JP2015197408A - 短絡検査装置および短絡検査方法 - Google Patents
短絡検査装置および短絡検査方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2015197408A JP2015197408A JP2014076690A JP2014076690A JP2015197408A JP 2015197408 A JP2015197408 A JP 2015197408A JP 2014076690 A JP2014076690 A JP 2014076690A JP 2014076690 A JP2014076690 A JP 2014076690A JP 2015197408 A JP2015197408 A JP 2015197408A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- short
- voltage
- negative electrode
- positive electrode
- circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E60/00—Enabling technologies; Technologies with a potential or indirect contribution to GHG emissions mitigation
- Y02E60/10—Energy storage using batteries
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
- Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
Abstract
【課題】電池の正極と負極との短絡を適切に検知しつつ、これら正極と負極との短絡の原因を判別する。【解決手段】短絡検査装置1は、電圧印加部11、電圧測定部12、短絡判定部13、および短絡原因判別部14を備える。電圧印加部11は、時間が経過するに従って電圧値が大きくなる電圧を正極と負極との間に印加する。電圧測定部12は、電圧印加部11により正極と負極との間に電圧が印加されている期間に、これら正極と負極との間の電圧を測定する。短絡判定部13は、電圧測定部12により測定された電圧が0V以下であれば、正極と負極とが短絡していると判定する。短絡原因判別部14は、短絡判定部13により正極と負極とが短絡していると判定された時点において電圧印加部11により印加されている電圧の電圧値に基づいて、正極と負極との短絡の原因を判別する。【選択図】図1
Description
本発明は、電池の正極と負極との短絡を検査する短絡検査装置および短絡検査方法に関する。
電池は、電極や電解液といった構成要素をケース内に封入することによって製造される。
例えばリチウムイオン二次電池であれば、正極と負極との間にセパレータを挟んでエレメントを構成し、このエレメントをケース内に配置した後に、電解液をケース内に注液する。
正極と負極とは、セパレータにより絶縁される。しかし、例えば、導電性の異物が正極および負極に接触していたり、セパレータの配置位置がずれることによって正極と負極とが直接接触していたり、といった不具合が発生するおそれがある。このような不具合が発生すると、正極と負極とが短絡状態になるので、このような不具合が発生しているエレメントや、このような不具合の発生しているエレメントを備えるリチウムイオン二次電池は、見つけ出して取り除く必要がある。
そこで、正極と負極との間で短絡が発生しているか否かを判定する手法が提案されている(例えば、特許文献1参照)。特許文献1に示されている手法によれば、正極と負極との間にインパルス電圧を印加している期間において、これら正極と負極との間の電圧が閾値より低ければ、これら正極と負極との間で短絡が発生していると判定する。
しかし、特許文献1に示されている手法では、正極と負極との間で短絡が発生していることは判定することができても、正極と負極との間の短絡の原因を判別することはできない。しかし、短絡の原因を判別することができないと、対策を講じることができないため、電池製造の歩留り向上に影響を与えることになってしまう。このため、特許文献1に示されている手法では、短絡の原因を判別するための処理を別途に行う必要があり、手間がかかってしまっていた。
また、異物が正極および負極に接触している際に、これら電極間に電圧を印加すると、この異物が破壊されて、これら電極間で発生していた短絡が解消され、これら電極が絶縁状態になることがある。さらに、異物の破壊は、電極間に印加する電圧が高くなるに従って発生しやすくなる。特許文献1に示されている手法では、印加する電圧がインパルス電圧であるため、電圧の印加を開始したと同時に高い電圧が電極間に印加される。このため、電極間に電圧を印加したと同時に異物が破壊され、この異物により短絡していた正極と負極とが絶縁状態になるので、異物が存在していることを検知できない。さらに、上述のように異物が破壊されても、その破片は電池のケース内に異物として残っているため、この異物が検査後に再度正極および負極に接触して、これら電極間で短絡が発生してしまうおそれがあった。
