JP2015212734A - 光偏向器の製造方法および光偏向器 - Google Patents

光偏向器の製造方法および光偏向器 Download PDF

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【課題】偏向効率の低下を抑制することができる光偏向器の製造方法を提供する。【解決手段】電気光学効果を有する電気光学結晶と、前記電気光学結晶の対向する面に形成された電極対とを含む光偏向器の製造方法であって、前記電極対の間に電圧を印加したとき、印加電圧による電界と垂直な偏波方向の光が感じる第1の屈折率変化量を算出するステップと、前記印加電圧による光弾性効果により発生する屈折率変化量であって、前記印加電圧による電界と垂直な偏波方向の光が感じる第2の屈折率変化量を算出するステップと、前記第1の屈折率変化量と前記第2の屈折率変化量との和が0となるように、前記電気光学結晶を透過する光の光軸と垂直な方向の前記電極対の幅を決定するステップとを備えた。【選択図】図2

Description

本発明は、電気光学効果を有する電気光学結晶を用いた光偏向器の製造方法および光偏向器に関する。
電気光学結晶を用いた様々な光学素子が検討されている。このような光学素子は、電気光学結晶に電圧を印加すると、電気光学効果により結晶内の屈折率が変化することを利用して、結晶内を透過する光を制御している。電気光学結晶として、KTa1−xNb(KTN)結晶、KTNにリチウムを添付したK1−yLiTa1−xNb(KLTN)結晶が知られている。KTN結晶、KLTN結晶を用いた光学素子は、電圧印加により結晶中に注入される空間電荷によって電界の分布を結晶内に発生させ、その結果、電気光学効果によって屈折率分布が形成され、光を偏向している(例えば、特許文献1、非特許文献1参照)。KTN結晶、KLTN結晶を用いた光偏向器の応用範囲は、レーザー加工、顕微鏡、プリンタ、ディスプレイ、光通信、センシング、計測などと幅広い分野に及ぶ。
KLTN結晶を用いた光偏向器は、単体で使用すると、原理的に偏波依存性を示す。そこで、KLTN結晶の対向する面に1対の電極対を形成し、電圧を印加する場合、印加電圧の方向に平行な偏波方向の光のみを入力していた。すなわち、直線偏波のレーザー光源と組み合わせて使用されていた。より幅広い応用のために、光源の偏波に依存しないことが望ましく、KLTN光偏向器の偏波無依存化が望まれている。
図1に、従来の偏波無依存型のKLTN光偏向器の構成を示す。KLTN光偏向器は、KLTN結晶の対向する面(xz平面)に1対の電極対が形成された2つの単位光偏向器11,12を、半波長板13を挟んで、光軸(z軸)上に配置している。単位光偏向器11,12の電極を形成した面は同一であり、電圧の印加方向(y軸)も同一である。単位光偏向器11,12の間の光路上に半波長板を配置することにより、2つの単位光偏向器が、それぞれ異なる偏波の光に作用することにより、偏波無依存化を達成していた。
国際公開第WO2006/137408号
J. Miyazu et al.: "New beam scanning model for high-speed operation using KTa1-xNbxO3 Crystals", APEX, Vol. 4, Issue 11, pp. 115101-1-111501-3, 2011.
