JP2015087291A - 力検出装置、ロボット、電子部品搬送装置、電子部品検査装置、部品加工装置および温度補償方法 - Google Patents

力検出装置、ロボット、電子部品搬送装置、電子部品検査装置、部品加工装置および温度補償方法 Download PDF

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隆伸 松本
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Abstract

【課題】温度が変動してもその温度変動に対する補償を行なって、正確な力検出を行なうことができる力検出装置、ロボット、電子部品搬送装置、電子部品検査装置、部品加工装置および温度補償方法を提供すること。【解決手段】力検出装置1は、第1基部2と、第2基部3と、第1基部2と第2基部3との間で挟持される第1センサーデバイス6A〜6Dと、第2基部3に接して且つ第1基部2から離間した第2センサーデバイス6Eとを備える。第1センサーデバイス6A〜6Dと第2センサーデバイス6Eとは、複数の水晶板が互いに同じ構成と積層方向に積層されており、第1センサーデバイス6A〜6Dは、積層方向LDに対する第2基部3との角度が第2基部3と同じ角度で接している。【選択図】図1

Description

本発明は、力検出装置、ロボット、電子部品搬送装置、電子部品検査装置、部品加工装置および温度補償方法に関する。
近年、生産効率向上を目的として、工場等の生産施設への産業用ロボットの導入が進められている。このような産業ロボットとしては、アルミニウム板等の母材に対して機械加工を施す工作機械が代表的である。工作機械には、機械加工を施す際に、母材に対する力を検出する力検出装置が内蔵されたものがある(例えば、特許文献1参照)。
特許文献1に記載の力測定装置は、圧電素子としての水晶を2つ用いて、せん断、引張力、圧縮力等を検出することができる。そして、2つの水晶は、互いに対向して配置されており、温度変化等による検出値の誤差を相殺するができるよう構成されている。
特開平10−68665号公報
しかしながら、特許文献1には、各水晶の熱膨張の異方性等については、開示されておらず、当該水晶を用いた力測定装置では、機械加工中に生じた熱により水晶が思わぬ方向に変形してしまう。その結果、圧電素子の出力における真値に対するノイズ成分となってしまう。
そこで、本発明の目的は、温度が変動してもその温度変動に対する補償を行なって、正確な力検出を行なうことができる力検出装置、ロボット、電子部品搬送装置、電子部品検査装置、部品加工装置および温度補償方法を提供することにある。
このような目的は、下記の本発明に係わる適用例により達成される。
(適用例1)
本発明に係わる力検出装置は、第1基部と、第2基部と、前記第1基部と前記第2基部とによって挟持される第1センサ素子と、前記第1基部および前記第2基部のうちの一方の基部に接して且つ他方の基部から離間した第2センサ素子と、を備え、前記第1基部と前記第2基部とに加わる外力を検出する力検出装置であって、
前記第1センサ素子と前記第2センサ素子とは、複数の水晶板が互いに同じ構成と積層方向に積層され、
前記第1センサ素子は、前記積層方向に対する前記一方の基部との角度を前記第2センサ素子と同じ角度で接することを特徴とする。
これにより、第1センサ素子から出力される信号に基づいて外力を検出するにあたり、温度が変動しても、第1センサ素子から出力される信号を第2センサ素子から出力される信号に基づいて補正をして、温度変動に対する補償を行なうことができる。よって、第1センサ素子から出力される信号に含まれる熱膨張により生じたノイズ成分を除去または減少させることができ、すなわち、検出する外力以外の第1の素子に加わる力により生じるノイズ成分を除去または減少させることができ、正確な力検出を行なうことができる。
(適用例2)
本発明に係わる力検出装置では、前記第1センサ素子は、前記一方の基部において前記第2センサ素子を囲むように複数配置されているのが好ましい。
これにより、第1センサ素子で検出された検出値に対して補正を行なう際に、当該補正による誤差を抑えることができる。
(適用例3)
本発明に係わる力検出装置では、前記第1センサ素子は、4つ以上設置されているのが好ましい。
これにより、外力を安定して検出することができる。
(適用例4)
本発明に係わる力検出装置では、前記外力は、前記第1センサ素子で出力される出力値と、前記第2センサ素子で出力される出力値とに基づいて求められるのが好ましい。
これにより、温度が変動してもその温度変動に対する補償を行なって、正確な力検出を簡単な演算で行なうことができる。
(適用例5)
本発明に係わる力検出装置では、記外力は、前記第2センサ素子で出力された出力値に係数を乗じた値を、前記第1センサ素子で出力された出力値から減じた値であるのが好ましい。
これにより、温度が変動してもその温度変動に対する補償を行なって、正確な力検出を簡単な演算で行なうことができる。
(適用例6)
本発明に係わる力検出装置では、前記第1基部は、ベースプレートであり、前記第2基部は、カバープレートであり、
前記第2センサ素子は、前記カバープレートに接し、前記ベースプレートから離間しているのが好ましい。
これにより、第2センサ素子に外力が伝達されるのが防止される。
(適用例7)
本発明に係わる力検出装置では、前記第1センサ素子と前記第2センサ素子とは、Xカット水晶板で構成された第3基板を有するのが好ましい。
これにより、水晶板を用いるという簡単な構成で、3次元での外力を確実に検出することができる。
(適用例8)
本発明に係わる力検出装置は、第1基部と、
第2基部と、
前記第1基部と前記第2基部とによって挟持方向に挟持されたセンサー素子と、
記第1基部および前記第2基部のうちの一方の基部に接して且つ他方の基部から離間して設置された補償用素子と、
を備える力検出装置であって、
前記センサー素子は、圧電体層を有し、外力の変動に伴う圧電効果により第1の出力を出力し、
前記補償用素子は、第2の圧電体層を有し、温度の変動に伴う圧電効果により第2の出力を出力し、
前記第1の出力と前記第2の出力とに基づいて前記第1基部と前記第2基部とに加わる外力を検出することを特徴とする。
これにより、センサー素子から出力される信号に基づいて外力を検出するにあたり、温度が変動しても、センサー素子から出力される信号を補償用素子から出力される信号に基づいて補正をして、温度変動に対する補償を行なうことができる。よって、センサ素子から出力される信号に含まれる熱膨張により生じたノイズ成分を除去または減少させることができ、すなわち、検出する外力以外の第1の素子に加わる力により生じるノイズ成分を除去または減少させることができ、正確な力検出を行なうことができる。
(適用例10)
本発明に係わる力検出装置では、前記センサー素子は、前記補償用素子を囲むように複数配置されているのが好ましい。
これにより、センサ素子で検出された検出値に対して補正を行なう際に、当該補正による誤差を抑えることができる。
(適用例10)
本発明に係わる力検出装置では、前記一方の基部は、前記センサー素子が挟持されている外周領域より、中心側に凹部を有し、
前記補償用素子は、前記凹部の底面に接触して配置されているのが好ましい。
これにより、力検出装置の薄型化に寄与する。
(適用例11)
本発明に係わる力検出装置では、前記センサー素子は、4つ以上設置されているのが好ましい。
これにより、外力を安定して検出することができる。
(適用例12)
本発明に係わるロボットは、アームと、
前記アームに設けられたエンドエフェクターと、
前記アームと前記エンドエフェクターの間に設けられ、前記エンドエフェクターに加えられる外力を検出する力検出装置とを備え、
前記力検出装置は、第1基部と、第2基部と、前記第1基部と前記第2基部とによって挟持される第1センサ素子と、前記第1基部および前記第2基部のうちの一方の基部に接して且つ他方の基部から離間した第2センサ素子と、を備え、前記第1基部と前記第2基部とに加わる外力を検出する力検出装置であって、
前記第1センサ素子と前記第2センサ素子とは、複数の水晶板が互いに同じ構成と積層方向に積層され、
前記第1センサ素子は、前記積層方向に対する前記第1基部および前記第2基部のうちの一方の基部との角度を前記第2センサ素子と同じ角度で接することを特徴とする。
これにより、第1センサ素子から出力される信号に基づいて外力を検出するにあたり、温度が変動しても、第1センサ素子から出力される信号を第2センサ素子から出力される信号に基づいて補正をして、温度変動に対する補償を行なうことができる。よって、第1センサ素子から出力される信号に含まれる熱膨張により生じたノイズ成分を除去または減少させることができ、すなわち、検出する外力以外の第1の素子に加わる力により生じるノイズ成分を除去または減少させることができ、正確な力検出を行なうことができる。
(適用例13)
本発明に係わる電子部品搬送装置は、電子部品を把持する把持部と、
前記把持部に加えられる外力を検出する力検出装置とを備え、
前記力検出装置は、第1基部と、第2基部と、前記第1基部と前記第2基部とによって挟持される第1センサ素子と、前記第1基部および前記第2基部のうちの一方の基部に接して且つ他方の基部から離間した第2センサ素子と、を備え、前記第1基部と前記第2基部とに加わる外力を検出する力検出装置であって、
前記第1センサ素子と前記第2センサ素子とは、複数の水晶板が互いに同じ構成と積層方向に積層され、
前記第1センサ素子は、前記積層方向に対する前記第1基部および前記第2基部のうちの一方の基部との角度を前記第2センサ素子と同じ角度で接することを特徴とする。
これにより、第1センサ素子から出力される信号に基づいて外力を検出するにあたり、温度が変動しても、第1センサ素子から出力される信号を第2センサ素子から出力される信号に基づいて補正をして、温度変動に対する補償を行なうことができる。よって、第1センサ素子から出力される信号に含まれる熱膨張により生じたノイズ成分を除去または減少させることができ、すなわち、検出する外力以外の第1の素子に加わる力により生じるノイズ成分を除去または減少させることができ、正確な力検出を行なうことができる。
