとを接続して構成されている
請求項1〜3いずれかに記載の光トランシーバ検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014102363A JP2015219091A (ja) | 2014-05-16 | 2014-05-16 | 光トランシーバ検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2014102363A JP2015219091A (ja) | 2014-05-16 | 2014-05-16 | 光トランシーバ検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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JP2015219091A true JP2015219091A (ja) | 2015-12-07 |
Family
ID=54778583
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014102363A Pending JP2015219091A (ja) | 2014-05-16 | 2014-05-16 | 光トランシーバ検査装置 |
Country Status (1)
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JP (1) | JP2015219091A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2019078652A (ja) * | 2017-10-25 | 2019-05-23 | 住友電工デバイス・イノベーション株式会社 | 試験装置 |
JP2019219183A (ja) * | 2018-06-15 | 2019-12-26 | 株式会社フジクラ | 光モジュールの検査システム、検査方法及び製造方法 |
WO2024024095A1 (ja) * | 2022-07-29 | 2024-02-01 | 日本電信電話株式会社 | 光送受信モジュールの検査システム |
-
2014
- 2014-05-16 JP JP2014102363A patent/JP2015219091A/ja active Pending
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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