JP2015038793A - 光ディスク装置 - Google Patents

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浩也 福田
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Abstract

【課題】設定調整処理において不要となる処理を詳細に特定し、その実行を省略することが可能となる光ディスク装置を提供する。
【解決手段】光ディスクに光を照射し、該光ディスクからの反射光に応じた信号を生成する光ピックアップ部と、前記信号を用いて前記光ディスクの再生を実行する再生部と、前記光ディスクの再生品質に関わる各種設定を調整する一連の処理として、第1調整処理および第2調整処理を含む設定調整処理を実行する調整部と、を備え、前記調整部は、前記再生品質と相関性がある評価項目のうちの、第1調整処理の実行の要否の指標となる第1評価項目、および、第2調整処理の実行の要否の指標となる第2評価項目の各値を測定し、第1評価項目の値の測定結果に応じて、第1調整処理の実行を省略し、第2評価項目の値の測定結果に応じて、第2調整処理の実行を省略する光ディスク装置とする。
【選択図】図4

Description

本発明は、光ディスクを用いた処理を行うディスク装置に関する。
従来、光ディスクの再生等を行う光ディスク装置が広く利用されている。このような光ディスク装置は、光ディスクの再生を開始する前に、光ディスクの再生品質に関わる各種設定を調整する一連の処理(以下、「設定調整処理」と称することがある)を実行する。設定調整処理には、リード精度の向上等を目的とした光ピックアップ装置の調整などが含まれる。
特開2006−221705号公報
設定調整処理の実行により、必要な光ディスクの再生品質を確保することが可能となる。但し光ディスク装置は、例えば設定調整処理の実行途中であっても、既に必要な再生品質が得られる状態となっていることがある。
この場合には、必要な再生品質が得られると判明した段階で設定調整処理が終了するようになっていれば、不要となる処理の実行を省略することが可能である。なお再生までの待機時間を極力減らすこと等の観点から、光ディスク装置は、設定調整処理において不要となる処理を詳細に特定し、その実行を省略することが可能であることが望ましい。
本発明は上述した事情に鑑み、設定調整処理において不要となる処理を詳細に特定し、その実行を省略することが可能となる光ディスク装置の提供を目的とする。
本発明に係る光ディスク装置は、光ディスクに光を照射し、該光ディスクからの反射光に応じた信号を生成する光ピックアップ部と、前記信号を用いて前記光ディスクの再生を実行する再生部と、前記光ディスクの再生品質に関わる各種設定を調整する一連の処理として、第1調整処理および第2調整処理を含む設定調整処理を実行する調整部と、を備え、前記調整部は、前記再生品質と相関性がある評価項目のうちの、第1調整処理の実行の要否の指標となる第1評価項目、および、第2調整処理の実行の要否の指標となる第2評価項目の各値を測定し、第1評価項目の値の測定結果に応じて、第1調整処理の実行を省略し、第2評価項目の値の測定結果に応じて、第2調整処理の実行を省略する構成とする。
本構成によれば、設定調整処理において不要となる処理を詳細に特定し、その実行を省略することが可能となる。なおここでの第1調整処理および第2調整処理は、何れも、上記各種設定のうちの少なくとも一つを調整する処理を含む。また光ディスク装置による光ディスクの再生は、当該光ディスク装置が再生画像の表示等を行う形態の他、当該光ディスク装置が再生用信号を外部機器へ出力する形態(外部機器に再生画像の表示等を行わせる形態)なども含む概念である。
また上記構成としてより具体的には、前記調整部は、第1調整処理の一部として第2調整処理を実行するものであって、第1調整処理の実行を省略するときには、第2評価項目の値の測定を省略する構成としてもよい。本構成によれば、不要となる第2評価項目の値の測定を省略する分だけ、無駄な処理の実行を抑えることが可能となる。
また上記構成としてより具体的には、前記調整部は、前記設定調整処理のうちの第1調整処理および第2調整処理を除く各処理の実行後に、第1評価項目の値を測定する構成としてもよい。本構成によれば、当該各処理の実行後に第1評価項目が良好となる場合に、第1調整処理の実行を省略することが可能となる。
また上記構成としてより具体的には、前記調整部は、第1評価項目の値を測定した後に、該測定の結果に基づいて第1調整処理の実行の要否を判別し、実行不要と判別したときには、前記設定調整処理を終了させる構成としてもよい。本構成によれば、設定調整処理に要する時間を短くし、例えば再生までの待機時間を極力減らすことが可能となる。
また上記構成としてより具体的には、第1評価項目は、前記信号についてのジッタである構成としてもよい。また当該構成としてより具体的には、第1調整処理には、前記信号の振幅調整、前記信号のイコライザ調整、フォーカスゲイン調整、およびトラッキングゲイン調整のうちの少なくとも一つの処理が含まれる構成としてもよい。
