JP2015132610A - 透明容器内部のガス成分を特定するための方法およびデバイス - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (15)
- ガラスユニットの空間内部の目的のガス成分の存在を非侵襲的に特定するためのデバイスであって、
前記デバイスは、検出ユニットおよび較正ユニットを含み、
前記検出ユニットは、レーザービームを前記空間へ向かって放射するレーザービーム放射手段、および前記空間から反射された前記放射レーザービームの反射を検出するための検出手段を含み、
‐前記較正ユニットは、前記空間内部の特定されるべきガス成分と同じガス成分を有する少なくとも1つの較正チャンバー、およびリフレクターを含み、
‐レーザービーム放射手段および検出手段は、レーザースポットの焦点の位置が、前記レーザー放射手段と検出手段との間、および前記レーザー放射手段と検出手段とを結ぶ線の外側であり、測定プロセスの過程にて、前記検出ユニットに対して同じ位置に存在するような角度でビームが放射および受光されるように配置され、
‐前記検出ユニットおよび較正ユニットは、前記レーザービームが、前記チャンバーを通って進み、前記焦点スポットが、前記較正ユニットの前記リフレクターに当たるように、較正の目的で互いに対して移動されるように構成され、その場合に、前記検出手段は、前記焦点スポットに対して本質的に焦点を合わせ、前記反射ビームを画像化するように構成され、ならびに、
‐前記検出ユニットは、前記目的のガス成分の存在を特定する目的で、前記焦点スポットが、前記空間の表面または接合面に順次に当たるように、前記空間に向かっておよび/または前記空間から離れるように移動されるように構成されることを特徴とする、デバイス。 - 前記デバイスが、前記検出ユニットおよび較正ユニットを封入する密閉筐体を含み、前記筐体は、レーザー波長に対して不活性であるシールドガスで充填され、測定されるべき前記ガスが本質的に除去される、請求項1に記載のデバイス。
- 前記デバイスが、セルフチェックを実施するように構成され、
前記検出ユニットは、前記較正を実施し、加えて、前記較正チャンバーが関与しないように前記焦点スポットがリフレクターから反射されるように構成されて、前記デバイス筐体内部の容積部分も測定するように構成される、請求項1または2に記載のデバイス。 - 前記デバイスが、較正プロセスにおいて特定されるべき前記ガス成分の推定ピーク周囲の波長を、前記レーザー放射手段の供給電流の関数として前記ピークの正確な位置を特定するためにスキャンする目的で、前記レーザー源の電流を変化させるように構成され、この場合、前記デバイスは、前記空間内部の前記ガス成分を特定するための測定プロセスにおいても、前記波長またはピーク位置を用いるように構成される、請求項1から3のいずれか一項に記載のデバイス。
- 前記デバイスが、測定されるべき前記ガス成分のピーク位置周囲の波長をスキャンする際に、測定される曲線におけるピーク距離を調節するために、前記レーザー放射手段の温度を変化させるように構成される、請求項1から4のいずれか一項に記載のデバイス。
- 前記デバイスが、測定されるべき前記空間の前記表面に導入されるように構成される接合手段、および前記デバイスと前記接合手段によって定められる前記空間の前記表面との間の容積部分中に減圧(underpressure)を提供するように構成される減圧提供手段を含む、請求項1から5のいずれか一項に記載のデバイス。
- 前記デバイスが、測定されるべき前記空間の前記表面に導入されるように構成される接合手段、および前記デバイスと前記接合手段によって定められる前記空間の前記表面との間の容積部分中にシールドガスを提供するように構成されるシールドガス提供手段を含む、請求項1から6のいずれか一項に記載のデバイス。
- 前記デバイスが、前記焦点スポットの前記距離、および前記レーザービームが前記空間の前記表面に放射される前記角度に基づいて前記レーザービームのパス長(path length)を特定するように構成される、請求項1から7のいずれか一項に記載のデバイス。
- 前記レーザービーム放射手段および検出手段が、固定された角度で前記ビームを放射および受光するように構成され、それによって、前記検出ユニットを前記空間へ向かっておよび前記空間から離れるように移動させる際に、入射および反射ビームの互いの角度が一定に維持され、前記焦点スポットが前記検出ユニットに対して静止した状態で維持される、請求項1から8のいずれか一項に記載のデバイス。
- 前記デバイスが、ペルチェ素子など、前記デバイスの温度、特に可同調ダイオードレーザーなどの前記レーザー放射手段の温度を管理するように構成される加熱手段を含む、請求項1から9のいずれか一項に記載のデバイス。
- 空間内部の目的のガス成分の存在を非侵襲的に特定するための方法であって、ここで、前記方法において、レーザービームが前記空間へ向かって放射され、前記空間からの反射が検出され、
‐レーザースポットの焦点の位置が、前記レーザー放射手段と検出手段との間、およびレーザー放射手段と検出手段とを結ぶ線の外側であり、測定プロセスの過程にて、前記レーザー放射手段および検出手段を含む検出ユニットに対して同じ位置に存在するような角度で、前記レーザービームは放射され、反射ビームは受光され、
‐前記検出ユニットおよび較正ユニットは、前記レーザービームが、前記較正ユニットの較正チャンバーを通って進み、前記焦点スポットが、前記較正ユニットのリフレクターに当たるように、較正の目的で互いに対して移動され、その場合に、前記検出手段は、前記焦点スポットに対して本質的に焦点を合わせ、前記反射ビームを画像化し、ここで、前記較正チャンバーは、前記空間内部の特定されるべきガス成分と同じガス成分を含み、ならびに、
‐前記検出ユニットは、前記目的のガス成分の存在を特定する目的で、前記焦点スポットが、前記空間の表面または接合面に順次に当たるように、前記空間に向かっておよび/または前記空間から離れるように移動することを特徴とする、方法。 - セルフチェックが実施され、その場合、前記検出ユニットは、前記較正プロセスを実施し、加えて、前記較正チャンバーが前記測定に関与しないように前記焦点スポットがリフレクターから反射されるように構成されて、前記デバイス筐体内部の容積部分も測定する、請求項11に記載の方法。
- 較正プロセスにおいて特定されるべき前記ガス成分の推定ピーク周囲の波長を、前記レーザー放射手段の供給電流の関数として前記ピークの正確な位置を特定するためにスキャンする目的で、前記レーザー源の電流が変化され、この場合、前記波長またはピーク位置は、前記空間内部の前記ガス成分を特定するための特定プロセスにおいても用いられる、請求項11または12に記載の方法。
- 測定されるべき前記ガス成分の前記ピーク位置周囲の波長をスキャンする際に、測定される曲線におけるピーク距離を調節するために、前記レーザー放射手段の温度が操作される、請求項11〜13のいずれか一項に記載の方法。
- 接合手段が、測定されるべき前記空間の前記表面に導入され、ならびに前記デバイスと前記接合手段によって定められる前記空間の前記表面との間の容積部分中に減圧が提供され、および/または前記デバイスと前記接合手段によって定められる前記空間の前記表面との間の容積部分中にシールドガスが提供される、請求項11〜14のいずれか一項に記載の方法。
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