KLTN結晶に電圧を印加した際の屈折率変化は、印加電圧により形成される電界の方向によって異なることが知られている。すなわち、印加電圧による電界と平行な偏波方向の光が感じる屈折率変化Δnは(式1)で表され、この電界と垂直な偏波方向の光が感じる屈折率変化Δnは(式2)で表される。
Figure 2015212734
ここで、nは屈折率、g11は電界に平行な偏波方向の電気光学係数、g12は電界に垂直な偏波方向の電気光学係数、εは電気光学結晶の誘電率、Eは電気光学結晶に印加される電界である。(式1)におけるg11は正の値、g12は負の値となる。従って、図1の単位光偏向器11に入射された入射光のうち、印加電圧による電界の方向(y軸)と垂直な偏波方向(x軸)の光は、負の電気光学係数による屈折率変化の影響を受ける。次に、入射光は、半波長板13を透過すると、単位光偏向器12では、正の電気光学係数による屈折率変化の影響を受ける。一方、入射光のうち、印加電圧による電界の方向(y軸)と平行な偏波方向の光は、逆に、正の電気光学係数による屈折率変化を受けた後、負の電気光学係数による屈折率変化を受ける。
すなわち、いずれの偏波の光も、2つの単位光偏向器において互いに逆向きに偏向されることになるため、KLTN光偏向器として出力される光の偏向角が減少してしまう。従って、従来のKLTN光偏向器では、印加電圧に対する偏向効率が低下するという問題があった。
本発明の目的は、偏向効率の低下を抑制することができる光偏向器の製造方法を提供することにある。具体的には、電気光学結晶への印加電圧によって生じる光弾性効果により、電気光学結晶を透過する光のうち、印加電圧による電界に垂直な偏波の光の実効的な屈折率変化を低減することにある。
本発明は、このような目的を達成するために、一実施態様は、電気光学効果を有する電気光学結晶と、前記電気光学結晶の対向する面に形成された電極対とを含む光偏向器の製造方法であって、前記電極対の間に電圧を印加したとき、印加電圧による電界と垂直な偏波方向の光が感じる第1の屈折率変化量を算出するステップと、前記印加電圧による光弾性効果により発生する屈折率変化量であって、前記印加電圧による電界と垂直な偏波方向の光が感じる第2の屈折率変化量を算出するステップと、前記第1の屈折率変化量と前記第2の屈折率変化量との和が0となるように、前記電気光学結晶を透過する光の光軸と垂直な方向の前記電極対の幅を決定するステップとを備えたことを特徴とする。
以上説明したように、本発明によれば、電気光学結晶に形成する電極の形状を変化させることにより、電気光学結晶の変形量を制御し、変形に伴い発生する光弾性効果による屈折率変化を制御して、光偏向器の印加電圧の方向と垂直な方向の屈折率変化を打ち消すことが可能となる。
従来の偏波無依存型のKLTN光偏向器の構成を示す図である。 本発明の一実施形態にかかる光偏向器の電気光学結晶を示す図である。 本実施形態にかかる電気光学結晶の光軸に垂直な断面を示す図である。 電気光学結晶の屈折率分布測定系の構成を示す図である。 本実施形態にかかる電気光学結晶の残留屈折率分布を示す図である。 電気光学結晶内の屈折率差の計算結果を示す図である。
以下、図面を参照しながら本発明の実施形態について詳細に説明する。本実施形態では、電気光学結晶に電圧を印加することにより、電気光学結晶に歪が生成される光弾性効果に着目し、光偏向器の印加電圧の方向と垂直な方向の屈折率変化を打ち消す程度の光弾性効果を生じさせる。
図2に、本発明の一実施形態にかかる光偏向器の電気光学結晶を示す。電気光学効果を有する電気光学結晶101の対向する面(xz平面)に電極102,103からなる1対の電極対を形成する。電気光学結晶101は、長さ106(光軸=z軸方向)、厚さ105(電圧の印加方向=y軸方向)、幅104(x軸方向)を有している。ここで、電気光学結晶に発生させる光弾性効果は、電極対のサイズ、特に電気光学結晶101の幅104(光軸と垂直なx軸方向)と電極102,103の幅(x軸方向)とを規定することにより制御する。入射光の偏波のうち電気光学結晶に印加される電界に平行な偏波方向を、第1の偏波の光107とし、電界に垂直な偏波方向を、第2の偏波の光108とする。
図3に、本実施形態にかかる電気光学結晶の光軸に垂直な断面を示す。電気光学結晶101の光軸上の任意の位置における光軸に垂直な断面(xy平面)である。電極102,103の幅(x軸方向)201を変更することにより、光弾性効果を制御する。
2次の電気光学効果による屈折率変化量は、電気光学結晶に印加される電界に平行な偏波方向の光の屈折率変化量はΔnで表され、電気光学結晶に印加される電界に垂直な偏波方向の光の屈折率変化量はΔnで表され、それぞれ(式1)、(式2)の通りである。一方、電圧印加に伴う光弾性効果により発生する屈折率変化量ΔnおよびΔnは、以下の式で表される。
