JP2015212030A - 画像記録装置、画像記録方法および画像処理装置 - Google Patents

Abstract

【課題】 細線や文字画像における画質の低下とイメージ画像における光沢性の低下の双方を抑制した記録を行う。【解決手段】 画像の属性に応じて隣接する記録許容画素の数が異なるマスクパターンを適用し、ドット連結度を制御して記録を行う。【選択図】 図８

Description

本発明は、画像記録装置、画像記録方法および画像処理装置に関する。

インクを吐出する複数の記録吐出口を配列した記録ヘッドを、記録媒体の単位領域に対して走査方向に相対的に移動させながらインクの吐出を行う記録走査と、走査方向と交差する方向である搬送方向に記録媒体の搬送を行う副走査と、を繰り返し行うことで画像の記録を行う画像記録装置が知られている。このような画像記録装置において、各走査にて記録を行うことが許可された記録許容画素が配置されたマスクパターンにより形成する画像のデータを分割して単位領域に対する複数回の記録走査を行うことによって画像を形成する、いわゆるマルチパス記録方式が知られている。

このようなマルチパス記録方式によって記録する画像記録装置では、従来より様々な条件に応じて異なるマスクパターンを適用することが知られている。特許文献１には、光沢性を有する記録媒体に記録を行う場合に適用するマスクパターンにおける互いに隣接する記録を許容する画素（以下、記録許容画素とも称する）の数を、普通紙に記録を行う場合に適用するマスクパターンにおける互いに隣接する記録許容画素の数よりも多くすることが開示されている。同文献によれば、上記のマスクパターンを用いて記録することにより、記録される画像の凹凸性を小さくすることができるため、光沢性の低下を抑制した記録を行うと記載されている。

特開２００５−２９７２１２号公報

しかしながら、上述のような互いに隣接する記録許容画素の位置が多いマスクパターンを用いる場合、画像の属性によっては所望の画質を得ることができない虞があることがわかった。

以下にこの課題について詳細に説明する。

図１は互いに隣接する記録許容画素の数が多いマスクパターンを用いて一例として細線画像を記録する際の過程を説明するための図である。

図１（ａ）は細線画像に対応する２値データを模式的に示す図である。ここで、図１（ａ）中の黒く塗りつぶされた画素がインクを吐出する画素を、また、白抜きの画素がインクを吐出しない画素をそれぞれ示している。文字画像等においては、写真等のイメージ画像と比べてインクを吐出する画素がＸ方向またはＹ方向に並ぶ数が少なくなる。ここでは細線画像に対応する２値データの例として、６つのインクを吐出する画素７００がＸ方向に一列に並ぶ２値データを処理する場合について記載する。なお、Ｘ方向、Ｙ方向については図１（ａ）〜（ｅ）で共通である。

次に、該２値データはマスクパターンにより複数回の走査に分配される。なお、ここでは例として４回の走査により単位領域に記録を行う場合について記載する。図１（ｂ１）〜（ｂ４）はそれぞれ単位領域に対する１〜４回目の走査のそれぞれに対応するマスクパターンを示す図である。ここで、図１（ｂ１）〜（ｂ４）において黒く塗りつぶされた画素が記録許容画素を、白抜きの画素が記録を許容しない画素（以下、非記録許容画素と称する）をそれぞれ示している。図１（ｂ１）〜（ｂ４）のそれぞれに示すマスクパターンでは、互いに隣接する記録許容画素の数が多くなるように記録許容画素が配置されている。具体的には、３×３の９つの記録許容画素がＸ方向およびＹ方向に隣接することにより１つの記録許容画素群７０１〜７０４を構成している。

図１（ｃ）は図１（ａ）に示す２値データと図１（ｂ１）〜（ｂ４）のそれぞれに示すマスクパターンとに基づいて生成される記録データを模式的に示す図である。なお、黒く塗り潰された画素がインクを吐出する画素を、また、該画素内に記載されている数字が該画素にインクを吐出する走査が何回目の走査であるかを示している。インクを吐出する６つの画素のうち、図１（ｂ１）に示すマスクパターン内の記録許容画素群７０１に対応する、Ｘ方向に隣接する３つの画素７０５には１回目の走査にてインクが吐出される。また、図１（ｂ３）に示すマスクパターン内の記録許容画素群７０３に対応する、Ｘ方向に隣接する３つの画素７０６には３回目の走査でインクが吐出されることになる。

図１（ｄ）は１回目の走査を行い、図１（ｃ）に模式的に示す記録データにしたがってインクを吐出した際に記録される画像を示す図である。１回目の走査では図１（ｃ）に示すＸ方向に隣接する３つの画素７０５に対して３つのインク滴７０７が吐出される。これらのインク滴７０７は記録媒体上の互いに接触する位置に付与される。そのため、インク滴７０７同士が図１（ｄ）中の矢印にて示す互いに集合し合う方向に引き寄せ合う。

図１（ｅ）は４回目の走査が終了し、図１（ｃ）に模式的に示す記録データにしたがってインクを吐出した際に記録される画像を示す図である。図１（ｄ）に示す３つのインク滴７０７は上述のように互いに引き寄せ合うため、定着した後にはＸ方向に僅かに縮んでドット７０８が形成される。また、３回目の走査にて図１（ｃ）に示すＸ方向に隣接する３つの画素７０６に吐出された３つのインク滴（不図示）も同様に集合し合い、Ｘ方向に僅かに縮んだドット７０９が形成される。

このようにドットが形成された場合、図１（ｅ）からわかるように、細線画像の中にドットが被覆しない紙白部７１０が形成されてしまう。このような紙白部が細線画像内に生じた場合、細線画像の画質を低下させる虞がある。

以上、一例をあげて説明したように互いに隣接する記録許容画素の数を相対的に多くしたマスクパターンは光沢性を向上させる上で有用に作用するが、記録する画像の属性によっては画質への影響が留意点となりえる。

本発明は上記の課題を鑑みて為されたものであり、画像の光沢性などを保ちつつ、画質の低下を好適に抑制した記録を行うことを目的とするものである。

そこで、本発明は、インクを吐出する記録ヘッドの記録媒体上の単位領域に対する複数回の走査方向への相対的な走査のそれぞれによって、前記複数回の走査のそれぞれにおける前記単位領域内の複数の画素相当の画素領域のそれぞれに対するインクの吐出または非吐出を定める記録データにしたがって前記単位領域に画像を記録する記録制御手段と、前記単位領域を複数に分割してなる判定領域ごとに前記複数の判定領域のそれぞれに記録される画像の属性を判定する判定手段と、前記複数の判定領域内の複数の前記画素領域のそれぞれに対するインクの吐出または非吐出を前記複数の画素に対して定めた２値データを取得する取得手段と、それぞれインクの吐出を許容する記録許容画素とインクの吐出を許容しない非記録許容画素とが配置された、前記複数回の走査のそれぞれに対応する複数の第１のマスクパターンまたは複数の第２のマスクパターンと、前記取得手段により取得された前記２値データと、に基づいて前記複数回の走査のそれぞれにおける記録に用いられる複数の前記記録データを生成する生成手段と、を有する画像記録装置であって、マスクパターン内の互いに隣接して配置された複数の記録許容画素により構成される記録許容画素群および他の記録許容画素と隣接しない記録許容画素のそれぞれを１つの単位とした場合において、前記複数の第２のマスクパターンのうちの１つのマスクパターンに対応する前記単位内の前記記録許容画素の数の平均は、前記複数の第１のマスクパターンのうちの１つのマスクパターンに対応する前記単位内の前記記録許容画素の数の平均よりも多く、前記生成手段は、前記判定手段により前記判定領域内に記録される画像の属性が第１の属性である場合に前記複数の第１のマスクパターンに基づいて前記複数の記録データを生成し、且つ、前記判定手段により前記判定領域内に記録される画像の属性が前記第１の属性と異なる第２の属性である場合に前記複数の第２のマスクパターンに基づいて前記複数の記録データを生成することを特徴とする。

