JP2015130658A - 読取装置および読取方法、画像形成システム - Google Patents

Abstract

【課題】原稿のサイズに関わらず、補正処理の精度の低下を防ぐ読取装置を提供する。【解決手段】読取領域に原稿がない状態で読取領域を読取部に読み取らせて、読取領域の異物を検出し、検出された異物のうち原稿の領域内の異物を特定する。そして、読取領域の原稿を読取部に読み取らせて読取データを生成する。生成された読取データを、特定された異物について補正する。【選択図】図５

Description

本発明は、画像を読み取る読取装置および読取方法、画像形成システムに関する。

従来から、原稿を搬送しつつ読取処理を行う、いわゆる流し読みを行う画像読取装置が知られている。画像読取装置の原稿の読取部に屑や紙粉などのゴミ（異物）が検知された場合、その画素の画像データを、隣接する画素の画像データにより置き換えるゴミ補正処理が実行される（特許文献１）。例えば、流し読みを行なう前に、原稿読取部の汚れを検知した場合には、ゴミ補正処理部にて読取画像の汚れ部分に相当する画素の読取値をその幅に応じて隣接する複数の画素の値で置き換える補正処理を行なう。

特開２００２−０７７５８４号公報

しかしながら、ゴミ補正処理にかかる時間やゴミ補正処理で使用するメモリ容量の都合上、ゴミの補正可能個数には上限がある。検出したゴミ個数が補正上限数を超えた場合、従来では、上限数を超えた分のゴミは補正できず、その結果、黒スジ異常が発生するという問題があった。

本発明の目的は、このような従来の問題点を解決することにある。上記の点に鑑み、本発明は、読取画像の補正処理の精度の低下を防ぐ読取装置および読取方法、画像形成システムを提供することを目的とする。

上記課題を解決するため、本発明に係る読取装置は、読取領域の原稿を光学的に読み取る読取手段を備える読取装置であって、前記読取領域に前記原稿がない状態で前記読取領域を前記読取手段に読み取らせて、前記読取領域の異物を検出する検出手段と、前記検出手段により検出された異物のうち前記原稿の領域内の異物を特定する特定手段と、前記読取領域の前記原稿を前記読取手段に読み取らせて読取データを生成する生成手段と、前記生成手段により生成された読取データを、前記特定手段により特定された異物について補正する補正手段と、を備えることを特徴とする。

本発明によれば、読取画像の補正処理の精度の低下を防ぐことができる。

画像形成装置のシート搬送方向に沿った断面図である。 画像形成装置の外観斜視図である。 画像読取装置の原稿搬送方向に沿った断面図である。 画像信号処理部のブロック図である。 異物検出処理及び異物補正処理の手順を示すフローチャートである。 空白領域を補正対象外とする異物検出処理及び異物補正処理の手順を示すフローチャートである。 読取ガラス上に複数の異物が付着した場合を例示する図である。 異物補正の対象となる箇所の選定結果と、補正処理の結果を示す図である。 読取原稿の異物補正領域と、補正対象外の余白領域とを示す図である。 画像形成装置の複数の機能に応じた余白幅を示す図である。

以下、添付図面を参照して本発明の実施形態を詳しく説明する。尚、以下の実施例は特許請求の範囲に係る本発明を限定するものでなく、また本実施例で説明されている特徴の組み合わせの全てが本発明の解決手段に必須のものとは限らない。なお、同一の構成要素には同一の参照番号を付して、説明を省略する。

本実施形態における画像形成装置は、原稿を光学的に読み取る画像読取装置を備える。また、画像形成装置は、コピー機能、プリンタ機能、ファクシミリ機能、及びこれらの複合機能を実現可能である。また、画像読取装置は、画像形成装置とは別に、単独でスキャナの様に構成されても良い。

図１は、本実施形態における画像形成装置のシート搬送方向に沿った断面図である。図２は、図１の画像形成装置の外観斜視図である。図３は、画像形成装置に備えられた画像読取装置の原稿搬送方向に沿った断面図である。

［画像形成装置］
図１に示すように、画像形成装置１００は、装置本体１０１と、装置本体１０１の上部に設けられた画像読取装置１０３と、画像読取装置１０３の上部に設けられた自動原稿供給装置（ＡＤＦ、オートドキュメントフィーダ）１２６とを含む。

自動原稿供給装置１２６は、原稿載置台１０６に置かれた記録媒体としての例えばシート原稿Ｄを１枚ずつ分離して画像読取装置１０３に供給する。画像読取装置１０３は、自動原稿供給装置１２６によって流し読みガラス１０９上に送り込まれるシート原稿Ｄをイメージセンサユニット１０８で光学的に読み取る。また、画像読取装置１０３は、原稿台ガラス１０７に置かれた記録媒体としての例えばシート原稿Ｄ或いはブック原稿を、ライン型イメージセンサユニット１０８を副走査方向に移動させながら光学的に読み取る。副走査方向は、図１及び図３における左右方向である。主走査方向は、副走査方向に対して直交する方向であり、図２における矢印Ｂ方向である。若しくは、主走査方向は、ライン型イメージセンサユニット１０８のライン方向に対応する。自動原稿供給装置１２６は、ＡＤＦ分離部１１５、排紙搬送部１１６、原稿排紙部１１７、ブック原稿を押圧する原稿押え板１１８、シート原稿搬送部１２１を含む。