そこで、本発明は、上記の課題に鑑みてなされたものであり、電池の正極と負極との短絡を適切に検知しつつ、これら正極と負極との短絡の原因を判別することを目的とする。
本発明は、上述の課題を解決するために、以下の事項を提案している。なお、理解を容易にするために、本発明の実施形態に対応する符号を付して説明するが、これに限定されるものではない。
(1) 本発明は、電池の正極と負極との短絡を検査する短絡検査装置(例えば、図1の短絡検査装置1に相当)であって、時間が経過するに従って電圧値が大きくなる電圧を前記正極と前記負極との間に印加する電圧印加手段(例えば、図1の電圧印加部11に相当)と、前記電圧印加手段により前記正極と前記負極との間に電圧が印加されている期間に、当該正極と当該負極との間の電圧を測定する電圧測定手段(例えば、図1の電圧測定部12に相当)と、前記電圧測定手段により測定された電圧が、予め定められた閾値(例えば、後述の0Vに相当)以下であれば、前記正極と前記負極とが短絡していると判定する短絡判定手段(例えば、図1の短絡判定部13に相当)と、前記短絡判定手段により前記正極と前記負極とが短絡していると判定された時点において前記電圧印加手段により印加されている電圧の電圧値に基づいて、当該正極と当該負極との短絡の原因を判別する短絡原因判別手段(例えば、図1の短絡原因判別部14に相当)と、を備えることを特徴とする短絡検査装置を提案している。
ここで、正極と負極とで短絡が発生すると、正極と負極との間に電圧を印加しても、これら正極と負極との間の電圧が上昇しない。そこで、この発明によれば、電圧印加手段により電圧を正極と負極との間に印加し、電圧測定手段により、これら正極と負極との間の電圧を測定することとした。また、短絡判定手段により、電圧測定手段により測定された電圧が閾値以下であれば、正極と負極とが短絡していると判定することとした。このため、電池の正極と負極との短絡を検知することができる。
また、例えば、セパレータを間に介することなく異物が正極および負極に接触している場合には、上述のようにインパルス電圧をこれら正極と負極との間に印加すると、電圧の印加を開始したと同時にこの異物が破壊されて、異物が存在していることを検知できないおそれがある。そこで、この発明によれば、電圧印加手段により、正極と負極との間に印加する電圧の電圧値を、時間が経過するに従って大きくすることとした。このため、正極と負極との間に電圧を印加したと同時にこれら正極および負極に接触している異物が破壊されてしまうのを、抑制することができる。したがって、正極と負極との間に高い電圧を印加すると破壊される異物がこれら正極および負極に接触していても、この異物が存在していることを検知することができるので、正極と負極との短絡を適切に検知することができる。
さらに、例えば、セパレータの配置位置がずれることによって正極と負極とが直接接触している場合には、ある程度広い面積で正極と負極とが接触していると考えられるため、これら正極と負極との間の抵抗値が比較的低いことが想定される。このため、セパレータの配置位置がずれることによって正極と負極とが直接接触している場合には、正極と負極との間に印加する電圧が低い段階で、これら正極と負極とが短絡し、これら正極と負極との間の電圧が低下すると考えられる。
一方、例えば、異物が正極および負極に接触している場合には、異物の大きさや形状によるものの、比較的狭い面積で正極と負極とが接触していると考えられるため、これら正極と負極との間の抵抗値が比較的高いことが想定される。このため、異物が正極および負極に接触している場合には、正極と負極との間にある程度高い電圧を印加しないと、これら正極と負極とが短絡せず、これら正極と負極との間の電圧が低下しないと考えられる。
そこで、この発明によれば、短絡原因判別手段により、短絡判定手段により短絡していると判定された時点において電圧印加手段により印加されている電圧の電圧値に基づいて、正極と負極との短絡の原因を判別することとした。このため、正極と負極とが短絡した時点でこれら正極と負極との間に印加していた電圧を求めることができ、求めた電圧から短絡の原因を判別することができる。
(2) 本発明は、(1)の短絡検査装置について、前記電圧印加手段は、前記短絡判定手段により前記正極と前記負極とが短絡していると判定された後においても、当該正極と当該負極との間に印加する電圧の電圧値を時間が経過するに従って大きくし続け、前記短絡原因判別手段は、前記短絡判定手段により前記正極と前記負極とが短絡していると判定される状態から、当該短絡判定手段により当該正極と当該負極とが短絡していないと判定される状態に遷移するか否かに基づいて、当該正極と当該負極との短絡の原因を判別することを特徴とする短絡検査装置を提案している。
ここで、上述のように異物が正極および負極に接触していても、正極と負極との間に電圧を印加することによって異物が破壊された際に、これら正極と負極とが絶縁状態になる場合と、これら正極と負極とが短絡したままになる場合と、がある。
