JP2015179777A - 半導体発光装置 - Google Patents
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 136
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims abstract description 125
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims abstract description 125
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 66
- 238000009434 installation Methods 0.000 claims abstract description 6
- 239000000945 filler Substances 0.000 claims description 42
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 19
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 17
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 17
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 17
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 14
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 12
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 12
- 238000001579 optical reflectometry Methods 0.000 claims description 2
- 238000000605 extraction Methods 0.000 abstract description 13
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 4
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 3
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 description 3
- 229920002050 silicone resin Polymers 0.000 description 3
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 2
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 2
- 238000005240 physical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 2
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 2
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 1
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N Gallium nitride Chemical compound [Ga]#N JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 1
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 238000005336 cracking Methods 0.000 description 1
- 125000000118 dimethyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 230000006355 external stress Effects 0.000 description 1
- 239000010419 fine particle Substances 0.000 description 1
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 125000001997 phenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(*)C([H])=C1[H] 0.000 description 1
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 238000001039 wet etching Methods 0.000 description 1
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
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- H01L33/483—Containers
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- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/48—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
- H01L33/50—Wavelength conversion elements
- H01L33/507—Wavelength conversion elements the elements being in intimate contact with parts other than the semiconductor body or integrated with parts other than the semiconductor body
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- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/48—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