また上記構成としてより具体的には、第2評価項目は、前記信号の振動の幅と前記信号の絶対値のピークとの比である構成としてもよい。また当該構成としてより具体的には、第2調整処理には、フォーカスバランスの調整、ビームエキスパンダの調整、およびチルトの調整のうちの少なくとも一つの処理が含まれる構成としてもよい。
また前記設定調整処理を含んだスピンアップ処理を実行する上記構成の光ディスク装置において、前記再生部は、前記スピンアップ処理の終了に応じて、前記光ディスクの再生を開始する構成としてもよい。本構成によれば、光ディスクの再生を迅速かつ自動的に開始させることが可能となる。
本発明に係る光ディスク装置によれば、設定調整処理において不要となる処理を詳細に特定し、その実行を省略することが可能となる。
本実施形態に係る光ディスク装置の外観図である。 本実施形態に係る光ディスク装置のブロック図である。 光ピックアップ部およびその周辺についての構成図である。 第1実施形態に係る設定調整処理に関するフローチャートである。 MODに関する説明図である。 第2実施形態に係る設定調整処理に関するフローチャートである。 第3実施形態に係る設定調整処理に関するフローチャートである。
本発明の実施形態について、第1から第3実施形態の各々を例に挙げて説明する。
1.第1実施形態
[光ディスク装置の全体構成]
図1は、本実施形態に係る光ディスク装置1の外観図である。本図に示すように光ディスク装置1は、各種部品が筐体20に収納された本体と、本体の遠隔操作を可能とするリモコン(リモートコントロール)送信機17cを有している。
図2は、光ディスク装置1の構成に関するブロック図である。本図に示すように光ディスク装置1は、ディスク処理部10、再生信号生成部15、制御部16、操作部17、表示部18、および調整部19などを備えている。
ディスク処理部10は、ディスクトレイ11、ディスクモータ12、クランパ13、および光ピックアップ部14等を有している。
ディスクトレイ11は、ユーザによって光ディスク(例えばCDやDVD)がセットされる部分である。より具体的に説明すると、ディスクトレイ11は、図1に示すように筐体20の前面側に設けられており、OPEN/CLOSE方向へ可動に形成されている。ディスクトレイ11がOPEN状態(筐体20から引き出された状態)のとき、ユーザは、ディスクトレイ11に光ディスク2をセットすることが出来る。
ディスクモータ12(スピンドルモータ)は、光ディスク2を回転駆動させるモータである。クランパ13は、ディスクモータ12へ光ディスクを押し付けるようにして、光ディスク2をディスクモータ12へクランプする役割を果たす。
光ディスク2をセットしたディスクトレイ11がCLOSE状態(筐体20に収納された状態)になると、光ディスク装置1は、光ディスク2のクランプを実行した上で、スピンアップ処理を開始させることが可能となる。なお光ディスク装置1は、光ディスク2をセットしたディスクトレイ11がCLOSE状態とされたときに、当該クランプを実行した上でスピンアップ処理を開始させる動作を、自動的に実行するよう設定されていても良い。
光ピックアップ部14は、制御部16の指示に応じて、光ディスク2に記録されている情報(画像情報等)を読取って後段側に送出する。なお光ピックアップ部14の構成については、改めて詳細に説明する。
再生信号生成部15は、光ピックアップ部14から送出される情報を受取り、この情報を再生させるための再生信号を生成する。生成された再生信号は、例えば外部機器(画像表示装置など)へ出力され、光ディスク2に記録されている情報の再生に利用される。なお光ディスク装置1自体が画像表示装置などを備え、再生画像等を表示するようになっていても良い。
制御部16は、例えばCPUによって形成されており、光ディスク装置1が適切に動作するように、光ディスク装置1の各部を制御する。
操作部17は、図1に示すように、筐体20の前面側に設けられた操作スイッチ17a、およびリモコン装置(リモコン受光部17bとリモコン送信機17cを含む)を有しており、ユーザの操作を受付ける。ユーザによる操作の内容は制御部16に伝えられる。これにより、光ディスク装置1の動作にユーザの意図を反映されることが可能である。
表示部18は、図1に示すように、筐体20の前面側に設けられたディスプレイ18aを有しており、現在時刻や再生状況などの簡易な情報表示を行う。
調整部19は、光ディスク2の再生に関わる各種設定を調整する役割を果たす。例えば調整部19は、スピンアップ処理の開始に伴って設定調整処理を実行する。この設定調整処理は、光ディスク2の再生に関わる各種設定を調整するための一連の処理であり、設定調整処理の具体的内容については改めて詳細に説明する。