異物が破壊されると正極と負極とが絶縁状態になる原因としては、正極および負極に接触している異物がセパレータを間に介しておらず、セパレータに穴が空くといった大きなダメージをセパレータが負っていないことが考えられる。この場合には、異物が破壊されると、正極と負極との間で発生していた短絡が解消され、これら正極と負極とが絶縁状態になる。
一方、異物が破壊されても正極と負極とが短絡したままになる原因としては、正極および負極に接触している異物がセパレータを間に介しており、セパレータに穴が空くといった大きなダメージをセパレータが負っていることが考えられる。この場合には、異物が破壊されても、セパレータがダメージを負っているために、正極と負極とが短絡したままの状態になる。
そこで、この発明によれば、(1)の短絡検査装置において、短絡判定手段により正極と負極とが短絡していると判定された後においても、電圧印加手段により、これら正極と負極との間に印加する電圧の電圧値を時間が経過するに従って大きくし続けることとした。また、短絡原因判別手段は、短絡判定手段により正極と負極とが短絡していると判定される状態から、短絡判定手段により正極と負極とが短絡していないと判定される状態に遷移するか否かに基づいて、正極と負極との短絡の原因を判別することとした。このため、正極および負極に接触している異物が、セパレータを間に介しているか否かを判別することができるので、短絡の原因をより詳細に判別することができる。
(3) 本発明は、(1)または(2)の短絡検査装置について、前記短絡原因判別手段は、前記電圧測定手段により測定された電圧が前記閾値以下になった時点において前記電圧印加手段により印加されている電圧の電圧値を、前記正極と前記負極との短絡の原因ごとに記憶していることを特徴とする短絡検査装置を提案している。
この発明によれば、(1)または(2)の短絡検査装置において、電圧測定手段により測定された電圧が閾値以下になった時点において正極と負極との間に印加されている電圧の電圧値を、正極と負極との短絡の原因ごとに、短絡原因判別手段に記憶させることとした。このため、短絡原因判別手段が記憶している情報に基づいて、正極と負極との短絡の原因を容易に判別することができる。
(4) 本発明は、(1)から(3)のいずれか1つの短絡検査装置について、前記電圧印加手段は、第1の電圧値(例えば、後述の0Vに相当)から、当該第1の電圧値よりも大きい第2の電圧値(例えば、後述の400Vに相当)まで、前記正極と前記負極との間に印加する電圧の電圧値を時間が経過するに従って大きくすることを特徴とする短絡検査装置を提案している。
この発明によれば、(1)から(3)のいずれか1つの短絡検査装置において、電圧印加手段により、第1の電圧値から第2の電圧値まで、正極と負極との間に印加する電圧の電圧値を時間が経過するに従って大きくすることとした。このため、第1の電圧値および第2の電圧値を適宜設定することによって、正極と負極との間に印加する電圧の電圧値を、これら正極と負極とが短絡する可能性のある電圧値の範囲でのみ上昇させることができる。したがって、短絡検査装置による検査にかかる時間を短縮することができる。
(5) 本発明は、(1)から(4)のいずれか1つの短絡検査装置について、前記短絡判定手段により前記正極と前記負極とが短絡していると判定された時点において前記電圧印加手段により印加されている電圧の電圧値が、予め定められた所定値(例えば、図3の50Vに相当)以上であるか否かによって、当該正極と当該負極との短絡の原因が変わる場合に、前記電圧印加手段は、前記正極と前記負極との間に印加する電圧の電圧値を時間が経過するに従って大きくする度合いを、前記所定値を含む所定の範囲(例えば、図4の40Vから60Vに相当)内に当該電圧値がある期間では、他の期間(例えば、正極と負極との間に印加する電圧の電圧値が図4の0Vから40Vの間にある期間に相当)と比べて緩やかにすることを特徴とする短絡検査装置を提案している。
この発明によれば、(1)から(4)のいずれか1つの短絡検査装置において、正極と負極との間に印加している電圧の電圧値が所定値以上であるか否かによって短絡の原因が変わる場合に、電圧印加手段により、正極と負極との間に印加する電圧の電圧値を時間が経過するに従って大きくする度合いを、正極と負極との間に印加する電圧の電圧値が所定値を含む所定の範囲内にある期間では、他の期間と比べて緩やかにすることとした。このため、正極と負極との間に印加する電圧の電圧値が所定値近傍である状態において、正極と負極との間に印加される電圧の単位時間当たりの変化量が小さくなるので、これら正極と負極とが短絡した時点でこれら正極と負極との間に印加されている電圧の電圧値が所定値と比べて高いのか低いのかを、正確に求めることができる。したがって、正極と負極との短絡の原因をより正確に判別することができる。
