JP2015200692A - Electro-optic device, method for manufacturing electro-optic device, and electronic equipment - Google Patents

Electro-optic device, method for manufacturing electro-optic device, and electronic equipment Download PDF

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an electro-optic device capable of enhancing display qualities, a method for manufacturing an electro-optic device, and electronic equipment.SOLUTION: The electro-optic device includes a device substrate 10, a counter substrate 20 disposed to oppose to the device substrate 10 via a sealing material, a liquid crystal layer 15 sealed in a region enclosed by the sealing material, a pixel electrode 27 disposed between the device substrate 10 and the liquid crystal layer 15, a counter electrode 31 disposed between the counter substrate 20 and the liquid crystal layer 15, a first inorganic alignment film 28 disposed to cover the pixel electrode 27, a second inorganic alignment film 32 disposed to cover the counter electrode 31, a first organic film 28a covering the first inorganic alignment film 28, and a second organic film 32a covering the second inorganic alignment film 32. The number of carbon atoms in a source material included in a surface treating agent used for forming the second organic film 32a is larger than the number of carbon atoms in a source material included in a surface treating agent used for forming the first organic film 28a.

Description

本発明は、電気光学装置、電気光学装置の製造方法、及び電子機器に関する。   The present invention relates to an electro-optical device, a method for manufacturing the electro-optical device, and an electronic apparatus.

上記電気光学装置として、例えば、画素電極をスイッチング制御する素子としてトランジスターを画素ごとに備えたアクティブ駆動方式の液晶装置が知られている。液晶装置は、例えば、直視型ディスプレイやライトバルブなどにおいて用いられている。   As the electro-optical device, for example, an active drive type liquid crystal device including a transistor for each pixel as an element for controlling switching of a pixel electrode is known. Liquid crystal devices are used in, for example, direct view displays and light valves.

液晶装置は、例えば、画素電極が形成された素子基板と、共通電極が形成された対向基板との間に液晶層が挟持されている。このような液晶装置は、画素電極と液晶層との間の電荷移動量と、共通電極と液晶層との間の電荷移動量とにおいて差が生じやすい。これにより、プラス方向又はマイナス方向にフリッカーミニマムとなる最適Vcomがシフトし、その結果、フリッカーが生じるという問題がある。   In the liquid crystal device, for example, a liquid crystal layer is sandwiched between an element substrate on which a pixel electrode is formed and a counter substrate on which a common electrode is formed. In such a liquid crystal device, a difference is likely to occur between the amount of charge transfer between the pixel electrode and the liquid crystal layer and the amount of charge transfer between the common electrode and the liquid crystal layer. As a result, there is a problem that the optimum Vcom which becomes the flicker minimum shifts in the plus direction or the minus direction, and as a result, flicker occurs.

そこで、特許文献1では、金属電極からなる画素電極のみに表面処理を施し、画素電極と液晶層との間の電荷移動量と、共通電極と液晶層との間の電荷移動量とを合わせて、フリッカーなど表示品質が低下することを抑えている方法が開示されている。   Therefore, in Patent Document 1, only the pixel electrode made of a metal electrode is subjected to surface treatment, and the charge transfer amount between the pixel electrode and the liquid crystal layer is combined with the charge transfer amount between the common electrode and the liquid crystal layer. In addition, a method of suppressing display quality deterioration such as flicker is disclosed.

特開2011−209547号公報JP 2011-209547 A

しかしながら、電極の材質だけでなく、画素電極と共通電極との平面的な面積差によっても電荷移動量が変わることから、フリッカーが生じるなど表示品質が低下するという課題がある。   However, since the amount of charge transfer varies depending not only on the material of the electrode but also on the planar area difference between the pixel electrode and the common electrode, there is a problem that display quality deteriorates such as flickering.

本発明の態様は、上記課題の少なくとも一部を解決するためになされたものであり、以下の形態又は適用例として実現することが可能である。   An aspect of the present invention has been made to solve at least a part of the above problems, and can be realized as the following forms or application examples.

[適用例1]本適用例に係る電気光学装置は、素子基板と、前記素子基板とシール材を介して対向するように配置された対向基板と、前記シール材で囲まれた領域に封入された電気光学層と、前記素子基板と前記電気光学層との間に配置された画素電極と、前記対向基板と前記電気光学層との間に配置された対向電極と、前記画素電極を覆うように配置された第1配向膜と、前記対向電極を覆うように配置された第2配向膜と、前記第1配向膜を覆うように配置された第1有機膜と、前記第2配向膜を覆うように配置された第2有機膜と、を含み、前記第1有機膜の分子が含む炭素数と比較して、前記第2有機膜の分子が含む炭素数が多いことを特徴とする。この電気光学装置は、前記第1有機膜を形成するための表面処理剤が含む原料の分子の炭素数と比較して、前記第2有機膜を形成するための表面処理剤が含む原料の分子の炭素数が多いというものである。   Application Example 1 An electro-optical device according to this application example is sealed in an element substrate, a counter substrate disposed so as to face the element substrate via a sealing material, and a region surrounded by the sealing material. An electro-optical layer, a pixel electrode disposed between the element substrate and the electro-optical layer, a counter electrode disposed between the counter substrate and the electro-optical layer, and covering the pixel electrode A first alignment film, a second alignment film disposed so as to cover the counter electrode, a first organic film disposed so as to cover the first alignment film, and the second alignment film. And a second organic film disposed so as to cover, the number of carbon atoms contained in the molecules of the second organic film is larger than the number of carbon atoms contained in the molecules of the first organic film. In this electro-optical device, the raw material molecules contained in the surface treatment agent for forming the second organic film are compared with the carbon number of the raw material molecules contained in the surface treatment agent for forming the first organic film. It is said that there are many carbon atoms.

本適用例によれば、マイナスイオンの吸着量は炭素数に比例するので、第2有機膜を形成するための表面処理剤が含む原料の分子の炭素数を多くすることにより、第2有機膜の分子の炭素数が多くなる。よって、第2有機膜に多くのマイナスイオンを吸着させることが可能となる。よって、透過型の電気光学装置のように、電極の材質が同じであり、電極の面積に差がある場合、具体的には、画素電極と比較して対向電極の開口面積が大きい場合、対向電極側に多くのマイナスイオンを集めることが可能となり、画素電極と液晶層との間の電荷移動量と、対向電極と液晶層との電荷移動量とを、略等しくすることができる。言い換えれば、配向膜へのイオンの吸着量の偏りを補正することができる。これにより、Vcomシフトを抑えることが可能となり、フリッカーが生じるなど表示品質が低下することを抑えることができる。   According to this application example, since the adsorption amount of negative ions is proportional to the number of carbon atoms, the second organic film can be obtained by increasing the number of carbon atoms of the raw material included in the surface treatment agent for forming the second organic film. The number of carbon atoms in the molecule increases. Therefore, it becomes possible to adsorb many negative ions on the second organic film. Therefore, when the electrode material is the same and there is a difference in the electrode area as in the transmissive electro-optical device, specifically, when the opening area of the counter electrode is larger than that of the pixel electrode, Many negative ions can be collected on the electrode side, and the amount of charge transfer between the pixel electrode and the liquid crystal layer can be made substantially equal to the amount of charge transfer between the counter electrode and the liquid crystal layer. In other words, it is possible to correct a deviation in the amount of ions adsorbed on the alignment film. As a result, it is possible to suppress the Vcom shift, and it is possible to suppress the display quality from being deteriorated such as the occurrence of flicker.

[適用例2]本適用例に係る電気光学装置は、素子基板と、前記素子基板とシール材を介して対向するように配置された対向基板と、前記シール材で囲まれた領域に封入された電気光学層と、前記素子基板と前記電気光学層との間に配置された画素電極と、前記対向基板と前記電気光学層との間に配置された対向電極と、前記画素電極を覆うように配置された第1配向膜と、前記対向電極を覆うように配置された第2配向膜と、前記第1配向膜を覆うように配置された第1有機膜と、前記第2配向膜を覆うように配置された第2有機膜と、を含み、前記第1有機膜の分子が含む炭素数と比較して、前記第2有機膜の分子が含む炭素数が少ないことを特徴とする。この電気光学装置は、前記第1有機膜を形成するための表面処理剤が含む原料の分子の炭素数と比較して、前記第2有機膜を形成するための表面処理剤が含む原料の分子の炭素数が少ないというものである。   Application Example 2 An electro-optical device according to this application example is enclosed in an element substrate, a counter substrate disposed so as to face the element substrate via a sealing material, and a region surrounded by the sealing material. An electro-optical layer, a pixel electrode disposed between the element substrate and the electro-optical layer, a counter electrode disposed between the counter substrate and the electro-optical layer, and covering the pixel electrode A first alignment film, a second alignment film disposed so as to cover the counter electrode, a first organic film disposed so as to cover the first alignment film, and the second alignment film. And a second organic film disposed so as to cover, the number of carbon atoms contained in the molecules of the second organic film is smaller than the number of carbon atoms contained in the molecules of the first organic film. In this electro-optical device, the raw material molecules contained in the surface treatment agent for forming the second organic film are compared with the carbon number of the raw material molecules contained in the surface treatment agent for forming the first organic film. The number of carbons is small.

本適用例によれば、マイナスイオンの吸着量は炭素数に比例するので、第2有機膜を形成するための表面処理剤が含む原料の炭素数が少ない、つまり第1有機膜の分子の炭素数を多くすることにより、第1有機膜に多くのマイナスイオンを吸着させることが可能となる。よって、反射型の電気光学装置のように、電極の材質が異なる場合、具体的には、画素電極に金属材料を用いて、対向電極にITOを用いた場合、画素電極側に多くのマイナスイオンを集めることが可能となり、画素電極と液晶層との間の電荷移動量と、対向電極と液晶層との電荷移動量とを、略等しくすることができる。言い換えれば、配向膜へのイオンの吸着量の偏りを補正することができる。これにより、フリッカーが生じるなど表示品質が低下することを抑えることができる。   According to this application example, since the amount of negative ions adsorbed is proportional to the number of carbon atoms, the surface treatment agent for forming the second organic film contains a small number of carbon atoms, that is, the carbon atoms of the molecules of the first organic film. By increasing the number, it becomes possible to adsorb many negative ions on the first organic film. Therefore, when the material of the electrode is different as in the reflection type electro-optical device, specifically, when a metal material is used for the pixel electrode and ITO is used for the counter electrode, many negative ions are formed on the pixel electrode side. The charge transfer amount between the pixel electrode and the liquid crystal layer and the charge transfer amount between the counter electrode and the liquid crystal layer can be made substantially equal. In other words, it is possible to correct a deviation in the amount of ions adsorbed on the alignment film. Thereby, it can suppress that display quality falls, such as the occurrence of flicker.

[適用例3]上記適用例に係る電気光学装置において、前記第2有機膜の分子が含む炭素数は、前記第1有機膜の分子が含む炭素数より1〜3多いことが好ましい。これにより、前記第2有機膜の分子が含む炭素数は、前記第1有機膜の分子が含む炭素数より1〜3多くなる。   Application Example 3 In the electro-optical device according to the application example described above, the number of carbon atoms contained in the molecules of the second organic film is preferably 1 to 3 greater than the number of carbon atoms contained in the molecules of the first organic film. As a result, the number of carbon atoms contained in the molecules of the second organic film is 1 to 3 greater than the number of carbon atoms contained in the molecules of the first organic film.

本適用例によれば、第2有機膜を形成するための表面処理剤が含む原料の分子の炭素数が多いので、第2有機膜の分子の炭素数が多くなる。よって、第2有機膜に多くのマイナスイオンを吸着させることが可能となる。よって、透過型の電気光学装置のように、電極の材質が同じであり、電極の面積に差がある場合、具体的には、画素電極と比較して対向電極の開口面積が大きい場合、対向電極側に多くのマイナスイオンを集めることが可能となり、画素電極と液晶層との間の電荷移動量と、対向電極と液晶層との電荷移動量とを、略等しくすることができる。言い換えれば、配向膜へのイオンの吸着量の偏りを補正することができる。これにより、フリッカーが生じるなど表示品質が低下することを抑えることができる。   According to this application example, since the surface treatment agent for forming the second organic film includes many raw material molecules, the number of carbon atoms in the second organic film increases. Therefore, it becomes possible to adsorb many negative ions on the second organic film. Therefore, when the electrode material is the same and there is a difference in the electrode area as in the transmissive electro-optical device, specifically, when the opening area of the counter electrode is larger than that of the pixel electrode, Many negative ions can be collected on the electrode side, and the amount of charge transfer between the pixel electrode and the liquid crystal layer can be made substantially equal to the amount of charge transfer between the counter electrode and the liquid crystal layer. In other words, it is possible to correct a deviation in the amount of ions adsorbed on the alignment film. Thereby, it can suppress that display quality falls, such as the occurrence of flicker.