- H01L33/50—Wavelength conversion elements
- H01L33/501—Wavelength conversion elements characterised by the materials, e.g. binder
- H01L33/502—Wavelength conversion materials
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- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/48—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
- H01L33/58—Optical field-shaping elements
- H01L33/60—Reflective elements
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- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
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- H—ELECTRICITY
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- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48245—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
- H01L2224/48247—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
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- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/85—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
- H01L2224/85909—Post-treatment of the connector or wire bonding area
- H01L2224/8592—Applying permanent coating, e.g. protective coating
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L25/00—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
- H01L25/16—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different main groups of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. forming hybrid circuits
- H01L25/167—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different main groups of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. forming hybrid circuits comprising optoelectronic devices, e.g. LED, photodiodes
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- H01L2933/0033—Processes relating to semiconductor body packages
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- H01L33/54—Encapsulations having a particular shape
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Abstract
【課題】本発明が解決しようとする課題は、光取り出し効率の向上を可能とする半導体発光装置を提供することである。
【解決手段】設置部上に設けられた発光素子と、前記発光素子上に設けられた蛍光体含有樹脂と、前記発光素子と前記蛍光体含有樹脂との間に設けられ、前記蛍光体含有樹脂の下面全体と接する透明樹脂と、前記蛍光体含有樹脂上に設けられた球状のレンズと、を有する。
【選択図】図1
【解決手段】設置部上に設けられた発光素子と、前記発光素子上に設けられた蛍光体含有樹脂と、前記発光素子と前記蛍光体含有樹脂との間に設けられ、前記蛍光体含有樹脂の下面全体と接する透明樹脂と、前記蛍光体含有樹脂上に設けられた球状のレンズと、を有する。
【選択図】図1
Description
本発明の実施形態は、半導体発光装置に関する。
LED(Light Emitting Diode:発光ダイオード)等の半導体発光素子を搭載した半導体発光装置は、液晶ディスプレイのバックライト等に用いられる。
半導体発光装置は、例えば、半導体発光素子がリードフレームに固定され樹脂等で封止される、「表面実装型」と呼ばれる構造を有する。その際、半導体発光装置は、半導体発光素子から生じた光がリードフレームや半導体発光素子を構成する基板等に当たり、光吸収(損失)が発生する場合がある。半導体発光装置は、光取り出し効率等の点から半導体発光装置内での光吸収が少ないことが望ましい。
本発明が解決しようとする課題は、光取り出し効率の向上を可能とする半導体発光装置を提供することである。
実施形態の半導体装置は、設置部上に設けられた発光素子と、前記発光素子上に設けられた蛍光体含有樹脂と、前記発光素子と前記蛍光体含有樹脂との間に設けられ、前記蛍光体含有樹脂の下面全体と接する透明樹脂と、前記蛍光体含有樹脂上に設けられた球状のレンズと、を有する。
以下、本発明の実施形態について、図面を参照しながら説明する。この説明に際し、全図にわたり、共通する部分には共通する符号を付す。図面の寸法比率は、図示の比率に限定されるものではない。また、本実施形態は本発明を限定するものではない。
