JP2015197305A - 試料積載プレート - Google Patents
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Abstract
【解決手段】基板上に試料を積載するための試料積載領域を備えた試料積載プレートであって、前記基板の表面には、直接または下地層を介して、前記基板または前記下地層より高い疎水性を備えた疎水層が形成され、前記疎水層には、前記試料を積載する側から前記基板側へと向かい前記基板または前記下地層が露出した底部を有する溝が形成されており、前記試料積載領域は前記溝により囲まれる領域により構成され、前記溝の周縁部の前記疎水層は、少なくとも前記基板または前記下地層を構成する成分からなる被覆層により被覆されている試料積載プレートとする。
【選択図】図2
Description
被覆層の形成を容易にすることが可能である。
<試料積載プレートの構成>
図1は、本実施の形態が適用される試料積載プレート100の全体構成例を示す図である。ここで、図1(a)は試料を積載する側から試料積載プレート100をみた上面図であり、図1(b)は図1(a)におけるIB−IB断面図である。
より具体的に説明すると、まず、試料積載プレート100の表面側且つ中央部には、複数の溝部130によって、それぞれがC字状の形状を有するアイランドマーク131が、縦6行×横8列(合計48個)に並べて形成されている。本実施の形態の試料積載プレート100において、各アイランドマーク131の直径は2mmであり、縦あるいは横に隣接する2つのアイランドマーク131同士の間隔も2mmである。
上述したように、本実施の形態の試料積載プレート100は、基板110と、基板110の表面を覆うように積層されるとともに、その一部には複数の溝130(図2には1つの溝130のみを示す)が形成されてなる積層膜120とを有している。
本実施の形態の試料積載プレート100では、図2等にも示したように、導電干渉層120を構成する第2透明層1214の上に、疎水層122が形成される。試料積載プレート100において、導電干渉層121からの疎水層122の剥がれを抑制するためには、導電干渉層121と疎水層122との密着性を高める必要がある。
なお、図4には、試料積載プレート100に積載される試料200も、併せて示している。
ではここで、本実施の形態の試料積載プレート100に積載される試料200について説明しておく。
後述するMALDI−TOFMS装置1(図5参照)が採用するMALDI(Matrix Assisted Laser Desorption/Ionization:マトリックス支援レーザ脱離イオン化)では、特定波長(例えば紫外)で発振するレーザを特異的に吸収するマトリックス中に、分析対象物を分散させ且つ固化させたものを試料200として用いる。ここで、分析対象物としては、生体から取り出された血液、唾液、痰あるいは尿等の検体や、各種有機化合物等が挙げられる。
続いて、試料積載プレート100に対する試料200の積載方法について説明を行う。
ここでは、まず、溶媒とマトリックスと分析対象物とを混合してマトリックス中に分析対象物を分散させることにより、液体状の試料200を準備する。液体状の試料200の作製においては、分析対象物に対してマトリックスを過剰に供給する。ここで、マトリックスは白色を呈するものであるため、得られる試料200も白色を呈するようになっている。
以上により、試料積載プレート100に対する各試料200の積載(固定)が完了する。
次に、図1等に示す試料積載プレート100の製造方法について説明する。
最初に、基板110の形成を行う。具体的に説明すると、図1に示す形状に予め成型、焼成された基板110の母材に対し、その表面のおよび裏面に対する研磨を行い、厚さを800μmとし且つ平坦性を5μm以下に設定した基板110を得る。
次に、上記基板形成工程によって得られた基板110の表面に対し、導電干渉層121および疎水層122を含む積層膜120を形成する。なお、この例において、第1金属層1211、第1透明層1212、第2金属層1213および第2透明層1214を含む導電干渉層121と、疎水層122とは、複数の蒸着源を搭載可能な電子ビーム蒸着装置を用いることで、1バッチのプロセスにて順次積層されるようになっている。
続いて、上記被覆層形成工程により、基板110の表面に形成された積層膜120に対し、Nd−YAGレーザ(発振波長:1054nm)の2次高調波(532nm)を用いて、その照射位置を順次移動させていくことで、溝130の形成を行う。このとき、照射されたレーザによって積層膜120が除去され、基板110の表面が外部に露出する溝130が形成されるように、レーザのパワーや照射時間等が決められる。
図5は、MALDI−TOFMS装置1の構成例を示す図である。
このMALDI−TOFMS装置1は、分析対象物を含む試料200を、MALDI(Matrix Assisted Laser Desorption/Ionization)によってイオン化するとともに、試料200をイオン化して得られた各イオンを、TOFMS(Time of Flight Mass Spectrometry)によって時間的に分離して検出する方式を採用した質量分析装置である。