[適用例4]上記適用例に係る電気光学装置において、前記第1有機膜の分子が含む炭素数は、前記第2有機膜の分子が含む炭素数より5〜10多いことが好ましい。これにより、前記第1有機膜の分子が含む炭素数は、前記第2有機膜の分子が含む炭素数より5〜10多くなる。   Application Example 4 In the electro-optical device according to the application example described above, the number of carbon atoms included in the molecules of the first organic film is preferably 5 to 10 greater than the number of carbon atoms included in the molecules of the second organic film. As a result, the number of carbon atoms contained in the molecules of the first organic film is 5 to 10 more than the number of carbon atoms contained in the molecules of the second organic film.

本適用例によれば、第1有機膜を形成するための表面処理剤が含む分子の原料の炭素数が多いので、第1有機膜の分子の炭素数が多くなる。よって、第1有機膜に多くのマイナスイオンを吸着させることが可能となる。よって、反射型の電気光学装置のように、電極の材質が異なる場合、具体的には、画素電極に金属材料を用いて、対向電極にITOを用いた場合、画素電極側に多くのマイナスイオンを集めることが可能となり、画素電極と液晶層との間の電荷移動量と、対向電極と液晶層との電荷移動量とを、略等しくすることができる。言い換えれば、配向膜へのイオンの吸着量の偏りを補正することができる。これにより、フリッカーが生じるなど表示品質が低下することを抑えることができる。   According to this application example, the number of carbon atoms of the molecular raw material included in the surface treatment agent for forming the first organic film is large, so the number of carbon atoms of the molecules of the first organic film is large. Therefore, it becomes possible to adsorb many negative ions on the first organic film. Therefore, when the material of the electrode is different as in the reflection type electro-optical device, specifically, when a metal material is used for the pixel electrode and ITO is used for the counter electrode, many negative ions are formed on the pixel electrode side. The charge transfer amount between the pixel electrode and the liquid crystal layer and the charge transfer amount between the counter electrode and the liquid crystal layer can be made substantially equal. In other words, it is possible to correct a deviation in the amount of ions adsorbed on the alignment film. Thereby, it can suppress that display quality falls, such as the occurrence of flicker.

[適用例5]上記適用例に係る電気光学装置において、前記第1配向膜及び前記第2配向膜は、無機配向膜であり、前記第1有機膜は、シランカップリング材から生成される物質を含むことが好ましい。   Application Example 5 In the electro-optical device according to the application example, the first alignment film and the second alignment film are inorganic alignment films, and the first organic film is a substance generated from a silane coupling material. It is preferable to contain.

本適用例によれば、第1配向膜及び第2配向膜が無機配向膜であり、無機配向膜の表面にシラノール基が存在するので、シラノール基とシランカップリング材の加水分解基とを反応させることが可能となり、無機配向膜の表面にシランカップリング材から生成される物質を付与することができる。その結果、無機配向膜に表面処理を施すことが可能となり、表示品質が低下することを抑えることができる。   According to this application example, since the first alignment film and the second alignment film are inorganic alignment films and silanol groups exist on the surface of the inorganic alignment film, the silanol groups react with the hydrolysis groups of the silane coupling material. Thus, a substance generated from the silane coupling material can be applied to the surface of the inorganic alignment film. As a result, surface treatment can be performed on the inorganic alignment film, and display quality can be prevented from being deteriorated.

[適用例6]本適用例に係る電気光学装置の製造方法は、画素電極を覆うように配置された第1配向膜に第1の表面処理を行い、第1有機膜を形成する工程と、対向電極を覆うように配置された第2配向膜に第2の表面処理を行い、第2有機膜を形成する工程と、を含み、前記第1の表面処理を行い、前記第1有機膜を形成する工程に用いる第1の表面処理剤が含む原料の分子の炭素数と比較して、前記第2の表面処理を行い、前記第2有機膜を形成する工程に用いる第2の表面処理剤が含む原料の分子の炭素数が多いことを特徴とする。この製造方法は、前記第1配向膜の上に第1有機膜を表面処理により形成する工程と、前記第2配向膜の上に第2有機膜を表面処理により形成する工程と、を有し、前記表面処理する工程は、前記第1有機膜を形成するための表面処理剤が含む原料の分子の炭素数と比較して、前記第2有機膜を形成するための表面処理剤が含む原料の分子の炭素数が多くなるように表面処理をすることを特徴とする。   Application Example 6 In the electro-optical device manufacturing method according to this application example, the first surface treatment is performed on the first alignment film disposed so as to cover the pixel electrode, and the first organic film is formed. A second surface treatment is performed on the second alignment film disposed so as to cover the counter electrode, and a second organic film is formed. The first surface treatment is performed, and the first organic film is formed. The second surface treatment agent used in the step of forming the second organic film by performing the second surface treatment as compared with the number of carbon atoms of the raw material molecules contained in the first surface treatment agent used in the forming step The raw material contains a large number of carbon atoms. The manufacturing method includes a step of forming a first organic film on the first alignment film by surface treatment, and a step of forming a second organic film on the second alignment film by surface treatment. In the surface treatment step, the raw material contained in the surface treatment agent for forming the second organic film is compared with the number of carbon atoms of the raw material molecules contained in the surface treatment agent for forming the first organic film. The surface treatment is performed so that the number of carbon atoms of the molecule increases.

本適用例によれば、第2有機膜を形成するための表面処理剤が含む原料の分子の炭素数が多くなるように表面処理をするので、例えば、透過型の電気光学装置のように、電極の材質が同じであり、電極の面積に差がある場合、具体的には、画素電極と比較して対向電極の開口面積が大きい場合、第2有機膜に多くのマイナスイオンを吸着させることが可能となる。よって、画素電極と液晶層との間の電荷移動量と、対向電極と液晶層との電荷移動量とを、略等しくすることができる。言い換えれば、配向膜へのイオンの吸着量の偏りを補正することができる。これにより、フリッカーが生じるなど表示品質が低下することを抑えることができる。   According to this application example, the surface treatment is performed so that the number of carbon atoms of the raw material included in the surface treatment agent for forming the second organic film is increased. For example, like a transmission type electro-optical device, When the electrode material is the same and there is a difference in the electrode area, specifically, when the opening area of the counter electrode is larger than that of the pixel electrode, more negative ions are adsorbed to the second organic film. Is possible. Therefore, the amount of charge transfer between the pixel electrode and the liquid crystal layer and the amount of charge transfer between the counter electrode and the liquid crystal layer can be made substantially equal. In other words, it is possible to correct a deviation in the amount of ions adsorbed on the alignment film. Thereby, it can suppress that display quality falls, such as the occurrence of flicker.

[適用例7]本適用例に係る電気光学装置の製造方法は、画素電極を覆うように配置された第1配向膜に第1の表面処理を行い、第1有機膜を形成する工程と、対向電極を覆うように配置された第2配向膜に第2の表面処理を行い、第2有機膜を形成する工程と、を含み、前記第1の表面処理を行い、前記第1有機膜を形成する工程に用いる第1の表面処理剤が含む原料の分子の炭素数と比較して、前記第2の表面処理を行い、前記第2有機膜を形成する工程に用いる第2の表面処理剤が含む原料の分子の炭素数が少ないことを特徴とする。この製造方法は、前記第1配向膜の上に第1有機膜を表面処理により形成する工程と、前記第2配向膜の上に第2有機膜を表面処理により形成する工程と、を有し、前記表面処理する工程は、前記第1有機膜を形成するための表面処理剤が含む原料の炭素数と比較して、前記第2有機膜を形成するための表面処理剤が含む原料の炭素数が少なくなるように表面処理をすることを特徴とする。   Application Example 7 In the electro-optical device manufacturing method according to this application example, the first surface treatment is performed on the first alignment film disposed so as to cover the pixel electrode, and the first organic film is formed. A second surface treatment is performed on the second alignment film disposed so as to cover the counter electrode, and a second organic film is formed. The first surface treatment is performed, and the first organic film is formed. The second surface treatment agent used in the step of forming the second organic film by performing the second surface treatment as compared with the number of carbon atoms of the raw material molecules contained in the first surface treatment agent used in the forming step The number of carbon atoms in the raw material molecules contained in is small. The manufacturing method includes a step of forming a first organic film on the first alignment film by surface treatment, and a step of forming a second organic film on the second alignment film by surface treatment. The surface treatment step is performed by using the raw material carbon contained in the surface treatment agent for forming the second organic film in comparison with the number of carbon atoms in the raw material contained in the surface treatment agent for forming the first organic film. Surface treatment is performed so that the number is reduced.

本適用例によれば、第2有機膜を形成するための表面処理剤が含む原料の分子の炭素数が少ない、つまり第1有機膜の分子の炭素数が多くなるように表面処理をするので、例えば、反射型の電気光学装置のように、電極の材質が異なる場合、具体的には、画素電極に金属材料を用いて、対向電極にITOを用いた場合、第1有機膜に多くのマイナスイオンを吸着させることが可能となる。よって、画素電極と液晶層との間の電荷移動量と、対向電極と液晶層との電荷移動量とを、略等しくすることができる。言い換えれば、配向膜へのイオンの吸着量の偏りを補正することができる。これにより、フリッカーが生じるなど表示品質が低下することを抑えることができる。   According to this application example, the surface treatment is performed so that the number of carbon atoms of the raw material molecules included in the surface treatment agent for forming the second organic film is small, that is, the number of carbon atoms of the molecules of the first organic film is increased. For example, when the material of the electrode is different as in a reflective electro-optical device, specifically, when a metal material is used for the pixel electrode and ITO is used for the counter electrode, a large amount of the first organic film is used. Negative ions can be adsorbed. Therefore, the amount of charge transfer between the pixel electrode and the liquid crystal layer and the amount of charge transfer between the counter electrode and the liquid crystal layer can be made substantially equal. In other words, it is possible to correct a deviation in the amount of ions adsorbed on the alignment film. Thereby, it can suppress that display quality falls, such as the occurrence of flicker.

[適用例8]上記適用例に係る電気光学装置の製造方法において、前記第1配向膜及び前記第2配向膜は、無機配向膜であり、前記第1の表面処理及び前記第2の表面処理は、シランカップリング処理であることが好ましい。   Application Example 8 In the method for manufacturing an electro-optical device according to the application example, the first alignment film and the second alignment film are inorganic alignment films, and the first surface treatment and the second surface treatment are performed. Is preferably a silane coupling treatment.

本適用例によれば、第1配向膜及び第2配向膜が無機配向膜であり、無機配向膜の表面にシラノール基が存在するので、シラノール基とシランカップリング材の加水分解基とを反応させることが可能となり、無機配向膜の表面にシランカップリング材から生成された物質を付与することができる。その結果、無機配向膜に表面処理を施すことが可能となり、表示品質が低下することを抑えることができる。   According to this application example, since the first alignment film and the second alignment film are inorganic alignment films and silanol groups exist on the surface of the inorganic alignment film, the silanol groups react with the hydrolysis groups of the silane coupling material. Thus, a substance generated from the silane coupling material can be applied to the surface of the inorganic alignment film. As a result, surface treatment can be performed on the inorganic alignment film, and display quality can be prevented from being deteriorated.

[適用例9]本適用例に係る電子機器は、上記電気光学装置を備えていることを特徴とする。   Application Example 9 Electronic equipment according to this application example includes the electro-optical device.

本適用例によれば、上記電気光学装置を備えているので、表示特性を向上させることが可能な電子機器を提供することができる。   According to this application example, since the electro-optical device is provided, an electronic apparatus capable of improving display characteristics can be provided.