(適用例14)
本発明に係わる電子部品検査装置は、電子部品を把持する把持部と、
前記電子部品を検査する検査部と、
前記把持部に加えられる外力を検出する力検出装置とを備え、
前記力検出装置は、第1基部と、第2基部と、前記第1基部と前記第2基部とによって挟持される第1センサ素子と、前記第1基部および前記第2基部のうちの一方の基部に接して且つ他方の基部から離間した第2センサ素子と、を備え、前記第1基部と前記第2基部とに加わる外力を検出する力検出装置であって、
前記第1センサ素子と前記第2センサ素子とは、複数の水晶板が互いに同じ構成と積層方向に積層され、
前記第1センサ素子は、前記積層方向に対する前記第1基部および前記第2基部のうちの一方の基部との角度を前記第2センサ素子と同じ角度で接することを特徴とする。
これにより、第1センサ素子から出力される信号に基づいて外力を検出するにあたり、温度が変動しても、第1センサ素子から出力される信号を第2センサ素子から出力される信号に基づいて補正をして、温度変動に対する補償を行なうことができる。よって、第1センサ素子から出力される信号に含まれる熱膨張により生じたノイズ成分を除去または減少させることができ、すなわち、検出する外力以外の第1の素子に加わる力により生じるノイズ成分を除去または減少させることができ、正確な力検出を行なうことができる。
(適用例15)
本発明に係わる部品加工装置は、工具を装着し、前記工具を変位させる工具変位部と、
前記工具に加えられる外力を検出する力検出装置とを備え、
前記力検出装置は、第1基部と、第2基部と、前記第1基部と前記第2基部とによって挟持される第1センサ素子と、前記第1基部および前記第2基部のうちの一方の基部に接して且つ他方の基部から離間した第2センサ素子と、を備え、前記第1基部と前記第2基部とに加わる外力を検出する力検出装置であって、
前記第1センサ素子と前記第2センサ素子とは、複数の水晶板が互いに同じ構成と積層方向に積層され、
前記第1センサ素子は、前記積層方向に対する前記第1基部および前記第2基部のうちの一方の基部との角度を前記第2センサ素子と同じ角度で接することを特徴とする。
これにより、第1センサ素子から出力される信号に基づいて外力を検出するにあたり、温度が変動しても、第1センサ素子から出力される信号を第2センサ素子から出力される信号に基づいて補正をして、温度変動に対する補償を行なうことができる。よって、第1センサ素子から出力される信号に含まれる熱膨張により生じたノイズ成分を除去または減少させることができ、すなわち、検出する外力以外の第1の素子に加わる力により生じるノイズ成分を除去または減少させることができ、正確な力検出を行なうことができる。
(適用例16)
本発明に係わる温度補償方法は、本発明に係わる力検出装置を用いて前記外力を検出し、前記外力は、温度変化による影響を受けていないか、または、無視することができることを補償することを特徴とする。
これにより、第1センサ素子から出力される信号に基づいて外力を検出するにあたり、温度が変動しても、第1センサ素子から出力される信号を第2センサ素子から出力される信号に基づいて補正をして、温度変動に対する補償を行なうことができる。よって、第1センサ素子から出力される信号に含まれる熱膨張により生じたノイズ成分を除去または減少させることができ、すなわち、検出する外力以外の第1の素子に加わる力により生じるノイズ成分を除去または減少させることができ、正確な力検出を行なうことができる。
本発明に係る力検出装置の実施形態を示す断面図である。 図1に示す力検出装置の平面図である。 図1に示す力検出装置の電荷出力素子を概略的に示す断面図である。 図1に示す力検出装置を概略的に示す回路図である。 図1に示す力検出装置に対する外力は0のまま、300秒間で温度を30℃から36℃まで上昇させたときの、当該力検出装置で出力される出力値の経時的変化を示すグラフである。 従来の力検出装置に対する外力は0のまま、300秒間で温度を30℃から36℃まで上昇させたときの、当該力検出装置で出力される出力値の経時的変化を示すグラフである。 本発明に係る力検出装置を用いた単腕ロボットの1例を示す図である。 本発明に係る力検出装置を用いた複腕ロボットの1例を示す図である。 本発明に係る力検出装置を用いた電子部品検査装置および部品搬送装置の1例を示す図である。 本発明に係る力検出装置を用いた電子部品搬送装置の1例を示す図である。 本発明に係る力検出装置を用いた部品加工装置の1例を示す図である。 本発明に係る力検出装置を用いた移動体の1例を示す図である。
以下、本発明の力検出装置、ロボット、電子部品搬送装置、電子部品検査装置、部品加工装置および温度補償方法を添付図面に示す好適な実施形態に基づいて詳細に説明する。
<力検出装置の実施形態>
図1は、本発明に係る力検出装置の実施形態を示す断面図である。図2は、図1に示す力検出装置の平面図である。図3は、図1に示す力検出装置の電荷出力素子を概略的に示す断面図である。図4は、図1に示す力検出装置を概略的に示す回路図である。
なお、以下では、説明の都合上、図1、図3中の上側を「上」または「上方」、下側を「下」または「下方」と言う。
図1、図2に示す力検出装置1は、外力(モーメントを含む)を検出する機能、すなわち、互いに直交する3軸(α(A)軸、β(B)軸、γ(C)軸)に沿って加えられた外力を検出する機能を有する。
力検出装置1は、ベースプレートとして機能する第1基部2と、第1基部2から所定の間隔を隔てて配置され、第1基部2に対向するカバープレートして機能する第2基部3と、第1基部2と第2基部3との間に設けられた5枚のアナログ回路基板4と、第1基部2と第2基部3との間に設けられ、各アナログ回路基板4と電気的に接続された1枚のデジタル回路基板5と、各アナログ回路基板4に搭載され、加えられた外力に応じて信号を出力するセンサ素子としての電荷出力素子10および電荷出力素子10を収納するパッケージ60を有する5つのセンサーデバイス6と、固定部材としての8本の与圧ボルト(与圧ネジ)71とを備えている。
本実施形態では、5つのセンサーデバイス6のうち、図2中の右側に位置するセンサーデバイス6を「第1センサーデバイス6A」と言い、以降時計回りに順に「第1センサーデバイス6B」、「第1センサーデバイス6C」、「第1センサーデバイス6D」と言う。そして、残りの1つのセンサーデバイス6を「第2センサーデバイス6E」と言う。第1センサーデバイス6A〜6Dは、外力を検出するために用いられる力検出用素子である。第2センサーデバイス6Eは、第1センサーデバイス6A〜6Dで外力を検出する際に、第1センサーデバイス6A〜6Dに対する温度変化による影響を実質的に無視することができるように補正のために用いられる温度補償用素子である。
第1基部2は、外形が板状をなし、その平面形状は、円形である。この第1基部2には、上面21から突出した4つの凸部22が形成されている。これらの凸部22は、第1基部2の上面21の中心から所定距離離間し、当該中心回りに等角度間隔に配置されている。また、各凸部22の頂面221は、それぞれ、上面21と平行な平面となっている。
第2基部3も、外形が板状をなし、その平面形状は、第1基部2の平面形状と同じであるのが好ましい。
本実施形態では、第2基部3の上面は、力検出装置1が例えばロボットに取り付けられて使用されるときに、当該ロボットに対する取付面32となる。なお、この取付面32と第1基部2の下面とは、外力が付与していない自然状態では平行となっている。
この第2基部3の下面31には、凹部311が形成されている。凹部311は、平面視で円形をなし、下面31の中心と同心的に形成されている。
そして、第1基部2の4つの凸部22のうちの1つの凸部22の頂面221と第2基部3の下面31との間で、第1センサーデバイス6Aが挟持されている。すなわち、第1センサーデバイス6Aの電荷出力素子10(第1センサ素子)は、パッケージ60を介して、1つの凸部22の頂面221と第2基部3の下面31との間で挟持され、与圧されている。以下、この挟持されている方向を「挟持方向SD」と言う。
第1センサーデバイス6Aと同様に、前記と異なる1つの凸部22の頂面221と第2基部3の下面31との間で、第1センサーデバイス6Bが挟持されている。すなわち、第1センサーデバイス6Bの電荷出力素子10(第1センサ素子)も、パッケージ60を介して、1つの凸部22の頂面221と第2基部3の下面31との間で挟持方向SDに挟持され、与圧されている。
また、前記と異なる1つの凸部22の頂面221と第2基部3の下面31との間で、第1センサーデバイス6Cが挟持されている。すなわち、第1センサーデバイス6Cの電荷出力素子10(第1センサ素子)も、パッケージ60を介して、1つの凸部22の頂面221と第2基部3の下面31との間で挟持方向SDに挟持され、与圧されている。
さらに、前記と異なる1つの凸部22の頂面221と第2基部3の下面31との間で、第1センサーデバイス6Dが挟持されている。すなわち、第1センサーデバイス6Dの電荷出力素子10(第1センサ素子)も、パッケージ60を介して、1つの凸部22の頂面221と第2基部3の下面31との間で挟持方向SDに挟持され、与圧されている。
このように力検出装置1では、4つの第1センサーデバイス6A〜6Dが、第1基部2の平面視で当該第1基部2の中心からできる限り離間した位置に配置されている。これにより、第1基部2と第2基部3とに加わる外力を安定して検出することができる。
なお、第1基部2と第2基部3とのいずれを力が加わる側の基板としてもよいが、本実施形態では、第2基部3を力が加わる側の基板として説明する。
図1、図2に示すように、第2基部3には、第1センサーデバイス6A〜6Dが挟持されている外周領域より中心側に、前述した凹部311が設けられている。この凹部311の底面に接触して第2センサーデバイス6Eが配置されている。この第2センサーデバイス6Eは、第2基部3に接し、第1基部2から離間している。これにより、第1センサーデバイス6A〜6Dと異なり、第2センサーデバイス6Eの電荷出力素子10(第2センサ素子)に外力が伝達されるのが防止され、よって、温度補償用素子としての機能を正確に発揮することができる。