画像形成装置の装置本体１０１は、画像読取装置１０３から出力された読取データに基づいてシートに画像を形成することができる。画像読取装置１０３は、画像を読み取って生成された読取データを装置本体１０１に組み込まれた記録装置本体１０４に送る。記録装置本体１０４は、ＬＥＤアレイを使用した電子写真記録方式の記録装置である。図２の操作部１０５は、表示部、入力キー等を備えており、ユーザによる画像形成装置１００の操作を受け付けることができ、また、画像形成装置１００の状態や、処理進行状況等を表示することができる。

また、装置本体１０１は、ＬＥＤ記録ヘッドユニット１１０、画像形成部１１１、カセット給紙部１１２、記録装置本体１０４の上部にシートＰを複数枚積載可能なように構成された記録シート排紙部１１３、カートリッジカバー部１１４を含む。また、装置本体１０１は、画像読取装置１０３と記録装置本体１０４とを接合する接合部１１９、ファクシミリ装置の制御部１２０、両面搬送部カバー１２２、搬送方向切換部１２３、レジスト搬送部１２４を含む。また、装置本体１０１は、記録装置本体１０４内部に配置されたＭＰ（マルチペーパー）給紙部１２５、両面搬送部１５０を含む。なお、本実施形態では、記録装置本体１０４と、画像読取装置１０３とが一体化された画像形成装置１００を説明するが、両装置が各単体で構成され、両装置間が相互に通信可能に接続された画像形成システムとして構成される場合もある。

図３に示すように、シート原稿搬送部１２１には、原稿給送センサ１２１ｈと原稿端センサ１２１ｉが設けられている。原稿給送センサ１２１ｈは、ＡＤＦ分離部１１５からシート原稿Ｄが繰り出されたか否かや、シート原稿Ｄの後端の通過を検知する。また、原稿端センサ１２１ｉは、シート原稿Ｄの先端及び後端の通過を検知する。原稿給送センサ１２１ｈや原稿端センサ１２１ｉからの検知信号は、読取処理のタイミング制御に使用される。

ユーザは、画像読取の対象の原稿を原稿載置台１０６に置く。原稿検知センサ１１５ｄによって原稿がセットされたことを検出する。ユーザが画像読取の開始を操作部１０５を介して指示すると、ピックアップローラ１１５ａを回転させながら下降させ、分離ローラ１１５ｂと分離パッド１１５ｃとで、原稿を１枚ずつ分離して内部に送り出す。給紙ローラ１２１ａ、１２１ｂ、１２１ｃは、読取位置まで原稿を搬送する。原稿が読取位置の上に位置する読取ガラス（プラテンガラス）１０９ａ上を通過する時に、読取ガラス１０９ａの下側から光を照射し、その反射光をセンサにより受信することで画像読取を実行する。

排紙・反転ローラ１１７ａ及び１１７ｂは、原稿の両面を読み取る場合には、原稿を反転させて不図示のフラッパを介して再度、原稿読取位置まで搬送する。画像読取の終了した原稿は、排紙トレイ１１７ｃに排出される。搬送路には、搬送路中の記録媒体の有無を検出するためのセンサが適宜配置される。読取位置に対応する読取ガラス１０９ａ上にゴミや汚れ等の異物が付着している場合には、画像データに黒いスジが現れてしまう。従って、それを防ぐために、画像読取装置１０３は、異物領域を検出して、その領域に対応する画像データを補正する。

図４は、コンタクトイメージセンサ（ＣＩＳ）２１から出力される画像信号を処理する画像信号処理部のブロック図である。本実施形態の画像読取装置１０３は、ＣＩＳ方式により画像を読み取るが、ＣＣＤ（Ｃｈａｒｇｅ Ｃｏｕｐｌｅｄ Ｄｅｖｉｃｅｓ）方式により画像を読み取る構成であっても良い。ＣＩＳ２１は、光電変換装置であり、ＬＥＤ１０、受光センサ１３、ＡＭＰ・Ａ／Ｄ（アンプ・アナログ／デジタル）変換器２３を含む。

メインＣＰＵ２４は、データバス及びシステムバス２１０を介して画像読取装置１０３全体を統括的に制御する。受光センサ１３から出力されたアナログ信号は、ＡＭＰ・Ａ／Ｄ変換機２３のＡＭＰによって増幅され、Ａ／Ｄ変換器によってデジタル信号に変換される。変換されたデジタル信号は、８ｂｉｔデータの場合、黒色を０、白色を２５５とし、０から２５５の２５６段階の輝度データ（濃度）として、データバス及びシステムバス２１０を介して、ＲＡＭ等のメモリ２７に保存される。