液晶装置の構成を示す模式平面図。FIG. 2 is a schematic plan view illustrating a configuration of a liquid crystal device. 図1に示す液晶装置のH−H’線に沿う模式断面図。FIG. 2 is a schematic cross-sectional view taken along the line H-H ′ of the liquid crystal device illustrated in FIG. 1. 液晶装置の電気的な構成を示す等価回路図。FIG. 3 is an equivalent circuit diagram illustrating an electrical configuration of the liquid crystal device. 液晶装置のうち主に画素の構造を示す模式断面図。FIG. 3 is a schematic cross-sectional view mainly illustrating a pixel structure in a liquid crystal device. 液晶装置のうち主に無機配向膜の構成、及び有機膜の構成を示す模式断面図。The schematic cross section which mainly shows the structure of an inorganic alignment film and the structure of an organic film among liquid crystal devices. 液晶装置の製造方法を工程順に示すフローチャート。5 is a flowchart showing a method for manufacturing a liquid crystal device in the order of steps. 液晶装置の製造方法のうち一部の製造方法を工程順に示す模式断面図。FIG. 4 is a schematic cross-sectional view showing a part of the manufacturing method of the liquid crystal device in the order of steps. 液晶装置の製造方法のうち一部の製造方法を工程順に示す模式断面図。FIG. 4 is a schematic cross-sectional view showing a part of the manufacturing method of the liquid crystal device in the order of steps. CVD装置の構造を示す模式図。The schematic diagram which shows the structure of CVD apparatus. 液晶装置を備えた投射型表示装置の構成を示す概略図。Schematic which shows the structure of the projection type display apparatus provided with the liquid crystal device. 変形例の液晶装置の構造を示す模式断面図。FIG. 9 is a schematic cross-sectional view illustrating a structure of a liquid crystal device according to a modification.

以下、本発明を具体化した実施形態について図面に従って説明する。なお、使用する図面は、説明する部分が認識可能な状態となるように、適宜拡大または縮小して表示している。   DESCRIPTION OF EXEMPLARY EMBODIMENTS Hereinafter, embodiments of the invention will be described with reference to the drawings. Note that the drawings to be used are appropriately enlarged or reduced so that the part to be described can be recognized.

なお、以下の形態において、例えば「基板上に」と記載された場合、基板の上に接するように配置される場合、または基板の上に他の構成物を介して配置される場合、または基板の上に一部が接するように配置され、一部が他の構成物を介して配置される場合を表すものとする。   In the following embodiments, for example, when “on the substrate” is described, the substrate is disposed so as to be in contact with the substrate, or is disposed on the substrate via another component, or the substrate. It is assumed that a part is arranged so as to be in contact with each other and a part is arranged via another component.

本実施形態では、電気光学装置として、薄膜トランジスター(TFT:Thin Film Transistor)を画素のスイッチング素子として備えたアクティブマトリックス型の液晶装置を例に挙げて説明する。この液晶装置は、例えば、投射型表示装置(液晶プロジェクター)の光変調素子(液晶ライトバルブ)として好適に用いることができるものである。   In the present embodiment, an active matrix liquid crystal device including a thin film transistor (TFT) as a pixel switching element will be described as an example of an electro-optical device. This liquid crystal device can be suitably used, for example, as a light modulation element (liquid crystal light valve) of a projection display device (liquid crystal projector).

<液晶装置の構成>
図1は、液晶装置の構成を示す模式平面図である。図2は、図1に示す液晶装置のH−H’線に沿う模式断面図である。図3は、液晶装置の電気的な構成を示す等価回路図である。以下、液晶装置の構成を、図1〜図3を参照しながら説明する。
<Configuration of liquid crystal device>
FIG. 1 is a schematic plan view showing the configuration of the liquid crystal device. 2 is a schematic cross-sectional view taken along the line HH ′ of the liquid crystal device shown in FIG. FIG. 3 is an equivalent circuit diagram showing an electrical configuration of the liquid crystal device. Hereinafter, the configuration of the liquid crystal device will be described with reference to FIGS.

図1及び図2に示すように、本実施形態の液晶装置100は、対向するように配置された素子基板10(第1基板)および対向基板20(第2基板)と、これら一対の基板10,20によって挟持された電気光学層としての液晶層15とを有する。素子基板10を構成する基板としての第1基材10a、および対向基板20を構成する第2基材20aは、例えば、ガラス基板、石英基板などの透明基板が用いられている。   As shown in FIGS. 1 and 2, the liquid crystal device 100 according to the present embodiment includes an element substrate 10 (first substrate) and a counter substrate 20 (second substrate) arranged to face each other, and the pair of substrates 10. , 20 and a liquid crystal layer 15 as an electro-optical layer. As the first base material 10a as the substrate constituting the element substrate 10 and the second base material 20a constituting the counter substrate 20, for example, a transparent substrate such as a glass substrate or a quartz substrate is used.

素子基板10は対向基板20よりも大きく、両基板10,20は、対向基板20の外周に沿って配置されたシール材14を介して接合されている。平面視で環状に設けられたシール材14の内側で、素子基板10は対向基板20の間に正または負の誘電異方性を有する液晶が封入されて液晶層15を構成している。シール材14は、例えば熱硬化性又は紫外線硬化性のエポキシ樹脂などの接着剤が採用されている。シール材14には、一対の基板の間隔を一定に保持するためのスペーサー(図示省略)が混入されている。   The element substrate 10 is larger than the counter substrate 20, and both the substrates 10, 20 are bonded together via a seal material 14 disposed along the outer periphery of the counter substrate 20. In the element substrate 10, liquid crystal having positive or negative dielectric anisotropy is sealed between the opposing substrates 20 inside the sealing material 14 provided in an annular shape in plan view, thereby forming a liquid crystal layer 15. For the sealing material 14, for example, an adhesive such as a thermosetting or ultraviolet curable epoxy resin is employed. Spacers (not shown) are mixed in the sealing material 14 to keep the distance between the pair of substrates constant.

シール材14の内縁より内側には、複数の画素Pが配列した表示領域Eが設けられている。表示領域Eは、表示に寄与する複数の画素Pに加えて、複数の画素Pを囲むように配置されたダミー画素を含むとしてもよい。また、図1及び図2では図示を省略したが、表示領域Eにおいて複数の画素Pをそれぞれ平面的に区分する遮光膜(ブラックマトリックス:BM)が対向基板20に設けられている。   A display area E in which a plurality of pixels P are arranged is provided inside the inner edge of the sealing material 14. The display area E may include dummy pixels arranged so as to surround the plurality of pixels P in addition to the plurality of pixels P contributing to display. Although not shown in FIGS. 1 and 2, a light shielding film (black matrix: BM) for planarly dividing the plurality of pixels P in the display area E is provided on the counter substrate 20.

素子基板10の1辺部に沿ったシール材14と該1辺部との間に、データ線駆動回路22が設けられている。また、該1辺部に対向する他の1辺部に沿ったシール材14と表示領域Eとの間に、検査回路25が設けられている。さらに、該1辺部と直交し互いに対向する他の2辺部に沿ったシール材14と表示領域Eとの間に走査線駆動回路24が設けられている。該1辺部と対向する他の1辺部に沿ったシール材14と検査回路25との間には、2つの走査線駆動回路24を繋ぐ複数の配線29が設けられている。   A data line driving circuit 22 is provided between the sealing material 14 along one side of the element substrate 10 and the one side. Further, an inspection circuit 25 is provided between the sealing material 14 and the display area E along the other one side facing the one side. Further, a scanning line driving circuit 24 is provided between the sealing material 14 and the display area E along the other two sides that are orthogonal to the one side and face each other. A plurality of wirings 29 connecting the two scanning line driving circuits 24 are provided between the sealing material 14 and the inspection circuit 25 along the other one side facing the one side.

対向基板20における環状に配置されたシール材14と表示領域Eとの間には、遮光部材としての遮光膜18(見切り部)が設けられている。遮光膜18は、例えば、遮光性の金属あるいは金属酸化物などからなり、遮光膜18の内側が複数の画素Pを有する表示領域Eとなっている。なお、図1では図示を省略したが、表示領域Eにおいても複数の画素Pを平面的に区分する遮光膜が設けられている。   A light shielding film 18 (parting part) as a light shielding member is provided between the sealing material 14 arranged in a ring shape on the counter substrate 20 and the display region E. The light shielding film 18 is made of, for example, a light shielding metal or metal oxide, and the inside of the light shielding film 18 is a display area E having a plurality of pixels P. Although not shown in FIG. 1, a light shielding film that divides a plurality of pixels P in a plane is also provided in the display area E.

これらデータ線駆動回路22、走査線駆動回路24に繋がる配線は、該1辺部に沿って配列した複数の外部接続用端子61に接続されている。以降、該1辺部に沿った方向をX方向とし、該1辺部と直交し互いに対向する他の2辺部に沿った方向をY方向として説明する。   Wirings connected to the data line driving circuit 22 and the scanning line driving circuit 24 are connected to a plurality of external connection terminals 61 arranged along the one side. Hereinafter, the direction along the one side will be referred to as the X direction, and the direction along the other two sides orthogonal to the one side and facing each other will be described as the Y direction.

図2に示すように、第1基材10aの液晶層15側の表面には、画素Pごとに設けられた透光性の画素電極27およびスイッチング素子である薄膜トランジスター(TFT:Thin Film Transistor、以降、「TFT30」と呼称する)と、信号配線と、これらを覆う配向膜28とが形成されている。   As shown in FIG. 2, on the surface of the first base material 10a on the liquid crystal layer 15 side, a transparent pixel electrode 27 provided for each pixel P and a thin film transistor (TFT: Thin Film Transistor, which is a switching element) are provided. Hereinafter, it is referred to as “TFT 30”), signal wirings, and an alignment film 28 covering them.

また、TFT30における半導体層に光が入射してスイッチング動作が不安定になることを防ぐ遮光構造が採用されている。本発明における素子基板10は、少なくとも画素電極27、TFT30、配向膜28を含むものである。   In addition, a light shielding structure is employed that prevents light from entering the semiconductor layer in the TFT 30 to make the switching operation unstable. The element substrate 10 in the present invention includes at least the pixel electrode 27, the TFT 30, and the alignment film 28.

対向基板20の液晶層15側の表面には、遮光膜18と、これを覆うように成膜された絶縁膜33と、絶縁膜33を覆うように設けられた対向電極31と、対向電極31を覆う配向膜32とが設けられている。本発明における対向基板20は、少なくとも絶縁膜33、対向電極31、配向膜32を含むものである。   On the surface of the counter substrate 20 on the liquid crystal layer 15 side, the light shielding film 18, the insulating film 33 formed so as to cover it, the counter electrode 31 provided so as to cover the insulating film 33, and the counter electrode 31 And an alignment film 32 is provided. The counter substrate 20 in the present invention includes at least an insulating film 33, a counter electrode 31, and an alignment film 32.

遮光膜18は、図1に示すように、表示領域Eを取り囲むと共に、平面的に走査線駆動回路24、検査回路25と重なる位置に設けられている(図示簡略)。これにより対向基板20側からこれらの駆動回路を含む周辺回路に入射する光を遮蔽して、周辺回路が光によって誤動作することを防止する役目を果たしている。また、不必要な迷光が表示領域Eに入射しないように遮蔽して、表示領域Eの表示における高いコントラストを確保している。   As shown in FIG. 1, the light shielding film 18 surrounds the display area E and is provided at a position where the scanning line driving circuit 24 and the inspection circuit 25 overlap in a plan view (illustration is simplified). Thus, the light incident on the peripheral circuit including these drive circuits from the counter substrate 20 side is shielded, and the peripheral circuit is prevented from malfunctioning due to the light. Further, unnecessary stray light is shielded from entering the display area E, and high contrast in the display of the display area E is ensured.

絶縁膜33は、例えば酸化シリコンなどの無機材料からなり、光透過性を有して遮光膜18を覆うように設けられている。このような絶縁膜33の形成方法としては、例えばプラズマCVD(Chemical Vapor Deposition)法などを用いて成膜する方法が挙げられる。   The insulating film 33 is made of, for example, an inorganic material such as silicon oxide, and is provided so as to cover the light shielding film 18 with optical transparency. As a method for forming such an insulating film 33, for example, a method of forming a film using a plasma CVD (Chemical Vapor Deposition) method or the like can be cited.