なお、特に図示はしていないが、MALDI−TOFMS装置1において、試料積載プレート100を保持したプレート保持部10、質量分離部30および検出部40は、通常、高真空に設定されたチャンバの内部に配置されるようになっており、飛行空間においてガスの粒子等が飛行の障害とはならないようにされる。
では、図5に示すMALDI−TOFMS装置1による質量分析動作について、簡単に説明を行う。
また、質量分析動作を開始する前の状態において、プレート保持部10に印加される第1電圧V1、および、質量分離部30における第1グリッド31に印加される第2電圧V2を、同じ大きさ(≠0)に設定する。
また、本実施の形態では、電子ビーム蒸着法を用いて、積層膜120を構成する各層の形成を行うようにしていたが、これに限られるものではなく、他の成膜法を用いてもかまわない。
また、本実施の形態では、溝130の底部において基板110の表面が露出した構造としたが、積層膜120を構成する各層のいずれかを溝130の底部として露出させた構成してもかまわない。
さらに、本実施の形態では、レーザ加工法を用いて試料積載プレート100に溝130を形成するようにしていたが、これに限られるものではなく、他の手法を用いた形成を行ってもかまわない。
また、本実施の形態では、MALDIに用いるサンプルプレートとして試料積載プレート100を説明したが、これに限られるものではなく、液状の試料を積載するためのプレートに広く活用することができる。
Claims (7)
- 基板上に試料を積載するための試料積載領域を備えた試料積載プレートであって、
前記基板の表面には、直接または下地層を介して、前記基板または前記下地層より高い疎水性を備えた疎水層が形成され、
前記疎水層には、前記試料を積載する側から前記基板側へと向かい前記基板または前記下地層が露出した底部を有する溝が形成されており、
前記試料積載領域は前記溝により囲まれる領域により構成され、
前記溝の周縁部の前記疎水層は、少なくとも前記基板または前記下地層を構成する成分からなる被覆層により被覆されていることを特徴とする試料積載プレート。 - 前記被覆層は、前記基板または前記下地層が溶融した際に発生する溶融飛散物により構成されることを特徴とする請求項1記載の試料積載プレート。
- 前記溝はレーザ加工により形成され、前記溶融飛散物は前記溝を形成する前記レーザ加工によって形成されることを特徴とする請求項2記載の試料積載プレート。
- 前記基板は絶縁性であり、前記下地層は導電性を有することを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項記載の試料積載プレート。
- 前記下地層は光の干渉に伴って前記基板とは異なる色を呈することを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項記載の試料積載プレート。
- 前記下地層は、金属材料で構成される金属層と可視領域において透明な材料で構成される透明層とを積層して構成されることを特徴とする請求項5記載の試料積載プレート。
- 前記透明層が金属化合物で構成されることを特徴とする請求項6記載の試料積載プレート。
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Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017181333A (ja) * | 2016-03-31 | 2017-10-05 | シチズンファインデバイス株式会社 | 試料積載プレート及びその製造方法 |
WO2019058857A1 (ja) * | 2017-09-21 | 2019-03-28 | 浜松ホトニクス株式会社 | 試料支持体 |
WO2019058784A1 (ja) * | 2017-09-21 | 2019-03-28 | 浜松ホトニクス株式会社 | レーザ脱離イオン化法及び質量分析方法 |
EP3418731A4 (en) * | 2016-03-18 | 2019-11-13 | Citizen Finedevice Co., Ltd. | SAMPLE LOADING PLATE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME |
WO2023119738A1 (ja) * | 2021-12-22 | 2023-06-29 | 浜松ホトニクス株式会社 | 試料支持体ユニット、及び試料のイオン化方法 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001522042A (ja) * | 1997-11-04 | 2001-11-13 | モノジェン,インコーポレイテッド | 流体試料と粒子物質を混合および流体試料から粒子物質を分離をする方法、およびその装置 |
JP2002525573A (ja) * | 1998-09-16 | 2002-08-13 | コミツサリア タ レネルジー アトミーク | キャリアーに複数の分析部位を備えた化学的または生物学的分析のための装置およびその製造方法 |
US20030194709A1 (en) * | 2002-04-10 | 2003-10-16 | Xing Yang | Hydrophobic zone device |