次に、光ピックアップ部14およびその周辺の構成について、図3を参照しながら以下に説明する。光ピックアップ部14は、レーザダイオード40、ビームスプリッタ41、ビームエキスパンダ42、レンズアクチュエータ43、フォトダイオード44、およびサーボ部45を備えている。
レーザダイオード40は、レーザ光を出力するように形成されている。ビームスプリッタ41は、レーザダイオード40から出力されたレーザ光を、予めセットされている光ディスク2へ導くように配置されている。またビームスプリッタ41と光ディスク2の間には、ビームエキスパンダ42およびレンズアクチュエータ43が配置されている。
ビームエキスパンダ42は、レーザ光の径を拡大する部品である。ビームエキスパンダ42は、凹レンズと凸レンズにより構成されており、例えば光ディスク2の厚みの誤差により球面収差が発生した場合に、凹レンズを駆動することによってその収差を補正するように動作する。
レンズアクチュエータ43は、光ディスク2の情報記録面にレーザ光を集光させる対物レンズを有しており、当該対物レンズを駆動させることが可能である。ビームスプリッタ41から出たレーザ光は、当該対物レンズを介して光ディスク2へ当たり、反射することになる。これにより光ディスク2には、レーザ光による光スポットが形成される。
フォトダイオード44は、光ディスク2に当たって反射したレーザ光(反射光)を検出する。より具体的に説明すると、フォトダイオード44は、反射光が入射する位置に配置されており、反射光の強さに応じた電気信号を生成する。
フォトダイオード44が生成する電気信号としては、光ディスク2の記録情報を表すRF信号や、各種サーボに用いられるサーボ用信号が挙げられる。RF信号は再生信号生成部15に送出され、サーボ用信号はサーボ部45へ送出される。なおRF信号は、光ディスク2の再生の他、後述する設定調整動作の実行時にも用いられる。
サーボ部45は、フォーカスサーボ部45a、トラッキングサーボ部45b、およびチルトサーボ部45cを有しており、対物レンズのサーボ制御を実行する。
フォーカスサーボ部45aは、サーボ用信号に基づいてフォーカスエラー(光スポットのフォーカス方向のずれ)を検出し、この検出結果に基づいて(例えばフォーカスエラーがゼロとなるように)フォーカスサーボを実行する。フォーカスサーボは、レーザ光が光ディスク2の面に集光するように、対物レンズのフォーカス方向の位置を調節する制御である。
トラッキングサーボ部45bは、サーボ用信号に基づいてトラッキングエラー(光スポットのトラッキング方向のずれ)を検出し、この検出結果に基づいて(例えばトラッキングエラーがゼロとなるように)トラッキングサーボを実行する。トラッキングサーボは、光スポットが光ディスク2の情報トラックに追従するように、対物レンズのトラック方向の位置を調節する制御である。なおトラッキングエラー信号の生成手法としては、例えば、プッシュプル法や差動プッシュプル法などが採用され得る。
チルトサーボ部45cは、サーボ用信号に基づいてチルトエラー(光スポットのチルト方向のずれ)を検出し、この検出結果に基づいて(例えばチルトエラーがゼロとなるように)チルトサーボを実行する。チルトサーボは、レーザ光が光ディスク2の面に直角に照射されるように、対物レンズの傾きの角度(チルト)を調節する制御である。
[設定調整処理]
先述したように調整部19は、スピンアップ処理の開始に伴って、光ディスク2の再生品質に関わる各種設定を調整するための設定調整処理(後述するステップS11〜S46)を実行する。この設定調整処理の具体的内容について、図4に示すフローチャートを参照しながら以下に説明する。
調整部19は、測定カウントを初期化するとともに各種調整を行い、フォーカスオン(FcOn)およびトラッキングオン(TrOn)が行われるようにする(ステップS11)。なおこの測定カウントは、設定調整処理の流れに影響を与えるカウント値であり、その意義は後述の説明により明らかとなる。測定カウントは、初期化されることによって「0」に設定される。
次に調整部19は、フォーカスゲイン(FcGain)およびトラッキングゲイン(TrGain)の粗調整を実行する(ステップS12)。また更に調整部19は、光ピックアップ部14をStill-On(RF信号を利用する調整のため、例えば光スポットを同一トラックに留める状態)として、測定カウントを1だけ増大させる(ステップS13)。
次に調整部19は、測定カウントが「1」であるか否かを判別する(ステップS14)。測定カウントが「1」であると判別された場合には(ステップS14のYES)、調整部19は、イコライザ(EQ)の初期値設定を実行する(ステップS15)。イコライザの初期値設定は、RF信号に対して行うイコライザ処理に関する設定値(イコライザ調整値)を、予め決められた初期値に設定する動作である。
次に調整部19は、RF信号の振幅調整を実行する(ステップS16)。この振幅調整は、例えばRF信号の振幅が所定の許容範囲内に収まるように、RF信号のゲインを制御することにより達成される。その後、調整部19は、光ピックアップ部14をStill-Off(Still-Onから離脱した状態)とする(ステップS17)。