対向電極31は、例えばITOなどの透明導電膜からなり、絶縁膜33を覆うと共に、図1に示すように対向基板20の四隅に設けられた上下導通部26により素子基板10側の配線に電気的に接続している。   The counter electrode 31 is made of a transparent conductive film such as ITO, for example, covers the insulating film 33, and electrically connects the wiring on the element substrate 10 side by the vertical conduction portions 26 provided at the four corners of the counter substrate 20 as shown in FIG. Connected.

画素電極27を覆う配向膜28、および対向電極31を覆う配向膜32は、液晶装置100の光学設計に基づいて選定される。例えば、気相成長法を用いてSiOx(酸化シリコン)などの無機材料を成膜して、負の誘電異方性を有する液晶分子に対して略垂直配向させた無機配向膜が挙げられる。   The alignment film 28 that covers the pixel electrode 27 and the alignment film 32 that covers the counter electrode 31 are selected based on the optical design of the liquid crystal device 100. For example, an inorganic alignment film formed by depositing an inorganic material such as SiOx (silicon oxide) using a vapor deposition method and substantially vertically aligning with liquid crystal molecules having negative dielectric anisotropy can be given.

このような液晶装置100は透過型であって、電圧が印加されない時の画素Pの透過率が電圧印加時の透過率よりも大きいノーマリーホワイトや、電圧が印加されない時の画素Pの透過率が電圧印加時の透過率よりも小さいノーマリーブラックモードの光学設計が採用される。光の入射側と射出側とにそれぞれ偏光素子が光学設計に応じて配置されて用いられる。   Such a liquid crystal device 100 is a transmission type, and the transmittance of the pixel P when the voltage is not applied is normally white larger than the transmittance when the voltage is applied, or the transmittance of the pixel P when the voltage is not applied. A normally black mode optical design is employed, which is smaller than the transmittance when a voltage is applied. Polarizing elements are arranged and used according to the optical design on the light incident side and the light exit side, respectively.

図3に示すように、液晶装置100は、少なくとも表示領域Eにおいて互いに絶縁されて直交する複数の走査線3aおよび複数のデータ線6aと、共通電位配線としての容量線3bとを有する。走査線3aが延在する方向がX方向であり、データ線6aが延在する方向がY方向である。   As shown in FIG. 3, the liquid crystal device 100 includes a plurality of scanning lines 3a and a plurality of data lines 6a that are insulated from each other and orthogonal to each other at least in the display region E, and a capacitor line 3b as a common potential wiring. The direction in which the scanning line 3a extends is the X direction, and the direction in which the data line 6a extends is the Y direction.

走査線3aとデータ線6aならびに容量線3bと、これらの信号線類により区分された領域に、画素電極27と、TFT30と、容量素子16とが設けられ、これらが画素Pの画素回路を構成している。   A pixel electrode 27, a TFT 30, and a capacitive element 16 are provided in a region divided by the scanning line 3a, the data line 6a, the capacitive line 3b, and these signal lines, and these constitute a pixel circuit of the pixel P. doing.

走査線3aはTFT30のゲートに電気的に接続され、データ線6aはTFT30のデータ線側ソースドレイン領域(ソース領域)に電気的に接続されている。画素電極27は、TFT30の画素電極側ソースドレイン領域(ドレイン領域)に電気的に接続されている。   The scanning line 3 a is electrically connected to the gate of the TFT 30, and the data line 6 a is electrically connected to the data line side source / drain region (source region) of the TFT 30. The pixel electrode 27 is electrically connected to the pixel electrode side source / drain region (drain region) of the TFT 30.

データ線6aは、データ線駆動回路22(図1参照)に接続されており、データ線駆動回路22から供給される画像信号D1,D2,…,Dnを画素Pに供給する。走査線3aは、走査線駆動回路24(図1参照)に接続されており、走査線駆動回路24から供給される走査信号SC1,SC2,…,SCmを各画素Pに供給する。   The data line 6a is connected to the data line driving circuit 22 (see FIG. 1), and supplies image signals D1, D2,..., Dn supplied from the data line driving circuit 22 to the pixels P. The scanning line 3a is connected to the scanning line driving circuit 24 (see FIG. 1), and supplies the scanning signals SC1, SC2,..., SCm supplied from the scanning line driving circuit 24 to each pixel P.

データ線駆動回路22からデータ線6aに供給される画像信号D1〜Dnは、この順に線順次で供給してもよく、互いに隣り合う複数のデータ線6a同士に対してグループごとに供給してもよい。走査線駆動回路24は、走査線3aに対して、走査信号SC1〜SCmを所定のタイミングで供給する。   The image signals D1 to Dn supplied from the data line driving circuit 22 to the data lines 6a may be supplied line-sequentially in this order, or may be supplied for each of a plurality of adjacent data lines 6a for each group. Good. The scanning line driving circuit 24 supplies the scanning signals SC1 to SCm to the scanning line 3a at a predetermined timing.

液晶装置100は、スイッチング素子であるTFT30が走査信号SC1〜SCmの入力により一定期間だけオン状態とされることで、データ線6aから供給される画像信号D1〜Dnが所定のタイミングで画素電極27に書き込まれる構成となっている。そして、画素電極27を介して液晶層15に書き込まれた所定レベルの画像信号D1〜Dnは、画素電極27と液晶層15を介して対向配置された対向電極31との間で一定期間保持される。   In the liquid crystal device 100, the TFT 30 as a switching element is turned on for a certain period by the input of the scanning signals SC1 to SCm, so that the image signals D1 to Dn supplied from the data line 6a are supplied to the pixel electrode 27 at a predetermined timing. It is the structure written in. The predetermined level of the image signals D1 to Dn written to the liquid crystal layer 15 through the pixel electrode 27 is held for a certain period between the pixel electrode 27 and the counter electrode 31 disposed to face the liquid crystal layer 15. The

保持された画像信号D1〜Dnがリークするのを防止するため、画素電極27と対向電極31との間に形成される液晶容量と並列に容量素子16が接続されている。容量素子16は、TFT30の画素電極側ソースドレイン領域と容量線3bとの間に設けられている。   In order to prevent the held image signals D1 to Dn from leaking, the capacitive element 16 is connected in parallel with the liquid crystal capacitance formed between the pixel electrode 27 and the counter electrode 31. The capacitive element 16 is provided between the pixel electrode side source / drain region of the TFT 30 and the capacitive line 3b.

<液晶装置を構成する画素の構成>
図4は、液晶装置のうち主に画素の構造を示す模式断面図である。以下、液晶装置のうち画素の構造を、図4を参照しながら説明する。なお、図4は、各構成要素の断面的な位置関係を示すものであり、明示可能な尺度で表されている。
<Configuration of pixels constituting liquid crystal device>
FIG. 4 is a schematic cross-sectional view mainly showing the structure of a pixel in the liquid crystal device. Hereinafter, the pixel structure of the liquid crystal device will be described with reference to FIG. FIG. 4 shows the cross-sectional positional relationship of each component and is expressed on a scale that can be clearly shown.

図4に示すように、液晶装置100は、素子基板10と、これに対向配置される対向基板20とを備えている。素子基板10を構成する第1基材10aは、上記したように、例えば、石英基板等によって構成されている。   As shown in FIG. 4, the liquid crystal device 100 includes an element substrate 10 and a counter substrate 20 disposed to face the element substrate 10. As described above, the first base material 10a configuring the element substrate 10 is configured by, for example, a quartz substrate.

図4に示すように、第1基材10a上には、例えば、Al(アルミニウム)、Ti(チタン)、Cr(クロム)、W(タングステン)等の材料を含む下側遮光膜3cが形成されている。下側遮光膜3cは、平面的に格子状にパターニングされており、各画素Pの開口領域を規定している。なお、下側遮光膜3cは、導電性を有し、走査線3aの一部として機能するようにしてもよい。第1基材10a及び下側遮光膜3c上には、シリコン酸化膜等からなる下地絶縁層11aが形成されている。   As shown in FIG. 4, a lower light-shielding film 3c containing a material such as Al (aluminum), Ti (titanium), Cr (chromium), W (tungsten) is formed on the first base material 10a. ing. The lower light-shielding film 3c is planarly patterned in a lattice shape and defines an opening area of each pixel P. Note that the lower light-shielding film 3c may have conductivity and function as part of the scanning line 3a. A base insulating layer 11a made of a silicon oxide film or the like is formed on the first base material 10a and the lower light shielding film 3c.

下地絶縁層11a上には、TFT30及び走査線3a等が形成されている。TFT30は、例えば、LDD(Lightly Doped Drain)構造を有しており、ポリシリコン(高純度の多結晶シリコン)等からなる半導体層30aと、半導体層30a上に形成されたゲート絶縁層11gと、ゲート絶縁層11g上に形成されたポリシリコン膜等からなるゲート電極30gとを有する。走査線3aは、ゲート電極30gとしても機能する。   On the base insulating layer 11a, the TFT 30, the scanning line 3a, and the like are formed. The TFT 30 has, for example, an LDD (Lightly Doped Drain) structure, and includes a semiconductor layer 30a made of polysilicon (high-purity polycrystalline silicon), a gate insulating layer 11g formed on the semiconductor layer 30a, A gate electrode 30g made of a polysilicon film or the like formed on the gate insulating layer 11g. The scanning line 3a also functions as the gate electrode 30g.

半導体層30aは、例えば、リン(P)イオン等のN型の不純物イオンが注入されることにより、N型のTFT30として形成されている。具体的には、半導体層30aは、チャネル領域30cと、データ線側LDD領域30s1と、データ線側ソースドレイン領域30sと、画素電極側LDD領域30d1と、画素電極側ソースドレイン領域30dとを備えている。   The semiconductor layer 30a is formed as an N-type TFT 30 by implanting N-type impurity ions such as phosphorus (P) ions. Specifically, the semiconductor layer 30a includes a channel region 30c, a data line side LDD region 30s1, a data line side source / drain region 30s, a pixel electrode side LDD region 30d1, and a pixel electrode side source / drain region 30d. ing.

チャネル領域30cには、ボロン(B)イオン等のP型の不純物イオンがドープされている。その他の領域(30s1,30s,30d1,30d)には、リン(P)イオン等のN型の不純物イオンがドープされている。このように、TFT30は、N型のTFTとして形成されている。   The channel region 30c is doped with P-type impurity ions such as boron (B) ions. The other regions (30s1, 30s, 30d1, 30d) are doped with N-type impurity ions such as phosphorus (P) ions. Thus, the TFT 30 is formed as an N-type TFT.

ゲート電極30g及びゲート絶縁層11g上には、シリコン酸化膜等からなる第1層間絶縁層11bが形成されている。第1層間絶縁層11b上には、容量素子16が設けられている。具体的には、TFT30の画素電極側ソースドレイン領域30d及び画素電極27に電気的に接続された画素電位側容量電極としての第1容量電極16aと、固定電位側容量電極としての容量線3b(第2容量電極16b)の一部とが、誘電体膜16cを介して対向配置されることにより、容量素子16が形成されている。   A first interlayer insulating layer 11b made of a silicon oxide film or the like is formed on the gate electrode 30g and the gate insulating layer 11g. A capacitive element 16 is provided on the first interlayer insulating layer 11b. Specifically, the first capacitor electrode 16a as the pixel potential side capacitor electrode electrically connected to the pixel electrode side source / drain region 30d and the pixel electrode 27 of the TFT 30, and the capacitor line 3b (as the fixed potential side capacitor electrode). A part of the second capacitor electrode 16b) is disposed to face the dielectric film 16c, whereby the capacitor element 16 is formed.

誘電体膜16cは、例えば、シリコン窒化膜である。第2容量電極16b(容量線3b)は、例えば、Ti(チタン)、Cr(クロム)、W(タングステン)、Ta(タンタル)、Mo(モリブデン)等の高融点金属のうち少なくとも一つを含む、金属単体、合金、金属シリサイド、ポリシリサイド、これらを積層したもの等からなる。或いは、Al(アルミニウム)膜から形成することも可能である。   The dielectric film 16c is, for example, a silicon nitride film. The second capacitor electrode 16b (capacitor line 3b) includes at least one of refractory metals such as Ti (titanium), Cr (chromium), W (tungsten), Ta (tantalum), and Mo (molybdenum). , Metal simple substance, alloy, metal silicide, polysilicide, and a laminate of these. Alternatively, it can be formed from an Al (aluminum) film.