Figure 2015212734
ここで、p11、p12は光弾性係数、xは厚さ方向の歪、xは幅方向の歪、xは長さ方向の歪をそれぞれ表している。
図3において、電極102,103の幅方向(x軸方向)の中心202では、電極102,103の幅201を変えても、厚さ方向(y軸方向)の電界分布は変化しない。このため、厚さ方向(y軸方向)では、(式1)、(式2)で表される電気光学効果による屈折率分布には変化がない。一方、電極102,103の幅201を変えると、電気光学結晶101に発生する歪分布が変化することにより、厚さ方向(y軸方向)では、(式3)、(式4)で表される光弾性効果による屈折率分布は変化する。
従って、光弾性効果を考慮すると、
a)印加電圧による電界と平行な偏波方向の第1の偏波の光107が感じる屈折率変化Δnは、(式1)+(式3)となり、
b)印加電圧による電界と垂直な偏波方向の第2の偏波の光108が感じる屈折率変化Δnは(式2)+(式4)となる。
ここで、後者の(式2)+(式4)による屈折率変化Δn=0とすれば、印加電圧による電界と垂直な偏波方向の光は偏向しないことになる。
そこで、以下のような工程により光偏向器を製造すればよい。
工程1)略直方体形状の電気光学結晶101を用意する。必要に応じて、電気光学結晶における光の入出射端面を光学研磨する工程を含めてもよい。
工程2)電気光学結晶の対向する面に、それぞれ同じ幅の電極102,103を形成する。このとき、同じ材料、同じサイズの電気光学結晶を複数用意し、それぞれ幅の異なる電極を形成しておき、後述する屈折率分布測定系を使用して、
(式2)に基づく屈折率変化量を算出し、
(式4)に基づく屈折率変化量を算出する。
この中から(式2)+(式4)=0となる電極の幅201を選択する。
工程3)電極102,103に電圧源を接続する。
電気光学結晶の材料は、高効率な光偏向器の実現のために、2次の電気光学定数であるカー定数sijが大きい電気光学結晶を用いることが望ましい。このような気光学結晶としては、例えば、ペロブスカイト型単結晶であり、大きなカー定数sijを有する常誘電相のKTN結晶、KLTN結晶が挙げられる。
図4に、電気光学結晶の屈折率分布測定系の構成を示す。レーザー301から出射されたレーザー光は、ビームイクスパンダー302によりビーム径が拡大され、ビームスプリッター303により参照光と被検光とに2分岐される。参照光は、ミラー304を経て、ビームスプリッター308に入射される。被検光は、ミラー306と光偏向器(電極が形成された電気光学結晶)307を経て、ビームスプリッター308に入射される。ビームスプリッター308で合波された参照光と被検光とは、結像レンズ309を介して、撮像素子310に入射され、撮像素子310で結像した干渉縞が観測される。
ミラー304に取り付けられたピエゾ素子305により、参照光の光路長をレーザー光の波長の1/4の長さづつ変化させながら4回干渉縞を撮影する。4つの干渉縞間で演算を行い、マッハツェンダー干渉計の両光路間の位相差を求める(位相シフト法)。この位相差は、結晶中の屈折率変化に伴い発生するため、位相差から屈折率変化量に換算することができる。
レーザー301から出射されるレーザー光の偏波を、光偏向器307の印加電圧による電界に平行となるように設定した場合には屈折率変化量Δnが測定され、電界に垂直となるように設定した場合には屈折率変化量Δnが測定される。このようにして測定されたΔnがゼロ近傍となるような電極102,103の幅201を決定し、上記の工程2において電極を形成すればよい。
本実施形態の光偏向器を2つ用意し、2つの光偏向器の間の光路上に半波長板を配置すれば、偏向効率が向上した偏波無依存型の光偏向器を実現することができる。すなわち、図1で示した偏波無依存型のKLTN光偏向器においては、後段の単位光偏向器において逆向きに偏向されることが無くなるため、印加電圧に対する偏向効率の低下を抑制することができる。
なお、光弾性効果による屈折率変化量を制御するためには、電気光学結晶に形成する電極の形状を変化させればよい。しかしながら、光偏向器の応用では、偏向効率を低下させないために、電気光学結晶を透過する光の光軸方向の電極の長さ(z軸方向)は変えず、光軸と垂直な方向(x軸方向)の電極の幅を変える。また、本実施形態では、長さ方向に渡って一律に同じ幅としたが、偏向効率を低下させない程度に形状を変えてもよい。