次に調整部19は、BDO[Black Drop Out]の精細な調整を実行する(ステップS18)。なおディスク装置1においては、例えばフォトダイオード44が四分割のフォトダイオードを有する場合に、これらのフォトダイオードの出力(A、B、C、およびD信号)を加算した信号が、トラッキングサーボに用いられる信号とされ得る。
この信号は、光ディスク2の状態が良好であれば、振幅はほぼ一定となるが、光ディスク2にキズ等があると弱くなる。ディスク装置1は、この原理を利用して、当該信号の振幅を閾値と比較することにより、光ディスク2のキズ検知を行うことが可能である。上述したBDOの調整は、このキズ検知が精度良く行われるようにするため、例えば当該閾値を適切に調整する動作である。
次に調整部19は、所定のアドレスリードと最終処理を行い(ステップS19)、その後、測定カウントが「1」であるか否かを判別する(ステップS20)。測定カウントが「1」であると判別された場合には(ステップS20のYES)、調整部19は、RF信号についてのジッタ(以下、単に「ジッタ」と称することがある)の測定を実行する(ステップS21)。
また調整部19は、測定されたジッタが所定の閾値T1を下回っているか否かを判別する(ステップS22)。下回っていると判別された場合には(ステップS22のYES)、光ディスク装置1は既に必要な再生品質が得られる状態であるとみなされ、今回の設定調整処理は終了する。
またステップS20の処理において、測定カウントが「1」ではないと判別された場合には(ステップS20のNO)、ステップS21およびS22の処理は省略され、今回の設定調整処理は終了する。設定調整処理が終了した後は、スピンアップ処理の残処理が行われ、スピンアップ処理は終了する。
なお光ディスク装置1は、スピンアップ処理の終了に応じて光ディスク1の再生を開始するように、設定されていても良い。これにより光ディスク装置1は、スピンアップ処理の終了後、迅速かつ自動的に光ディスク1の再生を開始させることが可能となる。
一方、ステップS22の処理において、測定されたジッタが閾値T1を下回っていないと判別された場合(ステップS22のNO)、調整部19は、MOD(modulation)の測定を実行する(ステップS31)。このMODは、RF振幅とRFピークの比(MOD=RF振幅/RFピーク)である。RF振幅とRFピークの説明を付記したRF信号の概念図を、図5に示す。本図に示すように、RF振幅はRF信号の振動の幅に相当し、RFピークはRF信号の絶対値のピークに相当する。
そして調整部19は、MODが所定の閾値T2を下回っているか否かを判別する(ステップS32)。下回っていると判別された場合には(ステップS32のYES)、調整部19は、MODカウントを1だけ増大させ(ステップS33)、再度ステップS13以降の処理を実行する。
一方、ステップS32の処理において下回っていないと判別された場合には(ステップS32のNO)、調整部19は、ステップS33の処理を省略して、再度ステップS13以降の処理を実行する。なおMODカウントは、設定調整処理の流れに影響を与えるカウント値であり、その意義は後述の説明により明らかとなる。MODカウントは、設定調整処理の開始時には「0」に設定されている。
またステップS14の処理において、測定カウントが「1」ではないと判別された場合には(ステップS14のNO)、調整部19は、MODカウントが「1」であるか否かを判別する(ステップS41)。MODカウントが「1」であると判別された場合には(ステップS41のYES)、調整部19は、フォーカスバランス(Fbal)の調整、ビームエキスパンダ42(Bex)の調整、およびチルト(Tilt)の調整を実行する(ステップS42)。そして更に調整部19は、RF信号の振幅調整を実行する(ステップS43)。
その後、調整部19は、イコライザの調整(例えば先述したイコライザ調整値を最適化する処理)を実行する(ステップS44)。なおステップS41の処理において、MODカウントが「1」ではないと判別された場合には(ステップS41のNO)、調整部19は、ステップS42およびS43の処理の実行を省略し、ステップS44の処理を実行する。
次に調整部19は、光ピックアップ部14をStill-Offとし(ステップS45)、フォーカスゲインおよびトラッキングゲインの精細な調整を実行する(ステップS46)。その後、調整部19は、ステップS18以降の処理を実行する。
なお設定調整処理の全体のフローは上述した通りであるが、実際に行われるフローのパターンは、設定調整処理の実行中におけるジッタやMODの測定結果によって、第1〜第3の各パターンに分類される。以下、これらのパターンについて順に説明する。
第1パターンは、ステップS22の処理でジッタの測定値が閾値T1を下回ると判別される場合のパターンである。第1パターンの場合には設定調整処理として、ステップS11〜S22の各処理が順に実行される。