第1容量電極16aは、例えば、導電性のポリシリコン膜からなり容量素子16の画素電位側容量電極として機能する。ただし、第1容量電極16aは、容量線3bと同様に、金属又は合金を含む単一層膜又は多層膜から構成してもよい。第1容量電極16aは、画素電位側容量電極としての機能のほか、コンタクトホールCNT1,CNT3,CNT4を介して、画素電極27とTFT30の画素電極側ソースドレイン領域30d(ドレイン領域)とを中継接続する機能を有する。   The first capacitor electrode 16 a is made of, for example, a conductive polysilicon film and functions as a pixel potential side capacitor electrode of the capacitor element 16. However, the first capacitor electrode 16a may be composed of a single layer film or a multilayer film containing a metal or an alloy, like the capacitor line 3b. In addition to functioning as a pixel potential side capacitance electrode, the first capacitance electrode 16a relay-connects the pixel electrode 27 and the pixel electrode side source / drain region 30d (drain region) of the TFT 30 via contact holes CNT1, CNT3, and CNT4. It has the function to do.

容量素子16上には、第2層間絶縁層11cを介してデータ線6aが形成されている。データ線6aは、ゲート絶縁層11g、第1層間絶縁層11b、誘電体膜16c、及び第2層間絶縁層11cに開孔されたコンタクトホールCNT2を介して、半導体層30aのデータ線側ソースドレイン領域30s(ソース領域)に電気的に接続されている。   A data line 6a is formed on the capacitive element 16 via the second interlayer insulating layer 11c. The data line 6a is connected to the data line side source / drain of the semiconductor layer 30a through the contact hole CNT2 formed in the gate insulating layer 11g, the first interlayer insulating layer 11b, the dielectric film 16c, and the second interlayer insulating layer 11c. It is electrically connected to the region 30s (source region).

データ線6aの上層には、第3層間絶縁層11dを介して画素電極27が形成されている。第3層間絶縁層11dは、例えば、シリコンの酸化物や窒化物からなり、TFT30が設けられた領域を覆うことによって生じる表面の凸部を平坦化する平坦化処理が施される。平坦化処理の方法としては、例えば化学的機械的研磨処理(Chemical Mechanical Polishing:CMP処理)やスピンコート処理などが挙げられる。第3層間絶縁層11dには、コンタクトホールCNT4が形成されている。   A pixel electrode 27 is formed on the data line 6a via a third interlayer insulating layer 11d. The third interlayer insulating layer 11d is made of, for example, silicon oxide or nitride, and is subjected to a flattening process for flattening the convex portions on the surface generated by covering the region where the TFT 30 is provided. Examples of the planarization method include chemical mechanical polishing (CMP) and spin coating. A contact hole CNT4 is formed in the third interlayer insulating layer 11d.

画素電極27は、コンタクトホールCNT4,CNT3を介して第1容量電極16aに接続されることにより、半導体層30aの画素電極側ソースドレイン領域30d(ドレイン領域)に電気的に接続されている。なお、画素電極27は、例えば、ITO膜等の透明導電性膜から形成されている。   The pixel electrode 27 is electrically connected to the pixel electrode side source / drain region 30d (drain region) of the semiconductor layer 30a by being connected to the first capacitor electrode 16a via the contact holes CNT4 and CNT3. The pixel electrode 27 is formed of a transparent conductive film such as an ITO film, for example.

画素電極27及び隣り合う画素電極27間の第3層間絶縁層11d上には、酸化シリコン(SiO2)などの無機材料を斜方蒸着した配向膜28が設けられている。配向膜28上には、シール材14(図1及び図2参照)により囲まれた空間に液晶等が封入された液晶層15が設けられている。 On the third interlayer insulating layer 11d between the pixel electrode 27 and the adjacent pixel electrode 27, an alignment film 28 obtained by obliquely depositing an inorganic material such as silicon oxide (SiO 2 ) is provided. On the alignment film 28, a liquid crystal layer 15 in which liquid crystal or the like is sealed in a space surrounded by the sealing material 14 (see FIGS. 1 and 2) is provided.

一方、第2基材20a上(液晶層15側)には、例えば、PSG膜(リンをドーピングしたシリコン酸化膜)などからなる絶縁膜33が設けられている。絶縁膜33上には、その全面に渡って対向電極31が設けられている。対向電極31上には、酸化シリコン(SiO2)などの無機材料を斜方蒸着した配向膜32が設けられている。対向電極31は、上述の画素電極27と同様に、例えばITO膜等の透明導電性膜からなる。 On the other hand, an insulating film 33 made of, for example, a PSG film (phosphorus-doped silicon oxide film) is provided on the second base material 20a (the liquid crystal layer 15 side). On the insulating film 33, the counter electrode 31 is provided over the entire surface. On the counter electrode 31, an alignment film 32 is formed by obliquely depositing an inorganic material such as silicon oxide (SiO 2 ). The counter electrode 31 is made of a transparent conductive film such as an ITO film, for example, like the pixel electrode 27 described above.

液晶層15は、画素電極27と対向電極31との間で電界が生じていない状態で配向膜28,32によって所定の配向状態をとる。シール材14は、素子基板10及び対向基板20を貼り合わせるための、例えば光硬化性樹脂や熱硬化性樹脂からなる接着剤であり、素子基板10と対向基板20の距離を所定値とするためのグラスファイバー或いはガラスビーズ等のスペーサーが混入されている。   The liquid crystal layer 15 takes a predetermined alignment state by the alignment films 28 and 32 in a state where no electric field is generated between the pixel electrode 27 and the counter electrode 31. The sealing material 14 is an adhesive made of, for example, a photo-curing resin or a thermosetting resin for bonding the element substrate 10 and the counter substrate 20, and sets the distance between the element substrate 10 and the counter substrate 20 to a predetermined value. Spacers such as glass fiber or glass beads are mixed.

<透過型の液晶装置における、配向膜の構成、有機膜の構成>
図5は、液晶装置のうち主に無機配向膜の構成、及び有機膜の構成を示す模式断面図である。以下、無機配向膜、及び有機膜の構成について、図5を参照しながら説明する。なお、図5は、説明しやすいように簡略化して図示する。
<Configuration of alignment film and configuration of organic film in transmissive liquid crystal device>
FIG. 5 is a schematic cross-sectional view mainly showing the configuration of the inorganic alignment film and the configuration of the organic film in the liquid crystal device. Hereinafter, the configuration of the inorganic alignment film and the organic film will be described with reference to FIG. Note that FIG. 5 is illustrated in a simplified manner for easy explanation.

図5に示すように、液晶装置100は、素子基板10と対向基板20とを備えている。素子基板10を構成する第1基材10a上の表示領域Eには、画素電極27が設けられている。画素電極27の表面、及び画素電極27が設けられていない第1基材10aの表面には、斜方蒸着法によって成膜された柱状構造物(カラム)を有する第1配向膜としての第1無機配向膜28が設けられている。   As shown in FIG. 5, the liquid crystal device 100 includes an element substrate 10 and a counter substrate 20. A pixel electrode 27 is provided in the display region E on the first base material 10 a constituting the element substrate 10. A first alignment film having a columnar structure (column) formed by oblique deposition on the surface of the pixel electrode 27 and the surface of the first base material 10a on which the pixel electrode 27 is not provided. An inorganic alignment film 28 is provided.

柱状構造物(図示せず)は、第1基材10a上の全体に亘って密集して設けられている。これら柱状構造物は、第1基材10aに対し傾斜して設けられており、傾斜角度によって液晶層15の液晶分子にプレチルト角が付与されるようになっている。ここで、プレチルト角とは、第1基材10a表面に直交する方向と液晶分子の長軸方向とのなす角度をいう。   The columnar structures (not shown) are densely provided over the entire first base material 10a. These columnar structures are provided to be inclined with respect to the first base material 10a, and a pretilt angle is given to the liquid crystal molecules of the liquid crystal layer 15 by the inclination angle. Here, the pretilt angle refers to an angle formed by a direction perpendicular to the surface of the first substrate 10a and a major axis direction of liquid crystal molecules.

第1無機配向膜28には、第1有機膜28aが表面処理によって付与されている。第1有機膜28aは、例えば、シランカップリング材を用いて形成された表面処理膜である。   A first organic film 28a is applied to the first inorganic alignment film 28 by surface treatment. The first organic film 28a is a surface treatment film formed using, for example, a silane coupling material.

対向基板20を構成する第2基材20a上(液晶層側)には、対向電極31が設けられている。対向電極31上には、対向電極31を覆うように斜方蒸着法によって成膜された第2配向膜としての第2無機配向膜32が設けられている。第2無機配向膜32上には、第2有機膜32aが表面処理によって付与されている。第2有機膜32aは、第1有機膜28aと同様に、シランカップリング材を用いて形成された表面処理膜である。   A counter electrode 31 is provided on the second base material 20 a (the liquid crystal layer side) constituting the counter substrate 20. On the counter electrode 31, a second inorganic alignment film 32 is provided as a second alignment film formed by oblique deposition so as to cover the counter electrode 31. On the second inorganic alignment film 32, a second organic film 32a is provided by surface treatment. Similar to the first organic film 28a, the second organic film 32a is a surface treatment film formed using a silane coupling material.

表面処理剤としては、直鎖アルキルを有するシランカップリング材が用いられる。本実施形態のように、透過型の液晶装置100の場合、第2有機膜32aを形成するための表面処理剤が含む原料の分子の炭素数を、第1有機膜28aを形成するための表面処理剤が含む原料の分子の炭素数より多くする。   As the surface treatment agent, a silane coupling material having linear alkyl is used. In the case of the transmissive liquid crystal device 100 as in this embodiment, the number of carbon atoms of the raw material included in the surface treatment agent for forming the second organic film 32a is set to the surface for forming the first organic film 28a. More than the carbon number of the raw material molecules contained in the treatment agent.

具体的には、第1有機膜28aを形成するための表面処理剤が含む原料の炭素数より、第2有機膜32aを形成するための表面処理剤が含む原料の分子の炭素数を、1〜3多くする。例えば、第1有機膜28aを形成するための表面処理剤が含む原料の分子の炭素数を8とする。第2有機膜32aを形成するための表面処理剤が含む原料の分子の炭素数を10とする。   Specifically, the number of carbon atoms of the raw material included in the surface treatment agent for forming the second organic film 32a is set to 1 from the carbon number of the raw material included in the surface treatment agent for forming the first organic film 28a. ~ 3 more. For example, the number of carbon atoms of the raw material included in the surface treatment agent for forming the first organic film 28a is set to 8. The number of carbon atoms of the raw material included in the surface treatment agent for forming the second organic film 32a is set to 10.

マイナスイオンの吸着量は、炭素数に比例する。よって、本実施形態の透過型の液晶装置100のように、電極の材質が同じであり、電極の面積に差がある場合、具体的には、画素電極27と比較して対向電極31の開口面積が大きい場合、対向電極31側の第2有機膜32aに多くのマイナスイオンを吸着させることが可能となり、画素電極27と液晶層15との間の電荷移動量と、対向電極31と液晶層15との電荷移動量とを、略等しくすることができる。言い換えれば、表面処理剤が含む原料の分子の炭素数を調整することにより配向膜へのイオンの吸着量の偏りを補正することができる。これにより、Vcomシフトを抑えることが可能となり、フリッカーが生じるなど表示品質が低下することを抑えることができる。   The amount of negative ion adsorption is proportional to the number of carbon atoms. Therefore, when the electrode materials are the same and there is a difference in electrode area as in the transmissive liquid crystal device 100 of the present embodiment, specifically, the opening of the counter electrode 31 compared to the pixel electrode 27. When the area is large, a large amount of negative ions can be adsorbed to the second organic film 32a on the counter electrode 31 side, the amount of charge transfer between the pixel electrode 27 and the liquid crystal layer 15, and the counter electrode 31 and the liquid crystal layer. The amount of charge transfer with 15 can be made substantially equal. In other words, by adjusting the number of carbon atoms of the raw material molecules included in the surface treatment agent, it is possible to correct the bias in the amount of ions adsorbed on the alignment film. As a result, it is possible to suppress the Vcom shift, and it is possible to suppress the display quality from being deteriorated such as the occurrence of flicker.