本実施形態の光偏向器は、電気光学結晶101としてKLTN結晶を用いた。電気光学結晶101の対向する面に、それぞれ幅の異なる電極を形成した複数の光偏向器を作製し、電圧印加後の残留屈折率分布を測定した。KLTN結晶の大きさは、長さ106=4.0mm×幅104=3.2mm×厚さ105=1.0mmであり、xz平面(4.0mm×3.2mmの面)の対向する2面に電極を形成した。電極102,103の幅201は、1.5mm、2.0mm、2.5mm、3.2mmの4種類を形成し比較を行った。なお、屈折率分布を測定するため、入出射端面となる3.2mm×1.0mmの2面は、光学研磨を行った。
KLTN結晶は、温度を徐々に上げると強誘電相から常誘電相へ相転移を起こす。本実施形態においては常誘電相となるようにし、そのときの比誘電率は17500であった。常誘電相においては、最低次の電気光学効果は2次の電気光学効果(カー効果)であり、以下の測定では、カー効果による屈折率変化を測定し、電界に垂直な方向の偏波の結果を示す。
図5に、残留屈折率分布の測定結果を示す。電気光学結晶101の厚さ105方向に400Vの電圧印加を行い、その後、電圧を切った後の残留屈折率分布を示す。KLTN結晶中の電子トラップに電子が捕獲された結果、電圧を切った後も電子が結晶中に残り、残留屈折率分布が存在する。実線が電気光学効果による屈折率分布の計算結果であり、電極102,103の幅201を、1.5mm、2.0mm、2.5mm、3.2mmとしたときの測定結果である。電気光学効果による屈折率分布の計算結果と、光弾性効果により発生する屈折率分布の影響を受けた測定結果とが大きく異なることがわかる。
残留屈折率分布の測定結果から、電気光学結晶内の屈折率差を計算した結果を、図6に示す。電気光学結晶101の厚さ105方向の端部、すなわち、電極102,103近傍の屈折率と、厚さ105方向の中心202の屈折率との差を計算した。点線dは、電気光学効果による屈折率変化のみを考えた場合の屈折率差の計算結果である。実際の測定結果であるプロットとは、大きく異なることがわかる。
図6によれば、電極102,103の幅201=1.5mmとすることにより、電界に垂直な方向の偏波の屈折率分布が実効的にゼロになっていることがわかる。すなわち、電気光学結晶に形成する電極の形状を変化させることにより、電気光学結晶の変形量を制御し、変形に伴い発生する光弾性効果による屈折率変化を制御して、光偏向器の印加電圧の方向と垂直な方向の屈折率変化を打ち消すことが可能となる。
11,12 単位光偏向器
13 半波長板
101 電気光学結晶
102,103 電極
301 レーザー
302 ビームイクスパンダー
303,308 ビームスプリッター
304,306 ミラー
305 ピエゾ素子
307 光偏向器
309 結像レンズ
310 撮像素子

Claims (4)

  1. 電気光学効果を有する電気光学結晶と、前記電気光学結晶の対向する面に形成された電極対とを含む光偏向器の製造方法であって、
    前記電極対の間に電圧を印加したとき、印加電圧による電界と垂直な偏波方向の光が感じる第1の屈折率変化量を算出するステップと、
    前記印加電圧による光弾性効果により発生する屈折率変化量であって、前記印加電圧による電界と垂直な偏波方向の光が感じる第2の屈折率変化量を算出するステップと、
    前記第1の屈折率変化量と前記第2の屈折率変化量との和が0となるように、前記電気光学結晶を透過する光の光軸と垂直な方向の前記電極対の幅を決定するステップと
    を備えたことを特徴とする光偏向器の製造方法。
  2. 前記電気光学結晶は、KTa1−xNb(KTN)結晶、またはKTNにリチウムを添付したK1−yLiTa1−xNb(KLTN)結晶であり、前記第1の屈折率変化量を算出するステップは、2次の電気光学効果による屈折率変化量を計算することを特徴とする請求項1に記載の光偏向器の製造方法。
  3. 電気光学効果を有する電気光学結晶と、
    前記電気光学結晶の対向する面に形成された電極対とを備え、
    前記電気光学結晶を透過する光の光軸と垂直な方向の前記電極対の幅は、前記電極対の間に電圧を印加したとき、印加電圧による電界と垂直な偏波方向の光が感じる第1の屈折率変化量と、前記印加電圧による光弾性効果により発生する屈折率変化量であって、前記印加電圧による電界と垂直な偏波方向の光が感じる第2の屈折率変化量との和が0となるように決定されていることを特徴とする光偏向器。
  4. 請求項3に記載の2つの光偏向器と、
    前記2つの光偏向器の間の光路上に配置された半波長板と
    を備えたことを特徴とする光偏向器。
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