JP2015099047A - 故障診断率算出装置、故障診断率算出方法、および電子回路装置 - Google Patents
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Abstract
Description
請求項5に記載の故障診断率算出方法は、電子回路装置の故障診断率を算出する故障診断率算出方法において、電子回路装置の回路構成情報及び電子回路装置を構成する回路素子の故障情報を用いて故障を適用した回路情報を生成し、生成された回路情報と回路素子の素子ばらつき情報と演算条件情報を用いて故障を適用した回路の動作値を演算し、演算された回路の動作値と電子回路装置の安全条件情報から、故障ごとに、安全、検出不可能な危険、検出可能な危険の判定を行い、故障ごとに判定された判定結果の発生割合を算出し、算出された発生割合に基づいて電子回路装置の故障診断率を算出することを特徴とする。
図1は、本実施の形態における故障診断率算出装置2の構成図である。
電子回路装置4は、車載用の電子回路であり、故障診断率対象となる電子回路である。電子回路装置4は、車載用の電子回路の機能ブロックごとに分けた中の一つの電子回路であってもよい。設計者等は電子回路装置4の設計情報を基に電子回路情報5を抽出し、電子回路情報記憶部1に入力する。電子回路情報記憶部1は、ハードディスク装置などの記憶装置により構成され、入力された電子回路情報5を記憶する。
ステップS1では、故障注入部20において、故障情報記憶部3より入力された故障情報10および電子回路情報記憶部1より入力された回路構成情報11を用いて、故障が適用された回路情報30を作成して出力する。ステップS1の詳細は図8に示す。
本実施の形態では、各故障の発生割合と各素子の故障発生率を考慮することで、より正確に故障診断率34を算出することができる故障診断率算出装置2Aの例を説明する。
本発明は、以上説明した第1および第2の実施の形態を次のように変形して実施することができる。
(1)素子ばらつき情報12は、図4に示すように、回路構成情報11に対応する各回路素子に対して、通常時の素子ばらつきの範囲とばらつきの刻み幅で示した。そして、図12に示したように、回路演算部21は、処理対象回路に対して素子ばらつき設定の組み合わせを全通り実施した。しかし、モンテカルロ法を用いて、素子ばらつきの範囲およびシミュレーション回数を定めて、1回のシミュレーションで素子ばらつきの範囲内でランダムに各回路素子のばらつき値を設定して演算を行い、これを定められたシミュレーション回数だけ行って演算結果を求めるようにしてもよい。
(1)電子回路装置4の故障診断率を算出する故障診断率算出装置2において、故障診断率算出装置2は、電子回路装置4の回路構成情報11及び電子回路装置4を構成する回路素子の故障情報10を用いて故障を適用した回路情報を生成する故障注入部20と、生成された回路情報30と回路素子の素子ばらつき情報12と演算条件情報13を用いて故障を適用した回路の動作値を演算する回路演算部21と、演算された回路の動作値と電子回路装置4の安全条件情報14から、故障ごとに、安全、検出不可能な危険、検出可能な危険の判定を行う結果判定部22と、故障ごとに判定された判定結果の発生割合33を算出するばらつき結果統合部23と、算出された発生割合33に基づいて電子回路装置4の故障診断率34を算出する故障診断率算出部24と、を有することを特徴とする。したがって、回路素子のばらつきも考慮することで故障診断率の算出精度を向上させ、ばらつきを考慮しない場合と比べて故障診断率の値を向上させることができる。
2、2A 故障診断率算出装置
3 故障情報記憶部
4 電子回路装置
10、10A 故障情報
11 回路構成情報
12 素子ばらつき情報
13 演算条件情報
14 安全条件情報
15 素子故障率情報
20 故障注入部
21 回路演算部
22 結果判定部
23 ばらつき結果統合部
24、24A 故障診断率算出部
34 故障診断率
Claims (6)
- 電子回路装置の故障診断率を算出する故障診断率算出装置において、
前記故障診断率算出装置は、
前記電子回路装置の回路構成情報及び前記電子回路装置を構成する回路素子の故障情報を用いて故障を適用した回路情報を生成する故障注入部と、
前記生成された回路情報と前記回路素子の素子ばらつき情報と演算条件情報を用いて故障を適用した回路の動作値を演算する回路演算部と、
前記演算された回路の動作値と前記電子回路装置の安全条件情報から、故障ごとに、安全、検出不可能な危険、検出可能な危険の判定を行う結果判定部と、
前記故障ごとに判定された判定結果の発生割合を算出するばらつき結果統合部と、
前記算出された発生割合に基づいて前記電子回路装置の故障診断率を算出する故障診断率算出部と、
を有することを特徴とする故障診断率算出装置。 - 請求項1に記載された故障診断率算出装置において、
前記回路演算部は、前記回路素子の素子ばらつき情報に基づいて前記生成された回路情報を再構成して故障を適用した回路の動作値を演算することを特徴とした故障診断率算出装置。 - 請求項1または請求項2に記載された故障診断率算出装置において、
前記ばらつき結果統合部は、前記結果判定部で前記故障ごとに判定された判定結果から安全、検出不可能な危険、検出可能な危険の各取りうる数を求め、該数に基づいて前記発生割合を算出することを特徴とした故障診断率算出装置。 - 請求項3に記載された故障診断率算出装置において、
前記故障情報は、前記回路素子の故障の発生確率を有し、
前記故障診断率算出部は、前記算出された発生割合に加えて、前記回路素子の故障の発生確率と前記電子回路装置の素子故障率情報とに基づいて、前記電子回路装置の故障診断率を算出することを特徴とする故障診断率算出装置。 - 電子回路装置の故障診断率を算出する故障診断率算出方法において、
前記故障診断率算出方法は、
前記電子回路装置の回路構成情報及び前記電子回路装置を構成する回路素子の故障情報を用いて故障を適用した回路情報を生成し、
前記生成された回路情報と前記回路素子の素子ばらつき情報と演算条件情報を用いて故障を適用した回路の動作値を演算し、
前記演算された回路の動作値と前記電子回路装置の安全条件情報から、故障ごとに、安全、検出不可能な危険、検出可能な危険の判定を行い、
前記故障ごとに判定された判定結果の発生割合を算出し、
前記算出された発生割合に基づいて前記電子回路装置の故障診断率を算出することを特徴とする故障診断率算出方法。 - 請求項5に記載された故障診断率算出方法により故障診断率が算出された電子回路装置。
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JP2002040109A (ja) * | 2000-07-28 | 2002-02-06 | Mitsubishi Electric Corp | 故障検証方法及び装置 |
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