<液晶装置の製造方法>
図6は、液晶装置の製造方法を工程順に示すフローチャートである。図7及び図8は、液晶装置の製造方法のうち一部の製造方法を工程順に示す模式断面図である。図9は、CVD装置の構造を示す模式図である。以下、液晶装置の製造方法を、図6〜図9を参照しながら説明する。
<Method for manufacturing liquid crystal device>
FIG. 6 is a flowchart showing a manufacturing method of the liquid crystal device in the order of steps. 7 and 8 are schematic cross-sectional views showing a part of the manufacturing method of the liquid crystal device in the order of steps. FIG. 9 is a schematic diagram showing the structure of a CVD apparatus. Hereinafter, a method for manufacturing the liquid crystal device will be described with reference to FIGS.

最初に、素子基板10側の製造方法を説明する。まず、ステップS11では、石英基板などからなる第1基材10a上にTFT30を形成する。具体的には、まず、第1基材10a上に、アルミニウムなどからなる下側遮光膜3c(図4参照)を成膜する。その後、周知の成膜技術を用いて、シリコン酸化膜などからなる下地絶縁層11aを成膜する。   First, a manufacturing method on the element substrate 10 side will be described. First, in step S11, the TFT 30 is formed on the first base material 10a made of a quartz substrate or the like. Specifically, first, a lower light-shielding film 3c (see FIG. 4) made of aluminum or the like is formed on the first base material 10a. Thereafter, a base insulating layer 11a made of a silicon oxide film or the like is formed using a known film forming technique.

次に、下地絶縁層11a上に、TFT30を形成する。具体的には、周知の成膜技術、フォトリソグラフィ技術、及びエッチング技術を用いて、TFT30を形成する。以降、これらが形成された層を回路層と称して簡略化して説明する。   Next, the TFT 30 is formed on the base insulating layer 11a. Specifically, the TFT 30 is formed using a well-known film formation technique, photolithography technique, and etching technique. Hereinafter, the layer in which these are formed will be simply referred to as a circuit layer.

ステップS12では、画素電極27を形成する。具体的には、図7(a)に示すように、TFT30などを含む回路層(図示せず)の上に、周知の成膜技術、フォトリソグラフィ技術、及びエッチング技術を用いて、ITOなどからなる画素電極27を形成する。   In step S12, the pixel electrode 27 is formed. Specifically, as shown in FIG. 7A, on a circuit layer (not shown) including the TFT 30 or the like, using a well-known film forming technique, a photolithography technique, and an etching technique, ITO or the like is used. A pixel electrode 27 is formed.

ステップS13では、第1無機配向膜28を形成する。具体的には、図7(b)に示すように、画素電極27を覆うように第1無機配向膜28を形成する。第1無機配向膜28の製造方法としては、例えば、酸化シリコン(SiO2)などの無機材料を斜方蒸着する斜方蒸着法が用いられる。 In step S13, the first inorganic alignment film 28 is formed. Specifically, as shown in FIG. 7B, a first inorganic alignment film 28 is formed so as to cover the pixel electrode 27. As a manufacturing method of the first inorganic alignment film 28, for example, an oblique deposition method in which an inorganic material such as silicon oxide (SiO 2 ) is obliquely deposited is used.

ステップS14では、第1無機配向膜28に第1有機膜28aを付与する。具体的には、図7(c)に示すように、化学気相成長法(Chemical Vapor Deposition:以下CVDという。)を用いる。以下、図9を参照しながら、CVD装置70の構造及び第1有機膜28aの製造方法を説明する。   In step S <b> 14, the first organic film 28 a is applied to the first inorganic alignment film 28. Specifically, as shown in FIG. 7C, chemical vapor deposition (hereinafter referred to as CVD) is used. Hereinafter, the structure of the CVD apparatus 70 and the manufacturing method of the first organic film 28a will be described with reference to FIG.

図9に示すように、まず、素子基板10と液状のシランカップリング材の入った容器72とを、CVD装置70の真空槽の如き密閉チャンバー71に入れる。このときのシランカップリング材は、表面処理剤が含む原料の分子の炭素数が8となるように調製されている。次に、ヒーター73によって容器72を加熱し、シランカップリング材を気化させる。これにより、図7(c)に示すように、第1無機配向膜28の表面に第1有機膜28aが付与される。   As shown in FIG. 9, first, the element substrate 10 and the container 72 containing the liquid silane coupling material are placed in a sealed chamber 71 such as a vacuum chamber of the CVD apparatus 70. The silane coupling material at this time is prepared so that the number of carbon atoms of the raw material molecules included in the surface treatment agent is 8. Next, the container 72 is heated by the heater 73 to vaporize the silane coupling material. Thereby, as shown in FIG. 7C, the first organic film 28 a is provided on the surface of the first inorganic alignment film 28.

具体的には、第1無機配向膜28の表面のシラノール基とシランカップシング材の加水分解基とが反応し、シランカップリング材から生成される物質が付着することにより第1有機膜28aが形成される。以上により、素子基板10側が完成する。   Specifically, the silanol group on the surface of the first inorganic alignment film 28 reacts with the hydrolyzable group of the silane coupling material, and the substance generated from the silane coupling material adheres, whereby the first organic film 28a is formed. It is formed. Thus, the element substrate 10 side is completed.

次に、対向基板20側の製造方法を説明する。まず、ステップS21では、図8(a)に示すように、ガラス基板等の透光性材料からなる第2基材20a上に、周知の成膜技術、フォトリソグラフィ技術及びエッチング技術を用いて、対向電極31を形成する。   Next, a manufacturing method on the counter substrate 20 side will be described. First, in step S21, as shown in FIG. 8A, on the second base material 20a made of a translucent material such as a glass substrate, using a well-known film formation technique, photolithography technique, and etching technique, The counter electrode 31 is formed.

ステップS22では、対向電極31上に第2無機配向膜32を形成する。具体的には、図8(b)に示すように、例えば、第1無機配向膜28と同様に、斜方蒸着法を用いて形成する。   In step S <b> 22, the second inorganic alignment film 32 is formed on the counter electrode 31. Specifically, as shown in FIG. 8B, for example, it is formed using an oblique vapor deposition method in the same manner as the first inorganic alignment film 28.

ステップS23では、第2無機配向膜32に第2有機膜32aを付与する。具体的には、図8(c)に示すように、素子基板10と同じ化学気相成長法を用いる。まず、対向基板20と液状のシランカップリング材の入った容器72とを、CVD装置70(図9参照)の真空槽の如き密閉チャンバー71に入れる。このときのシランカップリング材は、表面処理剤が含む原料の分子の炭素数が10となるように調製されている。次に、ヒーター73によって容器72を加熱し、シランカップリング材を気化させる。これにより、第2無機配向膜32の表面に第2有機膜32aが付与される。   In step S <b> 23, the second organic film 32 a is applied to the second inorganic alignment film 32. Specifically, as shown in FIG. 8C, the same chemical vapor deposition method as that for the element substrate 10 is used. First, the counter substrate 20 and the container 72 containing the liquid silane coupling material are placed in a sealed chamber 71 such as a vacuum chamber of the CVD apparatus 70 (see FIG. 9). The silane coupling material at this time is prepared so that the number of carbon atoms of the raw material molecules included in the surface treatment agent is 10. Next, the container 72 is heated by the heater 73 to vaporize the silane coupling material. Thereby, the second organic film 32 a is provided on the surface of the second inorganic alignment film 32.

以上により、対向基板20側が完成する。次に、素子基板10と対向基板20とを貼り合わせる方法を説明する。   Thus, the counter substrate 20 side is completed. Next, a method for bonding the element substrate 10 and the counter substrate 20 will be described.

ステップS31では、素子基板10上にシール材14を塗布する。具体的には、例えば、素子基板10とディスペンサー(吐出装置でも可能)との相対的な位置関係を変化させて、素子基板10における表示領域Eの周縁部に(表示領域Eを囲むように)シール材14を塗布する。   In step S <b> 31, the sealing material 14 is applied on the element substrate 10. Specifically, for example, the relative positional relationship between the element substrate 10 and a dispenser (also possible with a discharge device) is changed, so that the periphery of the display area E in the element substrate 10 (so as to surround the display area E). The sealing material 14 is applied.

シール材14としては、例えば、紫外線硬化型エポキシ樹脂が挙げられる。なお、紫外線などの光硬化型樹脂に限定されず、熱硬化型樹脂などを用いるようにしてもよい。また、シール材14には、例えば、素子基板10と対向基板20との間隔(ギャップ或いはセルギャップ)を所定値とするためのスペーサー等のギャップ材が含まれている。   Examples of the sealing material 14 include an ultraviolet curable epoxy resin. In addition, it is not limited to photocurable resins, such as an ultraviolet-ray, You may make it use a thermosetting resin. Further, the sealing material 14 includes, for example, a gap material such as a spacer for setting a distance (gap or cell gap) between the element substrate 10 and the counter substrate 20 to a predetermined value.

ステップS32では、シール材14で囲まれた中に液晶を滴下する。詳しくは、シール材14で囲まれた領域に液晶を滴下する(ODF(One Drop Fill)方式)。滴下する方法としては、例えば、インクジェットヘッドなどを用いることができる。また、液晶は、シール材14によって囲まれた領域(表示領域E)の中央部に滴下することが望ましい。   In step S <b> 32, the liquid crystal is dropped inside the seal material 14. Specifically, the liquid crystal is dropped onto an area surrounded by the sealing material 14 (ODF (One Drop Fill) method). As a dropping method, for example, an ink jet head can be used. Further, it is desirable that the liquid crystal is dropped on the central portion of the region (display region E) surrounded by the sealing material 14.

ステップS33では、素子基板10と対向基板20とを貼り合わせる。具体的には、素子基板10に塗布されたシール材14を介して素子基板10と対向基板20とを貼り合わせる。より具体的には、互いの基板10,20の平面的な縦方向や横方向の位置精度を確保しながら行う。以上により、液晶装置100が完成する。   In step S33, the element substrate 10 and the counter substrate 20 are bonded together. Specifically, the element substrate 10 and the counter substrate 20 are bonded together via the sealing material 14 applied to the element substrate 10. More specifically, it is performed while ensuring the positional accuracy in the vertical and horizontal directions of the substrates 10 and 20. Thus, the liquid crystal device 100 is completed.

<電子機器の構成>
次に、本実施形態の電子機器としての投射型表示装置について、図10を参照しながら説明する。図10は、上記した液晶装置を備えた投射型表示装置の構成を示す概略図である。
<Configuration of electronic equipment>
Next, a projection type display device as an electronic apparatus according to the present embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 10 is a schematic diagram showing a configuration of a projection display device including the above-described liquid crystal device.

図10に示すように、本実施形態の投射型表示装置1000は、システム光軸Lに沿って配置された偏光照明装置1100と、光分離素子としての2つのダイクロイックミラー1104,1105と、3つの反射ミラー1106,1107,1108と、5つのリレーレンズ1201,1202,1203,1204,1205と、3つの光変調手段としての透過型の液晶ライトバルブ1210,1220,1230と、光合成素子としてのクロスダイクロイックプリズム1206と、投射レンズ1207とを備えている。   As shown in FIG. 10, the projection display apparatus 1000 of the present embodiment includes a polarization illumination apparatus 1100 arranged along the system optical axis L, two dichroic mirrors 1104 and 1105 as light separation elements, and three Reflective mirrors 1106, 1107, 1108, five relay lenses 1201, 1202, 1203, 1204, 1205, three transmissive liquid crystal light valves 1210, 1220, 1230 as light modulation means, and a cross dichroic as a light combiner A prism 1206 and a projection lens 1207 are provided.

偏光照明装置1100は、超高圧水銀灯やハロゲンランプなどの白色光源からなる光源としてのランプユニット1101と、インテグレーターレンズ1102と、偏光変換素子1103とから概略構成されている。   The polarized light illumination device 1100 is generally configured by a lamp unit 1101 as a light source composed of a white light source such as an ultra-high pressure mercury lamp or a halogen lamp, an integrator lens 1102, and a polarization conversion element 1103.