第2パターンは、ステップS22の処理でジッタの測定値が閾値T1を下回らないと判別され、かつ、ステップS32の処理でMODの測定値が閾値T2を下回ると判別される場合のパターンである。第2パターンの場合、ステップS11〜S22→ステップS31〜S33→ステップS13〜S14→ステップS41〜S46→ステップS18〜S20、という順序で設定調整処理が実行される。
第3パターンは、ステップS22の処理でジッタの測定値が閾値T1を下回らないと判別され、かつ、ステップS32の処理でMODの測定値が閾値T2を下回らないと判別される場合のパターンである。第3パターンの場合、ステップS11〜S22→ステップS31〜S32→ステップS13〜S14→ステップS41→ステップS44〜S46→ステップS18〜S20、という順序で設定調整処理が実行される。
このことから明らかであるように、設定調整処理の実行中におけるジッタおよびMODの測定結果によって、設定調整処理の一部の実行が省略(スキップ)されるようになっている。
より詳細に説明すると、ステップS31〜S33およびステップS41〜S46の処理は、実行されるか否かがジッタの測定結果に依拠する処理(ジッタ依拠処理)となっている。またステップS42〜S43の処理は、実行されるか否かがMODの測定結果に依拠する処理(MOD依拠処理)となっている。
そして、ジッタの測定値が閾値T1を下回ると判別されたときには(ステップS22のYES)、ジッタ依拠処理(本実施形態ではMOD依拠処理も含む)の実行は省略される。またジッタ依拠処理が実行される場合であっても、MODの測定値が閾値T2を下回らないと判別されたときには(ステップS32のNO)、MOD依拠処理の実行は省略される。
なおジッタとMODは、それぞれ光ディスク2の再生品質と相関性がある評価項目であり、ジッタの値が小さいほど再生品質は良好となる傾向にあり、MODの値が大きいほど再生品質は良好となる傾向にある。そして更にジッタは、ジッタ依拠処理の実行の要否の指標となり、MODは、MOD依拠処理の実行の要否の指標となる。
すなわち、ジッタの値が良好である(閾値T1を下回る)ときには、ジッタ依拠処理を実行するまでもなく必要な再生品質を得ることが可能となるため、ジッタ依拠処理の実行は不要であると見込まれる。なおジッタの値が良好ではない(閾値T1を下回らない)場合であっても、その後にジッタ依拠処理が実行されることによって、ジッタの改善が見込まれる。
またMODの値が良好である(閾値T2を下回らない)ときには、MOD依拠処理を実行するまでもなく必要な再生品質を得ることが可能となるため、MOD依拠処理の実行は不要であると見込まれる。なおMODの値が良好ではない(閾値T2を下回る)場合であっても、その後にMOD依拠処理が実行されることによって、MODの改善が見込まれる。
光ディスク装置1はこの原理を利用して、ジッタの値が閾値T1を下回るときには、不要となるジッタ依拠処理の実行を省略し、MODの値が閾値T2を下回らないときには、不要となるMOD依拠処理の実行を省略する。このように光ディスク装置1は、複数の評価項目の観点から、設定調整処理において不要となる処理を詳細に特定し、その実行を省略するようになっている。
その結果、光ディスク装置1は、再生までの待機時間を極力減らすこと等が可能である。なお光ディスク2の種類等によって差はあるが、ジッタ依拠処理の実行が省略される場合には、光ディスク2のセットから再生までに要する時間を15〜25%程度削減できると見込まれる。
なおMODの値は、光ピックアップ部14の調整状態に依存する値であるとも言えるため、この調整状態を評価する指標となり得る。そのためジッタの測定値が良好ではない場合、MODを測定することにより、その主な要因が光ピックアップ部14の調整状態にあるのか否かを判断することが可能である。またMODの値が閾値T2を下回っていないことが判明した場合、必要な光ディスク2の再生品質を得る上で、光ピックアップ部14の調整は基本的に不要であると判断することが出来る。
また本実施形態では、MODの判定に関するステップS31〜S33の処理(MOD判定フロー)も、ジッタ依拠処理に含まれている。これにより光ディスク1は、ジッタ依拠処理の実行を省略するときには、不要となるMOD判定フローの処理(MODの値の測定も含まれる)の実行も省略するようになっている。
なおジッタに関する閾値T1は、ジッタ依拠処理の実行の省略可否を決める重要な値であり、所定の手法によって、予め決められた適切な値に設定される。閾値T1を決める手法としては、例えば、光ディスクの規格に定められたジッタの値を基準として決める手法や、実際のドライブや光ディスクを使用し、再生可能なジッタの値を統計的に求めた上で決める手法等が挙げられる。
またMODに関する閾値T2は、MOD依拠処理の実行の省略可否を決める重要な値であり、所定の手法によって、予め決められた適切な値に設定される。閾値T2を決める手法としては、例えば、LPP情報として記録された光ディスク毎の推奨MODを基準として決める手法や、実際のドライブや光ディスクを使用し、再生時のMODの値を統計的に求めた上で決める手法等が挙げられる。