(第1の実施形態)
第1の実施形態に係る半導体発光装置1の構造について、図1及び図2を参照しながら説明する。図1は第1の実施形態に係る半導体発光装置1の断面図、図2は第1の実施形態に係る半導体発光装置1のA部における、半導体発光素子10とフィラ含有樹脂12の断面図を示している。
第1の実施形態に係る半導体発光装置1の構造について、図1及び図2を参照しながら説明する。図1は第1の実施形態に係る半導体発光装置1の断面図、図2は第1の実施形態に係る半導体発光装置1のA部における、半導体発光素子10とフィラ含有樹脂12の断面図を示している。
半導体発光装置1は半導体発光素子(発光素子)10、リードフレーム(設置部)11a、リードフレーム(設置部)11b、フィラ含有樹脂(光反射材)12、ツェナーダイオード(保護素子)13、封止樹脂14、蛍光体含有樹脂15、透明樹脂16、レンズ17及びワイヤ30を有する。また、半導体発光素子10はシリコン基板40、金属層(光反射材)41、P型半導体層42、発光層43、及びN型半導体層44を有する。
半導体発光素子10の構造について説明する。シリコン(Si)基板40上に光反射層となる金属層41が設けられる。金属層41上には、例えば窒化ガリウム(GaN)からなるP型半導体層42とN型半導体層44が順に設けられ、P型半導体層42とN型半導体層44との間には発光層43が形成される。なお、P型半導体層42とN型半導体層44の形成位置は逆でもよい。また、本実施形態の半導体発光素子10ではシリコン基板40を用いたが、これに限らず、他の半導体基板を用いても実施は可能である。なお、半導体発光装置1の光取り出し効率を上昇させる目的で、半導体発光素子10の表面は粗面化されていても良い(図示せず)。
リードフレーム11a上(リードフレーム11aの表面)に、はんだ(図示せず)等を介して半導体発光素子10が設置される。その際、半導体発光素子10のシリコン基板40側がリードフレーム11a上に設置される。すなわち、本実施形態ではN型半導体層44が半導体発光素子10の上面となる。
リードフレーム11b上には、ツェナーダイオード13がはんだ等を介して設置される。ツェナーダイオード13は、それぞれシリコンから成るP型半導体層50とN型半導体層51とで構成される。また、ツェナーダイオード13はN型半導体層51が上面となるようにリードフレーム11b上に設置される。なお、リードフレーム11a及びリードフレーム11bは、例えば、銅等の金属材料で構成され、後述するフィラ含有樹脂12との密着性や反射率を上げるために銀(Ag)等がメッキされる場合がある。そして、ツェナーダイオード13は半導体発光素子10と逆並列接続される。なお、半導体発光素子10とツェナーダイオード13との接続にはワイヤ30には金(Au)等が用いられるが、銀等でも実施は可能である。
フィラ含有樹脂12は、半導体発光素子10のシリコン基板40の側面を覆い、且つ半導体発光素子10の上面(N型半導体層44)が露出するように設けられる。この場合、フィラ含有樹脂12は金属層41の側面、またはN型半導体層44の側面まで覆うように設けられていてもよい。すなわち、フィラ含有樹脂12は半導体発光素子10の側面全体を覆っていてもよい。半導体発光素子10の側面からの光取り出し効率を考慮すると、N型半導体層44、発光層43、及びP型半導体層42の側面は、フィラ含有樹脂12に覆われずに、露出していることが望ましい。
また、フィラ含有樹脂12はツェナーダイオード13を覆うようにリードフレーム11a及びリードフレーム11b上に設けられる。その際、フィラ含有樹脂12は表面張力を利用してリードフレーム11aまたはリードフレーム11bに設けられ、フィラ含有樹脂12の上面60は曲線形状を有する。例えば、フィラ含有樹脂12の上面60は、凹型の放物曲線形状を有し、凹部の底面部には半導体発光素子10が位置する。
フィラ含有樹脂12は、シリコンを含有する高分子化合物である透明なシリコーンと、光反射材となるチタニア(TiO2)の微粒子(フィラ)との混合物である。なお、フィラは光反射性を有していれば良く、チタニア以外でも実施は可能である。また、チタニア含有量は、例えば、10w%〜70w%である。また、本実施形態ではフィラ含有樹脂12はフィラを含む樹脂を用いたが、光を反射する材料を適宜適用することが可能であり、非導電性の金属酸化物等化合物材料等でもよい。
透明樹脂16が半導体発光素子10とフィラ含有樹脂12上に設けられる。例えば、図1に示すように、蛍光体含有樹脂15はフィラ含有樹脂12の凹部の一部を埋め込むように設けられる。透明樹脂16には、例えばシリコーンが用いられるが、ガラスなどの無機材料を用いても実施は可能である。
蛍光体含有樹脂15が透明樹脂16上に設けられる。例えば、図1に示すように、蛍光体含有樹脂15はフィラ含有樹脂12の凹部をさらに埋め込むように設けられる。蛍光体含有樹脂15の上面を露出させながら、リードフレーム11a、リードフレーム11b、及びフィラ含有樹脂12は封止樹脂14によって封止される。なお、後述する半導体発光装置1の光取り出し効率を上昇させる目的で、蛍光体含有樹脂15の表面は粗面化されていても良い(図示せず)。
そして、蛍光体含有樹脂15上にはレンズ17が設けられる。レンズ17は半導体発光素子10から蛍光体含有樹脂15に向かう方向において凸の球形状を有する。なお、図1では、レンズ17は真円形状を有しているが、楕円形上でも実施は可能である。
なお、フィラ含有樹脂12、蛍光体含有樹脂15、透明樹脂16及びレンズ17の母体となる樹脂には、例えば、フェニル系シリコーン樹脂、ジメチル系シリコーン樹脂、またはアクリル系樹脂等が用いられる。
半導体発光装置1は以上のような構造を有する。
ここで、半導体発光素子10の形成方法について説明する。P型半導体層42及びN型半導体層44は成長用基板(例えば、シリコン基板。図示せず。)上に、MOCVD(Metal Organic Chemical Vapor Deposition)法等によりエピタキシャル成長させて形成される。P型半導体層42及びN型半導体層44は、スパッタ等のPVD(Physical Vapor Deposition)法等でも形成は可能である。そして、金属層41がスパッタ等でP型半導体層42上に形成され、シリコン基板40が金属層41上に貼り付けられ、ウエットエッチング等により成長用基板が除去される。その後N型半導体層44、発光層43、P型半導体層42の一部がエッチングにより除去され、金属層41の表面の一部が露出する。そして、N型半導体層44上に第1の電極が、露出した金属層41上に第2の電極が形成される。以上の工程により、半導体発光素子10は形成される。