(6) 本発明は、電池の正極と負極との短絡を検査する短絡検査方法であって、時間が経過するに従って電圧値が大きくなる電圧を前記正極と前記負極との間に印加する第1のステップと、前記第1のステップにより前記正極と前記負極との間に電圧が印加されている期間に、当該正極と当該負極との間の電圧を測定する第2のステップと、前記第2のステップにより測定された電圧が、予め定められた閾値(例えば、後述の0Vに相当)以下であれば、前記正極と前記負極とが短絡していると判定する第3のステップと、前記第3のステップにより前記正極と前記負極とが短絡していると判定された時点において前記第1のステップにより印加されている電圧の電圧値に基づいて、当該正極と当該負極との短絡の原因を判別する第4のステップと、を備えることを特徴とする短絡検査方法を提案している。
この発明によれば、上述した効果と同様の効果を奏することができる。
(7) 本発明は、(6)の短絡検査方法について、前記第1のステップでは、前記第3のステップにより前記正極と前記負極とが短絡していると判定された後においても、当該正極と当該負極との間に印加する電圧の電圧値を時間が経過するに従って大きくし続け、前記第4のステップでは、前記第3のステップにより前記正極と前記負極とが短絡していると判定される状態から、当該第3のステップにより当該正極と当該負極とが短絡していないと判定される状態に遷移するか否かに基づいて、当該正極と当該負極との短絡の原因を判別することを特徴とする短絡検査方法を提案している。
この発明によれば、上述した効果と同様の効果を奏することができる。
(8) 本発明は、(6)または(7)の短絡検査方法について、前記第4のステップでは、前記第2のステップにより測定された電圧が前記閾値以下になった時点において前記第1のステップにより印加されている電圧の電圧値を、前記正極と前記負極との短絡の原因ごとに記憶していることを特徴とする短絡検査方法を提案している。
この発明によれば、上述した効果と同様の効果を奏することができる。
(9) 本発明は、(6)から(8)のいずれか1つの短絡検査方法について、前記第1のステップでは、第1の電圧値(例えば、後述の0Vに相当)から、当該第1の電圧値よりも大きい第2の電圧値(例えば、後述の400Vに相当)まで、前記正極と前記負極との間に印加する電圧の電圧値を時間が経過するに従って大きくすることを特徴とする短絡検査方法を提案している。
この発明によれば、上述した効果と同様の効果を奏することができる。
(10) 本発明は、(6)から(9)のいずれか1つの短絡検査方法について、前記第3のステップにより前記正極と前記負極とが短絡していると判定された時点において前記第1のステップにより印加されている電圧の電圧値が、予め定められた所定値(例えば、図3の50Vに相当)以上であるか否かによって、当該正極と当該負極との短絡の原因が変わる場合に、前記第1のステップでは、前記正極と前記負極との間に印加する電圧の電圧値を時間が経過するに従って大きくする度合いを、前記所定値を含む所定の範囲(例えば、図4の40Vから60Vに相当)内に当該電圧値がある期間では、他の期間(例えば、正極と負極との間に印加する電圧の電圧値が図4の0Vから40Vの間にある期間に相当)と比べて緩やかにすることを特徴とする短絡検査方法を提案している。
この発明によれば、上述した効果と同様の効果を奏することができる。
本発明によれば、電池の正極と負極との短絡を適切に検知しつつ、これら正極と負極との短絡の原因を判別することができる。
以下、本発明の実施形態について、図面を用いて、詳細に説明する。なお、以下の実施形態における構成要素は適宜、既存の構成要素などとの置き換えが可能であり、また、他の既存の構成要素との組み合わせを含む様々なバリエーションが可能である。したがって、以下の実施形態の記載をもって、特許請求の範囲に記載された発明の内容を限定するものではない。
図1は、本発明の一実施形態に係る短絡検査装置1のブロック図である。短絡検査装置1は、電池の正極と負極との短絡を検査するものであり、電圧印加部11、電圧測定部12、短絡判定部13、および短絡原因判別部14を備える。
なお、本実施形態において異物とは、導電性を有するものを想定しており、例えば、電極を切断した際の電極や箔の屑や、電極組み立て時に発生してしまった活物質の剥がれなどのことであるものとする。
電圧印加部11は、図2に示すように時間が経過するに従って電圧値が大きくなる電圧を、正極と負極との間に印加する。
電圧測定部12は、電圧印加部11により正極と負極との間に電圧が印加されている期間に、これら正極と負極との間の電圧を測定する。
短絡判定部13は、電圧測定部12により測定された電圧が、予め定められた閾値(例えば、0V)以下であれば、正極と負極とが短絡していると判定する。
短絡原因判別部14は、短絡判定部13により正極と負極とが短絡していると判定された時点において、電圧印加部11により印加されている電圧の電圧値に基づいて、正極と負極との短絡の原因を判別する。短絡原因判別部14には、ROM(Read Only Memory)や、EPROMやフラッシュメモリといった不揮発性のメモリ、ハードディスクといった磁気ディスク、CD−ROMなどで構成された記憶部が設けられており、この記憶部には、図3に示す短絡原因テーブルが記憶されている。短絡原因判別部14は、短絡原因テーブルを用いて、正極と負極との短絡の原因を判別する。