また、凹部311では、第2基部3の厚さが薄くなっている分、第2センサーデバイス6Eは、温度変化の影響を受け易くなる、すなわち、加温(加熱)や冷却がされ易くなる。これにより、第2センサーデバイス6Eの温度変化に対する応答性が向上する。
そして、図2に示すように、第1センサーデバイス6A〜6Dは、平面視で第2センサーデバイス6Eを囲むように配置された状態となる。これにより、第1センサーデバイス6A〜6Dで検出された検出値に対して補正を行なう際に、当該補正による誤差を抑えることができる。
図4に示すように、第1センサーデバイス6Aに接続されたアナログ回路基板4は、第1センサーデバイス6Aの電荷出力素子10から出力された電荷Qy1を電圧Vy1に変換する変換出力回路90aと、電荷出力素子10から出力された電荷Qz1を電圧Vz1に変換する変換出力回路90bと、電荷出力素子10から出力された電荷Qx1を電圧Vx1に変換する変換出力回路90cとを備えている。
第1センサーデバイス6Bに接続されたアナログ回路基板4は、第1センサーデバイス6Bの電荷出力素子10から出力された電荷Qy2を電圧Vy2に変換する変換出力回路90aと、電荷出力素子10から出力された電荷Qz2を電圧Vz2に変換する変換出力回路90bと、電荷出力素子10から出力された電荷Qx2を電圧Vx2に変換する変換出力回路90cとを備えている。
第1センサーデバイス6Cに接続されたアナログ回路基板4は、第1センサーデバイス6Cの電荷出力素子10から出力された電荷Qy3を電圧Vy3に変換する変換出力回路90aと、電荷出力素子10から出力された電荷Qz3を電圧Vz3に変換する変換出力回路90bと、電荷出力素子10から出力された電荷Qx3を電圧Vx3に変換する変換出力回路90cとを備えている。
第1センサーデバイス6Dに接続されたアナログ回路基板4は、第1センサーデバイス6Dの電荷出力素子10から出力された電荷Qy4を電圧Vy4に変換する変換出力回路90aと、電荷出力素子10から出力された電荷Qz4を電圧Vz4に変換する変換出力回路90bと、電荷出力素子10から出力された電荷Qx4を電圧Vx4に変換する変換出力回路90cとを備えている。
第2センサーデバイス6Eに接続されたアナログ回路基板4は、第2センサーデバイス6Eの電荷出力素子10から出力された電荷Qy5を電圧Vy5に変換する変換出力回路90aと、電荷出力素子10から出力された電荷Qz5を電圧Vz5に変換する変換出力回路90bと、電荷出力素子10から出力された電荷Qx5を電圧Vx5に変換する変換出力回路90cとを備えている。
第1センサーデバイス6A〜6Dに接続されたアナログ回路基板4は、それぞれ、その下側からスペーサー28を介して第1基部2の上面21に支持されている。第2センサーデバイス6Eに接続されたアナログ回路基板4は、その上側からスペーサー34を介して第2基部3の凹部311に支持されている。
デジタル回路基板5は、加えられた外力を検出する外力検出回路40を備えている。このデジタル回路基板5は、第1センサーデバイス6A〜6Dに接続されたアナログ回路基板4と、第1基部2との間に配置され、第1基部2の上面21に支持されている。
なお、第1基部2、第2基部3、アナログ回路基板4の各素子および各配線以外の部位、デジタル回路基板5の各素子および各配線以外の部位の構成材料としては、それぞれ、特に限定されず、例えば、各種の樹脂材料、各種の金属材料等を用いることができる。
また、第1基部2、第2基部3は、それぞれ、外形が板状をなす部材で構成されているが、これに限定されず、例えば、一方の基部が板状をなす部材で構成され、他方の基部がブロック状をなす部材で構成されていてもよい。
<電荷出力素子>
前述したように、力検出装置1は、互いに直交するα軸、β軸、γ軸に沿って加えられた外力を検出する機能を有する。α軸とβ軸とは、第1基部2および第2基部3の平面内の直交する2方向に沿った軸であり、γ軸は、α軸とβ軸と直交する1方向に沿った軸、すなわち、第1基部2および第2基部3の厚さ方向に沿った軸である。そして、力検出装置1には、この外力を検出する際に用いられる第1センサーデバイス6A〜6Dと、第2センサーデバイス6Eとが内蔵されている。第1センサーデバイス6A〜6D、第2センサーデバイス6Eがそれぞれ有する各電荷出力素子10は、同じ構成であり、その他同じ温度特性を有するため、第1センサーデバイス6Aの電荷出力素子10について代表的に説明する。
図3に示すように、電荷出力素子10は、電荷Qx1〜Qx5のいずれか(代表的に「電荷Qx」と言う)と、電荷Qy1〜Qy5のいずれか(代表的に「電荷Qy」と言う)と、電荷Qz1〜Qz5のいずれか(代表的に「電荷Qz」と言う)とを出力することができる。そして、出力された電荷に基づいて、α軸、β軸、γ軸に沿って加えられた(受けた)外力が検出される。
図3に示すように、電荷出力素子10は、グランド(基準電位点)に接地された4つのグランド電極層11と、外力(せん断力)に応じて電荷Qxを出力する第1のセンサー12と、外力(圧縮/引張力)に応じて電荷Qzを出力する第2のセンサー13と、外力(せん断力)に応じて電荷Qyを出力する第3のセンサー14とを有し、グランド電極層11と各センサー12、13、14は交互に平行に積層されている。以下、この積層された方向を「積層方向LD」と言い、取付面321の法線と同じ方向となっている。
図示の構成では、図3中の下側から、第1のセンサー12、第2のセンサー13、第3のセンサー14の順で積層されているが、本発明はこれに限られない。センサー12、13、14の積層順は任意である。
なお、電荷出力素子10の形状は、特に限定されないが、本実施形態では、積層方向LDから見て、四角形をなしている。なお、電荷出力素子10の他の外形形状としては、例えば、五角形等の他の多角形、円形、楕円形等が挙げられる。
グランド電極層11は、グランド(基準電位点)に接地された電極である。グランド電極層11を構成する材料は、特に限定されないが、例えば、金、チタニウム、アルミニウム、銅、鉄またはこれらを含む合金が好ましい。これらの中でも特に、鉄合金であるステンレスを用いるのが好ましい。ステンレスにより構成されたグランド電極層11は、優れた耐久性および耐食性を有する。
第1のセンサー12は、外力(せん断力)に応じて電荷Qxを出力する機能を有する。すなわち、第1のセンサー12は、外力に応じて正電荷または負電荷を出力するよう構成されている。
第1のセンサー12は、第1の圧電体層(第1基板)121と、第1の圧電体層121と対向して設けられた第2の圧電体層(第1基板)123と、第1の圧電体層121と第2の圧電体層123との間に設けられた出力電極層122を有する。
第1の圧電体層121は、Yカット水晶板で構成され、互いに直交するx軸、y軸、z軸を有する。y軸は、第1の圧電体層121の厚さ方向に沿った軸であり、x軸は、図3中の紙面奥行き方向に沿った軸であり、z軸は、図3中の左右方向に沿った軸である。図3に示す構成では、x軸については、図3中の紙面奥側を正方向とし、その反対側を負方向として説明する。y軸については、図3中の下側を正方向とし、その反対側を負方向として説明する。z軸については、図3中の左側を正方向とし、その反対側を負方向として説明する。
水晶により構成された第1の圧電体層121は、広いダイナミックレンジ、高い剛性、高い固有振動数、高い対荷重性等の優れた特性を有する。また、Yカット水晶板は、その面方向に沿った外力(せん断力)に対して電荷を生ずる。
そして、第1の圧電体層121の表面に対し、x軸の正方向に沿った外(せん断力)力が加えられた場合、圧電効果により、第1の圧電体層121内に電荷が誘起される。その結果、第1の圧電体層121の出力電極層122側表面近傍には正電荷が集まり、第1の圧電体層121のグランド電極層11側表面近傍には負電荷が集まる。同様に、第1の圧電体層121の表面に対し、x軸の負方向に沿った外力が加えられた場合、第1の圧電体層121の出力電極層122側表面近傍には負電荷が集まり、第1の圧電体層121のグランド電極層11側表面近傍には正電荷が集まる。
第2の圧電体層123も、Yカット水晶板で構成され、互いに直交するx軸、y軸、z軸を有する。y軸は、第2の圧電体層123の厚さ方向に沿った軸であり、x軸は、図3中の紙面奥行き方向に沿った軸であり、z軸は、図3中の左右方向に沿った軸である。図3に示す構成では、x軸については、図3中の紙面手前側を正方向とし、その反対側を負方向として説明する。y軸については、図3中の上側を正方向とし、その反対側を負方向とする。z軸については、図3中の左側を正方向とし、その反対側を負方向とする。
水晶により構成された第2の圧電体層123も第1の圧電体層121と同様に、広いダイナミックレンジ、高い剛性、高い固有振動数、高い対荷重性等の優れた特性を有し、Yカット水晶板であることにより、その面方向に沿った外力(せん断力)に対して電荷を生ずる。
そして、第2の圧電体層123の表面に対し、x軸の正方向に沿った外(せん断力)力が加えられた場合、圧電効果により、第2の圧電体層123内に電荷が誘起される。その結果、第2の圧電体層123の出力電極層122側表面近傍には正電荷が集まり、第2の圧電体層123のグランド電極層11側表面近傍には負電荷が集まる。同様に、第2の圧電体層123の表面に対し、x軸の負方向に沿った外力が加えられた場合、第2の圧電体層123の出力電極層122側表面近傍には負電荷が集まり、第2の圧電体層123のグランド電極層11側表面近傍には正電荷が集まる。
また、第1のセンサー12が第1の圧電体層121と第2の圧電体層123とを有する構成となっていることは、第1の圧電体層121および第2の圧電体層123のうちの一方のみと出力電極層122とで構成されている場合と比較して、出力電極層122近傍に集まる正電荷または負電荷を増加させることができる。その結果、出力電極層122から出力される電荷Qxを増加させることができる。