ダイクロイックミラー1104は、偏光照明装置1100から射出された偏光光束のうち、赤色光(R)を反射させ、緑色光(G)と青色光(B)とを透過させる。もう1つのダイクロイックミラー1105は、ダイクロイックミラー1104を透過した緑色光(G)を反射させ、青色光(B)を透過させる。   The dichroic mirror 1104 reflects red light (R) and transmits green light (G) and blue light (B) among the polarized light beams emitted from the polarization illumination device 1100. Another dichroic mirror 1105 reflects the green light (G) transmitted through the dichroic mirror 1104 and transmits the blue light (B).

ダイクロイックミラー1104で反射した赤色光(R)は、反射ミラー1106で反射した後にリレーレンズ1205を経由して液晶ライトバルブ1210に入射する。ダイクロイックミラー1105で反射した緑色光(G)は、リレーレンズ1204を経由して液晶ライトバルブ1220に入射する。ダイクロイックミラー1105を透過した青色光(B)は、3つのリレーレンズ1201,1202,1203と2つの反射ミラー1107,1108とからなる導光系を経由して液晶ライトバルブ1230に入射する。   The red light (R) reflected by the dichroic mirror 1104 is reflected by the reflection mirror 1106 and then enters the liquid crystal light valve 1210 via the relay lens 1205. Green light (G) reflected by the dichroic mirror 1105 enters the liquid crystal light valve 1220 via the relay lens 1204. The blue light (B) transmitted through the dichroic mirror 1105 enters the liquid crystal light valve 1230 via a light guide system including three relay lenses 1201, 1202, 1203 and two reflection mirrors 1107, 1108.

液晶ライトバルブ1210,1220,1230は、クロスダイクロイックプリズム1206の色光ごとの入射面に対してそれぞれ対向配置されている。液晶ライトバルブ1210,1220,1230に入射した色光は、映像情報(映像信号)に基づいて変調されクロスダイクロイックプリズム1206に向けて射出される。   The liquid crystal light valves 1210, 1220, and 1230 are disposed to face the incident surfaces of the cross dichroic prism 1206 for each color light. The color light incident on the liquid crystal light valves 1210, 1220, and 1230 is modulated based on video information (video signal) and emitted toward the cross dichroic prism 1206.

このプリズムは、4つの直角プリズムが貼り合わされ、その内面に赤色光を反射する誘電体多層膜と青色光を反射する誘電体多層膜とが十字状に形成されている。これらの誘電体多層膜によって3つの色光が合成されて、カラー画像を表す光が合成される。合成された光は、投射光学系である投射レンズ1207によってスクリーン1300上に投射され、画像が拡大されて表示される。   In this prism, four right-angle prisms are bonded together, and a dielectric multilayer film that reflects red light and a dielectric multilayer film that reflects blue light are formed in a cross shape on the inner surface thereof. The three color lights are synthesized by these dielectric multilayer films, and the light representing the color image is synthesized. The synthesized light is projected on the screen 1300 by the projection lens 1207 which is a projection optical system, and the image is enlarged and displayed.

液晶ライトバルブ1210は、上述した液晶装置100が適用されたものである。液晶装置100は、色光の入射側と射出側とにおいてクロスニコルに配置された一対の偏光素子の間に隙間を置いて配置されている。他の液晶ライトバルブ1220,1230も同様である。   The liquid crystal light valve 1210 is the one to which the liquid crystal device 100 described above is applied. The liquid crystal device 100 is arranged with a gap between a pair of polarizing elements arranged in crossed Nicols on the incident side and the emission side of colored light. The same applies to the other liquid crystal light valves 1220 and 1230.

このような投射型表示装置1000には、液晶ライトバルブ1210,1220,1230を用いているので、高い信頼性を得ることができる。   Since the liquid crystal light valves 1210, 1220, and 1230 are used in such a projection display device 1000, high reliability can be obtained.

なお、液晶装置100が搭載される電子機器としては、投射型表示装置1000の他、ヘッドアップディスプレイ(HUD)、ヘッドマウントディスプレイ(HMD)、スマートフォン、EVF(Electrical View Finder)、モバイルミニプロジェクター、電子ブック、携帯電話、モバイルコンピューター、デジタルカメラ、デジタルビデオカメラ、ディスプレイ、車載機器、オーディオ機器、露光装置や照明機器など各種電子機器に用いることができる。   The electronic device on which the liquid crystal device 100 is mounted includes a projection display device 1000, a head-up display (HUD), a head-mounted display (HMD), a smartphone, an EVF (Electrical View Finder), a mobile mini projector, an electronic device. It can be used for various electronic devices such as books, mobile phones, mobile computers, digital cameras, digital video cameras, displays, in-vehicle devices, audio devices, exposure devices, and lighting devices.

以上詳述したように、本実施形態の液晶装置100、液晶装置100の製造方法、及び電子機器によれば、以下に示す効果が得られる。   As described above in detail, according to the liquid crystal device 100, the method for manufacturing the liquid crystal device 100, and the electronic apparatus of the present embodiment, the following effects can be obtained.

(1)本実施形態の液晶装置100、及び液晶装置100の製造方法によれば、マイナスイオンの吸着量は炭素数に比例するので、第2有機膜32aを形成するための表面処理剤が含む原料の分子の炭素数を多くすることにより、第2有機膜32aに多くのマイナスイオンを吸着させることが可能となる。よって、透過型の液晶装置100のように、電極の材質が同じであり、電極の面積に差がある場合、具体的には、画素電極27と比較して対向電極31の開口面積が大きい場合、対向電極31側に多くのマイナスイオンを集めることが可能となり、画素電極27と液晶層15との間の電荷移動量と、対向電極31と液晶層15との電荷移動量とを、略等しくすることができる。言い換えれば、表面処理剤が含む原料の分子の炭素数を調整することにより、配向膜へのイオンの吸着量の偏りを補正することができる。これにより、Vcomシフトを抑えることが可能となり、フリッカーが生じるなど表示品質が低下することを抑えることができる。   (1) According to the liquid crystal device 100 and the manufacturing method of the liquid crystal device 100 of the present embodiment, the amount of negative ions adsorbed is proportional to the number of carbon atoms, and thus the surface treatment agent for forming the second organic film 32a is included. By increasing the number of carbon atoms in the raw material molecules, it is possible to adsorb many negative ions on the second organic film 32a. Therefore, as in the case of the transmissive liquid crystal device 100, when the electrode materials are the same and there is a difference in the area of the electrodes, specifically, when the opening area of the counter electrode 31 is larger than that of the pixel electrode 27. It becomes possible to collect many negative ions on the counter electrode 31 side, and the charge transfer amount between the pixel electrode 27 and the liquid crystal layer 15 and the charge transfer amount between the counter electrode 31 and the liquid crystal layer 15 are substantially equal. can do. In other words, by adjusting the number of carbon atoms in the raw material molecules included in the surface treatment agent, it is possible to correct the bias in the amount of ions adsorbed on the alignment film. As a result, it is possible to suppress the Vcom shift, and it is possible to suppress the display quality from being deteriorated such as the occurrence of flicker.

(2)本実施形態の液晶装置100の製造方法によれば、配向膜が無機配向膜であり、無機配向膜の表面にシラノール基が存在するので、シラノール基とシランカップリング材の加水分解基とを反応させることが可能となり、第1無機配向膜28及び第2無機配向膜32の表面にシランカップリング材から生成された物質を付与することができる。その結果、第1無機配向膜28及び第2無機配向膜32に表面処理を施すことが可能となり、表示品質が低下することを抑えることができる。   (2) According to the method for manufacturing the liquid crystal device 100 of the present embodiment, the alignment film is an inorganic alignment film, and a silanol group exists on the surface of the inorganic alignment film, so the silanol group and the hydrolyzable group of the silane coupling material And the substance generated from the silane coupling material can be applied to the surfaces of the first inorganic alignment film 28 and the second inorganic alignment film 32. As a result, it is possible to perform surface treatment on the first inorganic alignment film 28 and the second inorganic alignment film 32, and display quality can be prevented from deteriorating.

(3)本実施形態の電子機器によれば、上記液晶装置100を備えているので、表示特性を向上させることが可能な電子機器を提供することができる。   (3) According to the electronic apparatus of the present embodiment, since the liquid crystal device 100 is provided, an electronic apparatus that can improve display characteristics can be provided.

なお、本発明の態様は、上記した実施形態に限られるものではなく、請求の範囲及び明細書全体から読み取れる発明の要旨あるいは思想に反しない範囲で適宜変更可能であり、本発明の態様の技術範囲に含まれるものである。また、以下のような形態で実施することもできる。   The aspect of the present invention is not limited to the above-described embodiment, and can be appropriately changed without departing from the spirit or idea of the invention that can be read from the claims and the entire specification. It is included in the range. Moreover, it can also implement with the following forms.

(変形例1)
上記したように、透過型の液晶装置100であることに限定されず、反射型の液晶装置200に適用するようにしてもよい。反射型の液晶装置200の場合の構造を、以下に説明する。図11は、反射型の液晶装置200の構造を示す模式断面図である。
(Modification 1)
As described above, the present invention is not limited to the transmissive liquid crystal device 100, and may be applied to the reflective liquid crystal device 200. The structure in the case of the reflective liquid crystal device 200 will be described below. FIG. 11 is a schematic cross-sectional view showing the structure of the reflective liquid crystal device 200.

図11に示す反射型の液晶装置200は、素子基板10側の第1有機膜28aを形成するための表面処理剤が含む原料の炭素数を、対向基板20側の第2有機膜32aを形成するための表面処理剤が含む原料の炭素数より多く(5〜10)なるように形成されている。反射型の液晶装置200は、画素電極27が金属材料(例えば、アルミニウム)で構成されている。   The reflective liquid crystal device 200 shown in FIG. 11 forms the second organic film 32a on the counter substrate 20 side with the carbon number of the raw material included in the surface treatment agent for forming the first organic film 28a on the element substrate 10 side. It is formed so that it may be more (5-10) than the carbon number of the raw material which the surface treating agent for doing. In the reflective liquid crystal device 200, the pixel electrode 27 is made of a metal material (for example, aluminum).

液晶装置200の製造方法は、第1実施形態の液晶装置100の製造方法と略同様である。具体的には、素子基板10の製造方法において、シランカップリング材の表面処理剤が含む原料の分子の炭素数を、例えば、18に調製する。また、対向基板20の製造方法において、シランカップリング材の表面処理剤が含む原料の炭素数を、例えば、10に調製する。   The manufacturing method of the liquid crystal device 200 is substantially the same as the manufacturing method of the liquid crystal device 100 of the first embodiment. Specifically, in the method for manufacturing the element substrate 10, the number of carbon atoms of the raw material contained in the surface treatment agent for the silane coupling material is adjusted to 18, for example. Moreover, in the manufacturing method of the opposing substrate 20, the carbon number of the raw material which the surface treatment agent of a silane coupling material contains is adjusted to 10, for example.

このように、マイナスイオンの吸着量は炭素数に比例するので、第2有機膜を形成するための32aの表面処理剤が含む原料の炭素数が少ない、つまり第1有機膜28aの分子の炭素数を多くすることにより、第1有機膜28aに多くのマイナスイオンを吸着させることが可能となる。よって、反射型の液晶装置200のように、電極の材質が異なる場合、具体的には、画素電極27に金属材料を用いて、対向電極31にITOを用いた場合、画素電極27側に多くのマイナスイオンを集めることが可能となり、画素電極27と液晶層15との間の電荷移動量と、対向電極31と液晶層15との電荷移動量とを、略等しくすることができる。言い換えれば、配向膜へのイオンの吸着量の偏りを補正することができる。これにより、Vcomシフトを抑えることが可能となり、フリッカーが生じるなど表示品質が低下することを抑えることができる。   Thus, since the amount of negative ions adsorbed is proportional to the number of carbons, the raw material containing the surface treatment agent 32a for forming the second organic film has a small number of carbons, that is, carbon of molecules of the first organic film 28a. By increasing the number, it becomes possible to adsorb many negative ions to the first organic film 28a. Therefore, when the material of the electrode is different as in the reflective liquid crystal device 200, specifically, when the pixel electrode 27 is made of a metal material and the counter electrode 31 is made of ITO, the electrode electrode 27 is often on the pixel electrode 27 side. Negative ions can be collected, and the amount of charge transfer between the pixel electrode 27 and the liquid crystal layer 15 and the amount of charge transfer between the counter electrode 31 and the liquid crystal layer 15 can be made substantially equal. In other words, it is possible to correct a deviation in the amount of ions adsorbed on the alignment film. As a result, it is possible to suppress the Vcom shift, and it is possible to suppress the display quality from being deteriorated such as the occurrence of flicker.