図3は、短絡原因テーブルを示す図である。短絡原因テーブルには、電極間の状態と、電極間の短絡の原因と、の関係が予め定められている。
まず、セパレータが正常で、異物が存在しており、この異物が正極と負極とに接触している場合について、以下に検討する。この場合には、正極と負極との間に印加する電圧を上昇させていくと、これら正極と負極とが短絡状態になるが、印加する電圧をさらに上昇させていくと、異物が破壊されて、これら正極と負極とが絶縁状態になる。
そこで、短絡原因テーブルには、電圧値を0Vから400Vまで上昇させていく途中で、短絡していると判定された後に、短絡していない(絶縁状態である)と判定された場合には、正極と負極との短絡原因は、セパレータが正常で、異物が存在しており、この異物が正極と負極とに接触していることであると、定められている。
なお、セパレータが正常とは、セパレータの配置位置がずれていたり、セパレータに破れやくぼみが発生していたりしないということである。
次に、セパレータの配置位置がずれていたり、セパレータを突き破った異物が正極と負極とに接触していたりする場合について、以下に検討する。この場合には、正極と負極との間に0Vから50Vの電圧を印加すると、これら正極と負極とが短絡状態になる。さらに、正極と負極とが短絡状態になった後においてもこれら正極と負極との間に印加する電圧を上昇させても、これら正極と負極とは短絡状態のままとなる。
そこで、短絡原因テーブルには、短絡していると判定された時点での電圧値が0Vから50Vの間にあり、その後、この電圧値を400Vまで大きくしても短絡していると判定され続ける場合には、正極と負極との短絡原因は、セパレータの配置位置がずれていること、またはセパレータを突き破った異物が正極と負極とに接触していることであると、定められている。
次に、セパレータのくぼみに異物が存在しており、この異物が正極と負極とに接触している場合について、以下に検討する。この場合には、正極と負極との間に50Vから200Vの電圧を印加すると、セパレータによる絶縁を維持できなくなり、正極と異物と負極との間に電流が流れる。そして、この電流によってセパレータがダメージを負い、これら正極と負極とが短絡状態になる。さらに、正極と負極とが短絡状態になった後においてもこれら正極と負極との間に印加する電圧を上昇させても、これら正極と負極とは短絡状態のままとなる。
そこで、短絡原因テーブルには、短絡していると判定された時点での電圧値が50Vから200Vの間にあり、その後、この電圧値を400Vまで大きくしても短絡していると判定され続ける場合には、正極と負極との短絡原因は、セパレータのくぼみに異物が存在しており、この異物が正極と負極とに接触していることであると、定められている。
次に、セパレータに穴が空いているといったセパレータ欠陥が発生している場合について、以下に検討する。この場合には、正極と負極との間に200Vから300Vの電圧を印加すると、これら正極と負極とが短絡状態になる。さらに、正極と負極とが短絡状態になった後においてもこれら正極と負極との間に印加する電圧を上昇させても、これら正極と負極とは短絡状態のままとなる。
そこで、短絡原因テーブルには、短絡していると判定された時点での電圧値が200Vから300Vの間にあり、その後、この電圧値を400Vまで大きくしても短絡していると判定され続ける場合には、正極と負極との短絡原因は、セパレータ欠陥であると、定められている。
短絡原因判別部14は、短絡判定部13により正極と負極とが短絡していると判定されると、その時点で電圧印加部11により印加されている電圧の電圧値を求め、短絡原因テーブルを参照する。
短絡判定部13により正極と負極とが短絡していると判定された時点において、電圧印加部11により印加されている電圧の電圧値が0Vから50Vの間にあり、その後、電圧印加部11により印加される電圧を400Vまで上昇させても、短絡判定部13により正極と負極とが短絡していると判定され続ける場合には、正極と負極との短絡原因は、セパレータの配置位置がずれていること、またはセパレータを突き破った異物が正極と負極とに接触していることであると、判別する。
また、短絡判定部13により正極と負極とが短絡していると判定された時点において、電圧印加部11により印加されている電圧の電圧値が50Vから200Vの間にあり、その後、電圧印加部11により印加される電圧を400Vまで上昇させても、短絡判定部13により正極と負極とが短絡していると判定され続ける場合には、正極と負極との短絡原因は、セパレータのくぼみに異物が存在しており、この異物が正極と負極とに接触していることであると、判別する。
また、短絡判定部13により正極と負極とが短絡していると判定された時点において、電圧印加部11により印加されている電圧の電圧値が200Vから300Vの間にあり、その後、電圧印加部11により印加される電圧を400Vまで上昇させても、短絡判定部13により正極と負極とが短絡していると判定され続ける場合には、正極と負極との短絡原因は、セパレータ欠陥であると、判別する。