出力電極層122は、第1の圧電体層121内および第2の圧電体層123内に生じた正電荷または負電荷を電荷Qxとして出力する機能を有する。前述のように、第1の圧電体層121の表面または第2の圧電体層123の表面にx軸の正方向に沿った外力が加えられた場合、出力電極層122近傍には、正電荷が集まる。その結果、出力電極層122からは、正の電荷Qxが出力される。一方、第1の圧電体層121の表面または第2の圧電体層123の表面にx軸の負方向に沿った外力が加えられた場合、出力電極層122近傍には、負電荷が集まる。その結果、出力電極層122からは、負の電荷Qxが出力される。
また、出力電極層122の大きさは、第1の圧電体層121および第2の圧電体層123の大きさ以上であることが好ましい。出力電極層122が、第1の圧電体層121または第2の圧電体層123よりも小さい場合、第1の圧電体層121または第2の圧電体層123の一部は出力電極層122と接しない。そのため、第1の圧電体層121または第2の圧電体層123に生じた電荷の一部を出力電極層122から出力できない場合がある。その結果、出力電極層122から出力される電荷Qxが減少してしまう。なお、後述する出力電極層132、142についても同様である。
第2のセンサー13は、外力(圧縮/引張力)に応じて電荷Qzを出力する機能を有する。すなわち、第2のセンサー13は、圧縮力に応じて正電荷を出力し、引張力に応じて負電荷を出力するよう構成されている。
第2のセンサー13は、第3の圧電体層(第3基板)131と、第3の圧電体層131と対向して設けられた第4の圧電体層(第3基板)133と、第3の圧電体層131と第4の圧電体層133との間に設けられた出力電極層132を有する。
第3の圧電体層131は、Xカット水晶板で構成され、互いに直交するx軸、y軸、z軸を有する。x軸は、第3の圧電体層131の厚さ方向に沿った軸であり、y軸は、図3中の左右方向に沿った軸であり、z軸は、図3中の紙面奥行き方向に沿った軸である。図3に示す構成では、x軸については、図3中の下側を正方向とし、その反対側を負方向として説明する。y軸については、図3中の左側を正方向とし、その反対側を負方向として説明する。z軸については、図3中の紙面奥側を正方向とし、その反対側を負方向として説明する。
そして、第3の圧電体層131の表面に対し、x軸に平行な圧縮力が加えられた場合、圧電効果により、第3の圧電体層131内に電荷が誘起される。その結果、第3の圧電体層131の出力電極層132側表面近傍には正電荷が集まり、第3の圧電体層131のグランド電極層11側表面近傍には負電荷が集まる。同様に、第3の圧電体層131の表面に対し、x軸に平行な引張力が加えられた場合、第3の圧電体層131の出力電極層132側表面近傍には負電荷が集まり、第3の圧電体層131のグランド電極層11側表面近傍には正電荷が集まる。
第4の圧電体層133も、Xカット水晶板で構成され、互いに直交するx軸、y軸、z軸を有する。x軸は、第4の圧電体層133の厚さ方向に沿った軸であり、y軸は、図3中の左右方向に沿った軸であり、z軸は、図3中の紙面奥行き方向に沿った軸である。図3に示す構成では、x軸については、図3中の上側を正方向とし、その反対側を負方向として説明する。y軸については、図3中の右側を正方向とし、その反対側を負方向として説明する。z軸については、図3中の紙面奥側を正方向とし、その反対側を負方向として説明する。
そして、第4の圧電体層133の表面に対し、x軸に平行な圧縮力が加えられた場合、圧電効果により、第4の圧電体層133内に電荷が誘起される。その結果、第4の圧電体層133の出力電極層132側表面近傍には正電荷が集まり、第4の圧電体層133のグランド電極層11側表面近傍には負電荷が集まる。同様に、第4の圧電体層133の表面に対し、x軸に平行な引張力が加えられた場合、第4の圧電体層133の出力電極層132側表面近傍には負電荷が集まり、第4の圧電体層133のグランド電極層11側表面近傍には正電荷が集まる。
出力電極層132は、第3の圧電体層131内および第4の圧電体層133内に生じた正電荷または負電荷を電荷Qzとして出力する機能を有する。前述のように、第3の圧電体層131の表面または第4の圧電体層133の表面にx軸に平行な圧縮力が加えられた場合、出力電極層132近傍には、正電荷が集まる。その結果、出力電極層132からは、正の電荷Qzが出力される。一方、第3の圧電体層131の表面または第4の圧電体層133の表面にx軸に平行な引張力が加えられた場合、出力電極層132近傍には、負電荷が集まる。その結果、出力電極層132からは、負の電荷Qzが出力される。
第3のセンサー14は、外力(せん断力)に応じて電荷Qxを出力する機能を有する。すなわち、第3のセンサー14は、外力に応じて正電荷または負電荷を出力するよう構成されている。
第3のセンサー14は、第5の圧電体層(第2基板)141と、第5の圧電体層141と対向して設けられた第6の圧電体層(第2基板)143と、第5の圧電体層141と第6の圧電体層143との間に設けられた出力電極層142を有する。
第5の圧電体層141は、Yカット水晶板で構成され、互いに直交するx軸、y軸、z軸を有する。y軸は、第5の圧電体層141の厚さ方向に沿った軸であり、x軸は、図3中の左右方向に沿った軸であり、z軸は、図3中の紙面奥行き方向に沿った軸である。図3に示す構成では、x軸については、図3中の左側を正方向とし、その反対側を負方向として説明する。y軸については、図3中の下側を正方向とし、その反対側を負方向として説明する。z軸については、図3中の紙面手前側を正方向とし、その反対側を負方向として説明する。
水晶により構成された第5の圧電体層141は、広いダイナミックレンジ、高い剛性、高い固有振動数、高い対荷重性等の優れた特性を有する。また、Yカット水晶板は、その面方向に沿った外力(せん断力)に対して電荷を生ずる。
そして、第5の圧電体層141の表面に対し、x軸の正方向に沿った外力が加えられた場合、圧電効果により、第5の圧電体層141内に電荷が誘起される。その結果、第5の圧電体層141の出力電極層142側表面近傍には正電荷が集まり、第5の圧電体層141のグランド電極層11側表面近傍には負電荷が集まる。同様に、第5の圧電体層141の表面に対し、α軸の負方向に沿った外力が加えられた場合、第5の圧電体層141の出力電極層142側表面近傍には負電荷が集まり、第5の圧電体層141のグランド電極層11側表面近傍には正電荷が集まる。
第6の圧電体層143も、Yカット水晶板で構成され、互いに直交するx軸、y軸、z軸を有する。y軸は、第2の圧電体層123の厚さ方向に沿った軸であり、x軸は、図3中の左右方向に沿った軸であり、z軸は、図3中の紙面奥行き方向に沿った軸である。図3に示す構成では、x軸については、図3中の右側を正方向とし、その反対側を負方向として説明する。y軸については、図3中の上側を正方向とし、その反対側を負方向として説明する。z軸については、図3中の紙面手前側を正方向とし、その反対側を負方向として説明する。
水晶により構成された第6の圧電体層143も第5の圧電体層141と同様に、広いダイナミックレンジ、高い剛性、高い固有振動数、高い対荷重性等の優れた特性を有し、Yカット水晶板であることにより、その面方向に沿った外力(せん断力)に対して電荷を生ずる。
そして、第6の圧電体層143の表面に対し、x軸の正方向に沿った外力が加えられた場合、圧電効果により、第6の圧電体層143内に電荷が誘起される。その結果、第6の圧電体層143の出力電極層142側表面近傍には正電荷が集まり、第6の圧電体層143のグランド電極層11側表面近傍には負電荷が集まる。同様に、第6の圧電体層143の表面に対し、α軸の負方向に沿った外力が加えられた場合、第6の圧電体層143の出力電極層142側表面近傍には負電荷が集まり、第6の圧電体層143のグランド電極層11側表面近傍には正電荷が集まる。
電荷出力素子10では、積層方向LDから見たとき、第1の圧電体層121および第2の圧電体層123の各x軸と、第5の圧電体層141および第6の圧電体層143の各x軸とが交差している。また、積層方向LDから見たとき、第1の圧電体層121および第2の圧電体層123の各z軸と、第5の圧電体層141および第6の圧電体層143の各z軸とが交差している。
出力電極層142は、第5の圧電体層141内および第6の圧電体層143内に生じた正電荷または負電荷を電荷Qyとして出力する機能を有する。前述のように、第5の圧電体層141の表面または第6の圧電体層143の表面にx軸の正方向に沿った外力が加えられた場合、出力電極層142近傍には、正電荷が集まる。その結果、出力電極層142からは、正の電荷Qyが出力される。一方、第5の圧電体層141の表面または第6の圧電体層143の表面にx軸の負方向に沿った外力が加えられた場合、出力電極層142近傍には、負電荷が集まる。その結果、出力電極層142からは、負の電荷Qyが出力される。
このように、電荷出力素子10では、第1のセンサー12、第2のセンサー13、および第3のセンサー14は、各センサーの力検出方向が互いに直交するように積層されている。これにより、各センサーは、それぞれ、互いに直交する力成分に応じて電荷を誘起することができる。そのため、電荷出力素子10は、x軸、y軸およびz軸に沿った各外力のそれぞれに応じて3つの電荷Qx、Qy、Qzを出力することができる。
また、図1、図2に示すように、第1基部2と第2基部3とは、与圧ボルト71により、接続、固定されている。なお、与圧ボルト71による「固定」は、2つの固定対象物の互いの所定量の移動を許容しつつ行われる。具体的には、第1基部2と第2基部3とは、与圧ボルト71により、互いの所定量の第2基部3の面方向の移動が許容されつつ固定される。なお、これは、他の実施形態においても同様である。
また、与圧ボルト71は、8本あり、そのうちの2本が第1センサーデバイス6Aを介してその両側に配置され、当該第1センサーデバイス6Aに対して与圧を付与している。これと同様に、第1センサーデバイス6B〜6Dに対して、2本の与圧ボルト71が与圧を付与している。