(変形例2)
上記したように、アクティブマトリックス型の液晶装置100に適用することに限定されず、例えば、単純マトリックス型の液晶装置に適用するようにしてもよい。
(Modification 2)
As described above, the present invention is not limited to application to the active matrix liquid crystal device 100, and may be applied to, for example, a simple matrix liquid crystal device.

(変形例3)
上記したように、電気光学装置として液晶装置100を適用することに限定されず、例えば、有機EL装置、プラズマディスプレイ、電子ペーパー(EPD)等に適用するようにしてもよい。
(Modification 3)
As described above, the liquid crystal device 100 is not limited to being applied as an electro-optical device, and may be applied to, for example, an organic EL device, a plasma display, electronic paper (EPD), or the like.

3a…走査線、3b…容量線、3c…下側遮光膜、CNT1〜CNT4…コンタクトホール、6a…データ線、10…素子基板、10a…第1基材、11a…下地絶縁層、11b…第1層間絶縁層、11c…第2層間絶縁層、11d…第3層間絶縁層、11g…ゲート絶縁層、14…シール材、15…電気光学層としての液晶層、16…容量素子、16a…第1容量電極、16b…第2容量電極、16c…誘電体膜、18…遮光膜、20…対向基板、20a…第2基材、22…データ線駆動回路、24…走査線駆動回路、25…検査回路、26…上下導通部、27…画素電極、28…第1配向膜としての第1無機配向膜、28a…第1有機膜、29…配線、30…TFT、30a…半導体層、30c…チャネル領域、30d…画素電極側ソースドレイン領域、30d1…画素電極側LDD領域、30g…ゲート電極、30s…データ線側ソースドレイン領域、30s1…データ線側LDD領域、31…対向電極、32…第2配向膜としての第2無機配向膜、32a…第2有機膜、33…絶縁膜、61…外部接続用端子、70…CVD装置、71…密閉チャンバー、72…容器、73…ヒーター、100…透過型の液晶装置、200…反射型の液晶装置、1000…投射型表示装置、1100…偏光照明装置、1101…ランプユニット、1102…インテグレーターレンズ、1103…偏光変換素子、1104,1105…ダイクロイックミラー、1106,1107,1108…反射ミラー、1201,1202,1203,1204,1205…リレーレンズ、1206…クロスダイクロイックプリズム、1207…投射レンズ、1210,1220,1230…液晶ライトバルブ、1300…スクリーン。   3a ... scanning line, 3b ... capacitance line, 3c ... lower light-shielding film, CNT1 to CNT4 ... contact hole, 6a ... data line, 10 ... element substrate, 10a ... first substrate, 11a ... underlying insulating layer, 11b ... first 1st interlayer insulation layer, 11c ... 2nd interlayer insulation layer, 11d ... 3rd interlayer insulation layer, 11g ... Gate insulation layer, 14 ... Sealing material, 15 ... Liquid crystal layer as electro-optic layer, 16 ... Capacitance element, 16a ... 1st 1 capacitive electrode, 16b ... 2nd capacitive electrode, 16c ... dielectric film, 18 ... light shielding film, 20 ... counter substrate, 20a ... 2nd base material, 22 ... data line drive circuit, 24 ... scanning line drive circuit, 25 ... Inspection circuit 26... Vertical conduction portion 27... Pixel electrode 28. First inorganic alignment film as first alignment film 28 a. First organic film 29. Wiring 30. TFT 30 a semiconductor layer 30 c Channel region, 30d ... pixel electrode side saw Drain region, 30d1 ... pixel electrode side LDD region, 30g ... gate electrode, 30s ... data line side source / drain region, 30s1 ... data line side LDD region, 31 ... counter electrode, 32 ... second inorganic orientation as second orientation film Film 32a ... second organic film 33 ... insulating film 61 ... external connection terminal 70 ... CVD apparatus 71 ... sealed chamber 72 ... container 73 ... heater 100 ... transmission type liquid crystal device 200 ... reflection Type liquid crystal device, 1000 ... projection type display device, 1100 ... polarized light illumination device, 1101 ... lamp unit, 1102 ... integrator lens, 1103 ... polarization conversion element, 1104, 1105 ... dichroic mirror, 1106, 1107, 1108 ... reflection mirror, 1201, 1202, 1203, 1204, 1205 ... relay lens, 1206 ... black Dichroic prism, 1207 ... projection lens, 1210, 1220 ... liquid crystal light valves, 1300 ... screen.

Claims (9)

素子基板と、
前記素子基板とシール材を介して対向するように配置された対向基板と、
前記シール材で囲まれた領域に封入された電気光学層と、
前記素子基板と前記電気光学層との間に配置された画素電極と、
前記対向基板と前記電気光学層との間に配置された対向電極と、
前記画素電極を覆うように配置された第1配向膜と、
前記対向電極を覆うように配置された第2配向膜と、
前記第1配向膜を覆うように配置された第1有機膜と、
前記第2配向膜を覆うように配置された第2有機膜と、
を含み、
前記第1有機膜の分子が含む炭素数と比較して、前記第2有機膜の分子が含む炭素数が多いことを特徴とする電気光学装置。
An element substrate;
A counter substrate disposed so as to oppose the element substrate via a sealing material;
An electro-optic layer enclosed in a region surrounded by the sealing material;
A pixel electrode disposed between the element substrate and the electro-optic layer;
A counter electrode disposed between the counter substrate and the electro-optic layer;
A first alignment film disposed to cover the pixel electrode;
A second alignment film disposed so as to cover the counter electrode;
A first organic film disposed to cover the first alignment film;
A second organic film disposed to cover the second alignment film;
Including
The electro-optical device, wherein the number of carbon atoms contained in the molecules of the second organic film is larger than the number of carbon atoms contained in the molecules of the first organic film.
素子基板と、
前記素子基板とシール材を介して対向するように配置された対向基板と、
前記シール材で囲まれた領域に封入された電気光学層と、
前記素子基板と前記電気光学層との間に配置された画素電極と、
前記対向基板と前記電気光学層との間に配置された対向電極と、
前記画素電極を覆うように配置された第1配向膜と、
前記対向電極を覆うように配置された第2配向膜と、
前記第1配向膜を覆うように配置された第1有機膜と、
前記第2配向膜を覆うように配置された第2有機膜と、
を含み、
前記第1有機膜の分子が含む炭素数と比較して、前記第2有機膜の分子が含む炭素数が少ないことを特徴とする電気光学装置。
An element substrate;
A counter substrate disposed so as to oppose the element substrate via a sealing material;
An electro-optic layer enclosed in a region surrounded by the sealing material;
A pixel electrode disposed between the element substrate and the electro-optic layer;
A counter electrode disposed between the counter substrate and the electro-optic layer;
A first alignment film disposed to cover the pixel electrode;
A second alignment film disposed so as to cover the counter electrode;
A first organic film disposed to cover the first alignment film;
A second organic film disposed to cover the second alignment film;
Including
An electro-optical device, wherein the number of carbon atoms contained in the molecules of the second organic film is smaller than the number of carbon atoms contained in the molecules of the first organic film.
請求項1に記載の電気光学装置であって、
前記第2有機膜の分子が含む炭素数は、前記第1有機膜の分子が含む炭素数より1〜3多いことを特徴とする電気光学装置。
The electro-optical device according to claim 1,
2. The electro-optical device according to claim 1, wherein the number of carbon atoms contained in the molecules of the second organic film is 1 to 3 greater than the number of carbon atoms contained in the molecules of the first organic film.
請求項2に記載の電気光学装置であって、
前記第1有機膜の分子が含む炭素数は、前記第2有機膜の分子が含む炭素数より5〜10多いことを特徴とする電気光学装置。
The electro-optical device according to claim 2,
The electro-optical device, wherein the number of carbon atoms contained in the molecules of the first organic film is 5 to 10 more than the number of carbon atoms contained in the molecules of the second organic film.
請求項1乃至請求項4のいずれか一項に記載の電気光学装置であって、
前記第1配向膜及び前記第2配向膜は、無機配向膜であり、
前記第1有機膜は、シランカップリング材から生成される物質を含むことを特徴とする電気光学装置。
The electro-optical device according to any one of claims 1 to 4,
The first alignment film and the second alignment film are inorganic alignment films,
The electro-optical device, wherein the first organic film includes a substance generated from a silane coupling material.
画素電極を覆うように配置された第1配向膜に第1の表面処理を行い、第1有機膜を形成する工程と、
対向電極を覆うように配置された第2配向膜に第2の表面処理を行い、第2有機膜を形成する工程と、
を含み、
前記第1の表面処理を行い、前記第1有機膜を形成する工程に用いる第1の表面処理剤が含む原料の分子の炭素数と比較して、前記第2の表面処理を行い、前記第2有機膜を形成する工程に用いる第2の表面処理剤が含む原料の分子の炭素数が多いことを特徴とする電気光学装置の製造方法。
Performing a first surface treatment on the first alignment film disposed so as to cover the pixel electrode to form a first organic film;
Performing a second surface treatment on the second alignment film disposed to cover the counter electrode to form a second organic film;
Including
The first surface treatment is performed, and the second surface treatment is performed in comparison with the number of carbon atoms of the raw material molecules contained in the first surface treatment agent used in the step of forming the first organic film. (2) A method of manufacturing an electro-optical device, wherein the second surface treatment agent used in the step of forming the organic film has a large number of carbon atoms in a raw material molecule.
画素電極を覆うように配置された第1配向膜に第1の表面処理を行い、第1有機膜を形成する工程と、
対向電極を覆うように配置された第2配向膜に第2の表面処理を行い、第2有機膜を形成する工程と、
を含み、
前記第1の表面処理を行い、前記第1有機膜を形成する工程に用いる第1の表面処理剤が含む原料の分子の炭素数と比較して、前記第2の表面処理を行い、前記第2有機膜を形成する工程に用いる第2の表面処理剤が含む原料の分子の炭素数が少ないことを特徴とする電気光学装置の製造方法。
Performing a first surface treatment on the first alignment film disposed so as to cover the pixel electrode to form a first organic film;
Performing a second surface treatment on the second alignment film disposed to cover the counter electrode to form a second organic film;
Including
The first surface treatment is performed, and the second surface treatment is performed in comparison with the number of carbon atoms of the raw material molecules contained in the first surface treatment agent used in the step of forming the first organic film. (2) A method of manufacturing an electro-optical device, wherein the second surface treatment agent used in the step of forming the organic film has a small number of carbon atoms in raw material molecules.
請求項6又は請求項7に記載の電気光学装置の製造方法であって、
前記第1配向膜及び前記第2配向膜は、無機配向膜であり、
前記第1の表面処理及び前記第2の表面処理は、シランカップリング処理であることを特徴とする電気光学装置の製造方法。
A method of manufacturing the electro-optical device according to claim 6 or 7,
The first alignment film and the second alignment film are inorganic alignment films,
The method of manufacturing an electro-optical device, wherein the first surface treatment and the second surface treatment are silane coupling treatments.
請求項1乃至請求項5のいずれか一項に記載の電気光学装置を備えていることを特徴とする電子機器。   An electronic apparatus comprising the electro-optical device according to any one of claims 1 to 5.
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1010538A (en) * 1996-06-25 1998-01-16 Matsushita Electric Ind Co Ltd Liquid crystal display element and its production
JP2007033966A (en) * 2005-07-28 2007-02-08 Seiko Epson Corp Liquid crystal device, method for manufacturing same, and electronic apparatus

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1010538A (en) * 1996-06-25 1998-01-16 Matsushita Electric Ind Co Ltd Liquid crystal display element and its production
JP2007033966A (en) * 2005-07-28 2007-02-08 Seiko Epson Corp Liquid crystal device, method for manufacturing same, and electronic apparatus

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