本発明に係る画像記録装置、画像記録方法および画像処理装置によれば、画像の光沢性などを保ちつつ、画質の低下を好適に抑制した記録を行うことが可能となる。

細線画像を記録する際の過程を説明するための図である。 実施形態に係る画像記録装置の斜視図である。 実施形態に係る画像記録装置の側面図である。 実施形態に係る記録ヘッドの模式図である。 実施形態における記録制御系の構成を示すブロック図である。 一般的なマルチパス記録方法を説明するための図である。 一般的なマルチパス記録方式で適用するマスクパターンの模式図である。 実施形態におけるデータの処理過程を示すブロック図である。 実施形態における空間周波数解析について説明するための図である。 実施形態におけるドット連結度の定義を説明するための図である。 実施形態における記録許容画素の単位を説明するための図である。 実施形態におけるマスクパターンの評価領域を説明するための図である。 実施形態において細線画像を記録する際の過程を説明するための図である。 実施形態で適用するマスクパターンを示す模式図である。 実施形態で適用するマスクパターンを示す模式図である。 実施形態における所定の閾値の算出方法を説明するための図である。 実施形態におけるＰＤＬ判定処理を説明するための図である。 実施形態における２値データに基づく属性判定処理を説明するための図である。 実施形態で適用するマスクパターンを示す模式図である。 実施形態に係る画像記録装置の斜視図である。

以下に図面を参照し、本発明の第１の実施形態について詳細に説明する。

（第１の実施形態）
図２は本発明の第１の実施形態に係る画像記録装置１０００の内部の構成を部分的に示す斜視図である。また、図３は本発明の第１の実施形態に係る画像記録装置１０００の内部の構成を部分的に示す側面図である。

画像記録装置１０００の内部にはプラテン２が配置されており、このプラテン２には記録媒体３を吸着させて浮き上がらないようにするために多数の吸引孔３４が形成されている。この吸引孔３４はダクトと繋がっており、さらにダクトの下部に吸引ファン３６が配置され、この吸引ファン３６が動作することでプラテン２に対する記録媒体３の吸着を行っている。

キャリッジ６は、延伸して設置されたメインレール５に支持され、Ｘ方向（走査方向）に往復移動することが可能なように構成されている。キャリッジ６は、後述するインクジェット方式の記録ヘッド７を搭載している。なお、記録ヘッド７は、発熱体を用いたサーマルジェット方式、圧電素子を用いたピエゾ方式等、さまざまな記録方式を適用することが可能である。キャリッジモータ８は、キャリッジ６をＸ方向に移動させるための駆動源であり、その回転駆動力はベルト９でキャリッジ６に伝達される。

記録媒体３は、ロール状に巻かれた媒体２３から巻き出すことで給送される。記録媒体３は、プラテン２の上でＸ方向と交差するＹ方向（搬送方向）に搬送される。記録媒体３は、先端をピンチローラ１６と搬送ローラ１１に挟持されており、搬送ローラ１１が駆動することによって搬送が行われる。また、記録媒体３はプラテン２よりＹ方向の下流ではローラ３１と排送ローラ３２に挟持され、さらにターンローラ３３を介して記録媒体３は巻取りローラ２４に巻きつけられている。

図４は本実施形態で使用する記録ヘッドを示す。

記録ヘッド７は、ブラック（Ｋ）、シアン（Ｃ）、マゼンタ（Ｍ）、イエロー（Ｙ）インクをそれぞれ吐出する４つの吐出口列２２Ｋ、２２Ｃ、２２Ｍ、２２ＹがＸ方向に並んで並列されることにより構成される。これらの吐出口列２２Ｋ、２２Ｃ、２２Ｍ、２２Ｙのそれぞれは、インクを吐出する１２８０個の吐出口３０が１２００ｄｐｉの密度でＹ方向（配列方向）に配列されることで構成されている。なお、本実施形態における一つの吐出口３０から一度に吐出されるインクの吐出量は約４．５ｎｇである。

これらの吐出口列２２Ｋ、２２Ｃ、２２Ｍ、２２Ｙは、それぞれ対応するインクを貯蔵する不図示のインクタンクに接続され、インクの供給が行われる。なお、本実施形態にて用いる記録ヘッド７とインクタンクは一体的に構成されるものでも良いし、それぞれが分離可能な構成のものでも良い。

図５は、本実施形態における制御系の概略構成を示すブロック図である。主制御部３００は、演算、選択、判別、制御などの処理動作を実行するＣＰＵ３０１と、ＣＰＵ３０１によって実行すべき制御プログラム等を格納するＲＯＭ３０２と、記録データのバッファ等として用いられるＲＡＭ３０３、および入出力ポート３０４等を備えている。また、ＲＯＭ３０３には後述するマスクパターン等も合わせて格納されている。そして、入出力ポート３０４には、搬送モータ（ＬＦモータ）３０９、キャリッジモータ（ＣＲモータ）３１０、記録ヘッド７及び記録媒体を切断するための切断装置におけるアクチュエータなどの各駆動回路３０５、３０６、３０７、３０８が接続されている。さらに、主制御部３００はインターフェイス回路３１１を介してホストコンピュータであるＰＣ３１２に接続されている。

本実施形態では、記録媒体上の単位領域に対し記録ヘッドを４回走査させて記録を行う、所謂マルチパス記録方式に従って画像を記録する。

図６は４回の記録走査により記録媒体上の単位領域内に記録を行う際における一般的なマルチパス記録方式について説明するための図である。

また、図７は上述のマルチパス記録方式におけるそれぞれの記録走査において適用するマスクパターンについて説明するための図である。

インクを吐出する吐出口列２２に設けられたそれぞれの吐出口３０は、Ｙ方向に沿って４つの吐出口群２０１、２０２、２０３、２０４に分割される。

各マスクパターン２２１、２２２、２２３、２２４はそれぞれ複数のインクの吐出を定める記録許容画素とインクの非吐出を定める非記録許容画素が配置されることで構成されている。図７において、黒く塗りつぶされている画素が記録許容画素を、白抜けで表されている画素が非記録許容画素を表している。記録許容画素では入力された画像データがインクの吐出を表す画像データである場合にインクを吐出する記録データとする。また、非記録許容画素では、インクの吐出を表す画像データが入力された場合であってもインクを吐出しない記録データとする。

なお、これらのマスクパターン２２１、２２２、２２３、２２４における記録許容画素は、それぞれ互いに異なる位置であり、且つ、それぞれの論理和が全画素となるような関係となる位置に配置されている。

以下は記録媒体上にデューティが１００％の画像（以下、ベタ画像とも称する）を形成する例について説明する。

１回目の記録走査（１パス）では、記録媒体３上の領域２１１に対して吐出口群２０１からマスクパターン２２１に従ってインクが吐出される。この結果、記録媒体上では図８のＡの黒色で示す位置にインクが吐出される。

次に、記録媒体３を記録ヘッド７に対してＹ方向の上流側から下流側にＬ／４の距離だけ相対的に搬送する。

この後に２回目の記録走査（２パス）を行う。２回目の記録走査では、記録媒体上の領域２１１に対しては吐出口群２０２からマスクパターン２２２に、領域２１２に対しては吐出口群２０３からマスクパターン２２１に従ってインクが吐出される。この２回目の記録走査の結果、記録媒体３には図６のＢの黒色で示すような画像が形成される。

以下、記録ヘッド７の記録走査と記録媒体３の相対的な搬送を交互に繰り返す。この結果、４回目の記録走査（４パス）が行われた後には、記録媒体３のＤの領域２１１ではすべての画素相当の画素領域に対してインクの吐出が完了し、ベタ画像が形成される。

図８は本実施形態における画像処理の過程を説明するためのフローチャートである。

ホストコンピュータであるホストＰＣ３１２から画像記録装置に入力されたＲＧＢ形式の多値データはＲＧＢ色変換処理ステップＳ３１および属性判定処理ステップＳ３０へと進む。属性判定処理ステップＳ３０では、単位領域内の判定領域ごとに後述する属性判定が行われ、これにより得られた各判定領域の属性に関する情報がマスク選択処理ステップＳ３３へと送られる。