各与圧ボルト71と螺合する雌ネジは、第1基部2に設けられている。そして、第1基部2と第2基部3との間に第1センサーデバイス6B〜6Dを挟持した状態で、与圧ボルト71を第2基部3側から第1基部2の雌ネジに螺合させることができる。これにより、第1センサーデバイス6B〜6Dの各電荷出力素子10は、当該電荷出力素子10を収納するパッケージ60ごと、挟持方向SDに所定の大きさの圧力、すなわち、与圧が加えられる。そして、電荷出力素子10に剪断力が作用したとき、電荷出力素子10を構成する層同士の間での摩擦力が確実に生じ、よって、電荷を確実に検出することができる。
なお、与圧ボルト71の構成材料としては、特に限定されず、例えば、各種の樹脂材料、各種の金属材料等を用いることができる。
<センサーデバイス>
各センサーデバイス6(第1センサーデバイス6B〜6D、第2センサーデバイス6E)は、前記電荷出力素子10と、電荷出力素子10を収納するパッケージ60とを有している。
図1に示すように、パッケージ60は、凹部611を有する基部(第1の部材)61と、その基部61に接合された蓋体(第2の部材)62とを有している。電荷出力素子10は、基部61の凹部611に設置されており、その基部61の凹部611は、蓋体62により封止されている。これにより、電荷出力素子10を保護することができ、信頼性の高い力検出装置1を提供することができる。なお、電荷出力素子10の頂面は、蓋体62に接触している。また、パッケージ60の蓋体62は、第2基部3側に配置され、基部61は、第1基部2側に配置され、その基部61がアナログ回路基板4に固定されている。この構成により、基部61と蓋体62とが、第1基部2と第2基部3とで挟持方向SDに挟持されて与圧され、さらに、その基部61と蓋体62とにより、電荷出力素子10も挟持方向SDに挟持されて与圧される。
また、基部61の構成材料としては、特に限定されず、例えば、セラミックス等の絶縁性材料等を用いることができる。また、蓋体62の構成材料としては、特に限定されず、例えば、ステンレス鋼等の各種の金属材料等を用いることができる。なお、基部61の構成材料と蓋体62の構成材料は、同一でもよく、また、異なっていてもよい。
また、パッケージ60の平面形状は、特に限定されないが、本実施形態では、四角形をなしている。なお、パッケージ60の他の形状としては、例えば、五角形等の他の多角形、円形、楕円形等が挙げられる。また、パッケージ60の形状が多角形の場合、例えば、その角部が、丸みを帯びていてもよく、また、斜めに切り欠かれていてもよい。
また、蓋体62は、本実施形態では、板状をなし、その中央部625と外周部626との間の部位が屈曲することで、中央部625が第2基部3に向って突出している。中央部625の形状は、特に限定されないが、本実施形態では、電荷出力素子10と同じ形状、すなわち、四角形をなしている。なお、蓋体62の中央部625の上面および下面は、いずれも平面である。
また、パッケージ60の基部61の下面の端部には、電荷出力素子10と電気的に接続された複数の端子(図示せず)が設けられている。当該各端子は、それぞれ、アナログ回路基板4と電気的に接続されており、これにより、電荷出力素子10とアナログ回路基板4とが電気的に接続される。
このように、各センサーデバイス6は、同じ構造をなすものであるため、1つのセンサーデバイス6を第1センサーデバイス6B〜6D、第2センサーデバイス6Eとして用いたい部分のいずれにも設置することができる。第1センサーデバイス6B〜6D、第2センサーデバイス6E間でセンサーデバイス6の置換が可能である。
なお、また、アナログ回路基板4の電荷出力素子10が配置されている部位には、凸部22が挿入される孔41が形成されている。この孔41は、アナログ回路基板4を貫通する貫通孔である。
<変換出力回路>
図4に示すように、各電荷出力素子10には、変換出力回路90a、90b、90cが接続されている。変換出力回路90aは、電荷出力素子10から出力された電荷Qyを電圧Vyに変換する機能を有する。変換出力回路90bは、電荷出力素子10から出力された電荷Qzを電圧Vzに変換する機能を有する。変換出力回路90cは、電荷出力素子10から出力された電荷Qxを電圧Vxに変換する機能を有する。変換出力回路90a、90b、90cは、同様であるので、以下では、代表的に、変換出力回路90cについて説明する。
変換出力回路90cは、電荷出力素子10から出力された電荷Qxを電圧Vxに変換して電圧Vxを出力する機能を有する。変換出力回路90cは、オペアンプ91と、コンデンサー92と、スイッチング素子93とを有する。オペアンプ91の第1の入力端子(マイナス入力)は、電荷出力素子10の出力電極層122に接続され、オペアンプ91の第2の入力端子(プラス入力)は、グランド(基準電位点)に接地されている。また、オペアンプ91の出力端子は、外力検出回路40に接続されている。コンデンサー92は、オペアンプ91の第1の入力端子と出力端子との間に接続されている。スイッチング素子93は、オペアンプ91の第1の入力端子と出力端子との間に接続され、コンデンサー92と並列接続されている。また、スイッチング素子93は、駆動回路(図示せず)に接続されており、駆動回路からのオン/オフ信号に従い、スイッチング素子93はスイッチング動作を実行する。
スイッチング素子93がオフの場合、電荷出力素子10から出力された電荷Qxは、静電容量C1を有するコンデンサー92に蓄えられ、電圧Vxとして外力検出回路40に出力される。次に、スイッチング素子93がオンになった場合、コンデンサー92の両端子間が短絡される。その結果、コンデンサー92に蓄えられた電荷Qxは、放電されて0クーロンとなり、外力検出回路40に出力される電圧Vは、0ボルトとなる。スイッチング素子93がオンとなることを、変換出力回路90cをリセットするという。なお、理想的な変換出力回路90cから出力される電圧Vxは、電荷出力素子10から出力される電荷Qxの蓄積量に比例する。
スイッチング素子93は、例えば、MOSFET(Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor)等の半導体スイッチング素子である。半導体スイッチング素子は、機械式スイッチと比べて小型および軽量であるので、力検出装置1の小型化および軽量化に有利である。以下、代表例として、スイッチング素子93としてMOSFETを用いた場合を説明する。
スイッチング素子93は、ドレイン電極、ソース電極、およびゲート電極を有している。スイッチング素子93のドレイン電極またはソース電極の一方がオペアンプ91の第1の入力端子に接続され、ドレイン電極またはソース電極の他方がオペアンプ91の出力端子に接続されている。また、スイッチング素子93のゲート電極は、駆動回路(図示せず)に接続されている。
各変換出力回路90a、90b、90cのスイッチング素子93には、同一の駆動回路が接続されていてもよいし、それぞれ異なる駆動回路が接続されていてもよい。各スイッチング素子93には、駆動回路から、全て同期したオン/オフ信号が入力される。これにより、各変換出力回路90a、90b、90cのスイッチング素子93の動作が同期する。すなわち、各変換出力回路90a、90b、90cのスイッチング素子93のオン/オフタイミングは一致する。
<外力検出回路>
外力検出回路40は、各変換出力回路90aから出力される電圧Vy1、Vy2、Vy3、Vy4と、各変換出力回路90bから出力される電圧Vz1、Vz2、Vz3、Vz4と、各変換出力回路90cから出力される電圧Vx1、Vx2、Vx3、Vx4とに基づき、加えられた外力を検出する機能を有する。また、外力検出回路40は、電圧Vy5と、電圧Vz5と、電圧Vx5とに基づき、補正値を算出する機能も有する。
この外力検出回路40は、変換出力回路90a、90b、90cに接続されたADコンバーター401と、ADコンバーター401に接続された演算部402とを有する。
ADコンバーター401は、電圧Vx1、Vy1、Vz1、Vx2、Vy2、Vz2、Vx3、Vy3、Vz3、Vx4、Vy4、Vz4、Vx5、Vy5、Vz5をアナログ信号からデジタル信号へ変換する機能を有する。ADコンバーター401によってデジタル変換された電圧Vx1、Vy1、Vz1、Vx2、Vy2、Vz2、Vx3、Vy3、Vz3、Vx4、Vy4、Vz4、Vx5、Vy5、Vz5は、演算部402に入力される。
すなわち、第1基部2および第2基部3の相対位置が互いにα軸方向にずれる外力が加えられた場合、ADコンバーター401は、電圧Vx1、Vx2、Vx3、Vx4を出力する。同様に、第1基部2および第2基部3の相対位置が互いにβ軸方向にずれる外力が加えられた場合、ADコンバーター401は、電圧Vy1、Vy2、Vy3、Vy4を出力する。また、第1基部2および第2基部3の相対位置が互いにγ軸方向にずれる外力が加えられた場合、ADコンバーター401は、電圧Vz1、Vz2、Vz3、Vz4を出力する。
また、第1基部2および第2基部3は、互いにα軸回りに回転する相対変位、β軸回りに回転する相対変位、およびγ軸回りに回転する相対変位が可能であり、各回転に伴う外力を電荷出力素子10に伝達することが可能である。
演算部402は、例えば、各変換出力回路90a、90b、90c間の感度の差をなくす補正等の各処理を行う。そして、演算部402は、電荷出力素子10から出力される電荷Qx1、Qy1、Qz1、Qx2、Qy2、Qz2、Qx3、Qy3、Qz3、Qx4、Qy4、Qz4、Qx5、Qy5、Qz5の蓄積量に比例する3つの信号を出力する。
<α軸、β軸およびγ軸方向の力検出(温度補償方法を用いた力検出)>
図1に示すように、力検出用の第1センサーデバイス6A〜6Dの積層方向LDは、挟持方向SDと平行となるように設けられている。
同様に、補正用の第2センサーデバイス6Eの積層方向LDも、挟持方向SDと平行となるように設けられている。この第2センサーデバイス6Eは、第1センサーデバイス6A〜6Dとともに第2基部3に接している。そして、第1センサーデバイス6A〜6Dの積層方向LDに対する第2基部3に接する角度と、第2センサーデバイス6Eの積層方向LDに対する第2基部3に接する角度とは、同じである。