画像処理部４１は、異物補正部や異物検出部を含み、メモリ２７に記憶された画像データに対して補正処理が行われる。画像処理部４１から出力された画像データは、通信Ｉ／Ｆ（インタフェース）４２を介して、画像形成装置１００の画像データ生成部４３へ出力される。画像データ生成部４３は、入力された主走査方向の１ライン分の画像データを収集して１ページ分の画像データを生成し、その生成した１ページ分の画像データから、必要な画像サイズ（原稿画像領域）分のデータを生成する。画像データ生成部４３で生成された画像データは、画像形成部１１１に出力されるか、あるいは外部のホストコンピュータ等に送信されて画像として再生（表示等）される。

画像読取装置１０３の操作部１０５は、画像読取装置１０３の状態表示や、画像形成装置１００全体の動作状態の表示を行なう。また、操作部１０５は、ユーザから、読取命令の入力を受け付ける。原稿検知センサ１１５ｄは、ＡＤＦ１２６に置かれた原稿Ｄを検出する。また、原稿端センサ１２１ｉは、原稿Ｄの先端および後端を検出し、その検出信号は、読取処理のタイミング制御に使用される。原稿幅検知センサ２２７は、原稿載置台１０６上に置かれた原稿Ｄの幅情報（主走査方向のサイズ情報）を検知する。

図４には不図示であるが、他にＲＯＭやＲＡＭ等がシステムバス２１０に接続される。ＲＯＭには本実施形態の動作を実現するための制御プログラム等が記憶されており、メインＣＰＵ２４により、ＲＡＭに読み出されて実行される。ＲＡＭは、例えば、メインＣＰＵ２４のワークエリアとしても用いられる。

［流し読みゴミ検出・補正処理］
図５は、ＤＦスキャン（いわゆる流し読み）時における異物検出処理及び異物補正処理の手順を示すフローチャートである。図５に示す処理は、例えば、メインＣＰＵ２４がＲＯＭに格納された本実施形態の動作を実現するためのプログラムをＲＡＭに読み出して実行することにより実現される。図５に示す各パラメータは、図５の処理開始前に、メインＣＰＵ２４によりＲＡＭ等の記憶領域に確保される。

まず、ユーザによりＡＤＦ１２６に原稿Ｄが置かれ、操作部１０５上のコピーボタンが押下されると、ＡＤＦ１２６及び画像読取装置１０３によるＤＦスキャン動作が開始される（Ｓ１００）。次に、原稿台に置かれた原稿を読み取る前に、流し読みガラス（読取ガラス１０９ａ）上をスキャンする（Ｓ１０１）。メインＣＰＵ２４は、読取ユニット５０を制御してＬＥＤ１０を点灯させ、受光センサ１３によって読取ガラス１０９ａ上の主走査方向の全画素分の画像データを取得し、画像処理部４１を介してメモリ２７に格納する。ここで、読取ガラス１０９ａ上の主走査方向の画素数は７５００画素とし、主走査方向で得られる各画素データを、画素データＳｄ１〜Ｓｄ７５００とする。

次に、スキャンした読取ガラス１０９ａ上の画像データから、予め定められた閾値以下の輝度値を有する画素データをゴミ（異物）として検出する異物検出処理を実行する（Ｓ１０２〜Ｓ１１２）。

異物検出処理において、メインＣＰＵ２４は、画像処理部４１内の異物検出部により、メモリ２７に格納された主走査方向の１ライン分の読取ガラス１０９ａ上の各画素データを１画素目から順番に取り出し、メモリ２７に記憶された閾値と比較する。ここで、対象となる画素を対象画素Ｎとし、予め定められた閾値を輝度値２００とする。対象画素Ｎに対応する画素データをＳｄＮとする。比較の結果、対象画素Ｎの画素データＳｄＮが輝度値２００（閾値）未満である場合、メインＣＰＵ２４は、対象画素Ｎに異物があると判断し、検出した異物の異物番号Ｇｍを設定し（Ｓ１０３）、異物位置Ｇｍ＿ｐｏｓと対応付けてメモリ２７に記憶する（Ｓ１０４）。ここで、異物番号Ｇｍの初期値は「０」であり、ゴミを検出する毎に１ずつカウントアップしていく。また、異物位置Ｇｍ＿ｐｏｓは、例えば、読取ガラス１０９ａの読取領域のうち、最も奥側からの画素数である。

検出した異物の異物番号Ｇｍと異物位置Ｇｍ＿ｐｏｓとをメモリ２７に記憶すると、メインＣＰＵ２４は、検出した異物の異物幅を検出する（Ｓ１０５〜Ｓ１０８）。まず、対象画素Ｎを異物画素として異物幅Ｇｍ＿ｃｎｔをカウントする（Ｓ１０５）。ここで、異物幅Ｇｍ＿ｃｎｔの初期値は「０」であり、単位は画素で表わされる。