一方、短絡判定部13により正極と負極とが短絡していると判定された後に、電圧印加部11により印加される電圧を400Vまで上昇させていくと、短絡判定部13により正極と負極とが短絡していないと判定された場合には、正極と負極との短絡原因は、セパレータが正常で、異物が存在しており、この異物が正極と負極とに接触していることであると、判別する。
以上の短絡検査装置1によれば、以下の効果を奏することができる。
短絡検査装置1は、電圧印加部11により電圧を正極と負極との間に印加し、電圧測定部12により、これら正極と負極との間の電圧を測定する。また、短絡判定部13により、電圧測定部12により測定された電圧が閾値以下であれば、正極と負極とが短絡していると判定する。このため、電池の正極と負極との短絡を検知することができる。
また、短絡検査装置1は、電圧印加部11により、正極と負極との間に印加する電圧の電圧値を、時間が経過するに従って大きくする。このため、正極と負極との間に電圧を印加したと同時にこれら正極および負極に接触している異物が破壊されてしまうのを、抑制することができる。したがって、正極と負極との間に高い電圧を印加すると破壊される異物がこれら正極および負極に接触していても、この異物が存在していることを検知することができるので、正極と負極との短絡を適切に検知することができる。
また、短絡検査装置1は、短絡原因判別部14により、短絡判定部13により短絡していると判定された時点において電圧印加部11により印加されている電圧の電圧値に基づいて、正極と負極との短絡の原因を判別する。このため、正極と負極とが短絡した時点でこれら正極と負極との間に印加していた電圧を求めることができ、求めた電圧から短絡の原因を判別することができる。
また、短絡検査装置1は、短絡判定部13により正極と負極とが短絡していると判定された後においても、電圧印加部11により、これら正極と負極との間に印加する電圧の電圧値を時間が経過するに従って大きくし続ける。また、短絡原因判別部14は、短絡判定部13により正極と負極とが短絡していると判定される状態から、短絡判定部13により正極と負極とが短絡していないと判定される状態に遷移するか否かに基づいて、正極と負極との短絡の原因を判別する。このため、正極および負極に接触している異物が、セパレータを間に介しているか否かを判別することができるので、短絡の原因をより詳細に判別することができる。
また、短絡検査装置1は、電圧測定部12により測定された電圧が閾値以下になった時点において正極と負極との間に印加されている電圧の電圧値を、正極と負極との短絡の原因ごとに、短絡原因判別部14に記憶させている。このため、短絡原因判別部14が記憶している情報に基づいて、正極と負極との短絡の原因を容易に判別することができる。
また、短絡検査装置1は、電圧印加部11により、0Vから400Vまで、正極と負極との間に印加する電圧の電圧値を時間が経過するに従って大きくする。このため、正極と負極との間に印加する電圧の電圧値を、これら正極と負極とが短絡する可能性のある電圧値の範囲でのみ上昇させることができる。したがって、短絡検査装置1による検査にかかる時間を短縮することができる。
以上、この発明の実施形態につき、図面を参照して詳述してきたが、具体的な構成はこの実施形態に限られるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の設計なども含まれる。
例えば、上述の実施形態では、電圧印加部11が正極と負極との間に印加する電圧の電圧値は、図2に示すように時間が経過するに従って直線状に大きくなるものとした。しかし、これに限らず、正極と負極との短絡原因が変わる際の電圧値の近傍で、電圧印加部11が正極と負極との間に印加する電圧の電圧値を時間が経過するに従って大きくする度合いを、他の期間と比べて緩やかにしてもよい。具体的には、例えば、図3に示したように、正極と負極との間に印加する電圧が50V、200V、300Vの3つの所定値を境にして、正極と負極との短絡原因が変わる場合、電圧印加部11が正極と負極との間に印加する電圧の電圧値が所定値の±10Vである期間(40Vから60Vの期間と、190Vから210Vの期間と、290Vから310Vの期間)では、他の期間と比べて、電圧印加部11が正極と負極との間に印加する電圧の電圧値を時間が経過するに従って大きくする度合いを緩やかにしてもよい。図4は、電圧印加部11が正極と負極との間に印加する電圧の電圧値が40Vから60Vの間である期間において、電圧値を緩やかに大きくしている例を示している。これによれば、正極と負極との間に印加する電圧の電圧値が所定値近傍である状態において、正極と負極との間に印加される電圧の単位時間当たりの変化量が小さくなるので、これら正極と負極とが短絡した時点でこれら正極と負極との間に印加されている電圧の電圧値が所定値と比べて高いのか低いのかを、正確に求めることができる。したがって、正極と負極との短絡の原因をより正確に判別することができる。