このような配置により、第2センサーデバイス6Eでの温度変化は、第1センサーデバイス6A〜6Dでの温度変化と等しくなる。また、第2センサーデバイス6Eは、第1センサーデバイス6A〜6Dと異なり、第1基部2と非接触であり、外力による引張力、圧縮力、せん断力を受けるのが防止されている。
そして、このような力検出装置1では、演算部402が、α軸方向の並進力成分Fα、β軸方向の並進力成分Fβ、γ軸方向の並進力成分Fγ、α軸周りの回転力成分Mα、β軸周りの回転力成分Mβ、γ軸周りの回転力成分Mγを演算する機能を有する。補正前の各力成分は、以下の式により求めることができる。なお、a、bは定数である。
Fα=Vx1+Vx2+Vx3+Vx4
Fβ=Vy1+Vy2+Vy3+Vy4
Fγ=Vz1+Vz2+Vz3+Vz4
Mα=b×(Vz4−Vz2)
Mβ=a×(Vz3−Vz1)
Mγ=b×(Vx2−Vx4)+a×(Vy1−Vy3)
ここで、力検出装置1を、エンドエフェクターが装着されたアームを有する産業用ロボットに用いた場合の一例を考えてみる。この場合、アームやエンドエフェクターに設けられたモーター等の発熱源からの熱伝達により、第1基部2または第2基部3が加熱されて熱膨張し、変形する。この変形により、第1センサーデバイス6A〜6Dの電荷出力素子10に対する与圧が所定の値から変化してしまう。この電荷出力素子10に対する与圧変化が、力検出装置1の温度変化に起因するノイズ成分として、電荷Qzに著しい影響を及ぼす程度に含まれてしまう。
そこで、補正前の並進力成分Fγに対して補正することで、正確な並進力成分Fγを求める。補正後の並進力成分Fγは、以下の式により求めることができる。なお、kは係数である。
Fγ=(Vz1+Vz2+Vz3+Vz4)−(k×Vz5)
このように力検出装置1では、並進力成分Fγは、第1センサーデバイス6A〜6Dで出力される出力値と、第2センサーデバイス6Eで出力される出力値とに基づいて求められる、すなわち、「第1センサーデバイス6A〜6Dで出力された出力値」から「第2センサーデバイス6Eで出力された出力値に係数を乗じた値」を減じた値として求められる。
なお、本実施形態では、並進力成分Fγに対する補正を代表的に説明したが、力検出装置1は、その他方向の外力についても同様に補正して出力することができる。
以上、力検出装置1を用いて各外力を検出することにより、当該各外力は、温度変化による影響を受けていないか、または、無視することができることが補償された値となる。換言すれば、力検出装置1は、温度が変動してもその温度変動に対する補償を行なって、正確な外力検出を安定して行なうことができる装置である。
この力検出装置1は、温度変動による影響が、例えば従来の力検出装置の1/20以下に低減された装置となっている。次に、図5、図6を参照して、力検出装置1と従来の力検出装置との出力荷重の違い(並進力成分Fγの比較)について説明する。なお、従来の力検出装置は、第1センサーデバイス6A〜6Dを有し、第2センサーデバイス6Eがない、すなわち、補正を行なわない装置である。
図5は、図1に示す力検出装置に対する外力は0のまま、300秒間で温度を30℃から36℃まで上昇させたときの、当該力検出装置で出力される出力値の経時的変化を示すグラフである。この図5に示すように、力検出装置1は、温度変化が生じても、並進力成分Fγは、ほぼ「0gf」のままである。
図6は、従来の力検出装置に対する外力は0のまま、300秒間で温度を30℃から36℃まで上昇させたときの、当該力検出装置で出力される出力値の経時的変化を示すグラフである。この図6に示すように、従来の力検出装置は、温度変化に伴って、当該温度変化に起因するノイズ成分が生じてしまい、結果、並進力成分Fγも比例的に増加していく。
<単腕ロボットの実施形態>
次に、図7に基づき、本発明に係るロボットの実施形態である単腕ロボットを説明する。以下、本実施形態について、前述した実施形態との相違点を中心に説明し、同様の事項については、その説明を省略する。
図7は、本発明に係る力検出装置を用いた単腕ロボットの1例を示す図である。図7の単腕ロボット500は、基台510と、アーム520と、アーム520の先端側に設けられたエンドエフェクター530と、アーム520とエンドエフェクター530との間に設けられた力検出装置1とを有する。なお、力検出装置1としては、前述した各実施形態と同様のものを用いる。
基台510は、アーム520を回動させるための動力を発生させるアクチュエーター(図示せず)およびアクチュエーターを制御する制御部(図示せず)等を収納する機能を有する。また、基台510は、例えば、床、壁、天井、移動可能な台車上などに固定される。
アーム520は、第1のアーム要素521、第2のアーム要素522、第3のアーム要素523、第4のアーム要素524および第5のアーム要素525を有しており、隣り合うアーム同士を回動自在に連結することにより構成されている。アーム520は、制御部の制御によって、各アーム要素の連結部を中心に複合的に回転または屈曲することにより駆動する。
エンドエフェクター530は、対象物を把持する機能を有する。エンドエフェクター530は、第1の指531および第2の指532を有している。アーム520の駆動によりエンドエフェクター530が所定の動作位置まで到達した後、第1の指531および第2の指532の離間距離を調整することにより、対象物を把持することができる。
なお、エンドエフェクター530は、ここでは、ハンドであるが、本発明では、これに限定されるものではない。エンドエフェクターの他の例としては、例えば、部品検査用器具、部品搬送用器具、部品加工用器具、部品組立用器具、測定器等が挙げられる。これは、他の実施形態におけるエンドエフェクターについても同様である。
力検出装置1は、エンドエフェクター530に加えられる外力を検出する機能を有する。力検出装置1が検出する力を基台510の制御部にフィードバックすることにより、単腕ロボット500は、より精密な作業を実行することができる。また、力検出装置1が検出する力によって、単腕ロボット500は、エンドエフェクター530の障害物への接触等を検知することができる。そのため、従来の位置制御では困難だった障害物回避動作、対象物損傷回避動作等を容易に行うことができ、単腕ロボット500は、より安全に作業を実行することができる。
なお、図示の構成では、アーム520は、合計5本のアーム要素によって構成されているが、本発明はこれに限られない。アーム520が、1本のアーム要素に構成されている場合、2〜4本のアーム要素によって構成されている場合、6本以上のアーム要素によって構成されている場合も本発明の範囲内である。
<複腕ロボットの実施形態>
次に、図8に基づき、本発明に係るロボットの実施形態である複腕ロボットを説明する。以下、本実施形態について、前述した実施形態との相違点を中心に説明し、同様の事項については、その説明を省略する。
図8は、本発明に係る力検出装置を用いた複腕ロボットの1例を示す図である。図8の複腕ロボット600は、基台610と、第1のアーム620と、第2のアーム630と、第1のアーム620の先端側に設けられた第1のエンドエフェクター640aと、第2のアーム630の先端側に設けられた第2のエンドエフェクター640bと、第1のアーム620と第1のエンドエフェクター640a間および第2のアーム630と第2のエンドエフェクター640bとの間に設けられた力検出装置1を有する。なお、力検出装置1としては、前述した各実施形態と同様のものを用いる。
基台610は、第1のアーム620および第2のアーム630を回動させるための動力を発生させるアクチュエーター(図示せず)およびアクチュエーターを制御する制御部(図示せず)等を収納する機能を有する。また、基台610は、例えば、床、壁、天井、移動可能な台車上などに固定される。
第1のアーム620は、第1のアーム要素621および第2のアーム要素622を回動自在に連結することにより構成されている。第2のアーム630は、第1のアーム要素631および第2のアーム要素632を回動自在に連結することにより構成されている。第1のアーム620および第2のアーム630は、制御部の制御によって、各アーム要素の連結部を中心に複合的に回転または屈曲することにより駆動する。
第1、第2のエンドエフェクター640a、640bは、対象物を把持する機能を有する。第1のエンドエフェクター640aは、第1の指641aおよび第2の指642aを有している。第2のエンドエフェクター640bは、第1の指641bおよび第2の指642bを有している。第1のアーム620の駆動により第1のエンドエフェクター640aが所定の動作位置まで到達した後、第1の指641aおよび第2の指642aの離間距離を調整することにより、対象物を把持することができる。同様に、第2のアーム630の駆動により第2のエンドエフェクター640bが所定の動作位置まで到達した後、第1の指641bおよび第2の指642bの離間距離を調整することにより、対象物を把持することができる。
力検出装置1は第1、第2のエンドエフェクター640a、640bに加えられる外力を検出する機能を有する。力検出装置1が検出する力を基台610の制御部にフィードバックすることにより、複腕ロボット600は、より精密に作業を実行することができる。また、力検出装置1が検出する力によって、複腕ロボット600は、第1、第2のエンドエフェクター640a、640bの障害物への接触等を検知することができる。そのため、従来の位置制御では困難だった障害物回避動作、対象物損傷回避動作等を容易に行うことができ、複腕ロボット600は、より安全に作業を実行することができる。
なお、図示の構成では、アームは合計2本であるが、本発明はこれに限られない。複腕ロボット600が3本以上のアームを有している場合も、本発明の範囲内である。
<電子部品検査装置および電子部品搬送装置の実施形態>
次に、図9、図10に基づき、本発明の実施形態である電子部品検査装置および電子部品搬送装置を説明する。以下、本実施形態について、前述した実施形態との相違点を中心に説明し、同様の事項については、その説明を省略する。
図9は、本発明に係る力検出装置を用いた電子部品検査装置および部品搬送装置の1例を示す図である。図10は、本発明に係る力検出装置を用いた電子部品搬送装置の1例を示す図である。