異物幅を１画素分カウントすると、対象画素Ｎを１画素ずらして（Ｎ＝Ｎ＋１）、次の対象画素Ｎを検出し（Ｓ１０６）、同様に、画素データＳｄＮと閾値とを比較して、次画素Ｎも異物であるか否かを判定する（Ｓ１０７）。ここで、次の対象画素Ｎも前の対象画素（Ｎ−１）と同様に、閾値以下の異物であると判定された場合（Ｓ１０７：Ｙｅｓ）、異物幅Ｇｍ＿ｃｎｔをカウントアップする（Ｓ１０５）。そして、次々画素以降も同様に連続した異物であるか否かを判定し、連続した異物であると判定された場合には、異物幅Ｇｍ＿ｃｎｔをカウントアップしていく（Ｓ１０５〜Ｓ１０７の繰り返し）。一方、次画素Ｎが異物でないと判定された場合（Ｓ１０７：Ｎｏ）、それまでにカウントした異物幅Ｇｍ＿ｃｎｔを異物番号Ｇｍの異物幅Ｇｍ＿ｗｉｄ（＝Ｇｍ＿ｃｎｔ）として、メモリ２７に記憶する（Ｓ１０８）。

異物幅Ｇｍ＿ｗｉｄを検出した後、メインＣＰＵ２４は、異物Ｇｍの異物濃度Ｇｍ＿ｄａｔａを算出し、メモリ２７に記憶する（Ｓ１０９）。ここで、異物濃度Ｇｍ＿ｄａｔａは、異物Ｇｍに含まれる全画素の平均値となり、式（１）で算出される。

Ｇｍ＿ｄａｔａ＝（ＳｄＮ＋ＳｄＮ＋１＋・・・＋ＳｄＮ＋Ｗ）／Ｗ ・・・（１） ここで、Ｗ＝Ｇｍ＿ｗｉｄである。

以上のようにして、検出した異物の異物番号Ｇｍ、異物位置Ｇｍ＿ｐｏｓ、異物幅Ｇｍ＿ｗｉｄ、異物濃度Ｇｍ＿ｄａｔａを求める（Ｓ１０３〜Ｓ１０９）。次に、メインＣＰＵ２４は、主走査方向の全画素分の画像データのうち、検出した異物の総画素数Ｇ＿ｔｏｔａｌを更新する（Ｓ１１０）。総画素数Ｇ＿ｔｏｔａｌは、初期値として０が設定されている。

Ｓ１０２において、対象画素が異物でないと判定された場合、対象画素Ｎが最終画素（Ｎ＝７５００）であるか否かが判定される（Ｓ１１１）。ここで、最終画素でないと判定された場合には、メインＣＰＵ２４は、次画素を検出し（Ｎ＝Ｎ＋１）、Ｓ１０２からの処理を繰り返す。一方、最終画素であると判定された場合には、上述の異物検出処理(Ｓ１０２〜Ｓ１１２)を終了してＳ１１３に進む。

Ｓ１０２〜Ｓ１１２の異物検出処理が終了し、検出した異物の総画素数Ｇｍ＿ｔｏｔａｌが補正上限画素数Ｇｃ＿ｍａｘを超えているか否かの画素数判定を行う（Ｓ１１３）。ここで、検出した異物の総画素数Ｇｍ＿ｔｏｔａｌが補正上限画素数Ｇｃ＿ｍａｘ以下であると判定された場合にはＳ１２２に進み、補正上限画素数Ｇｃ＿ｍａｘを超えていると判定された場合にはＳ１１４に進む。Ｓ１２２において、メインＣＰＵ２４は、検出した異物箇所全てを補正対象箇所として決定する。そして、原稿の搬送を開始し、原稿が読取ガラス１０９ａ上に到達すると、主走査方向の１ラインずつ画像データを読み取ると同時に、決定した補正対象箇所の異物補正処理（画像補正処理）を実行する（Ｓ１２２）。一方、補正上限画素数Ｇｃ＿ｍａｘを超えていると判定された場合は、Ｓ１１４〜Ｓ１２１において、原稿幅に応じた補正対象となる異物の選定処理を行う。

［原稿幅に基づく補正対象となる異物の選定処理］
原稿幅に基づく補正対象となる異物の選定処理では、メインＣＰＵ２４は、原稿幅検知センサ２２７によって検知した原稿Ｄの幅情報から、原稿有効領域を設定する（Ｓ１１４）。原稿有効領域は、イメージセンサ１０８の中央画素（３７５０画素目）を中心とする原稿幅分の領域（画素数）となる。ここで、原稿サイズをＤｗ（ｍｍ）、１画素を０．０４２３（ｍｍ）（６００ｄｐｉ時）とすると、原稿有効領域Ｄｙ（画素数）と原稿有効領域の始点Ｙｓ（画素番号）と終点Ｙｅ（画素番号）は、式（２）から求められる。