次に、半導体発光装置1の動作について説明する。半導体発光素子10に順方向に電圧を印加した際、発光層43から光が放出される。本実施形態の半導体発光装置1の場合、P型半導体層42と電気的に接続されているリードフレーム11aを陽極、N型半導体層44と電気的に接続されているリードフレーム11bを陰極として正電圧を印加した際、半導体発光素子10の発光層43は発光する。半導体発光素子10からは、例えば、青色光が発生する。
発光層43から放出された光Lの一部は下方向、すなわちシリコン基板40の方向へ進むが、金属層41によって反射されるため、シリコン基板40で吸収されず、半導体発光素子10の上面から取り出される。
半導体発光装置1の外部に向かう光は、そのままレンズ17を介して外部(空気)へ放出、蛍光体含有樹脂15内部で例えば黄色光への波長変換、蛍光体含有樹脂15内部における蛍光体での散乱(例えば、黄色光)、あるいは蛍光体含有樹脂15と外部との界面における反射等が生じる。波長変換されて360°に広がる光や、蛍光体により散乱された光、及び蛍光体含有樹脂15界面で反射された光の一部は、リードフレーム11aやリードフレーム11bの方向に進む。リードフレーム11aやリードフレーム11bの方向に進む光Lは、フィラ含有樹脂上面60で反射され、半導体発光装置1の外部方向へ再度進み、レンズ17を介して照射される。
以上のように、半導体発光素子10から発生した光は、半導体発光装置1外部へと放出される。
なお、ツェナーダイオード13は、半導体発光素子10と逆方向並列に接続されおり、半導体発光装置1にサージ電流や静電気が流れ込んだ際に、半導体発光装置1が破壊されることを防ぐ役割を有する。
半導体発光装置1の効果について説明する。本実施形態に係る半導体発光装置1の場合、前述したように、蛍光体含有樹脂15内部での反射によりリードフレーム11aやリードフレーム11bの方向に進む光は、フィラ含有樹脂12内のフィラで再反射されて半導体発光装置1aの外部へ放出される。従って、光がシリコン基板40やツェナーダイオード13に吸収されることを抑制することが可能となる。すなわち、フィラ含有樹脂12が設けられていない半導体発光装置と比較した際、半導体発光装置1は光取り出し効率を高くすることができる。なお、フィラ含有樹脂上面60近傍のフィラ含有濃度が、リードフレーム11a側のフィラ含有樹脂12近傍のフィラ含有濃度よりも大きい場合、上記効果は顕著となる。
また、フィラ含有樹脂12は凹型の放物曲線形状を有するため、光を半導体発光素子10の上部へと効率良く取り出すことも可能となる。すなわち、半導体発光装置1の光取り出し面における均一性を向上させる効果も有する。
また、半導体と樹脂との密着性よりも、樹脂同士の密着性の方が高い。よって、フィラ含有樹脂12を設けることにより、実質的に半導体発光素子10と蛍光体含有樹脂15との密着性を向上させることが可能となる。その結果、半導体発光素子10と蛍光体含有樹脂15の剥離による輝度低下や、半導体発光装置1の信頼性低下を抑制することが可能となる。
フィラ含有樹脂12が蛍光体含有樹脂15よりも線膨張係数が小さくなるようにそれぞれの材料を用いた場合、蛍光体含有樹脂15が半導体発光素子10を圧縮する方向に力が働く。その結果、半導体発光素子10と蛍光体含有樹脂15の剥離による輝度低下や、半導体発光装置1の信頼性低下を抑制することが可能となる。
また、銀の光反射率は約90%、金の光反射率は約60%である。すなわち、銀の光反射率は金の光反射率よりも高い。よって、ワイヤ30に銀を用いた場合、半導体発光装置1の光取り出し効率を更に向上させることが可能となる。
また、フィラ含有樹脂12が蛍光体含有樹脂15よりも弾性率が低くなるようにそれぞれの材料を用いた場合、外部応力による割れを防ぐことができ、半導体発光装置1の周辺部における機械的強度を向上させることが可能となる。
また、フィラ含有樹脂12は無機材料であるチタニアを含んでいるため、蛍光体含有樹脂15よりも熱伝導率が大きくなる。よって、半導体発光装置1の放熱性を向上させることが可能となる。
また、フィラ含有樹脂12が蛍光体含有樹脂15よりもチクソ性が大きくなるようにそれぞれの材料を用いた場合、フィラ含有樹脂12を形成時、フィラ含有樹脂12の形状は安定させることが可能となる。そのため、フィラ含有樹脂12を厚く均一に形成できるため、蛍光体含有樹脂15を相対的に薄く、且つ均一に形成でき、半導体発光装置1の輝度を安定させることができる。
また、半導体発光素子10と蛍光体含有樹脂15との間に透明樹脂16を設けているため、半導体発光装置1は、半導体発光素子10と蛍光体含有樹脂15間の距離を大きくすることとなる。よって、半導体発光素子10に戻る蛍光体含有樹脂15内で散乱または反射される光の量を少なくすることが可能となる。従って、半導体発光素子10で吸収される光を減少することが可能となり、光取り出し効率を上昇に寄与する。また、半導体発光素子10と蛍光体含有樹脂15間の距離を大きくしているため、半導体発光素子10から出射される光が蛍光体含有樹脂15表面で集中することなく広がり、分散され、蛍光体での光吸収による発熱を低減することが可能となる。
また、半導体発光素子10の近傍に蛍光体含有樹脂15が形成されている場合、半導体発光素子10近傍の蛍光体に青色光が集中的に当たってしまい、外部に取り出される光に色割れが生じる可能性がある。しかし、半導体発光装置1の場合、半導体発光素子10の直上に透明樹脂16が設けられているため、半導体発光素子10から生じた青色光は蛍光体含有樹脂15に均一に当たる。従って、半導体発光装置1の外部に取り出される光の色割れを抑制することが可能となる。
さらにまた、本実施形態の半導体発光装置1の場合、レンズ17を設けることにより、蛍光体含有樹脂15の表面における光の乱反射を抑制することが可能である。蛍光体含有樹脂15の表面における光の乱反射を抑制することにより、半導体発光装置1の光取り出し効率を上昇させることが可能となる。