2.第2実施形態
次に第2実施形態について説明する。なお第2実施形態は、設定調整処理に関する点を除き、基本的には第1実施形態と同様である。以下の説明においては、第1実施形態と異なる部分の説明に重点をおき、共通する部分については説明を省略することがある。
調整部19は、スピンアップ処理の開始に伴って、光ディスク2の再生品質に関わる各種設定を調整するための設定調整処理(後述するステップS51〜S74)を実行する。この設定調整処理の具体的内容について、図6に示すフローチャートを参照しながら以下に説明する。
調整部19は、測定カウントを初期化するとともに各種調整を行い、フォーカスオン(FcOn)およびトラッキングオン(TrOn)が行われるようにする(ステップS51)。次に調整部19は、フォーカスゲイン(FcGain)およびトラッキングゲイン(TrGain)の粗調整を実行する(ステップS52)。また更に調整部19は、光ピックアップ部14をStill-Onとして、測定カウントを1だけ増大させる(ステップS53)。
次に調整部19は、測定カウントが「1」であるか否かを判別する(ステップS54)。測定カウントが「1」であると判別された場合には(ステップS54のYES)、調整部19は、イコライザ(EQ)の初期値設定を実行する(ステップS55)。
次に調整部19は、MOD(=RF振幅/RFピーク)の測定を実行する(ステップS56)。そして調整部19は、MODが閾値T2を下回っているか否かを判別する(ステップS57)。下回っていると判別された場合には(ステップS57のYES)、調整部19は、フォーカスバランス(Fbal)の調整、ビームエキスパンダ42(Bex)の調整、およびチルト(Tilt)の調整を実行する(ステップS58)。
その後、調整部19は、RF信号の振幅調整を実行する(ステップS59)。なおステップS57の処理において、MODが閾値を下回っていないと判別された場合には(ステップS57のNO)、調整部19はステップS58の処理の実行を省略し、ステップS59の処理を実行する。
次に調整部19は、光ピックアップ部14をStill-Offとし(ステップS60)、BDOの精細な調整を実行する(ステップS61)。そして調整部19は、所定のアドレスリードと最終処理を行い(ステップS62)、その後、測定カウントが「1」であるか否かを判別する(ステップS63)。
測定カウントが「1」であると判別された場合には(ステップS63のYES)、調整部19はジッタの測定を実行する(ステップS64)。そして調整部19は、測定されたジッタが閾値T1を下回っているか否かを判別する(ステップS65)。下回っていると判別された場合には(ステップS65のYES)、光ディスク装置1は既に必要な再生品質が得られる状態であるとみなされ、今回の設定調整処理は終了する。
またステップS63の処理において、測定カウントが「1」ではないと判別された場合には(ステップS63のNO)、ステップS64およびS65の処理は省略され、今回の設定調整処理は終了する。設定調整処理が終了した後は、スピンアップ処理の残処理が行われ、スピンアップ処理は終了する。
一方、ステップS65の処理において、測定されたジッタが閾値以上であると判別された場合(ステップS65のNO)、調整部19は、再度ステップS53以降の処理を実行する。またステップS54の処理において、測定カウントが「1」ではないと判別された場合には(ステップS54のNO)、調整部19は、RF信号の振幅調整を実行する(ステップS71)。
次に調整部19は、イコライザの調整を実行し(ステップS72)、光ピックアップ部14をStill-Offとする(ステップS73)。その後に調整部19は、フォーカスゲインおよびトラッキングゲインの精細な調整を実行する(ステップS74)。その後、調整部19は、ステップS61以降の処理を実行する。
第2実施形態においても、設定調整処理の実行中におけるジッタおよびMODの測定結果によって、設定調整処理の一部の実行が省略されるようになっている。
より詳細に説明すると、ステップS71〜S74の処理は、実行されるか否かがジッタの測定結果に依拠する処理(ジッタ依拠処理)となっている。またステップS58の処理は、実行されるか否かがMODの測定結果に依拠する処理(MOD依拠処理)となっている。
そして、ジッタの測定値が閾値T1を下回ると判別されたときには(ステップS65のYES)、ジッタ依拠処理の実行は省略される。またMODの測定値が閾値T2を下回らないと判別されたときには(ステップS57のNO)、MOD依拠処理の実行は省略される。
第2実施形態においても、ジッタの値が閾値T1を下回るときには、不要となるジッタ依拠処理の実行を省略し、MODの値が閾値T2を下回らないときには、不要となるMOD依拠処理の実行を省略する。このように光ディスク装置1は、複数の評価項目の観点から、設定調整処理において不要となる処理を詳細に特定し、その実行を省略するようになっている。その結果、光ディスク装置1は、再生までの待機時間を極力減らすこと等が可能である。