色変換処理ステップＳ３１では、ホストＰＣ３１２から取得されたＲＧＢ形式の多値データが、記録に用いるインクの色に対応するＣＭＹＫ形式の多値データに変換される。

次に、２値化処理ステップＳ３２では、色変換処理ステップＳ３１にて色変換されたＣＭＹＫ形式の多値データのそれぞれをＣＭＹＫ形式の２値データに２値化する。この２値化の方法としては、濃度パターン法やディザ法、誤差拡散法等が好適に用いられる。

マスク選択処理ステップＳ３３では、属性判定処理ステップＳ３０により得られた各判定領域の属性にしたがって、２値化処理ステップＳ３２より得られた各判定領域に対応するＣＭＹＫ形式の２値データのそれぞれに後述するマスクパターンＡおよびマスクパターンＢのいずれを設定するかを選択する。マスクパターンＡを設定することが選択された判定領域に対応する２値データはマスクパターンＡ設定処理ステップＳ３４へと進み、後述するマスクパターン処理が行われることで複数回の走査のそれぞれに分配される。また、マスクパターンＢを設定することが選択された判定領域に対応する２値データはマスクパターンＢ設定処理ステップＳ３５に進み、後述するマスクパターン処理が行われることで複数回の走査のそれぞれに分配される。

記録データ生成処理ステップＳ３６では、マスクパターンＡ設定処理ステップＳ３４またはマスクパターンＢ設定処理ステップＳ３５にて各判定領域において複数回の走査に分配された２値データを合成し、単位領域に対応する記録データを生成する。

以上のようにして生成された記録データにしたがって、複数回の走査のそれぞれにて記録ヘッド７からインクを吐出することで画像の記録を行う。

本実施形態における属性判定処理ステップＳ３０における属性判定処理について以下に詳細に記載する。

本実施形態では、単位領域をそれぞれ８画素×８画素の大きさを有する複数の判定領域に分割し、該判定領域ごとに対応するＲＧＢ形式の多値データから空間周波数解析を行い、これにより画像の属性を判定する。

まず以下の式（１）〜（５）により、ある１つの判定領域におけるＲＧＢ形式の多値データをＣＩＥ Ｌ＊ａ＊ｂ＊データに変換してＲＡＭ３０３に保存する。

Ｒ’＝Ｒ／６５５３５
Ｇ’＝Ｇ／６５５３５
Ｂ’＝Ｂ／６５５３５ …式（１）
ここで、もし、Ｒ’，Ｇ’，Ｂ’≦０．０４０４５であれば、
Ｒ’’＝Ｒ／１２．９２
Ｇ’’＝Ｇ／１２．９２
Ｂ’’＝Ｂ／１２．９２ …式（２）
とし、Ｒ’，Ｇ’，Ｂ’＞０．０４０４５であれば、
Ｒ’’＝［（Ｒ’＋０．０５５）／１．０５５］^２．４
Ｇ’’＝［（Ｇ’＋０．０５５）／１．０５５］^２．４
Ｂ’’＝［（Ｂ’＋０．０５５）／１．０５５］^２．４ …式（３）
とする。

｜Ｘ｜ ｜０．４１２４ ０．３５７６ ０．１８０５｜ ｜Ｒ’’｜
｜Ｙ｜＝｜０．２１２６ ０．７１５２ ０．０７２２｜×｜Ｇ’’｜
｜Ｚ｜ ｜０．０１９３ ０．１１９２ ０．９５０５｜ ｜Ｂ’’｜ …式（４）
Ｘ／Ｘｎ，Ｙ／Ｙｎ，Ｚ／Ｚｎ＞０．００８８５６
Ｌ＊＝１１６（Ｙ／Ｙｎ）^１／３−１６
ａ＊＝５００［（Ｘ／Ｘｎ）^１／３−（Ｙ／Ｙｎ）^１／３］
ｂ＊＝２００［（Ｙ／Ｙｎ）^１／３−（Ｚ／Ｚｎ）^１／３］ …式（５）
但し、（Ｘ／Ｘｎ），（Ｙ／Ｙｎ），（Ｚ／Ｚｎ）＞０．００８８５６である。ここで、Ｘ、Ｙ、Ｚは、試料のＸＹＺ表色系における三刺激値、Ｘｎ、Ｙｎ、Ｚｎは、完全拡散反射面の三刺激値である。もし（Ｘ／Ｘｎ），（Ｙ／Ｙｎ），（Ｚ／Ｚｎ）＜０．００８８５６であれば、次式（６）に置き換えて計算する。

（Ｘ／Ｘｎ）^１／３→７．７８７（Ｘ／Ｘｎ）＋１６／１１６
（Ｙ／Ｙｎ）^１／３→７．７８７（Ｙ／Ｙｎ）＋１６／１１６
（Ｚ／Ｚｎ）^１／３→７．７８７（Ｚ／Ｚｎ）＋１６／１１６ …式（６）
次に、下記の式（７）に従ってＬ＊をフーリエ変換してスペクトルＳ（ｕ’，ｖ’）を求める。次に式（８）に従ってパワースペクトルＰ（ｕ’，ｖ’）を求める。

Ｓ（ｕ’，ｖ’）＝ΣΣＬ＊（ｕ’，ｖ’）ｅｘｐ（−ｊ２πｕ’ｎ／Ｎ）ｅｘｐ（−ｊ２πｖ’ｍ／Ｍ） …式（７）
ここで最初のΣは、ｍ＝０からｍ＝Ｍ−１までの総計を、２番目のΣはｎ＝０からｎ＝
Ｎ−１までの総計を意味している。

Ｐ（ｕ’，ｖ’）＝｜Ｓ（ｕ’，ｖ’）｜２ …式（８）
なお、本実施形態では、１つの判定領域の大きさは８画素×８画素の大きさを有するため、Ｎ＝Ｍ＝８となる。以下は、Ｎに統一して記述する。

次に、空間周波数領域のカウンタｖ’を「０」にし、次にカウンタｕ’を「０」にそれぞれ初期化する。次に、空間周波数ｕ、ｖを以下の式（９）に従って算出する。次に、空間周波数（ｕ，ｖ）のパワースペクトルＰ（ｕ’，ｖ’）に式（１０）で与えられるＶＴＦを乗算してパワースペクトルＰ’（ｕ，ｖ）を算出する。

ｕ＝ｕ’（ｄｐｉ／Ｎ／２５．４）（πＲ／１８０），０≦ｕ≦Ｎ／２
ｖ＝ｖ’（ｄｐｉ／Ｎ／２５．４）（πＲ／１８０），０≦ｖ≦Ｎ／２
ｕ＝（ｕ’−Ｎ）（ｄｐｉ／Ｎ／２５．４）（πＲ／１８０），Ｎ／２＋１≦ｕ≦Ｎ−１
ｖ＝（ｖ’−Ｎ）（ｄｐｉ／Ｎ／２５．４）（πＲ／１８０），Ｎ／２＋１≦ｖ≦Ｎ−１ …式（９）
ＶＴＦ（ｆ）＝５．０５ｅｘｐ（−０．１３８ｆ）（１−ｅｘｐ（−０．１ｆ）） …式（１０）
ここでｆは空間周波数（ｃｙｃｌｅｓ／ｄｅｇｒｅｅ）で、
ｆ＝√（ｕ^２＋ｖ^２） …式（１１）
但し、ｄｐｉは入力解像度であり、Ｎは縦横の画素数（＝８）である。また、Ｒは明視距離（３００ｍｍ）であり、空間周波数ｆの単位は、（ｃｙｃｌｅｓ／ｄｅｇｒｅｅ）である。空間周波数ｆの算出は上式（１１）を用いる。

図９にある画像において上述の空間周波数解析を行った際の過程を模式的に示す図である。なお、ここでは簡単のため、各画素における多値データのＲＧＢ値が（Ｒ，Ｇ，Ｂ）＝（０，０，０）または（２５５，２５５，２５５）のいずれかである場合について記載する。また、図９において白抜きの箇所が（Ｒ，Ｇ，Ｂ）＝（２５５，２５５，２５５）である画素を、黒く塗りつぶされた箇所が（Ｒ，Ｇ，Ｂ）＝（０，０，０）である画素をそれぞれ示している。また、簡単のため、以下では図９（ａ）に示す単位領域内の２つの判定領域５１０、５１１についてのみ記載する。