Ｄｙ＝Ｄｗ／０．０４２３、Ｙｓ＝３７５０−Ｄｙ／２、Ｙｅ＝３７５０＋Ｄｙ／２ ・・・（２）
原稿サイズに応じた原稿有効領域が中央基準となる理由は、本実施形態の画像読取装置１０３の構成において、原稿Ｄは、原稿載置台１０６上の一対のスライダ１０６ａによって中央基準で載置され、イメージセンサ１０８上に搬送されるためである。

原稿有効領域（Ｙｓ、Ｙｅ）を設定すると、異物検出処理で検出した全ての異物（Ｇｍ＝１〜ｍ）から補正対象の異物Ｇｍの選定を開始する（Ｓ１１５）。現在着目する異物Ｇｍの異物位置Ｇｍ＿ｐｏｓと、原稿有効領域（Ｙｓ、Ｙｅ）とを比較して、有効領域内の異物であるか否か（Ｙｓ≦Ｇｍ＿ｐｏｓ≦Ｙｅ）を判定する（Ｓ１１６）。ここで、異物Ｇｍが原稿有効領域内であると判定された場合、異物Ｇｍを補正対象の異物とし、異物Ｇｍの異物幅Ｇｍ＿ｗｉｄを補正対象異物総数Ｇｃ＿ｔｏｔａｌに加算する（Ｓ１１７）。

補正対象異物総数への加算後の補正対象異物総数Ｇｃ＿ｔｏｔａｌが補正上限数Ｇｃ＿ｍａｘを超えているか否かを判定する（Ｓ１１８）。ここで、補正上限数Ｇｃ＿ｍａｘ以下であると判定された場合には、異物Ｇｍを補正対象の異物として選定し（Ｓ１１９）、Ｓ１２０に進む。Ｓ１２０において、全ての異物について選定処理が完了したか否かを判定し、全ての異物について選定処理が完了していないと判定された場合には、Ｓ１１５からの処理を繰り返す。一方、全ての異物について選定処理が完了したと判定された場合には、Ｓ１２２に進む。

全てのゴミを選定する前に、Ｓ１１８において、補正対象異物総数Ｇｃ＿ｔｏｔａｌが補正上限数Ｇｃ＿ｍａｘを超えたと判定された場合、現在着目している異物Ｇｍの異物幅Ｇｍ＿ｗｉｄ分全ての画素を補正することはできない。従って、その場合、現在着目している異物Ｇｍの異物幅Ｇｍ＿ｗｉｄのうち、補正可能な一部の画素（Ｇｃ＿ｍａｘ−Ｇｃｏｒ＿ｃｎｔ）を補正対象画素として選定する（Ｓ１２１）。Ｓ１２１の処理後は、Ｓ１２２に進む。その場合には、例えば、主走査方向上の奥側若しくは手前側から、補正上限数と異物幅Ｇｍ＿ｗｉｄとの差に対応する画素数分を補正対象外とするように決定しても良い。

補正対象の異物の選定処理が終了すると、Ｓ１２２において、メインＣＰＵ２４は、補正対象の異物の選定結果に基づいて補正箇所を決定する。そして、原稿の搬送を開始し、原稿が読取ガラス１０９ａ上に到達すると、主走査方向の１ラインずつ画像データを読み取ると同時に、決定した補正箇所の異物補正処理（画像補正処理）を実行する。原稿の全画像をスキャンしたら、ＤＦスキャンを完了する（Ｓ１２３）。

以上、読取ガラス上の主走査全領域の画像データを取得し、原稿サイズに応じて補正対象の異物を選定する実施形態を説明した。このように、原稿サイズに応じて補正対象のゴミを選定する方法の他、余白領域についても補正対象としない方法がある。以下、余白領域について補正対象としない方法について説明する。

図６は、ＤＦスキャン（いわゆる流し読み）時における異物検出処理及び異物補正処理で余白領域を補正対象としない場合の処理の手順を示すフローチャートである。図６に示す処理は、例えば、メインＣＰＵ２４がＲＯＭに格納された本実施形態の動作を実現するためのプログラムをＲＡＭに読み出して実行することにより実現される。図６に示す各パラメータは、図６の処理開始前に、メインＣＰＵ２４によりＲＡＭ等の記憶領域に確保される。

まず、ユーザによりＡＤＦ１２６に原稿Ｄが置かれ、操作部１０５上のコピーボタンが押下されると、ＡＤＦ１２６及び画像読取装置１０３によるＤＦスキャン動作が開始される（Ｓ２００）。次に、原稿台に置かれた原稿を読み取る前に、流し読みガラス（読取ガラス１０９ａ）上をスキャンする。メインＣＰＵ２４は、読取ユニット５０を制御してＬＥＤ１０を点灯させ、受光センサ１３によって読取ガラス１０９ａ上の主走査方向の全画素分の画像データを取得し、画像処理部４１を介してメモリ２７に格納する（Ｓ２０１）。ここで、読取ガラス１０９ａ上の主走査方向の画素数は７５００画素とし、主走査方向で得られる各画素データを、画素データＳｄ１〜Ｓｄ７５００とする。