JP2006088034A (ja) * | 2004-09-24 | 2006-04-06 | Onchip Cellomics Consortium | 液滴サイズの制御装置ならびに制御方法 |
JP2007309860A (ja) * | 2006-05-22 | 2007-11-29 | Shimadzu Corp | Maldi用サンプル調製方法及び質量分析装置 |
-
2014
- 2014-03-31 JP JP2014073592A patent/JP6205299B2/ja active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001522042A (ja) * | 1997-11-04 | 2001-11-13 | モノジェン,インコーポレイテッド | 流体試料と粒子物質を混合および流体試料から粒子物質を分離をする方法、およびその装置 |
JP2002525573A (ja) * | 1998-09-16 | 2002-08-13 | コミツサリア タ レネルジー アトミーク | キャリアーに複数の分析部位を備えた化学的または生物学的分析のための装置およびその製造方法 |
US20030194709A1 (en) * | 2002-04-10 | 2003-10-16 | Xing Yang | Hydrophobic zone device |
JP2005522219A (ja) * | 2002-04-10 | 2005-07-28 | ジーンオーム サイエンシーズ、インク. | 疎水性ゾーン装置 |
JP2006088034A (ja) * | 2004-09-24 | 2006-04-06 | Onchip Cellomics Consortium | 液滴サイズの制御装置ならびに制御方法 |
JP2007309860A (ja) * | 2006-05-22 | 2007-11-29 | Shimadzu Corp | Maldi用サンプル調製方法及び質量分析装置 |
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP3418731A4 (en) * | 2016-03-18 | 2019-11-13 | Citizen Finedevice Co., Ltd. | SAMPLE LOADING PLATE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME |
US10796892B2 (en) | 2016-03-18 | 2020-10-06 | Citizen Finedevice Co., Ltd. | Sample mounting plate and method for manufacturing the same |
JP2017181333A (ja) * | 2016-03-31 | 2017-10-05 | シチズンファインデバイス株式会社 | 試料積載プレート及びその製造方法 |
CN111094965A (zh) * | 2017-09-21 | 2020-05-01 | 浜松光子学株式会社 | 激光解吸电离法和质量分析方法 |
JP6539801B1 (ja) * | 2017-09-21 | 2019-07-03 | 浜松ホトニクス株式会社 | 試料支持体 |
JP6535151B1 (ja) * | 2017-09-21 | 2019-06-26 | 浜松ホトニクス株式会社 | レーザ脱離イオン化法及び質量分析方法 |
WO2019058784A1 (ja) * | 2017-09-21 | 2019-03-28 | 浜松ホトニクス株式会社 | レーザ脱離イオン化法及び質量分析方法 |
WO2019058857A1 (ja) * | 2017-09-21 | 2019-03-28 | 浜松ホトニクス株式会社 | 試料支持体 |
US11047827B2 (en) | 2017-09-21 | 2021-06-29 | Hamamatsu Photonics K.K. | Sample support body |
US11127577B2 (en) | 2017-09-21 | 2021-09-21 | Hamamatsu Photonics K.K. | Laser desorption/ionization method and mass spectrometry method |
US11360049B2 (en) | 2017-09-21 | 2022-06-14 | Hamamatsu Photonics K.K. | Sample support body |
US11656198B2 (en) | 2017-09-21 | 2023-05-23 | Hamamatsu Photonics K.K. | Sample support body |
WO2023119738A1 (ja) * | 2021-12-22 | 2023-06-29 | 浜松ホトニクス株式会社 | 試料支持体ユニット、及び試料のイオン化方法 |
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