ここで、図９（ｂ）に示す判定領域内のほぼすべての画素が（Ｒ，Ｇ，Ｂ）＝（０，０，０）である第１の判定領域５１０では、図９（ｃ）に示すように相対的に小さい空間周波数において強度が高くなる。そのため、所定の閾値以上（Ｔｈ＿ｆ以上）の空間周波数における強度の積分値が所定の閾値より小さい（Ｔｈ＿ｆより小さい）空間周波数における強度の積分値よりも小さくなる。なお、所定の閾値Ｔｈ＿ｆについては後述するが、本実施形態で使用するマスクパターンに対して上述の空間周波数解析を行うことにより算出することができる。

一方、図９（ｄ）に示す（Ｒ，Ｇ，Ｂ）＝（０，０，０）の画素と（Ｒ，Ｇ，Ｂ）＝（２５５，２５５，２５５）の画素が混在する第２の判定領域５１１では、図９（ｅ）に示すように、相対的に大きい空間周波数において強度が高くなる。そのため、後述する所定の閾値Ｔｈ＿ｆ以上の空間周波数における強度の積分値が所定の閾値Ｔｈ＿ｆより小さい空間周波数における強度の積分値よりも大きくなる。

このように、本実施形態では各判定領域に対して上述の空間周波数解析を行い、得られた空間周波数のうちの所定の閾値Ｔｈ＿ｆ以上の空間周波数における強度の積分値が所定の閾値Ｔｈ＿ｆより小さい空間周波数における強度の積分値以上である場合にその判定領域における画像の属性を第１の属性（細線画像）であると判定する。また、所定の閾値Ｔｈ＿ｆより小さい空間周波数における強度の積分値が所定の閾値Ｔｈ＿ｆ以上の空間周波数における強度の積分値以上である場合にその判定領域における画像の属性を第２の属性（イメージ画像）であると判定する。

本実施形態では、上述の空間周波数解析を行うことにより得られた属性に応じてドット連結度を制御することにより画質の低下を抑制する。以下にドットの連結度について説明する。

図１０は本実施形態におけるドット連結度を説明するための図である。なお、図１０における円は、それぞれ同じ走査で付与されるドットを示している。

本実施形態におけるドット連結度は、ある領域内に吐出された複数のドットのうち、連結して大ドットを構成するドットの連結数を測定し、該領域内における該連結数の平均を算出することにより数値化して評価することができる。

例えば、図１０（ａ）に示す９個のドットのそれぞれは１回の走査で互いに離れた位置に形成されるので、６×６の画素領域内において連結する複数のドットは存在しない。そのため、該領域内のすべてのドットの連結数は１である。したがって、該領域内のドット連結数の平均であるドット連結度は１であると評価する。

また、図１０（ｂ）に示す９個のドットは、１回の走査で互いに接触する位置に形成され、記録媒体上に付与された後に連結して大ドットを形成する。この大ドットのドットの連結数は９であると評価する。さらに、６×６の画素領域内において該大ドット以外のドットは存在しないため、該領域内のドット連結数の平均であるドット連結度は９であると評価する。

本実施形態では、ドット連結度を制御するために、互いに隣接して配置された複数の記録許容画素により構成される記録許容画素群および他の記録許容画素と隣接しない記録許容画素のそれぞれを１つの単位（以下、単に単位とも称する）とした場合において、該単位内の記録許容画素の数の平均が互いに異なるマスクパターンを用いる。

図１１は本実施形態における単位の定義、および単位内の記録許容画素の数について説明するための図である。

上述のように、記録許容画素群は隣接する位置に配置された複数の記録許容画素から構成される。例えば、図１１（ａ）では２画素×２画素の４つの画素からなる、正方形の形状の記録許容画素群を示している。この場合、単位内の記録許容画素の数は４となる。

また、本実施形態では他のいずれの記録許容画素とも隣接しない記録許容画素であっても記録許容画素の単位と称する。図１１（ｂ）では隣接する記録許容画素が１つもない記録許容画素を示している。この場合の単位内の記録許容画素の数は１とする。

また、特定の方向に偏って連続した複数の記録許容画素も本実施形態における記録許容画素群であり、図１１（ａ）に示したような等方的な形状に限定されるものではない。図１１（ｃ）では特定の方向に偏って連続した、Ｌ字型の記録許容画素群を示している。この場合、単位内の記録許容画素の数は７である。

また、本実施形態における連続する記録許容画素とは、Ｘ方向およびＹ方向に連続する記録許容画素だけではなく、斜め方向に連続する記録許容画素も含むものである。すなわち、一つの記録許容画素に対してはＸ方向に２つ、Ｙ方向に２つ、斜め方向に４つの計８つの記録許容画素が隣接して配置される可能性がある。図１１（ｄ）では斜め方向に隣接した記録許容画素群を示している。この場合、単位内の記録許容画素の数は５である。

図１２は本実施形態における単位内の記録許容画素の数の平均の算出方法について説明するための図である。

本実施形態では、簡単のため、単位領域８０内の所定の画素数からなる評価領域における単位内の記録許容画素の数の平均を算出し、その値を単位内の記録許容画素の数の平均として用いる。なお、図１２は、単位内の記録許容画素の数の平均を算出するための評価領域に対応するマスクパターンの領域として、Ｘ方向に５画素、Ｙ方向に５画素の２５個の画素からなる領域を例示している。本実施形態における単位内の記録許容画素の数の平均は、評価領域に対応するマスクパターンの領域に含まれる単位の数を算出し、該評価領域に対応するマスクパターンの領域内のそれぞれの単位内の記録許容画素の数を算出する。さらに、該それぞれの単位内の記録許容画素の数の和を算出し、該和を単位の数で割った値をそれぞれのマスクパターンにおける単位内の記録許容画素の数の平均とする。

例えば、図１２（ａ）に示す評価領域に対応するマスクパターンの領域内には、互いに隣接する記録許容画素は存在しない。上述の定義に従って換言すると、単位内の記録許容画素の数が１である単位が合計８個配置されている。したがって、図１２（ａ）に示すマスクパターンにおける単位内の記録許容画素の数の平均は、それぞれの単位内の記録許容画素の数の和である８（＝１×８）を単位の数である８で割った値である１となる。

一方、図１２（ｂ）に示す評価領域に対応するマスクパターンの領域内には、それぞれ互いに隣接する４つの記録許容画素から記録許容画素の単位Ｔ１、Ｔ２が構成されている。したがって、図１２（ｂ）に示すマスクパターンにおける単位内の記録許容画素の数の平均は、それぞれの単位内の記録許容画素の数の和である８（＝４×２）を単位の数である２で割った値である４となる。

本実施形態では、画像の属性が第２の属性（イメージ）である場合には、光沢の低下を抑制するために単位内の記録許容画素の数の平均が相対的に多いマスクパターンを用い、ドット連結度を相対的に高くして記録を行う。一方、属性が第１の属性（細線）である場合、単位内の記録許容画素の数の平均が相対的に少ないマスクパターンを用い、細線画像における画質の低下を抑制するためにドット連結度を相対的に低くして記録を行う。

ここで、属性が第１の属性である場合にドット連結度を低くすることで画質の低下を抑制できる推定メカニズムについて詳細に説明する。

図１３は、属性が第１の属性である場合に互いに隣接する記録許容画素の数が相対的に少ない（単位内の記録許容画素の数の平均が相対的に少ない）マスクパターンを用い、ドット連結度を相対的に低くして画像を記録する際の過程を説明するための図である。

図１３（ａ）は細線画像に対応する２値データを模式的に示す図である。なお、ここでは図１（ａ）に示す２値データと同じ６つのインクを吐出する画素７００がＸ方向に一列に並ぶ２値データを処理する場合について記載する。