次に、スキャンした読取ガラス１０９ａ上の画像データから、予め定められた閾値以下の輝度値を有する画素データをゴミ（異物）として検出する（Ｓ２０２）。

異物検出処理において、メインＣＰＵ２４は、画像処理部４１内の異物検出部により、メモリ２７に格納された主走査方向の１ライン分の読取ガラス１０９ａ上の各画素データを１画素目から順番に取り出し、メモリ２７に記憶された閾値と比較する。ここで、対象となる画素を対象画素Ｎとし、予め定められた閾値を輝度値２００とする。対象画素Ｎに対応する画素データをＳｄＮとする。比較の結果、対象画素Ｎの画素データＳｄＮが輝度値２００（閾値）未満である場合、メインＣＰＵ２４は、対象画素Ｎに異物があると判断する。

対象画素Ｎの画素データＳｄＮが輝度値２００未満である場合、対象画素Ｎは、図９で後述する余白領域内の異物であるか否かを判定する（Ｓ２０３）。対象画素Ｎが余白領域内の異物であると判定された場合、対象画素Ｎを補正対象外として、Ｓ２０５に進む。Ｓ２０５において、メインＣＰＵ２４は、対象画素Ｎが最終画素（Ｎ＝７５００）であるか否かを判定する。

Ｓ２０３で対象画素Ｎが余白領域内の異物でないと判定された場合、Ｓ２０４において、メインＣＰＵ２４は、図５の異物検出処理（Ｓ１０３〜Ｓ１１０）を実行する。メインＣＰＵ２４は、検出した異物の異物番号Ｇｍ、異物位置Ｇｍ＿ｐｏｓ、異物幅Ｇｍ＿ｗｉｄ、異物濃度Ｇｍ＿ｄａｔａを求める（Ｓ１０３〜Ｓ１０９）。そして、メインＣＰＵ２４は、主走査方向の全画素分の画像データのうち、検出した異物の総画素数Ｇ＿ｔｏｔａｌを更新する（Ｓ１１０）。

Ｓ２０２で対象画素Ｎが異物でないと判定された場合、Ｓ２０５において、対象画素Ｎが最終画素（Ｎ＝７５００）であるか否かが判定される。ここで、最終画素でないと判定された場合、メインＣＰＵ２４は、次画素を検出し（Ｎ＝Ｎ＋１）、Ｓ２０２からの処理を繰り返す。一方、最終画素であると判定された場合には、上述の異物検出処理(Ｓ１０３〜Ｓ１１０)を終了してＳ２０７に進む。

Ｓ２０７において、メインＣＰＵ２４は、ＡＤＦ１２６による原稿搬送を開始する（Ｓ２０７）。次に、メインＣＰＵ２４は、原稿端センサ１２１ｉがＯＮであるか否かを判定する（Ｓ２０８）。原稿端センサ１２１ｉがＯＮと判定されるまで、メインＣＰＵ２４は、Ｓ２０８の処理を繰り返す。ここで、図６には不図示であるが、メインＣＰＵ２４は、一定時間経過したが原稿端センサ１２１２ｉのＯＮを検出できなかった場合、遅延ジャムが発生したと判定し、ＡＤＦ１２６による原稿の搬送動作を停止して、処理を終了するようにしても良い。

Ｓ２０８で原稿端センサ１２１ｉがＯＮであると判定された場合、メインＣＰＵ２４は、原稿が読取ガラス１０９ａ上に到達した後に、主走査方向の１ラインずつ画像データを読み取ると同時に、異物ありと判定された補正箇所の異物補正処理（画像補正処理）を実行する（Ｓ２０９）。

Ｓ２１０において、メインＣＰＵ２４は、最終原稿であるか否かを判定する。ここで、最終原稿でないと判定された場合、Ｓ２０１からの処理を繰り返し、最終原稿であると判定された場合、ＤＦスキャンを完了し、図６の処理を終了する。

余白領域に関して、図９及び図１０を参照しながら説明する。

図９は、読取原稿の異物補正領域と、補正対象外となる余白領域とを示す図である。図９に示すように、主走査方向の原稿領域に関して、左端及び右端に数ｍｍの余白領域が設けられている。この余白領域は、異物補正の対象外領域であり、余白領域以外の領域は、異物補正の対象領域となる。余白領域とは、例えば、原稿端部においては、影等により読取データが不安定となる場合があるので、端部をマスク領域としてマスキングし、マスク領域以外を実際の処理対象とするために設定される。本実施形態では、このマスク領域を余白領域として説明する。