3.第3実施形態
次に第3実施形態について説明する。なお第3実施形態は、設定調整処理に関する点を除き、基本的には第1実施形態と同様である。以下の説明においては、第1実施形態と異なる部分の説明に重点をおき、共通する部分については説明を省略することがある。
先述した第1実施形態においては、ステップS22の処理でジッタの測定値が閾値T1を下回らない(ジッタが良好ではない)と判別されると、その後はジッタ依拠処理が最後まで実行されることになる。しかしジッタ依拠処理の実行途中においてジッタが改善される可能性があり、この場合には、ジッタが改善された段階で設定調整処理を終了させても問題が無いと言える。
このようにジッタが改善された段階で設定調整処理を終了させることが出来れば、ジッタ依拠処理が最後まで実行される場合に比べて、再生までの待機時間を減らすこと等が可能となる。特に、多くの時間を要する調整(例えばビームエキスパンダ42の調整)の実行前に設定調整処理を終了させることが出来れば、その効果は非常に大きいと言える。
そこで第3実施形態の光ディスク装置1は、ジッタ依拠処理の実行途中に再びジッタを測定して、この測定値が閾値T1を下回ったと判別された場合(ジッタが改善されたと判別された場合)には、設定調整処理を終了させるようになっている。
第3実施形態の光ディスク装置1が行う設定調整処理について、図7に示すフローチャートを参照しながら以下に説明する。なお第3実施形態の設定調整処理は、ステップS42の処理に代えてステップS42a〜S42dの処理が行われる点において、第1実施形態とは相違している。以下、この相違点について説明する。
調整部19は、ステップS41の処理においてMODカウントが「1」であると判別された場合には(ステップS41のYES)、フォーカスバランス(Fbal)の調整およびチルト(Tilt)の調整を実行する(ステップS42a)。その次に調整部19は、ジッタの測定を実行する(ステップS42b)。
また調整部19は、今回のジッタの測定値が閾値T1を下回っているか否かを判別する(ステップS42c)。下回っていると判別された場合には(ステップS42cのYES)、光ディスク装置1は既に必要な再生品質が得られる状態であるとみなされ、今回の設定調整処理は終了する。その後、スピンアップ処理の残処理が行われ、スピンアップ処理は終了する。
一方、ステップS42cの処理において、測定されたジッタが閾値以上であると判別された場合(ステップS42cのNO)、調整部19は、ビームエキスパンダ42(Bex)の調整を実行する(ステップS42d)。その後に調整部19は、ステップS43以降の処理を実行する。
第3実施形態の設定調整処理によれば、ジッタ依拠処理の途中におけるジッタに関する判別処理(ステップS42c)により、ジッタが改善されていたと判別された場合には、ステップS42d以降の処理が省略される。そのため、ステップS42d以降の処理が省略される分だけ、設定調整処理を早く終了させることが可能である。
なおこのようなジッタに関する判別処理を行うタイミングは、本実施形態のようにステップS42aの処理を実行した直後には限られず、他の様々なタイミングとすることが可能である。またこのようなジッタに関する判別処理は、本実施形態のように一回だけでなく、必要に応じて二回以上行われるようになっていても良い。
4.その他
以上に説明した通り、各実施形態に係る光ディスク装置1は、光ディスク2に光を照射し、この光ディスク2からの反射光に応じたRF信号を生成する光ピックアップ部14と、RF信号を用いて光ディスク2の再生を実行する機能部(再生部)を備えている。また光ディスク装置1は、光ディスク2の再生品質に関わる各種設定を調整する一連の処理として、ジッタ依拠処理(第1調整処理)およびMOD依拠処理(第2調整処理)を含む設定調整処理を実行する機能部(調整部)を備えている。
この調整部は、当該再生品質と相関性がある評価項目のうちの、ジッタ依拠処理の実行の要否の指標となるジッタ(第1評価項目)、および、MOD依拠処理の実行の要否の指標となるMOD(第2評価項目)の各値を測定する。そして調整部は、ジッタの値の測定値が閾値を下回ったときに(ジッタの値の測定結果に応じて)、ジッタ依拠処理の実行を省略し、MODの値の測定値が閾値を下回らなかったときに(MODの値の測定結果に応じて)、MOD依拠処理の実行を省略する。
そのため光ディスク装置1によれば、第1評価項目と第2評価項目の複数の評価項目に着目することで、設定調整処理において不要となる処理を詳細に特定し、その実行を省略することが可能となっている。なお第1評価項目や第2評価項目については、本発明の主旨を逸脱しない限り、他の評価項目が採用されても構わない。例えば第1評価項目としては、ジッタの代わりに、RF信号についてのエラーレート等が採用されても構わない。