図１３（ｂ１）〜（ｂ４）はそれぞれ単位領域に対する１〜４回目の走査のそれぞれに対応するマスクパターンを示す図である。ここで、図１３（ｂ１）に示す１回目の走査に対応するマスクパターン内において、いずれの記録許容画素７１１も他の記録許容画素７１１と隣接しない位置に配置されている。すなわち、図１３（ｂ１）に示すマスクパターンにおける単位内の記録許容画素の数の平均は１となる。また、図１３（ｂ２）〜（ｂ４）に示すマスクパターンのそれぞれにおいても、単位内の記録許容画素の数の平均は１である。なお、図１３（ｂ１）〜（ｂ４）にそれぞれ示すマスクパターンには、記録許容画素７１１、７１２、７１３、７１４が互いに排他的且つ補完的に配置されている。このようなマスクパターンを適用し、図１３（ａ）に示す２値データを４回の走査のそれぞれに分配する。

図１３（ｃ）は図１３（ａ）に示す２値データと図１３（ｂ１）〜（ｂ４）のそれぞれに示すマスクパターンとに基づいて生成される記録データを模式的に示す図である。図１３（ｃ）に示す記録データによれば、図１３（ａ）に示すインクを吐出する６つの画素のうち、図１３（ｂ１）に示すマスクパターン内の記録許容画素７１１に対応する画素７１５には、１回目の走査にてインクが吐出される。同様に、図１３（ｂ２）、（ｂ３）、（ｂ４）に示すそれぞれのマスクパターン内の記録許容画素７１２、７１３、７１４に対応する画素７１６、７１７、７１８には、それぞれ２、３、４回目の走査にてインクが吐出されることになる。

図１３（ｄ）は単位領域に対する２回目の走査を行い、図１３（ｃ）に模式的に示す記録データにしたがってインクを吐出した際に記録される画像を示す図である。なお、２回目の走査を行う際には、１回目の走査において図１３（ｃ）に示す画素７１５に対応する画素領域に対してインクが吐出されたことでドット７２０が既に形成されている。２回目の走査では、図１３（ｃ）に示す画素７１６に対応する画素領域に対してインク滴７２１が付与される。このインク滴７２１は互いに接触しないような離間した位置に付与されるため、インク滴７２１同士の引き寄せ合いは生じない。そのため、インク滴７２１は特定の方向に偏って移動することなく記録媒体上に定着することができる。

図１３（ｅ）は４回目の走査が終了し、図１３（ｃ）に模式的に示す記録データにしたがってインクを吐出した際に記録される画像を示す図である。図１３（ｃ）に示す記録データにしたがってインクを吐出した場合、いずれの走査においても同じ走査では互いに隣接しない位置にインク滴が付与される。そのため、いずれの走査で付与されたインク滴も特定の方向に偏らずに定着するため、偏りのないドット７２２が形成され、紙白部のない画像が記録される。

以上記載したように、画像の属性が第１の属性（細線）である場合、互いに隣接する記録許容画素の数が相対的に少ない（単位内の記録許容画素の数の平均が相対的に少ない）マスクパターンを適用することにより、細線画像における画質の低下を抑制した記録を行うことが可能となる。

図８に示した図を参照しながら詳細に記載すると、属性判定処理ステップＳ３０においてある判定領域に対応する多値データに空間周波数解析を行うことにより得られた画像の属性が第１の属性（細線）であると判定された場合には、２値化処理ステップＳ３３にて生成された該判定領域に対応する２値データをマスクパターンＡ設定処理ステップＳ３４へと送り、互いに隣接する記録許容画素の数が相対的に少ないマスクパターンを設定する。一方、属性判定処理ステップＳ３０においてある判定領域に対応する多値データに空間周波数解析を行うことにより得られた画像の属性が第２の属性（イメージ）であると判定された場合には、２値化処理ステップＳ３３にて生成された該判定領域に対応する２値データをマスクパターンＢ設定処理ステップＳ３５へと送り、互いに隣接する記録許容画素の数が相対的に多いマスクパターンを設定する。

図１４、図１５は本実施形態で適用するマスクパターンを示す図である。なお、図１４（ａ）〜（ｄ）は属性判定処理Ｓ３０ステップにて判定領域に対応する画像の属性が第１の属性（細線）であると判定された場合においてマスクパターンＡ設定処理ステップＳ３４にて適用する、それぞれ１〜４回目の走査に対応するマスクパターンを示す図である。また、図１５（ａ）〜（ｄ）は属性判定処理ステップＳ３０にて判定領域に対応する画像の属性が第２の属性（イメージ）であると判定された場合においてマスクパターンＢ設定処理ステップＳ３５にて適用する、それぞれ１〜４回目の走査に対応するマスクパターンを示す図である。

ここで、マスクパターン１２１からマスクパターン１２４までのマスクパターンのそれぞれには、ほぼ同じ数の記録許容画素が配置される。なお、これらのマスクパターン１２１〜１２４それぞれの記録許容画素は互いに異なる位置であり、且つ、それぞれの記録許容画素の論理和が全画素となるような位置に配置されている。

このようなマスクパターンを適用することにより、画像の属性が第１の属性（細線）である場合に１回目から４回目までの記録走査においてインクをほぼ同じ量ずつ吐出することができる。さらに、１回目から４回目までの記録走査によって記録媒体上の単位領域内のすべての吐出可能な画素領域にインクを付与することができる。

なお、これらの点は画像の属性が第２の属性（イメージ）である場合に適用するマスクパターン１３１からマスクパターン１３４までのそれぞれのマスクパターンについても同様である。

ここで、第１の属性（細線）に対応するマスクパターン１２１〜１２４のそれぞれにおける上述の定義に従って算出した単位内の記録許容画素の数の平均は１である。

これに対し、第２の属性（イメージ）に対応するマスクパターン１３１〜１３４のそれぞれにおける上述の定義に従って算出した単位内の記録許容画素の数の平均は４である。このように、第２の属性（イメージ）に対応するマスクパターン１３１〜１３４のそれぞれは、第１の属性（文字）に対応するマスクパターン１２１〜１２４のいずれよりも単位内の記録許容画素の数の平均が多くなるように各記録許容画素が配置される。

なお、上述した図９における所定の閾値は、図１５に示す単位内の記録許容画素の数が相対的に多いマスクパターンのいずれかに対して空間周波数解析を行うことによって得ることができる。例えば、図１５（ａ）に示すマスクパターン１３１に空間周波数解析を行う場合、記録許容画素を（Ｒ，Ｇ，Ｂ）＝（０，０，０）の画素とみなし、また、非記録許容画素を（Ｒ，Ｇ，Ｂ）＝（２５５，２５５，２５５）の画素とみなして上述の空間周波数解析を行う。

図１６にこのようにして得られた空間周波数と強度の概念図を示す。

本実施形態では、各空間周波数のうち、強度が最も強くなる値（Ｉ＿ｍａｘ）における空間周波数の値を所定の閾値Ｔｈ＿ｆとして用いる。これにより、ＲＧＢ形式の多値データの空間周波数解析を行う際、図１５（ａ）に示すマスクパターン１３１における記録許容画素の隣接する数に対応づけて属性判定処理を行うことが可能となる。具体的には、図１５（ａ）に示すマスクパターン１３１ではＸ方向またはＹ方向に互いに隣接する記録許容画素の数は２であるので、互いに隣接するインクの吐出を定めた画素が２以下である場合を第１の属性（文字）、３以上である場合を第２の属性（イメージ）と判定することができる。

以上の構成によれば、画像の属性が第１の属性（細線）である場合、ドット連結度を低くして記録することができるため、細線画像における画質の低下を抑制することが可能となる。一方、画像の属性が第２の属性（イメージ）である場合、ドット連結度を高くして記録するため、光沢性の低下を抑制した記録を行うことができる。

（第２の実施形態）
第１の実施形態では空間周波数解析を行い、画像の属性がイメージであるか細線であるかを判定する形態について記載した。

これに対し、本実施形態では単位領域内の各画素領域に相当する画素ごとにオブジェクトの判定を行い、各画素の属性がイメージであるか細線により形成される文字であるかを判定する形態について記載する。