図１０は、画像形成装置１００が実行可能な複数の機能に応じた画像マスク量（余白幅）を示す図である。図１０では、ＢＯＯＫ、ＡＤＦにおいて、原稿の先端・後端・左端・右端、また、所定の機能が実行される各モード（Ｃｏｐｙ、ＦＡＸ、ＳｃａｎＴｏＵＳＢ、ＰｕｌｌＳｃａｎ）での画像読取装置１０３の読取画像の画像マスク量（余白幅：ｍｍ）を示している。ＢＯＯＫとは、原稿台ガラス１０７に置かれたシート原稿やブック原稿を読み取る読取動作を表す。また、ＡＤＦとは、ＡＤＦ１２６から給紙された原稿を読み取る読取動作を表す。また、余白領域は、画像形成装置１００により形成される記録媒体上では、非印刷領域となる。図１０では、例えば、ＢＯＯＫとＡＤＦそれぞれにおいて検出された原稿サイズと図１０に示す余白幅とに基づいて、読取画像上の余白領域が特定される（マスク領域特定の一例）。この特定処理は、図６のＳ２０３でメインＣＰＵ２４により行われ、その結果を用いて、対象画素Ｎが余白領域内の異物であるか否かが判定される。

図６の処理を実行することで、原稿領域の余白領域を異物補正処理の対象としないようにすることで、異物補正処理を実行する領域を制限して異物補正処理の対象範囲を削減することができる。その結果、異物補正処理にかかる時間や異物補正処理で使用するメモリ容量の仕様上、異物の補正可能個数に上限がある場合でも、異物を補正すべき領域における異物補正の確実性を向上させることができる。

［原稿サイズ別の異物補正処理の一例］
原稿サイズに基づく補正ゴミの選定方法（図５のＳ１１４〜Ｓ１２１）の詳細について、図７と図８を参照しながら説明する。

図７の上段は、読取ガラス１０９ａ上に複数の異物が付着した場合における、読取ガラス１０９ａ上の画像の読取結果としての主走査方向の画素毎の濃度（輝度値）を示している。グラフの横軸は、イメージセンサ１０８で読取ガラス１０９ａ上の画像を読み取る際の主走査方向の位置を画素数で表わしており、奥側を０としている。グラフの縦軸は、読取ガラス１０９ａ上の画像データの濃度（輝度値）を２５６段階で示した値で、０を黒色、２５５を白色としている。異物閾値は濃度２００とし、メモリ２７に予め記憶されている。グラフ中の異物Ａ〜Ｄは、異物閾値を下回る異物として判定された箇所であり、画像処理回路４１内の異物検出部によって検出される。

図７の下段は、原稿サイズ毎の画像データ有効領域を示している。原稿サイズ毎の画像データの有効領域（Ｙｓ〜Ｙｅ）は、Ａ４及びＡ３（縦送り）については、２３６画素〜７２５７画素である。また、Ｂ５については、７０９画素〜６７８４画素であり、Ａ４Ｒについては、１２６５画素〜６２２９画素である。そして、主走査方向中央の３７５０画素位置を中心に、各原稿サイズの原稿幅分の領域が画像データ有効領域となる。主走査方向中央が中心となる理由は、前述のとおり、原稿Ｄが原稿載置台１０６上の一対のスライダ１０６ａによって中央を基準にしてセットされ、読取ガラス１０９ａ上へ搬送されるためである。

図８は、読取ガラス１０９ａ上に図７に示す異物Ａ〜Ｄが付着している場合の、メインＣＰＵ２４による異物補正の対象となる箇所の選定結果と、画像処理回路４１内の異物補正部による異物箇所の画像補正結果を示す表である。図８（ａ）は、従来方式による異物補正結果を示し、図８（ｂ）は、本実施形態による異物補正結果を示している。両方式ともに、異物補正処理によって補正できる異物の上限個数は１０画素分とする。

図８（ａ）に示す従来方式の異物補正処理では、本実施形態において説明したようなメインＣＰＵ２４による異物補正箇所の選定は行われない。従って、画像処理回路４１内の異物検出部で検出した異物箇所の全てが異物補正処理の対象となる。異物補正部は、主走査方向の奥側（０画素目）から順に、検出した異物の画像補正処理を実行し、補正個数が上限個数（例えば１０画素分）を超えた場合には、その異物以降に検出した異物に対して異物補正処理を実行しない。つまり、図７に示す異物幅２〜３画素の異物Ａ〜Ｄを検出した場合には、補正個数が上限個数１０画素を超えた分に対応する新しい異物Ｅ、異物Ｆの補正が行えず、読み取った画像に異物に起因するスジ画像（異常画像）が発生してしまう。つまり、図８（ａ）に示すように、原稿サイズＡ４ＲとＢ５の場合には異物Ｅにおいて、原稿サイズＡ４の場合には異物Ｅと異物Ｆにおいて、異物箇所の画像データ補正が行えずにスジ画像（異常）が発生することになる。