図9の電子部品検査装置700は、基台710と、基台710の側面に立設された支持台720とを有する。基台710の上面には、検査対象の電子部品711が載置されて搬送される上流側ステージ712uと、検査済みの電子部品711が載置されて搬送される下流側ステージ712dとが設けられている。また、上流側ステージ712uと下流側ステージ712dとの間には、電子部品711の姿勢を確認するための撮像装置713と、電気的特性を検査するために電子部品711がセットされる検査台714とが設けられている。なお、電子部品711の例として、半導体、半導体ウェハー、CLDやOLED等の表示デバイス、水晶デバイス、各種センサー、インクジェットヘッド、各種MEMSデバイス等などが挙げられる。
また、支持台720には、基台710の上流側ステージ712uおよび下流側ステージ712dと平行な方向(Y方向)に移動可能にYステージ731が設けられており、Yステージ731からは、基台710に向かう方向(X方向)に腕部732が延設されている。また、腕部732の側面には、X方向に移動可能にXステージ733が設けられている。また、Xステージ733には、撮像カメラ734と、上下方向(Z方向)に移動可能なZステージを内蔵した電子部品搬送装置740が設けられている。また、電子部品搬送装置740の先端側には、電子部品711を把持する把持部741が設けられている。また、電子部品搬送装置740の先端と、把持部741との間には、力検出装置1が設けられている。更に、基台710の前面側には、電子部品検査装置700の全体の動作を制御する制御装置750が設けられている。なお、力検出装置1としては、前述した各実施形態と同様のものを用いる。
電子部品検査装置700は、以下のようにして電子部品711の検査を行う。最初に、検査対象の電子部品711は、上流側ステージ712uに載せられて、検査台714の近くまで移動する。次に、Yステージ731およびXステージ733を動かして、上流側ステージ712uに載置された電子部品711の真上の位置まで電子部品搬送装置740を移動させる。このとき、撮像カメラ734を用いて電子部品711の位置を確認することができる。そして、電子部品搬送装置740内に内蔵されたZステージを用いて電子部品搬送装置740を降下させ、把持部741で電子部品711を把持すると、そのまま電子部品搬送装置740を撮像装置713の上に移動させて、撮像装置713を用いて電子部品711の姿勢を確認する。次に、電子部品搬送装置740に内蔵されている微調整機構を用いて電子部品711の姿勢を調整する。そして、電子部品搬送装置740を検査台714の上まで移動させた後、電子部品搬送装置740に内蔵されたZステージを動かして電子部品711を検査台714の上にセットする。電子部品搬送装置740内の微調整機構を用いて電子部品711の姿勢が調整されているので、検査台714の正しい位置に電子部品711をセットすることができる。次に、検査台714を用いて電子部品711の電気的特性検査が終了した後、今度は検査台714から電子部品711を取り上げ、Yステージ731およびXステージ733を動かして、下流側ステージ712d上まで電子部品搬送装置740を移動させ、下流側ステージ712dに電子部品711を置く。最後に、下流側ステージ712dを動かして、検査が終了した電子部品711を所定位置まで搬送する。
図10は、力検出装置1を含む電子部品搬送装置740を示す図である。電子部品搬送装置740は、把持部741と、把持部741に接続された6軸の力検出装置1と、6軸の力検出装置1を介して把持部741に接続された回転軸742と、回転軸742に回転可能に取り付けられた微調整プレート743を有する。また、微調整プレート743は、ガイド機構(図示せず)によってガイドされながら、X方向およびY方向に移動可能である。
また、回転軸742の端面に向けて、回転方向用の圧電モーター744θが搭載されており、圧電モーター744θの駆動凸部(図示せず)が回転軸742の端面に押しつけられている。このため、圧電モーター744θを動作させることによって、回転軸742(および把持部741)をθ方向に任意の角度だけ回転させることが可能である。また、微調整プレート743に向けて、X方向用の圧電モーター744xと、Y方向用の圧電モーター744yとが設けられており、それぞれの駆動凸部(図示せず)が微調整プレート743の表面に押しつけられている。このため、圧電モーター744xを動作させることによって、微調整プレート743(および把持部741)をX方向に任意の距離だけ移動させることができ、同様に、圧電モーター744yを動作させることによって、微調整プレート743(および把持部741)をY方向に任意の距離だけ移動させることが可能である。
また、力検出装置1は、把持部741に加えられる外力を検出する機能を有する。力検出装置1が検出する力を制御装置750にフィードバックすることにより、電子部品搬送装置740および電子部品検査装置700は、より精密に作業を実行することができる。また、力検出装置1が検出する力によって、把持部741の障害物への接触等を検知することができる。そのため、従来の位置制御では困難だった障害物回避動作、対象物損傷回避動作等を容易に行うことができ、電子部品搬送装置740および電子部品検査装置700は、より安全な作業を実行可能である。
<部品加工装置の実施形態>
次に、図11に基づき、本発明に係る部品加工装置の実施形態を説明する。以下、本実施形態について、前述した実施形態との相違点を中心に説明し、同様の事項については、その説明を省略する。
図11は、本発明に係る力検出装置を用いた部品加工装置の1例を示す図である。図11の部品加工装置800は、基台810と、基台810の上面に起立形成された支柱820と、支柱820の側面に設けられた送り機構830と、送り機構830に昇降可能に取り付けられた工具変位部840と、工具変位部840に接続された力検出装置1と、力検出装置1を介して工具変位部840に装着された工具850を有する。なお、力検出装置1としては、前述した各実施形態と同様のものを用いる。
基台810は、被加工部品860を載置し、固定するための台である。支柱820は、送り機構830を固定するための柱である。送り機構830は、工具変位部840を昇降させる機能を有する。送り機構830は、送り用モーター831と、送り用モーター831からの出力に基づいて工具変位部840を昇降させるガイド832を有する。工具変位部840は、工具850に回転、振動等の変位を与える機能を有する。工具変位部840は、変位用モーター841と、変位用モーター841に連結された主軸(図示せず)の先端に設けられた工具取付け部843と、工具変位部840に取り付けられ主軸を保持する保持部842とを有する。工具850は、工具変位部840の工具取付け部843に、力検出装置1を介して取り付けられ、工具変位部840から与えられる変位に応じて被加工部品860を加工するために用いられる。工具850は、特に限定されないが、例えば、レンチ、プラスドライバー、マイナスドライバー、カッター、丸のこ、ニッパー、錐、ドリル、フライス等である。
力検出装置1は、工具850に加えられる外力を検出する機能を有する。力検出装置1が検出する外力を送り用モーター831や変位用モーター841にフィードバックすることにより、部品加工装置800は、より精密に部品加工作業を実行することができる。また、力検出装置1が検出する外力によって、工具850の障害物への接触等を検知することができる。そのため、工具850に障害物等が接触した場合に緊急停止することができ、部品加工装置800は、より安全な部品加工作業を実行可能である。
<移動体の実施形態>
次に、図12に基づき、本発明に係る移動体の実施形態を説明する。以下、本実施形態について、前述した第2実施形態との相違点を中心に説明し、同様の事項については、その説明を省略する。
図12は、本発明に係る力検出装置を用いた移動体の1例を示す図である。図12の移動体900は、与えられた動力により移動することができる。移動体900は、特に限定されないが、例えば、自動車、バイク、飛行機、船、電車等の乗り物、2足歩行ロボット、車輪移動ロボット等のロボット等である。
移動体900は、本体910(例えば、乗り物の筐体、ロボットのメインボデー等)と、本体910を移動させるための動力を供給する動力部920と、本体910の移動により発生する外力を検出する本発明の力検出装置1と、制御部930を有する。なお、力検出装置1としては、前述した各実施形態と同様のものを用いる。
動力部920から供給された動力によって本体910が移動すると、移動に伴い振動や加速度等が生じる。力検出装置1は、移動に伴い生じた振動や加速度等による外力を検出する。力検出装置1によって検出された外力は、制御部930に伝達される。制御部930は、力検出装置1から伝達された外力に応じて動力部920等を制御することにより、姿勢制御、振動制御および加速制御等の制御を実行することができる。
本発明に係わる力検出装置1では、最大検出荷重は250N、最大検出モーメントは18Nm、最小検出モーメントは0.00016Nm、破壊荷重は1000N以上、ヒステリシス特性は2%以下である高性能を有する。
以上、本発明の力検出装置、ロボット、電子部品搬送装置、電子部品検査装置、部品加工装置および温度補償方法を図示の実施形態について説明したが、本発明は、これに限定されるものではなく、力検出装置、ロボット、電子部品搬送装置、電子部品検査装置、部品加工装置および温度補償方法を構成する各部は、同様の機能を発揮し得る任意の構成のものと置換することができる。また、任意の構成物が付加されていてもよい。
また、本発明の力検出装置、ロボット、電子部品搬送装置、電子部品検査装置、部品加工装置および温度補償方法は、前記各実施形態のうちの、任意の2以上の構成(特徴)を組み合わせたものであってもよい。
また、本発明では、パッケージ、すなわち、基部および蓋体が省略されていてもよい。
また、本発明では、与圧ボルトに替えて、例えば、素子に与圧を加える機能を有してないものを用いてもよく、また、ボルト以外の固定方法を採用してもよい。