また第1実施形態について、光ディスク装置1は、ジッタ依拠処理の一部としてMOD依拠処理を実行するものであって、ジッタ依拠処理の実行を省略するときには、MODの値の測定を省略する。これにより光ディスク装置1は、MODの値の測定を省略する分だけ、無駄な処理の実行を抑えることが可能である。
また光ディスク装置1は、設定調整処理のうちのジッタ依拠処理およびMOD依拠処理を除く各処理(ステップS11〜S20)の実行後に、ジッタの値を測定する。そのため光ディスク装置1によれば、当該各処理の実行後にジッタが良好となる場合に、ジッタ依拠処理の実行を省略することが可能である。
また光ディスク装置1は、ジッタの値を測定した後に、該測定の結果に基づいてジッタ依拠処理の実行の要否を判別する(ステップS21〜S22)。そして光ディスク装置1は、実行不要と判別したときには設定調整処理を終了させるようになっている。これにより設定調整処理に要する時間を短くし、再生までの待機時間を極力減らすこと等が可能となる。
また本発明の構成は、上記実施形態のほか、発明の主旨を逸脱しない範囲で種々の変更を加えることが可能である。すなわち、上記実施形態は、全ての点で例示であって、制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の技術的範囲は、上記実施形態の説明ではなく、特許請求の範囲によって示されるものであり、特許請求の範囲と均等の意味及び範囲内に属する全ての変更が含まれると理解されるべきである。また本発明は、光ディスクに関する処理を行う光ディスク装置等に利用することができる。
1 光ディスク装置
2 光ディスク
10 ディスク処理部
11 ディスクトレイ
12 ディスクモータ
13 クランパ
14 光ピックアップ部
15 再生信号生成部
16 制御部
17 操作部
17a 操作スイッチ
17b リモコン受光部
17c リモコン送信機
18 表示部
18a ディスプレイ
19 調整部
20 筐体
40 レーザダイオード
41 ビームスプリッタ
42 ビームエキスパンダ
43 レンズアクチュエータ
44 フォトダイオード
45 サーボ部
45a フォーカスサーボ部
45b トラッキングサーボ部
45c チルトサーボ部

Claims (9)

  1. 光ディスクに光を照射し、該光ディスクからの反射光に応じた信号を生成する光ピックアップ部と、
    前記信号を用いて前記光ディスクの再生を実行する再生部と、
    前記光ディスクの再生品質に関わる各種設定を調整する一連の処理として、第1調整処理および第2調整処理を含む設定調整処理を実行する調整部と、を備え、
    前記調整部は、
    前記再生品質と相関性がある評価項目のうちの、第1調整処理の実行の要否の指標となる第1評価項目、および、第2調整処理の実行の要否の指標となる第2評価項目の各値を測定し、
    第1評価項目の値の測定結果に応じて、第1調整処理の実行を省略し、
    第2評価項目の値の測定結果に応じて、第2調整処理の実行を省略することを特徴とする光ディスク装置。
  2. 前記調整部は、
    第1調整処理の一部として第2調整処理を実行するものであって、
    第1調整処理の実行を省略するときには、第2評価項目の値の測定を省略することを特徴とする請求項1に記載の光ディスク装置。
  3. 前記調整部は、
    前記設定調整処理のうちの第1調整処理および第2調整処理を除く各処理の実行後に、第1評価項目の値を測定することを特徴とする請求項2に記載の光ディスク装置。
  4. 前記調整部は、
    第1評価項目の値を測定した後に、該測定の結果に基づいて第1調整処理の実行の要否を判別し、
    実行不要と判別したときには、前記設定調整処理を終了させることを特徴とする請求項3に記載の光ディスク装置。
  5. 第1評価項目は、
    前記信号についてのジッタであることを特徴とする請求項1から請求項4の何れかに記載の光ディスク装置。
  6. 第1調整処理には、
    前記信号の振幅調整、前記信号のイコライザ調整、フォーカスゲイン調整、およびトラッキングゲイン調整のうちの少なくとも一つの処理が含まれることを特徴とする請求項5に記載の光ディスク装置。
  7. 第2評価項目は、
    前記信号の振動の幅と前記信号の絶対値のピークとの比であることを特徴とする請求項1から請求項6の何れかに記載の光ディスク装置。
  8. 第2調整処理には、
    フォーカスバランスの調整、ビームエキスパンダの調整、およびチルトの調整のうちの少なくとも一つの処理が含まれることを特徴とする請求項7に記載の光ディスク装置。
  9. 前記設定調整処理を含んだスピンアップ処理を実行する請求項1から請求項8の何れかに記載の光ディスク装置であって、
    前記再生部は、
    前記スピンアップ処理の終了に応じて、前記光ディスクの再生を開始することを特徴とする光ディスク装置。
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