ここで、半導体発光装置1において、レンズ17から半導体発光素子10に向かうにつれて、屈折率が大きくなる構造の効果について説明する。すなわち、蛍光体含有樹脂15の屈折率はレンズ17の屈折率よりも大きく、透明樹脂16の屈折率は蛍光体含有樹脂15の屈折率よりも大きい。屈折率の小さい物質から屈折率の大きい物質へ光が進む場合、その界面において光は全反射しやすい。よって、前述したように蛍光体含有樹脂15から半導体発光素子10に戻る光が、各界面において全反射されやすくなり、光取り出し効率がより上昇する。なお、透明樹脂16、蛍光体含有樹脂15及びレンズ17の屈折率は、それぞれを構成するシリコーン樹脂内への添加剤量を調整することにより変化させることができる。また、光を空気中に照射する観点では、レンズ17と空気との屈折率の差は小さい方が好ましいため、空気の屈折率(=1)により近づける意味でレンズ17の屈折率を小さくするメリットも有する。
また、蛍光体含有樹脂15の屈折率をレンズ17の屈折率よりも大きくし、透明樹脂16の屈折率は蛍光体含有樹脂15の屈折率よりも小さくしてもよい。その場合、透明樹脂16と蛍光体含有樹脂15との界面における光反射が抑制できる。すなわち、半導体発光素子10へ戻る光を抑制できる。
なお、蛍光体含有樹脂15内の蛍光体含有量によって最適なレンズ高さが異なるため、球状のレンズ17の半径の大きさを変えることにより、半導体発光装置1の光取り出し効率を変化させることも可能である。この際、蛍光体含有樹脂15内の蛍光体含有量が多い場合は、レンズ17における円の中心を蛍光体含有樹脂15にするのが望ましい。一方、蛍光体含有樹脂15内の蛍光体含有量が少ない場合は、レンズ17における円の中心を半導体発光素子10の表面、または透明樹脂16にするのが望ましい。
前述したように、レンズ17の材料として、シリコーン以外にガラスなどの無機材料でも実施は可能であるが、半導体発光装置1の放熱性の観点からは無機材料の方が望ましい。
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。
1…半導体発光装置、10…半導体発光素子(発光素子)、11a,11b…リードフレーム(設置部)、12…フィラ含有樹脂(光反射材)、13…ツェナーダイオード(保護素子)、14…封止樹脂、15…蛍光体含有樹脂、16…透明樹脂、17…レンズ、30…ワイヤ、40…シリコン基板、41…金属層、42,50…P型半導体層、43…発光層、44,51…N型半導体層、60…フィラ含有樹脂上面
Claims (7)
- 設置部上に設けられた発光素子と、
前記発光素子上に設けられた蛍光体含有樹脂と、
前記発光素子と前記蛍光体含有樹脂との間に設けられ、前記蛍光体含有樹脂の下面全体と接する透明樹脂と、
前記蛍光体含有樹脂上に設けられた球状のレンズと、
を有する半導体発光装置。 - 前記発光素子は、上面及び側面が光反射材に覆われたシリコン基板と、前記シリコン基板上に前記光反射材を介して設けられた発光部とを有する請求項1に記載の半導体発光装置。
- 前記光反射材は、前記シリコン基板の前記上面を覆う金属層と、前記シリコン基板の前記側面を覆う樹脂層と、である請求項1または2に記載の半導体発光装置。
- 前記樹脂層は光反射性を有するフィラを含有する請求項3に記載の半導体発光装置。
- 前記透明樹脂の屈折率は前記蛍光体含有樹脂の屈折率よりも大きく、前記発光素子の屈折率は前記透明樹脂の屈折率よりも大きい請求項1乃至4のいずれか一に記載の半導体発光装置。
- 前記透明樹脂の屈折率は、前記蛍光体含有樹脂及び前記透明樹脂の屈折率よりも大きい請求項1乃至4のいずれか一に記載の半導体発光装置。
- 前記レンズの表面から前記蛍光体含有樹脂の距離が、前記蛍光体含有樹脂の蛍光体含有濃度が上がるにつれて大きくなる請求項1乃至6のいずれか一に記載の半導体発光装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014057240A JP2015179777A (ja) | 2014-03-19 | 2014-03-19 | 半導体発光装置 |
TW103122861A TW201537787A (zh) | 2014-03-19 | 2014-07-02 | 半導體發光裝置 |
US14/337,910 US20150270450A1 (en) | 2014-03-19 | 2014-07-22 | Semiconductor light-emitting device |
CN201410446953.0A CN104934520A (zh) | 2014-03-19 | 2014-09-03 | 半导体发光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014057240A JP2015179777A (ja) | 2014-03-19 | 2014-03-19 | 半導体発光装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015179777A true JP2015179777A (ja) | 2015-10-08 |
Family
ID=54121594
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014057240A Abandoned JP2015179777A (ja) | 2014-03-19 | 2014-03-19 | 半導体発光装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20150270450A1 (ja) |
JP (1) | JP2015179777A (ja) |
CN (1) | CN104934520A (ja) |
TW (1) | TW201537787A (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2017076793A (ja) * | 2015-10-14 | 2017-04-20 | エルジー イノテック カンパニー リミテッド | 発光素子パッケージ及び照明装置 |
WO2018163326A1 (ja) * | 2017-03-08 | 2018-09-13 | サンケン電気株式会社 | 発光装置及びその製造方法 |
US10431572B2 (en) | 2017-05-12 | 2019-10-01 | Nichia Corporation | Light emitting device and method of manufacturing the light emitting device |
JP2020053601A (ja) * | 2018-09-27 | 2020-04-02 | 日亜化学工業株式会社 | 光半導体装置用金属材料、及びその製造方法、及びそれを用いた光半導体装置 |