なお、前述した第１の実施形態と同様の部分については説明を省略する。

本実施形態では、属性判定処理ステップＳ３０においてオブジェクトごとにホストＰＣ３１２から入力された画像データの種類を分類する。具体的には、ある画素におけるオブジェクトが文字の画像に対応する文字オブジェクトであると判定された場合には、該画素における画像の属性を第１の属性（文字）であると判定する。一方、ある画素におけるオブジェクトが写真およびグラフィック等のイメージ画像に対応するイメージオブジェクトであると判定された場合には、該画素における画像の属性を第２の属性（イメージ）であると判定する。

図１７に本実施形態における図８に示す属性判定処理ステップＳ３０における処理過程の詳細を示す。

まず、画素選択処理ステップＳ４１において、画像の中から１つの画素を選択する。

次に、ＰＤＬ判定処理ステップＳ４２において、該画素におけるオブジェクトがビットマップ画像であるか否か（ビットマップ形式であるか、ビットマップ形式以外の形式であるか）を判定する。一般にＰＤＬ（ページ記述言語）中では写真などのイメージ画像はビットマップ形式で記述され、文字画像はベクタ画像や文字コード＋フォント情報の形で記述されている。そのため、ＰＤＬで記述されたデータに基づいてオブジェクトがビットマップ画像であるか否かを判定することにより、該画素における画像の属性が第１の属性（文字）であるか第２の属性（イメージ）であるかを判定できる。

ＰＤＬ判定処理ステップＳ４２においてビットマップではないと判定された場合、文字オブジェクト設定処理ステップＳ４４にてそのオブジェクトは文字オブジェクトであると設定される。一方、ビットマップ画像であると判定された場合、イメージオブジェクト設定処理ステップＳ４５にてそのオブジェクトはイメージオブジェクトであると設定される。

文字オブジェクト設定処理ステップＳ４４またはイメージオブジェクト設定処理における処理が終了した後、ステップＳ４６にてすべてのオブジェクトにおいてＰＤＬ判定処理が行われたか否かを判定する。ＰＤＬ判定処理を行っていないオブジェクトが残っている場合には、画素選択処理ステップＳ４１へと戻り、次の画素に対して同様の処理を行う。すべての画素に対してＰＤＬ判定処理を実行した場合、属性判定処理が終了する。

次に、図８に示すマスク選択処理ステップＳ３３では、属性判定処理ステップＳ３０にてある画素におけるオブジェクトが文字オブジェクトであると判定された場合には、２値化処理ステップＳ３２にて生成された該オブジェクトに対応する２値データをマスクパターンＡ設定処理ステップＳ３４へと送る。一方、属性判定処理Ｓ３１にてある画素におけるオブジェクトがイメージオブジェクトに相当すると判定された場合には、２値化処理ステップＳ３２にて生成された該オブジェクトに対応する２値データをマスクパターンＢ設定処理ステップＳ３５へと送る。

マスクパターンＡ設定処理ステップＳ３４では図１４に示す隣接する記録許容画素の数が相対的に少ないマスクパターンを適用して、４回の走査のそれぞれに対して２値データを分配する。一方、マスクパターンＢ設定処理ステップＳ３５では、図１５に示す隣接する記録許容画素の数が相対的に多いマスクパターンを適用して４回の走査のそれぞれに対して２値データを分配する。

更に、記録データ生成処理ステップＳ３６では、マスクパターンＡ設定処理ステップＳ３４またはマスクパターンＢ設定処理ステップＳ３５にて４回の走査に分配された各オブジェクトに対応する２値データを合成し、記録データを生成する。

以上の構成によれば、画素ごとにオブジェクトの判定を行うことにより、各画素における画像の属性を判定することができる。そしてオブジェクトごとに画像の属性に応じてドット連結度を制御することができるため、細線画像における画質の低下とイメージ画像における粒状感の低下の双方を抑制した記録を行うことが可能となる。

（第３の実施形態）
本実施形態では２値データ生成後、判定領域ごとに２値データに基づいて画像の属性を直接的に判定する形態について記載する。

なお、前述した第１、第２の実施形態と同様の部分については説明を省略する。

図１８は本実施形態における属性判定処理を説明するための図である。

本実施形態では、８画素×８画素の判定領域においてＸ方向またはＹ方向のいずれかの方向に隣接して存在するインクの吐出を示す２値データの最大数が２以下である場合、該判定領域における画像の属性を第１の属性（細線）であると判定する。一方、方向またはＹ方向のいずれかの方向に隣接して存在するインクの吐出を示す２値データの最大数が３以上である場合、該判定領域における画像の属性を第２の属性（イメージ）であると判定する。

例えば、図１８（ａ）に示す２値データではＸ方向に隣接して存在するインクの吐出を示す２値データの最大数は２であり、Ｙ方向に隣接して存在するインクの吐出を示す２値データの最大数は８である。そのため、図１８（ａ）に示す２値データに対応する画像の属性は第１の属性（細線）であると判定される。

また、図１８（ｂ）に示す２値データではＸ方向に隣接して存在するインクの吐出を示す２値データの最大数は８であり、Ｙ方向に隣接して存在するインクの吐出を示す２値データの最大数は２である。そのため、図１８（ｂ）に示す２値データに対応する画像の属性は第１の属性（細線）であると判定される。

また、図１８（ｃ）に示す２値データではＸ方向に隣接して存在するインクの吐出を示す２値データの最大数は２であり、Ｙ方向に隣接して存在するインクの吐出を示す２値データの最大数は２である。そのため、図１８（ｃ）に示す２値データに対応する画像の属性は第１の属性（細線）であると判定される。

一方、図１８（ｄ）に示す２値データではＸ方向に隣接して存在するインクの吐出を示す２値データの最大数は８であり、Ｙ方向に隣接して存在するインクの吐出を示す２値データの最大数は８である。そのため、図１８（ｄ）に示す２値データに対応する画像の属性は第２の属性（イメージ）であると判定される。

上記のようにして判定された画像の属性に基づいて、第１の実施形態と同様にしてドット連結度を制御して記録を行う。具体的には、ある判定領域において図１８（ａ）、（ｂ）、（ｃ）に示す２値データが生成された場合、第１の属性に相当するため、図１４に示すマスクパターンを適用して該２値データを４回の走査に分配する。一方、図１８（ｄ）に示す２値データが生成された場合、第２の属性に相当するため、図１５に示すマスクパターンを適用して２値データを４回の走査に分配する。

以上の構成によれば、画像の属性判定を２値データに基づいて判定するため、より正確に判定することが可能となる。

なお、本実施形態では第１の属性であると判定するＸ方向またはＹ方向のいずれかの方向に隣接して存在するインクの吐出を示す２値データの最大数の閾値が２である形態について記載したが、この閾値は使用するインクや記録媒体等に応じて適宜異なる値とすることが可能である。

（第４の実施形態）
以上で説明した各実施形態には画像の属性が第１の属性（細線）である場合と第２の属性（イメージ）である場合とにおいて隣接する記録許容画素の数が異なるマスクパターンを適用する形態について記載した。

これに対し、本実施形態では更に第３の属性（極細線）である場合においても異なるマスクパターンを適用する形態について記載する。

なお、前述した第１から第３の実施形態と同様の箇所については説明を省略する。

本実施形態では、第３の実施形態と同様に、２値データに基づいて画像の属性を判定する。

本実施形態では、８画素×８画素の判定領域においてＸ方向またはＹ方向のいずれかの方向に隣接して存在するインクの吐出を示す２値データの最大数が２である場合、該判定領域における画像の属性を第１の属性（細線）であると判定する。一方、Ｘ方向またはＹ方向のいずれかの方向に隣接して存在するインクの吐出を示す２値データの最大数が３以上である場合、該判定領域における画像の属性を第２の属性（イメージ）であると判定する。更に、Ｘ方向またはＹ方向のいずれかの方向に隣接して存在するインクの吐出を示す２値データの最大数が１である場合、該判定領域における画像の属性を第３の属性（極細線）であると判定する。