一方、図８（ｂ）に示す本実施形態における異物補正処理では、メインＣＰＵ２４により補正対象の異物の選定が行われる。補正対象の異物の選定では、メインＣＰＵ２４は、原稿サイズ毎に図７の下段に示す画像有効領域を特定し、サイズ毎の画像有効領域内に存在する異物箇所を補正対象の異物として選定する。原稿サイズ別の補正対象の異物の選定の結果、原稿サイズＡ４Ｒでは異物Ｂが、原稿サイズＢ５では異物Ｂと異物Ｃが、原稿サイズＡ４では異物Ａ〜Ｄが補正対象として選定される。異物補正部は、補正対象の異物の選定結果に基づいて、補正対象の異物に対してのみ画像補正処理を実行する。原稿サイズ別の異物箇所の画像補正処理の結果、原稿サイズＡ４ＲとＢ５では全ての異物が補正され、原稿サイズＡ４では異物Ｆ以外の補正上限個数分の異物が補正される。

以上のように、本実施形態においては、原稿サイズに応じて補正対象の異物を選定することによって、異物処理に用いられるメモリ領域が制限される場合においても、読取画像の補正処理の精度の低下を防ぐことができる。

Claims (10)

1. 読取領域の原稿を光学的に読み取る読取手段を備える読取装置であって、
   前記読取領域に前記原稿がない状態で前記読取領域を前記読取手段に読み取らせて、前記読取領域の異物を検出する検出手段と、
   前記検出手段により検出された異物のうち前記原稿の領域内の異物を特定する特定手段と、
   前記読取領域の前記原稿を前記読取手段に読み取らせて読取データを生成する生成手段と、
   前記生成手段により生成された読取データを、前記特定手段により特定された異物について補正する補正手段と、
   を備えることを特徴とする読取装置。
2. 前記読取手段により読み取られた画素が異物であるか否かを判定する判定手段、をさらに備え、
   前記検出手段は、前記判定手段により異物であると判定された画素を異物として検出する、ことを特徴とする請求項１に記載の読取装置。
3. 前記判定手段は、前記読取手段により読み取られた画素の輝度値を予め定められた輝度値と比較することにより異物であるか否かを判定することを特徴とする請求項２に記載の読取装置。
4. 前記判定手段により異物と判定された画素数を取得する取得手段と、
   前記取得手段により取得された画素数が予め定められた閾値より大きいか否かを判定する第１の画素数判定手段と、をさらに備え、
   前記取得手段により取得された画素数が予め定められた閾値より大きいと前記第１の画素数判定手段により判定された場合に、前記特定手段は、前記検出手段により検出された異物のうち前記原稿の領域内の異物を特定する、ことを特徴とする請求項２又は３に記載の読取装置。
5. 前記取得手段により取得された画素数が予め定められた閾値以下であると前記第１の画素数判定手段により判定された場合、前記補正手段は、前記生成手段により生成された読取データを、前記検出手段により検出された異物について補正することを特徴とする請求項４に記載の読取装置。
6. 前記特定手段により特定された前記原稿の領域内の異物に対応する画素数が、予め定められた閾値より大きいか否かを判定する第２の画素数判定手段、をさらに備え、
   前記第２の画素数判定手段により前記特定手段により特定された前記原稿の領域内の異物に対応する画素数が、予め定められた閾値より大きいと判定された場合、前記特定手段はさらに、前記原稿の領域内の異物に対応する画素のうちの一部の画素を特定し、
   前記補正手段は、前記生成手段により生成された読取データを、前記特定手段により特定された前記一部の画素について補正する、ことを特徴とする請求項４に記載の読取装置。
7. 前記読取データの読取画像上のマスク領域を特定するマスク領域特定手段、をさらに備え、
   前記補正手段は、前記原稿の領域内の前記マスク領域特定手段により特定されたマスク領域以外の領域に存在する異物について補正する、ことを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項に記載の読取装置。
8. 請求項７に記載の読取装置と、前記読取装置で読み取る画像に基づいて記録媒体に画像を形成する画像形成装置と、を備える画像形成システムであって、
   前記補正手段は、前記原稿の領域内の、前記画像形成システムで実行される機能に応じて決定されるマスク領域以外の領域に存在する異物について補正することを特徴とする画像形成システム。
9. 前記画像形成装置は、前記記録媒体上の前記マスク領域において画像の形成を行わないことを特徴とする請求項８に記載の画像形成システム。
10. 読取領域の原稿を光学的に読み取る読取手段を備える読取装置において実行される読取方法であって、
    前記読取領域に前記原稿がない状態で前記読取領域を前記読取手段に読み取らせて、前記読取領域の異物を検出する検出工程と、
    前記検出工程において検出された異物のうち前記原稿の領域内の異物を特定する特定工程と、
    前記読取領域の前記原稿を前記読取手段に読み取らせて読取データを生成する生成工程と、
    前記生成工程において生成された読取データを、前記特定工程において特定された異物について補正する補正工程と、
    を有することを特徴とする読取方法。

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