また、本発明のロボットは、アームを有していれば、アーム型ロボット(ロボットアーム)に限定されず、他の形式のロボット、例えば、スカラーロボット、脚式歩行(走行)ロボット等であってもよい。
また、本発明の力検出装置は、ロボット、電子部品搬送装置、電子部品検査装置、部品加工装置および移動体に限らず、他の装置、例えば、他の搬送装置、他の検査装置、振動計、加速度計、重力計、動力計、地震計、傾斜計等の測定装置、入力装置等にも適用することができる。
また、力検出装置での第1のセンサーデバイスの設置数は、前記実施形態では4つであったが、これに限定されず、例えば、1つ、2つ、3つまたは5つ以上であってもよい。
また、第2のセンサーデバイスは、前記実施形態では第2基部に接して且つ第1基部から離間しているが、これに限定されず、第1基部に接して且つ第2基部から離間していてもよい。
1…力検出装置 2…第1基部 21…上面 22…凸部 221…頂面 28…スペーサー 3…第2基部 31…下面 311…凹部 32…取付面 34…スペーサー 4…アナログ回路基板 40…外力検出回路 401…ADコンバーター 402…演算部 41…孔 5…デジタル回路基板 6…センサーデバイス 6A、6B、6C、6D…第1センサーデバイス 6E…第2センサーデバイス 60…パッケージ 61…基部 611…凹部 62…蓋体 625…中央部 626…外周部 71…与圧ボルト 90a、90b、90c…変換出力回路 91…オペアンプ 92…コンデンサー 93…スイッチング素子 10…電荷出力素子 11…グランド電極層 12…第1のセンサー 121…第1の圧電体層 122…出力電極層 123…第2の圧電体層 13…第2のセンサー 131…第3の圧電体層 132…出力電極層 133…第4の圧電体層 14…第3のセンサー 141…第5の圧電体層 142…出力電極層 143…第6の圧電体層 500…単腕ロボット 510…基台 520…アーム 521…第1のアーム要素 522…第2のアーム要素 523…第3のアーム要素 524…第4のアーム要素 525…第5のアーム要素 530…エンドエフェクター 531…第1の指 532…第2の指 600…複腕ロボット 610…基台 620…第1のアーム 621…第1のアーム要素 622…第2のアーム要素 630…第2のアーム 631…第1のアーム要素 632…第2のアーム要素 640a…第1のエンドエフェクター 641a…第1の指 642a…第2の指 640b…第2のエンドエフェクター 641b…第1の指 642b…第2の指 700…電子部品検査装置 710…基台 711…電子部品 712u…上流側ステージ 712d…下流側ステージ 713…撮像装置 714…検査台 720…支持台 731…Yステージ 732…腕部 733…Xステージ 734…撮像カメラ 740…電子部品搬送装置 741…把持部 742…回転軸 743…微調整プレート 744x、744y、744θ…圧電モーター 750…制御装置 800…部品加工装置 810…基台 820…支柱 830…送り機構 831…送り用モーター 832…ガイド 840…工具変位部 841…変位用モーター 842…保持部 843…工具取付け部 850…工具 860…被加工部品 900…移動体 910…本体 920…動力部 930…制御部 LD…積層方向 SD…挟持方向 Qx、Qy、Qz、Qx1、Qy1、Qz1、Qx2、Qy2、Qz2、Qx3、Qy3、Qz3、Qx4、Qy4、Qz4、Qx5、Qy5、Qz5…電荷 Vx、Vy、Vz、Vx1、Vy1、Vz1、Vx2、Vy2、Vz2、Vx3、Vy3、Vz3、Vx4、Vy4、Vz4、Vx5、Vy5、Vz5…電圧

Claims (16)

  1. 第1基部と、第2基部と、前記第1基部と前記第2基部とによって挟持される第1センサ素子と、前記第1基部および前記第2基部のうちの一方の基部に接して且つ他方の基部から離間した第2センサ素子と、を備え、前記第1基部と前記第2基部とに加わる外力を検出する力検出装置であって、
    前記第1センサ素子と前記第2センサ素子とは、複数の水晶板が互いに同じ構成と積層方向に積層され、
    前記第1センサ素子は、前記積層方向に対する前記一方の基部との角度を前記第2センサ素子と同じ角度で接することを特徴とする力検出装置。
  2. 前記第1センサ素子は、前記一方の基部において前記第2センサ素子を囲むように複数配置されている請求項1に記載の力検出装置。
  3. 前記第1センサ素子は、4つ以上設置されている請求項1または2に記載の力検出装置。
  4. 前記外力は、前記第1センサ素子で出力される出力値と、前記第2センサ素子で出力される出力値とに基づいて求められる請求項1ないし3のいずれか1項に記載の力検出装置。
  5. 前記外力は、前記第2センサ素子で出力された出力値に係数を乗じた値を、前記第1センサ素子で出力された出力値から減じた値である請求項4に記載の力検出装置。
  6. 前記第1基部は、ベースプレートであり、前記第2基部は、カバープレートであり、
    前記第2センサ素子は、前記カバープレートに接し、前記ベースプレートから離間している請求項1ないし5のいずれか1項に記載の力検出装置。
  7. 前記第1センサ素子と前記第2センサ素子とは、Xカット水晶板で構成された第3基板を有する請求項1ないし6のいずれか1項に記載の力検出装置。
  8. 第1基部と、
    第2基部と、
    前記第1基部と前記第2基部とによって挟持方向に挟持されたセンサー素子と、
    記第1基部および前記第2基部のうちの一方の基部に接して且つ他方の基部から離間して設置された補償用素子と、
    を備える力検出装置であって、
    前記センサー素子は、圧電体層を有し、外力の変動に伴う圧電効果により第1の出力を出力し、
    前記補償用素子は、第2の圧電体層を有し、温度の変動に伴う圧電効果により第2の出力を出力し、
    前記第1の出力と前記第2の出力とに基づいて前記第1基部と前記第2基部とに加わる外力を検出することを特徴とする力検出装置。
  9. 前記センサー素子は、前記補償用素子を囲むように複数配置されている請求項8に記載の力検出装置。
  10. 前記一方の基部は、前記センサー素子が挟持されている外周領域より、中心側に凹部を有し、
    前記補償用素子は、前記凹部の底面に接触して配置されている請求項8または9に記載の力検出装置。
  11. 前記センサー素子は、4つ以上設置されている請求項8ないし10のいずれかに記載の力検出装置。
  12. アームと、
    前記アームに設けられたエンドエフェクターと、
    前記アームと前記エンドエフェクターの間に設けられ、前記エンドエフェクターに加えられる外力を検出する力検出装置とを備え、
    前記力検出装置は、第1基部と、第2基部と、前記第1基部と前記第2基部とによって挟持される第1センサ素子と、前記第1基部および前記第2基部のうちの一方の基部に接して且つ他方の基部から離間した第2センサ素子と、を備え、前記第1基部と前記第2基部とに加わる外力を検出する力検出装置であって、
    前記第1センサ素子と前記第2センサ素子とは、複数の水晶板が互いに同じ構成と積層方向に積層され、
    前記第1センサ素子は、前記積層方向に対する前記第1基部および前記第2基部のうちの一方の基部との角度を前記第2センサ素子と同じ角度で接することを特徴とするロボット。
  13. 電子部品を把持する把持部と、
    前記把持部に加えられる外力を検出する力検出装置とを備え、
    前記力検出装置は、第1基部と、第2基部と、前記第1基部と前記第2基部とによって挟持される第1センサ素子と、前記第1基部および前記第2基部のうちの一方の基部に接して且つ他方の基部から離間した第2センサ素子と、を備え、前記第1基部と前記第2基部とに加わる外力を検出する力検出装置であって、
    前記第1センサ素子と前記第2センサ素子とは、複数の水晶板が互いに同じ構成と積層方向に積層され、
    前記第1センサ素子は、前記積層方向に対する前記第1基部および前記第2基部のうちの一方の基部との角度を前記第2センサ素子と同じ角度で接することを特徴とする電子部品搬送装置。
  14. 電子部品を把持する把持部と、
    前記電子部品を検査する検査部と、
    前記把持部に加えられる外力を検出する力検出装置とを備え、
    前記力検出装置は、第1基部と、第2基部と、前記第1基部と前記第2基部とによって挟持される第1センサ素子と、前記第1基部および前記第2基部のうちの一方の基部に接して且つ他方の基部から離間した第2センサ素子と、を備え、前記第1基部と前記第2基部とに加わる外力を検出する力検出装置であって、
    前記第1センサ素子と前記第2センサ素子とは、複数の水晶板が互いに同じ構成と積層方向に積層され、
    前記第1センサ素子は、前記積層方向に対する前記第1基部および前記第2基部のうちの一方の基部との角度を前記第2センサ素子と同じ角度で接することを特徴とする電子部品検査装置。
  15. 工具を装着し、前記工具を変位させる工具変位部と、
    前記工具に加えられる外力を検出する力検出装置とを備え、
    前記力検出装置は、第1基部と、第2基部と、前記第1基部と前記第2基部とによって挟持される第1センサ素子と、前記第1基部および前記第2基部のうちの一方の基部に接して且つ他方の基部から離間した第2センサ素子と、を備え、前記第1基部と前記第2基部とに加わる外力を検出する力検出装置であって、
    前記第1センサ素子と前記第2センサ素子とは、複数の水晶板が互いに同じ構成と積層方向に積層され、
    前記第1センサ素子は、前記積層方向に対する前記第1基部および前記第2基部のうちの一方の基部との角度を前記第2センサ素子と同じ角度で接することを特徴とする部品加工装置。
  16. 請求項1ないし11のいずれか1項に記載の力検出装置を用いて前記外力を検出し、前記外力は、温度変化による影響を受けていないか、または、無視することができることを補償することを特徴とする温度補償方法。
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