また、上述の実施形態では、電圧印加部11が正極と負極との間に印加する電圧の電圧値について、開始電圧値を0Vとし、終了電圧値を400Vとした。しかし、これに限らず、電圧値の範囲をある程度絞って検査を行いたい場合などには、開始電圧値および終了電圧値をそれぞれ適宜設定し、その範囲内で電圧値を除々に変化させるものとしてもよい。この場合には、検査開始時に、開始電圧値に基づく電圧が正極と負極との間に印加され、正極と負極との間の電圧が急激に高くなるので、異物が破壊されるといったことは考えられる。しかし、異物以外の原因で短絡している可能性が高いような場合には、その原因の判別に好適な電圧範囲になるように開始電圧値および終了電圧値を設定することで、検査時間の短縮を図ることができる。
1;短絡検査装置
11;電圧印加部
12;電圧測定部
13;短絡判定部
14;短絡原因判別部
11;電圧印加部
12;電圧測定部
13;短絡判定部
14;短絡原因判別部
Claims (10)
- 電池の正極と負極との短絡を検査する短絡検査装置であって、
時間が経過するに従って電圧値が大きくなる電圧を前記正極と前記負極との間に印加する電圧印加手段と、
前記電圧印加手段により前記正極と前記負極との間に電圧が印加されている期間に、当該正極と当該負極との間の電圧を測定する電圧測定手段と、
前記電圧測定手段により測定された電圧が、予め定められた閾値以下であれば、前記正極と前記負極とが短絡していると判定する短絡判定手段と、
前記短絡判定手段により前記正極と前記負極とが短絡していると判定された時点において前記電圧印加手段により印加されている電圧の電圧値に基づいて、当該正極と当該負極との短絡の原因を判別する短絡原因判別手段と、
を備えることを特徴とする短絡検査装置。 - 前記電圧印加手段は、前記短絡判定手段により前記正極と前記負極とが短絡していると判定された後においても、当該正極と当該負極との間に印加する電圧の電圧値を時間が経過するに従って大きくし続け、
前記短絡原因判別手段は、前記短絡判定手段により前記正極と前記負極とが短絡していると判定される状態から、当該短絡判定手段により当該正極と当該負極とが短絡していないと判定される状態に遷移するか否かに基づいて、当該正極と当該負極との短絡の原因を判別することを特徴とする請求項1に記載の短絡検査装置。 - 前記短絡原因判別手段は、前記電圧測定手段により測定された電圧が前記閾値以下になった時点において前記電圧印加手段により印加されている電圧の電圧値を、前記正極と前記負極との短絡の原因ごとに記憶していることを特徴とする請求項1または2に記載の短絡検査装置。
- 前記電圧印加手段は、第1の電圧値から、当該第1の電圧値よりも大きい第2の電圧値まで、前記正極と前記負極との間に印加する電圧の電圧値を時間が経過するに従って大きくすることを特徴とする請求項1から3のいずれか1つに記載の短絡検査装置。
- 前記短絡判定手段により前記正極と前記負極とが短絡していると判定された時点において前記電圧印加手段により印加されている電圧の電圧値が、予め定められた所定値以上であるか否かによって、当該正極と当該負極との短絡の原因が変わる場合に、
前記電圧印加手段は、前記正極と前記負極との間に印加する電圧の電圧値を時間が経過するに従って大きくする度合いを、前記所定値を含む所定の範囲内に当該電圧値がある期間では、他の期間と比べて緩やかにすることを特徴とする請求項1から4のいずれか1つに記載の短絡検査装置。 - 電池の正極と負極との短絡を検査する短絡検査方法であって、
時間が経過するに従って電圧値が大きくなる電圧を前記正極と前記負極との間に印加する第1のステップと、
前記第1のステップにより前記正極と前記負極との間に電圧が印加されている期間に、当該正極と当該負極との間の電圧を測定する第2のステップと、
前記第2のステップにより測定された電圧が、予め定められた閾値以下であれば、前記正極と前記負極とが短絡していると判定する第3のステップと、
前記第3のステップにより前記正極と前記負極とが短絡していると判定された時点において前記第1のステップにより印加されている電圧の電圧値に基づいて、当該正極と当該負極との短絡の原因を判別する第4のステップと、
を備えることを特徴とする短絡検査方法。 - 前記第1のステップでは、前記第3のステップにより前記正極と前記負極とが短絡していると判定された後においても、当該正極と当該負極との間に印加する電圧の電圧値を時間が経過するに従って大きくし続け、
前記第4のステップでは、前記第3のステップにより前記正極と前記負極とが短絡していると判定される状態から、当該第3のステップにより当該正極と当該負極とが短絡していないと判定される状態に遷移するか否かに基づいて、当該正極と当該負極との短絡の原因を判別することを特徴とする請求項6に記載の短絡検査方法。 - 前記第4のステップでは、前記第2のステップにより測定された電圧が前記閾値以下になった時点において前記第1のステップにより印加されている電圧の電圧値を、前記正極と前記負極との短絡の原因ごとに記憶していることを特徴とする請求項6または7に記載の短絡検査方法。
- 前記第1のステップでは、第1の電圧値から、当該第1の電圧値よりも大きい第2の電圧値まで、前記正極と前記負極との間に印加する電圧の電圧値を時間が経過するに従って大きくすることを特徴とする請求項6から8のいずれか1つに記載の短絡検査方法。