本実施形態では、上記のようにして判定された画像の属性に基づいて、第１の実施形態と同様にしてドット連結度を制御して記録を行う。具体的には、ある判定領域における２値データに対応する画像の属性が第１の属性（細線）であると判定された場合、図１５に示すマスクパターンを適用して該２値データを４回の走査に分配する。一方、ある判定領域における２値データに対応する画像の属性が第２の属性（イメージ）であると判定された場合、図１９に示すマスクパターンを適用して２値データを４回の走査に分配する。更に、ある判定領域における２値データに対応する画像の属性が第３の属性（極細線）であると判定された場合、図１４に示すマスクパターンを適用して２値データを４回の走査に分配する。

ここで、第１の属性（細線）に対応する図１５に示すマスクパターン１３１〜１３４のそれぞれにおける単位内の記録許容画素の数の平均は４である。また、第３の属性（極細線）に対応する図１４に示すマスクパターン１２１〜１２４のそれぞれにおける単位内の記録許容画素の数の平均は１である。更に、第２の属性（イメージ）に対応する図１９に示すマスクパターン１４１〜１４４のそれぞれにおける単位内の記録許容画素の数の平均は８である。

すなわち、本実施形態によれば、画像の属性が第３の属性（極細線）である場合にドット連結度を小さくし、第１の属性（細線）である場合にドット連結度を中程度にし、第２の属性（イメージ）である場合にドット連結度を大きくすることができる。これにより、画質および粒状感の低下をより効果的に抑制した記録を行うことが可能となる。

（第５の実施形態）
第１から第４の実施形態では、記録媒体上の単位領域に対して複数回の記録走査によって記録を行う、いわゆるマルチパス記録方式の記録装置における画像処理方法を記載した。

これに対し、本実施形態では、記録媒体の幅方向の全域に対応した長さを有するそれぞれのインクに対応する記録ヘッドを複数用い、記録ヘッドと記録媒体との相対的な記録走査を１回行うことで記録を行う記録装置における画像処理方法を記載する。

なお、前述した第１から第４の実施形態と同様の部分については説明を省略する。

図２０は、本実施形態に係る記録装置の構成を示す斜視図である。

６つの記録ヘッド２２０Ｋ、２２０Ｃ、２２０Ｍ、２２０Ｙは、それぞれ１つの記録ヘッドにつきブラックインク、シアンインク、マゼンタインク、イエローインクを吐出する所定数の吐出口（不図示）がＺ方向に配列された吐出口列（不図示）をそれぞれ４列ずつ有している。吐出口列のＺ方向の長さは、記録媒体３上のＺ方向の全域に記録を行うことが可能なように、記録媒体３のＺ方向の長さ以上である。

搬送ベルト４００は、記録媒体３を搬送するベルトである。また、搬送ベルト４００は給送部４０１と排送部４０２とによってＺ方向と交差するＷ方向に回転される。

記録媒体３は、給送部４０１により給送され、搬送ベルト４００によりＷ方向に搬送される。

この画像記録装置では、１回の記録走査で画像を完成することができるため、記録時間の短縮化を達成することが可能となる。

本実施形態では、図８に示す画像処理の過程と同様にして２値データを生成する。そして、ある判定領域に対応する画像の属性が第１の属性（細線）であると判定された場合、図１４（ａ）〜（ｄ）に示すマスクパターンを適用し、２値データを同じ色のインクを吐出する４つの吐出口列に対して分配する。一方、ある判定領域に対応する画像の属性が第２の属性（イメージ）であると判定された場合、図１５（ａ）〜（ｄ）に示すマスクパターンを適用し、２値データを同じ色のインクを吐出する４つの吐出口列に対して分配する。

以上の構成によれば、記録媒体上の単位領域に対して１回の記録走査にて記録を行う記録装置において、細線画像における画質の低下とイメージ画像における粒状感の低下の双方を抑制した記録を行うことが可能となる。

なお、本実施形態で用いた吐出口列のＺ方向の長さは記録媒体の幅に相当する長さであったが、短尺な吐出口列をＺ方向に複数配列することで長尺化を行った、いわゆるつなぎヘッドを記録ヘッドとして使用することも可能である。

なお、各実施形態では加熱により生じる発泡のエネルギーによりインクの吐出を行ういわゆるサーマルジェット型のインクジェット記録装置および記録方法について記載した。しかし、本発明はサーマルジェット型のインクジェット記録装置に限定されるものではない。例えば圧電素子を利用してインクの吐出を行ういわゆるピエゾ型のインクジェット記録装置等、様々な画像記録装置に対して有効に適用できる。

また、各実施形態ではシアン、マゼンタ、イエロー、ブラックのインクを使用する形態について記載したが、他の形態による実施も可能である。たとえば、ライトシアン、ライトマゼンタインクを用いる形態であっても良い。更に、ホワイトインクを使用する形態において、ホワイトインクを吐出する領域に対してカラーインクにて細線や文字を記録する場合、細線や文字の画質の低下は特に顕著なものとなる。そのため、ホワイトインクを使用する場合において特に好適に本発明の効果を得ることができる。

また、各実施形態には画像記録装置を用いた画像記録方法について記載したが、各実施形態に記載の画像記録方法を行うためのデータを生成する画像処理装置または画像処理方法、プログラムを画像記録装置とは別体に用意する形態にも適用できる。また、画像記録装置の一部に備える形態にも広く適用できることは言うまでもない。

３ 記録媒体
７ 記録ヘッド
１２１〜１２４ マスクパターン
１３１〜１３４ マスクパターン
３０２ ＲＯＭ

Claims (13)