US10756246B2 (en) | 2017-10-12 | 2020-08-25 | Nichia Corporation | Light emitting device |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103219915B (zh) * | 2013-04-28 | 2015-05-13 | 厦门大学 | 基于离子聚合物金属复合物的有限转角装置 |
KR102188500B1 (ko) * | 2014-07-28 | 2020-12-09 | 삼성전자주식회사 | 발광다이오드 패키지 및 이를 이용한 조명장치 |
JP6648467B2 (ja) * | 2014-12-25 | 2020-02-14 | 日亜化学工業株式会社 | 発光装置 |
KR102340515B1 (ko) * | 2015-11-02 | 2021-12-16 | 엘지전자 주식회사 | 백라이트 유닛 및 이를 포함하는 디스플레이 장치 |
JP6118437B1 (ja) * | 2015-12-21 | 2017-04-19 | ルーメンス カンパニー リミテッド | Ledモジュール |
CN106784258B (zh) * | 2017-03-15 | 2018-11-09 | 厦门大学 | 晶圆级封装led |
JP7381903B2 (ja) * | 2021-03-31 | 2023-11-16 | 日亜化学工業株式会社 | 発光装置 |
CN118472155A (zh) * | 2024-07-12 | 2024-08-09 | 江西省兆驰光电有限公司 | 一种led光源及其封装方法及灯具 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7807484B2 (en) * | 2008-10-15 | 2010-10-05 | Visera Technologies Company Limited | Light-emitting diode device and method for fabricating the same |
TW201145609A (en) * | 2010-06-02 | 2011-12-16 | Advanced Optoelectronic Tech | Light-emitting diode package |
TWI435481B (zh) * | 2011-02-18 | 2014-04-21 | Genesis Photonics Inc | Light emitting diode device |
CN103178165B (zh) * | 2011-12-21 | 2015-10-07 | 展晶科技(深圳)有限公司 | 发光二极管及其制作方法 |
WO2013154715A1 (en) * | 2012-04-11 | 2013-10-17 | Toshiba Techno Center, Inc. | Light emitting devices having shielded silicon substrates |
-
2014
- 2014-03-19 JP JP2014057240A patent/JP2015179777A/ja not_active Abandoned
- 2014-07-02 TW TW103122861A patent/TW201537787A/zh unknown
- 2014-07-22 US US14/337,910 patent/US20150270450A1/en not_active Abandoned
- 2014-09-03 CN CN201410446953.0A patent/CN104934520A/zh active Pending
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USRE48892E1 (en) | 2015-10-14 | 2022-01-11 | Suzhou Lekin Semiconductor Co., Ltd. | Light emitting device package and lighting apparatus having same |
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US10431572B2 (en) | 2017-05-12 | 2019-10-01 | Nichia Corporation | Light emitting device and method of manufacturing the light emitting device |
US11315913B2 (en) | 2017-05-12 | 2022-04-26 | Nichia Corporation | Light emitting device and method of manufacturing the light emitting device |
US10756246B2 (en) | 2017-10-12 | 2020-08-25 | Nichia Corporation | Light emitting device |
US11367821B2 (en) | 2017-10-12 | 2022-06-21 | Nichia Corporation | Light emitting device |
JP2020053601A (ja) * | 2018-09-27 | 2020-04-02 | 日亜化学工業株式会社 | 光半導体装置用金属材料、及びその製造方法、及びそれを用いた光半導体装置 |
JP7116308B2 (ja) | 2018-09-27 | 2022-08-10 | 日亜化学工業株式会社 | 光半導体装置用金属材料、及びその製造方法、及びそれを用いた光半導体装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN104934520A (zh) | 2015-09-23 |
US20150270450A1 (en) | 2015-09-24 |
TW201537787A (zh) | 2015-10-01 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20160216 |
|
A762 | Written abandonment of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A762 Effective date: 20160803 |