- 前記第3のステップにより前記正極と前記負極とが短絡していると判定された時点において前記第1のステップにより印加されている電圧の電圧値が、予め定められた所定値以上であるか否かによって、当該正極と当該負極との短絡の原因が変わる場合に、
前記第1のステップでは、前記正極と前記負極との間に印加する電圧の電圧値を時間が経過するに従って大きくする度合いを、前記所定値を含む所定の範囲内に当該電圧値がある期間では、他の期間と比べて緩やかにすることを特徴とする請求項6から9のいずれか1つに記載の短絡検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014076690A JP2015197408A (ja) | 2014-04-03 | 2014-04-03 | 短絡検査装置および短絡検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014076690A JP2015197408A (ja) | 2014-04-03 | 2014-04-03 | 短絡検査装置および短絡検査方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015197408A true JP2015197408A (ja) | 2015-11-09 |
Family
ID=54547187
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014076690A Pending JP2015197408A (ja) | 2014-04-03 | 2014-04-03 | 短絡検査装置および短絡検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2015197408A (ja) |
-
2014
- 2014-04-03 JP JP2014076690A patent/JP2015197408A/ja active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8581598B2 (en) | Method for inspecting electrostatic chuck, and electrostatic chuck apparatus | |
JP2017523636A (ja) | 電界効果トランジスタ及びその故障検出装置 | |
WO2011087658A3 (en) | Battery cell tab monitor and method | |
JP2008139036A (ja) | 基板検査装置及び基板検査方法 | |
EP2006699A3 (en) | Test method and apparatus for spark plug insulator | |
US9863999B2 (en) | Circuit and method for inspecting semiconductor device | |
JP5867089B2 (ja) | 非水電解質二次電池の短絡検査方法 | |
US9697757B2 (en) | Method and system of determining a location of a line fault of a panel | |
JP4959596B2 (ja) | 絶縁膜の評価方法および測定回路 | |
JP2015197408A (ja) | 短絡検査装置および短絡検査方法 | |
JP6154867B2 (ja) | 検査方法および検査システム | |
JP4313625B2 (ja) | 二次電池の製造方法および二次電池前駆体の検査装置 | |
JP6694462B2 (ja) | バッテリセルの半製品を試験する方法 | |
JP5014778B2 (ja) | 基板検査方法及び基板検査装置 | |
CN105811031A (zh) | 一种隔膜微损伤电池的修复方法 | |
KR102004842B1 (ko) | 프린트 기판의 절연 검사 장치 및 절연 검사 방법 | |
JP2011028931A (ja) | 電池絶縁検査装置 | |
US10751820B2 (en) | Wire electrical discharge machine with deterioration detection function for feeder | |
JP4866998B2 (ja) | 電子装置の測定装置 | |
JP6070470B2 (ja) | 点火装置 | |
JP6102339B2 (ja) | 絶縁異常検出回路 | |
CN205844316U (zh) | 一种tds检测探头 | |
JP5079603B2 (ja) | 電解コンデンサの検査方法および電解コンデンサ検査装置 | |
JP2011257330A (ja) | 測定装置、測定プログラムおよび測定方法 | |
JP2018036164A (ja) | コイルの絶縁検査方法およびコイルの絶縁検査装置 |