1. インクを吐出する記録ヘッドの記録媒体上の単位領域に対する複数回の走査方向への相対的な走査のそれぞれによって、前記複数回の走査のそれぞれにおける前記単位領域内の複数の画素相当の画素領域のそれぞれに対するインクの吐出または非吐出を定める記録データにしたがって前記単位領域に画像を記録する記録制御手段と、
   前記単位領域を複数に分割してなる判定領域ごとに前記複数の判定領域のそれぞれに記録される画像の属性を判定する判定手段と、
   前記複数の判定領域内の複数の前記画素領域のそれぞれに対するインクの吐出または非吐出を定めた２値データを取得する取得手段と、
   それぞれインクの吐出を許容する記録許容画素とインクの吐出を許容しない非記録許容画素とが配置された、前記複数回の走査のそれぞれに対応する複数の第１のマスクパターンおよび複数の第２のマスクパターンと、前記取得手段により取得された前記２値データと、に基づいて、前記複数回の走査のそれぞれにおける記録に用いられる複数の前記記録データを生成する生成手段と、を有する画像記録装置であって、
   マスクパターン内の互いに隣接して配置された複数の記録許容画素により構成される記録許容画素群および他の記録許容画素と隣接しない記録許容画素のそれぞれを１つの単位とした場合において、前記複数の第２のマスクパターンのうちの１つのマスクパターンにおける前記単位内の前記記録許容画素の数の平均は、前記複数の第１のマスクパターンのうちの１つのマスクパターンにおける前記単位内の前記記録許容画素の数の平均よりも多く、
   前記生成手段は、前記判定手段により前記判定領域内に記録される画像の属性が第１の属性である場合に前記複数の第１のマスクパターンに基づいて前記複数の記録データを生成し、且つ、前記判定手段により前記判定領域内に記録される画像の属性が前記第１の属性と異なる第２の属性である場合に前記複数の第２のマスクパターンに基づいて前記複数の記録データを生成することを特徴とする画像記録装置。
2. 前記複数の第２のマスクパターンのそれぞれにおける前記単位内の前記記録許容画素の数の平均のそれぞれは、前記複数の第１のマスクパターンのそれぞれにおける前記単位内の前記記録許容画素の数の平均のいずれよりも多いことを特徴とする請求項１に記載の画像記録装置。
3. 前記複数の第１のマスクパターンのそれぞれに配置された前記記録許容画素の数は、互いにほぼ等しいことを特徴とする請求項１または２に記載の画像記録装置。
4. 前記複数の第２のマスクパターンのそれぞれに配置された前記記録許容画素の数は、互いにほぼ等しいことを特徴とする請求項１から３のいずれか１項に記載の画像記録装置。
5. 前記判定手段は、前記判定領域に記録される画像が文字画像または線画像である場合に前記判定領域に記録される画像の属性を前記第１の属性と判定し、前記判定領域に記録される画像がイメージ画像である場合に前記判定領域に記録される画像の属性を前記第２の属性と判定することを特徴とする請求項１から４のいずれか１項に記載の画像記録装置。
6. 前記判定領域に記録される画像に対応する空間周波数に関する情報を取得する第２の取得手段を更に有し、
   前記判定手段は、前記第２の取得手段により取得された情報が示す空間周波数のうちの所定の閾値以上の空間周波数における強度の積分値が前記所定の閾値より小さい空間周波数における強度の積分値以上である場合に前記判定領域に記録される画像の属性を前記第１の属性と判定し、前記第２の取得手段により取得された情報が示す空間周波数のうちの前記所定の閾値以上の空間周波数における強度の積分値が前記所定の閾値より小さい空間周波数における強度の積分値より小さい場合に前記判定領域に記録される画像の属性を前記第２の属性と判定することを特徴とする請求項１から５のいずれか１項に記載の画像記録装置。
7. 前記所定の閾値に関する情報を取得する第３の取得手段を更に有することを特徴とする請求項６に記載の画像記録装置。
8. 前記第３の取得手段は、前記第２のマスクパターンに対応する空間周波数に基づいて前記所定の閾値に関する情報を取得することを特徴とする請求項７に記載の画像記録装置。
9. 前記判定手段は、ページ記述言語に基づいて画像の属性を判定することを特徴とする請求項１から５のいずれか１項に記載の画像記録装置。
10. 前記判定手段は、ページ記述言語がビットマップ形式以外の形式で記述されている場合に前記判定領域に記録される画像の属性を前記第１の属性と判定し、ページ記述言語がビットマップ形式で記述されている場合に前記判定領域に記録される画像の属性を前記第２の属性と判定することを特徴とする請求項９に記載の画像記録装置。
11. インクを吐出する記録ヘッドの記録媒体上の単位領域に対する複数回の走査方向への相対的な走査のそれぞれによって、前記複数回の走査のそれぞれにおける前記単位領域内の複数の画素相当の画素領域のそれぞれに対するインクの吐出または非吐出を定める記録データにしたがって前記単位領域に画像を記録する画像記録方法であって、
    前記単位領域を複数に分割してなる判定領域ごとに前記複数の判定領域のそれぞれに記録される画像の属性を判定する判定し、
    前記複数の判定領域内の複数の前記画素領域のそれぞれに対するインクの吐出または非吐出を定めた２値データを取得し、
    それぞれインクの吐出を許容する記録許容画素とインクの吐出を許容しない非記録許容画素とが配置された、前記複数回の走査のそれぞれに対応する複数の第１のマスクパターンおよび複数の第２のマスクパターンと、前記取得手段により取得された前記２値データと、に基づいて、前記複数回の走査のそれぞれにおける記録に用いられる複数の前記記録データを生成する生成し、
    マスクパターン内の互いに隣接して配置された複数の記録許容画素により構成される記録許容画素群および他の記録許容画素と隣接しない記録許容画素のそれぞれを１つの単位とした場合において、前記複数の第２のマスクパターンのうちの１つのマスクパターンにおける前記単位内の前記記録許容画素の数の平均は、前記複数の第１のマスクパターンのうちの１つのマスクパターンにおける前記単位内の前記記録許容画素の数の平均よりも多く、
    前記判定領域内に記録される画像の属性が第１の属性である場合に前記複数の第１のマスクパターンに基づいて前記複数の記録データを生成し、且つ、前記判定領域内に記録される画像の属性が前記第１の属性と異なる第２の属性である場合に前記複数の第２のマスクパターンに基づいて前記複数の記録データを生成することを特徴とする画像記録方法。
12. インクを吐出する記録ヘッドの記録媒体上の単位領域に対する複数回の走査方向への相対的な走査のそれぞれによって、前記複数回の走査のそれぞれにおける前記単位領域内の複数の画素相当の画素領域のそれぞれに対するインクの吐出または非吐出を定める記録データを生成するために前記前記単位領域に記録する画像に対応する画像データを処理する画像処理装置であって、
    前記単位領域を複数に分割してなる判定領域ごとに前記複数の判定領域のそれぞれに記録される画像の属性を判定する判定手段と、
    前記画像データに基づいて前記複数の判定領域内の複数の前記画素領域のそれぞれに対するインクの吐出または非吐出を定めた２値データを取得する取得手段と、
    それぞれインクの吐出を許容する記録許容画素とインクの吐出を許容しない非記録許容画素とが配置された、前記複数回の走査のそれぞれに対応する複数の第１のマスクパターンおよび複数の第２のマスクパターンと、前記取得手段により取得された前記２値データと、に基づいて、前記複数回の走査のそれぞれにおける記録に用いられる複数の前記記録データを生成する生成手段と、を有し、
    マスクパターン内の互いに隣接して配置された複数の記録許容画素により構成される記録許容画素群および他の記録許容画素と隣接しない記録許容画素のそれぞれを１つの単位とした場合において、前記複数の第２のマスクパターンのうちの１つのマスクパターンにおける前記単位内の前記記録許容画素の数の平均は、前記複数の第１のマスクパターンのうちの１つのマスクパターンにおける前記単位内の前記記録許容画素の数の平均よりも多く、
    前記生成手段は、前記判定手段により前記判定領域内に記録される画像の属性が第１の属性である場合に前記複数の第１のマスクパターンに基づいて前記複数の記録データを生成し、且つ、前記判定手段により前記判定領域内に記録される画像の属性が前記第１の属性と異なる第２の属性である場合に前記複数の第２のマスクパターンに基づいて前記複数の記録データを生成することを特徴とする画像処理装置。
13. 同じ色のインクを吐出する吐出口列を複数有する記録ヘッドの記録媒体上の単位領域に対する走査方向への相対的な走査によって、前記複数の吐出口列のそれぞれにおける前記単位領域内の複数の画素相当の画素領域のそれぞれに対するインクの吐出または非吐出を定める記録データにしたがって前記単位領域に画像を記録する記録制御手段と、
    前記単位領域を複数に分割してなる判定領域ごとに前記複数の判定領域のそれぞれに記録される画像の属性を判定する判定手段と、
    前記複数の判定領域内の複数の前記画素領域のそれぞれに対するインクの吐出または非吐出を定めた２値データを取得する取得手段と、
    それぞれインクの吐出を許容する記録許容画素とインクの吐出を許容しない非記録許容画素とが配置された、前記複数の吐出口列のそれぞれに対応する複数の第１のマスクパターンおよび複数の第２のマスクパターンと、前記取得手段により取得された前記２値データと、に基づいて、前記複数の吐出口列のそれぞれにおける記録に用いられる複数の前記記録データを生成する生成手段と、を有する画像記録装置であって、
    マスクパターン内の互いに隣接して配置された複数の記録許容画素により構成される記録許容画素群および他の記録許容画素と隣接しない記録許容画素のそれぞれを１つの単位とした場合において、前記複数の第２のマスクパターンのうちの１つのマスクパターンにおける前記単位内の前記記録許容画素の数の平均は、前記複数の第１のマスクパターンのうちの１つのマスクパターンにおける前記単位内の前記記録許容画素の数の平均よりも多く、
    前記生成手段は、前記判定手段により前記判定領域内に記録される画像の属性が第１の属性である場合に前記複数の第１のマスクパターンに基づいて前記複数の記録データを生成し、且つ、前記判定手段により前記判定領域内に記録される画像の属性が前記第１の属性と異なる第２の属性である場合に前記複数の第２のマスクパターンに基づいて前記複数の記録データを生成することを特徴とする画像記録装置。
    

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